JPS5832423B2 - デ−タ処理装置用半導体チツプ - Google Patents

デ−タ処理装置用半導体チツプ

Info

Publication number
JPS5832423B2
JPS5832423B2 JP55180263A JP18026380A JPS5832423B2 JP S5832423 B2 JPS5832423 B2 JP S5832423B2 JP 55180263 A JP55180263 A JP 55180263A JP 18026380 A JP18026380 A JP 18026380A JP S5832423 B2 JPS5832423 B2 JP S5832423B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
line
register
address
output
gate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP55180263A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS56162159A (en
Inventor
グレン・エイ・ハートセル
ジエラルド・デイ・ロジヤーズ
ジエリー・エル・バンデイレンドンク
ジヨン・デイ・ブライヤント
チヤールズ・ダブリユ・ブリツグゼイ
ロジヤー・ジエイ・フイツシヤー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Texas Instruments Inc
Original Assignee
Texas Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Texas Instruments Inc filed Critical Texas Instruments Inc
Publication of JPS56162159A publication Critical patent/JPS56162159A/ja
Publication of JPS5832423B2 publication Critical patent/JPS5832423B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/31721Power aspects, e.g. power supplies for test circuits, power saving during test
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F15/00Digital computers in general; Data processing equipment in general
    • G06F15/02Digital computers in general; Data processing equipment in general manually operated with input through keyboard and computation using a built-in program, e.g. pocket calculators
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C17/00Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
    • G11C17/08Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements
    • G11C17/10Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements in which contents are determined during manufacturing by a predetermined arrangement of coupling elements, e.g. mask-programmable ROM
    • G11C17/12Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements in which contents are determined during manufacturing by a predetermined arrangement of coupling elements, e.g. mask-programmable ROM using field-effect devices
    • G11C17/126Virtual ground arrays

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、読取り専用メモ1,1(ROM)を内蔵する
データ処理装置用半導体チップに関し、特に多数の指令
語を読取するROMを含む半導体チップ例えば電子計算
器用半導体チップの製造完了時に、それが適切に働くか
どうかを迅速に検査することのできる半導体チップに関
するものである。
発明の背景 極めて多数のMOSトランジスタと極めて多数の相互接
続を含む半導体チップは、これら全てが使用可能な良好
なものでなければならない。
この様な半導体チップを検査するのに、従来は、キーボ
ード入力金擬似させるためにに入力に情報を読出してそ
の出力を見ることによってユニットが試験されていた。
しかしこの方法は可能な計算ルーチンの全てにわたって
行うので相当な時間を要した。
また試験時間を短縮すべく妥協がなされると。欠点個所
を見のがして試験してLtうことになる。
本発明の目的は、読取り専用メモリ(ROM)を含む半
導体チップの試験を短時間に確実に行うことができるデ
ータ処理装置用半導体チップを提供することである。
以下、本発明の低電力計算器方式を実施例に関連して詳
細に説明する。
発明の概要 先づ概略を説明すると、本発明の計算器方式は第1図に
概略示されるような手持ち式で電池附勢のポケットサイ
ズ電子計算器において主に使用するために設計される。
この計算器は成形されたプラスチック等の小さなハウジ
ング10内に収容されており、かつ十進小数点キーとプ
ラス(田マイナス(=)、符号(−)、掛算(X)1割
算日、クリア(c)等のような種々の演算キーとを具備
した10個の十進の数字キーO〜9を有するテンキー型
のキーボード11を含んでいる。
表示器12は、通常は、セグメント状にされた発光ダイ
オード(LED)、ガス放電パネル又は蛍光型表示器の
形態で与えられる。
8個のデジット(桁)とマイナス記号、エラー又はオー
バーフロー指示のため09番目の「附加桁(annot
ator ) Jデジット(桁)とが図示されており、
これは個人用計算器の典型的なものである。
各デジット(桁)は典型的な設計の7個のセグメントと
十進小数点を含んでおり1通常は計算器は浮動点モード
で作動するであろうから、十進小数点は8個のデジット
位置のどれかに存在しうる。
オン・オフスイッチ13はハウジングの頂面又は側部等
に便宜的に位置決めされている。
本発明は、主に、電池の寿命を長くしかつ電池の個数が
最少ですむように電力必要量を最少にすることを目的と
している。
理想的には、充電不可能で使い捨ての電池が使用され、
これは電池の初期のコストを節約しかつ電池充電回路即
ちコード。
プラグ、トランス、整流器、スイッチ等のAC/DC変
換手段のコストを節約する。
勿論、本明細書で記載されるMOSチップは、設計対象
が使い捨て電池を有する個人用の計算器のためであって
も、卓上型AC電力計算器にわいても使用できる。
この型式の計算器において電力消費が大きい部品は表示
器12であるが、少なくとも本発明の範囲内ではLED
又は他の表示器素子に固有な電力必要量を減少すること
はほとんど不可能である。
LかLながら、後述されるように本発明の種々の特徴は
表示器が最少の時間でオンにされるようにしかつ表示器
ドライブ回路装置の性能を最適化させうる。
本発明に従って電力を最少にするための主な手段は単一
のMO8/LSIチップ内に構成されるような主電子的
方式の設計にある。
システムブロック 次にシステムブロック図について説明すると。
本発明の計算器方式の主な要素は第2図のブロック図に
示されている。
点線15の右側の全てのシステム要素はほぼ5,000
個のトランジスタを含みかつ標準の28ピンのパフケー
ジ内に装着された単一のMOS/L S Iチップ内に
ある。
システム設計の重要な因子はパッケージのピン数を最少
にすることであり、本装置は従来のチップに比べて数個
の特別のピンを具備する。
インターフェイス15での主たる入力/出力ピンは例え
ばSAとして記号づけられた8個の表示器出力16とD
JからD9として記号づけられた9個のキーボード/表
示器ストローブ又は走査出力17とKN、KO及びKP
として記号づけられた3個のキーボード出力18とであ
る。
表示器出力16は直接に(セグメントドライバを用いず
に)表示器12のセグメントに与えられる。
種々のデジット(桁)の全ての同様のセグメント及び全
ての十進小数点は通常の態様でそれぞれ共に接続される
表示器のデジット(桁)は出力17を使用する走査装置
によって一度に一回付勢され、これら走査信号D1〜D
9はまたキースイッチのマトリクスの形態をなしている
キーボードを選択するためにも使用される。
全ての数字キー1〜9はKN線と呼ばれる入力線18の
うちのただ一つのものの上にあり、数字キー1’−OJ
ViKO線の上にあり、演算キーはKO及びKP線の
上にある。
そこで、全てのキーボード情報は3つの線18上でエン
コードされかつ「0時間」又は線17上のキーボード/
表示器ストローブD1〜D9と内部的に相関して入来す
る。
計算器チップはS、A、M、 として称せられる逐次
的にアドレスされるメモリ20内に置かれたレジスタA
、 B及びCと呼ばれる3つの作動レジスタを含んでい
る。
1971年7月19日付の米国特許出願第163,68
3号に記載されるように、この装置は状態カウンタ21
によって逐次的にアドレスされるランダムアクセスメモ
リアレイである。
状態カウンタはメモリアレイ内のメモリセルの列をアド
レスするため及び更に他の目的のために使用される「状
態時間」即ち「S時間」を発生するリングカウンタであ
る。
基本的にビット並列デジット直列の2進加算器、けた上
げ/けた下げ回路及び2進化十進(BCD)補正器から
なる演算ユニット22によりレジスタ内の数字データ全
処理することによって種々の計算が行なわれる。
数字はSAM20にBCDの形で記憶されかつ力n算器
は2進で作動するのでBCD補正を必要とり。
加算器の出力はSAM20のレジスタ内の内容を再入力
する前に補正されなければならない。
SAM20の右手側の選択器ゲート23はSAMのどの
レジスタがユニット22に供給されるのか及び結果が何
のレジスタに入るのかを制御する。
更に。選択器ゲート23は必要に応じて任意のレジスタ
に対し右シフト機能を与える。
左シフトはユニット22の左シフト回路によって与えら
れてもよい。
SAM20の左側の選択器ゲー1〜24はレジスタ内の
データの再循環又は1つのレジスタから他のレジスタへ
のデータの交換を与える。
全てのこれら選択器ゲート及びユニット22の部品は演
算制御のプログラム可能な論理アレイ25の制御下にあ
る。
作動又はデータレジスタA、B及びCの外に。
SAMは2つの11ビツトフラツグレジスク26及び2
7即ちフラッグA及びフラッグBを含んでいる。
これらはプログラム時に状態情報を一時的に記憶するた
めに使用される。
フラッグレジスタのビットは線29を介1−てSAMに
接続されたフラッグ論理アレイ28の制御下でセットさ
れ、零にされ、交換され、再循環等が行なうことができ
る。
計算器を作動するためのプログラムは1語当り11ビツ
トで320語に構成された3、520ビツトの記憶を含
む読出し専用メモリ即ちROM30内に記憶される。
一度に1語がROMから指令レジスタ31に読出され、
このレジスタ内に存在する11ビツト語は与えられた指
令サイクル時に計算器内で例が起るかを規定する。
指令語の一部はレジスタ31から線32を介してレジス
タ33に直列的に与えられる。
レジスタ33は演算制御アレイ25及びフラッグ論理ア
レイ28の両方に共通に接続される。
指令語の他の部分は後述されるようにSAM20のデジ
ットマスク論理アレイ35内のレジスタに線34を介し
て与えられる。
与えられた時間にROMから読出される特定の指令語は
X及びYアドレスレジスタ36及び37によって規定さ
れる。
X及びYレジスタ36及び37はX及びYアドレスデコ
ーダ38及び39を制御する。
ROMは与えられた6ビツトXアドレスと3ビツトYア
ドレスとに対して11ビツトがアドレスされかつROM
から指令レジスタ31に読出されるように11セグメン
トに分割される。
指令レジスタ31内の語はシステムの現行の演算を規定
し、入力及び条件論理40に沿ってROMに対する次の
アドレスを作る。
アドレスレジスタ36及び37は一度に一位置づつ増大
せしめられてもよく、又は入力及び条件論理の制御下で
特定の位置(指令レジスタ31からロードされた)に飛
越し即ち分岐してもよい。
この論理ユニット40はキーボード入力18を受け、一
般的にンステムの種々の部分の制御又は作動を開始させ
てROMのプログラムに沿ってデータ入力を与える。
一般的には、システム(本計算機)の作動は、押されて
いるキーボード11の特定のキーに応じて指令レジスタ
31に関連して論理装置40によってROMアドレスを
発生し次いでROMのそのアドレス1で飛越し、指令語
をレジスタ31に読出してそれを構成することによって
全体的に規定される。
その後、X及びYアドレスレジスタは次のアドレスオで
増力目せしめられ数個あるいは十数個の指令語全域って
もよい。
そのキーによって表わされる機能が完了する1で遠隔ア
ドレスまで飛越しせしめられ1次いで他のキーが押され
るまで待機モードに復帰せしめられる。
待機モードに於いて、システムは、実際上キーボードを
走査しかつ同時に入力した数字即ち結果を表示器12上
に表示させる指令語によって繰返される。
SAM20のAレジスタは、常に、表示器12に表示さ
れるデータの源である。
入力されている数字が常に表示されるのでそれはAレジ
スフ内に入力され、即ち計算による結果が表示されるの
でそれは計算の完了時KAレジスタ内に入る。
従って、SAM20から表示器12への出力はAレジス
タからのものでちり、BCD数を一度に1デジツト変化
するように働くセグメントデコーダ及び出力PLAを介
して、十進デジット表示器12に行く線16のセグメン
トの選択した組合せに線41により連結される。
これは一般的にはプログラム可能な論理アレイによって
行なわれる。
ゼロ抑制手段43が出力PLA内に含まれる。
線17を介してキーボード/表示器ストローブに対して
使用される「D時間」はSAM20の一部であるD走査
レジスタ45に関連して作動するデジット走査レジスタ
44内に発生せしめられる。
表示器12に於いては最初にゼロ抑制を先行させるよう
に最大有効数字即ちMSDが記憶せしめられるが、これ
に対してSAM内のレジスタは力目算器即ちユニット2
2がLSDでのビット対ビット開始を持って作動しなけ
ればならないため最小有効数字即ちLSDで開始するよ
うに逐次的にアドレスされる。
従って、デジット走査装置は状態カウンタ21が一つの
方向にカウントしている間に他方向にカウントしなけれ
ばならない。
システムタイミング 次にシステムのタイミングについて述べると。
システムの基本的なタイミング要素は第3A図に示され
るようなりロック人力φである。
このクロックは約100から160Kf(zの繰返し速
度のものである。
チップ内のクロック発生器46(第2図参照)は第3A
図に示されるように4つのクロックφ1、φ2、φ3、
φ4を発生する。
4つのクロックの組は1状態時間即ちS時間を表わし、
従って状態時間は25から40 KHzの繰返し速度即
ち長さが24から40マイクロ秒のものである。
状態時間はSAMアドレスカウンタ21に於いてクロッ
クφ1からφ41でで発生される。
SAMレジスタに於いて1データ語当り11デジツトに
対応する(各デジットは1状態時間に対応する)11状
態時間S。
−5tOが第3B図に示される。全11状態時間の組1
−1’1桁時間間隔即ちD時間を表わし、かつこれはま
た1指◆廿イクルをも表わす。
従って、指令サイクルは約264から400マイクル秒
の長さのもの、従って約2かC) 4 KHzの繰返し
速度で生じる。
D時間はキーボード及び表示器走査に対して使用され1
表示器には9個の桁があり、即ち第3C図?i表示器及
びキーボードをストローブ操作するために使用されるD
時間のンーケンスを示す。
一つの桁時間間隔DIOがあることを注意されたい。
「走査時間」と称せられる表示器及びキーボードの完全
な走査Vil ODD時間ち指令サイクロ毎に1度、即
ち264oから4000マイクロ秒つまり2.6から4
ミリ秒につき1産生じる。
即ち、表示器又はキーボードは毎秒的200から400
回完全走査される。
計算器の操作者は少なくとも10分の数秒あるいはそれ
以上の間キーを手動で押し、従って少なくとも約50あ
るいはそれ以上の完全走査がキー上押す時間の間キじる
これは500以上の指令サイクルを表わし、従って計算
器内のほとんどの計算又は作動がキーを押すことができ
る以上の速さで行なわれる。
表示器12について考えてみると、LSDである右手側
のデジットのような与えられたデジットはD9の間での
み即ち走査時間毎に一度、っ1す3000マイクロ秒に
つき300マイクロ秒(10分の1テ゛ニーテイサイク
ル)の間オンつ1り点灯される。
これは人間の目が認識しうる速度よりはるかに速い1秒
につき200から400回オン及びオフに点滅し、従っ
て表示器は逐次的に走査されているのよりむしろ安定で
あると考えられる。
第3C図に於いては、桁時間間隔がMSDからLSDに
進むこと、つ1り第2図に示されるようなり1からD9
に行くことが示されている。
SAM20のAレジスタのワンデジット桁のデータは各
り時間の間表示されるためセグメントデコーダ42を通
るようにされる。
第3C図はレジスタA(7)SIOでの情報がDlの間
に出て行き、S9はD2の間に出ていき、順次D9での
824で進む。
SIOはアノデータ、即ちマイナス符号、電池電圧低下
指令等として働く。
S9はMSDでS2はLSDである。
Slはデッド即ちブランクとされ、即ち単に8つの数字
デジットが表示される。
SAMは位置SIOからSOに於いてレジスタ当り11
のデジットを含む。
従って、走査は10の指令サイクル毎繰返すが11の位
置があるため、SOは決してもたらされない。
そして、走査シーケンスはSAMがSOからS10すで
即ちLSDからMSDの方向にアドレスされる間に後向
き即ちSJOからSatで即ちMSDからLSDK処理
即ちカウントする。
この方式はセグメントデコーダ42に於いて容易に先行
ゼロ抑制を可能にする。
表示器が第1の非ゼロデジット即ち十進小数点の左方に
ゼロを示さないことが所望される。
従って。数6.25が入力されるとすれば、表示は6.
25を示L000006.25は示さない。
ゼロ抑制回路43はこの例に於いて入来する最初の5つ
のデジットの間これらがゼロであるため表示をブランク
にし1次いで最初の非ゼロデジットである「6」が検出
されると表示をブランクにしないように働く。
通常、(プログラミングにより)SAM20のA、 B
及びCレジスタのそれぞれのSO位置の情報は十進小数
点即ちDPT位置であり、S1位置はべき指数を含み、
S2から89はオーバーフローに対してSIOを具備し
た小数部である。
従って、数6.25がキーボードによって入力されると
Aレジスタは位置S9から82に小数部として0000
0625を含み、「2」は十進小数点が左方に2位の位
置Klることを意味するSOに存在する。
第3C図より明らかな通り、表示のためにはSOもSl
ももたらされない。
Slでのべき指数は内部的に使用され、DPTV′i後
述のように使用される。
表示器 次に表示器について述べると、第4A図に1表示器12
がより詳細に示されている。
9個の桁のうちの3個が示されている。
各桁は7個のセグメントと十進小数点Pとより作られて
いる。
チップからの出力16fd表示器のセグメントに対応し
てSAからSPlでラベル付けされている。
全てのAセグメントは線47によって共に接続され、全
てのBセグメントも同様線48によって共に接続されて
いる。
その他のセグメントについても同様である。
全ての十進小数点Pは線49によって共に接続されてい
る。
これらセグメントはLEDユニット又はガス放電パネル
のカソードを表わす。
D走査出力のDlからD9はガス放電パネル表示器のカ
ッ−ドを覆う透明金属フィルム又ULED表示器のため
の桁の全てのカソードセグメントに共通なアノード4表
わすアノード50に別々に灰続される。
デジット(桁)ドライバ51ViD線17をアノード5
0に連結する。
これらドライバは表示器素子を附勢するための適当な電
圧レベルを与えるための単なる増巾器である。
全てのドライバ51は一対のバイポーラ集積回路に含1
れうる。
第4B図には第4A図の表示器を附勢するための一つの
コードが示されている。
1を示すために、セグメントSAとSBとが附勢される
第4B図のコードはセグメントデコーダ出力PLA42
内にプログラムされ、このPLAは種々のコードが種々
の型式の表示器のために使用されうるようにゲートプロ
グラムが可能となっている。
好適実施例に於いて、オーバーフローは図示された記号
の代りに全表示器を点滅することによって指示される。
ROM内の指令語 次に指令の組について述べると、ROM30に記憶され
指令レジスタ31内に読出される指令語は第5図に示さ
れるフォーマット型式のものである。
語の11のビットはIOからIIOで記号付けされてい
る。
飛越し指4?に対して、9個のビットが飛越しアドレス
のために使用される。
レジスタ及びフラッグ゛操作のために、語は3つのフィ
ールド、即ちMaからMdと呼ばれる■0から■3から
作られるマスクフィールドとOaからOeと呼ばれる■
4から■8により作られるオブラート(OPCODE)
フィールドとCa及びcbと呼ばれる■9及びIIOで
作られるクラスフィールドとを含んでいる。
マスクフィールドからのビットは指令レジスタ31から
線34を介して第2図に示されるマスク論理35のレジ
スタに接続される。
オブコードフィールドはフラッグ論理28と演算制御論
理25が共にドライブされる線32を介してレジスタ3
3に接続される。
これは本発明システムにとってレイアウトとプログラミ
ング全人きく簡単化するために本発明の重要な特徴であ
る。
クラスフィールドはそれが分岐及び条件分岐指令に関連
するものであるから入力及び条件論理40Ki続されて
いる。
入力及び条件論理40はフラッグ条件又はキーボード入
力のようなシステムの種々の作動状態に応じる条件ラッ
チ47を含み。
かつ分岐は条件ラッチがセットされると実行されるがラ
ンチがセットされない即ちリセットになっている時には
実行されない。
クラスフィールドが「OO」、即ち■9及びIIOが0
0であれば、指令語は条件ラッチがセントになっていな
い即チリセットにらる限シ「飛越し」のためのものであ
る。
クラスフィールドが「0]jKあれば1条件がセットさ
れている限り飛越しが実行される。
飛越し指令のために、IOから■8のビットは次の指令
語のアドレスとなり、従ってこれらビットは指令レジス
タ31からアドレスレジスタ36゜37に田−ドされる
クラスフィールドが「11」であれば、指4>はレジス
タ作動のためのものであり、オブラート及びマスクフィ
ールドは上述したように使用される。
「10」のクラスフィールドはフラッグ指令又は「キー
が押されれば飛越し」の作動のいずれか一方を示し、オ
ブコードフィールドの2つのビットはどの型式の演算が
実行されるかを決定する。
「1000」はKO線上でキーが押されたとした場合の
IOからI8tでのアドレス1で飛越を行なわせる。
l−]l0IJはKP線上でキーが押されたとした場合
の■0〜■8のアドレスへの飛越L&行なわせる。
「l0IJはフラッグ演算の結果、即ちオペコードフィ
ールドはフラッグ論理アレイ28に於いてデコードした
フラッグ指令を与える。
フラ′ノグ論理ユニット28は昔たプログラム論理ユニ
ットとしても呼ばれることを特記する。
これらの指令については詳細に後述する。
第2図の種々の部分は第6A〜6■図に関連して記載さ
れる。
これら図を組合せることにより計算器チップの完全な論
理図となる。
RAMと選択器ゲート 次にSAM及び選択器ゲートについて述べると。
計算器システムの主たるA、B及びCレジスタは上述の
米国特許出願第163,683号に述べられた一組のシ
フトレジスタと同様な態様で作動するランダムアクセス
メモリ装置20に収容されている。
SAM20はBCDフォーマットをなしている4つの別
々の列AI、A2.A4及びA8からなるAレジスタを
含んでいる。
同様に、B及びCレジスタはそれぞれ4つの列Bl、B
2等からなり、これらはチップ上の選択器デー1−&介
してレジスタ及びALUを相互接続する際に空間全節約
するためにさLV′iさ壕れている。
各列fd11個のセル100を含んでおり、即ちこの1
つは各桁又は文字に対応し、各セルは公知の3トランジ
スタMO8−RAMメモリセルとなっている。
SAM内の全てのメモリセル100は実際には同一であ
り、主のA、B及びCレジスタ内には合計11×4×4
即ち132個のセルがある。
SAMはまた2つのフラッグレジスタ26及び27とD
−走査レジスタ45とを含み、このそれぞれV′iSA
Mの全165個のセルに対して11ビツトの列即ち33
以上のセルのものである。
SAMの垂直線は12個のアドレス線101からなり、
これらビットアドレス線は状態時間と同期してゼロを循
環する11段のリングカウンタから作られたコミュテー
タ21によってドライブされる。
勿論、コミュテータ21V′iシステム全体に使用する
ための状態時間5O−8hoを発生する。
アドレス線101のうちの一つは(後述するようKSO
を除き)任意の時間に附勢され、この附勢された線は5
O1S1.S2、・・・・・・SIO,SOの順で右か
ら左ヘシフトされ、一度に一つ第3B図に示されるよう
な信号を生じさせる。
コミュテータ21に於いて。再循環信号はコミュテータ
を通って伝達されているゼロが5IOK達した時に線1
02によって開始段に戻されるように接続され、線10
2上のこの指示V′iまた後述の電力上昇クリア回路に
於いても使用される。
逐次的にアドレスされるメモリの構造及び作動は上述し
た出願の記載より理解されることになろう。
フラッグレジスタ26及び27.I)−走査レジスタ4
5、状態時間マトリクス及びデジットマスク39もSA
Mの一部でら9、後述される。
ALU ALU22は、基本的には、左ソフト装置138に沿っ
てビット並列デジット直列2進カロ算器150とBCD
補正器151とからなる。
加算器の各並列段はけた上げ/けた下げ回路152を含
んでいる。
加算器1′i2の補数4加えることによって引算を行な
う。
力n算器及びBCD補正器は上記出願に関連して理解す
ることができる。
左シフトは演算制御アレイ25からの線199のSL命
令の励起に応じて力n算器からのBCD補正器出力17
9,185,186及び187をφ3.φ4及びφ1.
φ2クロックゲートに通すことによって複合ゲート14
0によって行なわれる。
これは加算器出力ビットを]状態時間から遅延し、左シ
フトのために2Lの状態時間だけ遅延させる。
ALUによるタイミングVi1ビットをSAM内の位置
からALUにトレースしかつそれを戻すととによって理
解できる。
SAMのA1列のトランジスタ104のゲートに記憶さ
れたビットV′iSOアドレス線101が負になる時に
SOφ1でトランジスタ103により読出される。
このビットは線105に反転されてつ筐り負になって出
て来る。
それは1クロック時間遅延されるゲート122内に入り
、即ちそれはこのゲートがφ1φ2にクロックされてい
るためこのゲート122を出てSOφ2に行く。
次いで、このビットはビット1段153の複合ゲー ト
160及び162へのX1人力に行く。
これらゲートはクロック操作されていないので、それは
出力線170から外れてクロック操作されないとSOφ
1からSOφ4のための力目算器内に存在する。
けた上げ回路152はその出力が有効となる即ちけた上
げ回路を条件的に放電させるようにφ4により残るよう
にしなければならないためクロック操作つ筐りφ3で予
備光電される。
ある遅延が加算器の複合ゲート160゜162.168
で生じる。
力n算器の出力170はφ4φ1でクロックされたイン
バータ全通り、従つてビットはS1φ1でゲート140
の入力に至る。
左シフト命令がなければ、ゲート140に於いては遅延
がなく、従ってビットはT1線131上全列A1のため
の選択器ゲート132に戻り。
このゲートはφ2φ3でクロックされているためビット
はそれが離れた後1ヲの状態時間となるS1φ3でAJ
列入力線106に至る。
今、Slアドレス線101は負であり、これはトランジ
スター07をオンにLそれがSOφ1で離れた同じトラ
ンジスター04のゲート容量に戻してビットを書込む。
データはSAMからφ1で常に読出さi、SAMKはφ
3で書込1れる。
右シフト演算を行なう時には、ビットはS5φ1でA1
列の85のようなセルを離れ、S5φ1でゲート132
の入力133に行き、ゲート132がφ2φ3にクロッ
クされている時には遅延され次いで単に±の状態時間遅
延であるS5φ3で入力線106に現われる。
S5アドレス線は依然として附勢されたま1であるから
、ビットはS5位置には書込1れない。
従って、それは右ソフトされS4セルに至る。
左シフトに対して、ビットはS5φ1で離れ21の状態
時間遅延されるので、それはS7φ3で戻ってS6セル
に書込1れることKなる。
右ソフト時に、LSDは、「循環桁送り」でシフトされ
るというより、失なわれる。
SOデジットはDPT即ちEXPに対して使用されるの
でそれは右ソフトに於いて5IOKは決してシフトされ
てはならない。
従って、回路136はゼロを右ソフトでのSOK即ちデ
ジットマスクの端に挿入せしめるのでSOビットViS
IOセルには書込1れない。
デジットマスク論理回路 次にデジットマスク論理装置について述べると、デジッ
トマスク論理装置35ViSAMの一部即ちそれと結び
ついて同じ5O−8IO線101を使用する。
この回路装置は第9図に示すようす16個の可能なマス
クMO−N]5を発生し、各マスクは線に1.に2.に
4.に8に生ぜしめられる。
それと関連した16個の可能な定数のうちの一つを持つ
ことができ、全てのマスク及び定数はゲートプログラム
可能となっている。
16個のマスク及び定数は指令レジスタ31の指令語の
4ビツトによって画定される。
これら4ビツトIO1■1、I2.l3Vi指◆レジス
タからSAMのビットアドレス線101と結びつけた4
ビットレジスタ200に読出される。
このシフトレジスタは一連の8個の公知のインバータ2
01からなり、股間の連結はrIREGJ (指令レ
ジスタ)31からの入力線202に直列的に供給される
4状態時間の4ビツトに読出されるようにφ1、φ2で
クロックされているソフトレジスタは並列出力線203
に■0〜■3の真及び反転表示を与える。
これら出力性はl01IO,II、II、i−2等と記
号づけられている。
出力203V′iゲート206に於いて発生したSIO
φ3信号を用いて装置205によってPLAのエンコー
ダ部分でゲート操作される。
エンコーダ部分204はP拡散の16個の水平線207
金含み、一方垂直線203V′iこれらが連結するSA
Mのためのビットアドレス線101と同様に金属化スト
リップを表わす。
各線2071d左端の別々の負荷に連続され、右端はデ
コーダアレイ208に於いてφ3でゲート操作される。
IOから13上の4ビツトコードはゲー1209のパタ
ーン即ちP拡散207とVSS 間で作動可能なMOS
トランジスタを形成する「薄くされた酸化物」によって
画定される16個の線207のうちの一つを選択する。
例えば、指令語のデジツ1〜マスク部が「】3」即ち1
101であるとすると、1101にコード化された線2
10が附勢されて他は附勢されない。
LかLながら、この線は線101のゲート211によっ
て画定されるのである状態時間が存在している時のみし
か附勢されない。
例えば、マスク13即ちMI3V′iSO及びSlでの
べき指数のためのものであってもよいので、ゲートはS
IO及びSOを除く全てのアドレス線101上にある。
これはIO〜II3が1101である時にSO及び81
時にのみデコーダ208の線212に出力を出す。
線213はゲートが全ての位置にあるので線207上の
任意のデジットマスク信号のための出力を出す。
この出力はφ1でゲ゛−1−操作され、線214(これ
はデジットマスク論理ゲート215及び他の位置に行く
)でDM即ちデジットマスク信号となる。
同様1選択器ゲート23の線1291(対する定数即ち
に入力が生ぜLめられる。
この実施例に於いて、 「1」の定数即ちに1が線21
7の上のゲート216によって発生せしめられる。
線212は金属化ストリップを線217V′iP拡散を
表わす。
φ1でクロックされた線217の出力は一組0NAND
ゲート218の一つに与えられ、従ってに1線129に
与えられる。
ゲート218に対する他の入力219V′iデジットマ
スク信号である。
通常、定数はマスクの第1のテ゛ジット時にカロえられ
るだけでなければならないためこのゲート操作構成は所
望しない時での定数の入力を阻止する。
ゲートされないデジットマスク信号は線213に接続さ
れる線220に与えられる。
この信号はフラッグ論理回路28に行く。
デジットマスク論理装置35はそれぞれが任意の組合せ
で選択さかた定数Kl、に2.に4゜K8全有し又は有
していない16個の異なったマスクを生じさせることが
できる。
これらマスク及び定数はエンコーダ及びデコーダアレイ
204及び205に於いてゲートプログラム可能となっ
ている。
第7図はデジットマスク論理装置35がプログラム化さ
れる一つの方法を示す。
状態タイミングマトリクス 状態タイミンクマトリクス222もSAM20の一体部
分である。
この装置はマスク発生器と同様に時間決めした信号を発
生するが、これらは指令語の■0から■3部分からの命
令時だけでなく指令サイクル毎に生じる。
線2231′iマスクズ」マスク保護を与えるためのデ
ジットマスク論理ゲート215への反転入力224の如
く及びフラッグ論理28の入力として、ンステムの数個
の点で使用されるSIO信号を出す。
線225はS9信号を出し、これは226で反転及びゲ
ート操作され。
デジット走査器44のための入力227となる。
線229に出力されるSho信号は入力及び条件論理回
路40に於いて使用される。
線230のShoからS7は表示器出力構成に於いて使
用される。
線231のSBL即ちSブランク信号はShoからSO
でrOJであり、Slから89では「1」である。
これは後述するように表示器走査及び出力として使用さ
れる。
重要な点はこれら信号が製造の際にゲートプログラム可
能なことにあるので、タイミングはンステム要求に従っ
て要求されることができる。
状態タイミングマトリクスの構造は米国特許出願第25
5,856号に述べられている。
この装置はプッシュプルマトリクスとして呼ばれている
出力線223.225等はP拡散のものであって金属化
線101との各交点に於いてプログラム可能なゲートに
よってVSS又はVOOに接続されてもよい。
円はP拡散223及びそれに続くものをvss K接続
される近接したP拡散線との間の金属線101下の薄く
された酸化物のゲート又は領域を表わす。
四角はVGGに接続されたP拡散線にゲートを表わす。
従って、出力線はゲートの位置による各状態時間時にV
SS又はVGG(Ill又はJOJ)D一方にドライブ
される。
S 10のような信号は、線232のようなアドレス線
101から直接得ることができるが、このような接続が
ゲートプログラム可能ではなくまた高レベル信号となり
えないということを注意されたい。
RAMのアドレスカウンタ 次にSAMアドレスカウンタについて述べると、アドレ
スカウンタ21は11の同等の段235から作られ、こ
のそれぞれはφ2及びφ4でクロック作動している相互
段を有する2つのインバータ段236を含む。
第2のインバータの出力は装置237に接続されまたク
ロック操作されるインバータ238を介して装置239
に接続される。
装置237と239はθ又は■88V?cその出力又は
アドレス線全交互に接続する。
θはそれがφ4時を除きVGGの近くのレベルになるよ
うに回路240において発生される。
この回路はθが接地レベルに6る際のφ4時の電力消費
を阻止する。
M2O3上のゲートはアドレスカウンタがOを循環させ
るようにし、とのOは右から左へ進みそれがSIO線に
至った後に開始する。
線101に生じる状態時間信号又V′iSOからSho
は状態時間サイクルのφ]、φ2、φ3時にのみ存在す
る。
デジット走査発生動作 次にデジット走査発生について述べると、デジット走査
fdsAMの一部であるD走査レジスフ45に沿ってデ
ジット走査レジスタ44に於いて発生される。
レジスタ45はフラッグレジスタと同様に11ビツトを
含み、SAMの残りの部分と同様にSO〜Sho信号に
よって逐次的にアドレスされる。
このレジスタは信号ビットを循環して各り時間を右シフ
l−して表示器走査全発生し即ち第3C図のンーケンス
のデータを出すように働く。
右シフt−U、出力線241をこの列のSAMセルから
ゲート242(φ2、φ3でクロック操作されている。
)を介して接続り線241のセルのビット読出しがそれ
を読出すのと同一の状態時間の間で線243を介して近
接するセルに戻して書き込はれるようKLで行なわれる
レジスタ内の1ビツトのみが「0」全読むことKなり、
これは線244及び245に出力金山す電力上昇クリア
回路の機能の一部をなす。
毎り時間に一度、ビットはレジスタ45の状態に応じて
S時間で線241に出て来るであろう。
線241のこの状態時間信号は3つの場所に接続される
線246に2つのインバータを介して接続される。
最初に、それはデジットを装置247によってセグメン
トデコーダ内にゲート操作して与えるように使用される
即ち、SAMが逐次的にアドレスされると、Aレジスタ
内の全てのテ゛ジットはセグメントデコーダ42に対す
る入力線120に存在するが、ただ一つのデジットがデ
コーダに入るように装置247を介してゲート操作され
る。
特定のデジットはレジスタ45からの出力が出力線24
1従って線246に生じるS時間による。
第2に、線246の信号はデジット走査レジスタ46を
始動するために使用される。
出力が線248のS9φ3と一致してS9で線246に
生じると、ビットは段251によって作られf′?:、
、9段レジスタ250の第1段に入る。
このビットはシフトレジスタ段251の他のゲート操作
線252が附勢される時のSOφ11でDlに出力全発
生させない。
D走査レジスタ251からの全ての他の出力は附勢され
る。
S9でのものを除くD走査レジスタ45からノ他の全て
の出力はデジット走査レジスタ44を影響しない。
線246の出力の第3の機能は出力PLA42の線25
3にセグメントデコーダ内於いて使用するためのDIO
信号を発生することにちる。
D]01d最初に線246の出力とSIOとの間の一致
を装置254によって検出し次いで装置255及び25
6に於いて(SO・・・−・・〉S8)φ1及びSIO
φ3でゲート操作することによって発生せしめられる。
D1信号はまたDIOから線257でも発生される。
これらのDJ及びDIO信号とそれらの相補信号はゼロ
抑制ラッチをリセツt−したりあるデジット上でブラン
キングすることを保障するような他の機能を行なうため
に使用される。
デジット走査レジスタ44は線248のS9φ3で線2
52の(Sl・・・・・−>S S )φ1でクロック
操作している中間段を有する9ンフトレジスタ段251
を含んでいる。
このレジスタVi9tでカウントL、 D走査レジスタ
45からの線246の出力と89との一致の後に始動し
、出力258にDl・・・・・・>D9信号を生じさせ
る。
出カバソファ259は大容量のキーボードスイッチマト
リクスをドライブするための適当な信号レベル、出力接
続等全島えるために必要である。
線410のDIO信号も昔たレジスタ44の出力段26
0で発生される。
この信号はタイムアウト時Ktr!存在しないので、2
53で発生されたDIOとは異なる。
線261からのD3からD9に対する段251のNAN
Dゲートへの入力は「DK待機」時にD3からD9を、
ブランクにするように働くので、DJ及びD2のものを
除くキースイッチ!riK線に入力を生じさせるように
は働らかない。
DK待機信号は論理アレイ28の4つの特別な指令のた
めのデコーダ263で生じ線262に出力される。
DK待機及び線231のSBL信号はゲート264への
入力として使用される。
DK待機バッファ265はタイムアウトのときにDK信
号をつ捷り線262の信号に応じてDK待機を発生する
DKV′i時間決めした信号とは異なり連続した即ちD
C!圧でちる。
従って単一のキースイッチは表示全回復させるようにタ
イムアウトのときに附勢される。
これldD出力回路全てをドライブする必要性を除くこ
とによって電力を節約する。
このピンアウトはまた試験モードに於いても使用するこ
とができる。
「試験」信号が線266に存在すると、指令レジスタ内
の語は線336を介して読出されることができる。
セグメントデコーダ 次にセグメントデコーダについて述べると表示器への出
力はセグメントデコーダ42により与えられる。
デコーダ42は第1のエンコード部分268と第2のエ
ンコード部分269とを有するプログラム可能な論理ア
レイである。
このプログラム可能な論理アレイは米国特許第3,70
2.985号に記載された型式のものである。
PLAのエンコーダ268は入力としてSIOφ3でゲ
ート操作された線120でのAレジスタ出力及び線12
1でのBl、B2を受け、特定のデジットが上述したよ
うに小さくなっていく順序で選択される。
従って、入力データ及びその相補データは入力270と
してエンコーダ部分268に生じる。
昔た。DIO及びD1人力はそれらの相補信号と共に線
253及び2577て生じる。
他の入力は線262からの線271でのDK待機と線2
72のゼロ抑制ラッチの部分とをそれらの相補信号と共
に含んでいる。
表示器のLのような直接的な低電圧指示が線273によ
って与えられる。
アレイは第4B図に関連して述べられたような所望の出
力セグメントにより線274のうちの選択したものを附
勢するためにゲートによってプログラム化される。
電力消費を押えるために、線274はクロック操作され
る負荷275によってSIOφ3でのみ耐裂され、線2
74は装置276をオンにするSh。
φ3でテ゛コーダ部分269に籐続されるだけでちる。
810φ3はプッシュプルマトリクス222からのSI
O出力223からの線277に発生される。
ゼロ抑制機能はデコーダ部分269の線279を含むラ
ッチによって行なわれ、これはゼロ又は十進小数点が生
じ次いでラッチが特定の走査サイクルでの後にこととと
くを表示するようにフリップするまで線272にフィー
ドバックとしてことととくをブランクにする。
ゼロ抑制は走査サイクル毎にリセットサれ、かつマイナ
ス符号又は他のアノデータが示されるように最も左のデ
ジットでかつAレジスタ内にゼロを除いて何もないとき
にゼロが最後の場所に示されるようKD9で無能化する
出力269は第4B図のコードを生じさせるようにゲー
トプログラムされる。
低電池指示が線273により出力バッファ279を介し
てSH上セグメント与えられる。
セグメント出力はセグメントドライバを必要としなくて
よい程に高い信号レベルを与える。
これらVilか0かの出力を与えるためにプログラム可
能である。
表示器のブランキング作用は線283のブランキング信
号によりドライブされる直列装置281と分岐装置28
2とによって与えられる。
直列装置281がオンつ昔りOが線283に存在しかつ
分岐装置282がオフの時にのみ出力が与えられる。
このブランキング信号は線271のDK待機又は線25
7のDlと線285の「表示器オン」信号と線231の
SBLとに応じて論理ゲート284で発生される。
「表示器オン」信号は特別な指令SNO及び(「試験」
のみならず)KO又はKPでの分岐に応じて「表示器オ
ン」ランチ268からの条件論理装置40に於いて発生
される パワーアップクリア 次にパワーアップクリアについて述べると、パワーアッ
プクリアラッチ288はアドレスレジスタ36.37を
全てゼロになるようにさせかつビットをD走査レジスタ
45に与えさせるように働く。
このラッチは常に電力がオンにされた時にセット状態に
なるようにして、線244に「クリア」信号を、線28
9に「クリア信号」を出すようにする。
更4こ、線257でのI) 1及び線290でのKOの
「AND処理」はクリアラッチをセットにする。
即ち、クリアキー「C」はI)I K Oでキーボード
マトリクス上に生じる。
クリアラッチ288は線289に「クリア」が線232
に810か線102にSAMアドレスカワンタ21への
フィードバックが、更に線291に〒1が生じたことに
よってリセットされる。
従って、リセットするためには、状態カワンタは1つ以
上の完全シーケンスに渡ってサイクリングしなければな
らない。
これは「クリア」線289を介してアドレスレジスタ3
6.37へ全てのゼロが加えられるための時間を与え、
これによりアドレスレジスタのための「l加算」即ち再
循環ループのゲート292にはゼロが加えられる。
アドレスレジスタが全ゼロ位置に戻った後に、プログラ
ムはそれがAレグ、Bレグ、フラッグ等をゼロにする一
連の指令によりサイクリングするようなものとなる。
ROM 次に読出し専用メモリについて述べるとROM30は3
520個の同等のメモリ素子300からなり各素子はX
線301がY線302と交差する位置でのゲート即ち薄
い酸化物の存在又は不存在によって画定される。
X線301は金属化スl−IJツブであり、Y線はP拡
散のものである。
公知のROMに於いては、接地線が各対のY線部ち出力
線に対して設けられているが、本発明6ζ於いては5個
(又は分割されるとしたら10個)のY線302に対し
て一つだけの接地即ちVSS線303が設けられている
従って、ROMはP拡散線の約40%が必要ないために
面積をより小にすることができる。
Yデコード理論装置39は一つの群内のY線のうちの一
つを選択する通常の機能を与えると共に選択されたY線
を出力線304に接続しかつ近接したP拡散線302を
VSS線303に接続する機能をも与える。
これら機能はYデコード理論装置39内に於いて適当な
パターンに並べられた多数のMOSトランジスタ305
によって与えられる。
これらトランジスタのゲートは線306のYアドレスレ
ジスタ37からの出力を受けるように接続されている。
3つのYアドレスビットA6.A7 、A8はROMの
11の位置のそれぞれのY線302の5つのうちの1つ
を選択するように使用され、この目的のために、これら
アドレスビット及びそれらの相補信号A、6.A7゜A
8はYアドレスレジスタ37からの6個の出力線307
に生じる。
線307のアドレス信号は線309の信号によってS3
φ4からS4φ3にクロック操作されるインパーク30
8を介して線306にゲート操作される。
線307は装置310によってS3φ4からS4φ3を
除く全ての時間でVDD即ち「0」になるようにされる
Xデコード部分308は12個のXアドレス線312の
6個のXアドレスビット及びそれらの相補信号を用いて
64個のX線301から一つを選択するように働く。
これらは装置313によってS4φlでXデコード部分
38の線312にゲート操作される。
線312は64個ものP拡散線314の金属化されたも
のである。
線314は装置315によって充電される。
装置315は2度反転されて線317に表われる線31
6からの信号を用いてS5φ3からS4φ3を除く全て
の時間でオンにされる。
線317の時間法めした信号は装置318によりS3φ
4からS4φ3を除く全ての時間で全ての線312をV
SSに接続するようにも働く。
線31γのこの時間法めした信号は更に、S3φ4から
S4φ3を除く全ての時間の差で装置319により全て
のY線302をVDDまで予備充電するようにも働く。
S3φ4からS4φ3の時に、Y線は浮動しており即ち
装置319はオフであってまた選択したY線は条件的に
放電せしめられる。
X線301は全て予備充電されないために電力を節約す
ることかできる。
X線301のうちの一つだけが線314のどれがXデコ
ーダ38に於いて選択されたかにより論理O即ち負電圧
となり、これは線320かVGGレベルである時のS4
φ2φ3時でのみ生じることになる。
X線301は装置321を介して線320に接続される
P拡散線314は装置321のゲートの金属化部に接続
され、装置321のP拡散のドレインは線301の如き
金属化部となっている。
装置321の一つだけは与えられたXアドレスに対して
VGGを有し、残りはデコーダのゲートのパターンを介
してVSSに短絡されることになる。
線320は論理装置322によってVSSとVGGとの
間をスイッチせしめられる。
装置322は線316のS3φ4〜S4φ3信号とφ2
φ3ではVSSφ4φlではVDDである線323での
信号とを受ける。
次にROMの作動サイクルについて説明する。
各指令サイクル即ち1)時間時に、S3φ4の直前の点
に於いて、全ての線314は「O」即ちVGGに充電さ
れ全ての線312はl即ちVSSに、全てのY線302
は0即ちVDDに、全てのX線301は線320を介し
てl即ちVSSに、全ての線306はl即ちVBBIこ
なり、また全てのYデコードトランジスタ305はオフ
にされる。
S3φ4で線316はl即ちVSSになり、装置315
によって線314をVGGから絶縁し、装置318によ
って線312をVSSから絶縁し、装置319によって
Y線302をVDDから絶縁し、更に装置310によっ
てVDDを線317から除去する。
X線301は全てl即ちVSSのままであるから、セル
300のどれも導通しない。
次に、S4φ1ではX及びYアドレスは装置313及び
325を介して線312及び307に与えられる。
線312のXアドレスはゲート326のパターンにより
、VGGに充電されたままである64のうちの一つの選
択されたX線であるものを除いて全ての線314をVG
Gに接続させる。
従って、装置321のただ一つのゲートはO即ちVGG
ではない。
この時に、Yデコーダ39の線306はROMの11個
のYセグメントのそれぞれに於いてY線302の5つの
うちの一つを選択するようなパターンとなった装置30
5を選択的にオンにすべくlとOとを有する。
線302のうちの4つのもの即ち選択されたX線のVS
S側のものはこの点でVSSまで放電する。
残りの他のものはそのままVDDに充電された状態にあ
る。
次に、S4φ2φ3の始めで線320は論理装置322
によって決定されるようなVGGになり選択されたX線
301はVGG即ち「0」0こなるので、残ったものは
装置321のうちの一つを除く全てがオフになるために
VSS に留まる。
これによりこの特定のX線301に対するROM30の
11の部分のそれぞれに於けるゲート300がオンにさ
れる。
ゲート300のパターンによって決定されるように、出
力線304のいくつかはゲート300と装置305を介
してIll即ちVSSまで放電せしめられ、他のものは
VDD即ち論理1に留まって、線304に時間短1間S
4φ2φ3にわたって持続する11ビット指令語を生じ
させる。
この語は線329に「ロード■」信号が生じた時に装置
328を介して指令レジスタ31?ことり入れられる。
ロードHj語かROMから読出されないようにし指令レ
ジスタに存在している語を再循環可能にする特殊な指令
が存在しない限り指令サイクル毎のS4φ3で生じる。
S3φ4−S4φ3信号の終りで、ROMはS3φ4の
開始の直前に存在したモードに戻る。
即ち、全ての線306はlとなり、全ての装置305は
オフとなり、装置315,318及び319の全てはオ
ンになり、線320はVSS になる。
従って、ROM及びそのアドレス回路装置はS3φ4−
84φ3ワインドワ時にのみ作動し、かつ特殊な予備充
電−放電モードで作動し、これは接地線に対する空間の
節約と共に速度、寸法及び電力必要量についての良好な
特性を与える。
指令レジスタ 次に指令レジスタについて述べると、指令レジスタ31
は11個の同等なシフトレジスタ段330からなる。
各段は2つのインバータを含み、その第1のものはφl
、φ2でクロックされ、第2のものはφ3.φ4でクロ
ックされている。
これら段は第5図に示されたような指令語の11のビッ
トに対応して10からIIOまで記号づけされている。
レジスタ31は路331を介して再循環し、その際ビッ
トは各状態時間に対し1段進むよう6どなっており、従
って同一の語は新しい語がROM30から装置328に
より出力線304に出力されるまでIRE(2)勾に留
まっている。
IREGからの出力はItから■5をXアドレスレジス
タ36にアドレスビットA1からA5として接続する線
332とI6.I7及び■8をアドレスレジスタ3γに
アドレスビットA6 、A7 、A8として接続する線
333とを含んでいる。
これら線332゜333は「飛越し」信号が線335に
生じた時のみオンになる装置334を介してアドレスレ
ジスタに連結される。
「飛越し」はS3φlφ2の時に生じ、アドレスをアド
レスレジスタにローデングし、S3〆314で1段シフ
トさせ、次いで54utでX及びYデコーダに入るよう
ケート操作する。
「IREGJ(指令レジスタ)からの他の出力はl)
K待期論理装置の人力である線336を通るIOからの
接読を含み、これによって「■RGE」から試険時にD
Kピンを介して指令が読出される。
また、I3は線337を介してフラッグ及び演算制御論
理アレイ28及び25のための5段シフトレジスタ33
6に接続され、その結果ピッド■4からI8はこれら論
理アレイでデコーデングされるべくIREGから直列的
に読出されることができる。
この読出し操作は5つの状態時間S6φ1から810φ
lを必要とし、次いでS3φ1φ2で線339の信号は
ピッ1−I4からI8をデコーデングのためにフラッグ
及び演算論理アレイに入るようにケート操作する。
IREGからの更に他の出力はI7.I8.I9及びI
10を入力及び条件論理回路40に接続して第5図のク
ラス機能を与えるようにする4つの線340の組である
I9は更に線341を介してデジットマスク論理装置3
5のレジスタ200の人力202に接続し、IO,II
、I2及びI3をデコーディングのためにこのレジスタ
に読出すことかできるようにする。
IOGまS7φ1で線341に出て行き、これはSlO
φ1でI3まで続き、次いでビットが装置205によっ
て810φ3でアレイ204に入るようにゲート操作さ
れる。
IRBGからの他の出力はI9をYアドレスレジスタ3
7への入力に接続する線342である。
9ビツトアドレスはIREG31からS3φ1φ2でア
ドレスレジスタ36.37にローディグされ次いでアド
レスデコーダにローディングする前に一度シフトされる
ということを注目されたい。
従って、AOに直接ローディングされるビットはない。
次に指令レジスタの動作のシーケンスについて述べる。
各指令サイクルのSlOで、指令語はレジスタ200及
び338内に直列的に読出されており、従ってデコーデ
ィングのため及び次の指令サイクルのSOでの開始を実
行するため810φ3でマスク、フラッグ及びALU論
理アレイ35゜28及び25のそれぞれのデコーダ位置
にダンプされる。
次ぎに、S3φlφ2で、飛越しを行なわなければなら
ない場合に、プログラムが飛越すべきアドレスはIRE
Gから線332.333,342を介してアドレスレジ
スタ36及び37に転送される。
このアドレスは一度シフトされてS4φ1で始まるよう
デコーデングされ、かつデコーディングされたアドレス
でROMに於いて見出された11ビット指令語はS4φ
3で「ロード」■か生じた際に線304を介してI R
E(Nにローディングされる。
飛越しを実行しなくともよい場合は、アドレスレジスタ
は1だけ進められてS4φ1で始まり次のサイクルのS
4φlの直前に終るようになる。
新しいアドレスは同じ態様でデコーデングされ新しい指
令後がS4φ3でIRE(4)こローディングされる。
サイクルの残りは語かIRE(2)勾を再循環するとI
RBG力)らの指令語をレジスタ200及び338に直
列的にローデングするために使用される。
アドレスレジスタ 次にアドレスレジスタについて述べると、アドレスレジ
スタは2つの部分、即ちXアドレスレジスタ36とYア
ドレスレジスタ37とからなり、これらは11段シフト
レジスタとして働き、各段はφ3及びφ4でクロックさ
れて結合した2つのインバータ343を有している。
Yレジスタ37の最終段の出力(ま線344を介してレ
ジスタ36の初段の人力に直接接続されている。
LSE即ちA 11)で入力するビットはしまいにはY
レジスフ3フのM S ])に行く。
アドレスレジスタは飛越し又は分岐が実行される時を除
き通常lだけ進められ、このlの進みはXレジスタ36
のL S I)段即ちAO段の出力を線345を介して
人力及び条件論理装置40の論理装置346に接続しか
つ論理装置346の出力を線347を介してYレジスタ
37の入力に接続することによって行なわれる。
水力式の重要な特徴は同じ指令がIREG31にある間
はアドレスレジスタ36.37かオーバーフローするま
で繰返し進められることができるといったことにある。
これにより、アドレスレジスタは表示器タイムアウト機
能を与えるためにカワンタとして使用できるようになる
入力及び条件論理回路 次に人力及び条件論理回路について述べると入力及び条
件論理回路40はキーボード人力18と線340で指令
語の4つのMSI)ビットとを受けて分岐操作とこの特
性の機能を制御する。
キーボード人力18はKN線350(これには数字lか
ら9の全てか現われる。
)と、KO線351(これにはゼロ及び演算キーが現わ
れる。
)と、KP線352 (プログラムに応じである場合に
於いては使用されない。
)とを含んでいる。これらそれぞれはそれぞれ線353
,354,355にKN。
KO,KPを与えるために反転される。
キーボード人力情報は後述するように種々の場所に於い
て使用される。
線340は17.I8.I9及び110を一組のインバ
ータに与え、この出力は線316のS3φ4−S4φ3
信号から発生されかつ反転されてS4φ4ゲ一テイング
信号を生じさせるようにφ2及びφ4でクロックされる
線357の時間決めした信号によって装置356でゲー
ト操作される。
ゲート操作した■7から「面信号は線358に生じる。
この線は「1に分岐」及びKOに分岐又はKPに分岐を
決定する論理装置359と360に行く。
「lに分岐」論理装置359への他の入力は条件ラッチ
361からのものである。
この条件ラッチは多数の可能な人力σこよってセットさ
れるラッチ又は2安定形回路である。
1つの入力4tALU22のゲート363からの線36
2のC/B信号である。
条件ラッチは例えばオーバーフローであるような場合あ
るいは小数部かOであるかどうかを調べるための検査の
際のようなケタ上げ(又はケタ下げ)がある場合にマス
クの立下り端でこの路によってセットされる。
条件ラッチをセットする他の入力はあるフラッグが存在
した時などにフラッグ論理回路28からの線364のV
信号である。
条件ラッチをセットする第3の入力365はSNO及び
線367からの任意のキーの操作の指示に応じるゲート
366からのものである。
条件ラッチはIIOである入力368ζこよりリセット
される。
即ち、ラッチは分岐のための指令によってリセットされ
る。
線358からのI9及びIIOは線371を介してAC
U−PLA25を線372を介してフラッグPLAを附
勢するように働く制御回路370への入力としても与え
られる。
第5図に関連して述べたように、IIO及び■9か00
又は01であれば分岐操作が実行され、lOであるなら
フラッグ操作が、11であるなら演算操作か実行される
線371及び372でのこれら信号は線373でのSO
φlタイミング信号によってゲート操作され、この結果
、指令サイクルの始めに制御か行なわれる。
線3γ1のACU制御信号は線214のマスク信号と共
にACU22のケートに与えられ線375にACU論理
25からのある出力を無能化するための信号を出力させ
る。
特に、左シフト、右シフト、AとBの交換TをA、B又
はCに置換することは全て無能化されるか、A、B又(
まCをX又はY等に置換することはこれら機能かレジス
タ内のデータを妨害しないため無能化される必要はない
線372のフラッグ論理制御信号はフラッグ論理回路2
8のゲート376に与えられ、その出力は「フラッグA
及びBを再循環」の操作を除き(これは他のフラッグ操
作が生きている時にのみ線378によって無能化される
)全てのフラッグ操作を無能化するように働く。
フラッグ活性化ケ−1376はまたマスク論理装置35
からの線220のマスクを受ける。
次に飛越し論理について述べる。
1335の「飛越し」信号はゲート380<こ於いて発
生する。
このゲートは線381の時間決めした信号によってクロ
ックされるので「飛越し」はS3φlφ2で生じる。
更に、タイミングはφl、φ2ではVSS でありφ
3.φ4ではVDDである入力382によっても決定さ
れる。
ゲート380への主たる入力383はゲート384から
のものであり、このゲートは次のものを含む多数の条件
に応じる。
即ち、線385で示されたアドレスレジスタのオーバー
フロー、線386での任意のキーの操作の指示、線38
7でのrNO待機」指令、線388での「1)K待機」
、線389に現われるrKO又はKPに分岐」論理装置
360の出力、及び線390に現われる「1又はOに分
岐」論理装置359の出力である。
線389での出力は、S2φ2でゲート操作される線3
45からの線391のKO,線392の■7及び線35
8の一つの■7、S2φ2でゲート操作される線355
でのKP、線358の一つの■8、線358からの■9
及びIIOを含む多数の条件に応じる。
この構成は110.I9.I8.I7が1000であっ
てキーがKOに押されると又はIIO,I9゜I8.I
7がtooiであってキーがKPに押されると飛越しを
生じさせる。
同様に、「lに分岐又はOに分岐」論理装置359の出
力390は条件ラック361からの出力393及び線3
58の■9及びIIOとに応じる。
従って、■10及び■9がOOの時に条件ラッチかりセ
ットされていれば「飛越し」が生じ、:[lO,I9か
01である時に条件ラッチ361かセットされていれば
「飛越し」が生じる。
人力及び条件論理装置40の他の部分は指令レジスタに
ローディングさるべきアドレスされた位置でのROM3
0の指令語読出しを可能にする「ロード」■命令を線3
29に発生する構成である。
「ロード」■はゲート400から発生される。このゲー
トは線316のS3φ4−84φ3タイミング信号及び
読出し論理装置401の出力に応じる。
該読出し論理装置401への人力は、線385のアドレ
スレジスフオーバーフロー指示又は線386の任意のキ
ー操作指示に応じるゲート403からの入力402、線
387の「NO待期」、線388の「l) K待機」、
線367の任意のキー操作指示、ゲート405からの線
404の反転された指示を含む。
ゲート405は、線371のACU活性化及び線408
の「走査」Nに応じるACU−PLA25(線373か
らのSOφlによってゲート操作される。
)のゲート407からの線406の指示、線409の「
同期」又は「走査JNOの指示、デジット走査発生器4
4からの線410のi) l O、S 2φ2でゲート
操作される線353からのKNキー操作の線411の指
示に応じる。
アドレスレジスタ36.37のための市1脚装置346
はlを加えるかどうかを指示する線404の指示に応じ
る。
「同期」が論理装置263内でデコードされると、lを
カロえることは1)10まで行なわれないので、アドレ
スレジスタは「同期」アドレスの後]〕IOまでlのア
ドレスをオンに留める。
同じことか特別の指令SNOに対しても生じる。
同様に、同じことか、再度KN入力が生じたら即ち数字
キーが押されたら開始を進めることを除いて、3頁に対
しても生じる。
フラッグレジスタ及びフラッグ論理回路 次にフラッグレジスタ及びフラッグ論理回路について述
べると、SAM20に収容されたフラッグ入レジスタ2
6及びフラッグレジスタ27はlビット状態情報を含む
11ビツトレジスタである。
SAM20からの出力線440及び441はフラッグ論
理回路28へのフラッグA及び79778人力に直接接
続され、従ってフラッグは状態時間と同期して一度に一
つ各指令サイクルを連続して読出す。
同様に、フラッグA及びフラッグB出力442及び44
3はフラッグ論理装置からSAMの人力線444及び4
45に接読される。
従って、各指令サイクル時に、フラッグはフラッグ論理
装置を介して伝達され、線446(金属化されたもので
ある。
)のビット■4から■8のフラッグ指令に応じてセット
され、リセットされ比較されあるいは単に再循環される
447のような水平線は菱形か示される所では破断され
ていて、伺も示されない所では連結したP拡散のもので
ある。
セットしたフラッグA及びフラッグBは分離した線44
7によって与えられ、リセットA及びBは線448によ
って与えられ、トグルA及びBは線449によって与え
られ、再循環は線450の全てによって与えられ、B対
Aは線451によって与えられ、A対Bは線452によ
って与えられ、AとBの比較は線453によって与えら
れ、試験信号Aは線454によって与えられ、試1験信
号Bは線455によって与えられる。
フラッグ試1験又は比較の結果は論理装置456によっ
て、条件ラッチ361に行く線364にF信号を出す。
特殊な指令即ちNO待機、1) K待機、同期及びNO
定走査論理装置263に於いて処理され、これは入力及
び条件論理回路40に行く出力460を生じさせる。
演算制御論理回路 次に演算制御論理について述べると、ACU論理アレイ
25は■4から■8まで及びそれらの相補信号である入
力446を有するプログラム可能な論理アレイからなる
このアレイの第1の部分470の線446上のゲートは
32の線471の一つを選択するように機能する。
これら線471は電力消費を押えるためにプッシュプル
マトリクス220からのSIO出力223により発生さ
れる線473上のSIOφ4でクロックされた負荷47
2を有する。
P拡散のものである線471はアレイの第2の部分47
5への入力金属化線474になる。
ゲートは線476に出力を出すように線494の下に選
択的に位置決めされ例えば線125−128特に選択器
ゲート及び演算ユニット22に対する制御を与える。
線476は再度電力消費を押えるように装置479又は
480によって入力及び出力で線477のSOφ1又は
線478のSlφlのいずれかでクロックされる。
タイムアウト 次にタイムアウトについて述べると、表示器出力は電力
を節約し電池寿命を押すために15ないし20秒のよう
な与えられた時間期間の後にオフにされる。
これはアドレスレジスタがオーバーフロ一時るまで各指
令サイクルについて一度進みつづける間に同じ指令か「
ロードJIREG 31を無能化することによって達成
される。
これは211個のD時間つまり約172秒カワン1−す
る。
オーバーフロ一時には、IREGはSAMレジスタの1
つの位置を進めさせサイクルを約40回の間従って20
秒反覆させる次のアドレスとしてアドレスレジスタ36
.37ヘローデイングされる。
試験回路装置 次に試験回路装置について述べるとMOSチップの製造
完了時に、ユニットをそれらが適切に働くかどうかを検
査するための幾つかの手段が与えられなければならない
第6図の装置は約7000個のMOSトランジスタと多
数の相互接続部と他の障害が起り易い個所を含んでいる
これらの全てはユニットか使用できるためには良好なも
のでなければならない。
従来に於いて、キーボード入力を疑似させるためにに人
力に情報を読出してその出力を見ることによってユニッ
トか試験されていた。
これは可能な計算ルーチンの全てにわたって行なうには
相当の時間を要するために試験時間を数秒までに縮める
べく妥協がなされる。
これはある装置にとっては欠点個所を見のがして試験し
てしまうことになってしまう。
本出願の方式の重要な特徴は試験回路装置を含ませたこ
とにある。
人力482はこの試験装置を附勢する。
この入力は線266を介して])K出力に接続されてI
)K出力を阻止しかつ線336のIREG出力がDK出
力論理483を通るようにする。
「試験」信号は更に線484を介して入力及び条件論理
回路の3個のNANO,)ゲート485の組に接続され
る。
これらゲートは他人力で線350,351及び352か
らのKN、KO及びKPを受ける。
これらゲートの1つからの出力486はアトシスがデー
タ処理モードとは異なる試験モードに於いてKO大入力
らゲート292及び線347を介してアドレスレジスタ
36,37に読出されるようにする。
また、KN人力を受けるゲー1−485からの他の出力
487は、第6Q図の論理回路346に与えられ、アド
レスレジスタの項で前述した線345及び線34γを介
しこの論理回路346に接続されているアドレスレジス
タ36.37の進みを禁止する。
ゲート485の他の1つの出力は試験モードに於いてK
P人力からの「飛越し」を制御する。
即ち、この出力は試1験モードにおいて第6P図のゲー
ト380の出力線335に「飛越し」の信号を発生する
出力線335は、第6S図のYアドレスレジスタ37及
び第、6 R図のXアドレスレジスタ36に接続されて
いるので、飛越し論理の項及び指令レジスフの項で前述
したように、「飛越し」を制御する。
その結果、ROMの項で前述した通常の演算操作、即ち
ROMから読み出された指令語の実行は、試験モードに
おいては不可能となる。
試1験入力484はまだ論理ゲー1〜284の制御下で
バッファ280を介して表示器出力を行なわせるように
働く「表示器オン」信号をゲート488を介して線28
5に出力する。
入力484は更にゲート489及び線290を介してク
リアラッチ288をセットするように働く。
クリアランチ288がセットされると、既にパワーアッ
プクリアの項で説明した様に、アドレスレジスタ36お
よび37は全てゼロになり、ビットが1)走査レジスタ
45に与えられる。
この様に、KNNa2O2データ処理モードのもとでは
、「人力及び条件論理回路」の項で述べたように数字の
入力に使用されるのに対し、試験モードのもとでは第6
Q図のゲート292、線347、第6S図のYアドレス
レジスフ3フ、1344、第6R図のXアドレスレジス
タ36、線345、第6Q図に戻ってゲー1−346、
ゲー1292というループにおける通常のインクリメン
ト動作を禁止する信号を線487を介しゲート346に
供給する。
またKO線351はデータ処理モードでは前述のように
ゼロ及び演算キーの信号に使用されるのに対し、試験モ
ードのもとではROM30のテストの為のアドレスをア
ドレスレジスタ36.37に供給する。
更に、KP線352は、データ処理モードのもとでは特
別なプログラムの要求するキーボードのキーに応答する
為に使用されるのに対し、試験モードのもとではゲート
485を介して「飛越し」の制御、即ち飛越し論理を禁
1(二するのに使用される。
クロック発生器 次にクロック発生器について述べると、本発明の計算器
チップの特徴の一つは、ワンチップ発振器及びクロック
発生器を設けることにある。
従来の計算器チップに於いては、これら素子は多数の個
別部品を必要とする外部回路によって与えられていた。
第6A〜第6U図の方式は100から160 KJ(z
を発振し第3A図のクロック信号φを発生する発振器4
90を含んでいる。
人力ピンφCはクロック周波数をわずかに変えるように
使用することができるように設けられている。
内部クロックでのIE常作動に対して、φCピンは1.
00にオームの抵抗を介してVDDに接続している。
発振器490の出力は線491を介してクロック発生器
492の入力に接続されている。
クロック発生器492は第3A図に示されかつシステム
全体で使用されるφA及びφBを発生する第1の部分4
93と同様φl、φ2.φ3及びφ4を発生する第2の
部分494とを含んでいる。
クロック〆は外部素子、即ちチップの外1則にありチッ
プと同期されなければならないプリンタ又は他の装置に
クロック周波数を与えるように機能することができる外
部ピン495にも接読される。
他に、このピンは周波数又は同期が外部から与えられな
ければならない場合にクロック信号を入力するようにも
使用される。
この場合、φCピンはVSSになるように接地され、か
つφC信号がピン495に供給される。
これは発振器490をオフに遮断し、外部クロックによ
って部分493を制御する。
製造法 次に製造法について述べると、上述した計算器チップは
Pチャンネルプロセスを使用する大規模集積化へ/JO
Sシリコンチップに於いてイオン打込みデプレッション
ローデング装置を用いて製造されるようにした。
これは標準のPチャンネル静的ローデング装置に比較し
て与えられた作動速度のために要する電力をかなり減少
すると共に使用される寸法及びシリコン領をも減少させ
る。
静的ローデングが必要とされないほとんどの場合に第7
図によって例示されたようなレシオレス回路が使用され
る。
本発明の実施例は以上の通りであるか、本発明の重要な
構成要素を実施例に即して整理すると次のようになる。
(1)多数の指令語を記憶する読取り専用メモリは、第
6R,68,6T、6U図のROM30という例で示さ
れている。
(2)この読取り専用メモリ30の中の位置を規定する
アドレスレジスタ手段(シ、第6S図のYアドレスレジ
スタ37及び第6R図のXアドレスレジスタ36という
例で示されている。
(3)テストモード操作において特定のアドレスを上記
アドレスレジスタ手段に読みこむ手段は、第60図のK
O入力端子、これに続くインバータ(KO信号を作る)
、線351、第6P図の線351、NANl、)ケート
485の中段ゲート、線486、第6Q図の線486、
ケート292、線347という例で扇され、テストの為
のアドレスはこの経路を通つC線347から第6S図の
Yアドレスレジスタ37と第6R図のXアドレスレジス
タ36とに読みこまれる。
(4)読取り専用メモリ30から指令語を受ける回路手
段は、第6R,68図の指令レジスタ31という例で示
されている。
(5)上記回路手段31の受けた上記読取り専用メモリ
30からの指令語を外部装置に読出す手段は、第6R図
の指令レジスタ31の出力に接続された線336、第6
0図を横切る同じ線336、第6■図の1)K出力論理
483という例で示されている。
(6)テスト信号(第60図の入力482から与えられ
る)に応答して、半導体チップ内の出力回路(第6■図
のl) K出力論理483)を切換え、上記回路手段3
1の受けた上記読取り専用メモリ30からの指令語を、
上記出力回路483を介し外部装置に読出す手段は、テ
スト人力482からDK出力論理483のゲートに入る
線266として例示されている。
本発明によれば次のような優れた作用効果を得ることが
できる。
(a)ROMの試験を行うにあたり、特定のアドレスか
ROMに与えられるので、ROM指令語の試験がキーボ
ード人力を擬似させることなく独立して行うことができ
る。
(b) その結果1.ROMの試験を正確にまた迅速
に行うことができる。
(c)データ処理装置用半導体チップは、ROM以外に
ALU、RAMあるいは制御論理回路を含むことか多く
、これらはROM設計の前に充分試験がなされる。
ROMはこの半導体チップの応用に対応して種々のプロ
グラムを使用者の要求により糺み込む。
従ってこの種の半導体チップの生産過程では、ROMの
内容が変更される毎にテストが要求される。
しかし、本発明ではそのようなROMのテストが他の回
路から独立して行うことかできるので他の回路のテス1
へを繰返すことなくテスト工程が簡略化される。
(d) テストの為の構成要素を半導体チップの中に
容易に絹み込めるので、信頼性の高いROMを含むデー
タ処理用半導体チップを生産することかできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のポータプル形電池作動の電子計算器の
斜視図、第2図は本発明の計算器方式の簡略化したブロ
ック図、第3A図〜第3C図は本発明の方式の種々の部
分に於いて使用されるタイミングのための電圧対時間の
グラフを示すタイミング図、第4A図〜第4B図は表示
器の出力フォーマットの図及び表である。 第5図は本発明方式に使用される指令語の形成を示す図
、第6図は第6A図〜第6U図のための配置図、第6A
図〜第6 TJ図は本発明の計算器方式の回路図、第7
A図〜第7S図は第6A図〜第6U図に使用された論理
機能の詳細な回路図、第8図は第2図及び第6A図〜第
6 U図と共に使用されるキーボード入カマトIJクス
の図、第9図は本発明の一実施例に於いて使用するデジ
゛ノド及びフラッグマスクの表、及び第10図は本発明
の電子的計算器の全体を細大れているMO8/LSI半
導体チップの製造の際の金属化工程に対して使用される
フォトマスクの拡大図である。 符号の説明、図で20は逐次的にアドレスされるメモリ
(CAM)、23.24は選択器ゲート、40は人力及
び条件論理回路、42はセグメントデコーダ、44はデ
ジット走査発生器、45は1)走査レジスタを示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 データ処理装置用半導体チップにち・いて、(イ)
    多数の指令語を記憶する読取り専用メモリ;(ロ)上記
    読取り専用メモリの中の位置を規定するアドレスレジス
    タ手段; (ハ)テストモード操作に釦いて特定のアドレスを上記
    アドレスレジスタ手段に読みこむ手段;に)上記読取り
    専用メモリから指令語を受ける回路手段; (羽 上記回路手段の受けた上記読取り専用メモリから
    の指令語を外部装置に読出す手段;を具備し。 (へ)通常のデータ処理モードとは異なるテストモード
    操作を可能とした半導体チップ。 2 データ処理装置用半導体チップにおいて、(イ)多
    数の指令語を記憶する読取り専用メモリ;(ロ)上記読
    取り専用メモリの中の位置を規定するアドレスレジスタ
    手段; (/→ 上記半導体チップをテストモードにするテスト
    信号を受け、該テスト信号に応答して特定のアドレスを
    上記アドレスレジスタ手段に読みこむ手段; に)上記読取り専用メモリから指令語を受ける回路手段
    ; (羽 上記テスト信号に応答して、上記半導体チップ内
    の出力回路を切換え、上記回路手段の受けた上記読取シ
    専用メモリからの指令語を、上記出力回路を介し外部装
    置に読出す手段;を具備し。 (へ)通常のデータ処理モードとは異なるテストモード
    操作を可能とL&半導体チップ。
JP55180263A 1973-09-24 1980-12-19 デ−タ処理装置用半導体チツプ Expired JPS5832423B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US400473A US3892957A (en) 1973-09-24 1973-09-24 Digit mask logic combined with sequentially addressed memory in electronic calculator chip

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS56162159A JPS56162159A (en) 1981-12-12
JPS5832423B2 true JPS5832423B2 (ja) 1983-07-13

Family

ID=23583765

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP55180263A Expired JPS5832423B2 (ja) 1973-09-24 1980-12-19 デ−タ処理装置用半導体チツプ

Country Status (5)

Country Link
US (1) US3892957A (ja)
JP (1) JPS5832423B2 (ja)
BR (1) BR7310257D0 (ja)
CA (1) CA1013477A (ja)
ZA (1) ZA739464B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61277017A (ja) * 1985-05-31 1986-12-08 Nogyo Kikaika Kenkyusho 流量測定方法
JPH039219A (ja) * 1989-06-05 1991-01-17 Sinto Brator Co Ltd スチールショット材の流量計測法

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4200926A (en) * 1972-05-22 1980-04-29 Texas Instruments Incorporated Electronic calculator implemented in semiconductor LSI chips with scanned keyboard and display
US4020467A (en) * 1973-09-28 1977-04-26 Sharp Kabushiki Kaisha Miniaturized key entry and translation circuitry arrangement for a data processing unit
US4292624A (en) * 1974-10-25 1981-09-29 Serp William K International Morse Code number generator
GB1505535A (en) * 1974-10-30 1978-03-30 Motorola Inc Microprocessor system
US4021781A (en) * 1974-11-19 1977-05-03 Texas Instruments Incorporated Virtual ground read-only-memory for electronic calculator or digital processor
US3988717A (en) * 1975-08-06 1976-10-26 Litton Systems, Inc. General purpose computer or logic chip and system
JPS5222433A (en) * 1975-08-13 1977-02-19 Sharp Corp Display unit
US4012722A (en) * 1975-09-20 1977-03-15 Burroughs Corporation High speed modular mask generator
GB1540923A (en) * 1975-12-01 1979-02-21 Intel Corp Programmable single chip mos computer
US4306163A (en) * 1975-12-01 1981-12-15 Intel Corporation Programmable single chip MOS computer
US4179746A (en) * 1976-07-19 1979-12-18 Texas Instruments Incorporated Digital processor system with conditional carry and status function in arithmetic unit
US4258429A (en) * 1976-08-09 1981-03-24 Texas Instruments Incorporated Multiphase clocking for MOS electronic calculator or digital processor chip
US4144561A (en) * 1977-07-08 1979-03-13 Xerox Corporation Chip topography for MOS integrated circuitry microprocessor chip
US4171539A (en) * 1977-12-19 1979-10-16 The Bendix Corporation Power strobed digital computer system
US4314353A (en) * 1978-03-09 1982-02-02 Motorola Inc. On chip ram interconnect to MPU bus
US4354228A (en) * 1979-12-20 1982-10-12 International Business Machines Corporation Flexible processor on a single semiconductor substrate using a plurality of arrays
US4335710A (en) * 1980-01-16 1982-06-22 Omnitronics Research Corporation Device for the induction of specific brain wave patterns
US4433378A (en) * 1981-09-28 1984-02-21 Western Digital Chip topography for MOS packet network interface circuit
US5165086A (en) * 1985-02-20 1992-11-17 Hitachi, Ltd. Microprocessor chip using two-level metal lines technology
JP2583525B2 (ja) * 1987-09-30 1997-02-19 健 坂村 データ処理装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3760171A (en) * 1971-01-12 1973-09-18 Wang Laboratories Programmable calculators having display means and multiple memories

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61277017A (ja) * 1985-05-31 1986-12-08 Nogyo Kikaika Kenkyusho 流量測定方法
JPH039219A (ja) * 1989-06-05 1991-01-17 Sinto Brator Co Ltd スチールショット材の流量計測法

Also Published As

Publication number Publication date
US3892957A (en) 1975-07-01
JPS56162159A (en) 1981-12-12
ZA739464B (en) 1974-11-27
BR7310257D0 (pt) 1974-11-12
CA1013477A (en) 1977-07-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5832423B2 (ja) デ−タ処理装置用半導体チツプ
US4021781A (en) Virtual ground read-only-memory for electronic calculator or digital processor
US4156927A (en) Digital processor system with direct access memory
US4179746A (en) Digital processor system with conditional carry and status function in arithmetic unit
US3934233A (en) Read-only-memory for electronic calculator
US4074351A (en) Variable function programmed calculator
EP0549949A2 (en) Built-in self test circuit
US4021656A (en) Data input for electronic calculator or digital processor chip
US4037090A (en) Multiphase clocking for MOS
EP0303009A2 (en) Signal generator for circular addressing
US6650317B1 (en) Variable function programmed calculator
JP2612618B2 (ja) 半導体集積回路装置
US3991305A (en) Electronic calculator or digital processor chip with multiple code combinations of display and keyboard scan outputs
US4078251A (en) Electronic calculator or microprocessor with mask logic effective during data exchange operation
US3988604A (en) Electronic calculator or digital processor chip having multiple function arithmetic unit output
US3932846A (en) Electronic calculator having internal means for turning off display
US4598383A (en) Combination of a data processor with a switch means
EP0358773B1 (en) Microcomputer
US20210326109A1 (en) EXTENDABLE MULTIPLE-DIGIT BASE-2n IN-MEMORY ADDER DEVICE
US3818441A (en) Key input circuit system for electronic apparatus
US3987416A (en) Electronic calculator with display and keyboard scanning signal generator in data memory
US4024386A (en) Electronic calculator or digital processor chip having test mode of operation
EP0266866B1 (en) Dual mode-increment/decrement n-bit counter register
US4089062A (en) Switching control circuits for electronic calculator with push-button on-off system
US5175753A (en) Counter cell including a latch circuit, control circuit and a pull-up circuit