JPS593378A - Scintillation camera - Google Patents
Scintillation cameraInfo
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- JPS593378A JPS593378A JP11361382A JP11361382A JPS593378A JP S593378 A JPS593378 A JP S593378A JP 11361382 A JP11361382 A JP 11361382A JP 11361382 A JP11361382 A JP 11361382A JP S593378 A JPS593378 A JP S593378A
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- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】 この発明はシンチレーションカメラに関する。[Detailed description of the invention] This invention relates to a scintillation camera.
一般にシンチレーションカメラ忙は空間非直線性とエネ
ルギ不均一性の両者に基づく感度不均一性が存在し、従
来よジこれを補正するための提案が種々なされてきてい
る。しかし従来のものは感度が犠牲になる等問題が多か
った。In general, scintillation cameras have sensitivity non-uniformity due to both spatial non-linearity and energy non-uniformity, and various proposals have been made to correct this. However, conventional methods had many problems such as sacrificing sensitivity.
この発明は上記に鑑み、エネルギ不均一性に基づく感度
不均一性を感度を犠牲にすることなしに実時間で補正す
ることのできるシンチレーションカメラを提供すること
を目的とする。In view of the above, an object of the present invention is to provide a scintillation camera that can correct sensitivity non-uniformity due to energy non-uniformity in real time without sacrificing sensitivity.
以下、この発明の一実施例について図面を参照しながら
説明する。第1図において、シンチレータ11の背面に
ライトガイド12を介して光電変換器であるPMT (
フォトマルチプライア)13が多数配列されている。シ
ンチレータ11の前面かも放射線が入射して発光が生じ
るとその光はライトガイド12を介して各PMT13に
導かれ電気的な出力に変換される。これらPMTl 3
の出力は位置及びエネルギ演算回路14に導かれ1位置
計算及びエネルギ計算が行なわれて位置信号X、Y及び
エネルギ信号2が得られる。エネルギ信号Zはサンプル
ホールド遅延回路15をへて主波高分析器16.低補助
波高分析器17.高補助波高分析器18に送られる。こ
れら波高分析器16.17.18はエネルギ信号Zの波
高値がそれぞれのウィンド範囲内に入っていることを検
出してそれぞれUNBLANKI 、UNBLANK2
、UNBLANK3の各々を発生する。各ウィンド範
囲はウィンドレベル設定回路19により力先られ、第2
図に示すように主波高分析器16についてFiLL1〜
ULIの範囲、低補助波高分析器17についてはLL2
〜LLIの範囲、高補助波高分析器18についてはUL
I〜UL2の範囲となっている。ウィンドレベル設定回
路19では放射性同位元素の核種に応じたエネルギレベ
ル(LBVEL)とウィンド範囲(WINDOW)とを
任意に設定できるようになっている。WINDOWはL
BVBLに対するチで設定される。LFiVELはウィ
ンド範囲の中心値である。LEVELとWINDOWと
が設定されると、WINDOWが20%であればLLI
〜ULIは20%であり。An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In FIG. 1, a photoelectric converter, PMT (
A large number of photomultipliers 13 are arranged. When radiation is incident on the front surface of the scintillator 11 and light emission occurs, the light is guided to each PMT 13 via the light guide 12 and converted into an electrical output. These PMTl 3
The output is led to a position and energy calculation circuit 14 where 1 position calculation and energy calculation are performed to obtain position signals X, Y and energy signal 2. The energy signal Z passes through a sample and hold delay circuit 15 to a main wave height analyzer 16. Low auxiliary wave height analyzer 17. It is sent to the high auxiliary wave height analyzer 18. These wave height analyzers 16, 17, and 18 detect that the wave height value of the energy signal Z is within the respective window ranges, and output UNBLANKI and UNBLANK2, respectively.
, UNBLANK3. Each window range is set first by the wind level setting circuit 19, and the second
As shown in the figure, for the main wave height analyzer 16, FiLL1~
LL2 for ULI range, low auxiliary wave height analyzer 17
~LLI range, UL for high auxiliary wave height analyzer 18
The range is from I to UL2. The window level setting circuit 19 can arbitrarily set the energy level (LBVEL) and window range (WINDOW) according to the nuclide of the radioisotope. WINDOW is L
It is set in chi for BVBL. LFiVEL is the center value of the window range. When LEVEL and WINDOW are set, if WINDOW is 20%, LLI
~ULI is 20%.
このときLL2〜LLI及びULI〜UL2はそれぞれ
例えば5%程度とする。UNBLANKIについてはO
R回路22をへてそのまま表示装置25に輝度信号とし
て送られるが、tJNBl、ANK2.3はそのまま送
られる訳ではなく、AND回路20.21でそれぞれゲ
ートされADMIT・L 、 ADMIT −Hの各々
により許容されたときのみOR回路22をへて表示装置
25に輝度信号として送られる。表示装!′25には位
置信号X、Yがそれぞれサンプルホールド遅延回路23
.24をへて送られてきておシ、これらにより定まる位
置に輝点が表示される。At this time, LL2 to LLI and ULI to UL2 are each about 5%, for example. O for UNBLANKI
The luminance signals are sent to the display device 25 as they are through the R circuit 22, but tJNBl and ANK2.3 are not sent as they are, but are gated by the AND circuits 20 and 21, and are gated by each of ADMIT-L and ADMIT-H. Only when the signal is allowed is the brightness signal passed through the OR circuit 22 and sent to the display device 25 as a luminance signal. Display! '25, the position signals X and Y are sent to sample and hold delay circuits 23.
.. 24, and a bright spot is displayed at a position determined by these.
ところでUNBLANK2,3f許容するための信号A
I)MIT−L 、 ADMIT−Hは次のようにして
作られる。位置信号X、Yがそれぞれサンプルホールド
回路51,52’tへてADコンノ4−タロ1.62の
各々によりディジタル化(たとえば6bits)され、
たとえばP−ROMで構成される波高シフト量メモリ2
7に読出アドレスを指定する信号として送られる。この
波高シフト量メモリ27には予め測定された各位置に関
するエネルギ信号の波高値のシフト量ΔZ及び補助波高
分析器17.18のいずれかを指定するための信号であ
るシフト量Δ2の正・負に応じた1 bitの信号が位
置信号X、Yで指定されるアドレス毎に書き込まれてい
る。一方、カウンタ28は自走式であり1例えばO〜2
55まで放射線入射イベントには依存しない独立したタ
イミングで順次カウントアツプしては零に戻るようなサ
イクルを繰り返しており、その出力が波高シフト量メモ
リ27から読み出されたシフト量Δ2の出力(例えば8
bits )とともに読出アドレスを指定する信号と
して頻度変換メモリ29(たとえばP−ROMで構成さ
れる)に送られる。この頻度変換メモリ29にはカウン
タ28の出力及び読み出された波高シフト量ΔZにより
指定されるアドレス毎に頻度に関する1bitのデータ
が第3図に示すように記憶されている。例えばシフト量
ΔZが大きい程種々のカウント値に対し「1」が読み出
される確率が高くなるように「1」と「0」の割合が予
め設足されている。「1」が読み出されるとパルス発生
回路30よシ信号ADMITが生じAND回路33.3
4に送られる。他方、波高シフトitメモリ27から読
み出されたシフト量Δ2の正・負に対応する1 bit
の信号はノJ?ルス発生回路31に送られてこのパルス
発生回路31から出力されるパルスがAND回路33に
送られ、このノJ?ルスを反転回路32で反l転したも
のがAND回路34に送られる。従って1位置信号X、
Yで規定される位置におけるエネルギ信号波高のシフト
量Δ2が正の場合(第2図点線のように高エネルギ側に
シフトしている場合)はAND回路33から信号AI)
M I T 、 Hが生じ、シフト量Δ2が負である場
合(第2図1点鎖線のように低エネルギ側にシフトして
いる場合)はAND回路34から信号ADMIT−Lが
生じる。なお、第1図の各回路のタイミングの制御に関
しては説明の便宜上省略しである。By the way, the signal A for allowing UNBLANK2 and 3f
I) MIT-L and ADMIT-H are produced as follows. The position signals X and Y are respectively digitized (for example, 6 bits) by AD controllers 4-1.62 to sample and hold circuits 51 and 52't,
For example, the wave height shift amount memory 2 composed of P-ROM
7 as a signal specifying the read address. This wave height shift amount memory 27 stores the shift amount ΔZ of the wave height value of the energy signal regarding each position measured in advance, and the positive/negative shift amount Δ2 which is a signal for specifying either of the auxiliary wave height analyzers 17 or 18. A 1-bit signal corresponding to the address is written for each address specified by the position signals X and Y. On the other hand, the counter 28 is a self-propelled type, and is 1, for example, 0 to 2.
Until 55, the cycle of counting up and returning to zero is repeated at an independent timing that does not depend on the radiation incident event, and the output is the output of the shift amount Δ2 read from the wave height shift amount memory 27 (for example, 8
bits) and is sent to the frequency conversion memory 29 (for example, composed of a P-ROM) as a signal specifying a read address. The frequency conversion memory 29 stores 1-bit data regarding the frequency for each address designated by the output of the counter 28 and the read wave height shift amount ΔZ, as shown in FIG. For example, the ratio between "1" and "0" is set in advance so that the larger the shift amount ΔZ is, the higher the probability that "1" will be read out for various count values. When "1" is read out, the pulse generation circuit 30 generates a signal ADMIT and the AND circuit 33.3
Sent to 4. On the other hand, 1 bit corresponding to the positive/negative of the shift amount Δ2 read from the wave height shift it memory 27
Is the signal NoJ? The pulses sent to the pulse generation circuit 31 and output from the pulse generation circuit 31 are sent to the AND circuit 33, and this J? The signal is inverted by an inverting circuit 32 and sent to an AND circuit 34. Therefore, 1 position signal X,
If the shift amount Δ2 of the energy signal wave height at the position defined by Y is positive (if it is shifted to the high energy side as shown by the dotted line in Figure 2), the signal AI is sent from the AND circuit 33.
When M I T , H is generated and the shift amount Δ2 is negative (shifted to the lower energy side as shown by the dashed line in FIG. 2), the AND circuit 34 generates the signal ADMIT-L. Note that timing control of each circuit in FIG. 1 is omitted for convenience of explanation.
上記の構成において放射線がシンチレータ11のある位
置に入射したとする。この位置ではエネルギ信号波高の
シフトがなく、エネルギスペクトルは第2図の実線で示
すようであったとする。すると波高シフト魚メモリ27
から読み出されるこの位置でのシフト量ΔZは零であり
、頻度変換メモリ29からは常に「0」が読み出される
。従ってこの位置に放射線が何個入射しても信号AI)
MIT−H、At)MIT−Lはいずれも常に、つまV
「確率零」で生じないことになる。そのため低補助波畠
分析器17や高補助波高分析器18からUNBLANK
2 、UNBLANK3が生じたとしてもAND回路2
0.21で阻止されてしまい、結局主波高分析器16か
らのUNBLANKlのみが表示装置25に送られる。Assume that radiation is incident on a certain position of the scintillator 11 in the above configuration. Assume that at this position there is no shift in the energy signal wave height, and the energy spectrum is as shown by the solid line in FIG. Then wave height shift fish memory 27
The shift amount ΔZ at this position read from is zero, and “0” is always read from the frequency conversion memory 29. Therefore, no matter how many radiations are incident on this position, the signal AI)
MIT-H, At) MIT-L are always connected to V
This means that it will not occur with a "probability of zero". Therefore, from the low auxiliary wave height analyzer 17 and the high auxiliary wave height analyzer 18,
2. Even if UNBLANK3 occurs, AND circuit 2
0.21, and in the end only UNBLANKl from the main wave height analyzer 16 is sent to the display device 25.
従って第2図のLLI〜ULIの範囲にエネルギ信号Z
の波高が入ったときに表示装置25において輝点が表示
される。Therefore, the energy signal Z is in the range from LLI to ULI in Fig. 2.
When the wave height reaches , a bright spot is displayed on the display device 25.
シンチレータ11の他の位置に放射線が入射したとする
。この入射位置ではエネルギ信号Zの波高は高エネルギ
側にすれ、エネルギスペクトルは第2図点線で示すよう
になると予め測定されているとする。このとき波高シフ
ト量メモリ27からシフト量ΔZが読み出されその大き
さに応じた頻度で頻度変換メモリ29から「1」が読み
出される。またこのときシフト量ΔZは正であるからパ
ルス発生回路31から「1」の信号が生じる。その結果
この位置に多数個の放射線が入射したときその中の一定
の割合のものについてAND回路33から信号ADMI
T@Hが生じることになる。従ってこのときにはLLI
〜ULIの範囲にエネルギ信号2の、波高があることを
示すUNBLANKlの全てと、ULI〜U L 2の
範囲にあることを示す高補助波高分析器18からのUN
HLANK3のうちの一定割合のものが輝度信号として
表示装置25に送られ。Assume that radiation is incident on another position of the scintillator 11. It is assumed that it has been previously measured that at this incident position, the wave height of the energy signal Z shifts to the high energy side, and the energy spectrum becomes as shown by the dotted line in Figure 2. At this time, the shift amount ΔZ is read out from the wave height shift amount memory 27, and "1" is read out from the frequency conversion memory 29 at a frequency corresponding to its magnitude. Further, at this time, since the shift amount ΔZ is positive, a signal of "1" is generated from the pulse generation circuit 31. As a result, when a large number of radiations are incident on this position, a signal ADMI is output from the AND circuit 33 for a certain percentage of them.
T@H will occur. Therefore, in this case, LLI
All of the UNBLANKl indicating that the wave height of the energy signal 2 is in the range of ~ULI, and the UN from the high auxiliary wave height analyzer 18 indicating that the wave height is in the range of ULI~UL2.
A certain percentage of HLANK3 is sent to the display device 25 as a luminance signal.
輝点が表わされる。A bright spot is displayed.
さらにエネルギスペクトルが第2図1点鎖線で示すよう
に低エネルギ側にずれるような位置に放射線が入射した
場合には、シフト量ΔZは負であるためAND回路34
から信号ADMIT・Lがシフト量Δ2に応じた頻度で
生じる。そのためこのときはUNBLANKlの全てに
加えてエネルギ信号Zの波高がLL2〜LLIに入った
ことに応じて生じる低袖助波高分析器17からのUNB
LANK2の一定割合のものが表示装置25に輝度信号
として送られる。従ってこのときにはLL1〜ULIの
範囲に入った回数の全てが輝点として表示されるととも
に、LL2〜I、Llの範囲に入った回数のうちの一定
割合(頻度)のものが輝点として表示されることになる
。Furthermore, when radiation is incident at a position where the energy spectrum shifts to the lower energy side as shown by the dashed line in FIG.
The signal ADMIT·L is generated at a frequency corresponding to the shift amount Δ2. Therefore, at this time, in addition to all of UNBLANKl, UNB from the low sleeve auxiliary wave height analyzer 17 generated in response to the wave height of the energy signal Z entering LL2 to LLI is
A certain proportion of LANK2 is sent to the display device 25 as a luminance signal. Therefore, at this time, all of the times that the range falls within the range LL1 to ULI are displayed as bright spots, and a certain percentage (frequency) of the number of times that the range falls within the ranges of LL2 to I, Ll is displayed as the bright spot. That will happen.
このように入射位置に応じてエネルギ信号波高に不均一
性が存在しているときでも波高分析器のウィンド範囲を
高エネルギ側あるいは低エネルギ側に広げるとともに、
広けだ範囲のものをシフト量に応じて所定の頻度で取り
込むように構成したため、本来のウィンド範囲のものは
除外することがないので、感#を犠牲にすることなく、
エネルギ不均一性に遅づく感度不均一性を実時間で補正
することができる。In this way, even when there is non-uniformity in the energy signal wave height depending on the incident position, the window range of the wave height analyzer can be expanded to the high energy side or the low energy side, and
Since it is configured to import items in a wide range at a predetermined frequency depending on the shift amount, items in the original wind range are not excluded, so without sacrificing the feeling.
Sensitivity non-uniformity that lags behind energy non-uniformity can be corrected in real time.
なお、自走式のカウンタ28の代りに乱数発生器を用い
この乱数発生器の出力により頻度変換メモリ29のアド
レスを指定する等の他の構成によりシフト量ΔZから頻
度を変換することができる。とくに波高シフト量メモリ
27と頻度変換メモリ29とを一体にし、シフト量ΔZ
を書き込んでおくとと々しに、各位置に関する予め測定
されたシフト量に基づいて決められた頻度に応じて1b
it信号のrlJ 、rOJの割合が定められた1 b
it信号が書き込まれているメ、モリを用い、位置信号
とカウント値とで直接「0」か「1」の頻度に関する信
号が得られるよう構成することもできる。Note that the frequency can be converted from the shift amount ΔZ by other configurations, such as using a random number generator instead of the self-running counter 28 and specifying the address of the frequency conversion memory 29 based on the output of the random number generator. In particular, by integrating the wave height shift amount memory 27 and the frequency conversion memory 29, the shift amount ΔZ
1b at a predetermined frequency based on the pre-measured shift amount for each position.
The ratio of rlJ and rOJ of it signal is determined 1 b
It is also possible to use a memory in which the it signal is written so that a signal relating to the frequency of "0" or "1" can be directly obtained from the position signal and the count value.
また主波高分析器16のウィンド範囲を狭くしてシフト
量が零の場合でも補助波高分析器17.18を用いるよ
う構成したシ、補助波高分析器17.18をさらに多数
設けて精度を向上させるようにしてもよい。In addition, the window range of the main wave height analyzer 16 is narrowed so that the auxiliary wave height analyzer 17.18 is used even when the shift amount is zero, and the accuracy is improved by providing a larger number of auxiliary wave height analyzers 17.18. You can do it like this.
さらに上記の実施例では頻度変換メモリ29に書き込ま
れている頻度に関するデータはシフト量ΔZの絶対値に
応じて定められているが、シフト量ΔZの符号に応じて
異なるよう書き込んでおいてもよい。Further, in the above embodiment, the data regarding the frequency written in the frequency conversion memory 29 is determined according to the absolute value of the shift amount ΔZ, but it may be written differently depending on the sign of the shift amount ΔZ. .
またエネルギウィンド設定条件(LEVEL 。Also, energy window setting conditions (LEVEL).
WINL)OW)に応じて波高シフト量メモリ27の内
容や頻度変換メモリ29の内容を書き変えるようにした
シ、あるいはこれらの間に読み出されたシフト量ΔZの
ゲイン調整回路を挿入して設定条件に応じてシフト量Δ
Zを縮小または拡大してみたり、あるいは補助波高分析
器17゜J8のウィンド範囲(EL2 、LJL2)を
変更するようにしてもよい。このようにW I N I
JOWの設定に応じて変更するようにしたのは、一般に
ウィンド範囲を拡げるとエネルギ信号波高のシフト量が
同じでも感度の変化が小さくなるためである。またl、
E V ELに応じて上記のように変えるのは、放射
線エネルギが高いとエネルギ分解能が冒(なってWIN
IJOW及びシフト量Δ2の割合が同一の条件では感度
変化が小さくなるためである。寸だ入射放射線の1ネル
ギが変わっても各位置でのシフト量ΔZの割合は略一定
と近似できるので、波高シフト量メモリ27の内容はこ
の意味で固定でもよいが、厳密には入射放射線のエネル
ギが変わるとシンチレータlJ内での吸収の平均深さが
変わるため、多少のエネルギ依存性(これは光学系の構
成、例えばライトガイド12におけるマスクの有無等に
よる)を持つので、これに対応しようとすれば使用すべ
きシフト量ΔZの値や頻度をLEVELに応じて変える
ことが望ましいがらである。The contents of the wave height shift amount memory 27 and the frequency conversion memory 29 are rewritten in accordance with WINL) OW), or a gain adjustment circuit for the shift amount ΔZ read out is inserted between these settings. Shift amount Δ depending on conditions
You may try to reduce or enlarge Z, or change the window range (EL2, LJL2) of the auxiliary wave height analyzer 17°J8. Like this W I N I
The reason why it is changed according to the setting of JOW is that, in general, when the window range is expanded, the change in sensitivity becomes smaller even if the shift amount of the energy signal wave height is the same. Also l,
Changing the above according to E V EL is because if the radiation energy is high, the energy resolution will be degraded (and WIN
This is because the change in sensitivity becomes small under conditions where the ratios of IJOW and shift amount Δ2 are the same. Even if the energy of the incident radiation changes slightly, the ratio of the shift amount ΔZ at each position can be approximated as being approximately constant, so the contents of the wave height shift amount memory 27 may be fixed in this sense, but strictly speaking, the contents of the wave height shift amount memory 27 may be fixed. If the energy changes, the average depth of absorption within the scintillator lJ changes, so there is some energy dependence (this depends on the configuration of the optical system, for example, the presence or absence of a mask in the light guide 12), so it is necessary to deal with this. If so, it is desirable to change the value and frequency of the shift amount ΔZ to be used depending on LEVEL.
以上、実施例について説明したように、この発明によれ
ば、感度を犠牲にすることなしにエネルギ不均一性に基
づく感度不均一性を実時間で補正することができる。As described above with respect to the embodiments, according to the present invention, sensitivity non-uniformity based on energy non-uniformity can be corrected in real time without sacrificing sensitivity.
第1図はこの発明の一実施例のブロック図、第2図はエ
ネルギスペクトルを示すグラフ、第3図は頻度変換メモ
リの内容を表わす模式図である。
11・・シンチレータ 12・・・ライトガイド13
・・・PMT
14・・・位置及びエネルギ演算回路
25・・・表示装置
出願人 株式会社 島津製作所FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a graph showing an energy spectrum, and FIG. 3 is a schematic diagram showing the contents of a frequency conversion memory. 11...Scintillator 12...Light guide 13
...PMT 14...Position and energy calculation circuit 25...Display device applicant Shimadzu Corporation
Claims (2)
発光が導〃・れる多数の元′…、変換器と、これら多数
の光電変換器の出力により位置信号及びエネルギ信号を
計斜、シて出力する位置及びエネルギ演算回路と、エネ
ルギ信号の波高が所定のエネルギウィンド範囲内である
ときにアンプランク信号を生じる主波高分析器と、前記
のエネルギウィン、ド範囲に隣接するエネルギウィンド
範囲を有しエネルギ信号の波高がこれらの各エネルギウ
ィンド範囲内であるときにそれぞれアンプランク信号を
生じる複数の補助波高分析器と、予め測定された各位置
に関するエネルギ信号の波高シントi及びこの波高シフ
ト量に基づいて決めらnた補助渡島分析器指定信号とが
記憶されておシ前記位置信号で読出アドレス指定される
シフト量記憶手段と、読み出されたシフト量を頻度に変
換する手段と、前記主波高分析器からのアンプランク信
号とともに前記指定信号で指定された補助波高分析器か
らのアンプランク信号が上記頻度変換手段により定めら
れる頻度で入力され上記位置信号により指定される位置
に点を表示する表示装置とからなるシンナレーションカ
メラ。(1) A scintillator, a number of sources through which light emission in this scintillator is guided, a converter, and a position and energy signal that outputs position and energy signals by measuring and transmitting the outputs of these many photoelectric converters. an arithmetic circuit, a main wave height analyzer that generates an unranked signal when the wave height of the energy signal is within a predetermined energy window range, and a wave height of the energy signal that has an energy window range adjacent to the energy window and de ranges. a plurality of auxiliary wave height analyzers each generating an unblank signal when is within each of these energy window ranges; a shift amount storage means in which an auxiliary Oshima analyzer designation signal is stored and whose read address is specified by the position signal; a means for converting the read shift amount into a frequency; and a display device which receives an unrank signal from an auxiliary wave height analyzer designated by the specified signal together with the unrank signal at a frequency determined by the frequency conversion means and displays a point at a position designated by the position signal. synnarration camera.
発光が導かれる多数の光電変換器と、これら多数の光電
変換器の出力により位置信号及びエネルギ信号を計算し
て出力する位置及びエネルギ演算回路と、エネルギ信号
の波高が所定のエネルギウィンド範囲内であるときにア
ンプランク信号を生じる主波高分析器と、前記のエネル
ギウィンド範囲に隣接するエネルギウィンド範囲を有し
エネルギ信号の波高がこれらの各エネルギウィンド範囲
内であるときにそれぞれアンプランク信号を生じる複数
の補助波高分析器と、予め測定された各位置に関するエ
ネルギ信号の波高シフト量に基づいて決められた補助波
高分析器指定信号が前記位置信号により指定されるアド
レス毎に起体されでおり、且つ前記測定された各位置の
シフト量によ9足められた頻度に応じた信号が前記位置
信号及びランダム信号により指定されるアドレス毎に記
憶され、前記位置信号及びランダム信号で読出アドレス
指定される記憶手段と、前記主波高分析器からのアンプ
ランク信号とともに前記読み出された指定信号で指定さ
れた補助波高分析器からのアンプランク信号が前記読み
出された頻度で入力され前記位置信号により指定される
位置に点を表示する表示装置とからなるシンチレーショ
ンカメラ。(2) A scintillator, a large number of photoelectric converters to which the light emitted from the scintillator is guided, a position and energy calculation circuit that calculates and outputs position signals and energy signals from the outputs of these large number of photoelectric converters, and a position and energy calculation circuit that calculates and outputs position signals and energy signals. a dominant wave height analyzer that produces an unranked signal when the wave height is within a predetermined energy window range; and a main wave height analyzer having an energy wind range adjacent to said energy wind range, and wherein the wave height of the energy signal is within each of these energy window ranges. The position signal specifies a plurality of auxiliary wave height analyzers each generating an unranked signal at a certain time, and an auxiliary wave height analyzer designation signal determined based on a wave height shift amount of the energy signal for each position measured in advance. A signal is generated for each address, and a signal corresponding to the frequency added by the measured shift amount of each position is stored for each address specified by the position signal and the random signal, and a storage means whose reading address is specified by a signal and a random signal, and an unrank signal from an auxiliary wave height analyzer specified by the read designation signal together with an unrank signal from the main wave height analyzer is read out. A scintillation camera comprising a display device that displays a point at a position specified by the position signal that is input at a frequency that is inputted.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11361382A JPS593378A (en) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | Scintillation camera |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11361382A JPS593378A (en) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | Scintillation camera |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS593378A true JPS593378A (en) | 1984-01-10 |
JPH0425511B2 JPH0425511B2 (en) | 1992-05-01 |
Family
ID=14616651
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11361382A Granted JPS593378A (en) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | Scintillation camera |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS593378A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4755679A (en) * | 1986-06-19 | 1988-07-05 | Wong Wai Hoi | Method and apparatus for maximizing counts of a PET camera |
-
1982
- 1982-06-30 JP JP11361382A patent/JPS593378A/en active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4755679A (en) * | 1986-06-19 | 1988-07-05 | Wong Wai Hoi | Method and apparatus for maximizing counts of a PET camera |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0425511B2 (en) | 1992-05-01 |
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