KR100263453B1 - Focus inspection equipmwnt of crt and its inspection method - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: An apparatus and method for checking a focus of a CRT is provided to increase the reliability of a check result by checking the state of a focus of a CRT. CONSTITUTION: Patterns are generated from a pattern generator(S1). The patterns generated from the pattern generator are displayed on a CRT by a pattern display unit(S2). The patterns are photographed by a photographing device(S3). A luminescence of a photographing screen photographed by the photographing device is detected from a luminescence detection unit(S4). The n number of luminescence value is extracted from a luminescence average unit(S5). A luminescence comparison unit compares a luminescence of a standard pattern with an average value of the luminescence(S6). A state of a focus is transmitted through a display device(S7).

Description

ＣＲＴ의 포커스검사장치 및 그 검사방법Crt focus inspection device and inspection method

본 발명은, CRT(Cathode Ray Tube)의 포커스검사장치 및 그 검사방법에 관한 것이다.The present invention relates to a focus inspection apparatus of a CRT (Cathode Ray Tube) and an inspection method thereof.

CRT에는 흑백화상신호 또는 칼라화상신호가 표시되며, 이 표시된 화상신호의 집속성 즉, 포커스(Focus)상태는 제품으로서 출하하기 전에 검사되는 데, 종래 포커스상태의 검사는 검사자의 육안에 의존하여 있었다. 종래의 포커스검사방법을 상세히 설명하면, 먼저 생산이 완료된 CRT를 검사위치로 이송시킨 후, 패턴발생기에서 생성한 검사패턴을 CRT상에 표시한다. 이 후 검사자는 포커스조정볼륨을 조정하면서 CRT상에 표시된 검사패턴의 휘도분포를 육안으로 관찰하고, 그 휘도분포에 기초하여 경험적으로 포커스상태의 양부를 판정하고 있었다.The CRT displays a black-and-white image signal or a color image signal, and the focusing of the displayed image signal, that is, the focus state, is inspected before shipment as a product, and the inspection of the focus state in the prior art was dependent on the human eye. . The conventional focus inspection method will be described in detail. First, the production-completed CRT is transferred to the inspection position, and then the inspection pattern generated by the pattern generator is displayed on the CRT. Subsequently, the inspector visually observed the luminance distribution of the inspection pattern displayed on the CRT while adjusting the focus adjustment volume, and empirically judged whether the focus state was on the basis of the luminance distribution.

그런데, CRT상의 화상의 휘도는, CRT의 공급전압, 콘트라스트(Contrast)등에 따라 달라지고, 검사자에 따라 달리 관찰될 수 있으므로, 종래의 CRT의 포커스검사방법에 따르면, CRT의 포커스상태의 검사결과의 신뢰성이 낮다는 문제점이 있었다.However, since the luminance of the image on the CRT varies depending on the supply voltage, contrast, etc. of the CRT and can be observed differently by the inspector, according to the conventional CRT focus inspection method, the inspection result of the CRT focus state There was a problem that the reliability is low.

따라서, 본 발명의 목적은, 높은 신뢰성을 가지고 CRT의 포커스상태를 검사할 수 있는 CRT의 포커스검사장치 및 그 검사방법을 제공하는 데 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a CRT focus inspection apparatus and an inspection method thereof capable of inspecting a CRT focus state with high reliability.

도 1은 본 발명에 따른 CRT의 포커스검사장치의 구성을 개략적으로 도시한 블록도,1 is a block diagram schematically showing the configuration of a focus inspection apparatus of a CRT according to the present invention;

도 2는 본 발명에 따른 기준패턴 및 비교패턴의 일예를 그 휘도분포와 함께 도시한 도면,2 is a diagram showing an example of a reference pattern and a comparison pattern according to the present invention with luminance distribution thereof;

도 3은 본 발명에 따른 비교패턴의 폭 및 간격에 따른 휘도변화를 도시한 도면,3 is a view illustrating a luminance change according to a width and an interval of a comparison pattern according to the present invention;

도 4는 본 발명에 따른 CRT의 포커스검사방법의 흐름도이다.4 is a flowchart of a focus inspection method of a CRT according to the present invention.

＜도면의 주요부분에 대한 부호의 설명＞<Description of the code | symbol about the principal part of drawing>

1 : 패턴발생기 3 : 패턴표시부1: pattern generator 3: pattern display

5 : CRT 7 : 표시장치5: CRT 7: Display device

11 : 포커스상태판단부 12 : 촬상기11 focus state judging section 12 imager

13 : 휘도검출부 14 : 휘도평균부13 luminance detection unit 14 luminance average unit

15 : 휘도비교부 22, 24 : 기준패턴15: luminance comparison unit 22, 24: reference pattern

23, 25 : 비교패턴23, 25: comparison pattern

상기 목적은, 본 발명에 따라, 적어도 한 개의 넓은 폭을 가지는 기준패턴과, 상기 기준패턴보다 좁은 폭을 적어도 하나 가지며, 상기 기준패턴과 동일한 목표휘도를 갖는 비교패턴을 생성하는 단계와; 적어도 하나의 기준패턴과 비교패턴을 상기 CRT상에 표시하는 단계와; 상기 CRT상에 표시된 기준패턴과 비교패턴의 휘도값을 비교하여 CRT의 포커스상태를 판단하는 단계를 포함하는 CRT의 포커스 검사방법에 의해 달성된다.According to an embodiment of the present invention, there is provided a method, comprising: generating a comparison pattern having at least one wide width and at least one width narrower than the reference pattern and having a target luminance equal to the reference pattern; Displaying at least one reference pattern and a comparison pattern on the CRT; Comparing the luminance value of the reference pattern and the reference pattern displayed on the CRT is achieved by the focus check method of the CRT comprising the step of determining the focus state of the CRT.

여기서, 상기 기준패턴은, 다수개가 상호 평행한 것으로 구성하거나, 폭이 점차적으로 좁아지도록 구성하거나, 인접 비교패턴과의 간격이 점차적으로 좁아지도록 배열할 수 있다. 또한, 상기 비교패턴은 다수의 수평비교패턴군과 수직비교패턴군을 포함할 수 있다.Here, the reference pattern may be composed of a plurality of parallel to each other, or configured to gradually narrow the width, or arranged so that the interval with the adjacent comparison pattern is gradually narrowed. The comparison pattern may include a plurality of horizontal comparison pattern groups and a vertical comparison pattern group.

한편, 상기 CRT의 포커스상태 판단단계에서, 상기 CRT상에 표시된 기준패턴의 휘도값과 비교패턴의 휘도 평균값을 비교하거나, 상기 CRT상에 표시된 기준패턴의 휘도값과 상기 비교패턴의 최소휘도값으로부터 올림차순으로 추출한 N개의 휘도의 평균값을 비교하여 CRT의 포커스상태를 판단할 수 있다.Meanwhile, in the focus state determination step of the CRT, the luminance value of the reference pattern displayed on the CRT and the luminance average value of the comparison pattern are compared, or from the luminance value of the reference pattern displayed on the CRT and the minimum luminance value of the comparison pattern. The focus state of the CRT may be determined by comparing the average values of the N luminance values extracted in the ascending order.

한편, 본 발명의 다른 분야에 따르면, 상기 목적은, 적어도 한 개의 넓은 폭을 가지는 기준패턴과, 상기 기준패턴보다 좁은 폭을 적어도 하나 가지며, 상기 기준패턴과 동일한 목표휘도를 갖는 비교패턴을 생성하는 패턴발생기와; 적어도 하나의 기준패턴과 비교패턴을 상기 CRT상에 표시하는 패턴표시부와; 상기 CRT상에 표시된 기준패턴과 비교패턴의 휘도값을 비교하여 CRT의 포커스상태를 판단하는 포커스상태판단부를 포함하는 CRT의 포커스검사장치에 의해 달성된다.On the other hand, according to another field of the present invention, the object is to generate a comparison pattern having at least one wide width and at least one narrower than the reference pattern, the comparison pattern having the same target luminance as the reference pattern A pattern generator; A pattern display unit displaying at least one reference pattern and a comparison pattern on the CRT; And a focus state determination unit for comparing the luminance value of the reference pattern and the comparison pattern displayed on the CRT to determine the focus state of the CRT.

여기서, 상기 기준패턴은, 다수개가 상호 평행한 것으로 구성하거나, 폭이 점차적으로 좁아지도록 구성하거나, 인접 비교패턴과의 간격이 점차적으로 좁아지도록 배열할 수 있다. 또한, 상기 비교패턴은 다수의 수평비교패턴군과 수직비교패턴군을 포함할 수 있다.Here, the reference pattern may be composed of a plurality of parallel to each other, or configured to gradually narrow the width, or arranged so that the interval with the adjacent comparison pattern is gradually narrowed. The comparison pattern may include a plurality of horizontal comparison pattern groups and a vertical comparison pattern group.

한편, 상기 포커스상태판단부는, 상기 CRT상에 표시된 기준패턴의 휘도값과 비교패턴의 휘도 평균값을 비교하거나, 상기 CRT상에 표시된 기준패턴의 휘도값과 상기 비교패턴의 최소휘도값으로부터 올림차순으로 추출한 N개의 휘도의 평균값을 비교하여 CRT의 포커스상태를 판단하도록 구성할 수 있다.The focus state judging unit compares the luminance value of the reference pattern displayed on the CRT with the luminance average value of the comparison pattern, or extracts in ascending order from the luminance value of the reference pattern displayed on the CRT and the minimum luminance value of the comparison pattern. The average state of the N luminances may be compared to determine the focus state of the CRT.

이하, 첨부도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명에 따른 CRT의 포커스검사장치의 구성을 개략적으로 도시한 블록도이다. 이 도면에 도시되어 있는 바와 같이, 본 발명에 따른 CRT의 포커스검사장치는, 기준패턴 및 비교패턴을 생성하는 패턴발생기(1)와, 이 패턴발생기(1)에서 생성된 패턴들을 CRT(5)상에 표시하는 패턴표시부(3)와, 촬상기(12), 휘도검출부(13), 휘도평균부(14), 및 휘도비교부(15)를 가지고, CRT(5)상에 표시된 패턴들로부터 포커스 상태를 판단하는 포커스상태 판단부(11)를 가지고 있다. 패턴발생기(1)에서 패턴이 생성되는데(S1), 도 2A는 이 생성된 패턴을 도시한 도면이다. 이 도면에 도시되어 있는 바와 같이, 기준패턴은 하나의 수직기준패턴(24)과 하나의 수평기준패턴(22)을 가지는 기본패턴군을 형성하며, 수평패턴은 수직기준패턴(24)의 좌우에 균일한 간격으로 배열되어 있는 수평비교패턴(25a, 25b)을 가지는 수평비교패턴군(25)과 수평기준패턴(22)의 상하에 균일한 간격으로 배열되어 있는 수직비교패턴(23a, 23b)을 가지는 수평비교패턴군(23)으로 구성된다. 패턴발생기(1)에서 생성된 패턴들은 패턴표시부(3)에 의해 CRT(5)상에 표시된 후(S2), 촬상기(12)에 의해 촬상된다(S3). 촬상기(12)에 의해 촬상된 촬상화면의 휘도는 휘도검출부(13)에서 검출되는 데(S4), 도 2A에 도시한 화살표방향으로 검출한 촬상화면의 휘도가 도 2B, 도 2C, 도 2D 및 도 2E에 도시되어 있다. 여기서, 도 2B 및 도 2D는 양호한 포커스상태의 촬상화면의 휘도, 도 2C 및 도 2E는 불량한 포커스상태의 촬상화면의 휘도를 나타내며, 이들 도면의 세로축은 휘도의 크기를 나타낸다. 이들 도면에 도시되어 있는 바와 같이, 기준패턴의 휘도값(H1)이 제일 크고, 포커스상태가 양호한 상태에서의 휘도값(H2)이 그 다음으로 크고, 포커스상태가 불량한 상태에서의 휘도값(H3)가 제일 작다. 한편, 이러한 촬상화면의 검출 휘도는 비교패턴사이의 간격 및 비교패턴의 폭에 따라 달라질 수 있는 데, 도 3은 본 발명에 따른 비교패턴의 폭 및 간격에 따른 휘도변화를 도시한 도면이다. 이 도면에 도시되어 있는 바와 같이, 간격 및 폭이 작을수록 비교패턴 상호간의 간섭이 커지기 때문에 간격 및 폭이 작을수록 휘도의 진폭이 작아진다. 휘도검출부(13)에서 검출된 비교패턴의 휘도값 중 최소휘도로부터 올림차순으로 N개의 휘도값이 휘도평균부(14)에서 추출된 후, 그 평균값이 산출된다(S5). 휘도평균부(14)에서 산출된 휘도 평균값은 휘도검출부(13)에서 검출한 기본패턴의 휘도값과 휘도비교부(15)에서 비교되고, 그 비교결과에 따라 포커스상태가 판단된다. 이 때 포커스상태의 양부는 기본패턴의 휘도값에 대한 비교패턴의 휘도의 비의 크기에 따라 판단되는 데, 이는 포커스상태가 불량할수록 비교패턴 상호간의 간섭에 의해 촬상기(12)에 촬상된 비교패턴의 휘도가 낮아지기 때문이다. 휘도비교부(15)는 검출한 기본패턴의 휘도에 대한 휘도평균부(14)에서 구한 평균값의 비를 구하고, 이 비가 소정의 값 이상이면, 포커스상태가 불량한 것으로, 이하이면, 포커스상태가 양호한 것으로 판단한다(S6). 이러한 휘도비교부(15)의 판단결과는 표시장치(7)를 통해 검사자에게 전달된다(S7).1 is a block diagram schematically showing the configuration of a focus inspection apparatus of a CRT according to the present invention. As shown in this figure, the CRT focus inspection apparatus according to the present invention includes a pattern generator 1 for generating a reference pattern and a comparison pattern, and a pattern generated by the pattern generator 1 for the CRT 5. The pattern display section 3 displayed on the image, the imager 12, the brightness detection section 13, the brightness average section 14, and the brightness comparison section 15, from the patterns displayed on the CRT (5) It has the focus state determination part 11 which judges a focus state. A pattern is generated in the pattern generator 1 (S1), and FIG. 2A shows the generated pattern. As shown in the figure, the reference pattern forms a basic pattern group having one vertical reference pattern 24 and one horizontal reference pattern 22, and the horizontal pattern is formed on the left and right of the vertical reference pattern 24. The horizontal comparison pattern group 25 having the horizontal comparison patterns 25a and 25b arranged at uniform intervals and the vertical comparison patterns 23a and 23b arranged at uniform intervals above and below the horizontal reference pattern 22 are arranged. The branch is composed of a horizontal comparison pattern group 23. The patterns generated by the pattern generator 1 are displayed on the CRT 5 by the pattern display unit 3 (S2), and then are picked up by the imager 12 (S3). The brightness of the captured image picked up by the imager 12 is detected by the brightness detector 13 (S4), but the brightness of the captured image detected in the arrow direction shown in Fig. 2A is shown in Figs. 2B, 2C, and 2D. And FIG. 2E. 2B and 2D show the brightness of the picked-up screen in good focus, and FIGS. 2C and 2E show the brightness of the picked-up screen in poor focus, and the vertical axis of these figures shows the magnitude of the brightness. As shown in these figures, the luminance value H1 of the reference pattern is the largest, the luminance value H2 in the state of good focus is the next largest, and the luminance value H3 of the state of poor focus. ) Is the smallest. On the other hand, the detection luminance of the image pickup screen may vary depending on the interval between the comparison pattern and the width of the comparison pattern, Figure 3 is a view showing the change in luminance according to the width and interval of the comparison pattern according to the present invention. As shown in this figure, the smaller the interval and width, the greater the interference between the comparison patterns, so the smaller the interval and width, the smaller the amplitude of luminance. After the N luminance values are extracted from the luminance average unit 14 in ascending order from the minimum luminance among the luminance values of the comparison pattern detected by the luminance detection unit 13, the average value is calculated (S5). The luminance average value calculated by the luminance average unit 14 is compared with the luminance value of the basic pattern detected by the luminance detector 13 and by the luminance comparison unit 15, and the focus state is determined according to the comparison result. At this time, both parts of the focus state are determined according to the magnitude of the ratio of the luminance of the comparison pattern to the luminance value of the basic pattern, which is compared with the image picked up by the imager 12 by the interference between the comparison patterns as the focus state is poor. This is because the luminance of the pattern is lowered. The luminance comparison unit 15 calculates a ratio of the average value obtained by the luminance average unit 14 to the luminance of the detected basic pattern. If the ratio is equal to or greater than the predetermined value, the focus state is poor. It is determined that (S6). The determination result of the brightness comparison unit 15 is transmitted to the inspector through the display device 7 (S7).

따라서, 본 발명에 따르면, CRT의 포커스상태를 검사하는 데 있어, 그 검사결과의 신뢰성을 높힐 수 있다.Therefore, according to the present invention, in checking the focus state of the CRT, the reliability of the inspection result can be improved.

Claims (18)

CRT의 포커스 검사방법에 있어서,In the focus check method of the CRT, 적어도 한 개의 넓은 폭을 가지는 기준패턴과, 상기 기준패턴보다 좁은 폭을 적어도 하나 가지며, 상기 기준패턴과 동일한 목표휘도를 갖는 비교패턴을 생성하는 단계와;Generating a comparison pattern having at least one wide width and at least one narrower than the reference pattern and having a target luminance equal to the reference pattern; 적어도 하나의 기준패턴과 비교패턴을 상기 CRT상에 표시하는 단계와;Displaying at least one reference pattern and a comparison pattern on the CRT; 상기 CRT상에 표시된 기준패턴과 비교패턴의 휘도값을 비교하여 CRT의 포커스상태를 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 CRT의 포커스 검사방법.And comparing the luminance value of the comparison pattern with the reference pattern displayed on the CRT to determine a focus state of the CRT. 청구항 1에 있어서,The method according to claim 1, 상기 기준패턴은, 다수개가 상호 평행한 것을 특징으로 하는 CRT의 포커스검사방법.And a plurality of the reference patterns are parallel to each other. 청구항 1에 있어서,The method according to claim 1, 상기 비교패턴은,The comparison pattern, 폭이 점차적으로 좁아지는 것을 특징으로 하는 CRT의 포커스 검사방법.A focus inspection method of a CRT, characterized in that the width gradually narrows. 청구항 1에 있어서,The method according to claim 1, 상기 비교패턴은,The comparison pattern, 인접 비교패턴과의 간격이 점차적으로 좁아지도록 배열되는 것을 특징으로 하는 CRT의 포커스 검사방법.The focus check method of the CRT, characterized in that arranged so that the interval with the adjacent comparison pattern is gradually narrowed. 청구항 1 내지 청구항 4중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 1 to 4, 상기 비교패턴은,The comparison pattern, 다수의 수평비교패턴군과 수직비교패턴군을 포함하는 것을 특징으로 하는 CRT의 포커스 검사방법.A method for checking focus of a CRT, comprising a plurality of horizontal comparison pattern groups and a vertical comparison pattern group. 청구항 1 내지 청구항 4중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 1 to 4, 상기 CRT의 포커스상태 판단단계는,Determining the focus state of the CRT, 상기 CRT상에 표시된 기준패턴의 휘도값과 비교패턴의 휘도 평균값을 비교하여 CRT의 포커스상태를 판단하는 것을 특징으로 하는 CRT의 포커스 검사방법.And focus value of the CRT is determined by comparing the luminance value of the reference pattern displayed on the CRT with the luminance average value of the comparison pattern. 청구항 5에 있어서,The method according to claim 5, 상기 CRT의 포커스상태 판단단계는,Determining the focus state of the CRT, 상기 CRT상에 표시된 기준패턴의 휘도값과 비교패턴의 휘도 평균값을 비교하여 CRT의 포커스상태를 판단하는 것을 특징으로 하는 CRT의 포커스 검사방법.And focus value of the CRT is determined by comparing the luminance value of the reference pattern displayed on the CRT with the luminance average value of the comparison pattern. 청구항 1 내지 청구항 4중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 1 to 4, 상기 CRT의 포커스상태 판단단계는,Determining the focus state of the CRT, 상기 CRT상에 표시된 기준패턴의 휘도값과 상기 비교패턴의 최소휘도값으로부터 올림차순으로 추출한 N개의 휘도의 평균값을 비교하여 CRT의 포커스상태를 판단하는 것을 특징으로 하는 CRT의 포커스 검사방법.And focusing the CRT to determine the focus state of the CRT by comparing the luminance value of the reference pattern displayed on the CRT with the average value of N luminance values extracted in ascending order from the minimum luminance value of the comparison pattern. 청구항 5에 있어서,The method according to claim 5, 상기 CRT의 포커스상태 판단단계는,Determining the focus state of the CRT, 상기 CRT상에 표시된 기준패턴의 휘도값과 상기 비교패턴의 최소휘도값으로부터 올림차순으로 추출한 N개의 휘도의 평균값을 비교하여 CRT의 포커스상태를 판단하는 것을 특징으로 하는 CRT의 포커스 검사방법.And focusing the CRT to determine the focus state of the CRT by comparing the luminance value of the reference pattern displayed on the CRT with the average value of N luminance values extracted in ascending order from the minimum luminance value of the comparison pattern. CRT의 포커스 검사장치에 있어서,In the focus inspection apparatus of the CRT, 적어도 한 개의 넓은 폭을 가지는 기준패턴과, 상기 기준패턴보다 좁은 폭을 적어도 하나 가지며, 상기 기준패턴과 동일한 목표휘도를 갖는 비교패턴을 생성하는 패턴발생기와;A pattern generator for generating a comparison pattern having at least one wide width and at least one narrower than the reference pattern and having a target luminance equal to the reference pattern; 적어도 하나의 기준패턴과 비교패턴을 상기 CRT상에 표시하는 패턴표시부와;A pattern display unit displaying at least one reference pattern and a comparison pattern on the CRT; 상기 CRT상에 표시된 기준패턴과 비교패턴의 휘도값을 비교하여 CRT의 포커스상태를 판단하는 포커스상태판단부를 포함하는 것을 특징으로 하는 CRT의 포커스검사장치.And a focus state determination unit for comparing the luminance value of the comparison pattern with the reference pattern displayed on the CRT to determine the focus state of the CRT. 청구항 10에 있어서,The method according to claim 10, 상기 기준패턴은, 다수개가 상호 평행한 것을 특징으로 하는 CRT의 포커스검사장치.And a plurality of the reference patterns are parallel to each other. 청구항 10에 있어서,The method according to claim 10, 상기 비교패턴은,The comparison pattern, 폭이 점차적으로 좁아지는 것을 특징으로 하는 CRT의 포커스 검사장치.Focus inspection apparatus of the CRT, characterized in that the width gradually narrows. 청구항 10에 있어서,The method according to claim 10, 상기 비교패턴은,The comparison pattern, 인접 비교패턴과의 간격이 점차적으로 좁아지도록 배열되는 것을 특징으로 하는 CRT의 포커스 검사장치.The focus inspection apparatus of the CRT, characterized in that arranged so that the interval with the adjacent comparison pattern is gradually narrowed. 청구항 10 내지 청구항 13중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 10 to 13, 상기 비교패턴은,The comparison pattern, 다수의 수평비교패턴군과 수직비교패턴군을 포함하는 것을 특징으로 하는 CRT의 포커스 검사장치.CRT focus inspection apparatus comprising a plurality of horizontal comparison pattern group and a vertical comparison pattern group. 청구항 10 내지 청구항 13중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 10 to 13, 상기 포커스상태판단부는,The focus state determination unit, 상기 CRT상에 표시된 기준패턴의 휘도값과 비교패턴의 휘도 평균값을 비교하여 CRT의 포커스상태를 판단하는 것을 특징으로 하는 CRT의 포커스 검사장치.And focus value of the CRT is determined by comparing the luminance value of the reference pattern displayed on the CRT with the luminance average value of the comparison pattern. 청구항 14에 있어서,The method according to claim 14, 상기 포커스상태판단부는,The focus state determination unit, 상기 CRT상에 표시된 기준패턴의 휘도값과 비교패턴의 휘도 평균값을 비교하여 CRT의 포커스상태를 판단하는 것을 특징으로 하는 CRT의 포커스 검사장치.And focus value of the CRT is determined by comparing the luminance value of the reference pattern displayed on the CRT with the luminance average value of the comparison pattern. 청구항 10 내지 청구항 13중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 10 to 13, 상기 포커스상태판단부는,The focus state determination unit, 상기 CRT상에 표시된 기준패턴의 휘도값과 상기 비교패턴의 최소휘도값으로부터 올림차순으로 추출한 N개의 휘도의 평균값을 비교하여 CRT의 포커스상태를 판단하는 것을 특징으로 하는 CRT의 포커스 검사장치.And focus value of the CRT is determined by comparing the luminance value of the reference pattern displayed on the CRT with the average value of N luminance values extracted in ascending order from the minimum luminance value of the comparison pattern. 청구항 14에 있어서,The method according to claim 14, 상기 포커스상태판단부는,The focus state determination unit, 상기 CRT상에 표시된 기준패턴의 휘도값과 상기 비교패턴의 최소휘도값으로부터 올림차순으로 추출한 N개의 휘도의 평균값을 비교하여 CRT의 포커스상태를 판단하는 것을 특징으로 하는 CRT의 포커스 검사장치.And focus value of the CRT is determined by comparing the luminance value of the reference pattern displayed on the CRT with the average value of N luminance values extracted in ascending order from the minimum luminance value of the comparison pattern.
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