JPS6346879A - Sampling and holding circuit - Google Patents
Sampling and holding circuitInfo
- Publication number
- JPS6346879A JPS6346879A JP61190991A JP19099186A JPS6346879A JP S6346879 A JPS6346879 A JP S6346879A JP 61190991 A JP61190991 A JP 61190991A JP 19099186 A JP19099186 A JP 19099186A JP S6346879 A JPS6346879 A JP S6346879A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transistor
- capacitor
- current
- terminal
- level
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005070 sampling Methods 0.000 title 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 23
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 abstract description 6
- 230000003068 static effect Effects 0.000 abstract description 6
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 abstract description 5
- 230000006378 damage Effects 0.000 abstract description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Picture Signal Circuits (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明はサンプルホールド回路に関する。[Detailed description of the invention] [Industrial application field] The present invention relates to a sample and hold circuit.
この発明は、クランプ回路などのサンプルホールド回路
において、これをIC化した場合の保護抵抗器を所定の
個所に接続することにより、このICを静電破壊から保
護するとき、本来の特性を低下させないようにしたもの
である。This invention enables a sample-hold circuit such as a clamp circuit to protect the IC from electrostatic damage by connecting a protective resistor to a predetermined location when it is integrated into an IC, without deteriorating its original characteristics. This is how it was done.
ビデオカメラなどに使用されるフィードバッククランプ
回路は、例えば第2図のように構成されている。A feedback clamp circuit used in a video camera or the like is configured as shown in FIG. 2, for example.
すなわち、同図において、トランジスタQ1゜Q2及び
定電流源Q11により差動アンプfl)が構成され、そ
のトランジスタQ1のベースにプリアンプなどの前段回
路(11)から輝度信号S+が供給される。この信号S
1は、例えば同図中にも示すように、白レベルが正方向
で、かつ、同期パルスを有していない輝度信号である。That is, in the figure, a differential amplifier fl) is constituted by transistors Q1 and Q2 and a constant current source Q11, and a luminance signal S+ is supplied to the base of the transistor Q1 from a pre-stage circuit (11) such as a preamplifier. This signal S
1 is a luminance signal whose white level is in the positive direction and which does not have a synchronization pulse, for example, as shown in the figure.
そして、トランジスタQ2のコレクタから信号S1と同
極性で、かつ、ブランキング期間のレベルが値Ebの輝
度信号S2が取り出され、この信号S2がガンマ補正回
路などの後段回路(12)に供給される。Then, a luminance signal S2 having the same polarity as the signal S1 and having a blanking period level of value Eb is extracted from the collector of the transistor Q2, and this signal S2 is supplied to a subsequent circuit (12) such as a gamma correction circuit. .
また、トランジスタQ3 、Q4のエミッタが、互いに
接続されるとともに、スイッチ用のトランジスタQ8の
コレクタ・エミッタ間を通じて定電流源Q13に接続さ
れて差動アンプ(2)が構成され、トランジスタQ3の
ベースに基準電圧Ecが供給され、トランジスタQ4の
ベースがトランジスタQ2のコレクタに供給される。In addition, the emitters of transistors Q3 and Q4 are connected to each other and to a constant current source Q13 through the collector and emitter of a switching transistor Q8 to form a differential amplifier (2). A reference voltage Ec is supplied, and the base of transistor Q4 is supplied to the collector of transistor Q2.
さらに、トランジスタQs、Qsにより電源ラインを基
準電位点としてカレントミラー回路(3)が構成され、
その入力側のトランジスタQ6及び出力側のトランジス
タQ5のコレクタが、トランジスタQ4.Q3のコレク
タにそれぞれ接続される。Furthermore, a current mirror circuit (3) is configured by transistors Qs and Qs with the power supply line as a reference potential point,
The collectors of the transistor Q6 on the input side and the transistor Q5 on the output side are connected to the transistor Q4. Each is connected to the collector of Q3.
また、トランジスタQ7が定電流源Q12よりエミッタ
フォロワとされ、そのベースがトランジスタQ3 +
Qsのコレクタに接続され、そのエミッタがトランジ
スタQ2のベースに接続されるとともに、トランジスタ
Q7のベースが、保護抵抗器R□及び端子T1を通じて
コンデンサC1に接続される。Further, transistor Q7 is made an emitter follower from constant current source Q12, and its base is connected to transistor Q3 +
It is connected to the collector of Qs, its emitter is connected to the base of transistor Q2, and the base of transistor Q7 is connected to capacitor C1 through protection resistor R□ and terminal T1.
さらに、トランジスタQs、Qsのエミッタが定電流源
Q−,3に接続されるとともに、信号源(13)からブ
ランキング期間にトランジスタQ8をオン、トランジス
タQ9をオフにするとともに、走査期間にはトランジス
タQ11をオフ、トランジスタQ9をオンとするクラン
プパルスP c + P cがトランジスタQs、Qs
のベースに供給される。Further, the emitters of the transistors Qs, Qs are connected to the constant current source Q-, 3, and the signal source (13) turns on the transistor Q8 during the blanking period and turns off the transistor Q9, and turns on the transistor Q9 during the scanning period. The clamp pulse P c + P c that turns off Q11 and turns on transistor Q9 is applied to transistors Qs and Qs.
supplied to the base of
なお、上述の回路は、鎖線で示すように、コンデンサC
1を除いて1つのIC(10)にIC化されるとともに
、コンデンサC1は外部ビン端子T工を通じてIC(1
0)に外付けとされる。Note that the above circuit has a capacitor C as shown by the chain line.
All but one IC (10) are integrated into one IC (10), and the capacitor C1 is connected to the IC (10) through an external pin terminal T.
0) is attached externally.
したがって、ブランキング期間になると、パルスPc、
PτによりトランジスタQ8がオンとなるので、差動ア
ンプ(2)が能動状態となり、電圧Ecと信号S2のブ
ランキングレベルEbとが比較される。Therefore, in the blanking period, the pulse Pc,
Since the transistor Q8 is turned on by Pτ, the differential amplifier (2) becomes active, and the voltage Ec is compared with the blanking level Eb of the signal S2.
そして、この場合、
■3〜■5 :トランジスタQ3〜Q5のコレクタ電流
とすれば、レベルEbが上昇してEc<Ebのときには
、13<14となるとともに、カレントミラー回路(3
)によりl5=r今なので、13<15となり、差電流
(Is I3)が、トランジスタQ5からコンデン
サC1へ流れてコンデンサC1は充電され、その端子電
圧E1は上昇する。そして、この電圧E1がトランジス
タQ7を通じてトランジスタQ2のベースに供給されて
いるので、このとき、トランジスタQ2のコレクタ電位
、すなわち、信号S2のレベルEbは下降する。In this case, if (3) to (5) are the collector currents of the transistors Q3 to Q5, then when the level Eb rises and Ec<Eb, 13<14 and the current mirror circuit (3
), since l5=rnow, 13<15, and the difference current (Is I3) flows from the transistor Q5 to the capacitor C1, charging the capacitor C1 and increasing the terminal voltage E1. Since this voltage E1 is supplied to the base of the transistor Q2 through the transistor Q7, at this time, the collector potential of the transistor Q2, that is, the level Eb of the signal S2 decreases.
一方、信号S2のレベルEbが下降してEc>Ebのと
きには、上述とは逆に73>ISとなるので、その差電
流(I3−15)がコンデンサC1からトランジスタQ
3へと放電し、その端子電圧E1が低下する。したがっ
て、トランジスタQ2のベース電位も低下し、信”9
S 2のレベルEbは上昇する。On the other hand, when the level Eb of the signal S2 falls and Ec>Eb, contrary to the above, 73>IS, so the difference current (I3-15) flows from the capacitor C1 to the transistor Q.
3, and its terminal voltage E1 decreases. Therefore, the base potential of transistor Q2 also decreases, causing a signal of "9".
The level Eb of S2 increases.
したがって、信号S2のレベルEbは、基準電圧Ecに
向って収束し、Eb =Ecで安定する。Therefore, the level Eb of the signal S2 converges toward the reference voltage Ec and becomes stable at Eb=Ec.
そして、このような動作がブランキング期間ごとに行わ
れ、走査期間にはパルスPc、Pcによりトランジスタ
Q8がオフとなってトランジスタQ3〜Qsもオフとな
るので、輝度信号S2のブランキングレベルEbは、基
準電圧Ecにクランプないしホールドされることになる
。Then, such an operation is performed every blanking period, and during the scanning period, the pulses Pc and Pc turn off the transistor Q8 and turn off the transistors Q3 to Qs, so the blanking level Eb of the brightness signal S2 is , will be clamped or held to the reference voltage Ec.
したがって、この回路はクランプ回路、すなわち、サン
プルホールド回路として働く。Therefore, this circuit acts as a clamp circuit, ie, a sample and hold circuit.
そして、この場合、IC<10)を取り扱うとき、端子
T1に例えば手が触れると、端子T1を通じて破線で示
すようにトランジスタQ3 、 Qs 、 Qvに静電
気が供給されてトランジスタQ3 + Qs rQ7は
破壊されるはずであるが、このIC(10)には抵抗器
R1が内蔵され、この抵抗器R1が端子T1からの静電
気を阻止するので、端子T1に手を触れてもトランジス
タQ3.QS、Q7が静電気により破壊されることがな
い。In this case, when handling IC<10), if the terminal T1 is touched by a hand, static electricity is supplied to the transistors Q3, Qs, and Qv through the terminal T1 as shown by the broken line, and the transistor Q3 + Qs rQ7 is destroyed. However, this IC (10) has a built-in resistor R1 that blocks static electricity from flowing through the terminal T1, so even if you touch the terminal T1, the transistor Q3. QS and Q7 are not destroyed by static electricity.
ところが、このクランプ回路においては、定常時には、
Ec =Ebなので、ブランキング期間においてはl3
=ISOはずであり、このとき、コンデンサC1への充
放電は行われないはずである。However, in this clamp circuit, during steady state,
Since Ec = Eb, l3 during the blanking period
= ISO, and at this time, the capacitor C1 should not be charged or discharged.
しかし、実際には、電流I4がカレントミラー回路(3
)により電流I5となるので、第3図A、 Bに示すよ
うに、電流I3に対して電流Isにはカレントミラー回
路(3)による遅れ期間j1+L2を生じてしまう。However, in reality, the current I4 is connected to the current mirror circuit (3
), resulting in a current I5, so that a delay period j1+L2 due to the current mirror circuit (3) occurs in the current Is with respect to the current I3, as shown in FIGS. 3A and 3B.
そして、立ち上がりの遅れ期間t1には、I3<Isと
なり、立ち下がりの遅れ期間t2には、I3<Isとな
るので、たとえEc =Ebであっても、コンデンサC
1には期間ti+j2に同図Cに示すようなパルス状の
充放電電流1pが流れてしまう。Then, during the rising delay period t1, I3<Is, and during the falling delay period t2, I3<Is, so even if Ec = Eb, the capacitor C
1, a pulsed charging/discharging current 1p as shown in FIG. 1C flows during period ti+j2.
そして、この電流rpは、抵抗器R1をも流れるので、
抵抗器R1には電流工pと同じ波形のパルス電圧Epを
生じ、これがトランジスタQ?。This current rp also flows through the resistor R1, so
A pulse voltage Ep having the same waveform as the current generator p is generated in the resistor R1, and this is generated in the transistor Q? .
Q2を通じて信号S2に付加されてしまう。It is added to the signal S2 through Q2.
また、ブランキング期間には、Eb袴Ebのとき、クラ
ンプ電流、すなわち差電流工(Is I3)がコンデ
ンサC1に流れるが、この差電流は同時に抵抗器R1を
も流れ、抵抗器R1にはその差電流に比例した降下電圧
を生じる。したがって、抵抗器R1及びコンデンサC1
の時定数のため、走査期間の開始時、Eb =Ecに収
束していなかったときには、その抵抗器R1の降下電圧
によりトランジスタQ7のベース電位に段差を生じ、し
たがって、信号S2に直流レベルの段差を生じてしまう
。In addition, during the blanking period, when Eb is Eb, a clamp current, that is, a differential current (Is I3), flows through the capacitor C1, but this differential current also flows through the resistor R1 at the same time, and the resistor R1 is Generates a voltage drop proportional to the difference current. Therefore, resistor R1 and capacitor C1
Because of the time constant, when Eb has not converged to Ec at the start of the scanning period, the voltage drop across resistor R1 causes a step in the base potential of transistor Q7, and therefore, a step in the DC level occurs in signal S2. will occur.
この発明は、これらの問題点を解決しようとするもので
ある。This invention attempts to solve these problems.
トランジスタQ3.QSのコレクタと、トランジスタQ
7のベースとの間に、保護抵抗器R2゜R3を直列接続
するとともに、抵抗器R2,R3の接続中点に、端子T
1を通じてコンデンサC1を接続する。Transistor Q3. Collector of QS and transistor Q
A protective resistor R2゜R3 is connected in series between the base of the resistor 7 and the terminal T
1 through which the capacitor C1 is connected.
電流I5の遅れやクランプ電流の影響がなくなる。 The influence of the delay of the current I5 and the clamp current is eliminated.
第1図において、トランジスタQ3.Q5のコレクタと
、トランジスタQ7のベースとの間に、保護抵抗器R2
,R3が直列接続されるとともに、コンデンサC1が端
子T1を通じて抵抗WR2。In FIG. 1, transistor Q3. A protective resistor R2 is connected between the collector of Q5 and the base of transistor Q7.
, R3 are connected in series, and the capacitor C1 is connected to the resistor WR2 through the terminal T1.
R3の接続中点に接続される。Connected to the connection midpoint of R3.
なお、−例として、 R2=R3= 100Ω CL = 0.1μF τ=R2C1=10μs R41/ 16kHz である。Furthermore, - as an example, R2=R3=100Ω CL = 0.1μF τ=R2C1=10μs R41/16kHz It is.
このような構成によれば、上述と同様にして輝度信号S
2のブランキングレベルEbは、基準電圧Ecにクラン
プされる。According to such a configuration, the luminance signal S
The blanking level Eb of No. 2 is clamped to the reference voltage Ec.
そして、この場合、端子T1に静電気が供給されても、
これは抵抗器R2,R3により阻止され、トランジスタ
Q 31 Q s r Q ?に供給されることが
なく、これらトランジスタQl 、Qs 、Q7は静電
気から保護される。In this case, even if static electricity is supplied to the terminal T1,
This is blocked by resistors R2, R3 and transistor Q 31 Q s r Q ? These transistors Ql, Qs, and Q7 are protected from static electricity.
また、電流13N対する電流I5の遅れ期間t1+t2
によりパルス電流Ipを生じようとしても、ffi抗W
R2及びコンデンサC1がローパスフィルタを構成す
るので、コンデンサC1にはパルス電圧Epを生じるこ
とはない。そして、このとき、トランジスタQ7のベー
ス電流は十分に小さくて無視でき、トランジス70丁は
コンデンサc1の端子電圧を直接取り込んでいることに
なるので、パルス電圧E9が、トランジスタQ7に供給
されることがなく、シたがって、輝度信号s2にパルス
電圧Epの含まれることがない。Also, the delay period t1+t2 of the current I5 with respect to the current 13N
Even if an attempt is made to generate a pulse current Ip by
Since R2 and capacitor C1 constitute a low-pass filter, no pulse voltage Ep is generated in capacitor C1. At this time, the base current of the transistor Q7 is sufficiently small and can be ignored, and the 70 transistors directly take in the terminal voltage of the capacitor c1, so the pulse voltage E9 cannot be supplied to the transistor Q7. Therefore, the pulse voltage Ep is not included in the brightness signal s2.
また、走査期間の開始時、Ec =Ebに収束していな
いと、コンデンサc1の充放電は急に停止させられるが
、コンデンサCsの端子電圧がそのまま帰還されている
ので、走査期間の開始時にEc =Ebに収束していな
くてもトランジスタQ7のベース電位に段差を生じるこ
とがなく、したがって、信号S2に直流レベルの段差を
生じることがない。Furthermore, if Ec does not converge to Eb at the start of the scanning period, the charging and discharging of capacitor c1 will be abruptly stopped, but since the terminal voltage of capacitor Cs is fed back as is, at the start of the scanning period Ec Even if it does not converge to =Eb, there is no step in the base potential of the transistor Q7, and therefore, there is no step in the DC level in the signal S2.
第1図はこの発明の一例の接続図、第2図、第3図はそ
の説明のための図である。
+l)、 (21は差動アンプ、(3)はカレントミラ
ー回路である。FIG. 1 is a connection diagram of an example of the present invention, and FIGS. 2 and 3 are diagrams for explaining the same. +l), (21 is a differential amplifier, (3) is a current mirror circuit.
Claims (1)
間にサンプリングして出力する第1のアンプと、 上記所定期間における上記第1のアンプの出力が供給さ
れるホールド用のコンデンサと、 このコンデンサの端子電圧を取り出す第2のアンプとを
有するサンプルホールド回路において、上記第1及び第
2のアンプは1つのICにIC化され、 上記コンデンサは上記ICに外付けとされ、上記IC内
において、上記コンデンサと上記第1のアンプとの間に
、第1の保護抵抗器が接続され、 上記コンデンサと上記第1の保護抵抗器との接続中点が
第2の保護抵抗器を通じて上記第2のアンプに接続され
たサンプルホールド回路。[Claims] A first amplifier to which an input signal is supplied, samples the input signal for a predetermined period, and outputs the sample; and a hold amplifier to which the output of the first amplifier for the predetermined period is supplied. In a sample-and-hold circuit that includes a capacitor and a second amplifier that extracts the terminal voltage of the capacitor, the first and second amplifiers are integrated into one IC, and the capacitor is externally attached to the IC, In the IC, a first protection resistor is connected between the capacitor and the first amplifier, and the midpoint of the connection between the capacitor and the first protection resistor is connected to the second protection resistor. a sample and hold circuit connected to said second amplifier through.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61190991A JPH0779430B2 (en) | 1986-08-14 | 1986-08-14 | Sample-hold circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61190991A JPH0779430B2 (en) | 1986-08-14 | 1986-08-14 | Sample-hold circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6346879A true JPS6346879A (en) | 1988-02-27 |
JPH0779430B2 JPH0779430B2 (en) | 1995-08-23 |
Family
ID=16267045
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61190991A Expired - Lifetime JPH0779430B2 (en) | 1986-08-14 | 1986-08-14 | Sample-hold circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0779430B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006523823A (en) * | 2002-12-31 | 2006-10-19 | カリプソー メディカル テクノロジーズ インコーポレイテッド | Device for finding the position of an implantable wireless marker |
-
1986
- 1986-08-14 JP JP61190991A patent/JPH0779430B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006523823A (en) * | 2002-12-31 | 2006-10-19 | カリプソー メディカル テクノロジーズ インコーポレイテッド | Device for finding the position of an implantable wireless marker |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0779430B2 (en) | 1995-08-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6346879A (en) | Sampling and holding circuit | |
JPS59108418A (en) | Signal generating circuit | |
US4499386A (en) | Trigger circuit | |
NL8302197A (en) | SECURITY CIRCUIT. | |
JP2605128B2 (en) | Detection circuit | |
JPH04196632A (en) | Optical receiving circuit | |
JPS6348979Y2 (en) | ||
JPH09145750A (en) | Constant-current circuit for digital multimeter | |
JPH0224572A (en) | Peak hold circuit | |
JPS60117971A (en) | Clamping circuit | |
JPS61263305A (en) | Hysteresis comparator | |
JP2702146B2 (en) | Amplifier circuit | |
JPS60251600A (en) | Sample and hold circuit | |
JPH0419880Y2 (en) | ||
JPH01228306A (en) | Excessive input protecting device for power amplifier | |
JPH01303012A (en) | Protective circuit | |
JPH0419679Y2 (en) | ||
JPS60117970A (en) | Clamping circuit | |
JP2550416B2 (en) | Clamp circuit | |
JPS62225014A (en) | Push-pull amplifier | |
JPS63252070A (en) | Feedback clamp circuit | |
JPH03201712A (en) | Clamp circuit | |
JPS58101399U (en) | sample hold circuit | |
JPH0663833B2 (en) | Sense amplifier circuit | |
JPS59122001A (en) | Peak detecting circuit |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |