KR102138222B1 - Apparatus and method for metering particles in the exhaust gas - Google Patents

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KR102138222B1
KR102138222B1 KR1020190042238A KR20190042238A KR102138222B1 KR 102138222 B1 KR102138222 B1 KR 102138222B1 KR 1020190042238 A KR1020190042238 A KR 1020190042238A KR 20190042238 A KR20190042238 A KR 20190042238A KR 102138222 B1 KR102138222 B1 KR 102138222B1
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particle
cells
measurement image
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unit cell
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최수봉
김현태
이희관
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주식회사 제이에스티앤랩
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Abstract

Disclosed is an apparatus for metering particles in exhaust gases. The apparatus for metering particles in exhaust gases includes: a light irradiation member that irradiates two-dimensional plane light into an inner space of a construction facility; a particle photographing member for generating a particle metering image by photographing the two-dimensional plane light irradiated into the inner space; and a control unit for metering the amount of particles staying in the space in the construction facility from the particle photographing image.

Description

배출가스 입자 측정 장치{Apparatus and method for metering particles in the exhaust gas}Apparatus and method for metering particles in the exhaust gas

본 발명은 배출가스 입자 측정 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 시공 시설에서 배기되는 배출가스에 포함된 입자를 측정할 수 있는 배출가스 입자 측정 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an exhaust gas particle measuring device, and more particularly, to an exhaust gas particle measuring device capable of measuring particles contained in exhaust gas exhausted from a construction facility.

일반적으로 산업시설에서는 오염물질을 포함한 각종먼지가 배출되며, 대기환경보존법에서는 오염물질과 입자 량을 배출허용기준을 적용하여 규제하고 있다. 입자 량을 측정하는 방법으로 1996년 이전까지는 측정 요원이 직접 배기시설의 최상단까지 올라가 센서를 집어넣어 측정해야만 하였다. 그러나 사람이 직접 입자 량의 측정을 수행하는 것은 위험하고 어려움이 많아 1996년 이후부터는 배기시설 내부에 자동센서를 설치하고 자동센서에서 제공하는 측정값을 통해 입자 량을 산출하는 먼지 측정장치를 설치하여 사용되기 시작했는데, 이를 측정시스템(Tele metering system: TMS)이라 한다.In general, various dusts, including pollutants, are emitted from industrial facilities, and the atmospheric environment preservation law regulates the amount of pollutants and particles by applying emission allowance standards. As a method of measuring the amount of particles, before 1996, the measurement personnel had to climb directly to the top of the exhaust system and insert a sensor to measure it. However, it is dangerous and difficult to directly measure the amount of particles by humans. Since 1996, an automatic sensor is installed inside the exhaust system, and a dust measuring device that calculates the particle amount through the measurement value provided by the automatic sensor is installed. It started to be used, and it is called a telemetering system (TMS).

본 발명은 시공 시설에서 배출되는 기체에 포함된 미세 입자를 효과적으로 측정할 수 있는 배출가스 입자 측정 장치 및 방법을 제공한다.The present invention provides an exhaust gas particle measuring apparatus and method capable of effectively measuring fine particles contained in gas discharged from a construction facility.

또한, 본 발명은 광에 의한 측정 영역이 증가될 수 있는 배출가스 입자 측정 장치 및 방법을 제공한다.In addition, the present invention provides an apparatus and method for measuring exhaust gas particles in which the measurement area by light can be increased.

또한, 본 발명은 크기별로 입자를 측정할 수 있는 배출가스 입자 측정 장치 및 방법을 제공한다.In addition, the present invention provides an exhaust gas particle measuring apparatus and method capable of measuring particles by size.

본 발명에 따른 배출가스 입자 측정 장치는 시공 시설의 내측 공간으로 2차원 평면 광을 조사하는 광 조사 부재; 상기 내측 공간으로 조사된 상기 2차원 평면 광을 촬영하여 입자 측정 이미지를 생 성하는 입자 촬영 부재; 및 상기 입자 촬영 이미지로부터 상기 시공 시설 내의 공간에 머무르는 입자 양을 측정하는 제어부를 포함한다.The apparatus for measuring exhaust gas particles according to the present invention includes: a light irradiation member that irradiates two-dimensional planar light into an interior space of a construction facility; A particle photographing member photographing the 2D plane light irradiated into the inner space to generate a particle measurement image; And a control unit measuring the amount of particles remaining in the space in the construction facility from the particle photographed image.

또한, 상기 제어부는, 상기 입자 촬영 이미지를 m×n(m, n은 자연수)개의 단위 셀로 분할하고, 각각의 단위 셀마다 픽셀별로 인텐시티 값을 얻고, 상기 단위 셀들 중 상기 인텐시티 값이 기 설정된 기준 값을 초과하는 픽셀을 포함하는 단위 셀을 관심 단위 셀들을 분류하고, 상기 관심 단위 셀들의 개수를 합하여 상기 입자 양을 측정할 수 있다.In addition, the controller divides the particle photographed image into m×n (m, n is a natural number) unit cells, obtains an intensity value for each pixel for each unit cell, and the intensity value of the unit cells is a preset criterion. A unit cell including a pixel exceeding a value may be classified into unit cells of interest, and the number of the unit cells of interest may be summed to measure the particle amount.

또한, 상기 제어부는, 상기 입자 촬영 이미지를 m×n(m, n은 자연수)개의 단위 셀로 분할하고, 각각의 상기 단위 셀마다 픽셀별로 인텐시티 값을 얻고, 상기 단위 셀마다 상기 인텐시티 값을 보정하여 인텐시티 보정값을 산출하고, 상기 단위 셀들 중 상기 인텐시티 보정값이 기 설정된 기준 값을 초과하는 픽셀을 포함하는 단위 셀을 관심 단위 셀들을 분류하고, 상기 관심 단위 셀들의 개수를 합하여 상기 입자 양을 측정하되, 상기 단위 셀마다 상기 인텐시티 값의 보정은, 상기 단위 셀들 각각이 나타내는 위치에 대응하여 상기 2차원 평면 광이 조사되는 영역을 상기 m×n(m, n은 자연수)개로 분할하여 공간 셀들을 생성하고, 상기 공간 셀들 각각의 위치에서 상기 입자 촬영 부재까지의 직선 거리를 산출하고, 상기 단위 셀마다 상기 인텐시티 값에 상기 직선 거리의 제곱을 곱하여 상기 인텐시티 보정값을 산출할 수 있다.In addition, the controller divides the particle photographed image into m×n (m, n is a natural number) unit cells, obtains an intensity value for each pixel for each unit cell, and corrects the intensity value for each unit cell Calculate an intensity correction value, classify unit cells of interest into unit cells including pixels in which the intensity correction value exceeds a preset reference value among the unit cells, and measure the particle amount by summing the number of unit cells of interest However, for the correction of the intensity value for each unit cell, the space cells are divided by dividing the area in which the two-dimensional planar light is irradiated into m×n (m, n is a natural number) corresponding to the position indicated by each of the unit cells. Generate, calculate the straight line distance from each of the space cells to the particle photographing member, and calculate the intensity correction value by multiplying the intensity value by the square of the straight line distance for each unit cell.

또한, 상기 입자 촬영 부재는 제1높이에서 상기 2차원 평면 광을 촬영하여 제1입자 측정 이미지를 생성하는 제1카메라; 및 상기 제1높이와 상이한 제2높이에서 상기 2차원 평면 광을 촬영하여 제2입자 측정 이미지를 생성하는 제2카메라를 포함하되, 상기 제어부는 상기 제1입자 측정 이미지와 상기 제2입자 측정 이미지 각각에서 상기 시공 시설 내에 머무르는 입자 양을 측정할 수 있다.In addition, the particle photographing member may include a first camera that photographs the two-dimensional planar light at a first height to generate a first particle measurement image; And a second camera that photographs the two-dimensional planar light at a second height different from the first height to generate a second particle measurement image, wherein the control unit includes the first particle measurement image and the second particle measurement image. Each can measure the amount of particles remaining in the construction facility.

또한, 상기 제어부는, 상기 제1입자 촬영 이미지와 상기 제2입자 촬영 이미지 각각을 m×n(m, n은 자연수)개의 단위 셀로 분할하고, 각각의 단위 셀마다 픽셀별로 인텐시티 값을 얻고, 상기 단위 셀들 중 상기 인텐시티 값이 기 설정된 기준 값을 초과하는 픽셀을 포함하는 단위 셀을 관심 단위 셀들을 분류하고, 상기 관심 단위 셀들의 개수를 합하여 상기 입자 양을 측정할 수 있다.In addition, the control unit divides each of the first particle photographed image and the second particle photographed image into m×n (m, n is a natural number) unit cells, and obtains an intensity value for each pixel for each unit cell. Among the unit cells, the unit cells of interest may be classified into a unit cell including a pixel whose intensity value exceeds a preset reference value, and the number of the unit cells of interest may be summed to measure the particle amount.

상기 제어부는, 상기 제1입자 촬영 이미지와 상기 제2입자 촬영 이미지 각각을 m×n(m, n은 자연수)개의 단위 셀로 분할하고, 각각의 단위 셀마다 픽셀별로 인텐시티 값을 얻고, 상기 단위 셀마다 상기 인텐시티 값을 보정하여 인텐시티 보정값을 산출하고, 상기 단위 셀들 중 상기 인텐시티 보정값이 기 설정된 기준 값을 초과하는 픽셀을 포함하는 단위 셀을 관심 단위 셀들을 분류하고, 상기 관심 단위 셀들의 개수를 합하여 상기 입자 양을 측정하되, 상기 단위 셀마다 상기 픽셀별 인텐시티 값의 보정은, 상기 단위 셀들 각각이 나타내는 위치에 대응하여 상기 2차원 평면 광이 조사되는 영역을 상기 m×n(m, n은 자연수)개로 분할하여 공간 셀들을 생성하고, 상기 공간 셀들 각각의 위치에서 상기 제1카메라와 상기 제2카메라까지의 직선 거리를 산출하고, 상기 단위 셀마다 상기 인텐시티 값에 상기 직선 거리의 제곱을 곱하여 상기 인텐시티 보정값을 산출할 수 있다.The control unit divides each of the first particle photographed image and the second particle photographed image into m×n (m, n is a natural number) unit cells, obtains an intensity value for each pixel for each unit cell, and the unit cell The intensity value is calculated by correcting the intensity value for each time, and the unit cell of interest includes a unit cell including a pixel in which the intensity correction value exceeds a preset reference value among the unit cells, and the number of unit cells of interest is classified. The particle amount is measured by summing, but the intensity value of each pixel is corrected for each unit cell, in which the area where the two-dimensional plane light is irradiated corresponds to the position indicated by each of the unit cells, m×n(m, n Is a natural number) to generate space cells, calculate a straight line distance from each position of the space cells to the first camera and the second camera, and square the straight line distance to the intensity value for each unit cell. The intensity correction value can be calculated by multiplying.

본 발명에 따른 배출가스 입자 측정 방법은 시공 시설의 내측 공간으로 2차원 평면 광을 조사하는 광 조사 단계; 상기 내측 공간으로 조사된 상기 2차원 평면 광을 촬영하여 입자 측정 이미지를 생성하는 입자 측정 이미지 생성 단계; 및 상기 입자 촬영 이미지로부터 상기 시공 시설 내의 공간에 머무르는 입자 양을 측정하는 입자 양 측정 단계를 포함한다.The exhaust gas particle measuring method according to the present invention comprises: a light irradiation step of irradiating two-dimensional planar light into an interior space of a construction facility; A particle measurement image generation step of photographing the 2D plane light irradiated into the inner space to generate a particle measurement image; And a particle amount measurement step of measuring the amount of particles remaining in the space in the construction facility from the particle photographed image.

또한, 상기 입자 측정 이미지 생성 단계는 제1높이에서 상기 제2차원 평면 광을 촬영하여 제1입자 측정 이미지를 생성하는 단계; 및 상기 제1높이와 상이한 제2높이에서 상기 제2차원 평면 광을 촬영하여 제2입자 측정 이미지를 생성하는 단계를 포함하되, 상기 입자 양 측정 단계는, 상기 제1입자 측정 이미지와 상기 제2입자 측정 이미지 각각에서 상기 시공 시설 내에 머무르는 입자 양을 측정할 수 있다.The generating of the particle measurement image may include generating the first particle measurement image by photographing the second dimensional plane light at a first height; And photographing the second dimensional plane light at a second height different from the first height to generate a second particle measurement image, wherein the particle amount measurement step includes: the first particle measurement image and the second In each particle measurement image, it is possible to measure the amount of particles remaining in the construction facility.

또한, 상기 입자 양 측정 단계는, 상기 입자 촬영 이미지를 m×n(m, n은 자연수)개의 단위 셀로 분할하고, 각각의 단위 셀마다 픽셀별로 인텐시티 값을 얻고, 상기 단위 셀들 중 상기 인텐시티 값이 기 설정된 기준 값을 초과하는 픽셀을 포함하는 단위 셀을 관심 단위 셀들을 분류하고, 상기 관심 단위 셀들의 개수를 합하여 상기 입자 양을 측정할 수 있다.In addition, in the particle amount measurement step, the particle photographed image is divided into m×n (m, n is a natural number) unit cells, and an intensity value is obtained for each unit cell for each pixel, and the intensity value among the unit cells is The unit cells of interest may be classified into unit cells including pixels exceeding a preset reference value, and the number of the unit of interest cells may be added to measure the particle amount.

본 발명에 의하면, 설치 공간의 기체에 포함된 미세 입자를 효과적으로 측정할 수 있다.According to the present invention, it is possible to effectively measure fine particles contained in the gas in the installation space.

또한, 본 발명에 의하면, 2차원 평면 광으로 한 번에 넓은 영역에서 입자를 측정할 수 있다.In addition, according to the present invention, particles can be measured in a wide area at a time with two-dimensional planar light.

또한, 본 발명에 의하면, 서로 다른 높이에 입자 촬영 부재를 배치함으로써, 입자를 크기별로 측정할 수 있다.Further, according to the present invention, by arranging the particle photographing members at different heights, the particles can be measured for each size.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 배출가스 입자 측정 장치가 설치된 시공 시설을 나타내는 도면이다.
도 2는 도 1의 시공 시설을 위에서 본 모습을 나타내는 도면이다.
도 3은 입자 촬영 이미지를 m×n개의 단위 셀로 분할한 모습을 나타내는 도면이다.
도 4는 일 예에 따라 단위 셀별로 인텐시티 값을 표시한 입자 촬영 이미지를 나타내는 도면이다.
도 5 및 도 6은 입자 촬영 이미지의 단위 셀별로 인텐시티 값을 보정하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 배출가스 입자 측정 장치를 나타내는 도면이다.
도 8은 도 7의 배출가스 입자 측정 장치에서 생성된 제1 및 제2입자 측정 이미지를 나타내는 도면이다.
도 9는 본 발명의 일 실시 예에 배출가스 입자 측정 방법을 나타내는 순서도이다.1 is a view showing a construction facility in which the exhaust gas particle measuring device according to an embodiment of the present invention is installed.
FIG. 2 is a view showing the construction facility of FIG. 1 seen from above.
3 is a view showing a state in which a particle photographed image is divided into m×n unit cells.
4 is a diagram illustrating a particle photographed image in which an intensity value is displayed for each unit cell according to an example.
5 and 6 are views for explaining a method of correcting an intensity value for each unit cell of a particle photographed image.
7 is a view showing an exhaust gas particle measuring apparatus according to another embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a view showing first and second particle measurement images generated by the exhaust gas particle measurement device of FIG. 7.
9 is a flow chart showing a method for measuring exhaust gas particles in an embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 상세히 설명할 것이다. 그러나 본 발명의 기술적 사상은 여기서 설명되는 실시 예에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화 될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시 예는 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되는 것이다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the technical spirit of the present invention is not limited to the embodiments described herein and may be embodied in other forms. Rather, the embodiments introduced herein are provided to ensure that the disclosed contents are thorough and complete and that the spirit of the present invention is sufficiently conveyed to those skilled in the art.

본 명세서에서, 어떤 구성요소가 다른 구성요소 상에 있다고 언급되는 경우에 그것은 다른 구성요소 상에 직접 형성될 수 있거나 또는 그들 사이에 제 3의 구성요소가 개재될 수도 있다는 것을 의미한다. 또한, 도면들에 있어서, 막 및 영역들의 두께는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다. In the present specification, when a component is referred to as being on another component, it means that it may be formed directly on another component, or a third component may be interposed between them. In addition, in the drawings, the thicknesses of the films and regions are exaggerated for effective description of technical content.

또한, 본 명세서의 다양한 실시 예 들에서 제1, 제2, 제3 등의 용어가 다양한 구성요소들을 기술하기 위해서 사용되었지만, 이들 구성요소들이 이 같은 용어들에 의해서 한정되어서는 안 된다. 이들 용어들은 단지 어느 구성요소를 다른 구성요소와 구별시키기 위해서 사용되었을 뿐이다. 따라서, 어느 한 실시 예에 제 1 구성요소로 언급된 것이 다른 실시 예에서는 제 2 구성요소로 언급될 수도 있다. 여기에 설명되고 예시되는 각 실시 예는 그것의 상보적인 실시 예도 포함한다. 또한, 본 명세서에서 '및/또는'은 전후에 나열한 구성요소들 중 적어도 하나를 포함하는 의미로 사용되었다.Further, in various embodiments of the present specification, terms such as first, second, and third are used to describe various components, but these components should not be limited by these terms. These terms are only used to distinguish one component from another component. Therefore, what is referred to as the first component in one embodiment may be referred to as the second component in another embodiment. Each embodiment described and illustrated herein also includes its complementary embodiment. Also, in this specification,'and/or' is used to mean including at least one of the components listed before and after.

명세서에서 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한 복수의 표현을 포함한다. 또한, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 구성요소 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징이나 숫자, 단계, 구성요소 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 배제하는 것으로 이해되어서는 안 된다. 또한, 본 명세서에서 "연결"은 복수의 구성 요소를 간접적으로 연결하는 것, 및 직접적으로 연결하는 것을 모두 포함하는 의미로 사용된다. In the specification, a singular expression includes a plural expression unless the context clearly indicates otherwise. Also, terms such as “include” or “have” are intended to indicate the existence of features, numbers, steps, elements or combinations thereof described in the specification, and one or more other features, numbers, steps, or configurations. It should not be understood as excluding the possibility or presence of elements or combinations thereof. In addition, in this specification, "connecting" is used in a sense to include both indirectly connecting a plurality of components, and directly connecting.

또한, 하기에서 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 것이다.In addition, in the following description of the present invention, when it is determined that detailed descriptions of related known functions or configurations may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, detailed descriptions thereof will be omitted.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 배출가스 입자 측정 장치가 설치된 시공 시설을 나타내는 도면이고, 도 2는 도 1의 시공 시설을 위에서 본 모습을 나타내는 도면이다.1 is a view showing a construction facility in which the exhaust gas particle measuring apparatus according to an embodiment of the present invention is installed, and FIG. 2 is a view showing the construction facility of FIG. 1 as viewed from above.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 배출가스 입자 측정 장치(10)는 시공 시설(20)에 위치되어, 시공 시설(20)의 내측 공간(21)에서 배기되는 기체에 포함된 미세 입자의 밀도 또는 양을 측정한다. 시공 시설(20)은 기체를 외부로 배기하는 다양한 시설일 수 있다. 일 예로, 시공 시설은 굴뚝(20)일 수 있다. 이에 따라, 배출가스 입자 측정 장치(10)는 굴뚝(20)을 통해 배출되는 기체에 포함된 미세 입자의 밀도 또는 양을 측정할 수 있다. 굴뚝(20)은 상하로 설정 길이를 가지고, 하단부로 유입된 기체를 상단부를 통해 외부로 배출하도록 제공된다. 예를 들어, 굴뚝(20)은 생산 시설 등에 위치되어, 생산 시설 내부의 기체를 외부로 배출하는데 이용될 수 있다.Referring to Figures 1 and 2, the exhaust gas particle measuring apparatus 10 according to an embodiment of the present invention is located in the construction facility 20, the gas exhausted from the inner space 21 of the construction facility 20 Measure the density or amount of fine particles contained in. The construction facility 20 may be various facilities that exhaust gas to the outside. For example, the construction facility may be a chimney 20. Accordingly, the exhaust gas particle measuring device 10 may measure the density or amount of fine particles contained in the gas discharged through the chimney 20. The chimney 20 has a set length up and down, and is provided to discharge the gas flowing into the lower end to the outside through the upper end. For example, the chimney 20 is located in a production facility or the like, and can be used to discharge gas inside the production facility to the outside.

배출가스 입자 측정 장치(10)는 광 조사 부재(110), 입자 촬영 부재(120) 및 제어부(미도시)를 포함한다.The exhaust gas particle measuring device 10 includes a light irradiation member 110, a particle photographing member 120, and a control unit (not shown).

광 조사 부재(110)는 굴뚝(20)의 내부 공간(21) 일측에 위치되어, 굴뚝(20)의 내부 공간(21)으로 광을 조사한다. 광 조사 부재(110)는 평면 상에 펼쳐진 형태의 2차원 평면 광(111) (이하, 평면 광(111))을 조사할 수 있다. 일 예로, 굴뚝(20)의 일측에는 설치부(22)가 형성되고, 광 조사 부재(110)는 설치부(22)에 위치될 수 있다. 설치부(22)는 굴뚝(20)에 형성된 홀 또는 내측면에 형성된 홈일 수 있다. 설치부(22)가 홀 형태로 제공되는 경우, 굴뚝(20)의 내부 공간을 향하도록 광 조사 부재(110)가 설치된 후, 설치부(22)의 외측은 외부가 차폐될 수 있다.The light irradiation member 110 is located on one side of the inner space 21 of the chimney 20 and irradiates light into the inner space 21 of the chimney 20. The light irradiation member 110 may irradiate a two-dimensional planar light 111 (hereinafter, planar light 111) in a form spread on a plane. For example, an installation portion 22 is formed on one side of the chimney 20, and the light irradiation member 110 may be located in the installation portion 22. The installation part 22 may be a hole formed in the chimney 20 or a groove formed in the inner surface. When the installation portion 22 is provided in the form of a hole, after the light irradiation member 110 is installed to face the interior space of the chimney 20, the outside of the installation portion 22 may be shielded from the outside.

광 조사 부재(110)는 광원(113) 및 렌즈(115)를 포함한다. 광원(11)은 굴뚝(20)의 일측에 위치되어, 굴뚝(20)의 내부 공간(21)을 향해 광(111a)을 조사한다. 광원(113)은 굴뚝(20)의 길이 방향 축 또는 축에 인접한 지점을 향해 광을 조사하도록 위치될 수 있다. 광원(113)이 조사하는 광(111a)은 레이저 광일 수 있다. 이에 따라, 광원(113)이 조사하는 광(111a)은 빔(beam)일 수 있다.The light irradiation member 110 includes a light source 113 and a lens 115. The light source 11 is located on one side of the chimney 20 and irradiates the light 111a toward the inner space 21 of the chimney 20. The light source 113 may be positioned to irradiate light toward a longitudinal axis or a point adjacent to the axis of the chimney 20. The light 111a irradiated by the light source 113 may be laser light. Accordingly, the light 111a irradiated by the light source 113 may be a beam.

렌즈(115)는 광원(113)에서 조사된 광(111a)의 이동 경로 상에 위치되도록, 광원(113)에 인접하게 위치된다. 입사 광(111a)은 렌즈(115)를 투과하는 과정에서 평면 광(111)으로 출력된다. 일 예로, 렌즈(115)는 실린더리컬 렌즈(115)로 제공될 수 있다. 평면 광(111)이 위치되는 평면(이하, 조사 평면)은, 그 법선 방향이 굴뚝(20)의 길이 방향과 나란하거나 소정 각도 경사지게 배치될 수 있다.The lens 115 is positioned adjacent to the light source 113 so that it is located on the moving path of the light 111a irradiated from the light source 113. The incident light 111a is output as the planar light 111 in the process of passing through the lens 115. For example, the lens 115 may be provided as a cylindrical lens 115. The plane (hereinafter, the irradiation plane) in which the plane light 111 is located may be arranged such that its normal direction is parallel to the longitudinal direction of the chimney 20 or at a predetermined angle.

입자 촬영 부재(120)는 굴뚝(20) 내측 공간(21)에서 평면 광(111)이 조사되는 영역을 촬영하여 입자 촬영 이미지를 생성한다. 입자 촬영 부재(120)는 굴뚝(20)의 내부 공간(21)에서 소정 높이에 위치할 수 있다. 일 예에 의하면, 입자 촬영 부재(120)는 평면 광(111)과 동일 높이에 위치할 수 있다. 이와 달리, 입자 촬영 부재(120)는 평면 광(111)과 상이한 높이에 위치할 수 있다. 입자 촬영 부재(120)에서 생성된 입자 촬영 이미지는 데이터 전송 수단을 통해 제어부에 수신된다.The particle photographing member 120 photographs an area in which the flat light 111 is irradiated in the inner space 21 of the chimney 20 to generate a particle photographed image. The particle photographing member 120 may be positioned at a predetermined height in the inner space 21 of the chimney 20. According to an example, the particle photographing member 120 may be positioned at the same height as the flat light 111. Alternatively, the particle photographing member 120 may be positioned at a different height from the planar light 111. The particle photographed image generated by the particle photographing member 120 is received by the control unit through data transmission means.

제어부는 수신된 입자 촬영 이미지로부터 굴뚝(20)의 내부 공간(21)에 머무르는 입자 양과 밀도를 측정한다. The control unit measures the amount and density of particles remaining in the interior space 21 of the chimney 20 from the received particle photographed image.

도 3은 입자 촬영 이미지를 m×n개의 단위 셀로 분할한 모습을 나타내는 도면이고, 도 4는 일 예에 따라 단위 셀별로 해당 단위 셀에 포함된 픽셀들의 인텐시티 값들 중 최대 인텐시티 값을 표시한 입자 촬영 이미지를 나타내는 도면이다.FIG. 3 is a view showing a state in which a particle photographed image is divided into m×n unit cells, and FIG. 4 is a particle photograph showing a maximum intensity value among intensity values of pixels included in a corresponding unit cell for each unit cell according to an example It is an image showing an image.

도 3 및 도 4를 참조하면, 일 예에 의하면, 제어부는 입자 촬영 이미지(210)를 m×n(m, n은 자연수)개의 단위 셀(B11, B12, B13, ···, Bmn)로 분할하고, 각각의 단위 셀(B11, B12, B13, ···, Bmn)마다 해당 단위 셀(B11, B12, B13, ···, Bmn)에 포함된 픽셀별로 인텐시티 값을 얻는다. 입자 양이 많은 영역(211)을 촬영한 단위 셀의 픽셀들은 높은 인텐시티 값을 갖는다. 인텐시티 값들 중 최대 인텐시티 값이 해당 단위 셀(B11, B12, B13, ···, Bmn)의 대표 값으로 선택될 수 있다. 그리고 제어부는 인텐시티 값과 기 설정된 기준 값을 비교하고, 특정 픽셀의 인텐시티 값이 상기 기준 값을 초과하는 경우 해당 픽셀을 포함하는 단위 셀(B11, B12, B13, ···, Bmn)을 관심 단위 셀로 분류한다. 여기서, 기준 값은 입자 양과 밀도, 그리고 사이즈를 달리하며 측정한 산란된 광의 인텐시티 값 데이터에서 사용자에 의해 선택될 수 있다. 따라서, 인텐시티 값을 알게 되면, 해당 셀(B11, B12, B13, ···, Bmn) 내의 입자 양과 밀도, 그리고 사이즈를 알 수 있다. 제어부는 관심 단위 셀(B11, B12, B13, ···, Bmn)들을 합하여 굴뚝(20)의 내부 공간에 머무르는 입자 양을 측정한다. Referring to FIGS. 3 and 4, according to an example, the controller controls the particle photographed image 210 to be m×n (m, n is a natural number) unit cells (B 11 , B 12 , B 13 , ...), B mn ), and for each unit cell (B 11 , B 12 , B 13 , ..., B mn ), to the corresponding unit cell (B 11 , B 12 , B 13 , ..., B mn ) The intensity value is obtained for each included pixel. The pixels of the unit cell photographing the region 211 having a large amount of particles have a high intensity value. The maximum intensity value among the intensity values may be selected as a representative value of the corresponding unit cell (B 11 , B 12 , B 13 , ..., B mn ). Then, the control unit compares the intensity value with a preset reference value, and when the intensity value of a specific pixel exceeds the reference value, a unit cell (B 11 , B 12 , B 13 , ..., B mn) including the corresponding pixel ) Is classified as a unit cell of interest. Here, the reference value may be selected by the user from the intensity value data of the scattered light measured while varying the particle amount, density, and size. Therefore, when the intensity value is known, the amount, density, and size of particles in the corresponding cells (B 11 , B 12 , B 13 , ..., B mn ) can be known. The control unit measures the amount of particles remaining in the inner space of the chimney 20 by adding the unit cells of interest (B 11 , B 12 , B 13 , ..., B mn ).

다른 실시 예에 의하면, 제어부는 입자 촬영 이미지(210)를 m×n(m, n은 자연수)개의 단위 셀(B11, B12, B13, ···, Bmn)로 분할하고, 각각의 단위 셀(B11, B12, B13, ···, Bmn)마다 픽셀별로 인텐시티 값을 얻는다. 그리고 단위 셀(B11, B12, B13, ···, Bmn)마다 픽셀들의 인텐시티 값을 보정하여 인텐시티 보정값을 생성하고, 인텐시티 보정값이 기 설정된 기준 값을 초과하는 픽셀을 포함하는 단위 셀(B11, B12, B13, ···, Bmn)을 관심 단위 셀들을 분류한다. 그리고 제어부는 관심 단위 셀들의 개수를 합하여 입자 양을 측정한다.According to another embodiment, the controller divides the particle photographed image 210 into m×n (m, n is a natural number) unit cells (B 11 , B 12 , B 13 , ..., B mn ), respectively For each unit cell (B 11 , B 12 , B 13 , ..., B mn ), intensity values are obtained for each pixel. Then, the intensity values of the pixels are corrected for each unit cell (B 11 , B 12 , B 13 , ..., B mn ) to generate an intensity correction value, and the intensity correction value includes pixels exceeding a preset reference value. The unit cells of interest (B 11 , B 12 , B 13 , ..., B mn ) are classified into unit cells of interest. In addition, the control unit measures the amount of particles by adding the number of unit cells of interest.

도 5 및 도 6은 입자 촬영 이미지의 단위 셀별로 인텐시티 값을 보정하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.5 and 6 are views for explaining a method of correcting an intensity value for each unit cell of a particle photographed image.

도 5 및 도 6을 참조하면, 입자 촬영 이미지(210)에서 얻게 되는 인텐시티 값은 광(111)이 입자(P1, P2)에 의해 산란되어 입자 촬영 부재(120)에 수광 되기까지의 이동 거리(r1, r2)에 따라 달라진다. 때문에, 정확한 입자 양을 산출하기 위해서는 입자 촬영 이미지(210)에서 얻게 되는 인텐시티 값에 광의 이동 거리(r1, r2)를 반영한 보정이 요구된다.5 and 6, the intensity value obtained from the particle photographed image 210 is shifted until the light 111 is scattered by the particles P 1 and P 2 and received by the particle photographing member 120. It depends on the distance (r 1 , r 2 ). Therefore, in order to calculate an accurate particle amount, correction that reflects the moving distances r 1 and r 2 of the light is required in the intensity value obtained from the particle photographed image 210.

상기 인텐시티 보정값의 생성은, 입자 촬영 이미지(210)에서 분할된 단위 셀(B11, B12, B13, ···, Bmn)들 각각이 나타내는 위치에 대응하여, 2차원 평면 광이 조사되는 영역(111)을 m×n(m, n은 자연수)개로 분할하여 공간 셀(A11, A12, A13, ···, Amn)들을 생성한다. 그리고 공간 셀(A11, A12, A13, ···, Amn)들 각각의 위치에서 입자 촬영 부재(120)까지의 직선 거리(r1, r2)를 산출하고, 단위 셀(B11, B12, B13, ···, Bmn)마다 인텐시티 값에 직선 거리(r1, r2)의 제곱을 곱하여 인텐시티 보정값을 산출한다. 직선 거리(r1, r2)는 공간 셀(A11, A12, A13, ···, Amn)들의 중심점에서 입자 촬영 부재(120)까지의 거리일 수 있다.The generation of the intensity correction value corresponds to a position indicated by each of the unit cells B 11 , B 12 , B 13 ,..., B mn divided in the particle photographed image 210, so that two-dimensional planar light is generated. The area 111 to be irradiated is divided into m×n (m and n are natural numbers) to generate spatial cells A 11 , A 12 , A 13 ,..., A mn . Then, the linear distances r 1 and r 2 from the positions of the space cells A 11 , A 12 , A 13 ,... A mn to the particle photographing member 120 are calculated, and the unit cell B 11 , B 12 , B 13 , ···, B mn ) is multiplied by the square of the straight line distance (r 1 , r 2 ) and the intensity value is calculated. The linear distances r 1 and r 2 may be distances from the center points of the space cells A 11 , A 12 , A 13 ,... A mn , to the particle photographing member 120.

도 7은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 배출가스 입자 측정 장치를 나타내는 도면이고, 도 8은 도 7의 배출가스 입자 측정 장치에서 생성된 제1 및 제2입자 측정 이미지를 나타내는 도면이다.7 is a view showing an apparatus for measuring exhaust gas particles according to another embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a diagram showing first and second particle measurement images generated by the apparatus for measuring exhaust gas particles in FIG. 7.

도 7 및 도 8을 참조하면, 입자 촬영 부재(120)는 적어도 두 개 이상의 카메라(121, 122)를 포함한다. 각각의 카메라(121, 122)는 서로 다른 높이에 배치되며, 각각 평면 광(111)을 촬영하여 입자 측정 이미지(210, 220)를 생성한다.Referring to FIGS. 7 and 8, the particle photographing member 120 includes at least two or more cameras 121 and 122. Each of the cameras 121 and 122 is disposed at different heights, and each plane photographs the light 111 to generate particle measurement images 210 and 220.

본 실시 예에서는 입차 촬영 부재(230)가 두 개의 카메라(121, 122)를 포함하는 것을 예를 들어 설명한다.In this embodiment, for example, it will be described that the entrance photographing member 230 includes two cameras 121 and 122.

제1카메라(121)는 제1높이에 배치되며, 평면 광(111)을 촬영하여 제1입자 측정 이미지(210)를 생성한다.The first camera 121 is disposed at the first height, and photographs the plane light 111 to generate the first particle measurement image 210.

제2카메라(122)는 제1높이와 상이한 제2높이에 배치되며, 평면 광(111)을 촬영하여 제2입자 측정 이미지(220)를 생성한다. 제2높이는 제1높이보다 높게 위치될 수 있다.The second camera 122 is disposed at a second height different from the first height, and photographs the plane light 111 to generate the second particle measurement image 220. The second height may be positioned higher than the first height.

제어부는 제1입자 측정 이미지(210)와 제2입자 측정 이미지(220) 각각에서 시공 시설(20) 내에 머무르는 입자를 측정한다.The control unit measures particles staying in the construction facility 20 in each of the first particle measurement image 210 and the second particle measurement image 220.

일 실시 예에 의하면, 제어부는 제1입자 촬영 이미지(210)와 제2입자 촬영 이미지(220) 각각을 m×n(m, n은 자연수)개의 단위 셀(B11, B12, B13, ··· Bmn, C11, C12, C13, ··· Cmn)로 분할하고, 각각의 단위 셀(B11, B12, B13, ··· Bmn, C11, C12, C13, ··· Cmn)마다 해당 단위 셀에 포함된 픽셀별로 인텐시티 값을 얻는다. 인텐시티 값은 해당 단위 셀(B11, B12, B13, ··· Bmn, C11, C12, C13, ··· Cmn)에서의 최대 값이 선택될 수 있다. 그리고 제어부는 인텐시티 값과 기 설정된 기준 값을 비교하고, 특정 픽셀의 인텐시티 값이 상기 기준 값을 초과하는 경우 해당 픽셀을 포함하는 단위 셀(B11, B12, B13, ··· Bmn, C11, C12, C13, ··· Cmn)을 관심 단위 셀로 분류한다. 제어부는 관심 단위 셀들을 합하여 굴뚝(20)의 내부 공간에 머무르는 입자 양을 측정한다. According to an embodiment of the present disclosure, the control unit controls each of the first particle photographed image 210 and the second particle photographed image 220 as m×n (m, n is a natural number) unit cells B 11 , B 12 , B 13 , Divide into B mn , C 11 , C 12 , C 13 , ... C mn , and each unit cell (B 11 , B 12 , B 13 , ... B mn , C 11 , C 12 , C 13 ,... C mn ), an intensity value is obtained for each pixel included in the corresponding unit cell. For the intensity value, a maximum value in a corresponding unit cell (B 11 , B 12 , B 13 , ... B mn , C 11 , C 12 , C 13 , ... C mn ) may be selected. Then, the control unit compares the intensity value and a preset reference value, and when the intensity value of a specific pixel exceeds the reference value, a unit cell (B 11 , B 12 , B 13 , ... B mn , containing the pixel) C 11 , C 12 , C 13 , ... C mn ) are classified as unit cells of interest. The control unit measures the amount of particles remaining in the inner space of the chimney 20 by adding the unit cells of interest.

본 실시 예에서는 하나의 평면 광(111)을 서로 다른 높이에서 촬영하여 두 개의 입자 촬영 이미지(210, 220)를 얻는다. m×n 개(B11, B12, B13, ··· Bmn, C11, C12, C13, ··· Cmn)로 각각 분할된 제1입자 촬영 이미지(210)와 제2입자 촬영 이미지(220)는 서로 대응하는 좌표의 단위 셀을 갖는데, 동일한 좌표의 단위 셀에서 측정되는 인텐시티 값은 제1입자 촬영 이미지(210)와 제2입자 촬영 이미지(220)에서 서로 상이할 수 있다. 예를 들어, 제1입자 촬영 이미지(210)의 단위 셀(B11)과 제2입자 촬영 이미지(220)의 단위 셀(C11)은 동일한 공간 셀(A11)을 촬영한 영역인데 측정되는 인텐시티 값이 상이할 수 있다. 이는 입자의 크기에 따라 산란광의 진행 방향이 달라지기 때문이다. 구체적으로, 입자 크기가 작을수록 해당 입자로 진행하는 광의 입사각과 산란각의 사이 각이 커진다. 때문에, 동일한 공간 셀을 촬영하였는데, 제2입자 촬영 이미지(220)에서 얻은 단위 셀의 인텐시티 값이 제1입자 촬영 이미지(210)에서 얻은 단위 셀의 인텐시티 값보다 크면, 해당 단위 셀에서 측정된 입자 크기가 작음을 알 수 있다. 이와 반대로, 제1입자 촬영 이미지(210)에서 얻은 단위 셀의 인텐시티 값이 제2입자 촬영 이미지(220)에서 얻은 단위 셀의 인텐시티 값보다 크면, 해당 단위 셀에서 측정된 입자 크기가 큼을 알 수 있다.In this embodiment, one plane light 111 is photographed at different heights to obtain two particle photographed images 210 and 220. First particle photographed image 210 and second divided into m×n pieces (B 11 , B 12 , B 13 , ... B mn , C 11 , C 12 , C 13 , ... C mn ), respectively The particle photographed image 220 has unit cells of coordinates corresponding to each other, and the intensity values measured in the unit cells of the same coordinates may be different from each other in the first particle photographed image 210 and the second particle photographed image 220. have. For example, the first unit cell (C 11) of the particles photographed image 210, the unit cell (B 11) and a second particle-up image 220 of the can to be measured inde of recording on the same area cell (A 11) regions Intensity values may be different. This is because the traveling direction of scattered light varies depending on the particle size. Specifically, the smaller the particle size, the larger the angle between the angle of incidence and the angle of scattering of light traveling to the particle. Therefore, when the same spatial cell was photographed, and the intensity value of the unit cell obtained from the second particle photographed image 220 is greater than the intensity value of the unit cell obtained from the first particle photographed image 210, particles measured in the corresponding unit cell It can be seen that the size is small. Conversely, when the intensity value of the unit cell obtained from the first particle photographed image 210 is greater than the intensity value of the unit cell obtained from the second particle photographed image 220, it can be seen that the particle size measured in the corresponding unit cell is large. .

이와 같이, 본 실시 예에서는 두 개의 카메라(121, 122)를 통해 굴뚝(20)의 내부 공간(21)에 머무르는 입자 양과 입자 크기를 측정할 수 있다.As described above, in the present exemplary embodiment, the particle amount and particle size staying in the inner space 21 of the chimney 20 may be measured through the two cameras 121 and 122.

다른 실시 예에 의하면, 제어부는 제1입자 촬영 이미지(210)와 제2입자 촬영 이미지(220)를 각각 m×n(m, n은 자연수)개의 단위 셀(B11, B12, B13, ··· Bmn, C11, C12, C13, ··· Cmn)로 분할하고, 각각의 단위 셀(B11, B12, B13, ··· Bmn, C11, C12, C13, ··· Cmn)마다 픽셀별로 인텐시티 값을 얻는다. 그리고 단위 셀(B11, B12, B13, ··· Bmn, C11, C12, C13, ··· Cmn)마다 인텐시티 값을 보정하여 인텐시티 보정값을 산출하고, 단위 셀(B11, B12, B13, ··· Bmn, C11, C12, C13, ··· Cmn)들 중 인텐시티 보정값이 기 설정된 기준 값을 초과하는 픽셀을 포함하는 단위 셀을 관심 단위 셀들을 분류한다. 그리고 제어부는 관심 단위 셀들의 개수를 합하여 입자 양을 측정한다.According to another embodiment, the controller controls the first particle photographed image 210 and the second particle photographed image 220 to be m×n (m, n is a natural number) unit cells B 11 , B 12 , B 13 , Divide into B mn , C 11 , C 12 , C 13 , ... C mn , and each unit cell (B 11 , B 12 , B 13 , ... B mn , C 11 , C 12 , C 13 ,... C mn ), to obtain an intensity value for each pixel. Then, the intensity value is corrected for each unit cell (B 11 , B 12 , B 13 , ... B mn , C 11 , C 12 , C 13 , ... C mn ) to calculate an intensity correction value, and the unit cell ( B 11, B 12, B 13 , ··· B mn, C 11, C 12, C 13, a unit cell containing ··· C mn) of the pixel intensity correction value of the group exceeds a preset reference value, The unit cells of interest are classified. In addition, the control unit measures the amount of particles by adding the number of unit cells of interest.

상기 인텐시티 보정값의 산출은, 제1 및 제2 입자 촬영 이미지(210, 220)에서 분할된 단위 셀(B11, B12, B13, ··· Bmn, C11, C12, C13, ··· Cmn)들 각각이 나타내는 위치에 대응하여, 2차원 평면 광이 조사되는 영역(111)을 m×n(m, n은 자연수)개로 분할하여 공간 셀들(A11, A12, A13, ··· Amn)을 생성한다. 그리고 공간 셀(A11, A12, A13, ··· Amn)들 각각의 위치에서 입자 촬영 부재(121, 122)까지의 직선 거리(r3, r4)를 산출하고, 단위 셀(B11, B12, B13, ··· Bmn, C11, C12, C13, ··· Cmn)마다 인텐시티 값에 직선 거리(r3, r4)의 제곱을 곱하여 인텐시티 보정값을 산출한다.Calculation of the intensity correction value, unit cells (B 11 , B 12 , B 13 , ...) B mn , C 11 , C 12 , C 13 divided in the first and second particle photographed images 210, 220 , ··· C mn ) corresponding to the position indicated by each, divides the area 111 irradiated with the 2D plane light into m×n (m, n is a natural number) space cells A 11 , A 12 , A 13 ,... A mn ). Then, the linear distances r 3 and r 4 from the positions of the space cells A 11 , A 12 , A 13 , and A mn to the particle photographing members 121 and 122 are calculated, and the unit cells ( B 11, B 12, B 13 , ··· B mn, C 11, C 12, C 13, ··· C mn) per linear distance in intensity values (r 3, r 4) intensity correction value by multiplying the square of the Calculate

본 실시 예에서는 굴뚝 내측 공간(21)의 입자 위치로부터 제1 및 제2카메라(121, 122)까지의 거리(r3, r4)를 반영하여 제1 및 제2 입자 촬영 이미지(210, 220)의 인텐시티 값을 보정함으로써, 굴뚝(C)의 내부 공간에 머무르는 입자 양과 입자 크기를 정확하게 측정할 수 있다.In this embodiment, the first and second particle photographed images 210 and 220 are reflected by reflecting the distances r 3 and r 4 from the particle positions in the chimney inner space 21 to the first and second cameras 121 and 122. By correcting the intensity value of ), it is possible to accurately measure the amount and particle size of particles remaining in the inner space of the chimney C.

도 9는 본 발명의 일 실시 예에 배출가스 입자 측정 방법을 나타내는 순서도이다.9 is a flow chart showing a method for measuring exhaust gas particles in an embodiment of the present invention.

도 9를 참조하면, 배출가스 입자 측정 방법은, 시공 시설의 내측 공간으로 2차원 평면 광을 조사하는 광 조사 단계(S10), 상기 내측 공간으로 조사된 상기 2차원 평면 광을 촬영하여 입자 측정 이미지를 생성하는 입자 측정 이미지 생성 단계(S20), 상기 입자 촬영 이미지로부터 상기 시공 시설 내의 공간에 머무르는 입자 양을 측정하는 입자 양 측정 단계(S30)를 포함한다.Referring to FIG. 9, a method for measuring exhaust gas particles comprises: a light irradiation step (S10) of irradiating two-dimensional planar light into an inner space of a construction facility, and measuring a particle by photographing the two-dimensional planar light irradiated into the inner space It includes a particle measurement image generation step (S20) for generating, and a particle amount measurement step (S30) for measuring the amount of particles remaining in the space in the construction facility from the particle photographed image.

일 실시 예에 의하면, 상기 입자 양 측정 단계(S30)는, 상기 입자 촬영 이미지를 m×n(m, n은 자연수)개의 단위 셀로 분할하고, 각각의 단위 셀마다 픽셀별로 인텐시티 값을 얻고, 상기 단위 셀들 중 상기 인텐시티 값이 기 설정된 기준 값을 초과하는 픽셀을 포함하는 단위 셀을 관심 단위 셀들을 분류하고, 상기 관심 단위 셀들의 개수를 합하여 상기 입자 양을 측정할 수 있다.According to an embodiment, in the step of measuring the particle amount (S30), the particle photographed image is divided into m×n (m, n is a natural number) unit cells, and an intensity value for each pixel is obtained for each unit cell, and the Among the unit cells, the unit cells of interest may be classified into a unit cell including a pixel whose intensity value exceeds a preset reference value, and the number of the unit cells of interest may be summed to measure the particle amount.

다른 실시 예에 의하면, 상기 입자 양 측정 단계(S30)는, 상기 입자 촬영 이미지를 m×n(m, n은 자연수)개의 단위 셀로 분할하고, 각각의 상기 단위 셀마다 픽셀별로 인텐시티 값을 얻고, 상기 단위 셀마다 상기 인텐시티 값을 보정하여 인텐시티 보정값을 산출하고, 상기 단위 셀들 중 상기 인텐시티 보정값이 기 설정된 기준 값을 초과하는 픽셀을 포함하는 단위 셀을 관심 단위 셀들을 분류하고, 상기 관심 단위 셀들의 개수를 합하여 상기 입자 양을 측정한다. 상기 단위 셀마다 상기 인텐시티 값의 보정은, 상기 단위 셀들 각각이 나타내는 위치에 대응하여 상기 2차원 평면 광이 조사되는 영역을 상기 m×n(m, n은 자연수)개로 분할하여 공간 셀들을 생성하고, 상기 공간 셀들 각각의 위치에서 상기 입자 촬영 부재까지의 직선 거리를 산출하고, 상기 단위 셀마다 상기 인텐시티 값에 상기 직선 거리의 제곱을 곱하여 상기 인텐시티 보정값을 산출한다.According to another embodiment, in the measuring of the particle amount (S30), the particle photographed image is divided into m×n (m, n is a natural number) unit cells, and an intensity value is obtained for each pixel of each unit cell, For each unit cell, the intensity value is corrected to calculate an intensity correction value, and among the unit cells, a unit cell including a pixel whose intensity correction value exceeds a preset reference value is classified into interest unit cells, and the interest unit The number of cells is summed to measure the particle amount. Correction of the intensity value for each unit cell generates space cells by dividing an area in which the two-dimensional plane light is irradiated into m×n (m, n is a natural number) corresponding to a position indicated by each of the unit cells, , Calculates a straight line distance from each of the space cells to the particle photographing member, and calculates the intensity correction value by multiplying the intensity value by the square of the straight line distance for each unit cell.

또 다른 실시 예에 의하면, 상기 입자 측정 이미지 생성 단계(S20)는, 제1높이에서 상기 제2차원 평면 광을 촬영하여 제1입자 측정 이미지를 생성하는 단계와, 상기 제1높이와 상이한 제2높이에서 상기 제2차원 평면 광을 촬영하여 제2입자 측정 이미지를 생성하는 단계를 포함한다. According to another embodiment, the generating of the particle measurement image (S20) may include generating a first particle measurement image by photographing the second dimensional plane light at a first height, and a second different from the first height. And photographing the second dimensional plane light at a height to generate a second particle measurement image.

상기 입자 양 측정 단계(S30)는, 상기 제1입자 측정 이미지와 상기 제2입자 측정 이미지 각각에서 상기 시공 시설 내에 머무르는 입자 양을 측정한다. 구체적으로, 상기 제1입자 촬영 이미지와 상기 제2입자 촬영 이미지 각각을 m×n(m, n은 자연수)개의 단위 셀로 분할하고, 각각의 단위 셀마다 픽셀별로 인텐시티 값을 얻고, 상기 단위 셀들 중 상기 인텐시티 값이 기 설정된 기준 값을 초과하는 픽셀을 포함하는 단위 셀을 관심 단위 셀들을 분류하고, 상기 관심 단위 셀들의 개수를 합하여 상기 입자 양을 측정하는 배출가스 입자 측정 장치.In the particle amount measurement step (S30), the amount of particles remaining in the construction facility is measured in each of the first particle measurement image and the second particle measurement image. Specifically, each of the first particle photographed image and the second particle photographed image is divided into m×n (m, n is a natural number) unit cells, and an intensity value is obtained for each pixel in each unit cell, and among the unit cells A device for measuring exhaust gas particles that classifies unit cells of interest into unit cells containing pixels in which the intensity value exceeds a preset reference value, and measures the amount of particles by adding the number of unit cells of interest.

또 다른 실시 예에 의하면, 상기 입자 양 측정 단계(S30)는, 상기 제1입자 촬영 이미지와 상기 제2입자 촬영 이미지 각각을 m×n(m, n은 자연수)개의 단위 셀로 분할하고, 각각의 단위 셀마다 픽셀별로 인텐시티 값을 얻고, 상기 단위 셀마다 상기 인텐시티 값을 보정하여 인텐시티 보정값을 산출하고, 상기 단위 셀들 중 상기 인텐시티 보정값이 기 설정된 기준 값을 초과하는 픽셀을 포함하는 단위 셀을 관심 단위 셀들을 분류하고, 상기 관심 단위 셀들의 개수를 합하여 상기 입자 양을 측정한다. 상기 단위 셀마다 상기 픽셀별 인텐시티 값의 보정은, 상기 단위 셀들 각각이 나타내는 위치에 대응하여 상기 2차원 평면 광이 조사되는 영역을 상기 m×n(m, n은 자연수)개로 분할하여 공간 셀들을 생성하고, 상기 공간 셀들 각각의 위치에서 상기 제1카메라와 상기 제2카메라까지의 직선 거리를 산출하고, 상기 단위 셀마다 상기 인텐시티 값에 상기 직선 거리의 제곱을 곱하여 상기 인텐시티 보정값을 산출할 수 있다.According to another embodiment, in the measuring of the particle amount (S30), each of the first particle photographed image and the second particle photographed image is divided into m×n (m, n is a natural number) unit cells, and For each unit cell, an intensity value is obtained for each pixel, and the intensity value is corrected for each unit cell to calculate an intensity correction value, and among the unit cells, a unit cell including a pixel whose intensity correction value exceeds a preset reference value The unit cells of interest are classified, and the number of the unit cells of interest is summed to measure the particle amount. Correction of the intensity value for each pixel of each unit cell is divided into m×n (m, n is a natural number) regions in which the two-dimensional planar light is irradiated in correspondence to a position indicated by each of the unit cells. Generate, calculate the straight line distance from each of the space cells to the first camera and the second camera, and multiply the intensity value by the square of the straight line distance for each unit cell to calculate the intensity correction value. have.

이상, 본 발명을 바람직한 실시 예를 사용하여 상세히 설명하였으나, 본 발명의 범위는 특정 실시 예에 한정되는 것은 아니며, 첨부된 특허청구범위에 의하여 해석되어야 할 것이다. 또한, 이 기술분야에서 통상의 지식을 습득한 자라면, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않으면서도 많은 수정과 변형이 가능함을 이해하여야 할 것이다.As described above, the present invention has been described in detail using preferred embodiments, but the scope of the present invention is not limited to specific embodiments, and should be interpreted by the appended claims. In addition, those skilled in the art should understand that many modifications and variations are possible without departing from the scope of the present invention.

10: 배출가스 입자 측정 장치
110: 광 조사 부재
113: 광원
115: 렌즈
120: 입자 촬영 부재
210, 220: 입자 촬영 이미지
Anm: 공간 셀
Bnm, Cnm: 단위 셀10: emission gas particle measuring device
110: no light irradiation
113: light source
115: lens
120: no particle shooting
210, 220: Particle shooting image
A nm : space cell
B nm , C nm : unit cell

Claims (9)

시공 시설의 내측 공간으로 2차원 평면 광을 조사하는 광 조사 부재;
상기 내측 공간으로 조사된 상기 2차원 평면 광을 촬영하여 입자 측정 이미지를 생성하는 입자 촬영 부재;
상기 입자 측정 이미지로부터 상기 시공 시설 내의 공간에 머무르는 입자 양을 측정하는 제어부를 포함하고,
상기 제어부는,
상기 입자 측정 이미지를 m×n(m, n은 자연수)개의 단위 셀로 분할하고, 각각의 상기 단위 셀마다 픽셀별로 인텐시티 값을 얻고, 상기 단위 셀마다 상기 픽셀들의 인텐시티 값을 보정하여 인텐시티 보정값을 산출하고, 상기 인텐시티 보정값이 기 설정된 기준 값을 초과하는 픽셀을 포함하는 단위 셀을 관심 단위 셀들로 분류하고, 상기 관심 단위 셀들의 개수를 합하여 상기 입자 양을 측정하되,
상기 단위 셀마다 상기 픽셀들의 인텐시티 값의 보정은,
상기 단위 셀들 각각이 나타내는 위치에 대응하여 상기 2차원 평면 광이 조사되는 영역을 상기 m×n(m, n은 자연수)개로 분할하여 공간 셀들을 생성하고, 상기 공간 셀들 각각의 위치에서 상기 입자 촬영 부재까지의 직선 거리를 산출하고, 상기 단위 셀마다 상기 픽셀들의 인텐시티 값에 상기 직선 거리의 제곱을 곱하여 상기 인텐시티 보정값을 산출하는 배출가스 입자 측정 장치.A light irradiation member that irradiates two-dimensional planar light into the inner space of the construction facility;
A particle photographing member photographing the 2D plane light irradiated into the inner space to generate a particle measurement image;
It includes a control unit for measuring the amount of particles remaining in the space in the construction facility from the particle measurement image,
The control unit,
The particle measurement image is divided into m×n (m, n is a natural number) unit cells, an intensity value for each pixel is obtained for each unit cell, and an intensity correction value is corrected by correcting an intensity value of the pixels for each unit cell. Calculating, classifying the unit cell including the pixel whose intensity correction value exceeds a predetermined reference value into unit of interest cells, and summing the number of the unit of interest cells to measure the particle amount,
The intensity value of the pixels for each unit cell is corrected,
In response to a position indicated by each of the unit cells, the area to which the 2D planar light is irradiated is divided into m×n (m, n is a natural number) to generate space cells, and the particle is photographed at each of the space cells An exhaust gas particle measuring apparatus for calculating a straight line distance to a member and calculating the intensity correction value by multiplying the intensity value of the pixels for each unit cell by the square of the straight line distance. 삭제delete 삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 입자 촬영 부재는
제1높이에서 상기 2차원 평면 광을 촬영하여 제1입자 측정 이미지를 생성하는 제1카메라; 및
상기 제1높이와 상이한 제2높이에서 상기 2차원 평면 광을 촬영하여 제2입자 측정 이미지를 생성하는 제2카메라를 포함하되,
상기 제어부는 상기 제1입자 측정 이미지와 상기 제2입자 측정 이미지 각각에서 상기 시공 시설 내에 머무르는 입자 양을 측정하는 배출가스 입자 측정 장치.According to claim 1,
The particle photographing member
A first camera that photographs the two-dimensional planar light at a first height to generate a first particle measurement image; And
And a second camera that photographs the 2D plane light at a second height different from the first height to generate a second particle measurement image.
The control unit is an exhaust gas particle measuring device for measuring the amount of particles remaining in the construction facility in each of the first particle measurement image and the second particle measurement image. 삭제delete 삭제delete 시공 시설의 내측 공간으로 2차원 평면 광을 조사하는 광 조사 단계;
상기 내측 공간으로 조사된 상기 2차원 평면 광을 입자 촬영 부재로 촬영하여 입자 측정 이미지를 생성하는 입자 측정 이미지 생성 단계; 및
상기 입자 측정 이미지로부터 상기 시공 시설 내의 공간에 머무르는 입자 양을 측정하는 입자 양 측정 단계를 포함하되,
상기 입자 양 측정 단계는
상기 입자 측정 이미지를 m×n(m, n은 자연수)개의 단위 셀로 분할하고, 각각의 상기 단위 셀마다 픽셀별로 인텐시티 값을 얻고, 상기 단위 셀마다 상기 픽셀들의 인텐시티 값을 보정하여 인텐시티 보정값을 산출하고, 상기 인텐시티 보정값이 기 설정된 기준 값을 초과하는 픽셀을 포함하는 단위 셀을 관심 단위 셀들로 분류하고, 상기 관심 단위 셀들의 개수를 합하여 상기 입자 양을 측정하되,
상기 단위 셀마다 상기 픽셀들의 인텐시티 값의 보정은,
상기 단위 셀들 각각이 나타내는 위치에 대응하여 상기 2차원 평면 광이 조사되는 영역을 상기 m×n(m, n은 자연수)개로 분할하여 공간 셀들을 생성하고, 상기 공간 셀들 각각의 위치에서 상기 입자 촬영 부재까지의 직선 거리를 산출하고, 상기 단위 셀마다 상기 픽셀들의 인텐시티 값에 상기 직선 거리의 제곱을 곱하여 상기 인텐시티 보정값을 산출하는 배출가스 입자 측정 방법.A light irradiation step of irradiating two-dimensional planar light into the inner space of the construction facility;
A particle measurement image generation step of photographing the 2D plane light irradiated into the inner space with a particle imaging member to generate a particle measurement image; And
Including the particle amount measurement step of measuring the amount of particles remaining in the space in the construction facility from the particle measurement image,
The particle amount measurement step
The particle measurement image is divided into m×n (m, n is a natural number) unit cells, an intensity value for each pixel is obtained for each unit cell, and an intensity correction value is corrected by correcting an intensity value of the pixels for each unit cell. Calculating, classifying the unit cell including the pixel whose intensity correction value exceeds a predetermined reference value into unit of interest cells, and summing the number of the unit of interest cells to measure the particle amount,
The intensity value of the pixels for each unit cell is corrected,
In response to a position indicated by each of the unit cells, the area to which the 2D planar light is irradiated is divided into m×n (m, n is a natural number) to generate space cells, and the particle is photographed at each of the space cells A method for measuring exhaust gas particles by calculating a straight line distance to a member and multiplying the intensity value of the pixels by the square of the straight line distance for each unit cell to calculate the intensity correction value. 제 7 항에 있어서,
상기 입자 측정 이미지 생성 단계는
제1높이에서 상기 제2차원 평면 광을 촬영하여 제1입자 측정 이미지를 생성하는 단계; 및
상기 제1높이와 상이한 제2높이에서 상기 제2차원 평면 광을 촬영하여 제2입자 측정 이미지를 생성하는 단계를 포함하되,
상기 입자 양 측정 단계는,
상기 제1입자 측정 이미지와 상기 제2입자 측정 이미지 각각에서 상기 시공 시설 내에 머무르는 입자 양을 측정하는 배출가스 입자 측정 방법.The method of claim 7,
The particle measurement image generation step
Generating a first particle measurement image by photographing the second dimensional plane light at a first height; And
And generating a second particle measurement image by photographing the second dimensional planar light at a second height different from the first height,
The particle amount measurement step,
Emission gas particle measurement method for measuring the amount of particles remaining in the construction facility in each of the first particle measurement image and the second particle measurement image. 삭제delete
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102413574B1 (en) * 2022-02-16 2022-06-27 주식회사 다산에스엠 Improved chimney dust measuring device
KR20220099658A (en) * 2021-01-07 2022-07-14 (주)제이에스티앤랩 Dust analyzer

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006038601A (en) * 2004-07-26 2006-02-09 Horiba Ltd Particle size distribution measuring device
KR20070091236A (en) * 2005-02-03 2007-09-07 가부시키가이샤 레이텍스 Defective particle measuring apparatus and defective particle measuring method
KR20100081276A (en) * 2008-10-21 2010-07-14 호쿠토 덴시 고교 가부시키가이샤 Method and device for the detection of particle size in liquid
KR101382390B1 (en) * 2012-11-28 2014-04-10 대한민국 Disdrometer apparatus for using laser beam and method for operating disdrometer apparatus
US20150241330A1 (en) * 2007-11-15 2015-08-27 Xtralis Technologies Ltd. Particle detection
KR20160127571A (en) * 2015-04-27 2016-11-04 삼성전기주식회사 Particle visualization device
KR20170066729A (en) * 2015-12-04 2017-06-15 충북대학교 산학협력단 System and method for detecting foreign substance
KR20170089234A (en) * 2016-01-26 2017-08-03 윈포시스(주) Particle Analyzer Microscope
WO2017183597A1 (en) * 2016-04-20 2017-10-26 三菱電機株式会社 Microbody detection device
KR101930796B1 (en) * 2018-06-20 2018-12-19 주식회사 큐픽스 3 Dimensional Coordinates Calculating Apparatus, 3 Dimensional Coordinates Calculating Method, 3 Dimensional Distance Measuring Apparatus and 3 Dimensional Distance Measuring Method Using Images

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006038601A (en) * 2004-07-26 2006-02-09 Horiba Ltd Particle size distribution measuring device
KR20070091236A (en) * 2005-02-03 2007-09-07 가부시키가이샤 레이텍스 Defective particle measuring apparatus and defective particle measuring method
US20150241330A1 (en) * 2007-11-15 2015-08-27 Xtralis Technologies Ltd. Particle detection
KR20100081276A (en) * 2008-10-21 2010-07-14 호쿠토 덴시 고교 가부시키가이샤 Method and device for the detection of particle size in liquid
KR101382390B1 (en) * 2012-11-28 2014-04-10 대한민국 Disdrometer apparatus for using laser beam and method for operating disdrometer apparatus
KR20160127571A (en) * 2015-04-27 2016-11-04 삼성전기주식회사 Particle visualization device
KR20170066729A (en) * 2015-12-04 2017-06-15 충북대학교 산학협력단 System and method for detecting foreign substance
KR20170089234A (en) * 2016-01-26 2017-08-03 윈포시스(주) Particle Analyzer Microscope
WO2017183597A1 (en) * 2016-04-20 2017-10-26 三菱電機株式会社 Microbody detection device
KR101930796B1 (en) * 2018-06-20 2018-12-19 주식회사 큐픽스 3 Dimensional Coordinates Calculating Apparatus, 3 Dimensional Coordinates Calculating Method, 3 Dimensional Distance Measuring Apparatus and 3 Dimensional Distance Measuring Method Using Images

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220099658A (en) * 2021-01-07 2022-07-14 (주)제이에스티앤랩 Dust analyzer
KR102473041B1 (en) * 2021-01-07 2022-12-01 (주)제이에스티앤랩 Dust analyzer
KR102413574B1 (en) * 2022-02-16 2022-06-27 주식회사 다산에스엠 Improved chimney dust measuring device

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