JPH11109390A - Liquid crystal display device - Google Patents

Liquid crystal display device

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Publication number
JPH11109390A
JPH11109390A JP9266010A JP26601097A JPH11109390A JP H11109390 A JPH11109390 A JP H11109390A JP 9266010 A JP9266010 A JP 9266010A JP 26601097 A JP26601097 A JP 26601097A JP H11109390 A JPH11109390 A JP H11109390A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
substrate
liquid crystal
insulating film
pixel electrode
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP9266010A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yumiko Yamada
ゆみ子 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP9266010A priority Critical patent/JPH11109390A/en
Publication of JPH11109390A publication Critical patent/JPH11109390A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make a liquid crystal display device high in aperture ratio and improved in picture quality by providing a reflector having a random ruggedness on a surface opposed to a substrate, first electrode oppositely arranged on the random rugged surface between the substrate and the reflector, and a second electrode placed opposite to the first in the manner of covering it through an insulating film. SOLUTION: A storage capacity auxiliary electrode 8 is electrically connected to a pixel electrode 10 in a contact hole provided in an inter-layer insulating film 11, with an auxiliary capacity formed between it and the auxiliary capacity line 5. In other words, the ruggedness of the pixel electrode 10 is formed by that of the inter-layer insulating film 11; each recessed part of the pixel electrode 10 positioned on the auxiliary capacity line 5 is brought into contact with the storage capacity auxiliary electrode 8, by means of the contact hole provided in this inter-layer insulating film 11, with the auxiliary electrode 8 electrically connected to the pixel electrode 10. The flat part on the TFT area of this inter-layer insulating film 11 is also formed with a light shielding film 12 made of a black resin. In addition, a columnar spacer 13 is arranged on the light shielding film 12 in the TFT area.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、反射型の液晶表
示装置に関する。
The present invention relates to a reflection type liquid crystal display device.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、薄型軽量、低消費電力という大き
な利点をもつ液晶表示装置は、日本語ワードプロセッ
サ、ノート型パーソナルコンピュータ等のパーソナルO
A機器の表示装置や、テレビ等の映像表示装置として積
極的に用いられている。
2. Description of the Related Art In recent years, liquid crystal display devices having great advantages such as thin and light weight and low power consumption have been developed for personal computers such as Japanese word processors and notebook personal computers.
It is actively used as a display device of the A-device and a video display device such as a television.

【0003】特に、反射型液晶表示装置は、表示装置自
体では照明光を持たず、外光により表示できることか
ら、消費電力を小さくすることができるため、電池によ
って駆動するポータブル・タイプ・コンピュータや電子
手帳などのディスプレイとして需要がますます拡大して
いる。
In particular, a reflection type liquid crystal display device does not have illumination light by itself and can display by external light, so that power consumption can be reduced. Therefore, a portable type computer or an electronic device driven by a battery can be used. Demand for displays such as notebooks is increasing.

【0004】例えば、特開平6−273800号公報に
は、液晶パネル内部に反射板を設けた反射型液晶表示装
置が記載されている。
For example, JP-A-6-273800 describes a reflection type liquid crystal display device in which a reflection plate is provided inside a liquid crystal panel.

【0005】この反射型液晶表示装置は、対向する1対
の透光性基板間に液晶層を介在させて形成される。1対
の透光性基板のうちの一方がアレイ基板で、画素電極と
スイッチング素子が形成されている。この画素電極は反
射板でもあり、凹凸を有し、他方の基板側からの入射光
を反射する。画素電極の配置は液晶層側表面であって、
かつ前記スイッチング素子部を含む領域に形成された絶
縁膜上に形成される。また、画素電極は隣り合う画素電
極間に相互に電気絶縁状態を保つ範囲の間隔をあけて、
かつスイッチング素子部と画素電極の間でチャネルを形
成して導通することのない領域に形成される。さらに、
前記絶縁膜上の所定の領域には画素電極との間に相互に
電気絶縁状態を保つ範囲の隙間をあけて遮光膜が形成さ
れる。この遮光膜も反射板を兼ねているため、凹凸が有
る形状をしている。この反射型液晶表示装置では、遮光
膜が反射板を兼ねているため視差がなく、また、画素上
置き構造になっているため表示面積を大きくすることが
できる。また、スイッチング素子部に入射する光は、遮
光膜によって遮光されるので、スイッチング素子の光リ
ークが起こらない。
[0005] This reflection type liquid crystal display device is formed with a liquid crystal layer interposed between a pair of opposing translucent substrates. One of the pair of translucent substrates is an array substrate on which pixel electrodes and switching elements are formed. This pixel electrode is also a reflector, has irregularities, and reflects incident light from the other substrate side. The arrangement of the pixel electrodes is on the liquid crystal layer side surface,
In addition, it is formed on an insulating film formed in a region including the switching element portion. In addition, the pixel electrodes are spaced apart from each other between adjacent pixel electrodes so as to maintain a mutually electrically insulated state,
In addition, a channel is formed between the switching element portion and the pixel electrode to form a region that is not conductive. further,
A light-shielding film is formed in a predetermined region on the insulating film with a gap between the pixel electrode and the pixel electrode in a range for maintaining an electrical insulation state therebetween. Since this light-shielding film also serves as a reflector, it has a shape with irregularities. In this reflection type liquid crystal display device, there is no parallax because the light shielding film also serves as the reflection plate, and the display area can be increased because of the pixel-placed structure. Further, light incident on the switching element is shielded by the light shielding film, so that light leakage of the switching element does not occur.

【0006】しかし、この方法では遮光膜(金属)は電
気的にフローティング状態にあり、TFT素子の特性が
不安定になりやすい。また、素子との間に介在する絶縁
膜も凹凸形状になっていることから、部分的に薄くなっ
ているため、素子との絶縁特性にばらつきがあり、素子
特性が不安定になり、画質が劣化しやすい。また、遮光
膜と画素電極が同層であることから電気的導通がないよ
う十分な間隔を開けねばならず、開口率的に不利である
という問題点があった。
However, in this method, the light-shielding film (metal) is in an electrically floating state, and the characteristics of the TFT element tend to be unstable. Also, since the insulating film interposed between the device and the device is also uneven, the insulating film is partially thinned. Easy to deteriorate. In addition, since the light-shielding film and the pixel electrode are in the same layer, a sufficient interval must be provided so that there is no electrical conduction, which is disadvantageous in terms of aperture ratio.

【0007】この他、従来、スイッチング素子の光リー
ク対策は、画素電極を延在してスイッチング素子上を覆
う、あるいは対向基板上に遮光膜を設けるなどの方法が
あるが、いずれもスイッチング素子特性に影響が出た
り、開口率的に不利になるなどの問題点があった。
[0007] In addition, conventionally, there are methods of extending the pixel electrode to cover the switching element or providing a light-shielding film on the opposing substrate to prevent light leakage of the switching element. And there is a problem that the aperture ratio is disadvantageous.

【0008】このように、従来の反射型液晶表示装置
は、スイッチング素子上に画素電極と電気的な導通がな
いように反射板を形成する、あるいは、画素電極を延在
して素子上を覆う、または対向基板上に遮光膜を設ける
などの構成をとっていた。しかしながら、従来の反射型
液晶表示装置の遮光膜はいずれも画質への影響があり、
満足の行くものではなかった。
As described above, in the conventional reflection type liquid crystal display device, the reflection plate is formed on the switching element so that there is no electrical conduction with the pixel electrode, or the pixel electrode is extended to cover the element. Alternatively, a configuration is adopted in which a light-shielding film is provided on the opposite substrate. However, the light-shielding film of the conventional reflective liquid crystal display device has an effect on the image quality,
It was not satisfactory.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】反射型液晶表示装置に
おいて、良好な反射特性を得るには反射板の凹凸形状は
必須で、しかも凹凸形状はランダムである必要がある。
ところが、画素電極が反射板を兼ねランダムな凹凸形状
をしていると、蓄積容量線との間で作られる蓄積容量値
が画素ごとに変動してしまうという問題点が発生する。
この問題は、一つの画素が小さくなる高精細な液晶表示
装置ほど深刻なものとなる。
In a reflection type liquid crystal display device, in order to obtain good reflection characteristics, the concave and convex shape of the reflector is essential, and the concave and convex shape must be random.
However, if the pixel electrode has a random uneven shape that also serves as a reflector, there is a problem that a storage capacitance value formed between the pixel electrode and the storage capacitance line varies for each pixel.
This problem becomes more serious in a high-definition liquid crystal display device in which one pixel is small.

【0010】本発明は、上記従来技術の問題点に対処す
るためになされたものであり、高精細化に際しても画素
電極の凹凸形状による容量変動を低減することができる
反射型の液晶表示装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to address the above-mentioned problems of the prior art, and there is provided a reflection type liquid crystal display device which can reduce the capacitance fluctuation due to the uneven shape of the pixel electrode even in high definition. The purpose is to provide.

【0011】また本発明は、さらに従来技術の反射型に
おけるスペーサおよび遮光膜等の問題点を解消して、高
開口率で画質が良好な液晶表示装置を提供することを目
的とする。
It is another object of the present invention to provide a liquid crystal display device having a high aperture ratio and good image quality by solving the problems of the spacer and the light-shielding film in the conventional reflection type.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明の液晶表
示装置は、少なくとも表面が絶縁性を呈する基板と、こ
の基板上にマトリクス状に配設された、当該基板に対向
する面にランダムな凹凸を有する反射電極と、この反射
電極に選択的に表示信号を印加する手段と、基板と反射
電極との間に前記ランダムな凹凸面に対向配置された第
1の電極と、この第1の電極と反射電極のランダムな凹
凸面との間にあって、反射電極と電気的に接続され、第
1の電極を覆うように絶縁膜を介し対向配置された第2
の電極とを具備したことを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a liquid crystal display device comprising: a substrate having at least a surface having an insulating property; and a random arrangement formed on the substrate in a matrix and facing the substrate. A reflective electrode having irregularities, means for selectively applying a display signal to the reflective electrode, a first electrode disposed between the substrate and the reflective electrode to face the random irregular surface, Between the first electrode and the random uneven surface of the reflective electrode, is electrically connected to the reflective electrode, and is opposed to the second electrode via the insulating film so as to cover the first electrode.
And the electrode of (1).

【0013】請求項1の発明においては、補助容量線
(第1の電極)に対向配置した電極(第2の電極)が反
射電極のランダムな凹凸面と補助容量線との間に配置さ
れ、かつ反射電極と電気的に接続されているため、この
電極と補助容量線との間に容量が形成される。したがっ
て、補助容量線と反射電極の重なる領域全面に前記第2
の電極を介在させることによって、補助容量は補助容量
線と第2の電極との重なり面積によって決定されるた
め、反射電極の凹凸をランダムに形成しても画素容量は
変動せず、例えば駆動回路、走査線、信号線およびスイ
ッチング素子により構成される表示信号印加手段により
表示信号が印加される画素間に、補助容量のバラツキが
なく精度の良い補助容量を形成することができる。
According to the first aspect of the present invention, an electrode (second electrode) opposed to the auxiliary capacitance line (first electrode) is arranged between the random uneven surface of the reflective electrode and the auxiliary capacitance line, In addition, since it is electrically connected to the reflection electrode, a capacitance is formed between this electrode and the auxiliary capacitance line. Accordingly, the second region is formed over the entire area where the auxiliary capacitance line and the reflective electrode overlap.
Since the auxiliary capacitance is determined by the overlapping area of the auxiliary capacitance line and the second electrode, the pixel capacitance does not fluctuate even if the unevenness of the reflective electrode is formed at random. The auxiliary capacitance can be formed with high precision without variation in the auxiliary capacitance between the pixels to which the display signal is applied by the display signal applying means constituted by the scanning lines, the signal lines and the switching elements.

【0014】また、請求項2の発明は、第1の基板と、
この第1の基板に対向配置された透光性の第2の基板
と、これらの基板の間隙に設けられた液晶層とを具備す
る液晶表示装置において、第1の基板の液晶層側片面に
マトリクス状に配設された、当該基板に対向する面にラ
ンダムな凹凸を有する反射電極と、この反射電極に対応
して各々に信号電荷を供給する素子と、第1の基板と反
射電極との間に前記ランダムな凹凸面に対向配置された
第1の電極と、この第1の電極と反射電極のランダムな
凹凸面との間にあって、反射電極と電気的に接続され、
第1の電極に対し絶縁膜を介し対向配置された第2の電
極と、素子上に形成された絶縁性遮光膜と、この絶縁性
遮光膜上に配置された、第1の基板と第2の基板間の間
隙を保持する柱状スペーサとを具備したことを特徴とす
る。
Further, according to a second aspect of the present invention, the first substrate comprises:
In a liquid crystal display device including a light-transmitting second substrate opposed to the first substrate and a liquid crystal layer provided in a gap between the substrates, one surface of the first substrate on a liquid crystal layer side is provided. A reflective electrode arranged in a matrix and having random irregularities on a surface facing the substrate, an element for supplying a signal charge to each of the reflective electrodes corresponding to the reflective electrode, and a first substrate and a reflective electrode A first electrode disposed between the first electrode and the random uneven surface of the reflective electrode, and electrically connected to the reflective electrode,
A second electrode opposed to the first electrode with an insulating film interposed therebetween; an insulating light-shielding film formed on the element; a first substrate and a second substrate disposed on the insulating light-shielding film; And a columnar spacer for holding a gap between the substrates.

【0015】請求項2の発明においては、請求項1の発
明と同様に、補助容量線(第1の電極)と反射電極との
間に第2の電極を配置することにより、この電極と補助
容量線との間で補助容量が形成され、反射電極の凹凸を
ランダムに形成しても画素間に補助容量のバラツキがな
く精度の良い補助容量を形成することができる。また、
スイッチンク素子部の上に有機系の絶縁性遮光膜を配置
しているので、画素電極をスイッチンク素子部と端部が
重なるように配置することができ、画素電極を有効面積
いっぱいに大きくすることが可能となり、開口率が向上
する。また、スイッチンク素子上の平坦な遮光膜上に柱
状スペーサを設けるため、セル・ギャップ制御が容易で
ある。
According to the second aspect of the present invention, similarly to the first aspect of the present invention, by disposing a second electrode between the auxiliary capacitance line (first electrode) and the reflection electrode, this electrode and the auxiliary electrode are connected to each other. A storage capacitor is formed between the storage capacitor line and the storage capacitor, and even if unevenness of the reflective electrode is formed at random, the storage capacitor can be formed with high precision without variation in the storage capacitor between pixels. Also,
Since the organic insulating light-shielding film is arranged on the switching element part, the pixel electrode can be arranged so that the edge part overlaps the switching element part, and the pixel electrode is enlarged to fill the effective area. And the aperture ratio is improved. Further, since the columnar spacer is provided on the flat light-shielding film on the switching element, the cell gap control is easy.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の実
施の形態を説明する。図1および図2は、本発明の液晶
表示装置の一実施の形態を示す概略断面図および概略平
面図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1 and 2 are a schematic sectional view and a schematic plan view, respectively, showing one embodiment of the liquid crystal display device of the present invention.

【0017】この反射型液晶表示装置は、図1に示すよ
うに、アレイ基板1と対向基板2との間に液晶層3が保
持されている。
In this reflection type liquid crystal display device, as shown in FIG. 1, a liquid crystal layer 3 is held between an array substrate 1 and a counter substrate 2.

【0018】アレイ基板1は、図2に示すように、ガラ
ス基板上に配置されるMo−Wから成る走査線4、およ
びこの走査線4と同一材料であって略平行な補助容量線
5と、走査線4と略直交する信号線6を有する。
As shown in FIG. 2, the array substrate 1 includes a scanning line 4 made of Mo-W and a storage capacitor line 5 made of the same material as the scanning line 4 and substantially parallel to each other. , And a signal line 6 substantially orthogonal to the scanning line 4.

【0019】またアレイ基板1において、図1に示すよ
うに、走査線4および補助容量線5上にゲート絶縁膜7
として酸化シリコン膜からなる第1ゲート絶縁膜と、こ
の上に堆積される窒化シリコン膜からなる第2ゲート絶
縁膜が形成される。各走査線4はガラス基板の一端辺側
に引き出された接続端を含む。
In the array substrate 1, as shown in FIG. 1, a gate insulating film 7 is formed on the scanning lines 4 and the auxiliary capacitance lines 5.
First, a first gate insulating film made of a silicon oxide film and a second gate insulating film made of a silicon nitride film deposited thereon are formed. Each scanning line 4 includes a connection end drawn out to one end side of the glass substrate.

【0020】さらに、ゲート絶縁膜7上にAlあるいは
Al−Y合金などのAl合金またはAgなどからなる信
号線6と蓄積容量補助電極8が形成される。ただし、信
号線6と蓄積容量補助電極8との間は絶縁されている。
各信号線6はガラス基板の他の一端辺側に引き出された
接続端を含む。蓄積容量補助電極8は、ゲート絶縁膜7
を介して補助容量線5上に配置される。
Further, on the gate insulating film 7, a signal line 6 made of Al or an Al alloy such as an Al--Y alloy or Ag and a storage capacitance auxiliary electrode 8 are formed. However, the signal line 6 and the storage capacitance auxiliary electrode 8 are insulated.
Each signal line 6 includes a connection end extended to the other end side of the glass substrate. The storage capacitance auxiliary electrode 8 is formed of the gate insulating film 7
Are arranged on the auxiliary capacitance line 5 via the.

【0021】走査線4と信号線6との交点部分にTFT
9が配置され、TFT9を介して表示信号を印加される
画素電極10が、走査線4および信号線6上に配置され
る層間絶縁膜11上に配置されている。この層間絶縁膜
11は凹凸を有しているが、TFT領域は平坦化されて
いる。また材質は、ポリイミドなどの有機系絶縁膜で構
成することができるが、有機系絶縁膜と窒化シリコンな
どの無機系絶縁膜との積層構造で構成することにより、
層間絶縁性がより一層向上する。
A TFT is provided at the intersection of the scanning line 4 and the signal line 6.
A pixel electrode 10 to which a display signal is applied via a TFT 9 is disposed on an interlayer insulating film 11 disposed on the scanning line 4 and the signal line 6. Although the interlayer insulating film 11 has irregularities, the TFT region is flattened. The material can be formed of an organic insulating film such as polyimide, but by forming a laminated structure of an organic insulating film and an inorganic insulating film such as silicon nitride,
Interlayer insulation is further improved.

【0022】信号線6の接続端は画素電極10と同時に
形成された信号線接続パッドに接続され、走査線4の接
続端はゲート絶縁膜7に形成されたコンタクトホールを
介して、画素電極10と同時に形成された走査線接続パ
ッドに接続されている。
The connection end of the signal line 6 is connected to a signal line connection pad formed simultaneously with the pixel electrode 10, and the connection end of the scanning line 4 is connected to the pixel electrode 10 through a contact hole formed in the gate insulating film 7. At the same time, they are connected to the formed scanning line connection pads.

【0023】また、蓄積容量補助電極8は層間絶縁膜1
1に設けられたコンタクトホールで画素電極10と電気
的に接続され、補助容量線5との間で補助容量が形成さ
れる。
The storage capacitor auxiliary electrode 8 is formed on the interlayer insulating film 1.
The storage capacitor 1 is electrically connected to the pixel electrode 10 through a contact hole, and forms a storage capacitor with the storage capacitor line 5.

【0024】すなわち、層間絶縁膜11の凹凸により画
素電極10の凹凸が形成され、この層間絶縁膜11に設
けられたコンタクトホールにより、補助容量線5上に位
置する画素電極10の各々の凹部は、蓄積容量補助電極
8に当設し、これにより、蓄積容量補助電極8は画素電
極10と電気的に接続される。
That is, the unevenness of the pixel electrode 10 is formed by the unevenness of the interlayer insulating film 11, and the respective recesses of the pixel electrode 10 located on the auxiliary capacitance line 5 are formed by the contact holes formed in the interlayer insulating film 11. The storage capacitor auxiliary electrode 8 is electrically connected to the pixel electrode 10.

【0025】したがって、蓄積容量補助電極8を補助容
量線5と画素電極10の重なる領域をほぼ覆うように設
けることにより、各画素の補助容量値は補助容量線5上
の画素電極10の凹部の数に依存せず、蓄積容量補助電
極8と補助容量線5との重なり面積によって決定される
ため、常にほぼ一定の補助容量を形成することができ、
画素間の補助容量のバラツキを解消することができる。
Therefore, by providing the storage capacitance auxiliary electrode 8 so as to substantially cover the area where the storage capacitance line 5 and the pixel electrode 10 overlap, the storage capacitance value of each pixel is reduced by the concave portion of the pixel electrode 10 on the storage capacitance line 5. Since it is determined by the overlapping area of the storage capacitance auxiliary electrode 8 and the auxiliary capacitance line 5 irrespective of the number, an almost constant auxiliary capacitance can always be formed,
Variations in the auxiliary capacitance between pixels can be eliminated.

【0026】層間絶縁膜11のTFT部領域上の平坦部
には、さらに黒色樹脂からなる遮光膜12が形成されて
いる。また、TFT領域の遮光膜12上に柱状スペーサ
13が配置されている。柱状スペーサ13は全ての画素
に配置されていも、あるいは特定の密度で、柱状スペー
サがある画素とない画素が分布していてもよい。
A light-shielding film 12 made of black resin is further formed on a flat portion of the interlayer insulating film 11 on the TFT region. Further, a columnar spacer 13 is arranged on the light shielding film 12 in the TFT region. The columnar spacers 13 may be arranged in all the pixels, or pixels with and without the columnar spacers may be distributed at a specific density.

【0027】このようにTFT9の上の平坦な遮光膜1
2上に柱状スペーサ13を設けることにより、セル・ギ
ャップ制御が容易となる。
As described above, the flat light shielding film 1 on the TFT 9
By providing the columnar spacer 13 on 2, the cell gap control becomes easy.

【0028】柱状スペーサ13を対向基板側に形成する
場合には、底面が遮光膜12よりセル合わせ精度分小さ
く、高さがセルギャップに必要な厚さを有しているよう
にする。アレイ基板1側に柱状スペーサ13を形成する
場合には、遮光膜12と一体形成しても、別々に形成し
ても良い。
When the columnar spacer 13 is formed on the counter substrate side, the bottom surface is smaller than the light-shielding film 12 by the cell alignment accuracy, and the height is set to a thickness necessary for the cell gap. When the columnar spacers 13 are formed on the array substrate 1 side, they may be formed integrally with the light shielding film 12 or may be formed separately.

【0029】柱状スペーサ13の材質は絶縁性のもので
あればどんなものであってもよい。例えば、遮光膜12
と同じ黒色樹脂や、カラー・フィルタの着色層を重ねた
ものを柱状スペーサ13とすることができる。
The material of the columnar spacer 13 may be any material as long as it is insulating. For example, the light shielding film 12
The columnar spacer 13 can be made of the same black resin as described above or a layer obtained by superimposing a colored layer of a color filter.

【0030】また、対向基板2側にカラー・フィルタの
着色層を重ねた柱状スペーサ13を設ける場合には、柱
状スペーサ13の表面を共通電極14が覆っているよう
な構造としても良い。
When the columnar spacer 13 on which the color layer of the color filter is laminated is provided on the counter substrate 2 side, a structure in which the common electrode 14 covers the surface of the columnar spacer 13 may be employed.

【0031】柱状スペーサ13は、画面の表示領域内に
所定の密度で形成されれば良く、全ての画素に設けなく
ともよい。全ての画素に黒色樹脂からなる柱状スペーサ
を設けた場合、直射日光のような強い光に対するTFT
の光リークによる画質劣化の防止に効果がある。
The columnar spacers 13 need only be formed at a predetermined density in the display area of the screen, and need not be provided for all pixels. When columnar spacers made of black resin are provided for all pixels, TFTs for strong light such as direct sunlight
This is effective in preventing image quality deterioration due to light leakage.

【0032】一方、このアレイ基板1に対向する対向基
板2は、ガラス基板上にITOのような透明電極材料か
らなる共通電極14が配置されて構成されている。
On the other hand, the opposing substrate 2 opposing the array substrate 1 is configured by disposing a common electrode 14 made of a transparent electrode material such as ITO on a glass substrate.

【0033】さらに、本実施の形態のアレイ基板1の詳
細な構成とその作用を説明する。画素電極10が走査線
4に対してゲート絶縁膜7および層間絶縁膜11を介し
て配置され、また信号線6に対しても層間絶縁膜11を
介して配置されている。したがって、画素電極10は信
号線6あるいは走査線4に対して同層にないので、これ
らに画素電極10を十分に近接させて配置しても、信号
線6上、あるいは走査線4上に重ねても、互いにショー
ト不良を引き起こすことがない。本実施の形態では、図
2に示すように、各配線に画素電極10を一部重畳させ
ている。
Further, a detailed configuration of the array substrate 1 according to the present embodiment and its operation will be described. The pixel electrode 10 is arranged on the scanning line 4 via the gate insulating film 7 and the interlayer insulating film 11, and also on the signal line 6 via the interlayer insulating film 11. Therefore, since the pixel electrode 10 is not in the same layer as the signal line 6 or the scanning line 4, even if the pixel electrode 10 is arranged sufficiently close to the signal line 6 or the scanning line 4, the pixel electrode 10 overlaps the signal line 6 or the scanning line 4. However, short-circuit failure does not occur. In this embodiment mode, the pixel electrode 10 is partially overlapped with each wiring as shown in FIG.

【0034】このような画素上置き構造をとることによ
り、高い製造歩留まりと、高精細、高開口率設計を可能
にする。
By adopting such a pixel-placed structure, a high production yield and a high definition and high aperture ratio can be designed.

【0035】しかも、本実施の形態では、信号線6の輪
郭と低抵抗半導体膜および半導体膜の輪郭が一致してい
る。さらに詳しくは、信号線6と走査線4の交差部に
は、必ずゲート絶縁膜7の他に低抵抗半導体膜および半
導体膜が積層されている。このため、各パタ−ニングに
際してマスクずれが生じても、信号線6に生じる段差は
十分に軽減され、また信号線6と走査線4との間の容量
変動がなく、このため、製品間で走査線容量あるいは信
号線容量の変動も軽減される。また、信号線6と走査線
4との交差部における静電気、プロセス中のごみ、ある
いは各絶縁膜のピンホールに起因する層間ショートも抑
えられ、これにより高い製品歩留まりが確保できる。ま
た、信号線6と補助容量線5との間についても同様であ
る。
Moreover, in the present embodiment, the contour of the signal line 6 matches the contour of the low-resistance semiconductor film and the semiconductor film. More specifically, a low-resistance semiconductor film and a semiconductor film in addition to the gate insulating film 7 are always laminated at the intersection of the signal line 6 and the scanning line 4. For this reason, even if a mask shift occurs during each patterning, the step generated in the signal line 6 is sufficiently reduced, and there is no variation in capacitance between the signal line 6 and the scanning line 4. Variations in scanning line capacity or signal line capacity are also reduced. Further, static electricity at intersections between the signal lines 6 and the scanning lines 4, dust during the process, or interlayer short-circuits due to pinholes in the respective insulating films can be suppressed, thereby securing a high product yield. The same applies between the signal line 6 and the auxiliary capacitance line 5.

【0036】また、本実施の形態では、信号線6および
TFT9のソース電極・ドレイン電極と画素電極10を
同じAl−Y合金で形成しており、低いコンタクト抵抗
で電気的接続をとることができる。
In the present embodiment, the signal line 6 and the source electrode / drain electrode of the TFT 9 and the pixel electrode 10 are formed of the same Al-Y alloy, so that electrical connection can be achieved with low contact resistance. .

【0037】次に、図3〜図5を参照してアレイ基板製
造プロセスについて詳細に説明する。図3(a)〜
(e)、図4および図5は、アレイ基板の製造工程順に
各製造段階を断面図で示したものである。
Next, the array substrate manufacturing process will be described in detail with reference to FIGS. FIG.
(E), FIG. 4 and FIG. 5 are sectional views showing respective manufacturing steps in the order of the manufacturing process of the array substrate.

【0038】まず、図3(a)に示すように、ガラス基
板101上にスパッターによりMo−W合金膜をそれぞ
れ300nm厚で堆積し、第1のマスクパターンを用い
て露光し、現像、パターニングを経て、ガラス基板10
1の一端辺側に引き出された接続端102を含む走査線
4および補助容量線5を作製する。
First, as shown in FIG. 3A, a Mo-W alloy film is deposited to a thickness of 300 nm on a glass substrate 101 by sputtering, and is exposed using a first mask pattern, followed by development and patterning. Through the glass substrate 10
The scanning line 4 and the auxiliary capacitance line 5 including the connection end 102 drawn out to one end side of 1 are manufactured.

【0039】しかる後、図3(b)に示すように、CV
D法により150nm厚の酸化シリコン膜から成る第1
ゲー卜絶縁膜103を堆積した後、さらに150nm厚
の窒化シリコン膜からなる第2ゲート絶縁膜104、5
0nm厚のa−Si:Hから成る半導体膜105および
200nm厚の窒素化シリコン膜から成るチャネル保護
膜106をCVD法により連続的に大気にさらすことな
く成膜する。
Thereafter, as shown in FIG.
A first method comprising a silicon oxide film having a thickness of 150 nm
After depositing the gate insulating film 103, the second gate insulating films 104, 5 made of a silicon nitride film having a thickness of 150 nm are further formed.
A semiconductor film 105 of a-Si: H having a thickness of 0 nm and a channel protective film 106 of a silicon nitride film having a thickness of 200 nm are formed by a CVD method without being continuously exposed to the atmosphere.

【0040】さらに、走査線4をマスクとした裏面露光
技術により、走査線4に自己整合的にチャネル保護膜1
06をパタ−ニングし、さらにTFT領域に対応するよ
うに第2のマスクパターンを用いて露光し、現像、パタ
−ニング(第2のパタ−ニング)を経て、図3(c)に
示すように、島状のチャネル保護膜106を作製する。
Further, the channel protective film 1 is self-aligned with the scanning line 4 by a backside exposure technique using the scanning line 4 as a mask.
06 is patterned, further exposed using a second mask pattern so as to correspond to the TFT region, developed, and patterned (second patterning), as shown in FIG. Next, an island-shaped channel protective film 106 is formed.

【0041】この後、図3(d)の段階で、良好なオー
ミックコンタクトが得られるように、露出する半導体膜
105表面を弗酸で処理し、CVD法により不純物とし
てリンを含む30nm厚のn+ a−Si:Hからなる低
抵抗半導体膜107を堆積し、さらにAl−Y合金膜を
200nm厚で堆積する。
Thereafter, at the stage of FIG. 3D, the exposed surface of the semiconductor film 105 is treated with hydrofluoric acid so that a good ohmic contact is obtained, and a 30 nm-thick n-type film containing phosphorus as an impurity is formed by the CVD method. A low-resistance semiconductor film 107 made of + a-Si: H is deposited, and an Al-Y alloy film is further deposited to a thickness of 200 nm.

【0042】次に、第3マスクパターンを用いて露光
し、現像し、Al−Y合金膜、低抵抗半導体膜107お
よび半導体膜105を窒化シリコン膜からなる第2ゲー
ト絶縁膜104およびチャネル保護膜106とのエッチ
ング選択比を制御することにより、一括してRIE(Re
active Ion Etching)法によりパタ−ニング(第3のパ
タ−ニング)して、半導体膜105、低抵抗半導体膜1
07、ソース電極108、信号線6、信号線6と一体の
接続端部、信号線6と一体のドレイン電極109、およ
び蓄積容量補助電極8を作製する。
Next, exposure and development are performed using a third mask pattern, and the Al—Y alloy film, the low-resistance semiconductor film 107 and the semiconductor film 105 are converted into a second gate insulating film 104 and a channel protective film made of a silicon nitride film. By controlling the etching selectivity with respect to 106, the RIE (Re
The semiconductor film 105 and the low-resistance semiconductor film 1 are patterned by an active ion etching (third patterning) method.
07, a source electrode 108, a signal line 6, a connection end integral with the signal line 6, a drain electrode 109 integral with the signal line 6, and a storage capacitance auxiliary electrode 8.

【0043】次に、層間絶縁膜11を形成するプロセス
について説明する。TFT9を形成したアレイ基板上全
面に例えばポリイミド膜(日産化学:RN−812、日
本合成ゴム:HRCシリーズなど)を形成し、さらに光
感光性樹脂であるホトレジスト(OFPR−800)を
1.2ミクロンの厚さに塗布し、第4のマスクパターン
を用いてホトリソグラフィー法によるパタ−ニングで複
数の円形凸部が不規則に並んだように形成し、さらに熱
処理を行い、図4に示すように、角がとれたなだらかな
凸形状にする。
Next, a process for forming the interlayer insulating film 11 will be described. For example, a polyimide film (Nissan Chemical: RN-812, Nippon Synthetic Rubber: HRC series, etc.) is formed on the entire surface of the array substrate on which the TFT 9 is formed. And a plurality of circular projections are formed by random patterning by photolithography using a fourth mask pattern, and further heat-treated, as shown in FIG. , With a rounded convex shape.

【0044】この際、層間絶縁膜11のTFT部は、凹
凸が形成されず、平坦な形状となるように、また、信号
線6、走査線4の接続端102には層間絶縁膜11を形
成しないようにする。
At this time, the TFT portion of the interlayer insulating film 11 has a flat shape without any irregularities, and the interlayer insulating film 11 is formed on the connection end 102 of the signal line 6 and the scanning line 4. Don't do it.

【0045】さらにこの上に、200nm厚の窒化シリ
コン膜からなる第2層間絶縁膜を堆積し、第5のマスク
パターンを用いて露光、現像し、ソース電極108に対
応する層間絶縁膜11を除去してコンタクトホールを形
成し、また信号線6の接続端102に対応するゲート絶
縁膜103、104を除去してコンタクトホールを形成
する。これと同時に、走査線4の接続端102に対応す
る第1および第2ゲート絶縁膜103、104を除去し
てコンタクトホールを作製する。また、蓄積容量補助電
極8と画素電極10の接続用コンタクトホールを形成す
る。
Further, a second interlayer insulating film made of a silicon nitride film having a thickness of 200 nm is deposited thereon, exposed and developed using a fifth mask pattern, and the interlayer insulating film 11 corresponding to the source electrode 108 is removed. Then, a contact hole is formed, and the gate insulating films 103 and 104 corresponding to the connection end 102 of the signal line 6 are removed to form a contact hole. At the same time, the first and second gate insulating films 103 and 104 corresponding to the connection ends 102 of the scanning lines 4 are removed to form contact holes. Further, a contact hole for connection between the storage capacitor auxiliary electrode 8 and the pixel electrode 10 is formed.

【0046】次に、凹凸部を有する第2層間絶縁膜上の
全面にAl−Y合金からなる金属薄膜を形成し、第6の
マスクパターンを用いて露光、現像、パタ−ニングを経
て、画素電極10を作製する。
Next, a metal thin film made of an Al-Y alloy is formed on the entire surface of the second interlayer insulating film having the irregularities, and is exposed, developed, and patterned using a sixth mask pattern to form a pixel. The electrode 10 is manufactured.

【0047】これと同時に、コンタクトホールを介して
走査線4の接続端102に電気的に接続される、画素電
極10と同一材料からなる走査線接続パッドを作製す
る。またコンタクトホールを介して信号線6の接続端1
02に電気的に接続される、画素電極と同一材料からな
る信号線接続パッドを作製する。
At the same time, a scanning line connection pad made of the same material as the pixel electrode 10 and electrically connected to the connection end 102 of the scanning line 4 via the contact hole is manufactured. Also, the connection end 1 of the signal line 6 via the contact hole
A signal line connection pad made of the same material as the pixel electrode, which is electrically connected to the pixel electrode 02, is manufactured.

【0048】次に、黒色樹脂を形成し、パタ−ニングし
て遮光膜12を兼ねた柱状スペーサ13を、図5に示す
ように形成する。
Next, a black resin is formed and patterned to form a columnar spacer 13 also serving as a light shielding film 12 as shown in FIG.

【0049】以上のように、上記製造プロセスにて、こ
の実施の形態のアレイ基板1の基本構成を従来より少な
いマスク数にてを作製することができる。
As described above, in the above manufacturing process, the basic structure of the array substrate 1 of this embodiment can be manufactured with a smaller number of masks than before.

【0050】すなわち、画素電極10を最上層に配置
し、これに伴い信号線6、ソース電極108、ドレイン
電極109とともに、半導体膜105などを同一のマス
クパターンに基づいて一括してパターニングするととも
に、ソース電極108と画素電極10との接続用のコン
タクトホールの作製とともに、信号線6や走査線4の接
続端102を露出するためのコンタクトホールの作製を
同時に行うという、配線に生じる段差を小さくして製造
歩留まりの低下を防ぎ、しかも少ないマスク数で生産性
が向上されるという、互いに相異なる要求が同時に達成
される最適な工程となっている。
That is, the pixel electrode 10 is arranged on the uppermost layer, and the signal line 6, the source electrode 108, the drain electrode 109, and the semiconductor film 105 are collectively patterned based on the same mask pattern. The step of producing a contact hole for exposing the connection end 102 of the signal line 6 and the scanning line 4 is simultaneously performed with the production of the contact hole for connection between the source electrode 108 and the pixel electrode 10, thereby reducing the step generated in the wiring. This is an optimal process that simultaneously achieves mutually different requirements of preventing a reduction in manufacturing yield and improving productivity with a small number of masks.

【0051】この実施の形態では、半導体膜105をa
−Si:Hで構成する場合について説明したが、多結晶
シリコン膜などであっても良いことは言うまでもない。
また、周辺領域に駆動回路部を一体的に構成しても良
い。
In this embodiment, the semiconductor film 105 is a
Although the description has been given of the case where the semiconductor device is made of -Si: H, it is needless to say that a polysilicon film or the like may be used.
Further, the drive circuit portion may be integrally formed in the peripheral region.

【0052】また、さらに信号線6や走査線4上に画素
電極10を一部重複させて配置する場合、少なくとも画
素電極10と信号線6との間に絶縁層を介して金属膜な
どでシールド電極を配するようにすれば、画素電極10
が信号線6からの電位による影響を軽減できる。
Further, when the pixel electrode 10 is partially overlapped on the signal line 6 or the scanning line 4, it is shielded with a metal film or the like via an insulating layer at least between the pixel electrode 10 and the signal line 6. If the electrodes are arranged, the pixel electrode 10
Can reduce the influence of the potential from the signal line 6.

【0053】一方、対向基板2上には、ITOなどの透
明導電材料からなる共通電極14が厚さ0.1ミクロン
形成され、さらにその上には配向膜が形成される。な
お、本実施例では、アレイ基板1のTFT9上に遮光膜
12が形成されるので、対向基板2のTFT9に対向す
る領域に遮光膜を形成する必要はない。
On the other hand, a common electrode 14 made of a transparent conductive material such as ITO is formed on the counter substrate 2 to a thickness of 0.1 μm, and an alignment film is further formed thereon. In this embodiment, since the light-shielding film 12 is formed on the TFT 9 of the array substrate 1, it is not necessary to form the light-shielding film in the region of the counter substrate 2 facing the TFT 9.

【0054】アレイ基板1と対向基板2は、対向して貼
り合せられ、間に液晶3が注入されて反射型液晶表示装
置が完成する。この際、アレイ基板1と対向基板2の間
隙は遮光膜12上に形成された柱状スペーサ13によっ
て保持される。
The array substrate 1 and the opposing substrate 2 are bonded to face each other, and the liquid crystal 3 is injected between them to complete the reflection type liquid crystal display device. At this time, the gap between the array substrate 1 and the opposing substrate 2 is held by the columnar spacer 13 formed on the light shielding film 12.

【0055】液晶3としては、例えば黒色色素を混入し
たゲスト・ホスト液晶(メルク社製、商品名 ZLI2
327)に光学活性物質(メルク社製、商品名 S81
1)を混入したものを用いる。
As the liquid crystal 3, for example, a guest-host liquid crystal mixed with a black dye (trade name: ZLI2, manufactured by Merck Ltd.)
327) to an optically active substance (manufactured by Merck, trade name S81)
Use a mixture of 1).

【0056】本発明で用いる液晶は、ゲスト・ホスト液
晶に限定されるものではなく、ポリマー分散や、複屈折
モードでもよく、画素電極上に内面偏光板などを設けて
もよい。
The liquid crystal used in the present invention is not limited to the guest-host liquid crystal, but may be a polymer dispersion or a birefringence mode, and may be provided with an internal polarizing plate on the pixel electrode.

【0057】本実施の形態では、白黒反射型液晶表示装
置を作製したが、対向基板、あるいは画素電極上に着色
層を設けてカラーとしてもよい。また、液晶表示モード
を複屈折モードとしたカラー化を図ってもよい。
In this embodiment, a monochrome reflection type liquid crystal display device is manufactured. However, a color may be provided by providing a coloring layer on a counter substrate or a pixel electrode. Further, the liquid crystal display mode may be changed to a birefringent mode to achieve colorization.

【0058】[0058]

【発明の効果】本発明によれば、高精細化に際しても反
射電極すなわち画素電極のランダムな凹凸形状による容
量変動が低減でき、さらに、高開口率で画質が良好な反
射型液晶表示装置を提供することができる。
According to the present invention, it is possible to provide a reflection type liquid crystal display device which can reduce the capacitance fluctuation due to the random unevenness of the reflection electrode, that is, the pixel electrode even at the time of high definition, and has a high aperture ratio and good image quality. can do.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の液晶表示装置の一実施の形態を示す断
面図である。
FIG. 1 is a sectional view showing one embodiment of a liquid crystal display device of the present invention.

【図2】図1に示す液晶表示装置の平面図である。FIG. 2 is a plan view of the liquid crystal display device shown in FIG.

【図3】本発明にかかる液晶表示装置の製造プロセス例
を説明する断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating an example of a manufacturing process of the liquid crystal display device according to the present invention.

【図4】図3に続いて本発明にかかる液晶表示装置の製
造プロセス例を説明する断面図である。
FIG. 4 is a sectional view illustrating a manufacturing process example of the liquid crystal display device according to the present invention, following FIG. 3;

【図5】図4に続いて本発明にかかる液晶表示装置の製
造プロセス例を説明する断面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating a manufacturing process example of the liquid crystal display device according to the present invention, following FIG. 4;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1………アレイ基板 2………対向基板 3………液晶層 4………走査線 5………補助容量線 6………信号線 8………蓄積容量補助電極 9………TFT 10………画素電極(反射電極) 11………層間絶縁膜 12………遮光膜 13………柱状スペーサ 14………共通電極 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Array substrate 2 ... Opposite substrate 3 ... Liquid crystal layer 4 ... Scanning line 5 ... Storage capacitance line 6 ... Signal line 8 ... Storage capacitance auxiliary electrode 9 ... TFT 10 pixel electrode (reflective electrode) 11 interlayer insulating film 12 light-shielding film 13 columnar spacer 14 common electrode

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 少なくとも表面が絶縁性を呈する基板
と、 前記基板上にマトリクス状に配設された、当該基板に対
向する面にランダムな凹凸を有する反射電極と、 前記反射電極に選択的に表示信号を印加する手段と、 前記基板と前記反射電極との間に前記ランダムな凹凸面
に対向配置された第1の電極と、 この第1の電極と前記反射電極のランダムな凹凸面との
間にあって、前記反射電極と電気的に接続され、前記第
1の電極を覆うように絶縁膜を介し対向配置された第2
の電極とを具備したことを特徴とする液晶表示装置。
1. A substrate having at least a surface exhibiting an insulating property; a reflective electrode disposed on the substrate in a matrix and having random irregularities on a surface facing the substrate; Means for applying a display signal; a first electrode disposed between the substrate and the reflective electrode so as to face the random uneven surface; and a first electrode and a random uneven surface of the reflective electrode. A second electrode, which is electrically connected to the reflective electrode and is disposed to face the first electrode with an insulating film interposed therebetween so as to cover the first electrode;
A liquid crystal display device comprising:
【請求項2】 第1の基板と、この第1の基板に対向配
置された透光性の第2の基板と、これらの基板の間隙に
設けられた液晶層とを具備する液晶表示装置において、 前記第1の基板の液晶層側片面にマトリクス状に配設さ
れた、当該基板に対向する面にランダムな凹凸を有する
反射電極と、 前記反射電極に対応して各々に信号電荷を供給する素子
と、 前記第1の基板と前記反射電極との間に前記ランダムな
凹凸面に対向配置された第1の電極と、 この第1の電極と前記反射電極のランダムな凹凸面との
間にあって、前記反射電極と電気的に接続され、前記第
1の電極に対し絶縁膜を介し対向配置された第2の電極
と、 前記素子上に形成された絶縁性遮光膜と、 この絶縁性遮光膜上に配置された、前記第1の基板と第
2の基板間の間隙を保持する柱状スペーサとを具備した
ことを特徴とする液晶表示装置。
2. A liquid crystal display device comprising: a first substrate; a light-transmitting second substrate opposed to the first substrate; and a liquid crystal layer provided in a gap between the substrates. A reflective electrode disposed in a matrix on one surface of the first substrate facing the liquid crystal layer and having random irregularities on a surface facing the substrate; and supplying a signal charge to each of the reflective electrodes corresponding to the reflective electrode An element, a first electrode opposed to the random uneven surface between the first substrate and the reflective electrode, and a first uneven electrode having a random uneven surface between the first electrode and the reflective electrode. A second electrode electrically connected to the reflective electrode and opposed to the first electrode via an insulating film; an insulating light-shielding film formed on the element; Maintaining a gap between the first substrate and the second substrate disposed thereon. A liquid crystal display device comprising: a columnar spacer to be held.
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