JPS6134192B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6134192B2
JPS6134192B2 JP57006219A JP621982A JPS6134192B2 JP S6134192 B2 JPS6134192 B2 JP S6134192B2 JP 57006219 A JP57006219 A JP 57006219A JP 621982 A JP621982 A JP 621982A JP S6134192 B2 JPS6134192 B2 JP S6134192B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
document
light
forgery
scattering
substrate
Prior art date
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Expired
Application number
JP57006219A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS57139872A (en
Inventor
Peetaa Barutesu Hainritsuhi
Shutoaruto Guratsusu Andoryuu
Marutein Yauha Kaaru
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens Building Technologies AG
Original Assignee
Landis and Gyr Immobilien AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Landis and Gyr Immobilien AG filed Critical Landis and Gyr Immobilien AG
Publication of JPS57139872A publication Critical patent/JPS57139872A/en
Publication of JPS6134192B2 publication Critical patent/JPS6134192B2/ja
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  • Inspection Of Paper Currency And Valuable Securities (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は書類の偽造防止方法及び装置、特に紙
弊やクレジツトカード、身分証明書等の書類の偽
造を防止する書類の偽造防止方法及びその装置に
関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a method and apparatus for preventing forgery of documents, and more particularly to a method and apparatus for preventing forgery of documents, which prevents forgery of documents such as paper defects, credit cards, and identification documents.

例えば紙弊、クレジツトカード、身分証明書、
乗車券、小切手等の今日使用されている文書ない
し書類の大部分は近代的な再生方法によつてある
程度の技術を用いれば偽造することができる。従
つてそのような書類上に真正なマークを記録し、
その偽造を防止させるためには費用がかかりす
ぎ、従つて偽造に対する安全性を高める種々の方
法が提案されている。真正なマークを空間的な構
造にし、入射した光を所定の方向に曲げるような
マークを書類に記録するようにすると比較的偽造
に対する防止度を向上させることができる。この
ような空間的な構造、例えばホログラムを用いて
作られた構造、位相回折格子及びキノホーム
(kinoform)のような空間的な構造を作るにはか
なりの高価な装置が必要となる。空間的な組織構
造から出た散乱光の空間的な強度分布を測定する
ことにより自動検査装置を用いてそのような書類
の真正さを確めてみることが可能である。
For example, paper, credit card, identification card, etc.
Most of the documents in use today, such as tickets, checks, etc., can be forged with some skill using modern reproduction methods. therefore recording an authentic mark on such document;
Preventing counterfeiting is too expensive, and therefore various methods have been proposed to increase security against counterfeiting. If the authenticity mark is made into a spatial structure and a mark that bends incident light in a predetermined direction is recorded on the document, the degree of prevention against forgery can be relatively improved. The production of such spatial structures, such as hologram-based structures, phase gratings and kinoforms, requires fairly expensive equipment. It is possible to verify the authenticity of such documents using automatic inspection equipment by measuring the spatial intensity distribution of the scattered light emanating from the spatial texture.

例えばドイツ特許第2538875号には書類上に位
相回折格子を記録し、その回折格子により光源か
らの光を各次数の回折光線に所定の関係に偏向さ
せる方法が知られている。所定の次数番目の回折
光線のエネルギー成分が互いにある関係になつた
時その書類が真正なものであると判定される。
For example, German Patent No. 2,538,875 discloses a method in which a phase diffraction grating is recorded on a document, and the diffraction grating deflects light from a light source into diffracted rays of each order in a predetermined relationship. When the energy components of the diffracted rays of a predetermined order have a certain relationship with each other, it is determined that the document is genuine.

又ドイツ特許第2814890号には所定次数の回折
に分光された光束の強度を拡散散乱光の強度と比
較することにより書類に記録された位相回折格子
の真正さを検査する方法が記載されている。
Furthermore, German Patent No. 2814890 describes a method for testing the authenticity of a phase grating recorded on a document by comparing the intensity of a light beam split into diffraction orders of a predetermined order with the intensity of diffusely scattered light. .

又断面が矩形の平坦な金属帯或いはプラスチツ
ク帯の形状した偽造防止線を紙弊に埋め込む方法
も知られている。この偽造防止線は簡単に見るこ
とができ又検出することができるので書類の真正
さを簡単にしかも素早く検査することができる。
と同時にそのような偽造防止線を紙弊或いはプラ
スチツクの層に埋め込むことはかなりの技術を要
し、簡単には模倣できない工程を必要とする。更
に偽造防止性を高め、偽造防止線の存在並びにそ
の真正さを機械的にチエツクすることを可能にす
るため例えばドイツ特許第2205428号には例えば
コードパターンを表わす意思的に小さな孔を偽造
防止線に設け、それを光線或いは微粒子線によつ
て読み出すような方法が記載されている。
It is also known to embed an anti-counterfeiting line in the form of a flat metal or plastic strip with a rectangular cross section in the paper backing. This anti-counterfeiting line is easily visible and detectable, making it easy and quick to check the authenticity of the document.
At the same time, embedding such an anti-counterfeit line into a layer of paper or plastic requires considerable skill and requires a process that cannot be easily imitated. In order to further improve the anti-counterfeiting property and to mechanically check the existence of the anti-counterfeiting line and its authenticity, for example, German Patent No. 2205428 discloses that the anti-counterfeiting line is intentionally made with small holes representing a code pattern. A method is described in which the information is read out using a light beam or a particle beam.

従つて本発明はこのような点に鑑みなされたも
ので、真正な書類を偽造から確実に防止すること
ができ、又真正な情報に記録し、この書類から真
正な情報を簡単には読み出すことができない書類
の偽造防止方法及び装置を提供することを目的と
する。
Therefore, the present invention was devised in view of these points, and it is possible to reliably prevent genuine documents from being forged, and to record genuine information and easily read genuine information from this document. The purpose of this invention is to provide a method and device for preventing document forgery.

例えば本発明では「電磁波についての国際U.
R.S.I、シンポジウム1980、ミユンヘン1980年8
月26日〜29日、315C/1〜315C/2頁」に記載さ
れているように位相格子と散乱素子を重ね合わせ
ることにより得られる周期的な位相断面をもつた
部分的にコヒーレントな光源の場合には周期的な
物体の存在は強度よりもコヒーレンス(可干渉
性)の度合いによつてより良好に検出することが
できるという認識に基づいている。
For example, in the present invention, "International U.S. Commission on Electromagnetic Waves"
RSI, Symposium 1980, Miyunchen 1980 8
A partially coherent light source with a periodic phase cross-section obtained by superimposing a phase grating and a scattering element as described in 2011, pp. 315C/1 to 315C/2. It is based on the recognition that in some cases the presence of periodic objects can be detected better by the degree of coherence than by the intensity.

以下図面に示す実施例に基づき本発明の詳細を
説明する。
The details of the present invention will be explained below based on embodiments shown in the drawings.

第1図において符号1で示すものは紙弊、クレ
ジツトカード、身分証明書、乗車券、小切手等の
ような書類であり、この書類1は決定要素をもつ
光学素子2′を有する空間的な組織構造2で示さ
れる1つ或いは複数の真正マークをもつている。
このような空間的な組織構造は透過光或いは反射
光を回折により少なくとも所定の方向に偏向させ
るもので、例えば位相ホログラム、或いは位相回
折格子或いはキノホーム等でありその真正さは空
間的な組織構造2によつて散乱された光を自動検
査装置を用いることによつて検査することができ
る。図示した例では決定要素を持つ光学素子2′
は熱可塑性基板3に刻印され薄い反射層4で被覆
された位相回折格子から構成されている。保護層
5は図示された例ではざらざらした拡散する散乱
面を有しており、位相回折格子並びに反射層4を
機械的な破損から守るようにしている。この保護
層5のざらざらした面により確率的(ストカステ
イツク)要素をもち、拡散して散乱させる散乱素
子2′が形成され、これが決定要素をもつ光学素
子2′と重ねられて空間的な組織構造2が形成さ
れる基板3は好ましくは不透明であり又保護層5
は赤外線に対してのみ透過性を示すので決定要素
をもつ光学素子2′は少なくとも人間の目には見
えないようになつている。
In FIG. 1, the reference numeral 1 refers to a document such as a piece of paper, a credit card, an identification card, a ticket, a check, etc., and this document 1 is a spatial organization having an optical element 2' having a determining element. It has one or more marks of authenticity as shown in structure 2.
Such a spatial organizational structure deflects transmitted light or reflected light in at least a predetermined direction by diffraction, and is, for example, a phase hologram, a phase diffraction grating, or a kinoform, and its authenticity depends on the spatial organizational structure2. The light scattered by can be inspected by using automatic inspection equipment. In the illustrated example, the optical element 2' with the determining element
consists of a phase grating imprinted on a thermoplastic substrate 3 and covered with a thin reflective layer 4. The protective layer 5 has a rough, diffusive scattering surface in the illustrated example and is intended to protect the phase grating as well as the reflective layer 4 from mechanical damage. The rough surface of the protective layer 5 forms a scattering element 2' which has a stochastic element and is diffused and scattered, and this is overlapped with an optical element 2' having a determining element to form a spatial structure. The substrate 3 on which the structure 2 is formed is preferably opaque and has a protective layer 5
Since it is transparent only to infrared rays, the optical element 2' having the determining element is at least invisible to the human eye.

決定要素をもつ光学素子2′の代表的な寸法、
例えば位相回折格子の場合には格子定数は第1図
でgで図示されており、確率的散乱素子2′相関
長さはで図示されている。相関長さは簡単に
表現すると確率的要素をもつ散乱素子2′表面荒
さの平均粒状度である。更に正確にいうとは長
さの伸びsの関数としての確率的な高さの伸びh
(s)が、尚ある種の相関を有している長さ、即
ちh(s)はまだh(s±n)と統計的に相関し
ているそのような長さをいう。ここでhは確率的
要素をもつ散乱素子2′の高さの伸びでありsは
その長さの伸びである。
Typical dimensions of the optical element 2′ with determining elements,
For example, in the case of a phase grating, the grating constant is illustrated in FIG. 1 by g, and the stochastic scattering element 2' correlation length is illustrated by g. Simply expressed, the correlation length is the average granularity of the surface roughness of the scattering element 2' having a stochastic element. More precisely, the probabilistic height growth h as a function of the length growth s
(s) still has some kind of correlation, ie h(s) is such a length that is still statistically correlated with h(s±n). Here, h is the height extension of the scattering element 2' having a stochastic element, and s is its length extension.

保護層5は例えば空間的に変動する屈折率を有
する材質から構成することもでき、平坦な表面と
することもできる。この場合確率的要素をもつ散
乱素子の相関長さnは概略的にいうと屈折率の変
動の平均「粒状度」と理解される。
The protective layer 5 can be made of a material with a spatially varying refractive index, for example, and can have a flat surface. In this case, the correlation length n of the scattering element with stochastic elements is understood roughly as the average "granularity" of the variations in the refractive index.

第2図に図示した書類1′はその位相回折格子
が組織構造2の確率的要素を形成する平坦でない
基板3の表面上に配置されているところが第1図
の書類1と異なるところである。
The document 1' shown in FIG. 2 differs from the document 1 of FIG.

第3図において光源6からでた光線7は書類1
(ないし1′)上に照射される。光線7は少なくと
も準単色光であつて所定の空間的なコヒーレンス
(可干渉性)を有するものである。即ち組織構造
2直前におけるコヒーレンス長さは少なくとも決
定要素をもつ光学素子2′の代表的な寸法gと同
じ大きさであり、又光線の直径は代表的な寸法g
より大きくなければならない。
In Figure 3, the light ray 7 emitted from the light source 6 is the document 1.
(or 1'). The light beam 7 is at least quasi-monochromatic light and has a predetermined spatial coherence. That is, the coherence length immediately before the tissue structure 2 is at least as large as the representative dimension g of the optical element 2' having the determining element, and the diameter of the light beam is equal to the representative dimension g.
Must be bigger.

組織構造2によつて散乱された光は2つの光学
選別素子8,9に入射され、そこで好ましくは可
変な散乱角θ,θ′をもつた狭い光束10,1
1′のみが取り出される。光学選別素子8,9と
して例えば可変絞り、ミラー或いはプリズムが用
いられる。これらの素子8,9は好ましくは同期
して置くので、常にθ′=−θとなる。
The light scattered by the tissue structure 2 is incident on two optical separation elements 8, 9, where it is preferably divided into narrow beams 10, 1 with variable scattering angles θ, θ'.
Only 1' is taken out. For example, a variable aperture, a mirror, or a prism is used as the optical selection elements 8 and 9. These elements 8, 9 are preferably placed synchronously, so that θ'=-θ always holds.

光束10は偏向素子12、光路差形成素子13
並びに偏向素子14を介して、又光束11は偏向
素子15,16を介して重ね合わせ素子17に入
射され、そこで光束10,11は再び一緒にされ
る。光路差形成素子13は光束10,11の光路
差δを変化させるものである。偏向素子12,1
4,15,16は例えばミラー、プリズム、光学
フアイバ、光電偏向器等であり、又光路差形成素
子13は例えばプリズム、可動ミラー或いは可変
な屈折率を有する材質等であり、又重ね合わせ素
子17は半透明ミラーや光学繊維等である。
The light beam 10 passes through a deflection element 12 and an optical path difference forming element 13
Via the deflection element 14, the light beam 11 also enters a superimposition element 17 via the deflection elements 15, 16, where the light beams 10, 11 are combined again. The optical path difference forming element 13 changes the optical path difference δ between the light beams 10 and 11. Deflection element 12,1
4, 15, and 16 are, for example, mirrors, prisms, optical fibers, photoelectric deflectors, etc.; the optical path difference forming element 13 is, for example, a prism, a movable mirror, or a material having a variable refractive index; and a superposition element 17 are semi-transparent mirrors, optical fibers, etc.

一緒にされた光束10,11は例えばホトダイ
オードや光電子増倍管等で構成させる光センサ1
8に導びかれる。光センサ18は信号処理回路1
9に接続され、又その後段に電子判定回路20が
接続されている。
The combined light beams 10 and 11 are sent to an optical sensor 1, which is composed of, for example, a photodiode or a photomultiplier tube.
Guided by 8. The optical sensor 18 is the signal processing circuit 1
9, and an electronic determination circuit 20 is connected to the downstream thereof.

制御装置(図示せず)によつて真正さの検出が
制御される。その場合各素子6,8,9,13,
18,19,20にそれぞれ機械的ないし電気的
な制御信号、起動信号及び停止信号が送られる。
制御装置は又駆動装置(図示せず)を制御し、そ
れにより書類1を平行移動させることにより後述
する測定によつて得られる値の平均値を形成する
ようにことも可能である。
A control device (not shown) controls the authenticity detection. In that case, each element 6, 8, 9, 13,
Mechanical or electrical control signals, start signals, and stop signals are sent to 18, 19, and 20, respectively.
The control device can also control a drive device (not shown), by means of which the document 1 is translated in order to form an average value of the values obtained by the measurements described below.

動作を説明する前に書類の空間的な組織構造2
は対称な回折格子であり、又光学選別素子8,9
はθ=θ及びθ′=θ―1=−θとなるよう
に調節しておくものとする。但しθは第1次回
折光の角度であり、又θ―は回折格子の−第1
次回折光の角度を示す。制御装置により光源6が
作動され、光センサ18の感光面には光束10,
11の干渉により干渉縞が発生する。制御装置に
よつて光路差δが連続的に変化するように光路差
形成素子13を制御する。それによつて第4図か
ら明らかなように干渉縞の強度I=I(δ)は最
大値Inax及び最小値Inio間を変動する。光セン
サ18は強度I=I(δ)を検出し、又信号処理
回路19はInax及びInioを測定し、その値に基
づき lμl=(Inax―Inio)/(Inax+Inio) の関係に従つて干渉縞のいわゆるコントラストl
μlを計算する。コントラストlμlの測定値は
両光束10,11のコヒーレンスの度合いに関係
した値であり、判定回路20に送られ肯定(イエ
ス)或いは否定(ノー)の判定信号を形成する。
判定回路20は例えばコントラストlμlの測定
値が所定のしきい値を越えた時書類1を真正なも
のとみなし肯定信号を発生する。
Before explaining the operation, the spatial organization structure of the document 2
is a symmetrical diffraction grating, and optical selection elements 8, 9
shall be adjusted so that θ=θ 1 and θ′=θ−1=−θ 1 . However, θ1 is the angle of the first-order diffracted light, and θ- 1 is the -1st angle of the diffraction grating.
Indicates the angle of the next diffracted light. The light source 6 is activated by the control device, and a light beam 10,
11, interference fringes are generated. The optical path difference forming element 13 is controlled by the control device so that the optical path difference δ changes continuously. As a result, as is clear from FIG. 4, the intensity I=I(δ) of the interference fringes varies between a maximum value I nax and a minimum value I nio . The optical sensor 18 detects the intensity I=I(δ), and the signal processing circuit 19 measures I nax and I nio , and based on the values, lμl=(I nax − I nio )/(I nax + I nio ). The so-called contrast l of the interference fringes according to the relationship
Calculate μl. The measured value of the contrast lμl is a value related to the degree of coherence of both the light beams 10 and 11, and is sent to the determination circuit 20 to form a determination signal of affirmation (yes) or negation (no).
For example, when the measured value of the contrast lμl exceeds a predetermined threshold, the determination circuit 20 considers the document 1 to be genuine and generates an affirmative signal.

一般的に、コントラストは散乱角θ,θ′の関
数、すなわち lμl=lμl=(θ,θ′)l となる。従つて、角度θ,θ′を駆動装置により
変化させ、コントラストlμlを角度θ,θ′の
関数として測定し、判定回路20において測定値
を記憶されたしきい値関数と比較するのが好まし
い。このようにして、例えば、多数次の回折光に
おけるコヒーレンス度がそれぞれ所定の限界値内
にある時のみ位相回折格子が形成された書類が真
正なものと識別される。
In general, the contrast is a function of the scattering angles θ, θ′, ie, lμl=lμl=(θ,θ′)l. It is therefore preferable to vary the angles .theta., .theta.' by means of the drive, measure the contrast l.mu.l as a function of the angles .theta., .theta.', and compare the measured value in the decision circuit 20 with a stored threshold function. In this way, for example, a document on which a phase grating is formed can be identified as genuine only if the degree of coherence in the multiple orders of diffracted light is within a respective predetermined limit value.

第5図には種々の空間組織構造において従来の
強度測定法によつて測定された散乱光の角度強度
<I(θ)>が図示されている。ただし、<…>は
平均値を示す。一方、本発明によるコヒーレンス
の度合を測定することによつて得られたコントラ
ストlμ(θ,−θ)lは第6図に図示されてい
る。なお、第5a図及び第6a図は格子定数がg
の純粋な位相回折格子であり、第5b図及び第6
b図は相関長さがの純粋な拡散散乱素子を示
し、また第5c図及び第6c図は〓gである拡
散散乱素子と位相回折格子を重ね合わせた場合、
また第5d図と第6d図は〓g/10である拡散
散乱素子と位相回折格子を重ねた場合の例を、ま
た第5e図と第6e図は〓g/20である拡散散
乱素子と位相回折格子を重ねた場合の例をそれぞ
れ示す。
FIG. 5 shows the angular intensity <I(θ)> of scattered light measured by a conventional intensity measurement method in various spatial structures. However, <...> indicates an average value. On the other hand, the contrast lμ(θ, -θ)l obtained by measuring the degree of coherence according to the present invention is illustrated in FIG. Note that in Figures 5a and 6a, the lattice constant is g.
5b and 6.
Figure b shows a pure diffuse scattering element with a correlation length of 〓g, and Figures 5c and 6c show the case where a phase diffraction grating is superimposed with a diffuse scattering element whose correlation length is 〓g.
Furthermore, Figures 5d and 6d show an example in which a phase diffraction grating is stacked on a diffuse scattering element with 〓g/10, and Figures 5e and 6e show an example in which a diffuse scattering element with 〓g/20 and a phase diffraction grating are overlapped. Examples of stacked diffraction gratings are shown below.

本発明によるコヒーレンス測定法では、真正マ
ークが確率的要素をもつ散乱素子により強く乱さ
れ、しかも強度分布による真正さの測定が困難で
あり、また場合によつて不可能であつた時でも、
信頼性のある真正さの判断を行なうことができる
ことがわかる。従つてコヒーレンス測定法によつ
て、例えば荒い基板上に配置され、あるいは引つ
かきなどによつて乱された位相回折格子やホログ
ラムなどで形成される真正マークを識別すること
が可能になる。偽造に対する安全性は組織構造2
の決定要素をもつ光学素子2″が第1図及び第2
図に図示したように意図的に拡散散乱させる確率
的要素をもつ散乱素子2″と重ね合わせられとき
さらに上昇させることができる。両素子2′,
2″を重ね合わせることにより強度測定による真
正マークの識別が困難ないしは不可能になるが、
コヒーレンス度を測定することにより真正さの識
別を行なうようにすることができる。特に、確率
的要素をもつ散乱素子2′の相関長さが決定要
素をもつ光学素子2′の寸法gのたかだか1/5程度
であれば確実に識別することができる。
In the coherence measuring method according to the present invention, even when the authenticity mark is strongly disturbed by scattering elements with stochastic elements and it is difficult and sometimes impossible to measure the authenticity by intensity distribution,
It can be seen that reliable authenticity judgments can be made. Coherence measurement methods therefore make it possible to identify authenticity marks, which are formed, for example, by phase gratings, holograms, etc., which are placed on rough substrates or which are disturbed by, for example, attraction. Security against counterfeiting is based on organizational structure 2
The optical element 2'' having determining elements is shown in FIGS. 1 and 2.
As shown in the figure, it can be further raised when superimposed with a scattering element 2'' having a stochastic element that intentionally causes diffuse scattering.Both elements 2',
2", it becomes difficult or impossible to identify the authenticity mark by strength measurement, but
Authenticity can be determined by measuring the degree of coherence. In particular, if the correlation length of the scattering element 2' having a stochastic element is at most about 1/5 of the dimension g of the optical element 2' having a determining element, it can be reliably identified.

第7図にはコヒーレンス度を干渉法を用いて測
定する場合の簡単化された装置が図示されてい
る。同図において第3図に図示したものと同一部
分には同一の参照符号が付されている。光束1
0,11が2つのミラー21,22によつて取り
出され、さらに2つのミラー23,24によつて
共通の検出面25に向けられる。角度θ,θ′は
θ=θ,θ′=−θに調節される。書類1は
図示しなかつたが揺動自在な保持装置によつて保
持され、それにより書類1の表面と光線7の軸の
垂直線との間の角度を変化させることができ
る。検出面25には信号処理回路19に接続され
る光センサ26,27が配置され、一方の光セン
サは干渉縞の明部を、一方他の光センサは暗部を
検出する。信号処理回路19は、例えば光センサ
26,27によつて測定された強度の差を検出す
る。
FIG. 7 shows a simplified apparatus for measuring the degree of coherence using interferometry. In this figure, the same parts as those shown in FIG. 3 are given the same reference numerals. Luminous flux 1
0 and 11 are taken out by two mirrors 21 and 22, and further directed to a common detection plane 25 by two mirrors 23 and 24. The angles θ and θ' are adjusted to θ=θ 1 and θ′=−θ 1 . The document 1 is held by a swingable holding device, not shown, so that the angle between the surface of the document 1 and the perpendicular to the axis of the light beam 7 can be varied. Optical sensors 26 and 27 connected to the signal processing circuit 19 are arranged on the detection surface 25, one optical sensor detects the bright part of the interference fringes, while the other optical sensor detects the dark part. The signal processing circuit 19 detects the difference in intensity measured by the optical sensors 26 and 27, for example.

角度が変化され、その場合=0は光線7が
垂直に入射するのに対応し、第8図及び第10図
から明らかなように、組織構造2に回折格子が含
まれる場合に干渉縞は最大コントラストlμlと
なる。これに対してが0でない場合には、第9
図に図示したようにコントラストは現われない。
判定回路20はコントラストlμlが所定のしき
い値より大きくなつた時肯定(イエス)信号を発
生する。また、書類1を揺動させた場合の変化が
所定の値よりを超えた場合だけ肯定信号を発生さ
せるようにしたときも真正さの判定に対する確実
性を増大させることができる。
The angle is varied, in which case = 0 corresponds to normal incidence of the ray 7, and as is clear from FIGS. The contrast is lμl. For this, if is not 0, the 9th
No contrast appears as shown in the figure.
The determination circuit 20 generates an affirmative (yes) signal when the contrast lμl becomes greater than a predetermined threshold. Further, when the positive signal is generated only when the change when the document 1 is swung exceeds a predetermined value, the reliability of the authenticity determination can be increased.

干渉縞のコントラストlμlのかわりに、いわ
ゆる第2次の強度相関g2を測定するようにするこ
ともできる。これを第11図及び第12図を参照
して説明する。第11図に図示した装置の部材
6,8,9,12,15はそれぞれ第3図のもの
に対応する。偏向素子12,15によつて偏向さ
れた光束10,11は光センサ28,29に入射
する。両光センサ28,29は信号処理回路30
(例えば電子相関器を設けている)に接続され、
その後段に判定回路31が接続される。
Instead of the contrast lμl of the interference fringes, it is also possible to measure the so-called second-order intensity correlation g 2 . This will be explained with reference to FIGS. 11 and 12. The parts 6, 8, 9, 12, 15 of the device shown in FIG. 11 each correspond to those in FIG. The light beams 10 and 11 deflected by the deflection elements 12 and 15 enter optical sensors 28 and 29. Both optical sensors 28 and 29 are connected to a signal processing circuit 30
(e.g. equipped with an electronic correlator),
A determination circuit 31 is connected to the subsequent stage.

書類1の真正さを判定する場合、角度θ,θ′
は連続的に変化される。信号処理回路30は電子
相関器として機能し、 g2(θ,θ′)=<I(θ)・I(θ)>/<I(θ
)>・<I(θ)> の式に従つて強度相関g2(θ,θ′)を測定す
る。
When determining the authenticity of document 1, the angles θ, θ′
is changed continuously. The signal processing circuit 30 functions as an electronic correlator, and g 2 (θ, θ′)=<I(θ)・I(θ)>/<I(θ
)>・<I(θ)> The intensity correlation g 2 (θ, θ′) is measured according to the formula.

光束10,11の光束断面が十分大きい場合l
μl及びg2の量はよく知られた関係g2=1+lμ
l2によつて結ばれている。判定回路31の出力に
は強度相関g2が所定のしきい値を超えた時肯定信
号が現われる。
When the cross section of the light beams 10 and 11 is sufficiently large, l
The quantities μl and g 2 follow the well-known relationship g 2 = 1 + lμ
connected by l 2 . An affirmative signal appears at the output of the determination circuit 31 when the intensity correlation g 2 exceeds a predetermined threshold.

第12図には強度相関を測定するための簡略化
された装置が図示されている。光センサ28,2
9は同時に光学選別素子及び検出器として機能す
る。角度θはθ=θである第1次回折光の値に
固定される。光センサ29は可動できるので、角
度θ′は△θだけ変化させ、θ′=−θ±△θと
変化することができる。強度相関g2は△θ=0の
とき最大となる。
FIG. 12 shows a simplified device for measuring intensity correlations. Optical sensor 28,2
9 functions as an optical selection element and a detector at the same time. The angle θ is fixed to the value of the first order diffracted light, where θ=θ 1 . Since the optical sensor 29 is movable, the angle θ' can be changed by Δθ, such that θ'=−θ 1 ±Δθ. The intensity correlation g 2 is maximum when Δθ=0.

第11図及び第12図に図示した装置におい
て、光センサ28,29のかわりに単一の光セン
サを用いることができる。この場合、例えば最初
に関数I(θ)が測定され、測定値がアナログあ
るいはデジタル的に記憶され、その後関数I
(θ′)が検出され、g2が計算される。光センサと
して光電子増倍管を用い、メモリとして電子カウ
ンタを用いるようにすると、比較的簡単な方法で
それを実行することができる。そのような相関測
定法は、例えば{Photon Correlation and Light
Beating Spectroscopy」1974、Plenum Press,
New Yorkの書物に記載されているので、ここ
に、詳細に述べるのは省略する。
In the apparatus illustrated in FIGS. 11 and 12, a single optical sensor can be used instead of optical sensors 28, 29. In this case, for example, first the function I(θ) is measured, the measured value is stored analogue or digitally, and then the function I(θ) is
(θ′) is detected and g 2 is calculated. This can be done in a relatively simple way by using a photomultiplier tube as the light sensor and an electronic counter as the memory. Such correlation measurements are, for example, {Photon Correlation and Light
Beating Spectroscopy” 1974, Plenum Press,
Since it is described in the New York book, I will not discuss it in detail here.

次に、第13図〜第19図を参照して光を回折
させる微細な組織構造を埋め込むよりも通常の書
類を作成する方法に適合し、しかも偽造に対する
安全性が保証され、その場合真正マークが人間の
目には見えないようにさせる方法について説明す
る。第13図において符号41で示すものは書類
であり、例えば紙弊、クレジツトカード、身分証
明書、乗車券、小切手などである。書類41の基
板42は、例えばプラスチツク、紙あるいは厚紙
から構成される。基板42は巨視(マクロ)的な
決定要素をもつ光学素子43′及び散乱素子4
3″から構成される空間組織構造43から成る真
正マークが記録される。巨視的な光学素子43′
は、空間的なコヒーレンスを有し、書類41に入
射する光線44を幾何光学の法則に従い屈折ある
いは反射により(本実施例の場合屈折)少なくと
も2つの所定の方向45,46に偏向させるよう
に構成される。この巨視的な光学素子43′と機
能的に重ね合わせられる確率的な要素をもつ散乱
素子43″により光線44は拡散散乱されその散
乱光の強度分布47に基づき巨視的な光学素子4
3′を識別することが困難ないし場合によつて不
可能になり、しかもその場合散乱光は所定の方向
45,46では相互にコヒーレント(可干渉性)
であるように構成される。散乱素子43″は基板
42あるいは光学素子43′の表面構造あるいは
その材質により形成される。
Next, referring to FIGS. 13 to 19, it is more compatible with ordinary document preparation methods than embedding fine tissue structures that diffract light, and moreover, safety against forgery is guaranteed, in which case the authenticity mark We will explain how to make it invisible to the human eye. In FIG. 13, reference numeral 41 indicates documents, such as paper, credit cards, identification cards, train tickets, and checks. The substrate 42 of the document 41 is made of plastic, paper or cardboard, for example. The substrate 42 includes an optical element 43' having macroscopic determining elements and a scattering element 4.
An authenticity mark is recorded consisting of a spatial organization structure 43 consisting of 3". Macroscopic optical element 43'
has spatial coherence and is configured to deflect a light ray 44 incident on the document 41 into at least two predetermined directions 45 and 46 by refraction or reflection (refraction in this embodiment) according to the laws of geometric optics. be done. A light ray 44 is diffusely scattered by a scattering element 43'' having a stochastic element that is functionally superimposed on this macroscopic optical element 43', and based on the intensity distribution 47 of the scattered light, the macroscopic optical element 4
3' becomes difficult or even impossible to distinguish, and in that case the scattered light is mutually coherent in the predetermined directions 45, 46.
is configured to be. The scattering element 43'' is formed by the surface structure or material of the substrate 42 or the optical element 43'.

組織構造43で散乱された光のうち任意の光線
部分48の散乱角が第13図でθで図示されてお
り、また光線部分48と垂線に対してこれと対称
な光線部分49間の角度△θで、また所定の方向
45,46に散乱された光線部分の散乱角がθ
s,−θsでそれぞれ図示されている。
The scattering angle of any ray portion 48 of the light scattered by the tissue structure 43 is illustrated in FIG. θ, and the scattering angle of the light beam portion scattered in the predetermined directions 45 and 46 is θ.
s and −θ s , respectively.

自動検査装置により書類41の真正さを検査す
る場合、光源から光線44が発生され、組織構造
43上に投射される。組織構造43で散乱された
光はそれぞれ所定の方向45,46で狭い光束と
して取り出される。少なくとも1つの光センサ並
びに電子信号処理回路を用いて両光束から相互の
コヒーレンスの度合に関係した量が測定される。
この測定量から判定回路を用いて肯定信号ないし
否定信号が検出される。この場合、コヒーレンス
度、すなわちコントラストlμlあるいは強度相
関g2が所定のしきい値を超えた時、書類41は真
正と判断される。このコヒーレンスの度合を測定
するために、第3図、第7図、第11図及び第1
2図に図示した装置が用いられる。
When testing the authenticity of a document 41 by an automatic testing device, a light beam 44 is generated from a light source and projected onto a tissue structure 43 . The light scattered by the tissue structure 43 is extracted as a narrow beam in predetermined directions 45 and 46, respectively. A quantity that is related to the degree of mutual coherence is measured from both light beams using at least one light sensor and an electronic signal processing circuit.
An affirmative signal or a negative signal is detected from this measured quantity using a decision circuit. In this case, the document 41 is judged to be genuine when the degree of coherence, ie, the contrast lμl or the intensity correlation g2 , exceeds a predetermined threshold. In order to measure the degree of coherence, Figures 3, 7, 11 and 1
The apparatus illustrated in Figure 2 is used.

第14図にはコントラストlμlの角度△θに
対する関係が図示されている。同図から△θ=2
θsのとき最大値を有することがわかる。従つ
て、この最大値に基づきコヒーレンス度を測定す
ることにより書類41に巨視的な決定要素をもつ
光学素子43′が存在することが検出される。組
織構造43の散乱素子43″により入射光が拡
散・散乱されることにより組織構造43の真正マ
ークは人間の目には見えないようになつている。
FIG. 14 shows the relationship between the contrast lμl and the angle Δθ. From the same figure, △θ=2
It can be seen that it has a maximum value when θ s . Therefore, by measuring the degree of coherence based on this maximum value, the presence of an optical element 43' having a macroscopic determining element in the document 41 is detected. Since the incident light is diffused and scattered by the scattering element 43'' of the tissue structure 43, the authenticity mark of the tissue structure 43 becomes invisible to the human eye.

組織構造43によつて散乱された光の分布は通
常粒状性(つぶつぶ)を有しており、それにより
粒状性が静的な場合にはコヒーレンス度の測定は
困難になる。しかし、コヒーレンス度の測定のと
き、例えば書類41を連続的に移動させその時発
生する光パターンの平均値を求めることによりそ
の欠点を解決することができる。好ましくは、書
類41は光学素子43′の長手軸と平行に移動さ
れる。
The distribution of light scattered by the texture structure 43 usually has a granular nature, which makes it difficult to measure the degree of coherence if the granularity is static. However, when measuring the degree of coherence, this drawback can be overcome by, for example, continuously moving the document 41 and finding the average value of the light patterns generated at that time. Preferably, document 41 is moved parallel to the longitudinal axis of optical element 43'.

巨視的な光学素子43′としては、例えば拡散
散乱する材質あるいは拡散散乱する表面構造を持
つた材質に両プリズム、ハーフミラー、適当な傾
斜面を有する反射体などのような光を分ける手段
を埋め込むようにした光学手段を用いるのが好ま
しい。次にこれらを第15図〜第19図を参照し
て詳細に説明する。
As the macroscopic optical element 43', for example, a means for dividing light such as a double prism, a half mirror, a reflector having an appropriate inclined surface, etc. is embedded in a material that diffuses and scatters or a material that has a surface structure that diffuses and scatters. It is preferable to use such an optical means. Next, these will be explained in detail with reference to FIGS. 15 to 19.

第15図には基板42に帯状物51を埋めこん
だ書類50が図示されている。この帯状物51の
上方及び下方面は互いにゆるやかな角度で傾斜し
た2つの表面52,53から構成される。帯状物
51の幅は約1mm位であり、その長さは書類50
の長さあるいは幅に対応する。帯状物51は好ま
しくは金属、金属で被覆された材料あるいは透明
な材料から形成される。基板42は、例えば拡
散・散乱する紙あるいは拡散・散乱する表面を備
えた熱可塑性物質から構成される。
FIG. 15 shows a document 50 in which a strip 51 is embedded in a substrate 42. The upper and lower surfaces of this strip 51 are composed of two surfaces 52 and 53 that are inclined at a gentle angle to each other. The width of the strip 51 is approximately 1 mm, and the length is approximately 1 mm.
corresponds to the length or width of The strip 51 is preferably made of metal, metal-coated material or transparent material. Substrate 42 may be comprised of, for example, diffusing paper or a thermoplastic material with a diffusing and scattering surface.

第16図には反射面を備え基板42に埋め込ま
れた帯状物55を有する書類54が図示されてい
る。帯状物55はほぼ矩形状の断面を有し、その
長手方向に走る中心線に対してわずかに傾斜する
ように折り曲げられているので、わずかに傾斜し
た表面52,53が現われる。
FIG. 16 shows a document 54 having a reflective surface and a strip 55 embedded in the substrate 42. The strip 55 has an approximately rectangular cross-section and is bent slightly obliquely to its longitudinal centerline, so that slightly oblique surfaces 52, 53 appear.

第17図に図示した書類56の基板は透明なプ
ラスチツクから成る互いに接合された2つの層5
7,58から成る。層57,58の外部表面には
組織構造はなく、平滑となつているが、層57,
58の境界面59は分散・散乱するようにその面
が処理されている。この面は光線分割器として機
能し、斜めに入射した光線60を反射方向61及
び透過方向62に分割させる。また、その表面が
荒い境界面59は光線60を拡散散乱させる散乱
素子としても機能する。真正さを判定する場合、
書類56で散乱された光は反射光61と透過光6
2の狭い光束に分離され、そのコヒーレンス度が
測定される。
The substrate of the document 56 illustrated in FIG. 17 consists of two layers 5 of transparent plastic bonded together.
It consists of 7,58. The outer surfaces of layers 57 and 58 have no texture and are smooth;
The boundary surface 59 of 58 is processed so as to cause dispersion and scattering. This surface functions as a beam splitter and splits the obliquely incident beam 60 into a reflection direction 61 and a transmission direction 62. The rough interface 59 also functions as a scattering element that diffuses and scatters the light rays 60. When determining authenticity,
The light scattered by the document 56 is reflected light 61 and transmitted light 6
The light beam is separated into two narrow beams, and the degree of coherence thereof is measured.

また、第18図には基板42を備えた書類63
が図示されており、その基板には透明な帯状物6
4が埋め込まれる。その帯状物の断面は矩形であ
り、その一方の面には半透明の薄い反射層65が
被覆されている。この反射層65は光線を分割
し、巨視(マクロ)的な光学素子を形成する。基
板42の材質あるいは表面構造を拡散散乱させる
特性を持たせることにより散乱素子が形成され
る。真正さの検査は書類56と同様に行なわれ
る。
Further, FIG. 18 shows a document 63 equipped with a board 42.
is shown, with a transparent strip 6 on its substrate.
4 is embedded. The cross section of the strip is rectangular, and one surface thereof is coated with a thin translucent reflective layer 65. This reflective layer 65 splits the light beam and forms a macroscopic optical element. A scattering element is formed by giving the material or surface structure of the substrate 42 a property of diffusing and scattering. The authenticity check is performed in the same way as for document 56.

第19図には基板42に複数の傾斜した面68
を有するブロツク67を埋め込んだ書類66が図
示されている。これらの面68は入射光を反射あ
るいは屈折により複数の光線部分に分割するとと
もに基板42によつて入射光が拡散散乱される。
従つてこの場合、散乱光は所定の複数の方向に相
互に可干渉性を帯びる。好ましくはこれらの方向
にコードパターンが配置される。真正さを検査す
る場合、複数の狭い光束が取り出され、コヒーレ
ンス度を測定することによりそのコードパターン
が読み出される。
FIG. 19 shows a plurality of inclined surfaces 68 on the substrate 42.
Illustrated is a document 66 with an embedded block 67. These surfaces 68 divide the incident light into a plurality of beam portions by reflection or refraction, and the substrate 42 causes the incident light to be diffusely scattered.
Therefore, in this case, the scattered light becomes mutually coherent in a plurality of predetermined directions. Preferably, the code pattern is arranged in these directions. When testing authenticity, a plurality of narrow beams are taken out and the code pattern is read out by measuring the degree of coherence.

第20図及び第21図には第1図、第2図、第
15図〜第19図に図示したような空間構造組織
72を備えた書類71が図示されている。この組
織構造は少なくとも準単色光であり、空間的なコ
ヒーレンスを有する光源73により照明される。
組織構造72で散乱された光のうち2つの狭い光
束が光学選別手段74,75,74′,75′に入
射される。これらの手段には偏向素子や光路差を
変化させる手段などが設けられている。散乱され
た両光束の平均散乱角がθ,θで図示されて
いる。重ね合わせ素子76により2つの分離光束
が再び重ね合わせられる。検出装置77により重
ね合わせられた光線が受光され、そこで電気信号
が発生して、その後これらの信号が処理され肯定
あるいは否定の判断がなされ、その結果が記録さ
れる。種々の光学手段73〜77は基台(図示せ
ず)上に固定ないし可動に取り付けられる。
20 and 21 illustrate a document 71 having a spatial structure 72 as illustrated in FIGS. 1, 2, and 15-19. This tissue structure is illuminated by a light source 73 that is at least quasi-monochromatic and spatially coherent.
Two narrow beams of light scattered by the tissue structure 72 are incident on the optical selection means 74, 75, 74', 75'. These means are provided with deflection elements, means for changing the optical path difference, and the like. The average scattering angles of both scattered light beams are indicated by θ 1 and θ 2 . A superimposing element 76 superimposes the two separated beams again. The superimposed beams are received by a detection device 77, which generates electrical signals, which are then processed to make a positive or negative decision, and the results are recorded. Various optical means 73-77 are fixedly or movably mounted on a base (not shown).

第20図及び第21図に図示した装置は両光束
が光学選別素子74,75,74′,75′ならび
に重ね合わせ素子76において組織構造72から
再び重ね合わせられるまでに出くわす画像反転
(例えば反射)回数が異なる。第20図に図示し
た装置では画像反転数が奇数であり第21図に図
示した装置ではそれが偶数である。
The apparatus illustrated in FIGS. 20 and 21 is characterized by image inversion (e.g. reflection) in which both light beams encounter optical separation elements 74, 75, 74', 75' and from tissue structure 72 before being superimposed again in superposition element 76. The number of times is different. In the device shown in FIG. 20, the number of image inversions is an odd number, and in the device shown in FIG. 21, it is an even number.

分離された光束の重ね合わせ方法は反転回数に
よつて決められる。その回数が奇数の場合には重
ね合わせは逆となり、偶数の場合には正常とな
る。逆の重ね合わせはコヒーレンスを対称に検出
することに対応し、正常な重ね合わせは非対称に
検出することに対応する。
The method of superimposing the separated light beams is determined by the number of inversions. If the number of times is odd, the superposition is reversed, and if it is even, it is normal. Inverse superposition corresponds to detecting coherence symmetrically, and normal superposition corresponds to detecting coherence asymmetrically.

上述したような装置の幾何学的な特性により光
線が平均散乱方向よりわずかでも偏ると、それに
対応して受光した光線もそれに対応して偏ること
になる。逆に検出装置77における偏角△θは分
離された光束の偏角△θ,△θに対応する。
逆の重ね合わせの場合には偏角△θ,△θ
種々の符号を有することが特徴である(第20
図)。また、正常の重ね合わせの場合には偏角△
θ,△θの符号は常に同一である(第21
図)。
If the light beam is even slightly deviated from the average scattering direction due to the geometrical characteristics of the device as described above, the received light beam will be correspondingly deviated as well. Conversely, the declination angle Δθ in the detection device 77 corresponds to the declination angles Δθ 1 and Δθ 2 of the separated light beams.
In the case of reverse superposition, the declination angles △θ 1 and △θ 2 have various signs (the 20th
figure). In addition, in the case of normal superposition, the declination angle △
The signs of θ 1 and △θ 2 are always the same (21st
figure).

ここで要約すると、第20図は逆の重ね合わせ
であり、反転回数は奇数で対称検出に対応し、△
θ,△θの符号が異なる。
To summarize here, Fig. 20 is an inverse superposition, the number of inversions is odd and corresponds to symmetry detection, and △
The signs of θ 1 and Δθ 2 are different.

一方、正常重ね合わせ(第21図)の場合は反
転回数は偶数であり、非対称検出に対応し、△θ
,△θの符号は等しい。
On the other hand, in the case of normal superposition (Fig. 21), the number of inversions is an even number, which corresponds to asymmetric detection, and △θ
1 and △θ 2 have the same sign.

検出装置77の検出面に現われる干渉縞のコン
トラストlμlは平均散乱角θ,θならびに
偏角△θに関係する。第22図及び第23図には
空間組織構造72が幾何光学の法則に基づいた巨
視的な光線分割器である場合に対してコンピユー
タを用いて計算された関数lμl=(θ,θ
)の平均値が概略図として図示されている。第
24図及び第25図には平均散乱角θ,θ
固定した場合、コントラストlμlの偏角△θに
対する関係が図示されている。
The contrast lμl of the interference fringes appearing on the detection surface of the detection device 77 is related to the average scattering angles θ 1 , θ 2 and the deviation angle Δθ. FIGS. 22 and 23 show the function lμl=(θ 1 , θ
The average values of 2 ) are shown schematically. FIGS. 24 and 25 illustrate the relationship between the contrast lμl and the deviation angle Δθ when the average scattering angles θ 1 and θ 2 are fixed.

第22図及び第24図で78で図示した曲線は
一連の分離した最大値を有する対称検出に対応す
る。
The curve illustrated at 78 in FIGS. 22 and 24 corresponds to a symmetrical detection having a series of discrete maxima.

非対称検出の場合には第23図及び第25図に
図示したようにかなり広い角度範囲にわたつて一
定のコントラストが発生するカーブ79,80が
発生する。カーブ79,80の最大値は主方向を
どこに選ぶか、すなわち散乱角θ,θに従つ
て変化する。sinθ―sinθが「適当な」値を
とる場合、カーブ79に示されたように偏角△θ
の広い範囲にわたつて大きなコントラストlμl
が発生する。一方、sinθ―sinθがこの値か
らごくわずかでも異なると、カーブ80に図示し
たように実質上コントラストは発生しない。
In the case of asymmetric detection, curves 79 and 80 are generated which provide a constant contrast over a fairly wide angular range, as shown in FIGS. 23 and 25. The maximum values of the curves 79 and 80 change depending on where the main direction is chosen, that is, the scattering angles θ 1 and θ 2 . If sinθ 1 - sinθ 2 takes “appropriate” values, the argument △θ
large contrast lμl over a wide range of
occurs. On the other hand, if sin θ 1 -sin θ 2 differs even slightly from this value, substantially no contrast will occur as shown in curve 80.

sinθ―sinθの「適当な」値は真正マーク
の組織構造72の回折ないし散乱特性によつて決
められる。組織構造72が散乱光の強度を集中さ
せるような各対になつた散乱方向によりそのよう
な値が決められらる。例えば周期的な回折格子の
場合にはそのような適当な値は常にλ/bの整数
倍である。ただし、λは光源73の波長であり、
bは格子周期である。
The "appropriate" values of sin θ 1 -sin θ 2 are determined by the diffraction or scattering properties of the texture 72 of the authenticity mark. Such values are determined by each pair of scattering directions in which the tissue structure 72 concentrates the intensity of the scattered light. For example, in the case of periodic gratings such suitable values are always integer multiples of λ/b. However, λ is the wavelength of the light source 73,
b is the grating period.

上述したことから正常な重ね合わせの場合、次
のような測定方法が得られる。まず主方向が適当
な値θ,θに調節される。一般的にこれらの
方向は所定の面内に制限されるものではないが、
簡単のためにこの場合角度θ,θが図示され
ている。sinθ―sinθの差が真正マークの特
性に合わされるように主方向が選ばれた場合、検
出面上に所定幅の明確な干渉縞が現われ、その強
度分布は第27図で曲線81で示されたような形
状となり、簡単に検出することができる。しかし
sinθ―sinθの差が誤まつて選ばれた場合と
か、あるいはそもそも書類71上に真正マークが
ない場合には、第27図の曲線82で示したよう
に検出面上には単に拡散した強度分布が現われる
だけである。
From the above, in the case of normal overlay, the following measurement method can be obtained. First, the main directions are adjusted to appropriate values θ 1 and θ 2 . Generally, these directions are not limited to a predetermined plane, but
For simplicity, angles θ 1 and θ 2 are shown in this case. If the principal direction is chosen so that the difference between sin θ 1 and sin θ 2 is matched to the characteristics of the authenticity mark, a clear interference fringe of a predetermined width will appear on the detection surface, and its intensity distribution will be represented by curve 81 in Fig. 27. It has the shape shown and can be easily detected. but
If the difference between sin θ 1 and sin θ 2 is incorrectly selected, or if there is no authenticity mark on the document 71 in the first place, there is simply a diffused mark on the detection surface, as shown by curve 82 in Figure 27. Only the intensity distribution appears.

また逆に重ね合わせた場合には第26図から明
らかなように正常に重ね合わせた場合と比較して
検出面上には比較的狭い干渉縞が現われる。
On the other hand, in the case of reverse overlapping, relatively narrow interference fringes appear on the detection surface, as is clear from FIG. 26, compared to the case of normal overlapping.

特に正常な重ね合わせの場合には上述したよう
な強度の変化すなわち検出面上での干渉縞の存在
は肯定信号ないし否定信号を形成する量として好
ましいものとなる。また同様に強度の変化はコヒ
ーレンス度を測定する尺度となり、測定技術上簡
単な手段で本来のコヒーレンス度として検出する
ことができる。第28図の装置において第21図
と同一部分には同一の参照符号が付されており、
同図において強度の変化は単一の光センサ83を
用いて検出面上で検出することができ、その場合
光センサ83の位置は第21図に示した偏角△θ
に対応して±xの量だけ変化することができる。
第28図には図示しなかつたが信号処理回路を用
いて強度の変化が記憶されたしきい値あるいはし
きい値関数と比較され、肯定あるいは否定の判定
が行われる。光センサを移動させる代わりに1群
の光センサを固定するようにすることもできる。
Particularly in the case of normal superposition, the above-mentioned change in intensity, that is, the presence of interference fringes on the detection surface, is a desirable quantity for forming a positive signal or a negative signal. Similarly, changes in intensity serve as a measure for measuring the degree of coherence, and can be detected as the original degree of coherence using simple measurement techniques. In the apparatus of FIG. 28, the same parts as in FIG. 21 are given the same reference numerals.
In the same figure, the change in intensity can be detected on the detection surface using a single optical sensor 83, in which case the position of the optical sensor 83 is set at the angle of deviation Δθ shown in FIG.
can be varied by an amount of ±x corresponding to .
Although not shown in FIG. 28, the change in intensity is compared with a stored threshold value or threshold function using a signal processing circuit, and an affirmative or negative determination is made. Instead of moving the optical sensors, it is also possible to fix a group of optical sensors.

第29図には対称検出を行う簡単な装置の例が
図示されている。検査すべき書類71は角度のつ
いた保持部材84の一方の脚部に配置されてお
り、また他方の脚部にはミラー85が配置され
る。光源73ならびに書類71とミラー85を設
けた保持部材84は軸86を中心に揺動できる台
(図示せず)上に固定される。また二つの光学選
別素子87,88ならびに検出装置89が固定し
て配置される。検出装置89は例えば第3図に図
示したような相関を測定する装置であつたり、ま
たは第11図に示したように干渉を用いた測定装
置を有する。
FIG. 29 shows an example of a simple device for detecting symmetry. The document 71 to be inspected is arranged on one leg of an angled holding member 84, and a mirror 85 is arranged on the other leg. The light source 73 and the holding member 84 provided with the document 71 and the mirror 85 are fixed on a table (not shown) that can swing around an axis 86 . Furthermore, two optical sorting elements 87, 88 and a detection device 89 are fixedly arranged. The detection device 89 may be, for example, a device for measuring correlation as shown in FIG. 3, or a measuring device using interference as shown in FIG.

第29図において台の脚部のなす角度がで、
また書類71の面とミラー85の面のなす角度が
αで、また書類71の面と光線の入射方向のなす
角がβで図示されている。光学選択素子87に直
接入射する光束とミラー85で反射された光学選
別手段88に入射する光束間のなす角度を示す。
またこの両方の分離された光束の平均散乱角はθ
,θで図示されている。
In Figure 29, the angle formed by the legs of the stand is
Further, the angle between the surface of the document 71 and the surface of the mirror 85 is represented by α, and the angle between the surface of the document 71 and the direction of incidence of the light beam is represented by β. The angle formed between the light beam directly incident on the optical selection element 87 and the light beam reflected by the mirror 85 and incident on the optical selection means 88 is shown.
Also, the average scattering angle of both separated beams is θ
1 , θ2 .

このような幾何学的な配置構成の場合、分離さ
れた散乱角θ,θはθ=c+及びθ
c′−によつて与えられる。ただしc,c′は定数
である。台を角度ばけ揺動させることにより角
度θ,θは逆方向に変化される。角度θ
θの合計に対しては、 θ+θ=γ+2(α+β−π) の式が成立する。角度α,β,γが式の右側が0
となるように選ばれると、θ=−θが成立す
る。すなわち狭義の意味において対称検出とな
る。その為に単に単一の機械的な移動だけしか必
要とされない。
For such a geometrical configuration, the separated scattering angles θ 1 , θ 2 are θ 1 =c+ and θ 2 =
given by c′−. However, c and c' are constants. By swinging the table by an angle, the angles θ 1 and θ 2 are changed in opposite directions. Angle θ 1 ,
For the sum of θ 2 , the following formula holds true: θ 12 =γ+2(α+β−π). The angles α, β, and γ are 0 on the right side of the equation.
When selected so that θ 1 =−θ 2 holds true. In other words, this is symmetrical detection in a narrow sense. Only a single mechanical movement is required for this purpose.

第20図でθ=θと選ぶと対称検出は光源
73の波長をかえることによつて得られる。
If we choose θ 21 in FIG. 20, symmetrical detection can be obtained by changing the wavelength of the light source 73.

第30図には書類90が図示されており、その
場合空間的な組織構造91は書類中斜めに配置さ
れた基板92上に配置される。それにより好まし
くは微視的な構造を有する組織91の有効面が隠
され、偽造に対する安全性が向上する。組織構造
91は書類90が確率的な散乱素子を形成する分
散散乱する材質から構成された時さらに良好に隠
ぺいすることが可能になる。組織構造91は好ま
しくは第31図に図示したように基板92上に斜
めに配置される。種々の方位を有するこのような
基板92が書類90に含まれた場合、全体として
その散乱ないし回折方向はそのすべてが一つの面
に来ることがないような構造となる。
FIG. 30 shows a document 90, in which a spatial organization structure 91 is arranged on a substrate 92 arranged diagonally throughout the document. The effective surface of the tissue 91, which preferably has a microscopic structure, is thereby hidden and the security against counterfeiting is increased. Texture structure 91 can be better concealed when document 90 is composed of a diffusely scattering material forming stochastic scattering elements. Tissue structure 91 is preferably disposed obliquely on substrate 92 as illustrated in FIG. When such substrates 92 having various orientations are included in the document 90, the overall structure is such that their scattering or diffraction directions do not all lie in one plane.

第32図に図示された書類93は巨視的な鋸歯
構造95を備えた埋め込まれた基板94とそれに
重ねられる微視的な構造96とから構成される。
巨視的な構造95によつて幾何光学の法則に従い
屈折あるいは反射が行われ、また微視的な構造9
6によつて特定の回折が発生し、それによつて散
乱ないし回折方向はそのすべてが同一面に来るこ
とがないようになる。
The document 93 illustrated in FIG. 32 is comprised of an embedded substrate 94 with macroscopic sawtooth structures 95 and microscopic structures 96 superimposed thereon.
Refraction or reflection is performed by the macroscopic structure 95 according to the laws of geometric optics, and the microscopic structure 9
6 causes a certain diffraction so that the scattering or diffraction directions are not all in the same plane.

第33図に図示した書類97には基板98が埋
め込まれており、この基板は微視的な回折構造9
9を有し、また反透明な反射層100で被覆され
ている。反射層100は光線分割器となり、斜め
に入射する光線を反射方向と透過方向に別れる光
線に分別する。回折構造99によつて光線はさら
に遠くで他の面に向うように分割される。反射層
100と回折構造99によつて形成される決定要
素となる散乱素子が確率的な要素をもつ散乱素子
と重ね合わされる場合、簡単な方法で回折構造9
9を意図的に幾何学的に清浄なものでなくするこ
とができる。
A substrate 98 is embedded in the document 97 illustrated in FIG.
9 and is coated with an anti-transparent reflective layer 100. The reflective layer 100 serves as a light beam splitter and separates obliquely incident light beams into light beams in a reflection direction and a transmission direction. A diffractive structure 99 splits the light beam further away into another plane. When the determining scattering element formed by the reflective layer 100 and the diffractive structure 99 is superimposed with a scattering element having a stochastic element, the diffractive structure 9 can be easily
9 can be made intentionally not geometrically clean.

第34図には真正マークとして書類に埋め込ま
れる偽造防止線101が図示されている。この偽
造防止線101の巨視的な断面は少なくとも所定
の部分長さにわたつて矩形及び円形と異なる一定
の形状を有し、一方その表面は微視的な凹凸構造
102を有する。この巨視的な断面と微視的な凹
凸構造102を組み合せにより簡単な方法ではま
ねすることができない真正マークが形成されその
場合多数の特徴的な散乱方向が得られることにな
る。
FIG. 34 shows a counterfeit prevention line 101 embedded in a document as an authenticity mark. The macroscopic cross section of this anti-counterfeit wire 101 has a certain shape different from rectangular or circular over at least a predetermined partial length, while its surface has a microscopic uneven structure 102. The combination of this macroscopic cross-section and the microscopic relief structure 102 forms an authenticity mark that cannot be imitated by simple methods, resulting in a large number of characteristic scattering directions.

以上説明したように、本発明によれば真正マー
クを示す空間組織構造決定要素を持つ光学素子と
確率的な要素を持つ拡散散乱素子とを重ね合わせ
ることにより形成し、その散乱素子によつて強度
測定による真正マークの識別を困難にさせ、コヒ
ーレンス度に関係した量を測定するようにしてい
るので、確実にマークの真偽を判別することが可
能になる。
As explained above, according to the present invention, an optical element having a spatial organization structure determining element indicating an authenticity mark is formed by superimposing a diffuse scattering element having a stochastic element, and the intensity is determined by the scattering element. Since it is made difficult to identify an authentic mark by measurement and a quantity related to the degree of coherence is measured, it is possible to reliably determine the authenticity of the mark.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

各図はいずれも本発明による実施例を示すもの
で、第1図及び第2図は異なる実施例の書類の断
面を示した断面図、第3図は書類の真正さを検査
する装置の構成を示したブロツク図、第4図は第
3図の装置において得られる強度分布の特性を示
した線図、第5a〜第5e図はそれぞれ種々な強
度分布の特性を示した線図、第6a図〜第6e図
は異なる実施例のコヒーレンスの度合を示した線
図、第7図は真正さを検査する為の他の実施例を
示した構成図、第8図及び第9図は強度分布を説
明した線図、第10図はコヒーレンスの特性を示
した線図、第11図及び第12図は本発明による
真正さを検査する装置の異なる実施例の構成を示
した構成図、第13図は真正さを検査する為の他
の実施例を説明した説明図、第14図はコヒーレ
ンスの度合の特性を示した線図、第15図〜第1
9図はそれぞれ本発明で検査される書類の種々の
実施例を示した断面図、第20図及び第21図は
それぞれ本発明による装置の他の実施例の構成を
示したブロツク図、第22図及び第23図はコヒ
ーレンスの度合のコンピユータ計算による出力結
果を示した線図、第24図及び第25図はコヒー
レンスの度合の特性を示した線図、第26図及び
第27図は強度の分布を示した線図、第28図及
び第29図は本発明の装置の他の実施例の構成を
示したブロツク図、第30図は本発明で用いられ
る書類の内部構成を示した断面図、第31図は第
30図で用いられる基板の斜視図、第32図及び
第33図は本発明で用いられる書類の他の構成を
示した断面図、第34図は偽造防止を行う素子の
概観を示した斜視図である。 1…書類、2…空間組織構造、2′…決定要素
を持つた光学素子、3…基板、4…反射層、5…
保護層、2′…拡散散乱素子、8,9…光学分選
別素子、13…光路差形成素子、17…重ね合わ
せ素子、19…信号処理回路、20…判定回路、
25…検出面、26,27…光センサ、28,2
9…光センサ、30…信号処理回路、31…判定
回路、41…書類、42…基板、43′…光学素
子、43″…散乱素子。
Each figure shows an embodiment according to the present invention, and FIGS. 1 and 2 are cross-sectional views showing a cross section of a document according to a different embodiment, and FIG. 3 is a configuration of an apparatus for inspecting the authenticity of a document. FIG. 4 is a diagram showing the characteristics of the intensity distribution obtained with the apparatus of FIG. 3, FIGS. 5a to 5e are diagrams showing the characteristics of various intensity distributions, and FIG. Figures 6-6e are diagrams showing the degree of coherence of different embodiments, Figure 7 is a block diagram showing another embodiment for testing authenticity, and Figures 8 and 9 are intensity distributions. FIG. 10 is a diagram illustrating coherence characteristics; FIGS. 11 and 12 are block diagrams illustrating configurations of different embodiments of the authenticity testing device according to the present invention; FIG. The figure is an explanatory diagram explaining another embodiment for testing authenticity, Figure 14 is a diagram showing characteristics of the degree of coherence, and Figures 15 to 1.
9 is a sectional view showing various embodiments of documents to be inspected according to the present invention, FIGS. 20 and 21 are block diagrams showing the configuration of other embodiments of the apparatus according to the present invention, and FIG. 24 and 25 are graphs showing the characteristics of the degree of coherence, and FIGS. 26 and 27 are graphs showing the output results of the computer calculation of the degree of coherence. A diagram showing the distribution, FIGS. 28 and 29 are block diagrams showing the configuration of other embodiments of the apparatus of the present invention, and FIG. 30 is a sectional view showing the internal configuration of the document used in the present invention. , FIG. 31 is a perspective view of the substrate used in FIG. 30, FIGS. 32 and 33 are cross-sectional views showing other configurations of documents used in the present invention, and FIG. 34 is a diagram of an element for preventing forgery. FIG. 2 is a perspective view showing an overview. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1...Document, 2...Spatial organization structure, 2'...Optical element having a determining element, 3...Substrate, 4...Reflection layer, 5...
Protective layer, 2'... Diffusion scattering element, 8, 9... Optical sorting element, 13... Optical path difference forming element, 17... Superposition element, 19... Signal processing circuit, 20... Judgment circuit,
25... Detection surface, 26, 27... Optical sensor, 28, 2
9... Optical sensor, 30... Signal processing circuit, 31... Judgment circuit, 41... Document, 42... Substrate, 43'... Optical element, 43''... Scattering element.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 少なくとも1つの真正マークが空間組織構造
の形で書類に記録され、自動検査装置において前
記組織構造が光源により照明され、組織構造によ
つて散乱された光から少なくとも2つの狭い光束
が取り出され、また少なくとも1つの光センサ及
び電子信号処理回路を用いて前記両光束から組織
構造を特徴づける量が検出され、その量から判定
回路を用いて肯定信号ないし否定信号を形成する
ことにより種類の真正さを検査し、書類の偽造を
防止する書類の偽造防止方法において、 前記空間組織構造2によつて両光束間にコヒー
レンス度に関係した量(1μl;g2)を形成し、 また、前記空間組織構造を決定要素を持つ光学
素子2′と確率的な要素を持つ拡散散乱素子2″と
を重ね合わせることにより形成し、 前記散乱素子2″によつて強度測定による真正
マークの識別を困難にさせ、 前記両光束間に形成されるコヒーレンス度に関
係した量を測定することにより、肯定信号ないし
否定信号を形成するようにした書類の偽造防止方
法。 2 前記両光束が互いに重ね合わせられ、その場
合、発生する干渉縞のコントラスト(lμl)が
測定され、それが肯定信号ないし否定信号を形成
する測定量として利用される特許請求の範囲第1
項に記載の書類の偽造防止方法。 3 前記両光束の強度相関(g2)が測定され、そ
れが肯定ないし否定信号を形成するための測定量
として利用される特許請求の範囲第1項に記載の
書類の偽造防止方法。 4 前記両光束が互いに重ね合わせられて検出面
上に向けられ、光強度の変化を肯定ないし否定信
号を形成するための測定量として用いられる特許
請求の範囲第1項に記載の書類の偽造防止方法。 5 前記散乱素子2″の相関長さ()は、前記
決定要素を持つ光学素子2′の代表的な寸法
(g)のたかだか1/5に選ばれる特許請求の範囲第
1項に記載の書類の偽造防止方法。 6 前記空間組織構造43は、巨視的な光学素子
43,51,55,59,65,67と散乱素子
43″から形成され、その場合、空間組織構造4
3に入射する光44,60は幾何光学の法則に従
い、屈折または反射により前記光学素子によつて
少なくとも2つの所定の方向45,46,61,
62に向けられ、さらに前記散乱素子43″によ
り散乱光の強度模様47に基づく巨視的光学素子
の検出が困難になるとともに、散乱光が所定の方
向45,46,61,62の方向では、なお相互
にコヒーレンスであるように拡散散乱される特許
請求の範囲第1項、第2項、第3項または第5項
のいずれか1項に記載の書類の偽造防止方法。 7 前記空間組織構造91が基板92上に配置さ
れ、基板92が書類90に埋め込まれる特許請求
の範囲第1項または第6項に記載の書類の偽造防
止方法。 8 前記空間組織構造は巨視的構造95,100
と微視的構造96,99により形成される特許請
求の範囲第1項または第6項に記載の書類の偽造
防止方法。 9 前記空間組織構造99には、半透明な反射層
100が重ね合わせられる特許請求の範囲第1項
または第6項に記載の書類の偽造防止方法。 10 前記書類に偽造防止線101が埋め込ま
れ、その巨視的な断面は所定の長さにわたつて矩
形とも円形とも異なる一定の形状を有し、またそ
の表面は微視的な凹凸構造102を有する特許請
求の範囲第1項または第6項に記載の書類の偽造
防止方法。 11 前記組織構造91は基板92上に斜めに配
置されている特許請求の範囲第7項に記載の書類
の偽造防止方法。 12 前記巨視的光学素子43′として帯状物5
1,55が基板42に埋め込まれ、その場合、少
なくとも一方の表面が互いに傾斜した少なくとも
2つの面52,53から構成される特許請求の範
囲第6項に記載の書類の偽造防止方法。 13 前記帯状物55は矩形断面を有し、1つの
線に沿つて折り曲げられ、基板42に埋め込まれ
る特許請求の範囲第12項に記載の書類の偽造防
止方法。 14 前記巨視的光学素子43′として光線分割
器59,65が基板42,57,58に埋め込ま
れる特許請求の範囲第6項に記載の書類の偽造防
止方法。 15 前記光線分割器59は基板の2つの層5
7,58の凹凸のある境界面により構成される特
許請求の範囲第14項に記載の書類の偽造防止方
法。 16 光線分割器65として半透明な反射層65
が透明な帯状物64に配置され、これが基板42
に埋め込まれる特許請求の範囲第14項に記載の
書類の偽造防止方法。 17 前記巨視的光学素子43′として傾斜した
複数の面68を有するブロツク67が基板42に
埋め込まれる特許請求の範囲第6項に記載の書類
の偽造防止方法。 18 前記散乱素子43″は基板42の材質ある
いは表面構造により形成される特許請求の範囲第
6項及び第12項〜第17項までのいずれか1項
に記載の書類の偽造防止方法。 19 前記散乱素子43″は巨視的な光学素子4
3′,51,55,59,65,67の材質ある
いは表面構造によつて形成される特許請求の範囲
第6項及び第12項〜第17項までのいずれか1
項に記載の書類の偽造防止方法。 20 前記巨視的光学素子51,67は透明な材
質から構成される特許請求の範囲第12項または
第17項に記載の書類の偽造防止方法。 21 前期巨視的光学素子51,55,67は金
属あるいは金属で被覆された材質から構成される
特許請求の範囲第12項、第13項または第17
項に記載の書類の偽造防止方法。 22 前期散乱光が相互にコヒーレントな所定の
方向に少なくとも1つのコードパターンを配置し
た特許請求の範囲第6項及び第12項〜第21項
までのいずれか1項に記載の書類の偽造防止方
法。 23 前記光センサ83により検出面上の干渉縞
の有無を検出するようにした特許請求の範囲第4
項に記載の書類の偽造防止方法。 24 空間組織構造の形状をした少なくとも1つ
の真正マークを記録した書類の真正さを検査する
検査装置を設け、その検査装置は前記組織構造
2,43を照明する光源6と、前記組織構造で散
乱された光からそれぞれ狭い光束を取り出す少な
くとも2つの光学選別素子8,9と、少なくとも
1つの光センサと、前記組織構造を特徴づける量
を検出するための電子信号処理回路19,30
と、肯定ないし否定信号を形成する判定回路2
0,31とを有し、前記組織構造2,43は決定
要素を持つ光学素子2′,43′と確率的要素を持
つ拡散散乱素子2″,43″を有し、その場合前記
散乱素子2″,43″の相関長さ()は前記決定
要素を持つ光学素子の代表的な寸法(g)のたか
だか1/5であり、また前記信号処理回路19,3
0は両光束のコヒーレンス度に関係した測定量を
発生するように構成されていることを特徴とする
書類の偽造防止装置。 25 さらに、前記両光束を重ね合わせるための
重ね合わせ手段17,23,24を設けるように
した特許請求の範囲第24項に記載の書類の偽造
防止装置。 26 両光束の光路差を可変にさせる光路差形成
手段13を設けるようにした特許請求の範囲第2
5項に記載の書類の偽造防止装置。 27 前記書類は揺動可能な保持装置上に配置さ
れ、前記判定回路20は前記書類を揺動させた場
合検出面25上に現われる干渉縞のコントラスト
(lμl)の変化が所定の値を超えた時のみ肯定
信号を発生するように構成される特許請求の範囲
第25項に記載の書類の偽造防止装置。 28 前記信号処理回路30には電子相関器が設
けられる特許請求の範囲第24項に記載の書類の
偽造防止装置。 29 前記取り出された光束10,11の平均散
乱角θ,θ′が駆動装置を用いて変化させられ、
前記判定回路20,31によつてその測定量(l
μl,g2)と記憶されたしきい値関数とが比較さ
れる特許請求の範囲第24項から第28項までの
いずれか1項に記載の偽造防止装置。 30 前記書類と、光源と、両光束を反転させる
ミラーとを揺動自在な台上に配置した特許請求の
範囲第24項に記載の書類の偽造防止装置。 31 前記光源73の波長を可変にした特許請求
の範囲第24項、第25項、第26項、第28項
又は第29項に記載の書類の偽造防止装置。
Claims: 1. At least one authenticity mark is recorded on the document in the form of a spatial tissue structure, said tissue structure is illuminated by a light source in an automatic inspection device, and at least two of the light scattered by the tissue structure are detected. A narrow beam of light is extracted and a quantity characterizing the tissue structure is detected from said beams using at least one light sensor and an electronic signal processing circuit, from which a positive or negative signal is formed using a decision circuit. In the document counterfeiting prevention method for inspecting the authenticity of the type and preventing document counterfeiting, the spatial organization structure 2 forms an amount (1 μl; g 2 ) between both light beams that is related to the degree of coherence. Further, the spatial organization structure is formed by superimposing an optical element 2' having a determining element and a diffuse scattering element 2'' having a probabilistic element, and the authenticity mark is determined by intensity measurement by the scattering element 2''. A method for preventing forgery of documents, comprising: making identification difficult, and forming an affirmative signal or a negative signal by measuring a quantity related to the degree of coherence formed between the two light beams. 2. The two light beams are superimposed on each other, in which case the contrast (lμl) of the interference fringes that occurs is measured and is used as a measuring variable for forming a positive or negative signal.
Methods for preventing forgery of documents as described in Section. 3. The method for preventing forgery of documents according to claim 1, wherein the intensity correlation (g 2 ) of the two luminous fluxes is measured and used as a measurement quantity for forming a positive or negative signal. 4. Preventing document forgery according to claim 1, wherein both the light beams are superimposed on each other and directed onto a detection surface, and the change in light intensity is used as a measurement quantity to form an affirmative or negative signal. Method. 5. The document according to claim 1, wherein the correlation length () of the scattering element 2'' is selected to be at most 1/5 of the typical dimension (g) of the optical element 2' having the determining element. 6. The spatial organization structure 43 is formed from macroscopic optical elements 43, 51, 55, 59, 65, 67 and scattering elements 43'', in which case the spatial organization structure 4
According to the laws of geometrical optics, the light 44, 60 incident on the optical element 3 is directed by the optical element into at least two predetermined directions 45, 46, 61,
Furthermore, the scattering element 43'' makes it difficult to detect the macroscopic optical element based on the intensity pattern 47 of the scattered light, and the scattered light is directed in the predetermined directions 45, 46, 61, 62. The method for preventing forgery of a document according to any one of claims 1, 2, 3, or 5, in which the document is diffusely scattered so as to be mutually coherent. 7. The spatial organization structure 91 The method for preventing forgery of a document according to claim 1 or 6, wherein the substrate 92 is arranged on a substrate 92, and the substrate 92 is embedded in the document 90. 8. The spatial organization structure is a macroscopic structure 95, 100.
and the microscopic structures 96 and 99, the method for preventing forgery of documents according to claim 1 or 6. 9. The document forgery prevention method according to claim 1 or 6, wherein a translucent reflective layer 100 is superimposed on the spatial organization structure 99. 10 An anti-counterfeiting line 101 is embedded in the document, and its macroscopic cross section has a certain shape different from a rectangle or a circle over a predetermined length, and its surface has a microscopic uneven structure 102. A method for preventing forgery of documents according to claim 1 or 6. 11. The document forgery prevention method according to claim 7, wherein the tissue structure 91 is arranged obliquely on the substrate 92. 12 A strip 5 as the macroscopic optical element 43'
1, 55 is embedded in the substrate 42, in which case at least one surface is comprised of at least two surfaces 52, 53 that are inclined to each other. 13. The document forgery prevention method according to claim 12, wherein the strip 55 has a rectangular cross section, is bent along one line, and is embedded in the substrate 42. 14. The document forgery prevention method according to claim 6, wherein light beam splitters 59, 65 are embedded in the substrates 42, 57, 58 as the macroscopic optical element 43'. 15 The beam splitter 59 separates the two layers 5 of the substrate.
15. The method for preventing forgery of a document according to claim 14, which is constituted by a boundary surface having irregularities of 7 and 58. 16 Translucent reflective layer 65 as beam splitter 65
is arranged on a transparent strip 64, which is connected to the substrate 42.
A method for preventing forgery of documents as set forth in claim 14 embedded in . 17. The document forgery prevention method according to claim 6, wherein a block 67 having a plurality of inclined surfaces 68 is embedded in the substrate 42 as the macroscopic optical element 43'. 18. The document forgery prevention method according to any one of claims 6 and 12 to 17, wherein the scattering element 43'' is formed by the material or surface structure of the substrate 42. 19. The scattering element 43″ is a macroscopic optical element 4
Any one of claims 6 and 12 to 17 formed by the material or surface structure of 3', 51, 55, 59, 65, and 67.
Methods for preventing forgery of documents as described in section. 20. The document forgery prevention method according to claim 12 or 17, wherein the macroscopic optical elements 51 and 67 are made of a transparent material. 21 The macroscopic optical elements 51, 55, and 67 are made of metal or a material coated with metal in claim 12, 13, or 17.
Methods for preventing forgery of documents as described in section. 22. The method for preventing forgery of a document according to any one of claims 6 and 12 to 21, wherein at least one code pattern is arranged in a predetermined direction in which the scattered light is mutually coherent. . 23 Claim 4, wherein the optical sensor 83 detects the presence or absence of interference fringes on the detection surface.
Methods for preventing forgery of documents as described in section. 24. An inspection device is provided for testing the authenticity of a document recording at least one authenticity mark in the form of a spatial tissue structure, the inspection device comprising a light source 6 illuminating said tissue structure 2, 43 and a light source 6 scattering by said tissue structure. at least two optical selection elements 8, 9 each extracting a narrow beam of light from the emitted light; at least one optical sensor; and an electronic signal processing circuit 19, 30 for detecting quantities characterizing said tissue structure.
and a determination circuit 2 that forms an affirmative or negative signal.
0, 31, said tissue structure 2, 43 has an optical element 2', 43' with a determining element and a diffuse scattering element 2'', 43'' with a stochastic element, in which case said scattering element 2 The correlation length () of ``, 43'' is at most 1/5 of the typical dimension (g) of the optical element having the determining element, and the signal processing circuit 19, 3
0 is a document forgery prevention device characterized in that it is configured to generate a measured quantity related to the degree of coherence of both light beams. 25. The document forgery prevention device according to claim 24, further comprising superimposing means 17, 23, and 24 for superimposing both the light beams. 26 Claim 2, which is provided with an optical path difference forming means 13 that makes the optical path difference between the two light beams variable.
The document forgery prevention device described in Section 5. 27 The document is placed on a swingable holding device, and the determination circuit 20 determines that when the document is rocked, a change in contrast (lμl) of interference fringes appearing on the detection surface 25 exceeds a predetermined value. 26. The document forgery prevention device according to claim 25, which is configured to generate an affirmative signal only when the document is detected. 28. The document forgery prevention device according to claim 24, wherein the signal processing circuit 30 is provided with an electronic correlator. 29 The average scattering angles θ and θ′ of the extracted light beams 10 and 11 are changed using a driving device,
The determination circuits 20 and 31 determine the measured quantity (l
Anti-counterfeiting device according to any one of claims 24 to 28, wherein μl, g 2 ) is compared with a stored threshold function. 30. The document forgery prevention device according to claim 24, wherein the document, a light source, and a mirror for reversing both light beams are arranged on a swingable table. 31. The document forgery prevention device according to claim 24, 25, 26, 28, or 29, wherein the wavelength of the light source 73 is variable.
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