KR100643611B1

KR100643611B1 - 콤비형 스마트 카드 시험장치 및 방법

Info

Publication number: KR100643611B1
Application number: KR1020030054029A
Authority: KR
Inventors: 손원우
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2003-08-05
Filing date: 2003-08-05
Publication date: 2006-11-10
Also published as: US20050034028A1; US7181665B2; KR20050015269A

Abstract

본 발명은 하나의 장치로 접촉식과 비접촉식 시험이 모두 가능한 스마트 카드 시험장치 및 방법에 관한 것이다.

이러한 본 발명은 접촉식, 비접촉식, 혹은 겸용 스마트 카드를 시험하기 위한 시험장치에 있어서, 시험자의 제어에 따라 소정 프로토콜에 따른 시험 패턴을 발생하고, 수신된 응답패턴을 기대되는 응답패턴과 비교하여 상기 스마트 카드의 양/불량을 시험하기 위한 로직 테스터; 비접촉식 시험일 경우, 상기 로직 테스터로부터 입력된 시험 패턴을 소정의 캐리어신호로 변조하여 상기 스마트 카드로 송신하고, 상기 스마트 카드로부터 수신된 서브 캐리어신호를 복조하여 응답패턴을 재생하여 상기 로직 테스터로 제공하는 비접촉식 인터페이스수단; 및 접촉식 시험일 경우, 상기 로직 테스터로부터 입력된 시험 패턴을 상기 스마트 카드로 직접 전송하고, 상기 스마트 카드로부터 수신된 응답패턴을 상기 로직 테스터로 제공하는 접촉식 인터페이스 수단을 구비하여 매우 저렴한 비용으로 접촉식은 물론 비접촉식 스마트 카드까지 용이하게 시험할 수 있는 효과가 있다.

로직 테스터, 카드리더, 무선모듈, 접촉식 카드, 비접촉식 카드, 시험, 스마트카드

Description

콤비형 스마트 카드 시험장치 및 방법{A apparatus and method for testing combined smart card}

도 1은 본 발명에 따른 스마트 카드 시험장치의 구성을 도시한 블럭도,

도 2는 본 발명에 따른 시험절차를 도시한 순서도,

도 3은 ISO-14443 규격에 따른 송수신 신호의 예,

도 4는 본 발명에 적용되는 변조지수를 설명하기 위해 도시한 도면.

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

100: 로직 테스터 102: 프로세서

103: 키입력부 105: 표시부

104: 전원부 106: 클럭부

108: 통신부 110: 채널

112: 패턴 발생기 114: 패턴 비교기

200: RF모듈 210: 로직 인터페이스부

220: 송신부 221: 케리어 발생기

222: 변조기 223: 필터

224: 증폭기 230: 수신부

231: 수신데이터 검출부 232: 로직 데이터 변환부

300: 스마트카드

본 발명은 스마트 카드 시험장치 및 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 하나의 장치로 접촉식과 비접촉식 시험이 모두 가능한 스마트 카드 시험장치 및 방법에 관한 것이다.

최근까지 ID 인식분야에서 바코드 시스템과 마그네틱 카드 시스템이 상품과 신용카드 혹은 공중전화카드로서 우리 생활과 밀접하게 사용되어 왔으나 생산방식의 변화, 문화 및 기술의 진보등으로 이를 개선한 스마트 카드(SMART CARD)와 RFID 카드가 점차 활성화되고 있다. 여기서, 스마트 카드(SMART CARD)는 IC카드라고도 칭한다.

스마트 카드는 마이크로 프로세서, 카드 운영체제, 보안모듈, 메모리 등을 갖춤으로써 특정 트랜잭션을 처리할 수 있는 능력을 가진 집적회로 칩을 내장한 신용카드 크기의 플라스틱 카드이다. 스마트 카드는 데이터가 읽히는 방식에 따라 접촉식 카드와, 비접촉식 카드, 겸용카드(콤비카드) 등으로 구분된다.

또한, RFID는 물체나 동물 또는 사람 등을 식별하기 위해 전자기 스펙트럼 부분의 무선주파수내에 전자기 또는 정전기 커플링 사용을 통합시킨 기술이다.

통상, 비접촉식 카드 시스템은 비접촉식 카드 리더와 비접촉식 스마트 카드로 이루어지는데, 비접촉식 카드 리더는 일정한 주파수의 전자파를 계속해서 발생하고, 비접촉식 스마트 카드는 비접촉식 카드 리더의 주파수동작 범위에 접근하게 되면 무선으로 전원(Power)을 공급받고 활성화된다. 공급된 전원으로 활성화된 비접촉식 스마트 카드는 비접촉식 카드 리더로부터 명령어를 기다린 후, 올바른 명령어가 수신되면 그에 대한 응답(RESPONSE)을 비접촉식 카드 리더로 다시 보낸다. 비접촉식 카드 리더는 명령어를 보내고 표준에서 규정하는 지연시간이 지난 후에도 비접촉식 스마트 카드로부터 아무런 응답이 없으면 더 이상의 통신은 이루어지지 않는다.

이와 같은 비접촉식 스마트 카드에 대한 동작은 ISO/IEC 10536과 ISO/IEC14443으로 권고되어 있다. 즉, 접촉식 카드는 ISO/IEC 7816으로 규정되어 있으나 비접촉식은 CCIC(Contactless IC Card)의 경우에는 ISO/IEC 10536로 규정되어 있고, RCCC(Remote Coupling Communication Card)의 경우에는 ISO/IEC 14443로 구분되어 권고되어 있다.

한편, 스마트 카드는 앞서 설명한 바와 같이 접촉식, 비접촉식, 혹은 겸용 등으로 생산되는데, 생산공정에서 스마트 카드의 특성을 시험하기 위한 시험장치로서 로직 테스터를 사용하고 있다.

그런데 종래의 로직 테스터는 패턴 발생기와 패턴 비교기 등을 구비하여 접촉식 스마트 카드를 시험할 수 있으나 비접촉식 스마트 카드를 시험할 수 없는 문제점이 있다. 즉, 로직 테스터는 접촉식 스마트 카드의 입출력부와 유선으로 연결 된 후 발생된 로직 패턴을 유선으로 전송하고, 이에 대해 스마트 카드로부터 수신된 응답 패턴을 분석하여 시험하였으나 무선으로 연결되는 비접촉식 카드와의 인터페이스가 불가능하였다.

본 발명의 목적은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 접촉식 스마트 카드는 물론 비접촉식, 및 겸용 등 모든 종류의 스마트 카드를 저렴한 비용으로 시험할 수 있는 스마트 카드 시험장치 및 방법을 제공하는데 있다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위히여 본 발명의 장치는, 접촉식, 비접촉식, 혹은 겸용 스마트 카드를 시험하기 위한 시험장치에 있어서, 시험자의 제어에 따라 소정 프로토콜에 따른 시험 패턴을 발생하고, 수신된 응답패턴을 기대되는 응답패턴과 비교하여 상기 스마트 카드의 양/불량을 시험하기 위한 로직 테스터; 비접촉식 시험일 경우, 상기 로직 테스터로부터 입력된 시험 패턴을 소정의 캐리어신호로 변조하여 상기 스마트 카드로 송신하고, 상기 스마트 카드로부터 수신된 서브 캐리어신호를 복조하여 응답패턴을 재생하여 상기 로직 테스터로 제공하는 비접촉식 인터페이스수단; 및 접촉식 시험일 경우, 상기 로직 테스터로부터 입력된 시험 패턴을 상기 스마트 카드로 직접 전송하고, 상기 스마트 카드로부터 수신된 응답패턴을 상기 로직 테스터로 제공하는 접촉식 인터페이스 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.

여기서, 상기 비접촉식 인터페이스수단은 상기 로직 테스터로부터 클럭(CLOCK)과 피크 투 피크 전압(Vpp), 변조지수(Mod Index), 로직 데이터(LOGIC DATA)를 수신하고, 상기 스마트 카드로부터 수신된 응답패턴을 상기 로직 테스터로 전달하기 위한 로직 인터페이스부와, 상기 로직 인터페이스부로부터 수신된 클럭(CLOCK)과 피크 투 피크 전압(Vpp)으로 캐리어신호를 발진하고 상기 변조지수(Mod Index)에 따라 상기 로직 데이터를 변조하여 안테나를 통해 송신하는 송신부와, 상기 안테나로부터 수신된 서브 캐리어신호를 복조하여 응답패턴을 재생한 후 상기 로직 인터페이스부로 제공하는 수신부로 구성된다.

그리고 상기 송신부는 상기 클럭(CLOCK)에 동기되고 상기 피크 투 피크 전압(Vpp)의 진폭을 가지며 소정 주파수의 캐리어신호를 발진하는 캐리어 발진기와, 상기 로직 데이터를 상기 변조지수(Mod Index)에 따라 캐리어신호에 변조하는 변조기와, 상기 변조기의 출력을 필터링하는 필터와, 상기 필터의 출력을 증폭하여 상기 안테나를 통해 송출하는 증폭기로 구성되며, 상기 수신부는 상기 안테나로부터 수신된 서브 캐리어신호를 복조하여 데이터를 검출하는 수신 데이터 검출부와, 상기 검출된 수신 데이터를 로직 데이터로 변환하는 로직 데이터 변환부로 구성된다.

본 발명의 방법은 접촉식 및 비접촉식 겸용 스마트 카드를 시험하기 위한 시험방법에 있어서, 시험자의 제어에 따라 소정 프로토콜에 따른 시험 패턴을 발생하고, 시험모드를 선택하고, 상기 시험모드에서 비접촉식 시험모드 선택시에는 상기 시험 패턴을 소정의 캐리어신호로 변조하여 상기 스마트 카드로 송신하고, 상기 스마트 카드로부터 수신된 서브 캐리어신호를 복조하여 응답패턴을 재생하고 이를 비교하고, 상기 시험모드에서 접촉식 시험일 경우, 상기 시험 패턴을 접촉단자를 통하여 상기 스마트 카드로 직접 전송하고, 상기 스마트 카드로부터 수신된 응답패턴을 비교하고, 상기 비교결과에 따라 시험결과를 표시한다.

이하, 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명의 바람직한 일 실시예를 자세히 설명하도록 한다.

도 1은 본 발명에 따른 스마트 카드 시험장치의 구성을 도시한 블럭도로서, 시험패턴을 발생하여 전송하고 수신된 응답패턴을 기대되는 응답패턴과 비교하여 로직을 시험하는 로직 테스터(100)와, 로직 테스터(100)를 비접촉식으로 시험대상과 인터페이스하기 위한 무선모듈(200), 시험대상인 콤비 스마트 카드(이하, 간단히 콤비카드라 한다:300)가 도시되어 있다. 여기서, 시험대상으로 콤비카드(300)를 도시하였으나 본 발명의 시험장치는 비접촉식 카드 혹은 접촉식 카드도 시험할 수 있음은 당연하고, 로직 테스터(100)는 종래의 로직 테스터 기능에 비접촉식 카드를 시험하기 위한 기능이 부가된 것이므로 종래에 제공되는 기능들에 대한 자세한 설명은 생략하고 본 발명에 따라 부가되는 구성을 중심으로 설명한다.

도 1을 참조하면, 로직 테스터(100)는 프로세서(102)와 전원부(104), 클럭부(106), 통신부(108), 패턴 발생기(112)와 패턴 비교기(114)를 갖는 채널(110)로 이루어져 비접촉식 검사를 위한 인터페이스(120)와 접촉식 검사를 위한 인터페이스(130)를 제공한다. 본 발명의 실시예에서는 하나의 채널만을 도시하 였으나 다수의 채널을 구비하여 다수의 스마트 카드를 동시에 시험할 수도 있다.

프로세서(102)는 키입력부(103)를 통한 시험자의 키입력이나 통신부(108)를 통해 연결되는 호스트 컴퓨터(미도시)의 제어에 따라 전체 시험을 제어하며, 패턴 비교기(114)로부터 입력된 시험결과를 표시부(105)에 디스플레이함과 아울러 통신부(108)를 통해 호스트 컴퓨터로 전달한다. 그리고 시험자의 조작에 따라 접촉식 시험일 경우에는 제1 스위치(116)와 제2 스위치(118)를 접촉식 인터페이스측(130)으로 연결하도록 제어하고, 비접촉식 시험일 경우에는 비접촉식 인터페이스측(120)으로 연결하도록 제어한다.

전원부(104)는 장치에서 필요로 하는 전원을 공급하는데, 시험대상으로 공급할 Vcc, GND와 무선모듈(200)로 공급할 피크 투 피크전압(Vpp)을 제공한다. 클럭부(106)는 장치에서 필요로 하는 제반 클럭을 발생하여 전체 시스템의 타이밍 동기를 가능하게 하는데,무선모듈(200)과 동기를 맞추기 위한 클럭(CLOCK)을 제공한다.

채널의 패턴 발생기(112)는 ISO/IEC 14443 프로토콜에 따른 데이터 패턴을 발생하여 제1 스위치(116)를 통해 비접촉식 인터페이스(120)나 접촉식 인터페이스(130)로 출력하고, 패턴 비교기(114)는 제2 스위치(118)를 통해 접촉식 인터페이스(130)나 비접촉식 인터페이스(120)로부터 수신 응답패턴을 입력받아 기대되는 응답패턴과 비교하여 시험대상의 양호 혹은 불량을 판별할 수 있게 한다. 이때 기대되는 응답패턴은 송신 데이터 패턴(시험패턴)에 대응하여 ISO/IEC 14443 프로토콜에 따라 정해진다.

비접촉식 인터페이스부(120)는 무선모듈(200)과 클럭(CLOCK), 피크 투 피크 전압(Vpp), 변조지수(Mod Index), 로직 데이터(LOGIC DATA(T)), (LOGIC DATA(R)) 등의 인터페이스를 제공하고, 접촉식 인터페이스부(130)는 케이블(400)을 통해 시험대상(300)에 직접 로직 데이터(LOGIC DATA(T), LOGIC DATA(R)), 전원(Vcc), 접지(GND) 등의 인터페이스를 제공한다.

무선모듈(200)은 로직 테스터(100)와 인터페이스하기 위한 로직 인터페이스부(210)와, 로직 테스터(100)가 제공하는 송신 패턴(시험패턴)을 캐리어신호에 변조하여 안테나(ANT)를 통해 비접촉식 카드측으로 전송하는 송신부(220)와, 비접촉식 카드로부터 안테나(ANT)를 통해 수신된 서브 캐리어신호를 복조하여 데이터를 추출하는 수신부(230)로 이루어진다.

송신부(220)는 로직 테스터(100)의 클럭(CLOCK)에 동기되고, 피크 투 피크 전압(Vpp)을 갖는 13.56MHz의 캐리어를 발진하는 캐리어 발진기(221)와, 로직 테스터(100)로부터 전달된 변조지수(Mod Index)에 따라 로직 데이터(LOGIC DATA)를 캐리어로 변조시키는 변조기(222), 변조기(222)의 출력을 필터링하는 필터(223)와, 필터(223)의 출력을 증폭하여 안테나(ANT)를 통해 출력하는 증폭기(224)로 구성된다.

수신부(230)는 안테나(ANT)를 통해 수신된 서브 캐리어신호를 복조하여 데이터를 검출하는 수신 데이터 검출부(231)와, 수신 데이터를 로직 데이터로 변환하는 로직 데이터 변환부(232)로 구성되어 시험대상(300)으로부터 수신된 데이터를 로직 인터페이스부(210)를 통해 로직 테스터(100)로 전달한다.

콤비카드(300)는 도면에는 자세히 도시되지 않았으나 비접촉식 인터페이스를 위한 루프형 안테나와, 아날로그신호 처리부, 디지털신호 처리부, 논리연산부, 접촉식 인터페이스부, 전원부 등으로 이루어져 접촉식 및 비접촉식 스마트 카드 기능을 제공한다. 본 발명의 실시예에서 아날로그신호 처리부는 무선모듈로부터 안테나를 통해 캐리어를 수신받아 복조하여 디지털신호처리부로 출력하거나 디지털신호처리부로부터 입력된 데이터를 부하변조하여 안테나를 통해 송신한다. 논리연산부는 마이크로프로세서(CPU)와 메모리 및 논리소자들로 구성되어 소정의 프로토콜에 따라 로직 테스터(100)와 통신한다.

한편, 본 발명에서 시험 대상인 콤비카드(300)와 무선모듈(200)간에 송수신되는 무선신호는 ISO/IEC 14443 프로토콜에 따른 신호로서, 그 신호 파형은 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같다.

도 3은 ISO-14443 규격에 따른 송수신신호의 예이고, 도 4는 본 발명에 적용되는 변조지수(Mod Index)를 설명하기 위해 도시한 도면이다.

도 3을 참조하면, ISO-14443 규격에 따른 송수신신호의 규격은 타입(Type) A와 타입(Type) B가 있는데, 로직 테스터(100)로부터 시험대상 카드로 전송되는 타입 A 신호는 ASK 100%의 진폭변조신호로서 모디파이드 밀러(Modified Miler)방식의 106kbit/s의 데이터 스트림을 13.56MHz 캐리어로 변조한 것이고, 타입 B신호는 ASK 10%의 진폭변조신호로서 NRZ 방식의 106Kbit/s 데이터 스트림을 13.56MHz 캐리어로 변조한 것이다.

시험대상 카드(300)로부터 로직 테스터(100)로 전송되는 타입 A 신호는 맨체스터방식의 106kbit/s의 데이터 스트림을 서브 캐리어(13.56MHz/16)로 OOK 부하변 조(Load Modulation)한 것이고, 타입 B신호는 NRZ-L 방식의 106Kbit/s 데이터 스트림을 서브 캐리어(13.56MHz/16)로 BPSK 부하변조(Load Modulation)한 것이다.

도 4를 참조하면, 변조지수(Mod Index)는 다음 수학식1과 같이 정의된다.

상기 수학식 1에서 "a"는 로직 데이터0에 대응하는 캐리어의 피크 투 피크 진폭이고, "b"는 로직 데이터1에 대응하는 캐리어의 피크 투 피크 진폭이다. 캐리어 주파수는 13.56MHz 이고, 캐리어의 진폭을 결정하는 "Vpp"는 b와 동일한 크기이다. 이와 같이 송신신호는 캐리어 주파수, 100% 혹은 10%의 변조지수(Mod Index), 캐리어의 진폭을 결정하는 Vpp, 로직 데이터(패턴 발생기의 송신패턴)에 의해 정해지며, 이러한 신호는 로직 테스터(100)로부터 전달된다.

이어서, 상기와 같이 구성되는 본 발명의 장치를 이용한 스마트 카드 시험을 도 2의 시험절차에 따라 설명하면 다음과 같다.

먼저, 시험대상인 스마트 카드(300)와 시험 장치(100,200)를 연결한다. 스마트 카드(300)가 비접촉식일 경우에는 무선모듈(200)을 통해 로직 테스터(100)와 스마트 카드(300)가 연결되고, 접촉식일 경우에는 스마트 카드(300)와 로직 테스터(100)를 케이블(400)을 이용하여 직접 연결한다.

시험을 위해 패턴 발생기(112)를 제어하여 시험 패턴을 발생한다(S1). 이어 스마트 카드(300)의 접촉식 통신 경로를 시험할 것인지 비접촉식 통신 경로를 시험할 것인지를 선택한다(S2). 시험자가 접촉식 경로를 선택하면, 프로세서(102)의 제어에 따라 제1 스위치(116)는 패턴 발생기(112)의 출력을 접촉식 인터페이스(130)로 연결하여 스마트 카드(300)로 시험 패턴이 전송되게 하고, 제2 스위치(118)는 스마트 카드(300)로부터 수신된 응답패턴을 패턴 비교기(114)로 연결한다.

접촉식 시험일 경우, 로직 테스터(100)는 시험패턴을 케이블(400)을 통해 스마트 카드(300)로 전송하고, 소정의 대기 시간동안 대기한 후 응답을 수신한다(S3~S5). 이어 패턴 비교기(114)에서 수신된 응답패턴을 기대되는 응답 패턴과 비교하여 일치하면 양호로, 불일치하면 불량으로 처리한다(S12~S15). 이와 같은 시험결과는 표시부(105)를 통해 디스플레이됨과 아울러 호스트 컴퓨터를 통해 통계 데이터로 관리되는 것이 바람직하다.

비접촉식 시험일 경우, 무선모듈(200)은 로직 테스터(100)로부터 입력된 로직 데이터를 캐리어신호에 변조하여 무선으로 송신하고, 소정의 대기 시간동안 대기한 후 무선신호를 수신한다(S6~S9). 이어 수신된 무선신호(서브 캐리어 주파수)를 복조하여 로직 데이터로 변환하고(S10,S11), 패턴 비교기(114)에서는 수신된 응답패턴을 기대되는 응답 패턴과 비교하여 일치하면 양호로, 불일치하면 불량으로 처리한다(S12~S15). 이와 같은 시험결과는 표시부(105)를 통해 디스플레이됨과 아울러 호스트 컴퓨터를 통해 통계 데이터로 관리되는 것이 바람직하다.

이러한 시험공정이 완료되면, 다음 공정으로 넘어가거나 다른 시험대상에 대해서 상기 과정을 반복한다.

이상에서 상술한 바와 같이, 본 발명의 스마트 카드 시험장치는 종래의 로직 테스터에 비접촉식 시험을 위한 무선(RF)모듈을 부가하여 매우 저렴한 비용으로 접촉식은 물론 비접촉식 스마트 카드까지 용이하게 시험할 수 있는 효과가 있다.

이상에서 설명한 것은 본 발명에 따른 스마트 카드 시험장치를 설명한 하나의 실시 예에 불과한 것으로써, 본 발명은 상기한 실시 예에 한정되지 않고, 이하의 특허 청구의 범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변경 실시가 가능한 범위까지 본 발명의 기술적 사상이 미친다고 할 것이다.

Claims

접촉식, 비접촉식, 혹은 겸용 스마트 카드를 시험하기 위한 시험장치에 있어서,

시험자의 제어에 따라 소정 프로토콜에 따른 시험 패턴을 발생하고, 수신된 응답패턴을 기대되는 응답패턴과 비교하여 상기 스마트 카드의 양/불량을 시험하며, 제어 신호에 따라 상기 시험 패턴 및 상기 응답패턴을 비접촉식 인터페이스나 접촉식 인터페이스와 스위칭하기 위한 스위치를 포함하는 로직 테스터;

비접촉식 시험일 경우, 상기 로직 테스터로부터 입력된 시험 패턴을 소정의 캐리어신호로 변조하여 상기 스마트 카드로 송신하고, 상기 스마트 카드로부터 수신된 서브 캐리어신호를 복조하여 응답패턴을 재생하여 상기 로직 테스터로 제공하는 비접촉식 인터페이스수단; 및

접촉식 시험일 경우, 상기 로직 테스터로부터 입력된 시험 패턴을 상기 스마트 카드로 직접 전송하고, 상기 스마트 카드로부터 수신된 응답패턴을 상기 로직 테스터로 제공하는 접촉식 인터페이스 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 스마트 카드 시험장치.
제1항에 있어서, 상기 비접촉식 인터페이스수단은

상기 로직 테스터로부터 클럭(CLOCK)과 피크 투 피크 전압(Vpp), 변조지수(Mod Index), 로직 데이터(LOGIC DATA)를 수신하고, 상기 스마트 카드로부터 수신된 응답패턴을 상기 로직 테스터로 전달하기 위한 로직 인터페이스부와, 상기 로직 인터페이스부로부터 수신된 클럭(CLOCK)과 피크 투 피크 전압(Vpp)으로 캐리어신호를 발진하고 상기 변조지수(Mod Index)에 따라 상기 로직 데이터를 변조하여 안테나를 통해 송신하는 송신부와, 상기 안테나로부터 수신된 서브 캐리어신호를 복조하여 응답패턴을 재생한 후 상기 로직 인터페이스부로 제공하는 수신부로 구성된 것을 특징으로 하는 스마트 카드 시험장치.
제2항에 있어서, 상기 송신부는

상기 클럭(CLOCK)에 동기되고 상기 피크 투 피크 전압(Vpp)의 진폭을 가지며 소정 주파수의 캐리어신호를 발진하는 캐리어 발진기와, 상기 로직 데이터를 상기 변조지수(Mod Index)에 따라 캐리어신호에 변조하는 변조기와, 상기 변조기의 출력을 필터링하는 필터와, 상기 필터의 출력을 증폭하여 상기 안테나를 통해 송출하는 증폭기로 구성된 것을 특징으로 하는 스마트 카드 시험장치.
제2항에 있어서, 상기 수신부는

상기 안테나로부터 수신된 서브 캐리어신호를 복조하여 데이터를 검출하는 수신 데이터 검출부와, 상기 검출된 수신 데이터를 로직 데이터로 변환하는 로직 데이터 변환부를 포함하는 것을 특징으로 하는 스마트 카드 시험장치.
제1항에 있어서, 상기 로직 테스터는

제어신호에 따라 시험패턴을 발생하기 위한 시험패턴 발생기와, 상기 시험패 턴을 제어신호에 따라 비접촉식 인터페이스나 접촉식 인터페이스로 스위칭하기 위한 제1 스위치와, 수신된 응답패턴을 기대되는 응답패턴과 비교하여 양/불량을 판단하는 패턴 비교기와, 제어신호에 따라 비접촉식 인터페이스나 접촉식 인터페이스로부터 수신된 응답패턴을 선택하여 상기 패턴 비교기로 제공하기 위한 제2 스위치와, 상기 제어신호들을 발생하고 전체 시험과정을 제어하는 프로세서를 포함하는 것을 특징으로 하는 스마트 카드 시험장치.
접촉식 및 비접촉식 겸용 스마트 카드를 시험하기 위한 시험방법에 있어서,

시험자의 제어에 따라 소정 프로토콜에 따른 시험 패턴을 발생하는 단계;

시험모드를 선택하는 단계;

상기 시험모드에서 비접촉식 시험모드 선택시에는 상기 시험 패턴을 소정의 캐리어신호로 변조하여 상기 스마트 카드로 송신하고, 상기 스마트 카드로부터 수신된 서브 캐리어신호를 복조하여 응답패턴을 재생하고 이를 비교하는 단계;

상기 시험모드에서 접촉식 시험일 경우, 상기 시험 패턴을 접촉단자를 통하여 상기 스마트 카드로 직접 전송하고, 상기 스마트 카드로부터 수신된 응답패턴을 비교하는 단계; 및

상기 비교결과에 따라 시험결과를 표시하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 스마트 카드 시험방법.