JPS59223803A - Controller - Google Patents

Controller

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JPS59223803A
JPS59223803A JP9786783A JP9786783A JPS59223803A JP S59223803 A JPS59223803 A JP S59223803A JP 9786783 A JP9786783 A JP 9786783A JP 9786783 A JP9786783 A JP 9786783A JP S59223803 A JPS59223803 A JP S59223803A
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JP
Japan
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control
target value
control constant
disturbance
constant
Prior art date
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Pending
Application number
JP9786783A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Mitsuo Kinoshita
木下 光夫
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS59223803A publication Critical patent/JPS59223803A/en
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    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B13/00Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion
    • G05B13/02Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Artificial Intelligence (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Feedback Control In General (AREA)

Abstract

PURPOSE:To always obtain an optimum control constant even when the target value is changed and the disturbance is impressed by setting previously and usually the optimum control constant at a process controller to impression of the disturbance and setting an optimum control constant independently only with the change of the target value. CONSTITUTION:A subtractor 3 calculates the difference between the feedback signal (y) of the controlled variable of a process 2 to be controlled and the target value (yr) of the controlled variable. Then a controller 10 performs the operations of comparison and integration from the deviation value signal epsilon in accordance with control constants Kp and Ki and then produces the control signal (u) to the process 2. In this case, these constants Kp and Ki are set so as to obtain an optimum control constant to the disturbance impression (d). The change of the value (yr) is detected by a control constant changing device 11, and the constants Kp and Ki of the controller 10 are set at optimum control constant to the change of the target. Then the controller 10 performs operations of comparison and integration in response to the control constant set to the changed target and delivers a manipulated variable (u). The control constant is set again at an optimum control constant to the disturbance impression (d) when a fixed period of time elapses after the change of the value (yr).

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はプロセス制御装置に係り、特に、制御装置の制
御定数を最適値に自動調整する鴎能を有する制御装置に
関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Application of the Invention] The present invention relates to a process control device, and particularly to a control device having a function of automatically adjusting control constants of the control device to optimum values.

〔発明の背景〕[Background of the invention]

従来技術の概略と欠点を第1図と第2図を用いて説明す
る。
The outline and drawbacks of the prior art will be explained using FIGS. 1 and 2.

第1図に、従来の一般的なPID制御系の制御ブロック
線図を示す。1は制御装置、2は制御対象となるプロセ
スである。yはプロセス2の制御量、yrは該制御量y
の目標値、3は目標値y。
FIG. 1 shows a control block diagram of a conventional general PID control system. 1 is a control device, and 2 is a process to be controlled. y is the controlled amount of process 2, yr is the controlled amount y
target value, 3 is target value y.

と制#tyの偏差ε(=yr−y)を演算する減算器、
Uは制御装置1の出力でありプロセス2の操作量である
。dはプロセス2に印加する外乱である。
and a subtractor that calculates the deviation ε (=yr−y) of the control #ty,
U is the output of the control device 1 and is the manipulated variable of the process 2. d is a disturbance applied to process 2.

制御装置1を比例・積分動作(PI動作)とした場合、
制御装置1の伝達関数G、(81は次のようになる。
When the control device 1 is set to proportional/integral operation (PI operation),
The transfer function G (81) of the control device 1 is as follows.

K+ G 、t8)=K P (1+ −)       ・
・・・・・・・・・・・・・・(1)ここで、K、は比
例ゲイン、K1は積分ゲインである。制御装置1は、制
御量yが目標値yrに一致するよう、すなわち偏差εが
零となるに(1)式に基ついて制御演算をする。目標値
yrを変更した場合、あるいは外乱dが印加した場合に
、制御量yが目標値yrに致達するまでの時間や偏差ε
(=y、  y)の変化幅のような制御特性は、(1)
式の制御定数である比例ゲインKp1積分ゲインに1に
依存する。目標値y、変更時の理想的な制御特性は、制
御量yが目標値y、にすみやかに追従しテy カy 、
 IIC一致し、かつ、オーバーシュート量(y yr
)が小さいことである。また、外乱dが印加した場合の
理想的な制御特性は、制御量yがすみやかに目標値y、
に戻って一致することである。
K+ G, t8)=K P (1+ −) ・
(1) Here, K is a proportional gain and K1 is an integral gain. The control device 1 performs control calculation based on equation (1) so that the control amount y matches the target value yr, that is, the deviation ε becomes zero. When the target value yr is changed or when a disturbance d is applied, the time and deviation ε until the controlled variable y reaches the target value yr
The control characteristics such as the variation width of (=y, y) are (1)
The proportional gain Kp1, which is a control constant in the equation, depends on the integral gain. The ideal control characteristic when changing the target value y is that the control amount y quickly follows the target value y,
IIC matches and overshoot amount (y yr
) is small. The ideal control characteristic when the disturbance d is applied is that the control amount y quickly changes to the target value y.
is to match back.

次に従来技術の具体的制御特性の例を述べる。Next, an example of specific control characteristics of the prior art will be described.

制御装置1の伝達関数が(1)式、プロセス2の伝達関
数G、(S)が次式の場合について考える。
Let us consider a case where the transfer function of the control device 1 is expressed by equation (1), and the transfer function G and (S) of the process 2 are expressed by the following equation.

第2図に、このときの制御特性の例を示す。同図の破線
は目標値y r (Set paint )を示す。5
pYrはyrをOから1にステップ状増加したときy、
の信号レベルを示し、DYrは外乱dが印加した場合の
yrを示す(yrは0で変化がない)。5P−yは目標
値y、をステッ゛プ状に変化したときの制御tyの特性
であり、実線で示す5P−yc13P)は目標値yr変
更に対して制御装置1の制御定数K p 、 K Iを
最適にした場合の制御量yの特性である。また、D−y
は外乱dが印加した場合の制御量yの特性を示し、一点
鎖線で示すD−y(Oilは外乱印加に対して制御定数
に、IK+を最適にした場合の制御量yの特性である。
FIG. 2 shows an example of control characteristics at this time. The broken line in the figure indicates the target value y r (Set paint). 5
pYr is y when yr is increased stepwise from O to 1,
DYr indicates yr when the disturbance d is applied (yr is 0 and does not change). 5P-y is the characteristic of the control ty when the target value y is changed in a stepwise manner, and 5P-yc13P) shown by a solid line is the control constant K p , K of the control device 1 with respect to the change in the target value yr. This is the characteristic of the control amount y when I is optimized. Also, D-y
shows the characteristic of the controlled variable y when the disturbance d is applied, and the dashed line D-y (Oil is the control constant for the disturbance applied, and the characteristic of the controlled variable y when IK+ is optimized.

一方、5P−yO]は外乱印加に対して最適な制御定数
K p 、 K +を設定しているときに目標値y。
On the other hand, 5P-yO] is the target value y when the optimal control constants K p and K + are set for disturbance application.

をステップ状に変化したときの制御量yの特性であり、
D−y(SP)は目標値変更に対して最適な制御定数K
 p 、 K rを設定しているときに外乱dを印加し
たときの制御量yの特性である。目標値変更時の制御特
性としては、オーバーシュート量(y  yr)が小さ
いという点から5P−IC8P)の方が5P−y(1)
lよりも良い。また、外乱印加時の制御特性としては、
制御量yが目標値yrにすみやかに戻るという点からD
−yQ)lの方がD−)’(SP)よりも良い。
is the characteristic of the control amount y when changing stepwise,
D-y(SP) is the optimal control constant K for changing the target value
This is the characteristic of the control amount y when the disturbance d is applied while p and Kr are set. Regarding the control characteristics when changing the target value, 5P-IC8P) is better than 5P-y(1) because the overshoot amount (y yr) is smaller.
Better than l. In addition, the control characteristics when applying disturbance are as follows:
D from the point that the control amount y quickly returns to the target value yr.
-yQ)l is better than D-)'(SP).

すなわち、従来の方法では目標値変更に対して最適な制
御定数を設定すると外乱が印加した場合の制御特性が悪
くなり、外乱印加に対して最適な制御定数を設定すると
目標値y更時の制御特性が悪くなるという欠点がある。
In other words, in the conventional method, if the optimal control constant is set for changing the target value, the control characteristics will deteriorate when a disturbance is applied, and if the optimal control constant is set for the external disturbance, the control characteristics will deteriorate when the target value y is changed. The disadvantage is that the characteristics deteriorate.

なお、制御装置1がPID動作である場合も上記のよう
な欠点がある。
Note that the above-mentioned drawbacks also exist when the control device 1 operates in PID mode.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明の目的は、目標値を変更したり外乱が印加された
時に、常に最良な制御特性が得られる制御装置を提供す
ることである。
An object of the present invention is to provide a control device that can always obtain the best control characteristics when a target value is changed or a disturbance is applied.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明は、PID制御装置の最適な制御定数が目標値変
更時と外乱印加時で異なることに着目して生まれたもの
である。本発明の特徴は、PIまたはPID制御装置に
おいて、通常は外乱印加に対する最適な制御定数を設定
しておき、目標値変更時のみ目標値変更に対する最適な
制御定数に切□替えるようにしたことである。この理由
は、外乱□の印加はいつ起こるかわからないが、目標値
を変更するときは目標値信号の変化より容易にこれを検
出できるからである。
The present invention was developed by focusing on the fact that the optimal control constant of a PID control device is different when a target value is changed and when a disturbance is applied. The feature of the present invention is that in the PI or PID control device, the optimum control constant for disturbance application is usually set, and the control constant is switched to the optimum control constant for changing the target value only when the target value is changed. be. The reason for this is that although it is not known when the disturbance □ will be applied, when the target value is changed, this can be detected more easily than changes in the target value signal.

〔発明の実施例] 本発明の一実施例を、第3図〜第5図を用いて説明する
。第3図において、2のプロセス、3の減算器、及びy
l、y、ε、!は第1図の従来の場合と同じである。1
0は、制御定数を変更することができるPI動作の制御
装置である。11は、目標値y、に基づいて制御装置1
0の制御定数K 、 、 K Iを変更する制御定数変
更装置である。
[Embodiment of the Invention] An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 3 to 5. In Figure 3, 2 processes, 3 subtractors, and y
l,y,ε,! is the same as the conventional case shown in FIG. 1
0 is a control device for PI operation that can change control constants. 11 is the control device 1 based on the target value y.
This is a control constant changing device that changes the control constants K, , K I of 0.

制御装置10の伝達関数が(1)式、プロセス2の伝達
関数が(2)式の場合の制御定数変更装置11の演算フ
ローを第4図に示す。目標値y、変更中または目標値変
更後一定時間(例えば10秒)経過しないうちは、制御
装置100制御定数に、、I(。
FIG. 4 shows the calculation flow of the control constant changing device 11 when the transfer function of the control device 10 is expressed by equation (1) and the transfer function of the process 2 is expressed by equation (2). While the target value y is being changed or until a certain period of time (for example, 10 seconds) has elapsed after changing the target value, the control constant of the control device 100 is set to ,I(.

を、目標値変更に対する最適制御定数に設定する。is set as the optimal control constant for changing the target value.

また、それ以外の目標値y、を一定値に維持している場
合は、Kp、に+を外乱印加に対する最適制御定数に設
定しておく。なお、制御装置10、制御定数変更装置1
1、減算器3はマイクロコンピュータで実現する。制御
定数変更装置11の演算は第4図に示すように、スター
トからエンドまで一定周期毎に演算が繰り返されている
。゛また、制御装置10の演算は、制御定数変更装置1
1の演算が終ってから実施されるようにする。
In addition, when the other target values y are maintained at constant values, + is set to Kp as the optimum control constant for disturbance application. Note that the control device 10 and the control constant changing device 1
1. The subtracter 3 is realized by a microcomputer. As shown in FIG. 4, the calculations of the control constant changing device 11 are repeated at regular intervals from start to end.゛Also, the calculation of the control device 10 is performed by the control constant changing device 1.
It is executed after the first operation is completed.

次に本笑施例の動作を説明する。′!、ず目標値変更時
の動作を説明する。目標値y1を変更すると、制御定数
変更装置11ではy、が変化したことを検出して、制御
装置10の制御定数K 、 、 K rを目標値変更に
対する最適制御定数に設定する。制御装置10では、目
標値y、と制御+iyの偏差ε(=yt−y)を入力し
て、設定された制御定数に、。
Next, the operation of this embodiment will be explained. ′! First, we will explain the operation when changing the target value. When the target value y1 is changed, the control constant changing device 11 detects that y has changed, and sets the control constants K, , Kr of the control device 10 to the optimum control constants for the target value change. In the control device 10, the target value y and the deviation ε (=yt-y) of control +iy are inputted to set the control constant.

KIにしたがって比例・積分動作の演算をし、操作量U
を出力する。プロセス2は操作iiuを入力して制ti
lltyを出力する。目標値’/rを変更すると制御装
置10の動作により、制御量yFiy rに追従して変
化しy、と一致するようになる。目標値yア変更後一定
時間(10秒間)経過すると、制御定数Kp、Ktは外
乱印加に対する最適制御定数に再び設定される。第5図
に制御特性を示す。
Calculate the proportional/integral operation according to KI, and calculate the manipulated variable U.
Output. Process 2 is controlled by inputting operation iiu.
Output llty. When the target value '/r is changed, due to the operation of the control device 10, it changes to follow the control amount yFiyr and comes to match y. After a certain period of time (10 seconds) has passed after the target value ya is changed, the control constants Kp and Kt are again set to the optimum control constants for the disturbance application. Figure 5 shows the control characteristics.

目標値y、を0からIKスステップ状変更したときのy
、を、5P−y、として示す。とのときの制御量yの変
化を5P−yで示すように、第2図で示した5P−y(
SP)と同じ特性になる。なお、10秒後に制御定数K
 p 、 K +を変更しても制御jil:yの変化は
非常に小さく問題はない。次に外乱印加時の制御特性を
述べる。目標値y、を一定に維持している通常時は、制
御装置10の制御定数Kp、に+は外乱印加に対する最
適な制御定数に設定されている。第5図のD−yrは一
定に維持している目標値y、を示している。外乱dを0
秒で0から1にステップ状に加えたときの制御量yの変
化をD−yで示すが、第2図に示すD−yQ)1と同じ
特性となる。なお、第5図のシミュレーション実験では
、操作量Uと外乱dを加算する値がプロセス2の入力と
なるように計算している。
y when the target value y is changed from 0 in an IK step manner
, is denoted as 5P-y. As shown in 5P-y, the change in the control amount y when 5P-y (
It has the same characteristics as SP). In addition, after 10 seconds, the control constant K
Even if p and K+ are changed, the change in control jil:y is very small and there is no problem. Next, we will discuss the control characteristics when a disturbance is applied. In normal times when the target value y is maintained constant, the control constant Kp of the control device 10 is set to the optimum control constant for applying disturbances. D-yr in FIG. 5 indicates the target value y, which is maintained constant. Disturbance d is 0
The change in the control amount y when added stepwise from 0 to 1 in seconds is indicated by D-y, which has the same characteristics as D-yQ)1 shown in FIG. In the simulation experiment shown in FIG. 5, calculations are made such that the value obtained by adding the manipulated variable U and the disturbance d becomes the input to process 2.

なお、制御定数の最適化についてここで簡単に述べる。Note that optimization of control constants will be briefly described here.

制御装置10の伝達関数G、(S)をQS)/ sと置
く。(11式より次の関数が成り立つ。
Let the transfer function G, (S) of the control device 10 be QS)/s. (From Equation 11, the following function holds true.

また、プロセス2゛の伝達関数G、(S)を次のような
一般的な形で表現する(ここでは(2)式と同じに2次
式とする)。
Further, the transfer function G, (S) of process 2' is expressed in the following general form (here, it is assumed to be a quadratic equation like equation (2)).

目標値yrから制御量yまでの伝達関数y/ y rは
次のようになる。
The transfer function y/y r from the target value yr to the control amount y is as follows.

一方、外乱dから制御量yまでの伝達関数y/dは次の
ようになる。
On the other hand, the transfer function y/d from the disturbance d to the control amount y is as follows.

なお(6)式の導出に当っては、目標値yrを零に、プ
ロセス2への入力を操作量Uと外乱dの加算した値とし
ている。また(3)式で示したCo)を次式と置く。
Note that in deriving equation (6), the target value yr is set to zero, and the input to process 2 is the sum of the manipulated variable U and the disturbance d. Also, Co) shown in equation (3) is expressed as the following equation.

C(S)=Co+CtS+CzS”+Cs53・”−・
・、”・”・・(7)PI動作であるから当然、Co=
K 、K I’s et=Kp。
C(S)=Co+CtS+CzS"+Cs53・"-・
・,"・"...(7) Since it is a PI operation, Co=
K, K I's et=Kp.

Cz =0 、 C3=0 である。プロセス2の伝達
関数に応じた最適な制御定数K 、 、 K Iを求め
るための参照モデルG、(S)は次のようになる。
Cz=0, C3=0. The reference model G, (S) for determining the optimal control constants K, , K I according to the transfer function of process 2 is as follows.

ここで、σは目標値y、をステップ状に増加したときの
制御tyの立ち上がり時間である。制御量yのオーバー
シュート量をほぼ零にするための係数(α2.α3)は
(0,375,0,0625)である。
Here, σ is the rise time of the control ty when the target value y is increased in a stepwise manner. The coefficients (α2.α3) for making the overshoot amount of the control amount y almost zero are (0,375,0,0625).

最初に、目標値変更に対する制御定数Kp。First, the control constant Kp for changing the target value.

KIを求める。(5)式で示したyrからytでの伝達
関数y/y、が(8)式で示した理想的な参照モデルの
伝達関数G、(S)とできるだけ一致するようにCoの
係数を決める。(5)式と(8)式が一致したとすると
次式が成り立つ。
Seek KI. The coefficient of Co is determined so that the transfer function y/y from yr to yt shown in equation (5) matches as much as possible the transfer function G, (S) of the ideal reference model shown in equation (8). . Assuming that equations (5) and (8) match, the following equation holds true.

したがって次式が成り立つ。Therefore, the following formula holds.

(7)式より02=0であるから(121式を満たす最
小の正のσを求め(立ち上がり時間は小さい方が当然良
い)、これを凹成、(111式に代入してK 、 、 
K tを求める。(21式で示したように、go =l
 l gl =4+g2=2.4としたときαり式を満
たす正の最小のσはσ=1.76となり、これを凹成、
α0式に代入すると第4図に示すようにに、=1.89
8.Kt=0.299が求まる。
Since 02=0 from equation (7), find the minimum positive σ that satisfies equation 121 (of course the smaller the rise time is, the better), and substitut this into equation 111 to obtain K, ,
Find Kt. (As shown in equation 21, go = l
When l gl = 4 + g2 = 2.4, the minimum positive σ that satisfies the α equation is σ = 1.76, which can be expressed as concave,
When substituted into the α0 formula, as shown in Figure 4, = 1.89
8. Kt=0.299 is found.

次に外乱印加に対する最適な制御定数を決定する。この
場合、(6)式と(8)式が次の関係を満たすようにC
(S)の係数を決める。
Next, determine the optimal control constant for disturbance application. In this case, C
Determine the coefficient of (S).

α淘式より次式が成り立つ。The following formula holds from the α selection formula.

C■)=CO(1+σS+α2σ2S2+α3σ3S3
)−8(go+gx’s+gz 82) ”Co + (Coσ−go ) S + (Co a
2σ2−gl)82+(Co=α3σ3−gz)S”十
・・・      ・・・・・・・・・I(7)式と0
.41式より次式が成り立つ。
C■)=CO(1+σS+α2σ2S2+α3σ3S3
)-8 (go+gx's+gz 82) "Co + (Coσ-go) S + (Co a
2σ2-gl)82+(Co=α3σ3-gz)S”10...I(7) formula and 0
.. From Equation 41, the following equation holds true.

Ct ”= K p Kt = Coσ−go    
  ・・・・・・・・・・・・・・・(lωC2= C
oα2σ”  g1=0       ・・・・・・・
・・・・・・・・(16)C3=COα3σ3g2=0
      +++++++・Hl・++(17)α0
式と<17)式よりCo 、σを求めると次のようにな
る。
Ct ”= K p Kt = Coσ−go
・・・・・・・・・・・・・・・(lωC2= C
oα2σ” g1=0 ・・・・・・・・・
・・・・・・・・・(16) C3=COα3σ3g2=0
++++++・Hl・++(17)α0
Calculating Co and σ from the equation and <17) gives the following.

上式を(へ)式に代入し自を求め、K 、 、 K l
を求める。go ””L gx −4+ gz =2.
4  としたとき、K p 、 K +は第4図に示す
ように次のようになる。
Substituting the above equation into the equation (to) and finding the self, K , , K l
seek. go ””L gx −4+ gz =2.
4, K p and K + are as shown in FIG.

K、−1,963,K +=0.419なお、(4)式
で示したようなプロセス2の伝達関数が不明の場合は、
カルマンフィルタ、ア、ルプリズムなどを用いて伝達関
数を同定する。
K, -1,963,K +=0.419If the transfer function of process 2 as shown in equation (4) is unknown,
Identify the transfer function using a Kalman filter, Al prism, etc.

本実施例によれば、目標値変更時でも外乱印加時でも、
制御装置の制御定数を常にそれに対応した最適値にする
ことができるので、常に最良の制wJfi8性を得るこ
とができるという効果がある。
According to this embodiment, even when changing the target value or applying a disturbance,
Since the control constant of the control device can always be set to the corresponding optimum value, there is an effect that the best controllability can always be obtained.

上記した実施例では、PI動作の制御装置について述べ
たが、PID動作の制御装置でも本発明を適用すること
ができる。
In the embodiments described above, a PI operation control device was described, but the present invention can also be applied to a PID operation control device.

また、PID動作をする制#装置以外に、ノイズフィル
タ、進み遅れ補償回路のような補償回路がある場合にも
、本発明を適用するととができる。
Further, the present invention can be applied to a case where there is a compensation circuit such as a noise filter or a lead/lag compensation circuit in addition to the #control device that performs PID operation.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、制御装置の制御定数を常に最適な値に
設定することができるので、目標」直変更時で−も外乱
が印加された場合でも常に最良の制御特性を得ることが
できるという効果がある。
According to the present invention, since the control constants of the control device can always be set to optimal values, the best control characteristics can always be obtained even when a disturbance is applied when changing the target directly. effective.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は従来技術における制御フ頴ツク線図、第2図は
従来技術による制御特性を説明する図。 第3図は本発明一実施例の制御ブロック線図、第4図は
第3図を補足説明する図、第5図は本発明一実施例の制
御特性を説明する図である。 10・・・PI動作の制御装置、2・・・制御対象のプ
ロセス、3・・・減算器、11・・・制御定数変更装置
、y、・・・目標値、y・・・制御量、ε・・・偏差(
=y、−y)、第1m 第20 任1  間 (耳Fン 茅3(2) よ 華4関 業50 I?trQi(社)
FIG. 1 is a control diagram according to the prior art, and FIG. 2 is a diagram illustrating control characteristics according to the prior art. 3 is a control block diagram of an embodiment of the present invention, FIG. 4 is a diagram supplementary to FIG. 3, and FIG. 5 is a diagram illustrating control characteristics of an embodiment of the present invention. DESCRIPTION OF SYMBOLS 10... Control device for PI operation, 2... Process to be controlled, 3... Subtractor, 11... Control constant changing device, y... Target value, y... Controlled amount, ε・・・deviation (
=y, -y), 1st m 20th term 1 interval (miFnka 3 (2) Yoka 4 Kangyo 50 I?trQi (sha)

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、制御対象となるプロセスの制御量をフィードバック
するフィードバック信号yと曲射プロセスの制御量の目
標値である目標値信号y1との偏差を演算して得られる
偏差値信号(y、y)  から、制御定数にしたがって
制御演算して前記プロセスに入力する操作信号を発生す
る制御装置を具備してなるものにおいて、比例、積分、
微分の各演算のうち少なくても1つ以上の演算をする前
記制御装置と、目標値信号y1に基づいて比例、積分、
微分の各演算に係る制御定数を変更する制御定数変更装
置を具備してなることを特徴とする制御装置。
1. From the deviation value signal (y, y) obtained by calculating the deviation between the feedback signal y that feeds back the control amount of the process to be controlled and the target value signal y1 that is the target value of the control amount of the curved process, A control device that performs control calculations according to control constants and generates an operation signal to be input to the process, in which proportional, integral,
The control device performs at least one of the differential calculations, and the controller performs proportional, integral, and integral calculations based on the target value signal y1.
1. A control device comprising a control constant changing device that changes a control constant related to each differential operation.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61164506U (en) * 1985-03-29 1986-10-13
JPS6270904A (en) * 1985-09-24 1987-04-01 Nissei Plastics Ind Co Temperature control method
JPS6277607A (en) * 1985-09-11 1987-04-09 Chino Corp Automatic adjusting device for pid constant
JPS62123329A (en) * 1985-11-22 1987-06-04 Mitsubishi Electric Corp Controller for engine test
EP0333477A2 (en) * 1988-03-18 1989-09-20 Kabushiki Kaisha Toshiba Process control system
US8056579B2 (en) 2007-06-04 2011-11-15 Horiba Stec, Co., Ltd. Mass flow controller

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61164506U (en) * 1985-03-29 1986-10-13
JPS6277607A (en) * 1985-09-11 1987-04-09 Chino Corp Automatic adjusting device for pid constant
JPS6270904A (en) * 1985-09-24 1987-04-01 Nissei Plastics Ind Co Temperature control method
JPS62123329A (en) * 1985-11-22 1987-06-04 Mitsubishi Electric Corp Controller for engine test
EP0333477A2 (en) * 1988-03-18 1989-09-20 Kabushiki Kaisha Toshiba Process control system
AU608421B2 (en) * 1988-03-18 1991-03-28 Kabushiki Kaisha Toshiba Process control system
US8056579B2 (en) 2007-06-04 2011-11-15 Horiba Stec, Co., Ltd. Mass flow controller

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