JPH11121170A - 有機el素子およびその製造方法 - Google Patents

有機el素子およびその製造方法

Info

Publication number
JPH11121170A
JPH11121170A JP9297886A JP29788697A JPH11121170A JP H11121170 A JPH11121170 A JP H11121170A JP 9297886 A JP9297886 A JP 9297886A JP 29788697 A JP29788697 A JP 29788697A JP H11121170 A JPH11121170 A JP H11121170A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
organic
adhesive
sealing
sealing adhesive
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP9297886A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Yasukawa
浩司 安川
Osamu Onizuka
理 鬼塚
Hiroyuki Endo
広行 遠藤
Akira Ebisawa
晃 海老沢
Hiroshi Someya
拓 染谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TDK Corp filed Critical TDK Corp
Priority to JP9297886A priority Critical patent/JPH11121170A/ja
Publication of JPH11121170A publication Critical patent/JPH11121170A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/84Passivation; Containers; Encapsulations
    • H10K50/842Containers
    • H10K50/8426Peripheral sealing arrangements, e.g. adhesives, sealants

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 水等の外部環境の影響を極力排除でき、経時
劣化が少なく、初期性能を長期間維持できる長寿命の有
機EL素子を提供する。 【解決手段】 有機EL構造体が積層された基板上に、
封止用接着剤を介して封止板を配置し、前記封止用接着
剤を粘度が40000cP以下となる温度に加熱し、前記
封止板を基板に圧着する有機EL素子の製造方法とし
た。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、有機化合物を用い
た有機EL素子に関し、さらに詳細には、基板上に積層
された有機EL構造体を保護するための封止板を固定す
る接着方法の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、有機EL素子が盛んに研究されて
いる。これは、ホール注入電極上にトリフェニルジアミ
ン(TPD)などのホール輸送材料を蒸着により薄膜と
し、さらにアルミキノリノール錯体(Alq3)などの
蛍光物質を発光層として積層し、さらにMgなどの仕事
関数の小さな金属電極(電子注入電極)を形成した基本
構成を有する素子で、10V前後の電圧で数100から
数10,000cd/m2ときわめて高い輝度が得られるこ
とで注目されている。
【0003】ところで、有機EL素子は、水分に極めて
弱いという問題がある。たとえば、水分の影響により、
発光層と電極層の間で剥離が生じたり、構成材料が変質
してしまったりして、ダークスポットと称する非発光領
域が生じたり、所定の品位の発光が維持できなっくなっ
てしまうといった問題が生じている。
【0004】この問題を解決するための一方法として、
例えば、特開平5−36475号公報、同5−8995
9号公報、同7−169567号公報等に記載されてい
るように、有機EL積層構造体部分を被う気密ケース、
封止層等を基板上に密着固定して外部と遮断する技術が
知られている。
【0005】しかし、このような封止層等を設けたとし
ても、やはり駆動時間の経過に伴い発光輝度が減少した
り、ダークスポットが生じたり、これが拡大したりして
素子が劣化する場合があり、さらにこれが悪化して使用
不能になってしまうというような場合もあった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、水等
の外部環境の影響を極力排除し、経時劣化が少なく、初
期性能を長期間維持できる長寿命の有機EL素子を提供
することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明者等は、有機EL
素子を劣化させる要因について種々検討した結果、その
原因の1つとして、封止板を基板上に固定し、有機EL
構造体を密封するための封止用接着剤が剥離したり、こ
れに気道が生じたりして有機EL構造体の密閉が十分に
行われないことであることを見出した。すなわち、前記
のように剥離したり、気道が形成された部分から侵入す
る水分その他の気体等と反応し、これにより素子が劣化
することに原因がある。
【0008】そして、このような封止用接着剤の封止不
良は、封止板を接着する際に生じる封止空間内の内圧
と、接着剤の粘度とに密接な関係がある。すなわち、封
止板を基板上に接着する際に加圧・圧着するが、この加
圧・圧着により、封止用接着剤で囲まれた内部空間に封
じ込められたガスに高い内部圧力が生じる。そして、こ
の内部圧力の影響で接着剤が剥離したり、内部ガスが接
着剤層の一部を通じて抜け出る際にガスの抜け道、つま
り気道が生じ、これがそのまま塞がることなく残存して
気密性が低下したりして上記問題が生じる。
【0009】従って、上記目的は以下の構成により達成
することができる。 (1) 有機EL構造体が積層された基板上に、封止用
接着剤を介して封止板を配置し、前記封止用接着剤を粘
度が40000cP以下となる温度に加熱し、前記封止板
を基板に圧着する有機EL素子の製造方法。 (2) 前記封止用接着剤を、粘度が1000〜400
00cPとなる温度に加熱し、前記封止板を基板に圧着す
る上記(1)の有機EL素子の製造方法。 (3) 前記封止用接着剤は、40〜80℃に加熱する
上記(1)または(2)の有機EL素子の製造方法。 (4) 前記封止用接着剤は、25℃の粘度が1000
00cP以上である上記(1)〜(3)のいずれかの有機
EL素子の製造方法。 (5) 前記封止用接着剤は粒状のスペーサーを含有す
る上記(1)〜(4)のいずれかの有機EL素子の製造
方法。 (6) 前記封止用接着剤はカチオン重合エポキシUV
硬化型接着剤である上記(1)〜(5)のいずれかの有
機EL素子の製造方法。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明の有機EL素子の製造方法
は、有機EL構造体が積層された基板上に封止用接着剤
を介して封止板を配置し、前記封止用接着剤を粘度が4
0000cP以下となる温度に加熱して前記封止板を基板
に圧着する。このように、封止用接着剤を加熱して圧着
することにより、封止用接着剤の粘度が40000cP以
下に低下して内部に封入された高圧ガスが封止用接着剤
を押し広げて外部に排出され、封入されたガスの内圧を
解放することができる。また、封入されたガスが封止用
接着剤を押し広げて形成された気道も粘度が低いため容
易に埋め戻されて消失し、気密性が確保される。
【0011】封止用接着剤は、加熱されることにより粘
度が低下し流動性が増す。従って、封止板または基板に
接着剤を塗布する際には粘度の高い状態で安定に塗布
し、封止板と基板とを張り合わせる際に接着剤を加熱し
て粘度を低下させ、貼り合わせ時に内部に封入されるガ
スの圧力を解放させる。
【0012】貼り合わせ時、すなわち基板と封止板との
圧接時の封止用接着剤の粘度としては40000cP以下
であり、好ましくは40000〜1000cP、特に20
000〜1000cP程度が好ましい。このような粘度を
得るためには、その接着剤の種類等により異なるが、通
常40℃以上、特に50℃以上に加熱することが好まし
い。加熱温度の上限としては通常封止用接着剤よりも有
機EL構造体、特に有機層の耐熱温度が低いことから、
この有機層の耐熱温度に制限されることになる。具体的
には80℃以下、より好ましくは70℃以下が好まし
い。
【0013】封止用接着剤は、通常封止板または基板上
に塗布され、その後封止板と基板とを張り合わせて接着
される。このため、封止用接着剤塗布時には、安定して
塗布を行うため所定の粘度以上であることが好ましく、
通常、加熱しない室温程度で塗布することが好ましい。
具体的には、その粘度が100000cP以上であること
が好ましく、より好ましくは120000〜30000
0cP、特に150000〜300000cP程度が好まし
い。温度範囲としては、好ましくは40〜80℃、より
好ましくは40〜70℃程度が好ましい。
【0014】本発明に使用される封止用接着剤として
は、上記条件の粘度での接着が可能で、安定した接着強
度が保て、気密性が良好なものであれば特に限定される
ものではないが、取り扱い安さ、有機EL構造体の耐熱
温度等を考慮すると熱硬化型よりも光硬化型の接着剤が
好ましく、例えば、エステルアクリレート,ウレタンア
クリレート,エポキシアクリレート,メラミンアクリレ
ート,アクリル樹脂アクリレート等の各種アクリレー
ト、ウレタンポリエステル等の樹脂を用いたラジカル系
接着剤や、エポキシ、ビニルエーテル等の樹脂を用いた
カチオン系接着剤、チオール・エン付加型樹脂系接着剤
等が挙げられ、中でも酸素による阻害が無く、光照射後
も重合反応が進行するカチオン系接着剤が好ましい。
【0015】カチオン系接着剤としては、カチオン硬化
タイプの紫外線硬化型エポキシ樹脂接着剤が好ましい。
有機EL構造体部分の各層構成材料のガラス転移温度が
140℃以下、特に80〜100℃程度である。従っ
て、通常の熱硬化型の接着剤を用いると、その硬化温度
が140〜180℃程度であるため、その硬化の際に有
機EL構造体が軟化してしまい、特性の劣化が生じてし
まうという問題がある。一方、紫外線硬化型接着剤の場
合は、このような有機EL構造体の軟化というような問
題は生じないが、現在一般に用いられている紫外線硬化
型接着剤はアクリル系であり、その硬化の際にその成分
中のアクリルモノマーが揮発し、それが上記有機EL構
造体の各構成材料に悪影響を及ぼし、その特性を劣化さ
せるという問題がある。そこで、本発明においては、以
上のような問題のない、あるいは極めて少ない接着剤で
ある、上記のカチオン硬化タイプの紫外線硬化型エポキ
シ樹脂接着剤を用いることが好ましい。
【0016】なお、紫外線硬化型エポキシ樹脂接着剤と
して市販されているものの中には、紫外線加熱硬化併用
型のエポキシ樹脂接着剤が含まれる場合があるが、この
場合には、ラジカル硬化タイプのアクリル系樹脂と加熱
硬化タイプのエポキシ樹脂が混合あるいは変性してある
場合が多く、前記のアクリル系樹脂のアクリルモノマー
の揮発の問題や熱硬化型エポキシ樹脂の硬化温度の問題
が解決しておらず、本発明の有機EL素子に用いる接着
剤としては好ましくない。
【0017】カチオン硬化タイプの紫外線硬化型エポキ
シ樹脂接着剤とは、主たる硬化剤として紫外線等の光照
射による光分解でルイス酸触媒を放出するルイス酸塩型
硬化剤を含み、光照射により発生されたルイス酸が触媒
となって主成分であるエポキシ樹脂がカチオン重合型の
反応機構により重合し、硬化するタイプの接着剤であ
る。
【0018】上記接着剤の主成分たるエポキシ樹脂とし
ては、エポキシ化オレフィン樹脂、脂環式エポキシ樹
脂、ノボラックエポキシ樹脂等が挙げられる。また、上
記硬化剤としては、芳香族ジアゾニウムのルイス酸塩、
ジアリルヨードニウムのルイス酸塩、トリアリルスルホ
ニウムのルイス酸塩、トリアリルセレニウムのルイス酸
塩等が挙げられる。
【0019】接着剤の塗布量としては、積層されている
有機EL構造体の大きさや有機EL素子で構成されるデ
ィスプレイの種類や構造等にもよるが、好ましくは6×
10-2〜2×10-4 g/cm2 、特に9×10-3〜2×1
-4 g/cm2 程度が好ましい。また、接着剤層の厚みと
しては、通常封止板の配置位置の高さ、すなわち積層さ
れている有機EL構造体の厚みと、この有機EL構造体
上に所定の空隙を確保できる厚みを加えたものとなり、
特に規制されるものではないが、通常5×105 〜1×
103 nm、特に2×104 〜2×103 nm程度である。
【0020】また、封止用接着在中には、封止板を所定
の高さ、つまり有機EL構造体と接触したり圧接したり
しない高さに保持するため、スペーサを混合してもよ
い。このようにスペーサーを封止用接着在中に混合する
ことにより、封止板の高さ規制が容易に行え、高さ調整
や、別途高さ規制用の部材を設ける必要もなくなり好ま
しい。このようなスペーサーとしては、好ましくは粒
状、またはファイバー状ののガラス、石英等が挙げら
れ、特にファイバー状のガラス等が好ましい。また、そ
の大きさとしては、円換算の直径が1〜20μm 、より
好ましくは1〜10μm 、特に2〜8μm が好ましい。
このような直径のものは、粒長100μm 以下程度であ
ることが好ましく、その下限は特に規制されるものでは
ないが、通常1μm 程度である。なお、スペーサーはあ
らかじめ封止用接着在中に混入されていても、接着時に
混入してもよい。前記封止用接着在中におけるスペーサ
ーの含有量は、好ましくは0.01〜30wt%、より好
ましくは0.1〜5wt%である。
【0021】次に、図を参照しつつ本発明の有機EL素
子の製造方法について説明する。
【0022】図1〜3は、本発明の有機EL素子の製造
方法の一例を示した断面概略図である。各図において、
本発明の有機EL素子は、基板上5に形成されている有
機EL構造体6と、この有機EL構造体6の上に所定の
空隙を有するように配置される封止板4と、この封止板
4の接続部に配置され、封止板4を基板5から所定の距
離に維持する粒状のスペーサ3と、封止板を固定し、有
機EL構造体を密閉するための封止用接着剤2を有す
る。
【0023】先ず、図1に示すように、有機EL構造体
を基板上に積層し、これを好ましくは、He、N2 、A
r等の不活性ガス等の封止ガス雰囲気中において封止作
業を行う。また、この封止ガスの水分含有量は、100
ppm以下、好ましくは10ppm以下、特に好ましく
は、1ppm以下であることが望ましい。この水分含有
量に特に下限値はないが、通常0.1ppm程度であ
る。このような封止ガスを用いることにより、有機EL
構造体のホール注入電極、有機層、電子注入電極あるい
はこれらの界面と雰囲気との化学反応等による劣化が抑
制され、長期間に渡り初期性能が維持できる。そして、
この例では封止板4の接続部に、粒状のスペーサ3が混
入されている封止用接着剤2を塗布する。封止板の接着
剤が塗布される領域、つまり接続部は、通常、少なくと
も封止板が配置されたときに、有機EL構造体の積層さ
れている領域と重ならない部分に塗布される。従って、
一般には封止板または基板の外周部に塗布される。封止
用接着剤が塗布される温度としては、上記のように室温
前後が好ましい。
【0024】次いで、図2に示されるように、封止板4
を基板5や有機EL構造体6に対して適切な配置位置と
なるように位置決めした後、両者を貼り合わせる。
【0025】さらに、封止用接着剤2が上記粘度範囲と
なるように加熱する。この場合、通常、基板または封止
板を加熱することになるが、その場合には十分な加熱時
間、好ましくは1〜60分、特に1〜15分の加熱時間
をおくことを条件に、前記基板または封止板の加熱温度
をもって上記封止用接着剤の温度と見なしてもよい。な
お、加熱箇所は有機EL構造体への加熱温度の影響がよ
り少ない点を考慮すると、封止板側から加熱することが
好ましい。
【0026】加熱後、図3に示されるように基板5と封
止板4とを加圧し、圧着する。このときの圧力は、特に
規制されるものではないが、通常0.05〜30kg/cm
2 、特に0.1〜20kg/cm2 の範囲が好ましい。加圧
接着することにより、接着剤は混入されているスペーサ
ー3の大きさ(厚さ)にまで押し潰され、所定の高さに
封止板が配置されることになる。この場合封止用接着剤
2の粘度が低いために、確実にスペーサーの高さにまで
押しつぶすことができ、高さ、つまり接着層の厚みのバ
ラツキも生じ難くなる。そして、圧接する際に接着剤2
で囲まれた領域の内部に封じ込められた封止用ガスも圧
縮され、内圧が生じることになるが、封止用接着剤の粘
度が低いため、内部に封入された封止用ガスは、接着剤
を押し広げて気道を作り、外部へと排出される。そし
て、内圧が減少すると粘度の低い接着剤は自動的に気道
を塞いで修復する。
【0027】その後、通常室温前後で、UV硬化型の封
止用接着剤であれば、紫外線を所定量照射して接着剤を
硬化させ、有機EL素子を得る。得られた有機EL素子
の概略構成を外観平面図として図4に示す。
【0028】次に本発明の有機EL素子を構成する有機
EL構造体について説明する。本発明の有機EL構造体
は、基板上にホール注入電極と、電子注入電極と、これ
らの電極間に設けられた1種以上の有機層とを有する。
有機層は、それぞれ少なくとも1層のホール輸送層およ
び発光層を有し、その上に電子注入電極を有し、さらに
最上層として保護電極を設けてもよい。なお、ホール輸
送層は省略可能である。そして、電子注入電極は、蒸
着、スパッタ法等、好ましくはスパッタ法で成膜される
仕事関数の小さい金属、化合物または合金で構成され
る。
【0029】ホール注入電極としては、通常、基板側か
ら発光した光を取り出す構造であるため、透明な電極が
好ましく、ITO(錫ドープ酸化インジウム)、IZO
(亜鉛ドープ酸化インジウム)、ZnO、SnO2 、I
23 等が挙げられるが、好ましくはITO(錫ドー
プ酸化インジウム)、IZO(亜鉛ドープ酸化インジウ
ム)が好ましい。In2 3 に対しSnO2 の混合比
は、1〜20wt%が好ましく、さらには5〜12wt%が
好ましい。In2 3 に対しZnOの混合比は、1〜2
0wt%が好ましく、さらには5〜12wt%が好ましい。
その他にSn、Ti、Pb等が酸化物の形で、酸化物換
算にして1wt%以下含まれていてもよい。
【0030】ホール注入電極は蒸着法等によっても形成
できるが、好ましくはスパッタ法により形成することが
好ましい。ITO、IZO電極の形成にスパッタ法を用
いる場合、好ましくはIn2 3 にSnO2 やZnOを
ドープしたターゲットを用いる。スパッタ法によりIT
O透明電極を成膜した場合、蒸着により成膜したものよ
り発光輝度の経時変化が少ない。スパッタ法としてはD
Cスパッタが好ましく、その投入電力としては、好まし
くは0.1〜4W/cm2 の範囲が好ましい。特にDCス
パッタ装置の電力としては、好ましくは0.1〜10W
/cm2、特に0.2〜5W/cm2の範囲である。また、成
膜レートは2〜100nm/min 、特に5〜50nm/min
の範囲が好ましい。
【0031】スパッタガスとしては特に限定するもので
はなく、Ar、He、Ne、Kr、Xe等の不活性ガ
ス、あるいはこれらの混合ガスを用いればよい。このよ
うなスパッタガスのスパッタ時における圧力としては、
通常0.1〜20Pa程度でよい。
【0032】ホール注入電極の厚さは、ホール注入を十
分行える一定以上の厚さを有すれば良く、通常5〜50
0nm、特に10〜300nmの範囲が好ましい。
【0033】成膜される電子注入電極の構成材料として
は、電子注入を効果的に行う低仕事関数の物質が好まし
く、例えば、K、Li、Na、Mg、La、Ce、C
a、Sr、Ba、Al、Ag、In、Sn、Zn、Z
r、Cs、Er、Eu、Ga、Hf、Nd、Rb、S
c、Sm、Ta、Y、Yb等の金属元素単体、あるい
は、BaO、BaS、CaO、HfC、LaB6、Mg
O、MoC、NbC、PbS、SrO、TaC、Th
C、ThO2、ThS、TiC、TiN、UC、UN、
UO2、W2C、Y23、ZrC、ZrN、ZrO2等の
化合物を用いると良い。または安定性を向上させるため
には、金属元素を含む2成分、3成分の合金系を用いる
ことが好ましい。合金系としては、例えばAl・Ca
(Ca:5〜20at%)、Al・In(In:1〜10
at%)、Al・Li(Li:0.1〜20at%未満)、
Al・R〔RはY,Scを含む希土類元素を表す〕等の
アルミニウム系合金やIn・Mg(Mg:50〜80at
%)等が好ましい。これらの中でも、特にAl単体やA
l・Li(Li:0.4〜6.5(ただし6.5を含ま
ず)at%)または(Li:6.5〜14at%)、Al・
R(R:0.1〜25、特に0.5〜20at%)等のア
ルミニウム系合金が圧縮応力が発生しにくく好ましい。
したがって、スパッタターゲットとしては、通常このよ
うな電子注入電極構成金属、合金を用いる。これらの仕
事関数は4.5eV以下であり、特に仕事関数が4.0
eV以下の金属、合金が好ましい。
【0034】電子注入電極の成膜にスパッタ法を用いる
ことにより、成膜された電子注入電極膜は、蒸着の場合
と比較して、スパッタされる原子や原子団が比較的高い
運動エネルギーを有するため、表面マイグレーション効
果が働き、有機層界面での密着性が向上する。また、プ
レスパッタを行うことで、真空中で表面酸化物層を除去
したり、逆スパッタにより有機層界面に吸着した水分や
酸素を除去できるので、クリーンな電極−有機層界面や
電極を形成でき、その結果、高品位で安定した有機EL
素子ができる。ターゲットとしては前記組成範囲の合金
や、金属単独でも良く、これらに加えて添加成分のター
ゲットを用いても良い。さらに、蒸気圧の大きく異なる
材料の混合物をターゲットとして用いても、生成する膜
とターゲットとの組成のズレは少なく、蒸着法のように
蒸気圧等による使用材料の制限もない。また、蒸着法に
比較して材料を長時間供給する必要がなく、膜厚や膜質
の均一性に優れ、生産性の点で有利である。
【0035】スパッタ法により形成された電子注入電極
は緻密な膜なので、粗な蒸着膜に比較して膜中への水分
の進入が非常に少なく、化学的安定性が高く、長寿命の
有機EL素子が得られる。
【0036】スパッタ時のスパッタガスの圧力は、好ま
しくは0.1〜5Paの範囲が好ましく、この範囲でスパ
ッタガスの圧力を調節することにより、前記範囲のLi
濃度のAlLi合金を容易に得ることができる。また、
成膜中にスパッタガスの圧力を、前記範囲内で変化させ
ることにより、上記Li濃度勾配を有する電子注入電極
を容易に得ることができる。また、成膜ガス圧力と基板
ターゲット間距離の積が20〜65Pa・cmを満たす成膜
条件にすることが好ましい。
【0037】スパッタガスは、通常のスパッタ装置に使
用される不活性ガスや、反応性スパッタではこれに加え
てN2、H2、O2、C24、NH3等の反応性ガスが使用
可能である。
【0038】スパッタ法としてはRF電源を用いた高周
波スパッタ法等も可能であるが、成膜レートの制御が容
易であり、有機EL素子構造体へのダメージを少なくす
るためにはDCスパッタ法を用いることが好ましい。D
Cスパッタ装置の電力としては、好ましくは0.1〜1
0W/cm2、特に0.5〜7W/cm2の範囲である。ま
た、成膜レートは5〜100nm/min 、特に10〜50
nm/min の範囲が好ましい。
【0039】電子注入電極薄膜の厚さは、電子注入を十
分行える一定以上の厚さとすれば良く、1nm以上、好ま
しくは3nm以上とすればよい。また、その上限値には特
に制限はないが、通常膜厚は3〜500nm程度とすれば
よい。
【0040】本発明の有機EL素子は、電子注入電極の
上、つまり有機層と反対側には保護電極を設けてもよ
い。保護電極を設けることにより、電子注入電極が外気
や水分等から保護され、構成薄膜の劣化が防止され、電
子注入効率が安定し、素子寿命が飛躍的に向上する。ま
た、この保護電極は、非常に低抵抗であり、電子注入電
極の抵抗が高い場合には配線電極としての機能も有す
る。この保護電極は、Al、Alおよび遷移金属(ただ
しTiを除く)、Tiまたは窒化チタン(TiN)のい
ずれか1種または2種以上を含有し、これらを単独で用
いた場合、それぞれ保護電極中に少なくとも、Al:9
0〜100at%、Ti:90〜100at%、TiN:9
0〜100 mol%程度含有されていることが好ましい。
また、2種以上用いるときの混合比は任意であるが、A
lとTiの混合では、Tiの含有量は10at%以下が好
ましい。また、これらを単独で含有する層を積層しても
よい。特にAl、Alおよび遷移金属は、後述の配線電
極として用いた場合、良好な効果が得られ、TiNは耐
腐食性が高く、封止膜としての効果が大きい。TiN
は、その化学量論組成から10%程度偏倚していてもよ
い。さらに、Alおよび遷移金属の合金は、遷移金属、
特にSc,Nb,Zr,Hf,Nd,Ta,Cu,S
i,Cr,Mo,Mn,Ni,Pd,PtおよびW等
を、好ましくはこれらの総計が10at%以下、特に5at
%以下、特に2at%以下含有していてもよい。遷移金属
の含有量は少ないほど、配線材として機能させた場合の
薄膜抵抗は下げられる。
【0041】保護電極の厚さは、電子注入効率を確保
し、水分や酸素あるいは有機溶媒の進入を防止するた
め、一定以上の厚さとすればよく、好ましくは50nm以
上、さらに100nm以上、特に100〜1000nmの範
囲が好ましい。保護電極層が薄すぎると、本発明の効果
が得られず、また、保護電極層の段差被覆性が低くなっ
てしまい、端子電極との接続が十分ではなくなる。一
方、保護電極層が厚すぎると、保護電極層の応力が大き
くなるため、ダークスポットの成長速度が高くなってし
まう。なお、配線電極として機能させる場合の厚さは、
電子注入電極の膜厚が薄いために膜抵抗が高く、これを
補う場合には、通常100〜500nm 程度、その他の
配線電極として機能される場合には100〜300nm程
度である。
【0042】電子注入電極と保護電極とを併せた全体の
厚さとしては、特に制限はないが、通常100〜100
0nm程度とすればよい。
【0043】電極成膜後に、前記保護電極に加えて、S
iOX 等の無機材料、テフロン、塩素を含むフッ化炭素
重合体等の有機材料等を用いた保護膜を形成してもよ
い。保護膜は透明でも不透明であってもよく、保護膜の
厚さは50〜1200nm程度とする。保護膜は前記した
反応性スパッタ法の他に、一般的なスパッタ法、蒸着
法、PECVD法等により形成すればよい。
【0044】そして、素子の有機層や電極の酸化を防ぐ
ために素子上に封止板を配置する。封止板は、湿気等の
侵入を防ぐために前記の封止用接着材を用いて、ガラス
板等の封止板を接着し密封する。ガラス板以外にも金属
板、プラスチック板等を用いることもできる。
【0045】次に、本発明のEL素子に設けられる有機
物層について述べる。
【0046】発光層は、ホール(正孔)および電子の注
入機能、それらの輸送機能、ホールと電子の再結合によ
り励起子を生成させる機能を有する。発光層には比較的
電子的にニュートラルな化合物を用いることが好まし
い。
【0047】ホール注入輸送層は、ホール注入電極から
のホールの注入を容易にする機能、ホールを安定に輸送
する機能および電子を妨げる機能を有し、電子注入輸送
層は、陰電極からの電子の注入を容易にする機能、電子
を安定に輸送する機能およびホールを妨げる機能を有す
るものであり、これらの層は、発光層に注入されるホー
ルや電子を増大・閉じこめさせ、再結合領域を最適化さ
せ、発光効率を改善する。
【0048】発光層の厚さ、ホール注入輸送層の厚さお
よび電子注入輸送層の厚さは特に限定されず、形成方法
によっても異なるが、通常、5〜500nm程度、特に1
0〜300nmとすることが好ましい。
【0049】ホール注入輸送層の厚さおよび電子注入輸
送層の厚さは、再結合・発光領域の設計によるが、発光
層の厚さと同程度もしくは1/10〜10倍程度とすれ
ばよい。ホールもしくは電子の、各々の注入層と輸送層
を分ける場合は、注入層は1nm以上、輸送層は1nm以上
とするのが好ましい。このときの注入層、輸送層の厚さ
の上限は、通常、注入層で500nm程度、輸送層で50
0nm程度である。このような膜厚については注入輸送層
を2層設けるときも同じである。
【0050】本発明の有機EL素子の発光層には発光機
能を有する化合物である蛍光性物質を含有させる。この
ような蛍光性物質としては、例えば、特開昭63−26
4692号公報に開示されているような化合物、例えば
キナクリドン、ルブレン、スチリル系色素等の化合物か
ら選択される少なくとも1種が挙げられる。また、トリ
ス(8−キノリノラト)アルミニウム等の8−キノリノ
ールないしその誘導体を配位子とする金属錯体色素など
のキノリン誘導体、テトラフェニルブタジエン、アント
ラセン、ペリレン、コロネン、12−フタロペリノン誘
導体等が挙げられる。さらには、特願平6−11056
9号のフェニルアントラセン誘導体、特願平6−114
456号のテトラアリールエテン誘導体等を用いること
ができる。
【0051】また、それ自体で発光が可能なホスト物質
と組み合わせて使用することが好ましく、ドーパントと
しての使用が好ましい。このような場合の発光層におけ
る化合物の含有量は0.01〜10wt% 、さらには0.
1〜5wt% であることが好ましい。ホスト物質と組み合
わせて使用することによって、ホスト物質の発光波長特
性を変化させることができ、長波長に移行した発光が可
能になるとともに、素子の発光効率や安定性が向上す
る。
【0052】ホスト物質としては、キノリノラト錯体が
好ましく、さらには8−キノリノールないしその誘導体
を配位子とするアルミニウム錯体が好ましい。このよう
なアルミニウム錯体としては、特開昭63−26469
2号、特開平3−255190号、特開平5−7073
3号、特開平5−258859号、特開平6−2158
74号等に開示されているものを挙げることができる。
【0053】具体的には、まず、トリス(8−キノリノ
ラト)アルミニウム、ビス(8−キノリノラト)マグネ
シウム、ビス(ベンゾ{f}−8−キノリノラト)亜
鉛、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)アルミニウ
ムオキシド、トリス(8−キノリノラト)インジウム、
トリス(5−メチル−8−キノリノラト)アルミニウ
ム、8−キノリノラトリチウム、トリス(5−クロロ−
8−キノリノラト)ガリウム、ビス(5−クロロ−8−
キノリノラト)カルシウム、5,7−ジクロル−8−キ
ノリノラトアルミニウム、トリス(5,7−ジブロモ−
8−ヒドロキシキノリノラト)アルミニウム、ポリ[亜
鉛(II)−ビス(8−ヒドロキシ−5−キノリニル)メ
タン]、等がある。
【0054】また、8−キノリノールないしその誘導体
のほかに他の配位子を有するアルミニウム錯体であって
もよく、このようなものとしては、ビス(2−メチル−
8−キノリノラト)(フェノラト)アルミニウム(III)
、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(オルト−
クレゾラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−
8−キノリノラト)(メタークレゾラト)アルミニウム
(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(パラ
−クレゾラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル
−8−キノリノラト)(オルト−フェニルフェノラト)
アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノ
ラト)(メタ−フェニルフェノラト)アルミニウム(II
I) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(パラ−
フェニルフェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−
メチル−8−キノリノラト)(2,3−ジメチルフェノ
ラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キ
ノリノラト)(2,6−ジメチルフェノラト)アルミニ
ウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)
(3,4−ジメチルフェノラト)アルミニウム(III) 、
ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(3,5−ジメ
チルフェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチ
ル−8−キノリノラト)(3,5−ジ−tert−ブチルフ
ェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8
−キノリノラト)(2,6−ジフェニルフェノラト)ア
ルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラ
ト)(2,4,6−トリフェニルフェノラト)アルミニ
ウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)
(2,3,6−トリメチルフェノラト)アルミニウム(I
II) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(2,
3,5,6−テトラメチルフェノラト)アルミニウム(I
II) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(1−ナ
フトラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8
−キノリノラト)(2−ナフトラト)アルミニウム(II
I) 、ビス(2,4−ジメチル−8−キノリノラト)
(オルト−フェニルフェノラト)アルミニウム(III) 、
ビス(2,4−ジメチル−8−キノリノラト)(パラ−
フェニルフェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2,
4−ジメチル−8−キノリノラト)(メタ−フェニルフ
ェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2,4−ジメチ
ル−8−キノリノラト)(3,5−ジメチルフェノラ
ト)アルミニウム(III) 、ビス(2,4−ジメチル−8
−キノリノラト)(3,5−ジ−tert−ブチルフェノラ
ト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−4−エチ
ル−8−キノリノラト)(パラ−クレゾラト)アルミニ
ウム(III) 、ビス(2−メチル−4−メトキシ−8−キ
ノリノラト)(パラ−フェニルフェノラト)アルミニウ
ム(III) 、ビス(2−メチル−5−シアノ−8−キノリ
ノラト)(オルト−クレゾラト)アルミニウム(III) 、
ビス(2−メチル−6−トリフルオロメチル−8−キノ
リノラト)(2−ナフトラト)アルミニウム(III) 等が
ある。
【0055】このほか、ビス(2−メチル−8−キノリ
ノラト)アルミニウム(III) −μ−オキソ−ビス(2−
メチル−8−キノリノラト)アルミニウム(III) 、ビス
(2,4−ジメチル−8−キノリノラト)アルミニウム
(III) −μ−オキソ−ビス(2,4−ジメチル−8−キ
ノリノラト)アルミニウム(III) 、ビス(4−エチル−
2−メチル−8−キノリノラト)アルミニウム(III) −
μ−オキソ−ビス(4−エチル−2−メチル−8−キノ
リノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−4
−メトキシキノリノラト)アルミニウム(III) −μ−オ
キソ−ビス(2−メチル−4−メトキシキノリノラト)
アルミニウム(III) 、ビス(5−シアノ−2−メチル−
8−キノリノラト)アルミニウム(III) −μ−オキソ−
ビス(5−シアノ−2−メチル−8−キノリノラト)ア
ルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−5−トリフルオ
ロメチル−8−キノリノラト)アルミニウム(III) −μ
−オキソ−ビス(2−メチル−5−トリフルオロメチル
−8−キノリノラト)アルミニウム(III) 等であっても
よい。
【0056】このほかのホスト物質としては、特願平6
−110569号に記載のフェニルアントラセン誘導体
や特願平6−114456号に記載のテトラアリールエ
テン誘導体なども好ましい。
【0057】発光層は電子注入輸送層を兼ねたものであ
ってもよく、このような場合はトリス(8−キノリノラ
ト)アルミニウム等を使用することが好ましい。これら
の蛍光性物質を蒸着すればよい。
【0058】また、必要に応じて発光層は、少なくとも
一種以上のホール注入輸送性化合物と少なくとも1種以
上の電子注入輸送性化合物との混合層とすることも好ま
しく、この混合層中にドーパントを含有させることが好
ましい。このような混合層における化合物の含有量は、
0.01〜20wt% 、さらには0.1〜15wt% とする
ことが好ましい。
【0059】混合層では、キャリアのホッピング伝導パ
スができるため、各キャリアは極性的に優勢な物質中を
移動し、逆の極性のキャリア注入は起こり難くなり、有
機化合物がダメージを受け難くなり、素子寿命がのびる
という利点があるが、前述のドーパントをこのような混
合層に含有させることにより、混合層自体のもつ発光波
長特性を変化させることができ、発光波長を長波長に移
行させることができるとともに、発光強度を高め、かつ
素子の安定性を向上させることができる。
【0060】混合層に用いられるホール注入輸送性化合
物および電子注入輸送性化合物は、各々、後述のホール
注入輸送層用の化合物および電子注入輸送層用の化合物
の中から選択すればよい。なかでも、ホール注入輸送層
用の化合物としては、強い蛍光を持ったアミン誘導体、
例えばホール輸送材料であるトリフェニルジアミン誘導
体、さらにはスチリルアミン誘導体、芳香族縮合環を持
つアミン誘導体を用いるのが好ましい。
【0061】電子注入輸送性の化合物としては、キノリ
ン誘導体、さらには8−キノリノールないしその誘導体
を配位子とする金属錯体、特にトリス(8−キノリノラ
ト)アルミニウム(Alq3)を用いることが好まし
い。また、上記のフェニルアントラセン誘導体、テトラ
アリールエテン誘導体を用いるのも好ましい。
【0062】ホール注入輸送層用の化合物としては、強
い蛍光を持ったアミン誘導体、例えば上記のホール輸送
材料であるトリフェニルジアミン誘導体、さらにはスチ
リルアミン誘導体、芳香族縮合環を持つアミン誘導体を
用いるのが好ましい。
【0063】この場合の混合比は、それぞれのキャリア
移動度とキャリア濃度を考慮する事で決定するが、一般
的には、ホール注入輸送性化合物の化合物/電子注入輸
送機能を有する化合物の重量比が、1/99〜99/
1、さらには10/90〜90/10、特には20/8
0〜80/20程度となるようにすることが好ましい。
【0064】また、混合層の厚さは、分子層一層に相当
する厚みから、有機化合物層の膜厚未満とすることが好
ましく、具体的には1〜85nmとすることが好ましく、
さらには5〜60nm、特には5〜50nmとすることが好
ましい。
【0065】また、混合層の形成方法としては、異なる
蒸着源より蒸発させる共蒸着が好ましいが、蒸気圧(蒸
発温度)が同程度あるいは非常に近い場合には、予め同
じ蒸着ボード内で混合させておき、蒸着することもでき
る。混合層は化合物同士が均一に混合している方が好ま
しいが、場合によっては、化合物が島状に存在するもの
であってもよい。発光層は、一般的には、有機蛍光物質
を蒸着するか、あるいは樹脂バインダー中に分散させて
コーティングすることにより、発光層を所定の厚さに形
成する。
【0066】また、ホール注入輸送層には、例えば、特
開昭63−295695号公報、特開平2−19169
4号公報、特開平3−792号公報、特開平5−234
681号公報、特開平5−239455号公報、特開平
5−299174号公報、特開平7−126225号公
報、特開平7−126226号公報、特開平8−100
172号公報、EP0650955A1等に記載されて
いる各種有機化合物を用いることができる。例えば、テ
トラアリールベンジシン化合物(トリアリールジアミン
ないしトリフェニルジアミン:TPD)、芳香族三級ア
ミン、ヒドラゾン誘導体、カルバゾール誘導体、トリア
ゾール誘導体、イミダゾール誘導体、アミノ基を有する
オキサジアゾール誘導体、ポリチオフェン等である。こ
れらの化合物は2種以上を併用してもよく、併用すると
きは別層にして積層したり、混合したりすればよい。
【0067】ホール注入輸送層をホール注入層とホール
輸送層とに分けて設層する場合は、ホール注入輸送層用
の化合物のなかから好ましい組合せを選択して用いるこ
とができる。このとき、ホール注入電極(ITO等)側
からイオン化ポテンシャルの小さい化合物の層の順に積
層することが好ましい。また陽電極表面には薄膜性の良
好な化合物を用いることが好ましい。このような積層順
については、ホール注入輸送層を2層以上設けるときも
同様である。このような積層順とすることによって、駆
動電圧が低下し、電流リークの発生やダークスポットの
発生・成長を防ぐことができる。また、素子化する場
合、蒸着を用いているので1〜10nm程度の薄い膜も、
均一かつピンホールフリーとすることができるため、ホ
ール注入層にイオン化ポテンシャルが小さく、可視部に
吸収をもつような化合物を用いても、発光色の色調変化
や再吸収による効率の低下を防ぐことができる。ホール
注入輸送層は、発光層等と同様に上記の化合物を蒸着す
ることにより形成することができる。
【0068】また、必要に応じて設けられる電子注入輸
送層には、トリス(8−キノリノラト)アルミニウム
(Alq3)等の8−キノリノールなしいその誘導体を
配位子とする有機金属錯体などのキノリン誘導体、オキ
サジアゾール誘導体、ペリレン誘導体、ピリジン誘導
体、ピリミジン誘導体、キノキサリン誘導体、ジフェニ
ルキノン誘導体、ニトロ置換フルオレン誘導体等を用い
ることができる。電子注入輸送層は発光層を兼ねたもの
であってもよく、このような場合はトリス(8−キノリ
ノラト)アルミニウム等を使用することが好ましい。電
子注入輸送層の形成は発光層と同様に蒸着等によればよ
い。
【0069】電子注入輸送層を電子注入層と電子輸送層
とに分けて積層する場合には、電子注入輸送層用の化合
物の中から好ましい組み合わせを選択して用いることが
できる。このとき、電子注入電極側から電子親和力の値
の大きい化合物の順に積層することが好ましい。このよ
うな積層順については電子注入輸送層を2層以上設ける
ときも同様である。
【0070】基板に色フィルター膜や蛍光性物質を含む
色変換膜、あるいは誘電体反射膜を用いて発光色をコン
トロールしてもよい。
【0071】色フィルター膜には、液晶ディスプレイ等
で用いられているカラーフィルターを用いれば良いが、
有機ELの発光する光に合わせてカラーフィルターの特
性を調整し、取り出し効率・色純度を最適化すればよ
い。
【0072】また、EL素子材料や蛍光変換層が光吸収
するような短波長の外光をカットできるカラーフィルタ
ーを用いれば、素子の耐光性・表示のコントラストも向
上する。
【0073】また、誘電体多層膜のような光学薄膜を用
いてカラーフィルターの代わりにしても良い。
【0074】蛍光変換フィルター膜は、EL発光の光を
吸収し、蛍光変換膜中の蛍光体から光を放出させること
で、発光色の色変換を行うものであるが、組成として
は、バインダー、蛍光材料、光吸収材料の三つから形成
される。
【0075】蛍光材料は、基本的には蛍光量子収率が高
いものを用いれば良く、EL発光波長域に吸収が強いこ
とが望ましい。実際には、レーザー色素などが適してお
り、ローダミン系化合物・ペリレン系化合物・シアニン
系化合物・フタロシアニン系化合物(サブフタロ等も含
む)ナフタロイミド系化合物・縮合環炭化水素系化合物
・縮合複素環系化合物・スチリル系化合物・クマリン系
化合物等を用いればよい。
【0076】バインダーは基本的に蛍光を消光しないよ
うな材料を選べば良く、フォトリソグラフィー・印刷等
で微細なパターニングが出来るようなものが好ましい。
また、ITO、IZOの成膜時にダメージを受けないよ
うな材料が好ましい。
【0077】光吸収材料は、蛍光材料の光吸収が足りな
い場合に用いるが、必要の無い場合は用いなくても良
い。また、光吸収材料は、蛍光性材料の蛍光を消光しな
いような材料を選べば良い。
【0078】ホール注入輸送層、発光層および電子注入
輸送層の形成には、均質な薄膜が形成できることから真
空蒸着法を用いることが好ましい。真空蒸着法を用いた
場合、アモルファス状態または結晶粒径が0.1μm 以
下の均質な薄膜が得られる。結晶粒径が0.1μm を超
えていると、不均一な発光となり、素子の駆動電圧を高
くしなければならなくなり、電荷の注入効率も著しく低
下する。
【0079】真空蒸着の条件は特に限定されないが、1
-4Pa以下の真空度とし、蒸着速度は0.01〜1nm/
sec 程度とすることが好ましい。また、真空中で連続し
て各層を形成することが好ましい。真空中で連続して形
成すれば、各層の界面に不純物が吸着することを防げる
ため、高特性が得られる。また、素子の駆動電圧を低く
したり、ダークスポットの成長・発生を抑えたりするこ
とができる。
【0080】これら各層の形成に真空蒸着法を用いる場
合において、1層に複数の化合物を含有させる場合、化
合物を入れた各ボートを個別に温度制御して共蒸着する
ことが好ましい。
【0081】本発明の有機EL素子は、通常、直流駆動
型のEL素子として用いられるが、交流駆動またはパル
ス駆動とすることもできる。印加電圧は、通常、2〜2
0V程度とされる。
【0082】
【実施例】次に実施例を示し、本発明をより具体的に説
明する。 <実験例1>紫外線硬化型エポキシ樹脂接着剤として市
販されているスリーボンド製の30Y296を用い、温
度を20〜80℃と変化させたときの粘度を測定した。
結果を図5に示す。
【0083】図5から明らかなように、温度の上昇と共
に接着剤の粘度が上昇して行き、40℃で40000cP
程度まで粘度が低下し、その後も温度の上昇と共に粘度
が低下していることがわかる。
【0084】<実施例1>コーニング社製7059ガラ
ス基板上に、ITO透明電極(ホール注入電極)を膜厚
85nmで64ドット×7ラインの画素(一画素当たり2
80×280μm)を構成するよう成膜、パターニング
した。次いで、パターニングされたホール注入電極が形
成された基板を、中性洗剤、アセトン、エタノールを用
いて超音波洗浄し、煮沸エタノール中から引き上げて乾
燥した。次いで、表面をUV/O3洗浄した後、真空蒸
着装置の基板ホルダーに固定して、槽内を1×10-4Pa
以下まで減圧した。4,4’,4”−トリス(−N−
(3−メチルフェニル)−N−フェニルアミノ)トリフ
ェニルアミン(m−MTDATA)を蒸着速度0.2nm
/sec で40nmの厚さに蒸着し、ホール注入層とし、次
いで減圧状態を保ったまま、N,N’−ジフェニル−
N,N’−m−トリル−4,4’−ジアミノ−1,1’
−ビフェニル(以下、TPD)を蒸着速度0.2nm/se
c で35nmの厚さに蒸着し、ホール輸送層とした。さら
に、減圧を保ったまま、トリス(8−キノリノラト)ア
ルミニウム(以下、Alq3 )を蒸着速度0.2nm/sec
で50nmの厚さに蒸着して、電子注入輸送・発光層と
した。次いで減圧を保ったまま、MgAgを共蒸着(2
元蒸着)で蒸着速度比Mg:Ag=1:10にて200
nmの厚さに成膜し、電子注入電極とした。さらに、減圧
を保ったまま、このEL素子基板をスパッタ装置に移
し、Alターゲットを用いたDCスパッタ法により、ス
パッタ圧力0.3PaにてAl保護電極を200nmの厚さ
に成膜した。この時スパッタガスにはArを用い、投入
電力は500W、ターゲットの大きさは4インチ径、基
板とターゲットの距離は90mmとした。
【0085】得られた有機EL構造体の積層された基板
上に、図1〜3と同様にして、封止板を接着した。すな
わち、封止板として、別のコーニング社製7059ガラ
スに、紫外線硬化型エポキシ樹脂接着剤として市販され
ているスリーボンド製の30Y184Gを用い、これを
未硬化の状態で100mg塗布した。封止用接着剤の塗布
された封止板を基板上に配置し、これを重ね合わせて、
40℃に加熱した。次いで、3kg/cm2 の圧力で加圧
し、ガラス基板と封止板間にスペーサーの大きさに相当
する接着剤の薄層を形成し、密封した。このとき、接着
剤中には7μm のスペーサを1wt%分散させ、接着剤の
膜厚が7μm となるようにした。同様にして、60℃、
80℃に加熱して封止板を張り合わせたサンプルを作製
した。
【0086】得られた各有機EL素子の接着剤層の接着
時(熱圧接時)の粘度、接着後の膜厚を測定しそのバラ
ツキを求めた。また、得られた各サンプルについて、大
気雰囲気中で直流電圧を印加し、10mA/cm2 の定電流
密度で、温度65℃、湿度90%の加速条件下で300
時間保存した後、同一条件で駆動させ、ダークスポット
の発生、駆動電圧の上昇について評価した。結果を表1
に示す。なお、加熱により有機層にダメージを受けた素
子ほど駆動電圧が上昇する傾向にある。
【0087】
【表1】
【0088】<比較例1>実施例1において、封止板の
貼り合わせ時の加熱温度を、それぞれ25℃、100
℃、120℃とした他は実施例1と同様にして各有機E
L素子を得た。得られた有機EL素子について実施例1
と同様にして評価した。結果を表1に示す。
【0089】表1から明らかなように、本発明方法によ
り得られた有機EL素子は、ダークスポットの径、個数
とも比較サンプルのものより格段に減少していることが
わかる。また、駆動電圧も減少する傾向にあり、素子が
長寿化する傾向にあることが伺える。
【0090】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、水等の外
部環境の影響を極力排除でき、経時劣化が少なく、初期
性能を長期間維持できる長寿命の有機EL素子を提供可
能となった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の有機EL素子の封止板接着時の具体的
な構成例を示した概略断面図で、封止板を基板上に配置
した状態を示した図である。
【図2】本発明の有機EL素子の封止板接着時の具体的
な構成例を示した概略断面図で、封止板を基板上に重ね
合わせた状態を示した図である。
【図3】本発明の有機EL素子の封止板接着時の具体的
な構成例を示した概略断面図で、封止板を基板上に圧接
した状態を示した図である。
【図4】本発明の有機EL素子の具体的な構成例を示し
た平面図でである。
【図5】接着剤の粘度と温度の関係を示したグラフであ
る。
【符号の説明】
2 接着剤 3 スペーサ 4 封止板 5 基板 6 有機EL構造体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 海老沢 晃 東京都中央区日本橋一丁目13番1号 ティ ーディーケイ株式会社内 (72)発明者 染谷 拓 東京都中央区日本橋一丁目13番1号 ティ ーディーケイ株式会社内

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 有機EL構造体が積層された基板上に、 封止用接着剤を介して封止板を配置し、 前記封止用接着剤を粘度が40000cP以下となる温度
    に加熱し、前記封止板を基板に圧着する有機EL素子の
    製造方法。
  2. 【請求項2】 前記封止用接着剤を、粘度が1000〜
    40000cPとなる温度に加熱し、前記封止板を基板に
    圧着する請求項1の有機EL素子の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記封止用接着剤は、40〜80℃に加
    熱する請求項1または2の有機EL素子の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記封止用接着剤は、25℃の粘度が1
    00000cP以上である請求項1〜3のいずれかの有機
    EL素子の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記封止用接着剤は粒状のスペーサーを
    含有する請求項1〜4のいずれかの有機EL素子の製造
    方法。
  6. 【請求項6】 前記封止用接着剤はカチオン重合エポキ
    シUV硬化型接着剤である請求項1〜5のいずれかの有
    機EL素子の製造方法。
JP9297886A 1997-10-15 1997-10-15 有機el素子およびその製造方法 Withdrawn JPH11121170A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9297886A JPH11121170A (ja) 1997-10-15 1997-10-15 有機el素子およびその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9297886A JPH11121170A (ja) 1997-10-15 1997-10-15 有機el素子およびその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11121170A true JPH11121170A (ja) 1999-04-30

Family

ID=17852391

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9297886A Withdrawn JPH11121170A (ja) 1997-10-15 1997-10-15 有機el素子およびその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11121170A (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000133439A (ja) * 1998-10-22 2000-05-12 Minolta Co Ltd 有機電界発光素子の製造方法及び有機電界発光素子
KR20030003120A (ko) * 2001-06-29 2003-01-09 산요 덴키 가부시키가이샤 일렉트로 루미네센스 표시 패널의 제조 방법
KR20030072235A (ko) * 2002-03-04 2003-09-13 산요덴키가부시키가이샤 표시 장치의 제조 방법
JP2004103337A (ja) * 2002-09-06 2004-04-02 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置およびその作製方法
KR100510003B1 (ko) * 2001-06-29 2005-08-26 산요덴키가부시키가이샤 표시용 패널의 제조 방법
KR100521285B1 (ko) * 2001-06-29 2005-10-17 산요덴키가부시키가이샤 표시용 패널의 제조 방법
JP2006106036A (ja) * 2004-09-30 2006-04-20 Tdk Corp パネルの製造方法
JP2006179318A (ja) * 2004-12-22 2006-07-06 Three Bond Co Ltd 有機el素子封止用熱硬化型組成物
US7550173B2 (en) 2001-01-17 2009-06-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Luminescent device and method of manufacturing same
JP2010140845A (ja) * 2008-12-15 2010-06-24 Casio Computer Co Ltd 発光パネル及びその製造方法
CN101867024A (zh) * 2010-06-01 2010-10-20 友达光电股份有限公司 封装方法
WO2011114882A1 (ja) * 2010-03-17 2011-09-22 コニカミノルタホールディングス株式会社 有機エレクトロルミネッセンスパネル及び有機エレクトロルミネッセンスパネルの製造方法
WO2013073067A1 (ja) * 2011-11-17 2013-05-23 三菱重工業株式会社 有機elパネルの製造方法及び有機elパネルの封止装置

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000133439A (ja) * 1998-10-22 2000-05-12 Minolta Co Ltd 有機電界発光素子の製造方法及び有機電界発光素子
US7550173B2 (en) 2001-01-17 2009-06-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Luminescent device and method of manufacturing same
KR100510003B1 (ko) * 2001-06-29 2005-08-26 산요덴키가부시키가이샤 표시용 패널의 제조 방법
KR100521285B1 (ko) * 2001-06-29 2005-10-17 산요덴키가부시키가이샤 표시용 패널의 제조 방법
KR20030003120A (ko) * 2001-06-29 2003-01-09 산요 덴키 가부시키가이샤 일렉트로 루미네센스 표시 패널의 제조 방법
KR20030072235A (ko) * 2002-03-04 2003-09-13 산요덴키가부시키가이샤 표시 장치의 제조 방법
JP2004103337A (ja) * 2002-09-06 2004-04-02 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置およびその作製方法
JP2006106036A (ja) * 2004-09-30 2006-04-20 Tdk Corp パネルの製造方法
JP2006179318A (ja) * 2004-12-22 2006-07-06 Three Bond Co Ltd 有機el素子封止用熱硬化型組成物
JP2010140845A (ja) * 2008-12-15 2010-06-24 Casio Computer Co Ltd 発光パネル及びその製造方法
WO2011114882A1 (ja) * 2010-03-17 2011-09-22 コニカミノルタホールディングス株式会社 有機エレクトロルミネッセンスパネル及び有機エレクトロルミネッセンスパネルの製造方法
CN101867024A (zh) * 2010-06-01 2010-10-20 友达光电股份有限公司 封装方法
WO2013073067A1 (ja) * 2011-11-17 2013-05-23 三菱重工業株式会社 有機elパネルの製造方法及び有機elパネルの封止装置
CN103947292A (zh) * 2011-11-17 2014-07-23 三菱重工业株式会社 有机el面板的制造方法及有机el面板的封固装置
US20140311668A1 (en) * 2011-11-17 2014-10-23 Yuji Yanagi Method for producing organic el panel and device for sealing organic el panel
TWI500197B (zh) * 2011-11-17 2015-09-11 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Organic EL panel manufacturing method and organic EL panel sealing device
US9661718B2 (en) 2011-11-17 2017-05-23 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Method for producing organic EL panel and device for sealing organic EL panel

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6259204B1 (en) Organic electroluminescent device
JP2000003783A (ja) 有機el表示装置
JPH11195487A (ja) 有機el素子
EP0899987A1 (en) Organic electroluminescent device
JPH1187068A (ja) 有機el素子およびその製造方法
JPH1131590A (ja) 有機el素子
JPH1145779A (ja) 有機el素子の製造方法および装置
JPH11307259A (ja) 有機el素子
JP4059968B2 (ja) 有機el素子の製造方法
JP4246830B2 (ja) 有機el素子
JPH04212287A (ja) 有機薄膜el素子
JP3411864B2 (ja) 有機el表示装置
JPH11121170A (ja) 有機el素子およびその製造方法
JPH1167444A (ja) 有機el素子
JP3288242B2 (ja) 有機エレクトロルミネッセンス表示装置およびその製造方法
JP2000113976A (ja) 有機el素子
JPH1140365A (ja) 有機el素子およびその製造方法
JPH11176571A (ja) 有機el素子の製造方法
JPH1140352A (ja) 有機el素子およびその製造方法
JP2001035667A (ja) 有機el素子
JPH11195484A (ja) 有機el素子
JPH11214152A (ja) 有機el素子
JP2000277254A (ja) 有機el素子
JP3288276B2 (ja) 有機el素子
JPH11260546A (ja) 有機el素子

Legal Events

Date Code Title Description
RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20040601

A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20050104