JPH11177237A - Build-up multilayer printed wiring board and manufacture thereof - Google Patents

Build-up multilayer printed wiring board and manufacture thereof

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JPH11177237A
JPH11177237A JP34594697A JP34594697A JPH11177237A JP H11177237 A JPH11177237 A JP H11177237A JP 34594697 A JP34594697 A JP 34594697A JP 34594697 A JP34594697 A JP 34594697A JP H11177237 A JPH11177237 A JP H11177237A
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JP
Japan
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layer
circuit
thermosetting resin
hole
wiring board
Prior art date
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Application number
JP34594697A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Naoyuki Urasaki
直之 浦崎
Toyoki Ito
豊樹 伊藤
Kazuhisa Otsuka
和久 大塚
Masao Sugano
雅雄 菅野
Shigeharu Ariga
茂晴 有家
義之 ▲つる▼
Yoshiyuki Tsuru
Akishi Nakaso
昭士 中祖
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Showa Denko Materials Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
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Publication date
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a build-up multilayer printed wiring board which is superior in thickness reduction, connection reliability enhancement, and substrate surface evenness, and a method of manufacturing the build-up multilayer printed wiring board with superior productivity SOLUTION: A wiring board comprises an inner layer circuit board 4. in which inner layer circuits 2 on its both side surfaces are connected mutually via a through hole 3, and on its each side surface, a thermosetting resin layer 6 in which electrically insulating filler is dispersed homogeneously, a first circuit 7 formed on the thermosetting resin layer 6, a first via hole 8 which connects the inner layer circuit 2 and the first circuit 7 electrically, a photosensitive resin layer 9 covering the surface of the above mentioned members, a second circuit 10 formed on the photosensitive resin layer 9, and a second via hole 11 which connects the first circuit 7 and the second circuit 10 electrically. The through hole 3 of the inner circuit board 4 is filled with an insulating resin in which the same electrically insulating filler used in the thermosetting resin layer 6 is dispersed homogeneously.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ビルドアップ多層
プリント配線板とその製造方法に関する。
The present invention relates to a build-up multilayer printed wiring board and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子機器の小型化、軽量化、多機
能化が一段と進み、これに伴い、lSIやチップ部品等
の高集積化が進展し、その形態も多ピン化、小型化へと
急速に変化している。このため、多層プリント配線板に
は、電子部品の実装密度を向上するために、配線パター
ンの高密度化が一層求められるようになった。
2. Description of the Related Art In recent years, the miniaturization, weight reduction, and multi-functionality of electronic devices have been further advanced, and with this, high integration of LSIs and chip components has progressed, and the form has also been increased to multi-pin and miniaturized. And it is changing rapidly. For this reason, a multilayer printed wiring board has been required to further increase the wiring pattern density in order to increase the mounting density of electronic components.

【0003】これらの要望を満たすために、層間の薄型
化、配線の微細化、層間接続穴の小径化が行われ、ま
た、隣接する層間の導体のみを接続するインタースティ
シャルバイアホール(以下、IVHという。)や、ベリ
ードバイアホール(以下、BVHという。)が用いられ
るようになり、このIVHやBVHも更に小径化されつ
つある。
In order to satisfy these demands, thinning between layers, miniaturization of wiring, and reduction in the diameter of interlayer connection holes have been performed, and interstitial via holes (hereinafter, referred to as "connections") that connect only conductors between adjacent layers. IVH) and buried via holes (hereinafter referred to as BVH) have been used, and the diameters of the IVH and BVH have been further reduced.

【0004】配線の多層化には、通常、複数の回路層と
該間の層間絶縁層をまとめて重ね、加熱加圧して積層一
体化し、必要な箇所に穴をあけ接続する多層配線板と、
回路を形成した上に層間絶縁層を形成し、その上に回路
を形成し、必要な箇所に穴を設け、というように回路層
と絶縁層とを順次形成するビルドアップ多層配線板とが
ある。
[0004] In order to form a multilayer wiring, a plurality of circuit layers and an interlayer insulating layer therebetween are collectively stacked, laminated by heat and pressure, integrated, and formed with holes at required locations.
There is a build-up multilayer wiring board in which an interlayer insulating layer is formed on a circuit, a circuit is formed thereon, holes are provided in necessary places, and a circuit layer and an insulating layer are sequentially formed. .

【0005】このビルドアップ多層配線板の一例を示す
と、めっきスルーホールと内層回路とが形成された内層
回路板のスルーホールに、シルクスクリーン印刷法など
によって熱硬化性樹脂を穴が塞がるように埋め、加熱し
て硬化した後、穴からはみ出した樹脂を研磨などにより
除去し、熱硬化性の樹脂を塗布し、加熱硬化して絶縁層
を形成し、その絶縁層の一部を選択的に除去することに
よって層間接続用の穴を設け、めっきなどによってその
層間接続用の穴内壁の金属化を行うと共に、絶縁樹脂上
に回路導体を形成し、さらに回路を形成する。この回路
を形成したものを内層回路板とすれば、上記と同様の操
作によりさらに1層の絶縁層及び回路層の形成ができ、
これを繰り返すことによって、必要とする多層回路が形
成できる。
As an example of this build-up multilayer wiring board, a thermosetting resin is filled in a through hole of an inner circuit board having a plated through hole and an inner layer circuit formed thereon by a silk screen printing method or the like. After filling and heating and curing, the resin that protrudes from the hole is removed by polishing or the like, a thermosetting resin is applied, and heat curing is performed to form an insulating layer, and a part of the insulating layer is selectively formed. By removing, a hole for interlayer connection is provided, the inner wall of the hole for interlayer connection is metallized by plating or the like, a circuit conductor is formed on the insulating resin, and a circuit is further formed. If this circuit is formed as an inner circuit board, one more insulating layer and circuit layer can be formed by the same operation as above.
By repeating this, a required multilayer circuit can be formed.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】このようなビルドアッ
プ多層配線板は、スルーホールを持った内層回路板の上
にビルドアップ層を形成する前に、電気絶縁性樹脂や導
電性樹脂などでスルーホール内を充填する必要がある。
ビルドアップ層の絶縁樹脂を形成する方法に、カーテン
コート法、スクリーン印刷法、ディップ法及びフィルム
ラミネート法があるが、これらでは充填が困難であるか
充填できた場合でも、余分な基板表面の樹脂を機械研磨
により除去する必要があり、機械研磨により内層回路板
の寸法変化が起こるため位置ズレが発生し、歩留まりの
低下をもたらしている。
Such a build-up multilayer wiring board is formed with an electrically insulating resin or conductive resin before forming a build-up layer on an inner circuit board having through holes. It is necessary to fill the hole.
Curtain coating, screen printing, dipping, and film laminating methods are known as methods of forming the insulating resin of the build-up layer. Must be removed by mechanical polishing, and the mechanical polishing causes a dimensional change of the inner layer circuit board, which causes a positional shift and lowers the yield.

【0007】また、絶縁樹脂をスルーホールに充填でき
た場合でも、内層回路板と穴埋めした樹脂の熱膨張係数
が異なるため、接続信頼性の低下を生じていた。
Further, even when the insulating resin can be filled in the through-hole, the reliability of the connection is reduced because the thermal expansion coefficients of the inner circuit board and the filled resin are different.

【0008】本発明は、薄型化、接続信頼性の向上、お
よび基板表面の平滑化に優れたビルドアップ多層プリン
ト配線板と、生産性に優れたビルドアップ多層プリント
配線板の製造方法を提供することを目的とする。
The present invention provides a build-up multilayer printed wiring board excellent in thinning, improvement of connection reliability, and smoothing of a substrate surface, and a method of manufacturing a build-up multilayer printed wiring board excellent in productivity. The purpose is to:

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明のビルドアップ多
層プリント配線板は、図1(g)に示すように、絶縁基
材1とその両面に形成された内層回路2とスルーホール
3によってその両面の内層回路2を電気的に接続した内
層回路板4と、その表面に電気絶縁性の充填剤を均一に
分散させた熱硬化性樹脂層6と、その熱硬化性樹脂層6
の表面に形成された第1の回路7と、前記内層回路2と
前記第1の回路7とを電気的に接続する第1のバイアホ
ール8と、その表面に形成された感光性樹脂層9と、そ
の感光性樹脂層9の表面に形成された第2の回路10
と、前記第1の回路7と前記第2の回路10とを電気的
に接続する第2のバイアホール11とを有し、内層回路
板4のスルーホール3が前記熱硬化性樹脂層6と同じ絶
縁樹脂で充填されていることを特徴とする。
As shown in FIG. 1 (g), a build-up multilayer printed wiring board according to the present invention comprises an insulating substrate 1, an inner layer circuit 2 formed on both sides thereof, and a through hole 3. An inner circuit board 4 electrically connecting the inner circuits 2 on both sides, a thermosetting resin layer 6 having an electrically insulating filler uniformly dispersed on its surface, and a thermosetting resin layer 6
Circuit 7, a first via hole 8 for electrically connecting the inner circuit 2 and the first circuit 7, and a photosensitive resin layer 9 formed on the surface. And a second circuit 10 formed on the surface of the photosensitive resin layer 9.
And a second via hole 11 for electrically connecting the first circuit 7 and the second circuit 10, and the through hole 3 of the inner circuit board 4 is connected to the thermosetting resin layer 6. It is characterized by being filled with the same insulating resin.

【0010】このようなビルドアップ多層プリント配線
板は、以下の工程を、この順に行うことによって製造す
ることができる。 a.熱硬化性樹脂ワニスに電気絶縁性の充填剤である電
気絶縁性セラミック系ウィスカを配合し、撹拌により前
記電気絶縁性セラミック系ウィスカを前記熱硬化性樹脂
ワニス中に均一に分散させた後、銅箔21の粗化面に塗
布し、加熱・半硬化させ、熱硬化性樹脂層6を形成し、
予め絶縁基材1とその両面に形成された内層回路2とス
ルーホール3によってその両面の内層回路2を電気的に
接続した内層回路板4の上に、前記熱硬化性樹脂層6を
重ね、加熱加圧して積層一体化する工程。 b.前記銅箔21の上にエッチングレジストを形成し、
そのエッチングレジストから露出した部分を、第1のバ
イアホール8の穴の形状にエッチング除去し、エッチン
グレジストを除去する工程。 c.第1のバイアホール8の穴の形状にエッチング除去
された銅箔21の微細穴から露出した、硬化した熱硬化
性樹脂層6を、レーザ光を照射することにより、前記内
層回路2が露出するまで除去して、第1のバイアホール
8となる穴82を形成する工程。 d.前記穴82の壁面の硬化した熱硬化性樹脂層6を、
粗化剤を用いて粗化し、めっきを行う工程。 e.前記めっきの上にエッチングレジストを形成し、該
エッチングレジストから露出しためっきと銅箔21をエ
ッチング除去し、第1の回路7を形成した後、前記エッ
チングレジストを除去する工程。 f.第1の回路7の表面を酸化して凹凸を形成し、形成
した酸化銅を還元する工程。 g.第1の回路7を形成した表面に、液状の感光性樹脂
を塗布し、感光性樹脂層9を形成し、フォトマスクを介
して露光、現像し、第2のバイアホール11となる穴1
11を形成する工程。 h.前記穴111の壁面を含む感光性樹脂層9の樹脂面
を、酸化性粗化液で粗化し、めっきを行う工程。 i.前記めっきの表面にエッチングレジストを形成し、
該エッチングレジストから露出しためっきを選択的にエ
ッチング除去し、前記エッチングレジストを除去する工
程。
Such a build-up multilayer printed wiring board can be manufactured by performing the following steps in this order. a. A thermosetting resin varnish is blended with an electrically insulating ceramic whisker, which is an electrically insulating filler, and the electrically insulating ceramic whisker is uniformly dispersed in the thermosetting resin varnish by stirring. It is applied to the roughened surface of the foil 21, heated and semi-cured to form a thermosetting resin layer 6,
The thermosetting resin layer 6 is overlaid on an insulating substrate 1 and an inner layer circuit board 4 formed on both sides thereof and an inner layer circuit board 4 electrically connected to the inner layer circuits 2 on both sides thereof by through holes 3. A process of heating and pressurizing to laminate and integrate. b. Forming an etching resist on the copper foil 21;
Removing the portion exposed from the etching resist by etching into the shape of the first via hole 8 to remove the etching resist. c. The inner layer circuit 2 is exposed by irradiating the cured thermosetting resin layer 6 exposed from the fine holes of the copper foil 21 etched and removed in the shape of the first via holes 8 with laser light. Forming a hole 82 to be the first via hole 8. d. The cured thermosetting resin layer 6 on the wall surface of the hole 82 is
A step of roughening and plating with a roughening agent. e. Forming an etching resist on the plating, etching away the plating and the copper foil 21 exposed from the etching resist, forming a first circuit 7, and then removing the etching resist. f. A step of oxidizing the surface of the first circuit 7 to form irregularities and reducing the formed copper oxide; g. A liquid photosensitive resin is applied to the surface on which the first circuit 7 is formed, a photosensitive resin layer 9 is formed, exposed and developed through a photomask, and a hole 1 serving as a second via hole 11 is formed.
Step 11 of forming. h. A step of roughening the resin surface of the photosensitive resin layer 9 including the wall surface of the hole 111 with an oxidizing roughening solution and performing plating. i. Forming an etching resist on the surface of the plating,
A step of selectively etching away the plating exposed from the etching resist to remove the etching resist.

【0011】工程a.に代えて、以下の工程を用いるこ
ともできる。 a1.撹拌により前記電気絶縁性セラミック系ウィスカ
を前記熱硬化性樹脂ワニス中に均一に分散させた熱硬化
性樹脂ワニスを、樹脂との接着に適した粗さを有すると
共に回路となる銅層と全体としての金属層として取り扱
いに十分な強度を有するキャリア層からなる2層が容易
に剥離可能な複合金属箔の銅層の粗化面に塗布し、加熱
半硬化させ、熱硬化性樹脂層6を形成し、予めスルーホ
ール3と内層回路2を形成した内層回路板4の上に、前
記熱硬化性樹脂層6を重ね、加熱加圧して積層一体化し
た後、キャリア層のみを除去する工程。
Step a. Alternatively, the following steps can be used. a1. A thermosetting resin varnish obtained by uniformly dispersing the electrically insulating ceramic whisker in the thermosetting resin varnish by agitation, having a roughness suitable for bonding with a resin and a copper layer serving as a circuit as a whole. Two layers consisting of a carrier layer having sufficient strength for handling as a metal layer of the above are applied to the roughened surface of the copper layer of the composite metal foil which can be easily peeled, and semi-cured by heating to form a thermosetting resin layer 6 Then, a step of superposing the thermosetting resin layer 6 on the inner layer circuit board 4 on which the through-holes 3 and the inner layer circuit 2 are formed in advance, laminating and unifying the layers by heating and pressing, and then removing only the carrier layer.

【0012】また、工程a.に代えて、以下の工程を用
いることもできる。 a2.撹拌により前記電気絶縁性セラミック系ウィスカ
を前記熱硬化性樹脂ワニス中に均一に分散させた熱硬化
性樹脂ワニスを、樹脂との接着に適した粗さを有すると
共に回路となる1〜9μmの厚さの第1の銅層と全体と
しての金属層として取り扱いに十分な強度を有する厚さ
10〜150μmの第2の銅層とその2層の中間に設け
られた厚さが0.04〜1.5μmのニッケル−リン合
金層からなる複合金属箔の第1の銅層の粗化面に塗布
し、加熱半硬化させ、熱硬化性樹脂層6を形成し、予め
スルーホール3と内層回路2を形成した内層回路板4の
上に、前記熱硬化性樹脂層6を重ね、加熱加圧して積層
一体化した後、キャリア層のみを除去し、続いて、ニッ
ケル−リン合金層のみを除去する工程。
Step a. Alternatively, the following steps can be used. a2. A thermosetting resin varnish obtained by uniformly dispersing the electrically insulating ceramic-based whisker in the thermosetting resin varnish by stirring has a roughness suitable for bonding to a resin and has a thickness of 1 to 9 μm which becomes a circuit. A second copper layer having a thickness of 10 to 150 μm having sufficient strength for handling as a first copper layer and a metal layer as a whole, and a thickness of 0.04 to 1 provided between the two layers. Coating on the roughened surface of the first copper layer of the composite metal foil composed of a nickel-phosphorus alloy layer of 0.5 μm, heating and semi-curing to form a thermosetting resin layer 6, and forming the through-hole 3 and the inner layer circuit 2 in advance After the thermosetting resin layer 6 is overlaid on the inner circuit board 4 on which is formed, and laminated by laminating by heating and pressing, only the carrier layer is removed, and then only the nickel-phosphorus alloy layer is removed. Process.

【0013】さらにこれらの製造方法を使用して、工程
iで作製した多層プリント配線板を内層基板として、さ
らに、工程f〜工程iを必要な回数繰り返し行うことが
でき、例えば、図2(a)に示すような構造となる。
Further, using these manufacturing methods, the multilayer printed wiring board manufactured in the step i can be used as an inner layer substrate, and the steps f to i can be repeated as many times as necessary. ).

【0014】また、工程iで作製した多層プリント配線
板を内層基板として、スルーホール13となる穴をあ
け、穴内部を粗化し、粗化剤を用いて粗化し、めっき1
4を行った後に、不要なめっき14を選択的にエッチン
グ除去し、さらに、工程b〜工程iを行うこともでき、
例えば、図2(b)に示すような構造となる。
Further, using the multilayer printed wiring board prepared in step i as an inner layer substrate, a hole serving as a through hole 13 is formed, the inside of the hole is roughened, and the hole is roughened using a roughening agent.
After performing step 4, unnecessary plating 14 is selectively removed by etching, and steps b to i can be further performed.
For example, the structure is as shown in FIG.

【0015】また、工程iで作製した多層プリント配線
板を内層基板として、スルーホールとなる穴をあけ、穴
内部を粗化し、粗化剤を用いて粗化し、めっきを行った
後に、不要なめっきを選択的にエッチング除去し、さら
に、工程b〜工程eを行うこともでき、例えば、図2
(c)に示すような構造になり、工程iで作製した多層
プリント配線板を内層基板として、工程f〜工程iを必
要な回数繰り返した後に、スルーホールとなる穴をあ
け、穴内部を粗化し、粗化剤を用いて粗化し、めっきを
行った後に、不要なめっきを選択的にエッチング除去
し、さらに、工程b〜工程eを行えば、図2(d)に示
すような構造となる。
Further, using the multilayer printed wiring board prepared in step i as an inner layer substrate, a hole serving as a through hole is formed, the inside of the hole is roughened, the surface is roughened using a roughening agent, and after plating is performed, unnecessary holes are formed. The plating can be selectively removed by etching, and the steps b to e can be further performed.
(C), the multilayer printed wiring board prepared in step i is used as an inner layer substrate, and after steps f to i are repeated as many times as necessary, a hole to be a through hole is formed, and the inside of the hole is roughened. After roughening using a roughening agent and performing plating, unnecessary plating is selectively removed by etching, and further, when Steps b to e are performed, a structure as shown in FIG. Become.

【0016】さらにまた、図2(c)や図2(d)に示
すようなビルドアップ多層プリント配線板を内層基板と
して、さらに、工程f〜工程iを必要な回数繰り返し行
うこともでき、この場合、図2(e)や図2(f)に示
すような構造となる。
Furthermore, using the build-up multilayer printed wiring board as shown in FIGS. 2C and 2D as an inner layer substrate, the steps f to i can be repeated as many times as necessary. In this case, the structure is as shown in FIG. 2 (e) and FIG. 2 (f).

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】(熱硬化性樹脂)本発明の熱硬化
性樹脂には、種々のものが使用できるが、中でも、単独
ではフィルム形成能のない樹脂を用いることができるこ
とに特徴がある。ここでいう、フィルム形成能とは、そ
の樹脂を溶媒に溶解しワニスとし、そのワニスをキャリ
アフィルムに塗布するときに厚さの制御が容易であり、
かつ、加熱乾燥して半硬化状としたものを、搬送、切
断、積層するときに、樹脂割れや欠落を生じにくく、さ
らにその後の加熱加圧成型時に絶縁層としての最小厚さ
を確保できる性能のことをいう。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION (Thermosetting resin) As the thermosetting resin of the present invention, various resins can be used. Among them, a resin having no film forming ability alone can be used. . Here, the film-forming ability means that the resin is dissolved in a solvent to form a varnish, and the thickness is easily controlled when the varnish is applied to a carrier film.
In addition, when transporting, cutting and laminating a material that has been semi-cured by heating and drying, it is resistant to cracking and chipping of the resin, and it is possible to secure the minimum thickness as an insulating layer at the time of subsequent heat and pressure molding Means

【0018】このような熱硬化性樹脂としては、従来に
おいてガラス布に含浸して使用していた樹脂があり、例
えば、分子量が30,000を超えない樹脂であって、
エポキシ樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂、ポリイ
ミド樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂、珪素樹脂、
不飽和ポリエステル樹脂、シアン酸エステル樹脂、イソ
シアネート樹脂、またはこれらの変性樹脂などがある。
中でも、エポキシ樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹
脂、及びポリイミド樹脂は、Tgや弾性率、硬度が高
く、好ましい。エポキシ樹脂としては、ビスフェノール
F型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、
フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボ
ラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールAノボラック型
エポキシ樹脂、サリチルアルデヒドノボラック型エポキ
シ樹脂、ビスフェノールFノボラック型エポキシ樹脂、
脂環式エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹
脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、ヒダントイン型
エポキシ樹脂、イソシアヌレート型エポキシ樹脂、脂肪
族環状エポキシ樹脂ならびにこれらのハロゲン化物、水
素添加物から選択されたものを使用でき、併用すること
もできる。中でも、ビスフェノールAノボラック型エポ
キシ樹脂とサリチルアルデヒドノボラック型エポキシ樹
脂は、耐熱性に優れ、好ましい。
As such a thermosetting resin, there is a resin which is conventionally used by impregnating a glass cloth, for example, a resin whose molecular weight does not exceed 30,000,
Epoxy resin, bismaleimide triazine resin, polyimide resin, phenol resin, melamine resin, silicon resin,
Examples include unsaturated polyester resins, cyanate ester resins, isocyanate resins, and modified resins thereof.
Among them, epoxy resin, bismaleimide triazine resin, and polyimide resin are preferable because of their high Tg, elastic modulus, and hardness. As the epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin,
Phenol novolak epoxy resin, cresol novolak epoxy resin, bisphenol A novolak epoxy resin, salicylaldehyde novolak epoxy resin, bisphenol F novolak epoxy resin,
Uses alicyclic epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, hydantoin type epoxy resin, isocyanurate type epoxy resin, aliphatic cyclic epoxy resin and their halides and hydrogenated products It can be used together. Among them, bisphenol A novolak epoxy resin and salicylaldehyde novolak epoxy resin are excellent in heat resistance and are preferable.

【0019】(電気絶縁性セラミック系ウィスカ)本発
明に使用する電気絶縁性セラミック系ウィスカには、弾
性率が200MPa以上が好ましく、200MPa未満
では剛性が不足し板厚が薄い場合、チップ搭載後のそり
が大きくマザーボードへの実装性が低下する。このよう
な電気絶縁性セラミック系ウィスカには、例えば、ほう
酸アルミニウム、ウォラスナイト、チタン酸カリウム、
塩基性硫酸マグネシウム、窒化珪素、及びα−アルミナ
の中から選択して用いることができる。中でも、ほう酸
アルミニウムとチタン酸カリウムは、モース硬度が従来
のEガラスと同程度であり、従来のプリプレグと同等の
ワイヤボンディング性が得られ、さらに、ほう酸アルミ
ニウムは、弾性率が400MPaと高い上に、ワニスと
混合しやすく好ましい。
(Electrically Insulating Ceramic Whisker) The electrically insulating ceramic whisker used in the present invention preferably has an elastic modulus of 200 MPa or more. If it is less than 200 MPa, the rigidity is insufficient and the plate thickness is small. The warpage is large and the mountability on the motherboard is reduced. Such electrically insulating ceramic whiskers include, for example, aluminum borate, wollastonite, potassium titanate,
It can be used by selecting from basic magnesium sulfate, silicon nitride, and α-alumina. Among them, aluminum borate and potassium titanate have the same Mohs hardness as the conventional E glass, and the same wire bonding property as that of the conventional prepreg is obtained.Furthermore, aluminum borate has a high elastic modulus of 400 MPa. It is preferable because it is easily mixed with varnish.

【0020】この電気絶縁性セラミック系ウィスカの形
状としては、平均直径が0.3〜3μm、平均長さが平
均直径の5倍以上であることが好ましい。平均直径が
0.3μm未満であると、樹脂ワニスへの混合が困難と
なり、3μmを超えると、樹脂への分散が十分でなく、
塗布した表面の凹凸が大きくなり、好ましくない。この
平均直径は、0.3〜1μmの範囲がより好ましい。平
均長さが、5倍未満であると、樹脂の剛性が得られず、
さらには20倍以上であることがより好ましい。また、
上限として、50μm以下であることが好ましく、この
数値は、内層回路の回路間隔より小さいことが必要であ
り、現状では内層回路間隔が50μm未満のものが無い
ためである。この平均長さが、内層回路の間隔を超える
と、両回路に接触した場合に、電気絶縁性セラミック系
ウィスカに沿って銅のイオンマイグレーションが起こり
易く、回路が短絡する可能性が高いので好ましくない。
The electrically insulating ceramic whisker preferably has an average diameter of 0.3 to 3 μm and an average length of at least 5 times the average diameter. When the average diameter is less than 0.3 μm, mixing with the resin varnish becomes difficult, and when the average diameter exceeds 3 μm, the dispersion in the resin is not sufficient,
The unevenness of the applied surface becomes large, which is not preferable. This average diameter is more preferably in the range of 0.3 to 1 μm. If the average length is less than 5 times, the rigidity of the resin cannot be obtained,
More preferably, it is 20 times or more. Also,
The upper limit is preferably 50 μm or less, and it is necessary that this numerical value be smaller than the circuit interval of the inner layer circuit, because at present there is no inner layer circuit interval smaller than 50 μm. If the average length exceeds the interval between the inner layer circuits, when the two circuits are in contact with each other, ion migration of copper is likely to occur along the electrically insulating ceramic whisker, and the possibility of short circuit is high, which is not preferable. .

【0021】この電気絶縁性セラミック系ウィスカと熱
硬化性樹脂との濡れ性を高めるために、電気絶縁性セラ
ミック系ウィスカの表面をカップリング剤で処理したも
のを用いることが好ましく、このようなカップリング剤
には、シリコン系カップリング剤、チタン系カップリン
グ剤、アルミニウム系カップリング剤、ジルコニウム系
カップリング剤、ジルコアルミニウム系カップリング
剤、クロム系カップリング剤、ボロン系カップリング
剤、リン系カップリング剤、アミノ系カップリング剤な
どから選択して使用できる。
In order to enhance the wettability between the electrically insulating ceramic whisker and the thermosetting resin, it is preferable to use an electrically insulating ceramic whisker whose surface has been treated with a coupling agent. Ring agents include silicon-based coupling agents, titanium-based coupling agents, aluminum-based coupling agents, zirconium-based coupling agents, zirconium-based coupling agents, chromium-based coupling agents, boron-based coupling agents, and phosphorus-based coupling agents. It can be used by selecting from a coupling agent, an amino coupling agent and the like.

【0022】(硬化剤)本発明の熱硬化性樹脂に用いる
硬化剤には、上記した樹脂に用いる硬化剤であればどの
ようなものでも使用でき、例えば、樹脂にエポキシ樹脂
を用いる場合には、ジシアンジアミド、ビスフェノール
A、ビスフェノールF、ポリビニルフェノール樹脂、ノ
ボラック樹脂、ビスフェノールAノボラック樹脂が耐熱
性に優れ好ましい。この硬化剤の前記熱硬化性樹脂に対
する配合比は、前記熱硬化性樹脂100重量部に対し
て、2〜100重量部の範囲が好ましく、ジシアンジア
ミドであれば、2〜5重量部、それ以外の上記硬化剤で
あれば、30〜80重量部の範囲が好ましい。2重量部
未満であると硬化不足となり、耐熱性が低下し、100
重量部を超えると、電気特性や耐熱性が低下する傾向に
ある。
(Curing Agent) As the curing agent used for the thermosetting resin of the present invention, any curing agent can be used as long as it is used for the above-mentioned resin. For example, when an epoxy resin is used for the resin, Dicyandiamide, bisphenol A, bisphenol F, polyvinyl phenol resin, novolak resin, and bisphenol A novolak resin are preferred because of their excellent heat resistance. The compounding ratio of this curing agent to the thermosetting resin is preferably in the range of 2 to 100 parts by weight, based on 100 parts by weight of the thermosetting resin, and in the case of dicyandiamide, 2 to 5 parts by weight, In the case of the above-mentioned curing agent, the range of 30 to 80 parts by weight is preferable. If the amount is less than 2 parts by weight, curing will be insufficient, heat resistance will decrease, and
If the amount exceeds the weight part, the electrical properties and heat resistance tend to decrease.

【0023】(硬化促進剤)本発明の熱硬化性樹脂と硬
化剤には、さらに、硬化促進剤が必要であり、熱硬化性
樹脂がエポキシ樹脂の場合には、硬化促進剤には、イミ
ダゾール化合物、有機リン化合物、第3級アミン、第4
級アンモニウム塩などを使用することができる。この硬
化剤の配合比は、前記熱硬化性樹脂100重量部に対
し、0.01〜20重量部の範囲が好ましく、0.1〜
1.0の範囲がより好ましい。0.01重量部未満であ
ると、硬化不足となり耐熱性が低下し、20重量部を超
えると、Bステージの寿命が短くなり耐熱性が低下す
る。
(Curing Accelerator) The thermosetting resin and the curing agent of the present invention further require a curing accelerator. When the thermosetting resin is an epoxy resin, imidazole is used as the curing accelerator. Compound, organic phosphorus compound, tertiary amine, quaternary
Secondary ammonium salts and the like can be used. The compounding ratio of the curing agent is preferably in the range of 0.01 to 20 parts by weight, preferably 0.1 to 20 parts by weight, based on 100 parts by weight of the thermosetting resin.
A range of 1.0 is more preferred. If the amount is less than 0.01 part by weight, the curing becomes insufficient and the heat resistance is reduced. If the amount exceeds 20 parts by weight, the life of the B stage is shortened and the heat resistance is reduced.

【0024】(希釈剤)上記熱硬化性樹脂、電気絶縁性
セラミック系ウィスカ、硬化剤、硬化促進剤は、溶剤に
希釈して用い、この溶剤には、アセトン、メチルエチル
ケトン、トルエン、キシレン、メチルイソブチレン、酢
酸エチル、エチレングリコールモノメチルエーテル、メ
タノール、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジ
メチルアセトアミド等が使用できる。この希釈剤の上記
熱硬化性樹脂に対する配合比は、上記熱硬化性樹脂10
0重量部に対し、1〜200重量部の範囲が好ましく、
30〜100重量部の範囲がより好ましい。1重量部未
満であると、粘度が高くなり塗りムラができやすく、2
00重量部を超えると、粘度が低くなりすぎ必要な厚さ
にまで塗布することができない。
(Diluent) The thermosetting resin, the electrically insulating ceramic whisker, the curing agent, and the curing accelerator are used after being diluted with a solvent, and the solvent includes acetone, methyl ethyl ketone, toluene, xylene, methyl isobutylene. , Ethyl acetate, ethylene glycol monomethyl ether, methanol, N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide and the like. The mixing ratio of the diluent to the thermosetting resin is 10%.
The range of 1 to 200 parts by weight relative to 0 parts by weight is preferable,
A range of 30 to 100 parts by weight is more preferable. When the amount is less than 1 part by weight, the viscosity becomes high and coating unevenness is easily generated.
If the amount is more than 00 parts by weight, the viscosity becomes too low and the coating cannot be applied to a required thickness.

【0025】(熱硬化性樹脂と電気絶縁性セラミック系
ウィスカの割合)熱硬化性樹脂と電気絶縁性セラミック
系ウィスカの割合は、硬化した熱硬化性樹脂の中で電気
絶縁性セラミック系ウィスカが、5〜50vol%とな
るように調整することが好ましい。さらには、20〜4
0vol%であることがより好ましい。5vol%未満
であると、熱硬化性樹脂のフィルム形成能が小さく、切
断時に切断粉が飛散する等、取り扱いが困難であり、剛
性も低く、チップ実装後の基板のそりが大きくなり実装
性が低下する。50vol%を超えると、前記工程a、
a1またはa3において、加熱加圧成型時に、内層回路
板の穴や回路間隔への埋め込みが不十分で、成形後にボ
イドやかすれを生じ、絶縁性が低下する。
(Ratio between thermosetting resin and electrically insulating ceramic whisker) The ratio between the thermosetting resin and the electrically insulating ceramic whisker is determined by the ratio of the electrically insulating ceramic whisker in the cured thermosetting resin. It is preferable to adjust so as to be 5 to 50 vol%. Furthermore, 20-4
More preferably, it is 0 vol%. If the content is less than 5 vol%, the film-forming ability of the thermosetting resin is small, the cutting powder is scattered at the time of cutting, etc., and handling is difficult, the rigidity is low, the warpage of the substrate after chip mounting becomes large, and the mountability is increased. descend. If it exceeds 50% by volume, the step a,
In the case of a1 or a3, at the time of the heat and pressure molding, the embedding into the holes and circuit intervals of the inner layer circuit board is insufficient, so that voids and blurring occur after the molding, and the insulating property is reduced.

【0026】(感光性絶縁樹脂)本発明に用いる感光性
樹脂組成物としては、感光性絶縁樹脂または感光性と熱
硬化性を併用した樹脂を用いることができ、光によって
架橋可能な官能基を有した共重合体あるいは単量体を含
んだ組成物または光の他に熱で架橋可能な官能基と熱開
始剤を混合した組成物であれば何れも使用可能である。
(Photosensitive Insulating Resin) As the photosensitive resin composition used in the present invention, a photosensitive insulating resin or a resin combining photosensitivity and thermosetting can be used. Any composition may be used as long as it is a composition containing a copolymer or monomer having the same or a composition in which a heat-crosslinkable functional group and a thermal initiator are mixed in addition to light.

【0027】他の樹脂成分として用いることが可能な第
一の群としてはエポキシ樹脂、ブロム化エポキシ樹脂、
ゴム変性エポキシ樹脂、ゴム分散エポキシ樹脂等の脂環
式エポキシ樹脂またはビスフェノールA系エポキシ樹脂
及びこれらエポキシ樹脂の酸変性物が挙げられる。特に
光照射を行って光硬化を行う場合には、これらエポキシ
樹脂と不飽和酸との変性物が好ましい。
The first group which can be used as other resin components includes epoxy resin, brominated epoxy resin,
Examples include alicyclic epoxy resins such as rubber-modified epoxy resins and rubber-dispersed epoxy resins, bisphenol A-based epoxy resins, and acid-modified epoxy resins. In particular, when photo-curing is performed by light irradiation, modified products of these epoxy resins and unsaturated acids are preferred.

【0028】不飽和酸としては、無水マレイン酸、テト
ラヒドロフタル酸無水物、イタコン酸無水物、アクリル
酸、メタクリル酸等が挙げられる。これらはエポキシ樹
脂のエポキシ基に対し当量もしくは当量以下の配合比率
で、該不飽和カルボン酸を反応させることによって得ら
れる。
Examples of the unsaturated acid include maleic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, itaconic anhydride, acrylic acid, methacrylic acid and the like. These can be obtained by reacting the unsaturated carboxylic acid with the epoxy group of the epoxy resin in an amount equivalent to or less than the equivalent.

【0029】この他にもメラミン樹脂、シアネートエス
テル樹脂のような熱硬化性材料、或いはこのものとフェ
ノール樹脂の組合せ等も好ましい適用例の一つである。
他には、可とう性付与剤の使用も好適な組み合せであ
り、その例としてはブタジエンアクリロニトリルゴム、
天然ゴム、アクリルゴム、SBR、カルボン酸変性ブタ
ジエンアクリロニトリルゴム、カルボン酸変性アクリル
ゴム、架橋NBR粒子、カルボン酸変性架橋NBR粒子
等が挙げられる。
In addition, a thermosetting material such as a melamine resin and a cyanate ester resin, or a combination of the thermosetting material with a phenol resin is also one of the preferable application examples.
Other suitable combinations include the use of a flexibility-imparting agent, such as butadiene acrylonitrile rubber,
Examples include natural rubber, acrylic rubber, SBR, carboxylic acid-modified butadiene acrylonitrile rubber, carboxylic acid-modified acrylic rubber, crosslinked NBR particles, carboxylic acid-modified crosslinked NBR particles, and the like.

【0030】このような種々の樹脂成分を加えることで
光硬化性、熱硬化性という基本性能を保持したまま硬化
物に色々な性質を付与することが可能になる。例えば、
エポキシ樹脂やフェノール樹脂との組み合わせによって
硬化物に良好な電気絶縁性を付与することが可能とな
る。
By adding such various resin components, it becomes possible to impart various properties to the cured product while maintaining the basic properties such as photocurability and thermosetting properties. For example,
Good electrical insulation can be imparted to the cured product by a combination with an epoxy resin or a phenol resin.

【0031】ゴム成分を配合したときには硬化物に強靭
な性質を与えると共に、酸化性薬液による表面処理によ
って、硬化物表面の粗化を簡単に行うことが可能にな
る。また、硬化性組成物には通常使用される添加剤(重
合安定剤、レベリング剤、顔料、染料等)を使用しても
良い。またフィラーを配合することもなんら差し支えな
い。フィラーとしてはシリカ、溶融シリカ、タルク、ア
ルミナ、水和アルミナ、硫酸バリウム、水酸化カルシウ
ム、エアロジル、炭酸カルシウム等の無機微粒子、粉末
状エポキシ樹脂、粉末状ポリイミド粒子等の有機微粒
子、粉末状テフロン粒子等が挙げられる。これらのフィ
ラーには、予めカップリング処理を施して有ってもよ
い。これらの分散は、ニーダーボールミル、ビーズミ
ル、3本ロール等の既知の混練方法によって達成され
る。
When the rubber component is blended, the cured product is given tough properties, and the surface treatment with an oxidizing chemical makes it possible to easily roughen the surface of the cured product. The curable composition may contain commonly used additives (polymerization stabilizer, leveling agent, pigment, dye, etc.). There is no problem in adding a filler. As the filler, silica, fused silica, talc, alumina, hydrated alumina, barium sulfate, calcium hydroxide, aerosil, inorganic fine particles such as calcium carbonate, powdered epoxy resin, organic fine particles such as powdered polyimide particles, powdered Teflon particles And the like. These fillers may be subjected to a coupling treatment in advance. These dispersions are achieved by a known kneading method such as a kneader ball mill, a bead mill, or a three-roll mill.

【0032】(現像液)次に、未露光部分を現像液によ
り食刻する方法によって、絶縁樹脂層に第2の回路と接
続するバイアホールを形成する。現像液としては、有機
溶剤を含有する水性アルカリ性現像液を用いる。現像液
に用いられる有機溶剤としては、グリコール誘導体、例
えば、エチレングリコール、プロピレングリコール、ト
リメチレングリコール、1,4−ブタンジオール、1,
5−ペンタンジオール、1,6−ヘキサンジオール、ピ
ナコール、それらの2量体、3量体、多量体及びメチ
ル、エチル、プロピル、ブチル基等の低級アルキル基の
置換体が挙げられる。具体的には、ジエチレングリコー
ル、エチレングリコールモノエチルエーテル、トリエチ
レングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコー
ルモノブチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチ
ルエーテル等が挙げられる。また、ジアセトンアルコー
ル、アセトン、酢酸エチル、2−メトキシエタノール、
2−エトキエタノール、エチルアルコール、メチルアル
コール、イソプロピルアルコール、ブチルアルコール等
が用いられる。これらは2種類以上の有機溶剤を含んで
もよい。特にジエチレングリコールが、その目的に有効
である。有機溶剤の濃度は、1〜50体積%とする。好
ましくは、5〜35体積%である。現像液に用いる水性
アルカリ性現像液としては、アルカリ金属水酸化物、炭
酸塩、リン酸塩、ほう酸塩等が挙げられる。例えば、水
酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化アンモニウ
ム、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム、リン酸三ナトリウ
ム、ほう酸ナトリウム、メタ珪酸ナトリウム等が挙げら
れる。有機溶剤を含有する水性アルカリ性現像液の組み
合わせとして、ジエチレングリコールモノブチルエーテ
ル及びほう酸ナトリウムを含む水溶液を用いると好まし
い。ジエチレングリコールモノブチルエーテルの濃度
は、5〜30体積%、ほう酸ナトリウムの濃度は、5〜
30g/lが好ましい。
(Developer) Next, a via hole to be connected to the second circuit is formed in the insulating resin layer by a method of etching the unexposed portion with the developer. As the developer, an aqueous alkaline developer containing an organic solvent is used. Examples of the organic solvent used in the developer include glycol derivatives such as ethylene glycol, propylene glycol, trimethylene glycol, 1,4-butanediol,
Examples thereof include 5-pentanediol, 1,6-hexanediol, pinacol, dimers, trimers, multimers thereof, and substituted products of lower alkyl groups such as methyl, ethyl, propyl, and butyl groups. Specific examples include diethylene glycol, ethylene glycol monoethyl ether, triethylene glycol monoethyl ether, ethylene glycol monobutyl ether, diethylene glycol monobutyl ether, and the like. Also, diacetone alcohol, acetone, ethyl acetate, 2-methoxyethanol,
2-ethoxyethanol, ethyl alcohol, methyl alcohol, isopropyl alcohol, butyl alcohol and the like are used. These may contain two or more organic solvents. In particular, diethylene glycol is effective for that purpose. The concentration of the organic solvent is 1 to 50% by volume. Preferably, it is 5 to 35% by volume. Examples of the aqueous alkaline developer used for the developer include alkali metal hydroxides, carbonates, phosphates, borates and the like. Examples include sodium hydroxide, potassium hydroxide, ammonium hydroxide, sodium carbonate, potassium carbonate, trisodium phosphate, sodium borate, sodium metasilicate and the like. As a combination of an aqueous alkaline developer containing an organic solvent, an aqueous solution containing diethylene glycol monobutyl ether and sodium borate is preferably used. The concentration of diethylene glycol monobutyl ether is 5 to 30% by volume, and the concentration of sodium borate is 5 to 30% by volume.
30 g / l is preferred.

【0033】(リンス処理)次に、現像後の絶縁樹脂層
にリンス処理を行う。リンス液としては、有機溶剤を含
有する水溶液を使用する。有機溶剤として、現像液のと
ころで記した有機溶剤を用いることができる。特にジエ
チレングリコールモノブチルエーテルを含む水溶液を用
いると好ましい。ジエチレングリコールモノブチルエー
テルの濃度は0.1〜90体積%が好ましく、特に1〜
20体積%がさらに好ましい。リンス処理はディップで
もスプレーでもその方法は、特に制限されるものではな
い。0.1体積%未満では効果に乏しく、90体積%を
超えても効果に差が無く、廃液処理に多大のエネルギー
を要するようになる。
(Rinse treatment) Next, a rinse treatment is performed on the insulating resin layer after development. As the rinsing liquid, an aqueous solution containing an organic solvent is used. As the organic solvent, the organic solvent described for the developer can be used. It is particularly preferable to use an aqueous solution containing diethylene glycol monobutyl ether. The concentration of diethylene glycol monobutyl ether is preferably from 0.1 to 90% by volume, particularly from 1 to 90% by volume.
20% by volume is more preferred. The method of rinsing may be dipping or spraying, and the method is not particularly limited. If the amount is less than 0.1% by volume, the effect is poor, and if it exceeds 90% by volume, there is no difference in effect, and a large amount of energy is required for waste liquid treatment.

【0034】(工程a)この工程において、銅箔に、熱
硬化性樹脂と電気絶縁性セラミック系ウィスカを塗布す
るには、上記熱硬化性樹脂、硬化剤、硬化促進剤、及び
希釈剤を混合した溶液(以下、熱硬化性樹脂ワニスとい
う。)に、電気絶縁性セラミック系ウィスカを混合し、
撹拌したワニスを、塗布し、加熱して、半硬化させるも
のであり、ブレードコータ、ロッドコータ、ナイフコー
タ、スクイズコータ、リバースロールコータ、あるいは
トランスファロールコータ等、銅箔と平行な方向に剪断
力を負荷できるか、あるいは銅箔の面に垂直な方向に、
圧縮力を負荷できる塗布方法を選択することが好まし
い。この熱硬化性樹脂層の半硬化後の厚さは、25〜1
00μmの範囲であることが好ましい。この樹脂フロー
は、500μmから10mmの範囲に調節することが好
ましく、500μm未満であると、内層銅箔の埋め込み
性が小さく表面に凹凸を生じ、10mmを超えると積層
後の端部の厚さが薄く、絶縁性が低下する。この樹脂フ
ローとは、樹脂の厚さが50μmの銅箔付きプリプレグ
に30mm角の穴をあけ、銅張り積層板の銅箔面に樹脂
が接触するように重ね、170℃、2.5Mpaで60
分間、加熱加圧して積層接着したときに、30mm角の
穴の縁から銅箔表面に流れ出した樹脂の最小距離とす
る。
(Step a) In this step, in order to apply a thermosetting resin and an electrically insulating ceramic whisker to the copper foil, the thermosetting resin, the curing agent, the curing accelerator, and the diluent are mixed. An electrically insulating ceramic whisker was mixed with the solution (hereinafter, referred to as a thermosetting resin varnish),
The agitated varnish is applied, heated, and semi-cured.A shearing force is applied in a direction parallel to the copper foil, such as a blade coater, a rod coater, a knife coater, a squeeze coater, a reverse roll coater, or a transfer roll coater. Can be loaded or in a direction perpendicular to the plane of the copper foil,
It is preferable to select a coating method capable of applying a compressive force. The thickness of this thermosetting resin layer after semi-curing is 25 to 1
It is preferably in the range of 00 μm. This resin flow is preferably adjusted in the range of 500 μm to 10 mm. If it is less than 500 μm, the embedding property of the inner layer copper foil is small and irregularities are generated on the surface. If it exceeds 10 mm, the thickness of the end portion after lamination is reduced. It is thin and has poor insulation. This resin flow refers to a method in which a 30 mm square hole is made in a prepreg with a copper foil having a thickness of 50 μm and the resin is overlapped with the copper foil surface of the copper-clad laminate at a temperature of 170 ° C. and 2.5 Mpa.
The minimum distance of the resin that has flowed out from the edge of the 30 mm square hole to the surface of the copper foil when laminating and adhering by heating and pressurizing for 30 minutes.

【0035】(工程a1)この工程a1は、上記工程a
に代えることができるものであり、工程aに用いる銅箔
が、非常に薄くなると、取り扱う工程で、おれたり、し
わになることがあるため、薄い銅箔とキャリアからなる
複合金属箔を使用し、取り扱いを容易にしておいて、内
層回路板に積層した後に、キャリアを剥離して、薄い銅
箔を加工して回路を形成することによって、回路導体の
より微細な加工を可能にするものである。
(Step a1) This step a1 is the same as step a1
If the copper foil used in step a is very thin, it may be laid or wrinkled in the handling process, so a composite metal foil composed of a thin copper foil and a carrier is used. By allowing easy handling, laminating the inner layer circuit board, peeling the carrier, and processing the thin copper foil to form a circuit, thereby enabling finer processing of circuit conductors. is there.

【0036】(工程a2)この工程には、薄い銅箔を扱
う場合に、物理的に剥離可能なキャリアでは、取り扱い
の工程で、銅箔表面に傷の発生や異物の付着が起こるこ
ともあり、これを防ぐために、密着度の高い複合金属箔
を用い、キャリアの除去に、回路導体と異なる化学的除
去条件を有する金属を用いるものである。ところで、こ
のような金属層は、厚くすると経済的でなく、また、工
程も長くなるので、エッチングを止めたい位置に、中間
層を用いるものである。また、第2の銅層のみをエッチ
ング除去する溶液としては、塩素イオンとアンモニウム
イオンと銅イオンを含む溶液(以下、アルカリエッチャ
ントという。)を用いる。処理方法は、浸漬、噴霧など
の溶液に接触させることによって行う。さらに、ニッケ
ル−リン合金のみを除去する工程では、硝酸と過酸化水
素を主成分とする液に、添加剤としてカルボキシル基を
有する有機酸、環構成員として、−NH−、−N=の形
で窒素を含む複素環式化合物を配合した水溶液に浸漬す
るか、あるいはそのような水溶液を噴霧して行う。
(Step a2) In this step, when a thin copper foil is handled, in the case of a physically peelable carrier, in the handling step, a scratch may be generated on the surface of the copper foil or foreign matter may adhere. In order to prevent this, a composite metal foil having a high degree of adhesion is used, and a metal having a chemical removal condition different from that of the circuit conductor is used for removing the carrier. By the way, if such a metal layer is thick, it is not economical and the process becomes long. Therefore, an intermediate layer is used at a position where etching is to be stopped. As a solution for etching and removing only the second copper layer, a solution containing chlorine ions, ammonium ions, and copper ions (hereinafter, referred to as an alkali etchant) is used. The treatment is carried out by contact with a solution such as dipping or spraying. Further, in the step of removing only the nickel-phosphorus alloy, a liquid containing nitric acid and hydrogen peroxide as main components is added with an organic acid having a carboxyl group as an additive and -NH- and -N = as ring members. Or by spraying an aqueous solution containing a nitrogen-containing heterocyclic compound.

【0037】(工程b)この工程には、通常の配線板の
めっきレジストを形成する方法が使用できる。すなわ
ち、剥離可能なレジストインクを、シルクスクリーン印
刷法によって銅箔の表面に印刷する方法や、剥離可能な
レジストフィルムを銅箔の表面にラミネートし、フォト
マスクを介して、第1のバイアホール8となる穴の形状
に紫外線を照射し、その穴の部分を現像して除去する方
法を使用することができる。銅箔をエッチングするに
は、前記に形成したエッチングレジストから露出してい
る銅箔に、化学エッチング液を接触させ、選択的に除去
するものであり、このような化学エッチング液として
は、塩化第二銅溶液や塩化第二鉄溶液等がある。エッチ
ングレジストを、化学的に除去するには、通常は、溶剤
やアルカリ水溶液を用いて除去する。
(Step b) In this step, an ordinary method of forming a plating resist for a wiring board can be used. That is, a method in which a peelable resist ink is printed on the surface of the copper foil by a silk screen printing method, a method in which a peelable resist film is laminated on the surface of the copper foil, and the first via hole 8 is formed via a photomask. A method of irradiating ultraviolet rays to the shape of the hole to be developed and developing and removing the portion of the hole can be used. In order to etch the copper foil, a chemical etching solution is brought into contact with the copper foil exposed from the etching resist formed as described above to selectively remove the copper etching solution. There are a dicopper solution and a ferric chloride solution. In order to chemically remove the etching resist, it is usually removed using a solvent or an aqueous alkaline solution.

【0038】(工程c)バイアホールの穴あけは、具体
的手法としては、レーザ、サンドブラスト、プラズマ、
ケミカルエッチング等があるが、穴あけ性が良好なレー
ザを用いる。レーザ光を照射することにより、前記内層
回路板4の回路導体が露出するまで除去して、バイアホ
ールとする。この工程に使用できるレーザーは、炭酸ガ
スレーザ、YAGレーザ、エキシマレーザ等があり、生
産性の点から炭酸ガスレーザが好ましい。このときのレ
ーザ光の照射条件は、時間が短く、出力の大きなパルス
状の発振をするものが好ましく、例えば、1パルスの幅
が1〜40μ秒で、パルス繰り返し周波数が150〜1
0,000Hz、繰り返しパルス数が1〜10パルスの
条件で、出力の大きさが、2〜5パルスの範囲で、穴加
工できる出力の出せるレーザ発振器が、発振、制御が容
易となり好ましい。この出力は、エネルギー密度にし
て、15〜40J/cm2の範囲である。時間当たりの
出力が、上記範囲未満であると、樹脂層を蒸発、発散す
ることができず、上記範囲を超えると、必要以上の穴径
となり制御が困難で、一旦蒸発した樹脂が炭化して付着
することもあり、付着した炭化物の除去を行わなければ
ならない。
(Step c) Drilling of the via hole is performed by a specific method such as laser, sand blast, plasma,
Although there is chemical etching or the like, a laser having good drilling properties is used. By irradiating a laser beam, the circuit conductor of the inner layer circuit board 4 is removed until the circuit conductor is exposed to form a via hole. Lasers that can be used in this step include a carbon dioxide laser, a YAG laser, an excimer laser, and the like, and a carbon dioxide laser is preferable from the viewpoint of productivity. The irradiation conditions of the laser beam at this time are preferably such that the pulse is oscillated with a short time and a large output. For example, the width of one pulse is 1 to 40 μsec and the pulse repetition frequency is 150 to 1
A laser oscillator capable of producing an output capable of drilling holes with an output magnitude in the range of 2 to 5 pulses under the conditions of 000 Hz and a repetition pulse number of 1 to 10 pulses is preferable because oscillation and control are easy. This output is in the range of 15 to 40 J / cm 2 in terms of energy density. If the output per time is less than the above range, the resin layer cannot be evaporated and diverged.If the output exceeds the above range, the hole diameter becomes more than necessary and control is difficult, and the once evaporated resin is carbonized. It may adhere, and the attached carbide must be removed.

【0039】(工程d)この工程に用いる粗化剤は、樹
脂を膨潤、溶解するものであればどのようなものでも使
用でき、通常は、アルカリ過マンガン酸水溶液を使用す
ることが好ましい。この工程に用いるめっきは、通常の
配線板のスルーホルめっきと同様の技術を用いる。すな
わち、パラジウム等のめっきの核になる物質を、前記粗
化した樹脂層に付着させ、イオン化しためっき金属と、
めっき金属の錯化剤と、そのめっき金属の還元剤とを有
する無電解めっき液に接触させ、壁全体にめっき金属を
析出させる。このように、めっきを行うと、外層の銅箔
と、IVHの壁面と、内層回路板4の回路導体とを電気
的に接続することができる。
(Step d) As the roughening agent used in this step, any one can be used as long as it swells and dissolves the resin. Usually, it is preferable to use an aqueous solution of alkali permanganate. The plating used in this step uses the same technique as that of the through-hole plating of a normal wiring board. That is, a substance serving as a nucleus of plating such as palladium is adhered to the roughened resin layer, and an ionized plating metal,
The plating metal is brought into contact with an electroless plating solution having a complexing agent for the plating metal and a reducing agent for the plating metal to deposit the plating metal on the entire wall. By performing plating in this manner, the outer layer copper foil, the wall surface of the IVH, and the circuit conductor of the inner layer circuit board 4 can be electrically connected.

【0040】(工程e)この工程は、工程bと同様に、
外層の回路を形成し、エッチングレジストを除去する工
程である。
(Step e) In this step, as in step b,
This is a step of forming an outer layer circuit and removing the etching resist.

【0041】(工程f)この工程において、導体回路表
面の酸化処理には、アルカリ性の酸化剤を含む水溶液を
用い、続く還元処理にはアルカリ性の還元剤を含む水溶
液を用いることができ、処理は通常浸漬することにより
行うことができる。
(Step f) In this step, an aqueous solution containing an alkaline oxidizing agent can be used for the oxidation treatment of the conductor circuit surface, and an aqueous solution containing an alkaline reducing agent can be used for the subsequent reduction treatment. Usually, it can be carried out by immersion.

【0042】(工程g)この工程において、絶縁樹脂層
の形成方法には、液状の樹脂をロールコート、カーテン
コート、ディップコート等の方法で塗布する方式や、フ
ィルム化してラミネートで貼り合わせる方式を用いるこ
とができる。フォトマスクを介して行う露光には、通常
の配線板のレジスト形成方法と同じ手法を用いることが
でき、現像についても同様に、通常の配線板の製造に使
用される、ディップ、スプレー等を用いて基板と現像液
を接触させて未硬化部分の樹脂層を除去することができ
る。エッチングレジストの除去をより効果的に行うため
に、現像後に、リンス液として有機溶剤を含有する水溶
液を使用することが好ましい。
(Step g) In this step, the method of forming the insulating resin layer includes a method in which a liquid resin is applied by a method such as roll coating, curtain coating, or dip coating, or a method in which the resin is formed into a film and bonded by lamination. Can be used. Exposure through a photomask can be performed using the same method as a normal method for forming a resist on a wiring board, and development is also performed using a dip, spray, or the like, which is used for manufacturing a normal wiring board. By contacting the substrate with the developing solution, the uncured portion of the resin layer can be removed. In order to more effectively remove the etching resist, it is preferable to use an aqueous solution containing an organic solvent as a rinsing liquid after development.

【0043】(工程h)この工程に用いる酸化性粗化液
としては、クロム/硫酸粗化液、アルカリ過マンガン酸
粗化液、フッ化ナトリウム/クロム/硫酸粗化液、ホウ
フッ酸粗化液などを用いることができ、通常は、アルカ
リ過マンガン酸水溶液を使用することが好ましい。めっ
きは、工程dと同様にして無電解めっきを行う工程であ
る。また、必要に応じて電気めっきを追加して行っても
よい。
(Step h) The oxidizing roughening solution used in this step includes a roughening solution of chromium / sulfuric acid, a roughening solution of alkali permanganate, a roughening solution of sodium fluoride / chromium / sulfuric acid, a roughening solution of borofluoric acid. And the like can be used. Usually, it is preferable to use an aqueous solution of alkali permanganate. The plating is a step of performing electroless plating in the same manner as in the step d. Further, electroplating may be additionally performed as necessary.

【0044】(工程i)工程bと同様に、外層の回路を
形成し、エッチングレジストを除去する工程である。
(Step i) This is a step of forming an outer layer circuit and removing the etching resist as in the step b.

【0045】[0045]

【実施例】実施例1 工程a2:図1(a)に示すように、絶縁基材1にガラ
ス布−エポキシ樹脂を用いた、厚さ0.4mmのガラス
布−エポキシ樹脂含浸両面銅張り積層板であるMClE
−679(日立化成工業株式会社製、商品名)を使用
し、穴あけ、無電解銅めっきを行い、通常のサブトラク
ト方によって、内層回路2を形成し、スルーホール3を
有する内層回路板4を作製した。次に、厚さ5μmの第
1の銅層/厚さ0.2μmのニッケル−リン合金層/厚
さ15μmの第2の銅層からなる複合金属箔の第1の銅
層の面に、以下の組成の熱硬化性樹脂ワニスの樹脂分に
対して、30vol%のほう酸アルミニウムウィスカを
混合、撹拌し、ナイフコータで塗布し、150℃で10
分間乾燥して、半硬化させた厚さ50μmの熱硬化性樹
脂層6を有する銅箔付き接着フィルムを作製した。 (熱硬化性樹脂ワニスの組成) ・ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂・・・・・・・・・100重量部 (エポキシ当量:200) ・ビスフェノールAノボラック樹脂・・・・・・・・・・・・・・・60重量部 (水酸基当量:106) ・2−エチル−4−メチルイミダゾール(硬化剤)・・・・・・・0.5重量部 ・メチルエチルケトン(希釈剤)・・・・・・・・・・・・・・・100重量部 このようにして作製した内層回路板4と銅箔付き接着フ
ィルムとを、図1(b)に示すように、内層回路板4の
内層回路2と接着フィルムの熱硬化性樹脂層61とが接
するように重ね、170℃で、60分間、2.5MPa
の圧力で、加熱加圧して積層一体化した。この条件によ
って、樹脂フローは、3mmであった。第2の銅層のみ
を、以下のアルカリエッチャントでエッチング除去し
た。 (アルカリエッチャント) ・CuCl2・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・175g/l ・NH4OH・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・154g/l ・NH4Cl・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・236g/l 液温:50℃ ニッケル−リン合金層のみを以下のエッチング液で、エ
ッチング除去した。 (ニッケル−リンエッチング液組成) ・硝酸・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・200g/l ・過酸化水素水(35wt%)・・・・・・・・・・・・・・・10ml/l ・カルボキシル基を含む有機酸(Dlリンゴ酸)・・・・・・・100g/l ・ベンゾトリアゾール・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・5g/l
EXAMPLE 1 Step a2: As shown in FIG. 1 (a), a glass cloth-epoxy resin impregnated glass cloth-epoxy resin impregnated double-sided copper-clad laminate as shown in FIG. MCLE as a plate
Using -679 (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.), drilling, electroless copper plating, forming the inner layer circuit 2 by a normal subtraction method, and manufacturing the inner layer circuit board 4 having through holes 3 did. Next, on the surface of the first copper layer of the composite metal foil composed of the first copper layer having a thickness of 5 μm / the nickel-phosphorus alloy layer having a thickness of 0.2 μm / the second copper layer having a thickness of 15 μm, A 30 vol% aluminum borate whisker was mixed with the resin content of the thermosetting resin varnish having the composition of the above, stirred, applied with a knife coater, and heated at 150 ° C. for 10 hours.
After drying for 5 minutes, an adhesive film with a copper foil having a semi-cured thermosetting resin layer 6 having a thickness of 50 μm was prepared. (Composition of thermosetting resin varnish) ・ Bisphenol A novolak epoxy resin 100 parts by weight (Epoxy equivalent: 200) ・ Bisphenol A novolak resin 60 parts by weight (hydroxyl equivalent: 106) 2-ethyl-4-methylimidazole (curing agent) 0.5 parts by weight Methyl ethyl ketone (diluent) ... 100 parts by weight The inner circuit board 4 thus produced and the adhesive film with copper foil are combined with the inner circuit 2 of the inner circuit board 4 as shown in FIG. The thermosetting resin layer 61 of the adhesive film is overlaid so as to be in contact with the adhesive film, and is heated at 170 ° C for 60 minutes at
, And the layers were integrated by heating and pressing. Under these conditions, the resin flow was 3 mm. Only the second copper layer was removed by etching with the following alkaline etchant. (Alkali etchant) ・ CuCl 2・ ・ ・ ・ ・ ・ 175g / l ・ NH 4 OH ··········· 154 g / l · NH 4 Cl ······ 236 g / l Liquid temperature: 50 ° C Nickel Only the phosphorus alloy layer was removed by etching with the following etching solution. (Nickel-phosphorus etchant composition) ・ Nitric acid ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ 200g / l ・ Hydrogen peroxide solution (35wt%)・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ 10ml / l ・ Organic acid containing carboxyl group (Dl malic acid) ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ 100g / l ・ Benzotriazole ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・・ ・ ・ ・ 5g / l

【0046】工程b:銅箔21として形成した前記第1
の銅箔上に、ドライフィルムフォテックH−K425
(日立化成工業株式会社製、商品名)によるエッチング
レジストを形成し、そのエッチングレジストから露出し
た銅箔21の部分を、バイアホールを形成するための銅
箔の開口部として、直径100μmの円形の形状にエッ
チング除去し、エッチングレジストを、2重量%のNa
OH水溶液によって、40℃で2分間の条件で除去し
た。
Step b: The first layer formed as the copper foil 21
On the copper foil of the dry film Photek H-K425
(Hitachi Kasei Kogyo Co., Ltd., trade name), an etching resist is formed, and a portion of the copper foil 21 exposed from the etching resist is used as an opening of the copper foil for forming a via hole. Etching is removed to a shape, and the etching resist is replaced with 2% by weight of Na.
It was removed by an aqueous OH solution at 40 ° C. for 2 minutes.

【0047】工程c:銅箔21の開口部から露出した、
前記硬化した熱硬化性樹脂層6を、炭酸ガスレーザー光
によって、エネルギー密度20J/cm2、発振時間1
μ秒、発振周波数150Hz、4パルスの条件で、照射
することにより、図1(c)に示すように、前記内層回
路板4の内層回路2が露出するまで除去して、第1のバ
イアホール8となる穴82を形成した。
Step c: Exposed from the opening of the copper foil 21
The cured thermosetting resin layer 6 was irradiated with carbon dioxide laser light at an energy density of 20 J / cm 2 and an oscillation time of 1 hour.
By irradiating under the conditions of 4 μs, an oscillation frequency of 150 Hz and 4 pulses, as shown in FIG. 1C, the inner layer circuit board 4 is removed until the inner layer circuit 2 is exposed, and the first via hole is removed. 8 was formed.

【0048】工程d:穴82の壁面の前記硬化した熱硬
化性樹脂層6を、粗化剤である7wt%のアルカリ過マ
ンガン酸水溶液を用いて、液温70℃、時間5分間の条
件で粗化し、前記内層回路板4の内層回路2と前記銅箔
21とを電気的に接続するために、以下の組成の無電解
めっき液を用いて、液温70℃の条件で、めっきを行っ
た。 (無電解めっきの組成) ・CuSO4・5H2O・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・10g/l ・EDTA・4Na・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・40g/l ・37wt%HCHO・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・3ml/l ・NaOH・・・・・・・・・・・・・・・・・・・pHを12.3とする量
Step d: The hardened thermosetting resin layer 6 on the wall surface of the hole 82 is coated with a 7 wt% aqueous solution of alkali permanganate as a roughening agent at a liquid temperature of 70 ° C. for 5 minutes. In order to roughen and electrically connect the inner layer circuit 2 of the inner layer circuit board 4 and the copper foil 21, plating is performed at a solution temperature of 70 ° C. using an electroless plating solution having the following composition. Was. (Composition of electroless plating) · CuSO 4 · 5H 2 O ···················· 10g / l · EDTA · 4Na ········· 40g / l 37wt% HCHO 3ml / l NaOH ..... Amount to make pH 12.3

【0049】工程e:前記銅箔21の上にドライフィル
ムフォテックH−W440(日立化成工業株式会社製、
商品名)によるエッチングレジストを形成し、そのエッ
チングレジストから露出した部分を、エッチング除去
し、前記エッチングレジストを除去し、図1(d)に示
すように、回路導体を形成した。
Step e: Dry film Photek H-W440 (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.
An etching resist according to the trade name) was formed, the portion exposed from the etching resist was removed by etching, and the etching resist was removed, thereby forming a circuit conductor as shown in FIG. 1 (d).

【0050】工程f:前記導体回路の表面に、多層化接
着前処理として、銅表面を酸化処理を行い凹凸を形成し
た後に、還元処理を行う。 (酸化処理液) ・NaOH・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・20g/l ・Na3PO4・12H2O・・・・・・・・・・・・・・・・・・30g/l ・NaClO2 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・80g/l ・純水・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・全量で1リットルとなる量 温度:85℃ 時間:120秒 (還元処理液) ・NaOH・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・5g/l ・ジメチルアミンボラン・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・5g/l 温度:25℃ 時間:120秒
Step f: As a pre-multilayer bonding treatment on the surface of the conductor circuit, a copper surface is oxidized to form irregularities, and then a reduction treatment is performed. (Oxidation solution) ・ NaOH ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ 20g / l ・ Na 3 PO 4・ 12H 2 O ・ ・ ・ ・ ・ ・・ ・ ・ ・ 30g / l ・ NaClO 2・ ・ ・ ・ 80g / l ・ Pure water ・ ・ ・··························· Temperature: 85 ° C Time: 120 seconds (reduction treatment solution) ・ NaOH 5 g / l Dimethylamine borane 5 g / l Temperature: 25 ° C Time : 120 seconds

【0051】・工程g:図1(e)に示すように、下記
の組成の感光性樹脂91を、離型処理が施されたポリエ
チレンテレフタレートフィルム(厚さ50μm)上に塗
布し、80℃で10分間乾燥して、膜厚60μmのフィ
ルムを形成し、ラミネートにより絶縁性樹脂層を形成し
た。ラミネータには、HlM−V530(日立エ−アイ
シ−株式会社製、商品名)を用い、次の条件で行った。 ・ラミネート雰囲気:減圧下(760torr) ・エアゲージ圧:3kg/cm2 ・ラミネート速度:0.5m/分 ・ロールの温度:110℃ (感光性絶縁樹脂) ・2,2’ビス(4、4’−N−マレイミジルフェノキシフェニル)プロパン ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・30重量部 ・エポキシ当量500のビスフェノールA型エポキシ樹脂に1当量のテトラヒド ロ無水フタル酸を窒素雰囲気下で150℃、10時間反応させて合成した酸 変性エポキシ樹脂・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・45重量部 ・分子内にカルボキシル基を4mol%含んだアクリロニトリルブタジエンゴム (PNR−1H、日本合成ゴム株式会社、商品名)・・・・・・・20重量部 ・1,3−ビス(9,9’−ジアクリジノ)ヘプタン・・・・・・・5重量部 ・水酸化アルミニウム・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・10重量部 ・イルガキュア−651(チバガイギ−社製商品名)・・・・・・・5重量部 次に、図1(f)に示すようにバイアホールとなる部分
に遮蔽部を形成したフォトマスクを介し、光量300m
J/cm2の紫外光を照射した後、フィルム表面のポリ
エチレンテレフタレートフィルムを剥離してから、未露
光部を現像し、リンスした。現像液には、有機溶剤を含
有する水性アルカリ性現像液として、有機溶剤にジエチ
レングリコールモノブチルエーテルを用い10体積%と
した。また、アルカリ性物質として四ほう酸ナトリウム
(10水塩)を用い15g/lを含んだ水溶液とし、4
0℃、4分間、スプレー圧1.0kg/cm2で現像し
た。現像後のリンス液として有機溶剤を含有する水溶液
として、ジエチレングリコールモノブチルエーテル、1
0体積%を含んだ水溶液とし、40℃、4分間、スプレ
ー圧1.0kg/cm2でリンス処理を行って、バイア
ホールとなる穴111を形成した。
Step g: As shown in FIG. 1 (e), a photosensitive resin 91 having the following composition was applied on a polyethylene terephthalate film (50 μm thick) which had been subjected to a release treatment, and was heated at 80 ° C. After drying for 10 minutes, a film having a thickness of 60 μm was formed, and an insulating resin layer was formed by lamination. HIM-V530 (trade name, manufactured by Hitachi AIC Co., Ltd.) was used as a laminator under the following conditions.・ Laminating atmosphere: under reduced pressure (760 torr) ・ Air gauge pressure: 3 kg / cm 2・ Laminating speed: 0.5 m / min ・ Roll temperature: 110 ° C. (photosensitive insulating resin) ・ 2,2 ′ screw (4, 4 ′) -N-maleimidylphenoxyphenyl) propane 30 parts by weight Bisphenol A type epoxy with an epoxy equivalent of 500 Acid-modified epoxy resin synthesized by reacting one equivalent of tetrahydrophthalic anhydride with a resin under a nitrogen atmosphere at 150 ° C for 10 hours Acrylonitrile butadiene rubber containing 4 mol% of carboxyl groups in the molecule (PNR-1H, Nippon Synthetic Rubber Co., Ltd., trade name) 20 parts by weight 1,3-bis (9,9 '-Diakri Dino) heptane 5 parts by weight Aluminum hydroxide 10 parts by weight Irgacure 651 (manufactured by Ciba-Geigy) Name) ... 5 parts by weight Next, as shown in FIG. 1 (f), a light amount of 300 m is applied through a photomask in which a shielding portion is formed in a portion to be a via hole.
After irradiation with ultraviolet light of J / cm 2 , the polyethylene terephthalate film on the film surface was peeled off, and the unexposed portion was developed and rinsed. As a developing solution, an aqueous alkaline developing solution containing an organic solvent was used, and diethylene glycol monobutyl ether was used as an organic solvent to 10% by volume. Further, an aqueous solution containing 15 g / l using sodium tetraborate (decahydrate) as an alkaline substance was prepared.
Development was performed at 0 ° C. for 4 minutes at a spray pressure of 1.0 kg / cm 2 . As an aqueous solution containing an organic solvent as a rinse solution after development, diethylene glycol monobutyl ether,
An aqueous solution containing 0% by volume was rinsed at 40 ° C. for 4 minutes at a spray pressure of 1.0 kg / cm 2 to form a hole 111 serving as a via hole.

【0052】工程h:現像、リンス後の基板に紫外光2
J/cm2を照射し、次に150℃、1時間熱処理して
後硬化を行った後、絶縁層を化学粗化するために粗化液
として、KMnO4:60g/l、NaOH:40g/
lを含む水溶液を作製し、50℃に加温して10分間浸
漬処理した。この後、SnC12:30g/l、HC
l:300ml/lの水溶液に室温で5分間浸漬処理し
て中和処理を行った。粗化処理後、絶縁層表面に導体回
路を形成するために、まず、無電解銅めっき用触媒HS
−202B(日立化成工業株式会社製、商品名)に室温
で15分間浸漬し、さらに硫酸銅めっきで電気めっきを
行い、絶縁層の表面に厚さ15μmの導体層を形成し
た。
Step h: Apply ultraviolet light 2 to the substrate after development and rinsing.
After irradiating J / cm 2 and then heat-treating at 150 ° C. for 1 hour to perform post-curing, KMnO 4 : 60 g / l, NaOH: 40 g /
1 was prepared, heated to 50 ° C., and immersed for 10 minutes. After this, SnC1 2: 30g / l, HC
l: Neutralization treatment was performed by immersion treatment in a 300 ml / l aqueous solution at room temperature for 5 minutes. After the roughening treatment, in order to form a conductor circuit on the surface of the insulating layer, first, a catalyst HS for electroless copper plating is used.
It was immersed in −202B (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) at room temperature for 15 minutes, and further electroplated with copper sulfate to form a 15 μm thick conductor layer on the surface of the insulating layer.

【0053】工程i:めっき導体の不要な箇所を除去す
るために、エッチングレジストを形成し、塩酸/塩鉄エ
ッチング液を使ってエッチングを行って、回路パターン
を作製した。次に,工程(c)と同様に、前記エッチン
グレジストを除去し、図1(g)に示すように、ビルド
アップ多層プリント配線板を作製した。
Step i: In order to remove unnecessary portions of the plated conductor, an etching resist was formed, and etching was performed using a hydrochloric acid / iron chloride etchant to form a circuit pattern. Next, similarly to the step (c), the etching resist was removed, and a build-up multilayer printed wiring board was manufactured as shown in FIG.

【0054】実施例2 熱硬化性樹脂ワニスの樹脂分に対して、10vol%の
ほう酸アルミニウムウィスカを混合、撹拌した以外は、
全て実施例1と同様に行った。レーザ穴あけ条件は、炭
酸ガスレーザでエネルギー密度20J/cm2、発振時
間1μ秒、発振周波数150Hz、パルス数3であっ
た。
Example 2 Except for mixing and stirring 10 vol% of aluminum borate whiskers with respect to the resin content of the thermosetting resin varnish,
All operations were performed in the same manner as in Example 1. Laser drilling conditions were as follows: an energy density of 20 J / cm 2 , an oscillation time of 1 μs, an oscillation frequency of 150 Hz, and a pulse number of 3 with a carbon dioxide laser.

【0055】実施例3 熱硬化性樹脂ワニスの樹脂分に対して、45vol%の
ほう酸アルミニウムウィスカを混合、撹拌した以外は、
全て実施例1と同様に行った。レーザー穴あけ条件は、
炭酸ガスレーザでエネルギー密度20J/cm2、発振
時間1μ秒、発振周波数150Hz、パルス数5であっ
た。
Example 3 Except that 45 vol% of aluminum borate whiskers were mixed and stirred with respect to the resin content of the thermosetting resin varnish,
All operations were performed in the same manner as in Example 1. Laser drilling conditions are:
The energy density was 20 J / cm 2 , the oscillation time was 1 μs, the oscillation frequency was 150 Hz, and the number of pulses was 5 with a carbon dioxide gas laser.

【0056】実施例4 実施例1の工程a2に代えて、以下の工程a1を用いた
以外は、実施例1と同様にして作製した。 工程a1:厚さ0.6mmのガラス布−エポキシ樹脂含
浸両面銅張り積層板であるMClE−679(日立化成
工業株式会社製、商品名)を使用し、穴あけ、無電解銅
めっきを行い、通常のサブトラクト法によってスルーホ
ールを有する内層回路板4を作製した。厚さ5μmの薄
い銅箔/厚さ70μmキャリア銅層からなる複合金属箔
の薄い銅層の面に、以下の組成の熱硬化性樹脂ワニスの
樹脂分に対して、30vol%ほう酸アルミニウムウィ
スカを混合、撹拌しナイフコータで塗布し、150℃で
10分間乾燥して、半硬化させた厚さ50μmの熱硬化
性樹脂を有する銅箔付き接着フィルムを作製した。 (熱硬化性樹脂ワニスの組成) ・ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂・・・・・・・・100重量部 (エポキシ当量:200) ・ビスフェノールAノボラック樹脂・・・・・・・・・・・・・・60重量部 (水酸基当量:106) ・2−エチル−4−メチルイミダゾール(硬化剤)・・・・・・0.5重量部 ・メチルエチルケトン(希釈剤)・・・・・・・・・・・・・・100重量部
Example 4 The procedure of Example 1 was repeated, except that the following step a1 was used instead of step a2 of Example 1. Step a1: Using a 0.6 mm thick glass cloth-epoxy resin impregnated double-sided copper-clad laminate MCLE-679 (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.), drilling, electroless copper plating, and The inner layer circuit board 4 having through holes was produced by the subtraction method described above. A 30 vol% aluminum borate whisker is mixed with the resin content of the thermosetting resin varnish having the following composition on the surface of the thin copper layer of the composite metal foil composed of a thin copper foil having a thickness of 5 μm / a carrier copper layer having a thickness of 70 μm. The mixture was stirred, coated with a knife coater, and dried at 150 ° C. for 10 minutes to prepare a semi-cured adhesive film with a copper foil having a thermosetting resin having a thickness of 50 μm. (Composition of thermosetting resin varnish) Bisphenol A novolak epoxy resin 100 parts by weight (epoxy equivalent: 200) Bisphenol A novolak resin 60 parts by weight (hydroxyl equivalent: 106) 2-ethyl-4-methylimidazole (curing agent) ... 0.5 parts by weight-Methyl ethyl ketone (diluent) ... ..... 100 parts by weight

【0057】比較例1 実施例1の銅箔付き接着フィルムに代えて、以下の熱硬
化性樹脂ワニスをガラス布に塗布含浸したプリプレグを
用いて、複合金属箔と内層回路の間に積層し、実施例1
と同様にしてビルドアップ多層プリント配線板を作製し
た。 (熱硬化性樹脂ワニスの組成) ・ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂・・・・・・・・100重量部 (エポキシ当量:200) ・ビスフェノールAノボラック樹脂・・・・・・・・・・・・・・60重量部 (水酸基当量:106) ・2−エチル−4−メチルイミダゾール(硬化剤)・・・・・・0.5重量部 ・メチルエチルケトン(希釈剤)・・・・・・・・・・・・・・100重量部
Comparative Example 1 Instead of the adhesive film with copper foil of Example 1, a prepreg obtained by applying and impregnating the following thermosetting resin varnish to a glass cloth was laminated between the composite metal foil and the inner layer circuit. Example 1
In the same manner as in the above, a build-up multilayer printed wiring board was produced. (Composition of thermosetting resin varnish) Bisphenol A novolak epoxy resin 100 parts by weight (epoxy equivalent: 200) Bisphenol A novolak resin 60 parts by weight (hydroxyl equivalent: 106) 2-ethyl-4-methylimidazole (curing agent) ... 0.5 parts by weight-Methyl ethyl ketone (diluent) ... ..... 100 parts by weight

【0058】比較例2 実施例1の銅箔付き接着フィルムに代えて、以下の熱硬
化性樹脂ワニスを塗布したものを用いて、複合金属箔と
内層回路の間に積層し、実施例1と同様にしてビルドア
ップ多層プリント配線板を作製した。 (熱硬化性樹脂ワニスの組成) ・ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂・・・・・・・・100重量部 (エポキシ当量:200) ・ビスフェノールAノボラック樹脂・・・・・・・・・・・・・・60重量部 (水酸基当量:106) ・2−エチル−4−メチルイミダゾール(硬化剤)・・・・・・0.5重量部 ・メチルエチルケトン(希釈剤)・・・・・・・・・・・・・・100重量部
Comparative Example 2 Instead of the adhesive film with a copper foil of Example 1, a film coated with the following thermosetting resin varnish was used and laminated between the composite metal foil and the inner layer circuit. Similarly, a build-up multilayer printed wiring board was produced. (Composition of thermosetting resin varnish) Bisphenol A novolak epoxy resin 100 parts by weight (epoxy equivalent: 200) Bisphenol A novolak resin 60 parts by weight (hydroxyl equivalent: 106) 2-ethyl-4-methylimidazole (curing agent) ... 0.5 parts by weight-Methyl ethyl ketone (diluent) ... ..... 100 parts by weight

【0059】比較例3 銅箔付き接着フィルムに代えて、比較例2の熱硬化性樹
脂ワニスを内層回路板4の上に直接、シルクスクリーン
印刷法によって塗布し、銅箔を上に重ねて、加熱加圧し
て積層一体化したものを用いて、複合金属箔と内層回路
の間に積層し、実施例1と同様にしてビルドアップ多層
プリント配線板を作製した。
Comparative Example 3 Instead of the adhesive film with copper foil, the thermosetting resin varnish of Comparative Example 2 was applied directly on the inner circuit board 4 by a silk screen printing method, and the copper foil was layered on A laminate was integrated by heating and pressing, and laminated between the composite metal foil and the inner layer circuit, and a build-up multilayer printed wiring board was produced in the same manner as in Example 1.

【0060】以上のように作製したビルドアップ多層プ
リント配線板に、以下の試験を行った。その結果を表1
に示す。 (試験)・気相熱衝撃試験:熱衝撃試験器サーマショッ
クチャンバーTSR−103(TABAI製、商品名)
を用い−65℃、30分⇔125℃、30分の条件を1
サイクルとし、接続抵抗の変化を測定した。接続抵抗の
測定には、ヒューレットパッカード製マルチメータ34
57Aを用いて測定した。
The following tests were performed on the build-up multilayer printed wiring boards manufactured as described above. Table 1 shows the results.
Shown in (Test)-Gas phase thermal shock test: Thermal shock tester Therma Shock Chamber TSR-103 (TABAI, trade name)
-65 ° C., 30 minutes⇔125 ° C., 30 minutes
A cycle was taken, and a change in connection resistance was measured. To measure the connection resistance, use a Hewlett-Packard multimeter 34
It was measured using 57A.

【0061】[0061]

【表1】 [Table 1]

【0062】[0062]

【発明の効果】以上に説明したとおり、本発明によっ
て、層間の薄型化、配線の微細化、また、IVH、BV
Hの小径化に優れ、かつ強度に優れ、接続信頼性に優
れ、生産性に優れた多層プリント配線板とその製造方法
を提供することができる。
As described above, according to the present invention, the thickness of the interlayer can be reduced, the wiring can be miniaturized, and the IVH and BV can be reduced.
It is possible to provide a multilayer printed wiring board excellent in reducing the diameter of H, excellent in strength, excellent in connection reliability, and excellent in productivity, and a method of manufacturing the same.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a)〜(g)は、それぞれ本発明の一実施例
を説明するための各工程を示す断面図である。
FIGS. 1A to 1G are cross-sectional views showing respective steps for explaining one embodiment of the present invention.

【図2】(a)〜(f)は、それぞれ本発明の他の実施
例を示す断面図である。
FIGS. 2A to 2F are cross-sectional views each showing another embodiment of the present invention.

【符号の説明】 1.絶縁基材 2.内層回路 3.スルーホール 4.内層回路
板 6.熱硬化性樹脂層 7.第1の回
路 8.第1のバイアホール 82.穴 9.感光性樹脂層 10.第2の
回路 11.第2のバイアホール 111.穴 13.スルー
ホール 14.めっき 21.銅箔
[Explanation of Codes] 1. Insulating base material 2. Inner layer circuit Through hole 4. Inner layer circuit board 6. 6. Thermosetting resin layer 7. First circuit First via hole 82. Hole 9. Photosensitive resin layer 10. Second circuit 11. Second via hole 111. Hole 13. Through hole 14. Plating 21. Copper foil

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 菅野 雅雄 茨城県下館市大字小川1500番地 日立化成 工業株式会社下館研究所内 (72)発明者 有家 茂晴 茨城県下館市大字小川1500番地 日立化成 工業株式会社下館研究所内 (72)発明者 ▲つる▼ 義之 茨城県下館市大字小川1500番地 日立化成 工業株式会社下館研究所内 (72)発明者 中祖 昭士 茨城県つくば市和台48 日立化成工業株式 会社筑波開発研究所内 ──────────────────────────────────────────────────の Continuing on the front page (72) Masao Sugano 1500 Ogawa Ogawa, Shimodate City, Ibaraki Prefecture Inside Shimodate Research Laboratory, Hitachi Chemical Co., Ltd. (72) Shigeharu Ariya 1500 Ogawa Ogawa Shimodate City, Ibaraki Prefecture Hitachi Chemical Industries Inside Shimodate Research Laboratory (72) Inventor ▲ Tsuru ▼ Yoshiyuki 1500 Ogawa, Shimodate-shi, Ibaraki Pref.Hitachi Chemical Industry Co., Ltd. Tsukuba Development Laboratory

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】絶縁基材(1)とその両面に形成された内層
回路(2)とスルーホール(3)によってその両面の内層回路
(2)を電気的に接続した内層回路板(4)と、その表面に電
気絶縁性の充填剤を均一に分散させた熱硬化性樹脂層
(6)と、その熱硬化性樹脂層(6)の表面に形成された第1
の回路(7)と、前記内層回路(2)と前記第1の回路(7)と
を電気的に接続する第1のバイアホール(8)と、その表
面に形成された感光性樹脂層(9)と、その感光性樹脂層
(9)の表面に形成された第2の回路(10)と、前記第1の
回路(7)と前記第2の回路(10)とを電気的に接続する第
2のバイアホール(11)とを有し、内層回路板(4)のスル
ーホール(3)が前記熱硬化性樹脂層(6)と同じ電気絶縁性
の充填剤を均一に分散させた絶縁樹脂で充填されている
ことを特徴とするビルドアップ多層プリント配線板。
1. An insulating substrate (1), an inner layer circuit (2) formed on both sides thereof, and an inner layer circuit on both sides thereof formed by through holes (3).
An inner circuit board (4) electrically connected to (2) and a thermosetting resin layer in which an electrically insulating filler is uniformly dispersed on the surface
(6) and the first layer formed on the surface of the thermosetting resin layer (6).
Circuit (7), a first via hole (8) for electrically connecting the inner layer circuit (2) and the first circuit (7), and a photosensitive resin layer ( 9) and its photosensitive resin layer
A second circuit (10) formed on the surface of (9), and a second via hole (11) for electrically connecting the first circuit (7) and the second circuit (10). Having a through hole (3) of the inner circuit board (4) filled with an insulating resin in which the same electrically insulating filler as the thermosetting resin layer (6) is uniformly dispersed. Characterized build-up multilayer printed wiring board.
【請求項2】第1のバイアホール(8)が、熱硬化性樹脂
層(6)を部分的に物理的、化学的に除去する手法により
形成されていることを特徴とする請求項1に記載のビル
ドアップ多層プリント配線板。
2. The method according to claim 1, wherein the first via hole is formed by a method of physically and chemically removing the thermosetting resin layer partially. The described build-up multilayer printed wiring board.
【請求項3】電気絶縁性の充填剤が、セラミック系ウィ
スカであることを特徴とする請求項1または2に記載の
ビルドアップ多層プリント配線板。
3. The build-up multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the electrically insulating filler is a ceramic whisker.
【請求項4】以下の工程を、この順に行うことを特徴と
するビルドアップ多層プリント配線板の製造方法。 a.熱硬化性樹脂ワニスに電気絶縁性の充填剤である電
気絶縁性セラミック系ウィスカを配合し、撹拌により前
記電気絶縁性セラミック系ウィスカを前記熱硬化性樹脂
ワニス中に均一に分散させた後、銅箔(21)の粗化面に塗
布し、加熱・半硬化させ、熱硬化性樹脂層(6)を形成
し、予め絶縁基材(1)とその両面に形成された内層回路
(2)とスルーホール(3)によってその両面の内層回路(2)
を電気的に接続した内層回路板(4)の上に、前記熱硬化
性樹脂層(6)を重ね、加熱加圧して積層一体化する工
程。 b.前記銅箔(21)の上にエッチングレジストを形成し、
そのエッチングレジストから露出した部分を、第1のバ
イアホール(8)の穴の形状にエッチング除去し、エッチ
ングレジストを除去する工程。 c.第1のバイアホール(8)の穴の形状にエッチング除
去された銅箔(21)の微細穴から露出した、硬化した熱硬
化性樹脂層(6)を、レーザ光を照射することにより、前
記内層回路(2)が露出するまで除去して、第1のバイア
ホール(8)となる穴(82)を形成する工程。 d.前記穴(82)の壁面の硬化した熱硬化性樹脂層(6)の
樹脂面を、粗化剤を用いて粗化し、めっきを行う工程。 e.前記めっきの上にエッチングレジストを形成し、該
エッチングレジストから露出しためっきと銅箔(21)をエ
ッチング除去し、第1の回路(7)を形成した後、前記エ
ッチングレジストを除去する工程。 f.第1の回路(7)の表面を酸化して凹凸を形成し、形
成した酸化銅を還元する工程。 g.第1の回路(7)を形成した表面に、液状の感光性樹
脂を塗布し、感光性樹脂層(9)を形成し、フォトマスク
を介して露光、現像し、第2のバイアホール(11)となる
穴(111)を形成する工程。 h.前記穴(111)の壁面を含む感光性樹脂層(9)の樹脂面
を、酸化性粗化液で粗化し、めっきを行う工程。 i.前記めっきの表面にエッチングレジストを形成し、
該エッチングレジストから露出しためっきを選択的にエ
ッチング除去し、前記エッチングレジストを除去する工
程。
4. A method for manufacturing a build-up multilayer printed wiring board, comprising the steps of: a. A thermosetting resin varnish is blended with an electrically insulating ceramic whisker, which is an electrically insulating filler, and the electrically insulating ceramic whisker is uniformly dispersed in the thermosetting resin varnish by stirring. Coating on the roughened surface of foil (21), heating and semi-curing to form thermosetting resin layer (6), insulating substrate (1) and inner layer circuit previously formed on both surfaces
(2) and inner layer circuit (2) on both sides by through hole (3)
A step of laminating the thermosetting resin layer (6) on an inner circuit board (4) to which the above is electrically connected, and heating and pressing to laminate and integrate. b. Forming an etching resist on the copper foil (21),
Removing the portion exposed from the etching resist into the shape of the first via hole (8) by etching, and removing the etching resist. c. The cured thermosetting resin layer (6) exposed from the fine hole of the copper foil (21) etched and removed in the shape of the hole of the first via hole (8) is irradiated with a laser beam, Removing the inner layer circuit (2) until the inner circuit (2) is exposed to form a hole (82) serving as a first via hole (8). d. A step of roughening the resin surface of the cured thermosetting resin layer (6) on the wall surface of the hole (82) using a roughening agent, and performing plating. e. Forming an etching resist on the plating, etching away the plating and the copper foil (21) exposed from the etching resist, forming a first circuit (7), and then removing the etching resist. f. A step of oxidizing the surface of the first circuit (7) to form irregularities and reducing the formed copper oxide; g. A liquid photosensitive resin is applied to the surface on which the first circuit (7) is formed, a photosensitive resin layer (9) is formed, exposed and developed through a photomask, and a second via hole (11) is formed. Forming a hole (111). h. A step of roughening the resin surface of the photosensitive resin layer (9) including the wall surface of the hole (111) with an oxidizing roughening solution and performing plating. i. Forming an etching resist on the surface of the plating,
A step of selectively etching away the plating exposed from the etching resist to remove the etching resist.
【請求項5】工程a.に代えて、以下の工程を有するこ
とを特徴とする請求項4に記載のビルドアップ多層プリ
ント配線板の製造方法。 a1.撹拌により前記電気絶縁性セラミック系ウィスカ
を前記熱硬化性樹脂ワニス中に均一に分散させた熱硬化
性樹脂ワニスを、樹脂との接着に適した粗さを有すると
共に回路となる銅層と全体としての金属層として取り扱
いに十分な強度を有するキャリア層からなる2層が容易
に剥離可能な複合金属箔の銅層の粗化面に塗布し、加熱
半硬化させ、熱硬化性樹脂層(6)を形成し、予めスルー
ホール(3)と内層回路(2)を形成した内層回路板(4)の上
に、前記熱硬化性樹脂層(6)を重ね、加熱加圧して積層
一体化した後、キャリア層のみを除去する工程。
5. Step a. 5. The method for manufacturing a build-up multilayer printed wiring board according to claim 4, further comprising the following steps. a1. A thermosetting resin varnish obtained by uniformly dispersing the electrically insulating ceramic whisker in the thermosetting resin varnish by agitation, having a roughness suitable for bonding with a resin and a copper layer serving as a circuit as a whole. Two layers consisting of a carrier layer having sufficient strength for handling as a metal layer of the above are applied to the roughened surface of the copper layer of the composite metal foil which can be easily peeled off, heated and semi-cured, and a thermosetting resin layer (6) After forming the through hole (3) and the inner layer circuit (2) on the inner layer circuit board (4), the thermosetting resin layer (6) is stacked, and heated and pressurized to be laminated and integrated. Removing only the carrier layer.
【請求項6】工程a.に代えて、以下の工程を有するこ
とを特徴とする請求項4に記載のビルドアップ多層プリ
ント配線板の製造方法。 a2.撹拌により前記電気絶縁性セラミック系ウィスカ
を前記熱硬化性樹脂ワニス中に均一に分散させた熱硬化
性樹脂ワニスを、樹脂との接着に適した粗さを有すると
共に回路となる1〜9μmの厚さの第1の銅層と全体と
しての金属層として取り扱いに十分な強度を有する厚さ
10〜150μmの第2の銅層とその2層の中間に設け
られた厚さが0.04〜1.5μmのニッケル−リン合
金層からなる複合金属箔の第1の銅層の粗化面に塗布
し、加熱半硬化させ、熱硬化性樹脂層(6)を形成し、予
めスルーホール(3)と内層回路(2)を形成した内層回路板
(4)の上に、前記熱硬化性樹脂層(6)を重ね、加熱加圧し
て積層一体化した後、キャリア層のみを除去し、ニッケ
ル−リン合金層のみを除去する工程。
6. Step a. 5. The method for manufacturing a build-up multilayer printed wiring board according to claim 4, further comprising the following steps. a2. A thermosetting resin varnish obtained by uniformly dispersing the electrically insulating ceramic-based whisker in the thermosetting resin varnish by stirring has a roughness suitable for bonding to a resin and has a thickness of 1 to 9 μm which becomes a circuit. A second copper layer having a thickness of 10 to 150 μm having sufficient strength for handling as a first copper layer and a metal layer as a whole, and a thickness of 0.04 to 1 provided between the two layers. 0.5 μm nickel-phosphorus alloy layer is applied to the roughened surface of the first copper layer of the composite metal foil, and is heated and semi-cured to form a thermosetting resin layer (6). Inner circuit board with inner layer circuit (2)
(4) a step of superposing the thermosetting resin layer (6) on the upper layer, heating and pressurizing to integrate the layers, and then removing only the carrier layer and only the nickel-phosphorus alloy layer.
【請求項7】熱硬化性樹脂の樹脂フローが、500μm
以上であり、熱硬化性樹脂層の半硬化後の厚さが、25
〜100μmの範囲であることを特徴とする請求項4〜
6のうちのいずれかに記載のビルドアップ多層プリント
配線板の製造方法。
7. The resin flow of the thermosetting resin is 500 μm
The thickness after semi-curing of the thermosetting resin layer is 25
The thickness is in the range of 100 to 100 μm.
7. The method for producing a build-up multilayer printed wiring board according to any one of 6.
【請求項8】熱硬化性樹脂に配合する電気絶縁性セラミ
ック系ウィスカの配合量が、5〜50vol%であるこ
とを特徴とする請求項4〜7のうちいずれかに記載のビ
ルドアップ多層プリント配線板の製造方法。
8. The build-up multilayer print according to claim 4, wherein the amount of the electrically insulating ceramic whisker to be mixed with the thermosetting resin is 5 to 50 vol%. Manufacturing method of wiring board.
【請求項9】工程iで作製した多層プリント配線板を内
層基板として、さらに、工程f〜工程iを必要な回数繰
り返し行うことを特徴とする請求項4〜8のうちいずれ
かに記載のビルドアップ多層プリント配線板の製造方
法。
9. The build according to any one of claims 4 to 8, wherein the steps f to i are repeated a required number of times using the multilayer printed wiring board produced in the step i as an inner layer substrate. Manufacturing method of up multilayer printed wiring board.
【請求項10】工程iで作製した多層プリント配線板を
内層基板として、スルーホールとなる穴をあけ、穴内部
を粗化剤を用いて粗化し、めっきを行った後に、不要な
めっきを選択的にエッチング除去し、さらに、工程b〜
工程iを行うことを特徴とする請求項4〜9のうちいず
れかに記載のビルドアップ多層プリント配線板の製造方
法。
10. Using the multilayer printed wiring board prepared in step i as an inner layer substrate, drilling a hole to be a through hole, roughening the inside of the hole with a roughening agent, plating, and selecting unnecessary plating. Etching and further removing
The method for producing a build-up multilayer printed wiring board according to any one of claims 4 to 9, wherein step i is performed.
【請求項11】工程iで作製した多層プリント配線板を
内層基板として、スルーホールとなる穴をあけ、穴内部
を粗化剤を用いて粗化し、めっきを行った後に、不要な
めっきを選択的にエッチング除去し、さらに、工程b〜
工程eを行うことを特徴とする請求項4〜9のうちいず
れかに記載のビルドアップ多層プリント配線板の製造方
法。
11. Using the multilayer printed wiring board prepared in step i as an inner layer substrate, drilling a hole to be a through hole, roughening the inside of the hole with a roughening agent, plating, and selecting unnecessary plating. Etching and further removing
The method for manufacturing a build-up multilayer printed wiring board according to any one of claims 4 to 9, wherein step e is performed.
【請求項12】工程iで作製した多層プリント配線板を
内層基板として、さらに、工程f〜工程iを必要な回数
繰り返し行うことを特徴とする請求項11に記載のビル
ドアップ多層プリント配線板の製造方法。
12. The build-up multilayer printed wiring board according to claim 11, wherein the multilayer printed wiring board manufactured in the step i is used as an inner substrate, and the steps f to i are repeated as many times as necessary. Production method.
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