KR100251680B1 - Method and apparatus for error control on atm system - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: An apparatus for managing an OAM(Operation Administration and Maintenance) fault in an ATM(Asynchronous Transfer Mode) network is provided to process a fault management with a CPU and another hardware, so as to prevent wrong operations caused by the load increase of the CPU or the loss of OAM cells. CONSTITUTION: Fault state fields for indicating fault states are allocated to each storing area of a memory(10) for storing connection information, relating to each connection of an ATM(Asynchronous Transfer Mode) network, respectively. Whenever cells for a fault management OAM(Operation Administration and Maintenance) are received, values with which states of the received cells have to be maintained, are written in the fault state fields corresponding to the connections. The state values of the fault state fields are sequentially identified one by one, every constant period. If the state values do not expire, the state values are changed as many as constant unit values.

Description

비동기 전송모드 망에서 보수운용관리 고장상태 처리방법 및 장치Maintenance operation management fault condition processing method and device in asynchronous transmission mode network

본 발명은 비동기 전송모드(Asynchronous Transfer Mode: 이하 "ATM"이라 함) 망(network)의 보수운용관리(Operation, Administration and Maintenance: 이하 "OAM"이라 함)에 관한 것으로, 특히 고장상태 처리(fault management)를 하는 방법 및 장치에 관한 것이다.The present invention relates to the operation, administration and maintenance (AAM) of the asynchronous transfer mode (hereinafter referred to as "ATM") network, in particular fault status processing (fault) The present invention relates to a method and an apparatus for management.

통상적으로 ATM 망에 있어서 망 종단장치, UNI(User-Network Interface)나 NNI(Network Node Interface)에서 ATM 레이어(layer)기능을 수행하는 모든 장치, ATM 프로토콜(protocol)을 적용하는 단말장치등은 OAM 기능을 필수적으로 구비한다. 이러한 장치들에 있어서 OAM부는 전송로나 교환기가 정상적으로 작동하고 있는지를 검색하거나, 셀(cell) 손실 또는 동작오류여부등의 성능을 감시한다. 그리고 OAM의 기능으로는 고장통지, 도통시험, 반환시험, 성능시험등이 있다. 이중에서 고장통지는 고장을 검출한 하류의 교환기에서 고장발생을 알리는 고장상태 처리 OAM 셀인 AIS(Alarm Indication Signal) 셀을 착신측의 단말에 송출하는 것이다. 이때 착신측 단말에서는 원격수신고장을 알리는 고장상태 처리 OAM 셀인 RDI(Remote Defect Indication) 셀을 발신측 단말에 반복 송출하여 고장을 통지한다. 이들 신호를 바탕으로 착,발신측의 두 단말간의 커넥션(connection) 재접속이나 우회가 시도된다.In general, in an ATM network, network end devices, all devices performing an ATM layer function in a user-network interface (UN) or a network node interface (NNI), and terminal devices applying an ATM protocol are OAMs. Essentially equipped with the function. In these devices, the OAM unit detects whether a transmission line or exchange is operating normally, or monitors performance such as cell loss or operation error. OAM functions include fault notification, continuity test, return test, and performance test. Among them, a fault notification is to send an Alarm Indication Signal (AIS) cell, which is a fault condition processing OAM cell, to notify the occurrence of a fault in a downstream exchange which detects a fault to a terminal of a called party. At this time, the called terminal repeatedly transmits a RDI (Remote Defect Indication) cell, which is a failure state processing OAM cell for notifying a remote receiving failure, to notify the calling terminal of the failure. Based on these signals, connection reconnection or bypass is attempted between two terminals on the called and calling sides.

ATM 망의 구성요소(network element)가 AIS 셀이나 RDI 셀을 수신했을 경우, AIS 상태 또는 RDI 상태에 돌입한다. AIS 상태나 RDI 상태에서 정상(normal) 상태로 복구되는 조건은 다음과 같다. 첫 번째 조건은 사용자 셀이나 CC(Continuity Check) 셀을 수신하는 경우이고, 두 번째 조건은 AIS 셀을 2.5±0.5초 동안 수신하지 않는 경우이다. 또한 3.5±0.5초 동안 사용자 셀이나 CC 셀이 수신되지 않을 경우 CC 페일(fail)이 된다. 이에 대한 상세한 내용은 ITU-T(International Telecommunication Union-Telecommunications standardization sector) 권고안 I.610에 규정되어 있다. 상기 CC 셀은 도통시험을 하기 위한 OAM 셀로서, 회선을 개통시킬 때나, 사용자 셀이 있는지 없는지 혹은 커넥션이 도중에 끊겨 있는지 어떤지 등의 구별이 가지 않을 때 CC를 행하기 위해 송출하는 셀이다.When an ATM network element receives an AIS cell or an RDI cell, the ATM element enters the AIS state or the RDI state. The conditions for recovering from the AIS state or the RDI state to the normal state are as follows. The first condition is a case of receiving a user cell or a CC (Continuity Check) cell, and the second condition is a case in which an AIS cell is not received for 2.5 ± 0.5 seconds. In addition, if a user cell or CC cell is not received for 3.5 ± 0.5 seconds, a CC fail. Details of this are provided in Recommendation I.610, International Telecommunication Union-Telecommunications standardization sector (ITU-T). The CC cell is an OAM cell for conducting a conduction test, and is a cell which is sent to perform CC when the circuit is opened or when there is no distinction between whether a user cell exists or whether a connection is cut off.

현재 ATM 교환기에서는 AIS, RDI, CC 등의 고장상태 처리 OAM 셀을 CPU(Central Processing Unit)가 수신하여 상술한 조건에 맞추어서 소프트웨어(software)적으로 AIS 상태나 RDI 상태를 발생시키는 방법을 채택하고 있다. 그러나 이 방법은 커넥션의 수가 증가할 때는 CPU의 로드(load)를 심각하게 증가시키므로 오동작을 발생시킬 소지가 매우 높다. 이 뿐만아니라 현재 CPU의 처리속도에 비해 셀의 입력 속도가 훨씬 빠르므로 OAM 셀의 유실도 초래할 수도 있다. 참고적으로 ATM-ESS 교환기에 있어서 셀의 입력 속도는 155Mbps이다.At present, the ATM switch adopts a method of receiving a fault processing OAM cell such as AIS, RDI, CC, etc. by the central processing unit (CPU) and generating AIS state or RDI state in software according to the above conditions. . However, this method greatly increases the load on the CPU when the number of connections increases, which is very likely to cause a malfunction. In addition, the input speed of the cell is much faster than the processing speed of the current CPU, which may result in the loss of the OAM cell. For reference, the input speed of a cell in an ATM-ESS exchange is 155Mbps.

상술한 바와 같이 종래에는 ATM 망에 있어서 고장상태 처리를 CPU에서 소프트웨어로 처리함에 따라 CPU의 로드 증가로 인해 오동작이 발생하게 되고 OAM 셀의 유실을 초래하게 되는 문제점이 있었다.As described above, in the conventional ATM network, as the failure state processing is performed by the CPU in the software, a malfunction occurs due to an increase in the load of the CPU and causes a loss of the OAM cell.

따라서 본 발명의 목적은 ATM 망에 있어서 OAM 고장상태 처리를 CPU의 로드없이 할 수 있는 고장상태 처리방법 및 장치를 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a failure state processing method and apparatus that can perform OAM failure state processing in an ATM network without load of a CPU.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 처리구간의 타이밍도,1 is a timing diagram of a processing section according to an embodiment of the present invention;

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 고장상태 처리장치의 블록구성도,2 is a block diagram of a failure state processing apparatus according to an embodiment of the present invention;

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 도 2의 메모리 맵도,3 is a memory map of FIG. 2 in accordance with an embodiment of the present invention;

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 셀 수신 처리부의 처리 흐름도,4 is a flowchart illustrating processing of a cell receiving processor according to an exemplary embodiment of the present invention;

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 만료 처리부의 처리 흐름도,5 is a processing flowchart of an expiration processing unit according to an embodiment of the present invention;

도 6은 본 발명의 만료 처리 타이밍도.6 is an expiration processing timing diagram of the present invention.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명은 ATM 망의 커넥션들 각각에 대한 커넥션정보를 각각 하나씩 저장하기 위한 메모리의 저장영역들 각각에 고장상태를 나타내기 위한 고장상태 피일드를 할당하는 과정과, 고장상태 처리 OAM을 위한 셀을 수신할 때마다 수신된 셀에 해당하는 상태가 유지되어야 할 값을 해당 커넥션에 대응하는 고장상태 피일드에 라이트하는 과정과, 커넥션들에 대한 고장상태 피일드의 상태값을 일정 주기마다 순차적으로 하나씩 확인하여 만료되지 않았을 경우 일정 단위값만큼 변경시키는 과정을 구비함을 특징으로 한다.The present invention for achieving the above object is the process of allocating a fault state feed for indicating a fault condition to each of the storage areas of the memory for storing one connection information for each of the connections of the ATM network, Each time a cell for the OAM is received, the process of writing a value to be maintained in the fault state shield corresponding to the connection, and a state value of the fault state shield for the connections It is characterized in that it has a process of changing by a predetermined unit value if it does not expire by sequentially checking one by one at a predetermined period.

이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 하기 설명 및 첨부 도면에서 구체적인 메모리 맵(map) 구성이나 처리 흐름과 같은 많은 특정 상세들이 본 발명의 보다 전반적인 이해를 제공하기 위해 나타나 있다. 이들 특정 상세들없이 본 발명이 실시될 수 있다는 것은 이 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명할 것이다. 그리고 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 공지 기능 및 구성에 대한 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description and the annexed drawings, numerous specific details are set forth in order to provide a more thorough understanding of the present invention, such as specific memory map configurations and processing flows. It will be apparent to those skilled in the art that the present invention may be practiced without these specific details. And a detailed description of known functions and configurations that may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention will be omitted.

우선 본 발명에서는 ITU-T 권고안 I.610에서 규정된 고장상태 처리를 종래와 달리 CPU 대신에 하드웨어적으로 구현한다. 이에따라 고장상태 처리 OAM 셀을 수신했을 경우, AIS 상태, RDI 상태를 CPU에 로드를 주지않고 처리한다. 그리고 사용자 셀이나 CC 셀을 수신했을 경우, ITU-T 권고안 I.610에서 권고한 바와 같이 AIS 상태나 RDI 상태를 해제하고 정상상태로 복구된다.First, the present invention implements the fault condition processing specified in ITU-T Rec. I.610 in hardware instead of the CPU. Accordingly, when the OAM cell is received, the AIS state and the RDI state are processed without load on the CPU. When the user cell or CC cell is received, the AIS state or the RDI state is released and restored to the normal state as recommended in ITU-T Rec. I.610.

이와같이 고장상태를 하드웨어적으로 구현하기 위해서는 다음의 두가지 처리가 수행되어야 한다. 첫 번째로 AIS 셀이나 RDI 셀을 수신한후 2.5±0.5초가 지났는지를 판별해야 한다. 그러므로 이를 구현하기 위하여 셀의 수신 여부와 관계없이 동작하는 만료 처리(expiry process)가 필요하다. 두 번째로 AIS 셀이나 RDI 셀을 수신했을때는 AIS 상태 또는 RDI 상태에 돌입하여야 하며, 사용자 셀이나 CC 셀을 수신했을 때는 정상상태로 복구되어야 한다. 이를 구현하기 위하여 셀이 수신되었을때만 수행되는 셀 수신 처리가 필요하다.In order to implement a fault condition in this manner, two processes must be performed. First, it is necessary to determine whether 2.5 ± 0.5 seconds have passed after receiving the AIS cell or the RDI cell. Therefore, to implement this, an expiry process that operates regardless of whether a cell is received is required. Secondly, when the AIS cell or the RDI cell is received, the AIS state or the RDI state should be entered, and when the user cell or the CC cell is received, the normal state should be restored. In order to implement this, cell reception processing performed only when a cell is received is required.

상기한 바와 같은 두 종류의 처리를 구현하기 위하여 본 발명은 1셀 시간 구간을 다수의 구간으로 분할하고, 셀 수신 처리와 만료 처리를 1구간동안씩 교호적으로 처리하도록 한다. 여기서 1셀 시간은 인커밍(incoming) 셀들간의 시간이다. 이하의 설명에서는 편의상 1셀 시간을 2개의 구간으로 나누어 처리하는 예를 설명한다.In order to implement the above two kinds of processing, the present invention divides one cell time interval into a plurality of intervals, and alternately processes cell reception processing and expiration processing for one interval. Here, one cell time is a time between incoming cells. In the following description, an example of processing one cell time into two sections will be described for convenience.

도 1은 상기한 바와 같이 1셀 시간을 2개의 구간으로 나누어 처리하는 예를 보인 것이다. 본 발명에 있어서 도 1에서 보는 바와 같이 1셀 시간은 셀 동기신호 C_Sync를 이용하여 구분하는데, 셀 동기신호 C_Sync간의 구간에 해당한다. 상기 셀 동기신호 C_Sync는 통상적으로 연속되는 비트열에서 셀의 선두를 찾아내어 특정짓는 신호로서 인커밍 셀에 동기된다. 이와 같이 셀 시간을 2개의 구간, 즉 셀 수신 처리구간과 만료 처리구간으로 구분하여, 셀이 입력되었을 경우 셀 수신 처리는 셀 수신 처리구간내에 처리하고, 셀의 입력과 관계없이 커넥션들에 대해 순차적으로 동작하는 만료 처리는 만료 처리구간내에서 처리한다. 여기서 셀 수신 처리구간과 만료 처리구간의 순서는 서로 바꾸어도 무방하다. 그리고 필요에 따라 셀 동기신호 C_Sync 대신에 다른 클럭을 이용할 수도 있다.1 shows an example of processing one cell time divided into two sections as described above. In the present invention, as shown in FIG. 1, one cell time is divided using the cell synchronization signal C_Sync, which corresponds to a period between the cell synchronization signals C_Sync. The cell synchronizing signal C_Sync is typically a signal which locates and specifies the head of a cell in consecutive bit streams and is synchronized with an incoming cell. In this way, the cell time is divided into two sections, that is, the cell receiving processing section and the expiration processing section. When a cell is input, the cell receiving processing is processed within the cell receiving processing section and is sequentially performed on the connections regardless of the cell input. The expiration process that is operated as is processed within the expiration process section. The order of the cell reception processing section and the expiration processing section may be interchanged. If necessary, another clock may be used instead of the cell synchronization signal C_Sync.

한편 상기한 만료 처리에 있어서 현재 갱신(update)해야할 커넥션 주소를 구하기 위해서는 하나의 글로벌 타이머(global timer)가 필요하다. 글로벌 타이머는 일정 주기마다 1씩 증가되는 x진 카운터로 구성하며, 모듈로(modulo) Q 카운터이어야 한다. 이때 Q값은 커넥션마다에 대해 M개의 고장상태를 처리한다고 할 때 M으로 나누어 떨어져야 한다. 이하에서 글로벌 타이머는 셀 동기신호 C_Sync가 하나씩 발생될때마다 1씩 증가되는 x진 카운터를 사용하는 것으로 예를들어 설명한다. 이 x진 카운터는 현재 지원할 수 있는 커넥션의 개수가 N개이고, 커넥션마다에 대해 M개의 고장상태를 처리하며, 1셀 시간이 2.7㎲라고 가정할 때, 최소한 하기 수학식 1의 수를 나타낼 수 있어야 한다. 즉, 글로벌 타이머는 최대 카운트값 GTmax이 하기 수학식 1과 같은 x진 카운터를 사용한다.On the other hand, in the expiration process, a global timer is required to obtain a connection address to be updated now. The global timer consists of a binary counter that is incremented by one every period and must be a modulo Q counter. At this time, Q value should be divided by M in case of handling M fault condition for each connection. In the following description, the global timer uses an x-counted counter that is incremented by one whenever the cell sync signal C_Sync is generated one by one. This binary counter should be able to represent at least the number of Equations 1 below, assuming that there are currently N connections that can be supported, M faults are handled per connection, and 1 cell time is 2.7 ms. do. That is, the global timer uses the binary counter such that the maximum count value GT max is equal to the following equation (1).

Figure 1019970046710_B1_M0001
Figure 1019970046710_B1_M0001

상기 수학식 1에서 4초는 고장상태 처리에 필요한 최대시간을 의미하는데, 전술한 ITU-T 권고안 I.610에서 규정된 고장상태 처리를 할 경우, CC 페일이 되는 3.5±0.5초 조건의 최대값인 4초가 이에 해당된다.In Equation 1, 4 seconds means a maximum time required for processing a fault state, and when a fault state process specified in ITU-T Rec. I.610 is performed, a maximum value of 3.5 ± 0.5 second condition becomes CC failure. 4 seconds is equivalent to this.

또한 글로벌 타이머는 1셀시간마다 1씩 증가되므로 현재 만료 처리에서 갱신해야할 커넥션 주소는 하기 수학식 2에 의해 얻어진다.In addition, since the global timer is incremented by 1 every 1 cell time, the connection address to be updated in the current expiration process is obtained by Equation 2 below.

Figure 1019970046710_B1_M0002
Figure 1019970046710_B1_M0002

상기 수학식 2에서 CONN_ID는 커넥션 주소이고, GT는 글로벌 타이머의 카운트값이며, M과 N은 상기 수학식 1에서와 같다. 그리고 [GT/M]은 GT/M을 넘지 않는 최대 정수이다. 예를 들어 [3.5]=3이다.In Equation 2, CONN_ID is a connection address, GT is a count value of a global timer, and M and N are the same as in Equation 1 above. And [GT / M] is the maximum integer not exceeding GT / M. For example, [3.5] = 3.

도 2는 상기한 바와 같은 고장처리를 하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 고장상태 처리장치의 블록구성도를 보인 것으로, 통상적인 ATM 망의 OAM부에 적용된다. 메모리(10)는 ATM 망의 커넥션들 각각에 대한 커넥션정보를 각각 하나씩 대응되게 저장하기 위한 저장영역들 각각에 고장상태를 나타내기 위한 고장상태 피일드가 할당된다.Figure 2 shows a block diagram of a failure state processing apparatus according to an embodiment of the present invention for performing the above-described failure, which is applied to the OAM portion of a typical ATM network. The memory 10 is allocated a failure state feed for indicating a failure state to each of the storage areas for correspondingly storing one connection information for each connection of the ATM network.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 상기 메모리(10)의 메모리 맵을 보인 것으로, n+1개의 커넥션이 있는 경우의 예를 보인 것이다. 도 3에서 보는 바와 같이 메모리(10)에서 커넥션들 각각에 하나씩 대응하는 저장영역들에는 통상적인 기타 커넥션정보들 피일드(20)이외에 본 발명의 실시예에 따라 고장상태를 나타낼 수 있는 AIS 상태 피일드(22)와 RDI 상태 피일드(24)와 CC 상태 피일드(26)로 이루어지는 고장상태 피일드를 할당한다. 이러한 고장상태 피일드는 n비트로 구성하며, 후술하는 바와 같이 AIS 상태나 RDI 상태가 발생했을 경우 셀 수신 처리에 의해 만료값이 아닌 값을 유지하도록 하고, AIS 상태나 RDI 상태가 발생한지 약 2.5초가 경과되면 만료 처리에 의해 만료값이 되도록 한다. 이하에서 만료값은 0으로 설정하는 것으로 예를 들어 설명한다. 따라서 사용자는 이러한 메모리(10)의 고장상태 피일드를 확인함으로써 별도의 고장상태 처리 OAM 셀 처리 루틴(routine)없이도 AIS 상태나 RDI 상태 여부를 판별할 수 있다.3 illustrates a memory map of the memory 10 according to an exemplary embodiment of the present invention, and illustrates an example in which there are n + 1 connections. As shown in FIG. 3, in the storage areas corresponding to each of the connections in the memory 10, an AIS state avoidance that may indicate a fault condition according to an embodiment of the present invention, in addition to the other connection information feed 20 which is conventional. A failure state feed consisting of a shield 22, an RDI state feed 24, and a CC state feed 26 is assigned. This failure state feed consists of n bits, and as described later, when an AIS state or an RDI state occurs, the cell reception process maintains a value other than the expiration value, and about 2.5 seconds after the AIS state or the RDI state occurs. When it has elapsed, it is set to an expiration value by the expiration process. In the following description, the expiration value is set to 0. Therefore, the user can determine whether the AIS state or the RDI state without the separate failure state processing OAM cell processing routine by checking the failure state of the memory 10.

그리고 메모리 액세스 중재기(12)는 셀 수신 처리부(16) 및 만료 처리부(18)가 메모리(10)를 액세스하는 것을 중재한다. 이와 같이 메모리에 대한 액세스를 중재하는 기술은 본 발명의 기술분야에서 공지된 기술이므로 상세한 설명을 생략한다. 또한 셀 동기신호 발생부(14)는 상기한 바와 같은 도 1의 셀 동기신호 C_Sync를 발생한다. 이때 셀 동기신호 발생부(14)는 셀 동기신호 C_Sync보다 빠른 클럭신호 SYS_CLK를 이용하여 1셀 주기마다 한번씩 펄스가 나타나는 셀 동기신호 C_Sync를 발생한다. 셀 동기신호 발생부(14)로부터 발생되는 셀 동기신호 C_Sync는 셀 수신 처리부(16)와 만료 처리부(18)에 공통으로 인가되며, 클럭신호 SYS_CLK도 셀 수신 처리부(16)와 만료 처리부(18)에 공통으로 인가된다.The memory access arbiter 12 then arbitrates the cell reception processing unit 16 and the expiration processing unit 18 to access the memory 10. As such, the technique of arbitrating access to the memory is well known in the art, and thus a detailed description thereof will be omitted. In addition, the cell synchronization signal generator 14 generates the cell synchronization signal C_Sync of FIG. 1 as described above. At this time, the cell synchronizing signal generator 14 generates a cell synchronizing signal C_Sync in which a pulse appears once every cell cycle by using a clock signal SYS_CLK which is faster than the cell synchronizing signal C_Sync. The cell synchronizing signal C_Sync generated from the cell synchronizing signal generating unit 14 is commonly applied to the cell receiving processing unit 16 and the expiration processing unit 18, and the clock signal SYS_CLK is also applied to the cell receiving processing unit 16 and the expiration processing unit 18. Is commonly applied to.

상기와 같은 상태에서 셀 수신 처리부(16)는 AIS 셀과 RDI 셀과 CC 셀과 사용자 셀중에 어느 하나를 수신할 때마다 수신된 셀에 해당하는 상태가 유지되어야 할 값을 메모리(10)에서 해당 커넥션에 대응하는 AIS 상태 피일드(22)와 RDI 상태 피일드(24)와 CC 상태 피일드(26)중 해당하는 피일드에 라이트한다. 이때 셀 수신 처리부(16)는 인커밍 셀을 입력할 때 셀 동기신호 C_Sync에 동기하여 입력한다. 그리고 셀 수신 처리부(16)는 셀 동기신호 발생부(14)로부터 발생되는 셀 동기신호 C_Sync를 기준으로 구분되는 도 1의 셀 수신 처리구간동안 동작한다. 이러한 셀 수신 처리부(16)는 후술하는 바와 같은 도 4의 흐름도에 따라 통상적인 VHDL(Very high speed Hardware Description Language)을 이용하여 설계하면 된다.In the above state, whenever the cell reception processor 16 receives any one of an AIS cell, an RDI cell, a CC cell, and a user cell, the cell reception processor 16 corresponds to a value in the memory 10 to maintain a state corresponding to the received cell. A corresponding one of the AIS state feed 22, the RDI state feed 24, and the CC state feed 26 corresponding to the connection is written to. At this time, the cell reception processing unit 16 inputs the incoming cell in synchronization with the cell synchronization signal C_Sync. The cell reception processing unit 16 operates during the cell reception processing section of FIG. 1 divided based on the cell synchronization signal C_Sync generated from the cell synchronization signal generation unit 14. The cell reception processing unit 16 may be designed using a conventional VHDL (Very High Speed Hardware Description Language) according to the flowchart of FIG. 4 as described later.

그리고 만료 처리부(18)는 커넥션들에 대해 메모리(10)의 고장상태 피일드, 즉 AIS 상태 피일드(22)와 RDI 상태 피일드(24)와 CC 상태 피일드(26)에 각각 저장되어 있는 AIS 상태값과 RDI 상태값과 CC 상태값을 셀 동기신호 C_Sync의 주기마다 순차적으로 하나씩 확인하여 만료값이 되지 않았을 경우 일정 단위값만큼 변경시킨다. 이를 위해 만료 처리부(18)는 상기한 바와 같은 글로벌 타이머를 구비한다. 여기서 만료값은 상기한 바와 같이 0으로 설정하므로 이하에서 만료 처리부(18)는 갱신 주기마다 해당 상태값을 1씩 감소시키는 것으로 예를 들어 설명한다. 이러한 만료 처리는 셀의 수신과는 관계없이 지원하는 커넥션에 대해서 순차적으로 수행된다. 그리고 커넥션의 액티브 여부와는 관계없이 만료 처리가 수행된다. 그리고 만료 처리부(18)는 셀 동기신호 발생부(14)로부터 발생되는 셀 동기신호 C_Sync를 기준으로 구분되는 도 1의 만료 처리구간동안 동작한다. 이러한 만료 처리부(18)는 후술하는 바와 같은 도 5의 흐름도에 따라 상기한 셀 수신 처리부(16)와 마찬가지로 VHDL을 이용하여 설계하면 된다.In addition, the expiration processing unit 18 stores the failure state feed of the memory 10, that is, the AIS state feed 22, the RDI state feed 24, and the CC state feed 26, respectively, for the connections. The AIS status value, the RDI status value, and the CC status value are checked one by one for each cycle of the cell synchronization signal C_Sync. To this end, the expiration processing unit 18 is provided with a global timer as described above. Here, since the expiration value is set to 0 as described above, the expiration processing unit 18 will be described below by decreasing the corresponding state value by 1 for each update period. This expiration process is performed sequentially for the supporting connection regardless of the reception of the cell. The expiration process is performed regardless of whether the connection is active. The expiration processing unit 18 operates during the expiration processing section of FIG. 1 divided based on the cell synchronizing signal C_Sync generated from the cell synchronizing signal generating unit 14. The expiration processing unit 18 may be designed using VHDL similarly to the cell reception processing unit 16 described above according to the flowchart of FIG. 5 as described later.

참고적으로 현재 지원할 수 있는 커넥션의 개수가 N개이고, 커넥션마다에 대해 M개의 고장상태를 처리하며, 1셀 시간이 2.7㎲이라고 가정할 때, 커넥션마다의 고장상태 피일드의 만료 처리 갱신 주기는 하기 수학식 3과 같다.For reference, assuming that the number of currently supported connections is N, M faults are handled for each connection, and 1 cell time is 2.7 ms, the expiration processing update period of the fault status feed for each connection is Equation 3 below.

갱신 주기=2.7㎲×M×NUpdate cycle = 2.7 ms × M × N

그러므로 만일 전체 4096개의 커넥션을 지원하고, 상기와 같이 AIS, RDI, CC의 3가지의 고장상태를 제공한다고 가정하면, M=4096, N=3이므로 어느 1개의 커넥션에 대한 고장상태 피일드의 갱신 주기는 4096×2.7㎲×3=33.178㎳가 된다. 이에따라 메모리(10)의 고장상태 피일드에 라이트할 상태값은 하기 수학식 4와 같이 된다.Therefore, if it supports a total of 4096 connections and provides three failure states of AIS, RDI, and CC as above, M = 4096, N = 3. The period is 4096 x 2.7 s x 3 = 33.178 s. Accordingly, the state value to be written to the fault state feed of the memory 10 is expressed by Equation 4 below.

Figure 1019970046710_B1_M0003
Figure 1019970046710_B1_M0003

상기 수학식 4에서 P는 필요한 상태를 유지하여야 할 시간이다. 여기서 M=4096, N=3이고 AIS 상태와 RDI 상태가 각각 2.5초동안 유지되어야 할 경우라면, 상태값은 2.5÷(2.7×10-6×4096×3)=75.35가 된다. 그러므로 이러한 경우 AIS 상태 피일드(22)와 RDI 상태 피일드(24)에 75(4B'h)를 라이트한다. 그리고 M=4096, N=3이고 CC 상태가 3.5초동안 유지되어야 할 경우라면, 상태값은 3.5÷(2.7×10-6×4096×3)=105.49가 된다. 그러므로 이러한 경우 CC 상태 피일드(26)에 105(69'h)를 라이트한다.In Equation 4, P is a time to maintain the required state. If M = 4096, N = 3 and the AIS state and the RDI state are to be maintained for 2.5 seconds, respectively, the state value is 2.5 ÷ (2.7 x 10 -6 x 4096 x 3) = 75.35. Therefore, in this case, 75 (4B'h) is written to the AIS state feed 22 and the RDI state feed 24. If M = 4096, N = 3 and the CC state is to be maintained for 3.5 seconds, then the state value is 3.5 ÷ (2.7 x 10 -6 x 4096 x 3) = 105.49. Therefore, in this case, 105 (69'h) is written to the CC state feed 26.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 셀 수신 처리부(16)의 처리 흐름도를 보인 것이다. 만일 셀 수신 처리부(16)에 수신되는 인커밍 셀이 고장상태 처리를 위한 OAM 셀인 경우, 셀 수신 처리부(16)는 도 4의 (100)단계에서 이에 응답하여 (102)단계에서 현재의 커넥션 주소를 확인하고 (104)단계에서 셀 종류를 검사한다. 이때 만일 AIS 셀을 수신한 경우라면, 셀 수신 처리부(16)는 (106)단계에서 메모리(10)에서 해당 커넥션에 대한 AIS 상태 피일드(22)에 AIS 상태가 유지되어야 할 상태값을 라이트한다. 이때 전술한 예에서와 같이 AIS 상태가 2.5초동안 유지되어야 할 경우라면 상태값을 75(4B'h)로 라이트한다. 이와 달리 RDI 셀을 수신한 경우라면, 셀 수신 처리부(16)는 (108)단계에서 메모리(10)에서 해당 커넥션에 대한 RDI 상태 피일드(24)에 RDI 상태가 유지되어야 할 상태값을 라이트한다. 이때 전술한 예에서와 같이 RDI 상태가 2.5초가 유지되어야 할 경우라면 75(4B'h)를 라이트한다.4 shows a processing flowchart of the cell receiving processing unit 16 according to the embodiment of the present invention. If the incoming cell received by the cell reception processing unit 16 is an OAM cell for fault condition processing, the cell reception processing unit 16 responds to this in step 100 of FIG. 4 and responds with the current connection address in step 102. In step 104, the cell type is checked. In this case, if the AIS cell is received, the cell receiving processor 16 writes a state value in which the AIS state is to be maintained in the AIS state feed 22 for the connection in the memory 10 in step 106. . At this time, if the AIS state should be maintained for 2.5 seconds as in the above example, the state value is written as 75 (4B'h). In contrast, in the case of receiving the RDI cell, the cell receiving processor 16 writes a state value in which the RDI state is to be maintained in the RDI state feed 24 for the connection in the memory 10 in step 108. . At this time, if the RDI state is to be maintained for 2.5 seconds as in the above-described example, it writes 75 (4B'h).

그리고 CC 셀이나 사용자 셀을 수신한 경우라면, 셀 수신 처리부(16)는 (110)단계에서 메모리(10)의 해당 커넥션정보의 CC 상태 피일드(26)에 CC가 페일되는 상태값을 라이트하고, AIS 상태 피일드(22)와 RDI 상태 피일드(24)의 값을 0으로 라이트한다. 이때 AIS 상태값과 RDI 상태값을 0으로 라이트하는 것은 전술한 바와 같이 사용자 셀이나 CC 셀을 수신하는 경우 AIS 상태나 RDI 상태에서 해제되어 정상상태로 복구되어야 하기 때문이다. 그리고 예를들어 전술한 예에서와 같이 3.5초동안 사용자 셀이나 CC 셀이 없을 경우 CC 페일이 된다고 하면, 105(69'h)를 라이트한다. 여기서 AIS 상태, RDI 상태, CC 페일 상태등이 해제되는 조건은 사용자의 요구에 따라 플렉시블(flexible)하게 정할 수 있다.When the CC cell or the user cell is received, the cell receiving processor 16 writes a state value at which CC is failed to the CC state feed 26 of the connection information of the memory 10 in step 110. The values of the AIS state feed 22 and the RDI state feed 24 are written to zero. At this time, writing the AIS state value and the RDI state value to 0 is because when the user cell or CC cell is received as described above, the AIS state value and the RDI state value should be released from the AIS state or the RDI state and restored to the normal state. For example, if there is no user cell or CC cell for 3.5 seconds as in the above-described example, a CC fail is written, and 105 (69'h) is written. The condition under which the AIS state, the RDI state, the CC fail state, etc. are released may be determined flexibly according to a user's request.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 만료 처리부(18)의 처리 흐름도를 보인 것이고, 도 6는 만료 처리 타이밍을 보인 것이다. 먼저 만료 처리부(18)는 초기화시에 도 5의 (200)단계에서 글로벌 타이머의 카운트값 GT과 AIS 상태값과 RDI 상태값과 CC 상태값을 0으로 초기화한다. 이후 만료 처리부(18)는 셀 동기신호 C_Sync의 주기마다 (202)단계에서 (204)단계를 수행한다. 즉, 만료 처리부(18)는 셀 동기신호 발생부(14)로부터 셀 동기신호 C_Sync가 입력되는 이벤트(event)가 발생될때마다 (204)단계를 수행한다. 상기 (204)단계에서 만료 처리부(18)는 글로벌 타이머의 카운트값 GT를 1증가시키고 (206)단계에서 상기한 수학식 2에 의해 현재 갱신해야할 커넥션 주소 CONN_ID를 얻는다.5 shows a processing flow diagram of the expiration processing unit 18 according to the embodiment of the present invention, and FIG. 6 shows an expiration processing timing. First, the expiration processing unit 18 initializes the count values GT, AIS state value, RDI state value, and CC state value of the global timer to zero in step 200 of FIG. 5. Thereafter, the expiration processing unit 18 performs steps 202 to 204 for each period of the cell synchronization signal C_Sync. That is, the expiration processing unit 18 performs step 204 whenever an event in which the cell synchronization signal C_Sync is input from the cell synchronization signal generation unit 14 occurs. In step 204, the expiration processing unit 18 increases the count value GT of the global timer by one, and obtains the connection address CONN_ID to be currently updated by Equation 2 described above in step 206. FIG.

다음에 만료 처리부(18)는 (208)단계에서 메모리(10)에서 현재 커넥션 주소 CONN_ID번째 커넥션의 고장상태 피일드를 페치(fetch)하여, (210)단계에서 GT/M의 나머지를 확인한다. 여기서 지금은 M=3인 경우의 예이므로, 글로벌 타이머의 카운트값 GT을 3으로 나눈 나머지가 현재 커넥션 주소 CONN_ID번째 커넥션의 고장상태 피일드인 AIS 상태 피일드(22), RDI 상태 피일드(24), CC 상태 피일드(26)중 하나를 지정하게 된다. 이에따라 메모리(10)의 AIS 상태값과 RDI 상태값과 CC 상태값을 도 6에 보인 바와 같이 셀 동기신호 C_Sync의 1주기마다 하나씩 순차적으로 확인하고 갱신하여 3주기의 셀 동기신호 C_Sync동안에 1개의 커넥션에 대한 만료 처리를 하게 된다. 즉, GT/3의 나머지가 0이면 AIS 상태를 갱신하고, 1이면 RDI 상태를 갱신하며, 2이면 CC 상태를 갱신하게 된다.Next, the expiration processing unit 18 fetches the failed state feed of the current connection address CONN_ID-th connection in the memory 10 in step 208, and checks the rest of the GT / M in step 210. Here, since M = 3 is an example, the AIS status feed 22 and the RDI status feed 24, which are the failure status feed of the current connection address CONN_ID-th connection, remainder after dividing the count value GT of the global timer by 3 ), One of the CC status feeds 26. Accordingly, as shown in FIG. 6, the AIS state value, the RDI state value, and the CC state value of the memory 10 are sequentially checked and updated one by one for each cycle of the cell synchronization signal C_Sync, and one connection is performed during the three periods of the cell synchronization signal C_Sync. Will be expired. That is, if the rest of GT / 3 is 0, the AIS state is updated, if it is 1, the RDI state is updated, and if it is 2, the CC state is updated.

상기 (210)단계에서 GT/3의 나머지가 0이라면 만료 처리부(18)는 (212)단계에서 메모리(10)의 현재 커넥션 주소 CONN_ID번째 커넥션의 AIS 상태 피일드(22)에 저장되어 있는 AIS 상태값이 0인가를 확인한다. 이때 AIS 상태값이 0이 아니라면 만료 처리부(18)는 (214)단계에서 AIS 상태값을 1감소시켜 다시 현재 커넥션 주소 CONN_ID번째 커넥션의 AIS 상태 피일드(22)에 라이트하고 상기한 (202)단계로 돌아간다. 이와 달리 AIS 상태값이 0이라면 만료 처리부(18)는 바로 상기한 (202)단계로 돌아간다. 그러므로 이러한 경우 AIS 상태값이 0으로 유지된다.In step 210, if the remainder of the GT / 3 is 0, the expiration processing unit 18 stores the AIS state stored in the AIS state feed 22 of the current connection address CONN_ID-th connection of the memory 10 in step 212. Check that the value is zero. In this case, if the AIS state value is not 0, the expiration processing unit 18 decreases the AIS state value by 1 in step 214 and writes the AIS state feed 22 of the current connection address CONN_ID-th connection again in step 202. Return to On the contrary, if the AIS state value is 0, the expiration processing unit 18 immediately returns to step 202 described above. Therefore, in this case, the AIS status value is kept at zero.

이와 달리 상기 (210)단계에서 GT/3의 나머지가 1이라면 만료 처리부(18)는 (216)단계에서 메모리(10)의 현재 커넥션 주소 CONN_ID번째 커넥션의 RDI 상태 피일드(24)에 저장되어 있는 RDI 상태값이 0인가를 확인한다. 이때 RDI 상태값이 0이 아니라면 만료 처리부(18)는 (218)단계에서 RDI 상태값을 1감소시켜 다시 현재 커넥션 주소 CONN_ID번째 커넥션의 RDI 상태 피일드(24)에 라이트하고 상기한 (202)단계로 돌아간다. 이와 달리 RDI 상태값이 0이라면 만료 처리부(18)는 바로 상기한 (202)단계로 돌아간다. 그러므로 이러한 경우 RDI 상태값이 0으로 유지된다.In contrast, if the remainder of the GT / 3 is 1 in step 210, the expiration processing unit 18 stores the RDI state feed 24 of the current connection address CONN_ID th connection of the memory 10 in step 216. Check if the RDI status value is 0. In this case, if the RDI state value is not 0, the expiration processing unit 18 decreases the RDI state value by 1 at step 218, and then writes the RDI state feed 24 of the current connection address CONN_ID-th connection again (step 202). Return to On the contrary, if the RDI state value is 0, the expiration processing unit 18 immediately returns to step 202 described above. Therefore, in this case, the RDI state value is kept at zero.

또한 상기 (210)단계에서 GT/3의 나머지가 2라면 만료 처리부(18)는 (220)단계에서 메모리(10)의 현재 커넥션 주소 CONN_ID번째 커넥션의 CC 상태 피일드(26)에 저장되어 있는 CC 상태값이 0인가를 확인한다. 이때 CC 상태값이 0이 아니라면 만료 처리부(18)는 (222)단계에서 CC 상태값을 1감소시켜 다시 현재 커넥션 주소 CONN_ID번째 커넥션의 CC 상태 피일드(26)에 라이트하고 상기한 (202)단계로 돌아간다. 이와 달리 CC 상태값이 0이라면 만료 처리부(18)는 바로 상기한 (202)단계로 돌아간다. 그러므로 이러한 경우 CC 상태값이 0으로 유지된다.In addition, if the remainder of the GT / 3 is 2 in step 210, the expiration processing unit 18 stores the CC stored in the CC state feed 26 of the current connection address CONN_ID-th connection of the memory 10 in step 220. Check if the status value is 0. In this case, if the CC status value is not 0, the expiration processor 18 decreases the CC status value by 1 at step 222, and then writes the CC status feed 26 of the current connection address CONN_ID-th connection again in step 202. Return to On the contrary, if the CC state value is 0, the expiration processing unit 18 immediately returns to step 202 described above. Therefore, in this case, the CC status value is kept at zero.

따라서 모든 커넥션의 AIS 상태값과 RDI 상태값과 CC 상태값이 셀 동기신호 C_Sync의 주기마다 하나씩 순차적으로 갱신된다. 예를 들어 AIS 셀이 수신되면 셀 수신 처리부(16)에 의해 0이 아닌 값, 즉 2.5초인 경우 75가 AIS 상태값으로 라이트되고, 셀의 수신 여부와 상관없는 만료 처리부(18)에서는 1셀 시간마다 이 값을 1씩 감소시킨다. 이후 만일 2.5초가 지났을 경우 AIS 상태는 "0"이 된다. 그리고 CC 셀이나 사용자 셀이 수신되면, 셀 수신 처리부(16)에 의해 시간 상수, 즉 3.5초일 경우 105가 라이트되고, 이후 CC 셀이나 사용자 셀의 수신이 없을 경우 만료 처리에 의해 3.5초가 지나면 CC 상태는 "0"이 된다. 그러므로 사용자는 메모리(10)의 고장상태 피일드만 확인하면 된다. 이때 AIS 상태 피일드(22)에 "0"이 아닌 값이 라이트되어 있을 경우 AIS 상태에 빠진 경우가 되고, RDI 상태 피일드(24)에 "0"이 아닌 값이 라이트되어 있을 경우 RDI 상태에 빠진 경우가 된다. 또한 CC 상태 피일드(26)에 "0"이 라이트되어 있을 경우 CC 페일상태임을 알 수 있다.Therefore, the AIS state value, RDI state value, and CC state value of all connections are sequentially updated one by one for each cell synchronization signal C_Sync period. For example, when an AIS cell is received, a non-zero value, that is, 75 is written as an AIS state value when 2.5 seconds is received by the cell receiving processor 16, and one cell time is received by the expiration processor 18 regardless of whether the cell is received. Decrease this value by 1 every time. After 2.5 seconds, the AIS state is "0". When the CC cell or the user cell is received, 105 is written by the cell reception processor 16 when the time constant is 3.5 seconds, and when the CC cell or the user cell is not received, the CC state is passed after 3.5 seconds by the expiration process. Becomes "0". Therefore, the user only needs to check the failure state feed of the memory 10. At this time, if a value other than "0" is written to the AIS state feed 22, the AIS state is lost. If a value other than "0" is written to the RDI state feed 24, the RDI state is entered. It will be missing. In addition, when "0" is written in the CC state feed 26, it can be seen that the CC fail state.

따라서 CPU와 별도의 하드웨어로 고장상태를 처리함에 따라 CPU의 로드없이 고장상태 처리를 할 수 있다.Therefore, as the fault condition is handled by the hardware separate from the CPU, the fault condition can be processed without the load of the CPU.

한편 상술한 본 발명의 설명에서는 구체적인 실시예에 관해 설명하였으나, 여러가지 변형이 본 발명의 범위에서 벗어나지 않고 실시할 수 있다. 특히 본 발명의 실시예에서는 고장상태로서 AIS, RDI, CC의 3가지 예를 보였으나, 고장상태의 개수나 종류는 필요에 따라 얼마든지 달리 적용할 수 있다. 이와 마찬가지로 커넥션의 개수나 1셀 시간, 1셀 시간내 처리구간의 개수, 상태값 등도 필요에 따라 적용하면 된다. 따라서 발명의 범위는 설명된 실시예에 의하여 정할 것이 아니고 특허청구범위와 특허청구범위의 균등한 것에 의해 정하여져야 한다.Meanwhile, in the above description of the present invention, specific embodiments have been described, but various modifications can be made without departing from the scope of the present invention. Particularly, in the embodiment of the present invention, three examples of AIS, RDI, and CC are shown as failure states, but the number or type of failure states may be differently applied as necessary. Similarly, the number of connections, the one cell time, the number of processing sections within one cell time, the state value, and the like may be applied as necessary. Therefore, the scope of the invention should not be defined by the described embodiments, but should be defined by the equivalent of claims and claims.

상술한 바와 같이 본 발명은 ATM 망에 있어서 고장상태 처리를 CPU와 별도의 하드웨어로 처리함에 따라 CPU의 로드 증가로 인한 오동작이나 OAM 셀의 유실을 방지할 수 있는 잇점이 있다.As described above, the present invention has an advantage of preventing malfunction or loss of the OAM cell due to an increase in the load of the CPU as the failure state processing is handled by hardware separate from the CPU in the ATM network.

Claims (18)

비동기 전송모드 망에서 보수운용관리 고장상태 처리방법에 있어서,In the maintenance operation management fault condition processing method in asynchronous transmission mode network, 상기 비동기 전송모드 망의 커넥션들 각각에 대한 커넥션정보를 각각 하나씩 대응되게 저장하기 위한 메모리의 저장영역들 각각에 고장상태를 나타내기 위한 고장상태 피일드를 할당되는 과정과,Allocating a failure state feed to indicate a failure state to each of storage areas of a memory for correspondingly storing connection information for each of the connections of the asynchronous transmission mode network; 고장상태 처리 보수운용관리를 위한 셀을 수신할 때마다 수신된 셀에 해당하는 상태가 유지되어야 할 값을 해당 커넥션에 대응하는 고장상태 피일드에 라이트하는 과정과,Fault condition processing A process of writing a value to maintain a state corresponding to a received cell to a fault state feed corresponding to a corresponding connection each time a cell for maintenance operation management is received; 상기 커넥션들에 대한 고장상태 피일드의 상태값을 일정 주기마다 순차적으로 하나씩 확인하여 만료되지 않았을 경우 일정 단위값만큼 변경시키는 과정을 구비함을 특징으로 하는 고장상태 처리방법.And checking the status values of the failure status feeds for the connections sequentially one by one at a predetermined period, and changing them by a predetermined unit value if they have not expired. 제1항에 있어서, 상기 일정 주기가, 1셀 시간임을 특징으로 하는 고장상태 처리방법.The method of claim 1, wherein the predetermined period is one cell time. 제1항에 있어서, 상기 변경이, 상기 상태값을 상기 단위값만큼 감소시키는 것임을 특징으로 하는 고장상태 처리방법.The fault condition processing method according to claim 1, wherein the change is to reduce the state value by the unit value. 제3항에 있어서, 상기 만료값이 0으로 설정되고, 상기 단위값이 1임을 특징으로 하는 고장상태 처리방법.4. The method of claim 3, wherein the expiration value is set to zero and the unit value is one. 비동기 전송모드 망에서 보수운용관리 고장상태 처리장치에 있어서,In the maintenance operation management fault condition processing device in the asynchronous transmission mode network, 상기 비동기 전송모드 망의 커넥션들 각각에 대한 커넥션정보를 각각 하나씩 대응되게 저장하기 위한 저장영역들을 가지며, 상기 저장영역들 각각에 고장상태를 나타내기 위한 고장상태 피일드가 할당되는 메모리와,A memory having storage areas for correspondingly storing connection information for each of the connections of the asynchronous transmission mode network, and each of the storage areas being allocated a failure state feed for indicating a failure state; 고장상태 처리 보수운용관리를 위한 셀을 수신할 때마다 수신된 셀에 해당하는 상태가 유지되어야 할 값을 해당 커넥션에 대응하는 고장상태 피일드에 라이트하는 셀 수신 처리부와,A cell reception processing unit for writing a value in which a state corresponding to a received cell should be maintained in a failure state feed corresponding to a corresponding connection each time a cell for fault condition processing maintenance operation management is received; 상기 커넥션들에 대한 상태값을 일정 주기마다 순차적으로 하나씩 확인하여 만료되지 않았을 경우 일정 단위값만큼 변경시키는 만료 처리부와,An expiration processing unit which sequentially checks the state values of the connections one by one at a predetermined period and changes them by a predetermined unit value when they have not expired; 상기 셀 수신 처리부와 만료 처리부의 상기 메모리에 대한 액세스를 중재하는 메모리 액세스 중재기를 구비함을 특징으로 하는 고장상태 처리장치.And a memory access arbiter for arbitrating access to the memory of the cell receiving processing section and the expiration processing section. 제5항에 있어서, 상기 일정 주기가 인커밍 셀에 동기되는 셀 동기신호를 기준으로 한 1셀 시간임을 특징으로 하는 고장상태 처리장치.The fault condition processing apparatus according to claim 5, wherein the predetermined period is one cell time based on a cell synchronization signal synchronized with an incoming cell. 제5항에 있어서, 상기 만료 처리부가, 상기 상태값을 상기 단위값만큼 감소시켜 변경함을 특징으로 하는 고장상태 처리장치.The fault condition processing apparatus according to claim 5, wherein the expiration processing unit changes the state value by decreasing the unit value. 제5항에 있어서, 상기 만료값이 0으로 설정되고, 상기 단위값이 1임을 특징으로 하는 고장상태 처리장치.The fault condition processing apparatus according to claim 5, wherein the expiration value is set to 0 and the unit value is 1. 제6항에 있어서, 상기 셀 수신 처리부와 만료 처리부가, 상기 1셀 시간을 분할한 다수의 구간에 대해 1구간동안씩 교호적으로 동작함을 특징으로 하는 고장상태 처리장치.The fault condition processing apparatus according to claim 6, wherein the cell reception processing unit and the expiration processing unit alternately operate for one section for a plurality of sections in which the one cell time is divided. 제6항에 있어서, 상기 셀 수신 처리부가 상기 1셀 시간을 분할한 2개의 구간중 1구간동안 동작하고, 상기 만료 처리부가 상기 2개의 구간중 나머지 1구간동안 동작함을 특징으로 하는 고장상태 처리장치.The fault condition processing according to claim 6, wherein the cell receiving processing unit operates for one section of two sections in which the one cell time is divided, and the expiration processing section operates for the remaining one section of the two sections. Device. 제5항에 있어서, 상기 상태값이, 고장상태 처리 조건에 따라 설정됨을 특징으로 하는 고장상태 처리장치.The fault condition processing apparatus according to claim 5, wherein the state value is set according to a fault condition processing condition. 비동기 전송모드 망에서 보수운용관리 고장상태 처리장치에 있어서,In the maintenance operation management fault condition processing device in the asynchronous transmission mode network, 상기 비동기 전송모드 망의 커넥션들 각각에 대한 커넥션정보를 각각 하나씩 대응되게 저장하기 위한 저장영역들을 가지며, 상기 저장영역들 각각에 고장상태를 나타내기 위한 AIS 상태 피일드와 RDI 상태 피일드와 CC 상태 피일드가 할당되는 메모리와,Storage areas for correspondingly storing one connection information for each connection of the asynchronous transmission mode network, and each of the storage areas includes an AIS state feed, an RDI state feed, and a CC state to indicate a failure state. The memory to which the shield is allocated, AIS 셀과 RDI 셀과 CC 셀/사용자 셀중에 어느 하나를 수신할 때마다 상기 AIS 상태와 RDI 상태와 CC 상태중 수신된 셀에 해당하는 상태가 유지되어야 할 값을 해당 커넥션에 대응하는 AIS 상태 피일드와 RDI 상태 피일드와 CC 상태 피일드중 해당하는 피일드에 라이트하는 셀 수신 처리부와,Whenever one of an AIS cell, an RDI cell, and a CC cell / user cell is received, a value for which a state corresponding to the received cell among the AIS state, the RDI state, and the CC state is to be maintained is avoided. A cell reception processing unit for writing to a corresponding one of a shield, an RDI state feed, and a CC state feed; 상기 커넥션들에 대한 AIS 상태값과 RDI 상태값과 CC 상태값을 일정 주기마다 순차적으로 하나씩 확인하여 만료되지 않았을 경우 일정 단위값만큼 변경시키는 만료 처리부와,An expiration processing unit which checks the AIS state value, the RDI state value, and the CC state value of the connections one by one at a predetermined period, and changes the unit value by a predetermined unit value when it has not expired; 상기 셀 수신 처리부와 만료 처리부의 상기 메모리에 대한 액세스를 중재하는 메모리 액세스 중재기를 구비함을 특징으로 하는 고장상태 처리장치.And a memory access arbiter for arbitrating access to the memory of the cell receiving processing section and the expiration processing section. 제12항에 있어서, 상기 일정 주기가 인커밍 셀에 동기되는 셀 동기신호를 기준으로 한 1셀 시간임을 특징으로 하는 고장상태 처리장치.The fault condition processing apparatus according to claim 12, wherein the predetermined period is one cell time based on a cell synchronization signal synchronized with an incoming cell. 제12항에 있어서, 상기 만료 처리부가, 상기 상태값을 상기 단위값만큼 감소시켜 변경함을 특징으로 하는 고장상태 처리장치.The fault condition processing apparatus according to claim 12, wherein the expiration processing unit changes the state value by decreasing the unit value. 제14항에 있어서, 상기 만료값이 0으로 설정되고, 상기 단위값이 1임을 특징으로 하는 고장상태 처리장치.The fault condition processing apparatus according to claim 14, wherein the expiration value is set to 0 and the unit value is 1. 제13항에 있어서, 상기 셀 수신 처리부와 만료 처리부가, 상기 1셀 시간을 분할한 다수의 구간에 대해 1구간동안씩 교호적으로 동작함을 특징으로 하는 고장상태 처리장치.The fault condition processing apparatus according to claim 13, wherein the cell reception processing unit and the expiration processing unit alternately operate for one section for a plurality of sections in which the one cell time is divided. 제13항에 있어서, 상기 셀 수신 처리부가 상기 1셀 시간을 분할한 2개의 구간중 1구간동안 동작하고, 상기 만료 처리부가 상기 2개의 구간중 나머지 1구간동안 동작함을 특징으로 하는 고장상태 처리장치.The fault condition processing according to claim 13, wherein the cell receiving processing unit operates for one section of two sections in which the one cell time is divided, and the expiration processing section operates for the remaining one section of the two sections. Device. 제12항에 있어서, 상기 상태값이, 고장상태 처리 조건에 따라 설정됨을 특징으로 하는 고장상태 처리장치.The fault condition processing apparatus according to claim 12, wherein the state value is set according to a fault condition processing condition.
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