KR102063680B1 - Display Panel Inspection Apparatus and Its Method - Google Patents

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Abstract

본 발명은 단위 액정표시패널의 절단면에 라인 조명을 조사하는 라인 조명부를 구비한 검사 장치 및 이의 검사 방법으로써 액정표시패널의 절단면에 형성된 크랙의 유무를 정밀히 검출하여 신속하고 경제성 있는 검사장치를 제공한다.The present invention provides an inspection apparatus having a line illumination unit for irradiating line illumination on a cut surface of a unit liquid crystal display panel and a method for inspecting the same. .

Description

표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법{Display Panel Inspection Apparatus and Its Method}Display Panel Inspection Apparatus and Its Method

본 발명은 표시패널의 검사 장치 및 검사 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection apparatus and an inspection method of a display panel.

본 발명은 표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 대면적의 모기판 상에 제작된 복수개의 표시 패널들을 개별적인 단위 표시 패널로 절단하고 절단된 단위 표시패널의 절단 면에 형성될 수 있는 크랙을 검사하는 장치 및 검사 방법에 관한 것이다. 최근 정보 디스플레이에 관한 관심이 고조되고 휴대가 가능한 정보매체를 이용하려는 요구가 높아지면서 기존의 표시장치인 브라운관(Cathode Ray Tube; CRT)을 대체하는 경량 박막형 평판표시장치(Flat Panel Display; FPD)에 대한 연구 및 상업화가 중점적으로 이루어지고 있다. 특히, 이러한 평판표시장치 중 액정표시장치(Liquid Crystal Display; LCD)는 액정의 광학적 이방성을 이용하여 이미지를 표현하는 장치로서, 해상도와 컬러표시 및 화질 등에서 우수하여 노트북이나 데스크탑 모니터 등에 활발하게 적용되고 있다.The present invention relates to an inspection apparatus and an inspection method of a display panel, and more particularly, a plurality of display panels fabricated on a large-area mother substrate are cut into individual unit display panels and formed on the cut surface of the cut unit display panel. The present invention relates to an apparatus and an inspection method for inspecting possible cracks. Recently, with increasing interest in information display and increasing demand for using a portable information medium, a lightweight flat panel display (FPD), which replaces a conventional display device, a cathode ray tube (CRT), is used. The research and commercialization of Korea is focused on. In particular, the liquid crystal display (LCD) of the flat panel display device is an image representing the image using the optical anisotropy of the liquid crystal, is excellent in the resolution, color display and image quality, and is actively applied to notebooks or desktop monitors have.

표시패널을 제조하기 위해서 먼저 박막트랜지스터기판과 컬러필터기판을 제조한 후 상기 박막트랜지스터기판과 상기 컬러필터기판을 조립 공정을 통해 접합시킨다. 그 후 상기 박막트랜지스터기판과 상기 컬러필터기판이 접합되면 절단 공정을 통해 각 단위 표시 패널로 분리하게 된다. 여기서 분리된 각 단위 표시 패널은 LCD 셀을 의미할 수 있다. 각 단위 패널은 LCD 셀이 분리되면 절단 공정을 통해 잘려진 에지면에 크랙이 발생될 수 있다.In order to manufacture the display panel, first, a thin film transistor substrate and a color filter substrate are manufactured, and then the thin film transistor substrate and the color filter substrate are bonded through an assembly process. After that, when the thin film transistor substrate and the color filter substrate are bonded to each other, the thin film transistor substrate is separated into unit display panels through a cutting process. Here, each of the unit display panels separated may mean an LCD cell. Each unit panel may have cracks on the edges cut through the cutting process when the LCD cells are separated.

상기 표시장치에 대해서 상세히 설명한다.The display device will be described in detail.

일반적인 표시장치는 구동회로 유닛(unit)을 포함하는 액정표시패널, 상기 액정표시패널의 하부에 설치되어 상기 액정표시패널에 빛을 방출하는 백라이트(backlight) 유닛, 상기 백라이트 유닛과 액정표시패널을 지지하는 몰드 프레임(mold frame) 및 케이스(case) 등으로 이루어져 있다. A general display device includes a liquid crystal display panel including a driving circuit unit, a backlight unit disposed under the liquid crystal display panel to emit light to the liquid crystal display panel, and supporting the backlight unit and the liquid crystal display panel. It consists of a mold frame (mold frame) and a case (case).

도1는 종래의 액정표시패널을 나타낸 도면이다.1 is a view showing a conventional liquid crystal display panel.

도1을 참조하여 상기 액정표시패널을 구체적으로 설명한다. The liquid crystal display panel will be described in detail with reference to FIG. 1.

상기 액정표시패널(2)은 액정 셀들이 매트릭스 형태로 배열되는 화상표시부(50)와 상기 화상표시부(50)의 게이트라인(7)들과 접속되는 게이트 패드부(8) 및 데이터라인(6)들과 접속되는 데이터 패드부(9)로 구성된다. 이때, 상기 게이트 패드부(8)와 데이터 패드부(9)는 컬러필터 기판과 중첩되지 않는 박막 트랜지스터 어레이 기판(3)의 가장자리 영역에 형성되며, 상기 게이트 패드부(8)는 게이트 구동부(미도시)로부터 공급되는 스캔신호를 화상표시부(50)의 게이트라인(7)들에 공급하고, 데이터 패드부(9)는 데이터 구동부(미도시)로부터 공급되는 화상정보를 화상표시부(50)의 데이터라인(6)들에 공급한다. 도면에 도시하지는 않았지만, 상기 컬러필터 기판(4)은 색상을 구현하는 적(Red; R), 녹(Green; G), 청(Blue; B)색의 서브컬러필터로 구성되는 컬러필터와 상기 서브컬러필터 사이를 구분하고 액정층을 투과하는 광을 차단하는 블랙매트릭스(black matrix), 그리고 상기 액정층에 전압을 인가하는 투명한 공통전극으로 이루어져 있다. 또한, 상기 어레이 기판(3)은 상기 기판 위에 종횡으로 배열되어 복수개의 화소영역을 정의하는 복수개의 게이트라인(7)과 데이터라인(6), 상기 게이트라인(7)과 데이터라인(6)의 교차영역에 형성된 스위칭소자인 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor; TFT) 및 상기 화소영역 위에 형성된 화소전극으로 구성된다. 이와 같이 구성된 상기 어레이 기판(3)과 컬러필터 기판(4)은 화상표시부(50)의 외곽에 형성된 실 패턴(5)에 의해 대향하도록 합착되어 액정표시패널(2)을 구성하며, 상기 어레이 기판(3)과 컬러필터 기판(4)의 합착은 상기 어레이 기판(3) 또는 컬러필터 기판(4)에 형성된 합착키를 통해 이루어진다. 일반적으로, 액정표시장치는 수율 향상을 도모하기 위해 대면적의 모기판에 박막 트랜지스터 어레이 기판(3)들을 형성하고, 별도의 모기판에 컬러필터 기판(4)들을 형성한 다음 두 개의 모기판을 합착함으로써 다수의 액정표시패널(2)들을 동시에 형성하게 되는데, 이때 상기 액정표시패널(2)들을 다수의 단위 액정표시패널로 절단하는 공정이 요구된다.The liquid crystal display panel 2 includes an image display unit 50 in which liquid crystal cells are arranged in a matrix, and a gate pad unit 8 and a data line 6 connected to gate lines 7 of the image display unit 50. It consists of a data pad part 9 connected to them. In this case, the gate pad portion 8 and the data pad portion 9 are formed in an edge region of the thin film transistor array substrate 3 which does not overlap the color filter substrate, and the gate pad portion 8 is a gate driver (not shown). Scan signal supplied from the image display unit 50 to the gate lines 7 of the image display unit 50, and the data pad unit 9 supplies image information supplied from the data driver (not shown) to the data of the image display unit 50. To the lines 6. Although not shown in the drawings, the color filter substrate 4 includes a color filter composed of sub-color filters of red (R), green (G), and blue (B) colors for implementing colors. It is composed of a black matrix for separating the sub-color filter and blocking the light passing through the liquid crystal layer, and a transparent common electrode for applying a voltage to the liquid crystal layer. In addition, the array substrate 3 includes a plurality of gate lines 7 and data lines 6 arranged vertically and horizontally on the substrate to define a plurality of pixel regions, and the gate lines 7 and data lines 6. A thin film transistor (TFT), which is a switching element formed in an intersection area, and a pixel electrode formed on the pixel area. The array substrate 3 and the color filter substrate 4 configured as described above are joined to face each other by the seal pattern 5 formed on the outer side of the image display unit 50 to form a liquid crystal display panel 2. The bonding of the 3 and the color filter substrate 4 is made through a bonding key formed on the array substrate 3 or the color filter substrate 4. In general, a liquid crystal display device forms thin film transistor array substrates 3 on a large area mother substrate, color filter substrates 4 on a separate mother substrate, and then forms two mother substrates. A plurality of liquid crystal display panels 2 are simultaneously formed by bonding, and a process of cutting the liquid crystal display panels 2 into a plurality of unit liquid crystal display panels is required.

한편 다수의 단위 액정표시패널로 절단하는 공정 후 절단면에 형성된 크랙을 검사하는 것이 필요하다. 상기 크랙은 상기 액정표시패널의 강성 테스트(test)시 액정표시패널을 파손시키는 원인을 제공한다. 즉, 액정표시패널의 강성 테스트 과정에서 상기 크랙의 정도가 진전됨으로써 상기 액정표시패널이 파손되는 불량이 발생하게 된다.On the other hand, it is necessary to inspect the crack formed on the cut surface after the step of cutting into a plurality of unit liquid crystal display panels. The crack provides a cause of damage to the liquid crystal display panel during a stiffness test of the liquid crystal display panel. That is, in the stiffness test process of the liquid crystal display panel, the degree of crack is advanced, thereby causing a defect in which the liquid crystal display panel is damaged.

이하 상기 액정표시패널의 크랙의 정도를 검사하는 장치 및 검사 방법을 상세히 설명한다.Hereinafter, an apparatus and an inspection method for inspecting the degree of cracking of the liquid crystal display panel will be described in detail.

도2는 종래의 액정표시패널의 크랙 검사장치를 나타낸 도면이다.2 is a view showing a crack inspection apparatus of a conventional liquid crystal display panel.

도2를 참조하면, 종래의 단위 액정표시패널의 크랙 검사장치는 이동 스테이지(10), 제1 및 제2 카메라 이동부(31, 32), 제1 및 제2 검사 카메라(41, 42)를 포함한다. 이동 스테이지(10)는 크랙 검사장치(1)에 삽입된 단위 액정표시패널(20)을 화살표 방향으로 이동 및 회전 시키는 역할을 한다. 상기 크랙 검사장치(1)의 A 영역으로 투입된 단위 액정표시패널은 B 영역으로 이동이 된다. B 영역으로 이동된 단위 액정표시패널은 절단 면은 제1 카메라 이동부(31)에 배치된 제1 검사 카메라(41)에 의하여 상기 단위 액정표시패널(20)의 일 측면이 촬영되고, 상기 제2 카메라 이동부(32)에 배치된 제2 검사 카메라(42)에 의하여 상기 단위 액정표시패널(20)의 타 측면이 촬영된다. 상기 단위 액정표시패널(20)이 가진 4 개의 측면 중 2 개의 측이 촬영되고, 상기 단위 액정표시패널(20)은 C 영역으로 이동되고 90도 회전을 하게 된다. 90도 회전된 상기 단위 액정표시패널(20)은 D 영역으로 이동하여 상기 단위 제1 및 제2 카메라 이동부(31, 32)에 배치된 제1 및 제2 검사 카메라(41, 42)에 의하여 촬영되지 않은 상기 단위 액정표시패널(20)의 나머지 측면 영역이 촬영되게 된다. 그리고 상기 단위 액정표시패널(20)은 E 영역으로 이동하여 다시 90도 회전하게 되고 배출구인 F 영역으로 이동하게 된다. Referring to FIG. 2, a crack inspection apparatus of a conventional unit liquid crystal display panel includes a moving stage 10, first and second camera moving parts 31 and 32, and first and second inspection cameras 41 and 42. Include. The movement stage 10 serves to move and rotate the unit liquid crystal display panel 20 inserted in the crack inspection apparatus 1 in the direction of the arrow. The unit liquid crystal display panel introduced into the A region of the crack inspection apparatus 1 is moved to the B region. In the unit liquid crystal display panel moved to region B, one side of the unit liquid crystal display panel 20 is photographed by the first inspection camera 41 disposed on the first camera moving unit 31. The other side of the unit liquid crystal display panel 20 is photographed by the second inspection camera 42 disposed on the two camera moving parts 32. Two sides of four sides of the unit liquid crystal display panel 20 are photographed, and the unit liquid crystal display panel 20 is moved to the C region and rotated 90 degrees. The unit liquid crystal display panel 20 rotated by 90 degrees is moved to the area D by the first and second inspection cameras 41 and 42 disposed in the unit first and second camera moving parts 31 and 32. The remaining side region of the unit liquid crystal display panel 20 which is not photographed is photographed. The unit liquid crystal display panel 20 moves to region E, rotates 90 degrees again, and moves to region F, which is an outlet.

상기 단위 액정표시패널(20)은 상기 스테이지(10)를 이동하면서 4개의 측면이 촬영되고 촬영된 이미지를 분석하여 상기 단위 액정표시패널(20) 상에 형성된 크랙의 유무와 그 정도를 검사하게 된다. 상기 단위 액정표시패널(20)의 크랙 검사에 사용되는 제1 및 제2 검사 카메라(41, 42)의 해상도는 검출하고자 하는 크랙의 사이즈에 따라서 달라질 수 있다. 즉 정밀한 측정을 위해서는 사용되는 검사 카메라의 해상도가 높아야 하고 이는 고가의 검사 카메라가 사용되어야 하는 문제가 되었다.The unit liquid crystal display panel 20 moves four stages while moving the stage 10, and analyzes the photographed images to examine the presence and extent of cracks formed on the unit liquid crystal display panel 20. . The resolution of the first and second inspection cameras 41 and 42 used for the crack inspection of the unit liquid crystal display panel 20 may vary depending on the size of the crack to be detected. In other words, for accurate measurement, the resolution of the inspection camera used must be high, which is a problem that expensive inspection cameras must be used.

본 발명은 단위 표시패널에 형성된 크랙의 검출 능력을 향상 시킨 검사 장치를 제공하고, 상기 단위 표시 패널에 형성된 크랙의 검출 시간을 단축 시킨 검사 장치를 제공하고, 이의 검사 방법을 제공한다.The present invention provides an inspection apparatus for improving the detection capability of cracks formed in the unit display panel, and provides an inspection apparatus for reducing the detection time of cracks formed in the unit display panel, and provides an inspection method thereof.

본 발명에 따른 단위 표시패널 검사 장치는 표시 패널이 투입되는 스테이지; 상기 표시 패널의 제1 내지 제4 측면에 라인 조명을 조사하는 라인 조명부; 상기 표시 패널의 상부면을 촬영하는 제1 검사 카메라; 상기 제1 검사 카메라로부터 촬영된 영상을 분석하여 상기 표시 패널에 형성된 크랙의 존부를 판단하는 분석부를 포함한다.An apparatus for inspecting a unit display panel according to the present invention includes: a stage into which a display panel is input; A line illumination unit radiating line illumination to first to fourth side surfaces of the display panel; A first inspection camera photographing an upper surface of the display panel; And an analyzer configured to analyze an image captured by the first inspection camera to determine whether cracks are formed on the display panel.

본 발명에 따른 단위 표시패널 검사 장치는 상기 라인 조명부를 이동시킬 수 있는 조명 이동부를 더 포함한다.The apparatus for inspecting a unit display panel according to the present invention further includes an illumination moving unit capable of moving the line illumination unit.

본 발명에 따른 단위 표시패널 검사 장치는, 상기 표시 패널의 제1 내지 제4 측면을 촬영하는 제2 검사 카메라; 상기 분석부에서 분석된 상기 표시 패널에 형성된 크랙의 위치 정보를 이용하여 상기 제2 검사 카메라의 위치를 제어하는 제어부를 더 포함한다.An apparatus for inspecting a unit display panel according to an exemplary embodiment of the present invention includes: a second inspection camera photographing first to fourth side surfaces of the display panel; The display apparatus may further include a controller configured to control the position of the second inspection camera by using position information of the crack formed on the display panel analyzed by the analyzer.

본 발명에 따른 단위 표시패널 검사 장치는 상기 제2 검사 카메라를 이동시킬 수 있는 카메라 이동부를 더 포함한다.The apparatus for inspecting a unit display panel according to the present invention further includes a camera moving unit capable of moving the second inspection camera.

본 발명에 따른 단위 표시패널 검사 장치는 상기 제2 검사 카메라는 상기 제1 검사 카메라보다 해상도가 높다.In the unit display panel inspection apparatus according to the present invention, the second inspection camera has a higher resolution than the first inspection camera.

본 발명에 따른 단위 표시패널 검사 장치는 표시 패널을 표시 패널 검사 장치에 투입하는 단계; 상기 표시 패널의 제1 내지 제4 측면에 라인 조명을 조사하는 단계; 상기 표시 패널의 상부면을 촬영하여 제1 영상을 생성하는 단계; 및 상기 제1 영상을 분석하여 상기 표시 패널에 형성된 크랙의 위치 정보를 분석하는 단계; 를 포함한다.The unit display panel inspection apparatus according to the present invention comprises the steps of inputting the display panel to the display panel inspection device; Irradiating line illumination on first to fourth side surfaces of the display panel; Photographing an upper surface of the display panel to generate a first image; Analyzing position information of cracks formed on the display panel by analyzing the first image; It includes.

본 발명에 따른 단위 표시패널 검사 장치는 상기 위치 정보를 바탕으로 상기 표시 패널의 크랙이 형성된 영역을 촬영하여 제2 영상을 생성하는 단계; 및 상기 제2 영상을 분석하여 상기 표시 패널의 불량 여부를 분석하는 단계를 더 포함한다.An apparatus for inspecting a unit display panel according to an exemplary embodiment of the present invention may include: generating a second image by photographing an area where a crack of the display panel is formed based on the position information; And analyzing whether the display panel is defective by analyzing the second image.

본 발명은 단위 표시 패널의 절단면에 라인 조명을 조사하는 라인 조명부를 구비한 검사 장치 및 이의 검사 방법으로써 표시 패널의 절단면에 형성된 크랙의 유무를 정밀히 검출하여 신속하고 경제성 있는 검사장치를 제공한다.The present invention provides an inspection apparatus having a line illumination unit for irradiating line illumination on the cut surface of the unit display panel, and an inspection apparatus having a rapid and economical detection by precisely detecting the presence or absence of cracks formed on the cut surface of the display panel.

도1는 종래의 액정표시패널을 나타낸 도면이다.
도2는 종래의 액정표시패널의 크랙 검사장치를 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 단위 표시패널의 검사 장치를 나타낸 도면이다.
도 4는 본 발명에 따른 표시 패널 검사 장치에서 라인 조명부와 제1 검사 카메라를 나타낸 도면이다.
도 5 및 6은 제1 내지 제4 라인 조명부(401~404) 및 제1 검사 카메라(503)를 통해서 단위 표시 패널(200)의 크랙을 검사하는 원리를 나타낸 도면이다.
도 7은 본 발명이 제2 실시예에 따른 단위 표시 패널의 검사 장치를 나타낸 도면이다.
도 8은 본 발명의 단위 표시 패널의 검사 과정을 나타낸 흐름도이다.1 is a view showing a conventional liquid crystal display panel.
2 is a view showing a crack inspection apparatus of a conventional liquid crystal display panel.
3 is a diagram illustrating an inspection apparatus of a unit display panel according to a first exemplary embodiment of the present invention.
4 is a view illustrating a line lighting unit and a first inspection camera in the display panel inspection apparatus according to the present invention.
5 and 6 illustrate a principle of inspecting cracks of the unit display panel 200 through the first to fourth line lighting units 401 to 404 and the first inspection camera 503.
7 is a diagram illustrating an inspection apparatus of a unit display panel according to a second embodiment of the present invention.
8 is a flowchart illustrating an inspection process of a unit display panel according to the present invention.

이하, 본 발명의 실시예에 의한 단위 표시 패널 검사 장치의 도면을 참고하여 상세하게 설명한다. 다음에 소개되는 실시 예들은 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 예로서 제공되는 것이다. 따라서, 본 발명은 이하 설명되는 실시 예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 그리고, 도면들에 있어서, 장치의 크기 및 두께 등은 편의를 위하여 과장되어 표현될 수도 있다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조 번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.Hereinafter, a unit display panel inspection apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The following embodiments are provided as examples to sufficiently convey the spirit of the present invention to those skilled in the art. Accordingly, the present invention is not limited to the embodiments described below and may be embodied in other forms. In the drawings, the size and thickness of the device may be exaggerated for convenience. Like numbers refer to like elements throughout the specification.

도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 단위 표시패널의 검사 장치를 나타낸 도면이다.3 is a diagram illustrating an inspection apparatus of a unit display panel according to a first exemplary embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 단위 표시패널의 검사 장치는 스테이지(100), 이동부(101), 제1 내지 제4 조명 이동부(301, 302, 303, 304), 제1 내지 제4 라인 조명부(401, 402, 403, 404), 제1 카메라 이동부(501, 502) 및 제1 검사 카메라(503)를 포함할 수 있다. Referring to FIG. 3, the inspection apparatus of the unit display panel according to the first exemplary embodiment may include a stage 100, a moving unit 101, and first to fourth lighting moving units 301, 302, 303, and 304. The first to fourth line lighting units 401, 402, 403, and 404, the first camera moving units 501 and 502, and the first inspection camera 503 may be included.

상기 단위 표시 패널(200)은 단위 표시 패널의 검사 장치(1)인 스테이지(100)의 A 영역에 투입되어 상기 스테이지(100)의 이동부(101)를 따라서 A, B C 영역 순으로 이동할 수 있다. A 영역에 투입된 단위 단위 표시 패널(200)은 얼라인(Aline)되고 상기 B영역으로 이동될 수 있다. 상기 B영역으로 이동된 단위 표시 패널(200)은 제1 검사 카메라(503)에 의하여 검사가 수행될 수 있다. 상기 단위 표시 패널(200)의 절단면인 4개의 측면은 제1 내지 4 라인 조명부(401~404)에 의하여 조명이 조사될 수 있고, 상기 단위 표시 패널(200)의 상면은 제1 검사 카메라(503)를 통해서 검사될 수 있다. The unit display panel 200 may be injected into an area A of the stage 100, which is the inspection device 1 of the unit display panel, and move along the moving unit 101 of the stage 100 in order of area A and BC. . The unit display panel 200 in the A area may be aligned and moved to the B area. The unit display panel 200 moved to the area B may be inspected by the first inspection camera 503. Four side surfaces, which are cut surfaces of the unit display panel 200, may be illuminated by first to fourth line lighting units 401 to 404, and an upper surface of the unit display panel 200 may be a first inspection camera 503. Can be checked through).

제1 내지 제4 조명 이동부(301~304)는 제1 내지 제4 라인 조명부(401~404)를 고정할 수 있고, 상기 제1 내지 제4 라인 조명부(401~404)가 이동될 수 있는 수단을 구비할 수 있다. 상기 제1 내지 제3 조명 이동부(301~303)를 구체적으로 살펴보면, 상기 제1 조명 이동부(301)의 양 측면으로부터 연장 형성된 제2 및 제3 조명 이동부(302, 303)를 구비할 수 있고, 상기 제1 조명 이동부(301)에는 제1 라인 조명부(401)가 배치될 수 있고, 상기 제2 및 제3 조명 이동부(302, 303) 각각에는 제2 및 제3 라인 조명부(402, 403)가 배치될 수 있다. 검사되는 단위 표시 패널(200)의 사이즈에 따라서 상기 제1 내지 제3 라인 조명부(401~403)가 상기 제1 내지 제3 조명 이동부(301~303)를 따라 이동하면서 상기 단위 표시 패널(200)의 측면 전체에 조명이 조사될 수 있도록 위치가 조절될 수 있다. 상기 제4 조명 이동부(304)에는 상기 제4 라인 조명부(404)가 배치될 수 있고, 상기 제4 라인 조명부(404)는 상기 제4 조명 이동부(304) 상에서 이동될 수 있고 이를 통해 검사되는 단위 표시 패널(200)의 일 측면 전부에 조명이 조사될 수 있도록 할 수 있다.The first to fourth illumination moving parts 301 to 304 may fix the first to fourth line lighting parts 401 to 404, and the first to fourth line lighting parts 401 to 404 may be moved. Means may be provided. Looking at the first to third light moving unit (301 ~ 303) in detail, the second and third light moving unit (302, 303) extending from both sides of the first light moving unit (301) will be provided. The first light moving unit 301 may include a first line lighting unit 401, and each of the second and third light moving units 302 and 303 may include a second and third line lighting unit ( 402 and 403 may be disposed. The first to third line illumination units 401 to 403 move along the first to third illumination moving units 301 to 303 according to the size of the unit display panel 200 to be inspected. The position can be adjusted so that the light is irradiated to the entire side of the). The fourth line lighting unit 304 may be disposed with the fourth line lighting unit 404, and the fourth line lighting unit 404 may be moved on the fourth lighting moving unit 304 and inspected through the fourth lighting unit 304. Illumination may be applied to all of one side of the unit display panel 200.

라인 조명은 레이저빔을 선형으로 검사 대상물에 조사하여 라인 조명을 생성할 수 있다. 구체적으로 라인 조명은 직진성이 강한 빛이 라인으로 조사되는 장치로써 라인 조명을 표시 패널의 측면에 조사하는 경우 빛의 선이 상기 표시 패널의 외곽부를 비추게 된다.Line illumination may generate line illumination by irradiating a laser beam linearly to the inspection object. In detail, the line light is a device in which light having a strong straightness is irradiated to the line. When the line light is irradiated to the side of the display panel, the line of light shines on the outer portion of the display panel.

상기 제1 내지 제4 라인 조명부(404)에 의하여 상기 단위 표시 패널(200)의 4개의 측면부인 절단면에 조명이 조사되고 상기 단위 표시 패널(200) 상부에 배치된 제1 검사 카메라(503)에 의하여 상기 단위 표시 패널(200)은 촬영할 수 있다. The first to fourth line illumination units 404 illuminate the cut surfaces, which are four side surfaces of the unit display panel 200, to the first inspection camera 503 disposed on the unit display panel 200. As a result, the unit display panel 200 may be photographed.

상기 제1 검사 카메라(503)는 제1 카메라 연결부(502)를 통해서 제1 카메라 이동부(501)와 연결할 수 있다. The first inspection camera 503 may be connected to the first camera moving part 501 through the first camera connection part 502.

검사에 사용되는 단위 표시 패널(200)의 사이즈에 따라서 제1 검사 카메라(503)는 이동될 필요가 있고 이 경우 상기 제1 카메라 이동부(501)의 제어에 의하여 이동될 수 있다. 상기 제1 검사 카메라(503)는 Area Camera가 되어 상기 단위 표시 패널(200)의 상부면 전체를 촬영할 수 있다.The first inspection camera 503 needs to be moved according to the size of the unit display panel 200 used for the inspection, and in this case, the first inspection camera 503 may be moved under the control of the first camera moving unit 501. The first inspection camera 503 may become an area camera to capture the entire upper surface of the unit display panel 200.

상기 제1 검사 카메라(503)에 의하여 촬영된 상기 단위 표시 패널(200)은 C 영역인 배출구를 통해서 배출되면 단위 표시 패널 검사가 종료될 수 있다.When the unit display panel 200 photographed by the first inspection camera 503 is discharged through the discharge opening which is a region C, the unit display panel inspection may be terminated.

한편 상기 단위 표시 패널 검사장치(1)는 상기 제1 검사 카메라(503)를 통하여 촬영된 영상을 분석하여 상기 단위 표시 패널(200) 상에 형성된 크랙의 존부를 판단하는 분석부(미도시)를 더 포함할 수 있고, 상기 분석부는 상기 단위 표시 패널 검사장치(1) 외부에 설치될 수 도 있다. 상기 분석부는 상기 단위 표시 패널(200) 상에 크랙이 존재하는지 여부를 분석하여 상기 단위 표시 패널(200)의 불량 유무를 판단할 수 있다.Meanwhile, the unit display panel inspecting apparatus 1 analyzes an image photographed by the first inspection camera 503 to determine an analysis unit (not shown) that determines whether cracks are formed on the unit display panel 200. The analysis unit may be further provided outside the unit display panel inspecting apparatus 1. The analyzer may determine whether the unit display panel 200 is defective by analyzing whether cracks exist on the unit display panel 200.

도 4는 본 발명에 따른 표시 패널 검사 장치에서 라인 조명부와 제1 검사 카메라를 나타낸 도면이다.4 is a view illustrating a line lighting unit and a first inspection camera in the display panel inspection apparatus according to the present invention.

도 4를 참조하면, 단위 표시 패널(200)은 크랙(201)를 포함하고 있고, 제1 내지 제4 라인 조명부(401~404)에 의하여 조사된 라인 조명은 상기 단위 표시 패널(200)의 4개의 측면부에 조사되는 경우 상기 크랙(201)은 산란 효과에 의하여 상기 크랙(201)은 증폭되어 나타나므로 상기 단위 표시 패널(200) 상부에 배치된 제1 검사 카메라(503)에 의하여 용이하게 촬영될 수 있다. 상기 크랙(201)이 매우 미세한 크기를 가진다고 하여도 라인 조명에 의한 산란 현상에 따라서 상기 크랙(201) 주변으로 빛 번짐이 상기 제1 검사 카메라(503)를 통해서 검출될 수 있다.Referring to FIG. 4, the unit display panel 200 includes a crack 201, and the line illumination irradiated by the first to fourth line illumination units 401 to 404 is 4 of the unit display panel 200. When the cracks 201 are irradiated to the side portions of the cracks 201, the cracks 201 are amplified by the scattering effect, so that the cracks 201 may be easily photographed by the first inspection camera 503 disposed on the unit display panel 200. Can be. Even if the crack 201 has a very fine size, light bleeding around the crack 201 may be detected through the first inspection camera 503 according to the scattering phenomenon caused by line illumination.

도 5 및 6은 제1 내지 제4 라인 조명부(401~404) 및 제1 검사 카메라(503)를 통해서 단위 표시 패널(200)의 크랙을 검사하는 원리를 나타낸 도면이다.5 and 6 illustrate a principle of inspecting cracks of the unit display panel 200 through the first to fourth line lighting units 401 to 404 and the first inspection camera 503.

도 5 및 6을 참고하여 제1 내지 제4 라인 조명부(401~404) 및 제1 검사 카메라(503)를 통해서 단위 표시 패널(200)의 크랙을 검사하는 원리를 구체적으로 살펴본다.5 and 6, the principle of inspecting cracks of the unit display panel 200 through the first to fourth line lighting units 401 to 404 and the first inspection camera 503 will be described in detail.

도 5 및 6을 참고하면, 단위 표시 패널(200)의 절단면에 크랙이 형성되지 않은 경우 도 5와 같이 상기 제1 내지 제4 라인 조명부(401~404)로부터 방출된 빛은 상기 단위 표시 패널(200)를 그대로 투과할 수 있다. 그러나 도 6과 같이 단위 표시 패널(200)의 절단면 상에 크랙이 형성되어 있는 경우에는 상기 제1 내지 제4 라인 조명부(401~404)로부터 방출된 빛은 상기 단위 표시 패널(200)의 절단면에서 크랙이 형성된 지점에서 산란 현상이 일어날 수 있다. 따라서 제1 검사 카메라(503)에 의하여 이를 촬영할 수 있고, 상기 단위 표시 패널(200)의 절단면 중에서 크랙이 형성된 지점을 쉽게 검출할 수 있다. Referring to FIGS. 5 and 6, when no crack is formed on the cut surface of the unit display panel 200, the light emitted from the first to fourth line lighting units 401 ˜ 404 may be emitted as shown in FIG. 5. 200 may be transmitted as it is. However, when a crack is formed on the cut surface of the unit display panel 200 as shown in FIG. 6, the light emitted from the first to fourth line lighting units 401 to 404 is cut off on the cut surface of the unit display panel 200. Scattering may occur at the point where the crack is formed. Therefore, the first inspection camera 503 can photograph the image and easily detect a point where a crack is formed in the cut surface of the unit display panel 200.

상기 단위 표시 패널(200)의 절단면에 형성된 크랙이 1um 이하의 작은 사이즈를 가진다고 하여도 상기 라인 조명을 받게 되면 산란 현상이 일어나게 되고 이러한 현상은 고 해상도의 검사 카메라가 아니더라도 제1 검사 카메라(503)를 통해서 촬영될 수 있다. 따라서 종래의 단위 표시 패널 검사 장치와 비교해 적은 수의 검사 카메라가 필요하게 되고, 검사에 사용되는 검사 카메라로써 저 해상도의 카메라를 사용할 수 있기 때문에 검사 비용을 절감하는 효과 및 정밀한 불량 검출 시스템을 구비할 수 있게 된다. 뿐만 아니라 검사 대상인 단위 표시 패널(200)을 90도 이동시키지 않고도 상기 단위 표시 패널(200)의 4개의 측면을 전부 검사할 수 있기 때문에 검사 시간을 줄이는 효과를 가진다.Even if the crack formed on the cut surface of the unit display panel 200 has a small size of 1 μm or less, scattering may occur when the line is illuminated. This phenomenon may be caused by the first inspection camera 503 even though it is not a high resolution inspection camera. Can be taken through. As a result, a smaller number of inspection cameras are required as compared to a conventional unit display panel inspection apparatus, and since a low resolution camera can be used as an inspection camera used for inspection, an effect of reducing inspection cost and a precise defect detection system may be provided. It becomes possible. In addition, since all four sides of the unit display panel 200 can be inspected without moving the unit display panel 200 to be inspected 90 degrees, the inspection time can be reduced.

도 7은 본 발명이 제2 실시예에 따른 단위 표시 패널의 검사 장치를 나타낸 도면이다. 7 is a diagram illustrating an inspection apparatus of a unit display panel according to a second embodiment of the present invention.

도 7을 참고하면, 본 발명의 제2 실시예에 따른 단위 표시 패널 검사 장치는 스테이지(100), 이동부(101), 분석부(700), 제어부(800), 제1 내지 제4 조명 이동부(301~304), 제1 내지 제4 라인 조명부(401~404), 제1 내지 제3 카메라 이동부(501, 601, 604) 및 제1 내지 제3 검사 카메라(503, 603, 605)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 7, the apparatus for inspecting a unit display panel according to the second exemplary embodiment of the present invention may include a stage 100, a moving unit 101, an analyzing unit 700, a control unit 800, and first to fourth illumination movements. Part 301-304, the 1st-4th line illumination part 401-404, the 1st-3rd camera moving parts 501, 601, 604, and the 1st-3rd inspection camera 503, 603, 605 It may include.

상기 제1 내지 제4 조명 이동부(301~304)에 배치된 제1 내지 제4 라인 조명부(401~404)는 단위 표시 패널(200)의 4개의 측면에 라인 조명을 조사할 수 있다. 라인 조명이 조사된 상태에서 상기 단위 표시 패널(200)의 상부면에 배치된 제1 검사 카메라(503)에 의하여 상기 단위 표시 패널(200)의 상부면이 촬영될 수 있다. The first to fourth line illumination units 401 to 404 disposed in the first to fourth illumination moving units 301 to 304 may radiate line illumination to four side surfaces of the unit display panel 200. The upper surface of the unit display panel 200 may be photographed by the first inspection camera 503 disposed on the upper surface of the unit display panel 200 while the line illumination is irradiated.

예를 들어 상기 단위 표시 패널(200)의 절단면의 X 및 Y 영역에 크랙이 형성된 경우를 살펴본다. 이 경우 상기 크랙에 의하여 빛이 산란되고, 이는 제1 검사 카메라(503)에 의하여 촬영될 수 있다. 상기 제1 검사 카메라(503)를 통해서 촬영된 영상은 분석부(700)에서 분석되어 상기 단위 표시 패널(200)에 포함된 크랙의 위치를 검출할 수 있다. 상기 단위 표시 패널(200)에 포함된 크랙의 위치에 대한 정보는 제어부(800)에 제공될 수 있다.For example, a case in which cracks are formed in X and Y regions of the cut surface of the unit display panel 200 will be described. In this case, light is scattered by the crack, which may be photographed by the first inspection camera 503. An image captured by the first inspection camera 503 may be analyzed by the analyzer 700 to detect a position of a crack included in the unit display panel 200. Information about the position of the crack included in the unit display panel 200 may be provided to the controller 800.

B 영역에 제1 검사 카메라(503)를 통해서 촬영된 단위 표시 패널(200)은 C 영역으로 이동하여 제2 및 제3 검사 카메라(603, 605)에 의하여 검사 될 수 있다. The unit display panel 200 photographed through the first inspection camera 503 in the region B may move to the region C and be inspected by the second and third inspection cameras 603 and 605.

상기 제2 및 제3 검사 카메라(603, 605)는 상기 제어부(800)에 의하여 상기 단위 표시 패널(200)에 형성된 크랙이 있는 지점으로 이동하면서 상기 크랙을 촬영할 수 있다. 상기 제어부(800)는 상기 단위 표시 패널(200)에 형성된 크랙의 위치 정보를 가지고 있고 이를 바탕으로 상기 제2 및 제3 검사 카메라(603, 605)를 제어하여 상기 제2 및 제3 검사 카메라(603, 605)가 크랙이 형성된 지점으로 신속히 이동하게 할 수 있다.The second and third inspection cameras 603 and 605 may take a picture of the crack while moving to a point where a crack is formed in the unit display panel 200 by the controller 800. The controller 800 has position information of cracks formed in the unit display panel 200, and controls the second and third inspection cameras 603 and 605 based on the position information of the cracks formed on the unit display panel 200. 603 and 605 can be quickly moved to the point where the crack is formed.

상기 제2 검사 카메라(603)는 제2 연결부(602)를 통하여 제2 카메라 이동부(601)에 연결될 수 있다. 상기 제2 카메라 이동부(601)는 상기 제2 연결부(602)를 이동시킬 수 있고 결과적으로 상기 제2 검사 카메라(603)가 이동될 수 있도록 할 수 있다. 상기 제2 검사 카메라(603)는 상기 제2 연결부(602) 상에서 회전 이동할 수 있고, 이 경우 상기 단위 표시 패널(200)의 제1 측면(202), 제2 측면(203) 및 제3 측면(204)를 모두 촬영할 수 있다. 그리고 상기 제 3 검사 카메라(605)는 제3 카메라 이동부(604)에 연결되어 상기 단위 표시 패널(200)의 제4 측면(205)를 검사할 수 있다. 상기 제3 검사 카메라(605)는 상기 제3 카메라 이동부(604)상에서 이동할 수 있도록 하여 상기 단위 표시 패널(200)의 제4 측면(205)을 모두 촬영할 수 있다.The second inspection camera 603 may be connected to the second camera moving unit 601 through a second connecting unit 602. The second camera moving unit 601 may move the second connecting unit 602 and as a result, the second inspection camera 603 may be moved. The second inspection camera 603 may be rotatable on the second connection part 602, and in this case, the first side surface 202, the second side surface 203, and the third side surface of the unit display panel 200 ( 204 can be taken. The third inspection camera 605 may be connected to the third camera moving unit 604 to inspect the fourth side surface 205 of the unit display panel 200. The third inspection camera 605 may move on the third camera moving unit 604 to capture all of the fourth side surfaces 205 of the unit display panel 200.

한편 상기 제2 및 제3 검사 카메라(603, 605)는 상기 제1 검사 카메라(503)보다 더 높은 해상도를 가질 수 있다. 상기 제1 검사 카메라(503)를 통하여 단위 표시 패널(200) 상에 형성된 크랙의 위치를 빠르게 판단하고 상기 제2 및 제3 검사 카메라(603, 605)를 통해서 상기 크랙을 정밀하게 검사할 수 있다. 상기 제2 및 제3 검사 카메라(603, 605)는 상기 크랙의 사이즈 등을 정밀히 촬영하여 상기 크랙이 단위 표시 패널(200)이 불량으로 취급될 정도라고 볼 수 있는지에 관한 정보를 제공하는 역할을 할 수 있다.The second and third inspection cameras 603 and 605 may have a higher resolution than the first inspection camera 503. The cracks formed on the unit display panel 200 may be quickly determined by the first inspection camera 503, and the cracks may be precisely inspected by the second and third inspection cameras 603 and 605. . The second and third inspection cameras 603 and 605 serve to accurately capture the size of the cracks and provide information on whether the cracks can be regarded as the extent that the unit display panel 200 is treated as defective. can do.

종래의 단위 표시 패널 검사장치는 고 해상도를 가진 검사 카메라를 이용하여 단위 표시 패널의 측면 전부를 촬영해야 하므로 많은 시간이 소요되는 문제가 있었으나 본 발명의 제2 실시예에 따른 단위 표시 패널 검사 장치(1)는 제1 검사 카메라(503)를 통해서 단위 표시 패널(200) 상에 형성된 크랙를 촬영하고 분석부(700)를 통해서 상기 크랙의 위치 정보를 분석하고, 제어부(800)를 통해서 크랙이 형성된 지점으로 제2 및 제3 카메라(603, 605)를 신속히 이동시켜 상기 크랙를 정밀히 촬영하는 과정을 거치므로 단위 표시 패널(200)를 신속하게 검사하는 효과를 가질 수 있고, 그 외 제1 실시예에서 설명한 효과를 그대로 가질 수 있다.Conventional unit display panel inspection apparatus has a problem that takes a lot of time because the entire side of the unit display panel must be photographed using an inspection camera having a high resolution, but the unit display panel inspection apparatus according to the second embodiment of the present invention ( 1) photographs a crack formed on the unit display panel 200 through the first inspection camera 503, analyzes the location information of the crack through the analysis unit 700, and a point where the crack is formed through the controller 800. The second and third cameras 603 and 605 are quickly moved to accurately photograph the cracks, so that the unit display panel 200 can be quickly inspected. You can have the effect as it is.

단위 표시 패널(200)은 B, C 영역에서 검사를 마치고 D 영역인 배출구로 빠져 나오면서 검사가 종료될 수 있다.The unit display panel 200 may finish the inspection in regions B and C and exit the outlet of the region D to terminate the inspection.

도 8은 본 발명의 단위 표시 패널의 검사 과정을 나타낸 흐름도이다.8 is a flowchart illustrating an inspection process of a unit display panel according to the present invention.

도 8을 참조하면, 본 발명에 따른 단위 액정표시패널 검사 단계는 기판투입단계(1000), 제1 및 제2 촬영 단계(1001, 1002), 분석단계(1004), 제어 단계(1005) 및 불량여부판정단계(1003)을 포함할 수 있다. 여기서 기판은 표시 패널을 의미할 수 있다.Referring to FIG. 8, the unit liquid crystal display panel inspection step according to the present invention includes a substrate input step 1000, first and second imaging steps 1001 and 1002, an analysis step 1004, a control step 1005, and a defect. It may include a determination step (1003). Here, the substrate may mean a display panel.

상기 기판투입단계(1000)는 검사 대상인 단위 표시 패널(200)이 검사 장치(1)의 스테이지(100) 상의 이동부(101)를 따라 투입부에 투입이 되고 얼라인되는 단계이다. 상기 단위 표시 패널(200)은 검사에 앞서 정확한 위치에 정렬될 필요가 있다.The substrate loading step 1000 is a step in which the unit display panel 200, which is an inspection target, is input to the input unit along the moving unit 101 on the stage 100 of the inspection apparatus 1 and is aligned. The unit display panel 200 needs to be aligned at the correct position prior to the inspection.

상기 제1 촬영 단계(1001)에서는 제1 내지 제4 라인 조명부(401~404)를 통해서 단위 표시 패널(200)의 절단면인 제1 내지 제4 측면에 라인 조명이 조사되고, 상기 단위 표시 패널(200)의 상부면 전체를 제1 검사 카메라(503)를 통해서 촬영된다. 상기 제1 검사 카메라(503)를 통해서 촬영된 제1 영상은 분석부(700)에 제공되고 상기 분석부(700)는 상기 제1 검사 카메라(503)로 촬영된 제1 영상을 분석하는 분석단계(1004)를 진행하게 된다. 상기 분석단계(1004)에서 분석된 크랙의 위치에 대한 좌표 정보는 제어부(800)에 제공된다.In the first photographing step 1001, line illumination is irradiated to first to fourth side surfaces, which are cut surfaces of the unit display panel 200, through the first to fourth line illumination units 401 to 404. The entire upper surface of the 200 is photographed through the first inspection camera 503. The first image photographed by the first inspection camera 503 is provided to the analysis unit 700 and the analysis unit 700 analyzes the first image photographed by the first inspection camera 503. Proceed to 1004. The coordinate information about the position of the crack analyzed in the analysis step 1004 is provided to the controller 800.

상기 제어부(800)는 크랙의 위치에 대한 좌표 정보를 통해서 제2 및 제3 검사 카메라(603, 605)를 제어할 수 있게 되는 제어단계(1005)가 진행된다.The controller 800 proceeds to a control step 1005 through which the second and third inspection cameras 603 and 605 can be controlled through the coordinate information on the position of the crack.

상기 제2 촬영 단계(1002)에서는 상기 제어부(800)를 통해서 제어되는 제2 및 제3 검사 카메라(603, 605)가 단위 표시 패널(200)에서 측면을 정밀히 촬영하고 촬영된 제2 영상을 통해서 불량여부판정단계(1003)에서 단위 표시 패널(200)의 불량여부를 판단하게 된다. 상기 불량여부판정단계(1003)에서는 기준값 이상의 크랙이 표시 패널에서 검출되는 것으로 판정하는 경우에는 검사된 단위 표시 패널(200)이 불량인 것으로 판단할 것이다. 상기 기준값은 검사 대상이 되는 단위 표시 패널(200)의 사이즈에 종류에 따라서 달리 설정될 수 있는 값이다.In the second photographing step 1002, the second and third inspection cameras 603 and 605 controlled by the controller 800 precisely photograph the side surface of the unit display panel 200 and take a photograph of the second image. In operation 1003, it is determined whether the unit display panel 200 is defective. In the failure determination step 1003, when it is determined that a crack equal to or greater than a reference value is detected in the display panel, the inspected unit display panel 200 is determined to be defective. The reference value may be set differently according to the type of the size of the unit display panel 200 to be inspected.

이상 검사 대상으로써 표시 패널(200)를 예로 들었으나 이에 한정되는 것은 아니고, 크랙이 형성될 수 있는 기판이라면 어떤 기판이라도 가능하다.Although the display panel 200 is exemplified above as an inspection target, any substrate may be used as long as it is a substrate on which cracks may be formed.

이상에서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시 예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술분야에 통상의 지식을 갖는 자라면 후술할 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허청구범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.In the detailed description of the present invention described above with reference to the preferred embodiment of the present invention, those skilled in the art or those skilled in the art having ordinary knowledge of the present invention described in the claims to be described later It will be understood that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit and scope of the art. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification but should be defined by the claims.

1. 표시 패널 기판 검사 장치
2. 액정표시패널
3. 어레이 기판
4. 컬러필터 기판
5. 실 패턴
6. 데이터 라인
7. 게이트 라인
8. 게이트 패드부
9. 데이터 패드부
10. 스테이지
20. 표시 패널
31. 제1 카메라 이동부
32. 제2 카메라 이동부
41. 제1 카메라
42. 제2 카메라
50. 화상표시부
100. 스테이지
101. 이동부
200. 표시 패널
301. 제1 조명 이동부
302. 제2 조명 이동부
303. 제3 조명 이동부
304. 제4 조명 이동부
401. 제1 라인 조명부
402. 제2 라인 조명부
403. 제3 라인 조명부
404. 제4 라인 조명부
501. 제1 카메라 이동부
502. 제1 연결부
503. 제1 검사 카메라
601. 제2 카메라 이동부
602. 제2 연결부
603. 제2 검사 카메라
604. 제3 카메라 이동부
605. 제3 검사 카메라
700. 분석부
800. 제어부
1000. 기판투입단계
1001. 제1 촬영 단계
1002. 제2 촬영 단계
1003. 불량여부판정단계
1004. 분석단계
1005. 제어단계1. Display panel board inspection device
2. LCD panel
3. Array Board
4. Color filter substrate
5. Thread pattern
6. Data line
7. Gate line
8. Gate pad part
9. Data pad section
10. Stage
20. Display panel
31. The first camera moving part
32. Second camera moving part
41. First Camera
42. Second Camera
50. Image display unit
100. Stage
101. Moving part
200. Display panel
301. The first lighting moving unit
302. Second lighting moving unit
303. The third lighting moving unit
304. Fourth light moving part
401. First line lighting unit
402. Second line lighting unit
403. 3rd line lighting unit
404. Fourth Line Illuminator
501. The first camera moving part
502. First connection portion
503. First inspection camera
601. The second camera moving unit
602. Second Connection
603. Second inspection camera
604. The third camera moving part
605. Third Inspection Camera
700. Analysis Department
800. Control Unit
1000. Substrate Input Step
1001. The first shooting step
1002. The Second Shooting Step
1003. Determination of Defect Status
1004.Analysis Stage
1005.Control Step

Claims (7)

표시 패널이 투입되는 스테이지;
상기 표시 패널의 제1 내지 제4 측면의 절단부 전체에 라인 조명을 선형으로 조사하는 제1, 제2, 제3 및 제 4라인 조명부;
상기 표시 패널의 상부면을 촬영하는 제1 검사 카메라;
상기 제1 검사 카메라로부터 촬영된 영상을 분석하여 상기 표시 패널에 형성된 크랙의 존부를 판단하는 분석부를 포함하고,
상기 제1, 제2, 제3 및 제 4 라인 조명부를 각각 이동시키는 제1, 제2, 제3 및 제 4 조명 이동부를 더 포함하고,
상기 제1 조명 이동부의 양측면으로부터 연장 형성된 상기 제2 및 제 3 조명 이동부가 배치되고, 상기 표시 패널의 사이즈에 따라 상기 제1내지 제3 조명 이동부가 이동하면서 상기 제1 내지 제3 라인 조명부의 위치가 조절되는 표시 패널 검사 장치.A stage into which a display panel is inserted;
First, second, third, and fourth line illuminators for linearly irradiating line illumination on the entire cut portions of the first to fourth side surfaces of the display panel;
A first inspection camera photographing an upper surface of the display panel;
An analysis unit which analyzes an image photographed by the first inspection camera and determines whether cracks are formed in the display panel;
Further comprising a first, second, third and fourth illumination moving unit for moving the first, second, third and fourth line lighting unit, respectively,
The second and third lighting moving parts extending from both sides of the first lighting moving part are disposed, and the first to third lighting moving parts are moved while the first to third lighting moving parts move according to the size of the display panel. Display panel inspection device that is controlled. 삭제delete 제1 항에 있어서,
상기 표시 패널의 제1 내지 제4 측면을 촬영하는 제2 검사 카메라;
상기 분석부에서 분석된 상기 표시 패널에 형성된 크랙의 위치 정보를 이용하여 상기 제2 검사 카메라의 위치를 제어하는 제어부를 더 포함하는 표시 패널 검사 장치.According to claim 1,
A second inspection camera photographing first to fourth side surfaces of the display panel;
And a controller configured to control the position of the second inspection camera by using position information of the crack formed on the display panel analyzed by the analyzer. 제3 항에 있어서,
상기 제2 검사 카메라를 이동시킬 수 있는 카메라 이동부를 더 포함하는 표시 패널 검사 장치.The method of claim 3, wherein
And a camera moving unit configured to move the second inspection camera. 제3 항에 있어서,
상기 제2 검사 카메라는 상기 제1 검사 카메라보다 해상도가 높은 표시 패널 검사 장치.The method of claim 3, wherein
And the second inspection camera has a higher resolution than the first inspection camera. 표시 패널을 표시 패널 검사 장치에 투입하는 단계;
상기 표시 패널의 제1 내지 제4 측면의 절단부 전체에 제1, 제2, 제3 및 제4 라인 조명부를 통해 라인 조명을 선형으로 조사하는 단계;
상기 표시 패널의 상부면을 촬영하여 제1 영상을 생성하는 단계; 및
상기 제1 영상을 분석하여 상기 표시 패널에 형성된 크랙의 위치 정보를 분석하는 단계; 를 포함하고,
상기 제1, 제2, 제3 및 제 4 라인 조명부를 통해 라인 조명을 선형으로 조사하는 단계에서, 상기 제1, 제2, 제3 및 제4 라인 조명부를 각각 상기 제1, 제2, 제3 및 제 4 조명 이동부에 의해 이동시키면서 조사하되, 상기 제1 조명 이동부의 양측면으로부터 연장 형성된 상기 제2 및 제 3 조명 이동부가 상기 표시 패널의 사이즈에 따라 이동하면서 상기 제1 내지 제3 라인 조명부의 위치가 조절되는 표시 패널 검사 방법.Injecting the display panel into the display panel inspection apparatus;
Linearly illuminating line illumination through the first, second, third and fourth line illuminators throughout the cutout portions of the first to fourth side surfaces of the display panel;
Photographing an upper surface of the display panel to generate a first image; And
Analyzing location information of cracks formed on the display panel by analyzing the first image; Including,
In the step of linearly irradiating the line light through the first, second, third and fourth line lighting unit, the first, second, third and fourth line lighting unit, respectively, the first, second, fourth Irradiating while moving by the third and fourth illumination moving unit, the second and third illumination moving unit extending from both sides of the first illumination moving unit moving in accordance with the size of the display panel, the first to third line illumination unit How to check the display panel is adjusted. 제 6항에 있어서,
상기 위치 정보를 바탕으로 상기 표시 패널의 크랙이 형성된 영역을 촬영하여 제2 영상을 생성하는 단계; 및
상기 제2 영상을 분석하여 상기 표시 패널의 불량 여부를 분석하는 단계를 더 포함하는 표시 패널 검사 방법.The method of claim 6,
Generating a second image by photographing an area where a crack of the display panel is formed based on the position information; And
And analyzing the second image to analyze whether the display panel is defective.
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