KR100794916B1 - Design Verification Apparatus For Incremental Design Verification Using Mixed Emulation and Simulation, and Design Verification Method Using the Same - Google Patents

Design Verification Apparatus For Incremental Design Verification Using Mixed Emulation and Simulation, and Design Verification Method Using the Same Download PDF

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Abstract

본 발명은 설계된 수백만 게이트급 이상의 디지탈 회로의 설계 검증을 위한 설계 검증 장치 및 이를 이용한 설계 검증 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a design verification apparatus for design verification of a digital circuit of more than millions of gates designed and a design verification method using the same.

본 발명에서는 임의의 서버용 컴퓨터에서 수행되어지는 본 발명의 설계검증 시스템소프트웨어로 하여금 설계검증 대상 회로에 입력/출력/입출력 탐침을 가능하게 하는 탐침용 부가회로를 부가하여 입력/출력/입출력탐침이 가능한 확장된 회로를 자동화된 방식으로 생성하게 한다. 아울러 본 발명의 설계검증 인터페이스 모듈은 상기 입력/출력/입출력탐침이 가능한 확장된 회로가 1이상의 프로그래밍가능 소자로 구현되어 여타 다른 하드웨어 컴포넌트들과 함께 장착되어 있는 하드웨어 보드와 상기 서버용 컴퓨터를 연결시키고 상기 하드웨어 보드의 수행을 제어하면서 특정 시점이나 특정 조건에서 상기 하드웨어 보드 상의 상기 1이상의 프로그래밍가능 소자에 대한 입력/출력/입출력탐침을 수행하여 상기 서버용 컴퓨터와 상기 1이상의 프로그래밍가능 소자에 상기 설계검증 대상 전체 회로나 부분적인 회로에 대한 수행결과 정보를 빠르게 교환할 수 있도록 한다. 아울러 상기 서버용 컴퓨터와 상기 설계검증 대상 전체 회로 혹은 부분 회로만을 시뮬레이션하는 임의의 시뮬레이션 서버용 컴퓨터를 이용하여 에뮬레이션과 시뮬레이션을 1차례이상 자동적인 방법으로 빠르게 번갈아 가면서 수행하여 점진적 설계 검증을 통하여 설계 검증 대상회로에 존재하는 1이상의 설계 오류를 신속하게 제거하는 것을 가능하게 한다.In the present invention, the input / output / input / output probe is possible by adding a probe additional circuit which enables the design verification system software of the present invention to be performed on an arbitrary server computer to enable the input / output / input / output probe to the design verification target circuit. Allows you to create extended circuits in an automated manner. In addition, the design verification interface module of the present invention connects the server board computer and the hardware board in which the extended circuit capable of input / output / input / output probe is implemented as one or more programmable elements and is mounted together with other hardware components. The design verification subject is applied to the server computer and the at least one programmable device by performing an input / output / input / output probe of the at least one programmable device on the hardware board at a specific time point or under certain conditions while controlling the performance of the hardware board. Allows quick exchange of performance results information for circuits or partial circuits. In addition, by using the server computer and any simulation server computer that simulates the entire circuit or only partial circuits of the design verification target, emulation and simulation are alternately performed one or more times in an automatic manner quickly and gradually through design verification. It is possible to quickly eliminate one or more design errors present in the.

Description

에뮬레이션과 시뮬레이션을 혼용한 점진적 설계 검증을 위한 설계검증 장치 및 이를 이용한 설계 검증 방법{ Design Verification Apparatus For Incremental Design Verification Using Mixed Emulation and Simulation, and Design Verification Method Using the Same }Design Verification Apparatus For Incremental Design Verification Using Mixed Emulation and Simulation, and Design Verification Method Using the Same}

도1 은 본 발명의 설계 검증 장치를 개략적으로 도시하는 도면.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 schematically shows a design verification apparatus of the present invention.

도2 는 출력탐침 부가회로를 설계 검증 대상 회로에 부가한 예를 개략적으로 도시하는 도면.Fig. 2 is a diagram schematically showing an example in which an output probe addition circuit is added to a design verification target circuit.

도3 은 입력탐침 부가회로를 설계 검증 대상 회로에 부가한 예를 개략적으로 도시하는 도면.3 is a diagram schematically showing an example in which an input probe addition circuit is added to a design verification target circuit;

도4(a) 는 설계 검증 대상 회로 전체가 시뮬레이션으로 수행되는 상황을 개략적으로 도시한 도면.FIG. 4A is a diagram schematically showing a situation in which the entire design verification target circuit is performed by simulation; FIG.

도4(b) 는 설계 검증 대상 회로 일부분이 시뮬레이션으로 수행되는 동시에 다른 나머지 부분은 에뮬레이션으로 수행되는 상황을 개략적으로 도시한 도면.4 (b) is a diagram schematically showing a situation in which a part of a design verification target circuit is performed by simulation while the other part is performed by emulation;

〈도면의 주요부분에 대한 부호의 설명〉<Explanation of symbols for main parts of drawing>

12 : RFPD 20 : 서버용 컴퓨터12: RFPD 20: Computer for Server

26 : 설계검증 인터페이스 모듈 27 : 인터페이스 모듈26: design verification interface module 27: interface module

28 : 인터페이스 케이블 28: interface cable                 

30 : 임의의 프로토타이핑 보드 상의 설계검증 대상회로가 구현된 1이상의 RFPD 이외의 다른 컴퍼넌트30: Component other than one or more RFPD in which the design verification target circuit on any prototyping board is implemented.

32 : 설계검증 시스템소프트웨어 34 : 임의의 시뮬레이터32: Design verification system software 34: Arbitrary simulator

44 : 임의의 프로토타이핑 보드 74 : 멀티플렉서44: random prototyping board 74: multiplexer

73 : 비동기 셋/리셋과 동기식 인에이블이 있는 단일입력 플립플롭73: Single Input Flip-Flop with Asynchronous Set / Reset and Synchronous Enable

75 : 이중입력 D형 플립플롭 76 : 단일입력 D형 플립플롭75: dual input D flip flop 76: single input D flip flop

77 : 비동기 셋과 비동기 리셋이 있는 이중입력 플립플롭77: dual input flip-flop with asynchronous set and asynchronous reset

78 : 비동기 셋과 비동기 리셋이 있는 단일입력 플립플롭78: Single Input Flip-Flop with Asynchronous Set and Asynchronous Reset

79 : 트라이스테이트 버퍼(Tri-state buffer)79: Tri-state buffer

86 : 출력탐침 대상 신호선86: output probe target signal line

87 : 출력탐침용 부가회로의 쉬프트레지스터를 형성하는 플립플롭들87: flip-flops forming a shift register of an additional circuit for the output probe

88 : 입력탐침용 부가회로의 쉬프트레지스터를 형성하는 플립플롭들88: flip-flops forming the shift register of the additional circuit for the input probe

90 : 시뮬레이션되는 설계검증 대상회로의 전체90: the entire circuit of the design verification target circuit to be simulated

92 : 설계검증 대상회로 전체에서 시뮬레이션되는 설계검증 대상회로의 부분92: part of the design verification target circuit simulated in the entire design verification target circuit

94 : 설계검증 대상회로 전체에서 에뮬레이션되는 설계검증 대상회로의 나머지 부분94: the rest of the design verification target circuit emulated throughout the design verification target circuit

본 발명은 설계된 수백만 게이트급 이상의 디지탈 회로를 설계 검증하는 기술에 관한 것으로, 설계된 수백만 게이트급 이상의 디지탈 회로를 프로그램 가능한 칩 혹은 주문형반도체 칩으로 실제 하드웨어적으로 구현하고 에뮬레이션 기법과 시뮬레이션 기법을 함께 사용하여 상기 수백만 게이트급 이상의 디지털 회로에 존재하는 1이상의 설계 오류를 신속하게 제거하는 설계 검증 방법 및 이를 위한 설계 검증 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a technology for design verification of a multi-million-gate or more digital circuit designed. The present invention relates to a real hardware implementation of a multi-million-gate or more digital circuit designed as a programmable chip or a custom semiconductor chip, using a combination of emulation and simulation techniques. The present invention relates to a design verification method for quickly eliminating one or more design errors present in the multi-million gate class or more digital circuit, and a design verification apparatus for the same.

최근에 집적회로의 설계 및 반도체 공정기술이 급격하게 발달함에 따라 디지탈 회로 설계의 규모가 최소 수백만 게이트급에서 수천만 게이트급까지 커짐은 물론 그 구성이 극히 복잡해지고 있는 추세이고, 이와 같은 추세는 계속적으로 확대되고 있는 추세로 가까운 미래에 일억 게이트급 이상의 설계도 예상되고 있다. 그러나, 시장에서의 경쟁은 더욱 더 치열해지므로 빠른 시간 내에 우수한 제품을 개발하여야만 함으로 빠른 시간 내에 자동화된 방법으로 설계된 회로를 효율적으로 설계 검증하기 위한 효과적인 방법의 필요성이 더욱 커지고 있다.With the recent rapid development of integrated circuit design and semiconductor process technology, the scale of digital circuit design has grown from at least millions of gates to tens of millions of gates, and its composition has become extremely complicated. As the trend is expanding, more than 100 million gate designs are expected in the near future. However, competition in the market is getting fiercer, and therefore, a good product must be developed in a short time, and there is an increasing need for an effective method for efficiently designing and verifying a circuit designed in an automated manner in a short time.

지금까지는 설계된 디지탈 회로를 설계 검증하기 위하여서는 소프트웨어적 접근법인 시뮬레이터가 주로 사용되었으나, 시뮬레이터는 설계 검증대상회로를 소프트웨어적으로 모델링한 순차적인 인스트럭션 시퀀스로 구성된 소프트웨어 코드를 컴퓨터 상에서 순차적으로 수행하여야 함으로 상기 수백만 게이트급 이상의 설계를 위한 설계 검증 시간이 상상을 초월할 정도로 극히 오래 걸리게 되고 다른 주변 하드웨어 환경과 통합되어 시스템 전체를 검증(이를 ICE, In-Circuit Emulation이라 함)할 수 없는 한계가 있다. 뿐만 아니라 시뮬레이션을 이용하여 설계 검증을 수행하기 위해서는 설계 검증 대상회로에 설계 검증을 가능하게 하는 입력패턴 시퀀스를 생성하여야 한다. 그러나 설계 검증 대상회로의 규모가 커지게 되면 이에 지수함수적으로 비례하여 입력패턴 시퀀스의 크기가 커지게 될 뿐만 아니라 이를 대부분의 경우에 수작업으로 생성하여야만 함으로 이를 위하여 많은 시간과 비용이 투입되어야만 한다.Until now, the simulator, which is a software approach, has been mainly used to design and verify the designed digital circuit. However, the simulator has to execute the software code composed of the sequential instruction sequences that model the circuit to be designed and verified on the computer sequentially. Design verification times for designs beyond millions of gates are extremely long and unprecedented, and there is a limit to integrating with other surrounding hardware environments to verify the entire system (called ICE, In-Circuit Emulation). In addition, in order to perform design verification using simulation, an input pattern sequence for design verification should be generated in the design verification target circuit. However, as the size of the design verification circuit increases, the size of the input pattern sequence increases in proportion to the exponential function, and in most cases, a large amount of time and cost must be invested.

이에 비하여 설계된 회로를 실제 칩으로 구현하여 이를 이용한 하드웨어적인 에뮬레이션 기반의 설계 검증 방법은 설계된 디지탈 회로의 모든 구성요소들이 구현된 칩 상에서 실제 병렬적으로 동작되고 있는 상황에서 디지털 회로를 검증하는 것이기 때문에 시뮬레이션에 비하여 최대 일백만배 고속의 설계 검증이 가능하고 다른 주변 하드웨어 환경과도 ICE 환경을 구성하여 통합적으로 검증할 수 있다. 뿐만 아니라, 다른 주변 하드웨어 환경과 통합하여 ICE 방식으로 설계 검증을 수행하는 경우에는 설계 검증 대상회로에 주변 하드웨어 환경에서 실제의 입력패턴 시퀀스가 공급됨으로 이를 수작업으로 생성시키는 과정을 완전히 생략할 수 있다. 그러나 에뮬레이션은 시뮬레이션에 비하여 디버깅을 수행하는 것이 매우 불편한 것이 단점인데, 이의 주된 원인은 프로그램 가능한 칩 또는 주문형반도체 칩들에 구현된 설계 검증 대상회로에 존재하는 수많은 신호선들의 논리값을 알 수 있는 가시도(visibility)가 시뮬레이션에 비하여 턱없이 떨어지기 때문이다. 뿐만 아니라 프로그램 가능한 칩 또는 주문형반도체 칩들을 이용한 에뮬레이션을 이용하게 되면 수행 자체는 극히 고속으로 수행시키는 것이 가능하지만, 설계 검증 대상회로에 1이상의 설계 오류가 존재하는 경우에 이들 설계 오류를 수정하게 되면 이를 반영하여 프로그램 가능한 칩을 재프로그래밍하거나 주문형반도체 칩을 다시 제조하여야만 하는데 이 과정에서 매우 긴 시간이 필요하고 경우에 따라서는 큰 비용의 지출도 수반하게 된다는 것인데 일반적으로 설계 초기 단계에서는 설계가 전혀 검증되지 않았음으로 수 많은 설계 오류들이 존재하게 되며 이들 설계 오류들이 수 차례에서 수십 차례에 걸쳐서 수정되는 것이 일반적임으로 이와 같은 상황에서 에뮬레이션을 이용한 설계 검증은 매우 바람직스럽지 못하다.On the other hand, a hardware emulation-based design verification method using the designed circuit as a real chip is to verify the digital circuit in a situation where all the components of the designed digital circuit are actually operated in parallel on the implemented chip. Compared to other hardware environments, it is possible to verify the design up to 1 million times faster than the integrated environment. In addition, when design verification is performed by integrating with other surrounding hardware environments using the ICE method, since the actual input pattern sequence is supplied to the design verification target circuit in the surrounding hardware environment, the process of manually generating it may be omitted. However, emulation has the disadvantage that debugging is much more inconvenient than simulation. The main reason is that the visibility of the logic value of numerous signal lines in the design verification circuit implemented in the programmable chip or the custom semiconductor chip is This is because visibility falls far short of the simulation. In addition, if emulation using programmable chips or custom semiconductor chips is used, the execution itself can be performed at extremely high speed. However, if one or more design errors exist in the circuit to be verified, they can be corrected. In this case, it is necessary to reprogram the programmable chip or to manufacture the custom semiconductor chip again, which requires a very long time and sometimes a high cost. Many design errors exist, and these design errors are usually corrected from several times to tens of times. Therefore, design verification using emulation is not desirable in such a situation.

기 특허출원된 "신속한 입출력탐침 장치 및 이를 이용한 입출력탐침 방법과 이를 기반으로 하는 혼합 에뮬레이션/시뮬레이션 방법"(특허출원번호: 10-2000-0034628)에서는 프로그램 가능한 칩들인 재사용 가능 프로그래밍 소자(Reusable Field Programmable Devices ; 이하 "RFPD"라 함)나 ASIC(Application Specific Inregrated Circuit)이나 ASSP(Application Specific Standard Product)와 같은 주문형반도체 소자를 이용한 에뮬레이션과 시뮬레이션을 함께 사용하여 디지털 시스템에 대한 설계 검증을 효과적으로 수행하는 방법을 제시하고 있다.The patent application "Rapid input / output probe device and input / output probe method using the same and a mixed emulation / simulation method based on the same" (Patent Application No. 10-2000-0034628) is a reusable field programmable device (programmable chips) Devices (hereinafter referred to as "RFPD"), how to effectively perform design validation on digital systems using emulation and simulation using custom semiconductor devices such as application specific integrated circuits (ASICs) or application specific standard products (ASSPs) Presenting.

그러나 상기 기 출원된 특허뿐만 아니라 다른 어떠한 특허들에서도 상기에서 언급된 최소 수백만급 규모 이상의 설계에 대한 에뮬레이션과 시뮬레이션을 함께 이용한 효과적인 방법은 제시하지 못하였다. 즉 설계검증 대상이 되는 설계가 수백만급 이상일 때는 에뮬레이션과 시뮬레이션 혼합검증과정에서 신호 가시도를 확보하기 위하여 필요한 시뮬레이션 수행이 필요한 기간이 비록 짧을지라도 회로의 크기 때문에 시뮬레이션의 수행 시간이 극히 커지거나, 회로의 크기가 극히 큰 경우에는 시뮬레이션 자체가 아예 불가능 할 수도 있다. 뿐만 아니라 이와 같은 최소 수백만 게이트급 이상의 설계검증을 인-서킷(In-Circuit) 환경에서 에뮬레이션과 시뮬레이션을 혼용하여 수행하기 위해서는 시뮬레이션 과정에서는 인-서킷에서의 다른 주변 하드웨어환경이 소프트웨어적으로 모델링(이를 테스트 벤치라고 함)되어 있어서 이를 이용하여 올바른 입력 패턴 시퀀스가 시물레이션을 통하여 생성되어 소프트웨어적으로 모델링된 DUT(Design Under Test)에 인가되는 것이 필요하다. 그러나 이와 같은 인-서킷에서의 복잡한 다른 주변 하드웨어 환경을 소프트웨어적으로 올바르게 모델링하는 것은 극히 어려운 일로, 이와 같은 모델링 필요성이 시뮬레이션을 이용한 설계 검증 방법뿐만 아니라, 인-서킷 환경에서의 에뮬레이션과 시뮬레이션을 혼용한 설계 검증 방법의 적용도 매우 어렵게 하고 있다. 또한 상기 에뮬레이션과 시뮬레이션을 혼용한 설계 검증 방법에서의 또 다른 문제점으로는 설계 검증 도중에 발견된 설계 오류들을 수정하게 되면 이를 반영하여 시간이 극히 오래 소요되는 재사용 가능 프로그래밍 소자를 다시 프로그래밍하거나, 시간이 극히 오래 소요되며 비용도 매우 많이 드는 주문형반도체 소자를 다시 제조하여야만 한다는 문제를 계속 가지고 있다는 것이다.However, in addition to the above-listed patents, any other patents do not provide an effective method using emulation and simulation for the design of at least the millions of scales mentioned above. In other words, if the design subject to design verification is millions or more, the execution time of the simulation is extremely large due to the size of the circuit, even if the time required to perform the simulation required to obtain signal visibility in the emulation and simulation mixed verification process is short. If the size of is extremely large, the simulation itself may not be possible at all. In addition, in order to perform a combination of emulation and simulation in an in-circuit environment, at least millions of gate-class design verifications are performed by software modeling of other peripheral hardware environments in the in-circuit process. It is called a test bench, so it is necessary to generate a correct input pattern sequence through simulation and apply it to a software modeled design under test (DUT). However, it is extremely difficult to correctly model intricately different complex hardware environments in such an in-circuit, so this modeling need is not only a simulation of design verification, but also a combination of emulation and simulation in an in-circuit environment. The application of one design verification method is also very difficult. In addition, another problem with the design verification method using the emulation and simulation is that if the design errors found during the design verification are corrected, the re-programmable re-usable programming elements that are extremely time-consuming are re-programmed or the time is extremely long. They continue to have the problem of remanufacturing custom semiconductor devices that are time-consuming and very expensive.

또한 에물레이션과 시뮬레이션을 같이 이용하는 기존의 점진적 프로 토타이핑(incremental prototyping) 기법이나 동시 모델링(co-modeling) 기법은 설계 검증 대상 회로들 에뮬레이션이 되는 부분(이를 에뮬레이션 블록이라 칭함)과 시뮬레이션이 되는 부분(이를 시뮬레이션 블록이라 칭함)의 두 부분으로 나누어지는 과정에서 에뮬레이션이 되는 회로 부분에 위치하는 입력, 출력, 입출력 포트들(이들은 에뮬레이션이 되는 설계 검증 대상 회로의 부분 회로의 기준에서 입력, 출력, 입출력을 말하며, 설계 검증 대상 회로 전체의 기준에서는 내부 신호선들이 될 수 있음)을 반드시 구현 매체인 프로그래밍 가능소자나 주문형반도체 칩의 핀들과 물리적으로 연결시켜야만 하며, 이의 결과로서 에뮬레이션 블록이나 시뮬레이션 블록을 변경시키는 것이 극히 제한적이게 되어서(예로 설계 검증 대상 회로의 내부에 깊숙히 있는 블록들을 에뮬레이션하기 위해서는 이 블록들의 입력, 출력 및 입출력 포트들을 모두 구현 매체인 프로그래밍 가능소자나 주문형반도체 칩의 핀들에 물리적으로 연결하여야 하며, 이로 인하여 이들 에뮬레이션 대상이 되는 블록들이 바뀌어지거나 새롭게 추가되는 경우에 이를 위한 시간이 크게 늘어남) 에뮬레이션과 시뮬레이션의 공간적 혼용을 이용한 설계 검증의 장점을 크게 떨어 뜨리게 된다.In addition, the existing incremental prototyping technique or co-modeling technique using emulation and simulation is an emulation block (called an emulation block) and a simulation part (design emulation block). In the process of dividing into two parts of the simulation block, the input, output, and input / output ports located in the emulated circuit part (these are input, output, and input / output based on the partial circuit of the circuit to be emulated). In other words, internal signal lines may be physically connected to the pins of a programmable device or a custom semiconductor chip, which is an implementation medium, and as a result, it is necessary to change an emulation block or a simulation block. Extremely limited (E.g., to emulate blocks deep inside the design-verification circuitry, the input, output, and input / output ports of these blocks must all be physically connected to the pins of a programmable device or custom semiconductor chip that is the implementation medium. If these blocks are changed or newly added, the time for this is greatly increased.) The design verification using the spatial mixture of emulation and simulation is greatly reduced.

따라서, 본 발명의 목적은 초대규모급 설계 검증을 위한 1이상의 RFPD를 이용하여 하드웨어적으로 구현된 대규모 디지털 시스템의 에뮬레이션과 시뮬레이션을 혼용하는 설계 검증에서 입출력 탐침 방법을 채용한 점진적 설계 검증을 통하여 설계 검증 대상회로에 존재하는 수많은 설계오류들의 제거를 최소한의 시간과 비용을 투입하여 수행할 수 있도록 하는 설계 검증 장치를 이를 이용한 설계 검증 방법을 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to design through a gradual design verification using the input and output probe method in the design verification mixed with the emulation and simulation of a large-scale digital system implemented in hardware using one or more RFPD for ultra-scale design verification The present invention provides a design verification method using a design verification apparatus that can eliminate a large number of design errors in a verification target circuit with minimal time and cost.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 설계 검증 장치는 설계검증시스템소프트웨어와 설계검증 인터페이스 모듈(26)을 제공한다. 설계검증 인터페이스 모듈(26)은 인터페이스 모듈(interface module)(27)과 인터페이스 케이블(interface cable)(28)로 구성될 수 있다. 설계검증 시스템소프트웨어는 서버용 컴퓨터에서 실행되며 서버용 컴퓨터는 임의의 시뮬레이터(예로 HDL 시뮬레이터나 로직 시뮬레이터, 또는 사이클기반 시뮬레이터)를 가지고 있거나 시뮬레이터의 역할을 대신할 수 있는 소프트웨어를 가지고 있다. 설계검증 인터페이스 모듈은 설계검증 시스템소프트웨어가 있는 서버용 컴퓨터와 설계된 수백만 게이트급 이상의 디지털 회로가 구현된 1이상의 RFPD들을 장착하고 있는 1이상의 임의의 하드웨어 보드 또는 프로토타이핑 하드웨어 플랫폼 또는 에뮬레이션 하드웨어 플랫폼(이를 앞으로는 임의의 프로토타이핑 보드나 임의의 PCB라 칭함)을 연결하게 되고, 설계검증 인터페이스 모듈의 또 다른 중요 기능으로는 설계검증 대상회로에 대한 입출력탐침을 위해서 필요한 시스템 클럭과 이 시스템 클럭으로부터 생성되는 1이상의 사용자클럭과 탐침클럭, 그리고 동작모드 제어신호, 탐침모드 제어신호, 탐침용메모리읽기쓰기 신호 등을 설계검증 시스템소프트웨어의 제어 하에서 생성하여 필요 시에 임의의 프로토타이핑 보드나 임의의 PCB에 공급함으로서 임의의 프로토타이핑 보드나 임의의 PCB동작을 제어한다. 이를 위하여 설계검증 인터페이스 모듈은 자체적으로 FPGA나 CPLD, 혹은 마이크로프로세서나 마이크로콘트롤러, 또는 전용 ASIC/ASSP 칩을 내장하고 있을 수 있다. 또는 상기 설계검증 인터페이스 모듈은 설계검증 대상회로 또는 대상HDL코드가 구현되는 FPGA나 CPLD에 함께 구현되어질 수도 있다. 도1 은 서버용 컴퓨터에서 운영되는 설계검증 시스템소프트웨어와 설계검증 인터페이스 모듈로 구성된 본 발명에 관한 설계검증 장치를 개략적으로 도시한 도면이다. 구체적으로는 설계검증 인터페이스 모듈(26)은 서버용 컴퓨터의 PCI(Peripheral Computer Interface) 버스에 연결되어지도록 PCI 슬롯에 장착되어지거나 혹은 이와 같은 기능의 다른 이차 시스템버스(secondary system bus)(예로 SUN 워크스테이션의 S-bus등)에 연결되는 것이 일반적이나, 고속이 요구되는 경우에는 서버용 컴퓨터의 일차 시스템버스(primary system bus)인 메인버스(main bus)에 연결되어질 수도 있고,저속으로도 가능하다면 USB(Universal Serial Bus)나 병렬포트 또는 시리얼포드 등으로 연결되어질 수 있으며 이를 통하여 임의의 서버용 컴퓨터와 임의의 프로토타이핑 보드나 임의의 PCB가 연결되어 진다.In order to achieve the above object, the design verification apparatus according to the present invention provides a design verification system software and a design verification interface module 26. The design verification interface module 26 may be composed of an interface module 27 and an interface cable 28. The design verification system software runs on a server computer, which has any simulator (e.g., an HDL simulator, a logic simulator, or a cycle-based simulator) or software that can take the place of a simulator. The design verification interface module is one or more hardware boards or prototyping hardware platforms or emulation hardware platforms that are equipped with server computers with design verification system software and one or more RFPDs implemented with millions of gate-class digital circuits designed. Another important feature of the design verification interface module is the system clock needed for the I / O probe to the circuit under test and the one or more users generated from the system clock. Clock, probe clock, operation mode control signal, probe mode control signal, probe memory read signal, etc. are generated under the control of design verification system software and supplied to any prototyping board or PCB as needed. Prototyping and controls the board or any PCB operation. To this end, the design verification interface module may have its own FPGA or CPLD, a microprocessor or microcontroller, or a dedicated ASIC / ASSP chip. Alternatively, the design verification interface module may be implemented together in an FPGA or CPLD in which a design verification target circuit or a target HDL code is implemented. 1 is a diagram schematically showing a design verification apparatus according to the present invention composed of a design verification system software and a design verification interface module operating in a server computer. Specifically, the design verification interface module 26 may be mounted in a PCI slot or connected to a secondary secondary system bus (such as a SUN workstation) to be connected to the Peripheral Computer Interface (PCI) bus of the server computer. It is common to connect to the S-bus, but if high speed is required, it may be connected to the main bus, which is the primary system bus of the server computer. Universal Serial Bus), parallel port or serial pod can be connected to it, and any server computer, any prototyping board or any PCB is connected.

설계검증 시스템소프트웨어는 설계검증 인터페이스 모듈을 통하여 설계검증 과정 도중에 사용자가 원하는 임의의 시점이나 상황에서 임의의 프로토타이핑 보드나 임의의 PCB에 구현된 수백만 게이트급 이상의 설계검증 대상회로의 전체나 혹은 부분에 대한 완전 상태정보(complete state information)나 혹은 부분 상태정보(partial state information)를 상기 임의의 시점이나 상황에서 프로토타이핑 보드로부터 읽어내거나 반대로 특정 상태정보 값으로 쓸 수 있어야 한다. 여기서 상태정보(state information)란 디지털 회로의 메모리소자(플립플롭이나 래치)들의 값과 메모리(RAM이나 ROM)의 내용을 나타내는 용어로 완전 상태정보란 설계검증 대상회로의 모든 메모리소자들의 값과 모든 메모리의 내용을 의미하며, 부분 상태정보란 설계검증 대상회로의 일부분의 메모리소자들의 값과(또는) 일부분의 메모리의 내용을 의미한다. 또한 메모리소자와 메모리는 다른 것으로 메모리소자는 플립플롭(flipflop)이나 래치(latch)를 의미하며, 메모리는 SRAM, DRAM, SDRAM, Rambus DRAM 등과 같은 모든 종류의 RAM(Random Access Memory)이나 PROM, EPROM, EEPROM, Flash Memory와 같은 모든 종류의 ROM(Read Only Memory)을 의미하는 것으로 정의한다. 반면에 논리값정보(logic information)는 디지털 회로의 존재하는 임의의 1이상의 신호선들에 나타나는 이진논리값 시퀀스를 의미하며, 논리값정보가 상태정보와 다른 것은 논리값정보는 메모리소자들의 값과 메모리의 내용만을 국한하지 않고 조합논리 게이트의 출력값이나 입력 값들도 함께 포함할 수 있다는 것이다.The design verification system software, via the design verification interface module, can be used to design part or all of the millions of gate-level design verification circuits implemented on any prototyping board or PCB at any time or situation desired by the user during the design verification process. The complete state information or the partial state information about the state can be read from the prototyping board at any time point or situation or vice versa. Here, state information refers to the value of the memory elements (flip-flop or latch) of the digital circuit and the contents of the memory (RAM or ROM). Complete state information refers to the values and all the values of all the memory elements of the circuit for design verification. The partial state information refers to the value of the memory elements of the portion of the design verification target circuit and / or the contents of the portion of the memory. In addition, the memory device is different from the memory, and the memory device means flip-flop or latch, and the memory refers to all kinds of random access memory (RAM), PROM, EPROM such as SRAM, DRAM, SDRAM, Rambus DRAM, etc. It defines as all kinds of ROM (Read Only Memory) such as EEPROM, Flash Memory. On the other hand, the logic information refers to a binary logic sequence appearing on any one or more signal lines existing in the digital circuit. The logic information is different from the state information. It is possible to include the output value or input value of the combinational logic gate without limiting the content of.

설계검증 시스템소프트웨어는 설계검증 대상회로에 존재하는 특정 신호선들에 대한 입력탐침 또는 출력탐침 또는 입출력탐침을 가능하게끔 자동화된 방식으로 변환시키는 탐침 회로합성기를 포함하고 있는데, 이와 같은 탐침 회로합성기는 탐침용 부가회로를 설계검증 대상회로에 부가함으로서 완성되는 회로(이를 확장된 설계검증 대상회로라 칭함)를 자동화된 방식으로 생성하게 된다. 확장된 설계검증대상회로에 포함되는 탐침용 부가회로의 역할은 출력탐침의 경우에는 부가회로를 부가함으로서 형성되는 회로부분이 쉬프트레지스터 구조로 되어 탐침클럭에 동기화 된 쉬프팅 동작을 이 쉬프팅 동작 직전에 쉬프트레지스터가 가지는 논리값들이 출력탐침 대상이 되는 회로내의 신호선들의 논리값들을 가지고서 하게 하며, 입력탐침의 경우에는 부가회로를 부가함으로서 형성되는 회로부분은 쉬프트레지스터 구조로 되어 쉬프팅 동작을 하며 이와 같은 쉬프팅 동작을 이용하여 입력탐침 대상이 되는 회로내의 신호선들에 쉬프팅 동작이 완료된 후에 원하는 특정 논리값들이 나타날 수 있도록 하며, 입출력탐침의 경우에는 상기 입력탐침과 출력탐침 각각이 원하는 시점에 수행될 수 있도록 하고, 정상동작이 필요한 때는 부가회로가 부가되더라도 설계검증 대상회로의 함수적 논리 성질(functional logical behavior)이 변형되지 않지 않는 회로로 동작할 수 있도록 하는 것이다. 또는 설계검증 대상이 하드웨어구술언어(이 후 HDL로 칭함) 코드로 구술된 경우에는 탐침용 부가회로의 행위(behavior)를 표현하는 HDL 부가코드가 설계검증 대상 HDL 코드에 부가됨으로서 완성되는 HDL 코드가 출력탐침의 경우에는 부가 HDL 코드를 부가함으로서 형성되는 HDL 부분이 쉬프트레지스터 행위를 표현하고 있어 탐침클럭에 동기화된 쉬프팅 동작을 이 쉬프팅 동작 직전에 쉬프트레지스터의 행위를 표현하는 HDL 코드에서 레지스터 HDL 코드의 신호선이 가지는 신호값들이 출력탐침 대상이 되는 HDL코드의 신호선들의 논리값들을 가지고서 하게 하며, 입력탐침의 경우에는 부가 HDL코드를 부가함으로서 형성되는 HDL 코드 부분은 쉬프트레지스터 구조로 되어 탐침클럭에 동기화된 쉬프팅 동작을 하며 이와 같은 쉬프팅 동작을 이용하여 입력탐침대상이 되는 HDL 코드의 출력탐침 대상이 되는 HDL 코드내의 신호선들에 쉬프팅 동작이 완료된 후에 원하는 특정 논리값들이 나타날 수 있도록 하며, 입출력탐침의 경우에는 상기 입력탐침과 출력탐침 각각이 원하는 시점에 수행될 수 있도록 하고, 정상동작이 필요한 때는 부가회로가 부가되더라도 설계검증 HDL 코드의 함수적 논리 성질(functional logical behavior)이 변형되지 않지 않도록 하는 것이다.The design verification system software includes a probe circuit synthesizer that converts input probes or output probes or input / output probes to specific signal lines present in the design verification circuit in an automated manner, such as a probe circuit synthesizer. By adding the additional circuit to the design verification target circuit, a completed circuit (which is called an extended design verification target circuit) is generated in an automated manner. The role of the probe additional circuit included in the extended design verification target circuit is that in the case of the output probe, the circuit part formed by adding the additional circuit has a shift register structure, so that the shifting operation synchronized with the probe clock is shifted immediately before the shifting operation. The logic values of the registers have the logic values of the signal lines in the circuit to be output probe.In the case of the input probe, the circuit part formed by adding an additional circuit has a shift register structure to perform the shifting operation. By using a specific logic value can be displayed after the shifting operation is completed on the signal lines in the circuit that is the input probe target, in the case of input and output probes, each of the input probe and the output probe can be performed at a desired time point, When normal operation is required, the additional circuit Even if it is added, the functional logical behavior of the design verification target circuit can be operated as a circuit that is not deformed. Alternatively, when the design verification subject is dictated by a hardware oral language (hereinafter referred to as HDL) code, the HDL code representing the behavior of the probe additional circuit is added to the HDL code to be verified by design. In the case of the output probe, the HDL part formed by adding the additional HDL code expresses the shift register behavior, so that the shifting operation synchronized with the probe clock is applied to the register HDL code in the HDL code immediately before the shifting operation. The signal values of the signal line have the logic values of the signal lines of the HDL code to be the output probe target.In the case of the input probe, the HDL code part formed by adding the additional HDL code has a shift register structure and is synchronized with the probe clock. The shifting operation is carried out. After the shifting operation is completed on the signal lines in the HDL code, which are the output probe targets of the HDL code, specific logic values can be displayed.In the case of the input / output probe, each of the input probe and the output probe can be performed at a desired time point. When normal operation is needed, even if an additional circuit is added, the functional logical behavior of the design verification HDL code is not modified.

또한 탐침 대상이 되는 신호선들이 메모리소자의 출력인 경우에는 확장된 설계검증 대상회로에 포함되는 탐침용 부가회로의 역할은 출력탐침의 경우에는 부가회로를 부가함으로서 형성되는 회로부분이 쉬프트레지스터 구조로 되어 탐침클럭에 동기화된 쉬프팅 동작을 이 쉬프팅 동작 직전에 쉬프트레지스터가 가지는 논리값들이 출력탐침 대상이 되는 회로내의 모든 혹은 일부분의 메모리소자의 논리값들을 가지고서 하며, 입력탐침의 경우에는 부가회로를 부가함으로서 형성되는 회로부분은 쉬프트레지스터 구조로 되어 쉬프팅 동작을 하며 이와 같은 쉬프팅 동작을 이용하여 입력탐침 대상이 되는 회로내의 모든 혹은 일부분의 메모리소자들에 대한 동기적(synchronous) 셋(set) 또는 리셋(reset) 동작, 혹은 비동기적(asynchronous) 셋 또는 리셋 동작에 이은 동기적 셋 또는 리셋 또는 비동기적 셋 또는 리셋 동작에 이은 동기적 디스에이블(disable) 동작으로 입력탐침 대상이 되는 메모리소자들의 논리값을 입력탐침값으로 되게하며, 입출력탐침의 경우에는 상기 입력탐침과 출력탐침 각각이 원하는 시점에 수행될 수 있도록 하고, 정상동작이 필요한 때는 부가회로가 부가되더라도 설계검증 대상회로의 함수적 논리 성질(functional logical behavior)이 변형되지 않지 않는 회로로 동작할 수 있도록 하는 것이다. 또는 설계검증 대상이 HDL 코드로 구술된 경우에는 탐침용 부가회로의 행위를 표현하는 HDL 부가코드가 설계검증 대상 HDL 코드에 부가됨으로서 완성되는 HDL 코드가 출력탐침의 경우에는 부가 HDL 코드를 부가함으로서 형성되는 HDL 부분이 쉬프트레지스터 행위를 표현하고 있어 탐침클럭에 동기화된 쉬프팅 동작을 이 쉬프팅 동작 직전에 쉬프트 레지스터의 행위를 표현하는 HDL 코드에서 레지스터 HDL 코드의 신호선이 가지는 신호값들이 출력탐침 대상이 되는 메모리소자의 모든 혹은 일부분의 출력 신호값들과 시뮬레이션 대상이 되는 설계검증 대상회로의 특정 부분 HDL 코드의 모든 단방향 입력과 모든 양방향 입출력 시그널들을 가지고서 하며, 입력탐침의 경우에는 부가 HDL 코드를 부가함으로서 형성되는 HDL 코드 부분은 쉬프트레지스터 구조로 되어 탐침클럭에 동기화된 쉬프팅 동작을 하며 이와 같은 쉬프팅 동작을 이용하여 입력탐침 대상이 되는 HDL 코드의 메모리소자들 행위를 표현하는 HDL 코드의 시그널들에 대한 동기적(synchronous) 셋(set) 또는 리셋(reset) 동작, 혹은 비동기적(asynchronous) 셋 또는 리셋 동작에 이은 동기적 셋 또는 리셋 또는 비동기적 셋 또는 리셋 동작에 이은 동기적 디스에이블(disable) 동작으로 입력탐침 대상이 되는 시그널들의 논리값을 입력탐침값으로 되게하며, 입출력탐침의 경우에는 상기 입력탐침과 출력탐침 각각이 원하는 시점에 수행될 수 있도록 하고, 정상동작이 필요한 때는 탐침용 부가회로가 부가되더라도 설계검증 HDL 코드의 행위를 변형하지 않도록 한다.In addition, when the signal lines to be probed are the outputs of the memory device, the role of the probe additional circuit included in the extended design verification target circuit is that in the case of the output probe, the circuit portion formed by adding the additional circuit has a shift register structure. The shifting operation synchronized with the probe clock has the logic values of the shift register immediately before the shifting operation with the logic values of all or a part of the memory elements in the circuit to be output probe, and in the case of the input probe, an additional circuit is added. The circuit part to be formed has a shift register structure to perform a shifting operation. By using such a shifting operation, a synchronous set or reset of all or a part of memory elements in a circuit that is an input probe object is performed. ) Operation, or following an asynchronous set or reset operation A synchronous disable operation following a synchronous set or reset or asynchronous set or reset operation makes a logic value of a memory element to be an input probe as an input probe value, and in the case of an input / output probe, Each of the output probes can be performed at a desired point in time, and when normal operation is required, it is possible to operate as a circuit that does not change the functional logical behavior of the circuit to be verified by design even if an additional circuit is added. . Alternatively, when the design verification subject is dictated by the HDL code, the HDL additional code representing the behavior of the probe additional circuit is added to the design verification HDL code, and the completed HDL code is formed by adding the additional HDL code in the case of the output probe. Since the HDL part expresses the shift register behavior, the shifting operation synchronized with the probe clock is performed. The HDL code expressing the shift register behavior immediately before the shifting operation indicates that the signal values of the register HDL code signal lines are output probes. All or part of the output signal values of the device and all the unidirectional inputs and all bidirectional input and output signals of the specific part HDL code of the design verification target circuit to be simulated, and in the case of the input probe is formed by adding additional HDL code The HDL code part has a shift register structure A shifting operation synchronized to the needle clock, and using this shifting operation, a synchronous set or reset of signals of the HDL code representing the memory element behavior of the HDL code that is the input probe target. reset operation or asynchronous set or reset operation followed by synchronous set or reset or asynchronous set or reset operation followed by synchronous disable operation. The input and output probes can be performed at desired times in the case of input / output probes, and when normal operation is required, the behavior of the design verification HDL code will not be modified even if additional probe circuits are added. do.

이상과 같은 탐침을 위한 탐침용 부가회로에 대한 구체적 구현방법은 기 출원된 "신속한 입출력탐침 장치 및 이를 이용한 입출력탐침 방법과 이를 기반으로 하는 혼합 에뮬레이션/시뮬레이션 방법"(PCT출원번호: PCT/KR01/01092)에 상당 부분이 이미 자세하게 언급되어 있음으로 본 특허에서는 추가적인 것들에 대한 몇몇 경우에 대해서만 언급하기로 한다.The specific implementation method of the probe additional circuit for the above-described probe is a previously filed "quick input and output probe device, input and output probe method using the same and mixed emulation / simulation method based on the same" (PCT application number: PCT / KR01 / Since much of 01092 is already mentioned in detail, this patent will refer to only a few cases of additional ones.

도2 는 설계 검증 대상 회로에 존재하는 임의의 신호선들에 대한 출력탐침을 수행하는 탐침용 부가회로의 일 구현 일 예를 개략적으로 도시한 도면이다.FIG. 2 is a diagram schematically illustrating an example of an implementation of a probe additional circuit that performs an output probe on arbitrary signal lines existing in a circuit to be verified for design.

도3 은 설계 검증 대상 회로에 존재하는 입력이나 조합회로의 출력이 되는 임의의 신호선들에 대한 입력탐침을 수행하는 탐침용 부가회로의 일 구현 일 예를 개략적으로 도시한 도면으로, 이 경우에는 메모리소자의 출력이 아닌 신호선들에 대하여 입력 탐침을 수행하여야 함으로 부가회로를 부가함으로서 형성되는 회로부분은 쉬프트레지스터 구조로 되어 쉬프팅 동작을 하며 이와 같은 쉬프팅 동작을 이용하여 입력탐침 데이터를 상기 쉬프트레지스터 구조를 이루는 플립플롭들에 저장시키고 난 후에 멀리플렉서(74)의 선택입력을 제어하여 상기 입력방침 데이터가 해당 신호선들 각각에 나타나게 한다.FIG. 3 is a diagram schematically illustrating an example of an implementation of a probe additional circuit that performs an input probe on an arbitrary signal line that is an input or an output of a combination circuit existing in a design verification target circuit; Since the input probe should be performed on the signal lines other than the output of the device, the circuit portion formed by adding the additional circuit has a shift register structure to perform the shifting operation, and the input probe data is converted into the shift register structure using the shifting operation. After being stored in the flip-flops, the select input of the multiplexer 74 is controlled so that the input policy data appears on each of the corresponding signal lines.

부가적으로 설계검증 대상회로에 RAM이나 ROM 등의 메모리가 포함되어 있으며 이와 같은 메모리들도 RFPD에 내장되어 제공되는 칩상 메모리(on-chip memory)(구체적인 예를 들면, Xilinx FPGA의 Distributed RAM 또는 BlockRAM, Altera FPGA의 Embedded Array Block 등)를 이용하여 구현하는 경우에는 상기 IOP-탐침용 부가회로에는 메모리 읽기/쓰기 부가회로가 추가적으로 포함되어 진다. 메모리 읽기/쓰기 부가회로는 설계검증 시스템소프트웨어의 제어를 받아서 출력탐침모드에서는 RFPD 내부에 구현된 설계검증 대상회로에 존재하는 메모리의 모든 영역이나 특정 영역의 내용들을 정해진 순서에 따라 모두 읽어내어 출력탐침선을 통하여 인터페이스 모듈과 인터페이스 케이블을 거쳐서 설계검증 시스템소프트웨어로 자동화된 방식으로 읽혀질 수 있게 하고, 입력탐침모드에서는 설계검증 시스템소프트웨어가 가지고 있는 데이터를 인터페이스 케이블과 인터페이스 모듈을 거쳐서 RFPD의 입력탐침선을 통하여 RFPD 내부에 구현된 설계검증 대상회로에 존재하는 쓰기가능(writable) 메모리의 모든 영역이나 특정 영역에 정해진 순서에 따라 자동화된 방식으로 쓰기를 수행하게 된다. 이와 같은 메모리 읽기/쓰기 부가회로의 구체적인 구현 예도 기 출원된 "신속한 입출력탐침 장치 및 이를 이용한 입출력탐침 방법과 이를 기반으로 하는 혼합 에뮬레이션/시뮬레이션 방법"(PCT출원번호: PCT/KR01/01092)에 이미 자세하게 언급되어 있음으로 본 특허에서는 생략하기로 한다.Additionally, the design verification target circuit includes memory such as RAM or ROM, and these memories are also provided on-chip memory (specifically, for example, distributed RAM or block RAM of Xilinx FPGA). In the case of using an embedded array block of Altera FPGA, a memory read / write additional circuit is additionally included in the IOP probe additional circuit. The memory read / write additional circuit is controlled by the design verification system software and in the output probe mode, the output probe is read out by reading all the contents of the memory or the specific region in the design verification target circuit implemented in the RFPD in a predetermined order. It can be read through the interface module and the interface cable through the design verification system software in an automated manner.In the input probe mode, the data of the design verification system software is transferred to the RFPD input probe through the interface cable and the interface module. Through the RFPD, the write operation is performed in a predetermined order in all regions or specific regions of the writable memory in the design verification target circuit implemented in the RFPD. A specific example of the implementation of such a memory read / write additional circuit is already described in the "quick input / output probe apparatus and input / output probe method using the same and a mixed emulation / simulation method based on the same" (PCT application number: PCT / KR01 / 01092). Since it is mentioned in detail, it will be omitted in the present patent.

본 발명에서 출력탐침선과 입력탐침선은, 별개의 독립된 단방향 탐침선으로 존재할 수도 있고, 출력탐침선과 입력탐침선이 합쳐진 양방향 탐침선으로 존재할 수도 있다. 또한 본 발명에서 사용되는 탐침클럭은 설계검증 대상회로에 사용되는 사용자 클럭들과는 별도의 클럭을 시스템 클럭으로부터 생성하여 사용할 수도 있고, 사용자 클럭들 중의 하나(예로 제일 빠른 클럭)를 사용할 수도 있다.In the present invention, the output probe line and the input probe line may exist as separate independent unidirectional probes, or may exist as bidirectional probes in which the output probes and the input probes are combined. In addition, the probe clock used in the present invention may generate and use a clock separate from the user clocks used in the design verification target circuit from the system clock, or may use one of the user clocks (for example, the fastest clock).

상기 설계검증 시스템소프트웨어는 설계검증 대상회로에 존재하는 탐침대상 신호선들 및 메모리, 또는 설계검증 HDL 코드에 존재하는 탐침대상 시그널들 및 메모리 블럭을 설계자로부터 수동으로 입력받는 혹은 자동으로 결정하는 단계를 포함하며, 임의의 프로토타이핑 보드나 임의의 PCB 상에 장착된 1이상의 RFPD에 설계 검증 대상회로를 구현하기 위하여 출력탐침대상 신호선들 또는 읽기대상 메모리 영역에서의 특정 시간대 혹은 특정 상황이 발생한 시점에서의 논리값들이 출력탐침선에 일정 시간 동안에만 순차적으로 나타나도록 하며, 입력탐침대상 신호선들 또는 쓰기대상 메모리 영역이 입력탐침선에 특정 시간대에 가해지는 논리값들을 가질 수 있도록 임의의 프로토타이핑 보드나 임의의 PCB 상에 장착된 1이상의 RFPD에 할당된 설계검증 대상회로에 탐침용 부가회로를 부가하여 확장된 설계검증 대상회로를 생성하는 단계를 더 포함한다. 또한, 출력탐침대상 신호선들과 읽기대상 메모리영역에 대해서는 출력탐침대상 신호선들 상에서의 특정 시간대에서의 논리값들과 메모리 내용을 탐침용 부가회로를 이용하여 해당 RFPD의 출력탐침선에 나타나게 하고 출력탐침선에 나타난 값을 설계검증 인터페이스 모듈을 통하여 서버용 컴퓨터로 전송하며, 입력탐침대상 신호선들과 쓰기대상 메모리 영역에 대해서는 서버용 컴퓨터에서 얻어진 상태정보로부터 입력탐침용 데이터를 생성한 후, 이를 설계검증 인터페이스 모듈을 통하여 해당 RFPD의 입력탐침대상 신호선들에 탐침클럭과만 동기화하면서 인가하거나, 혹은 탐침클럭과 동기화하는 것과 더불어 탐침모드제어신호선을 통하여 탐침모드를 입력탐침모드와 출력탐침모드간으로 적절히 변화시켜가면서 인가하여 입력탐침대상 신호선들의 논리값과 쓰기대상 메모리 영역의 내용이 입력탐침선을 통하여 전송되어진 논리값들을 가지게 함으로서 RFPD에 구현된 설계검증대상회로의 상태정보가 상기 서버용 컴퓨터에서 얻어진 상태정보와 같게끔 설정하는 단계를 포함한다.The design verification system software includes a step of manually inputting or automatically determining, on the tamper signal lines and memory present in the design verification target circuit, or on the tamper signals and memory block present in the design verification HDL code, from the designer. In order to implement the design verification circuit in one or more RFPDs mounted on an arbitrary prototyping board or an arbitrary PCB, logic at a specific time zone or at a specific time in a signal line on an output probe or a memory area to be read is generated. Allows values to appear sequentially on the output probe only for a certain period of time, and can be used by any prototyping board or arbitrary to ensure that the signal lines on the input probe or the memory area to be written have logic values applied to the input probe at specific times. Design verification target assigned to one or more RFPD mounted on PCB The furnace adding a probe for adding circuit further includes the step of generating the extended design verification circuit. In addition, for the signal lines on the output probe and the memory area to be read, the logic values and the contents of the memory at specific time points on the signal lines on the output probe are displayed on the output probe of the corresponding RFPD using the probe additional circuit. The value displayed on the line is transmitted to the server computer through the design verification interface module. For the signal lines on the input probe and the memory area to be written, the input probe data is generated from the status information obtained from the server computer. The signal line on the input probe of the RFPD is applied while synchronizing with the probe clock only, or synchronized with the probe clock, and the probe mode is properly changed between the input probe mode and the output probe mode through the probe mode control signal line. Field of input signal lines And setting the status information of the design verification target circuit implemented in the RFPD to be the same as the status information obtained from the server computer by having the logic value and the contents of the write target memory area have the logic values transmitted through the input probe line.

이상과 같은 설계검증 장치 및 설계검증 방법을 이용하면 설계검증 대상회로에 탐침용 부가회로가 부가되어진 확장된 설계검증 대상회로가 구현된 1이상의 반도체 칩이 장착된 임의의 프로토타이핑 보드나 임의의 PCB와 임의의 시뮬레이터를 함께 이용하여 에뮬레이션과 시뮬레이션을 시간적이나(temporally) 혹은 공간적으로(spatially) 혼합한 설계검증을 수행할 수 있다. 즉, 이와 같은 에뮬레이션과 시뮬레이션 혼합 검증은 상기 설계검증 시스템소프트웨어는 설계검증 대상회로에 존재하는 탐침대상 신호선들 및 메모리, 또는 설계검증 HDL 코드에 존재하는 탐침대상 시그널들 및 메모리 블럭을 설계자로부터 수동으로 입력받거나 자동으로 결정하는 단계를 포함하며, 임의의 프로토타이핑 보드나 임의의 PCB 상에 장착된 1이상의 RFPD에 구현된 설계검증 대상회로 전체나 혹은 설계검증 대상회로 부분에 존재하는 출력탐침대상 신호선들 또는 읽기대상 메모리 영역에서의 특정 시간대 혹은 특정 상황이 발생한 시점에서의 논리값들이 출력탐침선에 일정 시간 동안에만 순차적으로 나타나도록 하며, 입력탐침대상 신호선들 또는 쓰기대상 메모리 영역이 입력탐침선에 특정 시간대에 가해지는 논리값들을 가질 수 있도록 임의의 프로토타이핑 보드나 임의의 PCB 상에 장착된 1이상의 RFPD에 할당된 설계검증 대상회로 전체나 혹은 설계검증 대상회로 부분에 탐침용 부가회로를 부가하여 확장된 설계검증 대상회로 전체나 혹은 확장된 설계검증 대상회로 부분을 생성하는 단계를 더 포함한다. 또한, 출력탐침대상 신호선들과 읽기대상 메모리 영역에 대해서는 출력탐침대상 신호선들 상에서의 특정 시간대에서의 논리값들과 메모리 내용을 탐침용 부가회로를 이용하여 해당 RFPD의 출력탐침선에 나타나게 하고 출력탐침선에 나타난 값을 설계검증 인터페이스 모듈을 통하여 서버용 컴퓨터로 전송하여 설계검증 대상회로 전체나 혹은 설계검증 대상회로 부분의 현재 상태정보나 현재 탐침신호선들의 논리정보를 시뮬레이터가 시뮬레이션을 위한 초기 상태값이나 초기 값으로 가질 수 있도록 하며, 입력탐침대상 신호선들과 쓰기대상 메모리 영역에 대해서는 서버용 컴퓨터에서 시뮬레이션을 통하여 얻어진 상태정보나 논리값정보로부터 입력탐침용 데이터를 생성한 후, 이를 인터페이스 모듈과 인터페이스 케이블을 통하여 해당 RFPD의 입력탐침대상 신호선들에 탐침클럭과만 동기화하면서 인가하거나, 혹은 탐침클럭과 동기화하는 것과 더불어 탐침모드제어신호선을 통하여 탐침모드를 입력탐침모드와 출력탐침모드간으로 적절히 변화시켜가면서 인가하여 입력탐침대상 신호선들의 논리값과 쓰기대상 메모리 영역의 내용이 입력탐침선을 통하여 전송되어진 논리값들을 가지게 함으로서 RFPD에 구현된 설계검증 대상회로 전체 또는 설계검증 대상회로 부분의 상태정보 혹은 논리값정보가 시뮬레이터에서 일정기간 동안 시뮬레이션을 통하여 생성된 상태정보 혹은 논리값정보와 같게끔 설정하는 단계를 포함한다. 이와 같은 임의의 프로토타이핑 보드나 임의의 PCB 상에 장착된 1이상의 RFPD와 임의의 시뮬레이터 간의 상태정보 혹은 논리값정보의 교환은 시뮬레이터에 마련되어진 FLI(Foreign Language Interface)나 PLI(Programming Language Interface)를 이용한다면 API(Application Program Interface) 수준에서 이루어질 수 있음으로 오버헤드를 최소화하면서 가능하다.By using the above-described design verification apparatus and design verification method, any prototyping board or any PCB equipped with one or more semiconductor chips in which an extended design verification target circuit in which a probe additional circuit is added to the design verification target circuit is implemented. And arbitrary simulators can be used to perform design verification by temporally or spatially mixing emulation and simulation. In other words, such emulation and simulation mixed verification may be performed by the design verification system software. The design verification system software may manually designate the signal signals and memory blocks present in the circuit to be verified, or the signals and memory blocks present in the design verification HDL code. The signal lines on the output probes present in the entire design verification circuit or part of the design verification circuit implemented in one or more RFPDs mounted on any prototyping board or any PCB. Alternatively, logic values at a specific time zone or at a specific time in the memory area to be read are sequentially displayed on the output probe only for a certain time, and signal lines or input memory areas on the input probe are specified to the input probe. To have logical values applied to the time zone The entire design verification circuit or the extended design by adding the probe additional circuit to the entire design verification circuit or part of the design verification circuit which is allocated to one or more RFPDs mounted on a prototyping board or an arbitrary PCB Generating a portion of the circuit to be verified. In addition, for the signal lines on the output probe and the memory area to be read, the logic values and the contents of the memory at specific time points on the signal lines on the output probe are displayed on the output probe of the corresponding RFPD using the probe additional circuit. The value displayed on the line is transmitted to the server computer through the design verification interface module so that the simulator can calculate the current status information or the logic information of the current probe signal lines of the entire design verification circuit or the part of the design verification circuit. For the signal lines on the input probe and the memory area to be written, the input probe data is generated from the state information or the logic value information obtained through the simulation on the server computer, and then the input probe data is generated through the interface module and the interface cable. Input probe of corresponding RFPD Apply to the target signal lines while synchronizing only with the probe clock, or by synchronizing with the probe clock and changing the probe mode between the input probe mode and the output probe mode through the probe mode control signal line. By making the logic value and the contents of the memory area to be written have the logic values transmitted through the input probe line, the state information or logic value information of the entire design verification circuit or part of the design verification circuit implemented in the RFPD is stored for a certain period of time in the simulator. And setting the same as the state information or logic value information generated through the simulation. The exchange of state information or logic value information between any one or more RFPDs mounted on any prototyping board or any PCB and any simulator may be performed by using a foreign language interface (FLI) or a programming language interface (PLI) provided in the simulator. This can be done at the API (Application Program Interface) level, with minimal overhead.

이상과 같이 본 발명의 설계검증 장치 및 설계검증 방법을 이용하여 에뮬레이션과 시뮬레이션 간의 자동화된 방식으로 혼합 검증을 하기 위해서는 에뮬레이션과 시뮬레이션 간의 수행 전환이 자동으로 이루어져야 하는데 이와 같은 것을 수행모드 스위칭(execution mode switching)이라고 칭하며 이와 같은 수행모드 스위칭은 매클럭마다 이루어지거나, 혹은 특정 조건이 만족되어질 때 (예를 든다면 회로내의 특정 레지스터에 특정 값이 두 번 쓰여지는 시점) 이루어질 수 있는데 이와 같은 조건을 수행모드 스위칭 조건이라 칭한다. 이와 같은 수행모드 스위칭 조건은 전체 검증 과정에서 시간적으로 전후 관계가 있는 2이상 될 수 있는데 이와 같은 경우에는 시간적으로 맨 처음에 설정된 조건에서부터 나중에 설정된 조건 순으로 나열된 상태에서 조건이 만족하는 시점에서 에뮬레이션에서 시뮬레이션으로 혹은 시뮬레이션에서 로직에뮬레이션으로의 수행모드 스위칭이 일어나게 된다. 이를 위해서는 수행모드 스위칭 조건들을 큐(queue)에 저장시켜 놓을 필요가 있는데 이를 수행모드 스위칭 조건 큐라고 칭하며 설계검증 시스템소프트웨어 내부에서 이를 자료구조(data structure) 형태로 유지하게 된다.As described above, in order to perform mixed verification in an automated manner between emulation and simulation by using the design verification apparatus and the design verification method of the present invention, performance switching between emulation and simulation should be automatically performed. The execution mode switching can be performed every clock or when a specific condition is satisfied (for example, when a specific value is written twice to a specific register in the circuit). This is called a switching condition. The execution mode switching condition may be two or more times temporally related to the entire verification process. In such a case, the emulation mode may be changed when the condition is satisfied in the order of the condition set first from the time set later. Execution mode switching from simulation or simulation to logic emulation occurs. To do this, it is necessary to store the execution mode switching conditions in a queue, which is called the execution mode switching condition queue, and maintains it in the form of a data structure in the design verification system software.

이와 같은 입출력탐침을 통하여 임의의 프로토타이핑 보드나 임의의 PCB를 이용한 에뮬레이션과 서버용 컴퓨터에서 수행하는 시뮬레이션을 1회 이상 번갈아가면서 수행할 수 있게 된다. 특히 설계검증 대상회로에 조합적 폐회로(combinational feedback loop)가 존재하지 않는 경우에는, 출력탐침 대상 신호선들이 설계검증 대상회로에 존재하는 모든 메모리소자(플립플롭이나 래치)들의 출력선들이거나(이때의 출력탐침된 모든 메모리소자의 값들을 완전상태정보라 칭함), 출력탐침 대상 신호선들이 설계검증 대상회로에 존재하는 부분 메모리소자들의 출력선들인 경우에도 이 부분 메모리소자들의 출력선 값들로부터 1이상의 클럭사이클을 진행하여 나머지 메모리소자들의 모든 값들을 결정해 낼 수 있다면(이때의 출력탐침된 부분 메모리소자의 값들을 완전가능부분상태정보라 칭함) 출력탐침된 신호선들의 논리값들을 서버용 컴퓨터에 있는 시뮬레이터로 전달하여 에뮬레이션에 이은 시뮬레이션을 연속되게 진행할 수 있다. 만일 설계검증 대상회로에 조합적 폐회로가 1이상 포함되어 있는 경우에는 각 조합적 폐회로들 마다 이 폐회로를 끊을(cut) 수 있는 조합적 폐회로에 존재하는 조합적 신호선들 각각들도 출력탐침 대상 신호선들에 포함되어야만 한다. 이상과 같은 에뮬레이션과 시뮬레이션을 1회 이상 번갈아 가면서 수행할 수 있게 되면 임의의 프로토타이핑 보드나 임의의 PCB를 사용하여 설계검증을 수행하는 단계에서 아래와 같은 수많은 이점들이 있다.Through this I / O probe, it is possible to alternately perform one or more simulations on the server computer and emulation using an arbitrary prototyping board or an arbitrary PCB. In particular, when there is no combinatorial feedback loop in the circuit under design verification, the output probe signal lines are the output lines of all memory elements (flip-flops or latches) present in the circuit under design verification (output at this time). The values of all probed memory elements are referred to as complete state information.) Even when the output probe target signal lines are output lines of partial memory elements present in the design verification target circuit, one or more clock cycles are output from the output line values of these partial memory elements. If it is possible to determine all the values of the remaining memory devices (the values of the output probed partial memory devices at this time are called complete partial state information), the logic values of the output probed signal lines are transferred to the simulator of the server computer. Following the emulation, the simulation can proceed continuously. If more than one combinational closed circuit is included in the design verification target circuit, each of the combinational signal lines present in the combined closed circuit that can cut the closed circuit in each combination closed circuit is also used as the output probe target signal line. Should be included in If the above emulation and simulation can be performed alternately one or more times, there are numerous advantages in performing design verification using an arbitrary prototyping board or an arbitrary PCB.

우선, 현재의 SoC(System On a Chip) 환경에서의 설계 검증에서는 시뮬레이션을 위한 테스트 벤치의 생성에 많은 시간과 비용이 투입되어야만 한다. 통상 설계 프로젝트가 완료될 때까지 테스트 벤치를 구현하는 코드의 크기가 전체 설계 코드 크기의 80%까지를 차지할 정도로 테스트 벤치를 설계자가 직접 생성하는 것은 매우 어려운 일이다. 뿐만 아니라, SoC 설계에서 실제 설계된 칩이 실제 환경에서 실제적으로 동작되어지는 수 많은 모든 경우를 다 고려하여 테스트 벤치를 설계자가 직접 생성하는 것도 매우 어려운 일이다. 이에 비하여 ICE 기반의 설계 검증 방법은 설계 검증 대상 회로를 프로토타이핑하여 실제 환경과 같이 연동시켜보는 것이 가능하여, 테스트 벤치를 작성할 필요가 없을 뿐만 아니라 실제 환경에서 실제적 동작에 의한 실제 상황들이 연출되는 것임으로 테스트 벤치를 이용한 것보다 훨씬 신뢰성이 높은 검증을 수행하는 것이 가능한데, 이와 같은 프로토타이핑에 의한 설계 검증을 위해서는 설계 검증 대상 회로가 1이상의 프로그래밍가능 소자로 구현되어 있어야만 한다. 그러나 일반적으로 수많은 설계 오류들이 존재하게 되어 이와 같은 설계 오류들을 적게는 수 차례에서 많게는 수십 차례까지도 수정하여야만 하는 설계 검증 초기 단계에서는 프로토타이핑에 의한 설계 검증을 위해서는 설계 오류가 수정되도록 설계 검증 대상 회로가 구현된 상기 칩 또한 수정이 되어야만 하는데, 이를 위한 시간과 비용이 매우 커서 현실적으로 설계 초기 단계에서는 사용할 수가 없다. 즉, 이 시간과 비용이 그 중 제일 낮은 프로그래밍가능 소자(예로 FPGA)를 사용하는 경우에도 설계 오류가 수정된 설계 검증 대상 회로를 다시 구현하기 위해서는 짧게는 수 시간에서 길게는 수십 시간까지의 재-컴파일 과정이 반드시 필요하여 설계 검증 전체 시간을 크게 증가시키게 된다.First, design validation in today's system on a chip (SoC) environment requires a great deal of time and money to create test benches for simulation. Typically, it is very difficult for a designer to create a test bench by hand, so that the code that implements the test bench takes up to 80% of the overall design code size until the design project is completed. In addition, it is very difficult for designers to create their own test benches in all SoC designs, considering all the many cases in which the actual designed chip is actually operated in a real environment. In contrast, the ICE-based design verification method is capable of prototyping the circuit under design verification and interworking with the real environment, so that there is no need to create a test bench, and actual situations are produced by actual operation in the real environment. As a result, it is possible to perform much more reliable verification than using a test bench. For this design verification by prototyping, the circuit to be verified must be implemented with at least one programmable device. In general, however, there are many design errors, so in the early stages of design validation, which must correct these errors from as few as many to several tens of times, the circuits for design verification are designed so that design errors can be corrected for prototyping. The chip implemented must also be modified, which is very time-consuming and expensive and cannot be used in the early stages of design. In other words, even when using the lowest cost programmable device (eg FPGA), re-implementation of design-verified circuits with corrected design errors can be re-implemented from a few hours to several tens of hours. The compilation process is necessary, which greatly increases the overall design verification time.

그러나, 본 특허에서 제시되는 설계 검증 방법을 사용하게 되면 이와 같은 문제들을 효과적으로 해결하여 빠른 시간 내에 최소의 노력을 들여서 설계 검증을 수행하는 것이 가능하다. 즉, 이미 언급된 대로 설계 검증 대상 회로나 설계 검증대상 HDL 코드에 탐침용 부가회로나 탐침용 부가 HDL 코드를 부가한 확장된 설계검증 대상 회로나 확장된 설계 검증 대상 HDL 코드를 이용하여 에뮬레이션과 시뮬레이션을 시간적으로 그리고 공간적으로 체계적이며 자동화된 방식 하에서 빠르게 온라인과 오프라인 방식을 혼용하여 설계 검증을 수행하는 경우에는 설계 초기 단계에서부터 테스트 벤치를 설계자가 수작업으로 생성할 필요 없이 실제 환경인 ICE 환경에서 실제적으로 연출된 것들을 그대로 이용하는 것이 가능해져서 훨씬 적은 시간과 비용을 들이고도 훨씬 신뢰성이 높은 설계 검증이 가능해진다. 이 뿐만 아니라, 설계 검증이 진행되어감에 따라서 설계 검증 대상 회로의 부분들을 수행 시간이 오래 걸리는 시뮬레이션을 이용하는 대신에 이들 설계 검증 대상 회로의 부분들을 상기 칩들에 점진적으로(incrementally) 구현시켜 시뮬레이터와 함께 수행시킴으로서 에뮬레이션과 시뮬레이션의 공간적 혼용에 의한 수행 속도의 향상을 얻는 것도 가능하게 되고, 궁극적으로는 설계 검증 대상 회로를 전부 칩들에 구현함으로서 에뮬레이션에 의한 초고속의 수행 속도를 얻을 수 있다. 뿐만 아니라 다른 방법들과는 달리 본 특허에서 제시되는 에뮬레이션 방법은 탐침용 부가회로가 부가된 확장된 설계 검증 대상 회로를 이용함으로서 에뮬레이션 도중에서도 설계 검증 대상 회로에 존재하는 모든 신호선들에 대한 완벽한 가시도(visibility)를 가지고 있다는 것도 중요한 장점이다.However, by using the design verification method proposed in this patent, it is possible to effectively solve such problems and perform design verification with minimum effort in a short time. That is, as already mentioned, emulation and simulation using an extended design verification circuit or an extended design verification circuit that adds a probe additional circuit or a probe additional HDL code to the design verification circuit or the design verification HDL code. Time and space in a systematic and automated way, when design validation is performed quickly using a mix of online and offline methods, it is not necessary to manually create a test bench from the early stage of the design. It is possible to use the results as they are, allowing for much more reliable design verification with much less time and cost. In addition, as the design verification progresses, instead of using simulations that take a long time to perform the parts of the design verification circuit, the parts of these design verification circuits are incrementally implemented on the chips together with the simulator. It is possible to improve the execution speed by spatial mixing of emulation and simulation, and ultimately, by implementing all the circuits for design verification on the chips, it is possible to obtain the ultra-fast execution speed by emulation. In addition, unlike other methods, the emulation method presented in this patent utilizes an extended design verification circuit with a probe additional circuit, thereby providing complete visibility of all signal lines present in the design verification circuit even during emulation. It's also an important advantage.

또한 상기에서 제시된 방법은 설계 검증 초기 단계에서는 설계 검증 대상 회로 전체에 대한 완전 시뮬레이션으로 시작하여, 설계 검증이 진행되어감에 따라서 설계 검증 대상 회로의 일부분을 위해서는 시뮬레이션과 나머지 부분에 대해서는 에뮬레이션을 혼용하게 되고, 궁극적으로는 설계 검증 대상 회로 전체에 대한 완전에뮬레이션으로 설계 검증을 하는 방법인데 반하여, 이를 역순으로 진행시키는 것도 가능하다. 즉, 설계 검증 초기 단계에서부터 초고속의 수행 속도를 얻는 것이 필요하면 설계 검증 대상 회로 전체를 프로토타이핑에 의한 설계 검증을 하기 위하여 1이상의 프로그래밍가능 소자로 구현하여 에뮬레이션을 수행하고 설계 오류들이 발견되는 경우에는 상기 칩들에 설계 오류를 제거한 새로운 설계 검증 대상 회로 전체를 다시 구현하는 것 대신에 설계 오류들을 가진 HDL 코드 블록들만을 수정시켜 이들 수정된 HDL 코드 블록들은 시뮬레이션으로 수행시키고 나머지 부분들을 계속 에뮬레이션으로 수행시키는 것도 가능하다.In addition, the proposed method starts with a full simulation of the entire design verification circuit in the initial stage of design verification, and as the design verification proceeds, the simulation and the emulation for the rest of the design verification circuit are mixed. In the end, it is possible to perform the design verification through the full emulation of the entire circuit to be verified. In other words, if it is necessary to obtain the high-speed execution speed from the initial stage of design verification, emulation is performed by implementing one or more programmable elements for design verification by prototyping the entire circuit for design verification. Instead of re-implementing the entire new design-verification circuit that eliminates design errors on the chips, only the HDL code blocks with design errors are corrected so that these modified HDL code blocks are simulated and the remaining parts are continuously emulated. It is also possible.

이제부터는 이상과 같은 에뮬레이션과 시뮬레이션을 공간적으로 혼용하여 수행시키는 방법을 좀 더 자세하게 설명하기로 하며, 이를 위하여 도4 를 이용하기로 한다. 도4 는 설계 검증 대상 회로 전체가 시뮬레이션으로 수행되는 상황의 일 예를 개략적으로 도시한 도면으로, 이미 언급한 대로 이와 같은 방식의 장점은 설계 검증 대상 회로의 시뮬레이션을 위하여 설계자가 별도의 테스트 벤치를 생성하지 않고 ICE 방식으로 실제 환경에서 일어나는 상황을 테스트 벤치로 이용할 수 있음으로 신뢰성 있는 검증을 효과적으로 할 수 있다는 것이다. 이를 위하여 시뮬레이션으로 수행되는 설계 검증 대상 회로뿐만 아니라 ICE 환경을 형성하는 실제의 주변환경까지도 설계검증 시스템소프트웨어가 완전히 제어하며 수행할 수 있어야만 한다 (즉, 본 특허에서의 설계검증 방법에서는 시뮬레이터뿐만 아니라 ICE 환경까지도 설계검증 시스템소프트웨어가 완벽하게 제어하게 된다. 이와 같은 의미에서 본 특허에서의 에뮬레이션은 시뮬레이션가속과 차이가 없음).Now, the method of performing the above-mentioned emulation and simulation spatially mixed will be described in more detail, and FIG. 4 will be used for this. 4 is a view schematically illustrating an example of a situation in which the entire design verification circuit is performed by simulation. As described above, the advantage of this method is that a designer may use a separate test bench to simulate the design verification circuit. What happens in the real world using the ICE method, without creating it, can be used as a test bench for reliable verification effectively. To this end, the design verification system software must be able to control and carry out not only the circuits to be verified by design but also the actual surroundings that form the ICE environment (that is, not only the simulator but also the ICE Even the environment is completely controlled by the design verification system software, and in this sense, the emulation in this patent is no different from the acceleration of simulation).

도5 는 도4 에서 시뮬레이션으로 수행되었던 설계 검증 대상 회로의 일부분이 시뮬레이션으로 수행되는 동시에 다른 나머지 부분은 에뮬레이션으로 수행되는 상황의 일 예를 개략적으로 도시한 도면으로, 이미 언급한 대로 이와 같은 방식의 장점은 설계 검증 초기에서는 설계 검증 대상회로의 대부분이 시뮬레이션으로 수행하다가 설계 검증이 진행되어감에 따라서 점차적으로 설계 검증 대상 회로의 많은 부분이 에뮬레이션으로 수행되어지게 함으로서 검증 수행 속도를 크게 높일 수 있거나, 혹은 반대로 설계 검증 초기에서는 설계검증 대상 회로의 대부분을 에뮬레이션으로 수행하다가 설계 오류가 발견된 회로부분들만을 체계적이며 자동화된 방식을 채용하여 순간적으로 시뮬레이션으로 수행하게 함으로서 빠른 검증 수행 속도와 실행 및 디버깅을 위한 준비과정을 크게 단축시킬 수 있다는 것이다. 이를 위하여서도 시뮬레이션으로 수행되는 설계 검증 대상 부분 회로뿐만 아니라 ICE 환경을 형성하는 실제의 주변환경과 에뮬레이션으로 수행되는 설계 검증 대상 나머지 부분 회로까지도 설계검증 시스템소프트웨어가 완전히 제어하며 수행할 수 있어야만 한다. 이를 위하여 본 발명에서는 시스템 클럭을 설계검증 인터페이스 모듈에서 생성하여 ICE 환경에 공급할 뿐만 아니라 시뮬레이션에 공급되는 시뮬레이션 클럭도 상기 시스템 클럭의 제어 하에서 해당 시뮬레이터로 공급되어진다.FIG. 5 is a view schematically showing an example of a situation in which a part of a design verification target circuit that was performed by simulation in FIG. 4 is performed by simulation while the other part is performed by emulation. As described above, FIG. The advantage is that in the early stage of design verification, most of the circuits for design verification are performed by simulation, and as the design verification proceeds, a large part of the circuits for design verification is gradually performed by emulation. On the contrary, in the early stage of design verification, most of the circuits for design verification are emulated, and only the parts of the circuit where design errors are found are instantaneously simulated using a systematic and automated method. It is that the preparation process can be significantly shortened for. To this end, the design verification system software must be able to fully control and carry out not only the partial circuits to be verified by design but also the actual surrounding environment forming the ICE environment and the remaining partial circuits to be verified by emulation. To this end, in the present invention, the system clock is generated in the design verification interface module and supplied to the ICE environment, and the simulation clock supplied to the simulation is also supplied to the simulator under the control of the system clock.

특히 이와 같은 입출력 탐침 방법을 이용한 점진적 프로토타이핑 기법을 채용하는 경우에 최근 들어 Xilinx나 Altera와 같은 FPGA 벤더들이나 Synopsys나 Synplicity, Mentor Graphics와 같은 EDA 툴 벤더들이 제공하는 점진적 설계(incremental design) 기법(혹은 modular design 방식이라고도 함)을 채용한 설계 툴들을 같이 사용하게 되면 해당 FPGA 칩에 한번에 설계 검증 대상 회로 전체를 구현하는 대신에 특정 시점에서 원하는 설계 검증 대상 회로 부분만을 선택적으로 빠르게 구현하는 것이 가능하고, 이로 인하여 설계 검증 대상 회로를 모듈별로 나누어서 모듈을 하나 이상씩 선택하여 점진적으로 FPGA 칩에 구현시킴으로 다른 모듈들과의 상관 관계를 최소화하면서 해당 모듈들의 수행 방식을 시뮬레이션에서 에뮬레이션으로 빠른 시간 내에 전환시키는 것도 가능하다.In particular, in the case of adopting a progressive prototyping technique using such an input / output probe method, the incremental design technique (or the recent) provided by FPGA vendors such as Xilinx and Altera or EDA tool vendors such as Synopsys, Synplicity, and Mentor Graphics When used together, the design tools employing the modular design method, instead of implementing the entire design verification circuit on the FPGA chip at once, can selectively and quickly implement only the desired design verification circuit portion at a specific point in time. As a result, by dividing the circuits to be verified for each module into modules, one or more modules are selected and gradually implemented in the FPGA chip, thereby minimizing correlation with other modules and quickly changing the performance of the modules from simulation to emulation. It is possible.

또한 본 설계 검증 방법은 기 출원된 "신속한 입출력탐침 장치 및 이를 이용한 입출력탐침 방법과 이를 기반으로 하는 혼합 에뮬레이션/시뮬레이션 방법"(PCT 출원번호: PCT/KR01/01092)과 마찬가지로 에뮬레이션 시에도 시뮬레이션을 통하여 임의의 프로토타이핑 보드나 임의의 PCB 상의 1 이상의 RFPD에 구현된 설계검증 대상회로에서 출력탐침을 통하여 탐침될 수 있는 신호선들 뿐만 아니라, 이외의 나머지 신호선들 모두에 대하여 RFPD의 재 컴파일(re-compile) 과정이 없이도 100% 탐침이 가능하게 된다. 이와 같은 재 컴파일 과정을 최대한으로 생략시키는 것이 디버깅 과정에서 극히 중요한 이유는 최근의 수백만 게이트급의 RFPD를 컴파일하는 시간이 짧게는 수십분에서 길게는 수시간까지 필요하기 때문이다. 따라서 RFPD에 구현된 회로에 대한 디버깅 과정에서 제일 중요한 것 중의 하나는 상기 RFPD에 대한 재 컴파일을 최대한도로 억제함으로서 신속한 디버깅이 가능하게 하는 것이다. 상기 시뮬레이션과 에뮬레이션을 같이 이용하여 설계검증을 수행하면 이와 같은 RFPD에 대한 재 컴파일 과정 없이도 디버깅 과정에서 반드시 필요한 설계검증 대상회로에 존재하는 모든 신호선들에 대한 100% 가시성(visibility)이 에뮬레이션 도중에서도 완벽하게 마련되어 진다는 것이 본 점진적 설계 검증 방법의 또다른 장점이다.In addition, the present design verification method is similar to the "quick input / output probe device and the input / output probe method using the same and a mixed emulation / simulation method based on the same" (PCT application No. PCT / KR01 / 01092), which have been previously applied, through simulation. Re-compile RFPD for all other signal lines, as well as signal lines that can be probed through the output probe in any design verification circuit implemented in one or more RFPDs on any prototyping board or any PCB. 100% probe is possible without process. The omission of this recompilation process is of utmost importance in the debugging process, since the time required to compile the latest multi-million-gate RFPD requires as little as tens of minutes to hours. Therefore, one of the most important things in the debugging process for the circuit implemented in the RFPD is to enable rapid debugging by maximally suppressing the recompilation of the RFPD. When design verification is performed using the simulation and emulation together, 100% visibility of all signal lines present in the design verification target circuit, which is essential for debugging, is completely achieved even during emulation without recompiling the RFPD. It is another advantage of this incremental design verification method.

상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 이점들은 첨부한 도면을 참조한 실시예에 대한 상세한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.Other objects and advantages of the present invention in addition to the above object will become apparent from the detailed description of the embodiments with reference to the accompanying drawings.

이하, 본 발명의 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 설명하기로 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도1 은, 서버용 컴퓨터에서 운영되는 설계검증 시스템소프트웨어와 시뮬레이터와, 설계검증 인터페이스 모듈로 구성된 본 발명에 관한 설계 검증 장치를 개략적으로 도시한 도면이다.1 is a diagram schematically showing a design verification apparatus according to the present invention composed of a design verification system software running on a server computer, a simulator, and a design verification interface module.

도2 는 출력탐침 부가회로를 설계 검증 대상 회로에 부가한 일 예를 개략적으로 도시하는 도면이며, 도3 은 입력탐침 부가회로를 설계 검증 대상회로에 부가한 일 예를 개략적으로 도시하는 도면이다.2 is a diagram schematically showing an example in which an output probe addition circuit is added to a design verification target circuit, and FIG. 3 is a diagram schematically showing an example in which an input probe addition circuit is added to a design verification target circuit.

이와 같이 설계검증 대상회로에 탐침용 부가회로가 부가되어져서 생성된 확장된 설계검증 대상회로는 임의의 프로토타이핑 보드나 임의의 PCB 상의 1이상의 RFPD에 구현되고, 프로토타이핑 보드를 실행시켜 에뮬레이션 기반의 검증을 수행하는 과정에서 특정 시점이나 특정 상황이 발생한 시점에서 시뮬레이션으로의 전환이 필요한 경우에 설계검증 시스템소프트웨어가 이를 감지하여 에뮬레이션의 수행을 중지하고 설계검증 시스템소프트웨어의 제어 하에 해당 1이상의 RFPD가 정상모드에서 출력탐침 모드로 전환되어진 후 탐침클럭이 RFPD에 가해지면 1 이상의 쉬프트레지스터 어레이 구조 각각에 존재하는 하나의 플립플롭의 출력에 연결된 1이상의 출력탐침선을 통하여 탐침대상이 되는 신호선들에서의 논리값들이 설계검증인터페이스 모듈을 통하여 서버용 컴퓨터로 전송된다. 그런데, 입출력탐침 시점은 에뮬레이션 수행 전에 정적으로(statically) 결정될 수 있고, 에뮬레이션 수행 도중에 특정 상황이 발생한 시점과 같이 동적으로(dynamically) 결정될 수 있는데 특정 상황이 발생한 시점과 같은 에뮬레이션의 상황에 종속작인 입출력탐침 시점을 결정하기 위해서는 로직분석기(logic analyzer)와 같은 외부장비를 사용하여 이를 관측하고 입출력탐침 시점을 결정할 수 있으며, 또는 RFPD 내부에 동작 상황을 검출하는 입출력탐침시점 검출기(detector) 회로를 추가적으로 부가함으로써 입출력탐침 상황을 출력시키고 이를 설계검증 시스템소프트웨어가 감지하여 입출력탐침을 시작할 수도있다. RFPD 내부에 상기 입출력탐침시점 검출기 회로를 탐침용 부가회로와 더불어 추가적으로 설계검증 대상회로에 부가하는 경우에는 이의 자동적인 생성과 부가도 또한 설계검증 시스템소프트웨어가 담당하게 된다.The extended design verification target circuit generated by adding the probe additional circuit to the design verification target circuit is implemented in one or more RFPDs on an arbitrary prototyping board or an arbitrary PCB. In the process of performing the verification, when the transition to simulation is necessary at a certain time or when a certain situation occurs, the design verification system software detects this and stops emulation and the one or more RFPDs under normal control of the design verification system software are normal. When the probe clock is applied to the RFPD after switching from mode to output probe mode, the logic on the signal lines that are probed through one or more output probes connected to the output of one flip-flop in each of the one or more shift register array structures Values are passed through the design verification interface module. It is sent to the server computer. However, the input / output probe timing may be determined statically before emulation, and may be determined dynamically such as when a specific situation occurs during emulation, and the input / output dependent on the emulation situation such as when a specific situation occurs. In order to determine the probe time point, an external device such as a logic analyzer can be used to observe it and determine the input / output probe time point, or an additional input / output probe time detector circuit for detecting an operation state inside the RFPD is added. By outputting the I / O probe status, the design verification system software can detect and start the I / O probe. When the input / output probe point detector circuit is additionally added to the design verification circuit along with the probe additional circuit inside the RFPD, the automatic generation and addition of the input / output probe point detector circuit is also in charge of the design verification system software.

입력탐침의 경우에는 설계검증 시스템소프트웨어가 프로토타이핑 보드 상의 해당 1이상의 RFPD에 대한 입력탐침용 데이터를 생성한 다음, 설계검증 시스템소프트웨어의 제어 하에 동작모드를 입력탐침 모드로 전환하고 난 후, 탐침클럭이 RFPD에 가해지면서 1 이상의 쉬프트레지스터 어레이 구조 각각에 존재하는 하나의 플립플롭의 입력에 논리적으로 연결된 1 이상의 입력탐침선을 통하여 서버용 컴퓨터로부터 설계검증 인터페이스 모듈을 통하여 전송된 입력탐침용 데이터가 1 이상의 쉬프트레지스터 어레이 구조 각각에 존재하는 플립플롭들에 저장되고 이렇게 저장된 입력탐침용 데이터로써 최종적으로 입력탐침 대상이 메모리소자의 출력인 경우(레치의 경우에는 이를 플립플롭과 멀티플렉서를 이용하여 등가회로로 변환시킨 후에 적용하며, 이에 대한 자세한 설명은 PCT출원번호: PCT/KR01/01092를 참조함)에는 입력탐침대상 플립플롭들을 동기적(synchronous) 셋(set) 또는 리셋(reset) 동작, 혹은 비동기적(asynchronous) 셋 또는 리셋 동작에 이은 동기적 셋 또는 리셋 또는 비동기적 셋 또는 리셋 동작에 이은 동기적 디스에이블(disable) 동작으로 임의의 프로토타이핑 보드나 임의의 PCB 상에 장착된 1이상의 RFPD에 입력탐침이 이루어 질 수 있게 하고, 입력탐침 대상 신호선들이 조합회로의 출력이나 입력인 경우에는 입력탐침용 데이터들이 저장된 상기 쉬프트레지스터 어레이 구조 각각에 존재하는 플립플롭들의 출력 각각이 해당 입력탐침 대상 신호선들에 연결되도록 상기 쉬프트레지스터 어레이 구조 각각에 존재하는 플립플롭들의 출력에 있는 멀티플렉서의 선택입력을 제어하는 동작으로 임의의 프로토타이핑 보드나 임의의 PCB 상에 장착된 1이상의 RFPD에 입력탐침이 이루어 질 수 있게 한다.In the case of input probes, the design verification system software generates input probe data for one or more RFPDs on the prototyping board, then switches the operation mode to the input probe mode under the control of the design verification system software, and then the probe clock One or more input probe data transmitted from the server computer through the design verification interface module through one or more input probes logically connected to the input of one flip-flop present in each of the one or more shift register array structures applied to the RFPD. The input probe data stored in the flip-flops existing in each shift register array structure, and thus the input probe object is the output of the memory device (in the case of a latch, it is converted into an equivalent circuit using a flip-flop and a multiplexer). After applying it, For further details, see PCT Application No .: PCT / KR01 / 01092) .Flip-flops on the input probe can be synchronously set or reset, or asynchronously set or reset. Following a synchronous set or reset or asynchronous set or reset operation, a synchronous disable operation enables the input probe to be made on one or more RFPDs mounted on any prototyping board or any PCB. If the input probe target signal lines are an output or an input of a combination circuit, the shift register array structure such that each of the outputs of the flip-flops existing in each of the shift register array structures in which the input probe data is stored is connected to the corresponding input probe target signal lines. Arbitrary prototypes that control the selection input of the multiplexer at the output of each flip-flop Ping is able to be done in the input probe RFPD board or the at least one mounted on any PCB.

도4 는 설계 검증 대상 회로 전체가 시뮬레이션으로 수행되는 상황의 일 예를 개략적으로 도시한 도면이며, 도5 는 설계 검증 대상 회로 일부분이 시뮬레이션으로 수행되는 동시에 다른 나머지 부분은 에뮬레이션으로 수행되는 상황의 일 예를 개략적으로 도시한 도면이다. 설계검증 대상회로 전체에서 시뮬레이션되는 설계검증 대상회로의 부분(92)은 설계오류의 원인 파악을 위해서 100% 가시도가 필요한 설계검증 대상회로의 부분이거나, 혹은 설계오류 등으로 인하여서 설계수정이 이루어진 설계검증 대상회로(이와 같이 설계수정이 이루어진 설계검증 대상회로를 시뮬레이션으로 수행하면 매우 짧은 컴파일시간 후에 시뮬레이션 수행이 가능함)의 부분일 수 있다.4 is a view schematically showing an example of a situation in which the entire design verification target circuit is performed by simulation, and FIG. 5 is a situation in which a part of the design verification target circuit is performed by simulation while the other part is performed by emulation. It is a figure which shows an example schematically. The part 92 of the design verification target circuit simulated throughout the design verification target circuit is a part of the design verification target circuit that requires 100% visibility to identify the cause of the design error, or the design modification is performed due to the design error. It may be a part of the design verification target circuit (simulation of the design verification target circuit in which the design correction is performed as such is possible after a very short compile time).

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 설계 검증 장치 및 이를 이용한 설계 검증 방법의 목적은 초대규모급 설계 검증을 위한 하드웨어 적으로 구현된 대규모 디지털 시스템의 에뮬레이션과 시뮬레이션을 혼용하는 설계검증을 수행하여 설계검증 대상회로의 규모가 시뮬레이션의 한계를 넘어가는 경우에도 상기 에뮬레이션과 시뮬레이션을 혼용한 설계검증 방법을 적용하여 신속하게 설계검증을 가능하도록 한다. 구체적으로는, 설계 오류들을 신속하게 발견하도록 하는 것을 가능하게 할뿐만 아니라, 이들 발견된 설계 오류들을 신속하게 수정하도록 하는 것도 가능하다.As described above, an object of the design verification apparatus and the design verification method using the same according to the present invention is to verify design by performing emulation and simulation of a large-scale digital system embodied in hardware for ultra-scale design verification. Even if the scale of the target circuit exceeds the limit of simulation, the design verification method using the above emulation and simulation can be applied to quickly verify the design. Specifically, it is not only possible to quickly find design errors, but also to fix these found design errors quickly.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 실시예에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의하여 정하여져야만 한다.Those skilled in the art will appreciate that various changes and modifications can be made without departing from the technical spirit of the present invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the embodiments, but should be defined by the claims.

Claims (9)

임의의 프로토타이핑 보드 또는 임의의 PCB 상에 장착된 1이상의 프로그래밍가능 소자에 구현되는 설계검증 대상HDL코드를 위한 탐침용 부가회로를 설계검증 대상HDL코드에 부가하여서, 상기 설계검증 대상HDL코드에 존재하는 1 이상의 특정 신호선들에 대하여 입출력탐침이 가능하게 하는 단계와,A probe additional circuit for a design verification target HDL code implemented in one or more programmable devices mounted on an arbitrary prototyping board or an arbitrary PCB is added to the design verification target HDL code, and present in the design verification target HDL code. Enabling input / output probes for one or more specific signal lines, 상기 1이상의 프로그래밍가능 소자에 상기 설계검증 대상HDL코드의 1 이상의 특정 신호선들에 대한 입출력탐침이 가능한 회로가 구현되고, 설계검증 대상HDL코드가 에뮬레이션으로 수행되는 단계와,Implementing a circuit capable of input / output probing to one or more specific signal lines of the design verification target HDL code in the at least one programmable device, and performing the design verification target HDL code by emulation; 상기 설계검증 대상HDL코드의 일부분을 시뮬레이터에서 시뮬레이션으로도 수행이 되도록 하는 단계와,A part of the design verification target HDL code to perform a simulation in the simulator, and 상기 1이상의 프로그래밍가능 소자에 구현된 설계검증 대상HDL코드가 에뮬레이션으로 수행되는 과정 중의 1 이상의 임의의 시점에서 상기 1이상의 프로그래밍가능 소자에 구현된 설계검증 대상HDL코드에 존재하는 상기 1 이상의 특정 신호선들에 대한 입출력탐침을 수행함으로 인하여, 상기 1이상의 프로그래밍가능 소자에 구현된 설계검증 대상HDL코드가 에뮬레이션으로 수행되는 것과 상기 설계검증 대상HDL코드의 일부분이 시뮬레이션으로 수행되는 것이 상기 입출력탐침을 통하여 동시 수행되도록 하는 단계를 통하여,The one or more specific signal lines present in the design verification target HDL code implemented in the one or more programmable devices at any one or more points in time during which the design verification target HDL code implemented in the one or more programmable devices is emulated. By performing the input / output probe on the at least one programmable device, the design verification target HDL code implemented in the at least one programmable element is performed by emulation and the part of the design verification target HDL code is performed by the simulation simultaneously through the input / output probe. Through the steps to ensure that 수행 과정에서 설계검증 대상HDL코드의 상기 일부분에 대한 가시도를 얻을 수 있도록 하는 설계검증 방법.A design verification method for obtaining visibility of the portion of the design verification target HDL code during execution. 임의의 프로토타이핑 보드 또는 임의의 PCB 상에 장착된 1이상의 프로그래밍가능 소자에 구현되는 설계검증 대상HDL코드를 위한 탐침용 부가회로를 설계검증 대상HDL코드에 부가하여서 설계검증 대상HDL코드에 존재하는 1 이상의 특정 신호선들에 대하여 입출력탐침이 가능하게 하는 단계와,1 that exists in the design verification target HDL code by adding an additional circuit for the design verification target HDL code to the design verification target HDL code implemented in one or more programmable elements mounted on any prototyping board or any PCB. Enabling the input / output probe for the above specific signal lines; 상기 1이상의 프로그래밍가능 소자에 상기 설계검증 대상HDL코드의 1 이상의 특정 신호선들에 대한 입출력탐침이 가능한 회로가 구현되고, 설계검증 대상HDL코드가 에뮬레이션으로 수행되는 단계와,Implementing a circuit capable of input / output probing to one or more specific signal lines of the design verification target HDL code in the at least one programmable device, and performing the design verification target HDL code by emulation; 에뮬레이션으로 수행된 상기 설계검증 대상HDL코드의 일부분에 대한 수정을 진행하는 단계와,Performing a modification on a portion of the design verification target HDL code performed by emulation; 상기 수정된 설계검증 대상HDL코드의 상기 일부분을 시뮬레이터에서 시뮬레이션으로 수행이 되도록 하는 단계와,Causing the modified design verification target HDL code to be simulated in a simulator; 상기 1이상의 프로그래밍가능 소자에 구현된 설계검증 대상HDL코드에 존재하는 상기 1 이상의 특정 신호선들에 대한 입출력탐침이 가능한 회로가 에뮬레이션으로 수행되는 과정 중의 1 이상의 임의의 시점에서 상기 1이상의 프로그래밍가능 소자에 구현된 설계검증 대상HDL코드의 상기 일부분에 대한 입출력탐침을 수행함으로 인하여, 상기 1이상의 프로그래밍가능 소자에 구현된 설계검증 대상HDL코드가 에뮬레이션으로 수행되는 것과 상기 수정된 설계검증 대상HDL코드의 상기 일부분이 시뮬레이션으로 수행되는 것이 상기 입출력탐침을 통하여 동시 수행되도록 하는 단계를 통하여서,A circuit capable of input / output probing for the one or more specific signal lines present in the design-verification target HDL code implemented in the one or more programmable elements is applied to the one or more programmable elements at any one or more points in the process of performing emulation. By performing an input / output probe for the portion of the implemented design verification target HDL code, the design verification target HDL code implemented in the one or more programmable elements is performed by emulation and the portion of the modified design verification target HDL code. Through what is performed by this simulation is carried out simultaneously through the input-output probe, 상기 수정된 설계검증 대상HDL코드의 상기 일부분을 상기 1이상의 프로그래밍가능 소자에 재구현하지 않고서 에뮬레이션과 시뮬레이션 동시 실행을 가능하도록 하는 설계검증 방법.And emulation and simulation concurrent execution without re-implementing said portion of said modified design verification target HDL code to said one or more programmable devices. 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete
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