KR102112483B1 - Polyimide precursor resin composition - Google Patents

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Abstract

본원 명세서에 기재된, 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위, 및 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위를 포함하는, 폴리이미드 전구체와;일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 적어도 어느 일방의 화합물과;임의로, 일반식 (4) 로 나타내는 화합물을 포함하는, 수지 조성물. 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량은, 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 1,100 ppm 이하이거나, 혹은, 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물과, 일반식 (4) 중 n 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량이, 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 1,300 ppm 이하이다.The polyimide precursor comprising the structural unit represented by the general formula (1) and the structural unit represented by the general formula (2) described in this specification, and m in the general formula (3-1) or (3-2) A resin composition comprising at least one compound that is an integer of 3 or more; and optionally, a compound represented by general formula (4). The total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more in the general formula (3-1) or (3-2) is more than 0 ppm and 1,100 ppm or less based on the mass of the resin composition, or the general formula (3-1) ) Or the total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more in (3-2) and the compound in which n is an integer of 3 or more in general formula (4) is more than 0 ppm and 1,300 ppm or less based on the mass of the resin composition.

Description

폴리이미드 전구체 수지 조성물Polyimide precursor resin composition

본 발명은 폴리이미드 전구체 수지 조성물 및 폴리이미드 필름에 관한 것이다. 본 발명은 또한, 폴리이미드 필름, 디스플레이, 적층체 및 플렉시블 디바이스의 제조 방법에도 관한 것이다.The present invention relates to a polyimide precursor resin composition and a polyimide film. The invention also relates to a method for manufacturing polyimide films, displays, laminates and flexible devices.

폴리이미드 수지는, 불용, 불융의 초내열성 수지이며, 내열 산화성, 내열 특성, 내방사선성, 내저온성, 내약품성 등이 우수한 특성을 갖고 있다. 이 때문에, 폴리이미드 수지는, 전자 재료를 포함하는 광범위한 분야에서 사용되고 있다. 전자 재료 분야에 있어서의 폴리이미드 수지의 적용 예로는, 예를 들어 절연 코팅재, 절연막, 반도체, 박막 트랜지스터 액정 디스플레이 (TFT-LCD) 의 전극 보호막 등을 들 수 있다. 최근에는, 폴리이미드 필름의 가벼움, 유연성을 이용하여, 디스플레이 재료의 분야에 있어서 종래 사용되어 온 유리 기판 대신에, 플렉시블 기판으로서도 채용이 검토되고 있다.The polyimide resin is an insoluble and infusible super-heat-resistant resin, and has excellent properties such as heat oxidation resistance, heat resistance, radiation resistance, low temperature resistance, and chemical resistance. For this reason, polyimide resins are used in a wide range of fields including electronic materials. Examples of the application of the polyimide resin in the field of electronic materials include, for example, insulating coating materials, insulating films, semiconductors, electrode protective films of thin film transistor liquid crystal displays (TFT-LCDs), and the like. In recent years, employing a polyimide film as a flexible substrate has been studied instead of a glass substrate that has been conventionally used in the field of display materials by using lightness and flexibility.

예를 들어 특허문헌 1 은, 비스(디아미노디페닐)술폰 (이하, DAS 라고도 한다) 으로부터 중합되어, 실록산 단위를 갖는 수지 전구체 (중량 평균 분자량 3 만 ∼ 9 만) 를 기재하고 있다. 특허문헌 1 은, 당해 전구체를 경화하여 얻어지는 폴리이미드는, 유리 등의 지지체와의 사이에 발생하는 잔류 응력이 낮고, 내약품성이 우수하고, 큐어 공정 시의 산소 농도에 의한 황색도 (YI 값) 및 전광선 투과율에 대한 영향이 작은 것을 기재하고 있다. 특허문헌 2 는, 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘 (이하, TFMB 라고도 한다) 으로부터 중합되어, 실록산 단위를 갖는 수지 전구체를 기재하고 있다. 특허문헌 2 는, 당해 전구체를 경화하여 얻어지는 폴리이미드 필름은 특정한 유리 전이 온도를 갖고, 무기막과의 사이에 발생하는 잔류 응력이 낮고, 기계적 물성 및 열 안정성이 우수한 것을 기재하고 있다.For example, Patent Document 1 describes a resin precursor (weight average molecular weight 30,000 to 90,000) polymerized from bis (diaminodiphenyl) sulfone (hereinafter also referred to as DAS) and having a siloxane unit. Patent Document 1 shows that the polyimide obtained by curing the precursor has low residual stress generated between a support such as glass, excellent chemical resistance, and yellowness due to oxygen concentration during the curing process (YI value). And that the effect on the total light transmittance is small. Patent Document 2 describes a resin precursor polymerized from 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine (hereinafter also referred to as TFMB) and having a siloxane unit. Patent document 2 describes that the polyimide film obtained by curing the precursor has a specific glass transition temperature, low residual stress generated between the inorganic films, and excellent mechanical properties and thermal stability.

국제 공개 제2014/148441호International Publication No. 2014/148441 국제 공개 제2014/098235호International Publication No. 2014/098235 일본 공개특허공보 2016-029126호Japanese Patent Publication No. 2016-029126 일본 공개특허공보 2006-028533호Japanese Patent Application Publication No. 2006-028533 일본 공개특허공보 2002-012666호Japanese Patent Application Publication No. 2002-012666 일본 공표특허공보 2007-512568호Japanese Patent Publication No. 2007-512568 일본 공표특허공보 2012-511173호Japanese Patent Publication No. 2012-511173 일본 공개특허공보 2010-067957호Japanese Patent Application Publication No. 2010-067957 일본 공개특허공보 2013-179306호Japanese Patent Application Publication No. 2013-179306 국제 공개 제2005/068535호International Publication No. 2005/068535

신에츠 화학 공업 주식회사 홈페이지, “Q & A”, “실리콘 그리스·오일 컴파운드에 대해”, [online], [헤세이 30년 3월 13일 검색], 인터넷 〈URL:https://www.silicone.jp/contact/qa/qa103.shtml〉 Shin-Etsu Chemical Industry Co., Ltd. homepage, “Q & A”, “About silicone grease and oil compounds”, [online], [Search on March 13, 2017], Internet 〈URL: https: //www.silicone.jp /contact/qa/qa103.shtml>

특허문헌 1 및 2 는, 폴리이미드 전구체의 모노머로서, 실록산 함유 화합물을 사용하고 있지만, 이와 같은 실록산 함유 화합물은, 저분자량의 고리형 실록산 (이하, 저분자 고리형 실록산이라고도 한다) 을 함유한다. 이 저분자 고리형 실록산은 휘발성으로, 프로세스의 제조 장치의 접점 불량을 발생할 우려가 있는 것이 알려져 있다. 예를 들어, 비특허문헌 1 을 참조하기 바란다.Patent Documents 1 and 2 use a siloxane-containing compound as a monomer of the polyimide precursor, but such a siloxane-containing compound contains a low molecular weight cyclic siloxane (hereinafter also referred to as a low molecular cyclic siloxane). It is known that this low-molecular cyclic siloxane is volatile, and there is a concern that a contact failure of the process manufacturing apparatus may occur. For example, please refer to Non-Patent Document 1.

이 저분자 고리형 실록산을 정제에 의해 저감한 폴리이미드 전구체에 관한 선행 기술 문헌으로는, 특허문헌 3 ∼ 5 를 들 수 있다. 선행 기술 3 에서는, 실록산 함유 화합물을 아세톤에 첨가 후, 원심 분리하고, 데칸테이션함으로써 저분자 고리형 실록산을 제거하고 있고, 얻어지는 폴리이미드는, 투명성, 아웃 가스의 발생이 적은 것이 기재되어 있다. 특허문헌 4 및 5 에서는, 실록산 함유 화합물을 특정 조건으로 스트리핑하고, 또는 실록산 함유 화합물을 2-부탄온에 용해하여 메탄올로 재침전함으로써, 실록산 함유 화합물을 정제하고 있고, 얻어지는 폴리이미드의 접착성이 개선되는 것이 기재되어 있다.Patent documents 3-5 are mentioned as prior art documents about the polyimide precursor which reduced this low molecular cyclic siloxane by purification. In the prior art 3, after adding the siloxane-containing compound to acetone, centrifugation and decantation remove the low-molecular cyclic siloxane, and it is described that the resulting polyimide has less transparency and less outgassing. In Patent Documents 4 and 5, the siloxane-containing compound is purified by stripping the siloxane-containing compound under specific conditions, or by dissolving the siloxane-containing compound in 2-butanone and reprecipitating with methanol, thereby obtaining the adhesiveness of the resulting polyimide. Improvements are described.

본 발명자들은, 상기 특허문헌 3 ∼ 5 에 기재된 것과 동일한 정제법으로 정제한 실록산 함유 화합물을 사용하여 폴리이미드 전구체를 합성하고, 그것을 사용하여 폴리이미드를 제조하였다. 그 결과, 폴리이미드 제조 프로세스에서 다량의 폴리이미드 전구체를 처리한 경우, 폴리이미드 필름에 부착되는 이물질의 카운트수 평가가 떨어지는 것, 및, 미정제품에 비해 정제품을 사용한 경우의 황색도 (YI 값) 의 개선의 정도가 불충분한 것을 알아내었다. 따라서 본 발명은, 미정제의 실록산 화합물을 사용한 경우와 비교하여, 황색도 (YI 값) 가 보다 개선되고, 폴리이미드 제조 프로세스에서 발생하는 이물질을 저감할 수 있는 폴리이미드 전구체 수지 조성물을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present inventors synthesized a polyimide precursor using a siloxane-containing compound purified by the same purification method as described in Patent Documents 3 to 5, and produced polyimide using the same. As a result, when a large amount of the polyimide precursor is treated in the polyimide manufacturing process, the evaluation of the count count of foreign matters attached to the polyimide film is poor, and the yellowness when using a regular product compared to a crude product (YI value) It was found that the degree of improvement was insufficient. Accordingly, the present invention provides a polyimide precursor resin composition capable of further improving the yellowness (YI value) and reducing foreign matter generated in the polyimide production process, as compared to the case of using the crude siloxane compound. The purpose.

본 발명자들은, 예의 검토를 실시한 결과, 특허문헌 3 ∼ 5 에서 저감되는 저분자 고리형 실록산은, 메틸측 사슬체 (후술하는 일반식 (4)) 이고, 페닐측 사슬체 (후술하는 일반식 (3-1) 또는 (3-2)) 는 아닌 것에 주목하였다. 그리고, 실록산 화합물을 정제하고, 저분자 고리형 실록산의 페닐측 사슬체를 특정한 양으로 저감한 실록산 화합물을 폴리이미드 전구체로서 사용함으로써, 상기 과제를 해결할 수 있는 것을 알아내었다. 이하 [1] ∼ [34] 에, 본 발명의 실시형태의 예를 열기 (列記) 한다.As a result of intensive examination, the present inventors found that the low molecular cyclic siloxane reduced in Patent Documents 3 to 5 is a methyl-side chain (general formula (4) to be described later), and a phenyl-side chain (general formula (3 to be described later). Note that -1) or (3-2)) is not. Then, it has been found that the above problem can be solved by purifying the siloxane compound and using the siloxane compound in which the phenyl side chain of the low-molecular cyclic siloxane is reduced to a specific amount as a polyimide precursor. Hereinafter, examples of the embodiments of the present invention are given in [1] to [34].

[1][One]

하기 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위, 및 하기 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위를 포함하는, 폴리이미드 전구체와;A polyimide precursor comprising a structural unit represented by the following general formula (1) and a structural unit represented by the following general formula (2);

하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 적어도 어느 일방의 화합물과;At least one compound in which m is an integer of 3 or more in the following general formula (3-1) or (3-2);

임의로, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물Optionally, a compound represented by the following general formula (4)

을 포함하는, 수지 조성물로서,A resin composition comprising:

하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량이, 상기 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 1,100 ppm 이하이거나, 혹은, In the following general formula (3-1) or (3-2), the total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more is more than 0 ppm and 1,100 ppm or less, based on the mass of the resin composition, or

하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물과, 하기 일반식 (4) 중 n 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량이, 상기 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 1,300 ppm 이하인, In the following general formula (3-1) or (3-2), the total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more and the compound in which n is an integer of 3 or more in general formula (4) is based on the mass of the resin composition, More than 0 ppm and 1,300 ppm or less,

수지 조성물.Resin composition.

[화학식 1][Formula 1]

Figure 112019083666339-pct00001
Figure 112019083666339-pct00001

{식 중, P1 은, 2 가의 유기기를 나타내고, P2 는, 4 가의 유기기를 나타내고, p 는 양의 정수를 나타낸다.} {In the formula, P 1 represents a divalent organic group, P 2 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer.}

[화학식 2][Formula 2]

Figure 112019083666339-pct00002
Figure 112019083666339-pct00002

{식 중, P3 및 P4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, q 는, 1 ∼ 200 의 정수이다.} {In the formula, P 3 and P 4 are each independently a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 5 carbon atoms or a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, and q is an integer of 1 to 200.}

[화학식 3][Formula 3]

Figure 112019083666339-pct00003
Figure 112019083666339-pct00003

{식 중, m 은 1 이상의 정수이다.} {In the formula, m is an integer of 1 or more.}

[화학식 4][Formula 4]

Figure 112019083666339-pct00004
Figure 112019083666339-pct00004

{식 중, n 은 2 이상의 정수이다.} {In the formula, n is an integer of 2 or more.}

[2][2]

상기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량이, 상기 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 300 ppm 이하인, 항목 1 에 기재된 수지 조성물.The resin composition according to item 1, wherein the total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more in the general formula (3-1) or (3-2) is more than 0 ppm and 300 ppm or less based on the mass of the resin composition.

[3][3]

하기 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위, 및 하기 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위를 포함하는, 폴리이미드 전구체와;A polyimide precursor comprising a structural unit represented by the following general formula (1) and a structural unit represented by the following general formula (2);

하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 또는 4 인, 적어도 어느 일방의 화합물과;At least either compound in which m is 3 or 4 in the following general formula (3-1) or (3-2);

임의로, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물Optionally, a compound represented by the following general formula (4)

을 포함하는, 수지 조성물로서,A resin composition comprising:

하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 인 화합물의 총량이, 상기 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 650 ppm 이하이거나, 혹은, In the following general formula (3-1) or (3-2), the total amount of the compound having m being 3 is more than 0 ppm and less than or equal to 650 ppm, based on the mass of the resin composition, or

하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 4 인 화합물의 총량이, 상기 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 350 ppm 이하인, In the following general formula (3-1) or (3-2), the total amount of the compound whose m is 4 is more than 0 ppm and less than 350 ppm, based on the mass of the resin composition,

수지 조성물.Resin composition.

[화학식 5][Formula 5]

Figure 112019083666339-pct00005
Figure 112019083666339-pct00005

{식 중, P1 은, 2 가의 유기기를 나타내고, P2 는, 4 가의 유기기를 나타내고, p 는 양의 정수를 나타낸다.} {In the formula, P 1 represents a divalent organic group, P 2 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer.}

[화학식 6][Formula 6]

Figure 112019083666339-pct00006
Figure 112019083666339-pct00006

{식 중, P3 및 P4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, q 는, 1 ∼ 200 의 정수이다.} {In the formula, P 3 and P 4 are each independently a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 5 carbon atoms or a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, and q is an integer of 1 to 200.}

[화학식 7][Formula 7]

Figure 112019083666339-pct00007
Figure 112019083666339-pct00007

{식 중, m 은 1 이상의 정수이다.} {In the formula, m is an integer of 1 or more.}

[화학식 8][Formula 8]

Figure 112019083666339-pct00008
Figure 112019083666339-pct00008

{식 중, n 은 2 이상의 정수이다.} {In the formula, n is an integer of 2 or more.}

[4][4]

하기 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위, 및 하기 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위를 포함하는, 폴리이미드 전구체와 A polyimide precursor comprising a structural unit represented by the following general formula (1) and a structural unit represented by the following general formula (2),

하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 적어도 어느 일방의 화합물과;At least one compound in which m is an integer of 3 or more in the following general formula (3-1) or (3-2);

임의로, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물Optionally, a compound represented by the following general formula (4)

을 포함하는, 수지 조성물로서,A resin composition comprising:

하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량이, 상기 수지 조성물 중의 고형분의 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 7,500 ppm 이하이고, 혹은, In the following general formula (3-1) or (3-2), the total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more is more than 0 ppm and 7,500 ppm or less, based on the mass of the solid content in the resin composition, or

하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물과, 하기 일반식 (4) 중 n 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량이, 상기 수지 조성물 중의 고형분의 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 8,600 ppm 이하인, 수지 조성물.In the following general formula (3-1) or (3-2), the total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more and the compound in which n is an integer of 3 or more in the general formula (4) is based on the mass of the solid content in the resin composition. Thus, the resin composition is more than 0 ppm and 8,600 ppm or less.

[화학식 9][Formula 9]

Figure 112019083666339-pct00009
Figure 112019083666339-pct00009

{식 중, P1 은, 2 가의 유기기를 나타내고, P2 는, 4 가의 유기기를 나타내고, p 는 양의 정수를 나타낸다.} {In the formula, P 1 represents a divalent organic group, P 2 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer.}

[화학식 10][Formula 10]

Figure 112019083666339-pct00010
Figure 112019083666339-pct00010

{식 중, P3 및 P4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, q 는, 1 ∼ 200 의 정수이다.} {In the formula, P 3 and P 4 are each independently a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 5 carbon atoms or a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, and q is an integer of 1 to 200.}

[화학식 11][Formula 11]

Figure 112019083666339-pct00011
Figure 112019083666339-pct00011

{식 중, m 은 1 이상의 정수이다.} {In the formula, m is an integer of 1 or more.}

[화학식 12][Formula 12]

Figure 112019083666339-pct00012
Figure 112019083666339-pct00012

{식 중, n 은 2 이상의 정수이다.} {In the formula, n is an integer of 2 or more.}

[5][5]

하기 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위, 및 하기 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위를 포함하는, 폴리이미드 전구체와;A polyimide precursor comprising a structural unit represented by the following general formula (1) and a structural unit represented by the following general formula (2);

하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 또는 4 인, 적어도 어느 일방의 화합물과;At least either compound in which m is 3 or 4 in the following general formula (3-1) or (3-2);

임의로, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물Optionally, a compound represented by the following general formula (4)

을 포함하는, 수지 조성물로서,A resin composition comprising:

하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 인 화합물의 총량이, 상기 수지 조성물 중의 고형분의 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 4,500 ppm 이하이거나, 혹은, In the following general formula (3-1) or (3-2), the total amount of the compound whose m is 3 is more than 0 ppm and 4,500 ppm or less, based on the mass of the solid content in the resin composition, or

하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 4 인 화합물의 총량이, 상기 수지 조성물 중의 고형분의 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 2,500 ppm 이하인, In the following general formula (3-1) or (3-2), the total amount of the compound whose m is 4 is more than 0 ppm and 2,500 ppm or less, based on the mass of the solid content in the resin composition,

수지 조성물.Resin composition.

[화학식 13][Formula 13]

Figure 112019083666339-pct00013
Figure 112019083666339-pct00013

{식 중, P1 은, 2 가의 유기기를 나타내고, P2 는, 4 가의 유기기를 나타내고, p 는 양의 정수를 나타낸다.} {In the formula, P 1 represents a divalent organic group, P 2 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer.}

[화학식 14][Formula 14]

Figure 112019083666339-pct00014
Figure 112019083666339-pct00014

{식 중, P3 및 P4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, q 는, 1 ∼ 200 의 정수이다.} {In the formula, P 3 and P 4 are each independently a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 5 carbon atoms or a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, and q is an integer of 1 to 200.}

[화학식 15][Formula 15]

Figure 112019083666339-pct00015
Figure 112019083666339-pct00015

{식 중, m 은 1 이상의 정수이다.} {In the formula, m is an integer of 1 or more.}

[화학식 16][Formula 16]

Figure 112019083666339-pct00016
Figure 112019083666339-pct00016

[6][6]

상기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 로 나타내는 화합물에 있어서, m 은 3 ∼ 5 의 정수인, 항목 1, 2 및 4 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.In the compound represented by the general formula (3-1) or (3-2), m is an integer of 3 to 5, the resin composition according to any one of items 1, 2 and 4.

[7][7]

상기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물에 있어서, n 은 3 ∼ 8 의 정수인, 항목 1, 2 및 4 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.In the compound represented by the general formula (4), n is an integer of 3 to 8, the resin composition according to any one of items 1, 2 and 4.

[8][8]

상기 폴리이미드 전구체를 경화하여 얻어지는 폴리이미드 수지막이, 플렉시블 기판에 사용되는, 항목 1 ∼ 7 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.The resin composition according to any one of items 1 to 7, wherein the polyimide resin film obtained by curing the polyimide precursor is used for a flexible substrate.

[9][9]

상기 폴리이미드 전구체를 경화하여 얻어지는 폴리이미드 수지막이, 플렉시블 디스플레이에 사용되는, 항목 1 ∼ 7 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.The resin composition according to any one of items 1 to 7, wherein the polyimide resin film obtained by curing the polyimide precursor is used for a flexible display.

[10][10]

하기 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위, 및 하기 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위를 포함하는, 폴리이미드 전구체와;A polyimide precursor comprising a structural unit represented by the following general formula (1) and a structural unit represented by the following general formula (2);

하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 적어도 어느 일방의 화합물과;At least one compound in which m is an integer of 3 or more in the following general formula (3-1) or (3-2);

임의로, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물Optionally, a compound represented by the following general formula (4)

을 포함하는, 수지 조성물로서,A resin composition comprising:

상기 수지 조성물은, 이하:The resin composition is as follows:

하기 일반식 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물과,A silicon-containing compound represented by the following general formula (5),

하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 적어도 어느 일방의 화합물과,At least one compound in which m is an integer of 3 or more in the following general formula (3-1) or (3-2),

임의로, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물을 함유하는 원료 조성물을, 테트라카르복실산 2무수물 및 디아민과 중축합 반응시켜 폴리이미드 전구체를 제공하는 것을 포함하는 방법에 의해 제조되고,Optionally, a raw material composition containing a compound represented by the following general formula (4) is produced by a method comprising polycondensation reaction with tetracarboxylic dianhydride and diamine to provide a polyimide precursor,

상기 원료 조성물에 포함되는, 하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량은, 하기 일반식 (3-1), (3-2), (4) 및 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물의 합계 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 46,000 ppm 이하이거나, 혹은, The total amount of compounds in which m is an integer of 3 or more in the following general formulas (3-1) or (3-2) contained in the raw material composition is the following general formulas (3-1), (3-2), (4) And, based on the total mass of the silicon-containing compound represented by (5), more than 0 ppm and 46,000 ppm or less, or

상기 원료 조성물에 포함되는, 하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물과, 하기 일반식 (4) 중 n 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량은, 상기 일반식 (3-1), (3-2), (4) 및 (5) 의 규소 함유 화합물의 합계 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 47,000 ppm 이하인, The total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more in the following general formula (3-1) or (3-2) and the compound in which n is an integer of 3 or more in the general formula (4) included in the raw material composition is the general formula Based on the total mass of the silicon-containing compounds of (3-1), (3-2), (4) and (5), more than 0 ppm and 47,000 ppm or less,

수지 조성물.Resin composition.

[화학식 17][Formula 17]

Figure 112019083666339-pct00017
Figure 112019083666339-pct00017

{식 중, P1 은, 2 가의 유기기를 나타내고, P2 는, 4 가의 유기기를 나타내고, p 는 양의 정수를 나타낸다.} {In the formula, P 1 represents a divalent organic group, P 2 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer.}

[화학식 18][Formula 18]

Figure 112019083666339-pct00018
Figure 112019083666339-pct00018

{식 중, P3 및 P4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, q 는, 1 ∼ 200 의 정수이다.} {In the formula, P 3 and P 4 are each independently a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 5 carbon atoms or a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, and q is an integer of 1 to 200.}

[화학식 19][Formula 19]

Figure 112019083666339-pct00019
Figure 112019083666339-pct00019

{식 중, m 은 1 이상의 정수이다.} {In the formula, m is an integer of 1 or more.}

[화학식 20][Formula 20]

Figure 112019083666339-pct00020
Figure 112019083666339-pct00020

{식 중, n 은 2 이상의 정수이다.} {In the formula, n is an integer of 2 or more.}

[화학식 21][Formula 21]

Figure 112019083666339-pct00021
Figure 112019083666339-pct00021

{식 중, R1 은, 각각 독립적으로, 단결합 또는 탄소수 1 ∼ 10 의 2 가의 유기기이고, R2 및 R3 은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소기이고, R4 및 R5 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, R6 및 R7 은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 불포화 지방족 탄화수소기를 갖는 유기기이고, L1 및 L2 는, 각각 독립적으로, 아미노기, 산 무수물기, 이소시아네이트기, 카르복실기, 산 에스테르기, 산 할라이드기, 하이드록시기, 에폭시기, 또는 메르캅토기이고, i 및 j 는, 각각 독립적으로, 1 ∼ 200 의 정수이고, k 는, 0 ∼ 200 의 정수이고, 0.05 ≤ j/(i+j+k) ≤ 0.50 이다.} {In the formula, R 1 is, independently, a single bond or a divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, R 2 and R 3 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and at least one Is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, R 4 and R 5 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, at least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, R 6 and R 7 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, at least one is an organic group having an unsaturated aliphatic hydrocarbon group, and L 1 and L 2 are each independently an amino group, an acid anhydride group, An isocyanate group, a carboxyl group, an acid ester group, an acid halide group, a hydroxyl group, an epoxy group, or a mercapto group, i and j are each independently an integer from 1 to 200, and k is an integer from 0 to 200 , 0.05 ≤ j / (i + j + k) ≤ 0.50.}

[11][11]

상기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 로 나타내는 화합물에 있어서, m 은 3 ∼ 5 의 정수인, 항목 10 에 기재된 수지 조성물.In the compound represented by the general formula (3-1) or (3-2), m is an integer of 3 to 5, the resin composition according to item 10.

[12][12]

상기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물에 있어서, n 은 3 ∼ 8 의 정수인, 항목 10 에 기재된 수지 조성물.In the compound represented by the above general formula (4), n is an integer of 3 to 8, the resin composition according to item 10.

[13][13]

하기 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위, 및 하기 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위를 포함하는, 폴리이미드 전구체와;A polyimide precursor comprising a structural unit represented by the following general formula (1) and a structural unit represented by the following general formula (2);

하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 또는 4 인, 적어도 어느 일방의 화합물과;At least either compound in which m is 3 or 4 in the following general formula (3-1) or (3-2);

임의로, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물Optionally, a compound represented by the following general formula (4)

을 포함하는, 수지 조성물로서,A resin composition comprising:

상기 수지 조성물은, 이하:The resin composition is as follows:

하기 일반식 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물과,A silicon-containing compound represented by the following general formula (5),

하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 또는 4 인, 적어도 어느 일방의 화합물과,At least either compound in which m is 3 or 4 in the following general formula (3-1) or (3-2),

임의로, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물을 함유하는 원료 조성물을, 테트라카르복실산 2무수물 및 디아민과 중축합 반응시켜 폴리이미드 전구체를 제공하는 것을 포함하는 방법에 의해 제조되고, Optionally, a raw material composition containing a compound represented by the following general formula (4) is produced by a method comprising polycondensation reaction with tetracarboxylic dianhydride and diamine to provide a polyimide precursor,

상기 원료 조성물에 포함되는, 하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 인 화합물의 총량이, 하기 일반식 (3-1), (3-2), (4) 및 (5) 의 규소 함유 화합물의 합계 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 25,000 ppm 이하이거나, 혹은, The total amount of compounds in which m is 3 in the following general formulas (3-1) or (3-2) contained in the raw material composition is represented by the following general formulas (3-1), (3-2), (4) and Based on the total mass of the silicon-containing compound of (5), it is more than 0 ppm and 25,000 ppm or less, or

상기 원료 조성물에 포함되는, 하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 4 인 화합물의 총량이, 하기 일반식 (3-1), (3-2), (4) 및 (5) 의 규소 함유 화합물의 합계 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 15,000 ppm 이하인, The total amount of compounds in which m is 4 in the following general formulas (3-1) or (3-2) contained in the raw material composition is represented by the following general formulas (3-1), (3-2), (4) and Based on the total mass of the silicon-containing compound (5), more than 0 ppm and 15,000 ppm or less,

수지 조성물.Resin composition.

[화학식 22][Formula 22]

Figure 112019083666339-pct00022
Figure 112019083666339-pct00022

{식 중, P1 은, 2 가의 유기기를 나타내고, P2 는, 4 가의 유기기를 나타내고, p 는 양의 정수를 나타낸다.} {In the formula, P 1 represents a divalent organic group, P 2 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer.}

[화학식 23][Formula 23]

Figure 112019083666339-pct00023
Figure 112019083666339-pct00023

{식 중, P3 및 P4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, q 는, 1 ∼ 200 의 정수이다.} {In the formula, P 3 and P 4 are each independently a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 5 carbon atoms or a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, and q is an integer of 1 to 200.}

[화학식 24][Formula 24]

Figure 112019083666339-pct00024
Figure 112019083666339-pct00024

{식 중, m 은 1 이상의 정수이다.} {In the formula, m is an integer of 1 or more.}

[화학식 25][Formula 25]

Figure 112019083666339-pct00025
Figure 112019083666339-pct00025

{식 중, n 은 2 이상의 정수이다.} {In the formula, n is an integer of 2 or more.}

[화학식 26][Formula 26]

Figure 112019083666339-pct00026
Figure 112019083666339-pct00026

{식 중, R1 은, 각각 독립적으로, 단결합 또는 탄소수 1 ∼ 10 의 2 가의 유기기이고, R2 및 R3 은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소기이고, R4 및 R5 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, R6 및 R7 은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 불포화 지방족 탄화수소기를 갖는 유기기이고, L1 및 L2 는, 각각 독립적으로, 아미노기, 산 무수물기, 이소시아네이트기, 카르복실기, 산 에스테르기, 산 할라이드기, 하이드록시기, 에폭시기, 또는 메르캅토기이고, i 및 j 는, 각각 독립적으로, 1 ∼ 200 의 정수이고, k 는, 0 ∼ 200 의 정수이고, 0.05 ≤ j/(i+j+k) ≤ 0.50 이다.} {In the formula, R 1 is, independently, a single bond or a divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, R 2 and R 3 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and at least one Is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, R 4 and R 5 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, at least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, R 6 and R 7 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, at least one is an organic group having an unsaturated aliphatic hydrocarbon group, and L 1 and L 2 are each independently an amino group, an acid anhydride group, An isocyanate group, a carboxyl group, an acid ester group, an acid halide group, a hydroxyl group, an epoxy group, or a mercapto group, i and j are each independently an integer from 1 to 200, and k is an integer from 0 to 200 , 0.05 ≤ j / (i + j + k) ≤ 0.50.}

[14][14]

상기 일반식 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물의, L1 및 L2 가, 각각 독립적으로, 아미노기, 산 무수물기 및 에폭시기로 이루어지는 군에서 선택되는, 항목 10 ∼ 13 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.The resin composition according to any one of items 10 to 13, wherein L 1 and L 2 of the silicon-containing compound represented by the general formula (5) are each independently selected from the group consisting of an amino group, an acid anhydride group, and an epoxy group. .

[15][15]

상기 일반식 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물의, L1 및 L2 가, 아미노기인, 항목 10 ∼ 14 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.The resin composition according to any one of items 10 to 14, wherein L 1 and L 2 of the silicon-containing compound represented by the general formula (5) are amino groups.

[16][16]

상기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 로 나타내는 화합물이, 상기 일반식 (3-1) 로 나타내는 화합물인, 항목 10 ∼ 15 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.The resin composition according to any one of items 10 to 15, wherein the compound represented by the general formula (3-1) or (3-2) is a compound represented by the general formula (3-1).

[17][17]

상기 테트라카르복실산 2무수물이, 피로멜리트산 2무수물, 3,3',4,4'-비페닐테트라카르복실산 2무수물, 4,4'-옥시디프탈산 무수물, 시클로헥산테트라카르복실산 2무수물, 및 시클로부탄테트라카르복실산 2무수물로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 하나인, 항목 10 ∼ 16 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.The tetracarboxylic dianhydride is pyromellitic dianhydride, 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 4,4'-oxydiphthalic anhydride, cyclohexanetetracarboxylic acid The resin composition according to any one of items 10 to 16, which is at least one selected from the group consisting of a dihydride and a cyclobutanetetracarboxylic dianhydride.

[18][18]

상기 디아민이, 4,4'-디아미노디페닐술폰, m-톨리딘, p-페닐렌디아민, 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘, 및 2,2'-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]프로판으로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 하나인, 항목 10 ∼ 17 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.The diamine is 4,4'-diaminodiphenylsulfone, m-tolidine, p-phenylenediamine, 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine, and 2,2'-bis [4- The resin composition according to any one of items 10 to 17, which is at least one selected from the group consisting of (4-aminophenoxy) phenyl] propane.

[19][19]

하기 일반식 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물과,A silicon-containing compound represented by the following general formula (5),

하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 적어도 어느 일방의 화합물과,At least one compound in which m is an integer of 3 or more in the following general formula (3-1) or (3-2),

임의로, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물을 함유하는 원료 조성물을, 테트라카르복실산 2무수물 및 디아민과 중축합 반응시켜 폴리이미드 전구체를 제공하는 것을 포함하는, 수지 조성물의 제조 방법으로서, Optionally, a method for producing a resin composition comprising providing a polyimide precursor by polycondensing a raw material composition containing a compound represented by the following general formula (4) with tetracarboxylic dianhydride and diamine,

상기 원료 조성물에 포함되는, 하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량은, 하기 일반식 (3-1), (3-2), (4) 및 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물의 합계 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 46,000 ppm 이하이거나, 혹은, The total amount of compounds in which m is an integer of 3 or more in the following general formulas (3-1) or (3-2) contained in the raw material composition is the following general formulas (3-1), (3-2), (4) And, based on the total mass of the silicon-containing compound represented by (5), more than 0 ppm and 46,000 ppm or less, or

상기 원료 조성물에 포함되는, 하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물과, 하기 일반식 (4) 중 n 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량은, 상기 일반식 (3-1), (3-2), (4) 및 (5) 의 규소 함유 화합물의 합계 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 47,000 ppm 이하인, The total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more in the following general formula (3-1) or (3-2) and the compound in which n is an integer of 3 or more in the general formula (4) included in the raw material composition is the general formula Based on the total mass of the silicon-containing compounds of (3-1), (3-2), (4) and (5), more than 0 ppm and 47,000 ppm or less,

수지 조성물의 제조 방법.Method of manufacturing a resin composition.

[화학식 27][Formula 27]

Figure 112019083666339-pct00027
Figure 112019083666339-pct00027

{식 중, m 은 1 이상의 정수이다.} {In the formula, m is an integer of 1 or more.}

[화학식 28][Formula 28]

Figure 112019083666339-pct00028
Figure 112019083666339-pct00028

{식 중, n 은 2 이상의 정수이다.} {In the formula, n is an integer of 2 or more.}

[화학식 29][Formula 29]

Figure 112019083666339-pct00029
Figure 112019083666339-pct00029

{식 중, R1 은, 각각 독립적으로, 단결합 또는 탄소수 1 ∼ 10 의 2 가의 유기기이고, R2 및 R3 은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소기이고, R4 및 R5 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, R6 및 R7 은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 불포화 지방족 탄화수소기를 갖는 유기기이고, L1 및 L2 는, 각각 독립적으로, 아미노기, 산 무수물기, 이소시아네이트기, 카르복실기, 산 에스테르기, 산 할라이드기, 하이드록시기, 에폭시기, 또는 메르캅토기이고, i 및 j 는, 각각 독립적으로, 1 ∼ 200 의 정수이고, k 는, 0 ∼ 200 의 정수이고, 0.05 ≤ j/(i+j+k) ≤ 0.50 이다.} {In the formula, R 1 is, independently, a single bond or a divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, R 2 and R 3 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and at least one Is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, R 4 and R 5 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, at least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, R 6 and R 7 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, at least one is an organic group having an unsaturated aliphatic hydrocarbon group, and L 1 and L 2 are each independently an amino group, an acid anhydride group, An isocyanate group, a carboxyl group, an acid ester group, an acid halide group, a hydroxyl group, an epoxy group, or a mercapto group, i and j are each independently an integer from 1 to 200, and k is an integer from 0 to 200 , 0.05 ≤ j / (i + j + k) ≤ 0.50.}

[20][20]

상기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 로 나타내는 화합물에 있어서, m 은 3 ∼ 5 의 정수인, 항목 19 에 기재된 방법.The method according to item 19, wherein in the compound represented by the general formula (3-1) or (3-2), m is an integer from 3 to 5.

[21][21]

상기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물에 있어서, n 은 3 ∼ 8 의 정수인, 항목 19 에 기재된 방법.The method according to item 19, wherein in the compound represented by the general formula (4), n is an integer from 3 to 8.

[22][22]

하기 일반식 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물과,A silicon-containing compound represented by the following general formula (5),

하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 또는 4 인, 적어도 어느 일방의 화합물과,At least either compound in which m is 3 or 4 in the following general formula (3-1) or (3-2),

임의로, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물을 함유하는 원료 조성물을, 테트라카르복실산 2무수물 및 디아민과 중축합 반응시켜 폴리이미드 전구체를 제공하는 것을 포함하는, 수지 조성물의 제조 방법으로서, Optionally, a method for producing a resin composition comprising providing a polyimide precursor by polycondensing a raw material composition containing a compound represented by the following general formula (4) with tetracarboxylic dianhydride and diamine,

상기 원료 조성물에 포함되는, 하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 인 화합물의 총량이, 하기 일반식 (3-1), (3-2), (4) 및 (5) 의 규소 함유 화합물의 합계 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 25,000 ppm 이하이거나, 혹은, The total amount of compounds in which m is 3 in the following general formulas (3-1) or (3-2) contained in the raw material composition is represented by the following general formulas (3-1), (3-2), (4) and Based on the total mass of the silicon-containing compound of (5), it is more than 0 ppm and 25,000 ppm or less, or

상기 원료 조성물에 포함되는, 하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 4 인 화합물의 총량이, 하기 일반식 (3-1), (3-2), (4) 및 (5) 의 규소 함유 화합물의 합계 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 15,000 ppm 이하인, The total amount of compounds in which m is 4 in the following general formulas (3-1) or (3-2) contained in the raw material composition is represented by the following general formulas (3-1), (3-2), (4) and Based on the total mass of the silicon-containing compound (5), more than 0 ppm and 15,000 ppm or less,

수지 조성물의 제조 방법.Method of manufacturing a resin composition.

[화학식 30][Formula 30]

Figure 112019083666339-pct00030
Figure 112019083666339-pct00030

{식 중, m 은 1 이상의 정수이다.} {In the formula, m is an integer of 1 or more.}

[화학식 31][Formula 31]

Figure 112019083666339-pct00031
Figure 112019083666339-pct00031

{식 중, n 은 2 이상의 정수이다.} {In the formula, n is an integer of 2 or more.}

[화학식 32][Formula 32]

Figure 112019083666339-pct00032
Figure 112019083666339-pct00032

{식 중, R1 은, 각각 독립적으로, 단결합 또는 탄소수 1 ∼ 10 의 2 가의 유기기이고, R2 및 R3 은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소기이고, R4 및 R5 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, R6 및 R7 은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 불포화 지방족 탄화수소기를 갖는 유기기이고, L1 및 L2 는, 각각 독립적으로, 아미노기, 산 무수물기, 이소시아네이트기, 카르복실기, 산 에스테르기, 산 할라이드기, 하이드록시기, 에폭시기, 또는 메르캅토기이고, i 및 j 는, 각각 독립적으로, 1 ∼ 200 의 정수이고, k 는, 0 ∼ 200 의 정수이고, 0.05 ≤ j/(i+j+k) ≤ 0.50 이다.} {In the formula, R 1 is, independently, a single bond or a divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, R 2 and R 3 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and at least one Is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, R 4 and R 5 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, at least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, R 6 and R 7 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, at least one is an organic group having an unsaturated aliphatic hydrocarbon group, and L 1 and L 2 are each independently an amino group, an acid anhydride group, An isocyanate group, a carboxyl group, an acid ester group, an acid halide group, a hydroxyl group, an epoxy group, or a mercapto group, i and j are each independently an integer from 1 to 200, and k is an integer from 0 to 200 , 0.05 ≤ j / (i + j + k) ≤ 0.50.}

[23][23]

상기 일반식 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물의, L1 및 L2 가, 각각 독립적으로, 아미노기, 산 무수물기 및 에폭시기로 이루어지는 군에서 선택되는, 항목 19 ∼ 22 중 어느 한 항에 기재된 방법.The method according to any one of items 19 to 22, wherein L 1 and L 2 of the silicon-containing compound represented by the general formula (5) are each independently selected from the group consisting of an amino group, an acid anhydride group, and an epoxy group.

[24][24]

상기 일반식 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물의, L1 및 L2 가, 아미노기인, 항목 19 ∼ 23 중 어느 한 항에 기재된 방법.The method according to any one of items 19 to 23, wherein L 1 and L 2 of the silicon-containing compound represented by the general formula (5) are amino groups.

[25][25]

상기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 로 나타내는 화합물이, 상기 일반식 (3-1) 로 나타내는 화합물인, 항목 19 ∼ 24 중 어느 한 항에 기재된 방법.The method according to any one of items 19 to 24, wherein the compound represented by the general formula (3-1) or (3-2) is a compound represented by the general formula (3-1).

[26][26]

상기 테트라카르복실산 2무수물이, 피로멜리트산 2무수물, 3,3',4,4'-비페닐테트라카르복실산 2무수물, 4,4'-옥시디프탈산 무수물, 시클로헥산테트라카르복실산 2무수물, 및 시클로부탄테트라카르복실산 2무수물로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 하나인, 항목 19 ∼ 25 중 어느 한 항에 기재된 방법.The tetracarboxylic dianhydride is pyromellitic dianhydride, 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 4,4'-oxydiphthalic anhydride, cyclohexanetetracarboxylic acid The method according to any one of items 19 to 25, which is at least one selected from the group consisting of a dihydride and a cyclobutanetetracarboxylic dianhydride.

[27][27]

상기 디아민이, 4,4'-디아미노디페닐술폰, m-톨리딘, p-페닐렌디아민, 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘, 및 2,2'-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]프로판으로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 하나인, 항목 19 ∼ 26 중 어느 한 항에 기재된 방법.The diamine is 4,4'-diaminodiphenylsulfone, m-tolidine, p-phenylenediamine, 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine, and 2,2'-bis [4- The method according to any one of items 19 to 26, which is at least one selected from the group consisting of (4-aminophenoxy) phenyl] propane.

[28][28]

지지체의 표면 상에, 항목 1 ∼ 18 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 도포하는 도포 공정과, A coating step of applying the resin composition according to any one of items 1 to 18 on the surface of the support;

상기 수지 조성물을 가열하여 폴리이미드 수지막을 형성하는 막 형성 공정과, A film forming step of heating the resin composition to form a polyimide resin film,

상기 폴리이미드 수지막을 상기 지지체로부터 박리하는 박리 공정,Peeling step of peeling the polyimide resin film from the support,

을 포함하는, 폴리이미드 필름의 제조 방법.The manufacturing method of a polyimide film containing the.

[29][29]

상기 박리 공정에 앞서, 상기 지지체측으로부터 상기 수지 조성물에 레이저를 조사하는 조사 공정을 포함하는, 항목 28 에 기재된 폴리이미드 필름의 제조 방법.The manufacturing method of the polyimide film of item 28 including the irradiation process of irradiating a laser to the said resin composition from the said support side prior to the said peeling process.

[30][30]

지지체의 표면 상에, 항목 1 ∼ 18 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 도포하는 도포 공정과, A coating step of applying the resin composition according to any one of items 1 to 18 on the surface of the support;

상기 수지 조성물을 가열하여 폴리이미드 수지막을 형성하는 막 형성 공정과, A film forming step of heating the resin composition to form a polyimide resin film,

상기 폴리이미드 수지막 상에 소자를 형성하는 소자 형성 공정과, An element forming process for forming an element on the polyimide resin film,

상기 소자가 형성된 상기 폴리이미드 수지막을 상기 지지체로부터 박리하는 박리 공정,A peeling step of peeling the polyimide resin film on which the device is formed from the support,

을 포함하는, 디스플레이의 제조 방법.A method of manufacturing a display comprising:

[31][31]

지지체의 표면 상에, 항목 1 ∼ 18 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 도포하는 도포 공정과, A coating step of applying the resin composition according to any one of items 1 to 18 on the surface of the support;

상기 수지 조성물을 가열하여 폴리이미드 수지막을 형성하는 막 형성 공정과, A film forming step of heating the resin composition to form a polyimide resin film,

상기 폴리이미드 수지막 상에 소자를 형성하는 소자 형성 공정,An element forming process of forming an element on the polyimide resin film,

을 포함하는, 적층체의 제조 방법.The manufacturing method of a laminated body containing a.

[32][32]

상기 소자가 형성된 상기 폴리이미드 수지막을 상기 지지체로부터 박리하는 공정을 추가로 포함하는, 항목 31 에 기재된 적층체의 제조 방법.The manufacturing method of the laminated body of item 31 further comprising the process of peeling the said polyimide resin film in which the said element was formed from the said support body.

[33][33]

항목 31 또는 32 에 기재된 방법으로 적층체를 제조하는 것을 포함하는, 플렉시블 디바이스의 제조 방법.A method for manufacturing a flexible device, comprising producing a laminate by the method described in item 31 or 32.

[34][34]

항목 1 ∼ 18 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물의 경화물인, 폴리이미드 필름.A polyimide film which is a cured product of the resin composition according to any one of items 1 to 18.

본 발명에 의하면, 미정제의 실록산 화합물을 사용한 경우와 비교하여, 황색도 (YI 값) 가 보다 개선되고, 폴리이미드 제조 프로세스에서 발생하는 이물질을 저감할 수 있는 폴리이미드 전구체 수지 조성물을 제공할 수 있다. 또한, 상기 서술한 기재는, 본 발명의 모든 실시형태 및 본 발명에 관한 모든 이점을 개시한 것으로 간주해서는 안된다. 본 발명의 추가적인 실시형태 및 그 이점은, 이하의 기재를 참조함으로써 분명해진다.According to the present invention, compared to the case of using the crude siloxane compound, the yellowness (YI value) is improved, and a polyimide precursor resin composition capable of reducing foreign substances generated in the polyimide production process can be provided. have. In addition, the above-mentioned description should not be regarded as disclosing all the embodiments of the present invention and all the advantages related to the present invention. Additional embodiments of the present invention and its advantages will become apparent by referring to the following description.

도 1 은, 본 실시형태의 디스플레이의 예로서, 탑 에미션형 플렉시블 유기 EL 디스플레이의, 폴리이미드 기판보다 상부의 구조를 나타내는 모식도이다.1 is a schematic diagram showing a structure of a top emission type flexible organic EL display, which is an upper structure of a polyimide substrate, as an example of the display of the present embodiment.

이하, 본 발명의 예시의 실시형태 (이하, 「본 실시형태」 라고 약기한다.) 에 대해서, 상세하게 설명한다. 본 발명은, 본 실시형태에 한정되는 것이 아니라, 그 요지의 범위 내에서 여러 가지 변형하여 실시할 수 있다. 본원 명세서에 있어서, 각 수치 범위의 상한값 및 하한값은 임의로 조합할 수 있다.Hereinafter, exemplary embodiment of the present invention (hereinafter abbreviated as "this embodiment") will be described in detail. The present invention is not limited to the present embodiment, and various modifications can be made within the scope of the gist. In the present specification, the upper and lower limits of each numerical range can be arbitrarily combined.

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〈폴리이미드 전구체〉<Polyimide precursor>

일반식 (1) 의 구조 단위Structural unit of formula (1)

제 1 실시형태First embodiment

본 실시형태의 수지 조성물은, 제 1 실시형태에 있어서, 하기 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위를 포함하는, 폴리이미드 전구체를 포함한다.The resin composition of this embodiment contains the polyimide precursor which contains the structural unit represented by the following general formula (1) in 1st embodiment.

[화학식 33][Formula 33]

Figure 112019083666339-pct00033
Figure 112019083666339-pct00033

{식 중, P1 은, 2 가의 유기기를 나타내고, P2 는, 4 가의 유기기를 나타내고, p 는 양의 정수를 나타낸다.} {In the formula, P 1 represents a divalent organic group, P 2 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer.}

일반식 (1) 로 나타내는 구조를 갖는 폴리이미드 전구체는, P2 기를 갖는 산 2무수물과, P1 기를 갖는 디아민의 공중합체인 것이 바람직하다.It is preferable that the polyimide precursor having a structure represented by the general formula (1) is a copolymer of an acid anhydride having a P 2 group and a diamine having a P 1 group.

산 2무수물Acid anhydride

P2 기를 포함하는 산 2무수물로는, 피로멜리트산 2무수물, 3,3',4,4'-비페닐테트라카르복실산 2무수물, 2,2',3,3'-비페닐테트라카르복실산 2무수물, 4,4'-(헥사플루오로이소프로필리덴)디프탈산 무수물, 5-(2,5-디옥소테트라하이드로-3-푸라닐)-3-메틸-시클로헥센-1,2디카르복실산 무수물, 1,2,3,4-벤젠테트라카르복실산 2무수물, 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복실산 2무수물, 2,2',3,3'-벤조페논테트라카르복실산 2무수물, 3,3',4,4'-디페닐술폰테트라카르복실산 2무수물, 메틸렌-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,1-에틸리덴-4,4'-디프탈산 2무수물, 2,2-프로필리덴-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,2-에틸렌-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,3-트리메틸렌-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,4-테트라메틸렌-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,5-펜타메틸렌 4,4'-디프탈산 2무수물, 4,4'-옥시디프탈산 2무수물, p-페닐렌비스(트리멜리테이트 산 무수물), 티오-4,4'-디프탈산 2무수물, 술포닐-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,3-비스(3,4-디카르복시페닐)벤젠 2무수물, 1,3-비스(3,4-디카르복시페녹시)벤젠 2무수물, 1,4-비스(3,4-디카르복시페녹시)벤젠 2무수물, 1,3-비스[2-(3,4-디카르복시페닐)-2-프로필]벤젠 2무수물, 1,4-비스[2-(3,4-디카르복시페닐)-2-프로필]벤젠 2무수물, 비스[3-(3,4-디카르복시페녹시)페닐]메탄 2무수물, 비스[4-(3,4-디카르복시페녹시)페닐]메탄 2무수물, 2,2-비스[3-(3,4-디카르복시페녹시)페닐]프로판 2무수물, 2,2-비스[4-(3,4-디카르복시페녹시)페닐]프로판 2무수물, 비스(3,4-디카르복시페녹시)디메틸실란 2무수물, 1,3-비스(3,4-디카르복시페닐)-1,1,3,3-테트라메틸디실록산 2무수물, 2,3,6,7-나프탈렌테트라카르복실산 2무수물, 1,4,5,8-나프탈렌테트라카르복실산 2무수물, 1,2,5,6-나프탈렌테트라카르복실산 2무수물, 3,4,9,10-페릴렌테트라카르복실산 2무수물, 2,3,6,7-안트라센테트라카르복실산 2무수물, 및 1,2,7,8-페난트렌테트라카르복실산 2무수물 등을 들 수 있다.As the acid 2 anhydride containing the P 2 group, pyromellitic acid 2 anhydride, 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic acid 2 anhydride, 2,2', 3,3'-biphenyltetracar Acidic anhydride, 4,4 '-(hexafluoroisopropylidene) diphthalic anhydride, 5- (2,5-dioxotetrahydro-3-furanyl) -3-methyl-cyclohexene-1,2 Dicarboxylic acid anhydride, 1,2,3,4-benzenetetracarboxylic dianhydride, 3,3 ', 4,4'-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 2,2', 3,3 ' -Benzophenone tetracarboxylic dianhydride, 3,3 ', 4,4'-diphenylsulfonetetracarboxylic dianhydride, methylene-4,4'-diphthalic acid 2 anhydride, 1,1-ethylidene-4 , 4'-diphthalic anhydride, 2,2-propylidene-4,4'-diphthalic anhydride, 1,2-ethylene-4,4'-diphthalic anhydride 2, 1,3-trimethylene-4 , 4'-diphthalic anhydride, 1,4-tetramethylene-4,4'-diphthalic acid 2 anhydride, 1,5-pentamethylene 4,4'-diphthalic acid 2 anhydride, 4,4'-oxydiphthalic acid 2 Anhydride, p-phenylenebis (trimelli Yt acid anhydride), thio-4,4'-diphthalic acid anhydride, sulfonyl-4,4'-diphthalic anhydride, 1,3-bis (3,4-dicarboxyphenyl) benzene 2 anhydride, 1, 3-bis (3,4-dicarboxyphenoxy) benzene 2 anhydride, 1,4-bis (3,4-dicarboxyphenoxy) benzene 2 anhydride, 1,3-bis [2- (3,4-di Carboxyphenyl) -2-propyl] benzene dihydrate, 1,4-bis [2- (3,4-dicarboxyphenyl) -2-propyl] benzene dihydrate, bis [3- (3,4-dicarboxyphenoxy City) phenyl] methane 2 anhydride, bis [4- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] methane 2 anhydride, 2,2-bis [3- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] propane 2 Anhydride, 2,2-bis [4- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] propane 2 anhydride, bis (3,4-dicarboxyphenoxy) dimethylsilane 2 anhydride, 1,3-bis (3, 4-dicarboxyphenyl) -1,1,3,3-tetramethyldisiloxane 2 anhydride, 2,3,6,7-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 1,4,5,8-naphthalenetetracarboxyl Acid 2 anhydride, 1,2,5,6-naphthalenetetracarboxyl 2 anhydride, 3,4,9,10-perylenetetracarboxylic dianhydride, 2,3,6,7-anthracenetetracarboxylic dianhydride, and 1,2,7,8-phenanthrenetetracarboxyl Acid 2 anhydride and the like.

산 2무수물은, 1 종을 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 조합하여 사용해도 된다. 이들 중에서도, 피로멜리트산 2무수물 (PMDA) 및 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 은, 폴리이미드 필름의 기계 특성, 낮은 두께 방향 리타데이션 (Rth) 및 낮은 황색도 (YI 값) 등의 광학 특성, 그리고 높은 유리 전이 온도의 관점에서 바람직하다. 일반식 (1) 로 나타내는 구조를 갖는 폴리이미드 전구체는, 테트라카르복실산 2무수물과 디아민의 공중합체이고, 또한 그 테트라카르복실산 2무수물은 피로멜리트산 2무수물 (PMDA) 을 포함하는 것이 보다 바람직하다.The acid 2 anhydride may be used alone or in combination of two or more. Among these, pyromellitic dianhydride (PMDA) and biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) have mechanical properties of a polyimide film, low thickness direction retardation (Rth), and low yellowness (YI value). It is preferable from the viewpoint of optical properties and high glass transition temperature. The polyimide precursor having a structure represented by formula (1) is a copolymer of tetracarboxylic dianhydride and diamine, and the tetracarboxylic dianhydride contains pyromellitic dianhydride (PMDA). desirable.

전체 산 2무수물 중의, 피로멜리트산 2무수물 (PMDA) 및 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 의 합계 함유량은, 폴리이미드 필름의 낮은 Rth 및 YI 값, 그리고 높은 유리 전이 온도의 관점에서, 바람직하게는 60 몰% 이상, 보다 바람직하게는 80 몰% 이상, 더욱 바람직하게는 100 몰% 이다.The total content of pyromellitic dianhydride (PMDA) and biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) in the total acid dihydride, in terms of low Rth and YI values of the polyimide film, and high glass transition temperature, Preferably it is 60 mol% or more, More preferably, it is 80 mol% or more, More preferably, it is 100 mol%.

전체 산 2무수물 중의, 피로멜리트산 2무수물 (PMDA) 의 함유량은, 폴리이미드 필름의 높은 유리 전이 온도의 관점에서, 0 몰% 이상이 바람직하고, 10 몰% 이상이 바람직하고, 20 몰% 이상이 바람직하고, 100 몰% 이하가 바람직하고, 90 몰% 이하가 바람직하다.The content of pyromellitic dianhydride (PMDA) in all the acid anhydrides is preferably 0 mol% or more, preferably 10 mol% or more, and 20 mol% or more from the viewpoint of the high glass transition temperature of the polyimide film. It is preferable, 100 mol% or less is preferable, and 90 mol% or less is preferable.

전체 산 2무수물 중의, 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 의 함유량은, 폴리이미드 필름의 낮은 Rth 및 YI 값의 관점에서, 0 몰% 이상이 바람직하고, 10 몰% 이상이 바람직하고, 20 몰% 이상이 바람직하고, 100 몰% 이하가 바람직하고, 90 몰% 이하가 바람직하다.The content of biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) in all the acid anhydrides is preferably 0 mol% or more, preferably 10 mol% or more, from the viewpoint of low Rth and YI values of the polyimide film, 20 mol% or more is preferable, 100 mol% or less is preferable, and 90 mol% or less is preferable.

산 2무수물 중의, 피로멜리트산 2무수물 (PMDA):비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 의 함유 비율은, 폴리이미드 필름의 낮은 Rth 및 YI 값, 높은 유리 전이 온도, 그리고 신도 등을 양립시키는 관점에서, 20:80 ∼ 80:20 이 바람직하고, 30:70 ∼ 70:30 이 보다 바람직하다.The content ratio of pyromellitic dianhydride (PMDA): biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) in the acid anhydride is compatible with low Rth and YI values of polyimide films, high glass transition temperature, elongation, etc. From the viewpoint of making it, 20: 80-80: 20 is preferable and 30: 70-70: 30 is more preferable.

디아민Diamine

식 (1) 에 있어서의 P1 기를 포함하는 디아민으로는, 디아미노디페닐술폰 (예를 들어 4,4'-디아미노디페닐술폰, 3,3'-디아미노디페닐술폰), p-페닐렌디아민, m-페닐렌디아민, 4,4'-디아미노디페닐술파이드, 3,4'-디아미노디페닐술파이드, 3,3'-디아미노디페닐술파이드, 4,4'-디아미노비페닐, 3,4'-디아미노비페닐, 3,3'-디아미노비페닐, 4,4'-디아미노벤조페논, 3,4'-디아미노벤조페논, 3,3'-디아미노벤조페논, 4,4'-디아미노디페닐메탄, 3,4'-디아미노디페닐메탄, 3,3'-디아미노디페닐메탄, 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 1,3-비스(3-아미노페녹시)벤젠, 비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]술폰, 4,4-비스(4-아미노페녹시)비페닐, 4,4-비스(3-아미노페녹시)비페닐, 비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]에테르, 비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]에테르, 1,4-비스(4-아미노페닐)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페닐)벤젠, 9,10-비스(4-아미노페닐)안트라센, 2,2-비스(4-아미노페닐)프로판, 2,2-비스(4-아미노페닐)헥사플루오로프로판, 2,2-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐)프로판, 2,2-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐)헥사플루오로프로판, 및 1,4-비스(3-아미노프로필디메틸실릴)벤젠 등을 들 수 있다.As the diamine containing the P 1 group in formula (1), diaminodiphenylsulfone (for example, 4,4'-diaminodiphenylsulfone, 3,3'-diaminodiphenylsulfone), p- Phenylenediamine, m-phenylenediamine, 4,4'-diaminodiphenylsulfide, 3,4'-diaminodiphenylsulfide, 3,3'-diaminodiphenylsulfide, 4,4 ' -Diaminobiphenyl, 3,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-diaminobiphenyl, 4,4'-diaminobenzophenone, 3,4'-diaminobenzophenone, 3,3 ' -Diaminobenzophenone, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 3,4'-diaminodiphenylmethane, 3,3'-diaminodiphenylmethane, 1,4-bis (4-aminophenoxy ) Benzene, 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] sulfone, 4,4- Bis (4-aminophenoxy) biphenyl, 4,4-bis (3-aminophenoxy) biphenyl, bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] ether, bis [4- (3-aminophenoxy) Si) phenyl] ether, 1,4-bis (4-aminophen ) Benzene, 1,3-bis (4-aminophenyl) benzene, 9,10-bis (4-aminophenyl) anthracene, 2,2-bis (4-aminophenyl) propane, 2,2-bis (4- Aminophenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl) propane, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl) hexafluoropropane, and And 1,4-bis (3-aminopropyldimethylsilyl) benzene.

식 (1) 에 있어서의 P1 기를 포함하는 디아민으로는, 디아미노디페닐술폰, 예를 들어, 4,4'-디아미노디페닐술폰, 및/또는 3,3'-디아미노디페닐술폰을 포함하는 것이 바람직하다.As the diamine containing the P 1 group in formula (1), diaminodiphenylsulfone, for example, 4,4'-diaminodiphenylsulfone, and / or 3,3'-diaminodiphenylsulfone It is preferred to include.

전체 디아민 중의 디아미노디페닐술폰의 함유량은, 50 몰% 이상, 또는 70 몰% 이상, 또는 90 몰% 이상, 또는 95 몰% 이상이어도 된다. 디아미노디페닐술폰의 양이 많을수록, 폴리이미드 필름의 YI 값이 저감되고, 높은 유리 전이 온도가 얻어지기 때문에 바람직하다. 디아미노디페닐술폰으로는, 4,4'-디아미노디페닐술폰이, YI 값의 저감의 관점에서 특히 바람직하다.The content of diaminodiphenylsulfone in all diamines may be 50 mol% or more, or 70 mol% or more, or 90 mol% or more, or 95 mol% or more. The higher the amount of diaminodiphenylsulfone, the lower the YI value of the polyimide film, and a higher glass transition temperature is obtained, which is preferable. As diaminodiphenylsulfone, 4,4'-diaminodiphenylsulfone is particularly preferable from the viewpoint of reducing the YI value.

디아민은, 1 종을 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 조합하여 사용해도 된다. 디아미노디페닐술폰과 다른 디아민을 공중합시키는 것이 바람직하다. 디아미노디페닐술폰과 공중합시키는 다른 디아민으로는, 폴리이미드 필름의 높은 내열성, 및 낮은 YI 값의 관점에서, 바람직하게는 디아미드비페닐류, 보다 바람직하게는 디아미노비스(트리플루오로메틸)비페닐 (TFMB) 을 들 수 있다. 전체 디아민 중의 디아미노비스(트리플루오로메틸)비페닐 (TFMB) 의 함유량은, 폴리이미드 필름의 낮은 YI 값의 관점에서, 바람직하게는 20 몰% 이상, 보다 바람직하게는 30 몰% 이상이다. 디아민이 디아미노디페닐술폰 등의 다른 유리한 디아민을 포함할 수 있도록 하는 설계상의 관점에서, TFMB 의 함유량은, 바람직하게는 80 몰% 이하, 보다 바람직하게는 70 몰% 이하이다.Diamine may be used individually by 1 type, or may be used in combination of 2 or more type. It is preferred to copolymerize diaminodiphenylsulfone with other diamines. Other diamines to be copolymerized with diaminodiphenylsulfone are preferably diamide biphenyls, more preferably diaminobis (trifluoromethyl) from the viewpoints of high heat resistance and low YI value of the polyimide film. Biphenyl (TFMB). The content of diaminobis (trifluoromethyl) biphenyl (TFMB) in all diamines is preferably 20 mol% or more, more preferably 30 mol% or more, from the viewpoint of the low YI value of the polyimide film. From the design point of view of allowing the diamine to contain other advantageous diamines such as diaminodiphenylsulfone, the content of TFMB is preferably 80 mol% or less, more preferably 70 mol% or less.

일반식 (2) 의 구조 단위Structural unit of formula (2)

본 실시형태의 수지 조성물에 있어서의 폴리이미드 전구체는, 하기 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위를 추가로 포함한다.The polyimide precursor in the resin composition of this embodiment further contains the structural unit represented by the following general formula (2).

[화학식 34][Formula 34]

Figure 112019083666339-pct00034
Figure 112019083666339-pct00034

{식 중, P3 및 P4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, q 는, 1 ∼ 200 의 정수이다.} {In the formula, P 3 and P 4 are each independently a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 5 carbon atoms or a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, and q is an integer of 1 to 200.}

폴리이미드 전구체의 질량을 기준으로 하여, 일반식 (2) 로 나타내는 구조 부위의 비율의 하한은, 지지체의 사이에 발생하는 폴리이미드 필름의 잔류 응력을 저감하는 관점에서, 바람직하게는 5 질량% 이상, 보다 바람직하게는 6 질량% 이상, 더욱 바람직하게는 7 질량% 이상이다. 폴리이미드 전구체의 질량을 기준으로 하여, 일반식 (2) 로 나타내는 구조 부위의 비율의 상한은, 폴리이미드 필름의 투명성, 및 내열성의 관점에서, 바람직하게는 40 질량% 이하, 보다 바람직하게는 30 질량% 이하, 더욱 바람직하게는 25 질량% 이하이다. Based on the mass of the polyimide precursor, the lower limit of the ratio of the structural site represented by the general formula (2) is preferably 5% by mass or more from the viewpoint of reducing the residual stress of the polyimide film generated between the supports. , More preferably, it is 6% by mass or more, and still more preferably, 7% by mass or more. Based on the mass of the polyimide precursor, the upper limit of the proportion of the structural site represented by the general formula (2) is preferably 40% by mass or less, more preferably 30 from the viewpoint of transparency and heat resistance of the polyimide film. It is mass% or less, More preferably, it is 25 mass% or less.

상기 일반식 (2) 중 q 는 1 ∼ 200 의 정수이고, 얻어지는 폴리이미드의 내열성의 관점에서 3 ∼ 200 의 정수가 바람직하다.In said general formula (2), q is an integer of 1-200, and the integer of 3-200 is preferable from the viewpoint of heat resistance of the polyimide obtained.

폴리이미드 전구체는, 일반식 (2) 의 구조를 분자 중의 어느 부위에 가져도 되지만, 실록산 모노머의 종류, 비용의 관점 및, 얻어지는 폴리이미드 전구체의 분자량의 관점에서, 일반식 (2) 의 구조는, 규소 함유 화합물, 예를 들어 규소 함유 디아민에서 유래하는 것이 바람직하다. 규소 함유 디아민으로는, 예를 들어, 하기 식 (6) 으로 나타내는 디아미노(폴리)실록산이 바람직하다.The polyimide precursor may have the structure of the general formula (2) at any part of the molecule, but the structure of the general formula (2) is from the viewpoint of the type, cost, and molecular weight of the polyimide precursor obtained. , It is preferable to originate from a silicon-containing compound, for example, a silicon-containing diamine. As the silicon-containing diamine, for example, diamino (poly) siloxane represented by the following formula (6) is preferable.

[화학식 35][Formula 35]

Figure 112019083666339-pct00035
Figure 112019083666339-pct00035

{식 중, P5 는, 각각 독립적으로, 2 가의 탄화수소기를 나타내고, 동일해도 되고 상이해도 되고, P3 및 P4 는, 일반식 (2) 에 있어서 정의한 것과 동일하고, l 은, 1 ∼ 200 의 정수를 나타낸다.} {In the formula, P 5 each independently represents a divalent hydrocarbon group, and may be the same or different, P 3 and P 4 are the same as defined in the general formula (2), and l is 1 to 200 Represents an integer.}

상기 일반식 (2) 중의 P5 의 바람직한 구조로는, 메틸렌기, 에틸렌기, 프로필렌기, 부틸렌기, 페닐렌기 등을 들 수 있다. P3 및 P4 의 바람직한 구조로는, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 부틸기, 및 페닐기 등을 들 수 있다. 상기 일반식 (6) 중 l 은, 1 ∼ 200 의 정수이고, (6) 을 사용하여 폴리이미드의 내열성의 관점에서 3 ∼ 200 의 정수가 바람직하다.As a preferable structure of P 5 in the said general formula (2), a methylene group, an ethylene group, a propylene group, a butylene group, a phenylene group, etc. are mentioned. Preferred structures of P 3 and P 4 include methyl group, ethyl group, propyl group, butyl group, and phenyl group. In general formula (6), l is an integer of 1 to 200, and from (6), an integer of 3 to 200 is preferable from the viewpoint of heat resistance of the polyimide.

일반식 (6) 으로 나타내는 화합물의 수 평균 분자량은, 얻어지는 폴리이미드 필름과 지지체의 사이에 발생하는 잔류 응력을 저감하는 관점에서, 바람직하게는 500 이상, 보다 바람직하게는 1,000 이상, 더욱 바람직하게는 2,000 이상이다. 얻어지는 폴리이미드 필름의 투명성 (특히 저(低)HAZE) 의 관점에서, 수 평균 분자량은, 바람직하게는 12,000 이하, 보다 바람직하게는 10,000 이하, 더욱 바람직하게는 8,000 이하이다. The number average molecular weight of the compound represented by the general formula (6) is preferably 500 or more, more preferably 1,000 or more, and even more preferably from the viewpoint of reducing the residual stress generated between the obtained polyimide film and the support. 2,000 or more. From the viewpoint of transparency (especially low HAZE) of the resulting polyimide film, the number average molecular weight is preferably 12,000 or less, more preferably 10,000 or less, and even more preferably 8,000 or less.

일반식 (6) 으로 나타내는 화합물로는, 구체적으로는, 양말단 아민 변성 메틸페닐실리콘 오일 (신에츠 화학사 제조:X22-1660B-3 (수 평균 분자량 4400), X22-9409 (수 평균 분자량 1340)), 양말단 산 무수물 변성 메틸페닐실리콘 오일 (신에츠 화학사 제조:X22-168-P5-B (수 평균 분자량 4200)), 양말단 에폭시 변성 메틸페닐실리콘 오일 (신에츠 화학사 제조:X22-2000 (수 평균 분자량 1240)), 양말단 아미노 변성 디메틸실리콘 (신에츠 화학사 제조:X22-161A (수 평균 분자량 1600), X22-161B (수 평균 분자량 3000), KF8021 (수 평균 분자량 4400), 토레 다우코닝 제조:BY16-835U (수 평균 분자량 900) 칫소사 제조:사이라플레인 FM3311 (수 평균 분자량 1000)) 등을 들 수 있다. 이들 중에서도, 내약품성 향상, Tg 향상의 관점에서, 양말단 아민 변성 메틸페닐실리콘 오일이 바람직하다. As the compound represented by the general formula (6), specifically, sock-end amine-modified methylphenylsilicone oil (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd .: X22-1660B-3 (number average molecular weight 4400), X22-9409 (number average molecular weight 1340)), Soxic acid anhydride-modified methylphenylsilicone oil (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd .: X22-168-P5-B (number average molecular weight 4200)), Sock-end epoxy-modified methylphenylsilicone oil (manufactured by Shin-Etsu Chemical Company: X22-2000 (number average molecular weight 1240)) , Amino-modified dimethylsilicone at the end of socks (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd .: X22-161A (number average molecular weight 1600), X22-161B (number average molecular weight 3000), KF8021 (number average molecular weight 4400), manufactured by Torre Dow Corning: BY16-835U (male) Average molecular weight 900) Chisso Corporation make: Sailine plane FM3311 (number average molecular weight 1000)) etc. are mentioned. Among these, from the viewpoint of improving chemical resistance and improving Tg, sock-ended amine-modified methylphenylsilicone oil is preferred.

규소 함유 디아민의 공중합 비율은, 폴리이미드 전구체의 전체 질량에 대하여, 바람직하게는 0.5 ∼ 30 질량%, 보다 바람직하게는 1.0 질량% ∼ 25 질량%, 더욱 바람직하게는 1.5 질량% ∼ 20 질량% 이다. 규소 함유 디아민이 0.5 질량% 이상인 경우, 지지체와의 사이에 발생하는 잔류 응력을 효과적으로 저하시킬 수 있다. 규소 함유 디아민이 30 질량% 이하인 경우, 얻어지는 폴리이미드 필름의 투명성 (특히 저HAZE) 이 양호하고, 높은 전광선 투과율의 실현, 및 높은 유리 전이 온도의 관점에서 바람직하다.The copolymerization ratio of the silicon-containing diamine is preferably 0.5 to 30 mass%, more preferably 1.0 mass% to 25 mass%, still more preferably 1.5 mass% to 20 mass% with respect to the total mass of the polyimide precursor. . When the silicon-containing diamine is 0.5% by mass or more, the residual stress generated between the supports can be effectively reduced. When the silicon-containing diamine is 30% by mass or less, transparency (especially low HAZE) of the resulting polyimide film is good, and it is preferable from the viewpoint of realizing high total light transmittance and high glass transition temperature.

디카르복실산Dicarboxylic acid

본 실시양태에 있어서의 폴리이미드 전구체를 형성하기 위한 산 성분으로는, 그 성능을 저해하지 않는 범위에서, 산 2무수물 (예를 들어, 상기에서 예시한 테트라카르복실산 2무수물) 에 더하여, 디카르복실산을 사용해도 된다. 즉, 본 개시의 폴리이미드 전구체는 폴리아미드이미드 전구체여도 된다. 이와 같은 폴리이미드 전구체로부터 얻어지는 필름은, 기계 신도, 유리 전이 온도 Tg, YI 값 등의 여러 성능이 양호한 경우가 있다. 사용하는 디카르복실산으로는, 방향 고리를 갖는 디카르복실산 및 지환식 디카르복실산을 들 수 있다. 특히 탄소수가 8 ∼ 36 인 방향족 디카르복실산, 및 탄소수가 6 ∼ 34 인 지환식 디카르복실산으로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 개의 화합물인 것이 바람직하다. 여기서 말하는 탄소수에는, 카르복실기에 포함되는 탄소의 수도 포함한다. 이들 중, 방향 고리를 갖는 디카르복실산이 바람직하다.As an acid component for forming the polyimide precursor in the present embodiment, in addition to the acid dihydride (e.g., the tetracarboxylic dianhydride exemplified above), dica in a range that does not impair its performance. You may use carboxylic acid. That is, the polyimide precursor of the present disclosure may be a polyamideimide precursor. The film obtained from such a polyimide precursor may have good performances such as mechanical elongation, glass transition temperature Tg, and YI value. Examples of the dicarboxylic acid to be used include dicarboxylic acids having an aromatic ring and alicyclic dicarboxylic acids. It is particularly preferable that it is at least one compound selected from the group consisting of an aromatic dicarboxylic acid having 8 to 36 carbon atoms and an alicyclic dicarboxylic acid having 6 to 34 carbon atoms. The number of carbons referred to herein includes the number of carbons contained in the carboxyl group. Of these, dicarboxylic acids having aromatic rings are preferred.

방향 고리를 갖는 디카르복실산으로는, 구체적으로는, 예를 들어 이소프탈산, 테레프탈산, 4,4'-비페닐디카르복실산, 3,4'-비페닐디카르복실산, 3,3'-비페닐디카르복실산, 1,4-나프탈렌디카르복실산, 2,3-나프탈렌디카르복실산, 1,5-나프탈렌디카르복실산, 2,6-나프탈렌디카르복실산, 4,4'-술포닐비스벤조산, 3,4'-술포닐비스벤조산, 3,3'-술포닐비스벤조산, 4,4'-옥시비스벤조산, 3,4'-옥시비스벤조산, 3,3'-옥시비스벤조산, 2,2-비스(4-카르복시페닐)프로판, 2,2-비스(3-카르복시페닐)프로판, 2,2'-디메틸-4,4'-비페닐디카르복실산, 3,3'-디메틸-4,4'-비페닐디카르복실산, 2,2'-디메틸-3,3'-비페닐디카르복실산, 9,9-비스(4-(4-카르복시페녹시)페닐)플루오렌, 9,9-비스(4-(3-카르복시페녹시)페닐)플루오렌, 4,4'-비스(4-카르복시페녹시)비페닐, 4,4'-비스(3-카르복시페녹시)비페닐, 3,4'-비스(4-카르복시페녹시)비페닐, 3,4'-비스(3-카르복시페녹시)비페닐, 3,3'-비스(4-카르복시페녹시)비페닐, 3,3'-비스(3-카르복시페녹시)비페닐, 4,4'-비스(4-카르복시페녹시)-p-터페닐, 4,4'-비스(4-카르복시페녹시)-m-터페닐, 3,4'-비스(4-카르복시페녹시)-p-터페닐, 3,3'-비스(4-카르복시페녹시)-p-터페닐, 3,4'-비스(4-카르복시페녹시)-m-터페닐, 3,3'-비스(4-카르복시페녹시)-m-터페닐, 4,4'-비스(3-카르복시페녹시)-p-터페닐, 4,4'-비스(3-카르복시페녹시)-m-터페닐, 3,4'-비스(3-카르복시페녹시)-p-터페닐, 3,3'-비스(3-카르복시페녹시)-p-터페닐, 3,4'-비스(3-카르복시페녹시)-m-터페닐, 3,3'-비스(3-카르복시페녹시)-m-터페닐, 1,1-시클로부탄디카르복실산, 1,4-시클로헥산디카르복실산, 1,2-시클로헥산디카르복실산, 4,4'-벤조페논디카르복실산, 1,3-페닐렌2아세트산, 1,4-페닐렌2아세트산 등;및 국제 공개 제2005/068535호에 기재된 5-아미노이소프탈산 유도체 등을 들 수 있다. 이들 디카르복실산을 폴리머에 실제로 공중합시키는 경우에는, 염화티오닐 등으로부터 유도되는 산 클로라이드체, 활성 에스테르체 등의 형태로 사용해도 된다.As a dicarboxylic acid having an aromatic ring, specifically, for example, isophthalic acid, terephthalic acid, 4,4'-biphenyldicarboxylic acid, 3,4'-biphenyldicarboxylic acid, 3,3 '-Biphenyldicarboxylic acid, 1,4-naphthalenedicarboxylic acid, 2,3-naphthalenedicarboxylic acid, 1,5-naphthalenedicarboxylic acid, 2,6-naphthalenedicarboxylic acid, 4 , 4'-sulfonylbisbenzoic acid, 3,4'-sulfonylbisbenzoic acid, 3,3'-sulfonylbisbenzoic acid, 4,4'-oxybisbenzoic acid, 3,4'-oxybisbenzoic acid, 3,3 '-Oxybisbenzoic acid, 2,2-bis (4-carboxyphenyl) propane, 2,2-bis (3-carboxyphenyl) propane, 2,2'-dimethyl-4,4'-biphenyldicarboxylic acid , 3,3'-dimethyl-4,4'-biphenyldicarboxylic acid, 2,2'-dimethyl-3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 9,9-bis (4- (4- Carboxyphenoxy) phenyl) fluorene, 9,9-bis (4- (3-carboxyphenoxy) phenyl) fluorene, 4,4'-bis (4-carboxyphenoxy) biphenyl, 4,4'- Bis (3-carboxyphenoxy) biphenyl, 3,4'-bis (4-carboxyphenoxy) biphenyl, 3,4'-bis (3-carboxyphenoxy) biphenyl, 3,3'-bis (4-carboxyphenoxy) biphenyl, 3,3'-bis (3 -Carboxyphenoxy) biphenyl, 4,4'-bis (4-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 4,4'-bis (4-carboxyphenoxy) -m-terphenyl, 3,4 ' -Bis (4-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 3,3'-bis (4-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 3,4'-bis (4-carboxyphenoxy) -m- Terphenyl, 3,3'-bis (4-carboxyphenoxy) -m-terphenyl, 4,4'-bis (3-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 4,4'-bis (3- Carboxyphenoxy) -m-terphenyl, 3,4'-bis (3-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 3,3'-bis (3-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 3, 4'-bis (3-carboxyphenoxy) -m-terphenyl, 3,3'-bis (3-carboxyphenoxy) -m-terphenyl, 1,1-cyclobutanedicarboxylic acid, 1,4 -Cyclohexanedicarboxylic acid, 1,2-cyclohexanedicarboxylic acid, 4,4'-benzophenone dicarboxylic acid, 1,3-phenylene diacetic acid, 1,4-phenylene diacetic acid, etc .; And bureau And the like can be mentioned 5-amino isophthalic acid derivative described in Publication No. 2005/068535 call. When these dicarboxylic acids are actually copolymerized with the polymer, they may be used in the form of acid chlorides derived from thionyl chloride or the like, and active esters.

제 2 실시형태2nd embodiment

제 2 실시형태에 있어서, 수지 조성물 중의 폴리이미드 전구체는, 하기 일반식 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물과, 테트라카르복실산 2무수물과, 디아민을 단량체 단위로서 포함하는 공중합체로서 기재할 수도 있다.In the second embodiment, the polyimide precursor in the resin composition may be described as a copolymer containing a silicon-containing compound represented by the following general formula (5), a tetracarboxylic dianhydride, and diamine as a monomer unit. .

[화학식 36][Formula 36]

Figure 112019083666339-pct00036
Figure 112019083666339-pct00036

{식 중, R1 은, 각각 독립적으로, 단결합 또는 탄소수 1 ∼ 10 의 2 가의 유기기이고, R2 및 R3 은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소기이고, R4 및 R5 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, R6 및 R7 은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 불포화 지방족 탄화수소기를 갖는 유기기이고, L1 및 L2 는, 각각 독립적으로, 아미노기, 산 무수물기, 이소시아네이트기, 카르복실기, 산 에스테르기, 산 할라이드기, 하이드록시기, 에폭시기, 또는 메르캅토기이고, i 및 j 는, 각각 독립적으로, 1 ∼ 200 의 정수이고, k 는, 0 ∼ 200 의 정수이고, 0.05 ≤ j/(i+j+k) ≤ 0.50 이다.} {In the formula, R 1 is, independently, a single bond or a divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, R 2 and R 3 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and at least one Is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, R 4 and R 5 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, at least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, R 6 and R 7 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, at least one is an organic group having an unsaturated aliphatic hydrocarbon group, and L 1 and L 2 are each independently an amino group, an acid anhydride group, An isocyanate group, a carboxyl group, an acid ester group, an acid halide group, a hydroxyl group, an epoxy group, or a mercapto group, i and j are each independently an integer from 1 to 200, and k is an integer from 0 to 200 , 0.05 ≤ j / (i + j + k) ≤ 0.50.}

상기 일반식 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물의 L1 및 L2 는, 한정되지 않지만, 각각 독립적으로, 얻어지는 폴리이미드 전구체의 분자량의 관점에서, 아미노기, 또는 산 무수물기인 것이 바람직하고, 아미노기인 것이 보다 바람직하다.Although L 1 and L 2 of the silicon-containing compound represented by the general formula (5) are not limited, it is preferably an amino group or an acid anhydride group from the viewpoint of the molecular weight of the obtained polyimide precursor, and is preferably an amino group. It is more preferable.

일반식 (5) 중, R1 은, 각각 독립적으로, 단결합 또는 탄소수 1 ∼ 10 의 2 가의 유기기이다. 탄소수 1 ∼ 10 의 2 가의 유기기로는, 직사슬형, 고리형, 분지형 중 어느 것이어도 되고, 포화되어 있어도 되고 불포화여도 된다. 탄소수 1 ∼ 10 의 2 가의 지방족 탄화수소기로는, 예를 들어, 메틸렌, 에틸렌, n-프로필렌, i-프로필렌, n-부틸렌, s-부틸렌, t-부틸렌, n-펜틸렌, 네오펜틸렌, n-헥실렌, n-헵틸렌, n-옥틸렌, n-노닐렌, 및 n-데실렌기 등의 직사슬 또는 분기사슬 알킬렌기;그리고 시클로프로필렌, 시클로부틸렌, 시클로펜틸렌, 시클로헥실렌, 시클로헵틸렌, 및 시클로옥틸렌기 등의 시클로알킬렌기를 들 수 있다. 탄소수 1 ∼ 10 의 2 가의 지방족 탄화수소기로는, 에틸렌, n-프로필렌, 및 i-프로필렌으로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 하나인 것이 바람직하다.In General Formula (5), R 1 is each independently a single bond or a divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms. The divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms may be any of linear, cyclic, and branched, and may be saturated or unsaturated. Examples of the divalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms include, for example, methylene, ethylene, n-propylene, i-propylene, n-butylene, s-butylene, t-butylene, n-pentylene and neophene. Straight or branched chain alkylene groups such as styrene, n-hexylene, n-heptylene, n-octylene, n-nonylene, and n-decylene group; and cyclopropylene, cyclobutylene, cyclopentylene, And cycloalkylene groups such as cyclohexylene, cycloheptylene, and cyclooctylene groups. The divalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms is preferably at least one selected from the group consisting of ethylene, n-propylene, and i-propylene.

일반식 (5) 중, R2 및 R3 은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소기이다. 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기로는, 직사슬형, 고리형, 분지형 중 어느 것이어도 되고, 포화되어 있어도 되고 불포화여도 된다. 예를 들어, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기로는, 메틸, 에틸, n-프로필, i-프로필, n-부틸, s-부틸, t-부틸, n-펜틸, 네오펜틸, n-헥실, n-헵틸, n-옥틸, n-노닐, 및 n-데실기 등의 직사슬 또는 분기사슬 알킬기;그리고 시클로프로필, 시클로부틸, 시클로펜틸, 시클로헥실, 시클로헵틸, 및 시클로옥틸기 등의 시클로알킬기, 페닐, 톨릴, 자일릴, α-나프틸, 및 β-나프틸기 등의 방향족기를 들 수 있다. 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소기로는, 직사슬형, 고리형, 분지형 중 어느 것이어도 되고, 포화되어 있어도 되고 불포화여도 된다. 예를 들어, 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소기로는, 메틸, 에틸, n-프로필, i-프로필, n-부틸, s-부틸, t-부틸, n-펜틸, 및 네오펜틸기 등의 직사슬 또는 분기사슬 알킬기;시클로프로필, 시클로부틸, 및 시클로펜틸기 등의 시클로알킬기를 들 수 있다. 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소기로는, 메틸, 에틸, 및 n-프로필로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 하나인 것이 바람직하다.In General Formula (5), R 2 and R 3 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and at least one is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms. The monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms may be any of linear, cyclic, and branched, and may be saturated or unsaturated. For example, monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms include methyl, ethyl, n-propyl, i-propyl, n-butyl, s-butyl, t-butyl, n-pentyl, neopentyl, n-hexyl, straight or branched chain alkyl groups such as n-heptyl, n-octyl, n-nonyl, and n-decyl groups; and cycloalkyl groups such as cyclopropyl, cyclobutyl, cyclopentyl, cyclohexyl, cycloheptyl, and cyclooctyl groups And aromatic groups such as phenyl, tolyl, xylyl, α-naphthyl, and β-naphthyl groups. The monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms may be linear, cyclic, or branched, and may be saturated or unsaturated. For example, a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, such as methyl, ethyl, n-propyl, i-propyl, n-butyl, s-butyl, t-butyl, n-pentyl, and neopentyl group A linear or branched chain alkyl group; and cycloalkyl groups such as cyclopropyl, cyclobutyl, and cyclopentyl groups. The monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms is preferably at least one selected from the group consisting of methyl, ethyl, and n-propyl.

일반식 (5) 중, R4 및 R5 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이다. 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기로는, 직사슬형, 고리형, 분지형 중 어느 것이어도 되고, 포화되어 있어도 되고 불포화여도 된다. 예를 들어, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기로는, 메틸, 에틸, n-프로필, i-프로필, n-부틸, s-부틸, t-부틸, n-펜틸, 네오펜틸, n-헥실, n-헵틸, n-옥틸, n-노닐, 및 n-데실기 등의 직사슬 또는 분기사슬 알킬기;그리고 시클로프로필, 시클로부틸, 시클로펜틸, 시클로헥실, 시클로헵틸, 및 시클로옥틸기 등의 시클로알킬기, 페닐, 톨릴, 자일릴, α-나프틸, 및 β-나프틸기 등의 방향족기를 들 수 있다. 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기로는, 예를 들어, 페닐, 톨릴, 자일릴, α-나프틸, 및 β-나프틸기 등을 들 수 있고, 페닐, 톨릴, 또는 자일릴인 것이 바람직하다.In General Formula (5), R 4 and R 5 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and at least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms. The monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms may be any of linear, cyclic, and branched, and may be saturated or unsaturated. For example, monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms include methyl, ethyl, n-propyl, i-propyl, n-butyl, s-butyl, t-butyl, n-pentyl, neopentyl, n-hexyl, straight or branched chain alkyl groups such as n-heptyl, n-octyl, n-nonyl, and n-decyl groups; and cycloalkyl groups such as cyclopropyl, cyclobutyl, cyclopentyl, cyclohexyl, cycloheptyl, and cyclooctyl groups And aromatic groups such as phenyl, tolyl, xylyl, α-naphthyl, and β-naphthyl groups. Examples of the monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms include, for example, phenyl, tolyl, xylyl, α-naphthyl, and β-naphthyl groups, and are preferably phenyl, tolyl, or xylyl.

일반식 (5) 중, R6 및 R7 은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 불포화 지방족 탄화수소기를 갖는 유기기이다. 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기로는, 직사슬형, 고리형, 분지형 중 어느 것이어도 되고, 예를 들어, 메틸, 에틸, n-프로필, i-프로필, n-부틸, s-부틸, t-부틸, n-펜틸, 네오펜틸, n-헥실, n-헵틸, n-옥틸, n-노닐, 및 n-데실기 등의 직사슬 또는 분기사슬 알킬기;그리고 시클로프로필, 시클로부틸, 시클로펜틸, 시클로헥실, 시클로헵틸, 및 시클로옥틸기 등의 시클로알킬기, 페닐, 톨릴, 자일릴, α-나프틸, 및β-나프틸기 등의 방향족기를 들 수 있다. 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기로는, 메틸, 에틸, 및 페닐로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 하나인 것이 바람직하다. 불포화 지방족 탄화수소기를 갖는 유기기로는, 탄소수 3 ∼ 10 의 불포화 지방족 탄화수소기여도 되고, 직사슬형, 고리형, 분지형 중 어느 것이어도 된다. 탄소수 3 ∼ 10 의 불포화 지방족 탄화수소기로는, 예를 들어, 비닐, 알릴, 프로페닐, 3-부테닐, 2-부테닐, 펜테닐, 시클로펜테닐, 헥세닐, 시클로헥세닐, 헵테닐, 옥테닐, 노네닐, 데세닐, 에티닐, 프로피닐, 부티닐, 펜티닐, 및 헥시닐기 등을 들 수 있다. 탄소수 3 ∼ 10 의 불포화 지방족 탄화수소기로는, 비닐, 알릴, 및 3-부테닐로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 하나인 것이 바람직하다.In General Formula (5), R 6 and R 7 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and at least one is an organic group having an unsaturated aliphatic hydrocarbon group. The monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms may be any of linear, cyclic, and branched, for example, methyl, ethyl, n-propyl, i-propyl, n-butyl, s-butyl, straight or branched chain alkyl groups such as t-butyl, n-pentyl, neopentyl, n-hexyl, n-heptyl, n-octyl, n-nonyl, and n-decyl groups; and cyclopropyl, cyclobutyl, cyclopentyl And cycloalkyl groups such as cyclohexyl, cycloheptyl, and cyclooctyl groups, and aromatic groups such as phenyl, tolyl, xylyl, α-naphthyl, and β-naphthyl groups. The monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms is preferably at least one selected from the group consisting of methyl, ethyl, and phenyl. The organic group having an unsaturated aliphatic hydrocarbon group may be an unsaturated aliphatic hydrocarbon group having 3 to 10 carbon atoms, or any of linear, cyclic, and branched types. As an unsaturated aliphatic hydrocarbon group having 3 to 10 carbon atoms, for example, vinyl, allyl, propenyl, 3-butenyl, 2-butenyl, pentenyl, cyclopentenyl, hexenyl, cyclohexenyl, heptenyl, jade And tenyl, nonenyl, desenyl, ethynyl, propynyl, butynyl, pentynyl, and hexynyl groups. The unsaturated aliphatic hydrocarbon group having 3 to 10 carbon atoms is preferably at least one selected from the group consisting of vinyl, allyl, and 3-butenyl.

일반식 (5) 중, R1 ∼ R7 의 수소 원자의 일부 또는 전부는, F, Cl, Br 등의 할로겐 원자 등의 치환기로 치환되어 있어도 되고, 비치환이어도 된다.In General Formula (5), some or all of the hydrogen atoms of R 1 to R 7 may be substituted with substituents such as halogen atoms such as F, Cl, and Br, or unsubstituted.

i 및 j 는, 각각 독립적으로, 1 ∼ 200 의 정수이고, 바람직하게는 2 ∼ 100 의 정수, 보다 바람직하게는 4 ∼ 80 의 정수, 더욱 바람직하게는 8 ∼ 40 의 정수이다. k 는, 0 ∼ 200 의 정수이고, 바람직하게는 0 ∼ 50 의 정수, 보다 바람직하게는 0 ∼ 20 의 정수, 더욱 바람직하게는 0 ∼ 50 의 정수이다.i and j are each independently an integer of 1 to 200, preferably an integer of 2 to 100, more preferably an integer of 4 to 80, and more preferably an integer of 8 to 40. k is an integer of 0-200, Preferably it is an integer of 0-50, More preferably, it is an integer of 0-20, More preferably, it is an integer of 0-50.

제 2 실시형태에 있어서의 테트라카르복실산 2무수물은, 상기 일반식 (1) 에 대해 예시한 테트라카르복실산 2무수물이어도 된다. 제 2 실시형태에 있어서의 테트라카르복실산 2무수물은, 피로멜리트산 2무수물, 3,3',4,4'-비페닐테트라카르복실산 2무수물, 4,4'-옥시디프탈산 무수물, 시클로헥산테트라카르복실산 2무수물, 및 시클로부탄테트라카르복실산 2무수물로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 개인 것이 바람직하다.The tetracarboxylic dianhydride in 2nd Embodiment may be the tetracarboxylic dianhydride illustrated with respect to said general formula (1). The tetracarboxylic dianhydride in the second embodiment is pyromellitic dianhydride, 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 4,4'-oxydiphthalic anhydride, It is preferable that it is at least one member selected from the group consisting of cyclohexanetetracarboxylic dianhydride and cyclobutanetetracarboxylic dianhydride.

제 2 실시형태에 있어서의 디아민은, 상기 일반식 (1) 에 대해 예시한 디아민이어도 된다. 제 2 실시형태에 있어서의 디아민은, 4,4'-디아미노디페닐술폰, m-톨리딘, p-페닐렌디아민, 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘, 및 2,2'-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]프로판으로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 개인 것이 바람직하다.The diamine in the second embodiment may be the diamine exemplified for the general formula (1). The diamine in the second embodiment is 4,4'-diaminodiphenylsulfone, m-tolidine, p-phenylenediamine, 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine, and 2,2 It is preferred that at least one is selected from the group consisting of '-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane.

중량 평균 분자량Weight average molecular weight

본 실시형태에 있어서, 폴리이미드 전구체의 중량 평균 분자량은, 폴리이미드 필름의 YI 값을 저감시키는 관점에서, 바람직하게는 50,000 이상, 보다 바람직하게는 60,000 이상이다. 폴리이미드 필름의 헤이즈를 저감시키는 관점에서, 폴리이미드 전구체의 중량 평균 분자량은, 바람직하게는 150,000 이하, 보다 바람직하게는 120,000 이하이다. 폴리이미드 전구체의 바람직한 중량 평균 분자량은, 소망되는 용도, 폴리이미드 전구체의 종류, 수지 조성물의 고형분 함유량, 수지 조성물이 포함할 수 있는 용매의 종류 등에 따라 상이해도 된다.In this embodiment, the weight average molecular weight of the polyimide precursor is preferably 50,000 or more, more preferably 60,000 or more, from the viewpoint of reducing the YI value of the polyimide film. From the viewpoint of reducing the haze of the polyimide film, the weight average molecular weight of the polyimide precursor is preferably 150,000 or less, more preferably 120,000 or less. The preferable weight average molecular weight of the polyimide precursor may be different depending on the desired application, the type of the polyimide precursor, the solid content of the resin composition, and the type of solvent the resin composition may contain.

폴리이미드 전구체의 바람직한 실시형태Preferred embodiments of the polyimide precursor

본 실시형태에 있어서 특히 바람직한 폴리이미드 전구체로는, 하기 (1) ∼ (9) 를 들 수 있다.The following (1)-(9) are mentioned as a polyimide precursor especially preferable in this embodiment.

(1) 산 2무수물 성분이 피로멜리트산 2무수물 (PMDA) 및 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 이고, 디아민 성분이 디아미노디페닐술폰 (DAS) 및 규소 함유 디아민인 중축합물. 보다 바람직하게는, 중량 평균 분자량이 80,000 ∼ 100,000, 고형분 함유량이 10 ∼ 25 질량% 이다.(1) A polycondensate in which the acid anhydride component is pyromellitic acid anhydride (PMDA) and biphenyltetracarboxylic acid anhydride (BPDA), and the diamine component is diaminodiphenylsulfone (DAS) and silicon-containing diamine. More preferably, the weight average molecular weight is 80,000 to 100,000, and the solid content is 10 to 25 mass%.

(2) 산 2무수물 성분이 피로멜리트산 2무수물 (PMDA) 및 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 이고, 디아민 성분이 디아미노비스(트리플루오로메틸)비페닐 (TFMB) 및 규소 함유 디아민인 중축합물. 보다 바람직하게는, 중량 평균 분자량이 65,000 ∼ 90,000, 고형분 함유량이 10 ∼ 25 질량% 이다.(2) The acid anhydride component is pyromellitic acid anhydride (PMDA) and biphenyltetracarboxylic acid anhydride (BPDA), and the diamine component contains diaminobis (trifluoromethyl) biphenyl (TFMB) and silicon Polyamine, a polycondensate. More preferably, the weight average molecular weight is 65,000 to 90,000, and the solid content is 10 to 25 mass%.

(3) 산 2무수물 성분이 피로멜리트산 2무수물 (PMDA) 및 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 이고, 디아민 성분이 디아미노디페닐술폰 (DAS), 디아미노비스(트리플루오로메틸)비페닐 (TFMB) 및 규소 함유 디아민인 중축합물. 보다 바람직하게는, 중량 평균 분자량이 95,000 ∼ 120,000, 고형분 함유량이 10 ∼ 25 질량% 이다.(3) The acid anhydride component is pyromellitic acid anhydride (PMDA) and biphenyltetracarboxylic acid anhydride (BPDA), and the diamine component is diaminodiphenylsulfone (DAS), diaminobis (trifluoromethyl) ) Biphenyl (TFMB) and silicon-containing diamine polycondensate. More preferably, the weight average molecular weight is 95,000 to 120,000, and the solid content is 10 to 25 mass%.

4) 산 2무수물 성분이 피로멜리트산 2무수물 (PMDA) 이고, 디아민 성분이 디아미노디페닐술폰 (DAS) 및 규소 함유 디아민인 중축합물. 보다 바람직하게는, 중량 평균 분자량이 100,000 ∼ 110,000, 고형분 함유량이 10 ∼ 25 질량% 이다.4) A polycondensate wherein the acid anhydride component is pyromellitic acid anhydride (PMDA), and the diamine component is diaminodiphenylsulfone (DAS) and silicon-containing diamine. More preferably, the weight average molecular weight is 100,000 to 110,000, and the solid content is 10 to 25 mass%.

(5) 산 2무수물 성분이 피로멜리트산 2무수물 (PMDA) 이고, 디아민 성분이 디아미노비스(트리플루오로메틸)비페닐 (TFMB) 및 규소 함유 디아민인 중축합물. 보다 바람직하게는, 중량 평균 분자량이 100,000 ∼ 110,000, 고형분 함유량이 10 ∼ 25 질량% 이다.(5) A polycondensate wherein the acid 2 anhydride component is pyromellitic acid 2 anhydride (PMDA), and the diamine component is diaminobis (trifluoromethyl) biphenyl (TFMB) and silicon-containing diamine. More preferably, the weight average molecular weight is 100,000 to 110,000, and the solid content is 10 to 25 mass%.

(6) 산 2무수물 성분이 피로멜리트산 2무수물 (PMDA) 이고, 디아민 성분이 디아미노디페닐술폰 (DAS), 디아미노비스(트리플루오로메틸)비페닐 (TFMB) 및 규소 함유 디아민인 중축합물. 보다 바람직하게는, 중량 평균 분자량이 110,000 ∼ 120,000, 고형분 함유량이 10 ∼ 25 질량% 이다.(6) Polycondensation wherein the acid anhydride component is pyromellitic acid anhydride (PMDA), and the diamine component is diaminodiphenylsulfone (DAS), diaminobis (trifluoromethyl) biphenyl (TFMB) and silicon-containing diamine. Merging. More preferably, the weight average molecular weight is 110,000 to 120,000, and the solid content is 10 to 25 mass%.

(7) 산 2무수물 성분이 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 이고, 디아민 성분이 디아미노디페닐술폰 (DAS) 및 규소 함유 디아민인 중축합물. 보다 바람직하게는, 중량 평균 분자량이 70,000 ∼ 80,000, 고형분 함유량이 10 ∼ 25 질량% 이다.(7) A polycondensate wherein the acid anhydride component is biphenyltetracarboxylic acid anhydride (BPDA), and the diamine component is diaminodiphenylsulfone (DAS) and silicon-containing diamine. More preferably, the weight average molecular weight is 70,000 to 80,000, and the solid content is 10 to 25 mass%.

(8) 산 2무수물 성분이 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 이고, 디아민 성분이 디아미노디페닐술폰 (DAS), 디아미노비스(트리플루오로메틸)비페닐 (TFMB) 및 규소 함유 디아민인 중축합물. 보다 바람직하게는, 중량 평균 분자량이 90,000 ∼ 100,000, 고형분 함유량이 10 ∼ 25 질량% 이다.(8) The acid anhydride component is biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA), and the diamine component contains diaminodiphenylsulfone (DAS), diaminobis (trifluoromethyl) biphenyl (TFMB) and silicon. Polyamine, a polycondensate. More preferably, the weight average molecular weight is 90,000 to 100,000, and the solid content is 10 to 25 mass%.

(9) 산 2무수물 성분이 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 이고, 디아민 성분이 디아미노비스(트리플루오로메틸)비페닐 (TFMB) 및 규소 함유 디아민인 중축합물. 보다 바람직하게는, 중량 평균 분자량이 70,000 ∼ 80,000, 고형분 함유량이 10 ∼ 25 질량% 이다.(9) A polycondensation product in which the acid anhydride component is biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA), and the diamine component is diaminobis (trifluoromethyl) biphenyl (TFMB) and silicon-containing diamine. More preferably, the weight average molecular weight is 70,000 to 80,000, and the solid content is 10 to 25 mass%.

상기 (1) ∼ (9) 의 중축합물의 재료 성분에 있어서, 규소 함유 디아민은, 바람직하게는 상기 일반식 (6) 으로 나타내는 디아미노(폴리)실록산이다. 이 경우, 디아미노(폴리)실록산의 수 평균 분자량은, 바람직하게는 500 ∼ 12,000 이고, 보다 바람직하게는, 디아미노(폴리)실록산은, 양말단 아민 변성 메틸페닐실리콘 오일이다.In the material component of the polycondensate of (1) to (9), the silicon-containing diamine is preferably a diamino (poly) siloxane represented by the general formula (6). In this case, the number average molecular weight of the diamino (poly) siloxane is preferably 500 to 12,000, and more preferably, the diamino (poly) siloxane is a sock-end amine-modified methylphenylsilicone oil.

〈저분자 고리형 실록산〉<Low molecular cyclic siloxane>

일반식 (3) 의 화합물 Compound of general formula (3)

본 실시형태의 수지 조성물은, 하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 로 나타내는 저분자 고리형 실록산 중, m 이 3 이상의 정수인 적어도 어느 일방의 저분자 고리형 실록산을 포함한다 (간단히 「(3)」 이라고 할 때에는, 「(3-1) 또는 (3-2)」 를 의미한다). 본 실시형태의 조성물은, 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 1 또는 2 인 화합물을 포함해도 되고, 포함하지 않아도 된다. 본 실시형태의 수지 조성물은, 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 일방만 포함해도 되고, 이들 양방을 포함해도 된다. 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 로 나타내는 화합물은, 바람직하게는, 일반식 (3-1) 로 나타내는 화합물이다. 즉, 본 실시형태의 수지 조성물은, 바람직하게는, 적어도 일반식 (3-1) 로 나타내는 화합물을 포함한다.The resin composition of the present embodiment includes at least one low molecular cyclic siloxane in which m is an integer of 3 or more among the low molecular cyclic siloxanes represented by the following general formula (3-1) or (3-2) (simply `` ( 3) ”means“ (3-1) or (3-2) ”). The composition of this embodiment may contain the compound whose m is 1 or 2 in general formula (3-1) or (3-2), or may not contain it. The resin composition of the present embodiment may contain only one of the general formulas (3-1) or (3-2), or may contain both of them. The compound represented by the general formula (3-1) or (3-2) is preferably a compound represented by the general formula (3-1). That is, the resin composition of the present embodiment preferably contains at least a compound represented by the general formula (3-1).

[화학식 37][Formula 37]

Figure 112019083666339-pct00037
Figure 112019083666339-pct00037

{식 중, m 은 1 이상의 정수이다.} {In the formula, m is an integer of 1 or more.}

일반식 (3) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량은, 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 1,100 ppm 이하, 보다 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 800 ppm 이하, 더욱 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 600 ppm 이하, 특히 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 300 ppm 이하, 특히 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 180 ppm 이하이다. 여기서, 일반식 (3) 으로 나타내는 화합물의 총량이란, 수지 조성물이 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 일방만 포함하는 경우에는 그 총량, 이들 양방을 포함하는 경우에는 그 총량을 의미한다.The total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more in the general formula (3), based on the mass of the resin composition, is preferably more than 0 ppm and 1,100 ppm or less, more preferably more than 0 ppm and 800 ppm or less, and more preferably It is more than 0 ppm and 600 ppm or less, particularly preferably more than 0 ppm and 300 ppm or less, particularly preferably more than 0 ppm and 180 ppm or less. Here, the total amount of the compound represented by the general formula (3) means the total amount when the resin composition contains only one of the general formulas (3-1) or (3-2), and the total amount when the both are included. it means.

보다 구체적으로는, 일반식 (3) 중 m 이 3 ∼ 5 인 화합물의 총량은, 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 1,100 ppm 이하, 보다 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 800 ppm 이하, 더욱 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 600 ppm 이하, 특히 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 300 ppm 이하, 특히 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 180 ppm 이하이다.More specifically, the total amount of the compound in which m is 3 to 5 in the general formula (3) is preferably more than 0 ppm and more than 1,100 ppm, more preferably more than 0 ppm, based on the mass of the resin composition. 800 ppm or less, more preferably more than 0 ppm and 600 ppm or less, particularly preferably more than 0 ppm and 300 ppm or less, particularly preferably more than 0 ppm and 180 ppm or less.

일반식 (3) 중 m 이 3 인 화합물의 총량은, 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 650 ppm 이하, 보다 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 150 ppm 이하, 더욱 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 80 ppm 이하이다. 일반식 (3) 에 있어서 m = 4 의 화합물의 총량은, 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 350 ppm 이하, 보다 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 100 ppm 이하, 더욱 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 60 ppm 이하이다. 일반식 (3) 으로 나타내는 화합물의 총량이 상기의 범위 내이면, 수지 조성물로부터 얻어지는 폴리이미드 수지막의 YI 값이 보다 저하되기 때문에 바람직하다.The total amount of the compound in which m is 3 in the general formula (3) is preferably more than 0 ppm and more than 650 ppm, more preferably more than 0 ppm and more than 150 ppm, more preferably based on the mass of the resin composition Is more than 0 ppm and less than 80 ppm. In general formula (3), the total amount of the compound of m = 4 is preferably more than 0 ppm and more than 350 ppm, more preferably more than 0 ppm and more than 100 ppm, more preferably based on the mass of the resin composition. It is more than 0 ppm and less than 60 ppm. When the total amount of the compound represented by the general formula (3) is within the above range, it is preferable because the YI value of the polyimide resin film obtained from the resin composition is further lowered.

수지 조성물 중의 고형분의 질량을 기준으로 하는 경우, 상기 일반식 (3) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량은, 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 7,500 ppm 이하, 보다 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 2,000 ppm 이하, 더욱 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 1,100 ppm 이하이다. 수지 조성물 중의 고형분의 질량을 기준으로 하는 경우, 일반식 (3) 중 m 이 3 인 화합물의 총량은, 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 4,500 ppm 이하, 보다 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 1,000 ppm 이하, 더욱 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 500 ppm 이하이다. 수지 조성물 중의 고형분의 질량을 기준으로 하는 경우, 일반식 (3) 중 m 이 4 인 화합물의 총량은, 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 2,500 ppm 이하, 보다 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 700 ppm 이하, 더욱 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 400 ppm 이하이다. 일반식 (3) 으로 나타내는 화합물의 총량이 상기의 범위 내이면, 수지 조성물로부터 얻어지는 폴리이미드 수지막의 YI 값이 보다 저하되기 때문에 바람직하다.When based on the mass of the solid content in the resin composition, the total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more in the general formula (3) is preferably more than 0 ppm and less than 7,500 ppm, more preferably more than 0 ppm and 2,000 ppm Hereinafter, more preferably, it is more than 0 ppm and 1,100 ppm or less. When based on the mass of the solid content in the resin composition, the total amount of the compound of m 3 in general formula (3) is preferably more than 0 ppm and 4,500 ppm or less, more preferably more than 0 ppm and 1,000 ppm or less, More preferably, it is more than 0 ppm and 500 ppm or less. When based on the mass of the solid content in the resin composition, the total amount of the compound in which m is 4 in general formula (3) is preferably more than 0 ppm and 2,500 ppm or less, more preferably more than 0 ppm and 700 ppm or less, More preferably, it is more than 0 ppm and 400 ppm or less. When the total amount of the compound represented by the general formula (3) is within the above range, it is preferable because the YI value of the polyimide resin film obtained from the resin composition is further lowered.

본원 명세서 중 「고형분」 이란, 수지 조성물 중의 용매 이외의 전체 성분이며, 액상의 모노머 성분도 고형분의 질량에 포함된다. 수지 조성물이 용매와 폴리이미드 전구체만을 함유하는 경우, 폴리이미드 전구체가 고형분에 해당한다. 수지 조성물이 용매와 폴리이미드 전구체만을 함유하는 경우, 고형분의 질량은, 폴리이미드 전구체에 포함되는 모든 모노머의 질량의 총량이 해당한다. 고형분의 질량은, 수지 조성물을 가스 크로마토그래피 (이하 GC 라고도 한다) 분석함으로써 용매의 질량을 구하고, 수지 조성물의 질량으로부터 용매의 질량을 공제하는 것으로부터 구할 수도 있다. 고형분의 질량은, 수지 조성물을 가열하고, 용매를 휘발 제거하여, 용매의 질량을 구하고, 수지 조성물의 질량으로부터 용매의 질량을 공제하는 것으로부터 구할 수도 있다.The "solid content" in the present specification is all components other than the solvent in the resin composition, and the liquid monomer component is also included in the mass of the solid content. When the resin composition contains only a solvent and a polyimide precursor, the polyimide precursor corresponds to a solid content. When the resin composition contains only the solvent and the polyimide precursor, the mass of the solid content corresponds to the total amount of mass of all monomers included in the polyimide precursor. The mass of the solid content can also be obtained by subtracting the mass of the solvent from the mass of the resin composition by determining the mass of the solvent by gas chromatography (hereinafter also referred to as GC) analysis of the resin composition. The mass of the solid content can also be obtained from heating the resin composition, volatilizing off the solvent, obtaining the mass of the solvent, and subtracting the mass of the solvent from the mass of the resin composition.

본 실시형태의 폴리이미드 전구체는, 일반식 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물과, 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 로 나타내는 화합물과, 일반식 (4) 로 나타내는 화합물을 함유하는 원료 조성물을, 테트라카르복실산 2무수물 및 디아민과 중축합 반응시킴으로써 얻을 수 있다. 그 경우, 당해 원료 조성물에 포함되는, 상기 일반식 (3) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량은, 일반식 (3), (4) 및 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물의 질량을 기준으로 하여, 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 280 ppm 이하, 보다 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 30 ppm 이하, 더욱 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 6 ppm 이하이다. 일반식 (3), (4) 및 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물의 합계 질량을 기준으로 하여, 일반식 (3) 중 m 이 3 인 화합물의 총량은, 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 200 ppm 이하, 보다 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 25 ppm 이하, 더욱 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 3 ppm 이하이다. 일반식 (3), (4) 및 (5) 의 규소 함유 화합물의 합계 질량을 기준으로 하는 경우, 일반식 (3) 중 m 이 4 인 화합물의 총량은, 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 80 ppm 이하, 보다 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 5 ppm 이하, 더욱 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 3 ppm 이하이다. 일반식 (3) 으로 나타내는 화합물의 총량이 상기의 범위 내이면, 수지 조성물로부터 얻어지는 폴리이미드 수지막의 YI 값이 보다 저하되기 때문에 바람직하다.The polyimide precursor of this embodiment contains the silicon-containing compound represented by general formula (5), the compound represented by general formula (3-1) or (3-2), and the compound represented by general formula (4) The raw material composition can be obtained by polycondensation reaction with tetracarboxylic dianhydride and diamine. In that case, the total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more in the general formula (3) contained in the raw material composition is based on the mass of the silicon-containing compound represented by the general formulas (3), (4) and (5). Therefore, it is preferably more than 0 ppm and 280 ppm or less, more preferably more than 0 ppm and 30 ppm or less, still more preferably more than 0 ppm and 6 ppm or less. Based on the total mass of the silicon-containing compounds represented by the general formulas (3), (4) and (5), the total amount of the compound whose m is 3 in the general formula (3) is preferably more than 0 ppm and 200 ppm Below, it is more preferably more than 0 ppm and 25 ppm or less, and more preferably more than 0 ppm and 3 ppm or less. When based on the total mass of the silicon-containing compounds of the general formulas (3), (4) and (5), the total amount of the compound whose m is 4 in the general formula (3) is preferably more than 0 ppm and 80 ppm Hereinafter, more preferably, it is more than 0 ppm and 5 ppm or less, and more preferably, it is more than 0 ppm and 3 ppm or less. When the total amount of the compound represented by the general formula (3) is within the above range, it is preferable because the YI value of the polyimide resin film obtained from the resin composition is further lowered.

일반식 (4) 의 화합물Compound of general formula (4)

본 실시형태의 수지 조성물은, 상기 일반식 (3) 으로 나타내는 화합물에 더하여, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물을 추가로 포함해도 된다.The resin composition of this embodiment may further contain the compound represented by the following general formula (4) in addition to the compound represented by the above general formula (3).

[화학식 38][Formula 38]

Figure 112019083666339-pct00038
Figure 112019083666339-pct00038

{식 중, n 은 2 이상의 정수이다.} {In the formula, n is an integer of 2 or more.}

일반식 (4) 중 n 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량은, 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 200 ppm 이하, 보다 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 100 ppm 이하, 더욱 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 50 ppm 이하이다.The total amount of the compound in which n is an integer of 3 or more in the general formula (4) is preferably more than 0 ppm and more than 200 ppm, more preferably more than 0 ppm and more than 100 ppm, more preferably based on the mass of the resin composition. It is more than 0 ppm and less than 50 ppm.

일반식 (4) 중 n 이 3 ∼ 8 인 화합물의 총량은, 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 200 ppm 이하, 보다 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 100 ppm 이하, 더욱 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 50 ppm 이하이다.The total amount of the compound in which n is 3 to 8 in the general formula (4), based on the mass of the resin composition, is preferably more than 0 ppm and 200 ppm or less, more preferably more than 0 ppm and 100 ppm or less, further It is preferably more than 0 ppm and 50 ppm or less.

일반식 (3) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물과, 일반식 (4) 중 n 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량은, 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 1,300 ppm 이하, 보다 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 400 ppm 이하, 더욱 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 230 ppm 이하여도 된다. 일반식 (3) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물과 일반식 (4) 중 n 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량이 상기 범위 내이고, 또한, 일반식 (3) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량이, 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 1,100 ppm 이하, 보다 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 800 ppm 이하, 더욱 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 600 ppm 이하, 특히 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 300 ppm 이하, 특히 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 180 ppm 이하인 것이 바람직하다.The total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more in general formula (3) and the compound in which n is an integer of 3 or more in general formula (4) is preferably greater than 0 ppm and less than 1,300 ppm, based on the mass of the resin composition, More preferably, it is more than 0 ppm and 400 ppm or less, and more preferably, it is more than 0 ppm and may be 230 ppm or less. The total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more in general formula (3) and the compound in which n is an integer of 3 or more in general formula (4) is within the above range, and the total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more in general formula (3) , Based on the mass of the resin composition, preferably more than 0 ppm and 1,100 ppm or less, more preferably more than 0 ppm and 800 ppm or less, more preferably more than 0 ppm and 600 ppm or less, particularly preferably 0 It is preferably more than ppm and 300 ppm or less, particularly preferably more than 0 ppm and 180 ppm or less.

일반식 (3) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물과, 일반식 (4) 중 n 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량이 상기 범위 내이고, 또한, 일반식 (3) 중 m 이 3 ∼ 5 인 화합물의 총량이, 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 1,100 ppm 이하, 보다 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 800 ppm 이하, 더욱 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 600 ppm 이하, 특히 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 300 ppm 이하, 특히 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 180 ppm 이하인 것이 바람직하다. 일반식 (3) 으로 나타내는 화합물과 일반식 (4) 로 나타내는 화합물의 총량이 상기 범위 내이면, 폴리이미드 수지막의 제조 프로세스에 있어서 부착되는 이물질의 총수가 저감되는 점에서 바람직하다. The total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more in general formula (3), and the compound in which n is an integer of 3 or more in general formula (4) is within the above range, and m of 3 to 5 in general formula (3) Based on the mass of the resin composition, the total amount is preferably more than 0 ppm and 1,100 ppm or less, more preferably more than 0 ppm and 800 ppm or less, more preferably more than 0 ppm and 600 ppm or less, particularly preferably Is more than 0 ppm and 300 ppm or less, particularly preferably more than 0 ppm and preferably 180 ppm or less. When the total amount of the compound represented by the general formula (3) and the compound represented by the general formula (4) is within the above range, it is preferable in that the total number of foreign substances adhering in the production process of the polyimide resin film is reduced.

수지 조성물 중의 고형분의 질량을 기준으로 하는 경우, 일반식 (4) 중 n 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량은, 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 1,100 ppm 이하, 보다 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 700 ppm 이하, 더욱 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 400 ppm 이하이다. 수지 조성물 중의 고형분의 질량을 기준으로 하는 경우, 일반식 (3) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물과, 일반식 (4) 중 n 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량은, 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 8,600 ppm 이하, 보다 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 2,700 ppm 이하, 더욱 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 1,500 ppm 이하이다. 일반식 (3) 으로 나타내는 화합물과 일반식 (4) 로 나타내는 화합물의 총량이 상기 범위 내이면, 폴리이미드 수지막의 제조 프로세스에 있어서 부착되는 이물질의 총수가 저감되는 점에서 바람직하다.When based on the mass of the solid content in the resin composition, the total amount of the compound in which n is an integer of 3 or more in the general formula (4) is preferably more than 0 ppm and 1,100 ppm or less, more preferably more than 0 ppm and 700 ppm or less , More preferably more than 0 ppm and less than 400 ppm. When based on the mass of the solid content in the resin composition, the total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more in general formula (3) and the compound in which n is an integer of 3 or more in general formula (4) is preferably more than 0 ppm and 8,600 ppm or less, more preferably more than 0 ppm and 2,700 ppm or less, still more preferably more than 0 ppm and 1,500 ppm or less. When the total amount of the compound represented by the general formula (3) and the compound represented by the general formula (4) is within the above range, it is preferable in that the total number of foreign substances adhering in the production process of the polyimide resin film is reduced.

일반식 (3), (4) 및 (5) 의 규소 함유 화합물의 질량을 기준으로 하는 경우, 일반식 (4) 중 n 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량은, 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 200 ppm 이하, 보다 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 100 ppm 이하, 더욱 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 50 ppm 이하이다. 일반식 (3), (4) 및 (5) 의 규소 함유 화합물의 합계 질량을 기준으로 하는 경우, 일반식 (3) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물과, 일반식 (4) 중 n 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량은, 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 4,700 ppm 이하, 보다 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 1,100 ppm 이하, 더욱 바람직하게는 0 ppm 보다 많고 6,300 ppm 이하이다. 일반식 (3) 으로 나타내는 화합물과 일반식 (4) 로 나타내는 화합물의 총량이 상기 범위 내이면, 폴리이미드 수지막의 제조 프로세스에 있어서 부착되는 이물질의 총수가 저감되는 점에서 바람직하다.When based on the mass of the silicon-containing compound of the general formulas (3), (4) and (5), the total amount of the compound in which n is an integer of 3 or more in the general formula (4) is preferably more than 0 ppm and 200 ppm Hereinafter, it is more preferably more than 0 ppm and 100 ppm or less, and more preferably more than 0 ppm and 50 ppm or less. When based on the total mass of the silicon-containing compounds of the general formulas (3), (4) and (5), m in the general formula (3) is an integer of 3 or more, and n in the general formula (4) is 3 or more The total amount of the compound which is an integer is preferably more than 0 ppm and 4,700 ppm or less, more preferably more than 0 ppm and 1,100 ppm or less, still more preferably more than 0 ppm and 6,300 ppm or less. When the total amount of the compound represented by the general formula (3) and the compound represented by the general formula (4) is within the above range, it is preferable in that the total number of foreign substances adhering in the production process of the polyimide resin film is reduced.

이물질 카운트수Foreign substance count

수지 조성물, 고형분, 규소 함유 화합물 각각의 질량을 기준으로 하여, 일반식 (3) 중 m 이 3 이상 (바람직하게는 m 이 3 ∼ 5) 의 정수인 고리형 실록산과, 일반식 (4) 중 n 이 3 이상 (바람직하게는 n 이 3 ∼ 8) 의 정수인 고리형 실록산의 총량이 적을수록, 폴리이미드 수지막의 제조 프로세스에 있어서 부착되는 이물질이 소량이기 때문에 바람직하다. 이 메커니즘은 불분명하지만, 발명자들은 이하와 같이 추정하고 있다. 즉, 폴리이미드 수지막의 제조에 있어서, 전형적으로는, 폴리이미드 전구체 조성물을 포함하는 수지 조성물을 유리 기판 등의 지지체에 도포하고, 하나의 오븐 내에서, 예를 들어 100 ℃ 에서 30 분간 가열함으로써 용매를 제거하고, 동일한 오븐 내에서 연속해서, 보다 높은 온도, 예를 들어 350 ℃ 에서 1 시간 가열함으로써 이미드화 하여 폴리이미드 수지막을 형성하는 것이 실시된다. 여기서, 일반식 (4) 의 고리형 실록산 쪽이, 일반식 (3) 의 고리형 실록산보다 휘발하기 쉽다. 따라서, 용매를 제거할 때에는, 일반식 (4) 의 고리형 실록산이 휘발하고, 이미드화 시에는 일반식 (3) 의 고리형 실록산이 휘발하여, 오븐 내에 부착되는 것으로 생각된다. 특히 오븐에 투입하는 샘플수가 많은 경우에는, 오븐 내에 일반식 (3) 및 (4) 의 고리형 실록산이 보다 많이 퇴적하고, 그것이 낙하함으로써, 폴리이미드 수지막에 부착된 이물질이 되는 것으로 생각된다. 따라서, 일반식 (3) 의 고리형 실록산과 일반식 (4) 의 고리형 실록산의 총량이 적을수록, 폴리이미드 수지막의 제조 프로세스에 있어서 부착되는 이물질이 소량인 것으로 생각된다.Based on the mass of each of the resin composition, the solid content, and the silicon-containing compound, m in general formula (3) is cyclic siloxane having an integer of 3 or more (preferably m is 3 to 5) and n in general formula (4) The smaller the total amount of the cyclic siloxane, which is an integer of 3 or more (preferably n is 3 to 8), is preferable because a small amount of foreign substances adhered in the production process of the polyimide resin film. Although this mechanism is unclear, the inventors estimate as follows. That is, in the production of a polyimide resin film, typically, a resin composition comprising a polyimide precursor composition is applied to a support such as a glass substrate and heated in a single oven, for example, at 100 ° C. for 30 minutes, for a solvent. Is removed and imidized by heating in a same oven continuously at a higher temperature, for example, 350 ° C. for 1 hour to form a polyimide resin film. Here, the cyclic siloxane of the general formula (4) tends to volatilize more than the cyclic siloxane of the general formula (3). Therefore, when removing a solvent, it is thought that the cyclic siloxane of general formula (4) volatilizes, and the cyclic siloxane of general formula (3) volatilizes at the time of imidation, and adheres in an oven. In particular, when the number of samples to be input into the oven is large, it is considered that the cyclic siloxanes of the general formulas (3) and (4) are more deposited in the oven, and when they fall, they become foreign matters attached to the polyimide resin film. Therefore, it is considered that the smaller the total amount of the cyclic siloxane of the general formula (3) and the cyclic siloxane of the general formula (4), the smaller the amount of foreign matter adhering in the production process of the polyimide resin film.

〈용매〉<menstruum>

수지 조성물은 전형적으로 용매를 포함한다. 용매로는, 폴리이미드 전구체의 용해성이 양호하고, 또한 수지 조성물의 용액 점도를 적절히 제어할 수 있는 것이 바람직하고, 폴리이미드 전구체의 반응 용매를, 조성물의 용매로서 사용할 수 있다. 그 중에서도, N-메틸-2-피롤리돈 (NMP), γ-부티로락톤 (GBL), 상기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물 등이 바람직하다. 용매 조성의 구체예로는, N-메틸-2-피롤리돈 (NMP) 단독, 또는 N-메틸-2-피롤리돈 (NMP) 과 γ-부티로락톤 (GBL) 의 혼합 용매 등을 들 수 있다. NMP 와 GBL 의 질량비는, 예를 들어, NMP:GBL (질량비) = 10:90 ∼ 90:10 이어도 된다.The resin composition typically includes a solvent. As the solvent, it is preferable that the solubility of the polyimide precursor is good, and that the solution viscosity of the resin composition can be appropriately controlled, and the reaction solvent of the polyimide precursor can be used as the solvent of the composition. Especially, N-methyl-2-pyrrolidone (NMP), γ-butyrolactone (GBL), the compound represented by the said general formula (4), etc. are preferable. Specific examples of the solvent composition include N-methyl-2-pyrrolidone (NMP) alone or a mixed solvent of N-methyl-2-pyrrolidone (NMP) and γ-butyrolactone (GBL). Can be. The mass ratio of NMP and GBL may be, for example, NMP: GBL (mass ratio) = 10:90 to 90:10.

〈추가 성분〉<Additional ingredients>

본 실시형태의 수지 조성물은, 폴리이미드 전구체, 저분자 고리형 실록산, 및 용매에 더하여, 추가 성분을 더 포함해도 된다. 추가 성분으로는, 예를 들어, 계면 활성제, 및 알콕시실란 화합물 등을 들 수 있다.The resin composition of the present embodiment may further contain an additional component in addition to the polyimide precursor, the low-molecular cyclic siloxane, and the solvent. As an additional component, surfactant, an alkoxysilane compound, etc. are mentioned, for example.

계면 활성제Surfactants

본 실시형태의 수지 조성물에 계면 활성제를 첨가함으로써, 수지 조성물의 도포성을 향상시킬 수 있다. 구체적으로는, 도공막에 있어서의 줄무늬의 발생을 방지할 수 있다.By adding surfactant to the resin composition of this embodiment, the coating property of a resin composition can be improved. Specifically, the occurrence of streaks in the coated film can be prevented.

이와 같은 계면 활성제는, 예를 들어, 실리콘계 계면 활성제, 불소계 계면 활성제, 이들 이외의 비이온 계면 활성제 등을 들 수 있다. 실리콘계 계면 활성제로는, 예를 들어, 오르가노실록산 폴리머 KF-640, 642, 643, KP341, X-70-092, X-70-093 (상품명, 신에츠 화학 공업사 제조);SH-28PA, SH-190, SH-193, SZ-6032, SF-8428, DC-57, DC-190 (상품명, 토오레·다우코닝·실리콘사 제조);SILWET L-77, L-7001, FZ-2105, FZ-2120, FZ-2154, FZ-2164, FZ-2166, L-7604 (상품명, 닛폰 유니카사 제조);DBE-814, DBE-224, DBE-621, CMS-626, CMS-222, KF-352A, KF-354L, KF-355A, KF-6020, DBE-821, DBE-712 (Gelest), BYK-307, BYK-310, BYK-378, BYK-333 (상품명, 빅크케미·재팬 제조);글라놀 (상품명, 쿄에이샤 화학사 제조) 등을 들 수 있다. 불소계 계면 활성제로는, 예를 들어, 메가팍 F171, F173, R-08 (다이닛폰 잉크 화학 공업 주식회사 제조, 상품명);플루오라드 FC4430, FC4432 (스미토모 쓰리엠 주식회사, 상품명) 등을 들 수 있다. 이들 이외의 비이온 계면 활성제로는, 예를 들어, 폴리옥시에틸렌라우릴에테르, 폴리옥시에틸렌스테아릴에테르, 폴리옥시에틸렌올레일에테르, 폴리옥시에틸렌옥틸페놀에테르 등을 들 수 있다.Examples of such surfactants include silicone-based surfactants, fluorine-based surfactants, and nonionic surfactants other than these. As a silicone surfactant, For example, organosiloxane polymers KF-640, 642, 643, KP341, X-70-092, X-70-093 (trade name, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.); SH-28PA, SH- 190, SH-193, SZ-6032, SF-8428, DC-57, DC-190 (trade name, manufactured by Toray Dow Corning, Inc.); SILWET L-77, L-7001, FZ-2105, FZ- 2120, FZ-2154, FZ-2164, FZ-2166, L-7604 (trade name, manufactured by Nippon Unicar); DBE-814, DBE-224, DBE-621, CMS-626, CMS-222, KF-352A, KF-354L, KF-355A, KF-6020, DBE-821, DBE-712 (Gelest), BYK-307, BYK-310, BYK-378, BYK-333 (trade name, manufactured by BIC Chemie Japan); (Trade name, manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.) and the like. Examples of the fluorine-based surfactant include Megapak F171, F173, R-08 (manufactured by Dainippon Ink Chemical Industry Co., Ltd., trade name); Fluorad FC4430, FC4432 (Sumitomo 3M Co., Ltd. trade name) and the like. Nonionic surfactants other than these include, for example, polyoxyethylene lauryl ether, polyoxyethylene stearyl ether, polyoxyethylene oleyl ether, polyoxyethylene octylphenol ether, and the like.

이들 계면 활성제 중에서도, 수지 조성물의 도공성 (줄무늬 억제) 의 관점에서, 실리콘계 계면 활성제, 불소계 계면 활성제가 바람직하고, 큐어 공정 시의 산소 농도에 의한 YI 값 및 전광선 투과율에 대한 영향을 저감하는 관점에서, 실리콘계 계면 활성제가 바람직하다. 계면 활성제를 사용하는 경우, 그 배합량은, 수지 조성물 중의 폴리이미드 전구체 100 질량부에 대하여, 바람직하게는 0.001 ∼ 5 질량부, 보다 바람직하게는 0.01 ∼ 3 질량부이다.Among these surfactants, from the viewpoint of coatability (stripes suppression) of the resin composition, silicone-based surfactants and fluorine-based surfactants are preferred, and from the viewpoint of reducing the effect on the YI value and total light transmittance by oxygen concentration during the curing process. , Silicone-based surfactants are preferred. When a surfactant is used, the blending amount is preferably 0.001 to 5 parts by mass, more preferably 0.01 to 3 parts by mass, relative to 100 parts by mass of the polyimide precursor in the resin composition.

알콕시실란 화합물Alkoxysilane compounds

본 실시형태의 수지 조성물로부터 얻어지는 폴리이미드 필름을 플렉시블 기판 등에 사용하는 경우, 제조 프로세스에 있어서의 지지체와 폴리이미드 필름의 양호한 밀착성을 얻는 관점에서, 수지 조성물은, 폴리이미드 전구체 100 질량부에 대하여, 알콕시실란 화합물을 0.01 ∼ 20 질량부 함유할 수 있다. 폴리이미드 전구체 100 질량부에 대한 알콕시실란 화합물의 함유량이 0.01 질량부 이상임으로써, 지지체와 폴리이미드 필름의 사이에 양호한 밀착성을 얻을 수 있다. 또 알콕시실란 화합물의 함유량이 20 질량부 이하인 것이, 수지 조성물의 보존 안정성의 관점에서 바람직하다. 알콕시실란 화합물의 함유량은, 폴리이미드 전구체 100 질량부에 대하여, 바람직하게는 0.02 ∼ 15 질량부, 보다 바람직하게는 0.05 ∼ 10 질량부, 더욱 바람직하게는 0.1 ∼ 8 질량부이다. 알콕시실란 화합물을 사용함으로써, 상기의 밀착성의 향상에 더하여, 수지 조성물의 도공성이 향상되고 (줄무늬 불균일 억제), 및 큐어 시의 산소 농도에 의한 폴리이미드 필름의 YI 값에 대한 영향을 저감할 수도 있다.When the polyimide film obtained from the resin composition of the present embodiment is used for a flexible substrate or the like, from the viewpoint of obtaining good adhesion between the support and the polyimide film in the manufacturing process, the resin composition is based on 100 parts by mass of the polyimide precursor, The alkoxysilane compound may contain 0.01 to 20 parts by mass. When the content of the alkoxysilane compound to 100 parts by mass of the polyimide precursor is 0.01 parts by mass or more, good adhesion between the support and the polyimide film can be obtained. Moreover, it is preferable from a viewpoint of storage stability of a resin composition that content of an alkoxysilane compound is 20 mass parts or less. The content of the alkoxysilane compound is preferably 0.02 to 15 parts by mass, more preferably 0.05 to 10 parts by mass, and even more preferably 0.1 to 8 parts by mass relative to 100 parts by mass of the polyimide precursor. By using the alkoxysilane compound, in addition to the above-mentioned improvement in adhesion, the coating property of the resin composition is improved (stripping non-uniformity), and the influence of the polyimide film on the YI value of the polyimide film by curing can be reduced. have.

알콕시실란 화합물로는, 예를 들어, 3-우레이드프로필트리에톡시실란, 비스(2-하이드록시에틸)-3-아미노프로필트리에톡시실란, 3-글리시독시프로필트리메톡시실란, γ-아미노프로필트리메톡시실란, γ-아미노프로필트리프로폭시실란, γ-아미노프로필트리부톡시실란, γ-아미노에틸트리에톡시실란, γ-아미노에틸트리프로폭시실란, γ-아미노에틸트리부톡시실란, γ-아미노부틸트리에톡시실란, γ-아미노부틸트리메톡시실란, γ-아미노부틸트리프로폭시실란, γ-아미노부틸트리부톡시실란, 페닐실란트리올, 트리메톡시페닐실란, 트리메톡시(p-톨릴)실란, 디페닐실란디올, 디메톡시디페닐실란, 디에톡시디페닐실란, 디메톡시디-p-톨릴실란, 트리페닐실란올, 및 하기 구조의 각각으로 나타내는 알콕시실란 화합물 등을 들 수 있다. 알콕시실란 화합물은, 1 종을 단독으로 사용해도 되고 2 종 이상을 조합하여 사용해도 된다.Examples of the alkoxysilane compound include 3-ureidpropyltriethoxysilane, bis (2-hydroxyethyl) -3-aminopropyltriethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, γ -Aminopropyltrimethoxysilane, γ-aminopropyltripropoxysilane, γ-aminopropyltributoxysilane, γ-aminoethyltriethoxysilane, γ-aminoethyltripropoxysilane, γ-aminoethyltribu Methoxysilane, γ-aminobutyltriethoxysilane, γ-aminobutyltrimethoxysilane, γ-aminobutyltripropoxysilane, γ-aminobutyltributoxysilane, phenylsilanetriol, trimethoxyphenylsilane, Trimethoxy (p-tolyl) silane, diphenylsilanediol, dimethoxydiphenylsilane, diethoxydiphenylsilane, dimethoxydi-p-tolylsilane, triphenylsilanol, and alkoxysilane represented by each of the following structures And compounds. The alkoxysilane compound may be used alone or in combination of two or more.

[화학식 39][Formula 39]

Figure 112019083666339-pct00039
Figure 112019083666339-pct00039

《수지 조성물의 제조 방법》<< method of manufacturing resin composition >>

본 실시형태에 있어서의 수지 조성물의 제조 방법은, 특별히 한정되는 것은 아니고, 예를 들어, 이하의 방법에 따를 수 있다.The manufacturing method of the resin composition in this embodiment is not specifically limited, For example, the following method can be followed.

〈규소 함유 화합물의 정제〉<Refining of silicon-containing compounds>

본 실시형태의 수지 조성물은, 산 2무수물, 디아민, 및 규소 함유 화합물을 포함하는 중축합 성분을 중축합 반응시킴으로써 제조할 수 있다. 본 실시형태의 수지 조성물 중에 포함되는, 일반식 (3) 의 화합물의 총량을 저감하는 방법으로는, 예를 들어, 중축합 반응 전에, 규소 함유 화합물을 정제하여, 일반식 (3) 의 화합물의 총량을 저감하는 것을 들 수 있다. 혹은, 중축합 반응 후에, 수지 조성물을 정제하여, 일반식 (3) 의 화합물의 총량을 저감해도 된다.The resin composition of the present embodiment can be produced by subjecting a polycondensation component containing an acid anhydride, a diamine, and a silicon-containing compound to a polycondensation reaction. As a method of reducing the total amount of the compound of the general formula (3) contained in the resin composition of the present embodiment, for example, before the polycondensation reaction, the silicon-containing compound is purified to obtain a compound of the general formula (3). And reducing the total amount. Alternatively, after the polycondensation reaction, the resin composition may be purified to reduce the total amount of the compound of formula (3).

규소 함유 화합물을 정제하는 방법으로는, 예를 들어, 임의의 용기 내에서 규소 함유 화합물에 불활성 가스, 예를 들어 질소 가스를 불어넣으면서 스트리핑을 실시하는 것을 들 수 있다. 스트리핑의 온도로는, 바람직하게는 200 ℃ 이상 300 ℃ 이하, 보다 바람직하게는 220 ℃ 이상 300 ℃ 이하, 더욱 바람직하게는 240 ℃ 이상 300 ℃ 이하이다. 스트리핑의 증기압으로는, 낮을수록 바람직하고, 1000 ㎩ 이하, 보다 바람직하게는 300 ㎩ 이하, 더욱 바람직하게는 200 ㎩ 이하, 보다 더욱 바람직하게는 133.32 ㎩ (1 mmHg) 이하이다. 스트리핑의 시간으로는, 바람직하게는 4 시간 이상 12 시간 이하, 보다 바람직하게는 6 시간 이상 10 시간 이하이다. 상기의 조건으로 조정함으로써, 일반식 (3) 의 화합물을 효율적으로 제거할 수 있고, 또, 일반식 (3) 및 (4) 의 총량을 바람직한 범위로 제어할 수 있다.As a method of purifying a silicon-containing compound, for example, stripping is performed while blowing an inert gas, for example, nitrogen gas, into the silicon-containing compound in an arbitrary container. The temperature of stripping is preferably 200 ° C or more and 300 ° C or less, more preferably 220 ° C or more and 300 ° C or less, and even more preferably 240 ° C or more and 300 ° C or less. The vapor pressure of stripping is preferably lower, and is preferably 1000 MPa or less, more preferably 300 MPa or less, more preferably 200 MPa or less, and even more preferably 133.32 MPa (1 mmHg) or less. The time of stripping is preferably 4 hours or more and 12 hours or less, more preferably 6 hours or more and 10 hours or less. By adjusting under the conditions described above, the compound of the general formula (3) can be efficiently removed, and the total amount of the general formulas (3) and (4) can be controlled in a preferred range.

〈폴리이미드 전구체의 합성〉<Synthesis of polyimide precursor>

본 실시형태의 폴리이미드 전구체는, 산 2무수물, 디아민, 및 규소 함유 화합물을 포함하는 중축합 성분을 중축합 반응시킴으로써 합성할 수 있다. 규소 함유 화합물은, 상기의 정제한 것을 사용하는 것이 바람직하다. 바람직한 양태에 있어서, 중축합 성분은, 산 2무수물과, 디아민과, 규소 함유 화합물로 이루어진다. 중축합 반응은, 적당한 용매 중에서 실시하는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 예를 들어, 용매에 소정량의 디아민 성분 및 규소 함유 화합물을 용해시킨 후, 얻어진 디아민 용액에, 산 2무수물을 소정량 첨가하고, 교반하는 방법을 들 수 있다.The polyimide precursor of the present embodiment can be synthesized by polycondensation reaction of a polycondensation component comprising an acid anhydride, a diamine, and a silicon-containing compound. As for the silicon-containing compound, it is preferable to use the above purified one. In a preferable aspect, a polycondensation component consists of an acid anhydride, a diamine, and a silicon-containing compound. It is preferable to perform a polycondensation reaction in a suitable solvent. Specifically, for example, after dissolving a predetermined amount of a diamine component and a silicon-containing compound in a solvent, a predetermined amount of an acid anhydride is added to the obtained diamine solution, followed by stirring.

폴리이미드 전구체를 합성할 때의 산 2무수물과 디아민의 몰비는, 폴리이미드 전구체 수지의 고분자량화, 수지 조성물의 슬릿 코팅 특성의 관점에서, 산 2무수물:디아민 = 100:90 ∼ 100:110 (산 2무수물 1 몰부에 대하여 디아민 0.90 ∼ 1.10 몰부) 의 범위가 바람직하고, 100:95 ∼ 100:105 (산 2무수물 1 몰부에 대하여 디아민 0.95 ∼ 1.05 몰부) 의 범위가 더욱 바람직하다.The molar ratio of the acid 2 anhydride to the diamine when synthesizing the polyimide precursor is from the viewpoint of high molecular weight of the polyimide precursor resin and slit coating properties of the resin composition, the acid 2 anhydride: diamine = 100: 90-100: 110 ( The range of diamine 0.90 to 1.10 mol parts with respect to 1 mol part of the acid anhydride is preferred, and the range of 100: 95 to 100: 105 (0.95 to 1.05 mol parts of the diamine with respect to 1 mol part of the acid anhydride) is more preferable.

폴리이미드 전구체의 분자량은, 산 2무수물, 디아민 및 규소 함유 화합물의 종류, 산 2무수물과 디아민의 몰비의 조정, 말단 봉지제 (封止劑) 의 첨가, 반응 조건의 조정 등에 의해 컨트롤하는 것이 가능하다. 산 2무수물 성분과 디아민 성분의 몰비가 1:1 에 가까울수록, 및 말단 봉지제의 사용량이 적을수록, 폴리이미드 전구체를 고분자량화할 수 있다.The molecular weight of the polyimide precursor can be controlled by adjusting the type of the acid-anhydride, diamine and silicon-containing compound, adjusting the molar ratio of the acid-anhydride and diamine, adding a terminal encapsulant, and adjusting the reaction conditions. Do. The more the molar ratio of the acid anhydride component and the diamine component is closer to 1: 1, and the less the amount of the terminal sealant is used, the higher the polyimide precursor can be.

산 2무수물 성분 및 디아민 성분으로서, 고순도품을 사용하는 것이 추장된다. 그 순도로는, 각각, 바람직하게는 98 질량% 이상, 보다 바람직하게는 99 질량% 이상, 더욱 바람직하게는 99.5 질량% 이상이다. 산 2무수물 성분 및 디아민 성분에 있어서의 수분 함량을 저감함으로써 고순도화할 수도 있다. 복수 종류의 산 2무수물 성분, 및/또는 복수 종류의 디아민 성분을 사용하는 경우에는, 산 2무수물 성분 전체적으로, 및 디아민 성분 전체적으로 상기의 순도를 갖는 것이 바람직하고, 사용하는 전체 종류의 산 2무수물 성분 및 디아민 성분이, 각각 상기의 순도를 갖고 있는 것이 보다 바람직하다.It is recommended to use a high-purity product as the acid anhydride component and the diamine component. The purity is, respectively, preferably 98 mass% or more, more preferably 99 mass% or more, still more preferably 99.5 mass% or more. High purity can also be achieved by reducing the water content in the acid anhydride component and the diamine component. When a plurality of types of acid anhydride components and / or a plurality of types of diamine components are used, it is preferable to have the above-mentioned purity as a whole of the acid 2 anhydride component, and as a whole of the diamine component. And it is more preferable that a diamine component has the said purity, respectively.

반응의 용매로는, 산 2무수물 성분 및 디아민 성분, 그리고 발생하는 폴리이미드 전구체를 용해할 수 있고, 고분자량의 중합체가 얻어지는 용매이면 특별히 한정되지 않는다. 이와 같은 용매로는, 예를 들어, 비프로톤성 용매, 페놀계 용매, 에테르 및 글리콜계 용매 등을 들 수 있다. 비프로톤성 용매로는, 예를 들어, N,N-디메틸포름아미드 (DMF), N,N-디메틸아세트아미드 (DMAc), N-메틸-2-피롤리돈 (NMP), N-메틸카프로락탐, 1,3-디메틸이미다졸리디논, 테트라메틸우레아, 및 하기 일반식 (6) 의 아미드계 용매:The solvent of the reaction is not particularly limited as long as it is a solvent in which an acid anhydride component, a diamine component, and a generated polyimide precursor can be dissolved, and a high molecular weight polymer is obtained. Examples of such solvents include aprotic solvents, phenolic solvents, ether and glycol solvents, and the like. As aprotic solvents, for example, N, N-dimethylformamide (DMF), N, N-dimethylacetamide (DMAc), N-methyl-2-pyrrolidone (NMP), N-methylcapro Lactam, 1,3-dimethylimidazolidinone, tetramethylurea, and amide solvents of the following general formula (6):

[화학식 40][Formula 40]

Figure 112019083666339-pct00040
Figure 112019083666339-pct00040

{식 중, R12=메틸기로 나타내는 에크아미드 M100 (상품명:이데미츠 흥산사 제조), 및, R12=n-부틸기로 나타내는 에크아미드 B100 (상품명:이데미츠 흥산사 제조)};γ-부티로락톤, γ-발레롤락톤 등의 락톤계 용매;헥사메틸포스포릭아미드,헥사메틸포스핀트리아미드 등의 함인계 아미드계 용매;디메틸술폰, 디메틸술폭시드, 술포란 등의 함황계 용매;시클로헥사논, 메틸시클로헥사논 등의 케톤계 용매;피콜린, 피리딘 등의 3 급 아민계 용매;아세트산(2-메톡시-1-메틸에틸) 등의 에스테르계 용매 등을 들 수 있다.{In the formula, R 12 = Ecamide M100 represented by a methyl group (trade name: manufactured by Idemitsu Heungsan), and Ecamide B100 represented by R 12 = n-butyl group (brand name: manufactured by Idemitsu Heungsan)}; γ-butyrolactone , lactone-based solvents such as γ-valerolactone; phosphorus-based amide solvents such as hexamethylphosphoricamide and hexamethylphosphine triamide; sulfur-based solvents such as dimethyl sulfone, dimethyl sulfoxide and sulfolane; cyclohexanone , Ketone solvents such as methylcyclohexanone; tertiary amine solvents such as picoline and pyridine; ester solvents such as acetic acid (2-methoxy-1-methylethyl) and the like.

페놀계 용매로는, 예를 들어, 페놀, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸, 2,3-자일레놀, 2,4-자일레놀, 2,5-자일레놀, 2,6-자일레놀, 3,4-자일레놀, 3,5-자일레놀 등을 들 수 있다.As a phenolic solvent, for example, phenol, o-cresol, m-cresol, p-cresol, 2,3-xylenol, 2,4-xylenol, 2,5-xylenol, 2, And 6-xyllenol, 3,4-xyllenol, and 3,5-xylenol.

에테르 및 글리콜계 용매로는, 예를 들어, 1,2-디메톡시에탄, 비스(2-메톡시에틸)에테르, 1,2-비스(2-메톡시에톡시)에탄, 비스[2-(2-메톡시에톡시)에틸]에테르, 테트라하이드로푸란, 1,4-디옥산 등을 들 수 있다.Examples of the ether and glycol solvents include 1,2-dimethoxyethane, bis (2-methoxyethyl) ether, 1,2-bis (2-methoxyethoxy) ethane and bis [2- ( 2-methoxyethoxy) ethyl] ether, tetrahydrofuran, 1,4-dioxane, and the like.

이들 용매는, 단독으로 또는 2 종류 이상 혼합하여 사용해도 된다.You may use these solvents individually or in mixture of 2 or more types.

폴리이미드 전구체의 합성에 사용되는 용매의 상압에 있어서의 비점은, 바람직하게는 60 ∼ 300 ℃, 보다 바람직하게는 140 ∼ 280 ℃, 더욱 바람직하게는 170 ∼ 270 ℃ 이다. 용매의 비점이 300 ℃ 보다 낮음으로써, 건조 공정이 단시간이 된다. 용매의 비점이 60 ℃ 이상이면, 건조 공정 중에, 수지막의 표면에 있어서의 거칠어짐의 발생, 수지막 중으로의 기포의 혼입 등이 잘 일어나지 않아, 보다 균일한 필름을 얻을 수 있다. 특히, 비점이 170 ∼ 270 ℃ 이고, 및/또는 20 ℃ 에 있어서의 증기압이 250 ㎩ 이하인 용매를 사용하는 것이, 용해성 및 도공시의 에지 이상의 저감의 관점에서 바람직하다. 보다 구체적으로는, N-메틸-2-피롤리돈 (NMP), γ-부티로락톤 (GBL), 및 일반식 (6) 으로 나타내는 화합물로 이루어지는 군에서 선택되는 1 종 이상이 바람직하다.The boiling point at normal pressure of the solvent used for the synthesis of the polyimide precursor is preferably 60 to 300 ° C, more preferably 140 to 280 ° C, and even more preferably 170 to 270 ° C. When the boiling point of the solvent is lower than 300 ° C, the drying process becomes short. When the boiling point of the solvent is 60 ° C or higher, during the drying step, roughness on the surface of the resin film, incorporation of bubbles into the resin film, and the like are less likely to occur, and a more uniform film can be obtained. In particular, it is preferable from the standpoint of solubility and reduction of edges or more during coating to use a solvent having a boiling point of 170 to 270 ° C, and / or a vapor pressure of 250 MPa or less at 20 ° C. More specifically, one or more selected from the group consisting of N-methyl-2-pyrrolidone (NMP), γ-butyrolactone (GBL), and compounds represented by the general formula (6) is preferable.

용매 중의 수분 함량은, 중축합 반응을 양호하게 진행시키기 위해서, 예를 들어 3,000 질량ppm 이하인 것이 바람직하다. 본 실시형태에 있어서의 수지 조성물 중, 분자량 1,000 미만의 분자의 함유량이 5 질량% 미만인 것이 바람직하다. 수지 조성물 중에 분자량 1,000 미만의 분자가 존재하는 것은, 합성 시에 사용하는 용매나 원료 (산 2무수물, 디아민) 의 수분량이 관여하고 있기 때문인 것으로생각된다. 즉, 일부의 산 2무수물 모노머의 산 무수물기가 수분에 의해 가수 분해하여 카르복실기가 되고, 고분자량화하는 일 없이 저분자의 상태로 잔존하는 것에 의한 것으로 생각된다. 따라서, 상기의 중축합 반응에 사용하는 용매의 수분량은 적을수록 바람직하다. 용매의 수분량은, 3,000 질량ppm 이하로 하는 것이 바람직하고, 1,000 질량ppm 이하로 하는 것이 보다 바람직하다. 마찬가지로, 원료에 포함되는 수분량에 대해서도, 3,000 질량ppm 이하로 하는 것이 바람직하고, 1,000 질량ppm 이하로 하는 것이 보다 바람직하다.The moisture content in the solvent is preferably, for example, 3,000 ppm by mass or less in order to favorably advance the polycondensation reaction. It is preferable that the content of the molecule | numerator of molecular weight less than 1,000 in resin composition in this embodiment is less than 5 mass%. It is thought that the presence of a molecule having a molecular weight of less than 1,000 in the resin composition is due to the fact that the amount of water in the solvent or raw material (acid anhydride, diamine) used in synthesis is involved. That is, it is considered that the acid anhydride group of a part of the acid anhydride monomer is hydrolyzed by moisture to become a carboxyl group and remains in a low molecular state without high molecular weight. Therefore, the smaller the water content of the solvent used in the polycondensation reaction, the more preferable. The water content of the solvent is preferably 3,000 ppm by mass or less, and more preferably 1,000 ppm by mass or less. Similarly, the amount of water contained in the raw material is also preferably 3,000 ppm by mass or less, and more preferably 1,000 ppm by mass or less.

용매의 수분량은, 사용하는 용매의 그레이드 (탈수 그레이드, 범용 그레이드 등), 용매 용기 (병, 18 ℓ 캔, 캐니스터캔 등), 용매의 보관 상태 (희가스 봉입의 유무 등), 개봉부터 사용까지의 시간 (개봉 후 바로 사용하는지, 개봉 후 시간 경과한 후에 사용하는지 등) 등이 관여하는 것으로 생각된다. 합성 전의 반응기의 희가스 치환, 합성 중의 희가스 유통의 유무 등도 관여하는 것으로 생각된다. 따라서, 폴리이미드 전구체의 합성 시에는, 원료로서 고순도품을 사용하고, 수분량이 적은 용매를 사용함과 함께, 반응 전 및 반응 중에 계내에 환경으로부터의 수분이 혼입하지 않는 조치를 강구하는 것이 추장된다.The water content of the solvent is the grade of the solvent used (dehydration grade, general purpose grade, etc.), solvent container (bottle, 18 liter can, canister can, etc.), storage condition of the solvent (with or without rare gas encapsulation), from opening to use. It is considered that time (whether used immediately after opening, whether it is used after a lapse of time after opening, etc.), etc. It is considered that the replacement of the rare gas in the reactor before synthesis and the presence or absence of a rare gas distribution during synthesis are also involved. Therefore, when synthesizing the polyimide precursor, it is recommended to use a high-purity product as a raw material, use a solvent with a small amount of moisture, and take measures to prevent moisture from the environment from entering the system before and during the reaction.

용매 중에 각 중축합 성분을 용해시킬 때에는, 필요에 따라 가열해도 된다. 중합도가 높은 폴리이미드 전구체를 얻는 관점에서, 폴리이미드 전구체 합성 시의 반응 온도로는, 바람직하게는 0 ℃ ∼ 120 ℃, 40 ℃ ∼ 100 ℃, 또는 60 ∼ 100 ℃ 여도 되고, 중합 시간으로는, 바람직하게는 1 ∼ 100 시간, 또는 2 ∼ 10 시간이어도 된다. 중합 시간을 1 시간 이상으로 함으로써 균일한 중합도의 폴리이미드 전구체가 되고, 100 시간 이하로 함으로써 중합도가 높은 폴리이미드 전구체를 얻을 수 있다.When dissolving each polycondensation component in a solvent, you may heat as needed. From the viewpoint of obtaining a polyimide precursor having a high degree of polymerization, the reaction temperature for synthesizing the polyimide precursor is preferably 0 ° C to 120 ° C, 40 ° C to 100 ° C, or 60 to 100 ° C, and the polymerization time is Preferably, it may be 1 to 100 hours, or 2 to 10 hours. By setting the polymerization time to 1 hour or more, a polyimide precursor having a uniform polymerization degree is obtained, and by setting it to 100 hours or less, a polyimide precursor having a high polymerization degree can be obtained.

본 실시형태의 수지 조성물은, 본 실시형태에 있어서의 폴리이미드 전구체 이외에, 다른 추가의 폴리이미드 전구체를 포함해도 된다. 그러나, 추가의 폴리이미드 전구체의 질량 비율은, 폴리이미드 필름의 YI 값 및 전광선 투과율의 산소 의존성을 저감하는 관점에서, 수지 조성물 중의 폴리이미드 전구체의 총량에 대하여, 바람직하게는 30 질량% 이하, 더욱 바람직하게는 10 질량% 이하이다.The resin composition of this embodiment may contain other further polyimide precursors other than the polyimide precursor in this embodiment. However, the mass ratio of the additional polyimide precursor is preferably 30% by mass or less relative to the total amount of the polyimide precursor in the resin composition, from the viewpoint of reducing the oxygen dependence of the YI value and total light transmittance of the polyimide film. It is preferably 10% by mass or less.

본 실시형태에 있어서의 폴리이미드 전구체는, 그 일부가 이미드화되어 있어도 된다 (부분 이미드화). 폴리이미드 전구체를 부분 이미드화함으로써, 수지 조성물을 보존할 때의 점도 안정성을 향상할 수 있다. 이 경우의 이미드화율은, 수지 조성물 중의 폴리이미드 전구체의 용해성과 용액의 보존 안정성의 밸런스를 잡는 관점에서, 바람직하게는 5 % 이상, 보다 바람직하게는 8 % 이상이고, 바람직하게는 80 % 이하, 보다 바람직하게는 70 % 이하, 더욱 바람직하게는 50 % 이하이다. 이 부분 이미드화는, 폴리이미드 전구체를 가열하여 탈수 폐환함으로써 얻어진다. 이 가열은, 바람직하게는 120 ∼ 200 ℃, 보다 바람직하게는 150 ∼ 180 ℃ 의 온도에 있어서, 바람직하게는 15 분 ∼ 20 시간, 보다 바람직하게는 30 분 ∼ 10 시간 실시할 수 있다.A part of the polyimide precursor in the present embodiment may be imidized (partial imidization). By partially imidizing the polyimide precursor, viscosity stability at the time of preserving the resin composition can be improved. The imidation ratio in this case is preferably 5% or more, more preferably 8% or more, and preferably 80% or less from the viewpoint of balancing the solubility of the polyimide precursor in the resin composition and storage stability of the solution. , More preferably 70% or less, still more preferably 50% or less. This partial imidization is obtained by heating the polyimide precursor and dehydrating the ring. The heating is preferably carried out at a temperature of 120 to 200 ° C, more preferably 150 to 180 ° C, preferably 15 minutes to 20 hours, more preferably 30 minutes to 10 hours.

상기 서술한 반응에 의해 얻어진 폴리아미드산에, N,N-디메틸포름아미드디메틸아세탈 또는 N,N-디메틸포름아미드디에틸아세탈을 첨가하여 가열함으로써 카르복실산의 일부 또는 전부를 에스테르화한 것을, 본 실시형태의 폴리이미드 전구체로서 사용해도 된다. 에스테르화에 의해, 보존 시의 점도 안정성을 향상시킬 수 있다. 이들 에스테르 변성 폴리아미드산은, 상기 서술한 산 2무수물 성분을, 산 무수물기에 대하여 1 당량의 1 가의 알코올, 및 염화티오닐, 디시클로헥실카르보디이미드 등의 탈수 축합제와 순차로 반응시킨 후, 디아민 성분과 축합 반응시키는 방법에 의해서도 얻을 수 있다.What esterified a part or all of carboxylic acid by heating by adding N, N-dimethylformamide dimethylacetal or N, N-dimethylformamide diethyl acetal to the polyamic acid obtained by the above-mentioned reaction, You may use it as a polyimide precursor of this embodiment. By esterification, the viscosity stability during storage can be improved. After these ester-modified polyamic acids are sequentially reacted with the acid anhydride component described above with an equivalent of a monohydric alcohol equivalent to an acid anhydride group and a dehydrating condensing agent such as thionyl chloride or dicyclohexylcarbodiimide, It can also be obtained by a condensation reaction with a diamine component.

〈수지 조성물의 조정〉<Adjustment of resin composition>

폴리이미드 전구체를 합성했을 때에 사용한 용매와, 수지 조성물에 함유시키는 용매가 동일한 경우에는, 합성한 폴리이미드 전구체 용액을 그대로 수지 조성물로서 사용할 수 있다. 필요에 따라, 실온 (25 ℃) ∼ 80 ℃ 의 온도 범위에서, 폴리이미드 전구체에 추가적인 용매 및 추가 성분의 1 종 이상을 첨가하여, 교반 혼합함으로써, 수지 조성물을 조정해도 된다. 이 교반 혼합은, 교반 날개를 구비한 쓰리 원 모터 (신토 화학 주식회사 제조), 자전 공전 믹서 등의 적절한 장치를 사용하여 실시할 수 있다. 필요에 따라 수지 조성물을 40 ℃ ∼ 100 ℃ 로 가열해도 된다.When the solvent used when the polyimide precursor is synthesized and the solvent contained in the resin composition are the same, the synthesized polyimide precursor solution can be used as it is as the resin composition. If necessary, the resin composition may be adjusted by adding one or more additional solvents and additional components to the polyimide precursor in a temperature range of room temperature (25 ° C) to 80 ° C and stirring and mixing. This stirring and mixing can be carried out using an appropriate device such as a three-one motor (manufactured by Shinto Chemical Co., Ltd.) equipped with a stirring blade, a rotating revolution mixer, or the like. You may heat a resin composition to 40 degreeC-100 degreeC as needed.

한편, 폴리이미드 전구체를 합성했을 때에 사용한 용매와, 수지 조성물에 함유시키는 용매가 상이한 경우에는, 합성한 폴리이미드 전구체 용액 중의 용매를, 예를 들어 재침전, 용매 증류 제거 등의 적절한 방법에 의해 제거하여 폴리이미드 전구체를 단리해도 된다. 이어서, 실온 (25 ℃) ∼ 80 ℃ 의 온도 범위에서, 단리한 폴리이미드 전구체에, 원하는 용매 및 필요에 따라 추가 성분을 첨가하여, 교반 혼합함으로써, 수지 조성물을 조제해도 된다.On the other hand, when the solvent used when the polyimide precursor is synthesized and the solvent contained in the resin composition are different, the solvent in the synthesized polyimide precursor solution is removed by an appropriate method such as reprecipitation and solvent distillation removal. The polyimide precursor may be isolated. Subsequently, in the temperature range of room temperature (25 ° C) to 80 ° C, a resin composition may be prepared by adding the desired solvent and, if necessary, additional components to the isolated polyimide precursor and stirring and mixing.

상기 서술한 바와 같이 수지 조성물을 조제한 후, 수지 조성물을, 예를 들어 130 ∼ 200 ℃ 에서, 예를 들어 5 분 ∼ 2 시간 가열함으로써, 폴리머가 석출을 일으키지 않을 정도로 폴리이미드 전구체의 일부를 탈수 이미드화 해도 된다 (부분 이미드화). 가열 온도 및 가열 시간을 컨트롤함으로써, 이미드화율을 제어할 수 있다. 폴리이미드 전구체를 부분 이미드화함으로써, 수지 조성물을 보존할 때의 점도 안정성을 향상시킬 수 있다.After preparing the resin composition as described above, a part of the polyimide precursor is already dehydrated to such an extent that the polymer does not cause precipitation by heating the resin composition at, for example, 130 to 200 ° C. for 5 minutes to 2 hours. You may dedicate (partial imidization). The imidation rate can be controlled by controlling the heating temperature and the heating time. By partially imidizing the polyimide precursor, viscosity stability at the time of preserving the resin composition can be improved.

수지 조성물의 용액 점도는, 슬릿 코트 성능의 관점에 있어서는, 바람직하게는 500 ∼ 100,000 mPa·s, 보다 바람직하게는 1,000 ∼ 50,000 mPa·s, 더욱 바람직하게는 3,000 ∼ 20,000 mPa·s 이다. 구체적으로는, 슬릿 노즐로부터 액이 잘 새지 않는 점에서, 바람직하게는 500 mPa·s 이상, 보다 바람직하게는 1,000 mPa·s 이상, 더욱 바람직하게는 3,000 mPa·s 이상이다. 슬릿 노즐이 잘 막히지 않는 점에서, 바람직하게는 100,000 mPa·s 이하, 보다 바람직하게는 50,000 mPa·s 이하, 더욱 바람직하게는 20,000 mPa·s 이하이다.From the viewpoint of slit coat performance, the solution viscosity of the resin composition is preferably 500 to 100,000 mPa · s, more preferably 1,000 to 50,000 mPa · s, and even more preferably 3,000 to 20,000 mPa · s. Specifically, it is preferably 500 mPa · s or more, more preferably 1,000 mPa · s or more, and still more preferably 3,000 mPa · s or more, because the liquid does not leak easily from the slit nozzle. From the point that the slit nozzle is not clogged, it is preferably 100,000 mPa · s or less, more preferably 50,000 mPa · s or less, and even more preferably 20,000 mPa · s or less.

폴리이미드 전구체 합성 시에 있어서의 수지 조성물의 용액 점도에 대해서는, 200,000 mPa·s 보다 높으면, 합성 시의 교반이 곤란해진다는 문제가 발생할 우려가 있다. 단, 합성할 때에 용액이 고점도가 되었다고 해도, 반응 종료 후에 용매를 첨가하여 교반함으로써, 취급성이 좋은 점도의 수지 조성물을 얻는 것이 가능하다. 본 실시형태에 있어서의 수지 조성물의 용액 점도는, E 형 점도계 (예를 들어 VISCONICEHD, 토키 산업 제조) 를 사용하여, 23 ℃ 에서 측정되는 값이다.About the solution viscosity of the resin composition at the time of synthesizing a polyimide precursor, when it is higher than 200,000 mPa · s, there is a concern that a problem that stirring during synthesis becomes difficult. However, even if the solution has a high viscosity at the time of synthesis, it is possible to obtain a resin composition having a good handleability by adding and stirring a solvent after completion of the reaction. The solution viscosity of the resin composition in this embodiment is a value measured at 23 ° C using an E-type viscometer (for example, VISCONICEHD, manufactured by Toki Sangyo).

본 실시형태의 수지 조성물의 수분량은, 수지 조성물을 보존할 때의 점도 안정성의 관점에서, 바람직하게는 3,000 질량ppm 이하, 보다 바람직하게는 2,500 질량ppm 이하, 더욱 바람직하게는 2,000 질량ppm 이하, 보다 더욱 바람직하게는 1,500 질량ppm 이하, 특히 바람직하게는 1,000 질량ppm 이하, 특히 바람직하게는 500 질량ppm 이하, 특히 바람직하게는 300 질량ppm 이하, 특히 바람직하게는 100 질량ppm 이하이다.The moisture content of the resin composition of the present embodiment is preferably 3,000 mass ppm or less, more preferably 2,500 mass ppm or less, still more preferably 2,000 mass ppm or less, from the viewpoint of viscosity stability when the resin composition is stored. More preferably, it is 1,500 ppm by mass or less, particularly preferably 1,000 ppm by mass or less, particularly preferably 500 ppm by mass or less, particularly preferably 300 ppm by mass or less, particularly preferably 100 ppm by mass or less.

《폴리이미드 필름 및 그 제조 방법》<< polyimide film and its manufacturing method >>

본 실시형태의 수지 조성물을 사용하여, 폴리이미드 필름 (이하, 폴리이미드 수지막이라고도 한다) 을 제공할 수 있다. 본 실시형태의 폴리이미드 필름의 제조 방법은, 지지체의 표면 상에, 본 실시형태의 수지 조성물을 도포하는 도포 공정과;상기 수지 조성물을 가열하여 폴리이미드 수지막을 형성하는 막 형성 공정과;상기 폴리이미드 수지막을 상기 지지체로부터 박리하는 박리 공정을 포함한다.A polyimide film (hereinafter also referred to as a polyimide resin film) can be provided using the resin composition of the present embodiment. The manufacturing method of the polyimide film of this embodiment is a coating process of apply | coating the resin composition of this embodiment on the surface of a support body; The film formation process of heating the said resin composition to form a polyimide resin film; And a peeling step of peeling the mid resin film from the support.

〈도포 공정〉<Application process>

도포 공정에서는, 지지체의 표면 상에 본 실시형태의 수지 조성물을 도포한다. 지지체는, 그 후의 막 형성 공정 (가열 공정) 에 있어서의 가열 온도에 대한 내열성을 갖고, 또한 박리 공정에 있어서의 박리성이 양호하면 특별히 한정되지 않는다. 지지체로는, 예를 들어, 유리 기판, 예를 들어 무알칼리 유리 기판;실리콘 웨이퍼;PET (폴리에틸렌테레프탈레이트), OPP (연신 폴리프로필렌), 폴리에틸렌글리콜테레프탈레이트, 폴리에틸렌글리콜나프탈레이트, 폴리카보네이트, 폴리이미드, 폴리아미드이미드, 폴리에테르이미드, 폴리에테르에테르케톤, 폴리에테르술폰, 폴리페닐렌술폰, 폴리페닐렌술파이드 등의 수지 기판;스테인리스, 알루미나, 구리, 니켈 등의 금속 기판 등을 들 수 있다.In the application step, the resin composition of the present embodiment is applied on the surface of the support. The support is not particularly limited as long as it has heat resistance to the heating temperature in the subsequent film forming step (heating step) and has good peelability in the peeling step. As the support, for example, a glass substrate, for example, an alkali-free glass substrate; a silicon wafer; PET (polyethylene terephthalate), OPP (stretched polypropylene), polyethylene glycol terephthalate, polyethylene glycol naphthalate, polycarbonate, poly Resin substrates such as mid, polyamideimide, polyetherimide, polyether ether ketone, polyether sulfone, polyphenylene sulfone, and polyphenylene sulfide; and metal substrates such as stainless, alumina, copper, and nickel.

박막 상의 폴리이미드 성형체를 형성하는 경우에는, 예를 들어, 유리 기판, 실리콘 웨이퍼 등이 바람직하고, 후막상 (厚膜狀) 의 필름상 또는 시트상의 폴리이미드 성형체를 형성하는 경우에는, 예를 들어 PET (폴리에틸렌테레프탈레이트), OPP (연신 폴리프로필렌) 등으로 이루어지는 지지체가 바람직하다.In the case of forming a thin film-like polyimide molded body, for example, a glass substrate, a silicon wafer, etc. are preferable, and when forming a thick film-like or sheet-like polyimide molded body, for example A support made of PET (polyethylene terephthalate), OPP (stretched polypropylene) or the like is preferred.

도포 방법으로는, 일반적으로는, 닥터 블레이드 나이프 코터, 에어 나이프 코터, 롤 코터, 로터리 코터, 플로우 코터, 다이 코터, 바 코터 등의 도포 방법, 스핀 코트, 스프레이 코트, 딥 코트 등의 도포 방법;스크린 인쇄 및 그라비아 인쇄 등으로 대표되는 인쇄 기술 등을 들 수 있다. 본 실시형태의 수지 조성물에는, 슬릿 코트에 의한 도포가 바람직하다. 도포 두께는, 원하는 수지 필름의 두께와 수지 조성물 중의 폴리이미드 전구체의 함유량에 따라 적절히 조정해야 하지만, 바람직하게는 1 ∼ 1,000 ㎛ 정도이다. 도포 공정에 있어서의 온도는 실온이어도 되고, 점도를 낮춰 작업성을 양호하게 하기 위해서, 수지 조성물을 예를 들어 40 ∼ 80 ℃ 로 가온해도 된다.As a coating method, generally, a coating method, such as a doctor blade knife coater, an air knife coater, a roll coater, a rotary coater, a flow coater, a die coater, a bar coater, a spin coat, a spray coat, a dip coat, etc .; And printing techniques typified by screen printing and gravure printing. The resin composition of the present embodiment is preferably coated with a slit coat. The coating thickness should be appropriately adjusted depending on the desired thickness of the resin film and the content of the polyimide precursor in the resin composition, but is preferably about 1 to 1,000 μm. The temperature in the coating step may be room temperature, or the resin composition may be heated to, for example, 40 to 80 ° C in order to lower the viscosity and improve workability.

〈임의의 건조 공정〉<Arbitrary drying process>

도포 공정에 이어서 건조 공정을 실시해도 되고, 또는 건조 공정을 생략하여 직접 다음의 막 형성 공정 (가열 공정) 으로 진행해도 된다. 건조 공정은, 수지 조성물 중의 유기 용제 제거의 목적으로 실시된다. 건조 공정을 실시하는 경우, 예를 들어, 핫 플레이트, 박스형 건조기, 컨베이어형 건조기 등의 적절한 장치를 사용할 수 있다. 건조 공정의 온도는, 바람직하게는 80 ∼ 200 ℃, 보다 바람직하게는 100 ∼ 150 ℃ 이다. 건조 공정의 실시 시간은, 바람직하게는 1 분 ∼ 10 시간, 보다 바람직하게는 3 분 ∼ 1 시간이다. 상기와 같이 하여, 지지체 상에 폴리이미드 전구체를 함유하는 도막이 형성된다.A drying step may be performed following the coating step, or the drying step may be omitted to directly proceed to the next film forming step (heating step). The drying step is performed for the purpose of removing the organic solvent in the resin composition. When performing a drying process, suitable apparatus, such as a hot plate, a box dryer, and a conveyor dryer, can be used, for example. The temperature of the drying step is preferably 80 to 200 ° C, more preferably 100 to 150 ° C. The drying time is preferably 1 minute to 10 hours, more preferably 3 minutes to 1 hour. As described above, a coating film containing a polyimide precursor is formed on the support.

〈막 형성 공정〉<Film formation process>

계속해서, 막 형성 공정 (가열 공정) 을 실시한다. 가열 공정은, 상기의 도막 중에 포함되는 유기 용제의 제거를 실시함과 함께, 도막 중의 폴리이미드 전구체의 이미드화 반응을 진행시켜, 폴리이미드 수지막을 얻는 공정이다. 이 가열 공정은, 예를 들어, 이너트가스 오븐, 핫 플레이트, 박스형 건조기, 컨베이어형 건조기 등의 장치를 사용하여 실시할 수 있다. 이 공정은 건조 공정과 동시에 실시해도 되고, 양 공정을 축차적으로 실시해도 된다.Subsequently, a film forming process (heating process) is performed. The heating step is a step of performing an imidation reaction of the polyimide precursor in the coating film while removing the organic solvent contained in the coating film to obtain a polyimide resin film. This heating process can be performed, for example, using an apparatus such as an inert gas oven, a hot plate, a box-type dryer, or a conveyor-type dryer. This step may be performed simultaneously with the drying step, or both steps may be performed sequentially.

가열 공정은, 공기 분위기하에서 실시해도 되지만, 안전성과, 얻어지는 폴리이미드 필름의 양호한 투명성, 낮은 두께 방향 리타데이션 (Rth) 및 낮은 YI 값을 얻는 관점에서, 불활성 가스 분위기하에서 실시하는 것이 바람직하다. 불활성 가스로는, 예를 들어, 질소, 아르곤 등을 들 수 있다. 가열 온도는, 폴리이미드 전구체의 종류, 및 수지 조성물 중의 용매의 종류에 따라 적절히 설정되어도 되지만, 바람직하게는 250 ℃ ∼ 550 ℃, 보다 바람직하게는 300 ∼ 450 ℃ 이다. 250 ℃ 이상이면, 이미드화가 양호하게 진행되고, 550 ℃ 이하이면, 얻어지는 폴리이미드 필름의 투명성의 저하, 내열성의 악화 등의 문제를 회피할 수 있다. 가열 시간은, 바람직하게는 0.1 ∼ 10 시간 정도이다.The heating step may be performed in an air atmosphere, but it is preferably performed in an inert gas atmosphere from the viewpoint of safety, good transparency of the resulting polyimide film, low thickness direction retardation (Rth), and low YI value. As an inert gas, nitrogen, argon, etc. are mentioned, for example. The heating temperature may be appropriately set depending on the type of the polyimide precursor and the type of the solvent in the resin composition, but is preferably 250 ° C to 550 ° C, more preferably 300 to 450 ° C. If it is 250 ° C or higher, imidization proceeds satisfactorily, and if it is 550 ° C or lower, problems such as deterioration of transparency and deterioration of heat resistance of the resulting polyimide film can be avoided. The heating time is preferably about 0.1 to 10 hours.

본 실시형태에서는, 상기의 가열 공정에 있어서의 주위 분위기의 산소 농도는, 얻어지는 폴리이미드 필름의 투명성 및 YI 값의 관점에서, 바람직하게는 2,000 질량ppm 이하, 보다 바람직하게는 100 질량ppm 이하, 더욱 바람직하게는 10 질량ppm 이하이다. 산소 농도가 2,000 질량ppm 이하인 분위기 중에서 가열을 실시함으로써, 얻어지는 폴리이미드 필름의 YI 값을 30 이하로 할 수 있다.In the present embodiment, the oxygen concentration in the ambient atmosphere in the heating step is preferably 2,000 mass ppm or less, more preferably 100 mass ppm or less, further from the viewpoint of transparency and YI value of the resulting polyimide film. It is preferably 10 ppm by mass or less. By heating in an atmosphere having an oxygen concentration of 2,000 ppm by mass or less, the YI value of the resulting polyimide film can be 30 or less.

〈박리 공정〉<Peeling process>

박리 공정에서는, 지지체 상의 폴리이미드 수지막을, 예를 들어 실온 (25 ℃) ∼ 50 ℃ 정도까지 냉각시킨 후에 박리한다. 이 박리 공정으로는, 예를 들어 하기의 (1) ∼ (4) 의 양태를 들 수 있다.In the peeling step, the polyimide resin film on the support is peeled off after cooling to room temperature (25 ° C) to about 50 ° C, for example. As this peeling process, the following aspect (1)-(4) is mentioned, for example.

(1) 상기의 방법에 의해 폴리이미드 수지막/지지체를 포함하는 구성체를 제조한 후, 구조체의 지지체측으로부터 레이저를 조사하여, 지지체와 폴리이미드 수지막의 계면을 어블레이션 가공함으로써, 폴리이미드 수지를 박리하는 방법. 레이저의 종류로는, 고체 (YAG) 레이저, 가스 (UV 엑시머) 레이저 등을 들 수 있다. 파장 308 ㎚ 등의 스펙트럼을 사용하는 것이 바람직하다 (일본 공표특허공보 2007-512568호, 일본 공표특허공보 2012-511173호 등을 참조).(1) A polyimide resin film / support was prepared by the method described above, and then a laser was irradiated from the support side of the structure to ablate the interface between the support and the polyimide resin film, thereby producing polyimide resin. How to peel. As a kind of laser, a solid (YAG) laser, a gas (UV excimer) laser, etc. are mentioned. It is preferable to use a spectrum having a wavelength of 308 nm or the like (see Japanese Patent Publication No. 2007-512568, Japanese Patent Publication No. 2012-511173, etc.).

(2) 지지체에 수지 조성물을 도공하기 전에, 지지체에 박리층을 형성하고, 그 후 폴리이미드 수지막/박리층/지지체를 포함하는 구성체를 얻어, 폴리이미드 수지막을 박리하는 방법. 박리층으로는, 파릴렌 (등록상표, 닛폰 파릴렌 합동회사 제조), 산화텅스텐을 들 수 있고;식물유계, 실리콘계, 불소계, 알키드계 등의 이형제를 사용해도 된다 (일본 공개특허공보 2010-067957호, 일본 공개특허공보 2013-179306호 등을 참조).(2) A method of forming a release layer on the support before coating the resin composition on the support, and then obtaining a construct comprising a polyimide resin film / peeling layer / support to peel the polyimide resin film. Examples of the release layer include parylene (registered trademark, manufactured by Nippon Parylene Co., Ltd.) and tungsten oxide; a release agent such as a plant oil-based, silicone-based, fluorine-based or alkyd-based material may be used (Japanese Patent Application Publication No. 2010-067957 No., Japanese Patent Publication No. 2013-179306, etc.).

이 방법 (2) 와 방법 (1) 의 레이저 조사를 병용해도 된다.You may use together the laser irradiation of this method (2) and method (1).

(3) 지지체로서 에칭 가능한 금속 기판을 사용하여, 폴리이미드 수지막/지지체를 포함하는 구성체를 얻은 후, 에천트로 금속을 에칭함으로써, 폴리이미드 수지 필름을 얻는 방법. 금속으로는, 예를 들어, 구리 (구체예로는, 미츠이 금속 광업 주식회사 제조의 전해 동박 「DFF」), 알루미늄 등을 사용할 수 있다. 에천트로는, 구리에 대해서는 염화제2철 등을, 알루미늄에 대해서는 희염산 등을 사용할 수 있다.(3) A method of obtaining a polyimide resin film by etching a metal with an etchant after obtaining a construct comprising a polyimide resin film / support using a etchable metal substrate as a support. As a metal, copper (for example, Mitsui Metal Mining Co., Ltd. electrolytic copper foil "DFF"), aluminum, etc. can be used, for example. As the etchant, ferric chloride or the like can be used for copper, and dilute hydrochloric acid or the like can be used for aluminum.

(4) 상기 방법에 의해 폴리이미드 수지막/지지체를 포함하는 구성체를 얻은 후, 폴리이미드 수지막 표면에 점착 필름을 첩부 (貼付) 하여, 지지체로부터 점착 필름/폴리이미드 수지막을 분리하고, 그 후 점착 필름으로부터 폴리이미드 수지막을 분리하는 방법.(4) After obtaining a construct comprising a polyimide resin film / support by the above method, an adhesive film is attached to the surface of the polyimide resin film to separate the adhesive film / polyimide resin film from the support, and thereafter A method of separating a polyimide resin film from an adhesive film.

이들 박리 방법 중에서도, 얻어지는 폴리이미드 수지 필름의 표리의 굴절률차, YI 값 및 신도의 관점에서, 방법 (1) 또는 (2) 가 바람직하다. 얻어지는 폴리이미드 수지 필름의 표리의 굴절률차의 관점에서 방법 (1), 즉, 박리 공정에 앞서, 지지체측으로부터 레이저를 조사하는 조사 공정을 실시하는 것이 보다 바람직하다. 또한, 방법 (3) 에 있어서, 지지체로서 구리를 사용한 경우에는, 얻어지는 폴리이미드 수지 필름의 YI 값이 커지고, 신도가 작아지는 경향이 보인다. 이것은, 구리 이온의 영향인 것으로 생각된다.Among these peeling methods, the method (1) or (2) is preferable from the viewpoints of the difference in refractive index, YI value and elongation of the front and back of the resulting polyimide resin film. From the viewpoint of the difference in refractive index between the front and back of the resulting polyimide resin film, it is more preferable to perform the irradiation step of irradiating the laser from the support side before the method (1), that is, the peeling step. In addition, in the method (3), when copper is used as the support, the YI value of the resulting polyimide resin film becomes large and elongation tends to be small. This is considered to be the influence of copper ions.

얻어지는 폴리이미드 필름의 두께는, 한정되지 않지만, 바람직하게는 1 ∼ 200 ㎛, 보다 바람직하게는 5 ∼ 100 ㎛ 이다.The thickness of the resulting polyimide film is not limited, but is preferably 1 to 200 μm, more preferably 5 to 100 μm.

〈황색도 (YI 값)〉<Yellowness (YI value)>

본 실시형태의 수지 조성물로부터 얻어지는 폴리이미드 필름의, 막두께 10 ㎛ 에 있어서의 YI 값은, 양호한 광학 특성을 얻는 관점에서, 바람직하게는 20 이하, 보다 바람직하게는 18 이하, 더욱 바람직하게는 16 이하, 특히 바람직하게는 14 이하, 특히 바람직하게는 13 이하, 특히 바람직하게는 10 이하, 특히 바람직하게는 7 이하이다. YI 값은, 폴리이미드 전구체의 모노머 골격에 따라 상이하지만, 동일한 모노머 골격이면, 폴리이미드 전구체의 중량 평균 분자량이 클수록 YI 값이 작은 경향이 있다.The YI value at a film thickness of 10 μm of the polyimide film obtained from the resin composition of the present embodiment is preferably 20 or less, more preferably 18 or less, and even more preferably 16 from the viewpoint of obtaining good optical properties. Below, particularly preferably 14 or less, particularly preferably 13 or less, particularly preferably 10 or less, particularly preferably 7 or less. Although the YI value differs depending on the monomer skeleton of the polyimide precursor, if the same monomer skeleton, the larger the weight average molecular weight of the polyimide precursor, the smaller the YI value tends to be.

YI 값은, 예를 들어 사용하는 규소 함유 화합물의 아민가에 영향을 받아, 아민가가 높으면 YI 값은 크고, 아민가가 작으면 YI 값도 작아지는 경향이 있다. 그러나, 정제한 규소 함유 화합물을 사용한, 즉 일반식 (3) 으로 나타내는 화합물의 총량이 상기의 범위 내인 폴리이미드 전구체는, 동일한 아민가를 갖는 정제하지 않은 규소 함유 화합물을 사용한 폴리이미드 전구체에 비해, 얻어지는 폴리이미드 수지막의 YI 값이 낮은 경향이 있다. 이 메커니즘에 대해서는 아직도 분명하지는 않지만, 발명자들은 이하와 같이 추정하고 있다. 즉, 종래의 정제 방법에서는, 폴리이미드 전구체의 제조에 사용한, 고리형이 아닌 저분자량의 디아민이 잔존하고, 폴리이미드 경화 시에 분해되어 라디칼을 발생하고, YI 값을 증대시키는 (악화시키는) 원인이 될 수 있다. 일반식 (3) 으로 나타내는 고리형 실록산의 양을 줄임으로써, 정제시에 일반식 (3) 으로 나타내는 고리형 실록산만이 제거되는 것이 아니라, 아민가를 증대시키는 디아민 성분 중, 비교적 휘발하기 쉬운 저분자량의 디아민도 제거되는 것으로 생각된다. 따라서, 본 실시형태에 따라서 일반식 (3) 으로 나타내는 화합물의 총량이 저감된 폴리이미드 전구체는, 폴리이미드 수지막의 YI 값이 보다 개선되는 것으로 추정된다. 종래의 정제 방법에서는, 고리형이 아닌 저분자량의 디아민을 저감하는 것이 어렵기 때문에, 비록 정제를 실시했다고 해도, 폴리이미드 수지막의 YI 값의 개선의 정도가 본 실시형태에 비해 작은 것으로 생각된다.The YI value is influenced by, for example, the amine value of the silicon-containing compound to be used, and if the amine value is high, the YI value is large, and if the amine value is small, the YI value tends to be small. However, the polyimide precursor using the purified silicon-containing compound, that is, the total amount of the compound represented by the general formula (3) is within the above range, compared to the polyimide precursor using the unpurified silicon-containing compound having the same amine value. The polyimide resin film tends to have a low YI value. Although this mechanism is still not clear, the inventors estimate as follows. That is, in the conventional purification method, a non-cyclic low molecular weight diamine used for the production of the polyimide precursor remains, decomposes upon curing of the polyimide, generates radicals, and increases (degrades) the YI value. Can be By reducing the amount of the cyclic siloxane represented by the general formula (3), not only the cyclic siloxane represented by the general formula (3) is removed during purification, but among the diamine components that increase the amine value, a relatively low volatility molecular weight It is thought that the diamine of is also removed. Therefore, it is estimated that the YI value of the polyimide resin film is further improved in the polyimide precursor in which the total amount of the compound represented by the general formula (3) is reduced according to the present embodiment. In the conventional purification method, it is difficult to reduce a diamine having a low molecular weight other than a cyclic form, so it is considered that the degree of improvement of the YI value of the polyimide resin film is smaller than that of the present embodiment, even if purification is performed.

본 실시형태에 있어서, 정제한 규소 함유 화합물을 사용한 폴리이미드 전구체와, 정제하지 않은 규소 함유 화합물을 사용한 폴리이미드 전구체의 YI 값의 차는, 이하의 식으로부터 구해진다.In the present embodiment, the difference between the YI values of the polyimide precursor using the purified silicon-containing compound and the polyimide precursor using the unpurified silicon-containing compound is obtained from the following formula.

(YI 값의 차) = (정제를 실시하지 않은 규소 화합물을 사용하여 얻어진 폴리이미드 전구체를 경화한 폴리이미드 수지막의 YI 값) ― (정제를 실시한 규소 화합물을 사용하여 얻어진 폴리이미드 전구체를 경화한 폴리이미드 수지막의 YI 값)(Difference of YI value) = (YI value of the polyimide resin film obtained by curing the polyimide precursor obtained using the unpurified silicon compound)-(Polyimide obtained by curing the polyimide precursor obtained using the purified silicon compound) Mid resin film YI value)

YI 값의 차가 클수록 YI 가 보다 개선된 것을 나타내기 때문에 바람직하다. 본 실시형태에 있어서, YI 값의 차는, 바람직하게는 1.5 이상, 보다 바람직하게는 2 이상, 더욱 바람직하게는 2.5 이상이다. YI 값의 측정 방법은, 실시예의 란을 참조하기 바란다.The larger the difference in YI value is, the more preferable it is because YI is improved. In the present embodiment, the difference in YI value is preferably 1.5 or more, more preferably 2 or more, and even more preferably 2.5 or more. For the method of measuring the YI value, please refer to the Example column.

《폴리이미드 필름의 용도》《Use of polyimide film》

본 실시형태의 수지 조성물로부터 얻어지는 폴리이미드 필름은, 예를 들어, 반도체 절연막, 박막 트랜지스터 액정 디스플레이 (TFT-LCD) 절연막, 전극 보호막으로서, 또, 액정 디스플레이, 유기 일렉트로 루미네선스 디스플레이, 필드 에미션 디스플레이, 전자 페이퍼 등의 표시 장치의 투명 기판 등으로서 적용할 수 있다. 특히, 본 실시형태의 수지 조성물로부터 얻어지는 폴리이미드 필름은, 플렉시블 디바이스의 제조에 있어서, 박막 트랜지스터 (TFT) 기판, 컬러 필터 기판, 터치 패널 기판, 투명 도전막 (ITO, Indium Thin Oxide) 의 기판으로서 적합하게 사용할 수 있다. 본 실시형태에 있어서의 폴리이미드 필름을 적용 가능한 플렉시블 디바이스로는, 예를 들어, 플렉시블 디스플레이용 TFT 디바이스, 플렉시블 태양 전지, 플렉시블 터치 패널, 플렉시블 조명, 플렉시블 배터리, 플렉시블 프린트 기판, 플렉시블 컬러 필터, 스마트폰용 표면 커버 렌즈 등을 들 수 있다.The polyimide film obtained from the resin composition of the present embodiment is, for example, a semiconductor insulating film, a thin film transistor liquid crystal display (TFT-LCD) insulating film, an electrode protective film, and also a liquid crystal display, an organic electroluminescence display, and field emission. It can be applied as a transparent substrate of a display device such as a display or electronic paper. In particular, the polyimide film obtained from the resin composition of the present embodiment is a thin film transistor (TFT) substrate, a color filter substrate, a touch panel substrate, a transparent conductive film (ITO, Indium Thin Oxide) substrate in the production of a flexible device. It can be used suitably. As a flexible device to which the polyimide film in the present embodiment can be applied, for example, TFT devices for flexible displays, flexible solar cells, flexible touch panels, flexible lighting, flexible batteries, flexible printed boards, flexible color filters, smart And surface cover lenses for phones.

폴리이미드 필름을 사용한 플렉시블 기판 상에 TFT 를 형성하는 공정은, 전형적으로는, 150 ∼ 650 ℃ 의 넓은 범위의 온도에서 실시된다. 구체적으로는 아모르퍼스 실리콘을 사용한 TFT 디바이스를 제조하는 경우에는, 일반적으로 250 ℃ ∼ 350 ℃ 의 프로세스 온도가 필요해지고, 본 실시형태의 폴리이미드 필름은 그 온도에 견딜 수 있을 필요가 있기 때문에, 구체적으로는 프로세스 온도 이상의 유리 전이 온도, 열 분해 개시 온도를 갖는 폴리머 구조를 적절히 선택할 필요가 있다.The process of forming a TFT on a flexible substrate using a polyimide film is typically performed at a temperature in a wide range of 150 to 650 ° C. Specifically, in the case of manufacturing a TFT device using amorphous silicon, a process temperature of 250 ° C to 350 ° C is generally required, and the polyimide film of this embodiment needs to be able to withstand the temperature. It is necessary to appropriately select a polymer structure having a glass transition temperature equal to or higher than the process temperature and a thermal decomposition initiation temperature.

금속 산화물 반도체 (IGZO 등) 를 사용한 TFT 디바이스를 제조하는 경우에는, 일반적으로 320 ℃ ∼ 400 ℃ 의 프로세스 온도가 필요해지고, 본 실시형태의 폴리이미드 필름은 그 온도에 견딜 수 있을 필요가 있기 때문에, TFT 제조 프로세스 최고 온도 이상의 유리 전이 온도, 열 분해 개시 온도를 갖는 폴리머 구조를 적절히 선택할 필요가 있다.In the case of manufacturing a TFT device using a metal oxide semiconductor (such as IGZO), a process temperature of 320 ° C to 400 ° C is generally required, and the polyimide film of this embodiment needs to be able to withstand that temperature. It is necessary to appropriately select a polymer structure having a glass transition temperature or a thermal decomposition initiation temperature equal to or higher than the TFT manufacturing process maximum temperature.

저온 폴리실리콘 (LTPS) 을 사용한 TFT 디바이스를 제조하는 경우에는, 일반적으로 380 ℃ ∼ 520 ℃ 의 프로세스 온도가 필요해지고, 본 실시형태의 폴리이미드 필름은 그 온도에 견딜 수 있을 필요가 있기 때문에, TFT 제조 프로세스 최고 온도 이상의 유리 전이 온도, 열 분해 개시 온도를 적절히 선택하여 가질 필요가 있다.In the case of manufacturing a TFT device using low temperature polysilicon (LTPS), a process temperature of 380 ° C to 520 ° C is generally required, and the polyimide film of the present embodiment needs to be able to withstand the temperature, so TFT It is necessary to appropriately select and have a glass transition temperature or a thermal decomposition initiation temperature equal to or higher than the manufacturing process maximum temperature.

한편, 이들 열 이력에 의해, 폴리이미드 필름의 광학 특성 (특히, 광선 투과율, 리타데이션 특성 및 YI 값) 은 고온 프로세스에 노출될 정도로 저하되는 경향이 있다. 그러나, 본 실시형태의 폴리이미드 전구체로부터 얻어지는 폴리이미드는, 열 이력을 거쳐도 양호한 광학 특성을 갖는다.On the other hand, by these thermal histories, the optical properties (especially light transmittance, retardation properties, and YI value) of the polyimide film tend to deteriorate to the extent that they are exposed to high temperature processes. However, the polyimide obtained from the polyimide precursor of the present embodiment has good optical properties even through a thermal history.

이하에, 본 실시형태의 폴리이미드 필름의 용도 예로서, 디스플레이 및 적층체의 제조 방법에 대해서 설명한다.Below, as a use example of the polyimide film of this embodiment, the manufacturing method of a display and a laminated body is demonstrated.

〈디스플레이의 제조 방법〉<Method of manufacturing a display>

본 실시형태의 디스플레이의 제조 방법은, 지지체의 표면 상에, 본 실시형태의 수지 조성물을 도포하는 도포 공정과;상기 수지 조성물을 가열하여 폴리이미드 수지막을 형성하는 막 형성 공정과;상기 폴리이미드 수지막 상에 소자를 형성하는 소자 형성 공정과;상기 소자가 형성된 상기 폴리이미드 수지막을 상기 지지체로부터 박리하는 박리 공정을 포함한다.The manufacturing method of the display of this embodiment comprises: a coating step of applying the resin composition of the present embodiment on the surface of a support; a film forming step of heating the resin composition to form a polyimide resin film; and the polyimide resin. And an element forming step of forming an element on the film; and a peeling step of peeling the polyimide resin film on which the element is formed from the support.

플렉시블 유기 EL 디스플레이의 제조예Manufacturing example of flexible organic EL display

도 1 은, 본 실시형태의 디스플레이의 예로서, 탑 에미션형 플렉시블 유기 EL 디스플레이의 폴리이미드 기판보다 상부의 구조를 나타내는 모식도이다. 도 1 의 유기 EL 구조부 (25) 에 대해서 설명한다. 예를 들어, 적색 광을 발광하는 유기 EL 소자 (250a) 와, 녹색 광을 발광하는 유기 EL 소자 (250b) 와, 청색 광을 발광하는 유기 EL 소자 (250c) 와 1 단위로서, 매트릭스상으로 배열되어 있고, 격벽 (뱅크) (251) 에 의해, 각 유기 EL 소자의 발광 영역이 획정되어 있다. 각 유기 EL 소자는, 하부 전극 (양극) (252), 정공 수송층 (253), 발광층 (254), 상부 전극 (음극) (255) 으로 구성되어 있다. 질화규소 (SiN) 나 산화규소 (SiO) 로 이루어지는 CVD 복층막 (멀티 배리어 레이어) 을 나타내는 하부층 (2a) 상에는, 유기 EL 소자를 구동하기 위한 TFT (256) (저온 폴리실리콘 (LTPS) 이나 금속 산화물 반도체 (IGZO 등) 에서 선택된다), 컨택트 홀 (257) 을 구비한 층간 절연막 (258), 및 하부 전극 (259) 이 복수 형성되어 있다. 유기 EL 소자는 봉지 기판 (2b) 으로 봉입되어 있고, 각 유기 EL 소자와 봉지 기판 (2b) 의 사이에 중공부 (261) 가 형성되어 있다.1 is a schematic diagram showing a structure above the polyimide substrate of a top emission type flexible organic EL display as an example of the display of the present embodiment. The organic EL structure 25 in Fig. 1 will be described. For example, the organic EL element 250a that emits red light, the organic EL element 250b that emits green light, and the organic EL element 250c that emits blue light are arranged in a matrix as one unit. And the light-emitting region of each organic EL element is defined by the partition (bank) 251. Each organic EL element is composed of a lower electrode (anode) 252, a hole transport layer 253, a light emitting layer 254, and an upper electrode (cathode) 255. On the lower layer 2a showing a CVD multilayer film (multi-barrier layer) made of silicon nitride (SiN) or silicon oxide (SiO), a TFT 256 for driving an organic EL element (low temperature polysilicon (LTPS) or metal oxide semiconductor) (It is selected from IGZO, etc.), the interlayer insulating film 258 provided with the contact hole 257, and the lower electrode 259 are formed in multiple numbers. The organic EL element is sealed with a sealing substrate 2b, and a hollow portion 261 is formed between each organic EL element and the sealing substrate 2b.

플렉시블 유기 EL 디스플레이의 제조 공정은, 유리 기판 지지체 상에 폴리이미드 필름을 제조하고, 그 상부에 상기 도 1 에 나타내는 유기 EL 기판을 제조하는 공정과, 봉지 기판을 제조하는 공정과, 양 기판을 첩합 (貼合) 하는 조립 공정과, 유리 기판 지지체로부터 폴리이미드 필름 상에 제조된 유기 EL 디스플레이를 박리하는 박리 공정을 포함한다. 유기 EL 기판 제조 공정, 봉지 기판 제조 공정, 및 조립 공정은, 주지의 제조 공정을 적용할 수 있다. 이하에서는 그 일례를 들지만, 이것에 한정되는 것은 아니다. 박리 공정은, 상기 서술한 폴리이미드 필름의 박리 공정과 동일하다.The manufacturing process of a flexible organic EL display includes a process of manufacturing a polyimide film on a glass substrate support, manufacturing the organic EL substrate shown in FIG. 1 above, a process of manufacturing a sealing substrate, and both substrates. It includes an assembly process to be combined, and a peeling process to peel the organic EL display produced on the polyimide film from the glass substrate support. A well-known manufacturing process can be applied to the organic EL substrate manufacturing process, the sealing substrate manufacturing process, and the assembly process. Below, although an example is given, it is not limited to this. The peeling step is the same as the peeling step of the polyimide film described above.

예를 들어, 도 1 을 참조하면, 먼저, 상기의 방법에 의해 유리 기판 지지체 상에 폴리이미드 필름을 제조하고, 그 상부에 CVD 법이나 스퍼터법에 의해 질화규소 (SiN) 와 산화규소 (SiO) 의 복층 구조로 이루어지는 멀티 배리어 레이어 (도 1 중의 하부 기판 (2a)) 를 제조하고, 그 상부에 TFT 를 구동하기 위한 메탈 배선층을, 포토레지스트 등을 사용하여 제조한다. 그 상부에 CVD 법을 이용하여 SiO 등의 액티브 버퍼층을 제조하고, 그 상부에 금속 산화물 반도체 (IGZO) 나 저온 폴리실리콘 (LTPS) 등의 TFT 디바이스 (도 1 중의 TFT (256)) 를 제조한다. 플렉시블 디스플레이용 TFT 기판을 제조 후, 감광성 아크릴 수지 등으로 컨택트 홀 (257) 을 구비한 층간 절연막 (258) 을 형성한다. 스퍼터법 등으로 ITO 막을 성막하고, TFT 와 쌍을 이루도록 하부 전극 (259) 을 형성한다.For example, referring to FIG. 1, first, a polyimide film is prepared on a glass substrate support by the above method, and silicon nitride (SiN) and silicon oxide (SiO) are formed thereon by CVD or sputtering. A multi-barrier layer (a lower substrate 2a in Fig. 1) made of a multi-layer structure is manufactured, and a metal wiring layer for driving a TFT thereon is manufactured using photoresist or the like. An active buffer layer, such as SiO, is fabricated on the upper portion using a CVD method, and a TFT device (TFT 256) in FIG. 1, such as a metal oxide semiconductor (IGZO) or low-temperature polysilicon (LTPS), is fabricated on the upper portion. After manufacturing the TFT substrate for flexible display, an interlayer insulating film 258 having a contact hole 257 is formed of a photosensitive acrylic resin or the like. An ITO film is formed by a sputtering method or the like, and a lower electrode 259 is formed so as to be paired with a TFT.

다음으로, 감광성 폴리이미드 등으로 격벽 (뱅크) (251) 을 형성한 후, 격벽으로 구획된 각 공간 내에, 정공 수송층 (253), 발광층 (254) 을 형성한다. 발광층 (254) 및 격벽 (뱅크) (251) 을 덮도록 상부 전극 (음극) (255) 을 형성한다. 그 후, 파인 메탈 마스크 등을 마스크로 하여, 적색 광을 발광하는 유기 EL 재료 (도 1 중의, 적색 광을 발광하는 유기 EL 소자 (250a) 에 대응), 녹색 광을 발광하는 유기 EL 재료 (도 1 중의, 녹색 광을 발광하는 유기 EL 소자 (250b) 에 대응) 및 청색 광을 발광하는 유기 EL 재료 (도 1 중의, 청색 광을 발광하는 유기 EL 소자 (250c) 에 대응) 를 공지된 방법으로 증착함으로써, 유기 EL 기판을 제조한다. 유기 EL 기판을 봉지 필름 등 (도 1 중의 봉지 기판 (2b)) 으로 봉지하고, 유리 기판 지지체로부터 폴리이미드 기판보다 상부의 디바이스를 레이저 박리 등의 공지된 박리 방법으로 박리함으로써, 탑 에미션형 플렉시블 유기 EL 디스플레이를 제조할 수 있다. 본 실시형태의 폴리이미드를 사용하는 경우에는, 시스루형의 플렉시블 유기 EL 디스플레이를 제조할 수 있다. 공지된 방법으로 보텀 에미션형의 플렉시블 유기 EL 디스플레이를 제조해도 된다.Next, after forming a partition wall (bank) 251 with a photosensitive polyimide or the like, a hole transport layer 253 and a light emitting layer 254 are formed in each space partitioned by the partition wall. An upper electrode (cathode) 255 is formed to cover the light emitting layer 254 and the partition wall (bank) 251. Thereafter, using a fine metal mask or the like as a mask, an organic EL material emitting red light (corresponding to the organic EL element 250a emitting red light in Fig. 1), an organic EL material emitting green light (Fig. In one, the organic EL element 250b emitting green light and the organic EL material emitting blue light (corresponding to the organic EL element 250c emitting blue light in Fig. 1) are known. By vapor deposition, an organic EL substrate is produced. Top-emission flexible organic by sealing the organic EL substrate with a sealing film or the like (sealing substrate 2b in Fig. 1) and peeling the device above the polyimide substrate from a glass substrate support by a known peeling method such as laser peeling. An EL display can be produced. When the polyimide of this embodiment is used, a see-through flexible organic EL display can be produced. A bottom emission type flexible organic EL display may be produced by a known method.

플렉시블 액정 디스플레이의 제조예Manufacturing example of flexible liquid crystal display

본 실시형태의 폴리이미드 필름을 사용하여 플렉시블 액정 디스플레이를 제조할 수 있다. 구체적인 제조 방법으로는, 상기의 방법으로 유리 기판 지지체 상에 폴리이미드 필름을 제조하고, 상기의 방법을 이용하여, 예를 들어 아모르퍼스 실리콘, 금속 산화물 반도체 (IGZO 등), 및 저온 폴리실리콘으로 이루어지는 TFT 기판을 제조한다. 별도로, 본 실시형태의 도포 공정 및 막 형성 공정에 따라서, 유리 기판 지지체 상에 폴리이미드 필름을 제조하고, 공지된 방법에 따라서 컬러 레지스트 등을 사용하여, 폴리이미드 필름을 구비한 컬러 필터 유리 기판 (CF 기판) 을 제조한다. TFT 기판 및 CF 기판의 일방에, 스크린 인쇄에 의해, 열 경화성 에폭시 수지 등으로 이루어지는 시일 재료를 액정 주입구의 부분이 결여된 프레임상 패턴으로 도포하고, 타방의 기판에 액정층의 두께에 상당하는 직경을 갖고, 플라스틱 또는 실리카로 이루어지는 구상 (球狀) 의 스페이서를 산포한다.A flexible liquid crystal display can be produced using the polyimide film of this embodiment. As a specific manufacturing method, a polyimide film is prepared on a glass substrate support by the above method, and it is made of, for example, amorphous silicon, a metal oxide semiconductor (IGZO, etc.), and low temperature polysilicon using the above method. TFT substrates are manufactured. Separately, according to the coating process and film forming process of the present embodiment, a polyimide film is prepared on a glass substrate support, and a color filter glass substrate provided with a polyimide film is prepared using a color resist or the like according to a known method ( CF substrate). On one of the TFT substrate and the CF substrate, by screen printing, a seal material made of a thermosetting epoxy resin or the like is applied in a frame-like pattern lacking a portion of the liquid crystal injection port, and a diameter corresponding to the thickness of the liquid crystal layer on the other substrate. And a spherical spacer made of plastic or silica.

이어서, TFT 기판과 CF 기판을 첩합하고, 시일 재료를 경화시킨다. 그리고, TFT 기판 및 CF 기판 그리고 시일 재료로 둘러싸이는 공간에, 감압법에 의해 액정 재료를 주입하고, 액정 주입구에 열 경화 수지를 도포하고, 가열에 의해 액정 재료를 봉지함으로써 액정층을 형성한다. 마지막으로, CF 측의 유리 기판과 TFT 측의 유리 기판을 레이저 박리법 등으로 폴리이미드 필름과 유리 기판의 계면에서 박리함으로써, 플렉시블 액정 디스플레이를 제조할 수 있다.Subsequently, the TFT substrate and the CF substrate are bonded, and the seal material is cured. Then, a liquid crystal layer is formed by injecting a liquid crystal material into a space surrounded by a TFT substrate, a CF substrate, and a seal material by a pressure-sensitive method, applying a thermosetting resin to the liquid crystal injection port, and sealing the liquid crystal material by heating. Finally, a flexible liquid crystal display can be produced by peeling the glass substrate on the CF side and the glass substrate on the TFT side at the interface between the polyimide film and the glass substrate by a laser peeling method or the like.

〈적층체의 제조 방법〉<Method for manufacturing a laminate>

본 실시형태의 적층체의 제조 방법은, 지지체의 표면 상에, 본 실시형태의 수지 조성물을 도포하는 도포 공정과;상기 수지 조성물을 가열하여 폴리이미드 수지막을 형성하는 막 형성 공정과;상기 폴리이미드 수지막 상에 소자를 형성하는 소자 형성 공정을 포함한다.The manufacturing method of the layered product of this embodiment comprises: a coating step of applying the resin composition of the present embodiment on the surface of a support; a film forming step of heating the resin composition to form a polyimide resin film; and the polyimide And an element forming process of forming elements on the resin film.

적층체에 있어서의 소자로는, 상기의 플렉시블 디바이스의 제조에 예시한 것을 들 수 있다. 지지체로는, 예를 들어 유리 기판을 사용할 수 있다. 도포 공정 및 막 형성 공정의 바람직한 구체적 순서는, 상기의 폴리이미드 필름의 제조 방법에 관해서 기재한 것과 동일하다. 소자 형성 공정에 있어서는, 지지체 상에 형성된, 플렉시블 기판으로서의 폴리이미드 수지막 상에, 상기의 소자를 형성한다. 그 후, 임의로 박리 공정에 있어서 폴리이미드 수지막 및 소자를 지지체로부터 박리해도 된다.As an element in a laminated body, what was illustrated in manufacture of the said flexible device is mentioned. As a support, a glass substrate can be used, for example. Preferred specific steps of the coating step and the film forming step are the same as those described for the production method of the polyimide film described above. In the element formation step, the above elements are formed on a polyimide resin film as a flexible substrate formed on a support. Thereafter, in the peeling step, the polyimide resin film and the element may be peeled off from the support.

실시예Example

이하, 실시예 및 비교예에 의해 본 발명의 실시형태를 구체적으로 설명하는데, 본 발명은 이들 실시예 및 비교예에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be specifically described with reference to Examples and Comparative Examples, but the present invention is not limited to these Examples and Comparative Examples.

《측정 및 평가 방법》《Measurement and evaluation method》

〈고형분〉<Solid content>

폴리이미드 전구체에 사용한 모노머의 총질량을 수지 조성물에 포함되는 고형분의 질량으로서 사용할 수 있다. 혹은, 고형분의 질량은, 수지 조성물을 가스 크로마토그래피 (이하 GC 라고도 한다) 분석을 함으로써 용매의 질량을 구하고, 수지 조성물의 질량으로부터 용매의 질량을 공제하는 것으로부터 구할 수 있다.The total mass of the monomer used in the polyimide precursor can be used as the mass of the solids contained in the resin composition. Alternatively, the mass of the solid content can be obtained by obtaining the mass of the solvent by performing gas chromatography (hereinafter also referred to as GC) analysis of the resin composition, and subtracting the mass of the solvent from the mass of the resin composition.

GC 의 조건으로는, 하기의 조건을 들 수 있다.The following conditions are mentioned as GC conditions.

장치:가스 크로마토그래프 (애질런트사 제조, 가스 크로마토그래프 6890N 형) Apparatus: Gas chromatograph (manufactured by Agilent, gas chromatograph 6890N type)

주입구 온도:280 ℃ Inlet temperature : 280 ℃

주입량:1 ㎕ Injection volume: 1 μl

오븐 온도:50 ℃ 에서 1 분 홀드 후, 승온 속도 20 ℃/분으로 350 ℃ 까지 승온하고, 350 ℃ 에서 5 분 홀드한다.Oven temperature: After holding at 50 ° C for 1 minute, the temperature is raised to 350 ° C at a heating rate of 20 ° C / min, and held at 350 ° C for 5 minutes.

캐리어 가스:He, 1.0 ㎖/min Carrier gas: He, 1.0 ml / min

칼럼:SGE 사 제조, BPX5 (0.25 ㎜φ × 30 m, 막두께 0.25 ㎛) Column: manufactured by SGE, BPX5 (0.25 mmφ × 30 m, film thickness 0.25 μm)

스플릿비:50:1 Split ratio: 50: 1

검출기:수소 염(炎) 이온화형 검출기 Detector: Hydrogen salt ionization type detector

검출기 온도:355 ℃ Detector temperature: 355 ℃

〈중량 평균 분자량〉<Weight average molecular weight>

중량 평균 분자량 (Mw) 및 수 평균 분자량 (Mn) 은, 겔 퍼미에이션 크로마토그래피 (GPC) 로, 하기의 조건에 의해 측정하였다.The weight average molecular weight (Mw) and the number average molecular weight (Mn) were measured by gel permeation chromatography (GPC) under the following conditions.

용매로서, NMP (와코 쥰야쿠 공업사 제조, 고속 액체 크로마토그래프용, 측정 직전에 24.8 m㏖/ℓ 의 브롬화리튬 1수화물 (와코 쥰야쿠 공업사 제조, 순도 99.5 %) 및 63.2 m㏖/ℓ 의 인산 (와코 쥰야쿠 공업사 제조, 고속 액체 크로마토 그래프용) 을 첨가하여 용해한 것) 을 사용하였다. 중량 평균 분자량을 산출하기 위한 검량선은, 스탠다드 폴리스티렌 (토소사 제조) 을 사용하여 제조하였다.As a solvent, NMP (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, for high-speed liquid chromatography, 24.8 mmol / L lithium bromide monohydrate (purified by Wako Pure Chemical Industries, 99.5% purity) immediately before measurement and 63.2 mmol / L phosphoric acid ( Wako Pure Chemical Industries Co., Ltd. product (for high-speed liquid chromatography) was added and dissolved) was used. The calibration curve for calculating the weight average molecular weight was prepared using standard polystyrene (manufactured by Tosoh Corporation).

칼럼:Shodex KD-806M (쇼와 전공사 제조) Column: Shodex KD-806M (manufactured by Showa Electric Works)

유속:1.0 ㎖/분 Flow rate: 1.0 ml / min

칼럼 온도:40 ℃ Column temperature: 40 ℃

펌프:PU-2080Plus (JASCO 사 제조) Pump: PU-2080Plus (manufactured by JASCO)

검출기:RI-2031Plus (RI:시차 굴절계, JASCO 사 제조) 및 UV-2075Plus (UV-VIS:자외 가시 흡광계, JASCO 사 제조) Detector: RI-2031Plus (RI: Differential refractometer, manufactured by JASCO) and UV-2075Plus (UV-VIS: Ultraviolet visible absorbometer, manufactured by JASCO)

〈저분자 고리형 실록산 농도의 분석〉<Analysis of low molecular cyclic siloxane concentration>

폴리이미드 전구체와 규소 함유 화합물 (일반식 (3) 및 (4)) 을 함유하는 수지 조성물 중에 포함되는, 일반식 (3) 및 일반식 (4) 의 저분자 고리형 실록산 농도의 분석은, 이하에 나타내는 바와 같이, GC (가스 크로마토그래피 분석) 에 의해 정량을 실시하였다 (하기, 저분자 고리형 실록산 농도의 분석 (규소 함유 화합물 기준) 참조).The analysis of the low molecular cyclic siloxane concentrations of the general formulas (3) and (4) contained in the resin composition containing the polyimide precursor and the silicon-containing compounds (general formulas (3) and (4)) is as follows. As shown, quantification was performed by GC (gas chromatography analysis) (see below, analysis of low molecular cyclic siloxane concentrations (based on silicon-containing compounds)).

〈저분자 고리형 실록산 농도의 분석 (조성물 기준·고형분 기준)〉<Analysis of low-molecular cyclic siloxane concentration (based on composition and solid content)>

(1) 개요(1) Overview

고리형 실록산의 양을 정량하기 위한 검량선을 작성하였다. 검량선은, 일반식 (4) 의 n=4 의 고리형 실록산 (이하, D4 체라고도 한다) 의 표품 (토쿄 화성 공업 제조) 을 사용하여, 후술하는 방법에 따라서 작성하였다.A calibration curve was prepared to quantify the amount of cyclic siloxane. The calibration curve was prepared in accordance with the method described below, using a standard product (produced by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) of n = 4 cyclic siloxane (hereinafter also referred to as D4 sieve) of the general formula (4).

수지 조성물에 포함되는 저분자 고리형 실록산의 양은, 파이롤라이저 내에서 수지 조성물을 150 ℃ 및 200 ℃ 에서 30 분간 가열하고, 발생한 휘발 성분을 GC/MS 로 분석함으로써 측정하였다. 미리 작성한 검량선을 사용하여, 얻어진 각 화합물의 피크 면적을 D4 체 농도로 환산하였다.The amount of the low-molecular cyclic siloxane contained in the resin composition was measured by heating the resin composition at 150 ° C and 200 ° C for 30 minutes in a pyrrolyzer, and analyzing the generated volatile components by GC / MS. Using the previously prepared calibration curve, the peak area of each obtained compound was converted into a D4 sieve concentration.

GC/MS 측정은, 이하의 장치를 사용하여 실시하였다.GC / MS measurement was performed using the following apparatus.

파이롤라이저:Py-3030iD (프론티어 라보) Pyrolizer: Py-3030iD (Frontier Labo)

GC system:7890B (애질런트 테크놀로지) GC system : 7890B (Agilent Technology)

MSD:5977A (애질런트 테크놀로지) MSD: 5977A (Agilent Technology)

칼럼:UA-1 (내경 0.25 ㎜, 길이 15 m, 액상 두께 0.25 ㎛) (프론티어 라보) Column: UA-1 (inner diameter 0.25 mm, length 15 m, liquid thickness 0.25 µm) (Frontier Labo)

GC/MS 측정은 모두 이하의 측정 조건으로 실시하였다.All GC / MS measurements were performed under the following measurement conditions.

칼럼 온도:40 ℃ 에서 5 분 유지, 20 ℃/분으로 승온, 320 ℃ 에서 11 분 유지, 합계 30 분 Column temperature: maintained at 40 ° C for 5 minutes, heated to 20 ° C / min, held at 320 ° C for 11 minutes, total 30 minutes

주입구 온도:320 ℃ Inlet temperature: 320 ℃

주입법:스플릿법 (스플릿비 1/20) Injection method: Split method (1/2 split ratio)

인터페이스 온도:320 ℃ Interface temperature: 320 ℃

이온원 온도:230 ℃ Ion source temperature: 230 ℃

이온화법:전자 이온화법 (EI) Ionization method: Electron ionization method (EI)

측정법:SCAN 법 (m/z 10-800) Measurement method: SCAN method (m / z 10-800)

(2) 검량선의 작성(2) Preparation of calibration curve

일반식 (4) 의 n=4 의 화합물 (이하, D4 체라고도 한다) 의 표품 (토쿄 화성공업 제조) 을 10 ㎖ 메스 플라스크에 칭량하여 담고, 클로로포름을 용매로서 사용하여, D4 체의 농도가 0.1 ㎎/㎖ 인 샘플과, 0.01 ㎎/㎖ 인 샘플을 제조하였다.A sample of a compound of formula (4) of n = 4 (hereinafter also referred to as D4 sieve) (manufactured by Tokyo Chemical Industries, Ltd.) was weighed into a 10 ml volumetric flask, chloroform was used as a solvent, and the concentration of the D4 sieve was 0.1. Samples of mg / ml phosphorus and samples of 0.01 mg / ml phosphorus were prepared.

400 ℃ 로 설정한 파이롤라이저에 액체 시료용 샘플러를 장착하고, 농도를 조정한 상기 샘플을 마이크로시린지로 1 ㎕ 칭량하여 담고, 파이롤라이저에 인젝션 하였다. 파이롤라이저를 400 ℃ 로 가열하고 있는 동안은 칼럼을 액체 질소에 담그고, 휘발 성분을 칼럼 내에 트랩시켰다. 가열 종료 1 분 후에 칼럼을 액체 질소로부터 취출하고, GC/MS 측정을 실시하였다. D4 체의 농도와, 얻어진 피크 면적으로부터, D4 체 검량선의 기울기를 구하였다.A sampler for liquid samples was mounted on a pyrrolizer set at 400 ° C., and the sample with the adjusted concentration was weighed 1 μl with a micro syringe and injected into the pyrrolizer. The column was immersed in liquid nitrogen while the pyrrolizer was heated to 400 ° C., and the volatile components were trapped in the column. One minute after the completion of heating, the column was taken out from liquid nitrogen, and GC / MS measurement was performed. The slope of the D4 sieve calibration curve was determined from the concentration of the D4 sieve and the obtained peak area.

사용한 장치 및 측정 조건을 사용한 GC/MS 측정에 있어서의 고리형 실록산의 유지 시간은 아래 표 1 과 같다. 이후의 GC/MS 측정에 있어서 동일하다.The retention time of the cyclic siloxane in GC / MS measurement using the apparatus and measurement conditions used is shown in Table 1 below. It is the same in subsequent GC / MS measurements.

Figure 112019083666339-pct00041
Figure 112019083666339-pct00041

상기 표 1 에 있어서의 Dn (n = 3 ∼ 8) 은, 상기 일반식 (4) 의 n = 3 ∼ 8 에 대응하는 고리형 실록산이다. 상기 표 1 에 있어서의 디메틸m디페닐1, Dmφ (m = 3 ∼ 5) 는, 상기 일반식 (3) 의 m = 3 ∼ 5 에 대응하는 고리형 실록산이다.Dn (n = 3-8) in Table 1 is a cyclic siloxane corresponding to n = 3-8 in the general formula (4). Dimethylmdiphenyl 1 and Dmφ (m = 3 to 5) in Table 1 are cyclic siloxanes corresponding to m = 3 to 5 in the general formula (3).

(3) 수지 조성물 중의 일반식 (3) 및 (4) 의 저분자 고리형 실록산 농도의 분석(3) Analysis of low molecular cyclic siloxane concentrations of general formulas (3) and (4) in the resin composition

수지 조성물 중에 포함되는 일반식 (3) 의 페닐측 사슬체의 농도는, 수지 조성물을 200 ℃ 로 가열하고, 발생한 휘발 성분의 GC/MS 측정을 실시함으로써 측정하였다. 일반식 (4) 의 메틸측 사슬체의 농도는, 수지 조성물을 150 ℃ 로 가열하고, 발생한 휘발 성분의 GC/MS 측정을 실시함으로써 측정하였다. 수지 조성물의 휘발 성분 측정 결과의 피크 면적으로부터 각 화합물의 농도를 산출하였다. 각 화합물의 피크가 다른 화합물과 겹쳐 있지 않으면, 토탈 이온 크로마토그램 (TIC) 으로부터 구한 피크 면적을 사용하였다. 다른 화합물과 겹쳐 있는 경우에는, m/z = 281 의 매스크로마토그램 (MS) 으로부터 구한 피크 면적을 사용하였다.The concentration of the phenyl side chains of the general formula (3) contained in the resin composition was measured by heating the resin composition to 200 ° C and performing GC / MS measurement of the volatile components generated. The concentration of the methyl-side chain in the general formula (4) was measured by heating the resin composition to 150 ° C and performing GC / MS measurement of the volatile components generated. The concentration of each compound was calculated from the peak area of the measurement result of the volatile component of the resin composition. If the peaks of each compound did not overlap with other compounds, the peak area obtained from the total ion chromatogram (TIC) was used. In the case of overlapping with other compounds, the peak area obtained from the macrogram (MS) of m / z = 281 was used.

A. 수지 조성물 중의 일반식 (3) (페닐측 사슬체) 의 저분자 고리형 실록산 농도의 분석 A. Analysis of low molecular cyclic siloxane concentration of general formula (3) (phenyl side chain) in the resin composition

200 ℃ 로 설정한 파이롤라이저의 가열로 (He 분위기) 에, 약 1 ㎎ 으로 칭량한 수지 조성물이 들어간 시료 컵을 넣고, 200 ℃ 에서 30 분 가열하였다. 발생한 휘발 성분을 GC/MS 로 분석함으로써 측정하였다. 미리 작성한 검량선을 사용하여, 얻어진 각 화합물의 피크 면적을 D4 체 농도로 환산하였다. 일반식 (3) 의 저분자 고리형 실록산량은, 하기 식에 따라서 계산하였다.A sample cup containing a resin composition weighed at about 1 mg was placed in a heating furnace (He atmosphere) of a pyrrolizer set at 200 ° C, and heated at 200 ° C for 30 minutes. The generated volatile components were measured by GC / MS analysis. Using the previously prepared calibration curve, the peak area of each obtained compound was converted into a D4 sieve concentration. The amount of the low-molecular cyclic siloxane in the general formula (3) was calculated according to the following formula.

Dmφ (㎍/g) = {Dmφ (GC-Area)} / {D4 체 검량선의 기울기} / {칭량한 수지 조성물의 질량 (㎎)} × 1000 Dmφ (µg / g) = {Dmφ (GC-Area)} / {Slope of D4 sieve calibration curve} / {mass of weighed resin composition (mg)} × 1000

식 중의 m 은, 일반식 (3) 의 탄소수 m 에 대응하고, m 은 3 이상의 정수이다.M in the formula corresponds to the carbon number m in the general formula (3), and m is an integer of 3 or more.

B. 수지 조성물 중의 일반식 (4) (메틸측 사슬체) 의 저분자 고리형 실록산 농도의 분석B. Analysis of low molecular cyclic siloxane concentration of general formula (4) (methyl-side chain) in the resin composition

150 ℃ 로 설정한 파이롤라이저의 가열로 (He 분위기) 에, 약 1 ㎎ 의 수지 조성물을 넣은 시료 컵을 넣고, 150 ℃ 에서 30 분 가열하였다. 발생한 휘발 성분을 GC/MS 로 분석함으로써 측정하였다. 미리 작성한 검량선을 사용하여, 얻어진 각 화합물의 피크 면적을 D4 체 농도로 환산하였다.A sample cup containing a resin composition of about 1 mg was placed in a heating furnace (He atmosphere) of a pyrrolizer set at 150 ° C, and heated at 150 ° C for 30 minutes. The generated volatile components were measured by GC / MS analysis. Using the previously prepared calibration curve, the peak area of each obtained compound was converted into a D4 sieve concentration.

Dn (㎍/g) = {Dn (GC-Area)} / {D4 체 검량선의 기울기} / {칭량한 수지 조성물의 질량 (㎎)} × 1000Dn (µg / g) = {Dn (GC-Area)} / {Slope of the D4 sieve calibration curve} / {mass of the weighed resin composition (mg)} × 1000

식 중의 n 은, 일반식 (4) 의 탄소수 n 에 대응하고, n 은 3 이상의 정수이다.N in the formula corresponds to the carbon number n of the general formula (4), n is an integer of 3 or more.

(5) 수지 조성물에 포함되는 고형분 중의 일반식 (3) 및 (4) 의 저분자 고리형 실록산 농도의 분석 (5) Analysis of low molecular cyclic siloxane concentrations of general formulas (3) and (4) in the solids contained in the resin composition

고형분 중에 포함되는 일반식 (3) 및 (4) 의 저분자 고리형 실록산 농도의 분석은, 전술하는 수지 조성물 중의 일반식 (3) 및 (4) 의 저분자 고리형 실록산 농도로부터 산출하였다. 즉, 각 실시예 및 비교예의 폴리이미드 전구체에 사용한 모노머의 총질량을 수지 조성물에 포함되는 고형분의 질량으로서, 수지 조성물 중의 일반식 (3) 및 (4) 의 고리형 실록산 농도와 그 총질량으로부터, 고형분 중의 식 (3) 및 (4) 의 고리형 실록산 농도를 산출하였다. 수지 조성물에 포함되는 고형분의 질량은, 전술한 바와 같이, 수지 조성물을 GC 분석함으로써 용매의 질량을 구하고, 수지 조성물의 질량으로부터 용매의 질량을 공제하는 것, 또는 수지 조성물을 가열하고, 용매를 휘발 제거하고, 용매의 질량을 구하고, 수지 조성물의 질량으로부터 용매의 질량을 공제하는 것으로부터 구할 수도 있다.The analysis of the low molecular cyclic siloxane concentrations of the general formulas (3) and (4) contained in the solid content was calculated from the low molecular cyclic siloxane concentrations of the general formulas (3) and (4) in the aforementioned resin composition. That is, the total mass of the monomers used in the polyimide precursors of each of the Examples and Comparative Examples is the mass of the solids contained in the resin composition, from the concentration of the cyclic siloxanes of the general formulas (3) and (4) in the resin composition and the total mass thereof. , Cyclic siloxane concentrations of formulas (3) and (4) in the solid content were calculated. The mass of the solids contained in the resin composition is obtained by GC analysis of the resin composition, as described above, to obtain the mass of the solvent, subtract the mass of the solvent from the mass of the resin composition, or heat the resin composition and volatilize the solvent. It can also be obtained by removing, obtaining the mass of the solvent, and subtracting the mass of the solvent from the mass of the resin composition.

〈원료 조성물에 포함되는 저분자 고리형 실록산 농도의 분석 (규소 함유 화합물 기준)〉<Analysis of low molecular cyclic siloxane concentration in raw material composition (based on silicon-containing compound)>

(개요) (summary)

저분자 고리형 실록산 농도의 분석은, 아세톤 (내부 표준 물질로서 n-테트라데칸을 포함한다) 에 용해시킨, 규소 함유 화합물 (일반식 (3), (4) 및 (5) 의 규소 함유 화합물을 함유한다.) 의 용액을 GC 로 분석함으로써 측정하였다. 얻어진 각 화합물의 피크 면적으로부터, 후술하는 방법에 따라서 n-테트라데칸의 피크 면적을 기준으로 하여 각 화합물 농도를 구하였다.Analysis of the low molecular cyclic siloxane concentration contains silicon-containing compounds (silicon-containing compounds of general formulas (3), (4) and (5)) dissolved in acetone (including n-tetradecane as an internal standard) It was measured by analyzing the solution of GC. From the peak area of each obtained compound, the concentration of each compound was determined based on the peak area of n-tetradecane according to the method described later.

GC 측정은, 이하의 장치를 사용하여 실시하였다.GC measurement was performed using the following apparatus.

GC system:7890A (애질런트 테크놀로지) GC system : 7890A (Agilent Technology)

칼럼:J & W Scientific Durabond DB-5MS (MEGABORE 내경 0.53 ㎜, 길이 30 m, 액상 두께 1.0 ㎛)Column: J & W Scientific Durabond DB-5MS (MEGABORE inner diameter 0.53 mm, length 30 m, liquid thickness 1.0 µm)

GC 측정은 모두 이하의 측정 조건으로 실시하였다.All GC measurements were performed under the following measurement conditions.

칼럼 온도:50 ℃, 10 ℃/분으로 승온, 280 ℃ 에서 17 분 유지, 합계 40 분 Column temperature: heated to 50 ° C and 10 ° C / min, held at 280 ° C for 17 minutes, total 40 minutes

주입구 온도:270 ℃ Inlet temperature: 270 ℃

캐리어 가스:HeCarrier gas: He

주입법:스플릿법 (스플릿비 1/10)Injection method: Split method (1/10 split ratio)

검출기:FID (300 ℃) Detector: FID (300 ℃)

(저분자 고리형 실록산량의 계산) (Calculation of low molecular cyclic siloxane content)

일반식 (3) 의 저분자 고리형 실록산량은, 하기 식에 따라서 계산하였다.The amount of the low-molecular cyclic siloxane in the general formula (3) was calculated according to the following formula.

Dmφ (㎛/g) = {일반식 (3) 의 화합물의 총량 (㎍)} / {일반식 (3-1), (3-2), (4) 및 (5) 의 화합물의 합계 질량 (g)} = {Dmφ (GC-Area)} / {n-테트라데칸 (GC-Area) × GC-Area Factor} × 20 × 100Dmφ (μm / g) = {total amount of compound of general formula (3) (μg)} / {total mass of compound of general formulas (3-1), (3-2), (4) and (5) ( g)} = {Dmφ (GC-Area)} / {n-tetradecane (GC-Area) × GC-Area Factor} × 20 × 100

식 중의 m 은, 일반식 (3) 의 탄소수 m 에 대응하고, m 은 3 이상의 정수이다.M in the formula corresponds to the carbon number m in the general formula (3), and m is an integer of 3 or more.

식 중의 GC-Area Factor 는 하기 식에 따라서 계산하였다.GC-Area Factor in the equation was calculated according to the following equation.

GC-Area Factor = 분자량/탄소수GC-Area Factor = molecular weight / carbon number

일반식 (4) 의 저분자 고리형 실록산량은, 하기 식에 따라서 계산하였다.The amount of the low-molecular cyclic siloxane in the general formula (4) was calculated according to the following formula.

Dn (㎍/g) = {일반식 (4) 의 화합물의 총량 (㎍)} / {일반식 (3-1), (3-2), (4) 및 (5) 의 화합물의 합계 질량 (g)} = {Dn (GC-Area)} / {n-테트라데칸 (GC-Area) × GC-Area Factor} × 20 × 100Dn (μg / g) = {total amount of compound of formula (4) (μg)} / {total mass of compounds of formula (3-1), (3-2), (4) and (5) ( g)} = {Dn (GC-Area)} / {n-tetradecane (GC-Area) × GC-Area Factor} × 20 × 100

식 중의 n 은, 일반식 (4) 의 탄소수 n 에 대응하고, n 은 3 이상의 정수이다.N in the formula corresponds to the carbon number n of the general formula (4), n is an integer of 3 or more.

식 중의 GC-Area Factor 는 하기 식에 따라서 계산하였다.GC-Area Factor in the equation was calculated according to the following equation.

GC-Area Factor = 분자량/탄소수GC-Area Factor = molecular weight / carbon number

사용한 장치 및 상기 측정 조건을 사용한 GC 측정에 있어서의 고리형 실록산의 유지 시간 (분) 은, 하기 표 2 와 같다. 이후의 GC 측정에 있어서 동일하다.Table 2 below shows the retention time (minutes) of the cyclic siloxane in the GC measurement using the apparatus used and the measurement conditions. It is the same for subsequent GC measurements.

Figure 112019083666339-pct00042
Figure 112019083666339-pct00042

상기 표 2 에 있어서의 Dn (n = 3 ∼ 8) 은, 상기 일반식 (4) 의 n 에 대응하는 고리형 실록산이다. 또, 상기 표 2 에 있어서의 Dmφ (m = 3 ∼ 5) 는, 상기 일반식 (3) 의 m 에 대응하는 고리형 실록산이다.Dn (n = 3-8) in Table 2 is a cyclic siloxane corresponding to n in the general formula (4). In addition, Dmφ (m = 3-5) in Table 2 is a cyclic siloxane corresponding to m in the general formula (3).

(저분자 고리형 실록산 농도의 분석) (Analysis of low molecular cyclic siloxane concentration)

규소 함유 화합물에 포함되는 일반식 (3) 및 (4) 의 저분자 고리형 실록산 농도의 분석은, 하기 순서로 실시하였다. 규소 함유 화합물 0.1 g 을 아세톤 10 ㎖ (내부 표준 물질로서 n-테트라데칸 20 ㎍/㎖ 함유) 에 용해시키고, 16 시간 방치하였다. 방치한 용액을 마이크로시린지로 1 ㎕ 칭량하여 담고, GC 에 도입하고 측정을 실시하였다. 얻어진 크로마토그램에 있어서, 각 저분자 고리형 실록산과 n-테트라데칸의 피크 면적을 GC 부속의 소프트웨어로 계산하고, 상기에 나타낸 계산식으로, 저분자 고리형 실록산 농도를 구하였다.The analysis of the low molecular cyclic siloxane concentrations of the general formulas (3) and (4) contained in the silicon-containing compound was performed in the following procedure. 0.1 g of silicon-containing compound was dissolved in 10 ml of acetone (containing 20 µg / ml of n-tetradecane as an internal standard) and left standing for 16 hours. The neglected solution was weighed 1 μl with a micro syringe, introduced into a GC, and measured. In the obtained chromatogram, the peak area of each low-molecular cyclic siloxane and n-tetradecane was calculated by software attached to GC, and the low-molecular cyclic siloxane concentration was determined by the calculation formula shown above.

〈폴리이미드 수지막의 이물질 카운트 평가〉<Evaluation of foreign material counts in polyimide resin film>

이 평가에서는, 오븐을 사용하여, 다량의 폴리이미드 전구체를 건조 및 경화한 후, 동일한 오븐 내에서 폴리이미드 수지막을 제조한 경우에 있어서, 폴리이미드 수지막의 표면에 부착되는 이물질의 다과 (多寡) 를 평가하였다.In this evaluation, after the polyimide precursor was dried and cured in a large amount using an oven, a polyimide resin film attached to the surface of the polyimide resin film in the case where a polyimide resin film was produced in the same oven was used. Was evaluated.

실시예 및 비교예의 수지 조성물을, 가로세로 200 ㎜ 의 무알칼리 유리 기판 (이하, 유리 기판이라고도 한다) 에, 경화 후 막두께가 10 ㎛ 가 되도록 도포하여 도막을 형성하였다. 도포는 슬릿 코터 (TN25000, 토쿄 오카 공업 제조) 를 사용하였다. 이 때, 1 종의 수지 조성물마다, 50 매의 유리 기판 상에 형성된 수지 조성물을 제조하였다. 수지 조성물의 도막을 갖는 유리 기판 중 1 매에 대해, 오븐 (KLO-30NH, 코요 서모 시스템 제조) 내에서, 질소 분위기하 (산소 농도 300 ppm 이하), 100 ℃ 에서 30 분간 건조시켜 용매를 제거하였다. 계속해서, 질소 분위기하 (산소 농도 300 ppm 이하), 350 ℃ 에서 1 시간 가열하여, 유리 기판 상에 폴리이미드 수지막을 형성하였다. 얻어진 가로세로 200 ㎜ 의 폴리이미드 수지막 중 중심 가로세로 50 ㎜ 의 범위에 대해, 마이크로스코프 (VHX-6000, 키엔스 제조) 를 사용하여, 이물질의 사이즈와 수를 카운트 하였다. The resin compositions of Examples and Comparative Examples were applied to an alkali-free glass substrate having a width of 200 mm (hereinafter also referred to as a glass substrate) so as to have a film thickness of 10 µm after curing to form a coating film. A slit coater (TN25000, manufactured by Tokyo Oka Industries) was used for the application. At this time, for each resin composition, a resin composition formed on 50 glass substrates was prepared. For one of the glass substrates having a coating film of the resin composition, in an oven (KLO-30NH, manufactured by Koyo Thermo Systems) under nitrogen atmosphere (oxygen concentration of 300 ppm or less), dried at 100 ° C. for 30 minutes to remove the solvent. . Subsequently, under a nitrogen atmosphere (oxygen concentration of 300 ppm or less), heating was performed at 350 ° C for 1 hour to form a polyimide resin film on the glass substrate. The size and number of foreign matters were counted using a microscope (VHX-6000, manufactured by Keyence) for the range of the center width and height of 50 mm in the obtained polyimide resin film having a width and width of 200 mm.

관찰 조건은 하기와 같다.The observation conditions are as follows.

렌즈:100 배Lens: 100 times

임계치:오토 Threshold: Auto

그리고, 장경 50 ㎛ 이상 1000 ㎛ 미만의 이물질의 개수를 하기 기준으로 평가하였다.Then, the number of foreign matters having a major diameter of 50 μm or more and less than 1000 μm was evaluated based on the following criteria.

이물질의 개수가 10 개 이상 50 개 미만:A (양호) The number of foreign substances is 10 or more and less than 50: A (Good)

이물질의 개수가 50 개 이상 100 개 미만:B (가능) The number of foreign substances is 50 or more and less than 100: B (possible)

이물질의 개수가 100 개 이상:C (불가) The number of foreign substances is 100 or more: C (not available)

관찰된 이물질을 주사 전자 현미경 (JSM-IT500HR, 니혼 전자 (주) 제조) 을 사용하여 EDS 분석 (원소 분석) 한 결과, C, Si, O 원소 등이 관찰되고, N 원소는 관찰되지 않았다. 이 결과로부터, 당해 이물질은 진공 건조 시에 휘발한 저분자 고리형 실록산이 건조기 내벽에 부착되고, 낙하, 부착 등 한 것으로 추정된다.As a result of EDS analysis (elemental analysis) of the observed foreign material using a scanning electron microscope (JSM-IT500HR, manufactured by Nihon Electronics Co., Ltd.), C, Si, and O elements were observed, and N element was not observed. From these results, it is presumed that the foreign matter had low molecular cyclic siloxanes volatilized during vacuum drying, which adhered to the inner wall of the dryer, and dropped or adhered.

또한, 상이한 종류의 수지 조성물의 평가를 실시할 때는, 오븐을 600 ℃ 에서 5 시간 이상 공소 (空燒) 하여 평가하도록 하였다.In addition, when evaluating resin compositions of different types, the oven was evacuated at 600 ° C for 5 hours or more to evaluate.

〈YI 값의 차의 평가〉 <Evaluation of difference in YI value>

이 평가에서는, 정제한 규소 화합물을 사용하여 얻어진 폴리이미드 전구체와, 정제를 실시하지 않은 규소 화합물을 사용하여 얻어진 폴리이미드 전구체를, 각각 경화하여 얻어지는 폴리이미드 수지막의 YI 값의 차를 평가하였다.In this evaluation, the difference in YI value of the polyimide resin film obtained by curing each of the polyimide precursor obtained using the purified silicon compound and the polyimide precursor obtained using the unpurified silicon compound was evaluated.

실시예 및 비교예의 수지 조성물을, 가로세로 200 ㎜ 의 무알칼리 유리 기판 (이하, 유리 기판이라고도 한다) 에, 경화 후 막두께가 10 ㎛ 가 되도록 도포하여 도막을 형성하였다. 도포는 슬릿 코터 (TN25000, 토쿄 오카 공업) 를 사용하여 실시하였다. 얻어진 수지 조성물의 도막을 갖는 유리 기판 중 1 매를, 오븐 (KLO-30NH, 코요 서모 시스템) 내에서, 질소 분위기하 (산소 농도 300 ppm 이하), 100 ℃ 에서 30 분간 건조시켜 용매를 제거하였다. 그 후, 질소 분위기하 (산소 농도 300 ppm 이하), 400 ℃ 에서 1 시간 가열하고, 유리 기판 상에 폴리이미드 수지막을 형성하였다.The resin compositions of Examples and Comparative Examples were applied to an alkali-free glass substrate having a width of 200 mm (hereinafter also referred to as a glass substrate) so as to have a film thickness of 10 µm after curing to form a coating film. Application was performed using a slit coater (TN25000, Tokyo Oka Industries). One of the glass substrates having a coating film of the obtained resin composition was dried in an oven (KLO-30NH, Koyo Thermo System) under nitrogen atmosphere (oxygen concentration of 300 ppm or less) at 100 ° C for 30 minutes to remove the solvent. Then, under nitrogen atmosphere (oxygen concentration 300 ppm or less), it heated at 400 degreeC for 1 hour, and formed the polyimide resin film on a glass substrate.

얻어진 폴리이미드 수지막을 사용하여, 닛폰 전색 공업 (주) 제조 (Spectrophotometer:SE600) 를 사용하여 YI 값을 측정하였다. 광원에는 D65 광원을 사용하였다. YI 값의 차는, 하기 식으로부터 구하였다.Using the obtained polyimide resin film, the YI value was measured using Nippon Electric Color Co., Ltd. (Spectrophotometer: SE600). A D65 light source was used as the light source. The difference in YI value was calculated | required from the following formula.

(YI 값의 차) = (정제를 실시하지 않은 규소 화합물을 사용하여 얻어진 폴리이미드 전구체를 경화한 폴리이미드 수지막의 YI 값) ― (정제를 실시한 규소 화합물을 사용하여 얻어진 폴리이미드 전구체를 경화한 폴리이미드 수지막의 YI 값) (Difference of YI value) = (YI value of the polyimide resin film obtained by curing the polyimide precursor obtained using the unpurified silicon compound)-(Polyimide obtained by curing the polyimide precursor obtained using the purified silicon compound) Mid resin film YI value)

또한, YI 값의 차를 구함에 있어서, 정제를 실시하지 않은 규소 화합물을 사용하여 얻어진 폴리이미드 전구체의 경화와, 정제를 실시한 규소 화합물을 사용하여 얻어진 폴리이미드 전구체의 경화는, 동일한 오븐의 배치로 가열 처리함으로써, 장치 오차를 배제하였다.In addition, in obtaining the difference in YI value, curing of the polyimide precursor obtained by using the unpurified silicon compound and curing of the polyimide precursor obtained by using the purified silicon compound are performed in the same batch of oven. The device error was eliminated by heat treatment.

《규소 함유 화합물의 정제 방법》<< Method for purifying silicon-containing compound >>

후술하는 실시예 및 비교예에 기재된 규소 함유 화합물은, 하기의 정제 방법으로 처리하고, 포함되는 저분자 고리형 실록산을 저감하였다. 정제 후의 저분자 고리형 실록산의 농도는 상기의 방법으로 분석하였다.The silicon-containing compounds described in Examples and Comparative Examples described below were treated by the following purification method to reduce the contained low-molecular cyclic siloxanes. The concentration of the low molecular cyclic siloxane after purification was analyzed by the above method.

〈정제 A〉<Tablet A>

규소 함유 화합물 10 ㎏ 을 플라스크 내에 넣고, 질소 가스를 불어넣으면서, 온도 160 ℃, 압력 270 ㎩ 로, 8 시간 스트리핑을 실시하였다.10 kg of the silicon-containing compound was placed in a flask, and stripping was performed for 8 hours at a temperature of 160 ° C and a pressure of 270 MPa while blowing nitrogen gas.

〈정제 B-1〉<Tablet B-1>

규소 함유 화합물 1 ㎏ 을 플라스크 내에 넣고, 질소 가스를 불어넣으면서, 온도 200 ℃, 압력 200 ㎩ 로, 8 시간 스트리핑을 실시하였다.1 kg of the silicon-containing compound was placed in a flask, and stripping was performed for 8 hours at a temperature of 200 ° C and a pressure of 200 MPa while blowing nitrogen gas.

〈정제 B-2〉<Tablet B-2>

규소 함유 화합물 10 ㎏ 을 플라스크 내에 넣고, 질소 가스를 불어넣으면서, 온도 200 ℃, 압력 200 ㎩ 로, 8 시간 스트리핑을 실시하였다.10 kg of the silicon-containing compound was placed in a flask, and stripping was performed for 8 hours at a temperature of 200 ° C and a pressure of 200 MPa while blowing nitrogen gas.

〈정제 C〉일본 공개특허공보 2016-029126호에 기재된 양말단 아미노 변성 실리콘 오일 (정제품) 의 합성예에 준거 <Tablet C> Based on the synthesis example of the amino acid modified silicone oil (regular product) of the socks described in Japanese Patent Laid-Open No. 2016-029126.

규소 함유 화합물 100 g 중에, 아세톤 1000 g 을 첨가하고, 실온에서 30 분간 교반하였다. 원심 분리기로 2500 rpm, 15 분간의 원심 분리를 실시하고, 아세톤과 실리콘 오일을 분리한 후, 아세톤을 데칸테이션에 의해 제거하였다. 이 조작을 3 회 반복한 후에, 아세톤을 이배퍼레이터로 증류 제거하여, 정제된 규소 함유 화합물을 얻었다.In 100 g of silicon-containing compound, 1000 g of acetone was added and stirred at room temperature for 30 minutes. After centrifugation at 2500 rpm for 15 minutes with a centrifuge, and acetone and silicone oil were separated, acetone was removed by decantation. After repeating this operation three times, acetone was distilled off with an evaporator to obtain a purified silicon-containing compound.

〈정제 D〉일본 공개특허공보 2006-028533호에 기재된 정제예 1 에 준거 <Tablet D> Based on the purification example 1 described in Japanese Unexamined Patent Publication No. 2006-028533

규소 함유 화합물 500 g 을 플라스크 내에 넣고, 질소 가스를 불어넣으면서, 온도 250 ℃, 압력 1330 ㎩ 로 8 시간 스트리핑을 실시하였다.500 g of the silicon-containing compound was placed in a flask, and stripping was performed at a temperature of 250 ° C. and a pressure of 1330 MPa for 8 hours while blowing nitrogen gas.

〈정제 E〉일본 공개특허공보 2006-028533호에 기재된 정제예 2 에 준거 <Tablet E> Based on Purification Example 2 described in JP2006-028533 A.

규소 함유 화합물 100 g 을 2-부탄온 300 g 중에 넣어 균일하게 용해하였다. 이 용액을 메탄올 중에 교반하면서 천천히 투입하여, 재침전을 실시하였다. 상기의 재침전을 합계 3 회 반복한 후, 건조시켜 정제된 규소 함유 화합물을 얻었다.100 g of the silicon-containing compound was dissolved in 300 g of 2-butanone to dissolve uniformly. The solution was slowly added while stirring in methanol, and reprecipitation was performed. The above reprecipitation was repeated 3 times in total, followed by drying to obtain a purified silicon-containing compound.

《실시예 1》<Example 1 >>

표 2 에 기재하는 바와 같이, 규소 함유 화합물 (1) (일반식 (1) 에 있어서, L1 및 L2 가 아미노기, R1 이 -CH2CH2CH2- 이고, R2, R3, R6, R7 이 메틸기, R4, R5 가 페닐기, j/(i+j+k) = 0.15 이고, 수 평균 분자량 4400 의 화합물) 을, 정제 B 의 방법으로 정제하였다. 교반봉이 부착된 3 ℓ 세퍼러블 플라스크에, 질소 가스를 도입하면서, 용매로서 NMP (332 g), 디아민으로서 4,4'-DAS (14.2 g), TFMB (37.8 g), 및 정제한 규소 함유 화합물 (1) (10.56 g) 을 교반하면서 첨가하고, 계속해서 산 2무수물로서 PMDA (21.8 g) 를 첨가하였다. 산 2무수물, 디아민의 몰비는, 100:97 이었다. 혼합물을 실온에서 48 시간 교반하고, 투명한 폴리아미드산의 NMP 용액 (이하, 바니시라고도 한다) 을 얻었다. 얻어진 바니시를 냉동고 (설정 -20 ℃, 이하 동일) 에서 보관하고, 평가를 할 때는 해동하여 사용하였다.As shown in Table 2, the silicon-containing compound (1) (in general formula (1), L 1 and L 2 are amino groups, R 1 is -CH 2 CH 2 CH 2- , R 2 , R 3 , R 6 and R 7 were methyl groups, R 4 and R 5 were phenyl groups, j / (i + j + k) = 0.15, and a compound having a number average molecular weight of 4400) was purified by the method of purification B. NMP (332 g) as a solvent, 4,4'-DAS (14.2 g), TFMB (37.8 g) as a diamine, and purified silicon-containing compound while introducing nitrogen gas into a 3 L separable flask with a stir bar (1) (10.56 g) was added with stirring, and PMDA (21.8 g) was subsequently added as an acid anhydride. The molar ratio of the acid anhydride and diamine was 100: 97. The mixture was stirred at room temperature for 48 hours to obtain a transparent polyamic acid NMP solution (hereinafter also referred to as varnish). The obtained varnish was stored in a freezer (set at -20 deg. C, same as below), and used for thawing when evaluating.

《실시예 2 ∼ 32, 및 비교예 17 ∼ 19》<< Examples 2-32 and Comparative Examples 17-19 >>

실시예 1 에 있어서, 용매, 산 2무수물, 디아민, 규소 함유 화합물의 종류 및 양을 표 2 및 3 에 기재한 것으로 변경한 것을 제외하고, 실시예 1 과 동일하게 실시하였다.In Example 1, it was carried out in the same manner as in Example 1, except that the type and amount of the solvent, acid 2 anhydride, diamine, and silicon-containing compound were changed to those described in Tables 2 and 3.

표 3 중의 규소 함유 화합물의 종류는, 하기하는 바와 같다.The types of the silicon-containing compound in Table 3 are as follows.

규소 함유 화합물 (2):일반식 (1) 에 있어서, L1 및 L2 가 아미노기, R1 이 -CH2CH2CH2- 이고, R2, R3, R6, R7 이 메틸기, R4, R5 가 페닐기, j/(i+j+k) = 0.15 이고, 수 평균 분자량이 1340 인 화합물 Silicon-containing compound (2): In general formula (1), L 1 and L 2 are amino groups, R 1 is -CH 2 CH 2 CH 2- , and R 2 , R 3 , R 6 and R 7 are methyl groups, R 4 and R 5 are phenyl groups, j / (i + j + k) = 0.15, and the compound having a number average molecular weight of 1340

규소 함유 화합물 (3):일반식 (1) 에 있어서, L1 및 L2 가 산 무수물기, R1 이 -CH2CH2CH2- 이고, R2, R3, R6, R7 이 메틸기, R4, R5 가 페닐기, j/(i+j+k) = 0.15 이고, 수 평균 분자량 4200 의 화합물 Silicon-containing compound (3): In general formula (1), L 1 and L 2 are acid anhydride groups, R 1 is -CH 2 CH 2 CH 2- , and R 2 , R 3 , R 6 and R 7 are A methyl group, R 4 and R 5 are phenyl groups, j / (i + j + k) = 0.15, and a compound having a number average molecular weight of 4200

규소 함유 화합물 (4):일반식 (1) 에 있어서, L1 및 L2 가 에폭시기, R1 이 -CH2CH2CH2- 이고, R2, R3, R6, R7 이 메틸기, R4, R5 가 페닐기, j/(i+j+k) = 0.15 이고, 수 평균 분자량 1240 의 화합물Silicon-containing compound (4): In the general formula (1), L 1 and L 2 are epoxy groups, R 1 is -CH 2 CH 2 CH 2- , and R 2 , R 3 , R 6 and R 7 are methyl groups, R 4 and R 5 are phenyl groups, j / (i + j + k) = 0.15, and a compound having a number average molecular weight of 1240

《비교예 1》<Comparative Example 1>

표 3 에 기재하는 바와 같이, 교반봉이 부착된 3 ℓ 세퍼러블 플라스크에, 질소 가스를 도입하면서, 용매로서 NMP (319 g), 디아민으로서 4,4'-DAS (14.3 g), TFMB (12.3 g), 미정제의 규소 함유 화합물 (일반식 (1) 에 있어서, L1 및 L2 가 아미노기, R1 이 -CH2CH2CH2- 이고, R2, R3, R6, R7 이 메틸기, R4, R5 가 페닐기, j 가 15, i+j+k 가 10 이고, 수 평균 분자량 4400 의 화합물) (5.72 g) 을 교반하면서 첨가하고, 계속해서 산 2무수물로서 PMDA (15.3 g) 를 첨가하였다. 산 2무수물과 디아민의 몰비는, 100:97 이었다. 다음으로, 실온에서 48 시간 교반하고, 투명한 폴리아미드산의 NMP 용액 (이하, 바니시라고도 한다) 을 얻었다. 얻어진 바니시를 냉동고 (설정 -20 ℃, 이하 동일) 에서 보관하고, 평가를 할 때는 해동하여 사용하였다.As shown in Table 3, while introducing nitrogen gas into a 3 L separable flask with a stir bar, NMP (319 g) as a solvent, 4,4'-DAS (14.3 g) as a diamine, and TFMB (12.3 g) ), Crude silicon-containing compound (in general formula (1), L 1 and L 2 are amino groups, R 1 is -CH 2 CH 2 CH 2- , and R 2 , R 3 , R 6 , R 7 are A methyl group, R 4 , R 5 is a phenyl group, j is 15, i + j + k is 10, a number average molecular weight 4400 compound) (5.72 g) is added with stirring, and PMDA (15.3 g) is subsequently added as an acid anhydride. . The molar ratio between the acid anhydride and diamine was 100: 97. Next, the mixture was stirred at room temperature for 48 hours to obtain a transparent polyamic acid NMP solution (hereinafter also referred to as varnish). The obtained varnish was stored in a freezer (set at -20 deg. C, same as below), and used for thawing when evaluating.

《비교예 2 ∼ 비교예 16》<< Comparative Example 2-Comparative Example 16 >>

비교예 1 에 있어서, 용매, 산 2무수물, 디아민, 규소 함유 화합물의 종류 및 양을 표 3 에 기재한 것으로 변경한 것을 제외하고, 비교예 1 과 동일하게 실시하였다.In Comparative Example 1, it was carried out in the same manner as in Comparative Example 1, except that the type and amount of the solvent, acid 2 anhydride, diamine, and silicon-containing compound were changed to those shown in Table 3.

실시예 및 비교예의 수지 조성물에 대해, 수지 조성물 기준, 고형분 기준, 및 규소 함유 화합물 기준의 저분자 고리형 실록산 농도;폴리이미드 전구체의 분자량;이물질 카운트 평가;및 YI 값의 차를 평가하였다. 결과를 표 5 및 6 에 나타낸다. 표 5 및 6 에 있어서, 「식 (3) 화합물」 은, 일반식 (3) 의 화합물에 대응하고, m 은 3 ∼ 5 이고, 「식 (4) 화합물」 은, 일반식 (4) 의 화합물에 대응하고, n 은 3 ∼ 8 이다.For the resin compositions of Examples and Comparative Examples, the difference in the low molecular cyclic siloxane concentration based on the resin composition, solid content, and silicon-containing compound; molecular weight of the polyimide precursor; foreign matter count evaluation; and the difference in YI values were evaluated. The results are shown in Tables 5 and 6. In Tables 5 and 6, the "formula (3) compound" corresponds to the compound of the general formula (3), m is 3 to 5, and the "formula (4) compound" is the compound of the general formula (4) And n is 3 to 8.

Figure 112019083666339-pct00043
Figure 112019083666339-pct00043

Figure 112019083666339-pct00044
Figure 112019083666339-pct00044

Figure 112019083666339-pct00045
Figure 112019083666339-pct00045

Figure 112019083666339-pct00046
Figure 112019083666339-pct00046

2a : 하부 기판
2b : 봉지 기판
25 : 유기 EL 구조부
250a : 적색 광을 발광하는 유기 EL 소자
250b : 녹색 광을 발광하는 유기 EL 소자
250c : 청색 광을 발광하는 유기 EL 소자
251 : 격벽 (뱅크)
252 : 하부 전극 (양극)
253 : 정공 수송층
254 : 발광층
255 : 상부 전극 (음극)
256 : TFT
257 : 컨택트 홀
258 : 층간 절연막
259 : 하부 전극
261 : 중공부
2a: lower substrate
2b: sealing substrate
25: organic EL structure
250a: Organic EL device emitting red light
250b: organic EL device emitting green light
250c: organic EL device emitting blue light
251: Bulkhead (Bank)
252: lower electrode (anode)
253: hole transport layer
254: light emitting layer
255: upper electrode (cathode)
256: TFT
257: contact hole
258: interlayer insulating film
259: lower electrode
261: hollow

Claims (34)

하기 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위, 및 하기 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위를 포함하는, 폴리이미드 전구체와;
하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 적어도 어느 일방의 화합물과;
임의로, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물
을 포함하는, 수지 조성물로서,
하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량이, 상기 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 1,100 ppm 이하이거나, 혹은,
하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물과, 하기 일반식 (4) 중 n 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량이, 상기 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 1,300 ppm 이하인,
수지 조성물.
Figure 112019083666339-pct00047

{식 중, P1 은, 2 가의 유기기를 나타내고, P2 는, 4 가의 유기기를 나타내고, p 는 양의 정수를 나타낸다.}
Figure 112019083666339-pct00048

{식 중, P3 및 P4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, q 는, 1 ∼ 200 의 정수이다.}
Figure 112019083666339-pct00049

{식 중, m 은 1 이상의 정수이다.}
Figure 112019083666339-pct00050

{식 중, n 은 2 이상의 정수이다.}
A polyimide precursor comprising a structural unit represented by the following general formula (1) and a structural unit represented by the following general formula (2);
At least one compound in which m is an integer of 3 or more in the following general formula (3-1) or (3-2);
Optionally, a compound represented by the following general formula (4)
A resin composition comprising:
In the following general formula (3-1) or (3-2), the total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more is more than 0 ppm and 1,100 ppm or less, based on the mass of the resin composition, or
In the following general formula (3-1) or (3-2), the total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more and the compound in which n is an integer of 3 or more in general formula (4) is based on the mass of the resin composition, More than 0 ppm and 1,300 ppm or less,
Resin composition.
Figure 112019083666339-pct00047

{In the formula, P 1 represents a divalent organic group, P 2 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer.}
Figure 112019083666339-pct00048

{In the formula, P 3 and P 4 are each independently a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 5 carbon atoms or a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, and q is an integer of 1 to 200.}
Figure 112019083666339-pct00049

{In the formula, m is an integer of 1 or more.}
Figure 112019083666339-pct00050

{In the formula, n is an integer of 2 or more.}
제 1 항에 있어서,
상기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량이, 상기 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 300 ppm 이하인, 수지 조성물.
According to claim 1,
The total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more in the general formula (3-1) or (3-2), based on the mass of the resin composition, is more than 0 ppm and less than 300 ppm.
하기 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위, 및 하기 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위를 포함하는, 폴리이미드 전구체와;
하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 또는 4 인, 적어도 어느 일방의 화합물과;
임의로, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물
을 포함하는, 수지 조성물로서,
하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 인 화합물의 총량이, 상기 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 650 ppm 이하이거나, 혹은,
하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 4 인 화합물의 총량이, 상기 수지 조성물의 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 350 ppm 이하인,
수지 조성물.
Figure 112019083666339-pct00051

{식 중, P1 은, 2 가의 유기기를 나타내고, P2 는, 4 가의 유기기를 나타내고, p 는 양의 정수를 나타낸다.}
Figure 112019083666339-pct00052

{식 중, P3 및 P4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, q 는, 1 ∼ 200 의 정수이다.}
Figure 112019083666339-pct00053

{식 중, m 은 1 이상의 정수이다.}
Figure 112019083666339-pct00054

{식 중, n 은 2 이상의 정수이다.}
A polyimide precursor comprising a structural unit represented by the following general formula (1) and a structural unit represented by the following general formula (2);
At least either compound in which m is 3 or 4 in the following general formula (3-1) or (3-2);
Optionally, a compound represented by the following general formula (4)
A resin composition comprising:
In the following general formula (3-1) or (3-2), the total amount of the compound having m being 3 is more than 0 ppm and less than or equal to 650 ppm, based on the mass of the resin composition, or
In the following general formula (3-1) or (3-2), the total amount of the compound whose m is 4 is more than 0 ppm and less than 350 ppm, based on the mass of the resin composition,
Resin composition.
Figure 112019083666339-pct00051

{In the formula, P 1 represents a divalent organic group, P 2 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer.}
Figure 112019083666339-pct00052

{In the formula, P 3 and P 4 are each independently a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 5 carbon atoms or a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, and q is an integer of 1 to 200.}
Figure 112019083666339-pct00053

{In the formula, m is an integer of 1 or more.}
Figure 112019083666339-pct00054

{In the formula, n is an integer of 2 or more.}
하기 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위, 및 하기 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위를 포함하는, 폴리이미드 전구체와
하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 적어도 어느 일방의 화합물과;
임의로, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물
을 포함하는, 수지 조성물로서,
하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량이, 상기 수지 조성물 중의 고형분의 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 7,500 ppm 이하이고, 혹은,
하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물과, 하기 일반식 (4) 중 n 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량이, 상기 수지 조성물 중의 고형분의 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 8,600 ppm 이하인, 수지 조성물.
Figure 112019083666339-pct00055

{식 중, P1 은, 2 가의 유기기를 나타내고, P2 는, 4 가의 유기기를 나타내고, p 는 양의 정수를 나타낸다.}
Figure 112019083666339-pct00056

{식 중, P3 및 P4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, q 는, 1 ∼ 200 의 정수이다.}
Figure 112019083666339-pct00057

{식 중, m 은 1 이상의 정수이다.}
Figure 112019083666339-pct00058

{식 중, n 은 2 이상의 정수이다.}
A polyimide precursor comprising a structural unit represented by the following general formula (1) and a structural unit represented by the following general formula (2),
At least one compound in which m is an integer of 3 or more in the following general formula (3-1) or (3-2);
Optionally, a compound represented by the following general formula (4)
A resin composition comprising:
In the following general formula (3-1) or (3-2), the total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more is more than 0 ppm and 7,500 ppm or less, based on the mass of the solid content in the resin composition, or
In the following general formula (3-1) or (3-2), the total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more and the compound in which n is an integer of 3 or more in the general formula (4) is based on the mass of the solid content in the resin composition. Thus, the resin composition is more than 0 ppm and 8,600 ppm or less.
Figure 112019083666339-pct00055

{In the formula, P 1 represents a divalent organic group, P 2 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer.}
Figure 112019083666339-pct00056

{In the formula, P 3 and P 4 are each independently a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 5 carbon atoms or a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, and q is an integer of 1 to 200.}
Figure 112019083666339-pct00057

{In the formula, m is an integer of 1 or more.}
Figure 112019083666339-pct00058

{In the formula, n is an integer of 2 or more.}
하기 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위, 및 하기 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위를 포함하는, 폴리이미드 전구체와;
하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 또는 4 인, 적어도 어느 일방의 화합물과;
임의로, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물
을 포함하는, 수지 조성물로서,
하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 인 화합물의 총량이, 상기 수지 조성물 중의 고형분의 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 4,500 ppm 이하이거나, 혹은,
하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 4 인 화합물의 총량이, 상기 수지 조성물 중의 고형분의 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 2,500 ppm 이하인,
수지 조성물.
Figure 112019083666339-pct00059

{식 중, P1 은, 2 가의 유기기를 나타내고, P2 는, 4 가의 유기기를 나타내고, p 는 양의 정수를 나타낸다.}
Figure 112019083666339-pct00060

{식 중, P3 및 P4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, q 는, 1 ∼ 200 의 정수이다.}
Figure 112019083666339-pct00061

{식 중, m 은 1 이상의 정수이다.}
Figure 112019083666339-pct00062
A polyimide precursor comprising a structural unit represented by the following general formula (1) and a structural unit represented by the following general formula (2);
At least either compound in which m is 3 or 4 in the following general formula (3-1) or (3-2);
Optionally, a compound represented by the following general formula (4)
A resin composition comprising:
In the following general formula (3-1) or (3-2), the total amount of the compound whose m is 3 is more than 0 ppm and 4,500 ppm or less, based on the mass of the solid content in the resin composition, or
In the following general formula (3-1) or (3-2), the total amount of the compound whose m is 4 is more than 0 ppm and 2,500 ppm or less, based on the mass of the solid content in the resin composition,
Resin composition.
Figure 112019083666339-pct00059

{In the formula, P 1 represents a divalent organic group, P 2 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer.}
Figure 112019083666339-pct00060

{In the formula, P 3 and P 4 are each independently a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 5 carbon atoms or a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, and q is an integer of 1 to 200.}
Figure 112019083666339-pct00061

{In the formula, m is an integer of 1 or more.}
Figure 112019083666339-pct00062
제 1 항, 제 2 항 및 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 로 나타내는 화합물에 있어서, m 은 3 ∼ 5 의 정수인, 수지 조성물.
The method according to any one of claims 1, 2, and 4,
In the compound represented by the general formula (3-1) or (3-2), m is an integer of 3 to 5, the resin composition.
제 1 항, 제 2 항 및 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물에 있어서, n 은 3 ∼ 8 의 정수인, 수지 조성물.
The method according to any one of claims 1, 2, and 4,
In the compound represented by the general formula (4), n is an integer of 3 to 8, the resin composition.
제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 폴리이미드 전구체를 경화하여 얻어지는 폴리이미드 수지막이, 플렉시블 기판에 사용되는, 수지 조성물.
The method according to any one of claims 1 to 5,
A resin composition in which a polyimide resin film obtained by curing the polyimide precursor is used for a flexible substrate.
제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 폴리이미드 전구체를 경화하여 얻어지는 폴리이미드 수지막이, 플렉시블 디스플레이에 사용되는, 수지 조성물.
The method according to any one of claims 1 to 5,
A resin composition in which a polyimide resin film obtained by curing the polyimide precursor is used for a flexible display.
하기 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위, 및 하기 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위를 포함하는, 폴리이미드 전구체와;
하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 적어도 어느 일방의 화합물과;
임의로, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물
을 포함하는, 수지 조성물로서,
상기 수지 조성물은, 이하:
하기 일반식 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물과,
하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 적어도 어느 일방의 화합물과,
임의로, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물을 함유하는 원료 조성물을, 테트라카르복실산 2무수물 및 디아민과 중축합 반응시켜 폴리이미드 전구체를 제공하는 것을 포함하는 방법에 의해 제조되고,
상기 원료 조성물에 포함되는, 하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량은, 하기 일반식 (3-1), (3-2), (4) 및 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물의 합계 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 46,000 ppm 이하이거나, 혹은,
상기 원료 조성물에 포함되는, 하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물과, 하기 일반식 (4) 중 n 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량은, 상기 일반식 (3-1), (3-2), (4) 및 (5) 의 규소 함유 화합물의 합계 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 47,000 ppm 이하인,
수지 조성물.
Figure 112019083666339-pct00063

{식 중, P1 은, 2 가의 유기기를 나타내고, P2 는, 4 가의 유기기를 나타내고, p 는 양의 정수를 나타낸다.}
Figure 112019083666339-pct00064

{식 중, P3 및 P4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, q 는, 1 ∼ 200 의 정수이다.}
Figure 112019083666339-pct00065

{식 중, m 은 1 이상의 정수이다.}
Figure 112019083666339-pct00066

{식 중, n 은 2 이상의 정수이다.}
Figure 112019083666339-pct00067

{식 중, R1 은, 각각 독립적으로, 단결합 또는 탄소수 1 ∼ 10 의 2 가의 유기기이고, R2 및 R3 은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소기이고, R4 및 R5 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, R6 및 R7 은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 불포화 지방족 탄화수소기를 갖는 유기기이고, L1 및 L2 는, 각각 독립적으로, 아미노기, 산 무수물기, 이소시아네이트기, 카르복실기, 산 에스테르기, 산 할라이드기, 하이드록시기, 에폭시기, 또는 메르캅토기이고, i 및 j 는, 각각 독립적으로, 1 ∼ 200 의 정수이고, k 는, 0 ∼ 200 의 정수이고, 0.05 ≤ j/(i+j+k) ≤ 0.50 이다.}
A polyimide precursor comprising a structural unit represented by the following general formula (1) and a structural unit represented by the following general formula (2);
At least one compound in which m is an integer of 3 or more in the following general formula (3-1) or (3-2);
Optionally, a compound represented by the following general formula (4)
A resin composition comprising:
The resin composition is as follows:
A silicon-containing compound represented by the following general formula (5),
At least one compound in which m is an integer of 3 or more in the following general formula (3-1) or (3-2),
Optionally, a raw material composition containing a compound represented by the following general formula (4) is produced by a method comprising polycondensation reaction with tetracarboxylic dianhydride and diamine to provide a polyimide precursor,
The total amount of compounds in which m is an integer of 3 or more in the following general formulas (3-1) or (3-2) included in the raw material composition is the following general formulas (3-1), (3-2), (4) And, based on the total mass of the silicon-containing compound represented by (5), more than 0 ppm and 46,000 ppm or less, or
The total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more in the following general formula (3-1) or (3-2) and the compound in which n is an integer of 3 or more in the general formula (4) included in the raw material composition is the general formula Based on the total mass of the silicon-containing compounds of (3-1), (3-2), (4) and (5), more than 0 ppm and 47,000 ppm or less,
Resin composition.
Figure 112019083666339-pct00063

{In the formula, P 1 represents a divalent organic group, P 2 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer.}
Figure 112019083666339-pct00064

{In the formula, P 3 and P 4 are each independently a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 5 carbon atoms or a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, and q is an integer from 1 to 200.}
Figure 112019083666339-pct00065

{In the formula, m is an integer of 1 or more.}
Figure 112019083666339-pct00066

{In the formula, n is an integer of 2 or more.}
Figure 112019083666339-pct00067

{In the formula, R 1 is, independently, a single bond or a divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, R 2 and R 3 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and at least one Is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, R 4 and R 5 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, at least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, R 6 and R 7 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, at least one is an organic group having an unsaturated aliphatic hydrocarbon group, and L 1 and L 2 are each independently an amino group, an acid anhydride group, Isocyanate group, carboxyl group, acid ester group, acid halide group, hydroxy group, epoxy group, or mercapto group, i and j are each independently an integer of 1 to 200, k is an integer of 0 to 200 , 0.05 ≤ j / (i + j + k) ≤ 0.50.}
제 10 항에 있어서,
상기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 로 나타내는 화합물에 있어서, m 은 3 ∼ 5 의 정수인, 수지 조성물.
The method of claim 10,
In the compound represented by the general formula (3-1) or (3-2), m is an integer of 3 to 5, the resin composition.
제 10 항에 있어서,
상기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물에 있어서, n 은 3 ∼ 8 의 정수인, 수지 조성물.
The method of claim 10,
In the compound represented by the general formula (4), n is an integer of 3 to 8, the resin composition.
하기 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위, 및 하기 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위를 포함하는, 폴리이미드 전구체와;
하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 또는 4 인, 적어도 어느 일방의 화합물과;
임의로, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물
을 포함하는, 수지 조성물로서,
상기 수지 조성물은, 이하:
하기 일반식 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물과,
하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 또는 4 인, 적어도 어느 일방의 화합물과,
임의로, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물을 함유하는 원료 조성물을, 테트라카르복실산 2무수물 및 디아민과 중축합 반응시켜 폴리이미드 전구체를 제공하는 것을 포함하는 방법에 의해 제조되고,
상기 원료 조성물에 포함되는, 하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 인 화합물의 총량이, 하기 일반식 (3-1), (3-2), (4) 및 (5) 의 규소 함유 화합물의 합계 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 25,000 ppm 이하이거나, 혹은,
상기 원료 조성물에 포함되는, 하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 4 인 화합물의 총량이, 하기 일반식 (3-1), (3-2), (4) 및 (5) 의 규소 함유 화합물의 합계 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 15,000 ppm 이하인,
수지 조성물.
Figure 112019083666339-pct00068

{식 중, P1 은, 2 가의 유기기를 나타내고, P2 는, 4 가의 유기기를 나타내고, p 는 양의 정수를 나타낸다.}
Figure 112019083666339-pct00069

{식 중, P3 및 P4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, q 는, 1 ∼ 200 의 정수이다.}
Figure 112019083666339-pct00070

{식 중, m 은 1 이상의 정수이다.}
Figure 112019083666339-pct00071

{식 중, n 은 2 이상의 정수이다.}
Figure 112019083666339-pct00072

{식 중, R1 은, 각각 독립적으로, 단결합 또는 탄소수 1 ∼ 10 의 2 가의 유기기이고, R2 및 R3 은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소기이고, R4 및 R5 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, R6 및 R7 은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 불포화 지방족 탄화수소기를 갖는 유기기이고, L1 및 L2 는, 각각 독립적으로, 아미노기, 산 무수물기, 이소시아네이트기, 카르복실기, 산 에스테르기, 산 할라이드기, 하이드록시기, 에폭시기, 또는 메르캅토기이고, i 및 j 는, 각각 독립적으로, 1 ∼ 200 의 정수이고, k 는, 0 ∼ 200 의 정수이고, 0.05 ≤ j/(i+j+k) ≤ 0.50 이다.}
A polyimide precursor comprising a structural unit represented by the following general formula (1) and a structural unit represented by the following general formula (2);
At least either compound in which m is 3 or 4 in the following general formula (3-1) or (3-2);
Optionally, a compound represented by the following general formula (4)
A resin composition comprising:
The resin composition is as follows:
A silicon-containing compound represented by the following general formula (5),
At least either compound in which m is 3 or 4 in the following general formula (3-1) or (3-2),
Optionally, a raw material composition containing a compound represented by the following general formula (4) is produced by a method comprising polycondensation reaction with tetracarboxylic dianhydride and diamine to provide a polyimide precursor,
The total amount of the compound in which m is 3 in the following general formula (3-1) or (3-2) contained in the raw material composition is represented by the following general formulas (3-1), (3-2), (4) and Based on the total mass of the silicon-containing compound of (5), it is more than 0 ppm and 25,000 ppm or less, or
The total amount of compounds in which m is 4 in the following general formulas (3-1) or (3-2) contained in the raw material composition is represented by the following general formulas (3-1), (3-2), (4) and Based on the total mass of the silicon-containing compound (5), more than 0 ppm and 15,000 ppm or less,
Resin composition.
Figure 112019083666339-pct00068

{In the formula, P 1 represents a divalent organic group, P 2 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer.}
Figure 112019083666339-pct00069

{In the formula, P 3 and P 4 are each independently a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 5 carbon atoms or a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, and q is an integer of 1 to 200.}
Figure 112019083666339-pct00070

{In the formula, m is an integer of 1 or more.}
Figure 112019083666339-pct00071

{In the formula, n is an integer of 2 or more.}
Figure 112019083666339-pct00072

{In the formula, R 1 is, independently, a single bond or a divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, R 2 and R 3 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and at least one Is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, R 4 and R 5 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, at least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, R 6 and R 7 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, at least one is an organic group having an unsaturated aliphatic hydrocarbon group, and L 1 and L 2 are each independently an amino group, an acid anhydride group, An isocyanate group, a carboxyl group, an acid ester group, an acid halide group, a hydroxyl group, an epoxy group, or a mercapto group, i and j are each independently an integer from 1 to 200, and k is an integer from 0 to 200 , 0.05 ≤ j / (i + j + k) ≤ 0.50.}
제 10 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 일반식 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물의, L1 및 L2 가, 각각 독립적으로, 아미노기, 산 무수물기 및 에폭시기로 이루어지는 군에서 선택되는, 수지 조성물.
The method according to any one of claims 10 to 13,
The resin composition of the silicon-containing compound represented by the general formula (5), L 1 and L 2 are each independently selected from the group consisting of an amino group, an acid anhydride group and an epoxy group.
제 10 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 일반식 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물의, L1 및 L2 가, 아미노기인, 수지 조성물.
The method according to any one of claims 10 to 13,
The resin composition in which L 1 and L 2 of the silicon-containing compound represented by the general formula (5) is an amino group.
제 10 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 로 나타내는 화합물이, 상기 일반식 (3-1) 로 나타내는 화합물인, 수지 조성물.
The method according to any one of claims 10 to 13,
The resin composition, wherein the compound represented by the general formula (3-1) or (3-2) is a compound represented by the general formula (3-1).
제 10 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 테트라카르복실산 2무수물이, 피로멜리트산 2무수물, 3,3',4,4'-비페닐테트라카르복실산 2무수물, 4,4'-옥시디프탈산 무수물, 시클로헥산테트라카르복실산 2무수물, 및 시클로부탄테트라카르복실산 2무수물로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 하나인, 수지 조성물.
The method according to any one of claims 10 to 13,
The tetracarboxylic dianhydride is pyromellitic dianhydride, 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 4,4'-oxydiphthalic anhydride, cyclohexanetetracarboxylic acid A resin composition, which is at least one selected from the group consisting of dihydride and cyclobutanetetracarboxylic dianhydride.
제 10 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 디아민이, 4,4'-디아미노디페닐술폰, m-톨리딘, p-페닐렌디아민, 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘, 및 2,2'-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]프로판으로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 하나인, 수지 조성물.
The method according to any one of claims 10 to 13,
The diamine is 4,4'-diaminodiphenylsulfone, m-tolidine, p-phenylenediamine, 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine, and 2,2'-bis [4- (4-Aminophenoxy) phenyl] at least one member selected from the group consisting of propane, the resin composition.
하기 일반식 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물과,
하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 적어도 어느 일방의 화합물과,
임의로, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물을 함유하는 원료 조성물을, 테트라카르복실산 2무수물 및 디아민과 중축합 반응시켜 폴리이미드 전구체를 제공하는 것을 포함하는, 수지 조성물의 제조 방법으로서,
상기 원료 조성물에 포함되는, 하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량은, 하기 일반식 (3-1), (3-2), (4) 및 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물의 합계 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 46,000 ppm 이하이거나, 혹은,
상기 원료 조성물에 포함되는, 하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 이상의 정수인 화합물과, 하기 일반식 (4) 중 n 이 3 이상의 정수인 화합물의 총량은, 상기 일반식 (3-1), (3-2), (4) 및 (5) 의 규소 함유 화합물의 합계 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 47,000 ppm 이하인,
수지 조성물의 제조 방법.
Figure 112019083666339-pct00073

{식 중, m 은 1 이상의 정수이다.}
Figure 112019083666339-pct00074

{식 중, n 은 2 이상의 정수이다.}
Figure 112019083666339-pct00075

{식 중, R1 은, 각각 독립적으로, 단결합 또는 탄소수 1 ∼ 10 의 2 가의 유기기이고, R2 및 R3 은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소기이고, R4 및 R5 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, R6 및 R7 은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 불포화 지방족 탄화수소기를 갖는 유기기이고, L1 및 L2 는, 각각 독립적으로, 아미노기, 산 무수물기, 이소시아네이트기, 카르복실기, 산 에스테르기, 산 할라이드기, 하이드록시기, 에폭시기, 또는 메르캅토기이고, i 및 j 는, 각각 독립적으로, 1 ∼ 200 의 정수이고, k 는, 0 ∼ 200 의 정수이고, 0.05 ≤ j/(i+j+k) ≤ 0.50 이다.}
A silicon-containing compound represented by the following general formula (5),
At least one compound in which m is an integer of 3 or more in the following general formula (3-1) or (3-2),
Optionally, a method for producing a resin composition comprising providing a polyimide precursor by polycondensing a raw material composition containing a compound represented by the following general formula (4) with tetracarboxylic dianhydride and diamine,
The total amount of compounds in which m is an integer of 3 or more in the following general formulas (3-1) or (3-2) contained in the raw material composition is the following general formulas (3-1), (3-2), (4) And, based on the total mass of the silicon-containing compound represented by (5), more than 0 ppm and 46,000 ppm or less, or
The total amount of the compound in which m is an integer of 3 or more in the following general formula (3-1) or (3-2) and the compound in which n is an integer of 3 or more in the general formula (4) included in the raw material composition is the general formula Based on the total mass of the silicon-containing compounds of (3-1), (3-2), (4) and (5), more than 0 ppm and 47,000 ppm or less,
Method of manufacturing a resin composition.
Figure 112019083666339-pct00073

{In the formula, m is an integer of 1 or more.}
Figure 112019083666339-pct00074

{In the formula, n is an integer of 2 or more.}
Figure 112019083666339-pct00075

{In the formula, R 1 is, independently, a single bond or a divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, R 2 and R 3 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and at least one Is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, R 4 and R 5 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, at least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, R 6 and R 7 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, at least one is an organic group having an unsaturated aliphatic hydrocarbon group, and L 1 and L 2 are each independently an amino group, an acid anhydride group, An isocyanate group, a carboxyl group, an acid ester group, an acid halide group, a hydroxyl group, an epoxy group, or a mercapto group, i and j are each independently an integer from 1 to 200, and k is an integer from 0 to 200 , 0.05 ≤ j / (i + j + k) ≤ 0.50.}
제 19 항에 있어서,
상기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 로 나타내는 화합물에 있어서, m 은 3 ∼ 5 의 정수인, 수지 조성물의 제조 방법.
The method of claim 19,
In the compound represented by the general formula (3-1) or (3-2), m is an integer of 3 to 5, the method for producing a resin composition.
제 19 항에 있어서,
상기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물에 있어서, n 은 3 ∼ 8 의 정수인, 수지 조성물의 제조 방법.
The method of claim 19,
In the compound represented by the general formula (4), n is an integer of 3 to 8, the method for producing a resin composition.
하기 일반식 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물과,
하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 또는 4 인, 적어도 어느 일방의 화합물과,
임의로, 하기 일반식 (4) 로 나타내는 화합물을 함유하는 원료 조성물을, 테트라카르복실산 2무수물 및 디아민과 중축합 반응시켜 폴리이미드 전구체를 제공하는 것을 포함하는, 수지 조성물의 제조 방법으로서,
상기 원료 조성물에 포함되는, 하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 3 인 화합물의 총량이, 하기 일반식 (3-1), (3-2), (4) 및 (5) 의 규소 함유 화합물의 합계 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 25,000 ppm 이하이거나, 혹은,
상기 원료 조성물에 포함되는, 하기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 중 m 이 4 인 화합물의 총량이, 하기 일반식 (3-1), (3-2), (4) 및 (5) 의 규소 함유 화합물의 합계 질량을 기준으로 하여, 0 ppm 보다 많고 15,000 ppm 이하인,
수지 조성물의 제조 방법.
Figure 112019083666339-pct00076

{식 중, m 은 1 이상의 정수이다.}
Figure 112019083666339-pct00077

{식 중, n 은 2 이상의 정수이다.}
Figure 112019083666339-pct00078

{식 중, R1 은, 각각 독립적으로, 단결합 또는 탄소수 1 ∼ 10 의 2 가의 유기기이고, R2 및 R3 은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 탄소수 1 ∼ 5 의 1 가의 지방족 탄화수소기이고, R4 및 R5 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족기이고, R6 및 R7 은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 10 의 1 가의 유기기이고, 적어도 하나는 불포화 지방족 탄화수소기를 갖는 유기기이고, L1 및 L2 는, 각각 독립적으로, 아미노기, 산 무수물기, 이소시아네이트기, 카르복실기, 산 에스테르기, 산 할라이드기, 하이드록시기, 에폭시기, 또는 메르캅토기이고, i 및 j 는, 각각 독립적으로, 1 ∼ 200 의 정수이고, k 는, 0 ∼ 200 의 정수이고, 0.05 ≤ j/(i+j+k) ≤ 0.50 이다.}
A silicon-containing compound represented by the following general formula (5),
At least either compound in which m is 3 or 4 in the following general formula (3-1) or (3-2),
Optionally, a method for producing a resin composition comprising providing a polyimide precursor by polycondensing a raw material composition containing a compound represented by the following general formula (4) with tetracarboxylic dianhydride and diamine,
The total amount of the compound in which m is 3 in the following general formula (3-1) or (3-2) contained in the raw material composition is represented by the following general formulas (3-1), (3-2), (4) and Based on the total mass of the silicon-containing compound of (5), it is more than 0 ppm and 25,000 ppm or less, or
The total amount of compounds in which m is 4 in the following general formulas (3-1) or (3-2) contained in the raw material composition is represented by the following general formulas (3-1), (3-2), (4) and Based on the total mass of the silicon-containing compound (5), more than 0 ppm and 15,000 ppm or less,
Method of manufacturing a resin composition.
Figure 112019083666339-pct00076

{In the formula, m is an integer of 1 or more.}
Figure 112019083666339-pct00077

{In the formula, n is an integer of 2 or more.}
Figure 112019083666339-pct00078

{In the formula, R 1 is, independently, a single bond or a divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, R 2 and R 3 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and at least one Is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, R 4 and R 5 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, at least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, R 6 and R 7 are each independently a monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, at least one is an organic group having an unsaturated aliphatic hydrocarbon group, and L 1 and L 2 are each independently an amino group, an acid anhydride group, An isocyanate group, a carboxyl group, an acid ester group, an acid halide group, a hydroxyl group, an epoxy group, or a mercapto group, i and j are each independently an integer from 1 to 200, and k is an integer from 0 to 200 , 0.05 ≤ j / (i + j + k) ≤ 0.50.}
제 19 항 내지 제 22 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 일반식 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물의, L1 및 L2 가, 각각 독립적으로, 아미노기, 산 무수물기 및 에폭시기로 이루어지는 군에서 선택되는, 수지 조성물의 제조 방법.
The method according to any one of claims 19 to 22,
The method for producing a resin composition in which L 1 and L 2 of the silicon-containing compound represented by the general formula (5) are each independently selected from the group consisting of an amino group, an acid anhydride group, and an epoxy group.
제 19 항 내지 제 22 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 일반식 (5) 로 나타내는 규소 함유 화합물의, L1 및 L2 가, 아미노기인, 수지 조성물의 제조 방법.
The method according to any one of claims 19 to 22,
The method for producing a resin composition in which L 1 and L 2 of the silicon-containing compound represented by the general formula (5) are amino groups.
제 19 항 내지 제 22 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 일반식 (3-1) 또는 (3-2) 로 나타내는 화합물이, 상기 일반식 (3-1) 로 나타내는 화합물인, 수지 조성물의 제조 방법.
The method according to any one of claims 19 to 22,
The method for producing a resin composition, wherein the compound represented by the general formula (3-1) or (3-2) is a compound represented by the general formula (3-1).
제 19 항 내지 제 22 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 테트라카르복실산 2무수물이, 피로멜리트산 2무수물, 3,3',4,4'-비페닐테트라카르복실산 2무수물, 4,4'-옥시디프탈산 무수물, 시클로헥산테트라카르복실산 2무수물, 및 시클로부탄테트라카르복실산 2무수물로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 하나인, 수지 조성물의 제조 방법.
The method according to any one of claims 19 to 22,
The tetracarboxylic dianhydride is pyromellitic dianhydride, 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 4,4'-oxydiphthalic anhydride, cyclohexanetetracarboxylic acid A method for producing a resin composition, which is at least one selected from the group consisting of dihydride and cyclobutanetetracarboxylic dianhydride.
제 19 항 내지 제 22 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 디아민이, 4,4'-디아미노디페닐술폰, m-톨리딘, p-페닐렌디아민, 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘, 및 2,2'-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]프로판으로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 하나인, 수지 조성물의 제조 방법.
The method according to any one of claims 19 to 22,
The diamine is 4,4'-diaminodiphenylsulfone, m-tolidine, p-phenylenediamine, 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine, and 2,2'-bis [4- (4-Aminophenoxy) phenyl] at least one selected from the group consisting of propane, a method for producing a resin composition.
지지체의 표면 상에, 제 1 항 내지 제 5 항 및 제 10 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 도포하는 도포 공정과,
상기 수지 조성물을 가열하여 폴리이미드 수지막을 형성하는 막 형성 공정과,
상기 폴리이미드 수지막을 상기 지지체로부터 박리하는 박리 공정,
을 포함하는, 폴리이미드 필름의 제조 방법.
A coating step of applying the resin composition according to any one of claims 1 to 5 and 10 to 13 on the surface of the support,
A film forming step of heating the resin composition to form a polyimide resin film,
Peeling step of peeling the polyimide resin film from the support,
The manufacturing method of a polyimide film containing the.
제 28 항에 있어서,
상기 박리 공정에 앞서, 상기 지지체측으로부터 상기 수지 조성물에 레이저를 조사하는 조사 공정을 포함하는, 폴리이미드 필름의 제조 방법.
The method of claim 28,
A method for producing a polyimide film comprising an irradiation step of irradiating a laser to the resin composition from the support side prior to the peeling step.
지지체의 표면 상에, 제 1 항 내지 제 5 항 및 제 10 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 도포하는 도포 공정과,
상기 수지 조성물을 가열하여 폴리이미드 수지막을 형성하는 막 형성 공정과,
상기 폴리이미드 수지막 상에 소자를 형성하는 소자 형성 공정과,
상기 소자가 형성된 상기 폴리이미드 수지막을 상기 지지체로부터 박리하는 박리 공정,
을 포함하는, 디스플레이의 제조 방법.
A coating step of applying the resin composition according to any one of claims 1 to 5 and 10 to 13 on the surface of the support,
A film forming step of heating the resin composition to form a polyimide resin film,
An element forming process for forming an element on the polyimide resin film,
A peeling step of peeling the polyimide resin film on which the device is formed from the support,
A method of manufacturing a display comprising:
지지체의 표면 상에, 제 1 항 내지 제 5 항 및 제 10 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 도포하는 도포 공정과,
상기 수지 조성물을 가열하여 폴리이미드 수지막을 형성하는 막 형성 공정과,
상기 폴리이미드 수지막 상에 소자를 형성하는 소자 형성 공정,
을 포함하는, 적층체의 제조 방법.
A coating step of applying the resin composition according to any one of claims 1 to 5 and 10 to 13 on the surface of the support,
A film forming step of heating the resin composition to form a polyimide resin film,
An element forming process of forming an element on the polyimide resin film,
The manufacturing method of a laminated body containing a.
제 31 항에 있어서,
상기 소자가 형성된 상기 폴리이미드 수지막을 상기 지지체로부터 박리하는 공정을 추가로 포함하는, 적층체의 제조 방법.
The method of claim 31,
A method of manufacturing a laminate further comprising the step of peeling the polyimide resin film on which the device is formed from the support.
제 31 항에 기재된 방법으로 적층체를 제조하는 것을 포함하는, 플렉시블 디바이스의 제조 방법.A method for manufacturing a flexible device, comprising producing a laminate by the method according to claim 31. 제 1 항 내지 제 5 항 및 제 10 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물의 경화물인, 폴리이미드 필름.A polyimide film that is a cured product of the resin composition according to any one of claims 1 to 5 and 10 to 13.
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