KR101801087B1 - Particle measuring apparatus using light scattering - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a particle measuring device using light scattering. According to the present invention, the particle measuring device collects weak scattered light to a large solid angle to be evenly concentrated to a small circular area in a measuring area where the particles are dispersed. Specifically, the particle measuring device has a groove on an outer side of a chamber (10) or a path penetrating the chamber (10) to form the measuring area where a fluid having the dispersed particles pass through, measures the scattered light by irradiating light to the measuring area, and measures the particle concentration by converting a signal of the measured scattered light to the particle concentration. The particle measuring device includes: a light source which irradiates the light to the measuring area; a collecting lens which faces an irradiation direction of the light on the opposite side of the light source with reference to the measuring area to refract and collect the scattered light; a plane mirror which is spaced apart from the collecting lens in an inclined manner on the backside of the collecting lens located on the opposite side of the light source to reflect the scattered light refracted by the collecting lens and transmit the light irradiated from the light source; and a light detector which is installed on a location where the scattered light reflected from the plane mirror is concentrated to measure the signal of the scattered light by the particles. Accordingly, the particle measuring apparatus is capable of measuring the particles with low concentration.

Description

광산란을 이용한 입자측정장치{Particle measuring apparatus using light scattering}[0002] Particle measuring apparatus using light scattering [

본 발명은 광산란을 이용한 입자측정장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 입자가 분산되어(dispersed) 있는 측정 영역에 설치하여, 입자에 의한 광선의 광산란(light scattering)을 이용하여 입자의 농도를 측정할 수 있도록 하는 광산란을 이용한 입자측정장치에 관한 것이다.The present invention relates to a particle measuring apparatus using light scattering, and more particularly, to a particle measuring apparatus using light scattering, and more particularly, to a particle measuring apparatus using light scattering in which a particle is dispersed in a measuring region To a particle measuring apparatus using light scattering.

일반적으로 연소가스를 배출하는 굴뚝이나 분체를 취급하는 공정의 배관이나 화학반응챔버와 같이 입자가 분산되어 유동하는 영역 내에의 입자의 농도를 측정하기 위하여 설치되는 인시튜(in-situ) 입자측정장치에 있어서 광을 이용하는 방법은 광감쇄(Light Extinction), 광산란(light scattering), 탁도(turbidity)를 이용한 것이 있다. 이 방법들 중에 입자의 낮은 농도를 측정하기 위해서는 주로 광산란 방법을 주로 사용하고 있다.An in-situ particle measuring device installed to measure the concentration of particles in a region where particles are dispersed and flow, such as piping in a process of handling a chimney or powder that discharges flue gas or a chemical reaction chamber Light extinction, light scattering, and turbidity are used as a method of using light in the case of a light source. Among these methods, light scattering method is mainly used for measuring low concentration of particles.

기존의 광산란 방법에 있어서 산란된 광을 집광시키기 위해서 렌즈만을 사용하거나 굴곡된 거울을 사용하고 있으며, 입자에 의한 광산란 신호는 조사된 광선의 반대편에서(전방 산란 forward scattering) 가장 크게 나타나기 때문에 주로 이곳에 집광기구를 설치한다.In the conventional light scattering method, only a lens is used to focus scattered light, or a curved mirror is used. Light scattering signals by particles are most prominent at the opposite side of the irradiated beam (forward scattering) A light condensing mechanism is installed.

이와 관련하여, 대한민국 등록특허 제10-1132406호(2012.03.26 등록, 이하 '특허문헌1'이라 약칭함)에는, 광산란 방식 입자측정장치에 관한 기술이 공지되어 있다.In this connection, Korean Patent No. 10-1132406 (registered on March 26, 2012, hereinafter abbreviated as "Patent Document 1") discloses a technique relating to a light scattering type particle measuring apparatus.

특허문헌1에 의하면, 측정 챔버에 반사 미러를 장착하여 광 검출부로 수광되는 산란광의 양을 증가시킴과 동시에 반사 미러에 의한 반사 산란광이 입사광의 초점 영역을 통과하지 않도록 하여, 산란광에 대한 인텐서티의 측정값을 증가시키고 이에 따라 노이즈에 의한 측정 오류를 감소시켜 상대적으로 더욱 작은 크기의 입자를 측정할 수 있고, 입자의 흐름이 집중되는 초점 영역에서 입자에 의해 발생되는 반사 산란광에 대한 간섭이 방지되어 정확하고 신뢰성이 향상된 측정 결과를 제공할 수 있게 하였다.According to Patent Document 1, a reflection mirror is attached to a measurement chamber to increase the amount of scattered light received by the photodetector, and the reflected scattered light from the reflection mirror does not pass through the focal region of the incident light, It is possible to measure particles of a relatively smaller size by increasing the measured value, thereby reducing measurement errors due to noise, and preventing interference with the reflected scattered light generated by the particles in the focus region where the flow of particles is concentrated Thereby providing accurate and reliable measurement results.

그러나 이러한 기존의 광산란 입자측정장치는 시간의 경과에 따라 조사되는 광의 강도가 저하될 수 있고, 진동이나 온도의 변화에 의하여 광학정렬이 변화될 수 있으며, 렌즈, 미러, 산광기, 윈도우와 같은 광학부품들이 먼지 등의 오염물질에 의해 오염되어 측정되어, 산란광의 강도가 변할 수 있어서 측정값의 보정을 필요로 하는 단점이 있었다.However, in such a conventional light scattering particle measuring apparatus, the intensity of light to be irradiated may be lowered with time, and optical alignment may be changed by a change in vibration or temperature, and an optical system such as a lens, a mirror, The parts are contaminated by pollutants such as dust, and the intensity of the scattered light may be changed, so that it is necessary to correct the measured value.

이러한 측정값의 보정을 위하여 기존에는 조사된 광을 광감지장치로 직접 측정하는 기구를 구성하여 조사된 광선의 강도를 기준(reference)으로 하여 산란광의 강도를 측정하여 입자의 농도를 환산하는 방법을 사용하는 경우가 있다.In order to calibrate these measured values, a method of measuring the intensity of the scattered light by converting the intensity of the scattered light to the intensity of the irradiated light by constructing a mechanism that directly measures the irradiated light with the light sensing device May be used.

측정값을 보정하는 기존의 또 다른 방법으로는 농도를 알고 있는 입자를 측정 영역에 공급하고 산란광을 측정하여 교정하거나, 입자 대신에 산란특성을 알고 있는 광선 산광기(diffuser)를 입자의 측정 영역에 설치하여 측정된 산란광을 교정하는 경우가 있다. Another known method of calibrating the measured values is to supply the particles with known concentration to the measuring area and calibrate them by measuring the scattered light or by using a diffuser which knows the scattering characteristics instead of the particles, It is sometimes necessary to calibrate the measured scattered light.

한편, 측정 영역으로부터 유입되는 산란광 이외의 배경광이 집광되어 측정되는 것을 보정하기 위하여, 기존에는 펄스 광선을 사용하여 배경광을 기저(base)로 하여 조사 광선에 의한 산란광 측정신호만을 추출하여 이용하는 방법을 사용하고 있다.On the other hand, in order to correct the fact that the background light other than the scattered light introduced from the measurement region is condensed and measured, conventionally, only the scattered light measurement signal by the irradiation light is extracted using the background light as the base .

또한, 측정 영역에 공급되는 유체로 인하여 광학장치들이 오염이 되면 입자 측정 장치의 성능이 저하되기 때문에 이를 방지하기 위하여, 기존에는 입자가 분산되어 있는 측정영역과 광선의 경로상에 설치된 광학부품들 사이에 윈도우를 설치하거나, 조사 광선이나 산란광이 투과할 수 있는 구멍이 있는 칸막이들을 설치하고, 상기 구멍들을 통하여 측정 영역으로 깨끗한 유체를 밀어냄으로써 측정 영역으로부터 오염물질이 유입되는 것을 방지하고 있다.In addition, since the performance of the particle measuring apparatus is deteriorated due to the contamination of the optical devices due to the fluid supplied to the measurement region, in order to prevent this, And a partition having holes through which irradiation light or scattered light can be transmitted are installed and a clean fluid is pushed through the holes to the measurement area to prevent contaminants from flowing into the measurement area.

한편, 산란광의 집광을 위하여 기존의 렌즈만을 사용하는 경우에는 조사된 광선을 제외한 산란광을 집광하기 위해서 주로 조사 광선의 경로에서 벗어난 위치에 렌즈를 설치한다. 이 경우 기하학적으로 큰 입체각으로 전방 산란광을 집광시키는 데에 한계가 있다.On the other hand, when only an existing lens is used for focusing the scattered light, the lens is installed at a position deviated from the path of the irradiation light, in order to focus the scattered light except for the irradiated light. In this case, there is a limit in collecting the forward scattered light with a geometrically large solid angle.

또 다른 방법으로는 굴곡된 거울을 사용하여 산란광을 집광하는 방법이 있는데, 그 예로 미국등록특허 US08134706호(2012.03.13 등록, 이하 '특허문헌2'라 약칭함)에는 스택에 흘러드는 입자들을 모니터링하기 위한 모니터(원제: Monitor for monitoring particles flowing in a stack)에 관한 기술이 공지되어 있다.As another example, there is a method of condensing scattered light using a curved mirror. For example, US Patent No. US 8134706 (registered on Mar. 13, 2012, hereinafter referred to as Patent Document 2) A technique for monitoring a monitor for monitoring particles in a stack is known.

특허문헌 2에 의하면, 구멍이 난 굴곡된 거울을 사용하여 산란광을 집광시키고 산란광을 구멍이 있는 거울로 반사시켜 집중시키게 한다. 이와 같이 구멍이 난 거울을 사용하는 경우는 광선과 광원근처에서 나오는 주변광(stray light)을 구멍으로 통과시켜 효과적으로 배제할 수 있다. 그러나 굴곡된 거울은 조사된 광선과 일정한 각도를 가져야 하므로, 이러한 각도로 인하여 산란광원이 각도가 이루어진 방향으로 상이 늘려져(elongated) 타원의 형태로 투영된다. 여기서 큰 입체각을 가지기 위해 굴곡된 거울을 가까이 가져갈수록 거울과 조사된 광선과의 각도는 커지며 이로 인해 늘려짐이 커져서 집광이 효율적이지 못한 단점이 있다. 따라서 큰 입체각으로 전방 산란광을 좁은 영역에 집광시켜 미약한 산란광을 측정 가능하게 하는 것을 필요로 하였다.According to Patent Document 2, scattered light is condensed by using a perforated mirror, and scattered light is reflected by a hole-shaped mirror to be concentrated. When such a hole mirror is used, the light beam and the stray light near the light source can be effectively passed through the hole. However, since the curved mirror must have a certain angle with the irradiated ray, this angle causes the scattered light to be projected in the form of an ellipse elongated in the direction of the angle. Here, in order to have a large solid angle, the angle between the mirror and the irradiated light becomes larger as the curved mirror is brought closer to the mirror. Therefore, it was necessary to condense the forward scattered light into a narrow region with a large solid angle to enable measurement of a small scattered light.

또한, 산란광을 구멍이 있는 거울로 반사시켜 집중시키는 경우 거울의 구멍이 난 부분에 도달하는 산란광은 집중되지 못함으로 인해서 산란광이 집중된 위치 근처에서 광의 투영된 상이 중심영역이 비어 있는 도우넛 형상이 되고 광감지장치의 감지부 주변으로 집중된 산란광이 벗어나는 현상이 발생할 수 있다. 이로 인하여 집중된 산란광을 감지부에 효과적으로 전달하지 못하는 현상이 발생할 수 있다. 따라서 집중된 산란광을 비교적 균일하게 감지부에 전달하는 수단을 필요로 하였다.In addition, when the scattered light is reflected by the mirror having the hole, the scattered light reaching the hole portion of the mirror is not concentrated, so that the projected image of the light becomes a donut shape in which the central region is empty near the position where the scattered light is concentrated, Scattered light concentrated around the sensing part of the sensing device may be deviated. This may cause a phenomenon in which concentrated scattered light can not be effectively transmitted to the sensing unit. Therefore, a means for transferring concentrated scattered light to the sensing unit relatively uniformly was required.

한편, 광산란 측정값을 보정하는 방법으로 조사된 광을 직접 측정하여 기준으로 사용하는 기존의 방법은 산란광을 측정할 때와 다른 광학적 경로를 사용하기 때문에 산란광 측정 경로상의 광학장치의 정렬이 변화되는 것을 보정할 수 없는 단점이 있다. 이러한 광산란 측정값을 보정하기 위하여 측정 영역에 입자를 공급하는 기존의 방법은 일정농도의 입자발생장치가 부가적으로 필요하여 산업측정 현장에서는 적용하는데 어려움이 있으며, 또한 측정값을 보정하기 위하여 측정 영역에 광선 산광기(diffuser)를 설치하는 경우는 실험실이 아닌 산업측정 현장에서 적용하는데 어려움이 있다. 따라서 입자 측정 장치를 산업 현장에 설치하여 사용하기 위해서는 주기적으로 자동으로 구동되고 오염원으로부터 격리된 위치에 설치되어 측정값을 보정할 수 있는 기구를 필요로 하였다.On the other hand, the conventional method of directly measuring irradiated light as a method of correcting the light scattering measurement value uses a different optical path from that of the scattering light, so that the alignment of the optical device on the scattering light measurement path is changed There is a drawback that it can not be corrected. Conventional methods of supplying particles to the measurement region to compensate for such light scattering measurement values are difficult to apply in the industrial measurement field due to the additional necessity of a particle generator of a certain concentration, It is difficult to apply a diffuser to an industrial measurement site rather than a laboratory. Therefore, in order to install and use the particle measuring device in the industrial field, it was required to have a mechanism that is periodically driven automatically and installed in a position isolated from the pollution source, so that the measured value can be corrected.

한편, 측정 영역으로부터 유입되는 배경광의 대부분을 차단하기 위하여, 펄스 광원을 사용하는 기존의 경우는 입자의 산란광의 강도에 비하여 배경광의 강도가 충분히 작지 않으면, 주어진 광감지장치의 측정범위 내에서 측정할 수 있는 입자의 농도의 측정 범위가 줄어 들거나 측정값의 정밀도가 감소하는 결과를 가져온다. 따라서 이 경우에는 유입되는 배경광을 효과적으로 차단할 수 있는 장치를 필요로 하였다.On the other hand, in the conventional case using a pulsed light source in order to block most of the background light introduced from the measurement region, if the intensity of the background light is not sufficiently small compared to the intensity of the scattered light of the particle, The measurement range of the concentration of the particles can be reduced or the accuracy of the measured value is reduced. Therefore, in this case, a device capable of effectively blocking the incoming background light was needed.

한편, 측정 영역으로부터 유입되는 오염물질에 의해 광학장치들이 오염되면 측정장치의 성능이 떨어지게 된다. 따라서 이를 방지하기 위해서는 측정 영역으로부터 유입될 수 있는 오염물질에 의해 광학장치들이 오염되는 것을 방지하기 위한 효과적인 구조의 오염방지장치를 필요로 하였다.On the other hand, if the optical devices are contaminated by contaminants introduced from the measurement area, the performance of the measuring device is deteriorated. Therefore, in order to prevent this, there has been a need for an effective structure of a pollution prevention device for preventing the optical devices from being contaminated by contaminants that may enter from the measurement area.

대한민국 등록특허 제10-1132406 B1 2012.03.26. 등록Korean Registered Patent No. 10-1132406 B1 2012.03.26. Enrollment 미국등록특허 US08134706호 2012.03.13 등록US registered patent US08134706 Registration March 13, 2012

따라서 본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는, 광선의 조사방향으로 입자의 산란영역 정후방에 집광렌즈를 근접 설치하고 광선의 조사방향으로 집광렌즈 정후방에 구멍이 난 평면거울을 조사방향에 대하여 소정의 각도 기울어지게 설치함으로써 전방 산란광을 집광렌즈에 의해 큰 입체각으로 집광시키고 조사된 광선과 광원주위에서 나오는주변광을 평면거울의 구멍으로 통과시켜 배제하고 상기 구멍 방향의 산란광을 제외한 집광되는 산란광을 평면거울로 반사시켜 원형으로 작은 영역에 집중될 수 있도록 하여, 미약한 산란광을 큰 입체각으로 작은 영역의 광신호 측정부에 집광시켜 낮은 농도의 입자 측정이 가능하게 하는 광산란을 이용한 입자측정장치를 제공하고자 하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, the present invention has been made in an effort to solve the above problems, and it is an object of the present invention to provide a condenser lens in close proximity to a scattering region of a particle in the direction of irradiation of light, A planar mirror having a hole in the back and forth direction is inclined at a predetermined angle with respect to the irradiation direction so that the forward scattered light is condensed at a large solid angle by the condenser lens and the irradiated light and the ambient light coming from the light source are passed through the hole The scattered light except for the scattered light in the hole direction is reflected by the plane mirror so as to be concentrated in a small area in a circular shape so that the weak scattered light is focused on the optical signal measuring part of a small area with a large solid angle, And to provide a particle measuring apparatus using light scattering enabling measurement.

본 발명이 해결하고자 하는 다른 기술적 과제는, 광감지장치와 평면거울 사이의 산란광이 집중된 영역에 광도파로와 산란광 산광기를 설치함으로써 산란광을 비교적 균일하게 광감지장치의 감지부에 전달하여 입자측정장치의 측정 안정성을 향상시킬 수 있게 하는 광산란을 이용한 입자측정장치를 제공하고자 하는 것이다. Another object of the present invention is to provide an optical waveguide and a scattered light diffuser in a region where scattered light is concentrated between a light sensing device and a plane mirror to transmit scattered light relatively uniformly to a sensing unit of a light sensing device, And to provide a particle measuring apparatus using light scattering capable of improving the measurement stability of the particle.

본 발명이 해결하고자 하는 또 다른 기술적 과제는, 광 감지장치 앞쪽에 협대역 통과필터(narrow band-pass filter)를 설치하여 배경광을 차단할 수 있도록 함으로써 레이저 광원을 이용하여 낮은 입자 농도의 미약한 산란광에 대해서도 넓은 측정범위를 가질 수 있고 측정의 정밀도를 향상시킬 수 있게 하는 광산란을 이용한 입자측정장치를 제공하고자 하는 것이다.Another problem to be solved by the present invention is to provide a narrow band-pass filter in front of the light sensing device to block the background light, so that a weak light scattering phenomenon The present invention also provides a particle measuring apparatus using light scattering that can have a wide measuring range and improve the precision of measurement.

본 발명이 해결하고자 하는 또 다른 기술적 과제는, 측정영역 근처의 오염물질로부터 보호되는 영역에 주기적으로 자동으로 구동하는 한 개 이상의 광선 산광기(Diffuser)를 설치하고 전환판과 그 구동장치를 구비하여 산업 현장에서 자동으로 산란광의 신호를 보정할 수 있게 하는 광산란을 이용한 입자측정장치를 제공하고자 하는 것이다.It is another object of the present invention to provide an apparatus and a method for detecting a pollutant by providing at least one light diffuser that is periodically and automatically driven in a region protected from pollutants near a measurement region, And it is an object of the present invention to provide a particle measuring apparatus using light scattering which enables a signal of a scattered light to be automatically corrected in an industrial field.

본 발명이 해결하고자 하는 또 다른 기술적 과제는, 측정 영역 전방의 전환판과 챔버 칸막이의 제1구멍 사이를 이격시키고, 및 측정 영역 후방의 챔버 칸막이의 제2구멍과 집광렌즈를 감싸도록 부착되는 경통의 일부를 다공질 재료로 구성하여 청정유체를 배출시킬 수 있도록 하여 측정영역에서 오염물질이 유입되는 것을 방지할 수 있으며 이로써 광학장치의 오염에 의한 측정장치의 성능저하를 방지할 수 있게 하는 광산란을 이용한 입자측정장치를 제공하고자 하는 것이다.Another problem to be solved by the present invention is to provide an apparatus and a method for measuring a distance between a first plate of a chamber partition and a second plate of a chamber partition, A part of the porous material is made of a porous material so that the clean fluid can be discharged to prevent contaminants from flowing into the measurement area and thereby to prevent degradation of the performance of the measuring device due to contamination of the optical device. And to provide a particle measuring apparatus.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 제1 실시 형태는, 챔버의 외측에 요홈을 형성하거나 챔버의 내측을 통과하는 통로를 형성하여 이 공간으로 입자가 분산된 유체가 통과할 수 있는 측정영역을 구비하고 측정영역에 광선을 조사하여 입자에 의한 산란광을 측정하고 측정된 산란광 신호를 입자의 농도로 변환하여 입자의 농도를 측정하는 장치에 있어서, 측정영역에 광선을 조사하는 광원, 측정영역을 기준으로 광원의 반대쪽에 광선의 조사 방향을 마주보도록 설치되어 산란광을 굴절 및 집광시키는 집광렌즈, 광원 반대쪽의 집광렌즈 정후방에 집광렌즈와 이격되어 경사지게 설치되어 집광렌즈에 의해 굴절된 산란광을 반사시키고 광원에서 조사된 광선을 통과시키는 구멍을 가진 평면거울, 평면거울에서 반사된 산란광이 집중되는 위치에 설치되어 입자에 의한 산란광 신호를 측정하는 광감지장치를 포함하는, 광산란을 이용한 입자측정장치이다. According to a first aspect of the present invention for attaining the above object, there is provided a method of manufacturing a semiconductor device, comprising: forming a groove on the outside of the chamber or forming a passage through the inside of the chamber, An apparatus for measuring a concentration of a particle by irradiating a measurement region with a light beam and measuring scattered light by the particle and converting the measured scattered light signal into a particle concentration, the apparatus comprising: a light source for irradiating a light beam to a measurement region; A condensing lens installed to face the irradiation direction of the light beam on the opposite side of the light source to refract and condense the scattered light, a reflecting mirror disposed at a rear side of the condensing lens opposite to the light source so as to be spaced apart from the condensing lens to reflect scattered light refracted by the condensing lens, A plane mirror with a hole through which the irradiated light beam passes, a position where the scattered light reflected from the plane mirror is concentrated A particle measuring apparatus using a light scattering comprising an optical sensing device for measuring a scattered light signal by the control particles.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 제2 실시 형태는, 산란광이 집중된 위치와 광감지장치 사이에 설치되어 집중된 산란광을 전달하는 광도파로를 더 포함하는, 광산란을 이용한 입자측정장치이다.In order to achieve the above object, the second embodiment of the present invention is a particle measuring apparatus using light scattering, further comprising an optical waveguide provided between a position where the scattered light is concentrated and scattered light concentrated between the light sensing devices.

상기 본 발명의 각 실시 형태는, 광감지장치와 평면거울 사이의 산란광이 집중된 영역에 설치되어, 집중된 산란광을 산란시키는 산란광 산광기를 더 포함하여, 각각 또 다른 실시형태로 구현될 수도 있다. Each of the embodiments of the present invention may further be embodied as another embodiment including scattered light diffracters provided in a region where scattered light between the light sensing device and the plane mirror is concentrated and scattering concentrated scattered light.

상기 본 발명의 각 실시 형태는, 광원으로는 레이저를 사용하며, 광감지장치와 평면거울 사이에 설치되어 레이저 광의 파장 이외의 파장을 걸러주는 협대역 통과필터를 더 포함하여, 각각 또 다른 실시 형태로 구현될 수 있다.Each of the embodiments of the present invention further includes a narrow band pass filter which is provided between the light sensing device and the plane mirror to filter wavelengths other than the wavelength of the laser light, . ≪ / RTI >

상기 본 발명의 각 실시 형태는, 챔버의 내부로 청정유체를 공급하는 청정유체 공급장치, 광선이 통과하도록 제1구멍이 형성되고 챔버의 몸체 일부를 이루며 광원과 측정영역 사이에 설치되어 광선을 제1구멍으로 통과시키는 제1칸막이, 청정유체가 통과할 수 있는 공간이 확보되도록 제1칸막이와 소정 거리를 두고 이격되게 광원과 제1칸막이 사이에 설치되어 광원에서 조사되는 광선을 산란시키는 한 개 이상의 광선 산광기, 회전 가능한 원판 몸체로 이루어지며 광선 산광기를 원판 몸체의 내측에 지지 및 고정하여 원판 몸체의 회전 동작에 의해 광선 산광기가 광선의 조사 방향으로 마주보는 면에 위치되도록 전환하는 전환판, 전환판의 회전 동작을 구동하는 전환판 구동장치, 산란광이 통과하도록 제2구멍이 형성되고 챔버의 몸체 일부를 이루며 측정영역과 집광렌즈 사이에 설치되어 산란광을 제2구멍으로 통과시키는 제2칸막이, 제2구멍을 둘러 감싸도록 제2칸막이의 내측에 설치되고 집광렌즈가 몸통의 내주면에 고정되며 청정유체가 통과할 수 있는 다공성 부분이 구비된 경통을 더 포함하여, 각각 또 다른 실시 형태로 구현될 수 있다.Each of the above-described embodiments of the present invention includes a clean fluid supply device for supplying a clean fluid into a chamber, a first hole formed through the first hole for passing a light beam therethrough and a part of a body of the chamber, A first partition for passing the first fluid through the first partition, a first partition for passing the cleaned fluid through the first partition, a second partition provided between the light source and the first partition so as to be spaced apart from the first partition by a predetermined distance, A light diffuser, and a rotatable disc body, and a light diffuser is supported and fixed inside the disc body so that the light diffuser is positioned on a surface facing the light beam in the direction of irradiation of the light by a rotation operation of the disc body. A switching plate driving device for driving the rotation of the switching plate, a second hole formed so as to allow scattered light to pass therethrough, A second partition provided between the fixed region and the condenser lens to allow the scattered light to pass through the second hole, a condenser lens provided inside the second partition to surround the second hole, the condenser lens being fixed to the inner peripheral surface of the body, Each of which is provided with a porous portion, which can be made of a metal, and each can be embodied in another embodiment.

본 발명에 의하면, 광선의 조사방향으로 입자의 산란영역 정후방에 집광렌즈가 근접 설치되고 광선의 조사방향으로 집광렌즈 정후방에 구멍이 난 평면거울이 조사방향에 대하여 소정의 각도 기울어지게 설치되므로 조사된 광선과 광원 주위에서 나오는 주변광을 평면거울의 구멍으로 통과시켜 배제하고 상기 구멍 방향의 산란광을 제외한 집광되는 산란광을 평면거울로 반사시켜 전방 산란광을 집광렌즈에 의해 큰 입체각으로 집광시킬 수 있으면서도 집광되는 산란광이 평면거울에 의해 원형으로 작은 영역에 집중될 수 있게 되며, 따라서 미약한 산란광을 큰 입체각으로 작은 영역의 광신호 측정부에 집광시켜 낮은 농도의 입자 측정이 가능하게 하는 이점을 제공한다. According to the present invention, since the condenser lens is disposed close to the scattering region of the particle in the irradiation direction of the particle and the plane mirror having the hole formed in the rear of the condensing lens in the irradiation direction of the light beam is provided at a predetermined angle to the irradiation direction The scattered light except the scattered light in the direction of the hole is reflected by the plane mirror so that the forward scattered light can be collected by the condensing lens into a large solid angle by the condenser lens, It is possible to concentrate scattered light to a small area circularly by the plane mirror, and therefore, it is advantageous to condense weak scattered light into a small area optical signal measuring part with a large solid angle to enable low concentration particle measurement .

또한 본 발명에 의하면, 광감지장치와 평면거울 사이의 산란광이 집중된 영역에 광도파로와 산란광 산광기가 설치되므로 산란광을 비교적 균일하게 광감지장치의 감지부에 전달할 수 있게 되어 입자측정장치의 측정 안정성을 향상시킬 수 있게 한다. According to the present invention, since the optical waveguide and the scattered light diffuser are installed in the region where the scattered light between the light sensing device and the plane mirror is concentrated, the scattered light can be transmitted to the sensing portion of the light sensing device relatively uniformly, . ≪ / RTI >

또한 본 발명에 의하면, 광감지장치 앞쪽에 협대역 통과필터가 설치되어 배경광 차단이 가능하게 되므로 레이저 광원을 이용할 수 있게 되며 이로써 낮은 입자 농도의 미약한 산란광에 대해서도 넓은 측정범위를 가질 수 있고 측정의 정밀도를 향상시킬 수 있게 된다. According to the present invention, since a narrow band pass filter is provided in front of the light sensing device, it is possible to block background light, so that a laser light source can be used. Thus, a wide measurement range can be obtained even for weak scattered light with low particle concentration. It is possible to improve the precision of the measurement.

또한 본 발명에 의하면, 측정영역 근처의 오염물질로부터 보호되는 영역에 주기적으로 자동으로 구동되는 한 개 이상의 광선 산광기를 포함하는 전환판과 그 구동장치가 구비되므로, 산업 현장에서 자동으로 산란광의 신호를 보정할 수 있게 하는 이점을 제공한다. Further, according to the present invention, since the switching plate including the at least one light-emitting device that is periodically and automatically driven in the area protected from the contaminant near the measuring area and the driving device are provided, To be corrected.

또한 본 발명에 의하면, 측정영역 전방의 전환판과 챔버 칸막이의 제1구멍 사이를 이격시키고, 및 측정영역 후방의 챔버 칸막이의 제2구멍과 집광렌즈를 감싸도록 부착되는 경통의 일부를 다공성으로 구성하여 청정유체를 배출시킬 수 있도록 하여 측정영역에서 오염물질이 유입되는 것을 방지할 수 있으며 이로써 광학장치의 오염에 의한 측정장치의 성능저하를 방지할 수 있게 하는 이점을 제공한다.According to the present invention, a part of the barrel attached so as to surround the condenser lens and the second hole of the chamber partition at the rear of the measurement area is made porous by separating the switching plate in front of the measurement area and the first hole of the chamber partition, So that contaminants can be prevented from flowing into the measurement area, thereby preventing deterioration of the performance of the measuring device due to contamination of the optical device.

도 1은 본 발명의 바람직한 실시 형태에 의한 광산란을 이용한 입자측정장치를 개략적으로 예시한 단면도이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a cross-sectional view schematically illustrating a particle measuring apparatus using light scattering according to a preferred embodiment of the present invention. FIG.

이하, 본 발명의 바람직한 실시 형태에 따른 광산란을 이용한 입자측정장치의 구성과 동작 및 그에 의한 작용 효과를 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the structure and operation of a particle measuring apparatus using light scattering according to a preferred embodiment of the present invention and its operation and effect will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정 해석되지 아니하며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서, 본 명세서에 기재된 실시 예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시 예에 불과할 뿐이므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.It is to be understood that the words or words used in the present specification and claims are not to be construed in a conventional or dictionary sense and that the inventor can properly define the concept of a term in order to describe its invention in the best possible way And should be construed in light of the meanings and concepts consistent with the technical idea of the present invention. Therefore, it should be understood that the embodiments described herein and the configurations shown in the drawings are only the most preferred embodiments of the present invention, and that various equivalents and modifications may be substituted for them at the time of the present application shall.

도 1은 본 발명에 따른 광산란을 이용한 입자측정장치의 전체적인 구성을 개략적으로 예시한 단면도로서, 본 발명의 광산란을 이용한 입자측정장치는, 광원(21), 집광렌즈(22), 평면거울(23), 및 광감지장치(24)를 포함하여 일 실시 형태로 구성될 수 있으며, 또한 광도파로(25), 및/또는 산란광 산광기(26), 및/또는 협대역 통과필터(27)를 선택적으로 더 포함하여 각각 다른 실시 형태로 구현될 수도 있다. FIG. 1 is a cross-sectional view schematically illustrating an overall configuration of a particle measuring apparatus using light scattering according to the present invention. The particle measuring apparatus using light scattering according to the present invention includes a light source 21, a condenser lens 22, a flat mirror 23 And / or light scattering photodetector 26, and / or narrow band pass filter 27 may be configured as optional, including optical sensing device 24 and optical sensing device 24, and optical waveguide 25 and / And may be implemented in different embodiments.

또한 본 발명의 각 실시 형태에 의한 광산란을 이용한 입자측정장치는, 광선 산광기(28), 전환판(29), 및 전환판 구동장치(30)를 더 포함하여 또 다른 실시 형태로 구현될 수도 있으며, 게다가 이러한 각 실시 형태는 청정유체 공급장치(32), 제1칸막이(11), 제2칸막이(12), 경통(33)을 더 포함하여 또 다른 실시 형태로 구현될 수도 있다. Further, the particle measuring apparatus using light scattering according to each embodiment of the present invention may further include the light beam radiator 28, the switching plate 29, and the switching plate driving device 30 so as to be implemented in another embodiment Each of these embodiments may further be embodied in another embodiment including the clean fluid supply device 32, the first partition 11, the second partition 12, and the barrel 33.

상기와 같은 본 발명의 각 실시 형태의 입자측정장치는 챔버(10)의 외측에 요홈을 형성하거나 챔버(10)의 내측을 통과하는 통로를 형성하여 이 공간(요홈 또는 통로)으로 입자가 분산된 유체가 통과할 수 있는 측정영역(13)을 구비하고, 이러한 측정영역(13)에 광선을 조사하여 유체의 입자에 의한 산란광을 측정하고 측정된 산란광 신호를 입자의 농도로 변환하여 유체 입자의 농도를 측정하는 장치에 적용되어 구현될 수 있다.The particle measuring apparatus according to each of the embodiments of the present invention as described above can form a groove on the outside of the chamber 10 or form a passage through the inside of the chamber 10 so that the particles are dispersed in the space And a measurement region 13 through which the fluid can pass. By irradiating the measurement region 13 with a light beam, the scattered light by the particles of the fluid is measured, the measured scattered light signal is converted into the concentration of the particles, For example.

챔버(10)에 구비되는 측정영역(13)은 도 1에 도시된 바와 같이 챔버(10)의 벽면에 설치되는 제1칸막이(11)와 제2칸막이(12)로 둘러싸인 공간 내측에 형성되며, 이들 제1칸막이(11)와 제2칸막이(12)는 서로 마주보는 형태로 챔버(10)의 몸체 일부를 이룬다.The measurement region 13 provided in the chamber 10 is formed inside the space surrounded by the first partition 11 and the second partition 12 provided on the wall surface of the chamber 10 as shown in FIG. The first partition 11 and the second partition 12 form a part of the body of the chamber 10 facing each other.

제1칸막이(11)는 광원(21)에서 조사된 광선(21a)이 통과하도록 제1구멍(11a)이 형성되고 광원(21)과 측정영역(13) 사이에 설치되어 광선(21a)을 제1구멍(11a)으로 통과시킨다. The first partition 11 is formed with a first hole 11a through which the light 21a irradiated from the light source 21 passes and a second hole 11a provided between the light source 21 and the measurement region 13, 1 hole 11a.

제2칸막이(12)는 입자에 의한 산란광이 통과하도록 제2구멍(12a)이 형성되고 측정영역(13)과 집광렌즈(22) 사이에 설치되어 입자에 의한 산란광을 제2구멍(12a)으로 통과시킨다.The second partition 12 is provided with a second hole 12a through which the scattered light by the particles passes and is provided between the measuring area 13 and the condenser lens 22 so as to scatter the scattered light by the particle into the second hole 12a .

광원(21)은 챔버(10)의 내부 공간을 거쳐 측정영역(13)에 광선(21a)을 조사할 수 있도록 챔버(10)의 외부에 설치되며, 이러한 광원(21)으로는 레이저를 사용할 수 있다.The light source 21 is installed outside the chamber 10 so as to irradiate a light ray 21a to the measurement region 13 through the inner space of the chamber 10 and a laser can be used as the light source 21. [ have.

집광렌즈(22)는 도 1에 예시된 바와 같이 측정영역(13)을 기준으로 광원(21)의 반대쪽, 즉 입자의 산란영역 정후방에 근접하게 설치되되 광선(21a)의 조사 방향을 마주보는 면에 설치되며, 입자에 의한 미약한 산란광을 큰 입체각으로 굴절 및 집광시킨다.1, the condensing lens 22 is provided near the opposite side of the light source 21, that is, the rear side of the scattering region of the particle with respect to the measurement region 13, And refracts and condenses the small scattered light due to the particles with a large solid angle.

평면거울(23)은 집광렌즈(22)를 기준으로 측정영역(13)의 반대쪽에 집광렌즈(22)로부터 이격되게 설치되되 광선(21a)의 조사 방향에 대하여 소정 각도로 기울어지게 설치되며, 집광렌즈(22)에 의해 굴절된 산란광을 원형의 작은 영역의 광신호 측정부에 집중될 수 있게 반사시킴으로써 낮은 농도의 입자 측정이 가능하게 하고, 중앙부분에 통과구멍(23a)을 구비하여 광원(21)에서 조사된 광선(21a)을 통과시킨다.The planar mirror 23 is provided on the opposite side of the measurement region 13 with respect to the condenser lens 22 so as to be spaced from the condenser lens 22 and is inclined at a predetermined angle with respect to the irradiation direction of the light beam 21a, The scattered light refracted by the lens 22 is reflected so as to be concentrated in the optical signal measuring unit of the circular small area so that the measurement of the particles at a low concentration is enabled and the passage hole 23a is provided at the center portion, And passes the irradiated light ray 21a.

광감지장치(24)는 평면거울(23)에서 반사된 산란광이 집중되는 위치에 설치되며, 입자에 의한 산란광 신호를 감지부를 통해 측정한다.The light sensing device 24 is installed at a position where the scattered light reflected by the plane mirror 23 is concentrated, and measures the scattered light signal by the particle through the sensing part.

광도파로(25)는 평면거울(23)에 의해 산란광이 집중된 위치와 광감지장치(24) 사이에 설치되며, 집중된 산란광을 안정적으로 광감지장치(24)에 전달한다.The optical waveguide 25 is provided between the position where the scattered light is concentrated by the plane mirror 23 and the light sensing device 24 and stably transmits the concentrated scattered light to the light sensing device 24. [

산란광 산광기(26)는 광감지장치(24)와 평면거울(23) 사이, 바람직하게는 광감지장치(24)와 광도파로(25) 사이의 산란광이 집중된 영역에 설치되며, 평면거울(23)에 의해 집중되고 광도파로(25)를 통해 전달된 산란광을 산란시켜 비교적으로 균일하게 광감지장치(24)의 감지부에 전달시킨다.The scattered light diffractor 26 is installed in a region where scattered light is concentrated between the light sensing device 24 and the planar mirror 23, preferably between the light sensing device 24 and the optical waveguide 25, Scattering the scattered light transmitted through the optical waveguide 25 and transmitting the scattered light to the sensing unit of the light sensing device 24 relatively uniformly.

바람직하게는 레이저를 광원으로 사용하고, 광원의 파장대역에서 벗어난 파장을 차단하는 협대역 통과필터(27)는 광감지장치(24)와 평면거울(23) 사이, 바람직하게는 광감지장치(24)와 산란광 산광기(26) 사이에 설치되며, 챔버 외부로부터 들어오는 배경광(background light)을 효과적으로 걸러준다.A narrow band pass filter 27, preferably using a laser as the light source and blocking off wavelengths outside the wavelength band of the light source, is provided between the light sensing device 24 and the planar mirror 23, preferably between the light sensing device 24 And the scattered light diffuser 26, and effectively filters the background light coming from the outside of the chamber.

광선 산광기(Diffuser; 28)는 광선(21a)의 조사방향으로 측정영역(13) 전방의 챔버(10) 내부, 바람직하게는 측정영역(13)의 일부를 형성하는 제1칸막이(11)의 내측에 제1칸막이(11)와 소정 거리(바람직하게는 후술될 청정유체가 통과할 수 있는 공간이 확보될 수 있는 거리) 이격되게 설치되며, 광원(21)에서 조사되는 광선(21a)을 산란시킨다. 이러한 광선 산광기는 산업 현장에서 산란광의 신호를 보정하기 위해 사용될 수 있으며, 한 개 이상으로 구성될 수 있다.The light diffuser 28 is arranged within the chamber 10 in front of the measurement area 13 in the direction of irradiation of the light 21a and preferably within the first partition 11 forming part of the measurement area 13 (Preferably a distance allowing a space for allowing a clear fluid to pass through) to be spaced apart from the first partition 11 by a predetermined distance, and the light 21a irradiated from the light source 21 is scattered . Such a light diffuser may be used to correct the signal of scattered light in an industrial field, and may be composed of more than one.

전환판(29)은 회전 가능한 원판 몸체로 이루어지며, 측정영역 근처의 오염물질로부터 보호되는 영역에 설치하는 것이 바람직하다. 이러한 전환판(29)은 원판 몸체의 내측에 광선 산광기(28)를 지지 및 고정시켜, 원판 몸체의 회전 동작에 의해 광선 산광기(28)가 광선(21a)의 조사 방향으로 마주보는 면에 위치되도록 전환할 수 있게 구성된다. 이러한 전환판(29)은 광선 산광기(28)가 설치된 원판 몸체의 일측에 측정영역(13)으로 광선(21a)은 통과시키고 측정영역(13)으로부터의 오염물질의 유입을 방지할 수 있는 윈도우(31)를 설치 및 고정하여 원판 몸체의 회전 동작에 의해 광선 산광기(28)와 윈도우(31) 중의 어느 하나가 광선(21a)의 조사 방향으로 마주보는 면에 위치되도록 선택 전환하도록 구성되는 것일 수도 있다.It is preferable that the switching plate 29 is formed of a rotatable disk body and is provided in an area protected from contaminants near the measurement area. The conversion plate 29 supports and fixes the light beam radiator 28 inside the disk body so that the light beam radiator 28 is rotated by the rotation of the disk body on the surface facing the irradiation direction of the light ray 21a To be positioned. The switching plate 29 is provided with a window capable of passing the light ray 21a through the measurement region 13 to one side of the disc body provided with the light beam radiator 28 and preventing the contaminants from flowing into the measurement region 13, (31) is installed and fixed so that one of the light beam expander (28) and the window (31) is selectively placed on the opposite surface in the irradiation direction of the light ray (21a) It is possible.

전환판 구동장치(30)는 전환판(29)의 회전 동작을 설정값에 따라 자동 또는 수동으로 구동한다. 자동으로 구동되는 경우는 설정값에 따라 주기적으로 구동될 수 있다. 여기서 전환판 구동장치(30)는 모터 또는 유체로 구동되는 실린더 중의 어느 하나로 구성될 수 있다.The switching plate drive device 30 drives the rotation operation of the switching plate 29 automatically or manually according to the set value. If it is automatically driven, it can be driven periodically according to the set value. Here, the switching plate drive device 30 may be constituted by either a motor or a cylinder driven by a fluid.

청정유체 공급장치(32)는 챔버(10)의 내부로 청정유체를 공급할 수 있도록 구성된다.The clean fluid supply device 32 is configured to supply the clean fluid to the inside of the chamber 10.

경통(33)은 양단부가 개방되고 집광렌즈(22)를 내주면에 끼움 고정시킬 수 있도록 하기 위해 집광렌즈(22)의 외경보다 큰 내경을 갖는 원통 몸체로 이루어지며, 제2칸막이(12)에 형성된 제2구멍(12a)을 둘러 감싸도록 제2칸막이(12)의 내측에 제2칸막이(12)에 대하여 수직하게 설치되고, 집광렌즈(22)가 원통 몸체의 내주면에 끼움 고정되며 청정유체가 통과할 수 있는 다공성 부분(33a)이 원통 몸체의 둘레를 따라 구비된다. 여기서 다공성 부분(33a)은 다수의 원형 구멍이 형성되거나 다공질 재료로 구성될 수 있다.The lens barrel 33 is formed of a cylindrical body having an inner diameter larger than the outer diameter of the focusing lens 22 so as to allow both ends to be opened and fixed to the inner peripheral surface of the focusing lens 22, A condenser lens 22 is fitted and fixed on the inner circumferential surface of the cylindrical body and a clean fluid is passed through the second partition 12 so as to surround the second hole 12a, A porous portion 33a is provided along the circumference of the cylindrical body. Here, the porous portion 33a may be formed of a plurality of circular holes or a porous material.

이상과 같이 구성되는 본 발명에 의한 광산란을 이용한 입자측정장치의 동작 및 그에 의한 작용 효과를 설명하면 다음과 같다.The operation and effect of the particle measuring apparatus using the light scattering according to the present invention will be described as follows.

먼저, 본 발명에서는 측정영역(13)과 인접하여 광원(21)쪽 방향에 위치하고 광선(21a)이 통과하는 제1구멍(11a)을 가지는 제1칸막이(11)와, 측정영역(13)과 인접하여 광원(21)쪽 반대 방향에 위치하고 광선(21a)과 산란광이 통과할 수 있는 제2구멍(12a)을 가지는 제2칸막이(12)를 각각 설치하여 챔버(10)를 구성하고, 레이저 형태의 광선(21a)을 방출하는 광원(21)을 챔버(10)의 외부, 즉 측정하고자 입자의 측정영역(13) 전방 일측에 설치하며, 측정하고자 입자의 측정영역(13) 후방 측에 광선의 조사방향을 마주보도록 경통(33)을 이용하여 집광렌즈(22)를 설치하고, 그 집광렌즈(22)의 후방에 통과구멍(23a)이 난 평면거울(23)을 설치한다. 이때 평면거울(23)은 조사되는 광선(21a)과 소정 각도를 두고 설치한다.The first partition 11 is located adjacent to the measurement region 13 and is located toward the light source 21 and has a first hole 11a through which the light 21a passes. And a second partition 12 having a second hole 12a which is adjacent to the light source 21 in the opposite direction and through which the light ray 21a and the scattered light can pass, A light source 21 for emitting a light ray 21a of the particle is placed outside the chamber 10, that is, on the front side of the measurement region 13 of the particle to be measured, A condenser lens 22 is provided using the lens barrel 33 so as to face the irradiation direction and a flat mirror 23 having a through hole 23a is provided behind the condenser lens 22. [ At this time, the plane mirror 23 is installed at a predetermined angle with the light ray 21a to be irradiated.

이후 집광렌즈(22)에 의해 굴절되고 평면거울(23)에 반사된 산란광이 집중되는 위치에 광감지장치(24)를 설치하거나, 또는 이 위치에 광도파로(25)(optical waveguide)를 설치하여 광을 전달시킨 다른 위치에 광감지장치(24)를 설치하여, 광감지장치(24)로 광의 강도를 측정한다. The optical sensing device 24 is installed at a position where the scattered light refracted by the condenser lens 22 and reflected by the plane mirror 23 is concentrated or an optical waveguide 25 is installed at this position A light sensing device 24 is provided at another location that transmits light, and the light intensity is measured by the light sensing device 24.

이러한 방법으로 집광렌즈(22)와 평면거울(23)을 이용하여 전방 산란광을 큰 입체각의 범위를 좁은 영역에 집광시킴으로써 광감지장치(24)의 감지부에 전달되는 측정광의 강도를 높일 수가 있게 된다. In this way, the intensity of the measurement light transmitted to the sensing unit of the light sensing device 24 can be increased by converging the forward scattered light to a narrow region of a large solid angle by using the condenser lens 22 and the planar mirror 23 .

이후 광감지장치(24)에서 변환된 전기적 신호는 농도변환장치에서 입자 농도로 변환된다.The electrical signal converted by the light sensing device 24 is then converted to a particle concentration in the concentration converter.

한편, 상기와 같은 본 발명에서 광감지장치(24)와 평면거울(23) 사이의 산란광이 집중된 영역에 산란광 산광기(26)를 설치한 경우, 산란광 산광기(26)가 집중된 산란광을 산란시켜 산란광의 중심부에서 광의 강도를 균일하게 만들어 줄 수 있게 되므로, 중심부에 밀집되지 않고 비교적으로 균일한 산란광을 광감지장치(24)의 감지부에 전달시킬 수 있게 된다. 이상적으로는 광감지장치(24)와 이에 인접한 광도파로(25) 사이에 산란광 산광기(26)를 설치하는 것이 산란광의 전달 손실을 최소화할 수 있어 가장 효과적이다.In the present invention, when the scattering photodetector 26 is provided in the region where the scattered light between the photodetector 24 and the planar mirror 23 is concentrated, scattered light scattered by the scattered photodetector 26 is scattered The intensity of the light can be made uniform at the center of the scattered light so that the scattered light can be transmitted to the sensing unit of the light sensing device 24 without being concentrated at the center. Ideally, providing the scattering photodetector 26 between the photodetector 24 and the adjacent optical waveguide 25 is most effective because it minimizes the transmission loss of scattered light.

한편, 상기와 같은 본 발명에서 광감지장치(24) 앞쪽, 즉 광감지장치(24)와 산란광 산광기(26) 사이에 협대역 통과필터(27)를 설치한 경우, 레이저 광원의 파장 대역 이외의 파장 대역을 걸러주는 협대역 통과필터(27)가 배경광을 효과적으로 차단함으로써, 기저신호를 낮추는 효과를 가질 수 있게 된다. 이로써 산란광과 함께 배경광이 광감지장치(24)에서 감지됨으로 인하여 농도의 측정범위가 줄어들거나 농도 측정값의 정밀도가 감소하는 것을 방지할 수 있다.When the narrow band pass filter 27 is provided between the light sensing device 24 and the scattering photodetector 26 in the front of the photodetector 24 in the present invention as described above, The narrow band pass filter 27 filtering the wavelength band of the background light effectively blocks the background light, thereby lowering the base signal. Thus, since the background light is detected by the light sensing device 24 together with the scattered light, it is possible to prevent the measurement range of the concentration from being reduced or the accuracy of the density measurement value to be reduced.

한편, 상기와 같은 본 발명에서 제1칸막이(11)와 광원(21) 사이에 한 개 이상의 광선 산광기(28)를 포함하는 전환판(29)을 설치하고, 이 전환판(29)을 자동 또는 수동 구동하기 위한 전환판 구동장치(30)를 구비하여, 전환판 구동장치(30)를 통해 주기적으로 자동 또는 수동으로 전환판(29)의 원판 몸체를 회전시켜 광선 산광기(28)가 광선(21a)의 조사 방향으로 마주보는 면에 위치되도록 전환함으로써, 산란광의 신호를 주기적으로 보정하게 하는 것이 가능하게 되며, 이러한 방법으로 산업 현장에서 쉽게 광산란 신호를 보정할 수 있게 된다. 또한 이러한 전환판(29)의 다른 일측에는 광선(21a)이 투과하는 윈도우(31)를 추가로 구비하여, 광선 산광기(28)를 사용하지 않는 경우에 측정영역(13)으로부터의 오염물질의 유입을 방지할 수 있게 된다.In the present invention as described above, a switching plate 29 including at least one light beam expander 28 is provided between the first partition 11 and the light source 21, and the switching plate 29 is automatically Or the switching plate driving device 30 for manually driving the switching plate 29 so that the disk body of the switching plate 29 is rotated automatically or manually through the switching plate driving device 30 periodically, It is possible to periodically correct the signal of the scattered light by switching to be located on the surface facing the irradiation direction of the light source 21a. In this way, it is possible to easily correct the light scattering signal in the industrial field. A window 31 through which the light ray 21a is transmitted is additionally provided on the other side of the switching plate 29 so that when the light ray diffracting device 28 is not used, So that the inflow can be prevented.

한편, 상기와 같은 본 발명에서, 제1칸막이(11)의 제1구멍(11a) 사이에 소정의 거리를 유지하도록 전환판(29)을 설치하고 그 사이로 청정유체 공급장치(32)에서 청정유체를 공급하여 측정영역(13)으로 배출시키게 되면, 제1칸막이(11)의 제1구멍(11a)을 통해 측정영역(13)으로부터 유입되는 오염물질에 의해 광학장치들이 오염되는 것을 방지할 수 있게 된다. In the present invention as described above, the switching plate 29 is provided so as to maintain a predetermined distance between the first holes 11a of the first partition 11, and the clean fluid It is possible to prevent the optical devices from being contaminated by contaminants introduced from the measurement area 13 through the first hole 11a of the first partition 11 do.

아울러 제2구멍(12a)이 설치된 제2칸막이(12)에 집광렌즈(22)를 포함하는 경통(33)을 부착하고 집광렌즈(22)와 제2구멍(12a) 사이의 경통(33)의 몸체 일부를 작은 구멍들이나 다공질 재질로 다공성 부분(33a)을 이루도록 구성한 후, 청정유체 공급장치(32)에서 청정유체를 공급하여 이 다공성 부분(33a)을 통해 측정영역(13)으로 배출시키게 되면, 제2칸막이(12)의 제2구멍(12a)을 통해 측정영역(13)으로부터 유입되는 오염물질에 의해 광학장치들이 오염되는 것을 방지할 수 있게 된다. 이로써, 측정영역(13)으로부터 유입되는 오염물질에 의해 광학장치가 오염되는 것을 방지할 수 있게 된다.The lens barrel 33 including the condenser lens 22 is attached to the second partition 12 provided with the second hole 12a and the lens barrel 33 between the condenser lens 22 and the second hole 12a If a clean fluid is supplied from the clean fluid supply device 32 and discharged to the measurement area 13 through the porous part 33a after a part of the body is formed into a porous part 33a with small holes or a porous material, It becomes possible to prevent the optical devices from being contaminated by contaminants flowing from the measurement area 13 through the second hole 12a of the second partition 12. [ This makes it possible to prevent the optical device from being contaminated by contaminants introduced from the measurement area 13. [

이로써, 본 발명은 전방 산란광을 집광렌즈에 의해 큰 입체각으로 집광시킬 수 있으면서도 집광되는 산란광이 평면거울에 의해 원형으로 작은 영역에 집중될 수 있게 하여, 미약한 산란광을 큰 입체각으로 작은 영역의 광신호 측정부에 집광시켜 낮은 농도의 입자 측정이 가능하게 하며, 산란광을 비교적 균일하게 광감지장치의 감지부에 전달할 수 있게 되어 입자측정장치의 측정 안정성을 향상시킬 수 있는 이점을 제공한다. Accordingly, it is possible to converge the forward scattered light to a large solid angle by the condenser lens, and concentrate the scattered light to be concentrated in a small circular area by the plane mirror, so that the weak scattered light is converted into the small- It is possible to collect the scattered light to the sensing part of the light sensing device relatively uniformly, thereby providing an advantage that the measurement stability of the particle measuring device can be improved.

또한 본 발명에 의하면, 레이저 광원을 이용할 수 있게 되어 낮은 입자 농도의 미약한 산란광에 대해서도 넓은 측정범위로 측정 정밀도를 향상시킬 수 있으며, 한 개 이상의 광선 산광기를 포함하는 전환판을 이용하여 산업 현장에서 자동 또는 수동으로 산란광의 신호를 보정 가능하게 하고, 청정유체를 이용하여 측정영역에서 오염물질이 유입되는 것을 차단함으로써 광학장치의 오염에 의한 측정장치의 성능저하를 방지할 수 있게 하는 이점을 제공한다.Further, according to the present invention, it is possible to use a laser light source, so that measurement accuracy can be improved in a wide measuring range even for weak scattering light having low particle concentration. By using a conversion plate including one or more light- Thereby preventing the deterioration of the performance of the measuring apparatus caused by the contamination of the optical apparatus by preventing the contamination from flowing in the measuring region by using the clean fluid do.

이상과 같이 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 상기의 실시예에 한정되는 것은 아니며, 이는 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 따라서, 본 발명의 사상은 아래에 기재된 특허 청구 범위에 의해서만 파악되어야 하고, 이의 균등 또는 등가적 변형 모두는 본 발명 사상의 범주에 속한다고 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, but, on the contrary, Modification is possible. Accordingly, it is intended that the scope of the invention be defined by the claims appended hereto, and that all equivalent or equivalent variations thereof fall within the scope of the present invention.

10 : 챔버 11 : 제1칸막이
11a : 제1구멍 12 : 제2칸막이
12a : 제2구멍 13 : 측정영역
21 : 광원 21a : 광선
22 : 집광렌즈 23 : 평면거울
23a : 통과구멍 24 : 광감지장치
25 : 광도파로 26 : 산란광 산광기
27 : 협대역 통과필터 28 : 광선 산광기
29 : 전환판 30 : 전환판 구동장치
31 : 윈도우 32 : 청정유체 공급장치
33 : 경통 33a : 다공성 부분
10: chamber 11: first partition
11a: first hole 12: second partition
12a: second hole 13: measuring area
21: light source 21a: ray
22: condenser lens 23: flat mirror
23a: Through hole 24: Light sensing device
25: optical waveguide 26: scattered light diffuser
27: Narrow band pass filter 28: Light ray diffuser
29: switching board 30: switching board driving unit
31: Window 32: Clean fluid supply device
33: barrel 33a: porous portion

Claims (9)

챔버(10)의 외측에 요홈을 형성하거나 챔버(10)의 내측을 통과하는 통로를 형성하여 상기 요홈 또는 상기 통로의 내측으로 입자가 분산된 유체가 통과할 수 있는 측정영역(13)을 구비하고 상기 측정영역(13)에 광선을 조사하여 상기 입자에 의한 산란광을 측정하고 측정된 산란광 신호를 입자의 농도로 변환하여 상기 입자의 농도를 측정하는 장치에 있어서,
상기 측정영역(13)에 광선(21a)을 조사하는 광원(21);
상기 측정영역(13)을 기준으로 상기 광원(21)의 반대쪽에 상기 광선(21a)의 조사 방향을 마주보도록 설치되어 상기 산란광을 굴절 및 집광시키는 집광렌즈(22);
상기 광원(21) 반대쪽의 집광렌즈(22) 정후방에 상기 집광렌즈(22)와 이격되어 경사지게 설치되어 상기 집광렌즈(22)에 의해 굴절된 상기 산란광을 반사시키고, 상기 광원(21)에서 조사된 상기 광선(21a)을 통과시키는 구멍(23a)을 가진 평면거울(23);
상기 평면거울(23)에서 반사된 산란광이 집중되는 위치에 설치되어 상기 입자에 의한 산란광 신호를 측정하는 광감지장치(24);
상기 산란광이 집중된 위치와 광감지장치(24) 사이에 설치되어, 집중된 상기 산란광을 전달하는 광도파로(25);
광선의 조사방향으로 측정영역 전방의 챔버(10) 내부에 설치되어 상기 광원(21)에서 조사되는 광선(21a)을 산란시키는 한 개 이상의 광선 산광기(28);
회전 가능한 원판 몸체로 이루어지며, 상기 광선 산광기(28)를 원판 몸체의 내측에 지지 및 고정하여 원판 몸체의 회전 동작에 의해 상기 광선 산광기(28)가 상기 광선(21a)의 조사 방향으로 마주보는 면에 위치되도록 전환하는 전환판(29);
상기 전환판(29)의 회전 동작을 구동하는 전환판 구동장치(30);
상기 챔버(10)의 내부로 청정유체를 공급하는 청정유체 공급장치(32);
상기 광선(21a)이 통과하도록 제1구멍(11a)이 형성되고 상기 챔버(10)의 몸체 일부를 이루며 상기 광원(21)과 측정영역(13) 사이의 상기 전환판(29) 후방측에 상기 전환판(29)과의 사이에서 청정유체가 통과할 수 있는 공간이 확보되도록 설치되어 상기 광선(21a)을 제1구멍(11a)으로 통과시키는 제1칸막이(11);
상기 산란광이 통과하도록 제2구멍(12a)이 형성되고 상기 챔버(10)의 몸체 일부를 이루며 상기 측정영역(13)과 상기 집광렌즈(22) 사이에 설치되어 상기 산란광을 제2구멍(12a)으로 통과시키는 제2칸막이(12); 및
상기 제2구멍(12a)을 둘러 감싸도록 제2칸막이(12)의 내측에 설치되고, 상기 집광렌즈(22)가 몸통의 내주면에 고정되며 상기 청정유체가 통과할 수 있는 다공성 부분(33a)이 구비된 경통(33);를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 광산란을 이용한 입자측정장치.
There is provided a measurement region 13 in which a groove is formed on the outside of the chamber 10 or a passage passing through the inside of the chamber 10 so that a particle-dispersed fluid can pass through the groove or the passage An apparatus for measuring the concentration of particles by irradiating a light beam onto the measurement region (13), measuring scattered light by the particles, and converting the measured scattered light signal into a particle concentration,
A light source 21 for irradiating the measurement region 13 with a light ray 21a;
A condenser lens 22 provided on the opposite side of the light source 21 with respect to the measurement region 13 so as to face the irradiation direction of the light beam 21a to refract and condense the scattered light;
The light source 21 reflects the scattered light refracted by the condenser lens 22 so as to be spaced apart from the condenser lens 22 in the rear of the condenser lens 22 on the opposite side of the light source 21, A plane mirror (23) having a hole (23a) through which said beam of light (21a) passes;
A light sensing device (24) installed at a position where scattered light reflected by the plane mirror (23) is concentrated and measuring a scattered light signal by the particle;
An optical waveguide (25) installed between the position where the scattered light is concentrated and the light sensing device (24) and transmitting the concentrated scattered light;
At least one light irradiator (28) installed in the chamber (10) in front of the measurement region in the direction of the light beam to scatter light rays (21a) emitted from the light source (21);
And the light beam expander 28 is supported and fixed inside the disc body so that the light beam expander 28 is moved in the radial direction of the light beam 21a in the opposite direction A switching plate (29) for switching to be located on a viewing plane;
A switching plate drive device (30) for driving the rotation of the switching plate (29);
A clean fluid supply device (32) for supplying a clean fluid into the chamber (10);
A first hole 11a is formed in the chamber 10 so as to allow the light beam 21a to pass therethrough and a part of the body of the chamber 10 is formed on the rear side of the switching plate 29 between the light source 21 and the measurement area 13, A first partition (11) installed to secure a space through which the clean fluid can pass between the first partition (11) and the switching plate (29) and to pass the light ray (21a) through the first hole (11a);
A second hole 12a is formed to allow the scattered light to pass therethrough and is formed between the measurement region 13 and the condenser lens 22 to form a part of the body of the chamber 10, A second partition (12) passing through the first partition (12); And
A porous portion 33a provided inside the second partition 12 so as to surround the second hole 12a and fixed to the inner circumferential surface of the body of the condenser lens 22 and through which the clean fluid can pass, And a lens barrel (33) provided with the lens barrel.
삭제delete 제1항에서,
상기 광감지장치(24)와 상기 평면거울(23) 사이의 상기 산란광이 집중된 영역에 설치되어, 집중된 상기 산란광을 산란시키는 산란광 산광기(26);를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 광산란을 이용한 입자측정장치.
The method of claim 1,
And a scattering photodetector (26) disposed in the region where the scattered light is concentrated between the light sensing device (24) and the plane mirror (23) and scattering the scattered light concentrated thereon. The particle measuring device used.
제1항에서,
상기 광원(21)으로는 레이저를 사용하며,
상기 광감지장치(24)와 상기 평면거울(23) 사이에 설치되어 상기 레이저 광의 파장 이외의 파장을 걸러주는 협대역 통과필터(27);를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 광산란을 이용한 입자측정장치.
The method of claim 1,
A laser is used as the light source 21,
And a narrow band pass filter (27) disposed between the light sensing device (24) and the plane mirror (23) for filtering wavelengths other than the wavelength of the laser light. Measuring device.
삭제delete 제1항에서, 상기 전환판(29)은,
상기 광선 산광기(28)가 설치된 원판 몸체의 일측에 광선(21a)이 통과하는 윈도우(31)를 설치 및 고정하여 원판 몸체의 회전 동작에 의해 상기 광선 산광기(28)와 윈도우(31) 중의 어느 하나가 상기 광선(21a)의 조사 방향으로 마주보는 면에 위치되도록 선택 전환하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 광산란을 이용한 입자측정장치.
2. The apparatus according to claim 1, wherein the switching plate (29)
A window 31 through which a light ray 21a passes is installed and fixed to one side of a disc body provided with the light beam radiator 28 and the rotating body of the light ray radiator 28 and the window 31 So that any one of them is positioned on a surface facing the irradiation direction of the light ray (21a).
제1항에서, 상기 전환판 구동장치(30)는,
모터 또는 유체로 구동되는 실린더인 것을 특징으로 하는 광산란을 이용한 입자측정장치.
The apparatus according to claim 1, wherein the switching plate drive device (30)
Wherein the particle is a cylinder driven by a motor or a fluid.
삭제delete 제1항에서, 상기 다공성 부분(33a)은,
다수의 원형 구멍이 형성되거나 다공질 재료인 것을 특징으로 하는 광산란을 이용한 입자측정장치.
3. The device of claim 1, wherein the porous portion (33a)
Characterized in that a plurality of circular holes are formed or a porous material is used.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109520903A (en) * 2018-12-20 2019-03-26 南京波瑞自动化科技有限公司 A kind of double light path laser forward scattering measuring concentration of granules in certain device
KR20200107318A (en) 2019-03-07 2020-09-16 주식회사 센트리 A side mirror capable of measuring fine dust, a vehicles of applied for remains thereof and method of using for remains thereof
CN113702597A (en) * 2021-09-18 2021-11-26 烟台景上科技有限公司 Indoor air quality detector and detection method thereof
US20210410263A1 (en) * 2020-06-24 2021-12-30 The Texas A&M University System Systems and Methods for Thomson Scattering Background Interference Suppression

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007178149A (en) 2005-12-27 2007-07-12 Nidec Sankyo Corp Light scattering type particle counter
JP2008529028A (en) * 2005-02-02 2008-07-31 ピーシーエムイー リミテッド Monitor for monitoring particles flowing in the stack

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008529028A (en) * 2005-02-02 2008-07-31 ピーシーエムイー リミテッド Monitor for monitoring particles flowing in the stack
JP2007178149A (en) 2005-12-27 2007-07-12 Nidec Sankyo Corp Light scattering type particle counter

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109520903A (en) * 2018-12-20 2019-03-26 南京波瑞自动化科技有限公司 A kind of double light path laser forward scattering measuring concentration of granules in certain device
KR20200107318A (en) 2019-03-07 2020-09-16 주식회사 센트리 A side mirror capable of measuring fine dust, a vehicles of applied for remains thereof and method of using for remains thereof
US20210410263A1 (en) * 2020-06-24 2021-12-30 The Texas A&M University System Systems and Methods for Thomson Scattering Background Interference Suppression
US11924956B2 (en) * 2020-06-24 2024-03-05 The Texas A&M University System Systems and methods for Thomson scattering background interference suppression
CN113702597A (en) * 2021-09-18 2021-11-26 烟台景上科技有限公司 Indoor air quality detector and detection method thereof
CN113702597B (en) * 2021-09-18 2024-05-03 烟台伟昌电子材料有限公司 Indoor air quality detector and detection method thereof

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