JPH10326300A - Wiring board designing device - Google Patents

Wiring board designing device

Info

Publication number
JPH10326300A
JPH10326300A JP9136476A JP13647697A JPH10326300A JP H10326300 A JPH10326300 A JP H10326300A JP 9136476 A JP9136476 A JP 9136476A JP 13647697 A JP13647697 A JP 13647697A JP H10326300 A JPH10326300 A JP H10326300A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
board
data
layout
storage unit
information
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9136476A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tadataka Asakawa
忠隆 浅川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP9136476A priority Critical patent/JPH10326300A/en
Publication of JPH10326300A publication Critical patent/JPH10326300A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a wiring board designing device for operating the arrangement or wiring of optimal electronic parts. SOLUTION: This device is provided with a board specification examination layout data preparing/editing part 8 which prepares/edits the layout data of a board based on data stored in a board specification examination preparation data storage part 7 which stores data for specification examination for designing a board on which electronic parts are arranged, board logical drawing data storage part 5 which stores the logical drawing data of the board, or IC interface information storage part 13 which stores the interface information of the IC arranged on the board. Also, this device is provided with simulators 24-27 which examine the prepared/edited layout data, and an IC interface information changing part extracting/reflecting part 16 which extracts a changing point related with the IC interface information from the layout data edited based on the simulation results of the simulators 24-27 by the board specification examination layout data preparing/editing part 8, and changes the IC interface information stored in the IC interface information storage part 13.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、プリント配線板
およびMCM基板の機能設計や論理設計などの基板設計
上流段階から、タイミング、波形、熱、EMCなどの各
種シミュレーションを駆使して、ICインタフェース情
報、基板に実装する回路を構成する電子部品と電子部品
間の接続情報、基板レイアウト要求仕様や基板製造仕様
などの基板設計仕様に係る情報などを最適に設定するた
めの検討を支援する機能を有する配線板設計装置に関す
るものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an IC interface information utilizing various simulations such as timing, waveform, heat, and EMC from an upper stage of board design such as functional design and logic design of a printed wiring board and an MCM board. Has a function to support the study to optimally set the information on the connection between the electronic components constituting the circuit mounted on the board and the information on the board design specifications such as the board layout requirement specifications and the board manufacturing specifications. The present invention relates to a wiring board design device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のICのピン割り当て方法として例
えば、特開平7―297354号公報の「集積回路及び
集積回路のピン割り当て方法及び実装方法」が知られて
いる。
2. Description of the Related Art As a conventional pin assignment method of an IC, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-297354 discloses an "integrated circuit and an integrated circuit pin assignment method and a mounting method".

【0003】まず従来のICのピン割り当て方法の説明
に用いる図34について説明する。図34は集積回路の
ピン割り当て例を示す図であり、図において、38は集
積回路の中心を通る直線X、39はピン割り当ての組み
AとBとCとDである。
First, FIG. 34 used for explaining a conventional IC pin assignment method will be described. FIG. 34 is a diagram showing an example of the pin assignment of the integrated circuit. In FIG. 34, 38 is a straight line X passing through the center of the integrated circuit, and 39 is a set of pin assignments A, B, C, and D.

【0004】次に、従来のICのピン割り当て方法の概
要を説明する。従来のICのピン割り当て方法、即ち、
ピンアサインでは、図に示すように、ピン割り当ての組
みAとBとCとD39が集積回路の中心を通る直線X3
8に関して鏡像を結ぶようにピンの割り当てをおこなっ
ていた。これは、このピン割り当て方法によりピンアサ
インがなされた2つの集積回路を、基板の同一面でお互
いに180度回転した位置を取るように実装すること、
また、基板の異なる面で同一のピン割り当てが基板を挟
んで直接対向するように実装することを想定したもので
ある。
Next, an outline of a conventional pin assignment method for an IC will be described. Conventional IC pin assignment method,
In the pin assignment, as shown in the figure, a pin assignment set A, B, C, and D39 is a straight line X3 passing through the center of the integrated circuit.
Pin 8 was assigned to mirror image 8. This means that the two integrated circuits which are pin-assigned by this pin assignment method are mounted so as to take positions rotated by 180 degrees with respect to each other on the same surface of the substrate;
Further, it is assumed that the same pin assignments are mounted on different surfaces of the substrate so as to directly face each other across the substrate.

【0005】このピン割り当て方法でピンアサインがな
された2つの集積回路が、上述の想定通りに実装された
場合、基板の同一面では180度回転されて鏡像を成す
ピン割り当て同士が対向するため配線を容易化可能で、
かつ、基板の上下両面に対向させて集積回路を配置すれ
ば鏡像を成すピン割り当て同士が直接対向するため貫通
スルーホールによりそれらを最短で信号接続が可能とな
る。すなわちこのピン割付方法は、この方法でピンアサ
インされた集積回路2つを一対として上述のように基板
に実装した場合を想定し、基板上に作成する配線の長さ
を最短化することのみを考慮してピンアサインをおこな
うものである。
When two integrated circuits to which the pin assignment is performed by this pin assignment method are mounted as expected, the pin assignments which are rotated by 180 degrees on the same surface of the substrate to form a mirror image are opposed to each other. Can be facilitated,
In addition, if the integrated circuits are arranged so as to face the upper and lower surfaces of the substrate, the pin assignments forming a mirror image are directly opposed to each other, so that through-holes can connect the signals in the shortest time. That is, this pin assignment method assumes that two integrated circuits pin-assigned by this method are mounted as a pair on the board as described above, and only minimizes the length of wiring formed on the board. The pin assignment is performed in consideration of this.

【0006】従来のピン割り当て方法では、ICの実際
の配置や配線を想定した仮レイアウトデータを作成し、
タイミング、波形、熱、EMCなどのシミュレーション
を実施して基板の動作可否や配置状態および配線状態を
確認した結果として、ピンの割り当てを決定していな
い。そのため、基板のレイアウト設計においてこの方法
で想定するようなICの配置や配線が実現できない、ま
たは、動作不良が発生するなどに起因して基板再設計や
要求性能を満足できないなどの状況に陥る可能性が高い
と考えられる。
In the conventional pin assignment method, provisional layout data is created assuming the actual arrangement and wiring of the IC.
As a result of performing simulations such as timing, waveforms, heat, and EMC to confirm the operability of the board, the arrangement state, and the wiring state, the assignment of pins is not determined. As a result, in the layout design of the board, the layout and wiring of the ICs assumed by this method cannot be realized, or the board may not be redesigned or satisfy the required performance due to an operation failure. It is considered highly likely.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】従来のピン割り当て方
法では、ICのピンアサインや使用するバッファのイン
タフェース情報設定が完了した段階で、その情報を基板
レイアウト設計に渡していたため、基板に実装する回路
を構成する電子部品の配置状態や電子部品間の配線状態
と、タイミング、波形、熱、EMCなどの実装的な問題
とを考慮にいれたICのインタフェース情報の最適な設
定が不可能であった。
In the conventional pin assignment method, when the pin assignment of the IC and the setting of the interface information of the buffer to be used are completed, the information is transferred to the board layout design. It is impossible to optimally set the interface information of the IC in consideration of the arrangement state of the electronic components constituting the device, the wiring state between the electronic components, and mounting problems such as timing, waveform, heat, and EMC. .

【0008】この発明は上述の問題点を解決するために
なされたもので、基板の機能や論理の設計者が設計上流
段階において、電子部品の配置や配線をおこなった仮レ
イアウトデータを作成し、タイミング、波形、熱、EM
Cなどのシミュレータを簡単に使用して基板に実装する
回路動作を検証した結果として、最適な電子部品の配置
や配線を行なうことができる配線板設計装置を得ること
を目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems. A designer of the function and logic of a board creates tentative layout data in which electronic components are arranged and wired in a design upstream stage. Timing, waveform, heat, EM
It is an object of the present invention to obtain a circuit board design apparatus capable of optimally arranging and wiring electronic components as a result of verifying a circuit operation to be mounted on a board by using a simulator such as C easily.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】請求項1の配線板設計装
置は、電子部品が配置され、上記電子部品間を接続する
配線により構成される基板を設計するためのデータとし
て、上記電子部品の形状、上記基板の設計情報及び上記
基板の電気的な情報からなる仕様検討用データを記憶す
る基板仕様検討用準備データ記憶部と、上記基板に実装
する上記電子部品と上記電子部品間の接続情報とを表現
する基板論理図データを記憶する基板論理図データ記憶
部と、上記基板に配置されるICの入出力バッファとピ
ンアサイン情報とからなるICインタフェース情報を記
憶するICインタフェース情報記憶部と、上記基板仕様
検討用準備データ記憶部、上記基板論理図データ記憶部
又は上記ICインタフェース情報記憶部に記憶されたデ
ータを使用して、上記基板のレイアウトデータを作成/
編集する基板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集部
と、この作成/編集されたレイアウトデータを検証する
シミュレータと、上記基板仕様検討用レイアウトデータ
作成/編集部により上記シミュレータのシミュレーショ
ン結果に基づいて編集された上記レイアウトデータか
ら、上記ICインタフェース情報に係る変更点を抽出
し、上記ICインタフェース情報記憶部に記憶されたI
Cインタフェース情報を変更するICインタフェース情
報変更部分抽出/反映部とを備えたものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a wiring board design apparatus, wherein electronic components are arranged and the electronic components are provided as data for designing a substrate formed by wiring connecting the electronic components. A board specification study preparation data storage section for storing specification study data including a shape, design information of the board, and electrical information of the board, and connection information between the electronic component mounted on the board and the electronic component; A board logic diagram data storage unit that stores board logic diagram data expressing the following, an IC interface information storage unit that stores IC interface information including an input / output buffer and pin assignment information of an IC arranged on the board, Using the data stored in the board specification study preparation data storage unit, the board logic diagram data storage unit or the IC interface information storage unit, Create a layout data of the serial board /
A layout specification creating / editing section for editing board specifications, a simulator for verifying the created / edited layout data, and a layout specification creating / editing section for editing board specifications based on the simulation result of the simulator. A change related to the IC interface information is extracted from the layout data, and the I / O information stored in the IC interface information storage unit is extracted.
An IC interface information change portion extraction / reflection unit for changing C interface information is provided.

【0010】請求項2の配線板設計装置は、電子部品が
配置され、上記電子部品間を接続する配線により構成さ
れる基板を設計するためのデータとして、上記電子部品
の形状、上記基板の設計情報及び上記基板の電気的な情
報からなる仕様検討用データを記憶する基板仕様検討用
準備データ記憶部と、上記基板に実装する上記電子部品
と上記電子部品間の接続情報とを表現する基板論理図デ
ータを記憶する基板論理図データ記憶部と、上記基板仕
様検討用準備データ記憶部及び上記基板論理図データ記
憶部に記憶されたデータを使用して、上記基板のレイア
ウトデータを作成/編集する基板仕様検討用レイアウト
データ作成/編集部と、この作成/編集されたレイアウ
トデータを検証するシミュレータと、上記基板仕様検討
用レイアウトデータ作成/編集部により上記シミュレー
タのシミュレーション結果に基づいて編集された上記レ
イアウトデータから、上記基板論理図データに係る変更
点を抽出し、上記基板論理図データ記憶部に記憶された
論理図データを変更する論理図データ変更部分抽出/反
映部とを備えたものである。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a wiring board designing apparatus, wherein the electronic component shape and the substrate design are used as data for designing a substrate including electronic components arranged therein and wirings connecting the electronic components. A board specification study preparation data storage unit for storing specification study data consisting of information and electrical information of the board, and a board logic for expressing the electronic components mounted on the board and connection information between the electronic components; The layout data of the board is created / edited using the board logic diagram data storage unit for storing the diagram data, and the data stored in the board specification study preparation data storage unit and the board logic diagram data storage unit. A layout data creating / editing unit for examining the board specifications, a simulator for verifying the created / edited layout data, and a layout data for examining the board specifications; From the layout data edited by the creating / editing unit based on the simulation result of the simulator, a change point relating to the board logic diagram data is extracted, and the logic diagram data stored in the board logic diagram data storage unit is changed. And a logic diagram data change portion extraction / reflection unit.

【0011】請求項3の配線板設計装置は、電子部品が
配置され、上記電子部品間を接続する配線により構成さ
れる基板を設計するためのデータとして、上記電子部品
の形状、上記基板の設計情報及び上記基板の電気的な情
報からなる仕様検討用データを記憶する基板仕様検討用
準備データ記憶部と、上記基板に実装する上記電子部品
と上記電子部品間の接続情報とを表現する基板論理図デ
ータを記憶する基板論理図データ記憶部と、上記基板仕
様検討用準備データ記憶部及び上記基板論理図データ記
憶部に記憶されたデータを使用して、上記基板のレイア
ウトデータを作成/編集する基板仕様検討用レイアウト
データ作成/編集部と、この作成/編集されたレイアウ
トデータを記憶する基板仕様検討用レイアウトデータ記
憶部と、この基板仕様検討用レイアウトデータ記憶部に
記憶されたレイアウトデータを検証するシミュレータ
と、上記基板のレイアウトを設計するためのレイアウト
設計用準備データを記憶する基板レイアウト設計用準備
データ記憶部と、上記基板仕様検討用レイアウトデータ
作成/編集部により上記シミュレータのシミュレーショ
ン結果に基づいて編集されて上記基板仕様検討用レイア
ウトデータ記憶部に記憶されたレイアウトデータから上
記レイアウト設計用データを抽出し、上記基板レイアウ
ト設計用準備データ記憶部に記憶された上記レイアウト
設計用データを変更する基板レイアウト要求仕様抽出/
反映部と、上記基板レイアウト設計用準備データ記憶部
に記憶された上記接続情報に基づいて上記基板の配置配
線設計を実施する基板配置配線設計部とを備えたもので
ある。
According to a third aspect of the present invention, there is provided an apparatus for designing a wiring board, wherein the shape of the electronic component and the design of the substrate are used as data for designing a substrate on which electronic components are arranged and the wiring is connected between the electronic components. A board specification study preparation data storage unit for storing specification study data consisting of information and electrical information of the board, and a board logic for expressing the electronic components mounted on the board and connection information between the electronic components; The layout data of the board is created / edited using the board logic diagram data storage unit for storing the diagram data, and the data stored in the board specification study preparation data storage unit and the board logic diagram data storage unit. A layout data creating / editing unit for examining the board specifications, a layout data storage unit for examining the board specifications for storing the created / edited layout data, and the board A simulator for verifying the layout data stored in the layout data storage unit for study, a board layout design preparation data storage unit for storing layout design preparation data for designing the board layout, and the board specification study. The layout data creating / editing unit extracts the layout design data from the layout data edited based on the simulation result of the simulator and stored in the board specification study layout data storage unit, and prepares the board layout design preparation. Extraction of board layout requirement specifications for changing the layout design data stored in the data storage unit /
A reflection unit; and a board layout and wiring design unit that performs layout and wiring design of the board based on the connection information stored in the board layout design preparation data storage unit.

【0012】請求項4の配線板設計装置は、上記基板仕
様検討用準備データ記憶部に記憶された仕様検討用デー
タと、上記基板レイアウト設計用準備データ記憶部に記
憶されたレイアウト設計用データとの両データに共通す
るデータを共用化するための整合処理を行なう準備デー
タ整合処理部を備えたものである。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a wiring board designing apparatus, comprising: specification study data stored in the board specification study preparation data storage section; and layout design data stored in the board layout design preparation data storage section. And a preparation data matching processing unit for performing a matching process for sharing data common to both data.

【0013】請求項5の配線板設計装置は、上記基板仕
様検討用レイアウトデータ作成/編集部により作成/編
集されたレイアウトデータに含まれる論理図データに係
る情報と、上記基板論理図データ記憶部に記憶された論
理図データとを合成して上記基板のネットリスト情報を
生成し、上記基板レイアウト設計用準備データ記憶部に
記憶させる基板ネットリスト情報生成部を備えたもので
ある。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a wiring board designing apparatus, comprising: information relating to logic diagram data included in layout data created / edited by the layout data creating / editing unit for board specification consideration; And a board net list information generating unit for generating net list information of the board by synthesizing the logic diagram data stored in the board layout design preparation data storage unit.

【0014】請求項6の配線板設計装置は、上記基板配
置配線設計部により配置配線設計されたレイアウト設計
データを記憶する基板レイアウト設計データ記憶部と、
上記基板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集部で流
用するデータを上記基板レイアウト設計データ記憶部よ
り抽出し、上記基板仕様検討用レイアウトデータ記憶部
に記憶させるデータ流用処理部とを備えたものである。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a wiring board designing apparatus, comprising: a board layout design data storage unit for storing layout design data designed and arranged by the board arrangement and wiring design unit;
A data diversion processing unit for extracting data to be diverted by the board specification study layout data creating / editing unit from the board layout design data storage unit and storing the extracted data in the board specification study layout data storage unit; .

【0015】請求項7の配線板設計装置は、上記基板仕
様検討用準備データ記憶部に記憶された上記仕様検討用
データの中で未定義なデータを、上記基板仕様検討用レ
イアウトデータ作成/編集部により定義を行う未定義部
品作成/編集部を備えたものである。
According to a seventh aspect of the present invention, in the wiring board designing apparatus, undefined data among the specification study data stored in the board specification study preparation data storage unit is created / edited as the board specification study layout data. It is provided with an undefined part creation / editing unit for defining by a unit.

【0016】請求項8の配線板設計装置は、上記基板仕
様検討用レイアウトデータ作成/編集部で上記基板のレ
イアウトデータの作成/編集を行なうために、表示装置
に上記電子部品を配置して表示する初期配置処理部を備
えたものである。
According to a eighth aspect of the present invention, in the wiring board designing apparatus, the electronic components are arranged and displayed on a display device so that the layout data creating / editing section for studying the board specifications creates / edits the layout data of the board. This is provided with an initial arrangement processing unit.

【0017】請求項9の配線板設計装置は、上記基板仕
様検討用レイアウトデータ作成/編集部により作成/編
集された基板仕様検討用レイアウトデータに基づいて、
上記基板の論理図データを生成し上記基板論理図データ
記憶部に記憶させる論理図データ生成部を備えたもので
ある。
According to a ninth aspect of the present invention, there is provided a wiring board designing apparatus, based on board specification study layout data created / edited by the board specification study layout data creating / editing section.
A logic diagram data generating unit for generating logic diagram data of the board and storing the logic diagram data in the board logic diagram data storage unit;

【0018】請求項10の配線板設計装置は、上記シミ
ュレータのシミュレーション結果にエラーがあるか否か
を判別するためのエラー基準を記憶し、このエラー基準
に基づいて上記シミュレーション結果中のエラーを特定
するエラー解析部と、このエラー解析部により特定され
た上記エラーを表示するエラー解析結果表示部とを備え
たものである。
According to a tenth aspect of the present invention, an error criterion for determining whether there is an error in the simulation result of the simulator is stored, and an error in the simulation result is specified based on the error criterion. And an error analysis result display section for displaying the error specified by the error analysis section.

【0019】請求項11の配線板設計装置は、上記エラ
ー解析部により特定された上記エラーを回避する方法を
表示するナビゲーション処理部を備えたものである。
The wiring board designing apparatus according to an eleventh aspect includes a navigation processing unit for displaying a method of avoiding the error specified by the error analysis unit.

【0020】請求項12の配線板設計装置は、信号の変
化点における正否を検証するタイミングシミュレータ、
信号の伝送波形を解析する波形シミュレータ、上記基板
の熱分布を解析する熱シミュレータ、又は、上記基板の
電磁放射ノイズを解析するEMCシミュレータのいずれ
かのシミュレータを備えたものである。
According to a twelfth aspect of the present invention, there is provided a wiring board designing apparatus, comprising:
The simulator includes one of a waveform simulator for analyzing a signal transmission waveform, a heat simulator for analyzing heat distribution of the board, and an EMC simulator for analyzing electromagnetic radiation noise of the board.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

実施の形態1.以下、この発明の実施の形態1を説明す
る。図1は実施の形態1の配線板設計装置の構成図であ
る。図において、1はキーボードやマウスなどを用いて
情報を入力する入力部、2は基板の論理図入力に必要な
電子部品の論理動作や論理シンボル形状などの論理ライ
ブラリを記憶する基板論理図入力用準備データ記憶部、
3は基板論理図入力用準備データ記憶部2に記憶された
論理ライブラリを用い接続関係を定義して基板の論理図
データを入力する基板論理図入力部、4は入力部1から
の指示により基板仕様検討用レイアウトデータを作成す
るための信号を基板論理図データ記憶部5に記憶された
信号の中から選択する基板仕様検討用信号選択部、5は
基板論理図入力部3により入力された基板の論理図デー
タを記憶する基板論理図データ記憶部、7は基板仕様検
討用の準備データとして、(1)電子部品の形状、
(2)基板の層構成、導電体層に発生する導電体の幅、
及び、導電体間の間隙値からなる基板の設計情報、
(3)基板の各層の層圧、基板の各層の電気的な特性
値、及び、基板の各層の物性値からなる基板の各層の情
報などを記憶する基板仕様検討用準備データ記憶部、8
は基板論理図データ記憶部5、基板仕様検討用信号選択
部4、基板仕様検討用準備データ記憶部7、及び、IC
インタフェース情報記憶部13から基板仕様検討用のレ
イアウトデータを作成し、かつ入力部1からの情報によ
り基板仕様検討用レイアウトデータの編集をおこなう基
板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集部、13は基
板設計と並行して設計するICの基板仕様検討用レイア
ウトデータ作成や編集に係るICのピンアサインと、使
用可能な入出力バッファの情報とを記憶するICインタ
フェース情報記憶部、16は基板仕様検討用レイアウト
データ記憶部17に記憶された基板仕様検討用レイアウ
トデータに含まれるICインタフェース情報に係る情報
とICインタフェース情報記憶部13に記憶されたIC
インタフェース情報との差異を抽出しICインタフェー
ス情報記憶部13をアップデートするICインタフェー
ス情報変更部分抽出/反映部、17は基板仕様検討用レ
イアウトデータ作成/編集部8により作成や編集がなさ
れた基板仕様検討用レイアウトデータを記憶する基板仕
様検討用レイアウトデータ記憶部、19は後述するシミ
ュレーションをおこなう信号名および電子部品名を入力
部1を用いて基板仕様検討用レイアウトデータ記憶部1
7に記憶された基板仕様検討用レイアウトデータに含ま
れる信号名および電子部品名の中から選択する解析信号
/部品選択部、21は解析信号/部品選択部19で選択
された信号名および電子部品名と、基板仕様検討用レイ
アウトデータ記憶部17に記憶された基板仕様検討用レ
イアウトデータと、解析準備データ記憶部22に記憶さ
れた解析準備データとからシミュレーションを実行する
ために必要なデータを出力する解析用データ処理部、2
2は電子部品の電気特性や消費電力などの後述するシミ
ュレーションに必要な解析準備データを記憶する解析準
備データ記憶部、24は信号の変化点における正否を検
証するタイミングシミュレータ、25は信号の伝送波形
を解析する波形シミュレータ、26は基板の熱分布を解
析する熱シミュレータ、27は基板の電磁放射ノイズを
解析するEMCシミュレータ、28はタイミングシミュ
レーションの結果を記憶するタイミングシミュレーショ
ン結果記憶部、29は波形シミュレーションの結果を記
憶する波形シミュレーション結果記憶部、30は熱シミ
ュレーションの結果を記憶する熱シミュレーション結果
記憶部、31はEMCシミュレーションの結果を記憶す
るEMCシミュレーション結果記憶部、32は各シミュ
レーションの結果を表示するシミュレーション結果表示
部である。
Embodiment 1 FIG. Hereinafter, Embodiment 1 of the present invention will be described. FIG. 1 is a configuration diagram of a wiring board design apparatus according to the first embodiment. In the drawing, reference numeral 1 denotes an input unit for inputting information using a keyboard, a mouse, or the like, and 2 denotes a board logic diagram input for storing a logic library such as a logic operation of an electronic component and a logic symbol shape necessary for the board logic diagram input. Preparation data storage unit,
Reference numeral 3 denotes a board logic diagram input unit for defining connection relationships using a logic library stored in the board logic diagram input preparation data storage unit 2 and inputting board logic diagram data. A board specification study signal selection section for selecting a signal for creating specification study layout data from the signals stored in the board logic diagram data storage section 5 is a board input by the board logic diagram input section 3 The board logic diagram data storage unit 7 stores the logic diagram data of (1), as the preparation data for studying the board specifications, (1) the shape of the electronic component,
(2) the layer configuration of the substrate, the width of the conductor generated in the conductor layer,
And board design information consisting of gap values between conductors,
(3) a board specification study preparation data storage unit for storing information on each layer of the board, such as the layer pressure of each layer of the board, the electrical characteristic value of each layer of the board, and the physical property value of each layer of the board;
Is a board logic diagram data storage unit 5, a board specification study signal selection unit 4, a board specification study preparation data storage unit 7, and an IC
A board specification study layout data creating / editing unit that creates layout data for studying board specifications from the interface information storage unit 13 and edits layout data for studying board specifications based on information from the input unit 1. IC interface information storage unit for storing IC pin assignments related to the creation and editing of layout data for examining board specifications of ICs designed in parallel with the IC, and information of usable input / output buffers. Information related to the IC interface information included in the layout data for board specification study stored in the data storage unit 17 and the IC stored in the IC interface information storage unit 13
An IC interface information change portion extraction / reflection unit that extracts a difference from the interface information and updates the IC interface information storage unit 13, and 17 is a board specification review created and edited by the layout data creation / editing unit 8 for board specification review A layout data storage unit 19 for examining board specifications, which stores layout data for a board, is used to input a signal name and an electronic component name for performing a simulation, which will be described later, using the input unit 1.
An analysis signal / component selection unit 21 selects from signal names and electronic component names included in the board specification study layout data stored in 7. Reference numeral 21 denotes a signal name and electronic component selected by the analysis signal / component selection unit 19. Data required for executing a simulation is output from the name, the board specification study layout data stored in the board specification study layout data storage unit 17, and the analysis preparation data stored in the analysis preparation data storage unit 22. Analysis data processing unit,
Reference numeral 2 denotes an analysis preparation data storage unit for storing analysis preparation data necessary for a simulation described later such as electric characteristics and power consumption of electronic components, 24 a timing simulator for verifying whether or not the signal changes, and 25 a signal transmission waveform. , A thermal simulator for analyzing the heat distribution of the substrate, an EMC simulator for analyzing the electromagnetic radiation noise of the substrate, a timing simulation result storage unit for storing the results of the timing simulation, and a waveform simulation for the , A simulation result storage unit for storing the results of the thermal simulation, an EMC simulation result storage unit for storing the results of the EMC simulation, and a result of each simulation. It is a simulation result display unit for display.

【0022】図2は図1に示した配線板設計装置による
タイミング、波形、熱、EMCの各シミュレーション結
果例を示す図であり、同図(a)はタイミングシミュレ
ーション結果記憶部28に記憶されシミュレーション結
果表示部32により表示されるタイミングシミュレーシ
ョン結果例、同図(b)は波形シミュレーション結果記
憶部29に記憶されシミュレーション結果表示部32に
より表示される波形シミュレーション結果例、同図
(c)は熱シミュレーション結果記憶部30に記憶され
シミュレーション結果表示部32により表示される熱シ
ミュレーション結果例、同図(d)はEMCシミュレー
ション結果記憶部31に記憶されシミュレーション結果
表示部32により表示されるEMCシミュレーション結
果例である。
FIGS. 2A and 2B are diagrams showing examples of simulation results of timing, waveform, heat, and EMC by the wiring board designing apparatus shown in FIG. 1. FIG. 2A shows a simulation result stored in the timing simulation result storage unit 28. An example of a timing simulation result displayed on the result display unit 32, FIG. 2B is an example of a waveform simulation result stored in the waveform simulation result storage unit 29 and displayed on the simulation result display unit 32, and FIG. FIG. 4D is an example of an EMC simulation result stored in the result storage unit 30 and displayed by the simulation result display unit 32, and FIG. 4D is an example of an EMC simulation result stored in the EMC simulation result storage unit 31 and displayed by the simulation result display unit 32. is there.

【0023】図3〜図8はこの実施の形態の配線板設計
装置にて取り扱う情報やデータの一例を示す図である。
図3は、基板論理図入力部3により入力され基板論理図
データ記憶部5に記憶された基板の論理図データの一例
を示す図であり、図において、IC1〜IC3のロケー
ション番号が付加された部品のシンボル形状は論理図入
力の前に準備し基板論理図入力用準備データ記憶部2に
記憶してある電子部品の論理ライブラリ、AA0〜AA
2、BB0〜BB2、CC0〜CC2、DD0〜DD2
は電子部品間の接続情報に付加する信号名、GNDは電
子部品の論理ライブラリの各ピンに付加されるピン番
号、EXAは電子部品ライブラリIC1にプロパティで
付加して定義するICのマスタ名である。この図3で
は、ICのマスタ名を定義するために論理ライブラリに
付加するプロパティの名称として“IC_MASTE
R”を使用しているが、このプロパティ名に固定する必
要はない、また、IC_MASTERプロパティにより
IC1のICマスタ名としてEXAを付加している。
FIGS. 3 to 8 show examples of information and data handled by the wiring board designing apparatus of this embodiment.
FIG. 3 is a diagram showing an example of the logic diagram data of the board inputted by the board logic diagram input section 3 and stored in the board logic diagram data storage section 5, where the location numbers of IC1 to IC3 are added. The symbol shape of the component is prepared before inputting the logic diagram, and is a logic library of electronic components AA0 to AA stored in the board logic diagram input preparation data storage unit 2.
2, BB0-BB2, CC0-CC2, DD0-DD2
Is a signal name added to connection information between electronic components, GND is a pin number added to each pin of a logical library of the electronic component, and EXA is a master name of the IC defined by adding properties to the electronic component library IC1. . In FIG. 3, “IC_MASTE” is used as the name of the property added to the logical library to define the master name of the IC.
R "is used, but it is not necessary to fix to this property name, and EXA is added as the IC master name of IC1 by the IC_MASTER property.

【0024】図4は、基板仕様検討用レイアウトデータ
作成/編集部8により作成された直後の基板仕様検討用
レイアウトデータの一例を示す図であり、図において、
KIBAN001は基板外形にプロパティで付加して定
義する基板登録名、IC1〜IC3のロケーション番号
が付加された部品のシンボル形状は基板仕様検討用準備
データ記憶部7に記憶されている基板仕様検討用レイア
ウトデータの作成や編集に用いる電子部品ライブラリで
ある。図5は、ICインタフェース情報記憶部13に記
憶されたICマスタのインタフェース情報の内容の一例
を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing an example of the board specification study layout data immediately after being created by the board specification study layout data creating / editing section 8.
KIBAN001 is a board registration name defined by adding a property to the board outline, and the symbol shape of the component to which the location number of IC1 to IC3 is added is a board specification study layout stored in the board specification study preparation data storage unit 7. An electronic component library used for creating and editing data. FIG. 5 is a diagram showing an example of the contents of the interface information of the IC master stored in the IC interface information storage unit 13.

【0025】図6は、図4に示した作成直後の基板仕様
検討用レイアウトデータを、基板仕様検討用レイアウト
データ作成/編集部8において編集した基板仕様検討用
レイアウトデータの一例を示す図であり、図において、
BB0〜BB2、CC0〜CC2は基板仕様検討用レイ
アウトデータ作成/編集部8において作成した配線であ
る。図7は、図6に示した基板仕様検討用レイアウトデ
ータに対して、タイミング、波形、熱、EMCなどの検
証を実施した結果得られた最適な電子部品の配置状態と
配線状態を実現できる基板仕様検討用レイアウトデータ
の一例を示す図である。図8は、図7に示した基板仕様
検討用レイアウトデータから、ICインタフェース情報
変更部分抽出/反映部16により抽出/反映されたIC
インタフェース情報の一例を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing an example of the board specification study layout data created by editing the board specification study layout data creation / editing section 8 from the board specification study layout data shown in FIG. , In the figure,
BB0 to BB2 and CC0 to CC2 are wirings created by the board specification study layout data creating / editing unit 8. FIG. 7 shows a board capable of realizing the optimal arrangement state and wiring state of electronic components obtained as a result of performing verification of timing, waveform, heat, EMC, etc. on the board specification study layout data shown in FIG. FIG. 4 is a diagram illustrating an example of layout data for specification study. FIG. 8 shows the IC extracted / reflected by the IC interface information changed portion extraction / reflection unit 16 from the board specification study layout data shown in FIG.
FIG. 4 is a diagram illustrating an example of interface information.

【0026】図9は、基板仕様検討用準備データ記憶部
7に記憶される基板外形に付加する基板登録名と基板登
録名に従属する基板情報を参照するための基板情報参照
用GUIの例である。
FIG. 9 shows an example of a board information reference GUI for referring to a board registration name to be added to the board outline stored in the board specification study preparation data storage unit 7 and board information dependent on the board registration name. is there.

【0027】次に、図1に示した配線板設計装置を用い
て、基板仕様検討用レイアウトデータの作成や編集をお
こなった結果得られる基板仕様検討用レイアウトデータ
に対して、タイミング、波形、熱、EMCなどのシミュ
レーションを実施して、基板に実装する回路の動作を検
証し、電子部品の配置状態や配線状態が良好であること
を確認した上で、ICのインタフェース情報を最適に設
定する手順を以下に示す。
Next, using the wiring board design apparatus shown in FIG. 1, with respect to the board specification study layout data obtained as a result of creating and editing board specification study layout data, , EMC and other simulations to verify the operation of the circuit mounted on the board, confirm that the placement and wiring conditions of the electronic components are good, and then set the IC interface information optimally Is shown below.

【0028】基板論理図入力部3の動作について、図3
を用いて説明する。基板論理図入力部3において、入力
部1からの入力情報と、基板論理図入力用準備データ記
憶部2に記憶される電子部品のIC1〜IC3のロケー
ション番号が付加された論理ライブラリとから、基板に
実装する回路の論理図データを作成する。具体的には、
基板論理図入力部3において、入力部1からの入力情報
に基づき、基板に実装する回路を構成する電子部品の論
理ライブラリを基板論理図入力用準備データ記憶部2か
ら呼び出し、その論理ライブラリにIC1〜IC3など
のユニークなロケーション番号を付加して配置し、さら
に、IC1〜IC3のロケーション番号が付加された論
理ライブラリに1〜8のピン番号を付加する。
The operation of the board logic diagram input unit 3 is described with reference to FIG.
This will be described with reference to FIG. The board logic diagram input unit 3 converts the input information from the input unit 1 and the logic library added with the location numbers of the electronic components IC1 to IC3 stored in the board logic diagram input preparation data storage unit 2 from the board logic diagram. Create logic diagram data of the circuit to be mounted on. In particular,
In the board logic diagram input unit 3, a logic library of electronic components constituting a circuit to be mounted on the board is called from the board logic diagram input preparation data storage unit 2 based on the input information from the input unit 1, and the IC1 is stored in the logic library. , And a unique location number such as IC3 is added. Further, pin numbers 1 to 8 are added to the logical library to which the location numbers of IC1 to IC3 are added.

【0029】次に、電子部品のIC1〜IC3のロケー
ション番号が付加された論理ライブラリのピン間に接続
関係を表す線を作成し、その線にAA0〜DD2などの
信号名を付加する。図3に示した論理図データでは、I
C1〜IC3のロケーション番号が付加された論理ライ
ブラリに、IC1とIC2とIC3のロケーション番号
と、1から8のピン番号を付加している。また、本実施
の形態では、IC1のロケーション番号が付加された論
理ライブラリが基板設計と並行して設計されているIC
とし、論理ライブラリIC2とIC3は設計が既に完了
したICとする。さらに、IC1のロケーション番号で
示されるICのマスタ名EXAを定義する。そして、基
板論理図入力部3により作成された論理図データは、基
板論理図データ記憶部5に記憶される。
Next, a line representing a connection relationship is created between the pins of the logic library to which the location numbers of the electronic components IC1 to IC3 are added, and signal names such as AA0 to DD2 are added to the line. In the logic diagram data shown in FIG.
The location numbers of IC1, IC2, and IC3 and the pin numbers 1 to 8 are added to the logical library to which the location numbers of C1 to IC3 are added. Also, in the present embodiment, the logic library to which the location number of IC1 is added is designed in parallel with the board design.
It is assumed that the logic libraries IC2 and IC3 have already been designed. Further, a master name EXA of the IC indicated by the location number of the IC 1 is defined. The logic diagram data created by the board logic diagram input unit 3 is stored in the board logic diagram data storage unit 5.

【0030】次に、基板仕様検討用信号選択部4は、基
板論理図データ記憶部5に記憶されている論理図データ
に含まれる信号名から基板仕様検討用レイアウトデータ
を作成および編集する信号名を選択する。図4〜図8に
示した例では、BB0〜BB2と、CC0〜CC2の信
号を選択したことを想定している。
Next, the board specification reviewing signal selector 4 generates a signal name for creating and editing board specification reviewing layout data from the signal names included in the logic diagram data stored in the board logic diagram data storage 5. Select In the examples shown in FIGS. 4 to 8, it is assumed that signals BB0 to BB2 and signals CC0 to CC2 are selected.

【0031】次に、基板仕様検討用レイアウトデータ作
成/編集部8は、基板仕様検討用信号選択部4で選択し
た信号名(BB0〜BB2、CC0〜CC2)と、基板
論理図データ記憶部5に記憶された基板論理図データ
(図3)と、基板仕様検討用準備データ記憶部7に記憶
された電子部品の基板仕様検討用の電子部品ライブラリ
(図4のIC1〜IC3)と、ICインタフェース情報
記憶部13に記憶されたICインタフェース情報(図
5)とを入力し、最初の基板仕様検討用レイアウトデー
タ(図4)を作成する。
Next, the board specification review layout data creating / editing section 8 stores the signal names (BB0 to BB2, CC0 to CC2) selected by the board specification review signal selection section 4 and the board logic diagram data storage section 5 , The electronic component library (IC1 to IC3 in FIG. 4) for examining the board specifications of the electronic components stored in the board specification study preparation data storage unit 7, and the IC interface The IC interface information (FIG. 5) stored in the information storage unit 13 is input, and first layout data for board specification study (FIG. 4) is created.

【0032】次に、基板外形と基板登録名KIBAN0
01を入力する。具体的な入力方法は、基板仕様検討用
レイアウトデータ作成/編集部8において、入力部1を
用い基板の外形を作画し、作成した基板外形にプロパテ
ィにより基板登録名KIBAN001を付加する。基板
登録名KIBAN001は、入力部1により基板仕様検
討用準備データ記憶部7に既に記憶された基板登録名を
参照し、その中から選択する。基板登録名KIBAN0
01は、図9の基板情報参照用GUIを用いるか、また
は、入力部1を用いて基板仕様検討用準備データ記憶部
7を直接参照する方法がある。参照した基板登録名KI
BAN001を上述のように基板外形にプロパティによ
り付加する。図4では、基板登録名を付加するプロパテ
ィ名として“Board_Tech”を使用している
が、“Board_Tech”というプロパティ名やプ
ロパティ付加による定義方法に固定する必要はない。
Next, the board outline and the board registration name KIBAN0
Enter 01. As a specific input method, in the layout data creating / editing section 8 for examining the board specifications, an outline of the board is drawn using the input section 1, and a board registration name KIBAN001 is added to the created board outline by a property. The board registration name KIBAN001 refers to the board registration name already stored in the board specification study preparation data storage unit 7 by the input unit 1, and selects from the board registration name. Board registration name KIBAN0
For 01, there is a method of directly using the board information reference GUI 7 of FIG. 9 or directly using the input unit 1 to refer to the board specification study preparation data storage unit 7. Referenced board registration name KI
BAN001 is added to the board outline by properties as described above. In FIG. 4, “Board_Tech” is used as a property name to which a board registration name is added, but it is not necessary to fix the property name to “Board_Tech” or a definition method by adding a property.

【0033】プロパティにより基板登録名を基板外形に
定義や変更することにより、図4に示した基板仕様検討
用レイアウトデータに使用する基板の基板情報の設定や
変更が可能である。
By defining or changing the board registration name to the board outline by the property, it is possible to set or change the board information of the board used for the board specification study layout data shown in FIG.

【0034】図10〜図15は、基板登録名に従属する
基板情報に含まれる情報の一例を示す図である。
FIGS. 10 to 15 show examples of information included in the board information dependent on the board registration name.

【0035】図10は、基板の層構成例と、基板を構成
する各層のレイヤ名と層の属性とを示す図である。図1
0に示す4層基板は、信号配線と部品を配置するCom
pとSolderのレイヤ名で指定される導電体層が2
層と、給電と信号配線が作成されるGNDとVCCのレ
イヤ名で指定される導電体層が2層と、各導電体層の間
を絶縁するLam1とLam2とLam3のレイヤ名で
指定される絶縁体層が3層と、CompとSolder
のレイヤ名で指定される導電体層の外側の空気などを表
現する絶縁体層が2層、により構成される。レイヤ名で
指定される層には、その層の物性や設計上の切り分けを
示す層の属性名を付加する。層の属性名には、信号配線
を作成する層はSignal、給電のための導電体のベ
タパターンを作成する層はPlane、絶縁体層はIn
sulatorがある。
FIG. 10 is a diagram showing an example of the layer configuration of the substrate, and the layer names and the attributes of the layers constituting the substrate. FIG.
The four-layer substrate shown in FIG.
The conductor layer specified by the layer name of p and Solder is 2
Two layers, conductor layers specified by GND and VCC layer names in which power supply and signal wiring are created are specified by layer names Lam1, Lam2, and Lam3 that insulate between each conductive layer. Three insulator layers, Comp and Solder
Of the conductor layer specified by the layer name of FIG. To a layer specified by a layer name, an attribute name of the layer indicating physical properties of the layer and design separation is added. In the attribute name of the layer, the layer for forming a signal wiring is Signal, the layer for forming a solid pattern of a conductor for power supply is Plane, and the insulator layer is In.
There is a sulator.

【0036】図11(a)は、基板を構成する各層の特
性インピーダンス(Z0)と、単位長当たりの遅延値(T
d)とを示す図であり、同図(b)は、基板を全層均一
と仮定した場合の特性インピーダンス(Z0)と、単位長
当たりの遅延値(Td)とを示す図である。図11(a)
に示すように、特性インピーダンス(Z0)と単位長さ当
たりの遅延値(Td)は、レイヤ名で指定される導電体層
ごとに付加するか、または、図11(b)に示すように
全導電体層均一の値として付加する。図11(a)と同
図(b)に示すパラメータの両方とも設定した場合、レ
イヤ名で指定する導電体層ごとに設定したパラメータが
優先される。
FIG. 11A shows the characteristic impedance (Z0) of each layer constituting the substrate and the delay value (T) per unit length.
FIG. 2B is a diagram showing characteristic impedance (Z0) and a delay value per unit length (Td) when the substrate is assumed to be uniform in all layers. FIG. 11 (a)
As shown in FIG. 11, the characteristic impedance (Z0) and the delay value per unit length (Td) are added for each conductor layer specified by the layer name, or as shown in FIG. It is added as a uniform value of the conductor layer. When both the parameters shown in FIGS. 11A and 11B are set, the parameter set for each conductor layer specified by the layer name has priority.

【0037】図12は、基板を構成する各層の層厚と、
絶縁体層の比誘電率(εr)とを示す図である。図12に
示すように基板の各層の層厚と、レイヤ名で指定される
絶縁体層の比誘電率(εr)を付加する。図13は、導電
体の抵抗率(ρ)と、基板を構成する絶縁体層の比透磁力
(μ)、導電率(σ)、及び、損失角(TAN)を示す図であ
る。図13に示すように比透磁力(μ)と導電率(σ)と損
出角(TAN)はレイヤ名で指定される絶縁体層ごとに付
加する。
FIG. 12 shows the thickness of each layer constituting the substrate,
FIG. 4 is a diagram showing a relative dielectric constant (εr) of an insulator layer. As shown in FIG. 12, the thickness of each layer of the substrate and the relative dielectric constant (εr) of the insulator layer specified by the layer name are added. FIG. 13 shows the resistivity (ρ) of the conductor and the relative magnetic permeability of the insulator layer forming the substrate.
(μ), conductivity (σ), and loss angle (TAN). As shown in FIG. 13, the relative magnetic force (μ), conductivity (σ), and loss angle (TAN) are added for each insulator layer specified by a layer name.

【0038】図14は、基板を構成する導電体層に作成
する導電体の配線幅を示す図である。図15(a)は、
導電体層に作成する導電体間の最小間隙値を示す図であ
り、同図(b)は基板を全層均一とした導電体層に作成
する導電体間の最小間隙値を示す図である。図14に示
すように導電体層ごとの配線幅は基板のレイヤ名で指定
される各導電体層ごとに付加する。また図15(a)に
示すように、導電体間の間隙値は、電子部品を実装する
CompとSolderのレイヤ名で指定される層にお
ける部品を実装するためのPadと配線作成時に配線を
作成する層を変更するための導通穴であるViaとの間
隙値(Pad to Via)と、部品を実装するためのPadと
配線(Line)との間隙値(Pad to Line)と、部品を
実装するためのPadとPadとの間隙値(Pad to Pa
d)と、ViaとViaの間隙値(Via to Via)と、V
iaとLineとの間隙値(Via to Line)と、Lin
eとLineの間隙値(Line to Line)、および、GN
DとVCCのレイヤ名で指定される層の、ViaとVi
a、ViaとLine、LineとLineの間隙値を
付加するか、または、全導電体層均一の、PadとPa
d、PadとLine、PadとPad、ViaとVi
a、ViaとLine、LineとLineの間隙値を
付加する。通常は、図15(b)に示したように全導電
体層均一の導電体間の間隙値を付加し、レイヤ名で指定
する導電体層ごとで導電体間の間隙値を変更したい場合
は図15(a)の間隙値を付加する。図15(a)、
(b)に示すパラメータの両方とも付加した場合は、レ
イヤ名で指定する導電体層ごとに設定したパラメータが
優先される。
FIG. 14 is a diagram showing the wiring width of the conductor formed on the conductor layer constituting the substrate. FIG. 15 (a)
It is a figure which shows the minimum gap value between conductors formed in a conductor layer, and FIG. 6 (b) is a figure which shows the minimum gap value between conductors formed in a conductor layer in which the substrate is made uniform in all layers. . As shown in FIG. 14, the wiring width for each conductor layer is added for each conductor layer specified by the layer name of the substrate. Further, as shown in FIG. 15A, the gap value between the conductors is determined by the pad for mounting the component in the layer specified by the layer name of Comp and Solder for mounting the electronic component and the wiring when the wiring is created. The gap value (Pad to Via) with Via which is a conduction hole for changing the layer to be formed, the gap value (Pad to Line) with Pad and wiring (Line) for mounting the component, and the component mounting Value of Pad to Pad (Pad to Pa
d), the gap value between Vias (Via to Via), and V
The gap value (Via to Line) between ia and Line, and Lin
e and Line gap (Line to Line) and GN
Via and Vi of the layer specified by the layer name of D and VCC
a, Add a gap value between Via and Line, Line and Line, or make Pad and Pa uniform for all conductor layers.
d, Pad and Line, Pad and Pad, Via and Vi
a, a gap value between Via and Line, and a gap value between Line and Line are added. Normally, as shown in FIG. 15 (b), when it is desired to add a gap value between conductors uniform in all conductor layers and change the gap value between conductors for each conductor layer specified by a layer name. The gap value shown in FIG. 15A is added. FIG. 15 (a),
When both of the parameters shown in (b) are added, the parameter set for each conductor layer specified by the layer name has priority.

【0039】以上に示した基板登録名に従属する基板情
報に含まれるパラメータは、全てを設定する必要はな
い。基板仕様検討をおこなうためには、最低でも、図1
0と図11(b)と図14と図15(b)に示すパラメ
ータが必要である。それ以外の図に示すパラメータは、
より詳細なレベルの基板仕様検討用レイアウトデータの
作成や編集、または、より実測に近いシミュレーション
をおこなう場合に付加するものである。
It is not necessary to set all parameters included in the board information dependent on the board registration name described above. In order to study the board specifications, at least
0 and the parameters shown in FIG. 11 (b), FIG. 14 and FIG. 15 (b) are required. The parameters shown in the other figures are
This is added when creating or editing layout data for examining board specifications at a more detailed level, or performing simulation closer to actual measurement.

【0040】すなわち、基板仕様検討は、基板の機能や
論理設計段階での実施を想定しているため、基板レイア
ウト設計用準備データ記憶部15に記憶される基板情報
のように詳細なパラメータ設定を必要としない。
That is, since the board specification study is assumed to be performed at the stage of the function and logic design of the board, detailed parameter setting such as board information stored in the board layout design preparation data storage unit 15 is performed. do not need.

【0041】また、図10〜図15の例では、4層基板
を想定し、その基板情報に含まれるパラメータを示し
た。この例では基板の物理的な層構成をそのままパラメ
ータとして表現したが、その他、物理的な層構成に合致
しない仮想的な層構成のパラメータの表現も可能であ
る。例えば、導電体層1層でそれ以外の層が存在しない
ものや、導電体層だけが複数層存在するものなどであ
る。これはそれぞれ、基板の特性インピーダンス(Z0)
と単位長当たりの遅延値(Td)の検討や、基板に実装す
る回路の電子部品間の接続情報を基板外形の内側で配線
として実現が可能かどうかの評価への対応を想定してい
る。具体的に、前者は基板外形に定義される基板登録名
に従属する基板情報に含まれる基板の特性インピーダン
ス(Z0)と単位長当たりの遅延値(Td)をある範囲で増
減させてシミュレーションにより検証して最適な特性イ
ンピーダンス(Z0)と単位長当たりの遅延値(Td)を設
定する、また、後者は基板仕様検討用レイアウトデータ
作成や編集をする過程で基板外形に定義される基板登録
名に従属する基板情報に含まれる基板の層属性がSig
nalの導電体層を追加しながら配線の可否を判断しシ
ミュレーションにより検証をおこない最適な層属性がS
ignalの導電体層の層数を設定するのものである。
Also, in the examples of FIGS. 10 to 15, a four-layer board is assumed, and parameters included in the board information are shown. In this example, the physical layer configuration of the substrate is expressed as a parameter as it is, but in addition, a parameter of a virtual layer configuration that does not match the physical layer configuration can be expressed. For example, there are a single conductor layer having no other layers or a conductor layer having only a plurality of layers. This is the characteristic impedance (Z0) of the board, respectively.
In addition, it is assumed that the method is to examine the delay value per unit length (Td) and to evaluate whether connection information between electronic components of a circuit mounted on a board can be realized as wiring inside the outer shape of the board. Specifically, the former is verified by simulation by increasing or decreasing the characteristic impedance (Z0) and the delay value per unit length (Td) of the board included in the board information dependent on the board registration name defined in the board shape within a certain range. To set the optimum characteristic impedance (Z0) and the delay value per unit length (Td). The latter is used for the board registration name defined in the board outline in the process of creating and editing the layout data for board specification study. If the layer attribute of the substrate included in the dependent substrate information is Sig
While adding a nal conductor layer, it is determined whether wiring is possible or not, and the result is verified by simulation.
This is for setting the number of signal conductor layers.

【0042】以上のように、基板の外形とそれにプロパ
ティで基板登録名を定義する。最初の基板仕様検討用レ
イアウトデータ(図4)において、基板仕様検討対象と
して基板仕様検討用信号選択部4で選択した信号名に接
続関係を持つ電子部品の基板仕様検討用の電子部品ライ
ブラリ(図4のIC1〜IC3)がある位置にまとめて
配置される。
As described above, the board registration name is defined by the board shape and its properties. In the first board specification study layout data (FIG. 4), an electronic component library for board specification study of an electronic component having a connection relationship with the signal name selected by the board specification study signal selector 4 as a board specification study target (FIG. 4). 4 IC1 to IC3) are collectively arranged at a certain position.

【0043】次に、基板仕様検討用レイアウトデータ作
成/編集部8は、最初の基板仕様検討用レイアウトデー
タ(図4)に対し、入力部1を用いて、電子部品ライブ
ラリ(図4のIC1〜IC3)の配置と配線を作成す
る。配置と配線をおこなった基板仕様検討用レイアウト
データ(図6)に対し、タイミング、波形、熱、EMC
などのシミュレーションを実施する。シミュレーション
の手順を次に示す。
Next, the board specification study layout data creating / editing section 8 uses the input section 1 to input the first board specification study layout data (FIG. 4) to the electronic component library (IC1 to IC1 in FIG. 4). The layout and wiring of the IC 3) are created. Timing, waveforms, heat, EMC for layout specification layout data (Fig. 6)
Perform a simulation such as The simulation procedure is shown below.

【0044】電子部品ライブラリの配置および配線の作
成処理は、配線板設計装置の操作をおこなう設計者が手
入力するマニュアル配置配線機能と、基板仕様検討用レ
イアウトデータ作成/編集部8が有する自動配置配線機
能を利用する。基板仕様検討用レイアウトデータ作成/
編集部8にて作成および編集した結果は、基板仕様検討
用レイアウトデータ記憶部17に記憶される。基板仕様
検討用レイアウトデータ記憶部17に記憶された基板仕
様検討用レイアウトデータに含まれる電子部品名と信号
名の中からシミュレーションを実施したいものを解析信
号/部品選択部19と入力部1とを用いて選択する。基
板仕様検討用レイアウトデータ記憶部17に記憶された
基板仕様検討用レイアウトデータからシミュレーション
を実施するために選択した電子部品名や信号名に関連す
る電子部品ライブラリの配置位置や配線のトポロジー情
報など、タイミング、波形、熱、EMCシミュレータに
必要なデータを解析用データ処理部21により抽出およ
び加工して出力する。
The layout of the electronic component library and the creation of the wiring are performed by a manual placement / wiring function manually input by a designer who operates the wiring board designing apparatus, and by an automatic placement / holding function provided by the layout data creating / editing unit 8 for examining the board specifications. Use the wiring function. Create layout data for board specification study /
The results created and edited by the editing unit 8 are stored in the board specification study layout data storage unit 17. From the electronic component names and signal names included in the board specification study layout data stored in the board specification study layout data storage unit 17, the analysis signal / component selection unit 19 and the input unit 1 are used for the analysis signal / component selection unit 19. Use to select. From the layout data for board specification study stored in the board specification study layout data storage unit 17, the layout position and wiring topology information of the electronic part library related to the electronic part names and signal names selected for performing the simulation, etc. The timing, waveform, heat, and data necessary for the EMC simulator are extracted and processed by the analysis data processing unit 21 and output.

【0045】解析用データ処理部21により出力される
解析用データと、解析用準備データ記憶部22に記憶さ
れる電子部品の内部遅延、電気的特性、消費電力などの
データを合わせて、タイミングシミュレータ24、波形
シミュレータ25、熱シミュレータ26、EMCシミュ
レータ27などに入力してシミュレーションを実行す
る。シミュレーションの実行結果は、タイミングシミュ
レーション結果記憶部28、波形シミュレーション結果
記憶部29、熱シミュレーション結果記憶部30、EM
Cシミュレーション結果記憶部31に記憶され、シミュ
レーション結果表示部32により、図2(a)のタイミ
ングシミュレーション結果、図2(b)の波形シミュレ
ーション結果、図2(c)の熱シミュレーション結果、
図2(d)のEMCシミュレーション結果のように表示
される。
The analysis data output from the analysis data processing unit 21 and the data such as the internal delay, electrical characteristics, and power consumption of the electronic components stored in the analysis preparation data storage unit 22 are combined into a timing simulator. 24, a waveform simulator 25, a heat simulator 26, an EMC simulator 27 and the like to execute a simulation. The simulation execution results are stored in a timing simulation result storage unit 28, a waveform simulation result storage unit 29, a thermal simulation result storage unit 30,
The simulation result display unit 32 stores the timing simulation results of FIG. 2A, the waveform simulation results of FIG. 2B, the thermal simulation results of FIG.
This is displayed as the result of the EMC simulation in FIG.

【0046】各シミュレータの概要を次に説明する。タ
イミングシミュレータ24が入力する情報は、解析準備
データ記憶部22に記憶される、電子部品内部の接続情
報、遅延値、及び、基板に実装する回路の動作条件と、
解析用データ処理部21から出力される、基板に実装す
る回路の電子部品間の接続情報、及び、この接続情報の
配線部分の遅延値、などである。電子部品間の配線部分
の遅延値は波形シミュレーションから出力されるものを
利用してもよい。タイミングシミュレータ24は、上述
の入力情報から各電子部品間の電気的な動作タイミング
をシミュレートして、タイミング不良の電子部品のピン
と、そのピンに接続関係のある信号を特定する。
The outline of each simulator will be described below. The information input by the timing simulator 24 includes connection information inside the electronic component, a delay value, and operating conditions of a circuit mounted on the board, which are stored in the analysis preparation data storage unit 22.
The connection information output from the analysis data processing unit 21 includes connection information between electronic components of a circuit mounted on the board, a delay value of a wiring portion of the connection information, and the like. As a delay value of a wiring portion between electronic components, a delay value output from a waveform simulation may be used. The timing simulator 24 simulates the electrical operation timing between the electronic components from the input information described above, and specifies the pins of the electronic component having the timing failure and the signals related to the pins.

【0047】波形シミュレータ25が入力する情報は、
解析準備データ記憶部22に記憶される電子部品の電気
的な特性や、解析用データ処理部21から出力される、
基板に実装する回路の電子部品間の接続情報、この接続
情報の動作条件・配線のトポロジー情報、及び、基板の
層構成・電気的な特性・物性情報などである。波形シミ
ュレータ25は、上述の入力情報から基板に実装する回
路を構成する電子部品の入出力バッファの伝送波形をシ
ミュレートして、反射およびクロストークおよびオーバ
ーシュートやアンダーシュートなどの信号伝送に係る不
良を検出する。
The information input by the waveform simulator 25 is
The electrical characteristics of the electronic components stored in the analysis preparation data storage unit 22 and the output from the analysis data processing unit 21
The information includes connection information between electronic components of a circuit mounted on the board, operating conditions and wiring topology information of the connection information, and information on a layer configuration, electrical characteristics, and physical properties of the board. The waveform simulator 25 simulates a transmission waveform of an input / output buffer of an electronic component constituting a circuit mounted on a board from the above-described input information, and detects a defect related to signal transmission such as reflection and crosstalk and overshoot and undershoot. Is detected.

【0048】熱シミュレータ26が入力する情報は、解
析準備データ記憶部22に記憶される電子部品の消費電
力と、解析用データ処理部21から出力される電子部品
の配置位置(配置座標と回転角度と配置面)などであ
る。熱シミュレータ26は、上述の入力情報から基板の
熱および対流計算をおこない各部品の温度や基板の熱分
布をシミュレートして、電子部品がメーカ規定の動作温
度内であるか否かの検証をおこなう。
The information input by the thermal simulator 26 includes the power consumption of the electronic components stored in the analysis preparation data storage unit 22 and the arrangement position (the arrangement coordinates and the rotation angle) of the electronic components output from the analysis data processing unit 21. And arrangement surface). The heat simulator 26 calculates the heat and convection of the board from the input information described above, simulates the temperature of each component and the heat distribution of the board, and verifies whether the electronic component is within the operating temperature specified by the manufacturer. Do it.

【0049】EMCシミュレータ27が入力する情報
は、解析準備データ記憶部22に記憶される電子部品の
電気的な特性や、解析用データ処理部21から出力され
る電子部品の配線の形状及び基板の物性情報などであ
る。EMCシミュレータ27は、上述の入力情報から基
板および基板の回路の周囲に発生する電磁放射をシミュ
レートして、電子部品がメーカ規定の動作範囲内である
か否かの検証をおこなう。
The information input to the EMC simulator 27 includes the electrical characteristics of the electronic components stored in the analysis preparation data storage unit 22, the wiring shapes of the electronic components output from the analysis data processing unit 21, and the board And physical property information. The EMC simulator 27 simulates electromagnetic radiation generated around the board and the circuit of the board from the input information described above, and verifies whether or not the electronic component is within the operation range specified by the manufacturer.

【0050】上述した手順でタイミング、波形、熱、E
MCなどのシミュレーションを実施する。シミュレーシ
ョンにより回路の正常な動作が確認でき、かつ、良好な
配置状態や配線状態を得られるまで基板仕様検討用レイ
アウトデータ作成/編集部8において入力部1を用い
て、電子部品ライブラリの配置の変更、配線の変更、I
Cインタフェース情報の変更などを繰り返しおこなう。
また、基板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集部8
において入力部1を用いて、基板外形に付加された基板
登録名を変更することにより、基板の層構成、各層の電
気的な特性値、物性情報、基板の導電体の幅や厚み、導
電体間の間隙値、基板全層の電気的な特性値などの基板
情報を変更することも可能である。
The timing, waveform, heat, E
Perform simulations such as MC. The layout of the electronic component library is changed using the input unit 1 in the layout data creating / editing unit 8 for examining the board specifications until the normal operation of the circuit can be confirmed by the simulation and a good arrangement state and wiring state can be obtained. , Change of wiring, I
The C interface information is repeatedly changed.
In addition, layout data creation / editing section 8 for board specification study
By using the input unit 1 to change the board registration name added to the board outer shape, the layer structure of the board, the electrical characteristic values of each layer, physical property information, the width and thickness of the conductor of the board, the conductor It is also possible to change substrate information such as a gap value between the substrates and electrical characteristic values of all layers of the substrate.

【0051】次に、ICインタフェース情報変更部分抽
出/反映部16は、基板仕様検討用レイアウトデータ作
成/編集部8において入力部1を用いて、電子部品ライ
ブラリの配置の変更、配線の変更、ICインタフェース
情報の変更などを繰り返しおこなった結果として得られ
る基板仕様検討用レイアウトデータ(図7)から、IC
インタフェース情報に係る変更部分を抽出し、ICイン
タフェース情報記憶部13に記憶されたICインタフェ
ース情報を図8に示すように変更する。基板の実装上の
問題を十分に考慮して設定したICインタフェース情報
は、並行して設計されるICのレイアウト設計への情報
として伝達し、その情報をICのレイアウト設計で使用
するICの自動レイアウト機能への入力データとして活
用する。
Next, the IC interface information changed portion extraction / reflection unit 16 uses the input unit 1 in the board specification study layout data creation / editing unit 8 to change the layout of the electronic component library, change the wiring, and change the IC. Based on the board specification study layout data (Fig. 7) obtained as a result of repeatedly changing the interface information, etc., the IC
The changed part related to the interface information is extracted, and the IC interface information stored in the IC interface information storage unit 13 is changed as shown in FIG. The IC interface information set by sufficiently considering the problem of mounting the board is transmitted as information to the layout design of the IC designed in parallel, and the information is used for the automatic layout of the IC used in the layout design of the IC. Use as input data for functions.

【0052】実施の形態1では、基板仕様検討用レイア
ウトデータ作成/編集部8は、入力部1を用いて、IC
インタフェース情報のピンアサインと使用する入出力バ
ッファの駆動能力の最適な設定をおこなったが、その
他、ICの給電ピンの追加処理なども可能である。
In the first embodiment, the layout data creating / editing unit 8 for examining the board specifications uses the input unit 1 to
Although the pin assignment of the interface information and the optimal setting of the driving capability of the input / output buffer to be used have been performed, processing for adding a power supply pin of the IC can also be performed.

【0053】また、基板仕様検討用レイアウトデータ作
成/編集部8は、入力部1を用いて変更したICインタ
フェース情報のチェック処理をおこなうことが可能であ
る。チェック項目は、同時変化するピン数、入力ピンと
出力ピンの隣接、10MHzを超える入力ピンと給電ピ
ンの近接、などである。このチェック処理は、通常IC
のレイアウト設計にて使用するものを利用したものであ
る。
The layout data creating / editing unit 8 for examining the board specifications can check the changed IC interface information by using the input unit 1. Check items include the number of pins that change simultaneously, the proximity of input pins and output pins, the proximity of input pins and power supply pins exceeding 10 MHz, and the like. This check processing is usually performed by IC
This is the one used in the layout design.

【0054】また、実施の形態1では基板の論理図デー
タが存在することを前提として説明をおこなったが、基
板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集部8は、入力
部1を用い、基板仕様検討用準備データ7とICインタ
フェース情報記憶部13から電子部品ライブラリ51を
呼び出し、電子部品間の接続情報を定義して、配置や配
線情報を入力し、上記の各種シミュレーションによる検
証を通して、ICインタフェース情報の最適な設定作業
をおこなうことも可能である。
Although the first embodiment has been described on the assumption that the logic diagram data of the board exists, the layout data creating / editing section 8 for examining the board specifications uses the input section 1 to examine the board specifications. The electronic component library 51 is called from the application preparation data 7 and the IC interface information storage unit 13, connection information between electronic components is defined, arrangement and wiring information are input, and verification of the IC interface information is performed through the above-described various simulations. It is also possible to perform optimal setting work.

【0055】以上のように、この実施の形態1によれ
ば、ICの論理回路データから概算されるゲート数、I
Cの使用動作周波数、最大I/O数、パッケージピン数
などの条件からICマスタが確定しているか、または、
使用するICマスタの候補がほぼ絞り込まれた段階か
ら、ICのピンアサインや使用するバッファのインタフ
ェース情報を仮定義し、さらに、そのICと信号接続さ
れる電子部品の仮レイアウトデータを作成および編集
し、タイミング、波形、熱、EMCなどのシミュレーシ
ョンをおこない動作を検証し、検証結果および基板の配
置状態や配線状態が最適となるICのピンアサインと使
用する入出力バッファのインタフェース情報とを決定し
て、それをIC設計へデータレベルでハンドリングする
ことが可能である。
As described above, according to the first embodiment, the number of gates estimated from the logic circuit data of the IC, I
The IC master is determined from the conditions such as the operating frequency of C, the maximum number of I / Os, and the number of package pins, or
From the stage where the candidates for the IC master to be used are almost narrowed down, the pin assignment of the IC and the interface information of the buffer to be used are provisionally defined, and further, the temporary layout data of the electronic components connected to the IC by the signal is created and edited. Simulate timing, waveform, heat, EMC, etc. to verify the operation, determine the verification results, pin assignment of the IC that optimizes the board placement state and wiring state, and interface information of the input / output buffer to be used. , It can be handled at the data level to the IC design.

【0056】実施の形態2.以下、この発明の実施の形
態2を説明する。なお、実施の形態1との重複部分は説
明を省略する。
Embodiment 2 Hereinafter, a second embodiment of the present invention will be described. The description of the same parts as in the first embodiment will be omitted.

【0057】図16は実施の形態2の配線板設計装置の
構成を示す図である。図において、11は基板仕様検討
用レイアウトデータ記憶部17に記憶された基板仕様検
討用レイアウトデータに含まれる基板論理図データに係
る情報と、基板論理図データ記憶部5に記憶された基板
論理図データとを比較して変更部分を抽出し、基板論理
図データ記憶部5に記憶された基板論理図データに上記
変更部分を反映する論理図データ変更部分抽出/反映部
である。なお、タイミングシミュレータ24、波形シミ
ュレータ25、熱シミュレータ26、EMCシミュレー
タ27、タイミングシミュレーション結果記憶部28、
波形シミュレーション結果記憶部29、熱シミュレーシ
ョン結果記憶部30、EMCシミュレーション結果記憶
部31、シミュレーション結果表示部32は、図1に示
した構成と同じなため、図示を省略している。
FIG. 16 is a diagram showing a configuration of a wiring board designing apparatus according to the second embodiment. In the figure, reference numeral 11 denotes information relating to the board logic diagram data included in the board specification study layout data stored in the board specification study layout data storage unit 17 and the board logic diagram stored in the board logic diagram data storage unit 5. A logic diagram data changed portion extraction / reflection unit that compares the data with data to extract a changed portion and reflects the changed portion on the board logic diagram data stored in the board logic diagram data storage unit 5. The timing simulator 24, the waveform simulator 25, the heat simulator 26, the EMC simulator 27, the timing simulation result storage unit 28,
The waveform simulation result storage unit 29, the thermal simulation result storage unit 30, the EMC simulation result storage unit 31, and the simulation result display unit 32 are the same as those shown in FIG.

【0058】図17は、図7の基板仕様検討用レイアウ
トデータに対して、タイミング、波形、熱、EMCなど
の検証を実施した結果を受けて、基板仕様検討用レイア
ウトデータ作成/編集部8において入力部1を用いて信
号名CC0で示される配線に受動素子を追加した基板仕
様検討用レイアウトデータの一例を示す図であり、図に
おいてCHR=R_15またはCHR=EX_Rは前述
の処理で追加した受動素子にプロパティを付加して定義
されたR/L/Cなどの電子部品の属性とその値または
電子部品の型名である。図18は、論理図データ変更部
分抽出/反映部11により、図17の基板仕様検討用レ
イアウトデータに含まれる基板の論理図データに係る情
報と、基板論理図データ記憶部5に記憶された基板の論
理図データとを比較して変更部分を抽出し、基板論理図
データ記憶部5に記憶された基板論理図データに上記変
更部分を反映した基板論理図データを示す図であり、図
においてEX_Rは追加変更された受動部品の型名であ
る。
FIG. 17 shows the results of verifying the timing, waveform, heat, EMC, etc. of the layout data for board specification study of FIG. It is a figure which shows an example of the layout data for board specification study which added the passive element to the wiring shown by signal name CC0 using the input part 1, and CHR = R_15 or CHR = EX_R is the passive data added in the above-mentioned process in the figure. These are attributes and values of electronic components such as R / L / C defined by adding properties to the elements, or model names of the electronic components. FIG. 18 shows information related to the logic diagram data of the board included in the board specification study layout data of FIG. 17 by the logic diagram data changed portion extraction / reflection unit 11 and the board stored in the board logic diagram data storage unit 5. FIG. 9 is a diagram showing board logic diagram data in which the changed portion is extracted by comparing the logic portion data with the logic diagram data of FIG. 5 and the changed portion is reflected on the board logic diagram data stored in the board logic diagram data storage section 5; Is the model name of the passive component that has been added or changed.

【0059】次に、図16に示した配線板設計装置を用
いて、基板仕様検討用レイアウトデータの作成や編集を
おこない、タイミング、波形、熱、EMCなどのシミュ
レーションにより基板動作を確認し、かつ、電子部品の
配置状態や配線状態が良好と判断された基板検討用レイ
アウトデータに含まれる基板論理図データに係る情報
と、基板論理図データ記憶部に記憶される基板の論理図
データとを比較して変更部分を基板論理図データ記憶部
に反映する手順を以下に示す。
Next, using the wiring board designing apparatus shown in FIG. 16, layout data for studying board specifications is created and edited, and board operation is confirmed by simulation of timing, waveform, heat, EMC, and the like. Compares the information on the board logic diagram data included in the board study layout data for which the arrangement state and the wiring state of the electronic components are determined to be good with the board logic diagram data stored in the board logic diagram data storage unit The procedure for reflecting the changed portion in the board logic diagram data storage unit will be described below.

【0060】基板論理図入力部3は、基板論理図入力用
準備データ記憶部2に記憶された電子部品の論理ライブ
ラリと、入力部1からの情報とにより、基板に実装する
回路の論理図データを作成する。作成方法は、実施の形
態1と同様であるため説明を省略する。図17〜図18
に示す例では、IC1とIC2とIC3のロケーション
番号が付加される電子部品ライブラリは設計が既に完了
したICとする。また、基板論理図入力部3で作成した
基板論理図データは基板論理図データ記憶部5に記憶さ
れる。
The board logic diagram input unit 3 uses the logic library of electronic components stored in the board logic diagram input preparation data storage unit 2 and the information from the input unit 1 to output the logic diagram data of the circuit mounted on the board. Create The creation method is the same as in the first embodiment, and a description thereof will not be repeated. 17 to 18
In the example shown in (1), the electronic component library to which the location numbers of IC1, IC2 and IC3 are added is an IC whose design has already been completed. The board logic diagram data created by the board logic diagram input unit 3 is stored in the board logic diagram data storage unit 5.

【0061】次に、基板仕様検討用信号選択部4は、基
板論理図データ記憶部5に記憶された論理図データ(図
3)に含まれるAA0〜DD2などの信号名から、基板
仕様検討用レイアウトデータを作成/編集する信号を選
択する。図17、18では、BB0〜BB2と、CC0
〜CC2の信号を選択したことを想定している。
Next, the board specification reviewing signal selector 4 retrieves the board specification reviewing signal from the signal names such as AA0 to DD2 included in the logic diagram data (FIG. 3) stored in the board logic diagram data storage 5. Select a signal for creating / editing layout data. 17 and 18, BB0 to BB2 and CC0
It is assumed that a signal of CC2 is selected.

【0062】次に、基板仕様検討用レイアウトデータ作
成/編集部8は、基板仕様検討用信号選択部4で選択し
た信号名(BB0〜BB2、CC0〜CC2)と、基板
論理図データ記憶部5に記憶された基板論理図データ
(図3)と、基板仕様検討用準備データ記憶部7に記憶
された電子部品ライブラリ(図7のIC1〜IC3)と
を入力し、基板仕様検討用レイアウトデータを作成し、
基板外形と基板登録名を実施の形態1と同様な手順で設
定する。
Next, the board specification study layout data creating / editing section 8 stores the signal names (BB0 to BB2, CC0 to CC2) selected by the board specification study signal selection section 4 and the board logic diagram data storage section 5 And the electronic component library (IC1 to IC3 in FIG. 7) stored in the board specification study preparation data storage section 7 and input the board specification study layout data. make,
The board outline and the board registration name are set in the same procedure as in the first embodiment.

【0063】次に、基板仕様検討用レイアウトデータ作
成/編集部8は、作成した基板仕様検討用レイアウトデ
ータに対し、電子部品ライブラリの配置と配線の作成を
行なう。配置と配線を実施した基板仕様検討用レイアウ
トデータ(図7)に対し、実施の形態1で説明した手順
でタイミング、波形、熱、EMCなどの検証を実施す
る。基板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集部8
は、シミュレーションにより回路の正常な動作が確認で
き、かつ、良好な配置状態や配線状態を得られるまで、
電子部品ライブラリの配置の変更、配線の変更、電子部
品ライブラリの追加と変更、電子部品ライブラリ間の接
続情報の追加と変更などを繰り返しおこなう。また、実
施の形態1と同様な手順により、基板の外形や基板登録
名を変更し、基板の層構成、各層の電気的な特性値、物
性情報、基板の導電体の幅や厚み、導電体間の間隙値、
基板全体の電気的な特性情報などを変更することも可能
である。
Next, the board specification study layout data creating / editing section 8 arranges an electronic component library and creates wiring for the created board specification study layout data. Verification of timing, waveform, heat, EMC, and the like is performed by the procedure described in the first embodiment on the layout data for board specification study (FIG. 7) on which the placement and wiring have been performed. Layout data creation / editing section 8 for board specification study
Until the normal operation of the circuit can be confirmed by simulation and a good placement state and wiring state can be obtained.
The change of the arrangement of the electronic component library, the change of the wiring, the addition and the change of the electronic component library, the addition and the change of the connection information between the electronic component libraries, etc. are repeated. In the same procedure as in the first embodiment, the outer shape of the substrate and the registered name of the substrate are changed, and the layer configuration of the substrate, the electrical characteristic values of each layer, physical property information, the width and thickness of the conductor of the substrate, the conductor Gap value between,
It is also possible to change the electrical characteristic information of the whole substrate.

【0064】図17、18では、信号名CC0で示され
る信号配線に受動部品を追加する例を説明している。追
加した受動部品はプロパティCHRを受動部品に付加し
て、その部品種別や特性値および部品型名を定義するこ
とが可能である。図17に示した基板仕様検討用レイア
ウトデータでは、CHR=R_15またはCHR=EX
_Rを、追加した受動部品に付加している。CHR=R
_15とは、追加した受動部品の種別が抵抗素子で、か
つ、15Ωの値を持つことが定義されている。これは受
動部品の種別や特性値を簡単に変更して各シミュレーシ
ョンを実施する、一連の繰り返し作業の効率化を図るた
めの機能である。受動部品の種別や特性を変更する場合
は、CHR=L_20(インダクタ20nH)や、CHR
=C_10(コンデンサ10pF)、のように入力する。
また、CHR=受動部品の電子部品ライブラリ名を入力
することも可能である。これら受動部品の追加や部品種
別名と特性値の設定や変更は、基板仕様検討用レイアウ
トデータ作成/編集部8において入力部1を用いておこ
なう。
FIGS. 17 and 18 illustrate an example in which passive components are added to the signal wiring indicated by the signal name CC0. For the added passive component, it is possible to add a property CHR to the passive component and define its component type, characteristic value, and component type name. In the layout data for board specification study shown in FIG. 17, CHR = R_15 or CHR = EX
_R is added to the added passive component. CHR = R
_15 defines that the type of the added passive component is a resistance element and has a value of 15Ω. This is a function for easily changing the type and characteristic value of the passive component and performing each simulation, thereby improving the efficiency of a series of repetitive operations. When changing the type and characteristics of the passive component, CHR = L_20 (inductor 20 nH), CHR
= C_10 (capacitor 10pF).
It is also possible to input CHR = electronic component library name of passive components. The addition of these passive components and the setting and change of the component type name and the characteristic value are performed using the input unit 1 in the layout data creating / editing unit 8 for examining the board specifications.

【0065】次に、論理図データ変更部分抽出/反映部
11は、基板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集部
8において入力部1を用いて、電子部品ライブラリの配
置の変更、配線の変更、電子部品ライブラリの追加と変
更、電子部品間の接続情報の追加と変更などを繰り返し
おこなった結果として得られる基板仕様検討用レイアウ
トデータに含まれる基板の論理図データに係る情報と、
基板論理図データ記憶部5に記憶された基板の論理図デ
ータとを比較して変更部分を抽出し、基板論理図データ
記憶部5に反映する。基板仕様検討用レイアウトデータ
(図17)の結果を反映した論理図データ(図18)で
は、信号名CC0で示される接続情報に、EX_Rの部
品ライブラリ名が付加抵抗が追加される。
Next, the logic diagram data change portion extraction / reflection unit 11 uses the input unit 1 in the board specification study layout data creation / editing unit 8 to change the layout of the electronic component library, change the wiring, Information related to the logic diagram data of the board included in the board specification study layout data obtained as a result of repeatedly adding and changing the component library, adding and changing the connection information between the electronic components,
The changed part is extracted by comparing it with the logic diagram data of the board stored in the board logic diagram data storage unit 5 and reflected in the board logic diagram data storage unit 5. In the logic diagram data (FIG. 18) reflecting the result of the board specification study layout data (FIG. 17), the EX_R component library name and the additional resistance are added to the connection information indicated by the signal name CC0.

【0066】実施の形態2では、基板仕様検討用レイア
ウトデータ作成/編集部8は、入力部1を用いて、受動
部品の追加、追加した受動部品の部品種別と特性値の設
定や変更などをおこなったが、その他、受動部品以外の
電子部品の追加と変更、電子部品間の接続情報の追加と
変更などの処理も可能である。
In the second embodiment, the layout data creating / editing unit 8 for examining the board specifications uses the input unit 1 to add a passive component, and to set or change the component type and characteristic value of the added passive component. However, other processes such as addition and change of electronic components other than passive components and addition and change of connection information between electronic components are also possible.

【0067】また、実施の形態2では基板の論理図デー
タが存在することを前提として説明をおこなったが、基
板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集部8は、入力
部1を用い、基板仕様検討用準備データ記憶部7から電
子部品ライブラリを呼び出し、さらに、電子部品間の接
続信号を定義し、電子部品ライブラリの配置や配線の作
成と変更をおこない、実施の形態1で説明した検証を実
施して、基板に実装する回路を構成する部品の使用可否
の決定をおこなうことも可能である。
In the second embodiment, the explanation has been made on the assumption that the logic diagram data of the board exists. However, the layout data creating / editing section 8 for examining the board specifications uses the input section 1 to examine the board specifications. The electronic component library is called from the preparation data storage unit 7, the connection signals between the electronic components are defined, the arrangement and wiring of the electronic component library are created and changed, and the verification described in the first embodiment is performed. Thus, it is also possible to determine whether or not the components constituting the circuit mounted on the board can be used.

【0068】以上のように、この実施の形態2によれ
ば、基板の機能や論理設計の開始段階からほぼ完了する
段階までの間に、基板に実装する回路を構成する電子部
品の候補と、その電子部品と信号接続される電子部品の
仮レイアウトデータを作成して、タイミング、波形、
熱、EMCなどのシミュレーションをおこない動作を検
証し、検証結果および基板の配置状態や配線状態が最適
となる、電子部品や接続情報を決定して、それを論理図
データの変更情報として基板の論理設計へデータレベル
でハンドリングすることが可能である。
As described above, according to the second embodiment, during the period from the start of the function or logic design of the substrate to the stage of almost completing it, the candidates for the electronic components constituting the circuit mounted on the substrate are: Create temporary layout data for the electronic components that are signal-connected to the electronic components,
Verifies the operation by simulating heat, EMC, etc., determines the electronic components and connection information that optimize the verification results and the arrangement state and wiring state of the board, and uses it as the change information of the logic diagram data. It is possible to handle the design at the data level.

【0069】実施の形態3.以下、この発明の実施の形
態3を説明する。実施の形態1、2との重複部分は説明
を省略する。
Embodiment 3 Hereinafter, a third embodiment of the present invention will be described. The description of the overlapping portions with the first and second embodiments will be omitted.

【0070】図19は実施の形態3の配線板設計装置の
構成を示す図である。図において、15は基板レイアウ
ト設計に必要な電子部品の形状、電子部品間の接続情
報、基板層構成などの情報を記憶する基板レイアウト設
計用準備データ記憶部、18は基板仕様検討用レイアウ
トデータ記憶部17に記憶された基板仕様検討用レイア
ウトデータから電子部品ライブラリの配置位置、信号配
線の配線長および配線層などのレイアウト要求仕様を抽
出し、基板レイアウト設計用準備データ記憶部15に反
映する基板レイアウト要求仕様抽出反映部、19は後述
するシミュレーションをおこなう信号名および電子部品
名を基板仕様検討用レイアウトデータ記憶部17または
基板レイアウト設計データ記憶部23から選択する解析
信号/部品選択部、20は入力部1及び基板レイアウト
設計用準備データ記憶部15の情報を用いて電子部品ラ
イブラリの配置や電子部品間の配線の作成をおこなう基
板配置配線設計部、21は解析信号/部品選択部19で
選択された信号名や電子部品名、解析準備データ記憶部
22に記憶された解析準備データ、基板仕様検討用レイ
アウトデータ記憶部17に記憶された基板仕様検討用レ
イアウトデータ、または基板レイアウト設計データ記憶
部23に記憶された基板レイアウト設計データから、後
述するシミュレーションの実行に必要なデータを出力す
る解析用データ処理部、23は基板配置配線設計部20
で設計した基板のレイアウト設計データを記憶する基板
レイアウト設計データ記憶部である。なお、タイミング
シミュレータ24、波形シミュレータ25、熱シミュレ
ータ26、EMCシミュレータ27、タイミングシミュ
レーション結果記憶部28、波形シミュレーション結果
記憶部29、熱シミュレーション結果記憶部30、EM
Cシミュレーション結果記憶部31、シミュレーション
結果表示部32は、図1に示した構成と同じなため、図
示を省略している。
FIG. 19 is a diagram showing a configuration of a wiring board designing apparatus according to the third embodiment. In the drawing, reference numeral 15 denotes a board layout design preparation data storage unit for storing information such as the shape of electronic components required for board layout design, connection information between electronic components, and board layer configuration, and 18 denotes layout data storage for board specification study. The layout requirement specification such as the layout position of the electronic component library, the wiring length of the signal wiring, and the wiring layer is extracted from the layout data for board specification study stored in the section 17 and is reflected in the board layout design preparation data storage section 15. A layout requirement specification extraction / reflection unit 19 is an analysis signal / component selection unit for selecting a signal name and an electronic component name for performing a simulation, which will be described later, from the layout data storage unit 17 for examining the board specifications or the board layout design data storage unit 23. Using the information in the input unit 1 and the board layout design preparation data storage unit 15 A board layout and wiring design unit 21 for arranging an electronic component library and creating wiring between electronic components is stored in a signal name and an electronic component name selected by the analysis signal / component selection unit 19 and an analysis preparation data storage unit 22. From the analysis preparation data, the board specification study layout data stored in the board specification study layout data storage unit 17, or the board layout design data stored in the board layout design data storage unit 23. An analysis data processing unit that outputs various data;
Is a board layout design data storage unit that stores the layout design data of the board designed in step 2. The timing simulator 24, the waveform simulator 25, the heat simulator 26, the EMC simulator 27, the timing simulation result storage unit 28, the waveform simulation result storage unit 29, the heat simulation result storage unit 30,
The C simulation result storage unit 31 and the simulation result display unit 32 have the same configurations as those shown in FIG.

【0071】図20は基板レイアウト要求仕様抽出/反
映部18において図7に示した基板仕様検討用レイアウ
トデータから基板レイアウト設計用準備データ記憶部1
5に反映する基板レイアウト要求仕様データの一例であ
る。
FIG. 20 shows a board layout requirement specification extraction / reflection section 18 which converts the board specification study layout data shown in FIG.
5 is an example of board layout requirement specification data reflected in No. 5;

【0072】次に、図19に示した配線板設計装置を用
いて、基板仕様検討用レイアウトデータの作成や編集を
おこない、タイミング、波形、熱、EMCなどのシミュ
レーションによる基板動作検証と、電子部品の配置状態
や配線状態の判断をおこない、結果として得られた基板
検討用レイアウトデータから基板のレイアウト要求仕様
を抽出して、基板のレイアウト設計用準備データに反映
する手順を以下に示す。
Next, using the wiring board design apparatus shown in FIG. 19, the layout data for examining the board specifications is prepared and edited, and the board operation is verified by simulation of timing, waveform, heat, EMC, etc. The following describes the procedure for determining the layout state and wiring state of the board, extracting board layout requirement specifications from the resulting board study layout data, and reflecting the board layout design preparation data on the board layout design preparation data.

【0073】基板論理図入力部3は、基板論理図入力用
準備データ記憶部2に記憶された電子部品の論理ライブ
ラリと、入力部1からの情報とにより、基板に実装する
回路の論理図データを作成する。作成方法は、実施の形
態1と同様であるため説明を省略する。
The board logic diagram input unit 3 uses the logic library of the electronic components stored in the board logic diagram input preparation data storage unit 2 and the information from the input unit 1 to output the logic diagram data of the circuit mounted on the board. Create The creation method is the same as in the first embodiment, and a description thereof will not be repeated.

【0074】次に、基板仕様検討用信号選択部4は、基
板論理図データ記憶部5に記憶された論理図データ(図
3)に含まれるAA0〜DD2などの信号名から、基板
仕様検討用レイアウトデータの作成や編集をおこなう信
号名を選択する。図20では、BB0〜BB2と、CC
0〜CC2の信号を選択したことを想定している。
Next, the board specification reviewing signal selector 4 uses the signal names such as AA0 to DD2 included in the logic diagram data (FIG. 3) stored in the board logic diagram data storage 5 to determine the board specification. Select a signal name for creating or editing layout data. In FIG. 20, BB0 to BB2 and CC
It is assumed that signals 0 to CC2 have been selected.

【0075】次に、基板仕様検討用レイアウトデータ作
成/編集部8は、基板仕様検討用信号選択部4で選択し
た信号名(BB0〜BB2、CC0〜CC2)と、基板
論理図データ記憶部5に記憶された基板論理図データ
(図3)と、基板仕様検討用準備データ記憶部7に記憶
された電子部品ライブラリ(図7のIC1〜IC3)と
を入力し、基板仕様検討用レイアウトデータを作成し、
基板外形と基板登録名を実施の形態1と同様な手順で設
定する。
Next, the board specification review layout data creating / editing section 8 stores the signal names (BB0-BB2, CC0-CC2) selected by the board specification review signal selection section 4 and the board logic diagram data storage section 5 And the electronic component library (IC1 to IC3 in FIG. 7) stored in the board specification study preparation data storage section 7 and input the board specification study layout data. make,
The board outline and the board registration name are set in the same procedure as in the first embodiment.

【0076】次に、基板仕様検討用レイアウトデータ作
成/編集部8は、作成した基板仕様検討用レイアウトデ
ータに対し、電子部品ライブラリの配置と配線の作成を
行なう。配置と配線を実施した基板仕様検討用レイアウ
トデータ(図7)に対し、実施の形態1で説明した手順
でタイミング、波形、熱、EMCなどの検証を実施す
る。基板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集部8
は、シミュレーションにより回路の正常な動作が確認で
き、かつ、良好な配置状態や配線状態を得られるまで、
電子部品ライブラリの配置の変更、配線の変更、電子部
品ライブラリの追加と変更、電子部品ライブラリ間の接
続情報の追加と変更などを繰り返しおこなう。また、実
施の形態1と同様な手順により、基板の外形と基板登録
名を変更し、基板の層構成、各層の電気的な特性値、物
性情報、基板の導電体の幅や厚み、導電体間の間隙値、
基板全体の電気的な特性情報などを変更することも可能
である。
Next, the board specification study layout data creating / editing section 8 arranges an electronic component library and creates wiring for the created board specification study layout data. Verification of timing, waveform, heat, EMC, and the like is performed by the procedure described in the first embodiment on the layout data for board specification study (FIG. 7) on which the placement and wiring have been performed. Layout data creation / editing section 8 for board specification study
Until the normal operation of the circuit can be confirmed by simulation and a good placement state and wiring state can be obtained.
The change of the arrangement of the electronic component library, the change of the wiring, the addition and the change of the electronic component library, the addition and the change of the connection information between the electronic component libraries, etc. are repeated. In the same procedure as in the first embodiment, the outer shape of the substrate and the registered name of the substrate are changed, and the layer configuration of the substrate, the electrical characteristic values of each layer, physical property information, the width and thickness of the conductor of the substrate, the conductor Gap value between,
It is also possible to change the electrical characteristic information of the whole substrate.

【0077】次に、基板レイアウト要求仕様抽出/反映
部18は、基板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集
部8において入力部1を用いて、電子部品ライブラリの
配置の変更、配線の変更、電子部品の追加と変更、電子
部品ライブラリ間の接続情報の追加と変更などを繰り返
しおこなった結果として得られる基板仕様検討用レイア
ウトデータ(図7)から基板のレイアウト要求仕様(図
20)を抽出して基板レイアウト設計用準備データ記憶
部15に反映する。
Next, the board layout requirement specification extraction / reflection unit 18 uses the input unit 1 in the board specification study layout data creation / editing unit 8 to change the layout of the electronic component library, change the wiring, The board layout requirement specification (FIG. 20) is extracted from the board specification study layout data (FIG. 7) obtained as a result of repeatedly adding and changing the connection information between the electronic component libraries, and the like. This is reflected in the layout design preparation data storage unit 15.

【0078】レイアウト要求仕様とは、基板仕様検討用
レイアウトデータ記憶部17に記憶された基板仕様検討
用レイアウトデータに含まれる電子部品の配置や配線に
係る情報を、プログラマティックなフォーマットでリス
トデータ化したものである。フォーマットの中で表現で
きるレイアウト要求項目は、電子部品の配置面と回転角
度と配置位置座標値、信号の総配線長、信号のピン指定
の配線順序と配線幅と配線層、ピンとピンの間の配線長
と配線幅と配線層、信号の分岐点までの配線長と配線層
と配線幅と分岐点からの配線長と配線層と配線幅などの
分岐方法、信号の基板レイアウト設計時の配線優先順位
などである。
The layout requirement specification is a list data in a programmatic format of information on the arrangement and wiring of electronic components contained in the layout data for board specification study stored in the layout data storage section 17 for board specification study. It was done. The layout requirement items that can be expressed in the format include the layout surface, rotation angle, layout position coordinate value of electronic components, total wiring length of signals, wiring order and wiring width and wiring layer for signal pin specification, and Wiring length, wiring width and wiring layer, wiring length to signal branch point, wiring layer and wiring width, wiring length from wiring point, wiring layer and wiring width, branching method, wiring priority in signal board layout design Ranking.

【0079】基板レイアウト設計用準備データ記憶部1
5に反映されたレイアウト要求仕様は、基板配置配線設
計部20の自動配置や自動配線機能により自動的に基板
レイアウト設計データで実現される。
Preparation data storage unit 1 for board layout design
5 is automatically realized by the board layout design data by the automatic placement and automatic routing functions of the board placement and wiring design unit 20.

【0080】なお、実施の形態3では基板の論理図デー
タが存在することを前提として説明をおこなったが、基
板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集部8は、入力
部1を用い、基板仕様検討用準備データ記憶部7から電
子部品ライブラリを呼び出し、電子部品ライブラリ間の
接続情報を定義して、各シミュレーションにより基板の
動作を確認、また、電子部品ライブラリの配置と配線の
状態を判断し、結果としてレイアウト要求仕様の抽出お
よび反映作業をおこなうことも可能である。
Although the third embodiment has been described on the assumption that logic diagram data of a board exists, the layout data creating / editing section 8 for studying board specifications uses the input section 1 to examine board specifications. The electronic component library is called from the preparation data storage unit 7, connection information between the electronic component libraries is defined, the operation of the board is confirmed by each simulation, and the arrangement and wiring state of the electronic component library are determined. It is also possible to extract and reflect the layout requirement specification.

【0081】以上のように、この実施の形態3によれ
ば、基板の機能や論理設計の開始段階からほぼ完了する
段階までの間に、基板に実装する回路を構成する電子部
品群とその電子部品と信号接続される電子部品の仮レイ
アウトデータを作成して、タイミング、波形、熱、EM
Cなどのシミュレーションをおこない動作を検証し、検
証結果および基板の配置状態や配線状態が最適となる電
子部品の配置位置や配線方法を決定し、それをレイアウ
ト要求仕様として抽出し基板のレイアウト設計へデータ
レベルでハンドリングすることが可能である。
As described above, according to the third embodiment, during the period from the start of the function and logic design of the board to the stage of almost completing it, the electronic component group constituting the circuit mounted on the board and its electronic components Creates temporary layout data of electronic components connected to components and signals, and creates timing, waveform, heat, EM
Verify the operation by performing simulations such as C, determine the verification results, the layout position and wiring method of electronic components that optimize the board layout and wiring conditions, extract them as layout required specifications, and proceed to board layout design It is possible to handle at the data level.

【0082】実施の形態4.以下、この発明の実施の形
態4を説明する。実施の形態1〜3との重複部分は説明
を省略する。
Embodiment 4 Hereinafter, a fourth embodiment of the present invention will be described. The description of the overlapping parts with the first to third embodiments will be omitted.

【0083】図21は実施の形態3の配線板設計装置の
構成を示す図である。図において、6は基板仕様検討用
準備データ記憶部7と基板レイアウト設計用準備データ
記憶部15に記憶される電子部品の形状、基板の層構
成、電気的な特性、物性情報などを基板仕様検討と基板
レイアウト設計で共用化するための整合処理をおこなう
基板仕様検討と基板レイアウト設計の準備データ整合処
理部である。なお、タイミングシミュレータ24、波形
シミュレータ25、熱シミュレータ26、EMCシミュ
レータ27、タイミングシミュレーション結果記憶部2
8、波形シミュレーション結果記憶部29、熱シミュレ
ーション結果記憶部30、EMCシミュレーション結果
記憶部31、シミュレーション結果表示部32は、図1
に示した構成と同じなため、図示を省略している。
FIG. 21 is a diagram showing a configuration of a wiring board designing apparatus according to the third embodiment. In the figure, reference numeral 6 denotes a board specification study which stores the shapes of electronic components, board layer configuration, electrical characteristics, physical properties, etc. stored in a board specification study preparation data storage section 7 and a board layout design preparation data storage section 15. It is a data matching processing unit for preparing a board specification and preparing a board layout for performing a matching process for sharing with the board layout design. The timing simulator 24, the waveform simulator 25, the heat simulator 26, the EMC simulator 27, the timing simulation result storage unit 2
8, the waveform simulation result storage unit 29, the thermal simulation result storage unit 30, the EMC simulation result storage unit 31, and the simulation result display unit 32 are shown in FIG.
Are omitted since they are the same as those shown in FIG.

【0084】次に、図21に示した配線板設計装置を用
いて、基板仕様検討用準備データ記憶部7と基板レイア
ウト設計用準備データ記憶部15の情報を共用化するた
めの整合処理の手順を以下に示す。
Next, using the wiring board design apparatus shown in FIG. 21, a procedure of a matching process for sharing information of the board specification study preparation data storage unit 7 and the board layout design preparation data storage unit 15 is performed. Is shown below.

【0085】まず、基板仕様検討用準備データ記憶部7
と基板レイアウト設計用準備データ記憶部15に記憶さ
れる準備データの分類は同じである。しかし、基板設計
における基板仕様検討と基板レイアウト設計を実施する
段階や、配線板設計装置の使用者が異なるため、基板仕
様検討用準備データ記憶部7と基板レイアウト設計用準
備データ記憶部15の2つの記憶部に記憶する数に違い
が発生する。
First, the board specification study preparation data storage unit 7
And the classification of the preparation data stored in the board layout design preparation data storage unit 15 is the same. However, since the stage of conducting the board specification study and the board layout design in the board design and the user of the wiring board design apparatus are different, the board specification study preparation data storage unit 7 and the board layout design preparation data storage unit 15 A difference occurs in the number stored in one storage unit.

【0086】基板仕様検討用準備データ記憶部7と基板
レイアウト設計用準備データ記憶部15に記憶される情
報は大きく、電子部品に関連するものと、基板に関連す
る情報に分類できる。電子部品に関連する情報は、電子
部品の名称、電子部品のパッケージ形状や高さ、電子部
品を基板に実装するためのPad形状やPadの位置座
標、である。基板に関連する情報は、基板の製造使用な
どを含む名称、層数、各層ごとの厚さと材質と物性値、
各層ごとの特性インピーダンス(Z0)と単位長さ当たり
の遅延値(Td)、各層導電体層の厚みや幅、導電体層の
導電体間の間隙値、である
The information stored in the board specification study preparation data storage section 7 and the board layout design preparation data storage section 15 is large, and can be classified into information related to electronic components and information related to the board. The information related to the electronic component is the name of the electronic component, the package shape and height of the electronic component, the Pad shape for mounting the electronic component on the board, and the position coordinates of the Pad. Information related to the substrate includes the name including the production use of the substrate, the number of layers, the thickness and material and physical properties of each layer,
The characteristic impedance (Z0) and the delay value per unit length (Td) of each layer, the thickness and width of each layer conductor layer, and the gap value between conductors of the conductor layer.

【0087】基板仕様検討用準備データ記憶部7と基板
レイアウト設計用準備データ記憶部15を共用化する手
段として、同一のファイルやデータベースを参照する
か、または、違うファイルやデータベースの整合を取る
インタフェースを利用する、がある。
As means for sharing the board specification study preparation data storage section 7 and the board layout design preparation data storage section 15, an interface for referring to the same file or database or matching different files or databases. There is, to use.

【0088】前者の手段によれば、基板仕様検討用準備
データ記憶部7と基板レイアウト設計用準備データ記憶
部15の情報は同一であり完全に共用化される。この実
施の形態4で説明する配線板設計装置では、後者の例を
想定している。
According to the former means, the information in the board specification study preparation data storage section 7 and the board layout design preparation data storage section 15 are the same and are completely shared. The wiring board design apparatus described in the fourth embodiment assumes the latter example.

【0089】基板仕様検討と基板レイアウト設計の準備
データ整合処理部6において、基板仕様検討用準備デー
タ記憶部7と基板レイアウト設計用準備データ記憶部1
5に記憶される電子部品数や基板数を比較し、それぞれ
の記憶部において非包括の情報を、定期的に、または、
それぞれの記憶部で記憶するデータの追加や変更処理が
発生した場合に、非包括データのみをそれぞれの記憶部
に上書きコピーする。
Preparation of Board Specifications and Preparation of Board Layout Design In the data matching processing section 6, a preparation data storage section 7 for preparing board specifications and a preparation data storage section 1 for preparing board layout design
5, the number of electronic components and the number of boards stored are compared, and the non-inclusive information in each storage unit is periodically or
When addition or change processing of data stored in each storage unit occurs, only non-inclusive data is overwritten and copied to each storage unit.

【0090】以上のように、この実施の形態4によれ
ば、基板仕様検討用準備データ記憶部7と基板レイアウ
ト設計用準備データ記憶部15に記憶される電子部品の
形状および基板の層構成と電気的な特性や物理情報を双
方向で共有化するために整合処理をおこなうことが可能
である。
As described above, according to the fourth embodiment, the shape of the electronic component and the layer structure of the board stored in the board specification study preparation data storage unit 7 and the board layout design preparation data storage unit 15 are described. It is possible to perform a matching process in order to share electrical characteristics and physical information in both directions.

【0091】実施の形態5.以下、この発明の実施の形
態5を説明する。実施の形態1〜4との重複部分は説明
を省略する。
Embodiment 5 Hereinafter, a fifth embodiment of the present invention will be described. The description of the overlapping portions with the first to fourth embodiments will be omitted.

【0092】図22は実施の形態5の配線板設計装置の
構成を示す図である。図において、14は基板論理図デ
ータ記憶部5に記憶された基板論理図データと、基板仕
様検討用レイアウトデータ記憶部17に記憶された基板
仕様検討用レイアウトデータに含まれる基板の論理図デ
ータに係る情報および入力部1から入力されるHDLの
ようなハードウェア記述言語などにより記述される情報
に含まれる基板の論理図データに係る情報を合成して基
板レイアウト設計用準備データ記憶部15に入力するこ
とにより、基板のネットリスト情報を生成する基板ネッ
トリスト情報生成部である。なお、タイミングシミュレ
ータ24、波形シミュレータ25、熱シミュレータ2
6、EMCシミュレータ27、タイミングシミュレーシ
ョン結果記憶部28、波形シミュレーション結果記憶部
29、熱シミュレーション結果記憶部30、EMCシミ
ュレーション結果記憶部31、シミュレーション結果表
示部32は、図1に示した構成と同じなため、図示を省
略している。
FIG. 22 is a diagram showing a configuration of a wiring board designing apparatus according to the fifth embodiment. In the figure, reference numeral 14 denotes the board logic diagram data stored in the board logic diagram data storage unit 5 and the board logic diagram data included in the board specification study layout data stored in the board specification study layout data storage unit 17. The information and the information related to the logic diagram data of the board included in the information described in the hardware description language such as HDL input from the input unit 1 are combined and input to the board layout design preparation data storage unit 15. By doing so, it is a board netlist information generation unit that generates netlist information of the board. The timing simulator 24, the waveform simulator 25, and the heat simulator 2
6. The EMC simulator 27, the timing simulation result storage unit 28, the waveform simulation result storage unit 29, the thermal simulation result storage unit 30, the EMC simulation result storage unit 31, and the simulation result display unit 32 have the same configuration as that shown in FIG. Therefore, illustration is omitted.

【0093】次に、図22に示した配線板設計装置を用
いて、基板仕様検討用レイアウトデータに含まれる基板
の論理図データに係る情報と、基板論理図データとHD
Lのようなハードウェア記述言語などにより記述される
基板の論理図データに係る情報とを合成して、基板レイ
アウト設計用準備データ記憶部15に入力することによ
り、基板のネットリストを生成する手順を以下に示す。
Next, using the wiring board design apparatus shown in FIG. 22, information on the board logic diagram data included in the board specification study layout data, the board logic diagram data and the HD
A procedure for generating a netlist of a board by synthesizing it with information on logic diagram data of a board described in a hardware description language such as L and inputting it to the board layout design preparation data storage unit 15 Is shown below.

【0094】基板レイアウト設計用準備データ記憶部1
5に入力する基板のネットリスト情報は、設計する基板
に使用する電子部品の名称とIC1やU1やR1などの
ロケーション番号との対応が記述される実装部品リスト
と、信号名で差別化される接続情報が記述される接続情
報リストとで構成される。基板のネットリスト情報の例
を以下に示す。 <実装部品リスト> 信号名 電子部品名称 IC1 BUHIN_A IC2 BUHIN_B R1 BUHIN_C <接続情報リスト> 信号名 接続される部品のロケーション番号−ピン番号、……、……; EXA IC1−5、 IC2−1 ; EXB IC1−4、 R1−1 ; EXC R1−2、 IC2−3 ;
Preparation data storage unit 1 for board layout design
The netlist information of the board to be input to 5 is differentiated by a signal name and a mounting part list in which the correspondence between the name of the electronic component used for the board to be designed and the location number such as IC1, U1, or R1 is described. And a connection information list in which connection information is described. An example of the netlist information of the board is shown below. <Mounted component list> Signal name Electronic component name IC1 BUHIN_A IC2 BUHIN_BR1 BUHIN_C <Connection information list> Signal name Location number of connected component-pin number, ..., ... EXA IC1-5, IC2-1; EXC R1-2, IC2-3; IC1-4, R1-1;

【0095】基板ネットリスト情報生成部14は、基板
論理図データ記憶部5に記憶された論理図データと、基
板仕様検討用レイアウトデータ記憶部17に記憶された
基板仕様検討用レイアウトデータとを入力し、入力部1
から入力されるHDLのようなハードウェア記述言語な
どにより記述される情報ごとに、上述の実装部品リスト
と接続情報リストを作成する。
The board net list information generation unit 14 receives the logic diagram data stored in the board logic diagram data storage unit 5 and the board specification study layout data stored in the board specification study layout data storage unit 17. And input unit 1
The above-mentioned mounted component list and connection information list are created for each piece of information described in a hardware description language such as HDL, which is input from the PC.

【0096】次に、作成された3種類の実装部品リスト
と接続情報リストごとに比較して、互いのリストで包括
部分が無ければ、3種類の実装部品リストと接続情報リ
ストごとにOR処理をおこない、基板のネットリストを
生成する。基板ネットリスト情報生成部14において生
成された基板のネットリスト情報は基板レイアウト設計
用準備データ記憶部15に反映される。
Next, a comparison is made for each of the three types of mounted component list and connection information list, and if there is no comprehensive part in the mutual list, OR processing is performed for each of the three types of mounted component list and connection information list. To generate a netlist for the board. The board netlist information generated by the board netlist information generator 14 is reflected in the board layout design preparation data storage 15.

【0097】また、作成された3種類の部品対応リスト
と接続情報リストごとに比較して、互いのリストで包括
部分があれば、包括関係があるリストと包括部分を表示
して基板のネットリストの生成処理を中止する。包括個
所が修正された後に再度基板のネットリストを生成す
る。
Further, the created three types of parts correspondence list and connection information list are compared with each other, and if there is an inclusive part in each of the lists, a list having an inclusive relation and an inclusive part are displayed and a netlist of the board is displayed. Aborts the generation process of. After the inclusion is corrected, a netlist of the board is generated again.

【0098】この実施の形態5の説明では、基板論理図
データ記憶部5に記憶された論理図データと、基板仕様
検討用レイアウトデータ記憶部17に記憶された基板仕
様検討用レイアウトデータと、入力部1から入力される
HDLのようなハードウェア記述言語などにより記述さ
れる情報の3種類の情報から基板のネットリストを生成
したが、上述の3つの情報の内どれか1つしかない、ま
たは、どれか2つしかない場合でも基板のネットリスト
を生成することが可能である。
In the description of the fifth embodiment, the logic diagram data stored in the board logic diagram data storage unit 5, the board specification study layout data stored in the board specification study layout data storage unit 17, and the input The board netlist is generated from three types of information described in a hardware description language such as HDL input from the unit 1, but there is only one of the above three pieces of information, or , It is possible to generate a netlist of a board even when there are only two.

【0099】以上のように、この実施の形態5によれ
ば、基板論理図入力部3で作成する基板論理図データ
と、基板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集部8で
作成および編集する基板仕様検討用レイアウトデータに
含まれる基板の論理図データに係る情報と、HDLやそ
の他のフォーマットで記述される情報に含まれる基板の
論理図データに係る情報とを合成して基板レイアウト設
計に渡す基板のネットリストデータを生成し、レイアウ
ト設計のための準備データとしてデータレベルでハンド
リングすることが可能である。
As described above, according to the fifth embodiment, the board logic diagram data created by the board logic diagram input unit 3 and the board specifications created and edited by the board specification study layout data creation / editing unit 8 The information on the board logic diagram data included in the study layout data and the information on the board logic diagram data included in the information described in HDL or other format are combined and passed to the board layout design. It is possible to generate netlist data and handle it at the data level as preparation data for layout design.

【0100】実施の形態6.以下、この発明の実施の形
態6を説明する。実施の形態1〜5との重複部分は説明
を省略する。
Embodiment 6 FIG. Hereinafter, a sixth embodiment of the present invention will be described. The description of the overlapping portions with the first to fifth embodiments will be omitted.

【0101】図23は実施の形態6の配線板設計装置の
構成を示す図である。図において、98は基板レイアウ
ト設計データ記憶部23に記憶された既に設計が終了し
ているか設計中の基板レイアウト設計データの全てまた
は一部を、基板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集
部8で使用するために流用処理をおこなう基板レイアウ
ト設計データ流用処理部である。なお、タイミングシミ
ュレータ24、波形シミュレータ25、熱シミュレータ
26、EMCシミュレータ27、タイミングシミュレー
ション結果記憶部28、波形シミュレーション結果記憶
部29、熱シミュレーション結果記憶部30、EMCシ
ミュレーション結果記憶部31、シミュレーション結果
表示部32は、図1に示した構成と同じなため、図示を
省略している。
FIG. 23 is a diagram showing a configuration of a wiring board designing apparatus according to the sixth embodiment. In the figure, reference numeral 98 denotes all or a part of the board layout design data stored or already designed in the board layout design data storage unit 23 used by the board specification study layout data creating / editing unit 8. This is a board layout design data diversion processing unit that performs diversion processing in order to perform diversion processing. The timing simulator 24, the waveform simulator 25, the heat simulator 26, the EMC simulator 27, the timing simulation result storage unit 28, the waveform simulation result storage unit 29, the heat simulation result storage unit 30, the EMC simulation result storage unit 31, the simulation result display unit 32 has the same configuration as that shown in FIG. 1 and is not shown.

【0102】次に、図23に示した配線板設計装置を用
いて、基板レイアウト設計データ記憶部23に記憶され
た基板のレイアウト設計データの全てまたは一部を流用
処理する手順を以下に示す。
Next, a procedure for diverting all or a part of the board layout design data stored in the board layout design data storage unit 23 using the wiring board design apparatus shown in FIG. 23 will be described.

【0103】基板レイアウト設計データ記憶部23に
は、既に設計が完了しているまたは現在設計がなされて
いる基板のレイアウト設計データが記憶されている。基
板レイアウト設計データには、基板上の電子部品の配置
位置や配線に係る情報が含まれている。
The board layout design data storage unit 23 stores the layout design data of a board that has already been designed or is currently being designed. The board layout design data includes information on the layout position and wiring of electronic components on the board.

【0104】基板仕様検討用レイアウトデータ作成/編
集部8は、基板レイアウト設計データ流用処理部98と
入力部1を用いて、基板レイアウト設計データ記憶部2
3に記憶される基板レイアウト設計データから、基板仕
様検討用レイアウトデータの作成や編集に使用したい基
板の電子部品の配置位置や配線の情報を抽出し、基板仕
様検討用レイアウトデータにその情報を反映する。
The board specification design layout data creating / editing section 8 uses the board layout design data diversion processing section 98 and the input section 1 to store the board layout design data storage section 2.
Extract information on the layout position and wiring of electronic components of the board that you want to use for creating and editing board specification study layout data from the board layout design data stored in 3 and reflect the information in the board specification study layout data I do.

【0105】以上のように、この実施の形態によれば、
基板のレイアウト設計が既に完了している基板のレイア
ウトデータの全てか一部のレイアウトデータを、基板仕
様検討用レイアウトデータ作成/編集部8において、基
板仕様検討用レイアウトデータの作成や編集をおこなう
場合に、流用処理することが可能である。
As described above, according to this embodiment,
When creating or editing board specification study layout data using the board specification study layout data creating / editing unit 8 with all or part of the board layout data for which the board layout design has already been completed. In addition, it can be diverted.

【0106】実施の形態7.以下、この発明の実施の形
態7を説明する。実施の形態1〜6との重複部分は説明
を省略する。
Embodiment 7 FIG. Hereinafter, a seventh embodiment of the present invention will be described. The description of the overlapping portions with the first to sixth embodiments will be omitted.

【0107】図24は実施の形態7の配線板設計装置の
構成を示す図である。図において、12は基板仕様検討
用レイアウトデータ作成/編集部8において入力部1を
用い基板仕様検討用レイアウトデータの作成と編集をお
こなう場合に、基板仕様検討用準備データ記憶部7で未
定義の電子部品ライブラリや基板情報を入力部1を用い
て定義できる基板仕様検討用未定義部品と基板情報の未
定義部品作成/編集部である。なお、タイミングシミュ
レータ24、波形シミュレータ25、熱シミュレータ2
6、EMCシミュレータ27、タイミングシミュレーシ
ョン結果記憶部28、波形シミュレーション結果記憶部
29、熱シミュレーション結果記憶部30、EMCシミ
ュレーション結果記憶部31、シミュレーション結果表
示部32は、図1に示した構成と同じなため、図示を省
略している。
FIG. 24 is a diagram showing a configuration of a wiring board designing apparatus according to the seventh embodiment. In the drawing, reference numeral 12 denotes a board specification reviewing preparation data storage unit 7 which creates and edits board specification review layout data by using the input unit 1 in a board specification review layout data creating / editing unit 8. An undefined component for examining board specifications and an undefined component creation / editing unit for board information, which can define an electronic component library and board information using the input unit 1. The timing simulator 24, the waveform simulator 25, and the heat simulator 2
6. The EMC simulator 27, the timing simulation result storage unit 28, the waveform simulation result storage unit 29, the thermal simulation result storage unit 30, the EMC simulation result storage unit 31, and the simulation result display unit 32 have the same configuration as that shown in FIG. Therefore, illustration is omitted.

【0108】図25(a)は電子部品ライブラリの作成
と編集をおこなうGUIの一例であり、同図(b)は基
板情報の参照と作成と編集をおこなうGUIの一例であ
る。
FIG. 25A is an example of a GUI for creating and editing an electronic component library, and FIG. 25B is an example of a GUI for referencing, creating and editing board information.

【0109】次に、図24に示した配線板設計装置を用
いて、基板仕様検討用準備データ記憶部7に未定義の電
子部品のライブラリや基板情報を定義する手順を以下に
示す。
Next, a procedure for defining a library of undefined electronic components and board information in the board specification study preparation data storage unit 7 using the wiring board design apparatus shown in FIG. 24 will be described.

【0110】電子部品ライブラリの作成と編集は、未定
義部品作成/編集部12において、入力部1を用い、図
25(a)に示した電子部品ライブラリ登録/編集用G
UIに情報を入力し、表示される情報の編集をおこなう
ことにより実行される。
The electronic component library is created and edited by using the input unit 1 in the undefined component creating / editing unit 12 to register and edit the electronic component library registration / editing G shown in FIG.
This is executed by inputting information into the UI and editing the displayed information.

【0111】電子部品ライブラリの作成は、電子部品ラ
イブラリ登録/編集用GUIにおいて入力部1を用い、
基板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集部8におけ
る電子部品ライブラリの呼び出し名となる電子部品ライ
ブラリ名称を入力し、次にその電子部品ライブラリ名に
対応する電子部品の製品型名を入力し、次に電子部品ラ
イブラリのパッケージ名をリストフィールドに示される
基板仕様検討用準備データ記憶部7に既登録のパッケー
ジ名から選択するか、または、直接キーイン入力し、次
にパッケージのピン番号ごとの電子部品ライブラリの基
板実装用のPadの名称とPad形状を入力し、次にパ
ッケージ形状と高さとピン番号ごとのピン発生位置座標
を入力し、電子部品ライブラリ登録/編集用GUI下部
のOKボタンを選択することにより、電子部品ライブラ
リが定義され、基板仕様検討用準備データ記憶部7をア
ップデートする。
The electronic component library is created by using the input unit 1 in the electronic component library registration / editing GUI.
Enter the name of the electronic component library, which is the call name of the electronic component library in the layout data creation / editing unit 8 for examining the board specifications, and then enter the product type name of the electronic component corresponding to the electronic component library name. The package name of the electronic component library is selected from the package names registered in the board specification study preparation data storage unit 7 shown in the list field, or is directly keyed in, and then the electronic component library for each pin number of the package is selected. Enter the name and pad shape of the pad for mounting on the board, then enter the package shape, height, and pin generation position coordinates for each pin number, and select the OK button at the bottom of the electronic component library registration / editing GUI. Thus, the electronic component library is defined, and the board specification study preparation data storage unit 7 is updated.

【0112】電子部品ライブラリの編集は、電子部品ラ
イブラリ登録/編集用GUIにおいて入力部1を用い、
基板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集部8の電子
部品ライブラリの呼び出し名となる電子部品ライブラリ
名称を全てキーインするか、または、ワイルドカード
(*)を含む文字列を入力し検索を実行して希望の電子部
品ライブラリ名を入力する。次に、電子部品ライブラリ
登録/編集用GUIに表示される、電子部品ライブラリ
の製品型名やパッケージ名やパッケージのピン番号ごと
の電子部品の基板実装用のPad名称とPad形状やパ
ッケージ形状と高さとピン番号ごとのピン発生位置を編
集し、電子部品ライブラリ登録/編集用GUI下部のO
Kボタンを選択することにより電子部品ライブラリが編
集され、基板仕様検討用準備データ記憶部7をアップデ
ートする。
The electronic part library is edited by using the input unit 1 in the electronic part library registration / editing GUI.
Either key-in all the electronic component library names to be the calling names of the electronic component library of the layout data creating / editing unit 8 for examining the board specifications, or use a wildcard.
Enter a character string including (*), execute a search, and enter the desired electronic component library name. Next, a pad name, a pad shape, a package shape, and a height of the electronic component substrate mounted on the electronic component library for each product type name, package name, and package pin number displayed on the electronic component library registration / editing GUI. And edit the pin generation position for each pin number, and click O at the bottom of the GUI for electronic component library registration / edit.
By selecting the K button, the electronic component library is edited, and the board specification study preparation data storage unit 7 is updated.

【0113】基板情報の作成と編集は、未定義部品作成
/編集部12において入力部1を用い、図25(b)に
示した基板情報登録/編集用GUIに情報を入力し、表
示される情報の編集をおこなうことで実行される。
The creation and editing of board information is performed by inputting information to the board information registration / editing GUI shown in FIG. 25B using the input unit 1 in the undefined part creating / editing unit 12 and displayed. It is executed by editing information.

【0114】基板情報の作成は、基板情報登録/編集用
GUIにおいて入力部1を用い、基板仕様検討用レイア
ウトデータ作成/編集部8の基板情報呼び出し名となる
基板登録名称をリストフィールドに示される基板仕様検
討用準備データ記憶部7に既登録の基板登録名から選択
するか、または、直接キーイン入力し、次に基板を構成
する各層の名称と属性および層の付加情報として層の厚
さと材質と物性値や層の特性インピーダンス(Z0)と単
位長さ当たりの遅延値(Td)や導電体層の厚みや幅、導
電体層の導電体間の間隙値などを入力し、基板情報登録
/編集用GUI下部のOKボタンを選択することにより
基板情報が定義され、基板仕様検討用準備データ記憶部
7をアップデートする。
The board information is created by using the input unit 1 in the board information registration / editing GUI, and a board registration name, which is a board information call name of the board specification study layout data creating / editing unit 8, is shown in a list field. Select from the registered board names registered in the board specification study preparation data storage unit 7 or directly enter a key-in, and then name and attribute of each layer constituting the board and the layer thickness and material as additional information of the layer. And the physical property value, the characteristic impedance (Z0) of the layer, the delay value per unit length (Td), the thickness and width of the conductor layer, the gap value between the conductors of the conductor layer, and the like. By selecting the OK button at the bottom of the editing GUI, the board information is defined, and the board specification study preparation data storage unit 7 is updated.

【0115】基板情報の編集は、基板情報登録/編集用
GUIにおいて入力部1を用い、基板仕様検討用レイア
ウトデータ作成/編集部8の基板情報呼び出し名となる
基板登録名称を全てキーインするか、または、ワイルド
カード(*)を含む文字列を入力し検索を実行して希望の
電子部品ライブラリ名を入力するか、または、リストフ
ィールドに示される基板仕様検討用準備データ記憶部7
に既登録の基板登録名から選択して入力する。次に、基
板情報登録/編集用GUIに表示される、基板を構成す
る各層の名称と属性および層の付加情報を編集し、基板
情報登録/編集用GUI下部のOKボタンを選択するこ
とにより基板情報が編集され、基板仕様検討用準備デー
タ記憶部7をアップデートする。
To edit the board information, the input unit 1 is used in the board information registration / editing GUI, and all the board registration names which are the board information call names of the board specification study layout data creating / editing unit 8 are keyed in. Alternatively, a character string including a wild card (*) is entered and a search is executed to enter a desired electronic component library name, or a board specification study preparation data storage unit 7 shown in a list field
Select and input from the registered board registration name. Next, the name and attribute of each layer constituting the board and the additional information of the layer displayed on the board information registration / editing GUI are edited, and the OK button at the bottom of the board information registration / editing GUI is selected. The information is edited, and the board specification study preparation data storage unit 7 is updated.

【0116】以上のように、この実施の形態7によれ
ば、基板仕様検討用レイアウトデータを作成および編集
中に、電子部品ライブラリと基板情報の作成と編集する
ことが可能で、かつ、作成や編集した電子部品ライブラ
リと基板情報を基板仕様検討用準備データとして記憶す
ることが可能である。
As described above, according to the seventh embodiment, it is possible to create and edit the electronic component library and the board information while creating and editing the board specification study layout data. The edited electronic component library and board information can be stored as board specification study preparation data.

【0117】実施の形態8.以下、この発明の実施の形
態8を説明する。実施の形態1〜7との重複部分は説明
を省略する。
Embodiment 8 FIG. Hereinafter, an eighth embodiment of the present invention will be described. The description of the overlapping parts with the first to seventh embodiments will be omitted.

【0118】図26は実施の形態8の配線板設計装置の
構成を示す図である。図において、9は基板仕様検討用
レイアウトデータ作成/編集部8により最初に作成され
た基板仕様検討用レイアウトデータに対して、電子部品
ライブラリを簡単にマトリクス上に配置する処理をおこ
なう基板仕様検討用初期配置処理部である。なお、タイ
ミングシミュレータ24、波形シミュレータ25、熱シ
ミュレータ26、EMCシミュレータ27、タイミング
シミュレーション結果記憶部28、波形シミュレーショ
ン結果記憶部29、熱シミュレーション結果記憶部3
0、EMCシミュレーション結果記憶部31、シミュレ
ーション結果表示部32は、図1に示した構成と同じな
ため、図示を省略している。
FIG. 26 is a diagram showing a configuration of a wiring board designing apparatus according to the eighth embodiment. In the figure, reference numeral 9 denotes a board specification reviewing board that performs processing for easily arranging an electronic component library on a matrix with respect to the board specification reviewing layout data initially created by the board specification reviewing layout data creating / editing unit 8. This is an initial arrangement processing unit. The timing simulator 24, the waveform simulator 25, the heat simulator 26, the EMC simulator 27, the timing simulation result storage unit 28, the waveform simulation result storage unit 29, and the heat simulation result storage unit 3
0, the EMC simulation result storage unit 31 and the simulation result display unit 32 are not shown because they have the same configuration as that shown in FIG.

【0119】図27(a)は基板仕様検討用レイアウト
データ作成/編集部8により最初に作成された基板仕様
検討用レイアウトデータであり、同図(b)は基板仕様
検討用レイアウトデータに対して基板仕様検討用初期配
置処理部9により簡易配置処理がおこなわれた結果の基
板仕様検討用レイアウトデータである。
FIG. 27A shows the board specification study layout data first created by the board specification study layout data creating / editing section 8, and FIG. 27B shows the board specification study layout data. This is layout data for board specification study as a result of simple layout processing performed by the board layout study initial placement processing unit 9.

【0120】次に、図26に示した配線板設計装置を用
いて、基板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集部8
で最初に作成した基板仕様検討用レイアウトデータの電
子部品ライブラリを簡易的に配置する手順を、以下に示
す。
Next, using the wiring board designing apparatus shown in FIG.
The procedure for simply arranging the electronic component library of the board specification study layout data created first in the above will be described below.

【0121】基板仕様検討用レイアウトデータ作成/編
集部8により最初に作成された基板仕様検討用レイアウ
トデータでは、図27(a)に示すように電子部品ライ
ブラリがレイアウトデータの中のある座標値に集中して
自動配置される。
In the layout data for board specification study first created by the board specification study layout data creating / editing section 8, the electronic component library is set to a certain coordinate value in the layout data as shown in FIG. Automatically concentrated and arranged.

【0122】基板仕様検討用初期配置処理部9では、最
初に作成された基板仕様検討用レイアウトデータの電子
部品ライブラリを、図27(b)に示すように互いが接
触しないように自動的に配置する。この実施の形態8で
は、電子部品ライブラリの配置方向を基板外形の左下角
から右下角の方向と規定している。
The board specification study initial placement processing section 9 automatically arranges the electronic component libraries of the board specification study layout data created first so that they do not touch each other as shown in FIG. 27 (b). I do. In the eighth embodiment, the arrangement direction of the electronic component library is defined as the direction from the lower left corner to the lower right corner of the board outer shape.

【0123】この実施の形態8では、最初に作成された
基板仕様検討用レイアウトデータの電子部品ライブラリ
を、互いが接触しないように自動的に配置する例を示し
たが、その他、一般的な電子部品の自動配置アルゴリズ
ムである張力法を用いて、電子部品ライブラリの互いが
接触せず、かつ、電子部品のライブラリ間の接続情報が
規定されるピン間の距離の平均値が最小になるように配
置をおこなうことも可能である。
In the eighth embodiment, an example has been described in which the electronic component libraries of the layout data for board specification study created first are automatically arranged so that they do not touch each other. Using the tension method, which is an automatic component placement algorithm, the electronic component libraries do not touch each other, and the average value of the distance between pins that defines the connection information between the electronic component libraries is minimized. It is also possible to arrange.

【0124】以上のように、この実施の形態によれば、
基板仕様検討用レイアウトデータを作成および編集する
際に、電子部品を簡易的に自動配置することが可能であ
る。
As described above, according to this embodiment,
When creating and editing board specification study layout data, electronic components can be simply and automatically arranged.

【0125】実施の形態9.以下、この発明の実施の形
態9を説明する。実施の形態1〜8との重複部分は説明
を省略する。
Embodiment 9 FIG. Hereinafter, a ninth embodiment of the present invention will be described. The description of the overlapping parts with the first to eighth embodiments will be omitted.

【0126】図28は実施の形態9の配線板設計装置の
構成を示す図である。図において、10は基板仕様検討
用レイアウトデータ記憶部17に保持された基板仕様検
討用レイアウトデータから基板論理図データを生成して
基板論理図データ記憶部5に記憶させる論理図データ生
成部である。なお、タイミングシミュレータ24、波形
シミュレータ25、熱シミュレータ26、EMCシミュ
レータ27、タイミングシミュレーション結果記憶部2
8、波形シミュレーション結果記憶部29、熱シミュレ
ーション結果記憶部30、EMCシミュレーション結果
記憶部31、シミュレーション結果表示部32は、図1
に示した構成と同じなため、図示を省略している。
FIG. 28 is a diagram showing a configuration of a wiring board designing apparatus according to the ninth embodiment. In the drawing, reference numeral 10 denotes a logic diagram data generation unit that generates board logic diagram data from the board specification study layout data held in the board specification study layout data storage unit 17 and stores the board logic diagram data in the board logic diagram data storage unit 5. . The timing simulator 24, the waveform simulator 25, the heat simulator 26, the EMC simulator 27, the timing simulation result storage unit 2
8, the waveform simulation result storage unit 29, the thermal simulation result storage unit 30, the EMC simulation result storage unit 31, and the simulation result display unit 32 are shown in FIG.
Are omitted since they are the same as those shown in FIG.

【0127】次に、図28に示した配線板設計装置を用
いて、基板仕様検討用レイアウトデータから基板論理図
データを生成する手順を以下に示す。
Next, a procedure for generating board logic diagram data from board specification study layout data using the wiring board design apparatus shown in FIG. 28 will be described.

【0128】この実施の形態9で説明する基板論理図デ
ータ生成部10は、基板の機能や論理設計者が基板の論
理図データを作成せずに、基板仕様検討用レイアウトデ
ータを作成し、各種シミュレーションによる検証にとも
なう基板仕様検討用レイアウトデータ編集をおこない、
基板に実装する回路のほとんどを基板仕様検討用レイア
ウトデータで実現した場合に、はじめから基板の論理図
データを入力しなおすのではなく、基板仕様検討用レイ
アウトデータから基板の論理図データを生成しそれを活
用する時に最大の効果を得ることが可能である。
The board logic diagram data generation unit 10 described in the ninth embodiment generates the board specification study layout data without the board designer or logic designer creating the board logic diagram data. Edit layout data for board specification study with verification by simulation,
When most of the circuits to be mounted on the board are realized by the layout data for board specification study, instead of re-inputting the logic diagram data of the board from the beginning, the logic diagram data of the board is generated from the layout data for board specification study. It is possible to get the maximum effect when utilizing it.

【0129】基板論理図データは、設計する基板に使用
する電子部品の名称とIC1やU1やR1など使用する
全ての電子部品でユニークなロケーション番号との対応
情報と、信号名で差別化される接続関係の情報を保持し
ている。基板仕様検討用レイアウトデータ記憶部17に
記憶された基板仕様検討用レイアウトデータには上述の
2種類の情報が全て包括されている。
The board logic diagram data is differentiated by the correspondence information between the names of the electronic components used for the board to be designed and the unique location numbers of all the electronic components used, such as IC1, U1, R1, and the signal names. Holds connection-related information. The board specification study layout data stored in the board specification study layout data storage unit 17 includes all of the above two types of information.

【0130】論理図データ生成部10は、基板仕様検討
用レイアウトデータ記憶部17に記憶された基板仕様検
討用レイアウトデータから上述の2種類の情報を抽出
し、さらに、論理図データ記述フォーマットへ変換して
基板論理図データを生成する。
The logic diagram data generation unit 10 extracts the above two types of information from the board specification study layout data stored in the board specification study layout data storage unit 17 and converts the information into a logic diagram data description format. To generate board logic diagram data.

【0131】以上のように、この実施の形態によれば、
基板仕様検討用レイアウトデータ作成および編集したレ
イアウトデータから基板の論理図データを生成すること
が可能である。
As described above, according to this embodiment,
Logic diagram data of a board can be generated from layout data created and edited for board specification study layout data.

【0132】実施の形態10.以下、この発明の実施の
形態10を説明する。実施の形態1〜9との重複部分は
説明を省略する。
Embodiment 10 FIG. Hereinafter, a tenth embodiment of the present invention will be described. The description of the overlapping portions with the first to ninth embodiments will be omitted.

【0133】図29は実施の形態10の配線板設計装置
の構成を示す図である。図において、33はタイミング
シミュレーション結果記憶部28、波形シミュレーショ
ン結果記憶部29、熱シミュレーション結果記憶部3
0、およびEMCシミュレーション結果記憶部31から
入力される各シミュレーション結果を、入力部1から入
力される各シミュレーションごとに設定したエラー基準
に基づきエラーを解析するエラー解析部である。34は
エラー解析部33においてエラーと判定された情報をレ
ポートおよび画像で表示するエラー解析結果表示部であ
る。
FIG. 29 is a diagram showing a configuration of a wiring board designing apparatus according to the tenth embodiment. In the figure, reference numeral 33 denotes a timing simulation result storage unit 28, a waveform simulation result storage unit 29, and a thermal simulation result storage unit 3.
0, and an error analysis unit that analyzes each simulation result input from the EMC simulation result storage unit 31 based on an error criterion set for each simulation input from the input unit 1. Reference numeral 34 denotes an error analysis result display unit that displays information determined as an error in the error analysis unit 33 as a report and an image.

【0134】図30(a)は基板の実装する回路の中の
1つの信号の波形シミュレーション結果記憶部29に記
憶される波形シミュレーション結果をシミュレーション
結果記憶部32において表示した波形シミュレーション
結果を示す図であり、図において71はオーバーシュー
トエラーの基準値、72はアンダーシュートエラーの基
準値である。同図(b)はエラー解析部33においてエ
ラーと判断された結果のレポート表示例を示す図であ
る。同図(c)はエラー解析部33においてエラーと判
断された信号配線を強調表示したレイアウトデータを示
す図であり、図において75はエラーと判断され強調表
示された信号配線である。
FIG. 30A is a diagram showing a waveform simulation result in which the waveform simulation result of one signal in the circuit mounted on the board, stored in the waveform simulation result storage unit 29, is displayed in the simulation result storage unit 32. In the drawing, reference numeral 71 denotes a reference value of an overshoot error, and reference numeral 72 denotes a reference value of an undershoot error. FIG. 7B is a diagram showing a report display example of a result determined as an error by the error analysis unit 33. FIG. 9C is a diagram showing layout data in which the signal wiring determined to be an error in the error analysis unit 33 is highlighted, and reference numeral 75 in the figure denotes a signal wiring determined to be an error and highlighted.

【0135】次に、図29に示した配線板設計装置を用
いて、エラー解析とエラー結果表示の手順を以下に示
す。
Next, the procedure of error analysis and error result display using the wiring board designing apparatus shown in FIG. 29 will be described below.

【0136】エラー解析部33は、各シミュレーション
の結果に対してエラーを判別するためのエラー基準値と
各シミュレーションの結果を、タイミングシミュレーシ
ョン結果記憶部28、波形シミュレーション結果記憶部
29、熱シミュレーション結果記憶部30、およびEM
Cシミュレーション結果記憶部31から入力して、エラ
ーと判断される信号や部品の名称、エラーの種類やエラ
ーの発生個所を解析する。
The error analysis section 33 stores an error reference value for discriminating an error with respect to each simulation result and each simulation result into a timing simulation result storage section 28, a waveform simulation result storage section 29, and a thermal simulation result storage section. Part 30, and EM
A signal input from the C simulation result storage unit 31 is analyzed for a signal determined as an error, a name of a component, an error type, and an error occurrence location.

【0137】エラー解析結果表示部34は、エラー解析
部33で解析された結果によりレポートおよび画像表示
する。
The error analysis result display section 34 displays a report and an image based on the result analyzed by the error analysis section 33.

【0138】例えば、図30(b)、(c)はエラー解
析結果を表示する一例である。波形シミュレーション結
果画像70の波形が、オーバーシュート基準値71およ
びアンダーシュート基準値72を超えており、エラー解
析部33においてオーバーシュートエラーおよびアンダ
ーシュートエラーが確認され、その結果を受け、エラー
解析結果表示部34は、図30(b)に示すようなレポ
ート表示、および図30(c)に示すようなエラーの発
生した信号配線75を強調表示したレイアウトデータを
表示する。
For example, FIGS. 30B and 30C show an example of displaying the error analysis result. The waveform of the waveform simulation result image 70 exceeds the overshoot reference value 71 and the undershoot reference value 72, and the error analysis unit 33 confirms the overshoot error and the undershoot error, receives the results, and displays the error analysis result. The unit 34 displays a report display as shown in FIG. 30B and layout data in which the signal wiring 75 in which an error has occurred as shown in FIG. 30C is highlighted.

【0139】以上のように、この実施の形態によれば、
シミュレータの実行結果を解析し、基板に実装される回
路に悪影響を与えるエラーを特定し、そのエラーが発生
した個所を表示することにより設計者にエラー部を認識
させることが可能である。
As described above, according to this embodiment,
It is possible to analyze the execution result of the simulator, identify an error that has an adverse effect on the circuit mounted on the board, and display the location where the error has occurred, so that the designer can recognize the error portion.

【0140】実施の形態11.以下、この発明の実施の
形態11を説明する。実施の形態1〜10との重複部分
は説明を省略する。
Embodiment 11 FIG. Hereinafter, an eleventh embodiment of the present invention will be described. The description of the overlapping parts with the first to tenth embodiments will be omitted.

【0141】図31は実施の形態11の配線板設計装置
の構成を示す図である。図において、35はエラー解析
部33においてエラーと判断された信号や電子部品を保
持する基板仕様検討用レイアウトデータおよび基板レイ
アウト設計データの修正方法や処置方法の指示をおこな
うナビゲーション処理部、36はナビゲーション処理部
35の指示結果をレポート表示するナビゲーション結果
表示部である。
FIG. 31 is a diagram showing a configuration of a wiring board designing apparatus according to the eleventh embodiment. In the figure, reference numeral 35 denotes a navigation processing unit for instructing a method of correcting and treating a board specification study layout data and a board layout design data holding signals and electronic components determined to be errors by the error analysis unit 33; This is a navigation result display unit that displays a report of the instruction result of the processing unit 35.

【0142】図32は、実施の形態10において例とし
て挙げた波形シミュレーションのオーバーシュートとア
ンダーシュートエラーの回避方法を、ナビゲーション結
果表示部36によりレポート表示したものである。
FIG. 32 shows a report of the method of avoiding overshoot and undershoot errors in the waveform simulation given as an example in the tenth embodiment by the navigation result display section 36.

【0143】次に、図31に示す配線板設計装置を用い
て、ナビゲーション処理とナビゲーション結果表示の手
順を以下に示す。
Next, the procedure of navigation processing and navigation result display using the wiring board design apparatus shown in FIG. 31 will be described below.

【0144】エラー解析部33におけるエラー解析の結
果を回避する手段をナビゲーション処理部35で指示
し、ナビゲーション結果表示部36でその指示内容をレ
ポート表示する。
A means for avoiding the result of the error analysis in the error analysis section 33 is instructed by the navigation processing section 35, and the navigation result display section 36 displays the contents of the instruction in a report.

【0145】例えば、図32は図30で示したオーバー
シュートエラーおよびアンダーシュートエラーの対処例
を示したものである。エラー解析部33におけるオーバ
ーシュートエラーおよびアンダーシュートエラーの結果
を受け、オーバーシュートエラーおよびアンダーシュー
トエラーを回避する手段をナビゲーション処理部35で
判断し、ナビゲーション結果表示部36でその指示内容
をレポート表示する。
For example, FIG. 32 shows an example of handling the overshoot error and the undershoot error shown in FIG. Upon receiving the results of the overshoot error and the undershoot error in the error analysis unit 33, the navigation processing unit 35 determines means for avoiding the overshoot error and the undershoot error, and the navigation result display unit 36 displays a report of the instruction content. .

【0146】以上のように、この実施の形態によれば、
シミュレータの実行結果を解析し、基板に実装される回
路に悪影響を与えるエラーを回避させる手段をレポート
表示することで、設計品質を高く均一化することが可能
である。
As described above, according to this embodiment,
By analyzing the execution result of the simulator and displaying a report on a means for avoiding an error that adversely affects the circuit mounted on the board, the design quality can be made high and uniform.

【0147】実施の形態12.以下、この発明の実施の
形態12を説明する。実施の形態12では、実施の形態
1〜11にて説明した配線板設計装置を用いたその他の
有効な活用例として、複数の基板をまたぐ信号の基板仕
様検討を説明する。なお、実施の形態1〜11との重複
部分は説明を省略する。
Embodiment 12 FIG. Hereinafter, a twelfth embodiment of the present invention will be described. In a twelfth embodiment, as another effective example of using the wiring board designing apparatus described in the first to eleventh embodiments, a description will be given of a board specification study of a signal that extends over a plurality of boards. The description of the same parts as those in the first to eleventh embodiments will be omitted.

【0148】まず、実施の形態12の説明に用いる図3
3について説明する。図33(a)は、複数の基板をま
たぐ信号を表した図であり、図において78、79、8
0は基板である。図33(b)は、図33(a)に示し
た複数の基板をまたぐ信号を構成する電子部品ライブラ
リと、上述の3枚の基板78、79、80を表した基板
仕様検討用レイアウトデータ82、83、84を示す図
である。
First, FIG. 3 used for describing the twelfth embodiment will be described.
3 will be described. FIG. 33 (a) is a diagram showing a signal straddling a plurality of substrates.
0 is a substrate. FIG. 33 (b) shows an electronic component library constituting signals crossing a plurality of boards shown in FIG. 33 (a), and board specification study layout data 82 representing the above-mentioned three boards 78, 79 and 80. , 83, 84. FIG.

【0149】次に、複数の基板をまたぐ信号のレイアウ
ト要求仕様を最適に設定する手順を以下に示す。
Next, a procedure for optimally setting the layout requirement specification of a signal across a plurality of substrates will be described below.

【0150】基板仕様検討用レイアウトデータ作成/編
集部8において入力部1を用いて、実施の形態1と同様
な手順で基板外形とその基板の登録名を入力する。次に
図33(a)の図に記述される複数基板をまたぐ信号を
構成する電子部品ライブラリを配置し、次に電子部品間
の接続関係を定義してその配線を作成して、基板仕様検
討用レイアウトデータを作成する。基板仕様検討用レイ
アウトデータを作成する場合に、実施の形態6で説明し
た基板レイアウト設計データ流用処理部98により、既
に設計が完了しているまたは設計中の基板のレイアウト
設計データの全てあるいは一部を流用することも可能で
ある。
Using the input unit 1 in the board specification study layout data creating / editing unit 8, the board outline and the registered name of the board are input in the same procedure as in the first embodiment. Next, an electronic component library, which constitutes a signal extending over a plurality of boards described in the diagram of FIG. Create layout data for When creating the layout data for board specification study, all or a part of the layout design data of the board that has already been designed or is being designed by the board layout design data diversion processing unit 98 described in the sixth embodiment. It is also possible to divert.

【0151】作成した基板仕様検討用レイアウトデータ
(図33(b))に対して、上述の各シミュレーション
を実施して基板の動作を検証する。電子部品のライブラ
リの変更や配線の変更などの基板仕様検討用レイアウト
データの修正をシミュレーションによる検証結果と配置
と配線状態が良好になるまで繰り返し実行する。
Each of the above-described simulations is performed on the created board specification study layout data (FIG. 33B) to verify the operation of the board. The modification of the layout data for board specification examination such as the change of the electronic component library and the change of the wiring is repeatedly executed until the verification result by simulation and the arrangement and the wiring state become good.

【0152】シミュレーションにより動作が確認され、
かつ、配置や配線状態が良好な基板仕様検討用レイアウ
トデータから、複数の基板をまたぐ信号の基板仕様検討
用レイアウトデータ82、83、84それぞれの基板レ
イアウト要求仕様を基板レイアウト要求仕様抽出反映部
18により抽出し、基板レイアウト設計用準備データに
反映する。
The operation has been confirmed by simulation.
In addition, from the layout data for examining the board specifications in which the arrangement and the wiring state are good, the board layout requirement specifications for the board specification study layout data 82, 83, and 84 of the signal that straddles a plurality of boards are reflected in the board layout requirement specification extraction and reflection unit 18. And reflects it on the board layout design preparation data.

【0153】また、その他、複数基板をまたぐ信号を構
成する部品にIC設計において設計中のICが存在する
場合は、上記と同様に各シミュレーションを実施しなが
ら基板仕様検討用レイアウトデータの作成や編集をおこ
ない、実施の形態1で説明したICインタフェース情報
変更部分抽出/反映部16を利用して設計中のICのイ
ンタフェース情報を最適に決定することも可能である。
In addition, if there is an IC being designed in the IC design for a component constituting a signal that crosses a plurality of boards, the layout data for studying the board specifications is created and edited while performing each simulation in the same manner as described above. It is also possible to determine the interface information of the IC being designed optimally using the IC interface information changed portion extraction / reflection unit 16 described in the first embodiment.

【0154】また、その他、複数基板をまたぐ信号を、
上記と同様に各シミュレーションを実施しながら基板仕
様検討用レイアウトデータの作成や編集をおこない、実
施の形態2で説明した論理図データ変更部分抽出/反映
部11や、実施の形態9で説明した論理図データ生成部
10を使用し、シミュレーションによる検証結果にとも
なう基板仕様検討用レイアウトデータの編集により発生
する、基板仕様検討用レイアウトデータの電子部品の追
加と変更や接続情報の作成と変更情報を、基板論理図デ
ータとして作成または変更部分を抽出/反映することも
可能である。
In addition, a signal that straddles a plurality of substrates is
In the same manner as described above, the layout data for examining the board specifications is created and edited while performing each simulation, and the logic diagram data changed portion extraction / reflection unit 11 described in the second embodiment and the logic described in the ninth embodiment are executed. Using the diagram data generation unit 10, the addition and change of electronic components and the creation and change information of connection information of the board specification study layout data generated by editing the board specification study layout data based on the simulation verification results It is also possible to extract / reflect a created or changed part as board logic diagram data.

【0155】また、実施の形態12では複数の基板をま
たぐ信号を例に挙げたが、例えば、基板に実装されたM
CM内部の電子部品から基板上の電子部品までのよう
に、複数の基板仕様検討用レイアウトデータを全て通じ
たシミュレーションをおこない、シミュレーションによ
り最適化される各レイアウトデータから実施の形態12
と同様な情報を出力することが可能である。
In the twelfth embodiment, a signal that crosses a plurality of substrates has been described as an example.
A simulation is performed using all layout data for examining a plurality of board specifications, such as electronic components inside a CM to electronic components on a board, and the layout data optimized by the simulation is used in the twelfth embodiment.
It is possible to output information similar to.

【0156】[0156]

【発明の効果】請求項1の配線板設計装置は、ICのピ
ンアサインと使用する入出力バッファとからなるICイ
ンタフェース情報を仮定義し、そのICと信号接続され
る電子部品の仮レイアウトデータを作成し、シミュレー
ションを行って動作を検証し、検証結果および基板の配
置状態や配線状態が最適となることを確認の上、ICの
ピンアサインと使用バッファのICインタフェース情報
を決定し、IC設計へデータレベルでハンドリングする
ことにより、動作が保証されるICのインタフェース情
報の設定が可能であり、さらに、それを設定する時の人
為的ミスの介在を防止する効果がある。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a wiring board design apparatus, which temporarily defines IC interface information including an IC pin assignment and an input / output buffer to be used, and temporarily prepares temporary layout data of an electronic component connected to the IC. Create, simulate and verify the operation. After confirming the verification results and the optimal placement and wiring conditions of the board, determine the pin assignment of the IC and the IC interface information of the buffer used, and proceed to IC design. By handling at the data level, it is possible to set the interface information of the IC whose operation is guaranteed, and furthermore, it is effective in preventing the intervention of human error when setting it.

【0157】請求項2の配線板設計装置は、基板に実装
する回路を構成する電子部品の候補とその電子部品と信
号接続される電子部品の仮レイアウトデータを作成して
シミュレーションを行い動作を検証し、検証結果および
基板の配置状態や配線状態が最適となることを確認の
上、電子部品や接続情報を決定して、それを基板の論理
図データの変更情報として基板の論理設計へデータレベ
ルでハンドリングすることにより、動作が保証される電
子部品と接続情報が決定可能であり、さらに、論理図デ
ータへ反映する時の人為的ミスの介在を防止する効果が
ある。
According to a second aspect of the present invention, a circuit board designing apparatus creates tentative layout data of electronic component candidates constituting a circuit to be mounted on a board and electronic components connected to the electronic components by signals, performs simulation, and verifies the operation. After confirming the verification results and the optimal placement and wiring conditions of the board, determine the electronic components and connection information, and use that information as change information for the board's logic diagram data to the board's logic design. In this way, it is possible to determine the electronic components and the connection information whose operation is guaranteed, and further has the effect of preventing the intervention of a human error when the information is reflected on the logic diagram data.

【0158】請求項3の配線板設計装置は、基板に実装
する回路を構成する電子部品とその電子部品と信号接続
される電子部品の仮レイアウトデータを作成してシミュ
レーションを行い動作を検証し、検証結果および基板の
配置状態や配線状態が最適となることを確認した上で、
電子部品の配置位置や配線方法を決定してそれをレイア
ウト要求仕様として基板のレイアウト設計へデータレベ
ルでハンドリングすることにより、製品の動作が保証さ
れる電子部品の配置位置と配線方法が決定可能であり、
さらに、レイアウト要求仕様を基板のレイアウト設計に
渡す時の人為的ミスの介在を防止する効果がある。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a wiring board designing apparatus which creates temporary layout data of an electronic component constituting a circuit to be mounted on a board and electronic components connected to the electronic component and performs signal simulation to verify operation. After confirming the verification results and the optimal placement and wiring conditions of the board,
By deciding the placement position and wiring method of electronic components and handling them at the data level to the board layout design as layout required specifications, it is possible to determine the placement position and wiring method of electronic components that guarantee product operation. Yes,
In addition, there is an effect of preventing human error when the layout requirement specification is transferred to the layout design of the board.

【0159】請求項4の配線板設計装置は、基板仕様検
討用準備データと基板レイアウト設計用準備データに記
憶される電子部品の形状、基板の層構成、基板の電気的
な特性、基板の物性情報を共有化するための整合処理を
行なうことにより、データの整合性を確保できるため、
準備作業の負荷を低減する効果がある。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a wiring board design apparatus, wherein the shape of an electronic component, the layer structure of a board, the electrical characteristics of the board, and the physical properties of the board are stored in the board specification study preparation data and the board layout design preparation data. By performing consistency processing to share information, data consistency can be ensured.
This has the effect of reducing the load of the preparation work.

【0160】請求項5の配線板設計装置は、上記基板仕
様検討用レイアウトデータ作成/編集部により作成/編
集されたレイアウトデータに含まれ論理図データに係る
情報と、上記基板論理図データ記憶部に記憶された論理
図データとを合成して、基板レイアウト設計に必要な基
板のネットリスト情報を生成することにより、効率的に
基板のネットリスト情報を作成できる効果がある。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a wiring board designing apparatus, wherein information relating to logic diagram data included in the layout data created / edited by the board specification study layout data creating / editing unit is stored in the board logic diagram data storage unit. By synthesizing with the logic diagram data stored in the above and generating the netlist information of the board necessary for the board layout design, there is an effect that the netlist information of the board can be efficiently created.

【0161】請求項6の配線板設計装置は、基板のレイ
アウト設計を基板仕様検討用レイアウトデータ作成時に
流用することにより、簡単に基板仕様検討用レイアウト
データを作成できる効果がある。
According to the wiring board designing apparatus of the sixth aspect, the layout design of the board is diverted at the time of creating the layout data for the board specification study, so that the layout data for the board specification study can be easily created.

【0162】請求項7の配線板設計装置は、基板仕様検
討用レイアウトデータの作成/編集中に、未定義な電子
部品ライブラリと基板情報を定義することにより、最適
な基板仕様を効率良く決定できる効果がある。
In the wiring board designing apparatus according to the present invention, an optimum board specification can be efficiently determined by defining an undefined electronic component library and board information while creating / editing layout data for board specification study. effective.

【0163】請求項8の配線板設計装置は、基板仕様検
討用レイアウトデータの作成/編集中に、電子部品ライ
ブラリを簡易的に自動配置して表示することにより、効
率良く基板仕様検討用レイアウトデータを作成できる効
果ある。
According to the eighth aspect of the present invention, the electronic component library is simply automatically arranged and displayed during the creation / editing of the board specification study layout data, so that the board specification study layout data is efficiently provided. There is an effect that can be created.

【0164】請求項9の配線板設計装置は、基板仕様検
討用レイアウトデータを作成/編集した結果得られるレ
イアウトデータから基板の論理図データを生成すること
により、論理図データ作成の負荷を低減する効果があ
る。
According to the ninth aspect of the present invention, the circuit diagram designing apparatus generates the logic diagram data of the board from the layout data obtained as a result of creating / editing the layout data for examining the board specifications, thereby reducing the load of creating the logic diagram data. effective.

【0165】請求項10の配線板設計装置は、シミュレ
ータの実行結果を解析し、基板に実装される回路の動作
に悪影響を与えるエラーを特定し、そのエラーが発生し
た個所を表示することにより、設計者にエラー部を認識
させる効果がある。
According to a tenth aspect of the present invention, a circuit board designing apparatus analyzes an execution result of a simulator, identifies an error that adversely affects the operation of a circuit mounted on a board, and displays a location where the error has occurred. This has the effect of allowing the designer to recognize the error part.

【0166】請求項11の配線板設計装置は、シミュレ
ータの実行結果を解析し、基板に実装される回路の動作
に悪影響を与えるエラーを回避する手段を提示すること
で、設計品質を高く均一化する効果がある。
According to an eleventh aspect of the present invention, a circuit board designing apparatus analyzes a result of execution of a simulator and presents a means for avoiding an error which adversely affects the operation of a circuit mounted on a board, thereby achieving a high and uniform design quality. Has the effect of doing

【0167】請求項12の配線板設計装置は、タイミン
グ、波形、熱又はEMCなどの各種シミュレーションを
行なうことができるので、設計した配線板の動作を確実
に保証する効果がある。
Since the wiring board designing apparatus according to the twelfth aspect can perform various simulations such as timing, waveform, heat, and EMC, there is an effect that the operation of the designed wiring board is surely guaranteed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 実施の形態1の配線板設計装置の構成を示す
図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a wiring board design apparatus according to a first embodiment.

【図2】 実施の形態1の配線板設計装置によるタイミ
ング、波形、熱、EMCの各シミュレーション結果例を
示す図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of simulation results of timing, waveform, heat, and EMC by the wiring board design apparatus of the first embodiment.

【図3】 基板論理図データの一例を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing an example of board logic diagram data.

【図4】 作成直後の基板仕様検討用レイアウトデータ
の一例を示す図である。
FIG. 4 is a view showing an example of board specification study layout data immediately after creation;

【図5】 ICインタフェース情報の一例を示す図であ
る。
FIG. 5 is a diagram showing an example of IC interface information.

【図6】 電子部品ライブラリの配置と配線を入力した
基板仕様検討用レイアウトデータの一例を示す図であ
る。
FIG. 6 is a diagram illustrating an example of board specification study layout data in which the arrangement and wiring of an electronic component library are input.

【図7】 シミュレーションにより動作が確認された最
適な配置と配線状態の基板仕様検討用レイアウトデータ
の一例を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing an example of layout data for board specification study of an optimal arrangement and wiring state whose operation has been confirmed by simulation.

【図8】 最適な設定がなされたICインタフェース情
報例を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing an example of IC interface information in which optimal settings have been made.

【図9】 基板登録名と基板情報とを参照するための基
板情報参照用GUIの一例を示す図である。
FIG. 9 is a diagram illustrating an example of a board information reference GUI for referring to a board registration name and board information.

【図10】 基板の層構成例と、基板を構成する各層の
レイヤ名と層の属性名の対応の一例とを示す図である。
FIG. 10 is a diagram illustrating an example of a layer configuration of a substrate and an example of correspondence between a layer name of each layer configuring the substrate and an attribute name of the layer.

【図11】 基板を構成する各層の特性インピーダンス
と、単位長当たりの遅延値との一例を示す図である。
FIG. 11 is a diagram illustrating an example of a characteristic impedance of each layer constituting a substrate and a delay value per unit length.

【図12】 基板を構成する各層の層厚と、絶縁体層の
比誘電率との一例を示す図である。
FIG. 12 is a diagram showing an example of a layer thickness of each layer constituting a substrate and a relative dielectric constant of an insulator layer.

【図13】 導電体の抵抗率と、絶縁体層の比透磁力、
導電率及び損失角の一例を示す図である。
FIG. 13 shows the resistivity of a conductor, the relative magnetic permeability of an insulator layer,
It is a figure showing an example of conductivity and a loss angle.

【図14】 導電体層に作成する導電体の配線幅の一例
を示す図である。
FIG. 14 is a diagram illustrating an example of a wiring width of a conductor formed on a conductor layer.

【図15】 導電体層に作成する導電体間の最小間隙値
の一例を示す図である。
FIG. 15 is a diagram illustrating an example of a minimum gap value between conductors formed in a conductor layer.

【図16】 実施の形態2の配線板設計装置の構成を示
す図である。
FIG. 16 is a diagram showing a configuration of a wiring board design apparatus according to a second embodiment.

【図17】 受動素子を追加した基板仕様検討用レイア
ウトデータを示す図である。
FIG. 17 is a diagram showing layout data for board specification study to which a passive element is added.

【図18】 変更部分を反映した基板論理図データを示
す図である。
FIG. 18 is a diagram showing board logic diagram data reflecting a changed portion.

【図19】 実施の形態3の配線板設計装置の構成を示
す図である。
FIG. 19 is a diagram illustrating a configuration of a wiring board design apparatus according to a third embodiment.

【図20】 基板レイアウト設計用準備データ記憶部1
5に反映する基板レイアウト要求仕様データの一例を示
す図である。
FIG. 20 is a board layout design preparation data storage unit 1
FIG. 11 is a diagram showing an example of board layout requirement specification data reflected in No. 5;

【図21】 実施の形態4の配線板設計装置の構成を示
す図である。
FIG. 21 is a diagram illustrating a configuration of a wiring board design apparatus according to a fourth embodiment.

【図22】 実施の形態5の配線板設計装置の構成を示
す図である。
FIG. 22 is a diagram illustrating a configuration of a wiring board design apparatus according to a fifth embodiment.

【図23】 実施の形態6の配線板設計装置の構成を示
す図である。
FIG. 23 is a diagram illustrating a configuration of a wiring board design apparatus according to a sixth embodiment.

【図24】 実施の形態7の配線板設計装置の構成を示
す図である。
FIG. 24 is a diagram illustrating a configuration of a wiring board designing apparatus according to a seventh embodiment.

【図25】 実施の形態7の配線板設計装置により電子
部品ライブラリや基板情報を定義するためのGUIの一
例を示す図である。
FIG. 25 is a diagram illustrating an example of a GUI for defining an electronic component library and board information by the wiring board design apparatus of the seventh embodiment.

【図26】 実施の形態8の配線板設計装置の構成を示
す図である。
FIG. 26 is a diagram showing a configuration of a wiring board designing apparatus according to an eighth embodiment.

【図27】 実施の形態8の配線板設計装置による電子
部品ライブラリの配置を説明する図である。
FIG. 27 is a diagram illustrating an arrangement of an electronic component library by the wiring board design apparatus according to the eighth embodiment.

【図28】 実施の形態9の配線板設計装置の構成を示
す図である。
FIG. 28 is a diagram illustrating a configuration of a wiring board design apparatus according to a ninth embodiment;

【図29】 実施の形態10の配線板設計装置の構成を
示す図である。
FIG. 29 is a diagram showing a configuration of a wiring board designing apparatus according to a tenth embodiment.

【図30】 実施の形態10の配線板設計装置によるエ
ラー処理を説明するための図である。
FIG. 30 is a diagram for explaining error processing by the wiring board design apparatus of the tenth embodiment.

【図31】 実施の形態11の配線板設計装置の構成を
示す図である。
FIG. 31 is a diagram illustrating a configuration of a wiring board design apparatus according to an eleventh embodiment.

【図32】 ナビゲーション処理部で選択されたエラー
の回避方法の表示例を示す図である。
FIG. 32 is a diagram illustrating a display example of an error avoidance method selected by the navigation processing unit.

【図33】 複数基板にまたがる信号を表現した基板仕
様検討用レイアウトデータを示す図である。
FIG. 33 is a diagram showing board specification study layout data expressing a signal extending over a plurality of boards.

【図34】 従来のピン割付方法を示す図である。FIG. 34 is a diagram showing a conventional pin assignment method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 入力部、2 基板論理図入力用準備データ記憶部、
3 基板論理図入力部、4 基板仕様検討用信号選択
部、5 基板論理図データ記憶部、6 準備データ整合
処理部、7 基板仕様検討用準備データ記憶部、8 基
板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集部、9 基板
仕様検討用初期配置処理部、10 論理図データ生成
部、11 論理図データ変更部分抽出/反映部、12
未定義部品作成/編集部、13 ICインタフェース情
報記憶部、14 基板ネットリスト情報生成部、15
基板レイアウト設計用準備データ記憶部、16 ICイ
ンタフェース情報変更部分抽出/反映部、17 基板仕
様検討用レイアウトデータ記憶部、18 基板レイアウ
ト要求仕様抽出/反映部、19 解析信号/部品選択
部、20 基板配置配線設計部、21 解析用データ処
理部、22 解析準備データ記憶部、23 基板レイア
ウト設計データ記憶部、24 タイミングシミュレー
タ、25 波形シミュレータ、26 熱シミュレータ、
27 EMCシミュレータ、28 タイミングシミュレ
ーション結果記憶部、29 波形シミュレーション結果
記憶部、30 熱シミュレーション結果記憶部、31
EMCシミュレーション結果記憶部、32 シミュレー
ション結果表示部、33 エラー解析部、34 エラー
解析結果表示部、35 ナビゲーション処理部、36
ナビゲーション結果表示部、98 基板レイアウト設計
データ流用処理部。
1 input unit, 2 board logic diagram input preparation data storage unit,
3 Board logic diagram input section, 4 Board specification study signal selection section, 5 Board logic diagram data storage section, 6 Preparation data matching processing section, 7 Board specification study preparation data storage section, 8 Board specification study layout data creation / Editing unit, 9 Initial layout processing unit for examining board specifications, 10 Logical diagram data generation unit, 11 Logic diagram data changed part extraction / reflection unit, 12
Undefined component creation / editing unit, 13 IC interface information storage unit, 14 board net list information generation unit, 15
Board layout design preparation data storage section, 16 IC interface information changed portion extraction / reflection section, 17 Board specification study layout data storage section, 18 Board layout requirement specification extraction / reflection section, 19 Analysis signal / component selection section, 20 Board Placement and routing design unit, 21 analysis data processing unit, 22 analysis preparation data storage unit, 23 board layout design data storage unit, 24 timing simulator, 25 waveform simulator, 26 heat simulator,
27 EMC simulator, 28 Timing simulation result storage unit, 29 Waveform simulation result storage unit, 30 Thermal simulation result storage unit, 31
EMC simulation result storage unit, 32 simulation result display unit, 33 error analysis unit, 34 error analysis result display unit, 35 navigation processing unit, 36
Navigation result display section, 98 Board layout design data diversion processing section.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI G06F 15/60 664K 668A ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code FI G06F 15/60 664K 668A

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電子部品が配置され、上記電子部品間を
接続する配線により構成される基板を設計するためのデ
ータとして、上記電子部品の形状、上記基板の設計情報
及び上記基板の電気的な情報からなる仕様検討用データ
を記憶する基板仕様検討用準備データ記憶部と、 上記基板に実装する上記電子部品と上記電子部品間の接
続情報とを表現する基板論理図データを記憶する基板論
理図データ記憶部と、 上記基板に配置されるICの入出力バッファとピンアサ
イン情報とからなるICインタフェース情報を記憶する
ICインタフェース情報記憶部と、 上記基板仕様検討用準備データ記憶部、上記基板論理図
データ記憶部又は上記ICインタフェース情報記憶部に
記憶されたデータを使用して、上記基板のレイアウトデ
ータを作成/編集する基板仕様検討用レイアウトデータ
作成/編集部と、 この作成/編集されたレイアウトデータを検証するシミ
ュレータと、 上記基板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集部によ
り上記シミュレータのシミュレーション結果に基づいて
編集された上記レイアウトデータから、上記ICインタ
フェース情報に係る変更点を抽出し、上記ICインタフ
ェース情報記憶部に記憶されたICインタフェース情報
を変更するICインタフェース情報変更部分抽出/反映
部とを備えたことを特徴とする配線板設計装置。
An electronic component is arranged, and as data for designing a substrate constituted by wirings connecting the electronic components, a shape of the electronic component, design information of the substrate, and electrical data of the substrate are provided. A board specification study preparation data storage unit for storing specification study data consisting of information; and a board logic diagram for storing board logic diagram data expressing the electronic components mounted on the board and connection information between the electronic components. A data storage unit; an IC interface information storage unit for storing IC interface information including an input / output buffer of an IC arranged on the board and pin assignment information; a board specification study preparation data storage unit; and the board logic diagram Using the data stored in the data storage unit or the IC interface information storage unit, create / edit layout data of the board A layout data creating / editing unit for examining the board specifications; a simulator for verifying the created / edited layout data; and the simulator edited based on the simulation result of the simulator by the board specification examining layout data creating / editing unit. An IC interface information change portion extraction / reflection unit that extracts a change point related to the IC interface information from the layout data and changes the IC interface information stored in the IC interface information storage unit. Wiring board design equipment.
【請求項2】 電子部品が配置され、上記電子部品間を
接続する配線により構成される基板を設計するためのデ
ータとして、上記電子部品の形状、上記基板の設計情報
及び上記基板の電気的な情報からなる仕様検討用データ
を記憶する基板仕様検討用準備データ記憶部と、 上記基板に実装する上記電子部品と上記電子部品間の接
続情報とを表現する基板論理図データを記憶する基板論
理図データ記憶部と、 上記基板仕様検討用準備データ記憶部及び上記基板論理
図データ記憶部に記憶されたデータを使用して、上記基
板のレイアウトデータを作成/編集する基板仕様検討用
レイアウトデータ作成/編集部と、 この作成/編集されたレイアウトデータを検証するシミ
ュレータと、 上記基板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集部によ
り上記シミュレータのシミュレーション結果に基づいて
編集された上記レイアウトデータから、上記基板論理図
データに係る変更点を抽出し、上記基板論理図データ記
憶部に記憶された論理図データを変更する論理図データ
変更部分抽出/反映部とを備えたことを特徴とする配線
板設計装置。
2. The data for designing a board, on which electronic components are arranged and configured by wiring connecting the electronic components, include a shape of the electronic component, design information of the board, and electrical data of the board. A board specification study preparation data storage unit for storing specification study data consisting of information; and a board logic diagram for storing board logic diagram data expressing the electronic components mounted on the board and connection information between the electronic components. Using a data storage unit and data stored in the board specification study preparation data storage unit and the board logic diagram data storage unit, creating / editing board layout data for creating / editing board layout data. An editing unit, a simulator for verifying the created / edited layout data, and the board specification study layout data creating / editing unit. A logic diagram data changing portion for extracting a change related to the board logic diagram data from the layout data edited based on the simulation result of the emulator and changing the logic diagram data stored in the board logic diagram data storage unit A wiring board designing apparatus comprising an extraction / reflection unit.
【請求項3】 電子部品が配置され、上記電子部品間を
接続する配線により構成される基板を設計するためのデ
ータとして、上記電子部品の形状、上記基板の設計情報
及び上記基板の電気的な情報からなる仕様検討用データ
を記憶する基板仕様検討用準備データ記憶部と、 上記基板に実装する上記電子部品と上記電子部品間の接
続情報とを表現する基板論理図データを記憶する基板論
理図データ記憶部と、 上記基板仕様検討用準備データ記憶部及び上記基板論理
図データ記憶部に記憶されたデータを使用して、上記基
板のレイアウトデータを作成/編集する基板仕様検討用
レイアウトデータ作成/編集部と、 この作成/編集されたレイアウトデータを記憶する基板
仕様検討用レイアウトデータ記憶部と、 この基板仕様検討用レイアウトデータ記憶部に記憶され
たレイアウトデータを検証するシミュレータと、 上記基板のレイアウトを設計するためのレイアウト設計
用準備データを記憶する基板レイアウト設計用準備デー
タ記憶部と、 上記基板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集部によ
り上記シミュレータのシミュレーション結果に基づいて
編集されて上記基板仕様検討用レイアウトデータ記憶部
に記憶されたレイアウトデータから上記レイアウト設計
用データを抽出し、上記基板レイアウト設計用準備デー
タ記憶部に記憶された上記レイアウト設計用データを変
更する基板レイアウト要求仕様抽出/反映部と、 上記基板レイアウト設計用準備データ記憶部に記憶され
た上記接続情報に基づいて上記基板の配置配線設計を実
施する基板配置配線設計部とを備えたことを特徴とする
配線板設計装置。
3. The data for designing a substrate on which electronic components are arranged and configured by wiring connecting the electronic components, the shape of the electronic components, the design information of the substrate, and the electrical information of the substrate. A board specification study preparation data storage unit for storing specification study data consisting of information; and a board logic diagram for storing board logic diagram data expressing the electronic components mounted on the board and connection information between the electronic components. Using a data storage unit and data stored in the board specification study preparation data storage unit and the board logic diagram data storage unit, creating / editing board layout data for creating / editing board layout data. An editing unit; a board specification study layout data storage unit for storing the created / edited layout data; and a board specification study layout data. A simulator for verifying the layout data stored in the storage unit; a board layout design preparation data storage unit for storing layout design preparation data for designing the layout of the board; The layout unit extracts the layout design data from the layout data edited by the editing unit based on the simulation result of the simulator and stored in the board specification study layout data storage unit, and stored in the board layout design preparation data storage unit. A board layout requirement specification extraction / reflection unit for changing the layout design data, and a board layout for implementing the board layout and wiring design based on the connection information stored in the board layout design preparation data storage unit Wiring design department Wiring board design equipment.
【請求項4】 上記基板仕様検討用準備データ記憶部に
記憶された仕様検討用データと、上記基板レイアウト設
計用準備データ記憶部に記憶されたレイアウト設計用デ
ータとの両データに共通するデータを共用化するための
整合処理を行なう準備データ整合処理部を備えたことを
特徴とする請求項3記載の配線板設計装置。
4. A data common to both the specification study data stored in the board specification study preparation data storage unit and the layout design data stored in the board layout design preparation data storage unit. 4. The wiring board designing apparatus according to claim 3, further comprising a preparation data matching processing unit for performing a matching process for sharing.
【請求項5】 上記基板仕様検討用レイアウトデータ作
成/編集部により作成/編集されたレイアウトデータに
含まれる論理図データに係る情報と、上記基板論理図デ
ータ記憶部に記憶された論理図データとを合成して上記
基板のネットリスト情報を生成し、上記基板レイアウト
設計用準備データ記憶部に記憶させる基板ネットリスト
情報生成部を備えたことを特徴とする請求項3記載の配
線板設計装置。
5. Information relating to logic diagram data included in the layout data created / edited by the board specification study layout data creating / editing unit, and logic diagram data stored in the board logic diagram data storage unit. 4. The wiring board designing apparatus according to claim 3, further comprising: a board net list information generating unit that generates net list information of the board by synthesizing the board net list information and stores the generated net list information in the board layout design preparation data storage unit.
【請求項6】 上記基板配置配線設計部により配置配線
設計されたレイアウト設計データを記憶する基板レイア
ウト設計データ記憶部と、 上記基板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集部で流
用するデータを上記基板レイアウト設計データ記憶部よ
り抽出し、上記基板仕様検討用レイアウトデータ記憶部
に記憶させるデータ流用処理部とを備えたことを特徴と
する請求項3記載の配線板設計装置。
6. A board layout design data storage section for storing layout design data designed and arranged by said board arrangement and wiring design section, and said board layout data created / edited by said board specification study layout data creating / editing section. 4. The wiring board designing apparatus according to claim 3, further comprising: a data diversion processing unit that extracts the data from the design data storage unit and stores the extracted data in the board specification study layout data storage unit.
【請求項7】 上記基板仕様検討用準備データ記憶部に
記憶された上記仕様検討用データの中で未定義なデータ
を、上記基板仕様検討用レイアウトデータ作成/編集部
により定義を行う未定義部品作成/編集部を備えたこと
を特徴とする請求項1〜3の何れかに記載の配線板設計
装置。
7. An undefined component in which undefined data among the specification study data stored in the board specification study preparation data storage unit is defined by the board specification study layout data creating / editing unit. The wiring board designing apparatus according to any one of claims 1 to 3, further comprising a creating / editing unit.
【請求項8】 上記基板仕様検討用レイアウトデータ作
成/編集部で上記基板のレイアウトデータの作成/編集
を行なうために、表示装置に上記電子部品を配置して表
示する初期配置処理部を備えたことを特徴とする請求項
1〜3の何れかに記載の配線板設計装置。
8. An initial arrangement processing section for arranging and displaying the electronic components on a display device so that the board specification review layout data creating / editing section creates / edits the board layout data. The wiring board designing apparatus according to claim 1, wherein:
【請求項9】 上記基板仕様検討用レイアウトデータ作
成/編集部により作成/編集された基板仕様検討用レイ
アウトデータに基づいて、上記基板の論理図データを生
成し上記基板論理図データ記憶部に記憶させる論理図デ
ータ生成部を備えたことを特徴とする請求項1〜3の何
れかに記載の配線板設計装置。
9. A logic diagram data of the board is generated based on the board specification study layout data created / edited by the board specification study layout data creating / editing unit and stored in the board logic diagram data storage unit. The wiring board designing apparatus according to any one of claims 1 to 3, further comprising a logic diagram data generation unit that causes the logic diagram data to be generated.
【請求項10】 上記シミュレータのシミュレーション
結果にエラーがあるか否かを判別するためのエラー基準
を記憶し、このエラー基準に基づいて上記シミュレーシ
ョン結果中のエラーを特定するエラー解析部と、 このエラー解析部により特定された上記エラーを表示す
るエラー解析結果表示部とを備えたことを特徴とする請
求項1〜3の何れかに記載の配線板設計装置。
10. An error analysis unit for storing an error criterion for determining whether there is an error in the simulation result of the simulator, and identifying an error in the simulation result based on the error criterion; The wiring board design apparatus according to any one of claims 1 to 3, further comprising: an error analysis result display unit that displays the error specified by the analysis unit.
【請求項11】 上記エラー解析部により特定された上
記エラーを回避する方法を表示するナビゲーション処理
部を備えたことを特徴とする請求項10記載の配線板設
計装置。
11. The wiring board designing apparatus according to claim 10, further comprising a navigation processing unit for displaying a method of avoiding the error specified by the error analysis unit.
【請求項12】 上記シミュレータは、信号の変化点に
おける正否を検証するタイミングシミュレータ、信号の
伝送波形を解析する波形シミュレータ、上記基板の熱分
布を解析する熱シミュレータ、又は、上記基板の電磁放
射ノイズを解析するEMCシミュレータであることを特
徴とする請求項1〜3の何れかに記載の配線板設計装
置。
12. The simulator according to claim 1, wherein the simulator is a timing simulator for verifying whether the signal is at a change point, a waveform simulator for analyzing a transmission waveform of the signal, a heat simulator for analyzing a heat distribution of the board, or an electromagnetic radiation noise of the board. The wiring board designing apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the wiring board designing apparatus is an EMC simulator for analyzing the circuit board.
JP9136476A 1997-05-27 1997-05-27 Wiring board designing device Pending JPH10326300A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9136476A JPH10326300A (en) 1997-05-27 1997-05-27 Wiring board designing device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9136476A JPH10326300A (en) 1997-05-27 1997-05-27 Wiring board designing device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10326300A true JPH10326300A (en) 1998-12-08

Family

ID=15176029

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9136476A Pending JPH10326300A (en) 1997-05-27 1997-05-27 Wiring board designing device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10326300A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006337029A (en) * 2005-05-31 2006-12-14 Fujitsu Ltd Electrostatic discharge analysis system and method
JP2009054648A (en) * 2007-08-23 2009-03-12 Toshiba Corp Inspection device
CN113435145A (en) * 2020-03-23 2021-09-24 株式会社东芝 Recording medium, calculation method, and calculation device
KR20220064290A (en) * 2020-11-10 2022-05-18 주식회사 피에스앤아이덴산 method for manufacturing power supply

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006337029A (en) * 2005-05-31 2006-12-14 Fujitsu Ltd Electrostatic discharge analysis system and method
JP2009054648A (en) * 2007-08-23 2009-03-12 Toshiba Corp Inspection device
CN113435145A (en) * 2020-03-23 2021-09-24 株式会社东芝 Recording medium, calculation method, and calculation device
JP2021149861A (en) * 2020-03-23 2021-09-27 株式会社東芝 Simulation data, calculation method and calculation device
US11615226B2 (en) 2020-03-23 2023-03-28 Kabushiki Kaisha Toshiba Recording medium, computing method, and computing device
KR20220064290A (en) * 2020-11-10 2022-05-18 주식회사 피에스앤아이덴산 method for manufacturing power supply

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7398497B2 (en) Electronic circuit designing method apparatus for designing an electronic circuit, and storage medium for storing an electronic circuit designing method
US5781446A (en) System and method for multi-constraint domain electronic system design mapping
US6769102B2 (en) Verifying proximity of ground metal to signal traces in an integrated circuit
US8201136B2 (en) CAD apparatus, method, and computer product for designing printed circuit board
US8510698B2 (en) CAD apparatus and check support apparatus
US7788076B2 (en) Interference analysis method, interference analysis device, interference analysis program and recording medium with interference analysis program recorded thereon
US9147034B1 (en) Circuit layout verification method
US7657853B2 (en) Verification apparatus, design verification method, and computer aided design apparatus
US8910105B1 (en) Routing process
CN101782931B (en) Processing method and system of constraint areas of circuit board wiring
US20080141183A1 (en) CAD apparatus, method, and computer product for designing printed circuit board
US8904332B1 (en) Display process
US5877942A (en) Circuit card assembly footprint providing reworkable interconnection paths for use with a surface mount device
US9317638B1 (en) Polymorphic circuit simulation system
JPH10326300A (en) Wiring board designing device
US7073142B2 (en) Wiring diagram verifying method, program, and apparatus
US8074198B2 (en) Apparatus and method for circuit layout using longest path and shortest path search elements
US20130326444A1 (en) Recording medium for generation program, generation method, and generation apparatus
US9202001B1 (en) System and method for electronic design routing between terminals
JP3824203B2 (en) Electrical and electronic circuit diagram creation device
US10878168B1 (en) Method for performing a layout versus schematic test for a multi-technology module
JP3230495B2 (en) Automatic wiring device and automatic wiring method
JPH10283378A (en) Automatic component arranging method
JPH08288395A (en) Method and equipment for layout processing
US20080054933A1 (en) Scan chain in a custom electronic circuit design