JPS596038A - Ｘ線コンピユ−タ断層撮影装置 - Google Patents
Ｘ線コンピユ−タ断層撮影装置Info
- Publication number
- JPS596038A JPS596038A JP57115704A JP11570482A JPS596038A JP S596038 A JPS596038 A JP S596038A JP 57115704 A JP57115704 A JP 57115704A JP 11570482 A JP11570482 A JP 11570482A JP S596038 A JPS596038 A JP S596038A
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- Japan
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- ray
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- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 21
- 238000003325 tomography Methods 0.000 claims description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 102100024066 Coiled-coil and C2 domain-containing protein 1A Human genes 0.000 description 1
- 101000910423 Homo sapiens Coiled-coil and C2 domain-containing protein 1A Proteins 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、Ｘ′線強度を変化させる機能を有するＸ線コ
ンビーータ断層撮影装置において、前記Ｘ線強度に応じ
てそのＯＴ値の誤差を補正する手段に関するものである
。
ンビーータ断層撮影装置において、前記Ｘ線強度に応じ
てそのＯＴ値の誤差を補正する手段に関するものである
。
Ｘ線コンビーータ断層撮影装置（以下、Ｘ線ＣＴ装置と
いう）は、被検体のスライス断面像をＣＴ値に応じた濃
淡像として描出する。スライス断面像の低Ｘ線吸収係数
部位は１．軟Ｘ線成分によって良く描出され、高Ｘ線吸
収係数部位は硬Ｘ線成分によって良く描出される。とこ
ろで、一般に、ＯＴ値はノ・ンスフィールド単位を用い
、弐（１）に示すように、Ｘ線吸収係数μｔのＯ’Ｔ値
は、水のＸ線吸収係数μＷからの相対差に［１０００Ｊ
を乗算して求められる。
いう）は、被検体のスライス断面像をＣＴ値に応じた濃
淡像として描出する。スライス断面像の低Ｘ線吸収係数
部位は１．軟Ｘ線成分によって良く描出され、高Ｘ線吸
収係数部位は硬Ｘ線成分によって良く描出される。とこ
ろで、一般に、ＯＴ値はノ・ンスフィールド単位を用い
、弐（１）に示すように、Ｘ線吸収係数μｔのＯ’Ｔ値
は、水のＸ線吸収係数μＷからの相対差に［１０００Ｊ
を乗算して求められる。
μＷ
Ｘ線吸収係数はＸ線エネルギーに依存するが、Ｘ線ＣＴ
装置では、水のＸ線吸収係数は、あらかじめ一定Ｘ線条
件の下に、式（１）を満足するように定められるため、
Ｘ線管電圧やＸ線フイルり等の選択によるＸ線強度の変
更は、その算出ＯＴ値に、基準ＯＴ値に対するＣ′ｒ値
ゲイン誤差や、ＯＴ値バイアス誤差を生ずる不都合が６
つだ。
装置では、水のＸ線吸収係数は、あらかじめ一定Ｘ線条
件の下に、式（１）を満足するように定められるため、
Ｘ線管電圧やＸ線フイルり等の選択によるＸ線強度の変
更は、その算出ＯＴ値に、基準ＯＴ値に対するＣ′ｒ値
ゲイン誤差や、ＯＴ値バイアス誤差を生ずる不都合が６
つだ。
本発明の目的は、前記問題点を解消し、正確なＣＴ値を
算出し得るＸ線ＯＴ装置を提供すｔことにある。
算出し得るＸ線ＯＴ装置を提供すｔことにある。
本発明は、前記目的を達成するためになされたものであ
シ、その特徴は、あらかじめ想定される種々のＸ線強度
に対応するＯＴ値算出時の補正パラメータをＸ線ＣＴ装
置内部に用意しておき、スキャンユング時に、その時の
Ｘ線強度に応じた補正パラメータを選択して正確なＣＴ
値を算出するようにしたことにある。
シ、その特徴は、あらかじめ想定される種々のＸ線強度
に対応するＯＴ値算出時の補正パラメータをＸ線ＣＴ装
置内部に用意しておき、スキャンユング時に、その時の
Ｘ線強度に応じた補正パラメータを選択して正確なＣＴ
値を算出するようにしたことにある。
以下、実施例とともに本発明の詳細な説明する。
第１図は、本発明の一実施例の概要構成を示す図であり
、１は制御パネル装置、２Ｆｉスキヤンニング装置、３
は画像処理装置、４は表示装置である。前記スキャンニ
ング装置には、図示していないが、Ｘ線発生装置、コリ
メータ装置、Ｘ線検出器が含まれている。
、１は制御パネル装置、２Ｆｉスキヤンニング装置、３
は画像処理装置、４は表示装置である。前記スキャンニ
ング装置には、図示していないが、Ｘ線発生装置、コリ
メータ装置、Ｘ線検出器が含まれている。
第２図は、ｄ１図に示す画像処理装置６の内部構成を示
す図であり、３ＡはＲＡ Ｍ （ＲａｎｄｏｍＡｃｃｅ
ｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ ）等の補正パラメータ記憶装置
、６Ｂは演算機、５は外部補助記憶装置である。
す図であり、３ＡはＲＡ Ｍ （ＲａｎｄｏｍＡｃｃｅ
ｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ ）等の補正パラメータ記憶装置
、６Ｂは演算機、５は外部補助記憶装置である。
第３図は、補正パラメータの一実施例を示す図であり、
ＫＶＩｄＸ線管電圧、Ｆはフィルタ、Ｇはゲイン補正値
、Ｂはバイアス補正値である。ゲイン補正値Ｏ及びバイ
アス補正値Ｂは、基準ファントム等を用いてあらかじめ
実験的に決定したものである。該補正パラメータは、外
部補助記憶装置５に記憶されており、使用時に、前記補
正パラメータ記憶装置６Ａに転送して使用するものであ
る。
ＫＶＩｄＸ線管電圧、Ｆはフィルタ、Ｇはゲイン補正値
、Ｂはバイアス補正値である。ゲイン補正値Ｏ及びバイ
アス補正値Ｂは、基準ファントム等を用いてあらかじめ
実験的に決定したものである。該補正パラメータは、外
部補助記憶装置５に記憶されており、使用時に、前記補
正パラメータ記憶装置６Ａに転送して使用するものであ
る。
次に、本実施例の動作を第１図〜第３図において説明す
る。
る。
制御パネル装置１は、Ｘ線条件指示命令ａによって、Ｘ
線管電圧値や伺加Ｘ線フィルタの選択−条件を、スキャ
ンニング装置２及び画像処理装置６に出力する。スキャ
ンニング装置２では、前記Ｘ線条件指示命令ａに従った
Ｘ線条件を設定し、被検体（図示していない）の透過Ｘ
線情報を収集し、データｂを画像処理装置６へ出力する
。画像処理装置６は、Ｘ線条件指示命令ａによってデー
タの処理パラメータを選択し、一定の処理アルゴリズム
に従ってＣＴ値Ｃを算出する。ここで、第２図に示す補
正パラメータ記憶装置６Ａには、第３図に示す補正パラ
メータが外部補助記憶装置５がら補正パラメータ記憶装
置６Ａに転送され記憶されており、この記憶されたパラ
メータのうちから、前記Ｘ線条件指示命令ａに従って、
このスキャンユング時の、Ｘ線強度に応じた補正パラメ
ータ・を選択して補正量ｄを演算機６Ｂへ出力する。演
算機６Ｂでは、計測ＯＴ値を補正量ｄだけ補正して前記
ＣＴ値Ｃを算出する。このＯＴ値Ｃは、表示装置４に入
力され、ＣＴ値Ｃに応じた濃淡像として被検体のスライ
ス断面像を表示する。
線管電圧値や伺加Ｘ線フィルタの選択−条件を、スキャ
ンニング装置２及び画像処理装置６に出力する。スキャ
ンニング装置２では、前記Ｘ線条件指示命令ａに従った
Ｘ線条件を設定し、被検体（図示していない）の透過Ｘ
線情報を収集し、データｂを画像処理装置６へ出力する
。画像処理装置６は、Ｘ線条件指示命令ａによってデー
タの処理パラメータを選択し、一定の処理アルゴリズム
に従ってＣＴ値Ｃを算出する。ここで、第２図に示す補
正パラメータ記憶装置６Ａには、第３図に示す補正パラ
メータが外部補助記憶装置５がら補正パラメータ記憶装
置６Ａに転送され記憶されており、この記憶されたパラ
メータのうちから、前記Ｘ線条件指示命令ａに従って、
このスキャンユング時の、Ｘ線強度に応じた補正パラメ
ータ・を選択して補正量ｄを演算機６Ｂへ出力する。演
算機６Ｂでは、計測ＯＴ値を補正量ｄだけ補正して前記
ＣＴ値Ｃを算出する。このＯＴ値Ｃは、表示装置４に入
力され、ＣＴ値Ｃに応じた濃淡像として被検体のスライ
ス断面像を表示する。
尚、本発明は前記実施例に限定されることなくその要旨
を変更しない範囲において、種々変更し得ることは勿論
である。例えば、前記補正パラメータ記憶装置、外部補
助記憶装置及び演算機は、ホストコンビーータ及びその
記憶装置の一部エリアを兼用してもよい。
を変更しない範囲において、種々変更し得ることは勿論
である。例えば、前記補正パラメータ記憶装置、外部補
助記憶装置及び演算機は、ホストコンビーータ及びその
記憶装置の一部エリアを兼用してもよい。
以上説明したように、本発明によれば、Ｘ線強度に対応
した補助パラメータにより計測ＣＴ値を補正するように
したので、Ｘ線条件の選択にかかわらず正確なＣ′ｖ値
を算出することができる。
した補助パラメータにより計測ＣＴ値を補正するように
したので、Ｘ線条件の選択にかかわらず正確なＣ′ｖ値
を算出することができる。
第１図は、本発明の一実施例の概要構成を示す図、第２
図は、第１図に示す画像処理装置の内部構成を示す図、
第３図は、補正パラメータの一実施例を示す図である。 １ ・制御パネル装置 ２ スキャンニング装置６ 画
像処理装置 ４ 表示装置 ５ 外部補助記憶装置 ６Ａ 補正パラメータ記憶装置 ６Ｂ 演算機 代理人 弁理士 秋 １）収 喜
図は、第１図に示す画像処理装置の内部構成を示す図、
第３図は、補正パラメータの一実施例を示す図である。 １ ・制御パネル装置 ２ スキャンニング装置６ 画
像処理装置 ４ 表示装置 ５ 外部補助記憶装置 ６Ａ 補正パラメータ記憶装置 ６Ｂ 演算機 代理人 弁理士 秋 １）収 喜
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 Ｘ線コンビ−一夕断層撮影装置において、Ｘ線強度を変
化させる手段と、Ｘ線強度に対応しだ補正パラメータを
記憶する記憶装置と、該記憶装置に記憶された補正パラ
メータのうちから、スキャΔ ユング時にその時のＸ線強度に応じた補正パラメータを
選択する手段を備えたことを特徴とするＸ線コンビーー
タ断層撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57115704A JPS596038A (ja) | 1982-07-02 | 1982-07-02 | Ｘ線コンピユ−タ断層撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57115704A JPS596038A (ja) | 1982-07-02 | 1982-07-02 | Ｘ線コンピユ−タ断層撮影装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS596038A true JPS596038A (ja) | 1984-01-13 |
Family
ID=14669149
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57115704A Pending JPS596038A (ja) | 1982-07-02 | 1982-07-02 | Ｘ線コンピユ−タ断層撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS596038A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60230042A (ja) * | 1984-04-28 | 1985-11-15 | Toshiba Corp | 産業用ｃｔスキヤナ |
| JP2009142578A (ja) * | 2007-12-18 | 2009-07-02 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2013047644A (ja) * | 2011-08-29 | 2013-03-07 | Shimadzu Corp | 放射線撮影装置および断層画像補正方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54151386A (en) * | 1978-05-20 | 1979-11-28 | Toshiba Corp | X-ray tomogram pick up unit |
| JPS5683333A (en) * | 1979-12-11 | 1981-07-07 | Hitachi Medical Corp | Ct apparatus |
-
1982
- 1982-07-02 JP JP57115704A patent/JPS596038A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54151386A (en) * | 1978-05-20 | 1979-11-28 | Toshiba Corp | X-ray tomogram pick up unit |
| JPS5683333A (en) * | 1979-12-11 | 1981-07-07 | Hitachi Medical Corp | Ct apparatus |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60230042A (ja) * | 1984-04-28 | 1985-11-15 | Toshiba Corp | 産業用ｃｔスキヤナ |
| JP2009142578A (ja) * | 2007-12-18 | 2009-07-02 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2013047644A (ja) * | 2011-08-29 | 2013-03-07 | Shimadzu Corp | 放射線撮影装置および断層画像補正方法 |
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