KR100872861B1 - Method for testing bit error rates in prbs pattern - Google Patents

Method for testing bit error rates in prbs pattern Download PDF

Info

Publication number
KR100872861B1
KR100872861B1 KR1020070033265A KR20070033265A KR100872861B1 KR 100872861 B1 KR100872861 B1 KR 100872861B1 KR 1020070033265 A KR1020070033265 A KR 1020070033265A KR 20070033265 A KR20070033265 A KR 20070033265A KR 100872861 B1 KR100872861 B1 KR 100872861B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
prbs
bit
pattern
extracting
bit error
Prior art date
Application number
KR1020070033265A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20080090135A (en
Inventor
김선욱
김상열
Original Assignee
주식회사 루프
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 루프 filed Critical 주식회사 루프
Priority to KR1020070033265A priority Critical patent/KR100872861B1/en
Publication of KR20080090135A publication Critical patent/KR20080090135A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100872861B1 publication Critical patent/KR100872861B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L1/00Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
    • H04L1/20Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector
    • H04L1/203Details of error rate determination, e.g. BER, FER or WER
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L43/00Arrangements for monitoring or testing data switching networks
    • H04L43/50Testing arrangements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)

Abstract

PRBS 패턴에서 비트 에러율 테스트 방법이 개시되어 있다. 본 발명은, a) PRBS(Pseudo Random Binary Sequence) 패턴을 수신하여 첫 번째 비트를 저장하는 단계와; b) 상기 PRBS의 패턴 중 상기 PRBS 패턴을 발생시키는 다항식의 항 개수만큼의 비트를 추출하여 XOR 조합하는 단계와; c) 상기 XOR 조합한 결과 및 상기 첫 번째 비트를 비교하는 단계와; d) 상기 비교 결과 동일하지 않은 경우 에러가 발생하였다고 판단하는 단계를 포함한다.A bit error rate test method in a PRBS pattern is disclosed. The present invention comprises the steps of: a) receiving a pseudo random binary sequence (PRBS) pattern and storing a first bit; b) extracting as many bits as the number of terms of the polynomial that generates the PRBS pattern among the patterns of the PRBS and performing XOR combining; c) comparing the result of the XOR combination and the first bit; d) determining that an error has occurred if the comparison is not the same.

PRBS 패턴, 비트 에러율, 전송로 PRBS pattern, bit error rate, transmission line

Description

PRBS 패턴에서 비트 에러율 테스트 방법{METHOD FOR TESTING BIT ERROR RATES IN PRBS PATTERN}How to test bit error rate in PRS pattern {METHOD FOR TESTING BIT ERROR RATES IN PRBS PATTERN}

도 1은 종래의 PRBS 발생기의 일 예를 개략적으로 도시한 것이다.1 schematically illustrates an example of a conventional PRBS generator.

도 2는 PRBS 패턴을 생성하기 위한 다항식의 일 예이다.2 is an example of a polynomial for generating a PRBS pattern.

도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 비트 에러율 테스트 장치를 개략적으로 도시한 블록도이다.3 is a block diagram schematically illustrating an apparatus for testing a bit error rate according to an embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for main parts of the drawings>

100 : 비트 에러율 테스트 장치100: bit error rate test device

110 : 패턴 발생 모듈110: pattern generation module

130 : 테스트 모듈130: test module

150 : 에러 검출 모듈150: error detection module

본 발명은 디지털 전송 시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 전송로의 에러를 판단하기 위한 PRBS 패턴에서 비트 에러율 테스트 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a digital transmission system, and more particularly, to a bit error rate test method in a PRBS pattern for determining an error in a transmission path.

일반적으로 디지털 전송 시스템에서 데이터를 전송하기 이전에 전송 클럭이 동기되어 전송 데이터열을 랜덤화시키고, "0" 과 "1"의 분포가 편중되지 않도록 구현한다. 이런 랜덤화 과정을 스크램블링 처리라 한다. In general, before transmitting data in the digital transmission system, the transmission clock is synchronized to randomize the transmission data sequence, so that the distribution of "0" and "1" is not biased. This randomization process is called a scrambling process.

또한 디지털 전송 시스템에서 데이터를 원활하게 전송하기 위하여 광통신로 등의 전송로가 구비되고, 이런 전송로에 에러가 존재하는지 여부를 판단하는데 실제 데이터(Real Data)를 이용하여 에러를 측정하는 것이 원칙이나, 에러 측정에 있어 비효율적이기 때문에 상기 실제 데이터와 가장 유사한 가상 랜덤 바이너리 시퀀스(Pseudo Random Binary Sequence; 이하 PRBS 라 함)발생기에서 발생되는 PRBS 패턴을 이용하여 전송로를 테스트한다.In addition, in order to smoothly transmit data in a digital transmission system, a transmission path such as an optical communication path is provided, and in order to determine whether an error exists in such a transmission path, it is a principle to measure an error using real data. As a result, the transmission path is tested by using a PRBS pattern generated by a Pseudo Random Binary Sequence (PRBS) generator that is most similar to the real data because it is inefficient in error measurement.

상기 PRBS 발생기의 일 예가 도 1에 도시되어 있으며, 상기 PRBS 발생기로부터 발생되는 PRBS 패턴의 형식은 2N-1 (여기서, N=7, 15, 23, 31 ...; N:PRBS 패턴의 차수)이다. An example of the PRBS generator is shown in FIG. 1, and the format of the PRBS pattern generated from the PRBS generator is 2N-1 (where N = 7, 15, 23, 31 ...; N: PRBS pattern order) to be.

또한, PRBS 패턴 다항식은 PRBS 패턴을 생성하기 위하여 규정해 놓은 것으로서, X^k + X^m + X^n 으로 표현되며 그 일 예가 도 2에 도표화 되어 있다.In addition, the PRBS pattern polynomial, which is defined to generate a PRBS pattern, is represented by X ^ k + X ^ m + X ^ n, an example of which is shown in FIG. 2.

이러한 PRBS 패턴을 이용하여 전송로를 테스트하기 위하여 종래에는 전송로의 양끝단에 감지기를 설치하거나 관리자를 배치하고, 상기 PRBS 패턴을 일 끝단에서 타 끝단으로 전송하면 타 끝단에서 상기 PRBS 패턴을 수신한 후 분석하여 상기 전송로에 이상이 있는지 여부를 파악해 왔다.In order to test a transmission path using the PRBS pattern, a detector or a manager are installed at both ends of the transmission path, and when the PRBS pattern is transmitted from one end to the other end, the PRBS pattern is received at the other end. After analyzing, it has been found whether there is an error in the transmission path.

그러나, 이러한 종래의 방법은 PRBS 패턴의 시작점을 확인가능한 경우에만 전송로의 에러를 검출할 수 있기 때문에 전송로의 에러를 검출하기 위해 시간 및 비용이 발생할 뿐만 아니라 번거롭다는 문제점이 있어 왔다.However, this conventional method has been problematic in that it is not only time-consuming and expensive to detect errors in the transmission path because the errors in the transmission path can be detected only when the starting point of the PRBS pattern can be confirmed.

본 발명은 상기한 사정을 감안하여 창출된 것으로서, 본 발명의 목적은 간편하게 전송로의 에러 여부를 검사하기 위한 PRBS 패턴에서 비트 에러율 테스트 방법을 제공하는데 있다. The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a method for testing a bit error rate in a PRBS pattern for easily checking for errors in a transmission path.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 관점에 따른 PRBS 패턴에서 비트 에러율 테스트 방법은, Bit error rate test method in a PRBS pattern according to an aspect of the present invention for achieving the above object,

a) PRBS(Pseudo Random Binary Sequence) 패턴을 수신하여 첫 번째 비트를 저장하는 단계; a) receiving a pseudo random binary sequence (PRBS) pattern and storing a first bit;

b) 상기 PRBS의 패턴 중 상기 PRBS 패턴을 발생시키는 다항식의 항 개수만큼의 비트를 추출하여 XOR 조합하는 단계;b) extracting as many XOR bits as the number of terms of the polynomial generating the PRBS pattern among the patterns of the PRBS;

c) 상기 XOR 조합한 결과 및 상기 첫 번째 비트를 비교하는 단계; 및c) comparing the result of the XOR combination and the first bit; And

d) 상기 비교 결과 동일하지 않은 경우 에러가 발생하였다고 판단하는 단계를 포함한다.d) determining that an error has occurred if the comparison is not the same.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described a preferred embodiment of the present invention.

도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 비트 에러율 테스트 장치를 개략적으로 도시한 블록도이다.3 is a block diagram schematically illustrating an apparatus for testing a bit error rate according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 비트 에러율 테스트 장치(100)는 패턴 발생 모듈(110), 테 스트 모듈(130), 및 에러 검출 모듈(150)을 포함하여 구성된다.Referring to FIG. 3, the bit error rate test apparatus 100 includes a pattern generation module 110, a test module 130, and an error detection module 150.

패턴 발생 모듈(110)은 PRBS(Pseudo Random Binary Sequence) 패턴을 발생하며, 상기 PRBS 패턴은 통신 전송로를 시험하기 위해 사용되는 패턴으로서 소정 개수의 귀환 탭을 갖는 쉬프트 레지스터에 의해 발생된다. 만약 쉬프트 레지스터가 N개라면 PRBS 패턴의 최대 길이는 2-1이 된다. The pattern generation module 110 generates a pseudo random binary sequence (PRBS) pattern, which is generated by a shift register having a predetermined number of feedback taps as a pattern used to test a communication transmission path. If there are N shift registers, the maximum length of the PRBS pattern is 2-1.

상기 PRBS 패턴이 쉬프트 레지스터로부터 직접 출력된다면 가장 긴 연속적인 '0'의 길이는 N-1개이고, 출력된 값이 반전된 신호라면 가장 긴 연속적인 '0'의 길이는 N개가 된다. 또한, 전체 PRBS 패턴 중 '1'의 개수와 '0'의 개수가 동일한다.If the PRBS pattern is directly output from the shift register, the length of the longest continuous '0' is N-1, and if the output value is an inverted signal, the length of the longest continuous '0' is N. In addition, the number of '1' and the number of '0' are the same in all PRBS patterns.

PRBS 패턴 중에서 PRBS 7 패턴을 발생하고자 하는 경우 PRBS 7 패턴의 원시 다항식은 X^7+X^6+1로 결정된다. 따라서, PRBS 7 패턴은 7개의 쉬프트 레지스터를 이용하여 발생하며 이때 귀환 탭은 6번째와 7번째 쉬프트 레지스터가 된다.When the PRBS 7 pattern is to be generated among the PRBS patterns, the raw polynomial of the PRBS 7 pattern is determined as X ^ 7 + X ^ 6 + 1. Thus, the PRBS 7 pattern is generated using seven shift registers, with the return taps being the sixth and seventh shift registers.

상기 패턴 발생 모듈(110)에서 발생된 상기 PRBS 패턴에서 에러 비트율을 테스트하기 위하여, 상기 PRBS 패턴이 테스트 모듈(130)로 입력되고 상기 테스트 모듈(130)은 상기 PRBS의 패턴을 수신하여 첫 번째 비트를 저장한다. 상기 PRBS의 패턴 중 상기 PRBS 패턴의 다항식 항의 개수만큼의 비트를 추출하여 XOR 조합한 후, 상기 XOR 조합한 결과 및 상기 첫 번째 비트를 비교한다.In order to test the error bit rate in the PRBS pattern generated in the pattern generation module 110, the PRBS pattern is input to the test module 130, the test module 130 receives the pattern of the PRBS to receive the first bit Save it. After extracting XOR combinations of the number of polynomial terms of the PRBS pattern among the patterns of the PRBS, the result of the XOR combination and the first bit are compared.

상기 테스트 모듈(130)은 테스트 결과를 에러 검출 모듈(150)로 입력하고 상기 에러 검출 모듈(150)은 상기 XOR 조합한 결과 및 상기 첫 번째 비트를 비교한 결과 동일하지 않은 경우, 에러가 발생하였다고 판단하게 된다. When the test module 130 inputs a test result to the error detection module 150 and the error detection module 150 compares the first bit with the result of the XOR combination, an error occurs. You will be judged.

일 응용 예에서, 상기 비트를 추출할 때 두 번째 비트를 포함하여 추출하는 것이 바람직하며, 상기 비트를 추출할 때 상기 첫 번째 비트는 제외하고 나머지 비트들 중에서 추출한다.In one application, it is preferable to include the second bit when extracting the bit, and to extract the bit from among the remaining bits except for the first bit.

예컨대, 상기 PRBS 패턴이 PRBS 7 패턴인 경우, 2번째 비트, 8번째 비트, 및 9번째 비트를 추출하여 상기 XOR 조합을 수행한다.For example, when the PRBS pattern is a PRBS 7 pattern, the XOR combination is performed by extracting the second, eighth, and ninth bits.

보다 일반화시켜 설명하면, 상기 PRBS 패턴이 X^k +X^m +X^n 과 같은 다항식으로 표현될 때, (n+1)번째 비트, (m+1)번째 비트, 및 (k+1) 번째를 추출하게 된다.More generally described, when the PRBS pattern is expressed by a polynomial such as X ^ k + X ^ m + X ^ n, the (n + 1) th bit, the (m + 1) th bit, and (k + 1) ) Will be extracted.

이상에서 상세히 설명한 바와 같이, 본 발명의 PRBS 패턴에서 비트 에러율 테스트 방법에 의하면, PRBS 패턴의 시작점을 확인하지 않더라도 전송로의 에러를 검출할 수 있어 사용자의 편의를 도모하였다는 효과가 있다.As described in detail above, according to the bit error rate test method in the PRBS pattern of the present invention, an error in the transmission path can be detected without checking the starting point of the PRBS pattern, thereby providing convenience for the user.

지금까지 본 발명을 바람직한 실시 예를 참조하여 상세히 설명하였지만, 본 발명이 상기한 실시 예에 한정되는 것은 아니며, 이하의 특허청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형 또는 수정이 가능한 범위까지 본 발명의 기술적 사상이 미친다 할 것이다.Although the present invention has been described in detail with reference to preferred embodiments, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and the technical field to which the present invention belongs without departing from the gist of the present invention as claimed in the following claims. Anyone skilled in the art will have the technical idea of the present invention to the extent that various modifications or changes are possible.

Claims (5)

a) PRBS(Pseudo Random Binary Sequence) 패턴을 수신하여 첫 번째 비트를 저장하는 단계; a) receiving a pseudo random binary sequence (PRBS) pattern and storing a first bit; b) 상기 PRBS의 패턴 중 상기 PRBS 패턴을 발생시키는 다항식의 항 개수만큼의 비트를 추출하여 XOR 조합하는 단계;b) extracting as many XOR bits as the number of terms of the polynomial generating the PRBS pattern among the patterns of the PRBS; c) 상기 XOR 조합한 결과 및 상기 첫 번째 비트를 비교하는 단계; 및c) comparing the result of the XOR combination and the first bit; And d) 상기 비교 결과 동일하지 않은 경우 에러가 발생하였다고 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 PRBS 패턴에서 비트 에러율 테스트 방법.and d) determining that an error has occurred if the comparison result is not the same. 제 1 항에 있어서, 상기 단계 b)에서, The method of claim 1, wherein in step b), 상기 비트를 추출할 때 두 번째 비트를 포함하여 추출하는 것을 특징으로 하는 PRBS 패턴에서 비트 에러율 테스트 방법.And extracting a second bit when extracting the bit. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 단계 b)에서,The process of claim 1 or 2, wherein in step b), 상기 비트를 추출할 때 상기 첫 번째 비트는 제외하고 나머지 비트들 중에서 추출하는 것을 특징으로 하는 PRBS 패턴에서 비트 에러율 테스트 방법.And extracting the bits from the remaining bits except for the first bit when extracting the bits. 제 1 항에 있어서, 상기 단계 b)에서,The method of claim 1, wherein in step b), 상기 PRBS 패턴이 PRBS 7 패턴인 경우, 상기 XOR 조합을 위하여 2번째 비트, 8번째 비트, 및 9번째 비트를 추출하는 것을 특징으로 하는 PRBS 패턴에서 비트 에러율 테스트 방법.And if the PRBS pattern is a PRBS 7 pattern, extracting a second bit, an eighth bit, and a ninth bit for the XOR combination. 제 1 항에 있어서, 상기 PRBS 패턴이 수학식 1의 패턴을 가질 때, (n+1)번째 비트, (m+1)번째 비트, 및 (k+1) 번째를 추출하는 것을 특징으로 하는 PRBS 패턴에서 비트 에러율 테스트 방법.The PRBS of claim 1, wherein when the PRBS pattern has the pattern of Equation 1, the (n + 1) th bit, the (m + 1) th bit, and the (k + 1) th are extracted. How to test the bit error rate in a pattern.
Figure 112007026117097-pat00001
Figure 112007026117097-pat00001
(여기서, k, m, n은 정수이며 그 절대 값은 n>m>k 이다)(Where k, m, n are integers and their absolute values are n> m> k)
KR1020070033265A 2007-04-04 2007-04-04 Method for testing bit error rates in prbs pattern KR100872861B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070033265A KR100872861B1 (en) 2007-04-04 2007-04-04 Method for testing bit error rates in prbs pattern

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070033265A KR100872861B1 (en) 2007-04-04 2007-04-04 Method for testing bit error rates in prbs pattern

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20080090135A KR20080090135A (en) 2008-10-08
KR100872861B1 true KR100872861B1 (en) 2008-12-09

Family

ID=40151518

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020070033265A KR100872861B1 (en) 2007-04-04 2007-04-04 Method for testing bit error rates in prbs pattern

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100872861B1 (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9679664B2 (en) * 2012-02-11 2017-06-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Method and system for providing a smart memory architecture
CN104750569A (en) * 2013-12-30 2015-07-01 深圳市中兴微电子技术有限公司 Method and device for data error correction
CN109787723B (en) * 2019-01-04 2021-08-24 武汉邮电科学研究院有限公司 Detection method and detection system for bit error rate and high-order modulation communication system

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010084733A (en) * 2000-02-29 2001-09-06 서평원 Apparatus for unit testing in transmission system
US6816992B2 (en) 2001-02-28 2004-11-09 Tektronix, Inc. Test generator having a poisson distribution error signal
KR20050019953A (en) * 2003-08-18 2005-03-04 삼성전자주식회사 Method for generating similar 8 bit/10bit code and apparatus using the same
JP2006186521A (en) 2004-12-27 2006-07-13 Leader Electronics Corp Bit error rate (ber) measuring method and apparatus for tuner

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010084733A (en) * 2000-02-29 2001-09-06 서평원 Apparatus for unit testing in transmission system
US6816992B2 (en) 2001-02-28 2004-11-09 Tektronix, Inc. Test generator having a poisson distribution error signal
KR20050019953A (en) * 2003-08-18 2005-03-04 삼성전자주식회사 Method for generating similar 8 bit/10bit code and apparatus using the same
JP2006186521A (en) 2004-12-27 2006-07-13 Leader Electronics Corp Bit error rate (ber) measuring method and apparatus for tuner

Also Published As

Publication number Publication date
KR20080090135A (en) 2008-10-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8514955B2 (en) Communication system, data transmitter, and data receiver capable of detecting incorrect receipt of data
US8386857B2 (en) Method and apparatus for measuring symbol and bit error rates independent of disparity errors
US8627156B1 (en) Method and system of testing bit error rate using signal with mixture of scrambled and unscrambled bits
CN105103483A (en) Pulse amplitude modulation (PAM) bit error test and measurement
KR100872861B1 (en) Method for testing bit error rates in prbs pattern
US20080077343A1 (en) Implementation of coded optical time-domain reflectometry
CN108242981B (en) Error code detection device
CN101268376B (en) An apparatus and method for multi-phase digital sampling
CN109739715B (en) Fault detection method and device
MXPA06014709A (en) System and method for detecting ingress in a signal transmission system.
JP3993992B2 (en) Bit value inspection method for bit error position measurement
US7085561B1 (en) Embedded channel analysis for RF data modem
US5072448A (en) Quasi-random digital sequence detector
Aladwany et al. Architectural Design and Implementation of Bit Error Rate Tester on FPGA
US7424075B2 (en) Pseudorandom data pattern verifier with automatic synchronization
EP3629497B1 (en) Test apparatus and test method for testing a wireless connection using frequency hopping
US20240133953A1 (en) Determination device, test system, and generation device
US20220108021A1 (en) Method and apparatus for analyzing side channel-related security vulnerabilities in digital devices
Stępień et al. Statistical analysis of the LFSR generators in the NIST STS test suite
CN114567394A (en) Error checker, receiver and method for checking data error
RU2279184C2 (en) Device for detecting errors
JPH04192830A (en) Testing device
CN116827492A (en) Error code analysis method, error code analysis architecture and error code analyzer based on sampling
Sastry et al. HDL design architecture for compatible multichannel multi-frequency rate serial bit error rate tester (BERT) ASIC IP core for testing of high speed wireless system products/applications
Mishra Bit Error Rate Testing using Sequences

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20121130

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20131001

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20141128

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20161021

Year of fee payment: 9

LAPS Lapse due to unpaid annual fee