JPH11287739A

JPH11287739A - 光学素子に関する波長依存情報の測定システム及びその測定方法

Info

Publication number: JPH11287739A
Application number: JP11034281A
Authority: JP
Inventors: Josef Beller; ヨーゼフ・ベラー; Peter Thoma; ペーター・トーマ
Original assignee: Hewlett Packard Co
Current assignee: HP Inc
Priority date: 1998-02-14
Filing date: 1999-02-12
Publication date: 1999-10-19
Also published as: DE69800853T2; EP0872721B1; EP0872721A1; US6067150A; DE69800853D1

Abstract

(57)【要約】【課題】元の位置で遠隔測定も可能な光学素子に関する
波長依存情報を決定する。【解決手段】事象損失、反射率、中心波長、クロストー
ク、指向性、アイソレーション等の光学素子の波長依存
情報を測定する本発明の一実施例では、複数の異なる波
長の光信号を光学素子の光学構造と連結するリンクへ提
供する発光源と光学構造から戻る時間に対して後方散乱
又は反射率を測定する測定装置と該測定結果を処理し、
波長依存情報を生成する処理装置からなる。特に、光学
ネットワークの空間的構造に光学素子に対しては空間特
性を示す空間情報と関連付けて波長依存情報を得ること
ができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光学素子(optical com
ponents)に関する波長依存情報（波長と関連性のある情
報）を決定することに関するものである。

【０００２】

【従来技術】例えば、波長分割マルチプレクサ（wavele
ngth division multiplexers, ＷＤＭ）または光ファイ
バ・ブラッグ・グレーティングの波長依存損失のよう
な、光学素子に関する波長依存情報、または、光学素子
の波長依存特性を決定するため、当該技術分野において
既知の典型的な測定機構（構成、装置、setup）が２つ
存在する。第１の測定機構は、変調可能（turnable）レ
ーザ源と光パワー・メータの組み合わせからなり、第２
の測定機構は、広帯域光源（例えば、「白色」光源）と
光スペクトルアナライザの組み合わせからなる。これら
機器は、被測定素子（ＤＵＴ）の入力及び出力に接続さ
れる。こうして、例えば、挿入損失を波長の関数として
測定することが可能になる。波長依存反射損失（return
loss）測定の場合、波長可変光源のための入力に関し
て、反射損失試験装置が必要になる。光学素子の波長依
存特性を決定するためのこれら従来技術の測定機構に関
する詳細な説明が、ＩＳＢＮ０−１３−５３４３３０
−５、１９９８、ページ３５８ｆｆに、「Fiber optic
test and measurement」と題するDennise Derickson著
に記載されている。本願明細書では文献（１）とする。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】光ファイバ・ネットワ
ーク等の、いくつかの用途に関して、説明の全ての方法
は、ＤＵＴは作業場(ワークベンチ、workbench)に直接
アクセス可能であることを要求されており、したがっ
て、「元の位置で(in situ)」被測定素子ＤＵＴの実際
の周波数挙動の直接測定することはできないという不利
益が生じることが見出されている。

【０００４】本発明の目的は、光学素子に関する波長依
存情報を決定するための改善された実行可能手段を提供
することにある。本発明のもう１つの目的は、光学素子
の波長依存特性の「元の位置(in situ)での測定」及び
遠隔測定を可能にすることにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明は、図１ａにおい
て基本ブロック図で示されているように、光学時間領域
反射率計測定技術を利用する。光学時間領域反射率計
（ＯＴＤＲ）１０は、例えば、光ファイバまたはフィル
タ等のような１または２以上の光学素子４０に対して光
学的に接続された、例えば、光ファイバ３０のようなリ
ンク３０を含む光ファイバ・ネットワークに、パルス信
号(pulsed signal)２０を送り込む。パルス信号２０
は、一般に、所定のレーザ波長のレーザ・パルスであ
る。少量のパルス信号２０が、ＯＴＤＲ１０に向かって
逆方向に、絶えず後方散乱するが、これは、光ファイバ
３０と光学素子４０から構成される光学構造（または測
定対象のネットワーク）５０における減衰損失及び反射
率を表している。後方散乱及び／または反射信号の量対
時間を測定することによって、光学構造５０の損失対距
離が測定される。一般に、１又は２以上の個別測定結果
が組み合わせられるが、その組み合わせは、光学構造５
０のＯＴＤＲトレースを表している。

【０００６】図１ｂには、ＯＴＤＲ測定から得たＯＴＤ
Ｒトレースの一例が示されている。ここで、ｘ軸は、Ｏ
ＴＤＲ１０と光学構造５０における位置との間の距離に
対応し、ｙ軸は、光学構造５０における光リンク損失に
関する詳細を明らかにする、一般に、対数目盛り（ｄＢ
を単位とする）における反射信号レベルのパワー・レベ
ルを示している。ＯＴＤＲに関する現在の知識及びＯＴ
ＤＲトレースの分析についての詳細な説明は、文献
（１）のページ４３４ｆｆにおいて、本願発明者の１人
によって詳細に示されている。

【０００７】米国特許第５，１７９，４２０号から分か
るように、光ファイバによる光路に関する光ファイバの
波長依存減衰及び色分散の効果を表示するために、ＯＴ
ＤＲと可変波長レーザ源を組み合わせて用いることが可
能である。しかし、ただ単に、この波長依存性の効果を
説明するだけでは、光学構造における個々の光学素子に
関する結論を引き出すことはできないが、光ファイバ等
の細長い素子に関する有用な（定性的）情報が明らかに
なるだけである。個別光学素子の波長依存特性の（定量
的）特性表示を行うことはできない。

【０００８】本発明によれば、波長依存情報を決定する
ためのシステムには、光学構造における光学素子に光学
的に接続された光リンクに対して複数の異なる波長の光
信号を供給するための少なくとも１つの発光源と、後方
散乱及び／または反射信号対光学構造から戻る時間の測
定を行うための測定装置が含まれている。このシステム
には、さらに、異なる波長の複数の光信号について測定
された、後方散乱及び／または反射信号対時間に処理を
加えることによって、光学素子に関する波長依存情報を
求めるための処理ユニットも含まれている。

【０００９】従って、本発明によれば、複数の異なる波
長の光信号を光リンクに供給し、後方散乱及び／または
反射信号対光学構造から戻る時間の測定を行い、異なる
波長の複数の光信号について測定された、後方散乱及び
／または反射信号対時間に処理を加えことにより、光学
素子に関する波長依存情報を求めることによって、波長
依存情報を求めるための方法が得られる。

【００１０】本発明による光学素子の波長依存情報／特
性を決定することによって、標準的な損失試験方法と比
較したいくつかの利点が明らかになる。（１）測定すべき光学素子に対して単一のポート・アク
セスだけしか必要としない。これは、光学素子が、遠く
離れて、例えば、光ファイバ・リンクに配置されている
場合には極めて有用である。（２）現実の条件下において、光学素子をテストするこ
とが可能になる。従って、あらゆる周囲条件の影響が、
その結果に直接作用する。（３）光学素子のあらゆる経時変化効果を正確にトレー
スすることが可能である。（４）試験のため、光学素子を取り除くために、光学素
子に対するリンクを遮断する必要がない。（５）遠隔光ファイバ・テスト・システム（ＲＦＴＳ）
によって、特定のＤＵＴの自動モニタを遠隔操作で実施
することが可能である。

【００１１】本発明のとりわけ有利な用途は、光ネット
ワークの波長依存空間構造を求めることにある。その場
合、波長依存情報は、光学素子に関する空間情報に関連
づけられる。これによって、波長依存ネットワーク・ト
ポロジーに関する結論を引き出すことが可能になる。

【００１２】

【実施例】図２には、光学素子１０５の周波数依存特性
を求めるための、本発明に係る測定機構１００の主要構
造が示されている。光学素子１０５は、１または２以上
の光学素子４０から構成される光学構造５０内における
個別部品を表しており、当該技術において既知の任意の
光学接続によって光ファイバ３０に接続することが可能
である。可変波長レーザ源（ＶＷＬＳ）１１０は、ライ
ン１２０を介して光学時間領域反射率計（ＯＴＤＲ）１
０に結合されており、複数の異なる波長で、光ファイバ
３０に送り込むべきレーザ信号２０を供給する。１つの
レーザ源で異なる波長のレーザ信号２０を送り出す代わ
りに、それぞれ、所定の波長のレーザ信号２０を送り出
す複数のレーザ源を用いることも可能であり、これによ
って、複数のレーザ源の個々の波長が異なることにな
る。

【００１３】測定対象の光学素子１０５は、波長依存マ
ルチプレクサ、アレイ式導波路グレーティング、光ファ
イバ・ブラッグ・グレーティング、または、他の任意の
光学フィルタといった、任意の光学素子とすることが可
能である。光学構造５０は、例えば、高密度(densed)波
長分割多重化（ＤＷＤＭ）ネットワークの一部とするこ
とが可能である。収集された波長依存データから与えら
れる、または、求められる波長依存パラメータは、例え
ば、中心波長、帯域幅、チャネル間隔、帯域外抑圧、反
射率及び反射損失等とすることが可能である。

【００１４】光学構造５０に、ＥＤＦＡ（エルビウムを
ドープしたファイバ増幅器）等の１または２以上の光増
幅器が含まれている場合、これによって生じるＡＳＥ
（増幅された自然放出）は、信頼できるＯＴＤＲ測定結
果を得るため、低減しなければならない。これは、例え
ば、ＯＴＤＲ１０と光学構造５０の間の光路内に光フィ
ルタ（例えば、通過帯域フィルタ）を設けることによっ
て、または、ＯＴＤＲをコヒーレント検出方式に利用す
ることによって実施可能である。

【００１５】処理装置１３０は、ＯＴＤＲ１０及び可変
レーザ源１１０に結合されている。ＯＴＤＲの機能部品
とすることも可能な処理装置１３０は、可変レーザ源１
１０に制御を加え、可変周波数のレーザ信号をＯＴＤＲ
１０に、従って、光ファイバ３０に供給する。ＯＴＤＲ
１０は、レーザ信号２０によって得られる各波長毎に、
後方散乱及び／または反射信号の量対時間を測定し、各
波長毎の「ＯＴＤＲ情報」を処理装置１３０に送る。Ｏ
ＴＤＲ１０は、さらに、レーザ信号２０によって得られ
る各波長毎に、後方散乱及び／または反射信号の測定量
対時間から１または２以上のＯＴＤＲトレースを求める
ことが可能である。

【００１６】処理装置１３０は、各波長毎にＯＴＤＲ情
報を受信し、そこから光学素子１０５に対応する情報を
抽出して、処理を施すことによって、光学素子１０５の
周波数依存特性を決定する。

【００１７】ＯＴＤＲ情報から光学素子１０５の波長依
存特性を求める第１のステップにおいて、光学素子１０
５は、ＯＴＤＲ情報内におけるいわゆる事象(event)と
して識別されることになる。当該技術において周知のよ
うに、光学素子１０５は、光学構造５０における所定の
距離Ｄに対応するものとして、ＯＴＤＲ情報内において
識別することができる。

【００１８】図３ａには、重畳した複数のＯＴＤＲトレ
ースによって表示される複数の異なる波長に関するＯＴ
ＤＲ情報の一例が示されている。ｘ軸は、ｋｍを単位と
する距離を表し、ｙ軸は、ｄＢを単位とするパワーを表
している。図３ａによって、ＯＴＤＲトレースにおける
異なる３つの事象：すなわち、約４．０ｋｍの距離にお
ける無反射事象２００、約８．８ｋｍの距離における反
射事象２１０及び約１４．７ｋｍの距離における光ファ
イバ端部２２０が明らかになる。一般に、反射事象であ
れ、無反射事象であれ、ＯＴＤＲ情報におけるあらゆる
事象が、光学構造５０における光学素子（スプライス及
びコネクタを含む）と可能性のある故障のいずれかを表
している。

【００１９】ＯＴＤＲ情報における事象は、当該技術に
おいて周知のように（例えば、（１）のセクション１
１．４参照）、例えば、ＯＴＤＲトレースを分析するこ
とによって手動で識別することも、あるいは、ＯＴＤＲ
１０または処理装置１３０によって自動で識別すること
も可能である。

【００２０】次のステップにおいて、光学素子１０５
（事象の１つとしての）に関連したＯＴＤＲ情報の情報
が、測定されるそれぞれに異なる波長について収集さ
れ、「事象情報(event information)」を表すことにな
る。この事象情報には、光学素子１０５の波長依存特性
が含まれる。波長依存特性の一般的なパラメータには、
例えば、事象損失（挿入損失とも呼ばれる）及び反射率
があるが、中心波長、クロストーク、指向性及びアイソ
レーションもある。後者のパラメータは、例えば、フィ
ルタの停止帯域減衰を導き出すために利用することが可
能である。一般に、こうした特性は、光の波長並びに偏
光によって決まる。

【００２１】いくつかのケースでは、波長依存特性のよ
うな事象情報をＯＴＤＲ情報から直接抽出することがで
きず、事象損失及び／または反射率値の測定及び／また
は計算といった追加処理が必要になり、当該技術におい
て既知のように実施することが可能である。例えば、当
業者には明らかなように、異なる波長に関する、事象の
距離Ｄにおけるパワー値等の測定値の直接「読み取り」
は、極めて稀なケースでしか可能にならない。問題は、
拡大されたパルス幅、受信機の有限帯域幅及びデジタル
・フィルタリング、または、偏光ノイズのために、ノイ
ズが重畳する、平滑化された遷移領域において生じる可
能性がある。従って、ほとんどの場合、事象情報の実際
の値は、文献（１）のセクション１１．４に解説のよう
に、計算するか、外挿するか、あるいは、別様に受信す
る必要がある。こうした方法は、当該技分野において十
分に確立されており、本発明の目的に適用することが可
能である。

【００２２】事象情報を求め、表示することについて
は、事象損失及び反射率の例に関連して以下に説明す
る。

【００２３】光学素子１０５の事象損失は、事象の前後
におけるＯＴＤＲ情報の後方散乱信号レベルの差から計
算することが可能である。パルス幅及び受信機帯域幅に
関する情報を考慮して、事象位置Ｄを正確に求めれば、
より正確な結果を得ることが可能である。例えば、D.A.
AndersonとD. Judge著のＮＦＯＥＣ’９４（San Dieg
o）といった技術文献において、挿入またはスプライス
損失を計算するためのＬＳＡ（最小自乗近似）を利用し
た最新のアルゴリズムまたはパターン・マッチング法を
見いだすことが可能である。図３ａのＯＴＤＲトレース
によって表示されるＯＴＤＲ情報の一例において、複数
の異なる波長に関する無反射事象２００（例えば、単一
光学フィルタ）の後方散乱信号は、事象２００の
「前」、すなわち、事象２００の左側では、ほぼ一定の
ままであり、素子の「後」、すなわち、事象２００の右
側のある距離にわたって強い波長依存性を示している。
異なる波長に関する事象損失の値は、事象２００の事象
情報を表しており、事象２００のフィルタ特性を示す図
３ｂに描かれているように、事象損失対波長として表示
することが可能である。

【００２４】例えば、ブラッグ・グレーティングといっ
た光学素子１０５の反射率は、事象位置における反射の
ピーク値以前及びピーク値におけるＯＴＤＲ情報の後方
散乱信号レベルの差から求めることが可能である。パル
ス幅及び光ファイバの散乱率に関する追加情報によっ
て、例えば、文献（１）のページ４６１ｆｆにおいて参
照されるように、各測定波長毎に個々の反射率値を計算
することが可能になる。図４ａのＯＴＤＲトレースによ
って表示されたＯＴＤＲ情報の一例では、複数の異なる
波長に関する反射事象３００の後方散乱信号は、事象３
００の「前」、すなわち、事象３００の左側では、ほぼ
一定のままであり、事象３００の位置において強い波長
依存性を示す。より明確な理解が得られるように、図４
ａの個々のＯＴＤＲ情報プロットは、３つの異なる波長
に関して、水平及び垂直方向において変位させられてい
るので、事象３００の位置Ｄにおける反射のピーク値は
一致しない。異なる波長に関する反射率値は、事象３０
０の事象情報に相当し、事象３００のフィルタ特性を示
す図４ｂに描かれているように、反射率対波長として表
示することが可能である。

【００２５】図５には、光学素子１０５の波長依存特性
を求めるための、本発明による測定機構１００の実施態
様例５００が示されている。波長の変動に応じてＯＴＤ
Ｒ測定を行うことができるようにするため、汎用固定波
長ＯＴＤＲ１０には、可変波長レーザ源（ＶＷＬＳ）１
１０が装備されている。これは、固定波長レーザを取り
替えるか、または、ＶＷＬＳ１１０のための外部入力を
ＯＴＤＲ１０に設けることによって、現在利用可能なＯ
ＴＤＲ構成で実現可能である。レーザ制御装置５１０
（処理装置１３０の一部としての）は、例えば、ＯＴＤ
Ｒ１０に関連して、ＶＷＬＳ１１０からのレーザ信号２
０の波長及びパルス幅を制御する。レーザ信号２０は、
光学構造５０が取り付けられている双方向カプラ５２０
を介して、フロント・コネクタ（図５には示されていな
い）までガイドされる。

【００２６】光学構造５０は、双方向カプラ５２０を介
してＯＴＤＲ受信機１０にガイドされるプロービング・
レーザ信号２０に対する反射信号と反応する。光学・電
気（Ｏ／Ｅ）変換後、受信信号は、デジタル化すること
が可能であり、さらに、信号処理ブロック５４０（処理
装置１３０の一部としての）において処理を受ける。表
示装置５５０は、ＶＷＬＳ１１０の実際の波長及び処理
された測定結果を表示することが可能である。

【００２７】ＶＷＬＳ１１０の出力パワーが、ＯＴＤＲ
のレーザ源の要件を満たさない場合、ＶＷＬＳ１１０と
双方向カプラ５２０の間に、エルビウムをドープした光
ファイバ増幅器（ＥＤＦＡ）を追加挿入して、レーザ・
パルス２００を十分なレベルまで上昇させることが可能
である。

【００２８】波長依存特性を決定するため、測定対象の
光学素子１０５を含む光学構造５０の一連のＯＴＤＲト
レースが、異なる波長で作成される。レーザ信号２０の
波長インクリメント及び波長スパンは、その結果の必要
とされる分解能、正確度及び目的に従って選択される。
該トレースは、被測定素子の光学素子１０５の位置に対
応する距離において、波長に応じて変化する挿入損失及
び／または反射率を示している。各波長毎に、挿入損失
及び／または反射率値を計算することが必要になる。最
終ステップにおいて、挿入損失及び／または反射率値の
ような光学素子１０５について求められる波長依存特性
は、波長の関数として作図することが可能である。

【００２９】上記から明らかなように、本発明を利用し
て、光学構造５０内における個々の光学素子１０５の波
長依存特性を求めることが可能である。その場合、波長
依存特性の分解能は、主として、波長の異なるレーザ信
号２０の数及び「近傍(neighboring)」レーザ信号２０
間の波長差によって決まる。

【００３０】本発明のもう１つの用途は、光ネットワー
クの波長依存トポロジー構造を決定することにある。そ
の場合、個々の光学素子を表す複数の個別事象に関し
て、事象情報が求められる。複数の個別事象に関する事
象損失及び反射率といった波長依存特性を表す該事象情
報を、他の情報、とりわけ、距離またはタイプといった
各事象の空間特性を表した空間情報(spatial informati
on)と組み合わせることによって、光ネットワークの空
間構造に関する、すなわち、事象の、従って、光学構造
５０のネットワークにおける光学素子１０５及び４０の
空間分布及び相互接続に関する情報を得ることが可能に
なる。

【００３１】図６ａには、本発明に従って、複数の光学
素子Ｚｉ（ｉ＝１．．．ｎ）が測定機構１００に結合さ
れた、光学構造５０のネットワークに関する一例が示さ
れている。素子Ｚ１は、距離ｚ１の測定機構１００に結
合されている。ｉ＝１．．．ｎの場合の全ての距離ｚｉ
は、測定機構１００に基づいて表わされている。素子Ｚ
１は、波長λ１の全ての信号を距離ｚ２の素子Ｚ２に送
り、他の波長の全ての信号を距離ｚ３の素子Ｚ３に送る
光学波長分割マルチプレクサ（ＷＤＭ）を表している。
素子Ｚ３は、さらに、波長λ２及びλ４の信号を距離ｚ
４の素子Ｚ４に分岐し、波長λ３の信号を距離ｚ６の素
子Ｚ６に分岐する。素子Ｚ４が、最終的に、波長λ２の
信号を距離ｚ７の素子Ｚ７に分岐し、波長λ４の信号を
距離ｚ５の素子Ｚ５に分岐する。

【００３２】素子Ｚ１〜Ｚ７の主特性が既知であり（す
なわち、素子が、所定の波長に関して透明か、または、
不透明であり）、その空間分布だけしか求める必要がな
い場合、異なる４つの波長λ１、λ２、λ３及びλ４に
関する４つのＯＴＤＲ測定で十分である。図６ｂには、
その結果が示されている。素子Ｚ１は、λ１、λ２、λ
３及びλ４の全波長に関する無反射事象を表している。
素子Ｚ２は、波長λ１の反射事象を表し、一方、素子Ｚ
３は、無反射事象を表しているが、波長λ２、λ３及び
λ４についてのみである。素子Ｚ３は、空間的に素子Ｚ
１の「後」であるため（ｚ３＞ｚ１のため）、素子Ｚ１
が、波長λ１の信号だけを素子Ｚ２に分岐し、他の波長
λ２、λ３及びλ４の信号を素子Ｚ３に伝送しなければ
ならなかったのは明らかである。

【００３３】素子Ｚ４（ｚ４＞ｚ３のため、素子Ｚ３の
「後」）は、波長λ２及びλ４に関する無反射事象を表
しており、一方、素子Ｚ６（やはり、ｚ６＞ｚ３で、素
子Ｚ３の「後」）は、波長λ３に関する反射事象を表し
ている。従って、素子Ｚ３は、波長λ３の信号を素子Ｚ
６に分岐し、波長λ２及び波長λ４の信号を素子Ｚ４に
分岐しなければならなかった。最終的に、素子Ｚ５（ｚ
５＞ｚ４で、素子Ｚ４の「後」）は、波長λ４の信号を
反射するだけであり、素子Ｚ７（ｚ７＞ｚ４で、素子Ｚ
４の「後」）は、波長λ２の信号を反射するだけである
ので、素子Ｚ４は、波長λ４の信号を素子Ｚ５に分岐
し、波長λ２の信号を素子Ｚ７に分岐しなければならな
かったのは明らかである。従って、素子Ｚ１〜Ｚ７の空
間分布は、明らかに、表に示す、異なる波長に関するＯ
ＴＤＲ測定結果から導き出すことが可能であり、図６に
示すダイヤグラムにおいて例証することが可能である。

【００３４】素子Ｚ１〜Ｚ７の主特性が分からない場合
には、各個別素子及びそれらの空間関係の特性を明らか
にするため、異なる波長に関してさらにＯＴＤＲ測定を
行う必要がある。

【００３５】以上、本発明の実施例について詳述した
が、以下、本発明の各実子態様の例を示す。（実施態様１）光学構造の光学素子に関する波長依存情
報（好ましくは、事象損失、反射率、中心波長、クロス
・トーク、指向性、アイソレーション）を決定するため
の測定システムであって、複数の異なる波長の光信号
を、光学素子に光学的に接続している光リンクに供給す
るための少なくとも１つの発光源と、後方散乱及び／ま
たは反射信号と光学構造から戻る時間の測定を行うため
の測定装置を含み、異なる波長の複数の前記光信号につ
いて測定された、測定信号対時間に処理を施すことによ
って、光学素子に関する波長依存情報を決定するたるた
めの処理装置を具備することを特徴とする光学素子に関
する波長依存情報の測定システム。（実施態様２）処理装置に各測定波長毎に、測定信号に
おいて光学素子を識別するための手段と、各測定波長毎
に、測定信号において識別された光学素子に関連した波
長依存情報を収集するための手段を含む前項(1)記載の
測定システム。（実施態様３）処理装置に、波長依存情報を視覚化する
ための手段を含無前項(1)または(2)記載の測定システ
ム。（実施態様４）処理装置が、少なくとも１つの発光源に
結合されて、少なくとも１つの発光源に制御を加え、測
定装置に、従って、光リンクに、可変波長の光信号を供
給する前項(1)または(2)記載の測定システム。（実施態様５）発光源が可変波長レーザ源であることを
特徴とする、前項(1)または(2)記載の測定システム。（実施態様６）さらに、波長依存情報と、光学素子に関
する空間情報を関連づけて、光学構造の空間構造に関す
る情報を得るための手段を含む前項(1)または(2)記載の
測定システム。（実施態様７）光学構造における光学素子に関する波長
依存情報（好ましくは、事象損失、反射率、中心波長、
クロス・トーク、指向性、アイソレーション）を決定す
るための測定方法あって、（ａ）複数の異なる波長の光
信号を、光学素子に光学的に接続された光リンクに供給
するステップと、（ｂ）後方散乱及び／または反射信と
対光学構造から戻る時間の測定を行うステップと、
（ｃ）異なる波長の複数の光信号について測定された、
測定信号対時間に処理を施すことによって、光学素子に
関する波長依存情報を求めるステップを含む光学素子に
関する波長依存情報の測定システム。（実施態様８）ステップ（ｃ）に、（ｃ１）各測定波長
毎に、測定信号において光学素子を検出し、識別するス
テップと、（ｃ２）各測定波長毎に、測定信号において
識別された光学素子に関連した波長依存情報を収集する
ステップを含む前項(7)記載の測定方法。（実施態様９）ステップ（ｃ）に、（ｃ３）波長依存情
報を視覚化するステップを含む前項(7)または(8)に記載
の測定方法。（実施態様１０）さらに、（ｄ）波長依存情報と光学素
子に関する空間情報を関連づけて、光学構造の空間構造
に関する情報を得るステップを含む前項(7)または(8)記
載の測定方法。

【図面の簡単な説明】

【図１ａ】従来の光学時間領域反射率計測定方法の基本
ブロック図。

【図１ｂ】典型的なＯＴＤＲトレースを示す図。

【図２】本発明の一実施例の測定機構の主構造を示す
図。

【図３ａ】本発明の一実施例によって得られた重畳した
複数のＯＴＤＲトレースで表示された複数の異なる波長
に関するたＯＴＤＲ情報の例を示す図。

【図３ｂ】本発明の一実施例によって決定された図３ａ
の例に関する波長依存特性を示す図。

【図４ａ】本発明の一実施例によって得られた重畳した
複数のＯＴＤＲトレースで表示された複数の異なる波長
に関するたＯＴＤＲ情報の例を示す図。

【図４ｂ】本発明の一実施例によって決定された図４ａ
の例に関する波長依存特性を示す図。

【図５】本発明の測定機構の他の実施態様を示す図。

【図６ａ】複数の光学素子を備えた光ネットワークの一
例を示す図。

【図６ｂ】本発明の一実施例によって図６ａのネットワ
ークにおける４つの異なる波長λ１、λ２、λ３、及
び、λ４に関する測定結果を示す図。

【符号の説明】

１０：光学時間領域反射率計２０：レーザ信号３０：光ファイバ４０、１０５：光学素子５０：光学構造１００、３００：測定機構１１０：可変波長レーザ源１３０：処理装置５２０：双方向カプラ５４０：信号処理ブロック５５０：表示装置Ｚ１、Ｚ２、Ｚ３、Ｚ４、Ｚ５、Ｚ６、Ｚ７：素子

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光学構造の光学素子に関する波長依存情報
（好ましくは、事象損失、反射率、中心波長、クロス・
トーク、指向性、アイソレーション）を決定するための
測定システムであって、複数の異なる波長の光信号を、
光学素子に光学的に接続している光リンクに供給するた
めの少なくとも１つの発光源と、後方散乱及び／または
反射信号と光学構造から戻る時間の測定を行うための測
定装置を含み、異なる波長の複数の前記光信号について
測定された、測定信号対時間に処理を施すことによっ
て、光学素子に関する波長依存情報を決定するたるため
の処理装置を具備することを特徴とする光学素子に関す
る波長依存情報の測定システム。
【請求項２】光学構造における光学素子に関する波長依
存情報（好ましくは、できれば、事象損失、反射率、中
心波長、クロス・トーク、指向性、アイソレーション）
を決定するための測定方法あって、（ａ）複数の異なる
波長の光信号を、光学素子に光学的に接続された光リン
クに供給するステップと、（ｂ）後方散乱及び／または
反射信と対光学構造から戻る時間の測定を行うステップ
と、（ｃ）異なる波長の複数の光信号について測定され
た、測定信号対時間に処理を施すことによって、光学素
子に関する波長依存情報を求めるステップを含む光学素
子に関する波長依存情報の測定システム。