JPH1130591A - Method and device for inspecting film sheet defect - Google Patents

Method and device for inspecting film sheet defect

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JPH1130591A
JPH1130591A JP9186526A JP18652697A JPH1130591A JP H1130591 A JPH1130591 A JP H1130591A JP 9186526 A JP9186526 A JP 9186526A JP 18652697 A JP18652697 A JP 18652697A JP H1130591 A JPH1130591 A JP H1130591A
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JP
Japan
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film sheet
defect
signal
linear array
video signal
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JP9186526A
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Japanese (ja)
Inventor
Nobuyoshi Hayama
信義 羽山
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Asahi Chemical Industry Co Ltd
Original Assignee
Asahi Chemical Industry Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and device for film sheet defect inspection that can precisely inspect an air bubble defect, a foreign matter defect, a pinhole defect, etc., generated when a transparent or translucent film sheet, etc., is manufactured. SOLUTION: On one surface side of a film sheet 3, which travels along two rolls 1 and 2 arranged in parallel at a certain interval, a line type light source 5 is arranged and on the other surface side, a linear array camera 7 is arranged; and a 1st polarizing plate 8 is arranged between the film sheet 3 and line type light source 5 and a 2nd polarizing plate 9 is arranged between the film sheet 3 and linear array camera 7. The deviation angle θ of the polarizing directions of the 1st and 2nd polarizing plates 8 and 9 is set to less than ±20 deg. and a detecting circuit 10 is provided which detects as a defect a dark part signal in the camera output video signal 22 outputted by the linear array camera 7.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、透明或いは半透明
のフィルムシート等を製造する際に発生する気泡欠陥、
異物欠陥或いはピンホール欠陥等の欠陥を検査するフィ
ルムシート欠陥検査方法及びフィルムシート欠陥検査装
置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a bubble defect generated when a transparent or translucent film sheet or the like is produced,
The present invention relates to a film sheet defect inspection method and a film sheet defect inspection device for inspecting a defect such as a foreign matter defect or a pinhole defect.

【0002】[0002]

【従来の技術】透明或いは半透明フィルムシート等を製
造する際、製品原料の品質、原料溶融からフィルム化に
至る製造プロセスでの各種要因により気泡欠陥、異物欠
陥、ピンホール欠陥等の様々な欠陥が発生する場合があ
る。これらの欠陥は、その後の成形加工後の最終製品の
性能を低下させる原因となるため、フィルムシート製造
工程でオンライン検査し、発生した欠陥のフィルムシー
トの巻き取り方向位置、フィルムシート幅方向位置を割
り出し、情報提供することが求められる。
2. Description of the Related Art When manufacturing transparent or translucent film sheets, various defects such as bubble defects, foreign matter defects, and pinhole defects are caused by various factors in the manufacturing process from the raw material quality and raw material melting to film formation. May occur. Since these defects cause the performance of the final product to deteriorate after the molding process, it is inspected online in the film sheet manufacturing process, and the positions of the defects in the winding direction and the width direction of the film sheet are determined. It is necessary to determine and provide information.

【0003】製造巻き取り途中でのオンライン検査とし
ては、走行フィルムを目視検査する方法もあるが、気泡
欠陥等は自然光下ではほとんど正常部位と見分けがつか
ず検査不可能であった。
As an on-line inspection during production winding, there is also a method of visually inspecting a running film. However, under natural light, bubble defects and the like are hardly distinguished from normal portions under natural light and cannot be inspected.

【0004】これに対し、特開平6−148095号公
報に開示されたように、偏光板を利用した方法が提案さ
れている。この方法は、対極する偏光板の偏光方向を直
角若しくは直角に近い配置とすることにより、欠陥部に
よる直角偏光分を増光分としてカメラで捕らえようとす
るものである。
On the other hand, a method using a polarizing plate has been proposed as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-148095. In this method, the polarization direction of the opposite polarizer is set to a right angle or an arrangement close to a right angle, so that the camera uses the right-angled polarized light component due to the defective portion as an increased light component.

【0005】また、ピンホール欠陥の検出装置として、
電圧印加対極装置を設けてピンホール欠陥部の放電を利
用する放電式の装置も実用化されている。
[0005] As a pinhole defect detection device,
A discharge type device that uses a discharge at a pinhole defect portion by providing a voltage application counter electrode device has also been put to practical use.

【0006】また、特開平8−338814号公報に開
示されたように、紫外線を利用したピンホール欠陥検査
方法も提案されている。
Further, as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-338814, a pinhole defect inspection method using ultraviolet rays has been proposed.

【0007】また、特開平6−18445号公報に開示
されたように、偏光板を利用したピンホール欠陥検査方
法も提案されている。この方法は、対極する偏光板の偏
光方向を平行若しくは平行に近い配置にすることによ
り、ピンホール欠陥部による通過直線偏光分を増光分と
してカメラで捕らえようとするものである。
Further, as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-18445, a pinhole defect inspection method using a polarizing plate has been proposed. In this method, the polarization direction of the opposite polarizer is set to be parallel or nearly parallel, so that the linearly polarized light passing by the pinhole defect portion is captured by the camera as the light increase.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述の
従来例の内、特開平6−148095号公報に開示され
た技術では、対極する偏光板の偏光方向を直角若しくは
直角に近い配置としているので、フィルムシートの分子
配向むらによる直角偏光分が、地合信号やフィルムシー
トの場所による透過光量変化を増大させ、欠陥と地合の
S/N比を低下させて判別を困難にする上、品質上問題
にならない程度の小さな歪みまでも直角偏光分の増光分
が顕在化して過検出してしまうという問題がある。
However, among the above-mentioned prior arts, in the technique disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-148095, the polarizing direction of the opposite polarizer is arranged at a right angle or close to a right angle. The orthogonal polarization due to the uneven molecular orientation of the film sheet increases the formation signal and changes in the amount of transmitted light depending on the location of the film sheet, lowers the S / N ratio between the defect and the formation, making it difficult to discriminate and improving quality. There is a problem that even the small distortion that does not cause a problem causes the increase in the amount of the orthogonally polarized light to be apparent and overdetected.

【0009】また、電圧印加対極装置を設けてピンホー
ル欠陥部の放電を利用する放電式の装置では、ピンホー
ル欠陥のフィルムシート幅方向位置を割り出したい場合
には、電極や検出回路等を多数用意しなければならず、
検査装置が大がかりとなって検査コストが増大するとい
った問題がある。
Also, in a discharge type device using a discharge of a pinhole defect portion by providing a voltage application counter electrode device, if it is desired to determine the position of the pinhole defect in the film sheet width direction, a large number of electrodes and detection circuits are required. Must be prepared,
There is a problem that the inspection apparatus becomes large and the inspection cost increases.

【0010】また、特開平8−338814号公報に開
示された技術では、紫外線領域におけるビデオ信号変換
感度の良いリニアアレイカメラが一般的に市販されてい
ないため入手し難く、リニアアレイCCD(電荷結合デ
バイス)の感度アップを図るために該リニアアレイCC
Dを保護する保護ガラスの排除若しくは該保護ガラスの
石英ガラス化等が非常に困難なことや高価な紫外線対応
のカメラレンズを採用しなければならず、検査コストが
増大するといった問題がある。
In the technique disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-338814, a linear array camera having a high video signal conversion sensitivity in the ultraviolet region is not generally available on the market. To increase the sensitivity of the device)
There is a problem that it is very difficult to eliminate the protective glass for protecting D or to make the protective glass into quartz glass, and it is necessary to employ an expensive ultraviolet-compatible camera lens, which increases the inspection cost.

【0011】また、特開平6−18445号公報に開示
された技術では、比較的幅の広いフィルムシートに適用
しようとした場合、多数のカメラを容易しなければなら
ないため検査コストが増大するといった問題がある。
Further, the technique disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-18445 has a problem that, when an attempt is made to apply the method to a relatively wide film sheet, a large number of cameras must be facilitated and the inspection cost increases. There is.

【0012】即ち、1台のカメラのCCD素子数が20
48bitのカメラを使用して、1bitのCCD素子
に対してフィルムシート幅方向の分解能が50μm程度
になるように視野を設定した場合、1台のカメラ全体で
約100mmの視野となり、例えば、2m幅のフィルム
シートの検査を行う場合には、カメラを20台設けなけ
ればならず膨大な設備および価格となる。また、1bi
tのCCD素子に対してフィルムシート幅方向の分解能
が50μm程度に設定した場合、カメラおよびビデオ信
号処理回路等の特性上、約100μm前後のピンホール
欠陥検出性能が限度となる。
That is, the number of CCD elements of one camera is 20
When using a 48-bit camera and setting the field of view so that the resolution in the film sheet width direction is about 50 μm with respect to the 1-bit CCD element, the field of view of the entire camera is about 100 mm. In order to inspect the film sheet described above, 20 cameras must be provided, which requires enormous equipment and cost. Also, 1bi
When the resolution in the film sheet width direction is set to about 50 μm with respect to the CCD element of t, the pinhole defect detection performance of about 100 μm is limited due to the characteristics of the camera and the video signal processing circuit.

【0013】本発明の目的は、透明或いは半透明のフィ
ルムシート等を製造する際に発生する気泡欠陥、異物欠
陥及びピンホール欠陥等に対して、第1、第2の偏光板
とリニアアレイカメラの利用により検出すべき各種欠陥
を顕在化して検査可能にし、欠陥のフィルムシート幅方
向位置及びフィルムシート走行方向位置まで検出できる
フィルムシート欠陥検査方法及びフィルムシート欠陥検
査装置を提供することにある。
An object of the present invention is to provide first and second polarizers and a linear array camera for preventing a bubble defect, a foreign matter defect, a pinhole defect, and the like generated when a transparent or translucent film sheet or the like is produced. It is an object of the present invention to provide a film sheet defect inspection method and a film sheet defect inspection apparatus which make various defects to be detected evident by use of the device, make it possible to inspect the defects, and detect the defect up to the film sheet width direction position and the film sheet traveling direction position.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】本発明は前記課題を解決
するものであって、その代表的なフィルムシート欠陥検
査方法の構成は、フィルムシート搬送手段により搬送さ
れるフィルムシートの一方の面側に光源を配置し、該フ
ィルムシートの他方の面側にリニアアレイカメラを配置
し、該リニアアレイカメラから出力されるビデオ信号の
中から欠陥情報を検出するフィルムシート欠陥検査方法
において、前記フィルムシートと前記光源との間に配置
した第1の偏光板と、前記フィルムシートと前記リニア
アレイカメラとの間に配置した第2の偏光板との偏光方
向のずれ角度を±20度以内とし、前記リニアアレイカ
メラから出力されるビデオ信号の中から抽出した暗部信
号を欠陥として検出することを特徴とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and a typical structure of a film sheet defect inspection method is as follows. The film sheet defect inspection method of arranging a light source on the other side of the film sheet, disposing a linear array camera on the other side of the film sheet, and detecting defect information from video signals output from the linear array camera, And a first polarizing plate disposed between the light source and the second polarizing plate disposed between the film sheet and the linear array camera, the deviation angle of the polarization direction within ± 20 degrees, The method is characterized in that a dark part signal extracted from a video signal output from a linear array camera is detected as a defect.

【0015】また、本発明に係るフィルムシート欠陥検
査装置の代表的な構成は、フィルムシート搬送手段によ
り搬送されるフィルムシートの一方の面側に光源を配置
し、該フィルムシートの他方の面側にリニアアレイカメ
ラを配置し、該リニアアレイカメラから出力されるビデ
オ信号の中から欠陥情報を検出するフィルムシート欠陥
検査装置において、前記フィルムシートと前記光源との
間に配置した第1の偏光板と、前記フィルムシートと前
記リニアアレイカメラとの間に配置され、前記第1の偏
光板に対する偏光方向のずれ角度が±20度以内に設定
された第2の偏光板と、前記リニアアレイカメラから出
力されるビデオ信号の中から暗部信号を抽出して該暗部
信号を欠陥として検出する暗部信号検出部を備えた検出
回路とを有することを特徴とする。
A typical configuration of the film sheet defect inspection apparatus according to the present invention is such that a light source is arranged on one side of a film sheet conveyed by a film sheet conveying means, and the other side of the film sheet is conveyed. In a film sheet defect inspection apparatus for locating a linear array camera and detecting defect information from video signals output from the linear array camera, a first polarizing plate disposed between the film sheet and the light source And a second polarizing plate disposed between the film sheet and the linear array camera, wherein a deviation angle of a polarization direction with respect to the first polarizing plate is set within ± 20 degrees, and A detection circuit including a dark signal detection unit for extracting a dark signal from the output video signal and detecting the dark signal as a defect. The features.

【0016】上記構成によれば、走行するフィルムシー
トの一方の面側に光源を配置し、他方の面側にリニアア
レイカメラを配置し、更にフィルムシートと光源との間
に第1の偏光板を配置し、フィルムシートとリニアアレ
イカメラとの間に第2の偏光板を配置し、該一対の偏光
板の偏光方向のずれ角度を±20度以内とし、検出回路
の暗部信号検出部によりリニアアレイカメラから出力さ
れるビデオ信号の中から気泡欠陥、異物欠陥及びピンホ
ール欠陥等に対応する欠陥情報を暗部信号として顕在化
して検出することでフィルムシートに発生した欠陥の検
査を可能にする。
According to the above arrangement, the light source is disposed on one side of the running film sheet, the linear array camera is disposed on the other side, and the first polarizing plate is provided between the film sheet and the light source. And a second polarizer is disposed between the film sheet and the linear array camera. The deviation of the polarization direction of the pair of polarizers is set to within ± 20 degrees. By detecting defect information corresponding to a bubble defect, a foreign matter defect, a pinhole defect, and the like from a video signal output from the array camera as a dark portion signal and detecting the defect information, a defect generated in the film sheet can be inspected.

【0017】更に前記検出回路において、暗部信号検出
部の前に、カメラレンズ収差やフィルムシートの厚みむ
ら等による一走査対応のビテオ信号内のレベル不均一性
を平坦化するシェーディング補正部を設けた場合には、
検査範囲内で均一に検査が出来る。
Further, in the detection circuit, a shading correction section is provided before the dark section signal detection section to flatten level unevenness in a video signal corresponding to one scan due to camera lens aberration, film sheet thickness unevenness, and the like. in case of,
Inspection can be performed uniformly within the inspection range.

【0018】更に前記検出回路において、一走査対応の
ビデオ信号の中で、走査開始から欠陥の発生部までのカ
メラ駆動パルス信号のパルス数を計測してフィルムシー
ト幅方向欠陥位置を検出するフィルムシート幅方向欠陥
位置検出部を設ければ好ましい。
Further, in the detection circuit, the number of pulses of a camera driving pulse signal from the start of scanning to a defect occurrence portion in a video signal corresponding to one scan is measured to detect a defect position in a film sheet width direction. It is preferable to provide a width direction defect position detection unit.

【0019】更にフィルムシート搬送手段となるフィル
ムシート走行をガイドするロールに測長パルス発信器を
接して設け、前記検出回路において、該測長パルス発信
器の出力パルス数を計測してフィルムシート走行方向の
欠陥位置を検出するフィルムシート走行方向欠陥位置検
出部を設ければ好ましい。
Further, a length measuring pulse transmitter is provided in contact with a roll which guides the running of the film sheet as a film sheet conveying means, and the detection circuit measures the number of output pulses of the length measuring pulse transmitter to measure the running of the film sheet. It is preferable to provide a defect position detecting section for detecting a defect position in the film sheet traveling direction.

【0020】更に前記検出回路において、リニアアレイ
カメラから出力されるビデオ信号の出力により光源の光
量を自動調整して、該ビデオ信号レベルを一定に自動調
整するビデオ信号レベル自動調整部を設ければ好まし
い。
Further, in the detecting circuit, if a video signal level automatic adjusting section for automatically adjusting the light amount of the light source based on the output of the video signal output from the linear array camera and automatically adjusting the video signal level to be constant is provided. preferable.

【0021】また、前記光源としてライン型ハロゲン光
源を使用すれば好ましい。
It is preferable to use a line type halogen light source as the light source.

【0022】前述した一対の偏光板の偏光方向のずれ角
度を±20度以内とすることにより、フィルムシートの
分子配向むらや若干の小さな歪みによる直角偏光分を低
減でき、地合信号やフィルムシートの場所による透過光
量変化を減少させることが出来る。また、気泡欠陥や異
物欠陥等の内部及び周りの歪み部分やピンホール欠陥の
周りの歪み等に対するビデオ信号を暗部信号として顕在
化でき、欠陥と地合のS/N比を良くすることが出来
る。
By setting the angle of deviation of the polarization direction of the pair of polarizing plates to within ± 20 degrees, it is possible to reduce the orthogonal polarization due to the uneven molecular orientation of the film sheet and a small amount of distortion. The change in the transmitted light amount depending on the location can be reduced. In addition, a video signal for a distorted portion inside and around a bubble defect or a foreign matter defect, a distortion around a pinhole defect, or the like can be manifested as a dark portion signal, and the S / N ratio between defect and formation can be improved. .

【0023】また、前述した特開平6−148095号
公報に開示された技術のように、一対の偏光板の偏光方
向のずれ角度を直角近傍にすると、フィルムシートの分
子配向むらや若干の小さな歪みによる直角偏光分、或い
は欠陥部の直角偏光分が増光作用として働くが、本発明
のように、一対の偏光板の偏光方向のずれ角度を平行若
しくは±20度以内とすることによりこれらの直角偏光
分を阻止するため増光作用が殆どなくなる。
Further, when the angle of deviation of the polarization direction of the pair of polarizing plates is set to be close to a right angle as in the technique disclosed in the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-148095, uneven molecular orientation of the film sheet and slight small distortion are caused. The polarized light component due to the above or the polarized light component of the defective portion acts as a light-increasing effect. However, as in the present invention, by making the deviation angle of the polarization direction of the pair of polarizing plates parallel or within ± 20 degrees, these perpendicular polarized light components can be used. Since the light is blocked, there is almost no brightening effect.

【0024】また、上記一対の偏光板の偏光方向設定領
域では、気泡欠陥や異物欠陥等の内部及び周りの歪み部
分やピンホール欠陥の周りの歪みの偏光方向が光源から
の直線偏光方向から回転し、第2の偏光板の偏光方向か
ら離れる方向となり、リニアアレイカメラに入光しなく
なることによりビデオ信号の暗部信号として顕在化表現
されるようになる。
In the polarization direction setting region of the pair of polarizing plates, the polarization direction of the distortion around and inside the defect such as a bubble defect or a foreign matter defect and the distortion around the pinhole defect is rotated from the linear polarization direction from the light source. Then, the direction becomes a direction away from the polarization direction of the second polarizing plate, and the light does not enter the linear array camera, so that the dark portion signal of the video signal is manifestly expressed.

【0025】実際上、気泡欠陥はもとより異物欠陥及び
ピンホール欠陥等は欠陥本体の周りに大きな歪みを必ず
保有しており、フィルムシートの厚みが薄くなると更に
歪みが顕著になる。
In practice, foreign matter defects and pinhole defects as well as bubble defects always have a large distortion around the defect body, and the distortion becomes more remarkable as the film sheet becomes thinner.

【0026】例えば、径が50μm以下の微小ピンホー
ル欠陥についても、該ピンホール欠陥部の周りの歪み部
分が100μm相当以上となり、該ピンホール欠陥部の
周りの歪み部分を捕らえることにより100μm程度の
分解能でも、径が50μm以下の微小ピンホール欠陥を
検出できるようになる。
For example, with respect to a minute pinhole defect having a diameter of 50 μm or less, the distortion around the pinhole defect becomes 100 μm or more, and the distortion around the pinhole defect is reduced to about 100 μm. Even at a resolution, a minute pinhole defect having a diameter of 50 μm or less can be detected.

【0027】従って、ピンホール欠陥については、透過
方式であるにもかかわらず該ピンホール欠陥の周りの歪
みを暗部信号として捕らえることによりカメラ分解能以
下のピンホール欠陥まで検査可能になる。
Therefore, regarding a pinhole defect, it is possible to inspect even a pinhole defect having a resolution lower than the camera resolution by capturing distortion around the pinhole defect as a dark portion signal despite the transmission method.

【0028】また、上記一対の偏光板の偏光方向設定領
域では、カメラ分解能に対して大きなピンホール欠陥で
はピンホール部分の透過増光分を明部信号として捕らえ
ることも可能であるが、カメラ分解能前後或いはそれ以
下のピンホール欠陥となると前記周囲の歪み部分の暗部
信号に明部信号が埋もれてしまうケースが多く現実的で
ない。
In the polarization direction setting region of the pair of polarizers, in the case of a pinhole defect which is large with respect to the camera resolution, it is possible to capture the transmission enhancement of the pinhole portion as a bright portion signal. Alternatively, if the number of pinhole defects is smaller than that, the bright portion signal is often buried in the dark portion signal of the surrounding distorted portion, which is not practical.

【0029】更に、前記検出回路において、フィルムシ
ート幅方向欠陥位置検出部、フィルムシート走行方向欠
陥位置検出部を付加することにより、フィルムシートに
発生した各種欠陥の2次元的な位置まで検出可能にな
り、これらの出力をフィルムシートの欠陥情報として検
査管理用パーソナルコンピュータ(以下、単に「パソコ
ン」という)等により帳票プリントとして提供すること
が出来る。
Further, in the detection circuit, by adding a film sheet width direction defect position detecting section and a film sheet running direction defect position detecting section, two-dimensional positions of various defects generated in the film sheet can be detected. These outputs can be provided as a form print by a personal computer for inspection management (hereinafter simply referred to as a "PC") or the like as defect information of the film sheet.

【0030】更に、前記検出回路において、シェーディ
ング補正部、ハロゲン光源と連動するビデオ信号レベル
自動調整部を付加することによって、フィルムシートの
欠陥情報をより安定した状態で検出することが出来る。
Further, by adding a shading correction section and a video signal level automatic adjustment section linked to a halogen light source in the detection circuit, defect information of a film sheet can be detected in a more stable state.

【0031】[0031]

【発明の実施の形態】図を用いて本発明に係るフィルム
シート欠陥検査方法及びフィルムシート欠陥検査装置の
一実施形態について説明する。図1は本発明に係るフィ
ルムシート欠陥検査装置の構成を示す図、図2はリニア
アレイカメラとその信号構成を示す図、図3は検出回路
の構成を示すブロック図、図4はシェーディング補正部
の構成を示すブロック図、図5はシェーディング補正部
の各部の信号波形を示す図、図6は検査区間設定部の構
成を示すブロック図、図7は検査区間設定部の各部の信
号波形を示す図、図8は暗部信号検出部の構成を示すブ
ロック図、図9は暗部信号検出部の各部の信号波形を示
す図、図10はフィルムシート幅方向欠陥位置検出部の構
成を示すブロック図、図11はフィルムシート幅方向欠陥
位置検出部の各部の信号波形を示す図、図12はフィルム
シート走行方向欠陥位置検出部の構成を示すブロック
図、図13はフィルムシート走行方向欠陥位置検出部の各
部の信号波形を示す図、図14はビデオ信号レベル自動調
整部の構成を示すブロック図、図15はビデオ信号レベル
自動調整部の各部の信号波形を示す図、図16(a)はフ
ィルムシート内部に発生した気泡欠陥の様子を示す図、
図16(b)はフィルムシート内部に発生した異物欠陥の
様子を示す図、図16(c)はフィルムシートに発生した
ピンホール欠陥の様子を示す図、図16(d)はフィルム
シート内部に発生した小さな歪み部分の様子を示す図、
図17(a)は第1の偏光板と第2の偏光板との偏光方向
のずれ角度θが略直角の場合のリニアアレイカメラから
出力されたビデオ信号波形を示す図、図17(b)は図17
(a)のビデオ信号をシェーディング補正した後のビデ
オ信号波形を示す図、図18(a)は第1の偏光板と第2
の偏光板との偏光方向のずれ角度θが約±50度の場合
のリニアアレイカメラから出力されたビデオ信号波形を
示す図、図18(b)は図18(a)のビデオ信号をシェー
ディング補正した後のビデオ信号波形を示す図、図19
(a)は第1の偏光板と第2の偏光板との偏光方向のず
れ角度θが約±20度の場合のリニアアレイカメラから
出力されたビデオ信号波形を示す図、図19(b)は図19
(a)のビデオ信号をシェーディング補正した後のビデ
オ信号波形を示す図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a film sheet defect inspection method and a film sheet defect inspection apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings. 1 is a diagram showing a configuration of a film sheet defect inspection apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a diagram showing a linear array camera and its signal configuration, FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a detection circuit, and FIG. 5 is a diagram showing a signal waveform of each unit of the shading correction unit, FIG. 6 is a block diagram showing a configuration of the inspection interval setting unit, and FIG. 7 is a signal waveform of each unit of the inspection interval setting unit. FIG. 8, FIG. 8 is a block diagram showing a configuration of a dark portion signal detection unit, FIG. 9 is a diagram showing signal waveforms of various parts of the dark portion signal detection unit, FIG. 10 is a block diagram showing a configuration of a film sheet width direction defect position detection unit. 11 is a diagram showing signal waveforms of various parts of the film sheet width direction defect position detection unit, FIG. 12 is a block diagram showing a configuration of the film sheet traveling direction defect position detection unit, and FIG. 13 is a film sheet traveling direction defect position detection unit. FIG. 14 is a block diagram showing a configuration of a video signal level automatic adjustment unit, FIG. 15 is a diagram showing signal waveforms of various units of the video signal level automatic adjustment unit, and FIG. 16 (a) is a film sheet. Diagram showing the state of bubble defects generated inside,
FIG. 16 (b) is a view showing a foreign matter defect generated inside the film sheet, FIG. 16 (c) is a view showing a pinhole defect generated in the film sheet, and FIG. A diagram showing a state of a small distortion portion generated,
FIG. 17A is a diagram showing a video signal waveform output from the linear array camera when the deviation angle θ of the polarization direction between the first polarizing plate and the second polarizing plate is substantially a right angle, and FIG. Figure 17
FIG. 18 (a) is a diagram showing a video signal waveform after shading correction of the video signal, and FIG. 18 (a) shows a first polarizer and a second polarizer.
FIG. 18B is a diagram showing a video signal waveform output from the linear array camera when the deviation angle θ of the polarization direction with respect to the polarizing plate is about ± 50 degrees, and FIG. 18B shows shading correction of the video signal of FIG. FIG. 19 shows a video signal waveform after
FIG. 19A is a diagram showing a video signal waveform output from a linear array camera when the deviation angle θ in the polarization direction between the first polarizing plate and the second polarizing plate is about ± 20 degrees, and FIG. Figure 19
FIG. 3A is a diagram showing a video signal waveform after shading correction of the video signal of FIG.

【0032】図1において、本発明に係るフィルムシー
ト欠陥検査装置の構成は、フィルムシート搬送手段とな
る一定間隔で平行に配置した2個のロール1,2に沿っ
て走行する透明或いは半透明のフィルムシート3の一方
の面側にライン型光源5を配置し、他方の面側にリニア
アレイカメラ7を配置し、該リニアアレイカメラ7によ
りフィルムシート3を撮影して該リニアアレイカメラ7
から出力されるカメラ出力ビデオ信号22の中からフィル
ムシート3を製造する際に発生する気泡欠陥、異物欠陥
或いはピンホール欠陥等の欠陥部位に対応する欠陥情報
を検出する検出回路10を装備している。
In FIG. 1, the configuration of the film sheet defect inspection apparatus according to the present invention is a transparent or translucent transparent or semi-transparent sheet running along two rolls 1 and 2 arranged in parallel at a fixed interval as a film sheet conveying means. A linear light source 5 is arranged on one side of the film sheet 3, a linear array camera 7 is arranged on the other side, and the film sheet 3 is photographed by the linear array camera 7 and the linear array camera 7 is photographed.
Equipped with a detection circuit 10 for detecting defect information corresponding to a defective portion such as a bubble defect, a foreign substance defect, or a pinhole defect generated when the film sheet 3 is manufactured from the camera output video signal 22 output from the camera. I have.

【0033】また、ライン型光源5からリニアアレイカ
メラ7に至る撮影光路上で、フィルムシート3とライン
型光源5との間に第1の偏光板8を配置し、フィルムシ
ート3とリニアアレイカメラ7との間に第2の偏光板9
を配置し、該一対の第1、第2の偏光板8,9の偏光方
向のずれ角度θを±20度以内の角度に設定して構成さ
れる。従って、一対の第1、第2の偏光板8,9の偏光
方向は略同じ方向に設置されている。尚、本実施形態で
は、このずれ角度θを0度に設定した場合の一例につい
て説明する。
Further, a first polarizing plate 8 is disposed between the film sheet 3 and the line type light source 5 on a photographing optical path from the line type light source 5 to the linear array camera 7, and the film sheet 3 and the linear array camera 7 and the second polarizing plate 9
And the angle of deviation θ of the polarization direction of the pair of first and second polarizing plates 8 and 9 is set to an angle within ± 20 degrees. Therefore, the polarization directions of the pair of first and second polarizing plates 8 and 9 are set in substantially the same direction. In the present embodiment, an example in which the deviation angle θ is set to 0 degrees will be described.

【0034】ライン型光源5は光源コントローラ4によ
り制御され、リニアアレイカメラ7はリニアアレイカメ
ラコントローラ6により制御される。そして、リニアア
レイカメラ7から出力されたカメラ出力ビデオ信号22の
中から検出回路10により検出された欠陥検出情報11は検
査管理用パーソナルコンピュータ(以下、単に「検査管
理用パソコン」という)12により整理して出力される。
The linear light source 5 is controlled by a light source controller 4, and the linear array camera 7 is controlled by a linear array camera controller 6. The defect detection information 11 detected by the detection circuit 10 from the camera output video signal 22 output from the linear array camera 7 is arranged by an inspection management personal computer (hereinafter simply referred to as “inspection management personal computer”) 12. And output.

【0035】また、ロール1またはロール2に沿って測
長パルス発信器13を接して設け、該測長パルス発信器13
の測長パルス発信器出力信号14を利用して各種の欠陥が
発生している場合のフィルムシート3の走行方向の欠陥
位置も検出するようになっている。
A length measuring pulse transmitter 13 is provided in contact with the roll 1 or the roll 2, and the length measuring pulse transmitter 13 is provided.
The defect position in the running direction of the film sheet 3 when various defects occur is detected by using the length measuring pulse transmitter output signal 14 of FIG.

【0036】前記ロール1,2は、夫々直径100mm
φでフィルムシート3の幅よりも所定寸法だけ広い長さ
を有して互いに平行で259mmの間隔で配置され、表
面が鏡面仕上げとなっている。
Each of the rolls 1 and 2 has a diameter of 100 mm.
φ has a length larger than the width of the film sheet 3 by a predetermined dimension, is arranged in parallel with each other at an interval of 259 mm, and has a mirror-finished surface.

【0037】フィルムシート3は、幅250mm、厚さ
4.5μmのアラミドフィルムシートからなり、別途巻
き取り機構により走行速度が4m/分でリニアアレイカ
メラ7が対向する検査部をロール1,2に沿って水平走
行させる。
The film sheet 3 is made of an aramid film sheet having a width of 250 mm and a thickness of 4.5 μm, and the inspection section facing the linear array camera 7 at a running speed of 4 m / min by a separate winding mechanism is applied to the rolls 1 and 2. Run horizontally along.

【0038】ライン型光源5は日本ピー・アイ株式会社
製のリニアブライト(伝送ライト)PDL−Sを使用し
てライン型ハロゲン光源として構成した。このライン型
光源5はハロゲンランプ15に石英アダプタ16及び円筒型
石英ロッド17を直線的に装着し、該円筒型石英ロッド17
の内部反射膜構造により強力で均一な光量を該円筒型石
英ロッド17の長尺方向に沿ってライン型に出射すること
が出来る。
The line-type light source 5 was configured as a line-type halogen light source using Linear Bright (transmission light) PDL-S manufactured by PI Japan. In this line type light source 5, a quartz adapter 16 and a cylindrical quartz rod 17 are linearly mounted on a halogen lamp 15, and the cylindrical quartz rod
With this internal reflection film structure, a strong and uniform light amount can be emitted in a line shape along the longitudinal direction of the cylindrical quartz rod 17.

【0039】このライン型光源5の場合、輝度的には蛍
光灯管よりも10倍以上の光量を有し、フィルムシート
3の高速走行時にリニアアレイカメラ7でCCD(電荷
結合デバイス)を高速走査させる場合に受光量不足とな
るケースに必要光量を用意できる光源として最適であ
る。
In the case of this line type light source 5, the luminance is 10 times or more that of the fluorescent lamp, and the linear array camera 7 scans the CCD (charge coupled device) at high speed when the film sheet 3 is running at high speed. It is most suitable as a light source that can provide a necessary light amount in a case where the amount of received light is insufficient.

【0040】また、ライン型光源5は日本ピー・アイ株
式会社製の電源装置PICS−FA−S及びリニア調光
リモコンPRB−0001Fを採用した光源コントロー
ラ4により明るさが調整出来る構成とした。
The line-type light source 5 is configured so that the brightness can be adjusted by a light source controller 4 employing a power supply device PICS-FA-S manufactured by PI Corporation and a linear dimming remote control PRB-0001F.

【0041】前記検出回路10内には、図3に示すビデオ
信号レベル自動調整部52を備え、該ビデオ信号レベル自
動調整部52の制御出力信号18により光源コントローラ4
を介してハロゲンランプ供給電力19を調整して光量20を
調整し、カメラ出力ビデオ信号22のレベルを自動調整す
ることが出来る。
The detection circuit 10 includes an automatic video signal level adjusting unit 52 shown in FIG. 3, and the control output signal 18 of the automatic video signal level adjusting unit 52 controls the light source controller 4.
, The power 19 of the halogen lamp is adjusted to adjust the light amount 20, and the level of the camera output video signal 22 can be automatically adjusted.

【0042】リニアアレイカメラ7にはニコン株式会社
製のマイクロニッコール、マニュアルフォーカス型f1
05mm/F2.8レンズ21を装着し、一走査対応の検
査視野を235mmとなるように受光距離を設定した。
フィルムシート3とレンズフランジ間距離は約847m
mとなった。レンズ絞りはF4とした。
The linear array camera 7 has a micro Nikkor, manual focus type f1 manufactured by Nikon Corporation.
A 05 mm / F2.8 lens 21 was mounted, and the light receiving distance was set so that the inspection field of view corresponding to one scan was 235 mm.
The distance between the film sheet 3 and the lens flange is about 847m
m. The lens aperture was F4.

【0043】ライン型光源5から出射される光を直線偏
光に変換する第1の偏光板8は、パナック株式会社製の
厚さ0.3mm、偏光度99%、透過率38%の偏光シ
ートを、偏光度を上げるために偏光方向を揃えて2枚重
ねて使用し、その大きさは、幅50mmとし、ライン型
光源5の長手方向に該ライン型光源5から出射される光
の全長域が掛かる長さとした。
The first polarizing plate 8 for converting light emitted from the line type light source 5 into linearly polarized light is a polarizing sheet having a thickness of 0.3 mm, a degree of polarization of 99% and a transmittance of 38% manufactured by Panac Co., Ltd. In order to increase the degree of polarization, the two polarizing plates are used in the same polarization direction, the width thereof is 50 mm, and the total length of light emitted from the line light source 5 in the longitudinal direction of the line light source 5 is The length was hanging.

【0044】第1の偏光板8はライン型光源5とフィル
ムシート3との間に配置し、ライン型光源5の光出射面
から約50mmの距離をおいて設置した。更に、第1の
偏光板8からフィルムシート3までの距離は約50mm
とした。また、第1の偏光板8による偏光方向はフィル
ムシート3の走行方向とした。
The first polarizing plate 8 was arranged between the line type light source 5 and the film sheet 3 and was set at a distance of about 50 mm from the light emitting surface of the line type light source 5. Further, the distance from the first polarizing plate 8 to the film sheet 3 is about 50 mm.
And The polarization direction of the first polarizing plate 8 was set to the running direction of the film sheet 3.

【0045】第2の偏光板9は、日本メレスグリオ株式
会社製の厚さ3.5mm、対で使用した場合の直角偏光
消光比10-4(0.0001)、透過率33%のダイク
ロイック偏光板で有効外径76mmφのものを使用し、
リニアアレイカメラ7に装着したレンズ21の直下30m
mのところにフィルムシート3に平行に配置した。
The second polarizing plate 9 is a dichroic polarizing plate having a thickness of 3.5 mm, a rectangular polarization extinction ratio of 10 -4 (0.0001) and a transmittance of 33% when used as a pair, manufactured by Nippon Meles Griot Co., Ltd. Use an effective outer diameter of 76 mmφ
30m directly below the lens 21 attached to the linear array camera 7
It was arranged parallel to the film sheet 3 at the point of m.

【0046】本実施形態では、第2の偏光板9の偏光方
向は第1の偏光板8の偏光方向と平行としたため両者と
もフィルムシート3の走行方向と同じとなった。第2の
偏光板9はリニアアレイカメラ7による撮影光路上にあ
るため表面仕上げ、内部歪みを少なくし、映像に歪みの
生じない精度の高いダイクロイック偏光板を用いた。
In this embodiment, since the polarization direction of the second polarizing plate 9 is parallel to the polarization direction of the first polarizing plate 8, both directions are the same as the running direction of the film sheet 3. Since the second polarizing plate 9 is on the optical path taken by the linear array camera 7, a high-precision dichroic polarizing plate that reduces surface finish and internal distortion and causes no distortion in an image is used.

【0047】図2にリニアアレイカメラ7とその信号構
成を示す。リニアアレイカメラ7はCCD素子500b
itの株式会社エクセル製TI5000Fを使用した。
リニアアレイカメラコントローラ6は、リニアアレイカ
メラ7を駆動するための直流電源23及びリニアアレイC
CD信号処理用駆動パルス24、CCD走査開始信号25を
リニアアレイカメラ7に出力する。
FIG. 2 shows the linear array camera 7 and its signal configuration. The linear array camera 7 has a CCD element 500b
It used TI5000F manufactured by Excel Co., Ltd.
The linear array camera controller 6 includes a DC power supply 23 for driving the linear array camera 7 and a linear array C
The drive pulse 24 for CD signal processing and the CCD scan start signal 25 are output to the linear array camera 7.

【0048】前記リニアアレイCCD信号処理用駆動パ
ルス24は1クロック当たり0.2μsの時間領域だけ繰
り返し出力されるパルスであり、周波数にして5MHz
で0〜5Vの電圧信号である。
The driving pulse 24 for linear array CCD signal processing is a pulse that is repeatedly output for a time region of 0.2 μs per clock and has a frequency of 5 MHz.
Is a voltage signal of 0 to 5V.

【0049】また、リニアアレイカメラ7の内部で処理
されて該リニアアレイカメラ7から出力されるカメラ出
力ビデオ信号22は10MHzのビデオレートで出力さ
れ、リニアアレイCCDの1bit当たり0.1μsの
時間領域で変化表現されるビデオ信号となる。
A camera output video signal 22 processed inside the linear array camera 7 and output from the linear array camera 7 is output at a video rate of 10 MHz, and has a time domain of 0.1 μs per 1 bit of the linear array CCD. And the video signal is changed and expressed.

【0050】CCD走査開始信号25は2msの繰り返し
時間とした約2μsの時間幅パルスで、0〜5V電圧信
号とした。尚、リニアアレイカメラ7から出力されるカ
メラ出力ビデオ信号22、リニアアレイCCD信号処理用
駆動パルス24及びCCD走査開始信号25は検出回路10に
も出力する。リニアアレイCCD信号処理用駆動パルス
24、CCD走査開始信号25、カメラ出力ビデオ信号22の
波形の一例を夫々図2に示す。
The CCD scanning start signal 25 is a time width pulse of about 2 μs with a repetition time of 2 ms and a voltage signal of 0 to 5 V. The camera output video signal 22, the linear array CCD signal processing drive pulse 24, and the CCD scanning start signal 25 output from the linear array camera 7 are also output to the detection circuit 10. Drive pulse for linear array CCD signal processing
FIG. 2 shows an example of the waveforms of the signal 24, the CCD scanning start signal 25, and the camera output video signal 22, respectively.

【0051】図3に検出回路10の構成を示す。検出回路
10は、シェーディング補正部26、検査区間設定部31、暗
部信号検出部40、フィルムシート幅方向欠陥位置検出部
45、フィルムシート走行方向欠陥位置検出部50、ビデオ
信号レベル自動調整部52等からなる。
FIG. 3 shows the configuration of the detection circuit 10. Detection circuit
Reference numeral 10 denotes a shading correction section 26, an inspection section setting section 31, a dark section signal detection section 40, and a film sheet width direction defect position detection section.
45, a film sheet traveling direction defect position detecting section 50, a video signal level automatic adjusting section 52, and the like.

【0052】以下、検出回路10の各部の構成について詳
細に説明する。先ず、シェーディング補正部26の構成に
ついて説明する。図4はシェーディング補正部26の構成
を示し、図5は該シェーディング補正部26の各部の信号
波形の一例を示す。
Hereinafter, the configuration of each part of the detection circuit 10 will be described in detail. First, the configuration of the shading correction unit 26 will be described. FIG. 4 shows a configuration of the shading correction unit 26, and FIG. 5 shows an example of a signal waveform of each unit of the shading correction unit 26.

【0053】シェーディング補正部26は、検査対象とな
るフィルムシート3の部分配向むらが変化した場合やリ
ニアアレイカメラ7に装着されたレンズ21の絞り設定か
らくる収差によるカメラ出力ビデオ信号22の波形歪みを
補正し、該カメラ出力ビデオ信号22を均一なフラットレ
ベルにすることにより検査範囲のどの部分でも均一に欠
陥検出できるようにするために用意した。
The shading correction unit 26 is provided for correcting the waveform distortion of the camera output video signal 22 due to the change in the partial orientation unevenness of the film sheet 3 to be inspected or the aberration caused by the aperture setting of the lens 21 mounted on the linear array camera 7. This is provided so that the camera output video signal 22 has a uniform flat level so that defects can be uniformly detected in any part of the inspection range.

【0054】カメラ出力ビデオ信号22は、映像平均値と
して1V前後で入力段アンプ27に入力する。入力段アン
プ27では入力過電圧保護やゲイン調整、ゼロ点調整を行
い、次段の低周波数通過フィルターアンプ28に信号伝送
する。
The camera output video signal 22 is input to the input stage amplifier 27 at about 1 V as an image average value. The input stage amplifier 27 performs input overvoltage protection, gain adjustment, and zero point adjustment, and transmits a signal to the low-pass filter amplifier 28 in the next stage.

【0055】低周波数通過フィルターアンプ28は、時定
数10μs程度、つまり周波数でいえば100kHz程
度以下の周波数を通過するフィルター反転アンプとして
機能するように設計した。
The low-frequency pass filter amplifier 28 is designed to function as a filter inverting amplifier that passes a time constant of about 10 μs, that is, a frequency of about 100 kHz or less.

【0056】従って、生のカメラ出力ビデオ信号22は前
述のごとく図5の波形例に示すような1bit当たり
0.1μsという高速情報の変化信号であるが、低周波
数通過フィルターアンプ28の出力28out は図5の波形例
に示すように、なまった変化の信号となる。
Accordingly, the raw camera output video signal 22 is a high-speed information change signal of 0.1 μs per bit as shown in the waveform example of FIG. 5 as described above, but the output 28out of the low frequency pass filter amplifier 28 is As shown in the waveform example of FIG. 5, the signal becomes a blunt change.

【0057】入力段アンプ27の出力27out と低周波数通
過フィルターアンプ28の出力28outを次段の加算回路29
に入力した結果は、図5の29out 波形であり、図5のカ
メラ出力ビデオ信号22の内、22aの部分のような生のカ
メラ出力ビデオ信号22の中で地合ノイズ群から大きく変
化した部分がパルス化して図5の加算回路29の出力29ou
t の内、短パルス29aのように現れる。
The output 27out of the input stage amplifier 27 and the output 28out of the low frequency pass filter amplifier 28 are added to the addition circuit 29 of the next stage.
5 is a 29-out waveform shown in FIG. 5, and a portion of the camera output video signal 22 shown in FIG. 5 which greatly changes from the formation noise group in the raw camera output video signal 22 such as a portion 22a. Is pulsed and the output 29ou of the addition circuit 29 in FIG.
Within t, it appears as a short pulse 29a.

【0058】この短パルス29aが欠陥の可能性を持った
パルスである。また、生のカメラ出力ビデオ信号22の最
初の立ち上がり部分と最後の立ち下がり部分もパルス状
になって図5の加算回路29の出力29out の内、短パルス
29b、29cのように現れる。
This short pulse 29a is a pulse having a possibility of a defect. Also, the first rising edge and the last falling edge of the raw camera output video signal 22 are pulse-shaped, and the short pulse of the output 29out of the adding circuit 29 in FIG.
Appears as 29b, 29c.

【0059】これは、前記低周波数通過フィルターアン
プ28の出力28out がフィルター特性により時間的に若干
遅れて表現されるため、その差分が結果として表現され
るためである。ただし、短パルス29b、29cの部分は後
述する検査区間設定部31で検査範囲から外れるようにす
る。
This is because the output 28out of the low-pass filter amplifier 28 is slightly delayed in time due to the filter characteristics, and the difference is expressed as a result. However, the portions of the short pulses 29b and 29c are set out of the inspection range by an inspection section setting unit 31 described later.

【0060】前記加算回路29の出力29out は図5に示す
ように、0Vを中心として短パルス29a、29b、29cの
ように変化する信号形態となる。後述する暗部信号検出
部40での暗部信号の検出を電子回路的に容易にするため
と、別途画像処理装置等を付加するような展開を考慮し
て、出力段アンプ30にてゼロ調整し、基準電圧分嵩上げ
した信号形態に変換すれば図5の出力段アンプ30の出力
30out の波形例に示すようになる。
As shown in FIG. 5, the output 29out of the addition circuit 29 has a signal form that changes like short pulses 29a, 29b and 29c around 0V. In order to facilitate the detection of the dark part signal in the dark part signal detection unit 40 described later in an electronic circuit, and in consideration of the development such as adding an additional image processing device or the like, the output stage amplifier 30 performs zero adjustment, If converted into a signal form raised by the reference voltage, the output of the output stage amplifier 30 in FIG.
It becomes as shown in the waveform example of 30out.

【0061】本実施形態では、図5の出力段アンプ30の
出力30out に示すように、基準電圧を1Vとしたため、
該基準電圧1Vを中心に短パルス30a,30b,30cのよ
うな信号変化形態になった。図5において、加算回路29
の出力29out 波形の変化部位である短パルス29aに対応
する出力段アンプ30の出力30out 波形の変化部位である
短パルス30aが欠陥の可能性を持ったパルスとなる。
In this embodiment, the reference voltage is set to 1 V, as shown by the output 30out of the output stage amplifier 30 in FIG.
The signal changes like short pulses 30a, 30b, 30c around the reference voltage 1V. Referring to FIG.
The output 30out of the output stage amplifier 30 corresponding to the short pulse 29a, which is a portion where the waveform of the output 29out changes, is a short pulse 30a which is a portion where the waveform of the output 30out has a defect.

【0062】次に図6及び図7を用いて検査区間設定部
31の構成について説明する。図6は検査区間設定部31の
構成図であり、図7は該検査区間設定部31の各部の信号
波形例を示す。検査区間設定部31には、図7の波形例に
示すような0.2μsの繰り返し周期パルスであるリニ
アアレイCCD信号処理用駆動パルス24をカウンター3
3,37に入力する。
Next, referring to FIG. 6 and FIG.
The configuration of 31 will be described. FIG. 6 is a configuration diagram of the inspection section setting unit 31, and FIG. 7 shows an example of a signal waveform of each unit of the inspection section setting unit 31. In the inspection section setting unit 31, a counter 3 is provided with a drive pulse 24 for processing a linear array CCD signal, which is a 0.2 μs repetition period pulse as shown in the waveform example of FIG.
Enter in 3, 37.

【0063】リニアアレイカメラ7のCCD素子数は5
000bit、ビデオレート10MHzであるが、前記
リニアアレイCCD信号処理用駆動パルス24は5MHz
であるため全CCD対応の全クロック数は2500カウ
ントとなる。従って、最大2500カウント可能なカウ
ンターが必要であり、カウンター33,37は4桁BCDコ
ード出力カウンターを使用した。
The number of CCD elements of the linear array camera 7 is 5
000 bits and a video rate of 10 MHz, but the drive pulse 24 for linear array CCD signal processing is 5 MHz.
Therefore, the total number of clocks for all CCDs is 2500 counts. Therefore, a counter capable of counting up to 2500 is required, and the counters 33 and 37 are 4-digit BCD code output counters.

【0064】また、図7の波形例に示すような2msの
繰り返し周期パルスであるCCD走査開始信号25をリト
リガーシングルショットマルチバイブレータ32に入力す
る。リトリガーシングルショットマルチバイブレータ32
はCCD走査開始信号25パルスによりONする。
Further, a CCD scanning start signal 25 which is a 2 ms repetition period pulse as shown in the waveform example of FIG. 7 is input to the retrigger single-shot multivibrator 32. Retrigger single shot multivibrator 32
Is turned on by 25 pulses of the CCD scanning start signal.

【0065】カウンター33はlowレベルの制御入力で
カウントモードになるためリトリガーシングルショット
マルチバイブレータ32の出力32out の反転信号を受ける
ようにしておき、リニアアレイCCD信号処理用駆動パ
ルス24のカウントを開始し、データをBCDコードで次
段のデジタルコンパレータ34に出力する。
Since the counter 33 enters the count mode by the control input of the low level, the counter 33 receives an inverted signal of the output 32out of the retrigger single-shot multivibrator 32, and starts counting the drive pulse 24 for linear array CCD signal processing. , And outputs the data to the next-stage digital comparator 34 in the form of a BCD code.

【0066】デジタルコンパレータ34は4桁BCDコー
ドの比較ができるものを使用した。デジタルコンパレー
タ34の比較設定はデジタルスイッチ35で行った。図7の
リトリガーシングルショットマルチバイブレータ32の出
力32out の波形例に示すような10μsの非検査区間を
生成するようにデジタルスイッチ35を設定しておき、デ
ジタルコンパレータ34はカウントデータが設定値をオー
バーした時、出力をONする。
As the digital comparator 34, one capable of comparing four-digit BCD codes was used. The comparison setting of the digital comparator was performed by the digital switch. The digital switch 35 is set so as to generate a non-inspection section of 10 μs as shown in the waveform example of the output 32out of the retrigger single-shot multivibrator 32 in FIG. 7, and the count data of the digital comparator 34 exceeds the set value. At this time, the output is turned ON.

【0067】そして、デジタルコンパレータ34の出力34
out をリトリガーシングルショットマルチバイブレータ
32に入力し、該リトリガーシングルショットマルチバイ
ブレータ32をOFFする。更に、前記リトリガーシング
ルショットマルチバイブレータ32の出力32out をシング
ルショットマルチバイブレータ36に入力しておき、リト
リガーシングルショットマルチバイブレータ32の出力32
out のOFFでシングルショットマルチバイブレータ36
はONする。
The output 34 of the digital comparator 34
out the retrigger single shot multivibrator
The retrigger single-shot multivibrator 32 is turned off. Further, the output 32out of the retrigger single-shot multivibrator 32 is input to the single-shot multivibrator 36, and the output 32out of the retrigger single-shot multivibrator 32 is output.
single shot multivibrator 36 when out is OFF
Turns ON.

【0068】カウンター37はlowレベルの制御入力で
カウントモードになるためシングルショットマルチバイ
ブレータ36の出力36out の反転信号を受けるようにして
おき、シングルショットマルチバイブレータ36の出力36
out のONでカウンター37はリニアアレイCCD信号処
理用駆動パルス24のカウントを開始し、データをBCD
コードで次段のデジタルコンパレータ38に出力する。
Since the counter 37 enters the count mode with a low-level control input, the counter 37 receives an inverted signal of the output 36out of the single-shot multivibrator 36, and receives the inverted signal of the output 36out of the single-shot multivibrator 36.
When out is ON, the counter 37 starts counting the drive pulse 24 for linear array CCD signal processing, and stores the data in BCD.
The code is output to the digital comparator 38 at the next stage.

【0069】そして、シングルショットマルチバイブレ
ータ36の出力である検査区間信号36out が図7の波形例
に示すような480μsの検査区間36aを生成するよう
にデジタルスイッチ39を設定しておき、デジタルコンパ
レータ38はカウントデータが設定値をオーバーしたとき
出力38out をONする。そして、デジタルコンパレータ
38の出力38out をシングルショットマルチバイブレータ
36に入力し、該シングルショットマルチバイブレータ36
をOFFする。
The digital switch 39 is set so that the test section signal 36out, which is the output of the single shot multivibrator 36, generates a test section 36a of 480 μs as shown in the waveform example of FIG. Turns on output 38out when the count data exceeds the set value. And a digital comparator
38 outputs 38out single shot multivibrator
36, the single-shot multivibrator 36
Is turned off.

【0070】前記カウンター33,37のカウント設定値は
デジタルスイッチ35,39により可変出来る。前述のごと
く、図7の波形例で示すように、シェーディング補正部
26の出力30out には生のカメラ出力ビデオ信号22の最初
の立ち上がり部分と最後の立ち下がり部分に相当する短
パルス30b,30cが現れるが、前述の検査区間36aから
は外れるようにする。
The count set values of the counters 33 and 37 can be changed by digital switches 35 and 39. As described above, as shown in the waveform example of FIG.
At the output 30out of 26, short pulses 30b and 30c corresponding to the first rising edge and the last falling edge of the raw camera output video signal 22 appear, but deviate from the above-described inspection section 36a.

【0071】次に図8及び図9を用いて暗部信号検出部
40の構成について説明する。図8は暗部信号検出部40の
構成図であり、図9は該暗部信号検出部40の各部の信号
波形例を示す。図8において、暗部信号検出部40は、比
較器41と比較電圧発生回路42とAND回路43とシングル
ショットマルチバイブレータ44で構成する。
Next, referring to FIG. 8 and FIG.
Forty configurations will be described. FIG. 8 is a configuration diagram of the dark part signal detection unit 40, and FIG. 9 shows an example of a signal waveform of each part of the dark part signal detection unit 40. In FIG. 8, the dark part signal detection unit 40 includes a comparator 41, a comparison voltage generation circuit 42, an AND circuit 43, and a single shot multivibrator 44.

【0072】シェーディング補正部26の結果となる出力
段アンプ30の出力信号30out と比較電圧発生回路42で生
成した比較電圧42out を比較器41に入力し、該比較器41
は出力信号30out の内、前記比較電圧42out よりも低い
レベルの信号がある場合にONするような動作としてお
く。この状態図を図9の30out 及び42out の波形例に示
す。
The output signal 30out of the output stage amplifier 30, which is the result of the shading correction unit 26, and the comparison voltage 42out generated by the comparison voltage generation circuit 42 are input to the comparator 41.
Is turned on when there is a signal having a level lower than the comparison voltage 42out among the output signals 30out. This state diagram is shown in the waveform example of 30out and 42out in FIG.

【0073】この結果、比較器41の出力41out は、図9
の波形例に示すように、暗部信号部分である短パルス30
aと生のカメラ出力ビデオ信号22の立ち下がり部分であ
る短パルス30cに相当する部位のみの短パルス41a,41
cからなるON信号となる。
As a result, the output 41out of the comparator 41 is
As shown in the waveform example of FIG.
a and short pulses 41a and 41 only at a portion corresponding to the short pulse 30c which is the falling portion of the raw camera output video signal 22.
An ON signal consisting of c.

【0074】この比較器41の出力41out と検査区間設定
部31の出力であるパルス波形の検査区間信号36out とを
AND回路43に入力すれば図9の43out の波形例に示す
ように、カメラ出力ビデオ信号22の中の暗部信号部分で
ある短パルス30aに相当する部位のみの短パルス43aが
抽出できる。この短パルス43aが比較電圧発生回路42で
生成した比較電圧42out よりも暗くなった暗部欠陥検出
信号11aとなる。
When the output 41out of the comparator 41 and the test period signal 36out of the pulse waveform output from the test period setting section 31 are input to the AND circuit 43, the camera output is obtained as shown in the waveform example of 43out in FIG. A short pulse 43a of only a portion corresponding to the short pulse 30a which is a dark signal portion in the video signal 22 can be extracted. The short pulse 43a becomes the dark part defect detection signal 11a which is darker than the comparison voltage 42out generated by the comparison voltage generation circuit 42.

【0075】前記AND回路43の出力43out 波形に見ら
れる短パルス43aは、暗部信号部分である短パルス30a
に相当するパルスであり、検査管理用パソコン12では捕
らえにくいパルス幅であるために、AND回路43の出力
43out を一旦シングルショットマルチバイブレータ44に
入力し、該検査管理用パソコン12で捕らえることが出来
る時間長のパルスにして図9の波形例に示すような暗部
欠陥検出信号11aを出力する。このシングルショットマ
ルチバイブレータ44は74LS123とCR回路で構成
して、該シングルショットマルチバイブレータ44から出
力される暗部欠陥検出信号11aのパルス幅は0.5秒程
度に引き延ばされている。
The short pulse 43a seen in the output 43out waveform of the AND circuit 43 is a short pulse 30a which is a dark signal portion.
Since the pulse width is difficult to catch by the inspection management personal computer 12, the output of the AND circuit 43
43out is once input to the single-shot multivibrator 44, and a pulse having a time length that can be captured by the inspection management personal computer 12 is output as a dark part defect detection signal 11a as shown in the waveform example of FIG. The single-shot multivibrator 44 is composed of a 74LS123 and a CR circuit, and the pulse width of the dark portion defect detection signal 11a output from the single-shot multivibrator 44 is extended to about 0.5 seconds.

【0076】次に図10及び図11を用いてフィルムシート
幅方向欠陥位置検出部45の構成について説明する。図10
はフィルムシート幅方向欠陥位置検出部45の構成図であ
り、図11は該フィルムシート幅方向欠陥位置検出部45の
各部の信号波形例を示す。図10に示すように、フィルム
シート幅方向欠陥位置検出部45は図11の波形例に示すよ
うな0.2μsの繰り返し周期パルスであるリニアアレ
イCCD信号処理用駆動パルス24をカウンター47に入力
する。
Next, the structure of the film sheet width direction defect position detecting section 45 will be described with reference to FIGS. 10 and 11. FIG. FIG.
FIG. 11 is a configuration diagram of the film sheet width direction defect position detection unit 45, and FIG. 11 shows an example of a signal waveform of each unit of the film sheet width direction defect position detection unit 45. As shown in FIG. 10, the film sheet width direction defect position detecting section 45 inputs the linear array CCD signal processing drive pulse 24 which is a 0.2 μs repetition period pulse as shown in the waveform example of FIG. .

【0077】また、毎回の走査毎のCCD走査開始信号
25と同期した検査区間信号36out をNOR回路46に入力
し、該検査区間信号36out を反転して信号46out を出力
する。前記検査区間信号36out の生成の場合と同様に、
カウンター47は4桁BCDコード出力カウンターを使用
した。
Also, a CCD scan start signal for each scan
The inspection section signal 36out synchronized with 25 is input to the NOR circuit 46, and the inspection section signal 36out is inverted to output a signal 46out. As in the case of generating the inspection section signal 36out,
As the counter 47, a 4-digit BCD code output counter was used.

【0078】カウンター47では、検査区間信号36out の
反転信号46out がlow状態でリニアアレイCCD信号
処理用駆動パルス24をカウントしていき、high状態
でカウントリセットする。
The counter 47 counts the drive pulse 24 for processing the linear array CCD signal when the inverted signal 46out of the inspection section signal 36out is low, and resets the count when it is high.

【0079】また、前述した図9の波形例に示すような
暗部信号検出部40の出力となる暗部欠陥検出信号11aを
NOR回路48に入力し、該NOR回路48から出力された
暗部欠陥検出信号11aの反転信号48out をデータラッチ
回路49に入力する。
The dark part defect detection signal 11a output from the dark part signal detector 40 as shown in the waveform example of FIG. 9 is input to the NOR circuit 48, and the dark part defect detection signal output from the NOR circuit 48 is output. The inverted signal 48out of 11a is input to the data latch circuit 49.

【0080】データラッチ回路49では、暗部欠陥検出信
号11aの反転信号48out が、low状態でカウンター47
から伝送されるカウントデータをホールドし、そのカウ
ントデータ11bを検査管理用パソコン12に出力する。前
述の如く、図9に示す暗部欠陥検出信号11aは約0.5
秒程度ステータス状態を保つようにしたためホールドさ
れたカウントデータ11bを検査管理用パソコン12で充分
に捕らえられる。
In the data latch circuit 49, when the inverted signal 48out of the dark part defect detection signal 11a is in the low state, the counter 47
And outputs the count data 11b to the inspection management personal computer 12. As described above, the dark part defect detection signal 11a shown in FIG.
Since the status state is maintained for about a second, the held count data 11b can be sufficiently captured by the inspection management personal computer 12.

【0081】次に図12及び図13を用いてフィルムシート
走行方向欠陥位置検出部50の構成について説明する。図
12はフィルムシート走行方向欠陥位置検出部50の構成図
であり、図13は該フィルムシート走行方向欠陥位置検出
部50の各部の信号波形例を示す。
Next, the structure of the film sheet traveling direction defect position detecting section 50 will be described with reference to FIGS. Figure
FIG. 12 is a configuration diagram of the film sheet traveling direction defect position detecting section 50, and FIG. 13 shows an example of a signal waveform of each section of the film sheet traveling direction defect position detecting section 50.

【0082】フィルムシート走行方向欠陥位置検出部50
はオムロン株式会社製K3TR型パルスカウンターを使
って構成し、このパルスカウンターに図13の波形例に示
すような1ms/パルスの繰り返し周期パルスである測
長パルス発信器出力信号14を入力する。測長パルス発信
器13は株式会社小野測器製の発信器PR721と変換器
CR1310Aを使用した。また、検査の開始/停止の
管理は検査管理用パソコン12で行うようにして、該検査
の開始/停止モード信号51を検査管理用パソコン12から
接点信号で前記フィルムシート走行方向欠陥位置検出部
50のパルスカウンターに入力する。
The position detecting unit 50 detects a defect in the traveling direction of the film sheet.
Is constituted by using a K3TR type pulse counter manufactured by OMRON Corporation, and a length measuring pulse transmitter output signal 14 which is a repetition period pulse of 1 ms / pulse as shown in a waveform example of FIG. 13 is input to the pulse counter. As the length measuring pulse transmitter 13, a transmitter PR721 and a converter CR1310A manufactured by Ono Sokki Co., Ltd. were used. Inspection start / stop management is performed by the inspection management personal computer 12, and the inspection start / stop mode signal 51 is transmitted from the inspection management personal computer 12 to a contact signal from the film sheet traveling direction defect position detecting unit.
Input to 50 pulse counter.

【0083】このパルスカウンターはカウント値を10
00分の1にでき、5桁BCDコードデータ出力でメー
タ単位データ11cを出力して検査管理用パソコン12に入
力する。上述の如く、暗部信号検出部40の出力である暗
部欠陥検出信号11aを検査管理用パソコン12に入力して
おり、該暗部欠陥検出信号11aが該検査管理用パソコン
12に入力された時点での測長データを検査管理用パソコ
ン12で知ることが出来る。
This pulse counter has a count value of 10
The meter unit data 11c is output as 5-digit BCD code data and input to the inspection management personal computer 12. As described above, the dark part defect detection signal 11a output from the dark part signal detection unit 40 is input to the inspection management personal computer 12, and the dark part defect detection signal 11a is output to the inspection management personal computer.
The length measurement data at the time when the data is input to 12 can be known by the inspection management personal computer 12.

【0084】フィルムシート3は4m/分で走行してい
るため暗部欠陥検出信号11aのON時間の0.5秒では
33mmしか移動しないためメータ単位データ11cは検
査管理用パソコン12で確実に読みとれる。
Since the film sheet 3 travels at 4 m / min and moves only 33 mm when the dark part defect detection signal 11a is ON for 0.5 second, the meter unit data 11c can be reliably read by the inspection management personal computer 12. .

【0085】次に図14及び図15を用いてビデオ信号レベ
ル自動調整部52の構成について説明する。図14はビデオ
信号レベル自動調整部52の構成図であり、図15は該ビデ
オ信号レベル自動調整部52の各部の信号波形例を示す。
ビデオ信号レベル自動調整部52は検査対象となるフィル
ムシート3の厚さを変更した場合やハロゲンランプ15の
輝度低下に対応して検出回路10の各部が正常に動作する
ようにビデオ信号レベルを一定にコントロールするため
に用意した。従って、時間的には1秒以上の長レンジの
コントロール性能とした。
Next, the configuration of the video signal level automatic adjusting section 52 will be described with reference to FIGS. FIG. 14 is a configuration diagram of the video signal level automatic adjustment unit 52, and FIG. 15 shows an example of a signal waveform of each unit of the video signal level automatic adjustment unit 52.
The video signal level automatic adjustment section 52 keeps the video signal level constant so that each section of the detection circuit 10 operates normally when the thickness of the film sheet 3 to be inspected is changed or when the luminance of the halogen lamp 15 decreases. Prepared for control. Therefore, the control performance is set to a long range of 1 second or more in terms of time.

【0086】ビデオ信号レベル自動調整部52には図15の
波形例に示すようなカメラ出力ビデオ信号22を入力受信
する入力段アンプ53を用意した。カメラ出力ビデオ信号
22は平均値として1V前後で入力する。平均値より電圧
が大きい部分は輝点となり、平均値より電圧が小さい部
分は暗点となる。カメラ出力ビデオ信号22は前述のごと
く2msという高速周期の変化信号である。
The video signal level automatic adjusting section 52 is provided with an input stage amplifier 53 for inputting and receiving the camera output video signal 22 as shown in the waveform example of FIG. Camera output video signal
22 is input at about 1 V as an average value. The portion where the voltage is higher than the average value is a bright point, and the portion where the voltage is lower than the average value is a dark point. The camera output video signal 22 is a change signal having a high-speed cycle of 2 ms as described above.

【0087】入力段アンプ53では入力過電圧保護やゲイ
ン調整、ゼロ点調整を行い、次段の低周波数通過フィル
ターアンプ54に信号伝送する。低周波数通過フィルター
アンプ54は、時定数1秒程度つまり周波数でいえば約1
Hz程度の極低周波数通過フィルターとして機能するよ
うに設計した。
The input stage amplifier 53 performs input overvoltage protection, gain adjustment, and zero point adjustment, and transmits a signal to the low frequency pass filter amplifier 54 of the next stage. The low frequency pass filter amplifier 54 has a time constant of about one second, that is, about one frequency.
It was designed to function as a very low frequency pass filter of about Hz.

【0088】従って、ビデオ信号レベル自動調整部52に
入力するカメラ出力ビデオ信号22は前述のごとく2ms
という高速周期の変化信号であるが、低周波数通過フィ
ルターアンプ54の出力54out は図15の波形例に示すよう
な、秒単位のゆっくりとした追従変化の信号となる。
Therefore, the camera output video signal 22 input to the video signal level automatic adjustment section 52 is 2 ms as described above.
However, the output 54out of the low frequency pass filter amplifier 54 is a signal of a slow following change in seconds as shown in the waveform example of FIG.

【0089】更に、ビデオ信号レベル自動調整部52に
は、図15の波形例に示すような2msの繰り返し周期パ
ルスであるCCD走査開始信号25とリニアアレイCCD
信号処理用駆動パルス24を入力し、サンプリングホール
ドタイミングパルス発生回路56で入力受信する。このサ
ンプリングホールドタイミングパルス発生回路56はCC
D走査開始信号25の各周期の中間位置で前記低周波数通
過フィルターアンプ54の出力54out をサンプリングホー
ルドするためのタイミングパルス56out を生成するもの
である。
Further, the video signal level automatic adjusting section 52 has a CCD scanning start signal 25 which is a repetition pulse of 2 ms as shown in the waveform example of FIG.
The signal processing drive pulse 24 is input, and the input is received by the sampling hold timing pulse generation circuit 56. This sampling hold timing pulse generating circuit 56
A timing pulse 56out for sampling and holding the output 54out of the low frequency pass filter amplifier 54 is generated at an intermediate position of each cycle of the D-scan start signal 25.

【0090】このタイミングパルス56out が図15の波形
例で示すように、CCD走査開始信号25の各周期の中間
位置となるように、サンプリングホールドタイミングパ
ルス発生回路56は遅延カウンター回路と必要パルス幅の
カウンター回路とパルス発生回路からなる。本実施形態
としては遅延時間250μs、パルス幅60μsとし
た。尚、サンプリングホールドタイミングパルス発生回
路56は前述の検査区間設定部31の回路構成と同じでも良
い。
The sampling hold timing pulse generating circuit 56 and the delay counter circuit have a required pulse width such that the timing pulse 56out is located at an intermediate position of each cycle of the CCD scanning start signal 25 as shown in the waveform example of FIG. It consists of a counter circuit and a pulse generation circuit. In this embodiment, the delay time is 250 μs and the pulse width is 60 μs. Note that the sampling hold timing pulse generation circuit 56 may have the same circuit configuration as the above-described inspection section setting unit 31.

【0091】前記タイミングパルス56out と低周波数通
過フィルターアンプ54の出力54outをサンプリングホー
ルド回路55に入力し、図15の波形例に示すサンプリング
電圧55out を得る。一方でコントロール基準設定電圧発
生回路58を用意し、該コントロール基準設定電圧発生回
路58で生成した図15の波形例で示す直流の定置電圧から
なるコントロール基準設定電圧58out と前記サンプリン
グ電圧55out を比較する比較回路57を用意する。
The timing pulse 56out and the output 54out of the low frequency pass filter amplifier 54 are input to the sampling and holding circuit 55, and a sampling voltage 55out shown in the waveform example of FIG. 15 is obtained. On the other hand, a control reference setting voltage generating circuit 58 is prepared, and the control reference setting voltage 58out composed of a DC stationary voltage generated by the control reference setting voltage generating circuit 58 and shown in the waveform example of FIG. 15 is compared with the sampling voltage 55out. A comparison circuit 57 is prepared.

【0092】比較回路57で、{サンプリング電圧55out
のレベル<コントロール基準設定電圧58out のレベル}
の場合は次段増光アンプ部59を生かし、{サンプリング
電圧55out のレベル>コントロール基準設定電圧58out
のレベル}の場合は次段減光アンプ部60を生かして加算
回路61により一つの制御出力信号18にまとめる。
In the comparison circuit 57, {sampling voltage 55out}
Level <control reference setting voltage 58out level}
In the case of, make use of the next-stage brightening amplifier section 59, the level of the sampling voltage 55out> the control reference setting voltage 58out
In the case of level}, the adder 61 makes use of the next-stage light-attenuating amplifier unit 60 to combine them into one control output signal 18.

【0093】ビデオ信号レベル自動調整部52から出力さ
れる制御出力信号18により光源コントローラ4を介して
ハロゲンランプ15に供給されるハロゲンランプ供給電力
19を調整して光量20を調整し、カメラ出力ビデオ信号22
のレベルを目的に沿った1V程度に自動調整することが
出来る。
Halogen lamp supply power supplied to the halogen lamp 15 via the light source controller 4 by the control output signal 18 output from the video signal level automatic adjustment section 52
Adjust the light intensity 20 by adjusting 19, the camera output video signal 22
Can be automatically adjusted to about 1 V according to the purpose.

【0094】尚、本実施形態においては、ビデオ信号レ
ベル自動調整部52の出力である制御出力信号18は直流0
〜5V、ハロゲンランプ供給電力19は0〜12Vで構成
した。また、カメラ出力ビデオ信号22のレベルが約1V
の場合、低周波数通過フィルターアンプ54の出力54out
はフィルター特性によりレベルが低下するため、比較回
路57でのコントロール基準設定電圧58out との突き合わ
せレベルは1V以下となった。このように、ビデオ信号
レベル自動調整部52のコントロール機能を生かしてカメ
ラ出力ビデオ信号22のレベルが約1Vになるようにコン
トロール基準設定電圧58out を最適設定した。
In this embodiment, the control output signal 18, which is the output of the video signal level automatic adjusting section 52, is DC 0
The halogen lamp supply power 19 was set to 0 to 12V. Also, the level of the camera output video signal 22 is about 1 V
, The output 54out of the low frequency pass filter amplifier 54
Since the level is lowered by the filter characteristic, the level of comparison with the control reference set voltage 58out in the comparison circuit 57 is 1 V or less. As described above, the control reference setting voltage 58out is optimally set so that the level of the camera output video signal 22 becomes about 1 V by utilizing the control function of the video signal level automatic adjusting section 52.

【0095】次に、各種欠陥の特徴に対応する第1、第
2の偏光板8,9の偏光方向と各種欠陥のカメラ出力ビ
デオ信号22及びシェーディング補正後のビデオ信号の比
較例を図16(a)〜(d)及び図17(a),(b)、図
18(a),(b)、図19(a),(b)を用いて説明す
る。
Next, a comparison example of the polarization directions of the first and second polarizers 8 and 9 corresponding to the characteristics of various defects, the camera output video signal 22 of various defects, and the video signal after shading correction is shown in FIG. a) to (d) and FIGS. 17 (a) and (b),
This will be described with reference to FIGS. 18 (a) and (b) and FIGS. 19 (a) and (b).

【0096】図16(a)はフィルムシート3の内部に発
生した気泡欠陥62の形態を示す。気泡欠陥62の周りには
大きな歪み63を有している。図16(b)はフィルムシー
ト3の内部に発生した異物欠陥64の形態を示す。異物欠
陥64の周りには大きな歪み65を有している。
FIG. 16A shows the form of a bubble defect 62 generated inside the film sheet 3. There is a large distortion 63 around the bubble defect 62. FIG. 16B shows the form of a foreign matter defect 64 generated inside the film sheet 3. A large distortion 65 is present around the foreign matter defect 64.

【0097】図16(c)はフィルムシート3に発生した
ピンホール欠陥66の形態を示す。ピンホール欠陥66の周
りには大きな歪み67を有している。図16(d)はフィル
ムシート3の内部に発生した小さな歪み68の形態を示
す。一般に小さな歪み68は品質上問題にならないため欠
陥としては検出しない方が好ましい。
FIG. 16C shows the form of the pinhole defect 66 generated in the film sheet 3. There is a large distortion 67 around the pinhole defect 66. FIG. 16D shows a form of a small distortion 68 generated inside the film sheet 3. Generally, it is preferable not to detect the small distortion 68 as a defect because it does not cause a problem in quality.

【0098】図17(a)は上述した実施形態の構成で第
1の偏光板8と第2の偏光板9の偏光方向のずれ角度θ
を略直角に設定した場合のリニアアレイカメラ7から出
力されるカメラ出力ビデオ信号22を示し、図17(b)は
図17(a)のカメラ出力ビデオ信号22をシェーディング
補正部26でシェーディング補正した後のビデオ信号を示
す。
FIG. 17A shows the configuration of the above-described embodiment, in which the deviation angle θ between the polarization directions of the first polarizing plate 8 and the second polarizing plate 9 is shown.
17A shows a camera output video signal 22 output from the linear array camera 7 when the angle is set to substantially a right angle. FIG. 17B shows the camera output video signal 22 shown in FIG. The video signal after is shown.

【0099】図18(a)は上述した実施形態の構成で第
1の偏光板8と第2の偏光板9の偏光方向のずれ角度θ
を約±50度に設定した場合のリニアアレイカメラ7か
ら出力されるカメラ出力ビデオ信号22を示し、図18
(b)は図18(a)のカメラ出力ビデオ信号22をシェー
ディング補正部26でシェーディング補正した後のビデオ
信号を示す。
FIG. 18A shows the configuration of the above-mentioned embodiment, in which the deviation angle θ between the polarization directions of the first polarizing plate 8 and the second polarizing plate 9 is shown.
FIG. 18 shows a camera output video signal 22 output from the linear array camera 7 when is set to about ± 50 degrees.
18B shows a video signal after shading correction of the camera output video signal 22 of FIG.

【0100】図19(a)は上述した実施形態の構成で第
1の偏光板8と第2の偏光板9の偏光方向のずれ角度θ
を約±20度に設定した場合のリニアアレイカメラ7か
ら出力されるカメラ出力ビデオ信号22を示し、図19
(b)は図19(a)のカメラ出力ビデオ信号22をシェー
ディング補正部26でシェーディング補正した後のビデオ
信号を示す。
FIG. 19A shows the configuration of the above-described embodiment, in which the deviation angle θ between the polarization directions of the first polarizing plate 8 and the second polarizing plate 9 is shown.
FIG. 19 shows a camera output video signal 22 output from the linear array camera 7 when is set to about ± 20 degrees.
(B) shows a video signal after shading correction of the camera output video signal 22 of FIG.

【0101】まず、第1の偏光板8と第2の偏光板9の
偏光方向のずれ角度θが略直角の場合のリニアアレイカ
メラ7から出力されるカメラ出力ビデオ信号22の波形例
を示す図17(a)で、フィルムシート3内に気泡欠陥62
と小さな歪み68を有する場合について述べる。
First, a diagram showing a waveform example of the camera output video signal 22 output from the linear array camera 7 when the deviation angle θ between the polarization directions of the first polarizing plate 8 and the second polarizing plate 9 is substantially a right angle. 17 (a), the bubble defect 62
And a case having a small distortion 68 will be described.

【0102】気泡欠陥62は内部歪み及び周りの歪みが大
きいため、第1の偏光板8により直線偏光された光を前
記歪みが回転させ直角方向に偏光させる働きにより第2
の偏光板9の偏光方向成分が増加して通過し、明るい輝
点としてリニアアレイカメラ7が捕らえることになる。
Since the bubble defect 62 has a large internal distortion and a peripheral distortion, the linearly polarized light by the first polarizing plate 8 is rotated by the distortion to polarize the light in the right-angle direction.
The polarization direction component of the polarizing plate 9 increases and passes, and the linear array camera 7 catches it as a bright luminescent spot.

【0103】フィルムシート3内の小さな歪み68も前記
効果が顕在化し、明るい輝点として光る映像となる。図
17(a)において69aは気泡欠陥62に相当する部位のビ
デオ信号を示し、70aはフィルムシート3内の小さな歪
み68に相当する部位のビデオ信号を示す。ここで、ビデ
オ信号69a,70aの両者とも同じように輝点として光る
結果となりカメラ出力ビデオ信号22の電圧としてはリニ
アアレイカメラ7の出力飽和レベル5Vに近い値とな
る。
The above-described effect becomes apparent even with a small distortion 68 in the film sheet 3, and an image shines as a bright luminescent spot. Figure
In FIG. 17A, reference numeral 69a denotes a video signal of a portion corresponding to the bubble defect 62, and reference numeral 70a denotes a video signal of a portion corresponding to a small distortion 68 in the film sheet 3. Here, both the video signals 69a and 70a similarly shine as bright points, and the voltage of the camera output video signal 22 becomes a value close to the output saturation level of the linear array camera 7 of 5V.

【0104】このカメラ出力ビデオ信号22から欠陥検出
しきい値TH1 を4Vとして地合ノイズと弁別しようとす
ると両者とも検出してしまう。小さな歪み68の程度は品
質上良しとする場合は、これに相当するビデオ信号70a
を検出するため過検出となってしまう。また、フィルム
シート3の分子配向むらや厚みむらにより地合レベルが
大きく変動し、図17(a)のビデオ信号71aに示すよう
に、欠陥検出しきい値TH1 の4Vまで届く場合もあり得
るため過検出が多くなる。
When the defect detection threshold value TH1 is set to 4 V from the camera output video signal 22 to try to discriminate it from formation noise, both are detected. If the degree of the small distortion 68 is considered to be good in quality, the video signal 70a corresponding to this is used.
Is over-detected due to the detection of Also, the formation level fluctuates greatly due to the uneven molecular orientation and the uneven thickness of the film sheet 3, and as shown by the video signal 71a in FIG. 17A, it may reach the defect detection threshold value TH1 of 4V. Overdetection increases.

【0105】欠陥検出しきい値TH1 を4V以上の値、例
えば4.5Vにすれば前記地合レベル変動の過検出は免
れることになるが、気泡欠陥62等の小さなものは4.5
V以下の輝点ピーク値しか得られない場合も出て、欠陥
検出しきい値TH1 に届かず未検出になる場合も出てく
る。
If the defect detection threshold value TH1 is set to a value of 4 V or more, for example, 4.5 V, over-detection of the formation level fluctuation can be avoided, but a small one such as the bubble defect 62 is 4.5.
In some cases, only a bright spot peak value equal to or lower than V is obtained, and in other cases, the peak value does not reach the defect detection threshold value TH1 and detection is not performed.

【0106】仮に、上記構成のシェーディング補正部26
を使って処理すると図17(b)のようになり、1Vを中
心とした明るさ表現となる。この場合、欠陥検出しきい
値TH2 を2Vとして地合ノイズと弁別しようとすると、
気泡欠陥62に相当する部位のビデオ信号69aに対応する
補正ビデオ信号69bは5Vを超えるため検出は確実に出
来るが、やはり小さな歪み68に相当する部位のビデオ信
号70aに対応する補正ビデオ信号70bは2Vを大きく超
え、気泡欠陥62に対応する補正ビデオ信号69bと同等レ
ベルとなり過検出してしまうことは避けられない。
It is assumed that the shading correction section 26 having the above configuration is used.
17B, the result is as shown in FIG. 17B, and a brightness expression centering on 1V is obtained. In this case, if the defect detection threshold value TH2 is set to 2 V and it is attempted to discriminate it from formation noise,
The correction video signal 69b corresponding to the video signal 69a corresponding to the portion corresponding to the bubble defect 62 exceeds 5 V, so that the detection can be reliably performed. However, the correction video signal 70b corresponding to the video signal 70a corresponding to the portion corresponding to the small distortion 68 is also It is unavoidable that the voltage greatly exceeds 2 V and becomes the same level as the corrected video signal 69b corresponding to the bubble defect 62, resulting in overdetection.

【0107】図17(a)と図17(b)では、気泡欠陥62
と小さな歪み68を例にあげたが、異物欠陥64及びピンホ
ール欠陥66についていえば、これらの欠陥の周りにも大
きな歪み65,67を有しており、前述した気泡欠陥62と同
じように、この周りの歪み部分により輝点として光る映
像となる。
In FIGS. 17A and 17B, the bubble defect 62
The small distortion 68 was taken as an example, but as for the foreign matter defect 64 and the pinhole defect 66, these defects also have large distortions 65 and 67 around them, as in the case of the bubble defect 62 described above. Then, an image which shines as a luminescent spot due to the distorted portion around the image becomes.

【0108】また、異物欠陥64の異物自体は、遮光する
性質があるため減光特性の暗部信号傾向の信号を示し、
ピンホール欠陥66のピンホール部自体は、第1の偏光板
8による直線偏光方向に変化を与えないため、第2の偏
光板9の偏光方向とは直角であり、光が通過しないため
暗部信号傾向の信号を示すことになる。
Further, since the foreign substance itself of the foreign substance defect 64 has a property of shielding light, it shows a signal of a dark part signal tendency of a dimming characteristic,
Since the pinhole portion itself of the pinhole defect 66 does not change the direction of linear polarization by the first polarizing plate 8, it is perpendicular to the direction of polarization of the second polarizing plate 9, and no light passes therethrough. It will show a trend signal.

【0109】次に、第1の偏光板8と第2の偏光板9と
の偏光方向のずれ角度θを約±50度に設定した場合の
リニアアレイカメラ7から出力されるカメラ出力ビデオ
信号22の波形例を示す図18(a)を用いてフィルムシー
ト3に異物欠陥64とピンホール欠陥66とを有する場合に
ついて述べる。
Next, the camera output video signal 22 output from the linear array camera 7 when the deviation angle θ of the polarization direction between the first polarizing plate 8 and the second polarizing plate 9 is set to about ± 50 degrees. The case where the film sheet 3 has the foreign matter defect 64 and the pinhole defect 66 will be described with reference to FIG.

【0110】異物欠陥64の異物自体を表現するビデオ信
号は、図18(a)の72aに示すように異物自体は、遮光
する性質があるため減光特性の暗部信号傾向の信号を示
す。また、ピンホール欠陥66のピンホール部自体は第1
の偏光板8による直線偏光方向に変化を与えないため、
第2の偏光板9の偏光方向が第1の偏光板8の偏光方向
に対してずれ角度θが直角の場合は、前述のように暗部
信号傾向の信号を示すが、前記ずれ角度θが約±50度
の角度差となると第2の偏光板9の通過光量が増すため
減光特性が弱められることになり、ビデオ信号の大きさ
としては73aに示すように地合ノイズと同等程度とな
る。
The video signal representing the foreign substance itself of the foreign substance defect 64 shows a signal of the dark part signal tendency of the dimming characteristic because the foreign substance itself has a light shielding property as shown at 72a in FIG. Also, the pinhole portion itself of the pinhole defect 66 is the first
In order not to change the linear polarization direction by the polarizing plate 8 of
When the polarization direction of the second polarizer 9 is at a right angle to the polarization direction of the first polarizer 8, a signal having a dark part signal tendency is shown as described above. When the angle difference is ± 50 degrees, the amount of light passing through the second polarizer 9 increases, so that the dimming characteristic is weakened, and the magnitude of the video signal becomes approximately equal to the formation noise as shown in 73a. .

【0111】仮に、上記構成のシェーディング補正部26
を使って処理すると、図18(b)に示すように、1Vを
中心とした明るさ表現となり、地合ノイズは1Vを中心
に±0.2V程度となる。異物欠陥64の異物自体の補正
ビデオ信号は72bに示すように0.8V程度の暗部信
号、ピンホール欠陥66のピンホール部自体の補正ビデオ
信号は73bに示すように0.9V程度の暗部信号とな
り、これらは地合ノイズの下限0.8V以内に埋もれて
しまう。
It is assumed that the shading correction unit 26 having the above configuration is used.
18B, the brightness is expressed around 1V as shown in FIG. 18 (b), and the formation noise is about ± 0.2V around 1V. The corrected video signal of the foreign matter itself of the foreign matter defect 64 is a dark part signal of about 0.8 V as shown at 72b, and the corrected video signal of the pinhole part itself of the pinhole defect 66 is about 0.9V as shown at 73b. These are buried within the lower limit 0.8V of formation noise.

【0112】また、フィルムシート3内の気泡欠陥62及
び周りの大きな歪み63、異物欠陥64の周りの大きな歪み
65、ピンホール欠陥66の周りの大きな歪み67に対して
は、第1の偏光板8と第2の偏光板9との偏光方向のず
れ角度θが直角から外れて次第に平行側に近づき、約±
50度程度になると、殆ど輝点としては表現されなくな
ることが分かった。
Further, a large defect 63 around the bubble defect 62 and the surroundings 63 in the film sheet 3 and a large distortion 63 around the foreign matter defect 64
65, with respect to a large distortion 67 around the pinhole defect 66, the deviation angle θ of the polarization direction between the first polarizing plate 8 and the second polarizing plate 9 gradually deviates from a right angle and approaches a parallel side. ±
It was found that when the angle reached about 50 degrees, almost no bright spot was expressed.

【0113】次に、第1の偏光板8と第2の偏光板9と
の偏光方向のずれ角度θを約±20度に設定した場合の
リニアアレイカメラ7から出力されるカメラ出力ビデオ
信号22の波形例を示す図19(a)を用いてフィルムシー
ト3内に気泡欠陥62を有する場合について述べる。
Next, the camera output video signal 22 output from the linear array camera 7 when the deviation angle θ of the polarization direction between the first polarizing plate 8 and the second polarizing plate 9 is set to about ± 20 degrees. The case where the film sheet 3 has the bubble defect 62 will be described with reference to FIG.

【0114】第1の偏光板8と第2の偏光板9との偏光
方向のずれ角度θが直角から次第に平行に近づくにつれ
て、フィルムシート3内の気泡欠陥62及び周りの大きな
歪み63は、前述の如く明るい輝点が弱くなり、前記偏光
方向のずれ角度θが約±50度程度になると、殆ど輝点
としては表現されなくなることが分かった。
As the deviation angle θ in the polarization direction between the first polarizing plate 8 and the second polarizing plate 9 gradually approaches parallel from a right angle, the bubble defect 62 in the film sheet 3 and the large distortion 63 around the film defect 3 It was found that a bright luminescent spot as described above weakened, and when the deviation angle θ of the polarization direction became about ± 50 degrees, almost no bright spot was expressed.

【0115】更に、前記偏光方向のずれ角度θが約±2
0度程度になると、図19(a)のビデオ信号74aに示す
ように暗点として映像化されるようになることが分かっ
た。フィルムシート3内の小さな歪み68についていえ
ば、前述の如く偏光方向のずれ角度θが約±50度程度
になると、もはや地合ノイズに埋もれてしまい、偏光方
向のずれ角度θが約±20度程度になっても同様の態様
となった。
Further, the deviation angle θ of the polarization direction is about ± 2.
It has been found that when the angle is about 0 degrees, as shown in the video signal 74a in FIG. With respect to the small distortion 68 in the film sheet 3, when the deviation angle θ in the polarization direction becomes about ± 50 degrees as described above, it is no longer buried in formation noise, and the deviation angle θ in the polarization direction becomes about ± 20 degrees. The same mode was obtained even when the degree reached.

【0116】従って、偏光方向のずれ角度θが約±20
度程度になるとフィルムシート3内の気泡欠陥62及び周
りの大きな歪み63の暗点映像化は顕在化していき、別途
点在するフィルムシート3内の小さな歪み68について
は、もはや地合ノイズに埋もれてしまうことが分かっ
た。
Therefore, the deviation angle θ of the polarization direction is about ± 20.
When the temperature is reduced to a degree, the dark spot imaging of the bubble defect 62 in the film sheet 3 and the large distortion 63 around the film becomes apparent, and the small distortion 68 in the film sheet 3 separately scattered is no longer buried in formation noise. It turned out to be.

【0117】そして、上記構成のシェーディング補正部
26を使って処理すると、図19(b)に示すようになる。
この場合、欠陥検出しきい値TH3 を0.7Vとして地合
ノイズと弁別しようとすれば、気泡欠陥62とその周りの
大きな歪み63を表す補正ビデオ信号74bに示すように
0.5V程度以下の暗部信号となり確実に捕らえること
が出来る。
Then, the shading correction unit having the above configuration
When processing is performed using 26, the result is as shown in FIG.
In this case, if the defect detection threshold value TH3 is set to 0.7 V to discriminate from the formation noise, as shown in the corrected video signal 74b representing the bubble defect 62 and the large distortion 63 around it, the defect detection threshold TH3 is set to about 0.5 V or less. It becomes a dark area signal and can be reliably captured.

【0118】この場合、別途点在するフィルムシート3
内の小さな歪み68部分は映像化されていないため図19
(b)に示すように、地合ノイズの下限0.9V以内に
埋もれてしまい過検出されない。
In this case, the separately scattered film sheet 3
Fig. 19 because the 68 small distortions inside are not visualized
As shown in (b), the noise is buried within the lower limit of 0.9 V of formation noise and is not excessively detected.

【0119】更にいえば、異物欠陥64についても、前記
第1、第2の偏光板8,9の偏光方向のずれ角度θが約
±20度程度になると、異物欠陥64とその周りの大きな
歪み65が暗い暗部信号として映像化されるため、この部
分を前記シェーディング補正部26によるシェーディング
補正処理後の映像を利用して、欠陥検出しきい値TH3で
捕らえることができる。
Furthermore, regarding the foreign matter defect 64, when the deviation angle θ of the polarization direction of the first and second polarizing plates 8 and 9 becomes about ± 20 degrees, the foreign matter defect 64 and a large distortion around it are generated. Since the image 65 is imaged as a dark dark portion signal, this portion can be captured by the defect detection threshold TH3 using the image after the shading correction processing by the shading correction unit 26.

【0120】一方、ピンホール欠陥66についていえば、
前記偏光方向のずれ角度θが前記約±50度程から更に
約±20度程度になった場合、ピンホール欠陥66のピン
ホール部自体による第2の偏光板9の通過光量が更に増
すため、リニアアレイカメラ7の分解能より大きなピン
ホール部自体については輝点として光るようになる。
On the other hand, regarding the pinhole defect 66,
When the deviation angle θ in the polarization direction becomes about ± 20 degrees from the above about ± 50 degrees, the amount of light passing through the second polarizing plate 9 by the pinhole portion itself of the pinhole defect 66 further increases. The pinhole portion itself larger than the resolution of the linear array camera 7 shines as a bright spot.

【0121】上述の如く、第1、第2の偏光板8,9の
偏光方向のずれ角度θが約±20度程度になると、ピン
ホール欠陥66についても、該ピンホール欠陥66の周りの
大きな歪み67が暗い暗部信号として映像化されるため、
前記シェーディング補正部26によるシェーディング補正
処理後の映像を利用して欠陥検出しきい値TH3 で、この
暗部信号部分を捕らえることが出来る。
As described above, when the deviation angle θ between the polarization directions of the first and second polarizers 8 and 9 becomes about ± 20 degrees, the pinhole defect 66 also becomes large around the pinhole defect 66. Because the distortion 67 is visualized as a dark dark signal,
Using the image after the shading correction processing by the shading correction section 26, the dark portion signal portion can be captured by the defect detection threshold value TH3.

【0122】ピンホール欠陥66については、該ピンホー
ル欠陥66の明部信号を捕らえることでも欠陥検出は可能
であるが、リニアアレイカメラ7の分解能以下の径の小
さなピンホール欠陥66では能力に限度が生じる。リニア
アレイカメラ7の分解能以下の径の小さなピンホール欠
陥66についても該ピンホール欠陥66の周りにはリニアア
レイカメラ7の分解能以上の大きな歪み67を有している
ことが実験結果から明らかになった。
The pinhole defect 66 can be detected by capturing the bright signal of the pinhole defect 66. However, the capability of the pinhole defect 66 having a smaller diameter than the resolution of the linear array camera 7 is limited. Occurs. From the experimental results, it is clear that the pinhole defect 66 having a diameter smaller than the resolution of the linear array camera 7 also has a large distortion 67 around the pinhole defect 66 which is higher than the resolution of the linear array camera 7. Was.

【0123】一方、前述したように、ピンホール欠陥66
の周りの大きな歪み67に対する暗部信号を捕らえる構成
であれば、ピンホール欠陥66のピンホール部自体の径が
リニアアレイカメラ7の分解能以下の小さなものであっ
ても、ピンホール欠陥66の周りの大きな歪み67を捕らえ
ることでピンホール欠陥66を容易に捕らえることが出来
る。
On the other hand, as described above, the pinhole defect 66
If the configuration is such that a dark portion signal corresponding to a large distortion 67 around the pinhole defect 66 is smaller than the resolution of the linear array camera 7 even if the diameter of the pinhole defect itself is smaller than the resolution of the linear array camera 7, By capturing the large distortion 67, the pinhole defect 66 can be easily captured.

【0124】更に、第1の偏光板8と第2の偏光板9と
の偏光方向のずれ角度θが約±20度から更に0度(互
いの偏光方向が平行)になった場合は、フィルムシート
3内に発生した前記各種欠陥の周りの大きな歪み63,6
5,67に対する暗部信号の顕在化が更に進み、フィルム
シート3内に別途点在する小さな歪み68についてはあま
り顕在化されないことが分かった。
Further, when the deviation angle θ of the polarization direction between the first polarizing plate 8 and the second polarizing plate 9 changes from about ± 20 degrees to 0 degree (the polarization directions are parallel to each other), the film Large distortion around the various defects generated in the sheet 3 63,6
It has been found that the dark signal for the pixels 5 and 67 is further increased, and the small distortion 68 separately scattered in the film sheet 3 is hardly increased.

【0125】従って、第1の偏光板8と第2の偏光板9
との偏光方向のずれ角度θが約±20度程度よりは更に
0度にした方が欠陥信号と地合ノイズのS/N比を良く
することが分かった。
Therefore, the first polarizing plate 8 and the second polarizing plate 9
It has been found that setting the deviation angle θ of the polarization direction between 0 ° and 0 ° more than about ± 20 ° improves the S / N ratio between the defect signal and the formation noise.

【0126】ゆえに、実質的な使用可能範囲としては、
第1の偏光板8と第2の偏光板9との偏光方向のずれ角
度θを約±20度として良いが、上述した実施形態で
は、第1の偏光板8と第2の偏光板9との偏光方向のず
れ角度θを0度(互いの偏光方向が平行)とした。
Therefore, the practical usable range is as follows:
Although the deviation angle θ between the polarization directions of the first polarizing plate 8 and the second polarizing plate 9 may be about ± 20 degrees, in the above-described embodiment, the first polarizing plate 8 and the second polarizing plate 9 Is set to 0 degree (the polarization directions are parallel to each other).

【0127】上記構成によれば、シェーディング補正部
26により検査対象フィルムシート3の部分配向むらが変
化した場合やリニアアレイカメラ7用レンズ21の絞り設
定からくる収差によるカメラ出力ビデオ信号22の波形歪
みを補正し、該カメラ出力ビデオ信号22を均一フラット
レベルにすることにより検査範囲のどの部分でも均一に
欠陥検出できる。
According to the above configuration, the shading correction section
26 corrects the waveform distortion of the camera output video signal 22 due to the change in the partial orientation unevenness of the inspection target film sheet 3 and the aberration caused by the aperture setting of the lens 21 for the linear array camera 7, and makes the camera output video signal 22 uniform. By using a flat level, defects can be uniformly detected in any part of the inspection range.

【0128】例えば、リニアアレイカメラ7用レンズ21
の絞りの例で言えば、絞りを2.8ゃ1.4と大きく開
放していくと、図5に示すカメラ出力ビデオ信号22の波
形例のようにカメラ出力ビデオ信号22のスタート側とエ
ンド側のレベルの低下が大きくなってしまう。フィルム
シート3の走行速度が速くなり、走行方向の分解能を小
さく維持するために、リニアアレイカメラ7の走査開始
信号の繰り返しレートを速くした場合、カメラ出力ビデ
オ信号22の感度が低下し、レンズ21の絞りを大きく開く
と上記のようにカメラ出力ビデオ信号22に端部低下現象
がみられる。
For example, the lens 21 for the linear array camera 7
Speaking of the example of the aperture, when the aperture is greatly opened to 2.8 ゃ 1.4, the start side and the end of the camera output video signal 22 are changed like the waveform example of the camera output video signal 22 shown in FIG. The decrease in the level on the side increases. If the repetition rate of the scanning start signal of the linear array camera 7 is increased in order to increase the traveling speed of the film sheet 3 and keep the resolution in the traveling direction small, the sensitivity of the camera output video signal 22 decreases, and the lens 21 When the aperture of the camera is wide open, the edge drop phenomenon is observed in the camera output video signal 22 as described above.

【0129】フィルムシート3の部分配向むらに限らず
該フィルムシート3に厚みむらがある場合もカメラ出力
ビデオ信号22の前記配向むらや厚みむらに対応する部位
に凹凸が現れる。このようなケースに対し、前記シェー
ディング補正部26はカメラ出力ビデオ信号22を平坦化出
来るため欠陥抽出のしきい値設定を一定電圧にすること
ができ非常に有効である。
Not only the partial orientation unevenness of the film sheet 3 but also the thickness unevenness of the film sheet 3 causes irregularities to appear at portions of the camera output video signal 22 corresponding to the above-mentioned uneven alignment and uneven thickness. In such a case, the shading correction unit 26 can flatten the camera output video signal 22 and can set the threshold value for defect extraction to a constant voltage, which is very effective.

【0130】また、検査対象フィルムシート3の幅拡大
については、リニアアレイカメラ7、第2の偏光板9、
検出回路10等の数を複数設置することになるが、例え
ば、幅が2mのフィルムシート3に適用するとすれば、
これ等を10台用いれば良いことになり、フィルムシー
ト3の走行速度アップに対して、走行方向の分解能を小
さく維持するには、5000bit、ビデオ信号のビデ
オレート20MHzのリニアアレイカメラ7を採用すれ
ば良い。
Regarding the enlargement of the width of the film sheet 3 to be inspected, the linear array camera 7, the second polarizer 9,
A plurality of detection circuits 10 and the like will be provided. For example, if the detection circuit 10 is applied to a film sheet 3 having a width of 2 m,
In order to keep the resolution in the running direction small as the running speed of the film sheet 3 increases, a linear array camera 7 having 5000 bits and a video signal video rate of 20 MHz should be employed. Good.

【0131】前記実施形態では、シェーディング補正部
26として、減算によるシェーディング補正を利用した
が、減算部を除算部に変えた除算シェーディング補正で
も良く、この場合、性能は更に向上する。
In the above embodiment, the shading correction section
Although shading correction by subtraction is used as 26, division shading correction in which a subtraction unit is replaced by a division unit may be used, and in this case, performance is further improved.

【0132】また、前記実施形態では、検査対象フィル
ムシート3としてアラミドフィルムに適用した場合につ
いて説明したが、他のポリエステルフィルム、ポリプロ
ピレンフィルム、ポリスチレンフィルム、ポリイミドフ
ィルム等の透明、半透明フィルムの欠陥検査に利用でき
る。
In the above embodiment, the case where an aramid film is applied as the film sheet 3 to be inspected has been described. However, defect inspection of transparent and translucent films such as other polyester films, polypropylene films, polystyrene films, and polyimide films. Available to

【0133】[0133]

【発明の効果】本発明によれば、上述の構成と作用とを
有するため、以下のような優れた効果を発揮することが
できる。
According to the present invention, since it has the above-described configuration and operation, the following excellent effects can be exhibited.

【0134】(1)検査対象となるフィルムシートの両
面側に一対の偏光板を置き、光源側の第1の偏光板とリ
ニアアレイカメラ側の第2の偏光板との偏光方向のずれ
角度が0度若しくは少なくとも±20度以内とすること
により、気泡欠陥、異物欠陥については、各欠陥部と周
りの大きな歪みの部分を暗部信号として顕在化し、ピン
ホール欠陥については周りの大きな歪みの部分を暗部信
号として顕在化することで、各種の欠陥が確実に検出で
きる。
(1) A pair of polarizing plates is placed on both sides of a film sheet to be inspected, and the deviation angle of the polarizing direction between the first polarizing plate on the light source side and the second polarizing plate on the linear array camera side is determined. By setting the angle to 0 degree or at least within ± 20 degrees, for a bubble defect or a foreign matter defect, a large distortion portion around each defect portion and the surrounding portion is manifested as a dark portion signal, and a large distortion portion around a pinhole defect is revealed. Various defects can be reliably detected by making them appear as dark portion signals.

【0135】(2)シェーディング補正部により検査対
象フィルムシートの部分配向むらが変化した場合やリニ
アアレイカメラ用レンズの絞り設定からくる収差による
ビデオ信号の波形歪みを補正し、ビデオ信号を均一フラ
ットレベルにすることにより検査範囲のどの部分でも均
一に欠陥検出できる。
(2) The shading correction unit corrects the video signal waveform distortion caused by the variation in the partial orientation unevenness of the film sheet to be inspected or the aberration caused by the aperture setting of the lens for the linear array camera, and makes the video signal a uniform flat level. By doing so, a defect can be uniformly detected in any part of the inspection range.

【0136】(3)フィルムシート幅方向欠陥位置検出
部により、ミリメートル単位で幅方向欠陥位置を知るこ
とが出来る。これは、前述した従来例の放電式のピンホ
ール検査機では殆ど不可能な技術であった。
(3) The width direction defect position can be known in millimeter units by the film sheet width direction defect position detection unit. This is almost impossible with the above-described conventional discharge-type pinhole inspection machine.

【0137】(4)フィルムシート走行方向欠陥位置検
出部により、メートル単位でフィルムシート走行方向欠
陥位置を知ることが出来、前記フィルムシート幅方向欠
陥位置検出部とあわせて、2次元の欠陥位置情報を提供
することが出来る。従って、フィルムシートを後工程で
スリットする場合、該スリット製品の中に欠陥が含まれ
ているか否かを事前に知ることが出来、欠陥部分を持っ
た製品の出荷をさけることが出来、品質保証、製造コス
トを削減することが出来る。
(4) The defect position detection unit in the film sheet traveling direction can know the defect position in the film sheet traveling direction by the film sheet traveling direction defect position detection unit. Can be provided. Therefore, when slitting a film sheet in a post-process, it is possible to know in advance whether or not a defect is included in the slit product, and it is possible to avoid shipping a product having a defective portion, and to assure quality. In addition, manufacturing costs can be reduced.

【0138】(5)ビデオ信号レベル自動調整部によ
り、検査対象フィルムシートの厚さを変更した場合やハ
ロゲンランプ等の光源の輝度低下に対応して、ビデオ信
号の平均レベルを一定に保つことが出来、欠陥検出を確
実に行うことが出来る。
(5) The video signal automatic level adjustment unit keeps the average level of the video signal constant in response to a change in the thickness of the inspection target film sheet or a decrease in the luminance of the light source such as a halogen lamp. It is possible to reliably detect defects.

【0139】(6)光源として、ライン型ハロゲン光源
を使用することにより、蛍光灯管照明よりも10倍以上
の光量を確保出来る。フィルムシートの走行速度が速く
なり、走行方向の分解能を小さく維持するために、リニ
アアレイカメラの走査開始信号の繰り返しレートを速く
した場合、ビデオ信号感度が低下し、レンズ絞りを大き
く開くと、ビデオ信号に端部低下現象がみられる。この
ようなケースに対し、該ライン型ハロゲン光源を使用す
ればレンズ絞りを大きく開く必要がなく前記ビデオ信号
の端部低下現象を避けることが出来る。
(6) By using a line-type halogen light source as a light source, it is possible to secure a light amount ten times or more as compared with the fluorescent lamp illumination. If the repetition rate of the scanning start signal of the linear array camera is increased in order to keep the resolution of the running direction small and the running speed of the film sheet increased, the video signal sensitivity decreases The signal has an edge drop phenomenon. In such a case, if the line-type halogen light source is used, it is not necessary to open the lens aperture greatly, and the phenomenon of lowering the edge of the video signal can be avoided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るフィルムシート欠陥検査装置の構
成を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a film sheet defect inspection apparatus according to the present invention.

【図2】リニアアレイカメラとその信号構成を示す図で
ある。
FIG. 2 is a diagram showing a linear array camera and its signal configuration.

【図3】検出回路の構成を示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram illustrating a configuration of a detection circuit.

【図4】シェーディング補正部の構成を示すブロック図
である。
FIG. 4 is a block diagram illustrating a configuration of a shading correction unit.

【図5】シェーディング補正部の各部の信号波形を示す
図である。
FIG. 5 is a diagram illustrating a signal waveform of each unit of a shading correction unit.

【図6】検査区間設定部の構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 6 is a block diagram illustrating a configuration of an inspection section setting unit.

【図7】検査区間設定部の各部の信号波形を示す図であ
る。
FIG. 7 is a diagram showing a signal waveform of each unit of an inspection section setting unit.

【図8】暗部信号検出部の構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 8 is a block diagram illustrating a configuration of a dark part signal detection unit.

【図9】暗部信号検出部の各部の信号波形を示す図であ
る。
FIG. 9 is a diagram illustrating signal waveforms at various parts of a dark part signal detection unit.

【図10】フィルムシート幅方向欠陥位置検出部の構成を
示すブロック図である。
FIG. 10 is a block diagram illustrating a configuration of a film sheet width direction defect position detection unit.

【図11】フィルムシート幅方向欠陥位置検出部の各部の
信号波形を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing signal waveforms at various parts of a film sheet width direction defect position detection unit.

【図12】フィルムシート走行方向欠陥位置検出部の構成
を示すブロック図である。
FIG. 12 is a block diagram illustrating a configuration of a film sheet traveling direction defect position detection unit.

【図13】フィルムシート走行方向欠陥位置検出部の各部
の信号波形を示す図である。
FIG. 13 is a diagram showing signal waveforms at various parts of a film sheet traveling direction defect position detection unit.

【図14】ビデオ信号レベル自動調整部の構成を示すブロ
ック図である。
FIG. 14 is a block diagram illustrating a configuration of a video signal level automatic adjustment unit.

【図15】ビデオ信号レベル自動調整部の各部の信号波形
を示す図である。
FIG. 15 is a diagram illustrating a signal waveform of each unit of the video signal level automatic adjustment unit.

【図16】(a)はフィルムシート内部に発生した気泡欠
陥の様子を示す図、(b)はフィルムシート内部に発生
した異物欠陥の様子を示す図、(c)はフィルムシート
に発生したピンホール欠陥の様子を示す図、(d)はフ
ィルムシート内部に発生した小さな歪み部分の様子を示
す図である。
16A is a diagram illustrating a state of a bubble defect generated inside the film sheet, FIG. 16B is a diagram illustrating a state of a foreign matter defect generated inside the film sheet, and FIG. 16C is a pin illustrating a pin generated in the film sheet. FIG. 3D is a diagram showing a state of a hole defect, and FIG. 4D is a diagram showing a state of a small distortion portion generated inside the film sheet.

【図17】(a)は第1の偏光板と第2の偏光板との偏光
方向のずれ角度θが略直角の場合のリニアアレイカメラ
から出力されたビデオ信号波形を示す図、(b)は
(a)のビデオ信号をシェーディング補正した後のビデ
オ信号波形を示す図である。
17A is a diagram illustrating a video signal waveform output from a linear array camera when the polarization direction shift angle θ between the first polarizing plate and the second polarizing plate is substantially a right angle, and FIG. FIG. 3A is a diagram showing a video signal waveform after shading correction of the video signal of FIG.

【図18】(a)は第1の偏光板と第2の偏光板との偏光
方向のずれ角度θが約±50度の場合のリニアアレイカ
メラから出力されたビデオ信号波形を示す図、(b)は
(a)のビデオ信号をシェーディング補正した後のビデ
オ信号波形を示す図である。
FIG. 18A is a diagram illustrating a video signal waveform output from a linear array camera when a deviation angle θ of a polarization direction between a first polarizing plate and a second polarizing plate is about ± 50 degrees; FIG. 2B is a diagram showing a video signal waveform after shading correction of the video signal of FIG.

【図19】(a)は第1の偏光板と第2の偏光板との偏光
方向のずれ角度θが約±20度の場合のリニアアレイカ
メラから出力されたビデオ信号波形を示す図、(b)は
(a)のビデオ信号をシェーディング補正した後のビデ
オ信号波形を示す図である。
FIG. 19A is a diagram illustrating a video signal waveform output from a linear array camera when a deviation angle θ of a polarization direction between a first polarizing plate and a second polarizing plate is approximately ± 20 degrees. FIG. 2B is a diagram showing a video signal waveform after shading correction of the video signal of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,2…ロール、3…フィルムシート、4…光源コント
ローラ、5…ライン型光源、6…リニアアレイカメラコ
ントローラ、7…リニアアレイカメラ、8,9…第1、
第2の偏光板、10…検出回路、11…欠陥検出情報、11a
…暗部欠陥検出信号、11b…カウントデータ、11c…メ
ータ単位データ、12…検査管理用パソコン、13…測長パ
ルス発信器、14…測長パルス発信器出力信号、15…ハロ
ゲンランプ、16…石英アダプタ、17…円筒型石英ロッ
ド、18…制御出力信号、19…ハロゲンランプ供給電力、
20…光量、21…レンズ、22…カメラ出力ビデオ信号、23
…直流電源、24…リニアアレイCCD信号処理用駆動パ
ルス、25…CCD走査開始信号、26…シェーディング補
正部、27…入力段アンプ、28…低周波数通過フィルター
アンプ、29…加算回路、29a〜29c…短パルス、30…出
力段アンプ、30a〜30c…短パルス、31…検査区間設定
部、32…リトリガーシングルショットマルチバイブレー
タ、33…カウンター、34…デジタルコンパレータ、35…
デジタルスイッチ、36…シングルショットマルチバイブ
レータ、36out …検査区間信号、37…カウンター、38…
デジタルコンパレータ、39…デジタルスイッチ、40…暗
部信号検出部、41…比較器、41a,41c…短パルス、42
…比較電圧発生回路、43…AND回路、43a…短パル
ス、44…シングルショットマルチバイブレータ、45…フ
ィルムシート幅方向欠陥位置検出部、46…NOR回路、
47…カウンター、48…NOR回路、49…データラッチ回
路、50…フィルムシート走行方向欠陥位置検出部、51…
検査の開始/停止モード信号、52…ビデオ信号レベル自
動調整部、53…入力段アンプ、54…低周波数通過フィル
ターアンプ、55…サンプリングホールド回路、55out …
サンプリング電圧、56…サンプリングホールドタイミン
グパルス発生回路、56out …タイミングパルス、57…比
較回路、58…コントロール基準設定電圧発生回路、58ou
t …コントロール基準設定電圧、59…増光アンプ部、60
…減光アンプ部、61…加算回路、62…気泡欠陥、63…大
きな歪み、64…異物欠陥、65…大きな歪み、66…ピンホ
ール欠陥、67…大きな歪み、68…小さな歪み、69a,70
a,71a,72a,73a,74a…ビデオ信号、69b,70
b,72b,73b,74b…補正ビデオ信号、TH1 ,TH2 ,
TH3 …欠陥検出しきい値、θ…ずれ角度
1, 2, roll, 3 film sheet, 4 light source controller, 5 line type light source, 6 linear array camera controller, 7 linear array camera, 8, 9 first
Second polarizing plate, 10 detection circuit, 11 defect detection information, 11a
… Dark part defect detection signal, 11b… Count data, 11c… Meter unit data, 12… Inspection management personal computer, 13… Measuring pulse transmitter, 14… Measuring pulse transmitter output signal, 15… Halogen lamp, 16… Quartz Adapter, 17… Cylindrical quartz rod, 18… Control output signal, 19… Halogen lamp power supply,
20: Light intensity, 21: Lens, 22: Camera output video signal, 23
... DC power supply, 24 ... Drive pulse for linear array CCD signal processing, 25 ... CCD scanning start signal, 26 ... Shading correction unit, 27 ... Input stage amplifier, 28 ... Low frequency pass filter amplifier, 29 ... Addition circuit, 29a-29c ... short pulse, 30 ... output stage amplifier, 30a-30c ... short pulse, 31 ... test section setting part, 32 ... retrigger single shot multivibrator, 33 ... counter, 34 ... digital comparator, 35 ...
Digital switch, 36… Single shot multivibrator, 36out… Test section signal, 37… Counter, 38…
Digital comparator, 39 ... Digital switch, 40 ... Dark part signal detector, 41 ... Comparator, 41a, 41c ... Short pulse, 42
... comparative voltage generating circuit, 43 ... AND circuit, 43a ... short pulse, 44 ... single shot multivibrator, 45 ... film sheet width direction defect position detecting section, 46 ... NOR circuit,
47 ... Counter, 48 ... NOR circuit, 49 ... Data latch circuit, 50 ... Film sheet running direction defect position detection unit, 51 ...
Inspection start / stop mode signal, 52: Video signal level automatic adjustment unit, 53: Input stage amplifier, 54: Low frequency pass filter amplifier, 55: Sampling and holding circuit, 55out ...
Sampling voltage, 56 ... Sampling hold timing pulse generation circuit, 56out ... Timing pulse, 57 ... Comparison circuit, 58 ... Control reference setting voltage generation circuit, 58ou
t: Control reference setting voltage, 59: Brightening amplifier, 60
... Dimming amplifier, 61 ... Addition circuit, 62 ... Bubble defect, 63 ... Large distortion, 64 ... Foreign defect, 65 ... Large distortion, 66 ... Pin hole defect, 67 ... Large distortion, 68 ... Small distortion, 69a, 70
a, 71a, 72a, 73a, 74a ... video signal, 69b, 70
b, 72b, 73b, 74b... corrected video signal, TH1, TH2,
TH3: Defect detection threshold, θ: Deviation angle

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 フィルムシート搬送手段により搬送され
るフィルムシートの一方の面側に光源を配置し、該フィ
ルムシートの他方の面側にリニアアレイカメラを配置
し、該リニアアレイカメラから出力されるビデオ信号の
中から欠陥情報を検出するフィルムシート欠陥検査方法
において、 前記フィルムシートと前記光源との間に配置した第1の
偏光板と、前記フィルムシートと前記リニアアレイカメ
ラとの間に配置した第2の偏光板との偏光方向のずれ角
度を±20度以内とし、前記リニアアレイカメラから出
力されるビデオ信号の中から抽出した暗部信号を欠陥と
して検出することを特徴とするフィルムシート欠陥検査
方法。
1. A light source is arranged on one surface side of a film sheet conveyed by a film sheet conveying means, a linear array camera is arranged on the other surface side of the film sheet, and output from the linear array camera. In a film sheet defect inspection method for detecting defect information from a video signal, a first polarizing plate disposed between the film sheet and the light source, and disposed between the film sheet and the linear array camera A film sheet defect inspection, wherein a deviation angle of a polarization direction with respect to a second polarizing plate is set within ± 20 degrees, and a dark portion signal extracted from a video signal output from the linear array camera is detected as a defect. Method.
【請求項2】 フィルムシート搬送手段により搬送され
るフィルムシートの一方の面側に光源を配置し、該フィ
ルムシートの他方の面側にリニアアレイカメラを配置
し、該リニアアレイカメラから出力されるビデオ信号の
中から欠陥情報を検出するフィルムシート欠陥検査装置
において、 前記フィルムシートと前記光源との間に配置した第1の
偏光板と、 前記フィルムシートと前記リニアアレイカメラとの間に
配置され、前記第1の偏光板に対する偏光方向のずれ角
度が±20度以内に設定された第2の偏光板と、 前記リニアアレイカメラから出力されるビデオ信号の中
から暗部信号を抽出して該暗部信号を欠陥として検出す
る暗部信号検出部を備えた検出回路と、 を有することを特徴とするフィルムシート欠陥検査装
置。
2. A light source is arranged on one surface side of a film sheet conveyed by a film sheet conveying means, and a linear array camera is arranged on the other surface side of the film sheet, and output from the linear array camera. In a film sheet defect inspection device for detecting defect information from a video signal, a first polarizing plate disposed between the film sheet and the light source, and disposed between the film sheet and the linear array camera A second polarizing plate having a deviation angle of the polarization direction with respect to the first polarizing plate within ± 20 degrees, and a dark portion signal extracted from a video signal output from the linear array camera to obtain the dark portion. A detection circuit including a dark part signal detection unit that detects a signal as a defect.
【請求項3】 前記検出回路は、前記暗部信号検出部の
前段にシェーディング補正部を有することを特徴とする
請求項2に記載のフィルムシート欠陥検査装置。
3. The film sheet defect inspection apparatus according to claim 2, wherein the detection circuit has a shading correction section at a stage preceding the dark section signal detection section.
【請求項4】 前記検出回路は、前記暗部信号検出部の
出力信号と、前記リニアアレイカメラを駆動する駆動パ
ルス信号および走査開始信号を利用した前記フィルムシ
ート幅方向の欠陥位置を検出するフィルムシート幅方向
欠陥位置検出部を有することを特徴とする請求項2また
は請求項3に記載のフィルムシート欠陥検査装置。
4. A film sheet for detecting a defect position in the film sheet width direction using an output signal of the dark area signal detection section, a drive pulse signal for driving the linear array camera, and a scan start signal. The film sheet defect inspection apparatus according to claim 2, further comprising a width direction defect position detection unit.
【請求項5】 前記フィルムシート搬送手段に測長パル
ス発信器を設け、前記検出回路は、前記暗部信号検出部
の出力信号と、前記測長パルス発信器の出力信号を利用
したフィルムシート走行方向の欠陥位置を検出するフィ
ルムシート走行方向欠陥位置検出部を有することを特徴
とする請求項2〜4のいずれか1項に記載のフィルムシ
ート欠陥検査装置。
5. A film sheet transporting means provided with a length measuring pulse transmitter, wherein said detecting circuit uses a signal output from said dark part signal detector and an output signal from said length measuring pulse transmitter to travel in a film sheet traveling direction. The film sheet defect inspection device according to any one of claims 2 to 4, further comprising a film sheet traveling direction defect position detection unit that detects the defect position of (1).
【請求項6】 前記検出回路は、ビデオ信号レベル自動
調整部を有することを特徴とする請求項2〜5のいずれ
か1項に記載のフィルムシート欠陥検査装置。
6. The film sheet defect inspection apparatus according to claim 2, wherein the detection circuit has a video signal level automatic adjustment unit.
【請求項7】 前記光源はライン型ハロゲン光源を使用
したことを特徴とする請求項2〜6のいずれか1項に記
載のフィルムシート欠陥検査装置。
7. The film sheet defect inspection apparatus according to claim 2, wherein a line type halogen light source is used as the light source.
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