KR100355716B1 - Test method of low resistor for in-circuit tester - Google Patents

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Abstract

본 발명은 3선 방식의 인서키트테스터에서 별도의 하드웨어 수정이나 추가를 하지 않고서도 간단한 소프트웨어를 이용하여 매우 낮은 저항치의 저항기를 검사하는 4선 방식 켈빈측정방법을 적용할 수 있는 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법에 관한 것이다.The present invention provides a three-wire insert tester in which a four-wire Kelvin measurement method can be applied to inspect resistors of very low resistance using simple software without additional hardware modification or addition. It relates to a low resistance measurement method.

이를 위한 본 발명은, 개인용 컴퓨터(1)에서 입출력 인터페이스부(2)를 매개로 신호발생부(9), 신호검출부(10)및 모드설정릴레이(11)로 이루어진 측정부(3)의 제어를 통해 상기 측정부(3)에 3선의 측정선로(H, G, L)로 연결된 멀티플렉서부(4)의 릴레이접점을 선택적으로 접속시킴에 따라 상기 멀티플렉서부(4)에 연결되어 있는 테스트프로브(7)들중 선택된 테스트프로브를 통해 피측정저항의 저항치를 측정하도록 하는 인서키트테스터의 측정방법에 있어서, 상기 개인용 컴퓨터(1)에서 검사하려는 부품의 정보(종류, 테스트 프로브번호 등)를 인터페이스부(2)를 통해 측정부(3)로 전송하는 단계, 상기 부품정보에 의해 측정부(3)의 모드설정릴레이(11)를 동작시켜 피측정저항의 상단에 연결될 측정선로(H)에 정전류원(12)을 연결시킴과 아울러 피측정저항(30)의 하단에 연결될 측정선로(L)를 접지단에 연결하는 단계, 전압계(14)를 측정선로(G)에 연결하고 멀티플렉서부(4)에서 측정선로(G)와 피측정저항(30)의 상단을 연결하는 릴레이접점을 접속시켜 피측정저항(30) 상단부터 접지단자까지의 전압강하분을 측정하여 일시 저장하는 단계, 상기 측정선로(G)와 피측정저항(30)의 상단을 연결하는 릴레이접점을 오프시키고나서 상기 측정선로(G)와 피측정저항(30)의 하단을 연결하는 릴레이접점을 접속시켜 피측정저항(30) 하단부터 접지단자까지의 전압강하분을 측정하여 일시 저장하는 단계, 상기 피측정저항(30) 상단에서 측정된 전압강하분에서 상기 피측정저항(30) 하단에서 측정된 전압강하분을 감산하여 실제 피측정저항(30)에 의한 전압강하분을 검출하고, 이로부터 피측정저항(30)에 인가된 정전류값을 나누어 피측정저항(30)의 저항값을 검출한 후 디지털신호로 변환시켜 상기 개인용 컴퓨터(1)로 전송하는 단계, 상기 검출단계를 모든 피측정저항에 대해 반복수행하는 단계를 포함하여 이루어진 발명임.The present invention for this purpose, the control of the measurement unit 3 consisting of the signal generator 9, the signal detector 10 and the mode setting relay 11 via the input and output interface unit 2 in the personal computer 1 Test probes 7 connected to the multiplexer unit 4 by selectively connecting the relay contacts of the multiplexer unit 4 connected to the measuring unit 3 with three measuring lines H, G, and L through the measuring unit 3. In the measurement method of the insert kit tester to measure the resistance value of the resistance to be measured through the selected one of the selected test probes, the information (type, test probe number, etc.) of the component to be examined in the personal computer (1) interface unit ( Transmitting to the measurement unit 3 through 2), the mode setting relay 11 of the measurement unit 3 is operated according to the component information, so that the constant current source is connected to the measurement line H to be connected to the upper end of the resistance to be measured. 12) and the lower end of the measured resistance (30) Connecting the measurement line (L) to be connected to the ground terminal, connecting the voltmeter (14) to the measurement line (G) and connecting the measurement line (G) and the upper end of the resistance to be measured (30) in the multiplexer unit (4) Measuring the voltage drop from the upper end of the resistance 30 to the ground terminal by connecting the relay contact, and temporarily storing the voltage, and turning off the relay contact connecting the upper end of the measurement line G and the resistance 30 to be measured. After that, by connecting the relay contact connecting the measurement line (G) and the lower end of the resistance 30 to be measured, temporarily measuring the voltage drop from the lower end of the resistance to measurement 30 to the ground terminal, and temporarily storing the measured voltage drop. The voltage drop measured by the measured resistance 30 is detected by subtracting the voltage drop measured at the lower end of the measured resistance 30 from the voltage drop measured at the upper end of the measurement resistance 30. The resistance to be measured is divided by dividing the constant current value applied to the resistor 30. Detecting the resistance value and converting it into a digital signal and transmitting it to the personal computer (1), and repeating the detection step for all the measured resistances.

Description

인서키트테스터에서의 저저항 측정방법{TEST METHOD OF LOW RESISTOR FOR IN-CIRCUIT TESTER}TEST METHOD OF LOW RESISTOR FOR IN-CIRCUIT TESTER}

본 발명은 3선 방식의 인서키트테스터에서 별도의 하드웨어 수정이나 추가를 하지 않고서도 간단한 소프트웨어를 이용하여 매우 낮은 저항치의 저항기를 검사하는 4선 방식 켈빈(KELVIN) 측정방법을 적용할 수 있는 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법에 관한 것이다.The present invention is an insert kit that can be applied to the 4-wire Kelvin measurement method that checks resistors of very low resistance using simple software without additional hardware modification or addition in the 3-wire insert kit tester. A low resistance measurement method in a tester.

인서키트테스터는 전자부품을 검사하는 테스터의 일종으로 단일 부품을 검사하는 일반 계측기와는 다르게 회로기판상에 조립된 전자부품, 즉 회로구성이 이루어져 주변 부품의 영향을 받고 있는 상태의 전자부품을 미리 입력해 놓은 정보에 따라 모든 부품에 대하여 주변회로의 영향을 제거하면서 자동으로 검사하여 불량항목 , 불량내용 및 불량위치등을 디스플레이시켜 주는 측정장치이다.Insert kit tester is a kind of tester that inspects electronic parts. Unlike general measuring instruments that test a single part, the insert kit tester is an electronic part assembled on a circuit board, that is, the circuit part is composed and affected by surrounding parts. It is a measuring device that automatically inspects all parts according to the inputted information while removing the influence of peripheral circuits and displays defective items, defective contents, and defective locations.

보통 인서키트테스터에서 낮은 저항을 검사하는 방법으로는 정전류를 이용하는 방법을 사용하고 있는 바, 이는 인서키트테스터에서 미리 설정해 놓은 일정한 전류를 피측정물인 저항에 흘리고, 이때 저항양단에 나타나는 전압을 측정한 다음에 이 전압을 인가한 전류로 나누어 저항치를 계산하는 방법이다(오옴의 법칙적용). 도 5a 에 간단한 일례가 도시되어 있는 바, 측정부(3)에는 DC 정전류원(20)과 DC 전압계(21)가 구비되어 있고, 멀티플렉서부(4)에는 도시되어 있지 않은 릴레이를 포함하는 릴레이접점(22, 23)이 구비되어 있으며, 정착물(5)에는 회로기판상에 조립되어 있는 피측정저항(24)이 구비되어, 피측정저항(24)의 저항값을 측정하기 위한 회로망을 이루고 있다.In general, the low current resistance of the insert tester is a method of using a constant current. The constant current set in the insert tester is applied to the resistance under test, and the voltage across the resistance is measured. The voltage is then divided by the applied current to calculate the resistance (Ohm's law). A simple example is shown in FIG. 5A, wherein the measuring section 3 is provided with a DC constant current source 20 and a DC voltmeter 21, and the multiplexer section 4 includes a relay contact including a relay not shown. 22 and 23 are provided, and the fixture 5 is provided with a resistance under measurement 24 which is assembled on a circuit board, and forms a network for measuring the resistance value of the resistance under measurement 24.

이는 상기 멀티플렉서부(4)에 포함되어 있는 릴레이접점(22, 23)의 접촉저항 및 정전류원(20)에서 피측정저항(24)까지의 선간저항을 0 Ω으로 간주한다면, 저항값은 오옴의 법칙을 이용하여 저항(R) = 전압/전류 = 0.1/0.1 = 1 Ω이 된다. 그러나, 실제의 인서키트테스터에서는 멀티플렉서부(4)에 포함되는 릴레이접점(22, 23)의 접촉저항 및 정전류원(20)에서 피측정저항(24)까지의 선간저항이 존재하기 때문에, 결과는 위와 같이 정확하게 나타나지 않는다.If the contact resistance of the relay contacts 22 and 23 included in the multiplexer section 4 and the line resistance from the constant current source 20 to the measured resistance 24 are regarded as 0 Ω, the resistance value is ohm. Using the law, resistance (R) = voltage / current = 0.1 / 0.1 = 1 Ω. However, in the actual insert kit tester, since the contact resistance of the relay contacts 22 and 23 included in the multiplexer section 4 and the line resistance from the constant current source 20 to the resistance under measurement 24 exist, the result is It does not appear exactly as above.

도 5b 에 종래 인서키트테스터에서의 저저항 측정결과를 나타내고 있는 바, 이는 실제 검사하려는 피측정저항(24)의 실제값은 1 Ω이지만, 측정결과는 2 Ω으로 잘못된 결과가 나오고 있다. 즉, 저항(R) = 전압/전류 = 0.2/0.1 = 2 Ω이 된다. 이와 같이 낮은 저항(보통 1Ω이하)을 측정할 경우에는 측정부(3)와 피측정저항(24)사이의 선간저항 및 기타 접촉저항때문에 정확한 측정을 할 수 없다.5B shows a result of low resistance measurement in a conventional insert kit tester. The actual value of the measured resistance 24 to be actually tested is 1 Ω, but the measurement result is 2 Ω. That is, the resistance R = voltage / current = 0.2 / 0.1 = 2 Ω. When measuring such low resistance (usually 1Ω or less), accurate measurement cannot be made because of the line resistance between the measuring section 3 and the measured resistance 24 and other contact resistances.

대부분의 인서키트테스터는 이러한 이유 때문에 낮은 저항을 정확히 검사할 수 없으나, 최근 4선 방식 켈빈측정방법을 이용하여 주변의 영향을 받지 않고 아주 낮은 저항을 검사할 수 기술이 제안되어 있는 바, 도 5c 에 상기 4선 방식 켈빈측정방법을 적용한 인서키트 테스터에서의 저저항 측정방법을 나타내고 있다. 즉, 측정부(3)에는 DC 정전류원(20)과 DC 전압계(21)가 구비되어 있고, 멀티플렉서부(4)에는 도시되지 않은 릴레이를 포함하는 릴레이접점(22, 23, 25, 26)이 구비되어 있으며, 정착물(5)에는 피측정저항(24)이 구비되어, 피측정저항(24)의 일측단에는 각 선로(H1, H2)를 통해 DC 정전류원(20)과 DC 전압계(21)의 정극성단자가 연결됨과 아울러 다른 일단에는 각 선로(L2, L1)를 통해 DC 정전류원(20)과 DC 전압계(21)의 부극성단자가 연결되어져 있다.Most of the test kit testers cannot accurately check the low resistance for this reason. However, a technique has been proposed to test the very low resistance without the influence of the surroundings using the 4-wire Kelvin measurement method. Shows a low resistance measurement method in an insert kit tester using the 4-wire Kelvin measurement method. That is, the measuring section 3 is provided with a DC constant current source 20 and a DC voltmeter 21, and the multiplexer section 4 includes relay contacts 22, 23, 25, 26 including a relay (not shown). The fixture 5 is provided with a resistance under measurement 24, and at one end of the resistance under measurement 24, the DC constant current source 20 and the DC voltmeter 21 through the respective lines H1 and H2. In addition to the positive terminal of the other end of the DC constant current source 20 and the negative terminal of the DC voltmeter 21 is connected through each line (L2, L1).

상기 전압계(21)의 입력임피던스는 거의 무한대에 가깝기 때문에 전압계(21)방향으로는 전류가 전혀 흐르지 않게 되는 바, 결국 피측정저항(24)과 전압계(21)사이에는 불필요한 전압강하가 없기 때문에 저항양단의 실제 전압값을 정확히 측정할 수 있게 되고, 이를 바탕으로 저항값을 계산하면 아주 낮은 저항도 정밀한 검사가 가능하게 된다.Since the input impedance of the voltmeter 21 is almost infinity, no current flows in the direction of the voltmeter 21, so there is no unnecessary voltage drop between the resistance under measurement 24 and the voltmeter 21. Accurate measurement of the actual voltage across both ends can be made, and the resistance value can be calculated to allow for very low resistance inspection.

본 발명은 상기와 같은 4선 방식 켈빈측정방법을 3선 방식의 측정부 및 멀티플렉서부를 구비하고 있는 인서키트 테스터에 적용하여 저저항을 측정하기 위한 방법을 발명한 것으로, 이미 생산현장에서 널리 보급되어 사용되고 있는 대부분의 수많은 3선 방식의 인서키트 테스터에서도 간단한 소프트웨어의 변경만으로 고정밀의 저저항 측정을 가능하도록 한 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법을 제공함에 그 목적이 있다.The present invention has been invented a method for measuring low resistance by applying the four-wire Kelvin measurement method to an insert kit tester having a three-wire measurement unit and a multiplexer unit, and has already been widely used in production. Most of the three-wire insert kit testers used are to provide a low resistance measurement method in the insert kit tester that enables high precision low resistance measurement with a simple software change.

도 1 은 본 발명의 실시예에 관한 인서키트테스터와 개인용 컴퓨터간을 도시해 놓은 블록도,1 is a block diagram showing an insert kit tester and a personal computer according to an embodiment of the present invention;

도 2 는 본 발명의 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법을 설명하기 위한 흐름도,2 is a flowchart illustrating a low resistance measuring method in the insert kit tester of the present invention;

도 3 및 도 4 는 도 1 에 도시된 측정부및 멀티플렉서부를 상세히 도시해 놓은 회로도,3 and 4 are circuit diagrams showing in detail the measuring unit and the multiplexer shown in FIG.

도 5 는 종래 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법을 도시해 놓은 회로도이다.5 is a circuit diagram showing a low resistance measurement method in a conventional insert kit tester.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

1 : 개인용 컴퓨터 2 : 인터페이스부1: personal computer 2: interface unit

3 : 측정부 4 : 멀티플렉서부3: measuring section 4: multiplexer section

5 : 정착물 6 : 피측정기판5: fixture 6: substrate under test

7 : 테스트프로브 8 : 에어실린더7: test probe 8: air cylinder

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법은, 개인용 컴퓨터(1)에서 입출력 인터페이스부(2)를 매개로 신호발생부(9), 신호검출부(10)및 모드설정릴레이(11)로 이루어진 측정부(3)의 제어를 통해 상기 측정부(3)에 3선의 측정선로(H, G, L)로 연결된 멀티플렉서부(4)의 릴레이접점을 선택적으로 접속시킴에 따라 상기 멀티플렉서부(4)에 연결되어 있는 테스트프로브(7)들중 선택된 테스트프로브를 통해 피측정저항의 저항치를 측정하도록 하는 인서키트테스터의 측정방법에 있어서, 상기 개인용 컴퓨터(1)에서 검사하려는 부품의 정보(종류, 테스트 프로브번호 등)를 인터페이스부(2)를 통해 측정부(3)로 전송하는 단계, 상기 부품정보에 의해 측정부(3)의 모드설정릴레이(11)를 동작시켜 피측정저항의 상단에 연결될 측정선로(H)에 정전류원(12)을 연결시킴과 아울러 피측정저항(30)의 하단에 연결될 측정선로(L)를 접지단에 연결하는 단계, 전압계(14)를 측정선로(G)에 연결하고 멀티플렉서부(4)에서 측정선로(G)와 피측정저항(30)의 상단을 연결하는 릴레이접점을 접속시켜 피측정저항(30) 상단부터 접지단자까지의 전압강하분을 측정하여 일시 저장하는 단계, 상기 측정선로(G)와 피측정저항(30)의 상단을 연결하는 릴레이접점을 오프시키고나서 상기 측정선로(G)와 피측정저항(30)의 하단을 연결하는 릴레이접점을 접속시켜 피측정저항(30) 하단부터 접지단자까지의 전압강하분을 측정하여 일시 저장하는 단계, 상기 피측정저항(30) 상단에서 측정된 전압강하분에서 상기 피측정저항(30) 하단에서 측정된 전압강하분을 감산하여 실제 피측정저항(30)에 의한 전압강하분을 검출하고, 이로부터 피측정저항(30)에 인가된 정전류값을 나누어 피측정저항(30)의 저항값을 검출한 후 디지털신호로 변환시켜 상기 개인용 컴퓨터(1)로 전송하는 단계, 상기 검출단계를 모든 피측정저항에 대해 반복수행하는 단계를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.Low resistance measurement method in the insert kit tester of the present invention for achieving the above object, the signal generation unit 9, the signal detection unit 10 and the mode setting via the input and output interface unit 2 in the personal computer 1 By selectively connecting the relay contact of the multiplexer unit 4 connected to the measuring unit 3 by three measuring lines H, G, and L through the control of the measuring unit 3 including the relay 11. In the measuring method of the insert tester to measure the resistance value of the resistance to be measured through a test probe selected from among the test probes 7 connected to the multiplexer unit 4, the component to be inspected in the personal computer 1 Transmitting the information (type, test probe number, etc.) of the measuring unit 3 to the measuring unit 3 via the interface unit 2, and operating the mode setting relay 11 of the measuring unit 3 based on the component information. Measurement line (H) to be connected to the top of the resistor Connecting the constant current source 12 and connecting the measurement line L to be connected to the lower end of the resistance 30 to the ground terminal, connecting the voltmeter 14 to the measurement line G, and multiplexer portion 4 Measuring a voltage drop from the upper end of the measured resistance 30 to the ground terminal by connecting a relay contact connecting the upper end of the measured line G to the measured resistance 30 and temporarily storing the measured line. (G) turns off the relay contact connecting the upper end of the resistance 30 to be measured, and then connects the relay contact connecting the lower end of the measurement line G with the resistance 30 to be measured. Measuring and temporarily storing the voltage drop from the lower end to the ground terminal, subtracting the voltage drop measured at the lower end of the measured resistance 30 from the voltage drop measured at the upper end of the measured resistance 30 The voltage drop by the resistance 30 to be detected is detected and Dividing the constant current value applied to the resistance to be measured 30, detecting the resistance value of the resistance to be measured 30, converting it into a digital signal, and transmitting it to the personal computer 1, wherein the detecting step is performed on all the resistances to be measured. Characterized in that it comprises a step for repeating for.

이하, 본 발명의 실시예를 예시도면에 의거하여 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1 은 본 발명의 실시예에 관한 인서키트테스터와 개인용 컴퓨터간을 도시해 놓은 블록도로서, 3선 방식으로 된 인서키트테스터에 별도의 하드웨어 수정이나 추가를 하지 않고서도 간단한 소프트웨어를 이용하여 매우 낮은 저항치의 저항기를 검사하는 4선 방식 켈빈측정방법을 적용할 수 있도록 되어 있다.1 is a block diagram showing an insert kit tester and a personal computer according to an exemplary embodiment of the present invention, using a simple software without additional hardware modification or addition to the insert kit tester of the 3-wire method. It is possible to apply the 4-wire Kelvin measurement method to check the resistor of low resistance.

개인용 컴퓨터(1)는 신호발생부(9), 신호검출부(10) 및 모드설정릴레이(11) 등을 포함하여 이루어진 측정부(3)와 입출력 인터페이스부(2)를 매개로 DC 제어신호, AC 제어신호, 멀티플렉서 제어신호 및 측정데이터등을 상호 송수신 할 수 있도록 연결되어 있다. 상기 측정부(3)는 3선의 측정선로(H, G, L)를 통해 릴레이매트릭스의 멀티플렉서부(4)가 각각 연결되고 있고, 이 멀티플렉서부(4)의 해당 릴레이접점을 통해 정착물(5)의 테스트프로브(7)가 연결되는 한편 상기 테스트프로브(7)에는 프레스유닛의 에어실린더(8)에 의해 상하이동되는 피측정기판(6)이 접촉되어 있다.The personal computer 1 includes a signal generator 9, a signal detector 10, a mode setting relay 11, and the like. Control signal, multiplexer control signal and measurement data are connected to each other. The measuring section 3 is connected to the multiplexer section 4 of the relay matrix through three measuring lines H, G, and L, and the fixture 5 is connected to the corresponding relay contact of the multiplexer section 4. While the test probe 7 is connected, the test probe 7 is in contact with the substrate 6 to be moved by the air cylinder 8 of the press unit.

도 2는 3선 방식으로 이루어진 측정부(3), 멀티플렉서부(4) 및 정착물(5)등을 구비하고 있는 인서키트테스터에서 4선 방식에서 측정할 수 있던 켈빈측정방법을 적용하여 저저항을 측정하는 방법을 나타내는 흐름도이다.먼저, 작업자에 의해 검사하려는 상기 피측정기판(6)을 프레스유닛의 정착물(5)위에 올려 놓고, 에어실린더(8)의 조작을 통해 상기 피측정기판(6)과 정착물(5)의 테스트프로브(7)를 긴밀하게 접촉시킨다.FIG. 2 shows a low resistance by applying a Kelvin measurement method that can be measured by a 4-wire method in an insert kit tester including a measuring part 3, a multiplexer part 4, and a fixture 5 made of a 3-wire method. First, the measuring substrate 6 to be inspected by the operator is placed on the fixture 5 of the press unit, and the measuring substrate 6 is operated by operating the air cylinder 8. And the test probe 7 of the fixture 5 are in intimate contact.

이때 검사하려는 부품의 정보(종류, 테스트 프로브번호등)를 개인용 컴퓨터(1)에서 인터페이스부(2)를 통해 측정부(3)로 전송하고, 이렇게 전달된 부품정보에 의해 측정부(3)의 모드설정릴레이(11)를 동작시키고, 이에 따라 측정에 필요한 소스신호를 발생시킨다. 이어 멀티플렉서부(4)의 릴레이매트릭스를 선택적으로 동작시켜 해당되는 테스트프로브(7)를 측정선로(H, G, L)에 연결시키고, 이 측정선로(H, G, L)의 신호를 측정하여 디지털신호로 변환하며, 이와 같이 디지털신호로 변환된 측정결과는 인터페이스부(2)를 통해 개인용 컴퓨터(1)로 전송한다. 상기와 같이 측정결과를 디지털신호로 변환 및 전송하는 과정은 통상의 인서키트테스터에서 수행되는 동작이므로 본 발명의 요지가 혼돈되는 것을 방지하기 위해 구체적인 설명은 생략한다.At this time, the information (type, test probe number, etc.) of the component to be inspected is transmitted from the personal computer 1 to the measuring unit 3 through the interface unit 2, and the measuring unit 3 The mode setting relay 11 is operated to generate a source signal for measurement. Then, the relay matrix of the multiplexer unit 4 is selectively operated to connect the corresponding test probes 7 to the measurement lines H, G, and L, and to measure the signals of the measurement lines H, G, and L. It converts into a digital signal, and the measurement result converted into a digital signal is transmitted to the personal computer 1 through the interface unit 2. Since the process of converting and transmitting the measurement result into the digital signal as described above is performed in a conventional insert kit tester, a detailed description thereof will be omitted in order to prevent the gist of the present invention from being confused.

상기와 같이 피측정저항에 대해 저저항 값을 측정하고 그 측정결과를 개인용 컴퓨터(1)로 전송하는 과정은 한번에 하나의 부품을 검사하는 것이기 때문에 마지막 부품까지 위 측정과정을 차례로 반복수행한다. 따라서, 상기 피측정기판(6)상의 모든 부품의 검사가 끝나게 되면 자동으로 프레스가 상승하게 되는 바, 이 피측정기판(6)상에 있는 모든 부품을 마지막까지 검사하면 측정결과를 전부 분석하여 최종 결과를 화면에 디스플레이하거나 프린터로 인쇄하여 확인할 수 있게 된다.As described above, the process of measuring the low resistance value of the resistance to be measured and transmitting the measurement result to the personal computer 1 is to inspect one part at a time, and thus repeats the above measurement process up to the last part. Therefore, when the inspection of all the components on the substrate 6 is finished, the press is automatically raised. When all the components on the substrate 6 are inspected to the end, all the measurement results are analyzed and the final The results can be displayed on the screen or printed out and printed on a printer.

본 발명의 인서키트테스터에서의 저저항을 측정하는 방법을 도 3 및 도 4 를 통해 상세히 설명하면, 도 3 은 측정부(3), 멀티플렉서부(4) 및 피측정저항(30 : 도 4 참조)과 접촉되는 정착물(5)을 3선의 측정선로(H, G, L)로 연결하는 3선 방식의 인서키트테스터를 나타낸 것으로, 3선의 측정선로(H, G, L) 각 부위에 연결되어 있는 스위칭용 릴레이접점은 개인용 컴퓨터(1)에 설정되는 프로그램에 의해 완전히 개별적으로 동작시킬 수 있다. 상기 측정부(3)에는 0.1A의 정전류원(12)이 측정선로(H 또는 G)에 선택적으로 정전류를 공급할 수 있도록 릴레이접점을 매개로 연결되어 있고, 0.2V의 정전압원(13)이 측정선로(H 또는 G)에 선택적으로 정전압을 공급할 수 있도록 릴레이접점을 매개로 연결되어 있으며, 전압계(14)가 측정선로(H 또는 G)의 전압을 선택적으로 측정할 수 있도록 릴레이접점을 매개로 연결되어 있음과 아울러 전류계(15)가 측정선로(L)에 흐르는 전류를 측정할 수 있도록 연결되어 있다. 또한 측정부(3)에는 측정선로(H, G, L)를 선택적으로 접지측과 연결시킬 수 있는 릴레이접점을 구비하고 있다.그리고 상기 측정선로(H, G, L)에 연결되어 있는 멀티플렉서부(4)는 각 측정선로(H, G, L)에 릴레이접점의 일측단자가 각각 연결되고 상기 릴레이접점들의 다른 일측단자들이 정착물(5)에 고정된 하나의 테스트프로브(7)에 공통적으로 연결되는 바, 상기와 같은 테스트프로브(7)는 각종 인쇄회로기판에 조립된 저항기들에 대한 저항치를 측정할 수 있도록 다수 구비되어지게 되며, 도 3에서는 상기 테스트프로브(7)가 예컨대 1, 2, 3 …2048 개 구비되어 각각 연결된 상태를 나타내고 있다.The method of measuring the low resistance in the insert kit tester of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 3 and 4. FIG. 3 shows the measurement unit 3, the multiplexer unit 4, and the resistance under test 30: FIG. 4. ) Is a three-wire in-circuit tester that connects the fixture (5) in contact with the three-wire measuring line (H, G, L), and is connected to each part of the three-wire measuring line (H, G, L). The switching relay contacts can be operated individually individually by a program set in the personal computer 1. The measuring unit 3 is connected to a relay contact through a 0.1 A constant current source 12 so as to selectively supply constant current to the measuring line H or G, and a constant voltage source 13 of 0.2 V is measured. It is connected via relay contact to supply constant voltage selectively to the line (H or G), and through the relay contact so that the voltmeter 14 can measure the voltage of the measuring line (H or G) selectively. In addition, the ammeter 15 is connected to measure the current flowing in the measurement line (L). In addition, the measuring section 3 is provided with a relay contact that can selectively connect the measuring lines H, G, and L to the ground side, and a multiplexer section connected to the measuring lines H, G, and L. (4) is common to one test probe (7) in which one terminal of the relay contact is connected to each measuring line (H, G, L) and the other terminal of the relay contacts is fixed to the fixture (5). As described above, the test probes 7 as described above are provided in plural so as to measure resistance values of resistors assembled in various printed circuit boards. In FIG. 3, the test probes 7 may include 1, 2, 3…. 2048 pieces are provided and show the connected state, respectively.

도 4는 본 발명에 따라 3선 방식의 인서키트테스터를 이용하여 4선 방식의 켈빈측정방법으로 저항기의 저저항을 정밀하게 측정하는 방법을 설명하기 위한 것으로, 이를 위해 멀티플렉서부(4)의 릴레이접점의 접속상태에 따라 측정부(3)의 정전류원(12)과 전압계(14) 및 접지단이 피측정저항(30)에 선택적으로 접속됨을 나타내고 있다. 이하에서는 설명을 간단명료하게 하기 위하여 피측정저항(30)에서 접지측의 반대측에 위치하는 단자 즉 접지측에서 피측정저항(30)까지의 전압강하분을 측정할 수 있는 단자를 "피측정저항(30)의 상단"이라 하고, 피측정저항(30)에서 접지측에 연결되는 단자 즉 피측정저항(30)을 제외한 상태에서 접지측과 피측정저항(30) 사이의 전압강하분을 측정할 수 있는 단자를 "피측정저항(30)의 하단"이라 한다.피측정저항(30)의 측정시 먼저, DC 정전류원(12)의 출력을 릴레이접점을 접속시켜 측정선로(H)에 연결하고, 이어 일측이 접지측에 접속되고 다른 일측이 측정선로(L)에 연결되어 있는 릴레이접점을 접속시켜 측정선로(L)를 접지측에 연결한다. 이어, 멀티플렉서부(4)에서 정전류원(12)과 피측정저항(30)의 상단에 연결되어 있는 릴레이접점(16)을 온시킴과 아울러 접지측과 상기 피측정저항(30)의 하단에 연결되어 있는 릴레이접점(17)을 온시킨다. 이에 따라 상기 릴레이접점(16, 17) 및 피측정저항(30)에는 정전류원(12)에서 공급되는 0.1A 의 동일한 전류가 흐르게 되는 바, 예컨대 릴레이접점(16, 17)의 접촉저항이 각각 0.5Ω이고 피측정저항(30)이 1Ω이라면 각 릴레이 접촉부위에서는 각각 0.05V, 피측정저항(30) 양단에서는 0.1V의 전압강하가 발생하게 된다.4 is a view for explaining a method of precisely measuring the low resistance of a resistor by a four-wire Kelvin measurement method using a three-wire insert kit tester according to the present invention, and for this purpose, the relay of the multiplexer unit 4 The constant current source 12, the voltmeter 14, and the ground terminal of the measuring section 3 are selectively connected to the resistance under test 30 according to the contact state of the contact. In the following description, for simplicity of explanation, a terminal located on the side opposite to the ground side of the resistor 30 to be measured, that is, a terminal capable of measuring a voltage drop from the ground side to the resistor 30 to be measured is referred to as a "resistance measured". And the voltage drop between the ground side and the measured resistance 30 in the state in which the terminal connected to the ground side, i.e., the resistance under measurement 30, is excluded from the resistance under measurement 30. The terminal which can be referred to as "lower end of the resistance 30 to be measured." In the measurement of the resistance 30 to be measured, first, the output of the DC constant current source 12 is connected to a relay contact to the measurement line H. Then, one side is connected to the ground side and the other side is connected to the relay contact is connected to the measurement line (L) to connect the measurement line (L) to the ground side. Subsequently, the multiplexer unit 4 turns on the relay contact 16 connected to the constant current source 12 and the upper end of the resistance 30 under test, and is connected to the ground side and the lower end of the resistance 30 under measurement. Turn on the relay contact 17. Accordingly, the same current of 0.1 A supplied from the constant current source 12 flows through the relay contacts 16 and 17 and the resistance under test 30. For example, the contact resistance of the relay contacts 16 and 17 is 0.5, respectively. If Ω and the measured resistance 30 is 1 Ω, a voltage drop of 0.05 V occurs at each of the relay contact portions, and 0.1 V across both of the measured resistance 30.

이어, 릴레이접점의 접속을 통해 DC 전압계(14)의 출력단을 측정선로(G)에 연결한 후, 상기 DC 전압계(14)와 피측정저항(30)의 상단 사이에 연결되어 있는 멀티플렉서부(4)의 릴레이접점(18)을 온시키는 한편 상기 DC 전압계(14)와 피측정저항(30)의 하단 사이에 연결되어 있는 멀티플렉서부(4)의 다른 릴레이접점(19)을 오프시킨다. 이때 상기 전압계(14)는 릴레이접점(17)의 접촉저항에 의한 전압강하와 피측정저항(30) 양단의 전압강하의 합인 0.15V를 검출하게 되고, 이 값을 도시되지 않은 메모리에 잠시 저장하게 된다(V1 = 0.15).Subsequently, the output terminal of the DC voltmeter 14 is connected to the measurement line G through a relay contact connection, and then the multiplexer unit 4 connected between the DC voltmeter 14 and the upper end of the resistance 30 to be measured. Turns on the relay contact 18, while turning off the other relay contact 19 of the multiplexer section 4, which is connected between the DC voltmeter 14 and the lower end of the resistor 30 to be measured. At this time, the voltmeter 14 detects 0.15V, which is the sum of the voltage drop due to the contact resistance of the relay contact 17 and the voltage drop across the measured resistance 30, and stores the value temporarily in a memory (not shown). (V1 = 0.15).

다음에 피측정저항(30) 양단에 의한 전압강하분을 제외한 상태에서 전압계(14)와 접지측 사이의 전압을 측정하기 위하여 DC 전압계(14)와 피측정저항(30)의 상단 사이에 연결되어 있는 상기 멀티플렉서부(4)의 릴레이접점(18)을 오프시킴과 아울러 DC 전압계(14)와 피측정저항(30)의 하단 사이에 연결되어 있는 릴레이접점(19)을 온시키게 되는 바, 이때 전압계(14)는 릴레이접점(17)의 접점저항에 의한 전압강하 0.05V를 검출하게 된다. 그리고나서 상기한 바와 같이 피측정저항(30) 상단에서 검출한 전압 V1 = 0.15V 에서 피측정저항(30) 하단에서 검출한 전압을 빼면 실제 피측정저항(30) 양단에서 발생한 전압강하가 0.1V 임을 측정할 수 있고, 이 측정전압 0.1V 를 피측정저항(30)에 흐르는 전류값 0.1A로 나누면 피측정저항(30)이 1Ω임을 정확히 측정하게 된다. 이와 같이 하나의 피측정저항에 대한 측정이 완료되면 모든 릴레이접점(16 - 19)을 오프시켜 다음의 피측정저항에 대한 측정동작을 대기하게 된다.Next, it is connected between the DC voltmeter 14 and the upper end of the resistance under measurement 30 in order to measure the voltage between the voltmeter 14 and the ground side in the state except the voltage drop due to both ends of the resistance under measurement 30. In addition to turning off the relay contact 18 of the multiplexer unit 4, the relay contact 19 connected between the DC voltmeter 14 and the lower end of the resistor 30 to be measured, the voltmeter 14 detects a voltage drop of 0.05 V due to the contact resistance of the relay contact 17. Then, as described above, subtracting the voltage detected at the lower end of the measured resistance 30 from the voltage V1 = 0.15 V detected at the upper end of the measured resistance 30 causes the voltage drop generated at both ends of the actual measured resistance 30 to be 0.1V. It can be measured that, and dividing the measured voltage 0.1V by the current value 0.1A flowing through the resistance 30 to be measured accurately to measure that the resistance 30 to be measured 1Ω. When the measurement of one resistance is completed as described above, all relay contacts 16-19 are turned off to wait for the measurement operation on the next measurement resistance.

이상 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 종래 3선 방식의 인서키트테스터에서 어떠한 하드웨어 구성의 수정 및 추가 없이도 소프트웨어의 업그레이드만으로 켈빈측정방법을 이용하여 저저항을 측정할 수 있으므로 고가의 장비를 새롭게 도입하지 않고 1 Ω이하의 저저항 등도 검사할 수 있어 경제적으로 인서키트테스터의 측정범위를 확대할 수 있는 잇점이 있다.As described above, according to the present invention, since the low resistance can be measured using the Kelvin measurement method without any hardware configuration modification or addition in the conventional three-wire insert kit tester, expensive equipment is not newly introduced. It is also possible to inspect low resistance of less than 1 Ω, and it is advantageous to expand the measuring range of the insert kit tester economically.

본 발명은 1 Ω이하의 저항 검사를 일례로하여 설명했지만, 기술적 요지가 벗어나지 않는 범위내에서 휴즈의 용량검사도 간편하게 행할 수 있다.In the present invention, the resistance test of 1 Ω or less has been described as an example, but the capacity test of the fuse can be easily performed within a range not departing from the technical gist.

Claims (3)

개인용 컴퓨터(1)에서 입출력 인터페이스부(2)를 매개로 신호발생부(9), 신호검출부(10)및 모드설정릴레이(11)로 이루어진 측정부(3)의 제어를 통해 상기 측정부(3)에 3선의 측정선로(H, G, L)로 연결된 멀티플렉서부(4)의 릴레이접점을 선택적으로 접속시킴에 따라 상기 멀티플렉서부(4)에 연결되어 있는 테스트프로브(7)들중 선택된 테스트프로브를 통해 피측정저항의 저항치를 측정하도록 하는 인서키트테스터의 측정방법에 있어서, 상기 개인용 컴퓨터(1)에서 검사하려는 부품의 정보(종류, 테스트 프로브번호 등)를 인터페이스부(2)를 통해 측정부(3)로 전송하는 단계, 상기 부품정보에 의해 측정부(3)의 모드설정릴레이(11)를 동작시켜 피측정저항의 상단에 연결될 측정선로(H)에 정전류원(12)을 연결시킴과 아울러 피측정저항(30)의 하단에 연결될 측정선로(L)를 접지단에 연결하는 단계, 전압계(14)를 측정선로(G)에 연결하고 멀티플렉서부(4)에서 측정선로(G)와 피측정저항(30)의 상단을 연결하는 릴레이접점을 접속시켜 피측정저항(30) 상단부터 접지단자까지의 전압강하분을 측정하여 일시 저장하는 단계, 상기 측정선로(G)와 피측정저항(30)의 상단을 연결하는 릴레이접점을 오프시키고나서 상기 측정선로(G)와 피측정저항(30)의 하단을 연결하는 릴레이접점을 접속시켜 피측정저항(30) 하단부터 접지단자까지의 전압강하분을 측정하여 일시 저장하는 단계, 상기 피측정저항(30) 상단에서 측정된 전압강하분에서 상기 피측정저항(30) 하단에서 측정된 전압강하분을 감산하여 실제 피측정저항(30)에 의한 전압강하분을 검출하고, 이로부터 피측정저항(30)에 인가된 정전류값을 나누어 피측정저항(30)의 저항값을 검출한 후 디지털신호로 변환시켜 상기 개인용 컴퓨터(1)로 전송하는 단계, 상기 검출단계를 모든 피측정저항에 대해 반복수행하는 단계를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법.In the personal computer 1, the measuring unit 3 is controlled by the measuring unit 3 including the signal generator 9, the signal detector 10, and the mode setting relay 11 via the input / output interface unit 2. Selected among the test probes 7 connected to the multiplexer unit 4 by selectively connecting the relay contact of the multiplexer unit 4 connected to the three-wire measuring line (H, G, L) to In the measuring method of the insert kit tester to measure the resistance value of the resistance to be measured through the personal computer 1, the information (type, test probe number, etc.) of the component to be examined in the personal computer 1 through the measurement unit through the interface unit 2 (3) the step of connecting the constant current source 12 to the measurement line (H) to be connected to the upper end of the resistance to be measured by operating the mode setting relay 11 of the measurement unit 3 according to the part information; In addition, the measurement line (L) to be connected to the lower end of the resistance to be measured (30) Connecting to the ground terminal, connecting the voltmeter 14 to the measurement line (G) and connecting the relay contact connecting the measurement line (G) and the upper end of the resistance to be measured (30) in the multiplexer (4) Measuring and temporarily storing the voltage drop from the upper end of the resistor 30 to the ground terminal, and after turning off the relay contact connecting the measuring line (G) and the upper end of the resistance to be measured 30, the measuring line (G) ) And connecting the relay contact connecting the lower end of the resistance 30 to measure the voltage drop from the lower end of the resistance 30 to the ground terminal and temporarily storing the voltage drop, at the upper end of the resistance 30 The voltage drop measured by the actual measured resistance 30 is detected by subtracting the measured voltage drop from the lower end of the measured resistance 30 from the measured voltage drop. The resistance value of the resistance under measurement 30 is detected by dividing the constant current value. Low-resistance measuring method of the inserter kit tester, characterized in that by converting a digital signal consisting of, including the step of repeating the steps carried out, the detection method comprising: transmitting to the personal computer 1 to all the measured resistance. 삭제delete 삭제delete
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