JPS63101832A - Active matrix liquid crystal display device - Google Patents

Active matrix liquid crystal display device

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JPS63101832A
JPS63101832A JP61246656A JP24665686A JPS63101832A JP S63101832 A JPS63101832 A JP S63101832A JP 61246656 A JP61246656 A JP 61246656A JP 24665686 A JP24665686 A JP 24665686A JP S63101832 A JPS63101832 A JP S63101832A
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liquid crystal
substrate
single crystal
crystal silicon
drive circuit
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良彦 平井
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恒夫 濱口
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Abstract

PURPOSE:To stably execute an operation even under an intense light irradiation by forming a light shielding layer on the surface of the opposite side of the surface on which a circuit of single crystal silicon has been formed. CONSTITUTION:As for an element substrate, a device layer consisting of single crystal silicon 3 and an insulator 4 which are adjacent to each other is stuck to a holding substrate 1. In the single crystal silicon 3, an active element consisting of a MOS transistor is formed at the substrate 1 side, and the same light shielding layer 24 is formed at the opposite side of the substrate 1. A connecting electrode 37 is formed by making a contact hole in the insulator 4, by which an electrical connection is taken. A source area 11 and a drain area 10 use a gate electrode 7 as a mask and generated as a self-alignment by an ion implantation. In such a MOS transistor, the light shielding layer 24 is formed so as to cover a channel part of a MOS-FET, and a malfunction under an intense light irradiation is prevented, and the device is operated stably.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野さ 本発明は厚膜状の単結晶シリコン基板上に形成された電
界効果型トランジスタを有するアクティブ・マトリクス
液晶表示装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to an active matrix liquid crystal display device having a field effect transistor formed on a thick film single crystal silicon substrate.

(従来の技術とその問題点) 近年、ツイスト・ネマティック型(TN型)を中心とし
た液晶表示装置(LCD)の応用が発展し、腕時計や電
卓の分野で大量にもちいられている。また、情報端末、
ワープロ等の用途に、ドツトの組合せにより文字、図形
等の任意表示が可能なマトリクス型も使われ始めている
。マトリクス型LCDの構造は、ストライプ状の電極を
有する基板2枚を、液晶を介して、各基板上の電極線が
互いに垂直に交差するように対向“して配置したもので
ある。本型のLCDのx−Y端子を、マトリクス端子と
よぶ。
(Prior art and its problems) In recent years, applications of liquid crystal display devices (LCDs), mainly twisted nematic type (TN type), have been developed and are being used in large quantities in the fields of wristwatches and calculators. In addition, information terminals,
Matrix types, which can display arbitrary characters, figures, etc. by combining dots, are also beginning to be used for applications such as word processors. The structure of a matrix type LCD is that two substrates each having striped electrodes are arranged facing each other with a liquid crystal interposed between them so that the electrode lines on each substrate intersect perpendicularly to each other. The x-y terminals of the LCD are called matrix terminals.

このマトリクス型LCDの応用分野を広げるためには、
表示容量の増大が必要である。しかし、従来のLCDの
電圧透過率変化特性はその立ち上がりがあまり急峻でな
いので、大表示容量を得るために、マルチプレクス駆動
の走査本数を増加させると、選択画素と非選択画素各々
にかかる実効電圧比が低下する。この為、良好なコント
ラストが得られる視野角も著しく狭くなるので、従来の
LCDでは、走査本数が60本位が限界であった。
In order to expand the application fields of this matrix type LCD,
It is necessary to increase the display capacity. However, since the voltage transmittance change characteristic of conventional LCDs does not have a very steep rise, when the number of scans in multiplex drive is increased in order to obtain a large display capacity, the effective voltage applied to each selected pixel and non-selected pixel increases. ratio decreases. For this reason, the viewing angle at which good contrast can be obtained becomes significantly narrower, so that in conventional LCDs, the maximum number of scan lines was about 60 lines.

このマトリクス型LCDの表示容量を大幅に増加させる
ために、LCDの各画素に液晶スイッチング用のアクテ
ィブ素子を配置したアクティブ・マトリクス液晶表示装
置が提案されている。ここ数年の間に発表されたアクテ
ィブ・マトリクス液晶表示装置試作品のアクティブ素子
としては、無定形シリコン(a −Si)や多結晶シリ
コン(p−8i)を半導体材料としたFET構造の薄膜
トランジスタ(TPT)、又は単結晶シリコン(s−8
i)を半導体材料としたFETが大部分である。以下で
はこのようなアクティブ素子を形成した基板を素子基板
とよぶ。
In order to significantly increase the display capacity of this matrix type LCD, an active matrix liquid crystal display device in which an active element for liquid crystal switching is arranged in each pixel of the LCD has been proposed. The active elements of prototype active matrix liquid crystal display devices announced in recent years include FET-structure thin film transistors (FETs) using amorphous silicon (a-Si) or polycrystalline silicon (p-8i) as semiconductor materials TPT), or single crystal silicon (s-8
Most of the FETs use i) as a semiconductor material. Hereinafter, a substrate on which such an active element is formed will be referred to as an element substrate.

これらのうちa−8iやp−8iのTPTは製造プロセ
スがまだ確立されていないので歩留まりが悪く、また良
品の特性も不十分であり、走査本数に限界がある。更に
、TPTの特性が不十分、且つ一枚の基板内でも特性が
一様でない為、テレビ画面のような中間調がでず、又コ
ントラストが弱く、且つ画面内でコントラスト環が生じ
る。
Among these, the manufacturing process for A-8i and P-8i TPTs has not yet been established, so the yield is low, and the characteristics of good products are insufficient, and there is a limit to the number of scans. Furthermore, since the characteristics of TPT are insufficient and the characteristics are not uniform even within a single substrate, the halftones as seen on a television screen are not produced, the contrast is weak, and a contrast ring occurs within the screen.

一方、5−8i上のFETは、従来のシリコンICプロ
セスをそのまま用いることにより得られるので、歩留ま
りも良く、良品の特性も十分であり、走査本数も実用上
限界がない。しかし、この5−8iは不透明であるので
、フルカラー化が困難であり、且つコントラストが高く
とれるTN型が使えない等の本質的な欠点がある。
On the other hand, since FETs on the 5-8i can be obtained by using the conventional silicon IC process as is, the yield is good, the characteristics of good products are sufficient, and there is no practical limit to the number of scans. However, since this 5-8i is opaque, it is difficult to produce full color, and it has essential drawbacks such as the inability to use the TN type, which can provide high contrast.

このような従来のアクティブ・マトリクスに関しては、
ニー・アイ・ラカトス(A、 1. Lakatos)
著による雑誌[プロシーディンゲス・オブ・ニスアイデ
ィー(Proceedings of SID月、第2
4巻、第2号、第185頁(昭和58年発行)収録の論
文゛′プロミス・アンド・チャレンジ・オブ・シンフィ
ルム・シリコン・アプローチズ・トウ・アクティブ・マ
トリクス”(Promise and Challen
geof Thin−Film 5ilicon Ap
proaches to Active Matric
es)に述べられている。
Regarding such conventional active matrix,
Ni Ai Lakatos (A, 1. Lakatos)
Magazine by author [Proceedings of SID (Monthly, 2nd issue)]
The article ``Promise and Challenge of Thin-Film Silicon Approaches to Active Matrix'' included in Volume 4, No. 2, Page 185 (published in 1982)
geof Thin-Film 5ilicon Ap
approaches to Active Matric
es).

一般に、絶縁基板上に半導体素子を形成される方法とし
ては、a−8iやp−8iを使う方法の他に、サファイ
アまたはスピネル等の結晶性の絶縁物上に単結晶シリコ
ンをエピタキシャル成長させ、そのエピタキシャル層に
素子(この素子はサファイヤ上に形成した場合、SO8
とよばれる)を形成する方法もある。このSO8は、5
−8i上の素子数みの性能が得られるが、サファイア等
の基板の価格が非常に高く、また大面積のものが得られ
ない欠点がある。
In general, methods for forming semiconductor devices on insulating substrates include epitaxial growth of single crystal silicon on crystalline insulators such as sapphire or spinel, in addition to methods using A-8I and P-8I. element in the epitaxial layer (this element is formed on sapphire, SO8
There is also a method of forming a This SO8 is 5
Although the performance equivalent to the number of elements on -8i can be obtained, the cost of the substrate made of sapphire or the like is very high, and there are drawbacks that a large-area substrate cannot be obtained.

近年、前記SO8の他に、絶縁基板上の単結晶シリコン
からなるアクティブ素子として、ボリシングを用いた転
写半導体素子(以下PTDと略す)が現れた。この素子
については、液口らによる[昭和59年秋季第45回応
用物理学会学術講演会予稿集](講演番号12a−c−
2)及び「日本応用物理学会欧文誌(Japanese
 Journal of Applied Ph5ic
s月第23巻、第5815頁(1984年発行)の論文
、及び特願昭59−137606号に示されている。
In recent years, in addition to the SO8 described above, a transferred semiconductor device (hereinafter abbreviated as PTD) using boring has appeared as an active device made of single crystal silicon on an insulating substrate. Regarding this element, Rikuguchi et al. [Proceedings of the 45th Autumn 1981 Academic Conference of the Japan Society of Applied Physics] (Lecture No. 12a-c-
2) and “Japanese Society of Applied Physics European Journal”
Journal of Applied Ph5ic
This is disclosed in the article published in 1984, Vol. 23, p. 5815, and in Japanese Patent Application No. 137606/1983.

このPTD素子の製造法は、およそ次のとおりである。The method for manufacturing this PTD element is approximately as follows.

まず、5−8i基板に深さを制御された酸化物からなる
素子分離領域を設け、この素子分離領域間の半導体部分
に所望の素子を形成した後、その素子形成面を接着剤で
保持基板に接着し、前記素子分離領域が露出するまで前
記半導体基板を裏面から研磨しながら除去し、除去によ
り露出した面を絶縁性の高分子材料からなる接着剤を介
して支持基板に固定した後、保持基板を除去して形成さ
れる。
First, a device isolation region made of oxide with a controlled depth is provided on a 5-8i substrate, and a desired device is formed in the semiconductor portion between the device isolation regions, and then the device formation surface is glued to the holding substrate. The semiconductor substrate is removed while being polished from the back side until the element isolation region is exposed, and the surface exposed by the removal is fixed to a support substrate via an adhesive made of an insulating polymeric material. It is formed by removing the holding substrate.

このようにして得られた転写半導体素子は、単結晶シリ
コン上にデバイスが形成されているので通常のシリコン
デバイス並の優れた性能を有し、かつ安価で透明な絶縁
体上に形成されるので、液晶用の基板に適した素子基板
が安価に得られる可能性がある。しかし液晶表示装置は
、通常ある程度の光がある状態で用いられる。例えば、
直射日光下、及び、投射光学系中等のような、強度の光
照射のもとて安定に動作することが要求されることは珍
しいことではない。よく知られているような半導体デバ
イスは一般に光照射のもとでは安定に動作しないので、
このような光照射の問題は大きな問題である。
The transferred semiconductor element thus obtained has excellent performance comparable to that of a normal silicon device because the device is formed on single crystal silicon, and is inexpensive and formed on a transparent insulator. , there is a possibility that an element substrate suitable for a liquid crystal substrate can be obtained at low cost. However, liquid crystal display devices are usually used in the presence of a certain amount of light. for example,
It is not uncommon for devices to be required to operate stably under direct sunlight and under intense light irradiation, such as from projection optical systems. Well-known semiconductor devices generally do not operate stably under light irradiation, so
This problem of light irradiation is a big problem.

この問題とは別に端子の問題が、フラット・ディスプレ
イ一般に問題としである。例えば、400 X 640
画素のディスプレイでは、縦400本、横640本の端
子が出る為、1040箇所の接続と1040個のドライ
バが必要とされる。ドライバのIC化および端子接続技
術の向上に因り近年解決可能にはなっているが、かなり
のコストがこの部分にかかつている。
Apart from this problem, there is another problem with flat displays in general: terminals. For example, 400 x 640
A pixel display has 400 vertical and 640 horizontal terminals, so 1040 connections and 1040 drivers are required. Although it has become possible to solve this problem in recent years due to the use of IC drivers and improvements in terminal connection technology, this problem still requires a considerable amount of cost.

(発明の目的) 本発明の目的は、このような従来の欠点を除去し、高歩
留まりで且つ高性能のアクティブ・マトリクス液晶表示
装置を提供することにある。特に、強度の光照射のもと
でも安定に動作し、且つ、パネルからの取出し端子数を
大幅に減らしたアクティブ・マトリクス液晶表示装置を
得ることに本発明の目的がある。
(Object of the Invention) An object of the present invention is to eliminate such conventional drawbacks and provide a high-yield, high-performance active matrix liquid crystal display device. In particular, it is an object of the present invention to provide an active matrix liquid crystal display device that operates stably even under intense light irradiation and has a significantly reduced number of lead-out terminals from the panel.

(問題を解決するための手段) 本発明のアクティブ・マトリクス液晶表示装置は、デー
タ信号電極と走査信号電極とで定まる位置にアクティブ
素子を設けた素子基板と対向電極を有する対向基板とが
液晶を介して互いに対向して配置されてなるアクティブ
・マトリクス液晶表示装置において、前記素子基板は保
持基板に接着磨を介してデバイス層が形成され、前記デ
バイス層は単結晶シリコンと絶縁体とからなり、前記デ
バイス層上には前記アクティブ素子のほかに液晶駆動回
路のうち少なくとも走査側駆動回路とデータ側駆動回路
とが形成され、前記単結晶シリコンの前記を形成した面
と反対側の面上に光遮蔽層を形成した構成を有している
(Means for Solving the Problems) In the active matrix liquid crystal display device of the present invention, an element substrate in which an active element is provided at a position determined by a data signal electrode and a scanning signal electrode, and a counter substrate in which a counter electrode has a counter electrode display a liquid crystal display device. In an active matrix liquid crystal display device in which the element substrate is disposed facing each other through a holding substrate, a device layer is formed on the holding substrate by adhesive polishing, and the device layer is made of single crystal silicon and an insulator, In addition to the active element, at least a scanning side driving circuit and a data side driving circuit of the liquid crystal driving circuit are formed on the device layer, and light is formed on the surface of the single crystal silicon opposite to the surface on which the above is formed. It has a structure in which a shielding layer is formed.

光遮蔽層は少なくとも液晶パネル周辺の駆動回路のトラ
ンジスタ部分は覆う必要がある。また液晶パネル画素部
分の液晶画素駆動回路のアクティブ素子も誤動作防止の
点から光遮蔽層で覆うことが望ましい。ただし、光透過
をオン−オフする画素電極の箇所は、光遮蔽層で覆わな
いようにする。
The light shielding layer needs to cover at least the transistor portion of the drive circuit around the liquid crystal panel. Furthermore, it is desirable to cover the active elements of the liquid crystal pixel drive circuit in the pixel portion of the liquid crystal panel with a light shielding layer in order to prevent malfunctions. However, the portion of the pixel electrode that turns on and off light transmission is not covered with the light shielding layer.

(作用) アクティブ素子の他にデバイス層上に走査側駆動回路と
データ側駆動回路とを形成し、マトリクス端子を各駆動
回路に接続したのでパネルからの取りだし端子数を大幅
に減らすことができる。また前記トランジスタを形成し
た面と反対側の面上に光遮蔽層を設けることにより強度
の光照射のもとでも安定に動作する。
(Function) In addition to the active elements, a scanning side drive circuit and a data side drive circuit are formed on the device layer, and matrix terminals are connected to each drive circuit, so the number of terminals taken out from the panel can be significantly reduced. Further, by providing a light shielding layer on the surface opposite to the surface on which the transistor is formed, the device operates stably even under intense light irradiation.

(実施例) 次に、本発明について実施例に基づいて詳細に説明する
。第1図は本発明アクティブ・マトリクス液晶表示装置
の実施例のうち素子基板38の液晶駆動回路のトランジ
スタを積層した断面図である。
(Example) Next, the present invention will be described in detail based on an example. FIG. 1 is a cross-sectional view of a layered transistor of a liquid crystal drive circuit on an element substrate 38 in an embodiment of an active matrix liquid crystal display device according to the present invention.

本実施例は、第3図に示すようにデータ信号電極21と
走査信号電極20とが交差する位置に液晶画素スイッチ
ング用のアクティブ素子を設け、更に外に取り出すマト
リクス端子19を素子基板上に製作した走査側駆動回路
22とデータ側駆動回路23に接続している。
In this embodiment, as shown in FIG. 3, active elements for liquid crystal pixel switching are provided at the intersections of data signal electrodes 21 and scanning signal electrodes 20, and matrix terminals 19 to be taken out are fabricated on the element substrate. The scanning side drive circuit 22 and the data side drive circuit 23 are connected to each other.

本発明によるトランジスタは、第1図に示すように素子
基板38上に形成されている。前記素子基板は互いに隣
接する単結晶シリコン3と絶縁体4とからなるデバイス
層が保持基板1に接着されてなり、前記単結晶シリコン
にMOS )ランジスタ18からなるアクティブ素子が
保持基板側に形成され、同じ光遮蔽層24が保持基板と
反対側に形成され、絶縁体4にコンタクト穴をあけて、
接続電極37を形成し電気的接続をとっている。ソース
領域11とドレイン領域10とはゲート電極7をマスク
にしてイオン打ち込みによりセルファライオン的に作成
される。
The transistor according to the present invention is formed on an element substrate 38 as shown in FIG. The element substrate is formed by adhering a device layer consisting of a single crystal silicon 3 and an insulator 4 adjacent to each other to a holding substrate 1, and an active element consisting of a MOS transistor 18 is formed on the single crystal silicon on the holding substrate side. , the same light-shielding layer 24 is formed on the side opposite the holding substrate, contact holes are drilled in the insulator 4,
A connection electrode 37 is formed to establish electrical connection. The source region 11 and the drain region 10 are formed in a self-implanted manner by ion implantation using the gate electrode 7 as a mask.

このようなMOS )ランジスタにおいて、光遮蔽層2
4は、MOS−FETのチャネル部を覆うように形成さ
れ、強度の光照射下での誤動作を防ぐ。
In such a MOS) transistor, the light shielding layer 2
4 is formed to cover the channel portion of the MOS-FET to prevent malfunction under intense light irradiation.

本発明で用いる光遮蔽層には、光を遮蔽する効果のある
ものは、全て用いることができる。代表的な材料には、
金属膜または金属と金属化合物との多層膜、及び染料を
含有する高分子膜がある。
As the light shielding layer used in the present invention, any material that has a light shielding effect can be used. Typical materials include:
There are metal films or multilayer films of metals and metal compounds, and polymer films containing dyes.

金属膜には、クロムCr、モリブデンMo、タングステ
ンW、アルミニウムAl、ニッケルNi等の蒸着膜があ
り、ニッケル等は無電解メッキでも製作される。多層膜
には、酸化クロムCr2O3/クロム/酸化クロムの構
成等がある。染料を含有する高分子膜には、ゼラチン、
カゼイン、他合成高分子等の高分子と、カチオン性染料
や酸性染料等の染料がある。また単結晶シリコンへの汚
染防止や電気的ショートの防止の為に、単結晶シリコン
と光遮蔽府との間に中間層を設けることが多いが、この
中間層は必要不可欠では無いので第1図では省略した。
The metal film includes vapor deposited films of chromium Cr, molybdenum Mo, tungsten W, aluminum Al, nickel Ni, etc. Nickel and the like can also be produced by electroless plating. The multilayer film has a structure such as chromium oxide Cr2O3/chromium/chromium oxide. The polymer membrane containing the dye contains gelatin,
There are polymers such as casein and other synthetic polymers, and dyes such as cationic dyes and acidic dyes. Furthermore, in order to prevent contamination of the single crystal silicon and prevent electrical short circuits, an intermediate layer is often provided between the single crystal silicon and the light shielding layer, but this intermediate layer is not essential, so see Figure 1. I omitted it.

液晶駆動回路の基本回路を説明する。走査側駆動回路2
2とデータ側駆動回路23とは上述のMOS トランジ
スタを用いて構成され、各々代表的な概念回路図を第4
図と第5図に示した。走査側駆動回路は、走査電極の数
だけシフトレジスタ36を有し、これらの各シフトレジ
スタに垂直同期信号26が入り、その出力走査信号をド
ライバ25aに入れ、液晶の駆動に適した電圧に変換し
、走査信号27として出力する。データ側駆動回路は、
データ信号の数だけサンプルホールド回路28を有し、
これらの各サンプルホールド回路は、ビデオ信号29を
水平同期信号30でゲートを閉じてホールドし、この値
をドライバ256に入れ、データ信号31として出力す
る。本実施例では、駆動回路をMOS )ランジスタを
用いて構成した場合について述べたが、駆動回路はこれ
に限らず、バイポーラ・トランジスタを用いても構成で
きる。この場合も基本的には、本実施例と同じである。
The basic circuit of the liquid crystal drive circuit will be explained. Scanning side drive circuit 2
2 and the data side drive circuit 23 are constructed using the above-mentioned MOS transistors, and representative conceptual circuit diagrams of each are shown in the fourth section.
It is shown in Fig. and Fig. 5. The scanning side drive circuit has shift registers 36 equal to the number of scanning electrodes, a vertical synchronizing signal 26 is input to each of these shift registers, and the output scanning signal is input to a driver 25a, where it is converted into a voltage suitable for driving the liquid crystal. and outputs it as a scanning signal 27. The data side drive circuit is
It has sample and hold circuits 28 as many as the number of data signals,
Each of these sample and hold circuits holds the video signal 29 by closing the gate with the horizontal synchronization signal 30, inputs this value to the driver 256, and outputs it as a data signal 31. In this embodiment, a case has been described in which the drive circuit is configured using MOS transistors, but the drive circuit is not limited to this, and may also be configured using bipolar transistors. This case is also basically the same as this embodiment.

液晶パネルの断面構造は第2図に示すとおりである。素
子基板38と対向電極14を有する対向基板15とが、
液晶13を介して互いに対向して配置されてなる。本図
に示されるように液晶画素駆動用のアクティブ素子もM
OS構造であり、駆動回路と同様に製作される。
The cross-sectional structure of the liquid crystal panel is as shown in FIG. The element substrate 38 and the counter substrate 15 having the counter electrode 14 are
They are arranged facing each other with the liquid crystal 13 interposed therebetween. As shown in this figure, the active elements for driving liquid crystal pixels are also M
It has an OS structure and is manufactured in the same way as the drive circuit.

本実施例の製造方法は、概略、第6図〜第8図に示した
とおりである。これらの図は、本発明のアクティブ・マ
トリクス液晶表示装置の製造方法を説明する為工程順に
配置した素子基板の主要部断面図である。特に駆動回路
及び画素駆動のアクティブ素子の製造方法について述べ
た。
The manufacturing method of this example is roughly as shown in FIGS. 6 to 8. These figures are cross-sectional views of the main parts of the element substrate arranged in the order of steps for explaining the method of manufacturing the active matrix liquid crystal display device of the present invention. In particular, a method for manufacturing a drive circuit and an active element for driving a pixel has been described.

まず、第6図に示すように、単結晶シリコン基板16上
に熱酸化により厚さ211mの酸化シリコン膜5i02
を形成し、各表示画素に対応する部分を除き反応性イオ
ンエツチングによりこの酸化シリコン膜を除去する。こ
の残った酸化シリコン膜の部分が絶縁体4となる。単結
晶シリコン基板16が露出している部分に、5iH2C
I2−H2−HCl系を用いて、シリコンを絶縁体4と
同じ高さまで選択エピタキシャル成長させ、単結晶シリ
コン3を形成する。この上にFET型のトランジスタを
形成するがこれは通常のMOSプロセスと同様に形成さ
れる。すなわち、第7図に示すように、酸化シリコンか
らなるゲート絶縁膜9、金属電極からなるゲート電極7
、酸化シリコンからなる層間絶縁膜12を各々形成の後
、イオン打ち込みによりソース領域1トドレイン領域1
0を形成する。ゲート電極に用いる金属電極には、アル
ミニウム、モリブデン、タングステン等の金属を用いる
が、この他に、金属シリサイド、及び、ポリシリコン等
も用いることができる。
First, as shown in FIG. 6, a silicon oxide film 5i02 with a thickness of 211 m is formed on a single crystal silicon substrate 16 by thermal oxidation.
This silicon oxide film is removed by reactive ion etching except for the portions corresponding to each display pixel. This remaining silicon oxide film portion becomes the insulator 4. 5iH2C is applied to the exposed part of the single crystal silicon substrate 16.
Using I2-H2-HCl system, silicon is selectively epitaxially grown to the same height as the insulator 4 to form single crystal silicon 3. A FET type transistor is formed thereon in the same manner as in a normal MOS process. That is, as shown in FIG. 7, a gate insulating film 9 made of silicon oxide, a gate electrode 7 made of a metal electrode,
After forming interlayer insulating films 12 made of silicon oxide, source region 1 and drain region 1 are formed by ion implantation.
form 0. Metals such as aluminum, molybdenum, and tungsten are used for the metal electrode used as the gate electrode, but metal silicide, polysilicon, and the like can also be used in addition to these metals.

また、酸化シリコンで構成される絶縁体4に、絶縁体よ
り深く、コンタクト穴17を一画素につき2箇所、通常
の写真蝕技術を用いて、形成する。クロム、モリブデン
、タングステン等の金属蒸着により、ドレイン電極6を
形成し、アクティブ素子であるMOS )ランジスタか
らコンタクト穴まで配線する。また同様に金属蒸着によ
り、ソース電極8とを形成し、MOS )ランジスタか
らコンタクト穴まで配線する。
Further, contact holes 17 are formed in the insulator 4 made of silicon oxide at two locations per pixel, deeper than the insulator, by using ordinary photoetching techniques. A drain electrode 6 is formed by vapor deposition of a metal such as chromium, molybdenum, tungsten, etc., and wiring is provided from the MOS transistor (active element) to the contact hole. Similarly, a source electrode 8 is formed by metal vapor deposition, and wiring is provided from the MOS transistor to the contact hole.

次に第8図に示すように、このMOS )ランジスタを
形成した単結晶シリコン基板16のMOS素子形成面を
絶縁性の高分子材料、例えばエポキシまたはポリイミド
からなる接着層2で石英ガラス。ホウケイ酸ガラス、パ
イレックス系ガラス、ソーダガラス、シリコンウェハ、
等の保持基板1に接着する。
Next, as shown in FIG. 8, the MOS element forming surface of the single crystal silicon substrate 16 on which this MOS transistor is formed is covered with an adhesive layer 2 made of an insulating polymeric material such as epoxy or polyimide. borosilicate glass, pyrex glass, soda glass, silicon wafer,
It is attached to a holding substrate 1 such as the like.

次に、MOS形成部を除く単結晶シリコン基板16をメ
カノケミカルボリジングで除去する。この場合のポリシ
ングでは、化学液として有機アミンを用いている為に、
絶縁体層4の成分である酸化シリコンは単結晶シリコン
よりも加工速度がかな、り遅いため、ポリシング加工を
絶縁体層4の深さで止めることができる。こうして素子
形成した単結晶シリコン領域3と絶縁体領域4から構成
されるデバイス層を用意に残すことができる。
Next, the single crystal silicon substrate 16 excluding the MOS forming portion is removed by mechanochemical boring. In this case, polishing uses an organic amine as the chemical solution, so
Since the processing speed of silicon oxide, which is a component of the insulator layer 4, is much slower than that of single crystal silicon, the polishing process can be stopped at the depth of the insulator layer 4. In this way, the device layer composed of the single crystal silicon region 3 and the insulator region 4 in which the element is formed can be easily left.

次に、駆動回路用のMO8素子の場合は、第1図に示す
ように絶縁体4の研磨上に接続電極37を形成し、コン
タクト穴17を通じてドレイン電極6とソース電極8と
導通をとる。この接続電極を用いて別のトランジスタ、
抵抗等と接続する。又、接続電極はMO8素子と同じ面
上に形成することもできる。
Next, in the case of an MO8 element for a drive circuit, a connection electrode 37 is formed on the polished insulator 4 as shown in FIG. 1, and conduction is established between the drain electrode 6 and the source electrode 8 through the contact hole 17. Another transistor using this connection electrode,
Connect with resistor, etc. Further, the connection electrode can also be formed on the same surface as the MO8 element.

又、画素駆動用のMOS )ランジスタ・アクティブ素
子の場合は、第2図に示すように、絶縁体4の研磨面上
にデータ信号電極21を形成し、コンタクト穴を通して
、ソース電極8と導通をとる。データ信号電極は通常ド
レイン電極等と同じ金属電極である。次に研磨面上に画
素電極5を形成し、コンタクト穴17を通して、ドレイ
ン電極6と導通をとる。画素電極5は、通常酸化インジ
ウム−スズ(ITO)や酸化スズ(NESA)等の透明
電極である。この工程により、画素電極5が素子基板表
面に形成される。またこのようにしてデバイス層の両側
に、走査信号電極とデータ信号電極が形成された。
In the case of a MOS (MOS) transistor active element for pixel driving, as shown in FIG. Take. The data signal electrode is usually the same metal electrode as the drain electrode and the like. Next, a pixel electrode 5 is formed on the polished surface and electrically connected to the drain electrode 6 through the contact hole 17. The pixel electrode 5 is usually a transparent electrode such as indium-tin oxide (ITO) or tin oxide (NESA). Through this step, the pixel electrode 5 is formed on the surface of the element substrate. Also, in this manner, scanning signal electrodes and data signal electrodes were formed on both sides of the device layer.

次に、単結晶シリコン3と絶縁体4からなるデバイス層
上に、酸化シリコンをスバタリング法により形成し中間
層とした。この上に更にクロムをスバタリング法により
形成し、MOS−FETのチャネル部を覆う形にパター
ニングし、光遮蔽層24とした。
Next, silicon oxide was formed on the device layer made of single crystal silicon 3 and insulator 4 by a sputtering method to form an intermediate layer. Chromium was further formed on this by a sputtering method and patterned to cover the channel portion of the MOS-FET to form a light shielding layer 24.

以上のように製作した走査側駆動回路22とデータ側駆
動回路23のMOS )ランジスタと、走査信号電極2
0とデータ信号電極21の交差点にある液晶画素電極5
駆動のアクティブ素子のMOS )ランジスタ18とは
、第3図に示したように、液晶パネルの周辺でマトリク
ス端子19を介して接続される。
The MOS transistors of the scanning side drive circuit 22 and data side drive circuit 23 manufactured as described above, and the scanning signal electrodes 2
0 and the data signal electrode 21 at the intersection of the liquid crystal pixel electrode 5
The driving active element (MOS) transistor 18 is connected to the periphery of the liquid crystal panel via a matrix terminal 19, as shown in FIG.

このようにして出来た素子基板を、ITO等の対向基板
14を全面に形成した対向基板15と、グラス・ファイ
バ等のスペーサを介して組み合わせて液晶セルを形成す
る。この液晶セルに液晶を注入して液晶層13とし、通
常のエポキシ系有機シールを用いた封止(シール)する
ことによりAM−LCDが得られる(第2図)。
The element substrate thus produced is combined with a counter substrate 15 on which a counter substrate 14 of ITO or the like is formed on its entire surface via a spacer such as a glass fiber to form a liquid crystal cell. A liquid crystal is injected into this liquid crystal cell to form a liquid crystal layer 13, and an AM-LCD is obtained by sealing using an ordinary epoxy organic seal (FIG. 2).

ここで素子基板と対向基板に対しラビングにより配向処
理をおこなった。この場合、ポリイミド等の配向処理膜
を塗布することが多いが不可欠ではないので第2図では
、省略した。また、液晶はTN型液晶であるZLI−1
565(メルク社製)を用い、そのセル厚は8pm、偏
向板は日東電工製のNPF−1100Hを用いた。この
TN型液晶とこの偏向板を用いたLCDをスタティク駆
動で駆動した場合、5:1のコントラスト比CRが得ら
れる視野角±50°であった。
Here, the element substrate and the counter substrate were subjected to alignment treatment by rubbing. In this case, an alignment treatment film of polyimide or the like is often applied, but it is not essential, so it is omitted in FIG. In addition, the liquid crystal is ZLI-1, which is a TN type liquid crystal.
565 (manufactured by Merck & Co., Ltd.), the cell thickness was 8 pm, and the deflection plate was NPF-1100H manufactured by Nitto Denko. When an LCD using this TN type liquid crystal and this polarizing plate was statically driven, a viewing angle of ±50° was obtained that provided a contrast ratio CR of 5:1.

なお、この実施例は、熱酸化後選択的に酸化シリコン膜
を除去したのち選択エピタキシャル成長を行ったが、単
結晶シリコン基板を選択酸化すれば選択エピタキシャル
成長は行わなくてもよい。
In this example, selective epitaxial growth was performed after selectively removing the silicon oxide film after thermal oxidation, but selective epitaxial growth may not be performed if the single crystal silicon substrate is selectively oxidized.

その場合、単結晶シリコンと絶縁体との間で段差が若干
生じるが、性能的には、はぼ遜色のないものが得られる
In that case, a slight difference in level will occur between the single crystal silicon and the insulator, but in terms of performance, comparable performance can be obtained.

このような素子構成で400 X 640画素、ピッチ
0゜05mmのアクティブ・マトリクス液晶表示を試作
したが、このアクティブ・マトリクス液晶表示装置はス
タティック駆動時とほぼ同一の表示性能を示した。更に
模擬信号として2000本走査時相当の信号まで印加し
たが、スタティック駆動時とほぼ同じ表示性能が得られ
た。駆動信号には、従来のMOS )ランジスタ又はT
PTを積層したアクティブ・マトリクス液晶表示装置に
用いる信号と同様の信号を用いた。この表示装置に中間
調を含むテレビ画面を出した場合、はぼ忠実に階調を表
現し、高コントラストであり、又、画面内でコントラス
ト塩は生じなかった。更に、a−8i又はp−8iのT
PTを用いたものに比べて歩留まりの向上も著しがった
。本実施例によるパネルは駆動回路を積層している為、
端子の数が1040本から、タロツク信号、垂直同期信
号、水平同期信号、ビデオ信号、電源(2電源)、アー
スの7本と著しく減少し、端子の接続工程が著しく簡略
になった。本パネルは小型であるので、ビデオカメラ等
のビューファインダに適する。また後で述べる投射型デ
ィスプレイに応用することによりlmX1m角の良好な
投射画面を得た。中間調表示も良好であった。
A prototype active matrix liquid crystal display with 400 x 640 pixels and a pitch of 0°05 mm was fabricated using this element configuration, and this active matrix liquid crystal display device showed almost the same display performance as when statically driven. Furthermore, even though a signal equivalent to 2000 lines of scanning was applied as a simulated signal, almost the same display performance as in static driving was obtained. For the drive signal, a conventional MOS transistor or T
A signal similar to that used in an active matrix liquid crystal display device in which PTs are stacked was used. When a television screen containing halftones was displayed on this display device, the gradations were expressed very faithfully, the contrast was high, and contrast salts did not occur within the screen. Furthermore, T of a-8i or p-8i
The yield was also significantly improved compared to that using PT. Since the panel according to this example has drive circuits laminated,
The number of terminals has been significantly reduced from 1040 to 7 for tarok signal, vertical synchronization signal, horizontal synchronization signal, video signal, power supply (2 power supplies), and ground, and the terminal connection process has been significantly simplified. Since this panel is small, it is suitable for viewfinders of video cameras and the like. Further, by applying the present invention to a projection type display described later, a good projection screen of 1 m x 1 m square was obtained. Halftone display was also good.

本発明によるアクティブ・マトリクス液晶表示装置の第
2の実施例は、画素ピッチを0.2mmとした以外は、
第1の実施例と同様に試作した。本パネルは直視におい
ても良好なコントラスト、階調性、視野角を有した。
The second embodiment of the active matrix liquid crystal display device according to the present invention has the following features except that the pixel pitch is 0.2 mm.
A prototype was manufactured in the same manner as the first example. This panel had good contrast, gradation, and viewing angle even when viewed directly.

第9図は本発明アクティブ・マトリクス液晶表示装置の
第3の実施例を説明するための素子基板の模式的平面図
である。この実施例は、コントロール回路32とテレビ
信号処理回路33とを、画素電極5に接続されるMOS
 )ランジスタ18の形成、及び走査側駆動回路22と
データ側駆動回路23の形成と同時に、所定の単結晶シ
リコン領域に設けた以外は第1の実施例と同様である。
FIG. 9 is a schematic plan view of an element substrate for explaining the third embodiment of the active matrix liquid crystal display device of the present invention. In this embodiment, the control circuit 32 and the television signal processing circuit 33 are connected to a MOS transistor connected to the pixel electrode 5.
) It is the same as the first embodiment except that it is provided in a predetermined single crystal silicon region simultaneously with the formation of the transistor 18 and the formation of the scanning side drive circuit 22 and the data side drive circuit 23.

これらのコントロール回路とテレビ信号処理回路も通常
のMOS−ICと同じくMOS )ランジスタにより構
成される。テレビ信号処理回路は、アンテナ端子34と
スピーカ端子35とに接続され、本パネルとわずかの受
動素子の外付けにより、テレビが構成される。本実施例
の画素数は400 X 640画素、ピッチは0.05
mmであり、第1の実施例と同じくビューファイダや投
射側ディスプレイとして良好な特性を示した。本実施例
によるアクティブ・マトリクス液晶表示装置は、通常の
テレビだけではなく、パーソナル・コンピュータ、ワー
プロ、情報端末等のディスプレイとして用いることがで
きる。
These control circuits and television signal processing circuits are also constructed from MOS transistors like ordinary MOS-ICs. A television signal processing circuit is connected to an antenna terminal 34 and a speaker terminal 35, and a television is configured by this panel and a few external passive elements. The number of pixels in this example is 400 x 640 pixels, and the pitch is 0.05
mm, and showed good characteristics as a viewfinder and a projection side display like the first example. The active matrix liquid crystal display device according to this embodiment can be used not only for ordinary televisions but also as displays for personal computers, word processors, information terminals, and the like.

次に本発明AM−LCDの応用例についても述べる。上
記の実施例で述べたものは、直視型のディスプレイとし
ても、次のような投射型ディスプレイとしても用いられ
る。直視型に対し、lmX1m角程度の超大画面の表示
としては、液晶パネルにキセノンランプ等からの強い光
を照射してそれを投影する投射型ディスプレイが適する
。従来のレーザ熱書き込みの液晶パネルを用いた投射型
ディスプレイの液晶パネルを本発明の液晶パネルと置き
換えることにより、レーザ及びその駆動回路関係が必要
なくなるので、小型の投射型ディスプレイが実現できる
。投射光学系は従来のものを用いることができる。例え
ば、液晶パネルとして、400X640画素、ピッチ0
.05mmの本発明のAM−LCDを用いれば、液晶パ
ネルが著しく小型になる為、著しく小型の投射光学系が
実現出来る。又、投射系には、通常のオーバー・ヘッド
・プロジェクタ(いわゆる0HP)も用いることができ
る。
Next, application examples of the AM-LCD of the present invention will also be described. The above-mentioned embodiments can be used both as a direct view type display and as a projection type display as described below. In contrast to the direct view type, a projection type display that projects strong light from a xenon lamp or the like onto a liquid crystal panel is suitable for displaying a super large screen of approximately 1 m x 1 m square. By replacing the liquid crystal panel of a projection type display using a conventional laser thermal writing liquid crystal panel with the liquid crystal panel of the present invention, a laser and its driving circuit are not required, so a small projection type display can be realized. A conventional projection optical system can be used. For example, as a liquid crystal panel, 400 x 640 pixels, pitch 0
.. If the AM-LCD of the present invention with a diameter of 0.05 mm is used, the liquid crystal panel will be significantly smaller, so a significantly smaller projection optical system can be realized. Further, a normal overhead projector (so-called 0HP) can also be used as the projection system.

以上の説明は全てモノクロの画面であったが、通常おこ
なわれているように、対向基板上に各画素に対応して、
RGB各ドツトのカラーフィルタを形成することにより
、容易に、カラー画面が直視型、投射型ともに、得られ
る。また、投射型の場合は、本発明によるAM−LCD
を3枚もちい、各々にRGB3枚のうちの1枚を組み合
わせて、それらを合成してカラー画面を得ることも可能
である。
All of the above explanations were for monochrome screens, but as is usually done, each pixel is displayed on the opposite substrate.
By forming color filters of each dot of RGB, a color screen can be easily obtained for both direct view type and projection type. In addition, in the case of a projection type, an AM-LCD according to the present invention
It is also possible to use three images, combine one of the three RGB images with each image, and synthesize them to obtain a color screen.

(発明の効果) 以上説明したように、従来は透明基板上にa−8i又は
p−8iを形成してその上にTPTを形成するので、特
性が悪く、走査本数500本位がスタティック駆動と同
等になる限界であったが、本発明によれば、透明基板上
に、a−8iに形成したMOSを移すことができるので
、良好な特性が得られ、2000本走査も可能となり、
また製造歩留まりの向上も著しい。更に、本発明によれ
ば、特に、直射日光下、及び、投射光学系中等のような
、強度の光照射のもとでも安定に動作するアクティブ・
マトリクス液晶表示装置が得られる。
(Effect of the invention) As explained above, conventionally, a-8i or p-8i is formed on a transparent substrate and TPT is formed on it, so the characteristics are poor and the number of scanning lines is about 500, which is equivalent to static drive. However, according to the present invention, since the MOS formed in A-8I can be transferred onto a transparent substrate, good characteristics can be obtained, and 2000 lines can be scanned.
Furthermore, the manufacturing yield is significantly improved. Furthermore, according to the present invention, an active lens that operates stably even under direct sunlight and under intense light irradiation such as from a projection optical system, etc.
A matrix liquid crystal display device is obtained.

本発明によるAM−LCDを多数枚組み合わせれば大面
積化が可能で、周辺駆動回路を各画素のアクティブ素子
と同一基板上に製作することにより、端子数の大幅減少
ができ、また投射型に応用することにより、超小型の投
射型ディスプレイも得られる。更に、コントロール回路
、信号処理回路をも同一基板上に製作することにより、
少数の外付は受動部品のみでテレビ装置または情報端末
装置を構成出来る。
By combining a large number of AM-LCDs according to the present invention, it is possible to increase the area, and by manufacturing the peripheral drive circuit on the same substrate as the active element of each pixel, the number of terminals can be significantly reduced, and the projection type By applying this method, an ultra-small projection display can also be obtained. Furthermore, by manufacturing the control circuit and signal processing circuit on the same board,
A television set or an information terminal device can be configured with only a few external passive components.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明のアクティブ・マトリクス液晶表示装
置の第1の実施例の液晶駆動回路のトランジスタ部分の
断面図であり、第2図は本発明の第1の実施例の画素部
分の断面図である。第3図は、この実施例における素子
基板の模式的平面図である。 第4図と第5図は各々走査側駆動回路とデータ側駆動回
路の代表的な概念的回路図である。第6図〜第8図は、
本発明のアクティブ・マトリクス液晶表示装置の製造方
法を説明する為工程順に配置した素子基板の主要部の断
面図であり、第9図は本発明アクティブ・マトリクス液
晶表示装置の第3の実施例を説明するための素子基板の
模式的平面図である。 1・0.保持基板、2・・・接着層、3・・・単結晶シ
リコン、4・・・絶縁体、5・・・画素電極、6・・・
ドレイン電極、70.。 ゲート電極、8・・・ソース電極、9・・・ゲート絶縁
膜、10・・・ドレイン領域、11・・・ソース領域、
12・・・層間絶縁膜、1310.液晶層、14・・・
対向電極、15・・・対向基板、16・、・単結晶シリ
コン基板、17・・・コンタクト穴、18・・・MOS
 )ランジスタ、19・−・マトリクス端子、20・・
・走査信号電極、21・・・データ信号電極、22・・
・走査側駆動回路、23・・・データ側駆動回路、24
・・・光遮蔽層、25a。 25b・・・ドライバ、26・・・垂直同期信号、27
・・・走査信号、28・・・サンプルホールド回路、2
9・・・ビデオ信号、30・・・水平同期信号、31・
・・データ信号、32・・・コントロール回路、33・
・・テレビ信号処理回路、34・・・アンテナ端子、3
5・・・テレビ信号処理回路、3609.シフトレジ第
1図 3単結晶シリコン 38素子基析    8ソース雷極 7ゲート雪怨  
      箇 リ M第3図 19マトリクス端子 第4図 36シフト・レジスタ 第6図 第7図 第8図 3単結晶シリコン 第9図 32コントロールUO伯
FIG. 1 is a cross-sectional view of a transistor portion of a liquid crystal drive circuit of a first embodiment of an active matrix liquid crystal display device of the present invention, and FIG. 2 is a cross-sectional view of a pixel portion of a first embodiment of the present invention. It is a diagram. FIG. 3 is a schematic plan view of the element substrate in this example. 4 and 5 are representative conceptual circuit diagrams of a scanning side drive circuit and a data side drive circuit, respectively. Figures 6 to 8 are
FIG. 9 is a cross-sectional view of the main parts of the element substrate arranged in the order of steps to explain the manufacturing method of the active matrix liquid crystal display device of the present invention, and FIG. 9 shows a third embodiment of the active matrix liquid crystal display device of the present invention. FIG. 2 is a schematic plan view of an element substrate for explanation. 1.0. Holding substrate, 2... Adhesive layer, 3... Single crystal silicon, 4... Insulator, 5... Pixel electrode, 6...
drain electrode, 70. . Gate electrode, 8... Source electrode, 9... Gate insulating film, 10... Drain region, 11... Source region,
12... interlayer insulating film, 1310. Liquid crystal layer, 14...
Counter electrode, 15... Counter substrate, 16... Single crystal silicon substrate, 17... Contact hole, 18... MOS
) transistor, 19...matrix terminal, 20...
・Scanning signal electrode, 21...Data signal electrode, 22...
・Scanning side drive circuit, 23...Data side drive circuit, 24
...Light shielding layer, 25a. 25b... Driver, 26... Vertical synchronization signal, 27
...Scanning signal, 28...Sample hold circuit, 2
9...Video signal, 30...Horizontal synchronization signal, 31.
...Data signal, 32...Control circuit, 33.
...TV signal processing circuit, 34...Antenna terminal, 3
5...TV signal processing circuit, 3609. Shift register Figure 1 3 Single crystal silicon 38 element basis 8 source lightning pole 7 gate Yukion
M Fig. 3 19 Matrix terminal Fig. 4 36 Shift register Fig. 6 Fig. 7 Fig. 8 3 Single crystal silicon Fig. 9 32 Control UO

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] データ信号電極と走査信号電極とで定まる位置にアクテ
ィブ素子を設けた素子基板と対向電極を有する対向基板
とが液晶を介して互いに対向して配置されたアクティブ
・マトリクス液晶表示装置において、前記素子基板は保
持基板に接着層を介してデバイス層が形成され、前記デ
バイス層は単結晶シリコンと絶縁体とからなり、前記デ
バイス層には前記アクティブ素子のほかに液晶駆動回路
のうち少なくとも走査側駆動回路とデータ側駆動回路と
が形成され、前記単結晶シリコンの前記回路を形成した
面と反対側の面上に光遮蔽層を形成したことを特徴とす
るアクティブ・マトリクス液晶表示装置。
In an active matrix liquid crystal display device, an element substrate in which an active element is provided at a position determined by a data signal electrode and a scanning signal electrode, and a counter substrate having a counter electrode are arranged to face each other with a liquid crystal interposed therebetween. A device layer is formed on a holding substrate via an adhesive layer, the device layer is made of single crystal silicon and an insulator, and the device layer includes at least a scanning side drive circuit of the liquid crystal drive circuit in addition to the active element. and a data-side drive circuit, and a light shielding layer is formed on a surface of the single crystal silicon opposite to the surface on which the circuit is formed.
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