JPH11237518A - Manufacture of optical waveguide - Google Patents

Manufacture of optical waveguide

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JPH11237518A
JPH11237518A JP3898598A JP3898598A JPH11237518A JP H11237518 A JPH11237518 A JP H11237518A JP 3898598 A JP3898598 A JP 3898598A JP 3898598 A JP3898598 A JP 3898598A JP H11237518 A JPH11237518 A JP H11237518A
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JP
Japan
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layer
pmma
optical waveguide
mask
etching
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP3898598A
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Japanese (ja)
Inventor
Kiminori Maeno
仁典 前野
Takeshi Koyano
武 小谷野
Mitsuro Mita
充郎 見田
Katsuaki Umibe
勝晶 海部
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make reducible the number of processes without damaging a core layer by exposing a poly methyl methacrylate(PMMA) layer to deep ultraviolet light by using a mask and then forming an optical waveguide layer by directly etching the exposed part of the PMMA layer by using etching gas. SOLUTION: The PMMA layer 12 is formed on a base 10 and a glass substrate for instance is used as the base 10. Then, the mask 14 for patterning is used and the PMMA layer 12 is exposed to the deep ultraviolet light. In this case, the mask pattern 14 is tightly adhered to the PMMA layer 12 and exposure is performed. Then, the exposed part of the PMMA layer 12 is etched and removed by using methyl methacrylate. For that, for instance, the glass substrate 10 is carried into a gas etching furnace and the PMMA layer 12 is etched. As a result, an optical waveguide 16 composed of the remaining PMMA layer 12 is formed. Then, a clad layer 18 is formed on the upper surface of the glass substrate 10 provided with a core pattern 16.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、光導波路の製造
方法に関する。
The present invention relates to a method for manufacturing an optical waveguide.

【0002】[0002]

【従来の技術】光通信に用いられる光導波路デバイス
は、光路の分岐および結合を行うためのものである。こ
のような光導波路デバイスとして、現在、光ファイバー
結合素子とか石英製の平板光回路(PLC)とかが使用
されている。そして、これらのデバイスに使用される光
導波路は、伝搬損失が小さく、また耐熱性等が要求され
る。このような要求に答えるものとして、近年、高分子
材料を用いた光導波路が注目されている。
2. Description of the Related Art An optical waveguide device used for optical communication is for branching and coupling an optical path. As such an optical waveguide device, an optical fiber coupling element or a flat plate optical circuit (PLC) made of quartz is currently used. Optical waveguides used in these devices are required to have low propagation loss and heat resistance. In recent years, attention has been paid to an optical waveguide using a polymer material to meet such a demand.

【0003】高分子材料を用いた光導波路の例として
は、例えば、文献I(信学技報、TECHNICAL
REPORT OF 1EICE.、OME97−8
5、OPE97−74(1997−10)に開示された
ものがある。この文献Iによると、コア層としてUV硬
化型エポキシ樹脂或いは重水素化ポリメチルメタクリレ
ート(略称:d−PMMA)が用いられている。従来の
エポキシ樹脂をコア層に用いる光導波路では、レジスト
膜を用いてフォトリソグラフィー技術によりコア層をエ
ッチングしてコアパターンを形成していた。
As an example of an optical waveguide using a polymer material, see, for example, Document I (IEICE Technical Report, TECHNICAL).
REPORT OF 1EICE. , OME97-8
5, OPE97-74 (1997-10). According to Document I, a UV-curable epoxy resin or deuterated polymethyl methacrylate (abbreviation: d-PMMA) is used as a core layer. In a conventional optical waveguide using an epoxy resin for a core layer, a core pattern is formed by etching a core layer by a photolithography technique using a resist film.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
光導波路の製造方法によれば、フォトリソグラフィー技
術によるコア層のダメージとかO2 −RIEによるコア
層のダメージが生じ易いという問題がある。
However, according to the conventional method of manufacturing an optical waveguide, there is a problem that the core layer is easily damaged by photolithography or the O 2 -RIE.

【0005】また、上述したレジスト膜を用いてコアパ
ターンを形成する場合、フォトリソグラフィー技術によ
りレジストマスクを形成する工程が必要となるため、工
程数が増加する。このため、コストアップの原因となっ
ていた。
In the case where a core pattern is formed using the above-described resist film, a step of forming a resist mask by photolithography is required, so that the number of steps is increased. For this reason, the cost was increased.

【0006】そこで、コア層にダメージを与えず、工程
数を低減できる光導波路の製造方法の出現が望まれてい
た。
Therefore, there has been a demand for an optical waveguide manufacturing method capable of reducing the number of steps without damaging the core layer.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】このため、この発明の光
導波路の製造方法によれば、下地上にポリメチルメタク
リレート(PMMA)層を形成する工程と、マスクを用
いてポリメチルメタクリレート層をディープ紫外光(D
eep UV光)により露光する工程と、メタクリル酸
メチル(MMA)ガスを用いてポリメチルメタクリレー
ト層の露光部分をエッチング除去する工程とを含むこと
を特徴とする。
Therefore, according to the method of manufacturing an optical waveguide of the present invention, a step of forming a polymethyl methacrylate (PMMA) layer on a base, and a step of deepening the polymethyl methacrylate layer using a mask. Ultraviolet light (D
(e.g., deep UV light) and a step of etching away the exposed portion of the polymethyl methacrylate layer using methyl methacrylate (MMA) gas.

【0008】このように、PMMA層をマスクを用いて
Deep UV光で露光し、その後、エッチングガスを
用いて直接PMMA層の露光部分をエッチングして光導
波路層(コアパターン)を形成するので、光導波路層を
形成する工程としては2工程で済む。このため、従来に
比べて大幅な工程の低減が可能となる。また、この発明
では従来のように、フォトリソグラフィー技術或いは反
応性イオンエッチング技術を使用していないため、コア
層となるPMMA層にダメージを与えることはなくな
る。
As described above, the PMMA layer is exposed to the deep UV light using the mask, and then the exposed portion of the PMMA layer is directly etched using the etching gas to form the optical waveguide layer (core pattern). Only two steps are required to form the optical waveguide layer. For this reason, the number of steps can be significantly reduced as compared with the related art. Further, since the present invention does not use the photolithography technology or the reactive ion etching technology as in the related art, the PMMA layer serving as the core layer is not damaged.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下、図を参照して、この発明の
光導波路の製造方法の実施の形態につき説明する。な
お、図は、この発明が理解できる程度に、各構成成分の
大きさ、形状および配置関係を概略的に示してあるにす
ぎず、従って、この発明は、何ら図示例に限定されるも
のではない。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a method for manufacturing an optical waveguide according to the present invention will be described below with reference to the drawings. It should be noted that the drawings merely schematically show the size, shape, and arrangement relationship of each component to the extent that the present invention can be understood. Therefore, the present invention is not limited to the illustrated examples. Absent.

【0010】図1を参照して、この発明の光導波路の製
造方法につき説明する。なお、図1の(A)、(B)お
よび(C)は、この発明の光導波路の製造工程の説明に
供する図であって、光導波路と直交する方向に沿って切
断した位置での切り口の断面を示す図である。
Referring to FIG. 1, a method of manufacturing an optical waveguide according to the present invention will be described. FIGS. 1A, 1B, and 1C are views for explaining a manufacturing process of the optical waveguide of the present invention, and show a cut at a position cut along a direction orthogonal to the optical waveguide. FIG.

【0011】この発明では、まず、下地10上にポリメ
チルメタクリレート(PMMA)層12を形成する。こ
の例では、下地10として、ガラス基板を用いる。ここ
では、ガラス基板10として、市販の基板(コーニング
社製商品名7059)を用いる。
In the present invention, first, a polymethyl methacrylate (PMMA) layer 12 is formed on a base 10. In this example, a glass substrate is used as the base 10. Here, a commercially available substrate (trade name: 7059, manufactured by Corning Incorporated) is used as the glass substrate 10.

【0012】この実施の形態では、PMMA層12の塗
布材料として、15wt%のPMMAになるように、P
MMAを、例えば酢酸2−メトキシエチル(溶媒)に溶
解する。このPMMA塗布溶液をスピンコート法を用い
てガラス基板10上に塗布する。その後、約80℃の温
度でガラス基板10を加熱して、PMMA層12を乾燥
する。ここでは、PMMA層12の膜厚を光導波路とし
て機能する膜厚とすれば良い。この例では、この膜厚を
約5.5μmとする。尚、この例では、最適な膜厚を
5.5μmとしたが、好適な膜厚としては、4〜6μm
の範囲であれば良い。
In this embodiment, as a coating material of the PMMA layer 12, PMA is applied so that 15 wt% of PMMA is obtained.
MMA is dissolved in, for example, 2-methoxyethyl acetate (solvent). This PMMA coating solution is applied on the glass substrate 10 by using a spin coating method. Thereafter, the glass substrate 10 is heated at a temperature of about 80 ° C. to dry the PMMA layer 12. Here, the thickness of the PMMA layer 12 may be a thickness that functions as an optical waveguide. In this example, this film thickness is about 5.5 μm. In this example, the optimum film thickness was 5.5 μm, but a preferable film thickness is 4 to 6 μm.
It is sufficient if it is within the range.

【0013】次に、この発明では、パターニング用のマ
スク(ここではパターンマスクとも称する。)14を用
いてPMMA層12をディープ紫外光で露光する。な
お、図1の(A)では、パターンマスク14をPMMA
層12と離間させて描いてあるが、実際には、マスクパ
ターン14をPMMA膜12に密着させて露光を行う。
露光用光源として高圧水銀灯を用いる。このときの露光
光として、高圧水銀灯からのディープ紫外光(Deep
UV光)を使用する。また、このランプの露光波長と
しては、200〜300nmのものを用いる。そして、
Deep UV光をPMMA層12に15分間照射する
(図1の(A))。このようなDeepUV光をPMM
A層12に照射することにより、PMMA層12の高分
子は分解する。
Next, in the present invention, the PMMA layer 12 is exposed to deep ultraviolet light using a patterning mask (also referred to herein as a pattern mask) 14. In FIG. 1A, the pattern mask 14 is formed by PMMA.
Although drawn separately from the layer 12, in practice, exposure is performed with the mask pattern 14 in close contact with the PMMA film 12.
A high-pressure mercury lamp is used as a light source for exposure. As the exposure light at this time, deep ultraviolet light (Deep) from a high-pressure mercury lamp was used.
UV light). The exposure wavelength of this lamp is 200 to 300 nm. And
Deep UV light is applied to the PMMA layer 12 for 15 minutes (FIG. 1A). Such Deep UV light is converted to PMM
By irradiating the A layer 12, the polymer of the PMMA layer 12 is decomposed.

【0014】次に、この発明では、メタクリ酸メチルを
用いてPMMA層12の露光部分をエッチング除去す
る。このため、この例では、ガラス基板10をガスエッ
チング炉(減圧ベルジャー)内に搬入して、PMMA層
12のエッチングを行う。このときのエッチングの条件
は以下の通りとする。
Next, in the present invention, the exposed portion of the PMMA layer 12 is removed by etching using methyl methacrylate. For this reason, in this example, the glass substrate 10 is carried into a gas etching furnace (a reduced-pressure bell jar), and the PMMA layer 12 is etched. The etching conditions at this time are as follows.

【0015】 ガス圧 :約6.7Pa(50×10-3Torr) エッチングガス:メタクリル酸メチル(MMA) 処理時間 :約60分 温度 :室温(約25℃) なお、上述したエッチング条件は、最適条件であり、好
適な範囲としては、ガス圧を、6.7〜40.2Pa
(50〜300mTorr)の範囲とするのが良い。こ
のようなガス圧にすることにより、実質的にパターン精
度が劣化しない。また、処理時間は、最適例にすぎず、
コアパターンの線幅或いはエッチング深さにより処理時
間を変える必要がある。
Gas pressure: about 6.7 Pa (50 × 10 −3 Torr) Etching gas: methyl methacrylate (MMA) Processing time: about 60 minutes Temperature: room temperature (about 25 ° C.) The above etching conditions are optimal. It is a condition, and as a preferable range, the gas pressure is 6.7 to 40.2 Pa.
(50 to 300 mTorr). With such a gas pressure, the pattern accuracy does not substantially deteriorate. Also, the processing time is only an optimal example,
It is necessary to change the processing time depending on the line width or etching depth of the core pattern.

【0016】このようなエッチング処理により、PMM
A層12の露光された領域がエッチング除去される。そ
の結果、残存したPMMA層からなる光導波路層16が
形成される(図1の(B))。ここでは、光導波路層1
6をコアパターンとも称する。
By such an etching process, the PMM
The exposed area of the A layer 12 is etched away. As a result, an optical waveguide layer 16 made of the remaining PMMA layer is formed (FIG. 1B). Here, the optical waveguide layer 1
6 is also called a core pattern.

【0017】次に、周知の技術によりコアパターン16
を含むガラス基板10の上面にクラッド層18を形成す
る(図1の(C))。
Next, the core pattern 16 is formed by a known technique.
The cladding layer 18 is formed on the upper surface of the glass substrate 10 containing (FIG. 1C).

【0018】上述した工程を経て光導波路が完成する。The optical waveguide is completed through the steps described above.

【0019】次に、図1,図2および図3を参照して、
この発明の製造方法と従来の製造方法との相違点につき
説明する。なお、図2および図3は、従来の工程を説明
するための光導波路と直交する方向に沿って切断した位
置での切り口の断面を示す図である。
Next, referring to FIGS. 1, 2 and 3,
The difference between the manufacturing method of the present invention and the conventional manufacturing method will be described. FIG. 2 and FIG. 3 are cross-sectional views of the cut surface at positions cut along a direction orthogonal to the optical waveguide for explaining a conventional process.

【0020】従来の工程では、シリコン(Si)基板5
0上に下側クラッド層52およびコア層54を形成す
る。コア層54として、UV硬化型エポキシ樹脂を用い
ている。次にエッチング用マスクを形成するため、コア
層54上にレジスト膜56を形成する。なお、レジスト
膜56を形成する工程としては周知の工程による。
In the conventional process, a silicon (Si) substrate 5
The lower clad layer 52 and the core layer 54 are formed on the lower layer 0. As the core layer 54, a UV curable epoxy resin is used. Next, a resist film 56 is formed on the core layer 54 to form an etching mask. Note that a well-known process is used as a process for forming the resist film 56.

【0021】すなわち、任意好適なレジストを選択し、
このレジストをコア層54上にスピンコート法を用いて
塗布する。その後、このレジスト膜56を乾燥(約80
℃)する(図2の(A))。
That is, any suitable resist is selected,
This resist is applied on the core layer 54 by using a spin coating method. Thereafter, the resist film 56 is dried (about 80
C.) (FIG. 2A).

【0022】次に、この発明と同様なマスク58を用い
て、フォトリソグラフィー技術によりレジストマスク6
0を形成する(図2の(B)と(C))。このフォトリ
ソグラフィー工程では、露光および現像が必要となる。
次に、レジストマスク60の溶媒を除去するため、ベー
ク処理を行う。
Next, using a mask 58 similar to that of the present invention, a resist mask 6 is formed by photolithography.
0 (FIGS. 2B and 2C). In this photolithography step, exposure and development are required.
Next, a baking process is performed to remove the solvent of the resist mask 60.

【0023】次に、酸素反応性イオンエッチング(O2
−RIEエッチング)によりコア層54をエッチングし
てレジストマスク60以外に露出しているコア層54を
除去する(図3の(A))。このとき、レジストマスク
60の下面には、コアパターン62が形成される。その
後、任意好適な溶剤を用いてレジストマスク60を除去
する(図3の(B))。このようにして、下側クラッド
層52上にストライプ状のコアパターン62が形成され
る。
Next, oxygen reactive ion etching (O 2
The core layer 54 is etched by (RIE etching) to remove the exposed core layer 54 other than the resist mask 60 (FIG. 3A). At this time, a core pattern 62 is formed on the lower surface of the resist mask 60. After that, the resist mask 60 is removed using any suitable solvent (FIG. 3B). Thus, a stripe-shaped core pattern 62 is formed on the lower cladding layer 52.

【0024】次に、コアパターン62を含む下側クラッ
ド層52上に上側クラッド層64を形成して光導波路が
完成する(図3の(C))。
Next, an upper clad layer 64 is formed on the lower clad layer 52 including the core pattern 62 to complete the optical waveguide (FIG. 3C).

【0025】この発明の工程と従来の工程とを比較する
と、従来の工程では、コア層として、UV硬化型エポキ
シ樹脂を用いているのに対して、この発明のコア層とし
てはPMMA層12を用いる。また、この発明で用いる
パターンマスク14(図1の(A))と従来のフォトリ
ソグラフィー工程で用いるパターンマスク58(図2の
(B))とは、同一のマスクを用いている。
A comparison between the process of the present invention and the conventional process shows that, in the conventional process, the UV-curable epoxy resin is used as the core layer, whereas the PMMA layer 12 is used as the core layer of the present invention. Used. Further, the same mask is used as the pattern mask 14 (FIG. 1A) used in the present invention and the pattern mask 58 (FIG. 2B) used in the conventional photolithography process.

【0026】従来とこの発明の工程から理解できるよう
に、従来は、レジストマスク60を形成してコア層54
のパターニングを行う必要があったが、この発明では、
PMMA層を用いているため、UV光露光とMMAガス
によるガスエッチングを行うだけで、コアパターンを形
成することができる。このため、従来は、上述したよう
にレジス塗布、レジストの乾燥処理、レジスト露光、現
像、レジストマスクのベーク処理、酸素反応性イオンエ
ッチングおよびレジストマスク除去の7工程を経てコア
パターン62を形成していた。これに対して、この発明
は、PMMA層のUV光露光とガスエッチングとの2工
程によりコアパターン16を形成することができる。
As can be understood from the conventional process and the process of the present invention, conventionally, a resist mask 60 is formed and a core layer 54 is formed.
Although it was necessary to perform patterning,
Since the PMMA layer is used, a core pattern can be formed only by performing UV light exposure and gas etching using an MMA gas. Therefore, conventionally, as described above, the core pattern 62 is formed through seven steps of resist coating, resist drying, resist exposure, development, resist mask baking, oxygen reactive ion etching, and resist mask removal. Was. On the other hand, according to the present invention, the core pattern 16 can be formed by two steps of UV light exposure and gas etching of the PMMA layer.

【0027】従って、両者の工程数を比較すると、この
発明では、従来に比べ、工程数を約30%に低減するこ
とが可能となる。
Therefore, comparing the numbers of steps of the two, according to the present invention, it is possible to reduce the number of steps to about 30% as compared with the prior art.

【0028】また、この発明に係る発明者等の顕微鏡観
察結果によれば、ガラス基板10上に50μmのストラ
イプ状のコアパターン16を形成した場合、設計値に対
して、±1μm以下の精度が得られている。
According to the results of microscopic observation by the inventors of the present invention, when a 50 μm stripe-shaped core pattern 16 is formed on the glass substrate 10, the accuracy of ± 1 μm or less with respect to the design value is obtained. Have been obtained.

【0029】上述した実施の形態では、基板材料とし
て、ガラス基板を用いたが、この材料に何ら限定される
ものではなく、例えば、シリコン基板上にシリコン酸化
膜を形成した下地を用いても良い。
In the above-described embodiment, a glass substrate is used as a substrate material. However, the present invention is not limited to this material. For example, a base having a silicon oxide film formed on a silicon substrate may be used. .

【0030】また、実施の形態で用いたPMMAの濃度
或いは溶媒は一例にすぎず,PMMA層の所定の膜厚を
得るため、PMMAの濃度を任意に変更しても良い。
Further, the concentration or solvent of PMMA used in the embodiment is merely an example, and the concentration of PMMA may be arbitrarily changed in order to obtain a predetermined thickness of the PMMA layer.

【0031】[0031]

【発明の効果】上述した説明からも明らかなように、こ
の発明の光導波路の製造方法によれば、露光とガスエッ
チングの2工程により、光導波層を形成することができ
るので、従来に比べ、大幅に工程数を低減することが可
能となる。また、この発明の工程では、従来のようにフ
ォトリソグラフィー技術とか反応性イオンエッチング技
術を使用していないため、コア層に対するダメージも低
減できる。
As is clear from the above description, according to the method for manufacturing an optical waveguide of the present invention, an optical waveguide layer can be formed by two steps of exposure and gas etching. Thus, the number of steps can be significantly reduced. Further, in the process of the present invention, since a photolithography technique or a reactive ion etching technique is not used as in the related art, damage to the core layer can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(A)〜(C)は、この発明の光導波路を製造
する方法を説明するために供する断面図である。
FIGS. 1A to 1C are cross-sectional views for explaining a method for manufacturing an optical waveguide of the present invention.

【図2】(A)〜(C)は、従来の光導波路を製造する
工程を説明するために供する断面図である。
FIGS. 2A to 2C are cross-sectional views for explaining a process of manufacturing a conventional optical waveguide.

【図3】(A)〜(C)は、図2の工程に続く、従来の
工程を説明するために供する断面図である。
3 (A) to 3 (C) are cross-sectional views provided to explain a conventional process following the process of FIG. 2;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10:ガラス基板 12:PMMA層 14:マスク 16:光導波路層(コアパターン) 18:クラッド層 10: Glass substrate 12: PMMA layer 14: Mask 16: Optical waveguide layer (core pattern) 18: Cladding layer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 海部 勝晶 東京都港区虎ノ門1丁目7番12号 沖電気 工業株式会社内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Katsuaki Kaifu 1-7-12 Toranomon, Minato-ku, Tokyo Oki Electric Industry Co., Ltd.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】(a)下地上にポリメチルメタクリレート
(PMMA)層を形成する工程と、(b)マスクを用い
て前記ポリメチルメタクリレート層をディープ紫外光に
より露光する工程と、(c)メタクリル酸メチルガスを
用いて前記ポリメチルメタクリレート層の露光部分をエ
ッチング除去する工程とを含むことを特徴とする光導波
路の製造方法。
1. A step of (a) forming a polymethyl methacrylate (PMMA) layer on a base, (b) exposing the polymethyl methacrylate layer to deep ultraviolet light using a mask, and (c) methacrylic Etching the exposed portion of the polymethyl methacrylate layer using an acid methyl gas.
JP3898598A 1998-02-20 1998-02-20 Manufacture of optical waveguide Withdrawn JPH11237518A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102866458A (en) * 2012-08-20 2013-01-09 东南大学 Preparation process for etching deep optical waveguide

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CN102866458A (en) * 2012-08-20 2013-01-09 东南大学 Preparation process for etching deep optical waveguide

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