JPS6127652A - Wafer positioning device - Google Patents
Wafer positioning deviceInfo
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- JPS6127652A JPS6127652A JP14905884A JP14905884A JPS6127652A JP S6127652 A JPS6127652 A JP S6127652A JP 14905884 A JP14905884 A JP 14905884A JP 14905884 A JP14905884 A JP 14905884A JP S6127652 A JPS6127652 A JP S6127652A
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- wafer
- positioning
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- dies
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- Control Of Position Or Direction (AREA)
- Die Bonding (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はウェハが固定されたウェハフレームを自動位置
決めするウェハ位置決め装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a wafer positioning device that automatically positions a wafer frame to which a wafer is fixed.
(従来技術)
ウェハは複数のダイに分割されてシートに貼付けられ、
シートを引伸ばしてダイ間隔を広げてウェハフレームに
固定される。そして、ウェハが固定されたウニノルフレ
ームはダイボンダなどダイピックアップ装置にセットさ
れ、グイピックアップ装置で1個づつダイかピックアッ
プされてグイボンダなどに供給される。(Prior art) A wafer is divided into multiple dies and attached to a sheet.
The sheet is stretched to increase the die spacing and fixed to the wafer frame. Then, the Uninor frame to which the wafer is fixed is set in a die pickup device such as a die bonder, and the dies are picked up one by one by the Gui pickup device and supplied to the Gui bonder or the like.
(従来技術の問題点)
ところで、分割したダイl、1規則的に並んでいるとは
限らないので、ダイピックアップ装置にウェハを分割し
たダイの整列方向を一定方向lこ保って自動供給するこ
とが難しく、人手をわずられせざるを得なかった。(Problems with the prior art) By the way, since the divided dies are not always lined up regularly, it is necessary to automatically supply the wafer to the die pickup device while maintaining the alignment direction of the dies in a fixed direction. It was difficult to do so, and we had no choice but to increase manpower.
また最近、同種のダイを数種のリードフレームナこダイ
の方向だけを変えてボンディングするとか、数種のダイ
を同種のリードフレームにダイの方向を変えてボンディ
ングする等の要求がでている。Recently, there have been requests to bond the same type of die to several types of lead frames by changing only the direction of the die, or to bond several types of dies to the same type of lead frame by changing the direction of the die. .
しかしながら、従来のダイボンダではウェハの供給もボ
ンディングする方向、即らウェハをセットする方向もオ
ペレータが行っているので、ダイの供給される方向は常
に一方向に限られ、前記した要求に対処できないという
問題点があった。However, with conventional die bonders, the operator controls both the feeding of the wafer and the direction of bonding, that is, the direction of setting the wafer, so the die is always fed in only one direction, and cannot meet the above requirements. There was a problem.
(発明の目的)
本発明の第1の目的は、ウェハの固定さ几たウェハフレ
ームを自動供給して位置決めすることができ、かつダイ
の供給方向を自由に調整することができるウェハ位置決
め装置を提供することにある。(Object of the Invention) The first object of the present invention is to provide a wafer positioning device that can automatically supply and position a fixed wafer frame and can freely adjust the feeding direction of dies. It is about providing.
本発明の第2の目的・才、ダイの整列方向をダイ位置供
給方向lこ位置合せ修正することができるウェハ位置決
め装置を提供することにある。A second object and advantage of the present invention is to provide a wafer positioning device that can correct the alignment direction of the dies in the die position supply direction.
(発明の実施例) 以下、本発明を図示の実施例により説明する。(Example of the invention) Hereinafter, the present invention will be explained with reference to illustrated embodiments.
第1図は本発明になるウェハ位置決め装置の一部切欠き
正面図、第2図はウェハクランプ前のウェハ載置台を示
し、fa)は平面図、fb)Uま横断面図、第3図はウ
ェハクランプ時のウェハ載置台を示し、(a)は平面図
、(b)は横断面図、第4図は検出処理及び駆動部のブ
ロック図である。Fig. 1 is a partially cutaway front view of the wafer positioning device according to the present invention, Fig. 2 shows the wafer mounting table before the wafer clamp, fa) is a plan view, fb) is a horizontal sectional view, and Fig. 3 4 shows a wafer mounting table during wafer clamping, (a) is a plan view, (b) is a cross-sectional view, and FIG. 4 is a block diagram of the detection processing and driving section.
第1図においC11は周仰の構成をもつXYテーブルで
、X方向パルスモータ2とY方向パルスε−夕3により
縦横に移動することができる。4はXYテーブル1上に
架台5を介しで固定された上板、6は上板5に固定され
た中空の垂直軸、7は垂直軸6の周りtこ回転可能すこ
支持された回転テーブル(以下θテーブルという)で、
外周に歯車部7aが形成されている。84まθテーブル
7を回転させるためのθ方向パルスモータ、9はパルス
モータ8の出力軸に固定された平歯車で、θテーブル7
の歯車部7aに噛合している。In FIG. 1, C11 is an XY table having a circumferential configuration, which can be moved vertically and horizontally by an X-direction pulse motor 2 and a Y-direction pulse ε-3. 4 is a top plate fixed on the XY table 1 via a pedestal 5; 6 is a hollow vertical shaft fixed to the top plate 5; 7 is a rotary table that is rotatable around the vertical axis 6; (hereinafter referred to as θ table),
A gear portion 7a is formed on the outer periphery. 84 is a θ-direction pulse motor for rotating the θ table 7; 9 is a spur gear fixed to the output shaft of the pulse motor 8;
It meshes with the gear portion 7a.
第1図乃至第3図において、1oはθテーブル7上に固
定されたウェハ載置台、11はウェハ載置台10fこ植
設されたX方向位置決めピン、12は同じくウェハ載置
台10に植設されたY方向位置決めピンである。13は
ウェハ14がシート15を介して固定されたウェハフレ
ームで、X方向位置決め用のほぼL字状の第1切欠部1
3aと、Y方向位置決め用のV字状の第2切欠部13b
が形成されている。16、まウェハフレーム13を位置
決めピン11.12に押圧するための押圧部16aを備
えた押えVバーC1ピン17)こ回転自在すこ支持され
゛Cエアシリンダ18により駆動さnC揺動する。19
.20は位置決めピン11.12の間に配置された検出
ピンC1ウェハ載置台10#こ滑動自在に支持された検
出枠21.22に固定されている。23,24は検出ピ
ン19.2oがウェハフレーム13を位置決めピン11
.12から離反させる方向に検出枠21,22を付勢す
る圧縮コイルバネ、25は検出枠20に対向して設けら
れた近接スイッチである。1 to 3, 1o is a wafer mounting table fixed on the θ table 7, 11 is an X-direction positioning pin implanted in the wafer mounting table 10f, and 12 is a pin implanted in the wafer mounting table 10. This is a Y-direction positioning pin. Reference numeral 13 denotes a wafer frame to which the wafer 14 is fixed via a sheet 15, and includes a first notch 1 in an approximately L-shape for positioning in the X direction.
3a, and a V-shaped second notch 13b for positioning in the Y direction.
is formed. 16) A presser V bar C1 pin 17) is rotatably supported and is driven by an air cylinder 18 and swings. 19
.. 20 is fixed to a detection frame 21.22 which is slidably supported by the detection pin C1 arranged between the positioning pins 11.12 and the wafer mounting table 10#. 23 and 24 are the detection pins 19.2o that position the wafer frame 13 on the pins 11.
.. A compression coil spring 25 biases the detection frames 21 and 22 in a direction away from the detection frame 12, and a proximity switch 25 is provided facing the detection frame 20.
第1図において、30はウェハ載置台1oの内側に配置
されたニードルホルダーで、図示しない駆動手段によっ
て一ヒ下動させられる。31は図示しない駆動手段によ
って昇降するアーム32に固定されたニードルで、ニー
ドルホルダー30fご案内されている。33はウェハ1
4の分割されたダイ14aを吸着するコレットで、図示
しない駆動手段で上下動及びXY方向移動させられる。In FIG. 1, reference numeral 30 denotes a needle holder arranged inside the wafer mounting table 1o, which is moved downward by a driving means (not shown). A needle 31 is fixed to an arm 32 that is moved up and down by a drive means (not shown), and is guided by a needle holder 30f. 33 is wafer 1
The collet attracts the four divided dies 14a, and is moved up and down and in the X and Y directions by a driving means (not shown).
34ハr7エハ14を認識するTVカメラで、ニードル
31の上方に配設されている。This is a TV camera that recognizes the 34har7 wafer 14 and is placed above the needle 31.
第4図においで、40は゛rVカメラ34の画像認識部
、41は画像認識部40の信号を処理する中央処理部、
42は中央処理部41の信号によりx、 y、θ方向パ
ルスモータ2.3.8&、びエアーシリンダ18に連結
された電磁弁43を駆動する駆動部、44は電磁弁43
を介しCエアシリンダIiこ圧縮空気を送るコンブ7ツ
サである。In FIG. 4, 40 is an image recognition unit of the rV camera 34, 41 is a central processing unit that processes the signal of the image recognition unit 40,
42 is a drive unit that drives the solenoid valve 43 connected to the x-, y-, and θ-direction pulse motors 2, 3, 8 &, and the air cylinder 18 based on signals from the central processing unit 41; 44 is the solenoid valve 43;
This is a combustible tube that sends compressed air through the C air cylinder Ii.
次にかかる構成よりなるウェハ位置決め装置の作用tこ
ついて説明する。ウェハ14は複数のダイ14aに分割
されてシート15に貼付けられ、1クエハフレーム13
に固定されている。ウェハフレーム13は図示しないウ
ェハフレーム搬送7−ム・に吸着等の手段によって保持
されてウェハ載置台10のヒ方−\搬送される。この時
、押えVバー16は第2図に示すように後退位@に位置
している。Next, the operation of the wafer positioning device having such a configuration will be explained. The wafer 14 is divided into a plurality of dies 14a and attached to a sheet 15, and one wafer frame 13
is fixed. The wafer frame 13 is held by a means such as suction on a wafer frame transport 7-m (not shown) and is transported to and from the wafer mounting table 10. At this time, the presser foot V bar 16 is in the backward position @ as shown in FIG.
そしで、搬送アームは下降し、ウェハフレーム13をウ
ェハ載置台10上に載置し、再び上昇して元の位置へ復
帰する。Then, the transfer arm descends, places the wafer frame 13 on the wafer mounting table 10, and rises again to return to its original position.
ウェハフレーム13が・クエ・1載置台1o上ζこ載置
されると、第3図に示すようにエアシリンダ18が動作
、前進して押え7バー16を揺動させ、ウェハフレーム
13を位置決めピン11.12の方へ押し、やがてウェ
ハフレーム13の第1切欠部13aがX方向の位置決め
ピン11に当接し、第2切欠部13bはY方向の位1償
決めピン12に接触し、第2切欠部13bのV字溝に沿
って誘導され、XY方向に対して位置決めが行われる。When the wafer frame 13 is placed on the mounting table 1o, the air cylinder 18 operates and moves forward to swing the presser bar 16 and position the wafer frame 13, as shown in FIG. The first notch 13a of the wafer frame 13 comes into contact with the positioning pin 11 in the X direction, the second notch 13b contacts the positioning pin 12 in the Y direction, and the It is guided along the V-shaped groove of the two notches 13b and positioned in the XY directions.
この時、ウェハフレーム13は検出ピン19.20にも
当映し、検出ピン19.20を抑圧移動させる。At this time, the wafer frame 13 is also brought into contact with the detection pin 19.20, and the detection pin 19.20 is suppressed and moved.
この内の検出桿21の移動により近接スイッチ25が動
作し、ウェハフレーム13の位置決め完了が確認される
。The movement of the detection rod 21 activates the proximity switch 25, and the completion of positioning of the wafer frame 13 is confirmed.
次tこウェハ14の方向及ζメ位置修正が行われる。Next, the direction and position of the wafer 14 are corrected.
今、前記のようにウエハフレーム13がウエハ載装置台
10に位置決めされた時のダイ14aの方向が第5図t
aiIC示すように囚のように上向きであるとする。Now, the direction of the die 14a when the wafer frame 13 is positioned on the wafer mounting device stand 10 as described above is shown in FIG.
Assume that it is facing upward like a prisoner as shown in aiIC.
そして、このダイかピックアップされてダイボンダなど
に供、袷される方向は口のように右向きであるとする。It is assumed that the direction in which this die is picked up and placed in a die bonder or the like is to the right, like the mouth.
この場合は、まず、パルスモータ8が回転し、平歯車9
を介しCθテーブル7が回転させられ、第511fbl
ζこ示すように時計方向に90度回転させられる。その
後、同図(0口こ示すよう★こダイ14aが正しい方向
(ダイボンダなどへの供給方向)に向くよう醗こθ補I
Eの処理が次のようにして行われる。In this case, first, the pulse motor 8 rotates, and the spur gear 9
The Cθ table 7 is rotated through the 511th fbl
ζ Rotated 90 degrees clockwise as shown. After that, as shown in the figure (0), adjust the screw θ so that the die 14a faces in the correct direction (direction of supply to the die bonder, etc.).
The processing of E is performed as follows.
ウェハ載置台10に位置決めされたウェハ14はTV右
カメラ4Iこよって監視されており、TV左カメラ4は
ウェハ14内のダイ1個、1個の映像を画像認識部40
に送っている。そこで、第5図fblに示Cようにウエ
ハ14が位置決めされる七、中央処理部41の信号によ
り駆動部42を介してX方向パルスe−夕2またはY方
向パルスe−タ3が駆動し、ウェハ載置台10勺SXま
たl・まY方向に移動する。説明の都合と1ここではY
方向lこ移動したとすると、11■次ダイが′Pvカメ
ラ34によって検出され、その位置が読み込まれ一〇い
く。この時、ウェハ14を分割したカットライン(即ち
ダイ14aの個々の配置)がX、Y軸◆こ対して傾いて
いると、Y方向の移動に伴つ′CX方向壷こCれの成分
が生じる。中央処理部41は個々のダイ14a毎にXY
デープル1をX方向に移動させ、このずれを修正し、そ
の時の移動量を図示しない中央処理部41に記憶して2
く。The wafer 14 positioned on the wafer mounting table 10 is monitored by the TV right camera 4I, and the TV left camera 4 sends images of one die and one die in the wafer 14 to the image recognition unit 40.
I am sending it to Then, when the wafer 14 is positioned as shown in FIG. , the wafer mounting table 10 moves in the SX, l, and Y directions. For convenience of explanation and 1 here Y
Assuming that the die moves in the direction l, the 11th die is detected by the 'Pv camera 34, and its position is read and moved. At this time, if the cut line dividing the wafer 14 (that is, the individual arrangement of the dies 14a) is tilted with respect to the X and Y axes, the component of arise. The central processing unit 41 performs XY processing for each individual die 14a.
The table 1 is moved in the X direction, this deviation is corrected, and the amount of movement at that time is stored in the central processing unit 41 (not shown).
Ku.
このようにし′Cダイか検出されすくするまでこの処理
をIvA返していくと、Y方向の総移動量に対しダイの
ずれの修正に要したX方向の総移動量の比によって1ク
エ/S14のXY方向に対する傾き角度が中央処理部4
1によって演算される。即ち、前記傾き角度は次式によ
って算出される。In this way, if this process is repeated IvA until the 'C die is easily detected, the ratio of the total amount of movement in the X direction required to correct the deviation of the die to the total amount of movement in the Y direction is 1 query/S14. The inclination angle with respect to the XY direction is the central processing unit 4
It is calculated by 1. That is, the inclination angle is calculated by the following equation.
そこで、中央処理部41より前記傾き角度に応じた量だ
け駆動部42を介してθテーブル7が回転させられ、角
!現が補正される。これにより第5図+C)に示すよう
にウェハ14はXY方向に対し傾きがなく正確に位置決
めされる。またダイ14aの方向を変え−Cボンディン
グする場合には、前記中央処理部41Gこ記憶さ1てい
る前記修正された正確値よりθテーブル7を要求される
ダイ傾きだけ回転させればよい。Therefore, the θ table 7 is rotated by the central processing unit 41 via the drive unit 42 by an amount corresponding to the inclination angle, and the θ table 7 is rotated by an amount corresponding to the tilt angle. The current situation will be corrected. As a result, the wafer 14 is accurately positioned without tilting in the X and Y directions, as shown in FIG. 5+C). Further, when changing the direction of the die 14a and performing -C bonding, it is sufficient to rotate the θ table 7 by the required die inclination based on the corrected accurate value stored in the central processing section 41G.
また前記動作を少し拡大しで実行し、Y方向Iこ沿って
XYテーブル1を移動させ、ウェハ14の1端から他端
までの距離を検出し、次◆こ同じくX方向tこ沿っても
同様の動作を繰返rことtこより、ウェハ14の大きさ
、その中心、或は個々のダイ間の平均値的な距離などを
簡単に求めることができ、従来オペレータがデータ人力
を行っていた作業も自動化することができる。In addition, the above operation is slightly enlarged, the XY table 1 is moved along the Y direction I, the distance from one end of the wafer 14 to the other end is detected, and the next By repeating the same operation, it is possible to easily determine the size of the wafer 14, its center, or the average distance between individual dies, which previously had to be done manually by an operator. Work can also be automated.
(発明の効果)
以上の説明から明らかなように、本発明によれば次のよ
うな効果が得られる。1クエ、・・の供給を自動化する
ことかで午、ウェハ処理工程の全自動化に役立つ。ダイ
配列が不規則で〆ろっでもグイ間の平均的な距離を求め
゛にれに対応することができる。ダイの供給方向をθテ
ープセにより全く自由にコントロールすることができる
。(Effects of the Invention) As is clear from the above description, the following effects can be obtained according to the present invention. By automating the supply of one wafer, it is useful for fully automating the wafer processing process. Even if the die arrangement is irregular, it is possible to deal with the situation by finding the average distance between the die. The feeding direction of the die can be completely freely controlled by the θ tape set.
第1図は本発明になる・クエ・・位置決め装置の一実施
例を示す一部切欠き正面図、第2図はウェハクランプ前
のウェハ載置台を示し、(a)は平面図、lb)は横断
面図、第3図はウェハクランプ時のウエト・・XYテー
ブル、 7・・・θ(ro1転)テーブル、10・・
ウニ・〜載置台、 11.12・・・位置決めピン
、 13・・ウェハフレーム、 14・・・ウ
ェハ、16・・・押ニレバー、 19.20・・検
出ピン、 34 ・′rvカメラ、 40・・
・画像認識部、 41・・中央処理部。
第2図
第3図Fig. 1 is a partially cutaway front view showing an embodiment of the positioning device according to the present invention, Fig. 2 shows a wafer mounting table before wafer clamping, (a) is a plan view, and (lb) is a cross-sectional view, Figure 3 is the weight when clamping the wafer...XY table, 7...θ (ro1 rotation) table, 10...
Sea urchin... mounting table, 11.12... positioning pin, 13... wafer frame, 14... wafer, 16... push lever, 19.20... detection pin, 34 ・'rv camera, 40.・
- Image recognition unit, 41... Central processing unit. Figure 2 Figure 3
Claims (2)
垂直軸の周りに回転する回転テーブルと、この回転テー
ブル上に設けられたウェハ載置台と、ウェハが固定され
たウェハフレームをウエハ載置台上の定位置に位置決め
するための位置決めピンと、ウェハフレームを位置決め
ピンに押圧して位置決めする押え機構をもつクランプ手
段と、前記XYテーブルを駆動するXYテーブル駆動手
段と、前記回転テーブルを駆動する回転テーブル駆動手
段とを有するウェハ位置決め装置。(1) An XY table, a rotating table installed on the XY table that rotates around a vertical axis, a wafer mounting table provided on the rotating table, and a wafer frame with a fixed wafer placed on the wafer mounting table. a clamping means having a positioning pin for positioning the wafer frame at a fixed position, a holding mechanism for positioning the wafer frame by pressing it against the positioning pin, an XY table driving means for driving the XY table, and a rotary table for driving the rotary table. A wafer positioning device having a driving means.
垂直軸の周りに回転する回転テーブルと、この回転テー
ブル上に設けられたウェハ載置台と、ウェハが固定され
たウエハフレームをウェハ載置台上の定位置に位置決め
するための位置決めピンと、ウェハフレームを位置決め
ピンに押圧して位置決めする押え機構をもつクランプ手
段と、前記XYテーブルを駆動する駆動手段と、前記回
転テーブルを駆動する回転テーブル駆動手段と、ウェハ
フレームをウエハ載置台に位置決めした後に前記XYテ
ーブル駆動手段を作動させてXYテーブルをXY方向の
いずれか一方の制御方向に移動させ、他方の制御方向に
おけるダイの配列方向のずれを検出してXY方向に対す
るウェハの傾きを知り、前記回転テーブル駆動手段を作
動させて回転テーブルの回転によりウエハを修正する制
御手段とを有するウエハ位置決め装置。(2) An XY table, a rotary table provided on the XY table that rotates around a vertical axis, a wafer mounting table provided on the rotary table, and a wafer frame with a fixed wafer placed on the wafer mounting table. a clamping means having a positioning pin for positioning the wafer frame at a fixed position, a holding mechanism for positioning the wafer frame by pressing it against the positioning pin, a driving means for driving the XY table, and a rotary table driving means for driving the rotary table. After positioning the wafer frame on the wafer mounting table, actuate the XY table drive means to move the XY table in one of the XY directions, and detect a deviation in the die arrangement direction in the other control direction. 1. A wafer positioning device comprising: a control means for detecting the inclination of the wafer in the X and Y directions, and operating the rotary table driving means to correct the wafer by rotating the rotary table.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14905884A JPS6127652A (en) | 1984-07-18 | 1984-07-18 | Wafer positioning device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14905884A JPS6127652A (en) | 1984-07-18 | 1984-07-18 | Wafer positioning device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6127652A true JPS6127652A (en) | 1986-02-07 |
Family
ID=15466746
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14905884A Pending JPS6127652A (en) | 1984-07-18 | 1984-07-18 | Wafer positioning device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6127652A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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1984
- 1984-07-18 JP JP14905884A patent/JPS6127652A/en active Pending
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