JPS631046A - Semiconductor device - Google Patents

Semiconductor device

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JPS631046A
JPS631046A JP61142925A JP14292586A JPS631046A JP S631046 A JPS631046 A JP S631046A JP 61142925 A JP61142925 A JP 61142925A JP 14292586 A JP14292586 A JP 14292586A JP S631046 A JPS631046 A JP S631046A
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JP
Japan
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logical
register
array
data
circuit
Prior art date
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Application number
JP61142925A
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Japanese (ja)
Inventor
Tsuyoshi Shiragasawa
白ケ澤 強
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To enable the realization of a desired logical circuit on demand without the fusing of an AND array and an OR array by providing a register which can be rewritten against logical means, etc. in a field programable logic array (FPLA). CONSTITUTION:Data are written in sequence from the logical formula input terminal 11 of external terminals under the control of data control means 10 in the first and the second FF-made registers 5, 6 of, an AND array 4, an OR array 7. A desired logical operation formula due to logical product operation means 6 and logical sum operation means 9 is determined and logical operation results are stored in memory means 15 and monitored. This constitution without fusing enables the realization of a desired logical circuit on demand and the monitoring of the logical operation.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、半馬体集積回路(以下、LSIと略す)に関
するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a half-horse integrated circuit (hereinafter abbreviated as LSI).

(従来の技術) 論理回路を設計する場合、設計した回路が所望の動作を
するかどうかを検証するためにロジックシミュレーショ
ンを行なっている。
(Prior Art) When designing a logic circuit, logic simulation is performed to verify whether the designed circuit operates as desired.

従来、ロジックシミュレーションは計算機上のシミュレ
ーションソフトウェアを用いて行なうのが一般的となっ
ている。しかし、シミュレーションの対象となる論理回
路の規模が大型化している今日では。
Conventionally, logic simulation has generally been performed using simulation software on a computer. However, nowadays the scale of logic circuits that are subject to simulation is increasing.

(1)シミュレーション時間が膨大となり、効率的な設
計検証が行なえない。
(1) Simulation time becomes enormous and efficient design verification cannot be performed.

(2)計算機に大容量のメモリを必要とする。(2) The computer requires a large amount of memory.

等の問題が発生している。このため、大型の論理回路を
高速に、かつ経済的に実施する手段の実現が望まれてい
る。
Problems such as this are occurring. Therefore, it is desired to realize a means for implementing large logic circuits at high speed and economically.

上記問題に対処する方法としてハード的に論理回路をシ
ミュレーションする方法が考えられるが。
One possible way to deal with the above problem is to simulate the logic circuit using hardware.

このためには種々の論理回路仕様を実現できるとともに
シミュレーション回路の各論理素子の動作状態を!察で
きるハードウェアが必要とされる。
To this end, it is possible to realize various logic circuit specifications, and to check the operating state of each logic element in the simulation circuit! Requires hardware that can be used to detect

従来、論理回路の論理仕様をプログラマブルとしたプロ
グラムロジックアレイ(以下、PLAと略す)と呼ばれ
るLSIがある。PLAはそのプログラム方式によって
マスクPLAとフィールドPLA(以下、FPLAと略
す)とに大別され、前者はLSIメーカーのLSI製造
段階でフォトマスクを用いてLSI回路の論理をプログ
ラムするものであり、後者はLSIユーザーにおいてプ
ログラム可能としたものである。
2. Description of the Related Art Conventionally, there is an LSI called a program logic array (hereinafter abbreviated as PLA) in which the logic specifications of a logic circuit are programmable. PLA is broadly divided into mask PLA and field PLA (hereinafter abbreviated as FPLA) depending on its programming method. is programmable by the LSI user.

第4図に従来のFPLAの構成図を示す。同図において
、101はANDアレイ、102はORアレイ、103
は入力信号線、104は積項線である。
FIG. 4 shows a configuration diagram of a conventional FPLA. In the figure, 101 is an AND array, 102 is an OR array, 103
is an input signal line, and 104 is a product term line.

ANDアレイ101では入力信号の論理積演算を行ない
、積項1iA104に出力する。また、ORアレイ10
2では、積項線104の出力間の論理和演算を行ない、
その結果を出力信号線105に出力する。ここで、AN
Dアレイ101の論理積演算の内容は入力信号線と積項
線の交点に設けられたダイオード106の有無しこよっ
て決定される。
The AND array 101 performs a logical AND operation on the input signals and outputs the result to the product term 1iA 104. Also, OR array 10
2, performs a logical sum operation between the outputs of the product term line 104,
The result is output to the output signal line 105. Here, AN
The content of the AND operation of the D array 101 is determined by the presence or absence of the diode 106 provided at the intersection of the input signal line and the product term line.

本例に示したFPLAはヒユーズ方式と呼ばれるもので
あり、ダイオード106と直列接続された任意のヒユー
ズ107を溶断することによりプログラムされる。また
、ORアレイ102での論理和演算の内容は積項線10
4と出力信号線105の交点に設けられたトランジスタ
108の有無によって決定され、トランジスタのエミッ
タに接続された任意のヒユーズ107を溶断することに
よってプログラムされる。
The FPLA shown in this example is of the fuse type, and is programmed by blowing an arbitrary fuse 107 connected in series with the diode 106. Further, the content of the logical sum operation in the OR array 102 is the product term line 10
4 and the output signal line 105, and is programmed by blowing any fuse 107 connected to the emitter of the transistor.

以上のようにFPLAでは、ANDアレイ、ORアレイ
のヒユーズを溶断させることにより、所望の積和形論理
式、すなわち論理回路を実現できる。
As described above, in the FPLA, by blowing out the fuses of the AND array and the OR array, a desired sum-of-products type logic formula, that is, a logic circuit can be realized.

(発明が解決しようとする問題点) 上記のFPLAにおいては、所望の論理回路を得るため
に一旦溶断したヒユーズを再度接続することはできない
ため、−旦プログラムされたFPLAの論理式を変更す
る場合はヒユーズ溶断を追加する方向でだけしかその論
理式を変更することはできない。したがってシミュレー
ションする論理回路の仕様変更に対して柔軟に対応する
ことができない。
(Problems to be Solved by the Invention) In the above-mentioned FPLA, it is not possible to reconnect the fuse once blown to obtain the desired logic circuit. The formula can only be changed by adding fuse blowing. Therefore, it is not possible to flexibly respond to changes in the specifications of the logic circuit to be simulated.

さらに、従来のPLAには内部回路の動作状態をmJ察
する手段がないためロジックシミュレーションに応用す
ることができない欠点があった。
Furthermore, the conventional PLA has the disadvantage that it cannot be applied to logic simulations because it does not have a means for detecting the operating state of the internal circuit in mJ.

本発明の目的は、従来の欠点を解消し、1個のLSIで
実現される論理仕様を柔軟に変更可能なものとし、さら
にその時々の論理仕様における内部回路の動作状態を観
察可能なLSIを提供することである。
An object of the present invention is to eliminate the conventional drawbacks, to make it possible to flexibly change the logic specifications realized by a single LSI, and to create an LSI in which the operating state of the internal circuit can be observed based on the logic specifications at any given time. It is to provide.

(問題点を解決するための手段) 本発明の半導体装置は、複数の入力信号線の個々に対応
して設けられた書き換え可能な第1のレジスタと、この
第1のレジスタの内容に応じて、入力信号に対して論理
積演算を行なう複数の論理積手段と、複数の論理積手段
の個々に対応して設けられた書き換え可能な、第2のレ
ジスタと、この第2のレジスタの内容に応じて、複数の
論理積手段の出力相互の論理和演算を行なう論理和手段
と、第1.第2のレジスタに対して外部よりデータを転
送する第1のデータ転送手段と、論理積手段または論理
和手段、あるいは論理積手段と論理和手段の両方の出力
を記憶するメモリ手段と、このメモリ手段に記憶された
データを入力信号線に対して転送する第2のデータ転送
手段と、メモリ手段に記憶されたデータを出力端子に転
送する第3のデータ転送手段とを備えたものである。
(Means for Solving the Problems) The semiconductor device of the present invention includes a rewritable first register provided corresponding to each of a plurality of input signal lines, and a rewritable first register provided corresponding to each of a plurality of input signal lines, and a , a plurality of AND means for performing an AND operation on input signals, a rewritable second register provided corresponding to each of the plurality of AND means, and a second register that is rewritable to correspond to each of the plurality of AND means; Accordingly, an OR means for performing an OR operation on the outputs of the plurality of AND means; a first data transfer means for externally transferring data to a second register; a memory means for storing outputs of the AND means or the OR means; or both the AND means and the OR means; The device includes second data transfer means for transferring data stored in the means to an input signal line, and third data transfer means for transferring data stored in the memory means to an output terminal.

また、第1.第2あるいは第1と第2のレジスタがフリ
ップフロップ回路で構成されたものであり、メモリ手段
がランダムアクセスメモリであり、さらにメモリ手段が
シフトレジスタで構成されたものである。
Also, 1st. The second or first and second registers are constructed of flip-flop circuits, the memory means is a random access memory, and the memory means is constructed of a shift register.

(作 用) 上記構成により、LSIの論理式はANDアレイ、○R
アレイのレジスタの内容を書き換えることによって可変
とすることが可能となり、さらにメモリ手段に記憶され
た内容、またはメモリ手段に記憶された内容に処理を施
した結果を入力信号とすることができるため複雑な動作
を実行する論理回路をハード的にシミュレーション可能
なLSIを実現できる。
(Function) With the above configuration, the logical formula of the LSI is an AND array, ○R
It is possible to make it variable by rewriting the contents of the register of the array, and furthermore, the input signal can be the contents stored in the memory means or the result of processing the contents stored in the memory means, making it more complicated. It is possible to realize an LSI that can simulate logic circuits that perform various operations using hardware.

また、メモリ手段の記憶内容を外部へ読み出すことによ
り、シミュレーション回路の内部ゲートの動作状態を観
察できるため、ハード的に論理回路のロジックシミュレ
ーションが可能となる。
Further, by reading out the stored contents of the memory means to the outside, it is possible to observe the operating state of the internal gates of the simulation circuit, thereby making it possible to perform logic simulation of the logic circuit using hardware.

(実施例) 本発明の一実施例を第1図ないし第3図に暴づいて説明
する。
(Embodiment) An embodiment of the present invention will be explained with reference to FIGS. 1 to 3.

第1図は本発明の半導体装置の構成図を示す。FIG. 1 shows a configuration diagram of a semiconductor device of the present invention.

同図において、1は入力信号線、2は積項線、3は出力
信号線である。ANDアレイ4には第1のレジスタ5.
論理積演算手段6が構成されている。
In the figure, 1 is an input signal line, 2 is a product term line, and 3 is an output signal line. AND array 4 includes a first register 5.
A logical product calculation means 6 is configured.

−方、ORアレイ7には第2のレジスタ8.論理和演算
手段9が構成されている。またレジスタ5゜8には第1
のデータ転送手段10を介して論理式入力端子11に接
続されている。
- On the other hand, the OR array 7 has a second register 8. A logical sum operation means 9 is configured. Also, register 5°8 has the first
It is connected to a logical formula input terminal 11 via a data transfer means 10 .

RAM12は積項線2のデータおよび出力信号線3のデ
ータを記憶するためのものである。RAM12の記憶内
容は第2のデータ転送手段13と入力信号切り換え手段
14を介して入力信号線1に接続されるとともに、第3
のデータ転送手段I5を介してRAMデータ出力端子1
6に接続されている。
The RAM 12 is for storing data on the product term line 2 and data on the output signal line 3. The memory contents of the RAM 12 are connected to the input signal line 1 via the second data transfer means 13 and the input signal switching means 14, and
RAM data output terminal 1 via data transfer means I5 of
6.

次に1本実施例で用いる第1のレジスタならびに論理積
手段について第2図に基づいて説明する。
Next, the first register and the AND means used in this embodiment will be explained based on FIG. 2.

同図において、第1のレジスタ5はCM O’S回路に
よるフリップフロップ回路17とNチャンネルM○5F
ETによるアドレス選択のためのスイッチ素子18.1
9より構成される。スイッチ素子18.19のソース端
子はフリップフロップ回路17の相補出力20.21に
それぞれ接続され、ドレイン端子はビット線22.23
にそれぞれ接続されている。またゲート端子はワード線
24に接続されている。
In the same figure, the first register 5 includes a flip-flop circuit 17 formed by a CMO'S circuit and an N-channel M○5F circuit.
Switch element 18.1 for address selection by ET
Consists of 9. The source terminals of the switch elements 18.19 are respectively connected to the complementary outputs 20.21 of the flip-flop circuit 17, and the drain terminals are connected to the bit lines 22.23.
are connected to each. Further, the gate terminal is connected to the word line 24.

次の構成により、ワード線によって選択されたレジスタ
にビット線上のデータが書き込まれる。
With the following configuration, data on the bit line is written to the register selected by the word line.

論理積演算手段6は入力信号線1のデータを論理積演算
の対象とするか否かを判定し、判定結果に基づいて論理
積演算を行なうための回路であり、本実施例では、フリ
ップフロップ回路17の出力20と入力信号との論理積
演算を行なうA N D素子25とANDi子25の出
力とフリップフロップ回路17の出力21の論理OR演
算を行なうOR4子26と、これらによる判定、演算結
果27と前段の演算結果との論理積演算を行なうAND
素子28により構成されている。この構成によりフリッ
プフロップ回路17の状態が論理II I IIすなわ
ち出力20が論理II I IIのときは入力信号線上
のデータを論理積演算の対象とし、フリップフロップ回
路17の状態が“0”の場合はOR素子26の出力を常
に論理“1″として入力信号線」二のデータを論理積演
算の対象から除外することができる。
The AND operation means 6 is a circuit for determining whether or not the data on the input signal line 1 is to be subjected to an AND operation, and performs an AND operation based on the determination result. An A N D element 25 that performs an AND operation between the output 20 of the circuit 17 and the input signal, an OR4 element 26 that performs a logical OR operation of the output of the ANDi element 25, and the output 21 of the flip-flop circuit 17, and judgment and operation using these elements. AND to perform a logical product operation of result 27 and the previous operation result
It is composed of an element 28. With this configuration, when the state of the flip-flop circuit 17 is logic II II II, that is, when the output 20 is logic II II II, the data on the input signal line is subject to the AND operation, and when the state of the flip-flop circuit 17 is "0" The output of the OR element 26 is always set to logic "1" so that the data on the input signal line "2" can be excluded from the object of the AND operation.

次に本実施例における第2のレジスタならびに論理和手
段について第3図に基づいて説明する。
Next, the second register and OR means in this embodiment will be explained based on FIG. 3.

同図において、第2のレジスタ8はCMO3回路による
フリップフロップ回路29とNチャンネルMO8FET
によるアドレス選択のためのスイッチ素子30.31よ
り構成される。スイッチ素子30゜31のソース端子は
フリップフロップ回路29の相補出力20.21にそれ
ぞれ接続され、トレイン端子はビット線22.23にそ
れぞれ接続されている。また、ゲート端子はワード線2
4に接続され、ワード線によって選択されたレジスタに
ピッ1−線上のデータが書き込まれる。
In the same figure, the second register 8 includes a flip-flop circuit 29 made up of a CMO3 circuit and an N-channel MO8FET.
It is composed of switch elements 30 and 31 for address selection. The source terminals of the switch elements 30, 31 are respectively connected to the complementary outputs 20, 21 of the flip-flop circuit 29, and the train terminals are respectively connected to the bit lines 22, 23. Also, the gate terminal is word line 2
The data on the pin 1- line is written into the register selected by the word line.

論理和手段は′M、項線2のデータを論理和演算の対象
とするか否かを判定し、対象となる積項線2のデータを
論理和演算するものであり、本実施例では、フリップフ
ロップ回路29の出力20と積項線信号との論理積演算
を行なうAND素子32と、各AND素子32の出力相
互の論理和演算を行なうOR素子33より構成されてい
る。この構成によりフリップフロップ回路29の状態が
論理HI II、すなわち出力20が論理LL I I
Iのときは積項線上のデータを論理和演算の対象とし、
フリップフロップ回路29の状態が論理110″′の場
合は積項線上のデータを論理和演算の対象から除くこと
ができる。
The logical sum means 'M' determines whether or not the data of the term line 2 is to be subjected to the logical sum operation, and performs the logical sum operation of the data of the product term line 2 which is the object. It is composed of an AND element 32 which performs a logical product operation between the output 20 of the flip-flop circuit 29 and the product term line signal, and an OR element 33 which performs a logical sum operation between the outputs of the AND elements 32. With this configuration, the state of the flip-flop circuit 29 is logic HI II, that is, the output 20 is logic LL I I
When I, the data on the product term line is subjected to the logical sum operation,
When the state of the flip-flop circuit 29 is logic 110'', the data on the product term line can be excluded from the object of the OR operation.

次に本実施例の半導体装置の動作の概要について説明す
る。
Next, an overview of the operation of the semiconductor device of this embodiment will be explained.

第1.第2のレジスタ5,8には外部端子に印加された
データが第1のデータ転送手段lOの制御によって順次
書き込まれる。この動作によってANDアレイならびに
ORアレイの論理演算式、すなわち論理回路の仕様が決
定される。この状態で本実施例の半導体装置は入力信号
線1上の入力データに対して所望の演算処理を施し、そ
の結果を出力信号線3に出力する。同時に積項線2.出
力信号線3上のデータはメモリ手段15に記憶される。
1st. The data applied to the external terminals are sequentially written into the second registers 5 and 8 under the control of the first data transfer means IO. This operation determines the logic expressions of the AND array and OR array, that is, the specifications of the logic circuit. In this state, the semiconductor device of this embodiment performs desired arithmetic processing on the input data on the input signal line 1 and outputs the result to the output signal line 3. At the same time, the product term line 2. The data on output signal line 3 is stored in memory means 15.

RAM12に記憶されたデータは必要に応じて第2のデ
ータ転送手段13.入力信号切り換え手段14を介して
、入力信号線1に転送される。これによって論理積和演
算による組合せ回路を順序回路に拡張することができる
。また、RAM12は順次入力信号線1に入力される信
号に対して信号処理を施した結果、または処理の経過を
記憶しており、この内容は第3のデータ転送手段を介し
てRAMデータ出力端子16に出力される。
The data stored in the RAM 12 is transferred to the second data transfer means 13. as necessary. The signal is transferred to the input signal line 1 via the input signal switching means 14. As a result, a combinational circuit based on logical product-sum operations can be expanded to a sequential circuit. Further, the RAM 12 stores the results of signal processing on the signals sequentially input to the input signal line 1, or the progress of the processing, and the contents are transferred to the RAM data output terminal via the third data transfer means. 16.

本発明は、上記第1の実施例に限定されることなく種々
の実施応用が考えられる。
The present invention is not limited to the first embodiment described above, but can be implemented in various ways.

たとえば、上記実施例において、メモリ手段としてスタ
ティックRAMを用いたが、メモリ手段であればどうい
うものでも実現可能であり、それぞれ目的に応じて使い
分けることができる。
For example, in the above embodiment, a static RAM is used as the memory means, but any memory means can be used, and each can be used depending on the purpose.

たとえば、ダイナミックRAMで、前記メモリ手段を構
成すれば、スタティックRA Mの場合に比べてより高
密度化が可能となる。
For example, if the memory means is configured with a dynamic RAM, higher density can be achieved than in the case of a static RAM.

また、シフトレジスタにより、前記メモリ手段を構築す
ることも可能である。
It is also possible to construct the memory means by a shift register.

(発明の効果) 本発明によれば、LSIの論理仕様を限定することなく
、所望の論理回路を容易に実現することができるととも
にLSIの内部回路の動作状態を観察可能とすることが
でき、その実用上の効果は大である。
(Effects of the Invention) According to the present invention, a desired logic circuit can be easily realized without limiting the logic specifications of the LSI, and the operating state of the internal circuit of the LSI can be observed. Its practical effects are great.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例における半導体装置の構成図
、第2図、第3図は同詳細説明図、第4図は従来のFP
LAの構成図である。 1・・・入力信号線、 2・・・積項線、 3・・・出
力信号線、 4・・・A N Dアレイ、 5・・・第
1のレジスタ、 6・・・論理積演算手段、7・・・O
Rアレイ、  8・・・第2のレジスタ、9・・・論理
和演算手段、 10.13.15・・・データ転送手段
、 11・・・論理式入力端子、 12・・・RAM、
 14・・・入力信号切り換え手段、16・・・RAM
データ出力端子、 17.29・・・フリップフロップ
回路、18,19,30.31・・・スイッチ素子、 
20.21・・・相補出力、 22゜23・・・ピッl
−線、 24・・・ワード線、 25.28゜32・・
・AND素子、 26.33・・・OR素子、27・・
・演算結果。 特許出願人 松下電器産業株式会社 第2図 ’)41−
FIG. 1 is a configuration diagram of a semiconductor device according to an embodiment of the present invention, FIGS. 2 and 3 are detailed explanatory diagrams of the same, and FIG. 4 is a conventional FP
It is a block diagram of LA. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Input signal line, 2... Product term line, 3... Output signal line, 4... AND array, 5... First register, 6... AND operation means ,7...O
R array, 8... Second register, 9... OR operation means, 10.13.15... Data transfer means, 11... Logical formula input terminal, 12... RAM,
14... Input signal switching means, 16... RAM
Data output terminal, 17.29...Flip-flop circuit, 18,19,30.31...Switch element,
20.21... Complementary output, 22゜23... Pitch
- line, 24...word line, 25.28°32...
・AND element, 26.33...OR element, 27...
·Calculation result. Patent applicant: Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Figure 2') 41-

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)複数の入力信号線の個々に対応して設けられた書
き換え可能な第1のレジスタと、前記第1のレジスタの
内容に応じて、前記入力信号に対して論理積演算を行な
う複数の論理積手段と、前記複数の論理積手段の個々に
対応して設けられた書き換え可能な第2のレジスタと、
前記第2のレジスタの内容に応じて、前記複数の論理積
手段の出力相互の論理和演算を行なう論理和手段と、前
記第1、第2のレジスタに対して外部よりデータを転送
する第1のデータ転送手段と、前記論理積手段または論
理和手段、あるいは、前記論理積手段と論理和手段の両
方の出力を記憶するメモリ手段と、前記メモリ手段に記
憶されたデータを、前記入力信号線に対して転送する第
2のデータ転送手段と、前記メモリ手段に記憶されたデ
ータを出力端子に転送する第3のデータ転送手段とを備
えたことを特徴とする半導体装置。
(1) A rewritable first register provided corresponding to each of a plurality of input signal lines, and a plurality of rewritable registers that perform an AND operation on the input signal according to the contents of the first register. an AND means; a rewritable second register provided corresponding to each of the plurality of AND means;
an OR means for performing an OR operation on the outputs of the plurality of AND means according to the contents of the second register; and a first register for transferring data from the outside to the first and second registers. a data transfer means, a memory means for storing the outputs of the AND means or the OR means, or both the AND means and the OR means, and the data stored in the memory means is transferred to the input signal line. A semiconductor device comprising: second data transfer means for transferring data to the memory means; and third data transfer means for transferring data stored in the memory means to an output terminal.
(2)第1または第2、あるいは第1と第2のレジスタ
がフリップフロップ回路で構成されることを特徴とする
特許請求の範囲第(1)項記載の半導体装置。
(2) The semiconductor device according to claim (1), wherein the first or second register, or the first and second registers, are constructed of flip-flop circuits.
(3)メモリ手段がランダムアクセスメモリ(RAM)
であることを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載
の半導体装置。
(3) Memory means is random access memory (RAM)
A semiconductor device according to claim (1), characterized in that:
(4)メモリ手段がシフトレジスタで構成されることを
特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の半導体装置
(4) The semiconductor device according to claim (1), wherein the memory means is constituted by a shift register.
JP61142925A 1986-06-20 1986-06-20 Semiconductor device Pending JPS631046A (en)

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JP (1) JPS631046A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6903383B2 (en) 2000-11-21 2005-06-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Semiconductor device having a high breakdown voltage for use in communication systems

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US6903383B2 (en) 2000-11-21 2005-06-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Semiconductor device having a high breakdown voltage for use in communication systems

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