KR100839750B1 - Organic light emitting display - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 126
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 claims abstract description 48
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 32
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims abstract description 20
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims abstract description 19
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 334
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 80
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 77
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 54
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 54
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 33
- 239000008393 encapsulating agent Substances 0.000 claims description 32
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 claims description 25
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 23
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 claims description 19
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 claims description 17
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 239000011651 chromium Substances 0.000 claims description 9
- 238000005499 laser crystallization Methods 0.000 claims description 7
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 claims description 5
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 claims description 5
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- TYHJXGDMRRJCRY-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) tin(4+) Chemical compound [O-2].[Zn+2].[Sn+4].[In+3] TYHJXGDMRRJCRY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910000846 In alloy Inorganic materials 0.000 claims description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 3
- 239000007769 metal material Substances 0.000 abstract description 4
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 66
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 66
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 25
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 21
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 21
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 12
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 11
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 9
- 230000008569 process Effects 0.000 description 9
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 8
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 7
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 7
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 6
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 5
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 5
- 229910020091 MgCa Inorganic materials 0.000 description 4
- 101100003996 Mus musculus Atrn gene Proteins 0.000 description 4
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 4
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 238000005247 gettering Methods 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 3
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 3
- SMWDFEZZVXVKRB-UHFFFAOYSA-N Quinoline Chemical compound N1=CC=CC2=CC=CC=C21 SMWDFEZZVXVKRB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N benzocyclobutene Chemical compound C1=CC=C2CCC2=C1 UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 2
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- NGQSLSMAEVWNPU-YTEMWHBBSA-N 1,2-bis[(e)-2-phenylethenyl]benzene Chemical class C=1C=CC=CC=1/C=C/C1=CC=CC=C1\C=C\C1=CC=CC=C1 NGQSLSMAEVWNPU-YTEMWHBBSA-N 0.000 description 1
- FZTBAQBBLSYHJZ-UHFFFAOYSA-N 2-phenyl-1,3-oxazol-4-ol Chemical compound OC1=COC(C=2C=CC=CC=2)=N1 FZTBAQBBLSYHJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VQGHOUODWALEFC-UHFFFAOYSA-N 2-phenylpyridine Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=N1 VQGHOUODWALEFC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OYUKRQOCPFZNHR-UHFFFAOYSA-N 4-methylquinolin-8-ol Chemical compound C1=CC=C2C(C)=CC=NC2=C1O OYUKRQOCPFZNHR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IVKIIXBXZOMRJS-UHFFFAOYSA-N 5-phenyl-1h-pyrazol-4-ol Chemical compound OC1=CNN=C1C1=CC=CC=C1 IVKIIXBXZOMRJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001182 Mo alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- CUJRVFIICFDLGR-UHFFFAOYSA-N acetylacetonate Chemical compound CC(=O)[CH-]C(C)=O CUJRVFIICFDLGR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFVXQDWNSAGPHN-UHFFFAOYSA-K bis[(2-methylquinolin-8-yl)oxy]-(4-phenylphenoxy)alumane Chemical compound [Al+3].C1=CC=C([O-])C2=NC(C)=CC=C21.C1=CC=C([O-])C2=NC(C)=CC=C21.C1=CC([O-])=CC=C1C1=CC=CC=C1 UFVXQDWNSAGPHN-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 230000000740 bleeding effect Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001893 coumarin derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229920006332 epoxy adhesive Polymers 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000005224 laser annealing Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 238000010295 mobile communication Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021334 nickel silicide Inorganic materials 0.000 description 1
- RUFLMLWJRZAWLJ-UHFFFAOYSA-N nickel silicide Chemical compound [Ni]=[Si]=[Ni] RUFLMLWJRZAWLJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 238000003303 reheating Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000007790 solid phase Substances 0.000 description 1
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 1
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H10K59/10—OLED displays
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- H10K50/842—Containers
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- H10K50/84—Passivation; Containers; Encapsulations
- H10K50/842—Containers
- H10K50/8426—Peripheral sealing arrangements, e.g. adhesives, sealants
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Abstract
Description
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치를 도시한 평면도이다.1 is a plan view illustrating an organic light emitting display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 2는 도 1의 I-I'선을 따라 절취된 유기 전계 발광 표시 장치를 도시한 단면도이다.FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating an organic light emitting display device taken along the line II ′ of FIG. 1.
도 3은 도 2의 유기 전계 발광 표시 장치의 내부 구성을 상세하게 도시한 확대 단면도이다.3 is an enlarged cross-sectional view illustrating in detail an internal configuration of the organic light emitting display device of FIG. 2.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치의 도전막이 불투명 금속일 경우 도전막의 패턴을 도시한 평면도이다.4 is a plan view illustrating a pattern of a conductive film when the conductive film of the organic light emitting display device is an opaque metal according to an embodiment of the present invention.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치의 도전막이 불투명 금속일 경우 도전막의 또다른 패턴을 도시한 평면도이다.FIG. 5 is a plan view illustrating another pattern of a conductive film when the conductive film of the organic light emitting display device is an opaque metal according to an embodiment of the present invention.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치의 도전막이 불투명 금속일 경우 도전막의 또다른 패턴을 도시한 평면도이다.6 is a plan view illustrating another pattern of a conductive film when the conductive film of the organic light emitting display device is an opaque metal according to an embodiment of the present invention.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치를 도시한 개략적인 단면도이다.7 is a schematic cross-sectional view illustrating an organic light emitting display device according to another exemplary embodiment of the present invention.
도 8은 본 발명의 또다른 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치의 내부 구성을 상세하게 도시한 단면도이다.8 is a cross-sectional view illustrating in detail an internal configuration of an organic light emitting display device according to another exemplary embodiment of the present invention.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 간단한 설명><Brief description of symbols for the main parts of the drawings>
100, 700: 기판 110, 710: 유기발광화소어레이 100, 700:
210, 810: 봉지기판 220, 420, 520, 820: 도전막210, 810:
230, 830: 봉지재 240: 도전 접착제230, 830: Encapsulant 240: Conductive Adhesive
250: 연결배선 250b, 850b: 접지연결배선250:
260: 패드부 260b, 260b', 850b: 접지 패드부260:
270: 커넥터 GL: 커넥터의 접지라인270 connector GL: ground line of the connector
300, 300', 900: 유기 전계 발광 표시 장치300, 300 ', 900: organic electroluminescent display
본 발명은 유기 전계 발광 표시 장치 관한 것으로서, 보다 상세하게는 외부로부터 패널로 유입되는 정전기로부터 패널의 내부소자를 보호할 수 있는 유기 전계 발광 표시 장치에 관한 것이다. The present invention relates to an organic light emitting display device, and more particularly, to an organic light emitting display device that can protect an internal element of a panel from static electricity flowing into the panel from the outside.
유기 전계 발광 표시 장치(Organic Light Emitting Display)는 캐소드(cathode)에서 공급되는 전자(eletron)와 애노드(anode)에서 공급되는 정공(hole)의 재결합에 의하여 빛을 발생하는 유기발광다이오드(Organic Light Emitting Diode:OLED)를 이용한 것으로 평판 표시 장치(Flat Panel Display)의 일종이다. 이러한 유기 전계 발광 표시 장치는 두께가 얇고, 시야각이 넓으며, 응답속도가 빠른 장점이 있다. 이러한 장점을 갖는 유기 전계 발광 표시 장치는 이동통신 단말기, 네비게이션, PDA(Personal Display Assistants), 캠코더 등 대부분의 전자 응용제품에 사용될 수 있는 차세대 디스플레이로 각광받고 있다.An organic light emitting display (OLED) emits light by recombination of electrons supplied from a cathode and holes supplied from an anode. It is a type of flat panel display that uses Diode (OLED). Such an organic light emitting display device has advantages such as a thin thickness, a wide viewing angle, and a fast response speed. Organic electroluminescent display devices having such advantages are spotlighted as next generation displays that can be used in most electronic applications such as mobile communication terminals, navigation, personal display assistants (PDAs), camcorders, and the like.
이러한 유기 전계 발광 표시 장치는 구동 방법에 따라 수동 구동(passive matrix) 방식과 능동 구동(active matrix)방식으로 나뉜다. 수동 구동 방식은 기판상에 양극과 음극을 직교하도록 형성한 후 라인을 선택하여 구동하는 방식이다. 반면, 능동 구동 방식은 화소마다 형성되는 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor:TFT)를 이용하여 데이터 신호에 대응되는 구동 전류를 유기발광다이오드(OLED)로 공급하여 유기발광다이오드(OLED)에서 빛이 발광되어 화상을 구현하는 방식으로, 수동 구동 방식에 비하여 안정적인 휘도를 나타낼 수 있으며 전력소모가 적어, 고해상도 및 대형 디스플레이의 적용에 유리한 장점이 있다. The organic light emitting diode display is classified into a passive matrix type and an active matrix type according to a driving method. The passive driving method is a method of selecting and driving a line after forming an anode and a cathode on a substrate to be orthogonal to each other. On the other hand, in the active driving method, light is emitted from the organic light emitting diode OLED by supplying a driving current corresponding to the data signal to the organic light emitting diode using a thin film transistor (TFT) formed for each pixel. As a method of realizing an image, it is possible to exhibit stable luminance and less power consumption than a passive driving method, which is advantageous in the application of a high resolution and a large display.
일반적으로, 유기 전계 발광 표시 장치의 유기발광다이오드는 애노드, 유기막, 캐소드 형태의 적층형 구조로 되어 있다.In general, an organic light emitting diode of an organic light emitting display device has a stacked structure of an anode, an organic film, and a cathode.
그런데, 종래의 유기 전계 발광 표시 장치는 전체 두께가 약 1~2mm 정도로 얇기 때문에 외부의 강한 전기적인 충격이 가해지면 내부 소자, 예를 들어 유기발광다이오드(OLED)가 쉽게 파괴될 수 있다.However, since the conventional organic light emitting display device has a total thickness of about 1 to 2 mm, the internal element, for example, the organic light emitting diode OLED, may be easily destroyed when an external strong electric shock is applied.
특히, 수천에서 수만 볼트의 전압을 갖는 정전기 방전(Electrostataic Discharge; 이하 ESD라 함)이 유기 전계 발광 표시 장치의 내부로 유입되면, 유기 발광 다이오드 및 기타 소자가 손상되어 유기발광다이오드의 발광에 의해 표시되는 영상이 일시적으로 깜박거리는 소프트 페일(soft fail) 현상이 발생 되거나, 회로나 화소에 영구 손상이 일어나 영상이 전혀 표시되지 않는 하드 페일(hard fail) 현상이 발생된다. 따라서, 유기 유기 전계 발광 표시 장치의 신뢰성이 저하되는 문제점이 있다.In particular, when an electrostatic discharge (ESD), which has a voltage of several thousand to tens of thousands of volts, is introduced into an organic light emitting display device, the organic light emitting diode and other elements are damaged and displayed by light emission of the organic light emitting diode. A soft fail phenomenon may occur in which an image is temporarily flickered, or a hard fail phenomenon may occur in which the image is not displayed at all due to permanent damage to a circuit or a pixel. Therefore, there is a problem that the reliability of the organic organic light emitting display device is lowered.
따라서, 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 외부로부터 패널로 유입되는 정전기로부터 패널의 내부소자를 보호할 수 있는 유기 전계 발광 표시 장치를 제공하는 것이다. Accordingly, an object of the present invention is to provide an organic light emitting display device which can protect an internal element of a panel from static electricity flowing into the panel from the outside.
상기 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 유기 전계 발광 표시 장치는 유기발광다이오드를 포함하는 유기발광화소어레이와 형성된 기판; 전기적 신호라인이 형성되어 상기 유기발광화소어레이가 전기적으로 연결되는 커넥터; 상기 유기발광화소어레이의 외주연인 상기 기판의 둘레에 형성된 봉지재; 상기 유기발광화소어레이를 밀봉하도록, 상기 봉지재에 접착되어 상기 기판과 결합되는 봉지 기판; 및 상기 기판과 대향하는 상기 봉지 기판의 일면에 형성되며, 상기 커넥터의 전기적 신호라인에 전기적으로 연결되는 도전막을 구비하는 것을 특징으로 한다. In order to achieve the above technical problem, the organic light emitting display device according to the present invention comprises a substrate formed with an organic light emitting diode array comprising an organic light emitting diode; A connector in which an electrical signal line is formed to electrically connect the organic light emitting pixel array; An encapsulant formed around the substrate which is an outer circumference of the organic light emitting pixel array; An encapsulation substrate bonded to the encapsulant and bonded to the substrate to seal the organic light emitting array; And a conductive film formed on one surface of the encapsulation substrate facing the substrate and electrically connected to an electrical signal line of the connector.
상기 도전막에 전기적으로 연결되는 상기 커넥터의 전기적 신호라인은 접지 라인일 수 있다.The electrical signal line of the connector electrically connected to the conductive layer may be a ground line.
또한, 본 발명에 따른 유기 전계 발광 표시 장치는 상기 기판 중 상기 봉지재와 상기 유기발광화소어레이 사이에 형성되어 상기 도전막이 접착되는 도전 접착제; 및 상기 봉지재를 기준으로 외부에 위치하는 상기 커넥터와 내부에 위치하는 상기 접착제와 전기적으로 연결되는 접지연결배선을 포함할 수 있다.In addition, the organic light emitting display device according to the present invention comprises: a conductive adhesive formed between the encapsulant and the organic light emitting pixel array in the substrate to bond the conductive film; And a ground connection wiring electrically connected to the connector located outside and the adhesive located inside, based on the encapsulant.
상기 도전 접착제는 이방도전성필름(Anisotropic Conductive Film), 은 페이스트(Silver paste), 인듐(Indium) 및 인듐 합금 중 어느 하나로 선택되어 이루어질 수 있다.The conductive adhesive may be selected from any one of an anisotropic conductive film, silver paste, indium, and indium alloy.
또한, 본 발명에 따른 유기 전계 발광 표시 장치는 상기 봉지재를 기준으로 외부에 위치하는 상기 커넥터와 상기 도전막의 외측면과 전기적으로 연결되는 접지연결배선을 포함할 수 있다.In addition, the organic light emitting display device according to the present invention may include a ground connection wiring electrically connected to the connector and the outer surface of the conductive layer positioned outside the encapsulant.
상기 커넥터는 연성회로기판(Flexible Printed Circuit) 또는 COF(Chip On Flexible)일 수 있다.The connector may be a flexible printed circuit or a chip on flexible (COF).
상기 도전막은 투명 금속으로 형성되며, 상기 봉지 기판의 일면 전체에 코팅될 수 있다.The conductive layer may be formed of a transparent metal and may be coated on an entire surface of the encapsulation substrate.
상기 투명 금속은 ITO(Indium-Tin-Oxide), IZO(Indium-Zinc-Oxide) 및 ITZO(Indium-Tin-Zinc-Oxide) 중 어느 하나로 선택되어 이루어질 수 있다. The transparent metal may be selected from any one of indium-tin-oxide (ITO), indium-inc-oxide (IZO), and indium-tin-zinc-oxide (ITZO).
상기 유기발광화소어레이는 상기 기판에 형성되는 버퍼층, 상기 버퍼층에 형성되는 반도체층, 상기 반도체층에 형성되는 게이트 절연막, 상기 게이트 절연막에 형성되는 게이트 전극, 상기 게이트 전극에 형성되는 층간 절연막, 상기 층간 절연 막에 형성되는 소스/드레인 전극, 상기 소스/드레인 전극에 형성되는 절연막, 상기 절연막에 형성되는 상기 유기발광다이오드, 상기 절연막에서 상기 유기발광다이오드의 외주연에 형성되는 화소 정의막을 포함하여 이루어질 수 있다.The organic light emitting diode array includes a buffer layer formed on the substrate, a semiconductor layer formed on the buffer layer, a gate insulating film formed on the semiconductor layer, a gate electrode formed on the gate insulating film, an interlayer insulating film formed on the gate electrode, and the interlayer. A source / drain electrode formed in the insulating film, an insulating film formed in the source / drain electrode, the organic light emitting diode formed in the insulating film, and a pixel defining layer formed at an outer circumference of the organic light emitting diode in the insulating film. have.
상기 도전막은 불투명한 금속으로 형성되며, 상기 화소 정의막에 대응하는 패턴으로 형성될 수 있다.The conductive layer may be formed of an opaque metal, and may be formed in a pattern corresponding to the pixel defining layer.
상기 도전막의 패턴은 가로형 줄무늬일 수 있다.The pattern of the conductive layer may be a horizontal stripe.
상기 도전막 패턴은 세로형 줄무늬일 수 있다.The conductive layer pattern may be a vertical stripe.
상기 도전막 패턴은 격자형 줄무늬일 수 있다.The conductive layer pattern may be a lattice pattern.
상기 불투명 금속은, 크롬(Cr), 알루미늄(Al) 및 알루미늄 합금 중 어느 하나로 선택되어 이루어질 수 있다.The opaque metal may be selected from any one of chromium (Cr), aluminum (Al), and an aluminum alloy.
상기 유기발광다이오드의 발광층은 형광재로 형성될 수 있다.The light emitting layer of the organic light emitting diode may be formed of a fluorescent material.
상기 유기발광다이오드의 발광층은 인광재로 형성될 수 있다.The light emitting layer of the organic light emitting diode may be formed of a phosphor.
또한, 본 발명에 따른 유기 전계 발광 표시 장치는 상기 유기발광다이오드를 구동하기 위한 다결정 박막 트랜지스터를 포함할 수 있다.In addition, the organic light emitting diode display according to the present invention may include a polycrystalline thin film transistor for driving the organic light emitting diode.
상기 다결정 트랜지스터는 레이저결정화 방법으로 형성될 수 있다.The polycrystalline transistor may be formed by a laser crystallization method.
상기 다결정 트랜지스터는 금속촉매결정화 방법으로 형성될 수 있다.The polycrystalline transistor may be formed by a metal catalyst crystallization method.
상기 다결정 트랜지스터는 고압결정화 방법으로 형성될 수 있다.The polycrystalline transistor may be formed by a high pressure crystallization method.
상기 유기발광다이오드는 전면 발광형일 수 있다.The organic light emitting diode may be a top emission type.
상기 봉지기판은 투명한 재질로 형성될 수 있다.The encapsulation substrate may be formed of a transparent material.
상기 기판은 봉지 기판의 면적보다 큰 면적으로 형성될 수 있다.The substrate may be formed with an area larger than the area of the encapsulation substrate.
상기 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명의 또다른 유기 전계 발광 표시 장치는 유기발광다이오드를 포함하는 유기발광화소어레이가 형성된 기판; 전기적 신호라인이 형성되어, 상기 유기발광화소어레이와 전기적으로 연결되는 커넥터; 상기 유기발광화소어레이의 외주연인 상기 기판의 둘레에 형성된 봉지재; 상기 유기발광화소어레이를 밀봉하도록, 상기 봉지재에 접착되어 상기 기판과 결합되는 봉지 기판; 및 상기 기판 중 상기 봉지재의 바깥 영역에 형성되며, 상기 커넥터의 전기적 신호라인과 전기적으로 연결되는 도전막을 구비하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above technical problem, another organic electroluminescent display device of the present invention comprises a substrate formed with an organic light emitting diode array comprising an organic light emitting diode; An electrical signal line is formed and electrically connected to the organic light emitting array; An encapsulant formed around the substrate which is an outer circumference of the organic light emitting pixel array; An encapsulation substrate bonded to the encapsulant and bonded to the substrate to seal the organic light emitting array; And a conductive film formed in an outer region of the encapsulant among the substrates and electrically connected to an electrical signal line of the connector.
또한, 유기 전계 발광 표시 장치는 상기 봉지재를 기준으로 외부에 위치하는 상기 커넥터와 상기 도전막과 전기적으로 연결되는 접지 연결 배선을 포함할 수 있다.In addition, the organic light emitting display device may include a ground connection line electrically connected to the connector and the conductive layer that are located outside based on the encapsulant.
상기 유기발광다이오드는 배면 발광형일 수 있다. The organic light emitting diode may be a bottom emission type.
상기 기판은 투명한 재질로 형성될 수 있다.The substrate may be formed of a transparent material.
상기 기술적 과제 외에 본 발명의 다른 기술적 과제 및 이점들은 첨부 도면을 참조한 본 발명의 바람직한 실시예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.Other technical problems and advantages of the present invention in addition to the above technical problem will become apparent from the description of the preferred embodiment of the present invention with reference to the accompanying drawings.
이하, 본 발명의 바람직한 실시 예를 도 1 내지 도 8을 참조하여 상세히 설명하기로 한다. Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 8.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치를 도시한 평면도이고, 도 2는 도 1의 I-I'선을 따라 절취된 유기 전계 발광 표시 장치를 도시 한 단면도이고, 도 3은 도 2의 유기 전계 발광 표시 장치의 내부 구성을 상세하게 도시한 확대 단면도이다. 여기서, 유기 전계 발광 표시 장치의 내부 구성은 본 발명의 이해를 돕기 위해 과장된 크기를 가지고 도시되었다.1 is a plan view illustrating an organic light emitting display device according to an exemplary embodiment of the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating an organic light emitting display device taken along line II ′ of FIG. 1, and FIG. 3. FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view illustrating in detail an internal configuration of the organic light emitting display device of FIG. 2. Herein, the internal configuration of the organic light emitting display device is illustrated with an exaggerated size to help the understanding of the present invention.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치(300)는 유기발광화소어레이(110)가 형성된 기판(100); 전기적 신호라인(ESL)이 형성되어 유기발광화소어레이(110)와 전기적으로 연결되는 커넥터(270); 유기발광화소어레이(110)의 외주연인 기판(100)의 둘레에 형성된 봉지재(230); 유기발광화소어레이(110)를 밀봉하도록, 봉지재(230)에 접착되어 기판(100)과 결합되는 봉지 기판(210); 및 기판(100)과 대향하는 봉지 기판(210)의 일면에 형성되며, 커넥터(270)의 전기적 신호라인(ESL)에 전기적으로 연결되는 도전막(220)을 포함하여 이루어진다.1 and 2, an organic light emitting
도 2는 전면 발광방식 유기 전계 발광 표시 장치로서, 하나의 단위화소를 한정하여 도시한 것이다. 이때, 유기 전계 발광 표시 장치는 상기 단위화소가 여러개 정렬되어 있는 다수의 단위화소를 구비할 수 있다. FIG. 2 is a top-emitting organic light emitting display device and shows only one unit pixel. In this case, the organic light emitting display device may include a plurality of unit pixels in which a plurality of unit pixels are arranged.
도 2를 참조하면, 기판(100)은 상면과 하면이 대략 평평하며, 상면과 하면 사이의 두께는 대략 0.05~1mm 정도록 형성될 수 있다. 기판(100)의 두께가 대략 0.05mm이하인 경우에는 공정 중 세정, 식각 및 열처리 공정 등에 의해 손상되기 쉽고 또한 외력에 약한 단점이 있다. 또한, 기판(100)의 두께가 대략 1mm이상인 경우에는 최근의 슬림화 추세에 있는 각종 표시 장치에 적용하기 곤란하다. 여기서, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치(300)는 전면 발광방식이므로, 기판(100)은 통상의 글래스, 플라스틱, 폴리머 및 그 등가물 중 선택된 어느 하나로 형성될 수 있으나, 이러한 재질로 본 발명을 한정하는 것은 아니다. Referring to FIG. 2, the
이러한 기판(100)에는 유기발광화소어레이(110)와, 유기발광화소어레이(110)와 외부 회로 모듈, 예를 들어 PCB(Printed Circuit Board)를 연결하는 연결배선(250), 및 패드부(260)가 위치할 수 있다. 이에 따라, 이러한 구성요소가 위치하는 기판(100)의 면적은 봉지 기판(210)의 면적보다 크게 형성된다.The
기판(100)에 형성되는 유기발광화소어레이(110)는 유기발광다이오드, 박막 트랜지스터, 및 커패시터로 구성되는 단위화소들로 이루어진다.The organic light emitting
구체적으로, 유기발광화소어레이(110)는, 도 3에 도시된 바와 같이, 기판(100)에 형성된 버퍼층(120)과, 버퍼층(120)상에 형성된 반도체층(130)과, 반도체층(130)상에 형성된 게이트 절연막(140)과, 게이트 절연막(140)상에 형성된 게이트 전극(150)과, 게이트 전극(150)상에 형성된 층간 절연막(160)과, 층간 절연막(160)상에 형성된 소스/드레인 전극(170)과, 소스/드레인 전극(170)상에 형성된 절연막(180)과, 절연막(180)상에 형성된 유기발광다이오드(190)와, 유기발광다이오드(190)의 외주연인 절연막(180)에 형성된 화소 정의막(200)으로 이루어질 수 있다.Specifically, as shown in FIG. 3, the organic light emitting
버퍼층(120)은 기판(100)의 상면에 형성될 수 있다. 이러한 버퍼층(120)은 하기할 반도체층(130)이나 유기발광다이오드(190)쪽으로 습기(H2O), 수소(H2) 또는 산소(O2) 등이 상기 기판(100)을 관통하여 침투하지 않도록 하는 역할을 한다. 이를 위해, 상기 버퍼층(120)은 반도체 공정중 쉽게 형성할 수 있는 산화막(SiO2), 질화막(Si3N4) 및 그 등가물중 선택된 적어도 어느 하나로 형성할 수 있으나, 이러한 재질로 본 발명을 한정하는 것은 아니다. 물론, 이러한 버퍼층(120)은 필요에 따라 생략될 수도 있다.The
상기 반도체층(130)은 상기 버퍼층(120)의 상면에 형성될 수 있다. 이러한 반도체층(130)은 상호 대향되는 양측에 형성된 소스/드레인 영역(132)과, 상기 소스/드레인 영역(132) 사이에 형성된 채널 영역(134)으로 이루어질 수 있다. 일례로 상기 반도체층(130)은 박막 트랜지스터일 수 있다. 이러한 박막 트랜지스터는 아모퍼스 실리콘(Amorphous Si) 박막 트랜지스터, 폴리 실리콘(Poly Si) 박막 트랜지스터, 유기 박막 트랜지스터, 마이크로 실리콘(Micor Si) 박막 트랜지스터 또는 그 등가물 중 선택된 적어도 어느 하나로 형성될 수 있으나 본 발명에서 박막 트랜지스터의 종류를 한정하는 것은 아니다. 그리고, 박막 트랜지스터는 PMOS, NMOS 및그 등가 형태 중 선택된 적어도 어느 하나일 수 있으나, 본 발명에서 상기 박막 트랜지스터의 도전형태를 한정하는 것은 아니다.The
이러한 박막 트랜지스터의 결정화 방법으로는 엑시머 레이저(Excimer Laser)를 사용한 레이저 결정화 방법(ELA: Excimer Laser Annealing)과 금속촉매(Promoting Material)를 사용한 금속촉매 결정화 방법(MIC:Metal Induced Crystallization)과 고상 결정화 방법(SPC:Solid Phase Crystallization) 등이 있다. 이외에도 고온 고습한 분위기에서 결정화를 진행하는 고압결정화 방 법(HPA:High Pressure Anneealing), 기존 레이저 결정화 방법에 마스크를 추가로 사용하는 방법(SLS: Sequential Lateral Solidification)들이 있다.Crystallization methods of such thin film transistors include Excimer Laser Annealing (ELA) and Metal Catalyst Crystallization (MIC: Metal Induced Crystallization) and Metal Phase Crystallization using Promoting Materials. (SPC: Solid Phase Crystallization). In addition, there are high pressure annealing (HPA) for crystallization in a high temperature, high humidity atmosphere, and a method of using a mask in addition to a conventional laser crystallization method (SLS: Sequential Lateral Solidification).
또한, 비정질 실리콘(a-si)과 다결정 실리콘(Poly Silicon) 사이의 결정립 크기를 가지는 마이크로 실리콘(micro Silicon)이 있다.In addition, there is a micro silicon having a grain size between amorphous silicon (a-si) and polycrystalline silicon (Poly Silicon).
상기 마이크로 실리콘은 결정립의 크기가 1nm에서 100nm까지 인 것을 통상적으로 말한다. 상기 마이크로 실리콘의 전자이동도는 1에서 50 이하이며 정공이동도는 0.01에서 0.2 이하인 것이 특징이다. 상기 마이크로 실리콘은 상기 다결정 실리콘에 비해 결정립의 크기가 작은 것이 특징이며 폴리 실리콘에 비해 결정립 사이의 돌출부 영역이 작게 형성되어 결정립간에 전자가 이동할 경우에 지장을 주지 않게 되어 균일한 특성을 보여줄 수 있다. 상기 마이크로 실리콘의 결정립 방법에는 크게 열결정화 방법(Thermal Crystallization Method)과 레이저 결정화 방법(Laser Crystallization Method)이 있다. 상기 열결정화 방법은 비정질 실리콘을 증착함과 동시에 결정화 구조를 얻는 재가열(Reheating) 방법이 있다.The microsilicon typically refers to grain size ranging from 1 nm to 100 nm. The electron mobility of the microsilicon is 1 to 50 or less and the hole mobility is 0.01 to 0.2 or less. The microsilicon is characterized in that the size of the crystal grains are smaller than that of the polycrystalline silicon, and the protrusion region between the grains is formed smaller than the polysilicon, so that the microsilicon does not interfere when electrons move between the grains, thereby showing uniform characteristics. The microsilicon grains can be classified into a thermal crystallization method and a laser crystallization method. The thermal crystallization method includes a reheating method of depositing amorphous silicon and simultaneously obtaining a crystallized structure.
상기 레이저 결정화 방법은 박막 트랜지스터를 다결정실리콘(Poly Silicon)으로 결정화하는 방법 중 가장 많이 이용되고 있다. 기존의 다결정 액정표시장치의 결정화 방법을 그대로 이용할 수 있을 뿐만 아니라 공정방법이 간단하며 공정방법에 대한 기술 개발이 완료된 상태이다.The laser crystallization method is the most widely used method of crystallizing a thin film transistor with polysilicon (Poly Silicon). Not only can the crystallization method of the existing polycrystal liquid crystal display device be used as it is, but the process method is simple and the technology development of the process method is completed.
상기 금속촉매 결정화 방법은 상기 레이저 결정화 방법을 사용하지않고 저온에서 결정화할 수 있는 방법 중 하나이다. 초기에는 비정질 실리콘(a-Si) 표면에 금속촉매금속인 Ni, Co, Pd, Ti 등을 증착 혹은 스핀코팅하여 상기 금속촉매 금속 이 상기 비정질 실리콘 표면에 직접 침투하여 상기 비정질 실리콘의 상을 변화시키면서 결정화하는 방법으로 저온에서 결정화할 수 있는 장점이 있다. The metal catalyst crystallization method is one of methods that can be crystallized at low temperature without using the laser crystallization method. Initially, the metal catalyst metal, Ni, Co, Pd, Ti, or the like, is deposited or spin-coated on an amorphous silicon (a-Si) surface to directly penetrate the amorphous silicon surface to change the phase of the amorphous silicon. There is an advantage that can be crystallized at a low temperature by the method of crystallization.
상기 금속촉매 결정화 방법의 다른 하나는 상기 비정질 실리콘 표면에 금속층을 개재시킬 때 마스크를 이용해 상기 박막 트랜지스터의 특정 영역에 니켈실리사이드와 같은 오염물이 개재되는 것을 최대한 억제할 수 있는 장점이 있다. 상기 결정화 방법을 금속촉매유도측면 결정화 방법(MILC: Metal Induced Lateral Crystallization) 이라고 한다. 상기 금속촉매유도측면 결정화 방법에 사용되는 마스크로는 섀도우 마스크(Shadow Mask)가 사용될 수 있는데 상기 섀도우 마스크는 선형 마스크 혹은 점형 마스크일 수 있다.Another method of the metal catalyst crystallization method has an advantage of suppressing the inclusion of contaminants such as nickel silicide in a specific region of the thin film transistor using a mask when interposing a metal layer on the surface of the amorphous silicon. The crystallization method is called a metal catalyst induced side crystallization method (MILC: Metal Induced Lateral Crystallization). A shadow mask may be used as a mask used in the metal catalyst-induced side crystallization method, and the shadow mask may be a linear mask or a pointed mask.
상기 금속촉매 결정화 방법의 또다른 하나는 상기 비정질 실리콘 표면에 금속촉매층을 증착 혹은 스핀코팅할 때 캡핍층(Capping Layer)을 먼저 개재시켜 상기 비정질 실리콘으로 유입되는 금속 촉매량을 컨트롤하는 금속촉매유도캡핑층 결정화 방법(MICC:Metal Induced Crystallization with Capping Layer)이 있다. 상기 캡핑층으로는 실리콘질화막(Silicon Nitride)을 사용할 수 있다. 상기 실리콘 질화막의 두께에 따라 상기 금속 촉매층에서 상기 비정질 실리콘으로 유입되는 금속 촉매량이 달라진다. 이때, 상기 실리콘 질화막으로 유입되는 금속촉매는 상기 실리콘 질화막 전체에 형성될 수도 있고, 섀도우 마스크 등을 사용하여 선택적으로 형성될 수 있다. 상기 금속 촉매층이 상기 비정질 실리콘을 다결정 실리콘으로 결정화가 된 이후에 선택적으로 상기 캡핑층을 제거할 수 있다. 상기 캡핑층 제거방법에는 습식 식각방법(Wet Etching) 혹은 건식 식각방법(Dry Etching)을 사용할 수 있다. 추가적으로, 상기 다결정 실리콘이 형성된 이후에 게이트 절연막을 형성하고 상기 게이트 절연막 상에 게이트 전극을 형성한다. 상기 게이트 전극상에 층간절연막(Interlayer)을 형성할 수 있다. 상기 층간절연막상에 비아홀(Via Hole)을 형성한 후에 불순물을 상기 비아홀을 통해서 결정화된 다결정실리콘 상으로 투입하여 내부에 형성된 금속촉매 불순물을 추가적으로 제거할 수 있다. 상기 금속촉매 불순물을 추가적으로 제거하는 방법을 게터링 공정(Gettering Process)라고 한다. 상기 게터링 공정에는 상기 불순물을 주입하는 공정외에 저온에서 박막 트랜지스터를 가열하는 가열공정(Heating Process)이 있다. 상기 게터링 공정을 통해서 양질의 박막트랜지스터를 구현할 수 있다. Another method of the metal catalyst crystallization method is a metal catalyst induction capping layer that controls the amount of metal catalyst introduced into the amorphous silicon through a capping layer first when depositing or spin coating the metal catalyst layer on the surface of the amorphous silicon. There is a crystallization method (MICC: Metal Induced Crystallization with Capping Layer). A silicon nitride layer may be used as the capping layer. The amount of the metal catalyst flowing into the amorphous silicon from the metal catalyst layer varies according to the thickness of the silicon nitride film. In this case, the metal catalyst flowing into the silicon nitride layer may be formed on the entire silicon nitride layer, or may be selectively formed using a shadow mask. The capping layer may be selectively removed after the metal catalyst layer has crystallized the amorphous silicon into polycrystalline silicon. The capping layer may be removed by using a wet etching method or a dry etching method. In addition, after the polycrystalline silicon is formed, a gate insulating film is formed and a gate electrode is formed on the gate insulating film. An interlayer may be formed on the gate electrode. After forming a via hole on the interlayer insulating layer, impurities may be introduced into the crystallized polysilicon through the via hole to further remove metal catalyst impurities formed therein. A method of additionally removing the metal catalyst impurities is called a gettering process. The gettering process includes a heating process of heating the thin film transistor at a low temperature in addition to the process of injecting the impurities. Through the gettering process, a high quality thin film transistor can be realized.
그리고, 상기 게이트 절연막(140)은 상기 반도체층(130)의 상면에 형성될 수 있다. 물론, 이러한 게이트 절연막(140)은 상기 반도체층(130)의 외주연인 버퍼층(120) 위에도 형성될 수 있다. 또한, 상기 게이트 절연막(140)은 반도체 공정중 쉽게 얻을 수 있는 산화막, 질화막 또는 그 등가물중 선택된 적어도 어느 하나로 형성될 수 있으며, 여기서 그 재질을 한정하는 것은 아니다.The
상기 게이트 전극(150)은 상기 게이트 절연막(140)의 상면에 형성될 수 있다. 좀더 구체적으로, 상기 게이트 전극(150)은 상기 반도체층(130)중 채널 영역(134)과 대응되는 게이트 절연막(140) 위에 형성될 수 있다. 주지된 바와 같이 이러한 게이트 전극(150)은 상기 게이트 절연막(140) 하부의 채널 영역(134)에 전계를 인가함으로써, 상기 채널 영역(134)에 정공 또는 전자의 채널이 형성되도록 한다. 또한, 상기 게이트 전극(150)은 통상의 금속(MoW, Ti, Cu, AlNd, Al, Cr, Mo 합금, Cu 합금, Al 합금 등), 도핑된 폴리 실리콘 및 그 등가물중 선택된 적어도 어느 하나로 형성될 수 있으나, 여기서 그 재질을 한정하는 것은 아니다.The
상기 층간 절연막(160)은 상기 게이트 전극(150)의 상면에 형성될 수 있다. 물론, 이러한 층간 절연막(160)은 상기 게이트 전극(150)의 외주연인 게이트 절연막(140) 위에도 형성될 수 있다. 또한, 상기 층간 절연막(160)은 폴리머 계열, 플라스틱 계열, 유리 계열 또는 그 등가 계열중 선택된 어느 하나로 형성될 수 있으나 여기서 상기 층간 절연막(160)의 재질을 한정하는 것은 아니다.The interlayer insulating
상기 소스/드레인 전극(170)은 상기 층간 절연막(160)의 상면에 형성될 수 있다. 물론, 상기 소스/드레인 전극(170)과 반도체층(130) 사이에는 층간 절연막(160)을 관통하는 도전성 컨택(176)(electrically conductive contact)이 형성될 수 있다. 즉, 상기 도전성 컨택(176)에 의해 상기 반도체층(130)과 소스/드레인 전극(170)이 전기적으로 연결된다. 더불어, 상기 소스/드레인 전극(170)은 상기 게이트 전극(150)과 같은 금속 재질로 형성될 수 있으며, 여기서 그 재질을 한정하는 것은 아니다. 한편, 상기와 같은 반도체층(130)(즉, 박막 트랜지스터)은 통상 동일 평면 구조(coplanar structure)로 정의된다. 그러나, 본 발명에 개시된 반도체층(130)은 동일 평면 구조로만 한정되는 것은 아니고, 지금까지 알려진 모든 박막 트랜지스터의 구조 예를 들면, 반전 동일 평면 구조(inverted coplanar structure), 지그재그형 구조(staggered structure), 반전 지그재그형 구조(inverted staggered structure) 및 그 등가 구조중 선택된 적어도 어느 하나가 가능하며, 본 발명에서 상기 반도체층(130)의 구조를 한정하는 것은 아니다.The source /
상기 절연막(180)은 상기 소스/드레인 전극(170)의 상면에 형성될 수 있다. 이러한 절연막(180)은 다시 보호막(182)과, 상기 보호막(182)의 상면에 형성된 평탄화막(184)을 포함하여 이루어질 수 있다. 상기 보호막(182)은 상기 소스/드레인 전극(170) 및 층간 절연막(160)을 덮으며, 상기 소스/드레인 전극(170) 및 게이트 전극(150) 등을 보호하는 역할을 한다. 이러한 보호막(182)은 통상의 무기막 및 그 등가물중 선택된 어느 하나로 형성될 수 있으나, 본 발명에서 상기 보호막(182)의 재질을 한정하는 것은 아니다. 더불어, 상기 평탄화막(184)은 상기 보호막(182)을 덮는다. 이러한 평탄화막(184)은 소자 전체의 표면을 평탄하게 해주는 것으로서 BCB(Benzo Cyclo Butene), 아크릴 및 그 등가물중 선택된 적어도 어느 하나로 형성될 수 있으나, 여기서 그 재질을 한정하는 것은 아니다.The insulating
상기 유기발광다이오드(190)는 상기 절연막(180)의 상면에 형성될 수 있다. 이러한 유기발광다이오드(190)는 다시 애노드(192), 상기 애노드(192)의 상면에 형성된 유기 박막(194) 및 상기 유기 박막(194)의 상면에 형성된 캐소드(196)를 포함할 수 있다. 상기 애노드(192)는 ITO(Indium Tin Oxide), ITO(Indium Tin Oxide)/Ag, ITO(Indium Tin Oxide)/Ag/ITO, ITO(Indium Tin Oxide)/Ag/IZO(Indium Zinc Oxide) 또는 그 등가물중 선택된 어느 하나로 형성될 수 있으나, 본 발명에서 상기 애노드(192)의 재질을 한정하는 것은 아니다. 상기 ITO는 일함수가 균일하여 유기 박막(194)에 정공 주입 장벽이 작은 투명 도전막이고, 상기 Ag는 전면 발광 방식에서 특히 유기 박막(194)으로터의 빛을 상면으로 반사시키는 막이다. 한편, 상기 유기 박막(194)은 전자와 정공이 만나 여기자(exciton)를 형성하여 발광하는 발광층(EMitting Layer, EML), 전자의 이동 속도를 적절히 조절하는 전자 수송층(Electron Transport Layer, ETL), 정공의 이동 속도를 적절히 조절하는 정공 수송층(Hole Transport Layer, HTL)으로 이루어질 수 있다. 또한, 상기 전자 수송층에는 전자의 주입 효율을 향상시키는 전자 주입층(Electron Injecting Layer, EIL)이 형성되고, 상기 정공 수송층에는 정공의 주입 효율을 향상시키는 정공 주입층(Hole Injecting Layer, HIL)이 더 형성될 수 있다. 더불어, 상기 캐소드(196)는 Al, MgAg 합금, MgCa 합금 및 그 등가물중 선택된 적어도 어느 하나일 수 있으나 본 발명에서 상기 캐소드(196)의 재질을 한정하는 것은 아니다. 다만, 본 발명에서 전면 발광방식을 택할 경우 상기 Al은 두께를 매우 얇게 해야 하는데, 그럴 경우 저항이 높아져 전자 주입 장벽이 커지는 단점이 있다. 상기 MgAg 합금은 상기 Al에 비해 전자 주입 장벽이 작고, 상기 MgCa 합금은 상기 MgAg 합금에 비해 전자 주입 장벽이 더 낮다. 그러나, 이러한 MgAg 합금 및 MgCa 합금은 주변 환경에 민감하고 산화되어 절연층을 형성할 수 있으므로 외부와의 차단을 완벽하게 해주어야 한다. 더불어, 상기 유기발광다이오드(190)중 애노드(192)와 상기 소스/드레인 전극(170)은 상기 절연막(180)(보호막(182), 평탄화막(184))을 관통하여 형성된 도전성 비아(198)(electrically conductive via)에 의해 상호 전기적으로 연결될 수 있다. 한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치(300)에서 기판(100)의 상부 방향으로 발광하는 전면 발광 방식을 중심으로 설명했으나, 이에 한정되지 않고 기판(100)의 하부 방향으로 발광하는 배면 발광 방식 또는 기판(100)의 상부와 하부 방향으로 동시에 발광하는 양면 발광에도 모두 적용 가능하다.The organic
본 발명에서, 유기발광다이오드(190)의 발광층은 형광재로 형성될 수 있지만, 발광층이 인광재로 형성되는 유기발광다이오드의 경우에는 정공 억제층(Hole Blocking Layer, HBL)이 발광층(EML)과 전자수송층(ETL) 사이에 선택적으로 형성될 수 있으며, 전자 억제층(Electron Blocking Layer, EBL)이 발광층(EML)과 정공 수송층(HTL) 사이에 선택적으로 형성될 수 있다. 여기서, 발광층의 재료로 쓰이는 형광재는 호스트(host)와 게스트(guest)로 이루어진다. 형광재의 호스트는 알루미키노린 착체(Alq3), 베릴륨 키노린 착체(BeBq2), Almq(4-methyl-8-hydroxyquinoline), BAlq, 히드록시페닐옥사졸(ZnPBO), 히드록시페닐디아졸(ZnPBT), 아조메틴 금속착체, 및 디스티릴벤젠 유도체 중 선택된 어느 하나일 수 있다. 형광재의 게스트는 쿠마린 유도체, DCM, 키나크리돈, 및 루블렌 중 선택된 어느 하나일 수 있다. 또한, 발광층의 재료로 쓰이는 인광재는 Byp2Ir(acac), Ir(ppy)3, 및 FIrpic 중 선택된 어느 하나일 수 있다.In the present invention, the light emitting layer of the organic
또한, 상기 유기 박막(194)은 두종류의 층을 혼합하여 그 두께를 더욱 감소시키는 슬림 유기발광다이오드 (Slim OLED)로 형성할 수도 있다. 예를 들면, 정공 주입층과 정공 수송층을 동시에 형성하는 정공 주입 수송층(Hole Injection Transport Layer, HITL) 구조 및 전자 주입층과 전자 수송층을 동시에 형성하는 전자 주입 수송층(Electron Injection Transport Layer, EITL) 구조를 선택적으로 형성할 수 있다. 상기와 같은 슬림 유기발광 다이오드는 발광 효율을 증가시키는데 그 사용의 목적이 있다.In addition, the organic
또한, 상기 애노드와 발광층 사이에는 선택층으로서 버퍼층(Buffer Layer)을 형성할 수 있다. 상기 버퍼층은 전자를 버퍼링하는 전자 버퍼층(Electron Buffer Layer)과 정공을 버퍼링하는 정공 버퍼층(Hole Buffer Leyer)으로 구분할 수 있다. 상기 전자 버퍼층은 캐소드와 전자 주입층(EIL) 사이에 선택적으로 형성할 수 있으며, 상기 전자 주입층(EIL)의 기능을 대신하여 형성할 수 있다. 이때 상기 유기 박막(194)의 적층 구조는 발광층(EML)/전자 수송층(ETL)/전자 버퍼층(Electron Buffer Layer)/캐소드가 될 수 있다. 또한, 상기 정공 버퍼층은 애노드와 정공 주입층(HIL) 사이에 선택적으로 형성할 수 있으며, 정공 주입층(HIL)의 기능을 대신하여 형성할 수 있다. 이때 상기 유기 박막(194)의 적층 구조는 애노드/정공 버퍼층(Hole Buffer Leyer)/정공 수송층(HTL)/발광층(EML)이 될 수 있다.In addition, a buffer layer may be formed between the anode and the light emitting layer as a selection layer. The buffer layer may be divided into an electron buffer layer buffering electrons and a hole buffer layer buffering holes. The electron buffer layer may be selectively formed between the cathode and the electron injection layer EIL, and may be formed in place of the function of the electron injection layer EIL. In this case, the stacked structure of the organic
상기 구조에 대하여 가능한 적층 구조를 기재하면 다음과 같다.The possible laminated structure with respect to the above structure is described as follows.
a) 정상 적층 구조(Normal Stack Structure)a) Normal Stack Structure
1) 애노드/정공 주입층/정공 수송층/발광층/전자 수송층/전자 주입층/캐소드 1) anode / hole injection layer / hole transport layer / light emitting layer / electron transport layer / electron injection layer / cathode
2) 애노드/정공 버퍼층/정공 주입층/정공 수송층/발광층/전자 수송층/전자 주입층/캐소드 2) anode / hole buffer layer / hole injection layer / hole transport layer / light emitting layer / electron transport layer / electron injection layer / cathode
3) 애노드/정공 주입층/정공 수송층/발광층/전자 수송층/전자 주입층/전자 버퍼층/캐소드 3) anode / hole injection layer / hole transport layer / light emitting layer / electron transport layer / electron injection layer / electron buffer layer / cathode
4) 애노드/정공 버퍼층/정공 주입층/정공 수송층/발광층/전자 수송층/전자 주입층/전자 버퍼층/캐소드 4) anode / hole buffer layer / hole injection layer / hole transport layer / light emitting layer / electron transport layer / electron injection layer / electron buffer layer / cathode
5) 애노드/정공 주입층/정공 버퍼층/정공 수송층/발광층/전자 수송층/전자 주입층/캐소드 5) Anode / hole injection layer / hole buffer layer / hole transport layer / light emitting layer / electron transport layer / electron injection layer / cathode
6) 애노드/정공 주입층/정공 수송층/발광층/전자 수송층/전자 버퍼층/전자 주입층/캐소드 6) anode / hole injection layer / hole transport layer / light emitting layer / electron transport layer / electron buffer layer / electron injection layer / cathode
b) 정상 슬림 구조(Normal Slim Structure)b) Normal Slim Structure
1) 애노드/정공 주입 수송층/발광층/전자 수송층/전자 주입층/캐소드 1) anode / hole injection transport layer / light emitting layer / electron transport layer / electron injection layer / cathode
2) 애노드/정공 버퍼층/정공 주입 수송층/발광층/전자 수송층/전자 주입층/캐소드 2) anode / hole buffer layer / hole injection transport layer / light emitting layer / electron transport layer / electron injection layer / cathode
3) 애노드/정공 주입층/정공 수송층/발광층/전자 주입 수송층/전자 버퍼층/캐소드 3) anode / hole injection layer / hole transport layer / light emitting layer / electron injection transport layer / electron buffer layer / cathode
4) 애노드/정공 버퍼층/정공 수송층/발광층/전자 주입 수송층/전자 버퍼층/캐소드 4) Anode / hole buffer layer / hole transport layer / light emitting layer / electron injection transport layer / electron buffer layer / cathode
5) 애노드/정공 주입 수송층/정공 버퍼층/발광층/전자 수송층/전자 주입층/캐소드 5) anode / hole injection transport layer / hole buffer layer / light emitting layer / electron transport layer / electron injection layer / cathode
6) 애노드/정공 주입층/정공 수송층/발광층/전자 버퍼층/전자 주입수송층/캐소드 6) anode / hole injection layer / hole transport layer / light emitting layer / electron buffer layer / electron injection transport layer / cathode
c) 역상 적층구조(Inverted Stack Structure)c) Inverted Stack Structure
1) 캐소드/전자 주입층/전자 수송층/발광층/정공 수송층/정공 주입층/애노드 1) cathode / electron injection layer / electron transport layer / light emitting layer / hole transport layer / hole injection layer / anode
2) 캐소드/전자 주입층/전자 수송층/발광층/정공 수송층/정공 주입층/정공 버퍼층/애노드 2) cathode / electron injection layer / electron transport layer / light emitting layer / hole transport layer / hole injection layer / hole buffer layer / anode
3) 캐소드/전자 버퍼층/전자 주입층/전자 수송층/발광층/정공 수송층/정공 주입층/애노드 3) cathode / electron buffer layer / electron injection layer / electron transport layer / light emitting layer / hole transport layer / hole injection layer / anode
4) 캐소드/전자 버퍼층/전자 주입층/전자 수송층/발광층/정공 수송층/정공 버퍼층/애노드 4) cathode / electron buffer layer / electron injection layer / electron transport layer / light emitting layer / hole transport layer / hole buffer layer / anode
5) 캐소드/전자 주입층/전자 수송층/발광층/정공 수송층/정공 버퍼층/정공 주입층/애노드 5) cathode / electron injection layer / electron transport layer / light emitting layer / hole transport layer / hole buffer layer / hole injection layer / anode
6) 캐소드/전자 주입층/전자 버퍼층/전자 수송층/발광층/정공 수송층/정공 주입층/애노드 6) cathode / electron injection layer / electron buffer layer / electron transport layer / light emitting layer / hole transport layer / hole injection layer / anode
d) 역상 슬림 구조 (Inverted Slim Structure)d) Inverted Slim Structure
1) 캐소드/전자 주입층/전자 수송층/발광층/정공 주입 수송층/애노드 1) cathode / electron injection layer / electron transport layer / light emitting layer / hole injection transport layer / anode
2) 캐소드/전자 주입층/전자 수송층/발광층/정공 주입 수송층/정공 버퍼층/애노드 2) cathode / electron injection layer / electron transport layer / light emitting layer / hole injection transport layer / hole buffer layer / anode
3) 캐소드/전자 버퍼층/전자 주입 수송층/발광층/정공 수송층/정공 주입층/애노드 3) cathode / electron buffer layer / electron injection transport layer / light emitting layer / hole transport layer / hole injection layer / anode
4) 캐소드/전자 버퍼층/전자 주입 수송층/발광층/정공 수송층/정공 버퍼층/애노드 4) cathode / electron buffer layer / electron injection transport layer / light emitting layer / hole transport layer / hole buffer layer / anode
5) 캐소드/전자 주입층/전자 수송층/발광층/정공 버퍼층/정공 주입 수송층/애노드 5) cathode / electron injection layer / electron transport layer / light emitting layer / hole buffer layer / hole injection transport layer / anode
6) 캐소드/전자 주입 수송층/전자 버퍼층/발광층/정공 수송층/정공 주입층/ 애노드 6) cathode / electron injection transport layer / electron buffer layer / light emitting layer / hole transport layer / hole injection layer / anode
상기 화소 정의막(200)은 상기 유기발광다이오드(190)의 외주연으로서 상기 절연막(180)의 상면에 형성될 수 있다. 이러한 화소 정의막(200)은 적색 유기발광다이오드, 녹색 유기발광다이오드, 청색 유기발광다이오드 사이의 경계를 명확히 하여 화소 사이의 발광 경계 영역이 명확해지도록 한다. 또한, 이러한 화소 정의막(200)은 폴리이미드(polyimide) 및 그 등가물중 선택된 적어도 어느 하나로 형성될 수 있으나, 여기서 상기 화소 정의막(200)의 재질을 한정하는 것은 아니다.The
상기와 같은 구성을 가지고 형성된 유기발광화소어레이(110)는 연결배선(250)과 연결되며, 연결배선(250)은 패드부(260)를 통해 커넥터(270)에 전기적으로 연결된다. 이에 따라, 유기발광화소어레이(110)는 외부 회로 모듈, 예를 들어 PCB(Printed Circuit Board)에 전기적으로 연결되어, 외부 회로 모듈로부터 전기적인 신호를 공급받는다. The organic light emitting
자세히 설명하면, 유기발광화소어레이(110)는 스캔연결배선(250a), 접지연결배선(250b) 및 데이터연결배선(250c)을 포함한 연결배선(250) 중 스캔연결배선(250a) 및 데이터연결배선(250c) 각각이 스캔패드부(260a), 접지패드부(260b) 및 데이터패드부(260c)를 포함하는 패드부(260c) 중 스캔패드부(260a) 및 데이터패드부(260c) 각각을 통해 스캔라인(SL), 데이터라인(DL) 및 접지라인(GL)이 형성된 커넥터(270) 중 스캔라인(SL) 및 데이터라인(DL) 각각과 연결됨으로서, 커넥터(270)와 전기적으로 연결된 외부 회로 모듈로부터 신호를 공급받는다. 여기서, 커넥터(270)는 FPC(Flexible Printed Circuit) 또는 COF(Chip On Flexible)일 수 있다.In detail, the organic light emitting
이렇게, 커넥터(270)를 통해 외부 회로 모듈과 전기적으로 연결되는 유기발광화소어레이(110)는 봉지재(230)를 이용해 봉지기판(210)이 기판(100)에 접착되어 결합됨으로써 밀봉된다.As such, the organic light emitting
봉지재(230)는 유기발광화소어레이(110)의 외주연인 기판(100)의 둘레에 형성된다. 이러한 봉지재(230)는 봉지기판(210)이 기판(100)에 접착될 수 있도록 접착성이 있는 에폭시 접착제, 자외선 경화 접착제, 프릿트(frit) 및 그 등가물 중 선택된 적어도 어느 하나일 수 있으나, 여기서 그 재질을 한정하는 것은 아니다. 봉지재(230)로서 프릿트를 이용할 경우에는 일정 온도로 상기 프릿트를 가열할 필요가 있으므로, 레이저 빔을 이용하여 봉지작업을 수행할 수도 있다. 즉, 기판(100)과 봉지 기판(210) 사이에 프릿트를 위치시킨 후, 일측에서 상기 프릿트에 레이저 빔을 조사하게 되면, 상기 프릿트가 용융되면서 상기 기판(100)과 봉지 기판(210)이 강하게 접착된다. The
봉지 기판(210)은 유기발광화소어레이(110)를 밀봉하도록, 상기 봉지재(230)에 접착되어 기판(100)과 결합한다. 이러한 봉지 기판(210)은 통상의 투명 글래스, 투명 플라스틱, 투명 폴리머 및 그 등가물 중 선택된 어느 하나로 형성될 수 있으나, 여기서 그 재질을 한정하는 것은 아니다. 여기서, 봉지 기판(210)을 통해 유기발광다이오드(190)로부터 발생한 광(光)이 방출된다.The
도전막(220)은 기판(100)과 대향하는 봉지 기판(210)의 일면에 형성된다. 이러한 도전막(220)은, 유기 전계 발광 표시 장치(300)의 외부에서 발생되어 봉지기판(210)을 통해 유입되는 정전기(ElectricStatic Discharge)를 커넥터(270)의 접 지라인(GL)을 통해 접지시키는 역할을 한다. The
이를 위해, 기판(100) 중 봉지재(230)와 유기발광화소어레이(110) 사이에는, 도전 접착제(240)가 형성되며, 이러한 도전 접착제(240)는 열에 의해서 도전막(210)과 기판(100)상에 위치하는 접지연결배선(250b)에 접착되어, 도전막(220)을 접지연결배선(250b) 및 접지패드부(260b)를 통해 커넥터(270)의 접지라인(GL)에 전기적으로 연결하는 역할을 한다. To this end, a
이에 따라, 도전막(220)은 도전 접착제(240), 접지연결배선(250b), 및 접지연결배선(250b)과 커넥터(270)의 접지라인(GL)을 전기적으로 연결하는 접지패드부(260b)를 통해서 커넥터(270)의 접지라인(GL)에 전기적으로 연결된다. Accordingly, the
따라서, 도전막(220)은 외부로부터 봉지 기판(210)을 통해 유기 전계 발광 표시 장치(300)의 내부로 정전기(ElectricStatic Discharge)가 유입될 경우, 봉지 기판(210)을 통해 유입된 정전기를 도전 접착제(240), 접지연결배선(250b), 접지패드부(260b)를 통해서 커넥터(270)의 접지라인(GL)으로 빠지게 함으로써, 정전기가 기판(100)과 봉지기판(210)을 포함하는 패널 내부의 유기발광화소어레이(110) 및 기타 회로소자에 영향을 주어 손상을 입히는 것을 방지할 수 있다. Therefore, when the electrostatic discharge is introduced into the organic light emitting
이와 같이, 도전막(220)은 유기 전계 발광 표시 장치(300)의 내부에 형성되어 있는 유기발광화소어레이(110)를 수천에서 수만 볼트의 전압을 갖는 정전기로부터 보호하여 정정기로 인한 유기발광화소어레이(110) 및 기타 회로소자의 손상을 방지할 수 있다. 도전막(220)은 특히 유기발광화소어레이(110) 중 정전기에 쉽게 손상받을 수 있는 유기발광다이오드(190)를 정전기로부터 보호하여 유기발광다이오 드(190)의 손상으로 인해 패널의 영상이 깜박거리는 소프트 페일(soft fail)의 발생 또는 패널에 영상이 전혀 나타나지 않는 하드 페일(hard fail)의 발생을 방지할 수 있다. As described above, the
상기와 같은 도전막(220)은 정전기를 커넥터(270)의 접지라인(GL)으로 전도시킬 수 있도록 도전성을 갖는 투명 금속으로 형성된다. 투명 금속은 예를 들어 ITO(Indium-Tin-Oxide), IZO(Indium-Zinc-Oxide) 및 ITZO(Indium-Tin-Zinc-Oxide) 중 어느 하나로 선택되어 이루어질 수 있으나, 이러한 재질로 한정되지는 않는다. 여기서, 도전막(220)의 금속이 투명재질인 이유는, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치(300)가 전면발광방식으로 광(光)이 도전막(220)을 통해 봉지 기판(210) 쪽으로 방출되기 때문이다. 이와 같은 도전막(220)은 스퍼터링(sputerring) 증착 방법에 의해 봉지 기판(210)의 일면 전체에 코팅되어 형성될 수 있다.The
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치의 도전막이 불투명 금속일 경우 도전막의 패턴을 도시한 평면도이고, 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치의 도전막이 불투명 금속일 경우 도전막의 또다른 패턴을 도시한 평면도이고, 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치의 도전막이 불투명 금속일 경우 도전막의 또다른 패턴을 도시한 평면도이다.4 is a plan view illustrating a pattern of a conductive film when the conductive film of the organic light emitting display device is an opaque metal, and FIG. 5 is a conductive diagram of the organic light emitting display device according to an embodiment of the present invention. FIG. 6 is a plan view illustrating another pattern of the conductive film when the film is an opaque metal. FIG. 6 is a plan view illustrating another pattern of the conductive film when the conductive film of the organic light emitting display device according to the exemplary embodiment of the present invention is an opaque metal.
또한, 도 4 내지 도 6을 참조하면, 봉지 기판(210)의 일면 전체에 형성된 투명 금속재질의 도전막(220)과 달리, 도전막(420,520,620)은 불투명 금속으로 봉지 기판(210)의 일면에 일정한 패턴으로 형성될 수 있다. 즉, 도전막(420,520,620)은 불투명 금속으로 형성되기 때문에, 유기발광다이오드(190)로부터 방출되는 광(光)이 방출될 수 있도록 유기발광다이오드(190)와 겹치지 않으면서 도 3에 도시된 화소 정의막(200)에 대응하는 패턴으로 형성된다. 4 to 6, unlike the transparent metal
예를 들어, 도 4에 도시된 바와 같이, 도전막(420)의 패턴은 화소 정의막(200)에 대응하는 가로형 줄무늬일 수 있다. 그리고, 도 5에 도시된 바와 같이, 도전막(520)의 패턴은 화소 정의막(200)에 대응하는 세로형 줄무늬일 수 있다. 그리고, 도 6에 도시된 바와 같이, 도전막(620)의 패턴은 화소 정의막(200)에 대응하는 격자형 줄무늬일 수 있다. For example, as illustrated in FIG. 4, the pattern of the
이와 같이, 도 4 내지 도 6에 도시된 불투명 금속재질의 도전막(420,520,620)은 외부로부터 유기 전계 발광 표시 장치(300)의 내부로 유입되는 정전기로부터 유기발광화소어레이(190) 및 기타 회로소자를 보호하는 역할 뿐 아니라, 화소와 이웃하는 화소사이를 구분하는 화소 정의막(200)에 대응하는 패턴으로 형성되기 때문에 화소간 빛을 차단함으로써 선명도 및 색순도를 높이는 블랙 매트릭스(Black Matrix)의 역할을 할 수 있다. 특히, 도 6 에 도시된 격자형 줄무늬 패턴을 갖는 도전막(620)은 블랙 매트리스 역할의 효율면에서 가장 높은 이점이 있다. 여기서, 불투명 금속은 크롬(Cr), 알루미늄 합금 중 어느 하나로 선택되어 이루어질 수 있으나, 이러한 재질로 한정하지는 않는다.As such, the
그리고, 도전막(220)과 전기적으로 연결되는 도전 접착제(240)는 이방도전성필름(Anisotropic Conductive Film), 은 페이스트(Silver paste), 인듐(Indium) 및 인듐 합금 중 어느 하나로 선택되어 이루어질 수 있으나, 이러한 재질로 한정되지는 않는다.The
상기와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치(300)는 기판(100)과 대향하는 일면에 도전막(220,420,520,620)을 형성하여, 외부로부터 유기발광화소어레이(110)가 형성된 내부로 유입되는 정전기를 도전막(220,420,520,620), 도전 접착제(240), 접지연결배선(250b), 접지패드부(260b)를 통해 커넥터(270)의 접지라인(GL)에 접지시킴으로, 유기발광화소어레이(110) 및 기타 회로 소자 등을 정전기로부터 보호할 수 있다. 따라서, 정전기에 의해 발생하는 유기발광화소어레이(110) 및 기타 회로 소자의 손상을 방지함으로써, 유기발광화소어레이(110) 및 기타 회로 소자의 손상으로 인해 패널의 영상이 깜박거리는 소프트 페일(soft fail)의 발생 또는 패널에 영상이 전혀 나타나지 않는 하드 페일(hard fail)의 발생을 방지할 수 있다. As described above, the organic light emitting
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치를 도시한 개략적인 단면도이다.7 is a schematic cross-sectional view illustrating an organic light emitting display device according to another exemplary embodiment of the present invention.
본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치(300')는 본 발명의 일 실시예에 따른 유기전계 발광 표시 장치(300)와 비교할 때, 도전막(220)과 커넥터(270)의 접지라인(GL)을 연결하는 접지연결배선(250b')의 구조만 다를뿐 동일한 구성요소 및 동일한 동작을 한다. 이에 따라, 접지연결배선(250b')을 제외한 동일 구성요소에 동일한 도면 부호를 부여할 것이고, 동일구성요소에 대한 중복된 설명은 생략하기로 하며, 도전막(220)과 커넥터(270)의 접지라인(GL) 사이에 전기적으 로 연결된 접지연결배선(250b')의 전기적 연결구조에 대해서만 설명하기로 한다.The
본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치(300')의 도전막(220)은 기판(100)과 대향하는 봉지 기판(210)의 일면에 형성된다. 이러한 도전막(220)은, 유기 전계 발광 표시 장치(300)의 외부에서 발생되어 봉지기판(210)을 통해 유입되는 정전기(ElectricStatic Discharge)를 커넥터(270)의 접지라인(GL)을 통해 접지시키는 역할을 한다. The
이를 위해, 외부로 노출된 도전막(220)의 외측면과 봉지재(230)를 기준으로 외부에 위치하는 커넥터(270)의 접지라인(GL) 사이에, 접지연결배선(250b')이 전기적으로 연결된다. 이에 따라, 도전막(220)은 접지연결배선(250b'), 접지패드부(260b)를 통해서 커넥터(270)의 접지라인(GL)에 전기적으로 연결된다. To this end, the
따라서, 도전막(220)은 외부로부터 봉지 기판(210)을 통해 유기 전계 발광 표시 장치(300)의 내부로 정전기(ElectricStatic Discharge)가 유입될 경우, 정전기를 접지연결배선(250b'), 접지패드부(260b)를 통해 커넥터(270)의 접지라인(GL)으로 빠지게 함으로써, 정전기가 패널 내부의 유기발광화소어레이(110) 및 기타 회로소자에 영향을 주어 손상을 입히는 것을 방지할 수 있다. Therefore, when the electrostatic discharge flows into the organic light emitting
상기와 같이, 본 발명에 다른 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치(300')는, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 전계발광 표시 장치(300)에서 외부로부터 유입되는 정전기를 도전막(220), 도전 접착제(240), 접지연결배선(250b), 및 접지패드부(260b)를 통해 커넥터의 접지라인(GL)으로 접지시키는 경우와 달리, 도전 접착제(240)를 제거하고 도전막(220)과 접지연결배선(250b')을 바로 연결시킴으로써 하나의 저항성분을 제거할 수 있다. 따라서, 본 발명의 다른 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치(300')는 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 전계발광 표시 장치(300)에 비해 정전기를 더 빠른 시간내에 커넥터의 접지라인(GL)으로 접지시키는데 더 효율적이다.As described above, the
도 8은 본 발명의 또다른 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치의 내부 구성을 상세하게 도시한 단면도이다. 여기서, 유기 전계 발광 표시 장치는 배면 발광형 유기 전계 발광 표시 장치로서, 하나의 단위화소를 한정하여 도시한 것이다. 또한, 상기 유기 전계 발광 표시 장치는 상기 단위화소가 여러개 정렬되어 있는 다수의 단위화소를 구비할 수 있다.8 is a cross-sectional view illustrating in detail an internal configuration of an organic light emitting display device according to another exemplary embodiment of the present invention. Herein, the organic light emitting display device is a bottom emission type organic light emitting display device, and is limited to one unit pixel. In addition, the organic light emitting display device may include a plurality of unit pixels in which a plurality of unit pixels are arranged.
본 발명의 또다른 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치(900)는 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치(300)와 비교할 때 배면 발광형으로 인한 유기발광다이오드(790)의 구조 및, 도전막(820)과 커넥터의 접지라인(GL)과의 연결구조만 다른뿐 동일한 구성 요소를 가지며 동일한 동작을 한다. 이에 따라, 동일한 구성 요소 및 동일한 동작에 대한 중복된 설명은 생략하기로 하고, 유기발광다이오드(790)의 구조 및, 도전막(820)과 커넥터의 접지라인(GL)과의 연결구조에 대해서 중점적으로 설명하기로 한다.The organic light emitting
본 발명의 또다른 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치(900)의 유기발광다이오드(790)는 상기 절연막(780)의 상면에 형성될 수 있다. 이러한 유기발광다이오드(790)는 다시 애노드(792), 상기 애노드(792)의 상면에 형성된 유기 박막(794) 및 상기 유기 박막(794)의 상명에 형성된 캐소드(796)를 포함할 수 있다. 상기 애노드(792)는 ITO(Indium-Tin-Oxide), IZO(Indium-Zinc-Oxide), ITZO(Indium-Tin-Zinc-Oxide) 또는 그 등가물중 선택된 어느 하나로 형성될 수 있으나, 본 발명에서 상기 애노드(792)의 재질을 한정하는 것은 아니다. 상기 ITO는 일함수가 균일하여 유기 박막(794)에 정공 주입 장벽이 작은 투명 도전막일 수 있다. 한편, 상기 유기 박막(794)은 전자와 정공이 만나 여기자(exciton)를 형성하여 발광하는 발광층(EMitting Layer, EML), 전자의 이동 속도를 적절히 조절하는 전자 수송층(Electron Transport Layer, ETL), 정공의 이동 속도를 적절히 조절하는 정공 수송층(Hole Transport Layer, HTL)으로 이루어질 수 있다. 또한, 상기 전자 수송층에는 전자의 주입 효율을 향상시키는 전자 주입층(Electron Injecting Layer, EIL)이 형성되고, 상기 정공 수송층에는 정공의 주입 효율을 향상시키는 정공 주입층(Hole Injecting Layer, HIL)이 더 형성될 수 있다. 더불어, 상기 캐소드(796)는 본 발명의 또다른 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치가 배면 발광형이므로, 반사전극으로서 Al, MgAg 합금, MgCa 합금 및 그 등가물중 선택된 적어도 어느 하나일 수 있으나 본 발명에서 상기 캐소드(796)의 재질을 한정하는 것은 아니다. An organic
이와 같이 구성되는 유기발광다이오드(790)가 기판(700) 상에 위치하며, 전계에 의해 빛을 기판(700)을 통하여 배면 발광한다. 여기서, 빛이 기판(700)을 통해 방출되기 때문에, 기판(700)은 투명기판이어야 한다.The organic
본 발명의 또다른 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치(900)의 도전막(820)은 기판(700) 중 봉지재(830)의 바깥 영역, 더 자세히 하면 외부로 노출되 는 기판(700)의 하면, 측면, 및 상면 일부에 연속적으로 형성되며, 커넥터에 형성되어 있는 전기적 신호 라인, 즉 접지라인(GL)과 전기적으로 연결된다. 여기서, 기판(700)의 상면 일부는 봉지재(830)를 기준으로 외부에 위치하는 커넥터의 접지라인(GL)과 도전막(820)을 전기적으로 연결하기 위한 접지 연결 배선(850b)이 위치하는 영역이다. The conductive film 820 of the organic light emitting
이에 따라, 도전막(820)은 접지연결배선(850b)과, 접지연결배선(850b)과 커넥터의 접지라인(GL)을 전기적으로 연결하는 접지패드부(860b)를 통해서 커넥터의 접지라인(GL)에 전기적으로 연결된다. Accordingly, the conductive film 820 is connected to the
따라서, 도전막(820)은 정전기(ElectricStatic Discharge)가 외부로부터 기판(700)을 통해 유기 전계 발광 표시 장치(900)의 내부로 유입될 경우, 정전기를 접지연결배선(850b) 및 접지패드부(860b)를 통해서 커넥터의 접지라인(GL)으로 빠지게 함으로써, 정전기가 패널 내부의 유기발광화소어레이(710) 및 기타 회로소자에 영향을 주어 손상을 입히는 것을 방지할 수 있다. Accordingly, the conductive layer 820 may be connected to the
이와 같이, 도전막(820)은 유기 전계 발광 표시 장치(900)의 내부에 형성되어 있는 유기발광화소어레이(710)를 수천에서 수만 볼트의 전압을 갖는 정전기로부터 보호하여 정정기로 인한 유기발광화소어레이(710)의 손상을 방지할 수 있다. 도전막(820)은 특히 유기발광화소어레이(710) 중 정전기에 쉽게 손상받는 유기발광다이오드(790)를 정전기로부터 보호하여 유기발광다이오드(790) 손상으로 인해 패널의 영상이 깜박거리는 소프트 페일(soft fail)의 발생 또는 패널에 영상이 전혀 나타나지 않는 하드 페일(hard fail)의 발생을 방지할 수 있다. As such, the conductive layer 820 protects the organic light emitting
상기와 같은 도전막(820)은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 전계 발광 표시 장치(300)의 도전막(220)과 마찬가지로 정전기를 커넥터의 접지라인(GL)으로 전도시킬 수 있는 투명 금속 재질로 기판(700)의 하면 전체에 형성될 수도 있으며, 도전막(420,520,620)과 같이 불투명 금속 재질로 기판(700)의 하면에 화소 정의막(800)에 대응하는 일정한 패턴, 즉 세로형 줄무늬, 가로형 줄무늬, 격자형 줄무늬로 형성되어 정전기를 커넥터의 접지라인(GL)으로 전도시키는 동시에 블랙 메트릭스의 역할을 할 수 있다.The conductive layer 820 as described above is a transparent metal material capable of conducting static electricity to the ground line GL of the connector, similar to the
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 유기 전계 발광 표시 장치는 봉지 기판 또는 기판 전체에 투명 금속재질의 도전막을 형성함으로써, 외부로부터 패널 내부로 유입되는 정전기로부터 패널 내부의 유기발광화소어레이 또는 기타 회로소자를 보호할 수 있다. 이에 따라, 정전기로 인한 유기발광화소어레이 또는 기타 소자의 손상을 방지함으로써 패널의 영상이 깜박거리는 소프트 페일(soft fail)의 발생 또는 패널에 영상이 전혀 나타나지 않는 하드 페일(hard fail)의 발생을 방지할 수 있다. 따라서, 유기 전계 발광 표시 장치의 신뢰성을 높일 수 있다.As described above, the organic light emitting display device according to the present invention forms an electrically conductive film of transparent metal on the encapsulation substrate or the entire substrate, so that the organic light emitting diode array or other circuit element inside the panel is discharged from static electricity flowing from the outside into the panel. Can protect. This prevents damage to the organic light emitting diode array or other devices due to static electricity, thereby preventing the occurrence of a soft fail in which the image of the panel flickers or a hard fail in which the image does not appear at all on the panel. can do. Therefore, the reliability of the organic light emitting display device can be improved.
또한, 본 발명에 따른 유기 전계 발광 표시 장치는 봉지 기판 또는 기판에 불투명 금속재질의 도전막을 화소정의막에 대응하는 패턴으로 형성함으로써 패널 내부의 유기발광화소어레이 또는 기타 회로소자를 정전기로부터 보호할 뿐 아니라 화소간 빛을 차단함으로써 패널에 표시되는 영상의 선명도 및 색순도를 높일 수 있 다. 따라서, 유기 전계 발광 표시 장치의 화질을 높일 수 있다. In addition, the organic light emitting display device according to the present invention forms an electrically conductive film of opaque metal on the encapsulation substrate or the substrate in a pattern corresponding to the pixel definition layer, thereby protecting the organic light emitting diode array or other circuit elements inside the panel from static electricity. In addition, by blocking the light between the pixels it is possible to increase the sharpness and color purity of the image displayed on the panel. Therefore, the image quality of the organic light emitting display device can be improved.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.Those skilled in the art will appreciate that various changes and modifications can be made without departing from the technical spirit of the present invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification but should be defined by the claims.
Claims (44)
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070004438A KR100839750B1 (en) | 2007-01-15 | 2007-01-15 | Organic light emitting display |
US11/902,569 US7973474B2 (en) | 2007-01-15 | 2007-09-24 | Electroluminescent display including conductive film coupled to connector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070004438A KR100839750B1 (en) | 2007-01-15 | 2007-01-15 | Organic light emitting display |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100839750B1 true KR100839750B1 (en) | 2008-06-19 |
Family
ID=39617242
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070004438A KR100839750B1 (en) | 2007-01-15 | 2007-01-15 | Organic light emitting display |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7973474B2 (en) |
KR (1) | KR100839750B1 (en) |
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A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
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|
FPAY | Annual fee payment |
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|
FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
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