KR102046908B1 - LED Patch Panel Analyzer - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 엘이디 패치 패널 애널라이저에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 스위치 허브와 단말장치 간의 연결 상태뿐만 아니라 송수신 상태를 함께 모니터링 할 수 있어 회선 절체 작업 시에도 통신 환경을 중단하지 않고 작업을 수행할 수 있도록 한 새로운 엘이디 패치 패널 애널라이저에 관한 것이다.The present invention relates to an LED patch panel analyzer, and more particularly, it is possible to monitor not only the connection state between the switch hub and the terminal device but also the transmission and reception state so that the operation can be performed without interrupting the communication environment even during a line transfer operation. It's about a new LED patch panel analyzer.
일반적으로, 컴퓨터 장치 또는 키폰 등과 같은 단말장치에는 랜(LAN:Local Area Network) 케이블이 연결된다. 통상적으로 랜카드에 사용되는 표준 신호선인 UTP(Unshielded Twisted Pair) 케이블이 연결되며, 케이블의 단말에는 RJ-45 규격의 커넥터가 결합된다.In general, a local area network (LAN) cable is connected to a terminal device such as a computer device or a key phone. Typically, UTP (Unshielded Twisted Pair) cable, which is a standard signal line used in a LAN card, is connected, and a connector of the RJ-45 standard is coupled to the terminal of the cable.
UTP 케이블은 일반 전화선이나 LAN 환경을 이어주는 신호선의 한 종류로서, 주로 키폰이나 컴퓨터 장치를 스위치 허브(Switch Hub)에 연결할 때 사용된다. 스위치 허브는 호스트에 연결하기 위한 다수의 LAN 포트를 지원하는 허브에 여러 개의 포트로부터 입력 데이터를 동시에 전송하는 교환 기능이 부가된 장치이며, 대개의 기업에서 다수의 컴퓨터 장치에 LAN 환경을 지원하기 위해 사용되고 있다.UTP cable is a kind of signal line connecting general telephone line or LAN environment. It is mainly used to connect a keyphone or computer device to a switch hub. A switch hub is a device that supports multiple LAN ports for connecting to a host and is equipped with an exchange function that transmits input data from multiple ports at the same time. It is used.
도 1은 일반적인 엘이디 패치 패널(LED Patch Panel)의 연결 관계를 예시한 블록도이다. 도 1에서 보여지는 바와 같이 스위치 허브(10)와 단말장치(40, 50) 사이에 LED 패치 패널(20)이 설치된다. LED 패치 패널(20)은 스위치 허브(10)의 각 포트에 대응하는 입력 포트와, 단말장치(40, 50)에 대응하는 출력 포트를 구비한다. 출력 포트 각각은 단말장치(40, 50)와의 연결을 위한 단말 포트(30, 단말장치 인근의 벽면에 매입 설치되거나, 기타 단말장치 연결을 위한 포트)와 전기적으로 연결된다.1 is a block diagram illustrating a connection relationship between a general LED patch panel. As shown in FIG. 1, an
LED 패치 패널(20)은 각각의 포트에 연결되는 LED가 설치된다. 이 LED는 단말장치(40, 50)를 단말 포트(30)에 연결할 때, 스위치 허브(10)의 결선을 해제하고 송신기를 동작시킬 경우 단말장치(40, 50)가 정확한 포트에 연결된 상태에서 점등되며, 단말장치(40, 50)가 연결된 상태인지 여부를 표시하는 LED이다.
그런데 종래 LED 패치 패널(20)은 스위치 허브(10)와 단말장치(40, 50)가 정상 연결된 상태에서는 통신 신호만 패스하고, 단말장치(40, 50)의 연결 상태를 표시하지 못하는 문제가 있다. 즉, 통신 신호가 존재하는 경우 연결 상태를 검출하는 기능과 통신 신호를 분리하지 못함으로 인하여, 회선을 절체하는 작업을 진행할 때 단말장치(40, 50)마다 정확한 포트에 연결되는지를 확인하는 작업이 수반되어야 하는 문제가 있다.However, the conventional
또한, 종래의 LED 패치 패널은 회선의 전기적 연결 상태 및 단선 등을 확인하는 정도에 그침으로 인해, 단말장치에 연결된 UTP 케이블을 찾고자 할 때 별도의 랜 테스터를 사용해야 하는 번거로움이 있다. 예를 들어, 단말장치와 LED 패치 패널은 원거리로 떨어져 있으므로, 이격된 포트에 한 쌍의 랜 테스터를 접속하여 신호를 송수신함으로써 매칭 여부를 확인하는 작업을 수행해야 하는 번거로움이 있다.In addition, the conventional LED patch panel is only to check the electrical connection state and disconnection of the line, there is a need to use a separate LAN tester when looking for a UTP cable connected to the terminal device. For example, since the terminal device and the LED patch panel are remote from each other, there is a need to perform a task of confirming a match by transmitting and receiving a signal by connecting a pair of LAN testers to spaced ports.
본 발명은 별도의 통신 구동 회로를 포함함으로써, 스위치 허브와 단말장치 간의 통신 회선이 연결된 상태에서도 회선의 연결 상태를 표시할 수 있어 무중단 회선 절체 작업이 가능한 새로운 구조의 엘이디 패치 패널 애널라이저를 제공함에 그 목적이 있다.The present invention provides an LED patch panel analyzer of a new structure that can display a connection state of a line even when a communication line between a switch hub and a terminal device is connected by including a separate communication driving circuit, thereby enabling non-stop line switching. There is a purpose.
또한, 본 발명은 별도의 테스터 유닛과 패치 패널 간의 통신을 이용하여 패치 패널의 각 포트와 스위치 허브의 포트 간에 매칭 상태, 또는, 패치 패널의 각 포트와 단말 포트 간에 매칭 상태를 쉽게 확인할 수 있으며, 나아가 단말장치가 단말 포트에 접속되어 있는지 여부까지 확인할 수 있도록 하는 엘이디 패치 패널 애널라이저를 제공함에 다른 목적이 있다.In addition, the present invention can easily check the matching state between each port of the patch panel and the port of the switch hub, or the matching state between each port of the patch panel and the terminal port using the communication between the separate tester unit and the patch panel, In addition, another object of the present invention is to provide an LED patch panel analyzer for checking whether a terminal device is connected to a terminal port.
본 발명의 일실시예에 따른 엘이디 패치 패널 애널라이저는, 스위치 허브와 단말장치 간에 설치되어 스위치 허브와 단말장치 간의 통신 연결을 LED를 통해 확인할 수 있는 엘이디 패치 패널 애널라이저에 있어서, 상기 스위치 허브와 연결되는 복수의 입력 포트; 상기 복수의 입력 포트 각각에 대응하여 전기적으로 연결되는 복수의 출력 포트; 상기 입력 포트 및 상기 출력 포트 사이에 연결되어 상기 스위치 허브와 상기 단말장치 간의 통신 신호를 수신하여 구동하는 제1 통신 구동 회로부; 상기 제1 통신 구동 회로부의 출력 신호를 비교 대상 신호로 변환하는 신호 변환 회로부; 상기 신호 변환 회로부의 출력을 기준 신호와 비교하는 비교 회로부; 및 상기 비교 회로부의 출력에 의해 통신 확인용 LED를 점등 구동하는 RX 통신 표시부를 포함한다.The LED patch panel analyzer according to an embodiment of the present invention is installed between the switch hub and the terminal device, the LED patch panel analyzer that can confirm the communication connection between the switch hub and the terminal device through the LED, which is connected to the switch hub A plurality of input ports; A plurality of output ports electrically connected to each of the plurality of input ports; A first communication driving circuit unit connected between the input port and the output port to receive and drive a communication signal between the switch hub and the terminal device; A signal conversion circuit unit converting an output signal of the first communication driving circuit unit into a comparison target signal; A comparison circuit unit for comparing an output of the signal conversion circuit unit with a reference signal; And an RX communication display unit which lights and drives the communication confirmation LED by the output of the comparison circuit unit.
본 발명의 다른 실시예에 따른 엘이디 패치 패널 애널라이저는, 상기 제1 통신 구동 회로부는 상기 스위치 허브와 상기 단말장치 간의 통신 라인과 병렬로 연결되어 병렬 동작하는 반이중(Half-Duplex) 통신 칩을 수신 회로로 적용한 것이다.In an LED patch panel analyzer according to another embodiment of the present invention, the first communication driving circuit unit receives a half-duplex communication chip connected in parallel with a communication line between the switch hub and the terminal device in parallel. It is applied to.
본 발명의 또 다른 실시예에 따른 엘이디 패치 패널 애널라이저는, 상기 반이중 통신 칩은 RS-485 계열의 통신 칩이다.In the LED patch panel analyzer according to another embodiment of the present invention, the half-duplex communication chip is a communication chip of RS-485 series.
본 발명의 또 다른 실시예에 따른 엘이디 패치 패널 애널라이저는, 상기 신호 변환 회로부는 상기 병렬 통신 칩의 수신 신호 출력 단자(RO)에 직렬 연결되어 TTL(Transistor-Transistor Logic) 레벨로 출력되는 신호의 DC 성분을 제거하는 필터용 커패시터(C2)와, 상기 필터용 커패시터(C2)와 접지 단자 사이에 병렬 연결되어 신호의 AC 성분을 적분하여 상기 비교 대상 신호를 생성하는 적분용 커패시터(C3)를 포함하며, 상기 비교 회로부는 상기 비교 대상 신호를 반전 단자로 입력 받고 상기 기준 신호를 비반전 단자로 입력 받아 상기 통신 확인용 LED의 구동 신호를 생성하는 OP-AMP를 포함한다.In the LED patch panel analyzer according to another embodiment of the present invention, the signal conversion circuit unit is connected to the receiving signal output terminal (RO) of the parallel communication chip in series and the DC of the signal output at the TTL (Transistor-Transistor Logic) level A filter capacitor C2 for removing a component and an integration capacitor C3 connected in parallel between the filter capacitor C2 and a ground terminal to integrate an AC component of the signal to generate the comparison target signal, The comparison circuit unit may include an OP-AMP receiving the comparison target signal through an inverting terminal and receiving the reference signal through a non-inverting terminal to generate a driving signal of the communication confirmation LED.
본 발명의 또 다른 실시예에 따른 엘이디 패치 패널 애널라이저는, 전원을 차단하는 제1 상태, 상기 출력 포트와 상기 단말장치 간의 포트 연결 상태를 확인하기 위한 랜 테스트용 VCC 전원을 생성하는 제2 상태, 상기 VCC 전원 라인 중 일부를 접지시키는 제3 상태 간에 스위칭하는 테스터 스위치 회로부; 상기 VCC 전원을 공급받아 제1 발진 신호를 생성하는 제1 발진 회로부; 상기 VCC 전원을 공급받아 상기 제1 발진 신호에 비해 높은 주파수의 제2 발진 신호를 생성하는 제2 발진 회로부; 상기 제1 발진 신호와 상기 제2 발진 신호를 합성하여 LAN 테스트용 클록을 생성하는 클록 생성 회로부; 상기 LAN 테스트용 클록을 구동 신호로 입력 받아 동작하며, 상기 RX 통신 표시부의 상기 통신 확인용 LED를 점멸 구동시키기 위해 상기 제1 통신 구동 회로부에 테스트 클록을 전송하는 제2 통신 구동 회로부; 및 상기 테스터 스위치 회로부가 상기 제3 상태로 스위칭 될 때 트리거 되어 상기 단말 포트에 상기 단말장치가 접속되는 경우 단말 연결 확인용 LED를 점등 구동하는 단말 연결 표시부를 포함하는 테스터 유닛을 더 포함한다.According to another embodiment of the present invention, an LED patch panel analyzer may include: a first state of shutting off power, a second state of generating a VCC power supply for a LAN test for checking a port connection state between the output port and the terminal device; A tester switch circuit unit for switching between third states of grounding a portion of the VCC power line; A first oscillation circuit unit receiving the VCC power and generating a first oscillation signal; A second oscillation circuit unit receiving the VCC power and generating a second oscillation signal having a higher frequency than that of the first oscillation signal; A clock generation circuit unit configured to synthesize the first oscillation signal and the second oscillation signal to generate a clock for a LAN test; A second communication driving circuit unit configured to receive the LAN test clock as a driving signal, and to transmit a test clock to the first communication driving circuit unit to blink and drive the communication confirmation LED of the RX communication display unit; And a tester unit including a terminal connection display unit which is triggered when the tester switch circuit unit is switched to the third state to turn on the terminal connection confirmation LED when the terminal device is connected to the terminal port.
본 발명의 또 다른 실시예에 따른 엘이디 패치 패널 애널라이저는, 상기 제1 발진 신호는 1Hz의 주파수를 가지며, 상기 제2 발진 신호는 60Hz 이상의 주파수를 가진다.In the LED patch panel analyzer according to another embodiment of the present invention, the first oscillation signal has a frequency of 1Hz, the second oscillation signal has a frequency of 60Hz or more.
본 발명의 또 다른 실시예에 따른 엘이디 패치 패널 애널라이저는, 상기 제1 발진 신호에 의해 테스터 유닛 동작 표시용 LED를 점멸 구동하는 테스터 유닛 동작 표시부를 더 포함한다.The LED patch panel analyzer according to another embodiment of the present invention further includes a tester unit operation display unit for driving the LED for displaying the tester unit operation by flashing by the first oscillation signal.
본 발명의 또 다른 실시예에 따른 엘이디 패치 패널 애널라이저는, 상기 제2 통신 구동 회로부는 RS-485 계열의 반이중(Half-Duplex) 통신 칩을 송신 회로로 적용한 것이다.In the LED patch panel analyzer according to another embodiment of the present invention, the second communication driving circuit unit applies a half-duplex communication chip of the RS-485 series as a transmission circuit.
본 발명의 또 다른 실시예에 따른 엘이디 패치 패널 애널라이저는, 상기 클록 생성 회로부는 상기 제2 발진 신호를 2 입력으로 받아 반전 클록을 출력하는 제1 낸드 게이트(U103:A)와, 상기 제1 발진 신호를 하나의 입력으로 받고 다른 하나의 입력은 상기 테스터 스위치 회로부가 상기 제2 상태로 스위칭 될 때에는 상기 VCC 전원에 연결되고 상기 테스터 스위치 회로부가 상기 제3 상태로 스위칭 될 때에는 접지측에 연결되는 제2 낸드 게이트(U103:B)를 포함한다.According to another embodiment of the present invention, an LED patch panel analyzer may include a first NAND gate U103: A for receiving the second oscillation signal as two inputs and outputting an inverted clock, and the first oscillation. A signal is received as one input and the other input is connected to the VCC power supply when the tester switch circuit portion is switched to the second state and to the ground side when the tester switch circuit portion is switched to the third state. And two NAND gates U103: B.
본 발명의 엘이디 패치 패널 애널라이저에 따르면, 스위치 허브와 단말장치 간의 통신 라인과 병렬로 연결되어 구동되는 통신 구동 회로를 이용하여 주 통신라인에 영향을 미치지 않으면서 회선의 연결 상태를 표시할 수 있으며, 회선을 절체하는 작업을 진행하는 경우에도 기존의 통신 라인을 중단하지 않는 무중단 회선 절체 작업을 가능하게 하는 효과가 있다.According to the LED patch panel analyzer of the present invention, it is possible to display the connection state of the line without affecting the main communication line by using a communication driving circuit driven in parallel with the communication line between the switch hub and the terminal device, Even when the work of switching the line is in progress, there is an effect of enabling an uninterrupted line switching operation without interrupting the existing communication line.
또한, 본 발명은 별도의 테스터 유닛에 구비된 테스터 스위치 회로부를 제2 상태로 스위칭하여 패치 패널 간의 통신을 이용하여 패치 패널의 각 포트와 스위치 허브의 포트 간에 매칭 상태, 또는, 패치 패널의 각 포트와 단말 포트 간에 매칭 상태를 쉽게 확인할 수 있으며, 나아가 테스터 스위치 회로부를 제3 상태로 스위칭하여 단말장치가 단말 포트에 접속되어 있는지 여부까지 확인할 수 있도록 함으로써, 별도의 랜 테스터 장비를 사용할 필요 없이 포트 간의 매칭 및 단말장치의 접속 여부를 쉽게 확인할 수 있는 효과가 있다.In addition, the present invention is to switch the tester switch circuit unit provided in the separate tester unit to the second state by using the communication between the patch panel, the matching state between each port of the patch panel and the port of the switch hub, or each port of the patch panel It is easy to check the matching state between the terminal and the terminal port, and furthermore, by switching the tester switch circuit unit to the third state to check whether the terminal device is connected to the terminal port, without using a separate LAN tester equipment. There is an effect that it is easy to check whether the matching and access of the terminal device.
도 1은 일반적인 엘이디 패치 패널의 연결 관계를 예시한 블록도,
도 2는 본 발명에 따른 엘이디 패치 패널 애널라이저를 예시한 블록도,
도 3은 본 발명에서 스위치 허브와 단말장치 간의 통신 라인 연결 상태를 확인하기 위한 패치 패널 검출 회로를 예시한 회로도, 및
도 4는 본 발명에서 포트 간의 매칭 상태 및 단말장치의 접속 여부를 확인하기 위한 테스터 유닛의 회로를 예시한 회로도이다.1 is a block diagram illustrating a connection relationship of a general LED patch panel,
2 is a block diagram illustrating an LED patch panel analyzer according to the present invention;
3 is a circuit diagram illustrating a patch panel detection circuit for checking a communication line connection state between a switch hub and a terminal device in the present invention;
FIG. 4 is a circuit diagram illustrating a circuit of a tester unit for checking a matching state between ports and whether a terminal device is connected in the present invention.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 구체적인 실시예가 설명된다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대하여 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물, 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described a specific embodiment according to the present invention. However, this is not intended to limit the present invention to the specific embodiments, it should be understood to include all modifications, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present invention.
명세서 전체에 걸쳐 유사한 구성 및 동작을 갖는 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다. 그리고 본 발명에 첨부된 도면은 설명의 편의를 위한 것으로서, 그 형상과 상대적인 척도는 과장되거나 생략될 수 있다.The same reference numerals are used for parts having similar configurations and operations throughout the specification. And the drawings attached to the present invention is for convenience of description, the shape and relative measures may be exaggerated or omitted.
실시예를 구체적으로 설명함에 있어서, 중복되는 설명이나 당해 분야에서 자명한 기술에 대한 설명은 생략되었다. 또한, 이하의 설명에서 어떤 부분이 다른 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 기재된 구성요소 외에 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.In describing the embodiments in detail, overlapping descriptions or descriptions of obvious technology in the art are omitted. In addition, in the following description, when a portion "includes" another component, it means that the component can be further included in addition to the described component unless otherwise stated.
또한, 명세서에 기재된 "~부", "~기", "~모듈" 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어나 소프트웨어 또는 하드웨어 및 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다. 또한, 어떤 부분이 다른 부분과 전기적으로 연결되어 있다고 할 때, 이는 직접적으로 연결되어 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 다른 구성을 사이에 두고 연결되어 있는 경우도 포함한다. In addition, the terms "~ unit", "~ base", "~ module" described in the specification means a unit for processing at least one function or operation, which may be implemented by hardware or software or a combination of hardware and software. Can be. In addition, when a part is electrically connected to another part, this includes not only the case where it is directly connected, but also the case where it is connected through the other structure in the middle.
제1, 제2 등과 같이 서수를 포함하는 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지는 않는다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제2 구성요소는 제1 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제1 구성요소도 제2 구성요소로 명명될 수 있다.Terms including ordinal numbers such as first and second may be used to describe various components, but the components are not limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the present invention, the second component may be referred to as the first component, and similarly, the first component may also be referred to as the second component.
도 2는 본 발명에 따른 엘이디 패치 패널 애널라이저를 예시한 블록도이다. 도 2를 참조하면, 본 발명의 엘이디 패치 패널 애널라이저는 스위치 허브와 단말장치 사이에 연결되는 장치로서, 엘이디 패치 패널(100)에 구비되는 수신 검출 회로(110, 120, 130, 140)와 별도의 테스터 유닛(200)에 구비되는 송신 검출 회로(210, 220, 230, 240, 250, 260, 270)를 포함한다.2 is a block diagram illustrating an LED patch panel analyzer according to the present invention. 2, the LED patch panel analyzer of the present invention is a device connected between the switch hub and the terminal device, and is separate from the
배경 기술에서 도 1을 참조하여 설명한 바와 같이, 엘이디 패치 패널(100)은 스위치 허브(10)의 각 포트에 대응하는 복수의 입력 포트와, 이 입력 포트 각각에 대응하여 연결되는 복수의 출력 포트를 구비한다. 그리고 출력 포트 각각은 원거리(대략 수 m 내지 수백 m 정도의 거리)에 위치한 단말 포트(30)와 UTP 케이블 등에 의해 전기적으로 연결된다. 단말 포트(30)에는 컴퓨터 장치(40) 또는 키폰(50) 등과 같은 단말장치가 접속된다.As described with reference to FIG. 1 in the background art, the
도 2를 참조하면, 엘이디 패치 패널(100)의 수신 검출 회로는 제1 통신 구동 회로부(110)와, 신호 변환 회로부(120)와, 비교 회로부(130)와, RX 통신 표시부(140)를 포함한다.2, the reception detection circuit of the
제1 통신 구동 회로부(110)는 엘이디 패치 패널(100)의 입력 포트 및 출력 포트 사이에 연결되어 스위치 허브와 단말장치 간의 통신 신호를 수신하여 구동하는 회로부이다. 이 경우 본 발명의 LED 패치 패널 애널라이저는 통신 확인용으로 사용된다. 한편, 본 발명의 LED 패치 패널 애널라이저가 랜 테스트 및 단말 접속 확인용으로 사용될 경우, 테스터 유닛(200)의 제2 통신 구동 회로부(260)가 TX로, 그리고 엘이디 패치 패널(100)의 제1 통신 구동 회로부(110)가 RX로 상호 통신하여 테스트 작업을 수행하게 된다.The first communication
바람직하게는, 제1 통신 구동 회로부는 스위치 허브와 단말장치 간의 통신 라인과는 병렬로 연결되어 동작하는 반이중(Half-Duplex) 통신 칩을 수신 회로로 적용한 회로이다.Preferably, the first communication driving circuit unit is a circuit in which a half-duplex communication chip operating in parallel with a communication line between the switch hub and the terminal device is applied as a receiving circuit.
신호 변환 회로부(120)는 제1 통신 구동 회로부(110)의 출력 신호를 비교 대상 신호로 변환한다. 비교 회로부(130)는 신호 변환 회로부(120)의 출력을 기준 신호와 비교한다. The signal
RX 통신 표시부(140)는 비교 회로부(130)의 출력에 의해 통신 확인용 LED(LD1)를 점등 구동한다. 또한, RX 통신 표시부(140)는 랜 테스트 표시 기능을 병행하며, 이 경우 통신 확인용 LED(LD1)은 점멸 구동된다. RX 통신 표시부(140)가 통신 확인용 및 랜 테스트용으로 병행되는 작용에 대한 구체적인 설명은 후술한다.The RX
도 2를 참조하면, 테스터 유닛(200)의 송신 검출 회로는 제1 발진 회로부(210)와, 제2 발진 회로부(220)와, 클록 생성 회로부(230)와, LAN 테스트 표시부(240)와, 단말 연결 표시부(250)와, 제2 통신 구동 회로부(260)와, 테스터 스위치 회로부(270)를 포함한다.Referring to FIG. 2, the transmission detection circuit of the
테스터 스위치 회로부(270)는 전원을 차단하는 제1 상태, 패치 패널의 출력 포트와 스위치 허브 또는 단말 포트 간의 매칭 상태를 확인하기 위한 랜 테스트용 VCC 전원을 생성하는 제2 상태, VCC 전원 라인 중 일부를 접지시켜 단말 포트에 단말장치가 접속되어 있는지 여부를 확인하는 제3 상태 간에 스위칭하는 3단 스위치를 포함한다.The tester
제1 발진 회로부(210)와 제2 발진 회로부(220)는 VCC 전원을 공급받아 동작하며 서로 다른 발진 신호를 생성한다. 제1 발진 신호는 사람이 육안으로 확인하기 위한 점멸 신호를 생성하기 위한 신호로서, 예컨대 1Hz의 주파수를 가지며, 테스터 유닛(200)이 정상 동작되는지 여부를 확인하는 용도로 이용된다. 제2 발진 신호는 제1 발진 신호에 비해 높은 주파수의 발진 신호로서, 제2 통신 구동 회로부(260)에 통신 연결 확인용의 구동 클록을 제공하기 위한 신호이며, 예컨대 60Hz 또는 그 이상의 주파수를 갖는다.The
클록 생성 회로부(230)는 제1 발진 신호와 제2 발진 신호를 합성하여 LAN 테스트용 클록을 생성한다.The clock
LAN 테스트 표시부(240)는 테스터 유닛(200)에 포함된 것으로 예시하였으나, 실제로는 엘이디 패치 패널(100)에 구비된 RX 통신 표시부(140)가 기능적으로 LAN 테스트 표시를 겸하는 것으로서, 단지 발명의 이해를 돕기 위해 별도의 구성으로 예시한 것이다.Although the LAN
LAN 테스트 표시부(240)는 테스터 스위치 회로부(270)가 제2 상태로 스위칭 될 때, 엘이디 패치 패널(100)의 입력 포트와 스위치 허브의 포트 간의 매칭 상태, 또는, 엘이디 패치 패널(100)의 출력 포트와 단말 포트 간의 매칭 상태를 확인하기 위한 수단으로, 제2 통신 구동 회로부(260)의 LAN 테스트용 클록이 제1 통신 구동 회로부(110)에 전송될 때, 통신 확인용 LED(LD1)를 점멸 구동하는 수단이다.The LAN
단말 연결 표시부(250)는 테스터 스위치 회로부(270)가 제3 상태로 스위칭 될 때 트리거 되는 스위칭 소자(Q101)를 포함하며, 단말 포트에 단말장치가 접속되어 있는 경우 단말 연결 확인용 LED(D102)를 점등 구동한다. The terminal
제2 통신 구동 회로부(260)는 통신 연결 확인용 클록을 구동 신호로 입력 받아 동작하며 엘이디 패치 패널(100)의 제1 통신 구동 회로부(110)에 LAN 테스트용 클록을 전송한다. 예를 들어, 테스터 유닛(200)을 스위치 허브의 임의 포트에 접속하면, 스위치 허브의 해당 포트와 연결된 엘이디 패치 패널(100) 상의 입력 포트에 할당된 제1 통신 구동 회로부(110)에서 LAN 테스트용 클록을 수신한다. 그리고, LAN 테스트 표시부(240)의 통신 확인용 LED(LD1)가 점멸 구동되면서, 스위치 허브의 포트와 엘이디 패치 패널(100)의 입력 포트 간 매칭 상태를 확인할 수 있다. 다른 예로, 테스터 유닛(200)을 단말 포트에 접속하면, 해당 단말 포트와 연결된 엘이디 패치 패널(100) 상의 출력 포트에 할당된 제1 통신 구동 회로부(110)에서 LAN 테스트용 클록을 수신한다. 그리고, LAN 테스트 표시부(240)의 통신 확인용 LED(LD1)가 점멸 구동되면서, 단말 포트와 엘이디 패치 패널(100)의 출력 포트 간 매칭 상태를 확인할 수 있다.The second communication driving
제2 통신 구동 회로부(260)는 제1 통신 구동 회로부(110)와 마찬가지로 반이중(Half-Duplex) 통신 칩을 포함하며, 수신 검출 회로와는 달리 반이중 통신 칩을 송신 회로로 적용한 회로로 구성된다. 송신 검출 회로의 구체적인 회로 구성 및 동작 관계에 대하여는 도 4를 참조하여 후술한다.Like the first communication
도 3은 본 발명에서 스위치 허브와 단말장치 간의 통신 라인 연결 상태를 확인하기 위한 패치 패널 검출 회로를 예시한 회로도이다.3 is a circuit diagram illustrating a patch panel detection circuit for checking a communication line connection state between a switch hub and a terminal device in the present invention.
도 3을 참조하면, 제1 통신 구동 회로부(110)는 RS-485 계열의 통신 칩으로서, 본 예시에서는 MAX 485 칩(U1)으로 구현하였다. 도시한 바와 같이 데이터 단자(A, B)에는 엘이디 패치 패널 애널라이저 상의 한 쌍의 포트(NO_3, NO_6)가 연결된다. 통신 칩을 수신 회로로 사용하기 위해 RE 단자와 DE 단자는 접지에 접속하여 로우 레벨을 인가하였다. 만약, 어떤 포트가 스위치 허브 및 단말장치 양자에 대해 전기적으로 접속된 상태라면 양자 사이에 흐르는 신호에 의해 수신 신호 출력 단자(RO:Receive Out)에서 TTL(Transistor-Transistor Logic) 레벨의 신호가 출력된다.Referring to FIG. 3, the first communication
신호 변환 회로부(120)는 U1 칩의 수신 신호 출력 단자(RO)에 직렬 연결되어 TTL 레벨로 출력되는 신호의 DC 성분을 제거하는 필터용 커패시터(C2)와, 필터용 커패시터(C2)와 접지 단자 사이에 병렬 연결되어 신호의 AC 성분을 적분하여 비교 대상 신호를 생성하는 적분용 커패시터(C3)를 포함한다.The signal
비교 회로부(130)는 비교 대상 신호를 반전 단자로 입력 받고 기준 신호를 비반전 단자로 입력 받아 상기 통신 확인용 LED의 구동 신호를 생성하는 OP-AMP를 포함한다.The
RX 통신 표시부(140)는 VCC 단자와 OP-AMP의 출력단자 사이에 연결되는 통신 확인용 LED(LD1)를 포함한다.RX
제1 통신 구동 회로부(110)에서 TTL 레벨의 출력 신호가 발생되면, 즉, 스위치 허브와 단말장치가 정상적으로 접속된 상태라면, U1 칩의 RO 단자에서 TTL 레벨의 출력 신호가 생성되며, 신호 변환 회로부(120)에서 설정된 시간 이후 OP-AMP의 반전 단자에 기준 신호 이상의 레벨을 갖는 신호가 출력된다. OP-AMP의 출력단이 로우 레벨로 떨어지면서 통신 확인용 LED(LD1)이 점등된다.When the TTL level output signal is generated in the first communication
이때, 제1 통신 구동 회로부(110)는 RS-485 계열의 병렬 통신 칩이므로, 스위치 허브와 단말장치가 통신을 통해 데이터를 주고 받는 환경에서도, 스위치 허브와 단말장치의 통신에 영향을 미치지 않는다. 따라서 회선을 절체하는 작업을 진행하는 경우에도 기존의 통신 라인을 중단하지 않는 무중단 회선 절체 작업을 가능하게 한다.At this time, since the first communication
도 4는 본 발명에서 포트 간의 매칭 상태 및 단말장치의 접속 여부를 확인하기 위한 테스터 유닛의 회로를 예시한 회로도이다.FIG. 4 is a circuit diagram illustrating a circuit of a tester unit for checking a matching state between ports and whether a terminal device is connected in the present invention.
먼저 도 4의 하단에 도시된 테스터 스위치 회로부(270)에 대하여 설명한다. 테스터 스위치 회로부(270)는 3단 스위치(SW101)와, 회로를 구성하는 IC들의 동작 전원인 VCC 전원(DC 5V)을 생성하기 위한 정전압 레귤레이터(U105)를 포함한다. 도시한 바와 같이, 3단 스위치는 연동형 스위치로서, 제1 상태는 VCC 전원을 생성하지 않는 OFF 상태이고, 제2 상태 및 제3 상태는 정전압 레귤레이터(U105)에 전원이 투입되는 ON 상태이다. 3단 스위치(SW101)가 제2 상태 또는 제3 상태에 놓여질 경우, 회로 전체에 VCC 전원이 공급된다. 한편, 3단 스위치(SW101)가 제2 상태에 놓여지면 CHECK 단자는 플로팅 되며, 제3 상태에 놓여지면 CHECK 단자는 접지측과 연결된다. 제2 상태에서 엘이디 패치 패널(100)의 입출력 포트와 스위치 허브의 포트 또는 단말 포트 간에 전기적 매칭 상태를 확인하는 LAN 테스트 작업이 수행되며, 제3 상태에서 단말 포트에 단말 장치가 접속되어 있는지를 확인하는 CHECK 작업이 수행된다.First, the tester
도 4를 참조하면, 제1 발진 회로부(210) 및 제2 발진 회로부(220)는 각각 발진 신호를 생성하는 오실레이터(예컨대, NE 555 칩(U102, U101))를 포함한다. 제1 발진 회로부(210)는 육안으로 LED의 점등을 확인할 수 있는 낮은 주파수, 예를 들어 1Hz의 제1 발진 신호를 생성하며, 제2 발진 회로부(220)는 제2 통신 구동 회로부(260)를 구성하는 RS-485 계열의 통신 칩인 MAX 485 칩(U104)을 구동하기 위한 제2 발진 신호, 예를 들어 60Hz의 제2 발진 신호를 생성한다.Referring to FIG. 4, the
클록 생성 회로부(230)는 4개의 낸드 게이트가 포함된 칩(U103)으로 구성될 수 있다. 구체적으로, 클록 생성 회로부(230)는 제2 발진 신호를 2 입력으로 받아 반전 클록을 출력하는 제1 낸드 게이트(U103:A)와, 제1 발진 신호를 하나의 입력으로 받고 다른 하나의 입력은, 테스터 스위치 회로부(270)가 제2 상태로 스위칭 될 때에는 VCC 전원에 연결되고, 테스터 스위치 회로부(270)가 제3 상태로 스위칭 될 때에는 접지측에 연결되는 제2 낸드 게이트(U103:B)를 포함한다. The clock
테스터 스위치 회로부(270)가 제2 상태에 있을 때 제2 낸드 게이트(U103:B)의 5번 단자에는 VCC 전원이 연결되며, 제2 낸드 게이트(U103:B)는 제1 발진 신호의 반전 신호에 해당되는 클록이 출력된다.When the
제2 낸드 게이트(U103:B)의 출력단에는 테스터 유닛 동작 표시부(290)가 연결된다. 테스터 유닛 동작 표시부(290)에 구비된 테스터 유닛 동작 확인용 LED(D101)가 1Hz의 주기로 점멸되어, 랜 테스트 동작이 수행되는 것을 알린다.The tester unit
테스터 스위치 회로부(270)가 제3 상태에 있을 때 CHECK 단자가 접지측과 연결되므로, 제2 낸드 게이트(U103:B)의 5번 단자는 항시 로우 레벨이 인가된다. 따라서 제2 낸드 게이트(U103:B)는 제1 발진 신호와 무관하게 일정한 레벨의 출력을 발생시키며, LAN 테스트 기능은 차단되고 테스터 유닛 동작 확인용 LED(D101)는 소등된다.Since the CHECK terminal is connected to the ground side when the tester
도 4를 참조하면, 클록 생성 회로부(230)는 제3 낸드 게이트(U103:C)와 제4 낸드 게이트(U103:D)를 더 포함한다. 도시한 바와 같이, 제4 낸드 게이트(U103:D)는 제1 낸드 게이트(U103:A)의 출력(즉, 제2 발진 신호의 반전 파형)과 제1 발진 신호를 입력받아 반전 클록을 출력하며, 제3 낸드 게이트(U103:C)는 제4 낸드 게이트(U103:D)의 출력을 2 입력으로 받아 반전 클록을 출력한다.Referring to FIG. 4, the clock
제2 통신 구동 회로부(260)는 제1 구동 회로부(110)와 마찬가지로 RS-485 계열의 통신 칩인 MAX 485 칩(U104)으로 구성되며, 단지 U104 칩을 송신 회로로 적용한다는 차이가 있다. 이와 같이 제1 통신 구동 회로부(110)와 제2 통신 구동 회로부(260)를 동일한 통신 칩으로 적용함으로써, 제품 설계를 간소화 할 수 있으며, 제조 코스트를 절감하고 유지보수를 용이하게 할 수 있다.Like the first
도시한 바와 같이 데이터 단자(A, B)에는 엘이디 패치 패널 애널라이저 상의 한 쌍의 포트(NO_3, NO_6)가 연결된다. 통신 칩을 송신 회로로 사용하기 위해 RE 단자와 DE 단자는 VCC 단자에 접속하여 하이 레벨을 인가하였다. 그리고 제3 낸드 게이트(U103:C)의 출력 단자가 U104 칩의 구동 입력 단자(DI:Drive Input)에 연결된다. 따라서 테스터 스위치 회로부(270)가 제2 상태로 스위칭 될 때에는 제2 통신 회로부(260)와 제1 통신 회로부(110)가 상호 통신하며, 제3 상태로 스위칭 될 때에는 RE 단자와 DE 단자가 접지되어 제2 통신 회로부(260)와 제1 통신 회로부(110)가 서로 통신하지 않는 상태로 전환된다. 이와 같은 제3 상태에서 단말 포트에 단말장치가 접속되어 있는지를 확인할 수 있다.As illustrated, a pair of ports NO_3 and NO_6 on the LED patch panel analyzer are connected to the data terminals A and B. In order to use the communication chip as a transmission circuit, the RE terminal and the DE terminal were connected to the VCC terminal to apply a high level. The output terminal of the third NAND gate U103: C is connected to a drive input terminal DI of the U104 chip. Therefore, when the tester
도 4를 참조하면, 출력 포트의 단자 중 6번 단자(No_6)는 저항(R108)을 매개로 접지되며, 3번 단자(No_3)에 단말 연결 확인용 LED(D102)의 캐소드 단자가 연결된다. 단말 연결 표시부(250)는 테스터 스위치 회로부(270)가 제3 상태로 스위칭 될 때 트리거 되는 스위칭소자(Q101)를 포함하며, 도시한 바와 같이 스위칭소자(Q101)가 턴 온 되면 출력 포트의 3번 단자(No_3)와 6번 단자(No_6)가 연결되어 있을 때 단말 연결 확인용 LED(D102)가 점등된다.Referring to FIG. 4, the sixth terminal No_6 among the terminals of the output port is grounded through the resistor R108, and the cathode terminal of the terminal connection confirmation LED D102 is connected to the third terminal No_3. The terminal
즉, 테스터 스위치 회로부(270)를 제2 상태로 스위칭하여 패치 패널의 출력 포트와 단말 포트의 매칭을 확인한 이후에, 테스터 스위치 회로부(270)를 제3 상태로 스위칭하면 출력 포트의 3번 단자와 6번 단자가 연결되어 있는지 여부(즉, 단말 포트에 단말장치가 접속된 상태인지 여부)를 확인할 수 있게 된다. 예를 들어, 단말 포트가 비어 있으면 단자 간의 연결이 플로팅되어 단말 연결 확인용 LED(102)가 소등 상태에 있게 되고, 단말 포트에 단말장치가 접속되어 있으면 폐회로가 구성되어 단말 연결 확인용 LED(102)가 점등된다.That is, after checking the matching of the output port and the terminal port of the patch panel by switching the tester
위에서 개시된 발명은 기본적인 사상을 훼손하지 않는 범위 내에서 다양한 변형예가 가능하다. 즉, 위의 실시예들은 모두 예시적으로 해석되어야 하며, 한정적으로 해석되지 않는다. 따라서 본 발명의 보호범위는 상술한 실시예가 아니라 첨부된 청구항에 따라 정해져야 하며, 첨부된 청구항에 한정된 구성요소를 균등물로 치환한 경우 이는 본 발명의 보호범위에 속하는 것으로 보아야 한다.Various modifications are possible in the invention disclosed above without departing from the basic idea. That is, the above embodiments should all be interpreted as illustrative and not restrictive. Therefore, the protection scope of the present invention should be determined according to the appended claims rather than the above-described embodiments, and if the components defined in the appended claims are replaced by equivalents, they should be regarded as belonging to the protection scope of the present invention.
100 : 엘이디 패치 패널 110 : 제1 통신 구동 회로부
120 : 신호 변환 회로부 130 : 비교 회로부
140 : RX 통신 표시부 200 : 테스터 유닛
210 : 제1 발진 회로부 220 : 제2 발진 회로부
230 : 클록 생성 회로부 240 : LAN 테스트 표시부
250 : 단말 연결 표시부 260 : 제2 통신 구동 회로부
270 : 테스터 스위치 회로부 290 : 테스터 유닛 동작 표시부100: LED patch panel 110: first communication drive circuit portion
120: signal conversion circuit section 130: comparison circuit section
140: RX communication display unit 200: tester unit
210: first oscillation circuit portion 220: second oscillation circuit portion
230: clock generation circuit section 240: LAN test display section
250: terminal connection display unit 260: second communication drive circuit unit
270: tester switch circuit portion 290: tester unit operation display portion
Claims (9)
상기 스위치 허브와 연결되는 복수의 입력 포트;
상기 복수의 입력 포트 각각에 대응하여 전기적으로 연결되는 복수의 출력 포트;
상기 입력 포트 및 상기 출력 포트 사이에 연결되어 상기 스위치 허브와 상기 단말장치 간의 통신 신호를 수신하여 구동하는 제1 통신 구동 회로부;
상기 제1 통신 구동 회로부의 출력 신호를 비교 대상 신호로 변환하는 신호 변환 회로부;
상기 신호 변환 회로부의 출력을 기준 신호와 비교하는 비교 회로부;
상기 비교 회로부의 출력에 의해 통신 확인용 LED를 점등 구동하는 RX 통신 표시부; 및
테스터 유닛
을 포함하며,
상기 테스터 유닛은,
전원을 차단하는 제1 상태, 상기 출력 포트와 상기 단말장치 간의 포트 연결 상태를 확인하기 위한 랜 테스트용 VCC 전원을 생성하는 제2 상태, 상기 VCC 전원 라인 중 일부를 접지시키는 제3 상태 간에 스위칭하는 테스터 스위치 회로부;
상기 VCC 전원을 공급받아 제1 발진 신호를 생성하는 제1 발진 회로부;
상기 VCC 전원을 공급받아 상기 제1 발진 신호에 비해 높은 주파수의 제2 발진 신호를 생성하는 제2 발진 회로부;
상기 제1 발진 신호와 상기 제2 발진 신호를 합성하여 LAN 테스트용 클록을 생성하는 클록 생성 회로부;
상기 LAN 테스트용 클록을 구동 신호로 입력 받아 동작하며, 상기 RX 통신 표시부의 상기 통신 확인용 LED를 점멸 구동시키기 위해 상기 제1 통신 구동 회로부에 테스트 클록을 전송하는 제2 통신 구동 회로부; 및
상기 테스터 스위치 회로부가 상기 제3 상태로 스위칭 될 때 트리거 되어 상기 단말 포트에 상기 단말장치가 접속되는 경우 단말 연결 확인용 LED를 점등 구동하는 단말 연결 표시부
를 포함하는 엘이디 패치 패널 애널라이저.
In the LED patch panel analyzer installed between the switch hub and the terminal device to check the communication connection between the switch hub and the terminal device through the LED,
A plurality of input ports connected to the switch hub;
A plurality of output ports electrically connected to each of the plurality of input ports;
A first communication driving circuit unit connected between the input port and the output port to receive and drive a communication signal between the switch hub and the terminal device;
A signal conversion circuit unit converting an output signal of the first communication driving circuit unit into a comparison target signal;
A comparison circuit unit for comparing an output of the signal conversion circuit unit with a reference signal;
An RX communication display unit lighting and driving a communication confirmation LED by an output of the comparison circuit unit; And
Tester unit
Including;
The tester unit,
Switching between a first state of shutting off power, a second state of generating a VCC power supply for a LAN test for confirming a port connection state between the output port and the terminal device, and a third state of grounding a part of the VCC power lines A tester switch circuit portion;
A first oscillation circuit unit receiving the VCC power and generating a first oscillation signal;
A second oscillation circuit unit receiving the VCC power and generating a second oscillation signal having a higher frequency than that of the first oscillation signal;
A clock generation circuit unit configured to synthesize the first oscillation signal and the second oscillation signal to generate a clock for a LAN test;
A second communication driving circuit unit configured to receive the LAN test clock as a driving signal, and to transmit a test clock to the first communication driving circuit unit in order to blink and drive the communication confirmation LED of the RX communication display unit; And
The terminal connection display unit which is triggered when the tester switch circuit unit is switched to the third state to turn on the terminal connection confirmation LED when the terminal device is connected to the terminal port.
LED patch panel analyzer including a.
상기 제1 통신 구동 회로부는 상기 스위치 허브와 상기 단말장치 간의 통신 라인과 병렬로 연결되어 병렬 동작하는 반이중(Half-Duplex) 통신 칩을 수신 회로로 적용한 것인 엘이디 패치 패널 애널라이저.
The method of claim 1,
And the first communication driving circuit unit applies a half-duplex communication chip connected in parallel with a communication line between the switch hub and the terminal device as a receiving circuit.
상기 반이중 통신 칩은 RS-485 계열의 통신 칩인 엘이디 패치 패널 애널라이저.
The method of claim 2,
The half-duplex communication chip is an LED patch panel analyzer which is a communication chip of the RS-485 series.
상기 신호 변환 회로부는 상기 병렬 통신 칩의 수신 신호 출력 단자(RO)에 직렬 연결되어 TTL(Transistor-Transistor Logic) 레벨로 출력되는 신호의 DC 성분을 제거하는 필터용 커패시터(C2)와, 상기 필터용 커패시터(C2)와 접지 단자 사이에 병렬 연결되어 신호의 AC 성분을 적분하여 상기 비교 대상 신호를 생성하는 적분용 커패시터(C3)를 포함하며,
상기 비교 회로부는 상기 비교 대상 신호를 반전 단자로 입력 받고 상기 기준 신호를 비반전 단자로 입력 받아 상기 통신 확인용 LED의 구동 신호를 생성하는 OP-AMP를 포함하는 엘이디 패치 패널 애널라이저.
The method according to claim 2 or 3,
The signal conversion circuit unit is connected in series with the reception signal output terminal (RO) of the parallel communication chip and a filter capacitor (C2) for removing the DC component of the signal output at the TTL (Transistor-Transistor Logic) level, and for the filter An integration capacitor C3 connected in parallel between the capacitor C2 and the ground terminal to integrate the AC component of the signal to generate the signal to be compared;
And the comparison circuit unit includes an OP-AMP receiving the comparison target signal through an inverting terminal and receiving the reference signal through a non-inverting terminal to generate a driving signal of the communication confirmation LED.
상기 제1 발진 신호는 1Hz의 주파수를 가지며, 상기 제2 발진 신호는 60Hz 이상의 주파수를 가지는 엘이디 패치 패널 애널라이저.
The method of claim 1,
The first oscillation signal has a frequency of 1Hz, the second oscillation signal has a frequency of 60Hz or more LED patch panel analyzer.
상기 제1 발진 신호에 의해 테스터 유닛 동작 표시용 LED를 점멸 구동하는 테스터 유닛 동작 표시부를 더 포함하는 엘이디 패치 패널 애널라이저.
The method of claim 6,
LED patch panel analyzer further comprises a tester unit operation display unit for driving the LED for the tester unit operation display flashing by the first oscillation signal.
상기 제2 통신 구동 회로부는 RS-485 계열의 반이중(Half-Duplex) 통신 칩을 송신 회로로 적용한 것인 엘이디 패치 패널 애널라이저.
The method of claim 1,
The second communication driving circuit unit is an LED patch panel analyzer applying a half-duplex communication chip of the RS-485 series as a transmission circuit.
상기 클록 생성 회로부는 상기 제2 발진 신호를 2 입력으로 받아 반전 클록을 출력하는 제1 낸드 게이트(U103:A)와, 상기 제1 발진 신호를 하나의 입력으로 받고 다른 하나의 입력은 상기 테스터 스위치 회로부가 상기 제2 상태로 스위칭 될 때에는 상기 VCC 전원에 연결되고 상기 테스터 스위치 회로부가 상기 제3 상태로 스위칭 될 때에는 접지측에 연결되는 제2 낸드 게이트(U103:B)를 포함하는 엘이디 패치 패널 애널라이저.The method of claim 1,
The clock generation circuit unit receives the second oscillation signal as the second input and outputs an inverted clock to the first NAND gate U103: A, and receives the first oscillation signal as one input and the other input is the tester switch. LED patch panel analyzer including a second NAND gate (U103: B) connected to the VCC power supply when the circuit portion is switched to the second state and connected to the ground side when the tester switch circuit portion is switched to the third state. .
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Family
ID=68729091
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KR102418183B1 (en) | 2022-02-17 | 2022-07-08 | 마루네트웍스 주식회사 | Patch panel system with network monitoring function, and communication cable management systems using the same |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |