KR100891951B1 - Common module for ddr? sdram and ddr? sdram - Google Patents
Common module for ddr? sdram and ddr? sdram Download PDFInfo
- Publication number
- KR100891951B1 KR100891951B1 KR1020070093114A KR20070093114A KR100891951B1 KR 100891951 B1 KR100891951 B1 KR 100891951B1 KR 1020070093114 A KR1020070093114 A KR 1020070093114A KR 20070093114 A KR20070093114 A KR 20070093114A KR 100891951 B1 KR100891951 B1 KR 100891951B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- sdram
- bus
- common module
- slot
- termination
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4093—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. data buffers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4096—Input/output [I/O] data management or control circuits, e.g. reading or writing circuits, I/O drivers or bit-line switches
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/06—Arrangements for interconnecting storage elements electrically, e.g. by wiring
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1048—Data bus control circuits, e.g. precharging, presetting, equalising
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
Abstract
본 발명은 더블 데이터 레이트2 싱크로너스 다이내믹 랜덤 액세스 메모리(DDR2 SDRAM) 및 더블 데이터 레이트3 싱크로너스 다이내믹 랜덤 액세스 메모리(DDR3 SDRAM)의 공통 모듈에 관한 것으로서, 컴퓨터 시스템에 사용된다. 상기 공통 모듈은 제1 버스, 터미네이션 회로 카드, 제1 슬롯, 및 제2 슬롯을 포함한다. 제1 버스는 복수 개의 신호를 전송한다. 터미네이션 회로 카드는 복수 개의 터미네이션 저항을 구비한다. 제1 슬롯은 공통 모듈에 설치되며 제1 버스에 연결되며, DDR2 SDRAM을 설치하는데 사용된다. 제2 슬롯은 공통 모듈에 설치되며, 제1 버스에 연결되며, DDR3 SDRAM 또는 터미네이션 회로 카드를 설치하는데 사용된다. 여기에서, DDR2 SDRAM을 제1 슬롯에 설치하였을 때 터미네이션 회로 카드는 제2 슬롯에 설치한다.
DDR2 SDRAM, DDR3 SDRAM, 공통 모듈
The present invention relates to a common module of a double data rate 2 synchronous dynamic random access memory (DDR2 SDRAM) and a double data rate 3 synchronous dynamic random access memory (DDR3 SDRAM) and is used in a computer system. The common module includes a first bus, a termination circuit card, a first slot, and a second slot. The first bus transmits a plurality of signals. The termination circuit card has a plurality of termination resistors. The first slot is installed in a common module and connected to the first bus, and is used to install DDR2 SDRAM. The second slot is installed in a common module, connected to the first bus, and used to install a DDR3 SDRAM or termination circuit card. Here, when the DDR2 SDRAM is installed in the first slot, the termination circuit card is installed in the second slot.
DDR2 SDRAM, DDR3 SDRAM, Common Module
Description
본 발명은 메모리 공통 모듈에 관한 것으로서, 특히 DDR2 SDRAM 및 DDR3 SDRAM의 공통 모듈에 관한 것이다.The present invention relates to a memory common module, and more particularly to a common module of DDR2 SDRAM and DDR3 SDRAM.
높은 전송율과 낮은 전력소모의 수요에 따라, 근래에 더블 데이터 레이트3 싱크로너스 다이내믹 랜덤 액세스 메모리(DDR3 SDRAM)로 발전하였다. 그 외, DDR3 SDRAM의 전압이 1.8V에서 1.5V로 내려갔으며, 이는 메모리칩의 전력소모가 낮아졌다는 것을 의미하며, 장비의 사용을 연장하는데, 예를 들면, 컴퓨터와 핸드폰의 사용시간을 연장한다. 그 외, 칩셋의 패키지, 핀 및 신호방면에서 DDR3은 전면적인 기술 진보를 가져왔다.In response to the demand for high data rates and low power consumption, it has recently evolved into
도 1은 종래의 DDR2 SDRAM의 메인보드 설치 약도를 나타낸다. 도 1에서, DDR2 SDRAM(11)은 메인보드(1)의 DDR2 슬롯에 설치한다. 메인 컨트롤러(10)는 DDR2 SDRAM(11)에 데이터 신호(DATA), 어드레스 신호(ADD), 및 제어 신호(CMD)를 전송한다. 여기에서, 메인 컨트롤러(10)는 인텔(intel)의 노스브리지 또는 AMD사(AMD)의 중앙처리장치일 수 있다. 도 1을 참조하면, 어드레스 신호(ADD) 및 제어 신호(CMD)가 요구하는 터미네이션 저항(RADD 및 RCMD)은 모두 메인보드(1)에 설치된다. 그러나 데이터 신호(DATA)가 요구하는 터미네이션 저항(RDATA)은 DDR2 SDRAM(11) 내에 설치된다.1 shows a main board installation diagram of a conventional DDR2 SDRAM. In FIG. 1, the DDR2 SDRAM 11 is installed in the DDR2 slot of the motherboard 1. The
도 2는 종래의 DDR3 SDRAM의 메인보드 설치 약도를 나타낸다. 도 2에서, DDR3 SDRAM(21)은 메인보드(2)의 DDR3 슬롯에 설치한다. 메인 컨트롤러(20)는 DDR3 SDRAM(21)에 데이터 신호(DATA), 어드레스 신호(ADD), 및 제어 신호(CMD)를 전송한다. 여기에서, 메인 컨트롤러(20)는 인텔(intel)의 노스브리지 또는 AMD사(AMD)의 중앙처리장치일 수 있다. 도 2를 참조하면, 데이터 신호(DATA), 어드레스 신호(ADD), 및 제어 신호(CMD)가 요구하는 터미네이션 저항(RDATA, RADD 및 RCMD)은 모두 DDR3 SDRAM(21) 내에 설치된다. 도 1의 DDR2 SDRAM의 메인보드(1)와 비교하면, 어드레스 신호(ADD) 및 제어 신호(CMD)가 요구하는 터미네이션 저항(RADD 및 RCMD)이 메인보드에서 제거되어 DDR3 SDRAM(21) 내에 설치된다는 점에서 차이가 있다.2 shows a main board installation diagram of a conventional DDR3 SDRAM. In Fig. 2, the DDR3 SDRAM 21 is installed in the DDR3 slot of the
상기와 같이, DDR2 SDRAM 및 DDR3 SDRAM의 규격이 다르기 때문에 사용자가 DDR2 SDRAM 및 DDR3 SDRAM을 교체 사용할 때 서로 다른 규격의 메인보드가 요구하게 된다.As described above, because the specifications of the DDR2 SDRAM and DDR3 SDRAM are different, when the user replaces the DDR2 SDRAM and DDR3 SDRAM, motherboards of different specifications are required.
때문에, DDR2 SDRAM 및 DDR3 SDRAM의 공통 모듈을 제공하여 사용자로 하여금 메인보드를 교체하지 않고 선택적으로 DDR2 SDRAM 및 DDR3 SDRAM을 사용하게 하는 것이다.This provides a common module of DDR2 SDRAM and DDR3 SDRAM, allowing users to selectively use DDR2 SDRAM and DDR3 SDRAM without replacing the motherboard.
본 발명의 목적은 이상에서 언급한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 사용자로 하여금 메인보드를 교체하지 않고 선택적으로 DDR2 SDRAM 및 DDR3 SDRAM을 사용하게 하는 DDR2 SDRAM 및 DDR3 SDRAM의 공통 모듈을 제공하기 위한 것이다. An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, to provide a common module of DDR2 SDRAM and DDR3 SDRAM that allows the user to selectively use DDR2 SDRAM and DDR3 SDRAM without replacing the motherboard. It is for.
이상과 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 더블 데이터 레이트2 싱크로너스 다이내믹 랜덤 액세스 메모리(DDR2 SDRAM) 및 더블 데이터 레이트3 싱크로너스 다이내믹 랜덤 액세스 메모리(DDR3 SDRAM)의 공통 모듈을 제공함으로서, 컴퓨터 시스템에 사용된다. 상기 공통 모듈은 제1 버스, 터미네이션 회로 카드, 제1 슬롯, 및 제2 슬롯을 포함한다. 제1 버스는 복수 개의 신호를 전송한다. 터미네이션 회로 카드는 복수 개의 터미네이션 저항을 구비한다. 제1 슬롯은 공통 모듈에 설치되며 제1 버스에 연결되어 DDR2 SDRAM을 설치하는데 사용된다. 제2 슬롯은 공통 모듈에 설치되며 제1 버스에 연결되어 DDR3 SDRAM 또는 터미네이션 회로 카드를 설치하는데 사용된다. 여기에서, DDR2 SDRAM을 제1 슬롯에 설치하였을 때 터미네이션 회로 카드는 제2 슬롯에 설치한다.In order to achieve the above object, by providing a common module of a
이상과 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 더블 데이터 레이트2 싱크로너스 다이내믹 랜덤 액세스 메모리(DDR2 SDRAM) 및 더블 데이터 레이트3 싱크로너스 다이내믹 랜덤 액세스 메모리(DDR3 SDRAM)의 공통 모듈을 더 제공함으로 서, 컴퓨터 시스템에 사용된다. 상기 공통 모듈은 제1 버스, 제1 슬롯, 제2 슬롯, 복수 개의 터미네이션 저항, 및 복수 개의 스위치를 포함한다. 제1 슬롯은 공통 모듈에 설치되며 제1 버스에 연결되어, 제1 모드에서 DDR2 SDRAM을 설치하는데 사용된다. 제2 슬롯은 공통 모듈에 설치되며 제1 버스에 연결되어, 제2 모드에서 DDR3 SDRAM을 설치하는데 사용된다. 복수 개의 스위치는 복수 개의 터미네이션 저항과 제1 버스 사이에 대응 연결된다. 제1 모드일 때 복수 개의 스위치가 도통되어, 복수 개의 터미네이션 저항을 제1 버스에 대응 연결되게 한다. 제2 모드일 때 복수 개의 스위치는 닫힌다. In order to achieve the above object, by further providing a common module of a
이상과 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 더블 데이터 레이트2 싱크로너스 다이내믹 랜덤 액세스 메모리(DDR2 SDRAM) 및 더블 데이터 레이트3 싱크로너스 다이내믹 랜덤 액세스 메모리(DDR3 SDRAM)의 공통 모듈을 더 제공함으로서, 컴퓨터 시스템에 사용된다. 상기 공통 모듈은 제1 버스, 제1 슬롯, 제2 슬롯, 및 복수 개의 터미네이션 저항을 포함한다. 제1 버스는 복수 개의 신호를 전송한다. 터미네이션 회로 카드는 복수 개의 터미네이션 저항을 구비한다. 제1 슬롯은 공통 모듈에 설치되며 제1 버스에 연결되어, DDR2 SDRAM을 설치하는데 사용된다. 제2 슬롯은 공통 모듈에 설치되며 제1 버스에 연결되어, DDR3 SDRAM을 설치하는데 사용된다. 복수 개의 터미네이션 저항은 제1 버스에 대응하여 연결된다. 여기에서, 제1 모드 하에 상기 DDR2 SDRAM은 제1 슬롯에 설치되며, 또한 제2 모드 하에 상기 DDR2 SDRAM은 상기 제1 슬롯에서 제거되어 상기 DDR3 SDRAM을 상기 제2 슬롯에 설치된다.In order to achieve the above object, by further providing a common module of a
이하의 설명에 포함되어 있음Included in the description below
이하에서, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 구성 및 동작을 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described the configuration and operation of the present invention.
제1 실시예:First embodiment:
도 3a는 본 발명의 제1 실시예의 더블 데이터 레이트2 싱크로너스 다이내믹 랜덤 액세스 메모리(DDR2 SDRAM) 및 더블 데이터 레이트3 싱크로너스 다이내믹 랜덤 액세스 메모리(DDR3 SDRAM)의 공통 모듈을 나타내며, 컴퓨터 시스템에 적용된다. 도 3a를 참조하면, 공통 모듈(3)은 제1 버스(30), 적어도 하나의 제1 슬롯(31), 제2 슬롯(32), 제3 슬롯(33), 및 터미네이션 회로 카드(34)를 포함한다. 여기에서 주의해야 할 점은 터미네이션 회로 카드(34)는 도 3a에서의 위치에 고정되는 것은 아니며, 공통 모듈(3)에 포함된다는 것을 나타내기 위해서이다. 제1 실시예에서 3개의 슬롯(31-33)은 공통 모듈(3)에 설치되며, 제1 버스(30)에 연결된다. 컴퓨터 시스템의 메인 컨트롤러(35)는 제3 슬롯(33)에 설치된다. 일부 실시예에서는, 메인 컨트롤러(35)는 제1 버스(30)에 복수 개의 신호를 전송하며, 실제 응용에서는 메인 컨트롤러(35)는 AMD사(AMD)의 중앙처리장치로 구현될 수 있다. 또 다른 실시예에서는, 도 3b를 참조하면, 공통 모듈(3)은 칩셋(36)을 더 포함하며 메인 컨트롤러(35)에 연결되어 있으며, 메인 컨트롤러(35)에서 전송된 복수 개의 신호를 제1 버스(30)에 전송한다. 도3b의 실시예에 따르면, 실제 응용에서 메인 컨트롤러(35)는 인텔(intel)의 중앙처리장치로 구현될 수 있으며, 칩셋(36)은 노스브리 지로 구현될 수 있다. 메인 컨트롤러(35)가 제1 버스(30)에 제공하는 복수 개의 신호는 복수 개의 데이터 신호, 복수 개의 어드레스 신호, 및 복수 개의 제어 신호를 포함한다. 다음 예의 설명에서 데이터 신호(D0-D2), 어드레스 신호(A0-A2), 및 제어 신호(C0-C2)를 예를 든다.FIG. 3A shows a common module of the
공통 모듈(3)은 두 가지 모드를 가지고 있으며, 하나는 DDR2 SDRAM 모드(아래에서 제1 모드로 약칭)를 지원하며; 다른 하나는 DDR3 SDRAM모드(아래에서 제2 모드로 약칭)를 지원한다. The
도 4a는 제1 모드에서의 공통 모듈(3)의 설치 약도를 나타낸다. 도 4a를 참조하면, 제1 모드에서 DDR2 SDRAM(40)은 제1 슬롯(31)에 설치되며, 터미네이션 회로 카드(34)는 제2 슬롯에 설치된다. 도 4b를 참조하면, 터미네이션 회로 카드(34)는 복수 개의 터미네이션 저항(R)을 가지고 있으며, 이러한 터미네이션 저항(R)은 어드레스 신호(A0-A2) 및 제어 신호(C0-C2)와 임피던스 매칭된다. 예를 들어 설명하면, 터미네이션 저항(RA0-RA2)은 각각 어드레스 신호(A0-A2)와 임피던스 매칭되며, 터미네이션 저항(RC0-RC2)은 각각 제어 신호(C0-C2)와 임피던스 매칭된다. 데이터 신호(D0-D2)와 임피던스 매칭되는 터미네이션 저항은 DDR2 SDRAM(40)에 내장된다. 터미네이션 회로 카드(34)가 제2 슬롯(32)에 설치될 때 터미네이션 저항(RA0-RA2 및 RC0-RC2)은 제1 버스(30)에 대응되게 연결되어 터미네이션 저항(RA0-RA2)으로 하여금 각각 어드레스 신호(A0-A2)에 연결되게 하며, 터미네이션 저항(RC0-RC2)으로 하여금 각각 제어 신호(C0-C2)에 연결되게 한다.4A shows the installation schematic of the
도 5는 제2 모드 하에서 공통 모듈(3)의 설치 약도를 나타낸다. 도 5를 참조 하면, 제2 모드 하에서, DDR2 SDRAM(40)을 제1 슬롯(31)에서 제거하고, 터미네이션 회로 카드(34)를 제2 슬롯(32)에서 제거하며, DDR3 SDRAM(50)을 제2 슬롯(32)에 설치한다. DDR3 SDRAM의 규격에 따르면 DDR3 SDRAM(50)에 데이터 신호(D0-D2), 어드레스 신호(A0-A2), 및 제어 신호(C0-C2)가 요구되는 터미네이션 저항을 내장하여 터미네이션 회로 카드(34)를 설치하지 않아도 된다.5 shows an installation schematic of the
본 발명의 제1 실시예에 의해, 상기와 같이 사용자가 DDR2 SDRAM과 DDR3 SDRAM을 교체 사용할 때 동일 모듈에서 선택적으로 DDR2 SDRAM과 터미네이션 회로 카드(34)의 조합 및 DDR3 SDRAM(50)을 설치할 수 있어 사용자로 하여금 서로 다른 규격의 모듈을 교체할 필요가 없다.According to the first embodiment of the present invention, when the user replaces the DDR2 SDRAM and the DDR3 SDRAM as described above, the combination of the DDR2 SDRAM and the
제1 실시예에서 하나의 제1 슬롯(31)을 예로 하였으나 응용에 따라 공통 모듈(3)은 복수 개의 병렬된 제1 슬롯(31)을 포함할 수 있다. 제1 모드일 때 각 제1 슬롯에 하나의 DDR2 SDRAM을 설치할 수 있다.Although one
제2 실시예:Second embodiment:
도 6a는 본 발명의 제2 실시예의 DDR2 SDRAM 및 DDR3 SDRAM의 공통 모듈을 나타내며, 컴퓨터 시스템에 적용된다. 도 6a를 참조하면, 공통 모듈(6)은 제1 버스(60), 적어도 하나의 제1 슬롯(61), 제2 슬롯(62), 제3 슬롯(63), 복수 개의 터미네이션 저항(R), 복수 개이 스위치(SW), 및 스위치 제어기(64)를 포함하며, 여기에서 제1 내지 제3 슬롯(61-63)은 공통 모듈(6)에 설치되며, 제1 버스(60)에 연결된다. 복수 개의 스위치(SW)는 복수 개의 터미네이션 저항(R)과 제1 버스(60) 사이 를 연결한다.Fig. 6A shows a common module of DDR2 SDRAM and DDR3 SDRAM of the second embodiment of the present invention and is applied to a computer system. Referring to FIG. 6A, the
일부 실시예에서는, 메인 컨트롤러(65)는 제1 버스(60)에 복수 개의 신호를 전송하며, 실제 응용에서는 메인 컨트롤러(65)는 AMD사(AMD)의 중앙처리장치로 구현될 수 있다. 또 다른 실시예에서는, 도 6b를 참조하면, 공통 모듈(6)은 칩셋(66)을 더 포함하며 메인 컨트롤러(65)에 연결되어 있으며, 메인 컨트롤러(65)에서 전송된 복수 개의 신호를 제1 버스(60)에 전송한다. 도6b의 실시예에 따르면, 실제 응용에서 메인 컨트롤러(65)는 인텔(intel)의 중앙처리장치로 구현될 수 있으며, 칩셋(66)은 노스브리지로 구현될 수 있다. In some embodiments, the
메인 컨트롤러(65)가 제1 버스(60)에 제공하는 복수 개의 신호는 복수 개의 데이터 신호, 복수 개의 어드레스 신호, 및 복수 개의 제어 신호를 포함한다. 다음 예의 설명에서 데이터 신호(D0-D2), 어드레스 신호(A0-A2), 및 제어 신호(C0-C2)를 예를 든다.The plurality of signals provided to the
복수 개의 터미네이션 저항(R)은 어드레스 신호(A0-A2) 및 제어 신호(C0-C2)와 임피던스 매칭된다. 예를 들어 설명하면, 터미네이션 저항(RA0-RA2)은 각각 어드레스 신호(A0-A2)와 임피던스 매칭되며, 터미네이션 저항(RC0-RC2)은 각각 제어 신호(C0-C2)와 임피던스 매칭된다. 복수 개의 스위치(SW)는 스위치(SWA0-SWA2) 및 스위치(SWC0-SWC2)를 포함한다. 스위치(SWA0-SWA2)는 각각 터미네이션 저항(RA0-RA2)과 어드레스 신호(A0-A2) 사이를 연결하며, 스위치(SWC0-SWC2)는 각각 터미네이션 저항(RC0-RC2)과 제어 신호(C0-C2) 사이를 연결한다.The plurality of termination resistors R is impedance matched to the address signals A0-A2 and the control signals C0-C2. For example, the termination resistors RA0-RA2 are each impedance matched to the address signals A0-A2, and the termination resistors RC0-RC2 are each impedance matched to the control signals C0-C2. The plurality of switches SW includes a switch SWA0-SWA2 and a switch SWC0-SWC2. The switches SWA0-SWA2 connect between the termination resistors RA0-RA2 and the address signals A0-A2, respectively, and the switches SWC0-SWC2 respectively terminate the resistors RC0-RC2 and the control signals C0-C2. ).
공통 모듈(6)은 두 가지 모드를 가지고 있으며, 하나는 DDR2 SDRAM 모드(아 래에서 제1 모드로 약칭)를 지원하며; 다른 하나는 DDR3 SDRAM모드(아래에서 제2 모드로 약칭)를 지원한다. The
도 7은 제1 모드에서의 공통 모듈(6)의 설치 약도를 나타낸다. 도 7을 참조하면, 제1 모드에서 DDR2 SDRAM(70)은 제1 슬롯(61)에 설치되며, 스위치 제어기(64)는 스위치(SWA0-SWA2) 및 스위치(SWC0-SWC2)를 도통시켜, 터미네이션 저항(RA0-RA2 및 RC0-RC2)으로 하여금 제1 버스(60)에 대응 연결되게 한다. 이로 하여 터미네이션 저항(RA0-RA2)으로 하여금 각각 어드레스 신호(A0-A2)에 연결되게 하며, 터미네이션 저항(RC0-RC2)로 하여금 각각 제어 신호(C0-C2)에 연결되게 한다. 그 외, 데이터 신호(D0-D2)와 임피던스 매칭되는 터미네이션 저항은 DDR2 SDRAM(70)에 내장된다.7 shows an installation schematic of the
도 8은 제2 모드 하에서 공통 모듈(6)의 설치 약도를 나타낸다. 도 8을 참조하면, 제2 모드 하에서, DDR2 SDRAM(70)을 제1 슬롯(31)에서 제거하고, DDR3 SDRAM(80)을 제2 슬롯(62)에 설치한다. 그 외, 스위치 제어기(64)기는 스위치(SWA0-SWA2) 및 스위치(SWC0-SWC2)를 오프한다. DDR3 SDRAM의 규격에 따르면 DDR3 SDRAM(80)에는 데이터 신호(D0-D2), 어드레스 신호(A0-A2), 및 제어 신호(C0-C2)에 요구되는 터미네이션 저항을 내장하여 스위치(SWA0-SWA2) 및 스위치(SWC0-SWC2)를 제1 버스(61)에 연결하지 않아도 된다.8 shows an installation schematic of the
본 발명의 제2 실시예에 의해, 상기와 같이 사용자가 DDR2 SDRAM과 DDR3 SDRAM을 교체 사용할 때 동일 모듈에서 선택적으로 복수 개의 터미네이션 저항(R)과 제1 버스(61) 사이를 연결하는 복수 개의 스위치(SW)를 도통하거나 오프할 수 있어 사용자가 서로 다른 규격의 모듈을 교체할 필요가 없다.According to the second embodiment of the present invention, a plurality of switches connecting the plurality of termination resistors R and the
제2 실시예에서 하나의 제1 슬롯(61)을 예로 하였으나 응용에 따라 공통 모듈(6)은 복수 개의 병렬 연결된 제1 슬롯(61)을 포함할 수 있다. 제1 모드일 때 각 제1 슬롯에 하나의 DDR2 SDRAM을 설치할 수 있다.In the second embodiment, one
제3 실시예:Third embodiment:
도 9a는 본 발명의 제3 실시예의 DDR2 SDRAM 및 DDR3 SDRAM의 공통 모듈을 나타내며, 컴퓨터 시스템에 적용된다. 도 9a를 참조하면, 공통 모듈(9)은 제1 버스(90), 적어도 하나의 제1 슬롯(91), 제2 슬롯(92), 제3 슬롯(93), 및 복수 개의 터미네이션 저항(R)을 포함한다. 여기에서 제1 내지 제3 슬롯(91-93)은 공통 모듈(9)에 설치되며, 제1 버스(90)에 연결된다. 컴퓨터 시스템의 메인 컨트롤러(94)는 제3 슬롯(93)에 설치된다. 복수 개의 터미네이션 저항(R)은 제1 버스(90)에 대응 연결된다.9A shows a common module of the DDR2 SDRAM and the DDR3 SDRAM of the third embodiment of the present invention, and is applied to a computer system. 9A, the
일부 실시예에서는, 메인 컨트롤러(94)는 제1 버스(90)에 복수 개의 신호를 전송하며, 실제 응용에서는 메인 컨트롤러(94)는 AMD사(AMD)의 중앙처리장치로 구현될 수 있다. 또 다른 실시예에서는, 도 9b를 참조하면, 공통 모듈(9)은 칩셋(95)을 더 포함하는데 이는 메인 컨트롤러(94)에 연결되어 있어, 메인 컨트롤러(94)에서 전송된 복수 개의 신호를 제1 버스(90)에 전송한다. 도 9b의 실시예에 따르면, 실제 응용에서 메인 컨트롤러(94)는 인텔(intel)의 중앙처리장치로 구현될 수 있으며, 칩셋(95)은 노스브리지로 구현될 수 있다.In some embodiments, the
메인 컨트롤러(94)가 제1 버스(90)에 제공하는 복수 개의 신호는 복수 개의 데이터 신호, 복수 개의 어드레스 신호, 및 복수 개의 제어 신호를 포함한다. 다음 예의 설명에서 데이터 신호(D0-D2), 어드레스 신호(A0-A2), 및 제어 신호(C0-C2)를 예를 든다.The plurality of signals provided to the
복수 개의 터미네이션 저항(R)은 제1 버스(90)에 대응되어 연결되며, 어드레스 신호(A0-A2) 및 제어 신호(C0-C2)에 대응된다. 예를 들어 설명하면, 터미네이션 저항(RA0-RA2)은 각각 어드레스 신호(A0-A2)와 대응되며, 터미네이션 저항(RC0-RC2)은 각각 제어 신호(C0-C2)와 대응된다.The plurality of termination resistors R are connected to the
공통 모듈(9)은 두 가지 모드를 가지고 있으며, 하나는 DDR2 SDRAM 모드(아래에서 제1 모드로 약칭)를 지원하며; 다른 하나는 DDR3 SDRAM모드(아래에서 제2 모드로 약칭)를 지원한다. The
도 10은 제1 모드에서의 공통 모듈(9)의 설치 약도를 나타낸다. 도 10을 참조하면, 제1 모드에서 DDR2 SDRAM(100)은 제1 슬롯(91)에 설치된다. 데이터 신호(D0-D2)와 임피던스 매칭되는 터미네이션 저항은 DDR2 SDRAM(100)에 내장된다. 이로 하여 데이터 신호(D0-D2), 어드레스 신호(A0-A2), 및 제어 신호(C0-C2)는 모드 대응되는 터미네이션 저항을 가진다.10 shows an installation schematic of the
도 11은 제2 모드 하에서 공통 모듈(9)의 설치 약도를 나타낸다. 도 10을 참조하면, 제2 모드 하에서, DDR2 SDRAM(100)을 제1 슬롯(91)에서 제거하여, DDR3 SDRAM(110)을 제2 슬롯(92)에 설치한다.11 shows an installation schematic of the
본 발명의 제3 실시예에서, 각각 터미네이션 저항(R)은 0옴에서 100옴 사이 의 값을 가진다. 일부 실시예에서 각각의 터미네이션 저항(R)은 10옴에서 100옴 사이의 값을 가진다.In the third embodiment of the present invention, each of the termination resistors R has a value between 0 and 100 ohms. In some embodiments each termination resistor R has a value between 10 ohms and 100 ohms.
본 발명의 제3 실시예에 의해, 상기와 같이 사용자가 DDR2 SDRAM과 DDR3 SDRAM을 교체 사용할 때 동일 모듈에서 선택적으로 DDR2 SDRAM(100) 및 DDR3 SDRAM(110)을 설치할 수 있어 사용자가 서로 다른 규격의 모듈을 교체할 필요가 없다.According to the third embodiment of the present invention, when the user replaces the DDR2 SDRAM and the DDR3 SDRAM as described above, the
제3 실시예에서 하나의 제1 슬롯(91)을 예로 하였으나 응용에 따라 공통 모듈(9)은 복수 개의 병렬 연결된 제1 슬롯(91)을 포함할 수 있다. 제1 모드일 때 각 제1 슬롯에 하나의 DDR2 SDRAM을 설치할 수 있다.Although the
위에서 본 발명의 바람직한 실시예에 관해서 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어서 여러 가지 변형이 가능함은 물론이다. 그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시 예에 국한되어져서는 아니 되며 후술하는 특허청구의 범위뿐만 아니라 이 특허청구의 범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.Although preferred embodiments of the present invention have been described above, various modifications are possible to those skilled in the art without departing from the scope of the present invention. Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the described embodiments, but should be determined not only by the scope of the following claims, but also by those equivalent to the scope of the claims.
도 1은 종래의 DDR2 SDRAM의 메인보드 설치 약도를 나타내며,1 shows a motherboard installation diagram of a conventional DDR2 SDRAM,
도 2는 종래의 DDR3 SDRAM의 메인보드 설치 약도를 나타내며,2 shows a main board installation diagram of a conventional DDR3 SDRAM,
도 3a 및 도 3b는 본 발명의 제1 실시예의 DDR2 SDRAM 및 DDR3 SDRAM의 공통 모듈을 나타내며,3A and 3B show a common module of DDR2 SDRAM and DDR3 SDRAM in the first embodiment of the present invention,
도 4a는 제1 실시예의 제1 모드 하에서 공통 모듈의 설치 약도를 나타내며,4A shows an installation schematic of a common module under the first mode of the first embodiment,
도 4b는 제1 실시예의 터미네이션 회로 카드의 약도를 나타내며,4B shows a schematic diagram of the termination circuit card of the first embodiment,
도 5는 제1 실시예의 제2 모드 하에서 공통 모듈의 설치 약도를 나타내며,5 shows an installation schematic of a common module under the second mode of the first embodiment,
도 6a 및 도 6b는 본 발명의 제2 실시예의 DDR2 SDRAM 및 D DR3 SDRAM의 공통 모듈을 나타내며,6A and 6B show a common module of the DDR2 SDRAM and the D DR3 SDRAM of the second embodiment of the present invention,
도 7은 제2 실시예의 제1 모드 하에서 공통 모듈의 설치 약도를 나타내며,7 shows an installation schematic of a common module under the first mode of the second embodiment,
도 8은 제2 실시예의 제2 모드 하에서 공통 모듈의 설치 약도를 나타내며,8 shows an installation schematic of a common module under the second mode of the second embodiment,
도 9a 및 도 9b는 본 발명의 제3 실시예의 DDR2 SDRAM 및 DDR3 SDRAM의 공통 모듈을 나타내며,9A and 9B show a common module of the DDR2 SDRAM and the DDR3 SDRAM of the third embodiment of the present invention,
도 10은 제3 실시예의 제1 모드 하에서 공통 모듈의 설치 약도를 나타내며,10 shows an installation schematic of a common module under the first mode of the third embodiment,
도 11은 제3 실시예의 제2 모드 하에서 공통 모듈의 설치 약도를 나타내며,11 shows an installation schematic of a common module under the second mode of the third embodiment,
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings *
1: 메인보드 10: 메인 컨트롤러1: mainboard 10: main controller
11: DDR2 SDRAM 2: 메인보드11: DDR2 SDRAM 2: Motherboard
20: 메인 컨트롤러 21: DDR3 SDRAM20: main controller 21: DDR3 SDRAM
RADD, RCMD, RDATA: 터미네이션 저항R ADD , R CMD , R DATA : Termination Resistor
3: 공통 모듈 30: 제1 버스3: common module 30: first bus
31: 제1 슬롯 32: 제2 슬롯31: first slot 32: second slot
33: 제3 슬롯 34: 터미네이션 회로 카드33: third slot 34: termination circuit card
35: 메인 컨트롤러 36: 칩셋35: main controller 36: chipset
40: DDR2 SDRAM 50: DDR3 SDRAM40: DDR2 SDRAM 50: DDR3 SDRAM
A0-A2: 어드레스 신호 C0-C2: 제어 신호A0-A2: address signal C0-C2: control signal
D0-D2: 데이터 신호D0-D2: data signal
R, RA0-RA2, RC0-RC2: 터미네이션 저항R, RA0-RA2, RC0-RC2: Termination Resistors
6: 공통 모듈 60: 제1 버스6: common module 60: first bus
61: 제1 슬롯 62: 제2 슬롯61: first slot 62: second slot
63: 제3 슬롯 R: 터미네이션 저항63: third slot R: termination resistor
SW: 복수 개의 스위치 64: 스위치 컨트롤러SW: Multiple Switches 64: Switch Controller
65: 메인 컨트롤러 66: 칩셋65: main controller 66: chipset
70: DDR2 SDRAM 80: DDR3 SDRAM70: DDR2 SDRAM 80: DDR3 SDRAM
A0-A2: 어드레스 신호 C0-C2: 제어 신호A0-A2: address signal C0-C2: control signal
D0-D2: 데이터 신호D0-D2: data signal
R, RA0-RA2, RC0-RC2: 터미네이션 저항R, RA0-RA2, RC0-RC2: Termination Resistors
SW, SWA0-SWA2, SWC0-SWC2: 스위치SW, SWA0-SWA2, SWC0-SWC2: Switches
9: 공통 모듈 90: 제1 버스9: common module 90: first bus
91: 제1 슬롯 92: 제2 슬롯91: first slot 92: second slot
93: 제3 슬롯 94: 메인 컨트롤러93: third slot 94: main controller
95: 칩셋 100: DDR2 SDRAM 95: Chipset 100: DDR2 SDRAM
110: DDR3 SDRAM A0-A2: 어드레스 신호 110: DDR3 SDRAM A0-A2: address signal
C0-C2: 제어 신호 D0-D2: 데이터 신호C0-C2: control signal D0-D2: data signal
R, RA0-RA2, RC0-RC2: 터미네이션 저항R, RA0-RA2, RC0-RC2: Termination Resistors
Claims (16)
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW096117224 | 2007-05-15 | ||
TW096117224A TWI355590B (en) | 2007-05-15 | 2007-05-15 | Common module for ddrii sdram and ddriii sdram |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080101626A KR20080101626A (en) | 2008-11-21 |
KR100891951B1 true KR100891951B1 (en) | 2009-04-08 |
Family
ID=40287857
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070093114A KR100891951B1 (en) | 2007-05-15 | 2007-09-13 | Common module for ddr? sdram and ddr? sdram |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100891951B1 (en) |
TW (1) | TWI355590B (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI426397B (en) * | 2009-06-29 | 2014-02-11 | Lee Ming Inst Technology | Can be used in a signal interval in the unequal spacing of the sample, the signal in this interval between a single and multiple numerical integration device. |
TWI489444B (en) * | 2012-07-17 | 2015-06-21 | Etron Technology Inc | Dynamic random access memory applied to an embedded display port |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6392946B1 (en) | 2001-05-15 | 2002-05-21 | Leadtek Research Inc. | SDR and QDR converter and interface card, motherboard and memory module interface using the same |
US6466472B1 (en) * | 2001-04-13 | 2002-10-15 | Giga-Byte Technology Co., Ltd. | Common module for DDR SDRAM and SDRAM |
US6507888B2 (en) | 2001-01-03 | 2003-01-14 | Leadtek Research Inc. | SDR and DDR conversion device and associated interface card, main board and memory module interface |
KR20050065269A (en) * | 2003-12-24 | 2005-06-29 | 삼성전자주식회사 | Synchronous dram for both ddr1 mode operation and ddr2 mode operation |
-
2007
- 2007-05-15 TW TW096117224A patent/TWI355590B/en not_active IP Right Cessation
- 2007-09-13 KR KR1020070093114A patent/KR100891951B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6507888B2 (en) | 2001-01-03 | 2003-01-14 | Leadtek Research Inc. | SDR and DDR conversion device and associated interface card, main board and memory module interface |
US6466472B1 (en) * | 2001-04-13 | 2002-10-15 | Giga-Byte Technology Co., Ltd. | Common module for DDR SDRAM and SDRAM |
US6392946B1 (en) | 2001-05-15 | 2002-05-21 | Leadtek Research Inc. | SDR and QDR converter and interface card, motherboard and memory module interface using the same |
KR20050065269A (en) * | 2003-12-24 | 2005-06-29 | 삼성전자주식회사 | Synchronous dram for both ddr1 mode operation and ddr2 mode operation |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI355590B (en) | 2012-01-01 |
KR20080101626A (en) | 2008-11-21 |
TW200844758A (en) | 2008-11-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20210271624A1 (en) | Apparatuses and methods for selective communication through a memory connector | |
US7721130B2 (en) | Apparatus and method for switching an apparatus to a power saving mode | |
US9390035B2 (en) | Method and apparatus for supporting storage modules in standard memory and/or hybrid memory bus architectures | |
US7342411B2 (en) | Dynamic on-die termination launch latency reduction | |
JP4761264B2 (en) | Integrated circuit, system, and method for multiplexing parallel bus interface and flash memory interface | |
US7793043B2 (en) | Buffered memory architecture | |
KR101026677B1 (en) | Time multiplexed dynamic on-die termination | |
US7194593B2 (en) | Memory hub with integrated non-volatile memory | |
KR100951091B1 (en) | Polarity driven dynamic on-die termination | |
US8713249B2 (en) | Configurable memory controller/memory module communication system | |
US7827431B2 (en) | Memory card having memory device and host apparatus accessing memory card | |
CN101281783B (en) | Method, system and integrated circuit for compiling on-die termination | |
US9703503B2 (en) | Reconfigurable memory system data strobes | |
CN111258667A (en) | Self-adaptive configuration method, device, equipment and storage medium of server | |
US20210294531A1 (en) | Memory Systems, Modules, and Methods for Improved Capacity | |
CN110659228B (en) | Memory system and method for accessing memory system | |
KR100891951B1 (en) | Common module for ddr? sdram and ddr? sdram | |
CN107507637B (en) | Low-power-consumption dual-in-line memory and enhanced driving method thereof | |
US7430625B2 (en) | Connection of a memory component to an electronic device via a connection bus utilizing multiple interface protocols | |
US7825681B2 (en) | Common modules for DDRII SDRAM and DDRIII SDRAM | |
EP2026352B1 (en) | Common modules for DDRII SDRAM and DDRIII SDRAM | |
US20020108018A1 (en) | Memory module control and status | |
US20090307417A1 (en) | Integrated buffer device | |
CN117826933A (en) | Computing device and clock configuration method | |
CN101315616A (en) | Sharing module group of DDRII SDRAM and DDRIII SDRAM |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
N231 | Notification of change of applicant | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130325 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140221 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |