KR101730039B1 - apparatus for examining edge of flat panel display panel and method of using the same - Google Patents
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Abstract
일축 방향으로 길게 설치되는 고정프레임, 고정프레임을 따라 일축 방향으로 이동할 수 있고, 일축 방향과 교차하는 타축 방향으로 길게 설치되며, 기판이 놓이는 선형 지지대를 가지는 한 쌍의 가변프레임을 구비하는 가변테이블, 가변프레임 각각에 설치되어 가변프레임을 따라 타축 방향으로 이동할 수 있도록 이루어지는 에지 검사부 및 기판을 선형지지대 위에서 회전시킬 수 있는 회전부를 구비하여 이루어지는 평판디스플레이 패널 에지 검사장치와 이 장치를 이용한 에지 검사방법이 개시된다.
본 발명에 따르면 패널 에지 검사장치의 구조가 종래에 비해 전체적으로 경량화 단순화되어 제작 및 설치에 유리하고, 운용에 있어서도 검사 동작이 인위적 동작을 없애 검사 시간을 줄일 수 있고, 장비의 가동율과 검사 효율을 높일 수 있다. A variable table provided with a pair of variable frames which are movable in one axial direction along a fixed frame and which are elongated in the direction of another axis intersecting the one axial direction and have a linear support on which the substrate is placed, An edge inspection unit installed in each of the variable frames to move in a direction of the other axis along a variable frame, and a rotation unit capable of rotating the substrate on a linear support, and an edge inspection method using the apparatus. do.
According to the present invention, the structure of the panel edge inspection apparatus is simplified as a whole to be simpler and lighter than the conventional structure, so that it is advantageous in manufacturing and installation. In operation, inspection operation can eliminate artifacts and the inspection time can be reduced. .
Description
본 발명은 평판디스플레이 패널(기판)의 에지 검사장치 및 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 전체적인 구조를 경량화 단순화할 수 있는 구조를 가진 평판디스플레이 패널의 에지 검사장치 및 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an edge inspection apparatus and method for a flat panel display panel (substrate), and more particularly, to an apparatus and a method for edge inspection of a flat panel display panel having a structure that can simplify the overall structure lightweight.
일반적으로 평판 디스플레이 패널은 원판을 필요한 크기로 절단하여 기판으로 사용한다. 이렇게 절단된 패널은 에지면을 연마, 검사하게 된다.In general, a flat panel display panel is used as a substrate by cutting a disk to a required size. The panel thus cut is polished and inspected.
도 1은 종래 에지 검사장치를 나타낸다. 이를 참조하면, 중앙부에는 기판 크기에 맞추어 기판을 안착시키고 안착된 상태에서 회전 이동이 가능한 가변 테이블(40)이 구비된다. 1 shows a conventional edge inspection apparatus. Referring to FIG. 1, a variable table 40 is provided at a central portion of the substrate, which is rotatable in a state where the substrate is seated and aligned with the substrate size.
가변 테이블(40)의 양측으로 서로 평행한 두 개의 고정프레임(10)이 y축 방향으로 길게 설치되고, 이들 고정프레임(10)에는 고정프레임과 수직을 이루는 이동프레임(20)의 양단이 결합되어 x축 방향으로 길게 설치된다.Two
이동프레임(20)에는 두 개의 에지 검사용 카메라(30)가 이동프레임(20)을 따라 x축 방향으로 이동가능하도록 설치된다. In the moving
이런 종래의 에지 검사장치의 검사 동작을 살펴보면, 먼저, 가변 테이블(40)이 안착될 기판 크기에 맞추어 가변되고, 패널 이송과 정렬을 담당하는 얼라인 부재가 정위치의 가변 테이블(40)에 기판을 이송하여 장변이 고정프레임(10)과 나란하도록 안착시킨다. 두 개의 검사용 카메라(30)는 기판의 두 장변 위치에 맞도록 이동프레임(20) 상에서 이동하며, 이동이 완료되면 이번에는 이동프레임(20) 자체가 고정프레임(10)을 따라 y축 방향으로 이동하면서 스캔하는 방식으로 기판의 두 장변을 하나씩 담당하여 검사하게 된다. First, the variable table 40 is changed in accordance with the size of the substrate to be loaded, and the alignment member for carrying and aligning the panel is mounted on the variable table 40 in the fixed position, So that the long side is aligned with the
일단 기판 두 장변의 검사가 완료되면, 기판이 회전하면서 충돌하지 않도록 이동프레임(20) 및 검사용 카메라(30)는 고정프레임(10)의 한 끝단으로 회피동작을 하고, 가변 테이블(40)이 90도 회전하여 기판의 두 단변이 고정프레임(10)과 평행하게 된다. The
검사용 카메라(30)는 이동프레임(20) 상에서 기판의 두 단변 위치에 맞게 이동하고, 이동이 끝나면 다시 이동프레임(20) 자체가 고정프레임(10)을 따라 y축 방향으로 스캔하면서 검사용 카메라(30)는 기판의 두 단변을 하나씩 담당하여 검사하게 된다.The
그리고, 이동프레임(20)과 검사용 카메라(30)는 다시 고정프레임(10)의 한 끝단으로 회피동작을 하고, 두 장변과 두 단변의 에지 검사를 마친 기판은 얼라인 부재나 다른 이송부재에 의해 가변 테이블(40)에서 벗어나 다음 공정으로 이동하게 된다.The moving
그런데, 이러한 종래의 패널 에지 검사장치는 에지 검사를 위해 검사용 카메라가(30) 설치된 이동프레임(20) 자체가 이동하여야 하므로 이를 움직이기 위한 구동부재의 용량이 커져야 하고, 이동속도도 느리게 되는 문제가 있었다.However, in the conventional panel edge inspection apparatus, since the moving
또한, 기판이 장착, 탈착되거나, 회전할 때 회피동작을 위해 이동프레임(20)과 검사용 카메라(30)가 빈번히 고정프레임(10)의 정해진 끝단으로 이동해야 하므로, 회피동작의 시간이 늘어나고 공정 효율이 저하되는 문제가 있었다. In addition, since the moving
본 발명은 종래의 패널 에지 검사장치의 문제점을 경감하기 위한 것으로, 전체적인 구조를 경량화 단순화할 수 있는 구조를 가진 평판디스플레이 패널의 에지 검사장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide an apparatus and method for edge inspection of a flat panel display panel having a structure that can simplify the overall structure lightweight and simplify the problems of the conventional panel edge inspection apparatus.
본 발명은 또한, 평판디스플레이 패널의 에지 검사의 시간을 줄여 검사 효율을 높일 수 있는 평판디스플레이 패널의 에지 검사장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.It is another object of the present invention to provide an edge inspection apparatus and method of a flat panel display panel capable of reducing inspection time of edge inspection of a flat panel display panel and improving inspection efficiency.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 평판디스플레이 패널 에지 검사장치는 According to an aspect of the present invention, there is provided a flat panel display panel inspection apparatus comprising:
x축 방향으로 길게 설치되는 고정프레임, a fixed frame extending in the x-axis direction,
고정프레임을 따라 x축 방향으로 이동할 수 있고, 자체는 y축 방향으로 길게 설치되며, 기판이 놓이는 선형 지지대를 가지는 한 쌍의 가변프레임을 구비하여 이루어지는 가변테이블,A variable table provided with a pair of variable frames which can move in the x-axis direction along the fixed frame and which are installed in the y-axis direction and have a linear support on which the substrate is placed,
상기 가변프레임 각각에 설치되어 상기 가변프레임을 따라 y축 방향으로 이동할 수 있는 검사 카메라 및An inspection camera installed in each of the variable frames and capable of moving in the y axis direction along the variable frame;
기판을 상기 선형 지지대 위에서 회전시킬 수 있는 회전부를 구비하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.And a rotating part capable of rotating the substrate on the linear support.
본 발명에서, 회전부는 외부에서 기판을 선형 지지대로 이송하거나 외부로 기판을 반출하는 이송부의 역할을 겸하는 회전이송부 형태로 이루어질 수 있다. 또한, 회전부는 기판을 위쪽에서 잡아 선형 지지대 위로 이격시킨 뒤에 회전하여 기판을 다시 선형 지지대에 안착시키는 것일 수 있다.In the present invention, the rotary part may be formed as a rotary conveying part serving also as a conveying part for conveying the substrate from the outside to the linear support or for carrying the substrate out to the outside. Also, the rotating portion may be to hold the substrate from above and away from the linear support, then rotate to seat the substrate back onto the linear support.
본 발명에서 한 쌍의 가변프레임 사이에는 기판의 중앙부를 더욱 잘 지지하기 위한 중앙부의 고정 테이블이 가변테이블과 별도로 구비될 수 있다. In the present invention, between the pair of variable frames, a central fixed table for supporting the central part of the substrate can be provided separately from the variable table.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명 방법은 본 발명의 패널 에지 검사장치를 사용함에 있어서, 가변테이블의 한 쌍의 가변프레임이, 안착될 기판 크기에 맞추어 이격거리가 조절되는 단계, 패널 이송부가 상기 가변테이블에 기판을 이송하여 정위치에 안착시키는 단계, 상기 가변프레임에 각각 하나씩 설치된 두 개의 검사 카메라가 상기 가변프레임 길이 방향으로 이동하면서 기판의 한 쌍의 대변을 스캔하며 검사하는 단계, 패널 회전부가 기판을 상기 가변프레임에서 들어올려 90도 회전시키는 단계, 가변테이블의 한 쌍의 가변프레임이 회전 기판 크기에 맞추어 이격거리가 재조절되는 단계, 패널 회전부가 회전된 기판을 상기 가변테이블의 한 쌍의 가변프레임에 안착시키는 단계, 상기 두 개의 검사 카메라가 상기 가변프레임 길이 방향으로 이동하면서 기판의 다른 한 쌍의 대변을 스캔하며 검사하는 단계, 두 장변과 두 단변의 에지 검사를 마친 기판을 이송 수단에 의해 가변테이블에서 벗어나게 이동시키는 단계를 구비하여 이루어지는 것을 특징으로 한다. According to an aspect of the present invention, there is provided a method of inspecting a panel edge using the panel edge inspecting apparatus, comprising the steps of: adjusting a distance between a pair of variable frames of a variable table in accordance with a size of a substrate to be loaded; Scanning a pair of opposite sides of the substrate while inspecting a pair of inspection cameras mounted on the variable frame in the direction of the variable frame length, Rotating the movable frame by 90 degrees in the variable frame, adjusting the spacing of the pair of variable frames of the variable table in accordance with the size of the rotating substrate, Placing the two inspection cameras in the variable frame length direction; Standing by having a step, moving out of the variable table by two long sides and transporting the substrate completed for the edge of the two short-side scan means for scanning and checking the credit of the other pair of substrates is characterized in that formed.
본 발명에 따르면 패널 에지 검사장치의 구조가 종래에 비해 전체적으로 경량화 단순화되어 제작 및 설치에 유리하고, 운용에 있어서도 고장의 가능성을 줄여 시간과 비용을 절약할 수 있다. According to the present invention, the structure of the panel edge inspection apparatus is simplified as a whole to be lighter and easier to manufacture and install, and it is possible to save time and cost by reducing the possibility of malfunction even in operation.
본 발명에 따르면 장비의 가동율을 높일 수 있고, 개개의 평판디스플레이 패널의 에지 검사의 시간을 줄여 검사 효율을 높일 수 있다. According to the present invention, it is possible to increase the operation rate of the equipment and reduce the time for edge inspection of individual flat panel display panels, thereby enhancing inspection efficiency.
도1은 종래의 패널 에지 검사장치의 구성을 개략적으로 나타내는 사시도,
도2 및 도3은 본 발명의 패널 에지 검사장치에서 한 쌍의 이동프레임의 간격이 좁아진 상태 및 넓어진 상태를 함께 나타내는 평면도 및 사시도,
도4는 본 발명의 패널 에지 검사장치에서 가변 테이블을 형성하는 한 쌍의 가변프레임 가운데 하나를 측면에서 본 형태를 나타내는 측면도,
도5는 본 발명의 검사 카메라가 가변프레임의 일 단부에 위치하여 기판의 회전이나 착탈시 서로 충돌하지 않는 것을 설명하기 위한 개념 설명도이다.1 is a perspective view schematically showing a configuration of a conventional panel edge inspection apparatus,
FIG. 2 and FIG. 3 are a plan view and a perspective view together showing a state in which the interval between the pair of movable frames is narrowed and a state in which the pair of movable frames are widened in the panel edge inspection apparatus of the present invention,
FIG. 4 is a side view showing a side view of one of a pair of variable frames forming a variable table in the panel edge inspection apparatus of the present invention. FIG.
5 is a conceptual diagram for explaining that the inspection camera of the present invention is located at one end of a variable frame and does not collide with each other when the substrate is rotated or detached.
이하 도면을 참조하면서 실시예를 통해 본 발명을 보다 상세히 설명하기로 한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
도2 및 도3을 참조하면서 본 발명의 일 실시예를 이루는 패널 에지 검사장치를 설명하면, 검사장치는 x축 방향으로 길게 설치되는 한 쌍의 고정프레임(120)과 이들 고정프레임(120)과 수직인 y축 방향으로 길게 설치되는 한 쌍의 가변프레임(110a, 110b)을 구비한다. 가변프레임(110a, 110b)에는 검사부(130)가 가변프레임(110a, 110b)을 따라 이동할 수 있도록 설치된다. 한 쌍의 가변프레임(110a, 110b) 사이에는 기판의 가운데를 바칠 수 있도록 고정 테이블(140)이 설치된다. 고정 테이블은 기판 크기가 작으면 생략되는 것이 바람직하다. Referring to FIGS. 2 and 3, a panel edge inspection apparatus according to an embodiment of the present invention includes a pair of
좀 더 상세히 설명하면, 각 가변프레임(110a, 110b)은 두 곳에서 각각 고정프레임(120)과 결합되어 안정적으로 고정프레임(120)에 의해 지지되며, 고정프레임(120)의 길이 방향인 x축 방향으로 이동할 수 있다. 이를 위해 다양한 이동수단이 사용될 수 있다. 가령, 가변프레임(110a, 110b)이 고정프레임(120)과 결합된 2개 부분에는 각각 돌출턱(미도시)이 있고, 이들은 고정프레임의 래크기어(미도시)의 톱니 사이 홈에 고정되고, 고정프레임의 단부에는 이 래크기어의 일 지점을 선형으로 이동시키는 피니언기어(미도시)가 스탭모터(미도시)에 의해 회전하는 구성을 생각할 수 있다. 고정프레임의 스탭모터는 동기화되어 고정프레임과 결합된 2개 부분은 x축 방향으로 같은 속도로 움직이며, 가변프레임 전체가 같은 속도로 고정프레임을 따라 x축 방향으로 움직이게 된다.More specifically, each of the
고정프레임에는 가변프레임의 x축 방향의 안정적 이동을 위해 레일 홈을 가지고, 가변프레임에는 이 레임 홈에 결합되는 선형 돌기가 구비되어 궤도를 이탈하지 않고 가변프레임은 고정프레임을 따라 이동할 수 있다. The fixed frame has a rail groove for stable movement of the variable frame in the x-axis direction, and the variable frame has a linear protrusion coupled to the frame groove, so that the variable frame can move along the fixed frame without leaving the track.
가변프레임의 긴 상면은 기판이 안착되는 선형의 지지대를 이루고, 가변프레임의 중앙과 먼 쪽 측벽에는 길게 레일 블럭이 설치될 수 있다. 레일 블럭에는 표면에 가변프레임 길이 방향으로 길게 홈이 설치되고, 이 홈에는 검사 카메라의 지지대의 일부가 끼워져, 검사 카메라가 이 홈을 따라 y축 방향으로 이동할 수 있게 된다.The long upper surface of the variable frame forms a linear support on which the substrate is mounted, and a long rail block may be provided on the side wall far from the center of the variable frame. In the rail block, a groove is provided on the surface in the direction of the length of the variable frame, and a part of the support of the inspection camera is fitted in the groove, so that the inspection camera can move along the groove in the y-axis direction.
여기서도 이동을 위한 고정프레임과 가변프레임 사이에서와 같은 이동수단이 마련될 수 있다. 가령, 홈을 따라 레크 기어가 설치되고, 레크 기어의 일 지점에는 지지대의 돌출턱이 레크 기어의 톱니 사이에 끼워 고정되고, 홈의 일단에는 이 레크 기어의 일 지점이 선형으로 이동될 수 있도록 레크 기어를 진행시키는 피니언 기어 및 이 피니언 기어와 연결된 회전축을 가진 스탭모터(114)같은 구동부재가 설치될 수 있다. Here again, a moving means such as between a fixed frame and a variable frame for movement can be provided. For example, a recoil gear is installed along the groove, and a protruding jaw of the support is fixed by being caught between the teeth of the recoil gear at one point of the recoil gear, and one end of the recoil gear is linearly moved at one end of the groove, A driving member such as a
따라서, 구동부재가 가동하면 피니언기어도 돌고, 그에 따라 레크의 일 지점이 선형으로 움직이고, 이 지점에 고정된 돌출턱을 가진 지지대 및 지지대에 고정된 검사부(130)도 선형으로 y축을 따라 이동하면서 패널 에지를 검사할 수 있다.Accordingly, when the driving member is actuated, the pinion gear also rotates so that one point of the rectilinear motion moves linearly, and the
한편, 기판이 대형화하면서 두 가변프레임(110a, 110b)의 지지대만으로 기판을 충분히 수평하게 지지하기 어려울 수 있다. 따라서 본 실시예에서는 두 가변프레임 (110a, 110b)사이에 고정테이블(140)을 추가로 구비하고 있다. 고정테이블(140)은 항상 두 가변프레임(110a, 110b) 의 정중앙에 놓여 기판의 가운데 부분을 지지하므로 기판이 처지는 현상을 방지할 수 있고, 따라서, 기판의 검사 대상인 두 변을 검사 카메라가 더 정확하게 확인할 수 있도록 한다. 고정테이블(140)은 검사장치의 가변테이블에 놓이는 가장 작은 기판의 단변 폭보다 작은 폭으로 설치되어 가장 작은 기판이 놓일 때에도 가변프레임(110a, 110b)이 고정테이블(140)의 방해를 받지 않고 기판의 두 장변을 검사할 수 있도록 한다.On the other hand, it may be difficult to support the substrate sufficiently horizontally only with the supports of the two
도4는 도3과 같은 검사장치에서 가변프레임(110a, 110b)과 여기 설치되는 검사부(130)를 측방에서 좀 더 상세히 본 형태를 나타낸다. 가변프레임(110a, 110b)의 하부는 고정프레임(120)에 얹혀있고 가변프레임(110a, 110b)의 최상단은 평평한 상면이 기판이 놓이는 지지대(112)를 형성하고 있다. 기판의 단부(100a)는 지지대(112)를 지나면서 검사 카메라(134) 쪽 공간으로 돌출되어 있다.FIG. 4 is a side view showing the
가변프레임(110b)의 외측(도면상 오른쪽) 측벽에는 검사부(130)가 움직이는 가이드레일의 역할을 할 수 있는 레일블럭(116)이 길게 설치되어 있다. 레일블럭(116)에는 레일블럭을 따라 움직일 수 있도록 검사부의 카메라 지지대(132)가 설치되고 카메라 지지대(132) 위에는 검사 카메라(134)가 설치된다. A
검사 카메라(134)는 지지대(112)를 지나 돌출된 기판 단부(100a)를 기판(100)의 y축 변을 따라 스캔하면서 검사하게 된다. 검사 카메라(134)는 여기서는 돌출된 기판 단부(100a) 상하로 발광센서(134a)와 수광센서(134b) 쌍을 설치하는 것으로 이루어진다. 발광센서(134a)의 빛은 돌출된 기판 단부(100a)를 통하여 수광센서(134b)에 감지되며, 이 감지되는 빛의 양이 기준량을 벗어나 커지거나 작아지면 기판 단부(100a) 즉 기판 에지가 고르지 않고 불량인 것으로 판단할 수 있다.The
물론, 검사 카메라(134)는 직접적인 화상을 감지하고, 이를 기존에 알려진 영상분석기법을 통해 컴퓨터가 직접 에지의 이상여부, 불량여부를 판단할 수도 있다.Of course, the
검사 카메라(134)가 기판 에지를 검사하는 방법에 대해서는 이미 잘 알려져 있으므로 여기서는 그 세부적 설명은 생략하기로 한다. The method by which the
도5는 미도시된 회전부가 기판을 들어 회전시키는 것을 나타내는 평면도이다.5 is a plan view showing that the unillustrated rotating part rotates the substrate.
도5를 참조하면 기판이 회전부를 통해 회전하는 회전반경(R)과 가변프레임(110a, 110b) 및 이에 결합된 검사부(130)의 검사 카메라 위치를 나타내고 있다. 이런 위치는 검사 카메라가 기판 에지를 검사한 후 자연스럽게 위치하는 곳이며, 따라서 검사 카메라나 가변프레임(110a, 110b)이 별도의 회피 동작을 하지 않아도 회전부는 기판을 들어 검사 카메라와 충돌없이 기판을 90도 회전시켜 다른 변들을(에지를) 검사할 수 있다. 가령, 검사 카메라가 도면상에서 가변프레임(110a, 110b)의 하단에 최초 위치하고, 먼저 두 장변을 검사를 한 뒤에는 도시된 바와 같이 가변프레임(110a, 110b) 상단에 위치하게 되는데, 이 위치에서는 기판이 90도 회전을 하여도 검사 케메라는 기판에 닿지 않게 된다. 기판이 회전한 뒤 가변프레임이 고정프레임을 따라 외측으로 이동하여 검사 카메라가 기판 단변을 검사할 수 있는 위치로 움직일 때에도 물론 검사 카메라는 기판에 닿지 않으며, 이 상태에서 검사 카메라는 가변프레임의 하단 최초 위치로 움직이면서 단변을 검사하게 된다. Referring to FIG. 5, the rotation radius R, the
기판을 가변프레임 위에서 회전시킬 수 있는 회전부(미도시)는 통상 진공으로 기판 상면을 흡착하여 파지하고, 기판을 일정거리 상방으로 이동시켜 들어올린 다음에 90도 회전시켜 놓는 동작을 수행하는 것으로, 베이스와 베이스에 설치되는 회전용모터, 베이스 하부에서 모터에 의해 회전하는 회전판, 회전판에서 하부로 뻗으며 들어올리는 기능을 하도록 신축되는 실린더 아암, 실린더 아암의 하단에 진공인가를 통해 기판을 흡착할 수 있는 흡착판 등으로 구성될 수 있다. A rotating part (not shown) capable of rotating the substrate on the variable frame typically performs an operation of holding the upper surface of the substrate by vacuum and gripping the substrate, moving the substrate upward by a predetermined distance, rotating the substrate 90 degrees, And a rotary arm mounted on the base, a rotary plate rotated by the motor under the base, a cylinder arm extending and extending downward from the rotary plate to expand and contract, and a cylinder arm, An adsorption plate or the like.
회전부는 자체가 외부에서 기판을 가변프레임의 지지대로 이송하거나 외부로 기판을 반출하는 이송부의 역할을 겸하는 회전이송부 형태로 이루어질 수 있고, 외부에서 기판을 파지할 때 기판의 회전 및 평행이동을 통해 정렬 상태를 바로잡는 역할을 하는 얼라이너를 겸하는 것일 수도 있다.The rotary part may be a rotary transfer part that also serves as a transfer part for transferring the substrate from the outside to the support frame of the variable frame or the transfer part for transferring the substrate to the outside. In addition, when the substrate is gripped from the outside, It may also be an aligner, which is responsible for correcting the alignment.
이상 본 발명의 검사장치에서 검사과 이루어지는 과정의 일 실시예를 살펴보면, 먼저, 본 발명의 패널 에지 검사장치를 사용함에 있어서, 가변 테이블의 한 쌍의 가변프레임이 안착될 기판 크기에 맞추어 이격거리가 조절된다. 이런 단계는 앞선 기판 처리에서 이미 이루어진 상태일 수도 있다. In the panel edge inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, when a pair of variable frames of the variable table are adjusted in accordance with the size of a substrate on which the variable frame is to be mounted, do. This step may have already been done in the previous substrate processing.
다음으로, 패널 이송부가 기판을 상기 가변 테이블에 이송하여 정위치에 안착시키게 된다. 그리고, 기판은 움직이지 않는 상태에서 가변프레임에 각각 하나씩 설치된 두 개의 검사 카메라가 가변프레임 길이 방향으로 이동하면서 기판의 한 쌍의 대변 가령 한 쌍의 장변을 스캔하며 검사하게 된다.Next, the panel transfer section transfers the substrate to the variable table and places it in the correct position. Then, two inspection cameras, each of which is installed in the variable frame, move in the variable frame length direction while the substrate is not moving, and scan a pair of opposite sides of the substrate, for example, a pair of long sides.
장변 스캔이 끝나면 검사 카메라는 가변프레임의 처음 위치와 다른 쪽 단부에 위치하게 되며, 회전부가 기판을 가변프레임에서 들어 올려 90도 회전시키는 한편, 가변 테이블의 한 쌍의 가변프레임은 회전된 기판의 두 단변 사이의 거리에 맞추어 이동함으로써 이격거리를 재조절하게 된다. 그리고, 회전부는 회전된 기판을 이격거리가 재조정된 가변 테이블의 한 쌍의 가변프레임 지지대에 안착시킨다.When the scan of the long side is completed, the inspection camera is positioned at the other end of the variable frame, and the rotating part lifts the substrate from the variable frame and rotates 90 degrees, while a pair of variable frames of the variable table moves By moving to the distance between the short sides, the spacing distance is readjusted. Then, the rotating part places the rotated substrate on a pair of variable frame supports of the variable table where the separation distance is readjusted.
다시 기판은 움직이지 않는 상태에서 두 개의 검사 카메라가 가변프레임 길이 방향을 따라 다른 쪽 단부에서 원래 위치로 이동하면서 기판의 다른 한 쌍의 대변, 즉 두 단변을 스캔하며 검사하게 된다. Again, with the substrate in motion, the two inspection cameras scan the opposite sides of the other pair of substrates, i.e., the two short sides, while moving from the other end to the original position along the variable frame length direction.
기판의 두 장변과 두 단변의 에지 검사를 마친 후 기판은 패널 이송부에 의해 가변 테이블에서 벗어나 다음 공정단계로 이동하게 된다. After the edges of both sides of the substrate and edges of both sides are examined, the substrate is moved away from the variable table by the panel transfer part to the next process step.
이상의 동작은 통상 검사장치의 각 요소를 제어하는 제어부(controller)의 동작으로 이루어질 수 있으며, 통상 프로그램에 의해 자동제어 방식으로 이루어질 수 있다. 가령, 이송부는 검사장치의 별도 센서에 의해 가변테이블이 빈 것을 확인하면 제어부에 신호를 주어 이송부가 다음 기판을 가변테이블에 안착시키고, 기판의 크기에 따라 미리 정해진 이격거리로 가변프레임의 이격거리를 조절할 수 있다. 검사 카메라의 일방으로의 이동이 끝나서 한 쌍의 대변에 대한 스캔, 검사가 완료되면 프로그램에 따라 제어부가, 회전부가 기판을 들어 회전시키는 동작, 한 쌍의 가변프레임의 이격거리를 재조정하는 동작 등을 실시하도록 제어신호를 발송할 수 있다. The above operation may be performed by an operation of a controller which controls each element of the inspection apparatus, and may be performed by an automatic control system by a normal program. For example, when the transfer unit confirms that the variable table is vacant by a separate sensor of the inspection apparatus, the control unit is given a signal so that the transfer unit places the next substrate on the variable table, and the separation distance of the variable frame is set to a predetermined distance according to the size of the substrate Can be adjusted. When the scan and inspection of the pair of opposite sides are completed after the movement of the test camera to one side is completed, the control unit controls the rotation unit to rotate the substrate, the operation of re-adjusting the separation distance of the pair of variable frames, It is possible to send out a control signal.
이런 동작을 통해 이루어지는 본 발명의 검사방법에 따르면 결국, 검사 카메라나 가변프레임은 기판의 검사를 위해 기판을 회전할 때에도 회피 동작을 할 필요가 없게 되며, 최소 경로만 움직이게 된다. 따라서 전반적인 검사 동작 시간을 줄일 수 있고, 종래에 비해 특히 회피동작을 하는 시간을 절약할 수 있다.
According to the inspection method of the present invention performed through such operation, the inspection camera or the variable frame does not need to perform the avoidance operation even when the substrate is rotated for inspecting the substrate, and only the minimum path is moved. Therefore, the overall inspection operation time can be shortened, and the time for avoiding operation can be saved, compared with the conventional case.
이상, 본 발명의 특정 실시예에 대하여 상술하였다. 그러나, 본 발명의 사상 및 범위는 이러한 특정 실시예에 한정되는 것이 아니라, 본 발명의 요지를 변경하지 않는 범위 내에서 다양하게 수정 및 변형 가능하다는 것을 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이해할 것이다. The specific embodiments of the present invention have been described above. It is to be understood, however, that the spirit and scope of the invention are not limited to these specific embodiments, but that various changes and modifications may be made without departing from the spirit of the invention, If you are a person, you will understand.
따라서, 이상에서 기술한 실시예들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이므로, 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 하며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. Therefore, it should be understood that the above-described embodiments are provided so that those skilled in the art can fully understand the scope of the present invention. Therefore, it should be understood that the embodiments are to be considered in all respects as illustrative and not restrictive, The invention is only defined by the scope of the claims.
100: 기판(패널) 110a, 110b: 가변프레임
112: 지지대 116: 레일블럭
120: 고정프레임 130: 검사부
132: 카메라 지지대 134: 검사 카메라
140: 고정테이블 100: Substrate (panel) 110a, 110b: Variable frame
112: support frame 116: rail block
120: fixed frame 130:
132: camera support 134: inspection camera
140: stationary table
Claims (5)
상기 고정프레임을 따라 상기 일축 방향으로 이동할 수 있고, 상기 일축 방향과 교차하는 타축 방향으로 길게 설치되며, 기판(패널)이 놓이는 선형 지지대를 가지는 한 쌍의 가변프레임을 구비하는 가변테이블,
상기 가변프레임 각각에 설치되어 상기 가변프레임을 따라 상기 타축 방향으로 이동할 수 있도록 이루어지는 에지 검사부,
기판을 상기 선형지지대 위로 이격시킨 뒤에 회전시켜 상기 기판을 다시 선형 지지대에 안착시킬 수 있는 회전부 및
상기 기판을 외부에서 받아 상기 선형 지지대로 이송하거나 에지 검사가 완료된 기판을 상기 선형 지지대에서 외부로 반출하는 기판 이송부(패널 이송부)를 구비하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 평판디스플레이 패널 에지 검사장치.A fixed frame which is long in one axial direction,
A variable table having a pair of variable frames which are movable in the uniaxial direction along the fixed frame and are elongated in the direction of the other axis intersecting with the uniaxial direction and have a linear support on which a substrate is placed,
An edge checking unit installed in each of the variable frames and capable of moving in the other axis direction along the variable frame,
A rotating part capable of placing the substrate on the linear support by rotating the substrate after separating the linear supporting part from the linear supporting part,
And a substrate transferring unit (panel transferring unit) for transferring the substrate from the outside to the linear supporting table or for carrying out the edge inspection of the substrate from the linear supporting table to the outside.
상기 회전부는 상기 기판 이송부의 역할을 겸하는 회전이송부 형태로 이루어지는 것을 특징으로 하는 평판디스플레이 패널 에지 검사장치.The method according to claim 1,
Wherein the rotating unit is configured as a rotary conveying unit that also serves as the substrate transferring unit.
상기 한 쌍의 가변프레임 사이에는 기판의 중앙부를 지지하기 위한 고정테이블이 별도로 구비되는 것을 특징으로 하는 평판디스플레이 패널 에지 검사장치.The method according to claim 1,
Wherein a fixed table for supporting a central portion of the substrate is additionally provided between the pair of variable frames.
상기 에지 검사부는 화상 카메라 혹은 수광센서와 발광센서의 조합으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 평판디스플레이 패널 에지 검사장치.The method according to claim 1,
Wherein the edge inspecting unit comprises a combination of an image camera or a light receiving sensor and a light emitting sensor.
상기 가변테이블의 상기 한 쌍의 가변프레임이 안착될 기판 크기에 맞추어 이격거리가 조절되는 단계,
상기 기판 이송부로 기판을 상기 가변테이블에 이송하여 정 위치에 안착시키는 단계,
상기 에지 검사부가 상기 가변프레임 길이 방향으로 이동하면서 기판의 한 쌍의 대변을 스캔하며 검사하는 단계,
상기 회전부가 기판을 상기 가변프레임에서 들어올려 90도 회전시키는 단계,
상기 한 쌍의 가변프레임이 회전 기판 크기에 맞추어 이격거리가 재조절되는 단계,
상기 회전부가 회전된 기판을 상기 가변프레임에 안착시키는 단계,
상기 에지 검사부가 상기 가변프레임 길이 방향으로 이동하면서 기판의 다른 한 쌍의 대변을 스캔하며 검사하는 단계,
두 장변과 두 단변의 에지 검사를 마친 기판을 상기 가변테이블에서 벗어나도록 상기 기판 이송부로 이동시키는 단계를 구비하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 평판디스플레이 패널 에지 검사방법.6. A panel edge inspection apparatus according to any one of claims 1 to 4,
Adjusting the spacing distance according to a size of the substrate on which the pair of variable frames of the variable table are to be mounted,
Transferring the substrate to the variable table by the substrate transfer unit and placing the substrate in a fixed position,
Scanning and examining a pair of opposite sides of the substrate while moving the edge inspection unit in the direction of the variable frame length,
Rotating the substrate by 90 degrees by lifting the substrate from the variable frame,
Adjusting the spacing of the pair of variable frames according to the size of the rotating substrate,
Placing the rotated substrate on the variable frame,
Scanning and examining a pair of opposite sides of the substrate while moving the edge inspection unit in the direction of the variable frame length,
And moving the substrate having been subjected to the edge inspection of the two long sides and the two short sides to the substrate transferring portion to be deviated from the variable table.
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