KR100936243B1 - Apparatus and method for measuring signal - Google Patents
Apparatus and method for measuring signal Download PDFInfo
- Publication number
- KR100936243B1 KR100936243B1 KR1020070140100A KR20070140100A KR100936243B1 KR 100936243 B1 KR100936243 B1 KR 100936243B1 KR 1020070140100 A KR1020070140100 A KR 1020070140100A KR 20070140100 A KR20070140100 A KR 20070140100A KR 100936243 B1 KR100936243 B1 KR 100936243B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- signal
- measurement
- request signal
- inspector
- measurement request
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/02—Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
본 발명은 신호 측정장치에 관한 것으로, 특히 자동검사기(ATE :Automatic Test Equipment)에서 측정 가능한 신호보다 피검사기(DUT :Device Under Test)의 출력 신호가 더 클 경우에도 피검사기의 신호를 측정하여 피검사기의 성능을 검증할 수 있도록 한 신호 측정 장치 및 방법에 관한 것이다. 이를 위하여 본 발명은 측정요구신호를 수신하여 그에 따른 측정응답신호를 출력하는 피검사기와 피검사기의 송수신 기능을 측정하기 위한 측정요구신호를 생성하고, 측정응답신호를 수신하여 피검사기의 성능을 검증하는 자동검사기와, 자동 검사기와 피검사기 사이에 위치하여 측정요구신호와 측정응답신호를 변환하는 신호변환기를 포함하는 신호측정장치 및 이를 이용한 측정 방법을 제공한다.The present invention relates to a signal measuring apparatus, in particular, even if the output signal of the device under test (DUT: Device Under Test) is larger than the signal that can be measured in the automatic test equipment (ATE: Automatic Test Equipment) A signal measuring apparatus and method for verifying the performance of a tester. To this end, the present invention generates a measurement request signal for measuring the transmission and reception function of the test subject and the test subject receiving the measurement request signal and outputs the corresponding response signal, and receives the measurement response signal to verify the performance of the test subject. The present invention provides a signal measuring apparatus and a measuring method using the same, which includes an automatic inspector, and a signal converter positioned between the automatic inspector and the inspector to convert the measurement request signal and the measurement response signal.
자동검사기, 피검사기, 신호변환기 Auto Inspector, Inspector, Signal Converter
Description
본 발명은 신호 측정 장치 및 방법에 관한 것으로, 구체적으로 자동검사기에서 측정 가능한 신호보다 피검사기의 출력 신호가 더 클 경우에도 피검사기의 신호를 측정하여 피검사기의 성능을 검증할 수 있도록 한 신호측정장치 및 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a signal measuring apparatus and method, and more particularly, to measure a signal that enables a tester's performance to be verified by measuring a signal of an inspector even when an output signal of the inspector is larger than a signal that can be measured by an automatic inspector. An apparatus and method are provided.
일반적으로, 집적 회로(IC:Integrated circuit)는 적당한 동작을 보장하도록 검사될 필요가 있다. 이것은 특히 IC의 개발 및 제조 단계에서 요구되는 것으로, 통상적으로 최종 애플리케이션 전에 검사된다. 검사 동안, 피검사기 예컨대, RF칩과 같은 IC는 다양한 유형의 자극 신호에 노출되고, 응답은 측정 및 처리되어 양호한 장치의 예상된 응답과 비교된다. 자동검사기는 일반적으로 장치-지정 검사 프로그램에 따라 작업을 수행한다.In general, integrated circuits (ICs) need to be tested to ensure proper operation. This is particularly required during the development and manufacturing stages of ICs, which are typically inspected before final application. During testing, ICs such as inspectors, such as RF chips, are exposed to various types of stimulus signals, and the response is measured and processed to compare with the expected response of a good device. Automated checkers generally perform their work according to a device-specific inspection program.
도 1은 종래의 신호측정장치를 설명하기 위한 구성도이다.1 is a block diagram for explaining a conventional signal measuring apparatus.
도 1에 도시된 바와 같이, 종래의 신호측정 장치는 피검사기(20)의 신호를 생성하여 출력하는 신호생성부(11)와, 입력받은 신호를 측정하는 신호측정부(13)를 포함하는 자동검사기(10)와, 자동검사기(10)의 신호생성부(11)에서 생성된 신호를 입력받아 자동검사기(10)의 신호측정부(13)로 신호를 출력하여 자동검사기(10)가 해당 신호를 측정함으로써 성능을 검증 받는 피검사기(20)로 구성된다.As shown in FIG. 1, the conventional signal measuring apparatus includes an
자동검사기(10)는 신호생성부(11)를 통해 피검사기(20)를 테스트하기 위한 소정 주파수대역의 주파수 신호를 피검사기(20)로 출력한다. 피검사기(20)는 테스트 주파수 신호를 입력받은 후 출력단을 통해 자동검사기(10)가 주파수 신호를 측정할 수 있도록 자동검사기(10)의 신호측정부(13)로 주파수 신호를 출력한다. 자동검사기(10)는 신호측정부(13)를 통해 피검사기(20)가 출력한 주파수 신호를 이용하여 피검사기(20)의 주파수 신호를 측정한다. The
그러나, 종래의 신호측정 장치는 자동검사기의 신호측정부에서 측정가능한 영역의 주파수 신호가 피검사기에서 출력하는 주파수 신호보다 작을 경우, 피검사기의 주파수 신호를 측정할 수 없게 되어 피검사기의 성능을 검증할 수 없는 문제점이 있다.However, in the conventional signal measuring apparatus, when the frequency signal of the area that can be measured by the signal measuring unit of the automatic tester is smaller than the frequency signal output from the test subject, the signal of the test subject cannot be measured, thereby verifying the performance of the test subject. There is a problem that cannot be done.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 감안하여 창출한 것으로, 자동검사기에서 측정 가능한 신호보다 피검사기의 출력 신호가 더 클 경우에도 피검사기의 신호를 측정하여 피검사기의 성능을 검증할 수 있도록 한 신호측정 장치 및 방법을 제공함에 그 목적이 있다.The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and it is possible to measure the signal of the inspector even when the output signal of the inspector is larger than the signal that can be measured by the automatic inspector. It is an object of the present invention to provide an apparatus and method.
본 발명의 다른 목적은 테스트 신호를 수신한 피검사기에서 출력되는 신호를 자동검사기가 인식할 수 있는 저 주파수 대역의 신호로 가변하여 피검사기의 주파수 성능을 테스트할 수 있도록 한 신호측정 장치 및 방법을 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide a signal measuring apparatus and method for testing the frequency performance of the inspector by varying the signal output from the inspector receiving the test signal into a signal of a low frequency band that can be recognized by the automatic inspector. In providing.
본 발명의 또 다른 목적은 피검사기의 종류에 따라 피검사기의 주파수 성능을 테스트하기 위한 테스트 신호를 가변할 수 있도록 한 신호측정 장치 및 방법을 제공함에 있다.It is still another object of the present invention to provide a signal measuring apparatus and method for varying a test signal for testing a frequency performance of an inspector according to a type of inspector.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일면에 따른 신호 측정 장치는 생성된 측정요구신호가 측정대상 피검사기의 신호 대역을 벗어나거나 상기 피검사기로부터 상기 측정요구신호에 대응하여 출력된 측정응답신호가 자신의 신호 대역을 벗어날 경우, 변환요구신호를 출력하는 자동검사기와; 상기 자동검사기와 상기 피검사기 사이에 위치하여, 상기 변환요구신호를 수신하여 상기 측정요구신호 또는 상기 측정응답신호를 변환하는 신호변환기를 포함하는 것을 특징으로 한다.Signal measuring apparatus according to an aspect of the present invention for achieving the above object is a measurement response signal that is generated out of the signal band of the test target to be measured or the response signal output from the test target corresponding to the measurement request signal An automatic checker for outputting a conversion request signal when the signal is out of its own signal band; Located between the automatic tester and the inspector, characterized in that it comprises a signal converter for receiving the conversion request signal to convert the measurement request signal or the measurement response signal.
또한 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 또 다른 면에 따른 신호측정장치는 측정요구신호를 수신하여 그에 따른 측정응답신호를 출력하는 피검사기와; 상기 피검사기의 송수신 기능을 측정하기 위한 상기 측정요구신호를 생성하고, 피검사기의 성능을 검증하기 위해 상기 측정응답신호를 수신하여 측정하며, 상기 측정요구신호와 상기 측정응답신호를 변환하는 자동검사기를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the signal measuring apparatus according to another aspect of the present invention for achieving the above object includes a test target for receiving a measurement request signal and outputs a measurement response signal accordingly; An automatic tester which generates the measurement request signal for measuring a transmission / reception function of the test subject, receives and measures the measurement response signal to verify the performance of the test subject, and converts the measurement request signal and the measurement response signal Characterized in that it comprises a.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 또 다른 면에 따른 신호 측정 방법은 성능을 검증하고자 하는 피검사기의 종류에 따라 자동검사기의 측정요구신호를 가변하는 신호 변환기로 이루어진 신호를 측정하는 장치의 신호를 측정하는 방법에 있어서, 상기 피검사기에 필요한 측정요구신호를 생성하여 출력하는 신호생성 단계와; 상기 측정요구신호를 입력받아 변조한 후 상기 피검사기로 출력하고 상기 측정응답신호를 입력받아 변조하여 출력하는 신호변조 단계;와 상기 측정응답신호를 입력받아 측정하는 신호측정 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.Signal measuring method according to another aspect of the present invention for achieving the above object is a device for measuring a signal consisting of a signal converter for varying the measurement request signal of the automatic tester according to the type of the inspector to verify the performance A method for measuring a signal, comprising: a signal generation step of generating and outputting a measurement request signal necessary for the inspected object; And a signal modulation step of receiving and modulating the measurement request signal, outputting the modulated signal to the inspected object, and receiving and modulating the measurement response signal, and measuring and receiving the measurement response signal. do.
상술한 과제해결 수단에 의해 본 발명은 신호측정장치를 사용할 경우, 자동검사기는 피검사기의 성능을 측정하기 위해 측정요구신호를 생성하면, 신호변환기는 측정하고자 하는 피검사기의 종류에 따라 측정요구신호를 피검사기의 수신 신호인 측정요구신호에 맞게 변환할 수 있고, 피검사기의 측정응답신호를 자동검사기에서 측정 가능한 수신신호인 측정응답신호로 변환할 수 있어서 피검사기의 성능을 측정할 수 있는 효과가 있다. According to the above-mentioned problem solving means, when the signal measuring device is used, the automatic inspector generates a measurement request signal for measuring the performance of the inspector, and the signal converter determines the measurement request signal according to the type of inspector to be measured. Can be converted according to the measurement request signal, which is the reception signal of the inspector, and the measurement response signal of the inspector can be converted into the measurement response signal, which is a reception signal that can be measured by the automatic inspector, thereby measuring the performance of the inspector. There is.
또한 피검사기의 측정응답신호가 자동검사기에서 측정 가능한 신호범위 내에 있을 때뿐만 아니라 자동검사기에서 측정 가능한 신호 범위를 벗어났을 경우에도 자동검사기에서 피검사기의 측정응답신호를 측정할 수 있는 효과가 있다. In addition, when the measurement response signal of the inspector is within the range of the signal that can be measured by the automatic inspector, the measurement response signal of the inspector can be measured by the automatic inspector even when it is out of the signal range that can be measured by the automatic inspector.
본 발명의 신호측정장치 및 방법은 피검사기의 성능을 검증함에 있어서, 피검사기의 성능 검증에 필요한 측정요구신호가 자동검사기에서 생성 또는 측정 가능할 수 있는 신호의 범위를 벗어날 경우에도 피검사기의 성능을 검증할 수 있도록 하는 기술적 요지를 갖는다. 이는 자동검사기에서 생성 또는 측정 가능한 신호의 범위에 한정 받지 않고 피검사기의 성능을 자동검사기에서 검증할 수 있도록 한다.In the signal measuring apparatus and method of the present invention, when verifying the performance of the inspector, even if the measurement request signal required for verifying the performance of the inspector is out of the range of the signal that can be generated or measured by the automatic inspector, Have a technical gist for verification. This allows the autoinspector to verify the performance of the inspector without being limited to the range of signals that can be generated or measured by the autoinspector.
이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하되, 본 발명에 따른 동작 및 작용을 이해하는데 필요한 부분을 중심으로 설명한다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, preferred embodiments of the present invention will be described in detail, focusing on the parts necessary to understand the operation and action according to the present invention.
하기의 설명에서 본 발명의 신호측정장치 및 방법의 특정 상세들이 본 발명의 보다 전반적인 이해를 제공하기 위해 나타나 있는데, 이들 특정 상세들 없이 또한 이들의 변형에 의해서도 본 발명이 용이하게 실시될 수 있다는 것은 이 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명할 것이다.In the following description, specific details of the signal measuring apparatus and method of the present invention are presented to provide a more general understanding of the present invention. It is understood that the present invention can be easily implemented without these specific details and by their modifications. It will be apparent to those of ordinary skill in the art.
한편 본 명세서 전반에 걸쳐 측정요구신호는 피검사기의 수신 기능을 측정하기 위한 신호를 의미하는 바로 사용할 것이다. 또한 측정응답신호는 측정요구신호 를 수신한 피검사기에서 출력되는 신호를 의미하는 바로 사용할 것이다. 또한 제1 변환요구신호는 측정요구신호를 피검사기에서 인식할 수 있도록 변환시키는 신호를 의미하는 바로 사용할 것이다. 또한 제2 변환요구신호는 측정응답신호를 자동검사기에서 인식할 수 있도록 변환시키는 신호를 의미하는 바로 사용할 것이다.On the other hand throughout the present specification, the measurement request signal will be used immediately means a signal for measuring the receiving function of the test subject. In addition, the measurement response signal will be used immediately, which means a signal output from the EUT receiving the measurement request signal. In addition, the first conversion request signal will be immediately used to mean a signal for converting the measurement request signal to be recognized by the inspected object. In addition, the second conversion request signal will be used immediately to mean a signal for converting the measurement response signal to be recognized by the automatic tester.
도 2는 본 발명의 신호측정장치를 설명하기 위한 구성도이다. 2 is a block diagram for explaining a signal measuring apparatus of the present invention.
도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 신호측정장치는 자동검사기(100)와, 피검사기(200)와, 신호변환기(300)로 구성된다.As shown in FIG. 2, the signal measuring apparatus of the present invention includes an
우선 자동검사기(100)는 상기 피검사기(200)의 송수신 기능을 검증하기 위한 측정요구신호를 생성하고, 상기 피검사기(200)의 측정응답신호를 수신하여 측정한다. 여기서, 자동검사기(100)는 측정요구신호 생성시 생성한 측정요구신호가 피검사기(200)의 성능 검증 신호로 적합하지 않을 경우와, 피검사기(200)에서 출력한 측정응답신호가 자동검사기(100)에서 측정할 수 있는 신호로 적합하지 않을 경우에는 변환요구신호를 생성하여 신호변환기(300)로 출력한다. First, the
피검사기(200)는 측정요구신호를 입력받고 그에 따른 측정응답신호를 출력한다. 또한 피검사기(200)는 피검사기(200)의 종류에 따라 피검사기(200)의 성능을 검증하는데 적합하지 않은 측정요구신호를 입력받을 수 있고, 자동검사기(100)에서 측정하기에 적합하지 않은 측정응답신호를 출력할 수 있다. 여기서 피검사기(200)는 송수신 기능을 내장한 디바이스가 된다. 예를 들면, 무선주파수(RF) 신호를 송수신하는 RF칩이 될 수 있다.The
신호변환기(300)는 자동검사기(100)와 피검사기(200) 사이에 위치하여, 측정 요구신호와 측정응답신호를 변환한다.The
또한 신호변환기(300)는 피검사기(200)의 성능 검증시 필요한 측정요구신호가 피검사기(200)의 수신 신호로 적합하지 않을 경우, 피검사기(200)의 수신 신호에 적합하게 자동검사기(100)에서 생성된 측정요구신호를 고역의 신호로 변환해준다.In addition, the
또한 신호변환기(300)는 피검사기(200)의 측정응답신호가 자동검사기(100)에서 측정할 수 있는 신호로 적합하지 않을 경우, 피검사기(200)의 측정응답신호를 자동검사기(100)에서 측정 가능한 신호에 적합하게 저역의 신호로 변환해준다. In addition, the
도 2에 도시된 바를 변형하여, 본 발명의 신호측정장치는 자동검사기(100)와, 피검사기(200)로도 구성될 수 있다.2 is modified, the signal measuring apparatus of the present invention may be composed of an
우선 자동검사기(100)는 피검사기(200)의 송수신 기능을 검증하기 위한 측정요구신호를 생성하고, 상기 피검사기(200)의 측정응답신호를 수신하여 측정한다.First, the
여기서, 자동검사기는(100) 도 2에 도시된 신호변환기(300)의 기능을 내부에 포함한다. 자동검사기(100)는 측정요구신호 생성시 생성한 측정요구신호가 피검사기(200)의 성능 검증 신호로 적합하지 않을 경우, 제1 변환요구신호를 생성하고, 측정요구신호를 피검사기(200)에서 인식 가능한 신호로 변환하여 피검사기(200)에 출력한다. 피검사기(200)는 측정요구신호를 입력받아 이에 대응하는 측정응답신호를 출력한다. 피검사기(200)에서 출력한 측정응답신호가 자동검사기(100)에서 측정할 수 있는 신호로 적합하지 않을 경우, 자동검사기(100)는 제2 변환요구신호를 생성하고, 측정가능한 신호로 측정응답신호를 변환하여 이를 측정한다. Here, the
도 3은 도 2에 있어, 신호측정장치의 자동검사기 내부구성을 보인 구성도이다.3 is a block diagram showing the internal configuration of the automatic tester of the signal measuring apparatus in FIG.
도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 자동검사기(100)는 신호생성부(110)와, 신호측정부(130)와, 제어부(150)로 구성된다. As shown in FIG. 3, the
신호생성부(110)는 피검사기(200)의 측정요구신호를 생성하고, 측정요구신호가 피검사기(200)의 수신 기능을 검증하는데 적합하지 않을 경우, 신호 변환기(300)에서 측정요구신호를 소정 고역의 측정요구신호로 변환시키는데 필요한 제1 변환요구신호(f1)를 생성하는 제1 신호생성기(111)와, 피검사기(200)에서 송신한 측정응답신호가 신호측정부(130)에서 측정할 수 있는 신호로 적합하지 않을 경우, 신호 변환기(300)에서 측정응답신호를 소정 저역의 측정응답신호로 변환시키는데 필요한 제2 변환요구신호(f2)를 생성하는 제2 신호생성기(113)를 포함한다.The
신호측정부(130)는 측정응답신호를 입력받아 이에 따른 피검사기(200)의 출력신호를 측정한다.The
제어부(150)는 피검사기(200)의 종류에 대응하는 측정요구신호를 생성할 수 있도록 신호생성부(110)를 제어한다.The
또한 제어부(150)는 신호생성부(110)에서 생성한 측정요구신호가 피검사기(200)의 성능 검증시 필요한 신호로 적합하지 않을 경우, 측정요구신호를 신호변환기(300)에서 고역신호로 변환시킬 때 필요한 변환요구신호를 생성할 수 있도록 신호생성부(110)를 제어한다. 신호생성부(110)에서 생성한 측정요구신호가 피검사기(200) 성능 검증에 적합한 신호일 경우, 측정요구신호를 변환시킬 필요가 없으므로 변환요구신호를 생성하지 않도록 신호생성부(110)의 제1 신호생성(111)기를 제어한다. In addition, the
또한 제어부(150)는 피검사기(200)에서 출력한 측정응답신호가 신호측정부(130)에서 측정할 수 있는 신호로 적합하지 않을 경우, 측정응답신호를 신호변환기(300)에서 저역신호로 변환시킬 때 필요한 변환요구신호를 생성하도록 신호생성부(110)를 제어한다. 피검사기(200)의 측정응답신호가 신호측정부(130)에서 측정하기 적합한 신호일 경우, 측정응답신호를 변환시킬 필요가 없으므로 변환요구신호를 생성하지 않도록 신호생성부(110)의 제2 신호생성기(113)를 제어한다.In addition, the
도 3에 도시된 바를 변형하여, 본 발명의 자동검사기(100)는 신호생성부(110)와, 신호측정부(130)와, 제어부(150)와, 신호변환부로도(미도시) 구성될 수 있다. 3, the
여기서 신호변환부(미도시)는 도 4에 도시된 신호변환기의 기능과 동일하다.The signal converter (not shown) is the same as the function of the signal converter shown in FIG.
단지 신호측정장치의 신호변환기가 아닌 신호측정장치의 자동검사기(100)의 신호변환부(미도시)로 명칭이 바뀌는 것만 차이가 있다.The only difference is that the name is changed to a signal conversion unit (not shown) of the
도 4는 도 2에 있어, 신호측정장치의 신호변환기 내부구성을 보인 구성도이다.4 is a block diagram showing the internal configuration of the signal converter of the signal measuring apparatus in FIG.
도 4에 도시된 바와 같이, 신호측정장치의 신호변환기(300)는 측정요구신호 변환부(310)와, 측정응답신호 변환부(330)로 구성된다.As shown in FIG. 4, the
측정요구신호 변환부(310)는 제1 혼합기(311)와, 제1 필터(313)로 구성되어 있으며, 측정요구신호를 피검사기(200)가 정상적으로 수신할 수 있도록 변환한다.The measurement request
제1 혼합기(311)는 자동검사(100)기의 신호생성부(110)에서 생성한 측정요구신호와 자동검사기(100) 신호생성부(110)의 제1 신호생성부(111)에서 생성한 제1 변환요구신호(f1)를 혼합해준다.The
제1 필터(313)는 제1 혼합기(311)에서 측정요구신호와 제1 변환요구신호를 혼합한 신호(f1) 중, 피검사기(200)에서 측정 가능한 고역의 신호만을 필터링하는 고역통과 필터이다.The
측정응답신호 변환부(330)는 제2 혼합기(331)와 제2 필터(333)로 구성되어 있으며, 자동검사기(100)에서 정상적으로 측정응답신호를 측정할 수 있도록 측정응답신호를 변환한다.The measurement
제2 혼합기(331)는 피검사기(200)의 측정응답신호와 자동검사기(100) 신호생성부(110)의 제2 신호생성부(113)에서 생성한 제2 변환요구신호(f2)를 혼합해준다.The
제2 필터(333)는 제2 혼합기(331)에서 측정응답신호와 제2 변환요구신호(f2)를 혼합한 신호 중, 저역의 신호만을 필터링하는 저역통과 필터이다. The
도 5는 본 발명의 신호측정방법을 보인 흐름도이다. 5 is a flowchart illustrating a signal measuring method of the present invention.
도 5에 도시된 바와 같이, 자동검사기(100)는 피검사기(200)의 송수신 성능을 검증하는데 필요한 측정요구신호를 생성한다(S301). 이후 자동검사기(100)는 측정요구신호가 피검사기(200)의 수신 기능을 검증하는데 필요한 수신 신호로 적합한가를 판단한다(S303).As shown in FIG. 5, the
판단결과, 피검사기(100)의 수신신호로 적합하지 않으면, 자동검사기(100)는 신호 변환기(300)에서 측정요구신호를 소정 고역의 신호로 변환시키는데 필요한 제1 변환요구신호를 생성한다(S305).As a result of determination, if it is not suitable as a received signal of the
신호 변환기(300)는 자동검사기(100)가 송신한 측정요구신호와 제1 변환요구신호를 수신하여 혼합(307)한 후, 혼합된 신호가 피검사기(200)에서 수신할 수 있는 신호가 되도록, 고역의 신호를 필터링(S309)하여 피검사기에 송신한다. The
피검사기(200)는 측정요구신호를 수신하여 이에 대응하는 측정응답신호를 자동검사기(100)로 송신한다(S311). The
그러나, 303단계(S303)의 판단결과, 측정요구신호가 피검사기(100)의 수신신호로 적합하면, 자동검사기(100)는 311단계(S311)를 수행한다.However, if it is determined in step 303 (S303) that the measurement request signal is suitable as the received signal of the
이후 자동검사기(100)는 피검사기(200)에서 송신한 측정응답신호가 자동검사기(100)에서 측정할 수 있는 응답신호인가를 판단한다(S313).Thereafter, the
판단결과, 측정할 수 있는 응답신호로 적합하지 않으면, 신호 변환기(300)에서 측정응답신호를 소정 저역의 측정응답신호로 변환시키는데 필요한 제2 변환요구신호를 생성한다(S315). As a result of determination, if it is not suitable as a measurable response signal, the
신호변환기(300)는 피검사기(200)에서 송신한 측정응답신호와 자동검사기(100)에서 송신한 제2 변환요구신호를 수신하여 혼합(S317)한 후, 혼합된 신호가 자동검사기(200)에서 측정할 수 있는 신호가 되도록 저역의 신호를 필터링(S319)하여 자동검사기(100)에 송신한다. The
자동검사기(100)는 측정응답신호를 수신하여 이를 측정한다(S321).The
그러나, 313단계(S313)의 판단결과, 피검사기(200)의 측정응답신호가 자동검 사기(100)에서 측정할 수 있는 응답신호에 적합하면, 321단계(S321)를 수행한다.However, if it is determined in step 313 (S313) that the measurement response signal of the
한편 본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시 예에 관해 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형 가능함은 물론이다. 그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시 예에 국한되어 정해져서는 안되며 후술하는 특허청구의 범위뿐만 아니라 이 특허청구의 범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.Meanwhile, in the detailed description of the present invention, specific embodiments have been described, but various modifications may be made without departing from the scope of the present invention. Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the described embodiments, but should be determined not only by the scope of the following claims, but also by the equivalents of the claims.
도 1은 종래의 신호측정장치를 보인 예시도.1 is an exemplary view showing a conventional signal measuring device.
도 2은 본 발명의 신호측정장치를 보인 예시도.Figure 2 is an exemplary view showing a signal measuring device of the present invention.
도 3은 도 2에 있어, 신호측정장치의 자동검사기 내부구성을 보인 구성도.3 is a configuration diagram showing the internal configuration of the automatic tester of the signal measuring apparatus in FIG.
도 4는 도 2에 있어, 신호측정장치의 신호변환기 내부구성을 보인 구성도.4 is a configuration diagram showing the internal configuration of a signal converter of the signal measuring apparatus in FIG.
도 5는 본 발명의 신호측정방법을 보인 흐름도5 is a flow chart showing a signal measuring method of the present invention
***도면의 주요부분에 대한 부호의 설명****** Explanation of symbols for main parts of drawing ***
100: 자동검사기 110: 신호생성부 100: automatic tester 110: signal generator
130: 신호측정부 150: 제어부130: signal measuring unit 150: control unit
111: 제1 신호생성기 113: 제2 신호생성기 111: first signal generator 113: second signal generator
200: 피검사기 300: 신호변환기 200: inspector 300: signal converter
310: 측정요구신호 변환부 330: 측정응답신호 변환부310: measurement request signal conversion unit 330: measurement response signal conversion unit
311: 제1 혼합기 313: 제1 필터311: first mixer 313: first filter
331: 제2 혼합기 333: 제2 필터331: second mixer 333: second filter
Claims (16)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070140100A KR100936243B1 (en) | 2007-12-28 | 2007-12-28 | Apparatus and method for measuring signal |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070140100A KR100936243B1 (en) | 2007-12-28 | 2007-12-28 | Apparatus and method for measuring signal |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090072101A KR20090072101A (en) | 2009-07-02 |
KR100936243B1 true KR100936243B1 (en) | 2010-01-12 |
Family
ID=41329364
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070140100A KR100936243B1 (en) | 2007-12-28 | 2007-12-28 | Apparatus and method for measuring signal |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100936243B1 (en) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03129970U (en) * | 1990-04-06 | 1991-12-26 | ||
JPH10505408A (en) * | 1994-05-12 | 1998-05-26 | サザン・リサーチ・インスティテュート | Ultrasonic spectroscopy material inspection method and apparatus |
-
2007
- 2007-12-28 KR KR1020070140100A patent/KR100936243B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03129970U (en) * | 1990-04-06 | 1991-12-26 | ||
JPH10505408A (en) * | 1994-05-12 | 1998-05-26 | サザン・リサーチ・インスティテュート | Ultrasonic spectroscopy material inspection method and apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20090072101A (en) | 2009-07-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9031514B2 (en) | Self calibration method for radio equipment with receive and transmit circuitry | |
US7960189B2 (en) | Method of manufacturing a system in package | |
CN109406902A (en) | Scan logic aging testing system | |
US20080218178A1 (en) | Testing apparatus, fixture board and pin electronics card | |
KR101511161B1 (en) | Semiconductor device test apparatus having interface unit and semiconductor device test method using the same | |
KR100962404B1 (en) | Apparatus and method for measuring signal power | |
KR100936243B1 (en) | Apparatus and method for measuring signal | |
CN110221258A (en) | The method and apparatus for testing one or more RX paths in radar receiver | |
US8912804B2 (en) | Method for identifying self-generated spurious signals | |
US10371741B2 (en) | Characterization of phase shifter circuitry in integrated circuits (ICs) using standard automated test equipment (ATE) | |
GB2417092A (en) | Testing interface voltage in integrated circuits | |
Brown et al. | RF testing on a mixed signal tester | |
US7403027B2 (en) | Apparatuses and methods for outputting signals during self-heat burn-in modes of operation | |
US20100123472A1 (en) | Probe card and test method using the same | |
TWI610539B (en) | System and method for confirming radio frequency (rf) signal connectivity integrity with device under test (dut) | |
KR101050111B1 (en) | Differential Signal Generator and Method for Automatic Test System | |
JP2006510274A (en) | Integrated circuit having transmission channel with integrated independent tester | |
US20160227421A1 (en) | Generation of rf stimulus signal using dc modulating signal | |
EP2343564A1 (en) | Built-in chip self-test apparatus and method | |
CN117310590B (en) | Verification method, system and device based on testing machine | |
CN103592613A (en) | Testing calibration instrument, testing system and testing method | |
US7484155B2 (en) | Analog base-band test apparatus and method by enhanced combination of JTAG and memory in mobile communication system | |
EP2533062A1 (en) | A radio frequency integrated circuit | |
JP7265373B2 (en) | test system, interface unit | |
TW200902992A (en) | A method and apparatus for testing a system module |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130102 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131231 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |