JPH10318715A - Image measuring apparatus - Google Patents

Image measuring apparatus

Info

Publication number
JPH10318715A
JPH10318715A JP9147066A JP14706697A JPH10318715A JP H10318715 A JPH10318715 A JP H10318715A JP 9147066 A JP9147066 A JP 9147066A JP 14706697 A JP14706697 A JP 14706697A JP H10318715 A JPH10318715 A JP H10318715A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
search
data block
measurement
reference data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9147066A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4359939B2 (en
Inventor
Nobuo Takachi
伸夫 高地
Hitoshi Otani
仁志 大谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP14706697A priority Critical patent/JP4359939B2/en
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Priority to DE69833813T priority patent/DE69833813T2/en
Priority to EP98109138A priority patent/EP0880010B1/en
Priority to DE69829091T priority patent/DE69829091T2/en
Priority to EP04009639A priority patent/EP1455303B1/en
Priority to US09/081,620 priority patent/US6442292B1/en
Publication of JPH10318715A publication Critical patent/JPH10318715A/en
Priority to US10/194,285 priority patent/US7016528B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4359939B2 publication Critical patent/JP4359939B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain an image measuring apparatus by which a locating, operation and a measuring operation are performed with good efficiency and with high accuracy by a method wherein, on the basis of a positional relationship which is found by an approximate-position measuring part, a reference data block is set at a reference image and at least one out of the setting of a search region and the setting of a search data block in a search image is performed. SOLUTION: An image measuring apparatus 30 is provided with an approximate- position measuring part 31, with a data setting part 32 and with a correspondence discrimination part 33. The approximate-position measuring part 31 uses a feature pattern image whose positional relationship is known in advance, and it approximately finds the positional relationship of an object, to be measured, in one pair of images from the images which are obtained by photographing the object, to be measured, from different directions. In the data setting part 32, one out of the pair of images is set as a reference image, and the other is set as a search image. On the basis of the positional relationship which is found by the measuring part 31, a reference data block is set at the reference image, and a search region is set at the search image. The correspondence discrimination part 33 finds the correspondence relationship between a search data block to be set in the search region and the reference data block, and a three-dimensional measuring operation is automated.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】異なるカメラ位置から,三次
元計測をする際の前段階の標定作業の自動化ならびに、
ステレオマッチングの初期値を自動的に取得し、三次元
計測の自動化を行う技術に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION Automated orientation work prior to three-dimensional measurement from different camera positions, and
The present invention relates to a technique for automatically acquiring an initial value of stereo matching and automating three-dimensional measurement.

【0002】[0002]

【従来技術】地上写真測量において、三次元計測を行う
場合、図1に示す流れで計測が行われる。すなわち、対
象物のステレオ撮影(a)→位置検出(b)→標定
(c)→ステレオモデル形成(d)→三次元計測(e)
の処理が必要である。これらの処理はコンヒ゜ュータに
よる演算が中心であるが、その中で、位置検出(b)及
び三次元計測(e)は従来から人手を介して行われてい
る。位置検出(b)は、撮影するカメラの位置や傾き等
を求める標定の前処理である。
2. Description of the Related Art In terrestrial photogrammetry, when performing three-dimensional measurement, measurement is performed according to the flow shown in FIG. That is, stereo shooting of the object (a) → position detection (b) → location (c) → stereo model formation (d) → three-dimensional measurement (e)
Is required. These processes are mainly performed by a computer, in which the position detection (b) and the three-dimensional measurement (e) are conventionally performed manually. The position detection (b) is a pre-orientation process for obtaining the position, inclination, and the like of the camera to be photographed.

【0003】標定(c)でカメラ間と測定対象物の位置
関係を求めることにより、立体視可能なステレオモデル
を形成することができ、三次元計測が可能となる。標定
(c)を行うための位置検出(b)の処理は,異なるカ
メラに写し込まれている対応する6点以上のそれぞれの
カメラ上における座標位置を求める作業である。
By obtaining the positional relationship between the cameras and the object to be measured in the orientation (c), a stereo model that can be viewed stereoscopically can be formed, and three-dimensional measurement can be performed. The processing of position detection (b) for performing the orientation (c) is an operation of obtaining coordinate positions on each camera of six or more corresponding points projected on different cameras.

【0004】三次元計測(e)には、ポイント計測と面
計測の2種類がある。
There are two types of three-dimensional measurement (e): point measurement and surface measurement.

【0005】ポイント計測の場合、対象物上の計測点を
人手を介してマニュアルで計測しているが、自動化を画
ったり精度を向上するためには、対象物にマークを貼る
作業を行っている。
[0005] In the case of point measurement, measurement points on an object are manually measured manually, but in order to achieve automation and improve accuracy, a work of attaching a mark to the object is performed. I have.

【0006】面計測の場合、画像処理によるステレオマ
ッチングという手法を利用して自動で行う。その際に、
テンプレート画像の決定や探索幅の設定等の初期設定
は、人手を介して行う必要があった。
In the case of surface measurement, it is automatically performed using a technique called stereo matching by image processing. At that time,
Initial settings such as determination of a template image and setting of a search width have to be performed manually.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】位置検出(b)の作業
は、作業者が撮影された左右画像の対象物上の6点以上
の計測点を選択し、各画像を観察しながら対象物上の計
測点の対応付け及び座標位置検出を行うものである。と
ころが、これらの作業は基本的に立体視をしながら行う
必要があるため熟練を要し,かつ煩雑,困難,難解であ
った。
In the operation of position detection (b), the operator selects six or more measurement points on the object in the photographed left and right images, and observes each image to check the position on the object. And the coordinate position detection. However, since these operations basically need to be performed while viewing in a stereoscopic manner, it requires skill and is complicated, difficult, and difficult.

【0008】特に、計測点を決めて左右画像を対応付
け、詳細な位置座標を検出する作業は、個人差が生じ易
く結果が各人各様で十分な精度が得難かった。また、人
によっては計測不能となることも多々あった。このよう
な不具合を回避するために、対象物にマークを貼る等の
処理を行う場合もある。
In particular, in the work of determining measurement points, associating left and right images, and detecting detailed position coordinates, individual differences are likely to occur, and it is difficult for each person to obtain sufficient accuracy. In addition, there were many cases where measurement was impossible for some people. In order to avoid such inconveniences, processing such as attaching a mark to an object may be performed.

【0009】しかし、対象物自体にマークを貼るといっ
た作業が増えることはマイナスであり、更に対象物によ
っては容易にマークを貼ることができないものもあるた
め、この手法は余り普及していない。
[0009] However, increasing the number of operations for attaching a mark to the object itself is a minus, and since some objects cannot be easily marked, this method is not widely used.

【0010】他方、ステレオ運台上に2台のカメラを強
固に固定することにより,標定作業を行わずに三次元計
測をするという手法もある。
On the other hand, there is also a method in which two cameras are firmly fixed on a stereo gantry to perform three-dimensional measurement without performing orientation work.

【0011】しかし、その場合には、運台上の2台のカ
メラの位置関係が絶対にくるってはならず、測定環境や
測定対象物が大幅に限定されてしまう。同時に、そのよ
うな装置は大きく重く持ち運び困難であり、かつ高価と
なるために、この手法による三次元計測法も余り普及し
ていない。
However, in such a case, the positional relationship between the two cameras on the carriage must not be changed, and the measurement environment and the object to be measured are greatly limited. At the same time, such devices are large, heavy, difficult to carry, and expensive, so that three-dimensional measurement by this method is not widely used.

【0012】また、三次元計測(e)のポイント計測に
おいて、測定対象物にマーク等を貼らない場合には、作
業者が撮影された画像上を観察しながら計測点を指示し
て計測する必要があった。このため、測定点が多いと手
間や時間がかかっていた。また、精度良く計測しようと
するとどうしても個人差が生じ易く、計測不能といった
事態も生じていた。
In the point measurement of the three-dimensional measurement (e), when a mark or the like is not put on an object to be measured, it is necessary for an operator to designate a measurement point while observing a photographed image and perform measurement. was there. For this reason, it took time and effort when there were many measurement points. In addition, when trying to measure with high accuracy, there is a tendency that individual differences are apt to occur and measurement is impossible.

【0013】対象物にマークを貼って計測すれば上記事
態を避けることができるが、その場合には、前述のよう
にマークを貼るための手間が新たに生じ、対象物によっ
てはマークを貼ることが難しかったり計測不能になるこ
ともあった。
[0013] The above situation can be avoided if the measurement is performed by attaching a mark to an object, but in such a case, as described above, additional work is required for attaching the mark. Was sometimes difficult or impossible to measure.

【0014】面計測の場合は、前処理としてステレオマ
ッチングによる自動計測を行う際のテンプレート画像の
決定や、最適な探索幅の決定等を人手により行う必要が
あった。更に、ミスマッチング点等があった場合は人手
を介して修正を行う必要があり、結局自動化することが
難しかった。
In the case of surface measurement, it has been necessary to manually determine a template image when performing automatic measurement by stereo matching as preprocessing, and determine an optimum search width. Further, when there is a mismatching point or the like, it is necessary to perform correction manually, which makes it difficult to achieve automation.

【0015】本発明は、このような従来技術の問題点に
鑑み、標定作業から測定までを効率良くかつ高精度で行
え、測定対象物を選ばず持ち運び可能であって簡便な構
成の画像測定装置を提供することを目的としている。
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and enables an efficient and high-accuracy operation from the orientation operation to the measurement, and can be carried irrespective of an object to be measured. It is intended to provide.

【0016】[0016]

【問題点を解決するための手段】本発明は、測定対象物
を異なる方向から撮影した一対の画像からそれぞれの画
像中での測定対象物の位置関係を概略求める概略位置測
定部と、一対の画像中、一方の画像を基準画像、他方の
画像を捜索画像と定め、前記概略位置測定部で求めた位
置関係に基づいて基準画像に基準データブロックを設定
し、捜索画像に捜索領域を設けその捜索領域中に捜索デ
ータブロックを設定するデータ設定部と、その捜索領域
中に設定される捜索データブロックと基準データブロッ
クとの対応関係を求める対応判別部とを備え、前記デー
タ設定部は、前記概略位置測定部で求めた位置関係に基
づいて、基準画像への基準データブロックの設定、捜索
画像への捜索領域の設定及び捜索データブロックの設定
の少なくとも一つを行うように構成したことを特徴とす
る画像測定装置を要旨としている。
According to the present invention, there is provided a rough position measuring section for roughly calculating a positional relationship of a measuring object in each image from a pair of images of the measuring object taken from different directions; In the images, one image is defined as a reference image, the other image is defined as a search image, a reference data block is set in the reference image based on the positional relationship obtained by the approximate position measurement unit, and a search area is provided in the search image. A data setting unit that sets a search data block in a search area; and a correspondence determination unit that determines a correspondence between a search data block and a reference data block that are set in the search area. At least one of setting of a reference data block in a reference image, setting of a search area in a search image, and setting of a search data block based on the positional relationship obtained by the approximate position measurement unit. It is summarized as image measuring apparatus characterized by being configured to perform.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】本発明の画像測定装置は、測定対
象物を異なる方向から撮影した一対の画像からそれぞれ
の画像中での測定対象物の位置関係を概略求める概略位
置測定部と、一対の画像中、一方の画像を基準画像、他
方の画像を捜索画像と定め、前記概略位置測定部で求め
た位置関係に基づいて基準画像に基準データブロックを
設定し、捜索画像に捜索領域を設けその捜索領域中に捜
索データブロックを設定するデータ設定部と、その捜索
領域中に設定される捜索データブロックと基準データブ
ロックとの対応関係を求める対応判別部とを備え、前記
データ設定部は、前記概略位置測定部で求めた位置関係
に基づいて、基準画像への基準データブロックの設定、
捜索画像への捜索領域の設定及び捜索データブロックの
設定の少なくとも一つを行うように構成したことを特徴
としている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An image measuring apparatus according to the present invention comprises: a pair of images obtained by photographing a measuring object from different directions; Among the images, one image is defined as a reference image, the other image is defined as a search image, a reference data block is set in the reference image based on the positional relationship obtained by the approximate position measurement unit, and a search region is provided in the search image. A data setting unit that sets a search data block in the search area; and a correspondence determination unit that determines a correspondence between the search data block and the reference data block set in the search area. Based on the positional relationship determined by the approximate position measurement unit, setting of a reference data block to a reference image,
At least one of a search area setting and a search data block setting in a search image is performed.

【0018】上記一対の画像中には、あらかじめ位置関
係がわかっている特徴パターン像が含まれており、前記
概略位置測定部は、基準画像中の特徴パターン像の位置
及びその捜索画像中の特徴パターン像の位置関係に基づ
き、一対の画像のそれぞれの画像中での測定対象物の位
置関係を概略求めるように構成することができる。
The pair of images include a characteristic pattern image whose positional relationship is known in advance, and the approximate position measuring unit determines the position of the characteristic pattern image in the reference image and the characteristic in the search image. Based on the positional relationship between the pattern images, the configuration can be such that the positional relationship between the measurement objects in each of the pair of images is roughly obtained.

【0019】前記データ設定部は、捜索画像中の特徴パ
ターン像の位置に基づいて、前記捜索画像に捜索領域の
範囲を設定するように構成することができる。
The data setting unit may be configured to set a range of a search area in the search image based on a position of the feature pattern image in the search image.

【0020】前記データ設定部は、捜索画像中の特徴パ
ターン像の位置及び捜索領域の位置と、又は基準画像中
の特徴パターン像の位置及び基準データブロック位置と
の位置関係に基づいて、捜索画像に捜索領域の範囲を設
定するように構成することが可能である。
The data setting section is configured to search for a search image based on a positional relationship between a position of the feature pattern image in the search image and a position of the search area, or a position of the feature pattern image in the reference image and a reference data block position. Can be configured to set the range of the search area.

【0021】前記データ設定部は、捜索画像中の特徴パ
ターン像の位置及び捜索領域の位置と、又は基準画像中
の特徴パターン像の位置及び基準データブロック位置と
の位置関係に基づいて、捜索画像に捜索領域の範囲の大
きさを設定するように構成できる。
The data setting unit is configured to search for a search image based on a positional relationship between a position of a characteristic pattern image in a search image and a position of a search area, or a position of a characteristic pattern image in a reference image and a reference data block position. Can be configured to set the size of the range of the search area.

【0022】前記データ設定部は、捜索画像中の特徴パ
ターン像及び捜索領域と、又は基準画像中の特徴パター
ン像及び基準データブロックとが離れるにつれて捜索画
像の捜索領域の範囲の幅又は面積を大きく設定するよう
に構成できる。
The data setting section increases the width or area of the range of the search area of the search image as the feature pattern image and the search area in the search image or the feature pattern image and the reference data block in the reference image move away from each other. Can be configured to set.

【0023】前記データ設定部は、異なる大きさの複数
の捜索領域を設定するように構成できる。
The data setting section may be configured to set a plurality of search areas of different sizes.

【0024】前記データ設定部は、基準画像中の特徴パ
ターン像の位置に基づいて、基準画像に基準データブロ
ックを設定するように構成できる。
[0024] The data setting section may be configured to set a reference data block in the reference image based on the position of the characteristic pattern image in the reference image.

【0025】前記データ設定部は、基準画像中の特徴パ
ターン像の位置及び基準データブロック位置とに基づい
て、基準画像に基準データブロックの大きさを設定する
ように構成できる。
The data setting unit may be configured to set the size of the reference data block in the reference image based on the position of the characteristic pattern image in the reference image and the position of the reference data block.

【0026】前記データ設定部は、基準画像中の特徴パ
ターン像の位置及び基準データブロック位置とが離れる
につれて、基準画像に基準データブロックの高さ又は幅
を大きく設定するように構成できる。
The data setting section may be configured to set the height or width of the reference data block to be larger in the reference image as the position of the characteristic pattern image in the reference image and the position of the reference data block become farther apart.

【0027】前記データ設定部は、基準画像中の特徴パ
ターン像に基づき異なる大きさの複数の基準データブロ
ックを設定するように構成できる。
[0027] The data setting unit may be configured to set a plurality of reference data blocks of different sizes based on the characteristic pattern image in the reference image.

【0028】[0028]

【実施例】まず、図17を参照して、本発明による画像
測定装置の概要を説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS First, an outline of an image measuring apparatus according to the present invention will be described with reference to FIG.

【0029】画像測定装置30は概略位置測定部31、
データ設定部32、対応判別部33を備えている。
The image measuring device 30 includes a general position measuring unit 31,
A data setting unit 32 and a correspondence determination unit 33 are provided.

【0030】概略位置測定部31は、予め位置関係が分
っている特徴パターン像を用いて、測定対象物を異なる
方向から撮影した一対の画像からそれぞれの画像中での
測定対象物の位置関係を概略求める構成になっている。
The approximate position measuring unit 31 uses a characteristic pattern image whose positional relationship is known in advance to calculate the positional relationship of the measuring object in each image from a pair of images obtained by photographing the measuring object from different directions. Is roughly obtained.

【0031】データ設定部32は、一対の画像の一方を
基準画像、他方を捜索画像と定め、概略位置測定部31
で求めた位置関係に基づいて、基準画像に基準データブ
ロックを設定し、捜索画像に捜索領域を設定する構成に
なっている。
The data setting section 32 determines one of the pair of images as a reference image and the other as a search image,
The reference data block is set in the reference image and the search area is set in the search image on the basis of the positional relationship obtained in (1).

【0032】対応判別部33は、捜索領域中に設定され
た捜索データブロックと基準データブロックとの対応関
係を求める構成になっている。
The correspondence discriminating unit 33 is configured to obtain a correspondence between a search data block set in a search area and a reference data block.

【0033】この画像測定装置30を利用することによ
り、以下で詳細に説明する三次元計測の自動化を画り、
計測の精度を向上することができる。
The use of the image measuring device 30 makes it possible to automate three-dimensional measurement described in detail below.
Measurement accuracy can be improved.

【0034】以下、本発明の画像測定装置を利用した形
状測定装置について詳細に説明する。
Hereinafter, a shape measuring apparatus using the image measuring apparatus of the present invention will be described in detail.

【0035】図1は形状測定装置における計測の流れを
示しており、図2はその構成を概念的に示すブロック図
である。
FIG. 1 shows a flow of measurement in the shape measuring apparatus, and FIG. 2 is a block diagram conceptually showing the configuration.

【0036】a.対象物のステレオ撮影 まず、コントローラ4からの指示によって特徴パターン
投影部3から測定対象物0に特徴パターンをあてる。そ
して、測定対象物0の画像を左右画像撮影部1及び2に
より撮影し、特徴パターン抽出部5に画像データを転送
する。
A. Stereo imaging of the object first, shed feature pattern to the measured object 0 from the feature pattern projection unit 3 by an instruction from the controller 4. Then, the image of the measurement object 0 is photographed by the left and right image photographing units 1 and 2, and the image data is transferred to the feature pattern extracting unit 5.

【0037】左右画像撮影部1及び2は、図3に示すよ
うに、光学系11、CCD12、CCDドライバ13、
オペアンプ14、A/D変換器15等から構成される。
As shown in FIG. 3, the left and right image photographing units 1 and 2 include an optical system 11, a CCD 12, a CCD driver 13,
It comprises an operational amplifier 14, an A / D converter 15, and the like.

【0038】図5と図6は、特徴パターンの例を示して
いる。これらの特徴パターン20は円形で構成されてい
るが、特徴パターン投影によるマーク像の位置が求めら
れるものであれば、円形以外のどんな形状のものでも良
い。
FIGS. 5 and 6 show examples of characteristic patterns. These characteristic patterns 20 are formed in a circular shape, but may have any shape other than the circular shape as long as the position of the mark image by the characteristic pattern projection can be obtained.

【0039】特徴パターン投影部3は、スライドプロジ
ェクターやレーザポインタ等、特徴パターン20を投影
できるものなら何でもよい。
The feature pattern projecting section 3 may be any device capable of projecting the feature pattern 20, such as a slide projector or a laser pointer.

【0040】図4は、特徴パターン抽出部5の詳細なブ
ロック図である。
FIG. 4 is a detailed block diagram of the characteristic pattern extraction unit 5.

【0041】左右画像撮影部1及び2により転送される
画像データは、図3のA/D変換器15によりデジタル
データに変換され、特徴パターン抽出部5の特徴パター
ン投影用画像メモリ51に転送される。
The image data transferred by the left and right image photographing units 1 and 2 is converted into digital data by the A / D converter 15 in FIG. 3 and transferred to the characteristic pattern projection image memory 51 of the characteristic pattern extraction unit 5. You.

【0042】次に,コントローラ4からの指示により、
特徴パターン投影を停止し、左右画像撮影部1及び2に
より特徴パターンなしの画像を撮影し、特徴パターン抽
出部5の特徴パターンなし用画像メモリ52にデジタル
画像データを転送する。
Next, according to an instruction from the controller 4,
The feature pattern projection is stopped, images without a feature pattern are shot by the left and right image shooting units 1 and 2, and digital image data is transferred to the feature pattern absence image memory 52 of the feature pattern extraction unit 5.

【0043】特徴パターン投影用画像メモリ51と特徴
パターンなし用画像メモリ52に画像転送が終わった
ら、コントローラ4の指示により、画像差分演算器53
を通して二つの画像を差分する。そして、差分画像を、
特徴パターン画像メモリ54に取り込む。
After the image transfer to the image memory for feature pattern projection 51 and the image memory for no feature pattern 52 is completed, the image difference calculator 53 is operated by the instruction of the controller 4.
Through the two images. Then, the difference image is
It is taken into the characteristic pattern image memory 54.

【0044】この結果、特徴パターン画像メモリ54内
のデータは、測定対象物0の画像情報が消去されたも
の、すなわち特徴パターン20に関する情報(マーク像
のデータ)のみとなる。
As a result, the data in the feature pattern image memory 54 is only the data in which the image information of the measurement object 0 has been deleted, that is, only the information (mark image data) related to the feature pattern 20.

【0045】b.位置検出 標定処理を行うために,特徴パターン投影によるマーク
像の位置検出を行う。
B. In order to perform position detection orientation processing, the position of a mark image is detected by projecting a characteristic pattern.

【0046】特徴パターン位置検出部55により、特徴
パターン画像メモリ54内の特徴パターン座標位置を検
出する。
The characteristic pattern position detecting section 55 detects the characteristic pattern coordinate position in the characteristic pattern image memory 54.

【0047】特徴パターン20は、その位置が明確にわ
かるものであればどんな形状のものでも良いが、ここで
は図5や図6のような特徴パターン20を仮定する。ま
た、特徴パターンは図5や図6のように6点以上あれ
ば,何点でもかまわない。
The shape of the characteristic pattern 20 may be any shape as long as its position can be clearly understood. Here, the characteristic pattern 20 as shown in FIGS. 5 and 6 is assumed. Also, as long as there are six or more characteristic patterns as shown in FIGS. 5 and 6, any number of characteristic patterns may be used.

【0048】特徴パターン画像メモリ54には特徴パタ
ーン投影によるマーク像以外の情報は含まれていないた
め、誤検出をなくすことができる。更に、自動で位置検
出を行うことが容易になるので、常に安定した位置座標
検出を個人差なく高精度で行うことができる。
Since the characteristic pattern image memory 54 does not include any information other than the mark image formed by the characteristic pattern projection, erroneous detection can be eliminated. Further, since it is easy to automatically perform position detection, stable position coordinate detection can always be performed with high accuracy without individual differences.

【0049】ここでは、点の概略位置検出にテンプレー
トマッチング法を用い、詳細位置検出にモーメント法を
用いる場合を説明する。
Here, a case where the template matching method is used for detecting the approximate position of a point and the moment method is used for detecting the detailed position will be described.

【0050】テンプレートマッチング法については相関
法の一種である残差逐次検定法(SSDA法)を説明す
るが、正規化相関法等を使用しても良い。また、詳細位
置検出にはモーメント法でなくLOGフィルタ法等を用
いても良い。
As the template matching method, a residual sequential test method (SSDA method), which is a type of correlation method, will be described, but a normalized correlation method or the like may be used. Further, for the detailed position detection, a LOG filter method or the like may be used instead of the moment method.

【0051】以下、位置検出処理について説明する。Hereinafter, the position detecting process will be described.

【0052】(概略位置検出) 1.テンプレート画像を登録する。(Schematic Position Detection) Register a template image.

【0053】テンプレート画像は、図5や図6の投影特
徴パターン20の一つのマークと似たようなシミュレー
ション画像を作成しても良い、あるいは、実際の画像を
どれか選んで用いても良い。
As the template image, a simulation image similar to one mark of the projection feature pattern 20 shown in FIGS. 5 and 6 may be created, or an actual image may be selected and used.

【0054】2.S>R(a,b)となる点を画像全体
で探索する(数式1参照)。
2. A point where S> R (a, b) is searched for in the entire image (see Equation 1).

【0055】R(a,b)が0に近いほど類似度が高
い。Sは適当な値を前持って決めておく。この場合、特
徴パターン以外の画像情報は消去されているため容易に
決定できる。テンプレートマッチングには正規化相関法
等を用いても良いが、残差逐次検定法を使用すれば、処
理をさらに高速化できる。
The closer the R (a, b) is to 0, the higher the similarity. S is determined in advance with an appropriate value. In this case, since the image information other than the characteristic pattern has been deleted, it can be easily determined. The template matching may use a normalized correlation method or the like, but the processing can be further speeded up by using a residual sequential test method.

【0056】[残差逐次検定法(SSDA法)]SSD
A法の原理図を図7に、式を数式1に示す。
[Residual sequential test method (SSDA method)] SSD
FIG. 7 shows the principle of the method A, and Equation 1 shows the equation.

【0057】残差R(a,b)が最小になる点が求める
マークの位置である。
The point at which the residual R (a, b) is minimum is the position of the mark to be obtained.

【0058】[0058]

【数1】 式の加算において、R(a,b)の値が過去の残差の最
小値を越えたら加算を打ち切り、次の(a,b)に移る
よう計算処理を行うことにより、処理の高速化をはかる
ことができる。
(Equation 1) In the addition of the expression, if the value of R (a, b) exceeds the minimum value of the residual in the past, the addition is terminated, and the calculation processing is performed so as to move to the next (a, b), thereby speeding up the processing. Can be measured.

【0059】3.R(a,b)最小かつ隣接するマーク
位置の間隔等の条件により、投影特徴パターンのマーク
位置をマーク数分決定し、位置座標とする。
3. R (a, b) Minimum and adjacent mark positions are determined by the number of marks in accordance with conditions such as the distance between adjacent mark positions, and are used as position coordinates.

【0060】(詳細位置決定) 1.探索領域決定 前述の(概略位置検出)によって決まった点に対し、そ
こを中心とした探索領域を設定する。
(Detailed Position Determination) Determination of Search Area A search area centered on a point determined by the above (approximate position detection) is set.

【0061】2.マーク領域の決定 探索領域について、濃度値がしきい値以上の領域を一つ
のマークとする(図8参照)。
[0061] 2. Determination of Mark Area An area having a density value equal to or higher than a threshold value in the search area is defined as one mark (see FIG. 8).

【0062】しきい値は、ある適当な値を予め決めてお
く。画像は、マーク以外は差分処理を施しているため殆
ど0となっている。
As the threshold value, an appropriate value is determined in advance. The image is almost 0 because the difference processing has been performed on the image except for the mark.

【0063】3.重心位置算出 モーメント法を行い、重心位置座標を算出する。3. Center-of-gravity position calculation The moment method is used to calculate the center-of-gravity position coordinates.

【0064】[モーメント法]図8に示されている通
り、しきい値T以上の点について(マークK)、以下の
式を施す。
[Moment Method] As shown in FIG. 8, the following equation is applied to points (mark K) that are equal to or greater than the threshold value T.

【0065】[0065]

【数2】 (Equation 2)

【0066】[0066]

【数3】 この数式2及び数式3によって、サブピクセル位置まで
重心位置が算出可能となる。
(Equation 3) With the equations (2) and (3), the position of the center of gravity can be calculated up to the sub-pixel position.

【0067】4.点数分だけ1〜3を行う。4. Perform 1 to 3 for the number of points.

【0068】以上で、図5あるいは図6のような特徴パ
ターン投影によるマーク像の位置座標を算出することが
できる。
As described above, the position coordinates of the mark image by the characteristic pattern projection as shown in FIG. 5 or FIG. 6 can be calculated.

【0069】概略位置検出を行わずに、最初から詳細位
置検出を行っても良く、また、他のアルゴリズムによっ
て位置検出しても構わない。
The detailed position detection may be performed from the beginning without performing the approximate position detection, or the position may be detected by another algorithm.

【0070】いずれにしても,画像は特徴パターン情報
のみなので、高速かつ、高精度に位置を算出することが
可能である。
In any case, since the image is only the characteristic pattern information, the position can be calculated at high speed and with high accuracy.

【0071】c.標定 次に,特徴パターン位置検出部55で求めた座標値を姿
勢算出部6に送り、標定計算を行う。
[0071] c. Orientation Next, the coordinate values obtained by the characteristic pattern position detection unit 55 are sent to the posture calculation unit 6 to perform orientation calculation.

【0072】この計算により、左右それぞれのカメラの
位置等が求めるられる。
By this calculation, the positions of the left and right cameras and the like are obtained.

【0073】次の共面条件式により、それらのパラメー
タを求める。
The parameters are obtained by the following coplanar conditional expression.

【0074】[0074]

【数4】 モデル座標系の原点を左側の投影中心にとり、右側の投
影中心を結ぶ線をX軸にとるようにする。縮尺は、基線
長を単位長さにとる。このとき求めるパラメータは、左
側のカメラのZ軸の回転角κ1、Y軸の回転角φ1、右
側のカメラのZ軸の回転角κ2、Y軸の回転角φ2、X
軸の回転角ω2の5つの回転角となる。この場合、左側
のカメラのX軸の回転角ω1は0なので、考慮する必要
ない。
(Equation 4) The origin of the model coordinate system is set to the left projection center, and the line connecting the right projection center is set to the X axis. The scale is based on the base line length as a unit length. The parameters obtained at this time are the rotation angle κ1 of the Z axis of the left camera, the rotation angle φ1 of the Y axis, the rotation angle κ2 of the Z axis of the right camera, the rotation angle φ2 of the Y axis, X
There are five rotation angles of the shaft rotation angle ω2. In this case, since the rotation angle ω1 of the X axis of the left camera is 0, there is no need to consider it.

【0075】このような条件にすると、数式4の共面条
件式は数式5のようになり、この式を解けば各パラメー
タが求まる。
Under such conditions, the coplanar conditional expression of Expression 4 is as shown in Expression 5, and each parameter can be obtained by solving this expression.

【0076】[0076]

【数5】 ここで、モデル座標系XYZとカメラ座標系xyzの間
には、次に示すような座標変換の関係式が成り立つ。
(Equation 5) Here, the following relational expression of coordinate conversion is established between the model coordinate system XYZ and the camera coordinate system xyz.

【0077】[0077]

【数6】 (Equation 6)

【0078】[0078]

【数7】 これらの数式を用いて、次の手順により、未知パラメー
タを求める。 1.初期近似値は通常0とする。 2.共面条件式5を近似値のまわりにテーラー展開し、
線形化したときの微分係数の値を数式6、7により求
め、観測方程式をたてる。 3.最小二乗法をあてはめ、近似値に対する補正量を求
める。 4.近似値を補正する。 5.補正された近似値を用いて、上記2.〜5.までの
操作を収束するまで繰り返す。
(Equation 7) Using these formulas, unknown parameters are obtained by the following procedure. 1. The initial approximate value is usually set to 0. 2. Taylor expansion of coplanar conditional expression 5 around the approximate value,
The value of the differential coefficient at the time of linearization is obtained by Expressions 6 and 7, and an observation equation is established. 3. By applying the least squares method, a correction amount for the approximate value is obtained. 4. Correct the approximation. 5. Using the corrected approximate value, the above-mentioned 2. ~ 5. Is repeated until convergence.

【0079】仮に、どこかのマークが対象物の形状等
で、うまく位置検出されていない場合には、収束しない
場合がありうる。その場合は、1点1点削除して、上記
1〜5までを行い、収束したもの、あるいは、一番良い
もののパラメータを使用する。
If some of the marks are not properly detected due to the shape of the object or the like, the convergence may not be achieved. In such a case, the above steps 1 to 5 are performed by deleting one point at a time, and the converged or best parameter is used.

【0080】d.ステレオモデル形成 次に、標定により求められたパラメータにより、立体視
可能なステレオモデル座標系へ画像を変換し、ステレオ
モデルを形成する。
[0080] d. Stereo Model Formation Next, the image is transformed into a stereo model coordinate system that can be viewed stereoscopically by using the parameters obtained by orientation, and a stereo model is formed.

【0081】モデル座標への変換式は以下のようにな
る。
The conversion formula to the model coordinates is as follows.

【0082】[0082]

【数8】 (Equation 8)

【0083】[0083]

【数9】 (Equation 9)

【0084】[0084]

【数10】 このようにして、三次元計測が可能な状態となる。(Equation 10) Thus, three-dimensional measurement is possible.

【0085】e.三次元計測 (1)ポイント計測 図6のような6点以上の特徴パターン20を使用し、複
数のマークを位置検出(b)と同様な処理をすることに
より、その三次元座標を自動で高精度に求められる。 (2)面計測 図6のような投影特徴パターン20を使用することによ
り、ステレオマッチングの初期値とすることが可能とな
る。
[0085] e. Three-dimensional measurement (1) Point measurement By using a feature pattern 20 having six or more points as shown in FIG. 6, a plurality of marks are subjected to the same processing as in position detection (b), so that their three-dimensional coordinates are automatically increased. Required for accuracy. (2) Surface Measurement By using the projection feature pattern 20 as shown in FIG. 6, it is possible to set an initial value for stereo matching.

【0086】面計測の場合の初期値の決めかたについて
説明する。
How to determine the initial value in the case of surface measurement will be described.

【0087】図9と図10は説明図であり、図6のよう
な投影特徴パターンのうちの一部について抜き出したも
のである。図9は基準とする基準画像、図10は探索を
行う捜索画像である。これら基準・捜索画像は、左右ど
ちらの画像でもよい。例えば、左画像を基準画像、右画
像を捜索画像と決める。
FIGS. 9 and 10 are explanatory diagrams showing a part of the projection feature pattern as shown in FIG. FIG. 9 is a reference image as a reference, and FIG. 10 is a search image to be searched. These reference / search images may be left or right images. For example, the left image is determined as a reference image, and the right image is determined as a search image.

【0088】投影特徴パターンは基準画像S’1、S’
2、S’5、S’6に対し捜索画像上ではS1、S2、
S5、S6が対応している。
The projected feature patterns are the reference images S′1, S ′
On the search image, S1, S2,
S5 and S6 correspond.

【0089】対応点探索は、基準画像中の基準データブ
ロックをテンプレート画像として、捜索画像中の捜索領
域にステレオマッチングを施すことにより行う。ステレ
オマッチングには画像相関処理等を使用する。
The corresponding point search is performed by performing stereo matching on a search area in the search image using the reference data block in the reference image as a template image. Image correlation processing or the like is used for stereo matching.

【0090】[捜索領域の決定]投影特徴パターンをも
とに、捜索領域を決定する方法について説明する。
[Determination of Search Area] A method of determining a search area based on a projected feature pattern will be described.

【0091】投影特徴パターンS1〜S2(水平方向)
を幅A、S1〜S5(垂直方向)を幅Bとし、S1,S
2、S5,S6で囲まれた部分を捜索領域R1とする。
以下同様にS2,S3、S6,S7で囲まれた部分を捜
索領域R2、…と順次それぞれの投影特徴パターンで囲
まれた部分を捜索領域として決定する。
Projection feature patterns S1 and S2 (horizontal direction)
Is a width A, S1 to S5 (vertical direction) is a width B, and S1, S
2. A portion surrounded by S5 and S6 is defined as a search region R1.
Similarly, a portion surrounded by S2, S3, S6, S7 is determined as a search region R2,..., And a portion surrounded by the respective projected feature patterns is determined as a search region.

【0092】実際の投影特徴パターンによるマーク像
は、それぞれ図11に示されるように、対象物の形状や
CCDの向きによって同一ライン上にあるとは限らな
い。そこで、各投影特徴パターンの4点から最大のA、
Bの幅が得られるような四角形を作成し、捜索領域とす
る。例えば図11では、S1,S2,S5,S6でとり
うる最大の幅は水平方向A1,垂直方向B1となり、こ
れで作成した四角形の領域を捜索領域R1、同様に、S
2,S3,S6,S7でとりうる最大幅A2,B2で作
成される四角形を捜索領域R2とする。このようにする
と、多少オーバーラップする領域ができるが、R1、R
2領域の境界も確実に探索が可能となる。
As shown in FIG. 11, the mark images based on the actual projected feature patterns are not always on the same line depending on the shape of the object and the direction of the CCD. Therefore, from the four points of each projection feature pattern, the maximum A,
A rectangle that can obtain the width of B is created as a search area. For example, in FIG. 11, the maximum widths that can be taken in S1, S2, S5, and S6 are the horizontal direction A1 and the vertical direction B1.
A rectangle created with the maximum widths A2 and B2 that can be taken by S2, S3, S6, and S7 is defined as a search region R2. In this way, although there is a somewhat overlapping area, R1, R
The boundary between the two regions can also be reliably searched.

【0093】これは、既に求めた捜索画像中のマーク像
の位置に基づいて、捜索画像に捜索領域の範囲を決定す
るものである。
This is to determine the range of the search area in the search image based on the position of the mark image in the search image that has already been obtained.

【0094】図12はこの捜索領域決定の変形例であ
る。
FIG. 12 shows a modification of the search area determination.

【0095】例えば、それぞれの投影特徴パターンは、
左右画像上ですでに対応点として求められているので、
捜索領域の捜索開始位置と終了位置を投影点近隣の領域
とすると効率がよい。すなわち、図11の例だと、垂直
方向にS1からS5まで捜索幅A1づつ探索を進めてい
くと、S5のライン周辺に近づくにつれ、無駄な探索領
域(明らかに対応点が存在しない領域)がでる。
For example, each projection feature pattern is
Since it is already required as a corresponding point on the left and right images,
It is efficient if the search start position and the end position of the search area are set as areas near the projection point. That is, in the example of FIG. 11, as the search proceeds in the vertical direction from S1 to S5 by the search width A1, the useless search area (the area where no corresponding point exists) becomes closer to the vicinity of the line of S5. Out.

【0096】そこで、図12のS1〜S5間(垂直方
向)の1/2のD1までは、S1と同一の水平方向の点
を捜索領域の開始点とし、D1〜S5間ではD1とS5
を結んだ線上を水平方向の捜索開始点にとる。
Therefore, the same horizontal point as S1 is set as the start point of the search area up to D1 which is 1/2 of the interval between S1 and S5 (vertical direction) in FIG. 12, and D1 and S5 are set between D1 and S5.
Take the horizontal search start point on the line connecting.

【0097】このような処理を各投影点につき捜索領域
として設定し、捜索領域を多少オーバーラップさせなが
らステレオマッチングを行えば、ある程度効率のよい探
索が可能となる。
If such processing is set as a search area for each projection point and stereo matching is performed while slightly overlapping the search areas, a somewhat efficient search can be performed.

【0098】図13、図14は、捜索領域中の捜索デー
タブロックを設定することにより、さらに捜索領域の探
索を効率化したものである。
FIG. 13 and FIG. 14 show that the search area is further improved by setting search data blocks in the search area.

【0099】たとえば、捜索画像中のマークS1〜S2
のA1の区間において、図9で示される基準画像上の基
準データブロックT1、T2、T3…、それぞれに対応
する捜索領域上の位置を求めるとき、それぞれの捜索デ
ータブロックを図13で示されるように、U1、U2、
U3、…、と何ブロックかにわけて設定する。このよう
にすれば、捜索領域探索における時間を短かくし効率的
に探索できる。この場合、捜索データブロックの範囲
は、基準データブロックをいくつにとるかで決定でき
る。例えば基準画像S’1〜S’2のA’間でn個基準
データブロックを設定するとすれば、A1/n、あるい
はA1/(n−1)等とすれば良い。(n−1)とした
のは、多少捜索データブロックをオーバーラップさせて
探索を行う場合である。
For example, marks S1 to S2 in a search image
In the section A1, the positions of the reference data blocks T1, T2, T3,... On the reference image shown in FIG. 9 in the search area corresponding to the respective search data blocks are obtained as shown in FIG. , U1, U2,
U3,... Are set in several blocks. By doing so, the time in the search area search can be shortened and the search can be performed efficiently. In this case, the range of the search data block can be determined by the number of reference data blocks. For example, if n reference data blocks are set between A's of the reference images S'1 to S'2, A1 / n or A1 / (n-1) may be used. (N-1) is the case where the search is performed by slightly overlapping the search data blocks.

【0100】これは、既に求めた捜索画像中のマーク像
の位置及び捜索領域の位置に基づいて、捜索画像に捜索
領域の範囲を設定するものである。見方を変えると基準
画像中のマーク像の位置及び基準データブロック位置と
の位置関係に基づいて、捜索画像に捜索領域の範囲を設
定するものともいえる。
In this method, the range of the search area is set in the search image based on the position of the mark image and the position of the search area in the search image that have already been obtained. In other words, it can be said that the range of the search area is set in the search image based on the positional relationship between the position of the mark image in the reference image and the position of the reference data block.

【0101】図13の方式の変形例が図14に示されて
いる。これは、捜索データブロックのサイズを可変とし
たものである。すなわち、マークS1、S2の近隣領域
は、基準データブロックに対する対応点が近くにあるこ
とがわかっているので、捜索データブロックのサイズを
小さく、離れるにしたがって対応点位置が不確かとなる
ため大きくするものである。従って、基準データブロッ
クがA’/2の位置で最大の捜索データブロックサイズ
となる。
FIG. 14 shows a modification of the system shown in FIG. This makes the size of the search data block variable. That is, since it is known that the corresponding point with respect to the reference data block is near in the neighboring area of the marks S1 and S2, the size of the search data block is small, and the position of the corresponding point becomes uncertain as the distance increases, so that the size is increased. It is. Therefore, the reference data block has the largest search data block size at the position of A '/ 2.

【0102】これら捜索データブロックのサイズは、S
1〜S2の捜索領域A1より決定する。
The size of these search data blocks is S
It is determined from the search area A1 of 1 to S2.

【0103】例えば、nをA’間の基準データブロック
数とすれば、 ・S1〜S1+A1/2の区間の捜索データブロックサ
イズ: (1+t×i/n)×A1/n、 ・S1+A1/2〜S2の区間の捜索データブロックサ
イズ: (1+t×(n−i)/n)×A1/n、 但し、iはそれぞれの基準データブロックに対応する捜
索データブロックの位置、すなわちi=1〜nとする。
また、tは倍率の定数で所定の値に設定する。例えばS
1+A1/2の位置でS1の位置(U1)の捜索データ
ブロックサイズの倍にしたければ2を選ぶ。
For example, if n is the number of reference data blocks between A ′, search data block size in the section of S1 to S1 + A1 / 2: (1 + t × i / n) × A1 / n, S1 + A1 / 2− Search data block size in the section of S2: (1 + t × (ni) / n) × A1 / n, where i is the position of the search data block corresponding to each reference data block, ie, i = 1 to n. I do.
Further, t is a constant of the magnification and is set to a predetermined value. For example, S
If it is desired to double the search data block size at the position (U1) of S1 at the position of 1 + A1 / 2, select 2.

【0104】これら捜索データブロックサイズは、基準
画像中のマークS’1、S’2及び基準データブロック
T1,T2、…、に基づいて決定してもよい。その際
は、上述のA1をA’とし、倍率A1/A’を加味した
項を掛け合わせる。
The search data block size may be determined based on the marks S′1, S′2 in the reference image and the reference data blocks T1, T2,. In this case, A1 is set to A ', and the term is multiplied by a term in consideration of the magnification A1 / A'.

【0105】このように、捜索領域及び捜索データブロ
ックを設定することにより、対応点探索を効率よく、す
なわち高速かつ信頼性を高めながら行うことが可能とな
る。
As described above, by setting the search area and the search data block, it is possible to perform the corresponding point search efficiently, that is, at high speed and with high reliability.

【0106】この方式では、捜索画像中のマーク像の位
置及び捜索領域の位置との位置関係に基づいて、見方を
変えれば基準画像中のマーク像の位置及び基準データブ
ロック位置との位置関係に基づいて、捜索画像に捜索領
域の範囲の大きさを設定している。
In this method, if the viewpoint is changed based on the positional relationship between the position of the mark image in the search image and the position of the search area, the positional relationship between the position of the mark image in the reference image and the position of the reference data block is changed. Based on the search image, the size of the range of the search area is set.

【0107】[基準データブロックの決定]基準となる
基準データブロックは、基準画像上のS’1、S’2、
S’5、S’6、あるいは捜索画像上のS1、S2、S
5、S6から決定する。例えば基準画像(図9)S’1
〜S’2をA’、S’1〜S’5をB’とすれば、水平
方向の基準データブロック幅はA’/n、垂直方向は
B’/mのように決定できる。
[Determination of Reference Data Block] Reference data blocks serving as references are S'1, S'2,
S'5, S'6, or S1, S2, S on the search image
5. Determined from S6. For example, the reference image (FIG. 9) S'1
If S'2 is A 'and S'1 to S'5 are B', the reference data block width in the horizontal direction can be determined as A '/ n and in the vertical direction as B' / m.

【0108】あるいは、左右画像の比率に比例した大き
さにしてもよい。例えば、水平方向はA’/A*n、垂
直方向は、B’/B*mのように設定する。
Alternatively, the size may be proportional to the ratio of the left and right images. For example, the horizontal direction is set as A '/ A * n, and the vertical direction is set as B' / B * m.

【0109】n、mは計測したい対象物の大きさと画素
数の関係によって適切な大きさを求めることができる
が、A’、B’の値によって適宜定数としても良い。
Although n and m can be determined as appropriate in accordance with the relationship between the size of the object to be measured and the number of pixels, they may be constants as appropriate according to the values of A 'and B'.

【0110】図15は基準データブロックサイズを1種
類でなく3種類として相関積をとりながら、上述の処理
と同様にステレオマッチングしていく方法である。この
場合も、この3種類のサイズをA’,B’の情報をもと
に決定できる。
FIG. 15 shows a method of performing stereo matching in the same manner as the above-described processing while obtaining correlation products with three types of reference data block sizes instead of one type. Also in this case, these three sizes can be determined based on the information of A 'and B'.

【0111】図16は、本発明の基準データブロック決
定における更なる変形例である。S’1及びS’2近隣
の領域は、基準・捜索画像上で比較的対応が取れている
ために基準データブロックは小さくてよいが、離れるに
したがって、対応位置が不確かとなるため基準データブ
ロックサイズを動的に変化させる。たとえば、T1位
置、T2位置、T3位置において図14のように基準デ
ータブロックを拡大していく。そして、基準データブロ
ック位置がA’/2地点で最大の大きさとする。A’/
2からS’2に向かっては、基準データブロックサイズ
を逆に順次小さくしていく。
FIG. 16 shows a further modification of the reference data block determination according to the present invention. In the regions near S′1 and S′2, the reference data block may be small because the correspondence is relatively high on the reference / search image, but the corresponding position becomes uncertain as the distance increases, so that the reference data block becomes uncertain. Change size dynamically. For example, the reference data block is enlarged at the T1, T2, and T3 positions as shown in FIG. Then, the reference data block position is set to the maximum size at the point A '/ 2. A '/
From 2 to S′2, the reference data block size is gradually reduced in reverse.

【0112】このようにすることにより、ステレオマッ
チングの信頼性を高めることができる。
By doing so, the reliability of stereo matching can be improved.

【0113】これら基準データブロックサイズは、S’
1〜S’2の水平方向の幅A’、S’1〜S’5の垂直
方向の幅B’より決定する。
These reference data block sizes are S ′
The width is determined from the horizontal width A 'of 1 to S'2 and the vertical width B' of S'1 to S'5.

【0114】例えば、n,mをA’、B’間の基準デー
タブロック数とすれば、 ・S’1〜S’1+A’/2の区間の基準データブロッ
クサイズ: 水平方向:(1+t×i/n)×A’/n、 垂直方向:(1+t×l/m)×B’/m ・S’1+A’/2〜S’2の区間の基準データブロッ
クサイズ 水平方向:(1+t×(n−i)/n)×A’/n、 垂直方向:(1+t×(m−i)/m)×B’/m 但し、i,lはそれぞれの基準データブロック位置、す
なわちi=1〜n、l=1〜mとする。
For example, if n and m are the number of reference data blocks between A 'and B': Reference data block size in the section of S'1 to S'1 + A '/ 2: Horizontal direction: (1 + t × i / N) × A ′ / n, vertical direction: (1 + t × l / m) × B ′ / m ・ Standard data block size in the section from S′1 + A ′ / 2 to S′2 Horizontal direction: (1 + t × (n −i) / n) × A ′ / n, vertical direction: (1 + t × (mi) / m) × B ′ / m, where i and l are respective reference data block positions, that is, i = 1 to n , 1 = 1 to m.

【0115】ここで、tは倍率の定数であり、所望の値
に設定する。例えばS’1+A’/2の位置でS’1の
位置(T1)の基準データブロックサイズの倍にしたけ
れば2を選ぶ。
Here, t is a magnification constant, and is set to a desired value. For example, if the position of S'1 + A '/ 2 is to be double the reference data block size of the position (T1) of S'1, "2" is selected.

【0116】このようにすれば、基準データブロックを
可変にできる。
In this way, the reference data block can be made variable.

【0117】また、図15のような3種類の基準データ
ブロックを上述の例のように可変とし、相関積をとるこ
とにより、ステレオマッチングしていけば、更に信頼性
の高い対応点探索が可能となる。
Further, if the three types of reference data blocks as shown in FIG. 15 are made variable as in the above-described example and the correlation products are obtained and stereo matching is performed, a more reliable corresponding point search can be performed. Becomes

【0118】これら基準データブロックの決定は、捜索
画像におけるマークS1,S2によって同様に行っても
よい。その際は、A’をA1、B’をB1として更に基
準画像と捜索画像の倍率A’/A1を加味した項を掛け
合わせる。
The determination of these reference data blocks may be similarly performed based on the marks S1 and S2 in the search image. In this case, A1 is A1 and B 'is B1. Further, the reference image and the search image are multiplied by a term in consideration of the magnification A' / A1.

【0119】以上のようにすることによって、各初期値
が自動で求められる。
As described above, each initial value is automatically obtained.

【0120】次に、実際に行う計測(ステレオマッチン
グ)の手順について説明する。
Next, the procedure of actual measurement (stereo matching) will be described.

【0121】例として図6の投影特徴パターンS1〜S
8の場合について、図9、11により説明する。
As an example, the projected feature patterns S1 to S in FIG.
The case of No. 8 will be described with reference to FIGS.

【0122】垂直方向は標定処理が終了し、縦視差が除
去されている(位置合わせしてある)ので、基準画像、
捜索画像の同一ライン上を探索するだけで良い。また捜
索データブロックを設定する際は、各捜索領域において
上述のように適宜設定して行う。
In the vertical direction, since the orientation processing has been completed and the vertical parallax has been removed (aligned), the reference image,
It is only necessary to search on the same line of the search image. When setting the search data block, the search data block is set appropriately as described above in each search area.

【0123】1.捜索画像のS1〜S2までの捜索領域
R1の水平方向のラインL1の探索幅A1に対し、基準
画像中のT1、T2、T3、…の基準データブロックで
順次対応点探索を行う。
1. For the search width A1 of the horizontal line L1 in the search area R1 from S1 to S2 of the search image, corresponding point search is sequentially performed on the reference data blocks T1, T2, T3,.

【0124】これら初期値は、先に述べたような方法で
決定しておく。
These initial values are determined by the method described above.

【0125】捜索領域R1のラインL1上のA1が終了
したら、 2.S2〜S3の捜索領域R2に対し、この領域で決め
られた基準データブロック位置からラインL1のA2上
の対応点探索を順次繰り返す。
When A1 on line L1 of search area R1 is completed, For the search area R2 of S2 to S3, the corresponding point search on A2 of the line L1 is sequentially repeated from the reference data block position determined in this area.

【0126】3.次に、S3〜S4の捜索領域R3のラ
インL1のA3を対応点探索する。捜索領域R3に対し
ては、この領域で決められたテンプレートサイズ、位置
で順次行う。
3. Next, a corresponding point is searched for the line A3 of the line L1 in the search area R3 of S3 to S4. For the search area R3, the search is sequentially performed with the template size and position determined in this area.

【0127】ラインL1の対応点探索が終了したら、次
のラインL2に移動して、また、捜索領域R1の探索幅
A1から、対応点探索を1〜3と同様に繰り返す。
When the search for the corresponding point on the line L1 is completed, the process moves to the next line L2, and the corresponding point search is repeated from the search width A1 of the search area R1 in the same manner as in steps 1 to 3.

【0128】これを必要なライン数分繰り返す。This is repeated for the required number of lines.

【0129】以上のようにすれば、投影特徴パターンの
位置から、ステレオマッチングする際の初期値、すなわ
ち、捜索領域、捜索データブロック、および基準データ
ブロックを自動で決定し、自動計測が可能となる。
As described above, the initial values for stereo matching, that is, the search area, the search data block, and the reference data block are automatically determined from the position of the projection feature pattern, and automatic measurement can be performed. .

【0130】さらに、基準・捜索画像の捜索領域と基準
データブロックをA’、B’以内と限定できるため、通
常のステレオマッチングよりはるかに高速な処理が可能
となる。すなわち、通常は、各探索位置において1水平
ライン分(図6、line)ステレオマッチングを行うので
あるが、その処理時間が投影点の数により数分の1とな
る。
Further, since the search area and the reference data block of the reference / search image can be limited to within A ′ and B ′, processing can be performed at a much higher speed than ordinary stereo matching. That is, usually, stereo matching for one horizontal line (line in FIG. 6) is performed at each search position, but the processing time is reduced to a fraction of the number of projection points.

【0131】また、基準・捜索画像上の対応領域があら
かじめ限定され求められているため、ミスマッチングが
大幅に減少できる。すなわち、ステレオマッチングの信
頼性を大幅に向上させることができる。
Further, since the corresponding area on the reference / search image is previously determined and determined, mismatching can be greatly reduced. That is, the reliability of stereo matching can be significantly improved.

【0132】これに加えて、基準データブロックや捜索
領域、捜索データブロックを投影点の位置情報により適
切に決定できるので、更にステレオマッチングの信頼性
が高められる。
In addition, since the reference data block, the search area, and the search data block can be appropriately determined based on the position information of the projection point, the reliability of stereo matching is further improved.

【0133】また、基準データブロックや捜索データブ
ロックをその探索位置により動的に可変可能となるの
で、信頼性がそれ以上に高められる。
Further, since the reference data block and the search data block can be dynamically changed according to the search position, the reliability is further improved.

【0134】そして、これらステレオマッチングは、投
影特徴パターンのない画像上で行えるので特徴パターン
による誤検出が生じない。また、特徴パターンがない画
像は画像データベースとしての価値が生じ,計測と同時
に原画像の蓄積が行える。
Since the stereo matching can be performed on an image having no projection feature pattern, erroneous detection due to the feature pattern does not occur. An image without a feature pattern has a value as an image database, and an original image can be stored simultaneously with measurement.

【0135】さらに、前述の実施例によれば、特徴パタ
ーンを投影した画像と投影しない画像を使用するため
に、対象物に計測用のマークを貼るという作業が必要な
くなり、マークの貼れないような対象物においても計測
が可能になる。
Further, according to the above-described embodiment, since an image on which the characteristic pattern is projected and an image on which the characteristic pattern is not projected are used, it is not necessary to attach a measurement mark to the object, and the mark is not attached. Measurement can be performed on an object.

【0136】このように、特徴パターンがある画像とな
い画像を差分することにより、特徴パターン情報のみの
画像が作成できることから、特徴パターン位置検出〜標
定〜ステレオモデル形成〜三次元計測までを、人手によ
らず自動で精度良く行うことが可能となる。すなわち、
従来熟練を要し煩雑であった人手による標定作業と三次
元計測作業をなくすことができ、すべてを自動で行って
信頼性を向上することが可能となる。
As described above, since an image having only the feature pattern information can be created by subtracting the image having the feature pattern from the image having no feature pattern, the process from the feature pattern position detection to the orientation to the stereo model formation to the three-dimensional measurement can be performed manually. This makes it possible to automatically and accurately perform the operation regardless of the above. That is,
Conventionally, complicated and complicated manual orientation work and three-dimensional measurement work can be eliminated, and all operations can be performed automatically to improve reliability.

【0137】さらに,カメラをステレオ運台上に強固に
固定する必要はなく、現場で2台のカメラをラフに設置
して撮影するだけで、高精度な三次元計測が可能になる
ので、現場や対象物によらず簡便に計測可能であるとい
う卓越した効果がある。
Further, it is not necessary to firmly fix the cameras on the stereo gantry, and high-precision three-dimensional measurement can be performed by simply installing two cameras roughly at the site and photographing. There is an excellent effect that measurement can be easily performed irrespective of the object or the object.

【0138】また,特徴パターンの点を増やすことによ
り,ステレオマッチングの初期値とすること、すなわち
自動で探索幅、テンプレート画像の決定を行いステレオ
マッチングすることが可能となり、更にステレオマッチ
ング時間の短縮と信頼性を大幅に向上させながら,対象
物の表面形状を自動測定できるという卓越した効果があ
る。
Further, by increasing the number of feature pattern points, it becomes possible to set the initial value of stereo matching, that is, to automatically determine a search width and a template image and perform stereo matching. There is an outstanding effect that the surface shape of the object can be automatically measured while significantly improving the reliability.

【0139】[0139]

【発明の効果】本発明によれば、測定対象物を異なる方
向から撮影した一対の画像からそれぞれの画像中での測
定対象物の位置関係を概略求め、一対の画像中、一方の
画像を基準画像、他方の画像を捜索画像と定め、前記概
略位置測定部で求めた位置関係に基づいて基準画像に基
準データブロックを設定し、捜索画像に捜索領域を設け
その捜索領域中に捜索データブロックを設定し、その捜
索領域中に設定される捜索データブロックと基準データ
ブロックとの対応関係を求めるに当たって、概略の位置
関係に基づいて、基準画像への基準データブロックの設
定、捜索画像への捜索領域の設定及び捜索データブロッ
クの設定の少なくとも一つを行うように構成することに
より、対応関係を正確に求めることができる。
According to the present invention, the positional relationship of a measurement object in each image is roughly determined from a pair of images of the measurement object taken from different directions, and one of the pair of images is used as a reference. An image, the other image is determined as a search image, a reference data block is set in the reference image based on the positional relationship obtained by the approximate position measurement unit, a search area is provided in the search image, and the search data block is located in the search area. In order to determine the correspondence between the search data block set in the search area and the reference data block, the reference data block is set in the reference image based on the approximate positional relationship, and the search area is set in the search image. By setting at least one of the setting of the search data block and the setting of the search data block, the correspondence can be accurately obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の形状測定装置における計測の流れを示
すブロック図。
FIG. 1 is a block diagram showing a measurement flow in a shape measuring apparatus according to the present invention.

【図2】本発明の形状測定装置を概念的に示すブロック
図。
FIG. 2 is a block diagram conceptually showing a shape measuring apparatus of the present invention.

【図3】形状測定装置の左右画像撮影部を示す概念図。FIG. 3 is a conceptual diagram showing left and right image photographing units of the shape measuring device.

【図4】形状測定装置のパターン抽出部を示すブロック
図。
FIG. 4 is a block diagram showing a pattern extracting unit of the shape measuring device.

【図5】投影パターンの一例を示す平面図FIG. 5 is a plan view showing an example of a projection pattern.

【図6】投影パターンの別の例を示す平面図FIG. 6 is a plan view showing another example of the projection pattern.

【図7】SSDA法によるテンプレートマッチングを示
す説明図。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing template matching by the SSDA method.

【図8】モーメント法を示す説明図。FIG. 8 is an explanatory diagram showing a moment method.

【図9】基準画像を示す説明図。FIG. 9 is an explanatory diagram showing a reference image.

【図10】捜索画像を示す説明図。FIG. 10 is an explanatory diagram showing a search image.

【図11】捜索画像を示す説明図。FIG. 11 is an explanatory diagram showing a search image.

【図12】捜索画像を示す説明図。FIG. 12 is an explanatory diagram showing a search image.

【図13】捜索画像を示す説明図。FIG. 13 is an explanatory diagram showing a search image.

【図14】捜索画像を示す説明図。FIG. 14 is an explanatory diagram showing a search image.

【図15】基準画像を示す説明図。FIG. 15 is an explanatory diagram showing a reference image.

【図16】基準画像を示す説明図。FIG. 16 is an explanatory diagram showing a reference image.

【図17】本発明による画像測定装置の概要を示すブロ
ック図。
FIG. 17 is a block diagram showing an outline of an image measuring device according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

0 測定対象物 1,2 左右画像撮影部 3 パターン投影部 4 コントローラ 5 パターン抽出部 6 姿勢算出部 7 ステレオモデル形成部 8 形状測定部 9 テンプレートマッチング画像 10 形状測定装置 11 光学系 12 CCD 13 CCDドライバ 14 オペアンプ 15 A/D変換器 20 投影パターン 30 画像測定装置 31 概略位置測定部 32 データ設定部 33 対応判別部 51 パターン投影用画像メモリ 52 パターンなし用画像メモリ 53 画像差分演算部(器) 54 パターン画像メモリ 55 パターン位置検出部 0 Measurement object 1, 2 Left and right image photographing unit 3 Pattern projecting unit 4 Controller 5 Pattern extracting unit 6 Attitude calculating unit 7 Stereo model forming unit 8 Shape measuring unit 9 Template matching image 10 Shape measuring device 11 Optical system 12 CCD 13 CCD driver Reference Signs List 14 Operational amplifier 15 A / D converter 20 Projection pattern 30 Image measuring device 31 Rough position measuring unit 32 Data setting unit 33 Correspondence determining unit 51 Image memory for pattern projection 52 Image memory for no pattern 53 Image difference calculation unit (unit) 54 pattern Image memory 55 Pattern position detector

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 測定対象物を異なる方向から撮影した一
対の画像からそれぞれの画像中での測定対象物の位置関
係を概略求める概略位置測定部と、 一対の画像中、一方の画像を基準画像、他方の画像を捜
索画像と定め、前記概略位置測定部で求めた位置関係に
基づいて基準画像に基準データブロックを設定し、捜索
画像に捜索領域を設けその捜索領域中に捜索データブロ
ックを設定するデータ設定部と、 その捜索領域中に設定される捜索データブロックと基準
データブロックとの対応関係を求める対応判別部とを備
え、 前記データ設定部は、前記概略位置測定部で求めた位置
関係に基づいて、基準画像への基準データブロックの設
定、捜索画像への捜索領域の設定及び捜索データブロッ
クの設定の少なくとも一つを行うように構成したことを
特徴とする画像測定装置。
1. A schematic position measuring unit for roughly calculating a positional relationship of a measurement target in each image from a pair of images obtained by photographing the measurement target from different directions, and one image in the pair of images is used as a reference image. The other image is defined as a search image, a reference data block is set in the reference image based on the positional relationship obtained by the rough position measurement unit, a search area is provided in the search image, and a search data block is set in the search area. A data setting unit, and a correspondence determination unit that determines a correspondence relationship between a search data block set in the search area and a reference data block, wherein the data setting unit determines a positional relationship obtained by the approximate position measurement unit. Based on the setting of the reference data block in the reference image, setting of the search area in the search image and setting of the search data block Characteristic image measuring device.
【請求項2】 請求項1記載の画像測定装置において、 上記一対の画像中には、あらかじめ位置関係がわかって
いる特徴パターン像が含まれており、 前記概略位置測定部は、基準画像中の特徴パターン像の
位置及びその捜索画像中の特徴パターン像の位置関係に
基づき、一対の画像のそれぞれの画像中での測定対象物
の位置関係を概略求めるように構成されていることを特
徴とする画像測定装置。
2. The image measurement apparatus according to claim 1, wherein the pair of images include a characteristic pattern image whose positional relationship is known in advance, and the approximate position measurement unit includes On the basis of the position of the characteristic pattern image and the positional relationship of the characteristic pattern image in the search image, the positional relationship of the measurement target in each of the pair of images is roughly obtained. Image measuring device.
【請求項3】 請求項2記載の画像測定装置において、 前記データ設定部は、捜索画像中の特徴パターン像の位
置に基づいて、前記捜索画像に捜索領域の範囲を設定す
るように構成したことを特徴とする画像測定装置。
3. The image measurement device according to claim 2, wherein the data setting unit is configured to set a range of a search area in the search image based on a position of a feature pattern image in the search image. An image measuring device characterized by the above-mentioned.
【請求項4】 請求項2記載の画像測定装置において、 前記データ設定部は、捜索画像中の特徴パターン像の位
置及び捜索領域の位置と、又は基準画像中の特徴パター
ン像の位置及び基準データブロック位置との位置関係に
基づいて、捜索画像に捜索領域の範囲を設定するように
構成したことを特徴とする画像測定装置。
4. The image measurement device according to claim 2, wherein the data setting unit is configured to determine a position of a characteristic pattern image and a position of a search area in a search image or a position and a reference data of a characteristic pattern image in a reference image. An image measuring device configured to set a range of a search region in a search image based on a positional relationship with a block position.
【請求項5】 請求項2記載の画像測定装置において、 前記データ設定部は、捜索画像中の特徴パターン像の位
置及び捜索領域の位置と、又は基準画像中の特徴パター
ン像の位置及び基準データブロック位置との位置関係に
基づいて、捜索画像に捜索領域の範囲の大きさを設定す
るように構成したことを特徴とする画像測定装置。
5. The image measurement apparatus according to claim 2, wherein the data setting unit is configured to determine a position of the characteristic pattern image and a position of the search area in the search image, or a position and a reference data of the characteristic pattern image in the reference image. An image measuring apparatus, wherein a size of a range of a search area is set in a search image based on a positional relationship with a block position.
【請求項6】 請求項5記載の画像測定装置において、 前記データ設定部は、捜索画像中の特徴パターン像及び
捜索領域と、又は基準画像中の特徴パターン像及び基準
データブロックとが離れるにつれて捜索画像の捜索領域
の範囲の幅又は面積を大きく設定するように構成したこ
とを特徴とする画像測定装置。
6. The image measurement device according to claim 5, wherein the data setting unit searches as the feature pattern image and the search area in the search image or the feature pattern image and the reference data block in the reference image move away. An image measuring apparatus, wherein the width or area of a range of an image search area is set to be large.
【請求項7】 請求項3乃至6のいずれか1項に記載の
画像測定装置において、前記データ設定部は、異なる大
きさの複数の捜索領域を設定するように構成したことを
特徴とする画像測定装置。
7. The image measurement apparatus according to claim 3, wherein the data setting unit is configured to set a plurality of search areas having different sizes. measuring device.
【請求項8】 請求項2記載の画像測定装置において、 前記データ設定部は、基準画像中の特徴パターン像の位
置に基づいて、基準画像に基準データブロックを設定す
るように構成したことを特徴とする画像測定装置。
8. The image measurement device according to claim 2, wherein the data setting unit is configured to set a reference data block in the reference image based on a position of the feature pattern image in the reference image. Image measuring device.
【請求項9】 請求項2記載の画像測定装置において、 前記データ設定部は、基準画像中の特徴パターン像の位
置及び基準データブロック位置とに基づいて、基準画像
に基準データブロックの大きさを設定するように構成し
たことを特徴とする画像測定装置。
9. The image measurement device according to claim 2, wherein the data setting unit determines the size of the reference data block in the reference image based on the position of the characteristic pattern image in the reference image and the reference data block position. An image measurement device characterized by being configured to set.
【請求項10】 請求項2記載の画像測定装置におい
て、 前記データ設定部は、基準画像中の特徴パターン像の位
置及び基準データブロック位置とが離れるにつれて、基
準画像に基準データブロックの高さ又は幅を大きく設定
するように構成したことを特徴とする画像測定装置。
10. The image measurement device according to claim 2, wherein the data setting unit is configured such that the height of the reference data block or the height of the reference data block is increased as the position of the characteristic pattern image in the reference image and the position of the reference data block become farther apart. An image measuring apparatus characterized in that the width is set to be large.
【請求項11】 請求項8乃至10のいずれか1項に記
載の画像測定装置において、 前記データ設定部は、基準画像中の特徴パターン像に基
づき異なる大きさの複数の基準データブロックを設定す
るように構成したことを特徴とする画像測定装置。
11. The image measurement device according to claim 8, wherein the data setting unit sets a plurality of reference data blocks having different sizes based on a characteristic pattern image in the reference image. An image measuring device characterized by having such a configuration.
JP14706697A 1997-05-22 1997-05-22 Image measuring device Expired - Fee Related JP4359939B2 (en)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14706697A JP4359939B2 (en) 1997-05-22 1997-05-22 Image measuring device
EP98109138A EP0880010B1 (en) 1997-05-22 1998-05-20 Measuring apparatus
DE69829091T DE69829091T2 (en) 1997-05-22 1998-05-20 measuring device
EP04009639A EP1455303B1 (en) 1997-05-22 1998-05-20 Apparatus for determining correspondences in a pair of images
DE69833813T DE69833813T2 (en) 1997-05-22 1998-05-20 Device for correspondence search in a pair of pictures
US09/081,620 US6442292B1 (en) 1997-05-22 1998-05-20 Measuring apparatus
US10/194,285 US7016528B2 (en) 1997-05-22 2002-07-15 Measuring apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14706697A JP4359939B2 (en) 1997-05-22 1997-05-22 Image measuring device

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007081913A Division JP4550081B2 (en) 2007-03-27 2007-03-27 Image measurement method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10318715A true JPH10318715A (en) 1998-12-04
JP4359939B2 JP4359939B2 (en) 2009-11-11

Family

ID=15421721

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14706697A Expired - Fee Related JP4359939B2 (en) 1997-05-22 1997-05-22 Image measuring device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4359939B2 (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003042730A (en) * 2001-07-30 2003-02-13 Topcon Corp Apparatus and method for measurement of surface shape as well as surface-state mapping apparatus
JP2006098255A (en) * 2004-09-30 2006-04-13 Ricoh Co Ltd Photographing method, photographing system, composite device, three-dimensional shape restoring method, program, and information recording medium
JP2007218922A (en) * 2007-03-27 2007-08-30 Topcon Corp Image measuring device
JP2010197186A (en) * 2009-02-25 2010-09-09 Topcon Corp Object detector
CN113227707A (en) * 2019-01-08 2021-08-06 欧姆龙株式会社 Three-dimensional shape measurement device, three-dimensional shape measurement method, and program
CN113246136A (en) * 2021-06-07 2021-08-13 深圳市普渡科技有限公司 Robot, map construction method, map construction device and storage medium

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003042730A (en) * 2001-07-30 2003-02-13 Topcon Corp Apparatus and method for measurement of surface shape as well as surface-state mapping apparatus
JP2006098255A (en) * 2004-09-30 2006-04-13 Ricoh Co Ltd Photographing method, photographing system, composite device, three-dimensional shape restoring method, program, and information recording medium
JP2007218922A (en) * 2007-03-27 2007-08-30 Topcon Corp Image measuring device
JP2010197186A (en) * 2009-02-25 2010-09-09 Topcon Corp Object detector
CN113227707A (en) * 2019-01-08 2021-08-06 欧姆龙株式会社 Three-dimensional shape measurement device, three-dimensional shape measurement method, and program
CN113227707B (en) * 2019-01-08 2023-05-16 欧姆龙株式会社 Three-dimensional shape measuring device, three-dimensional shape measuring method, and storage medium
CN113246136A (en) * 2021-06-07 2021-08-13 深圳市普渡科技有限公司 Robot, map construction method, map construction device and storage medium
CN113246136B (en) * 2021-06-07 2021-11-16 深圳市普渡科技有限公司 Robot, map construction method, map construction device and storage medium

Also Published As

Publication number Publication date
JP4359939B2 (en) 2009-11-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10825198B2 (en) 3 dimensional coordinates calculating apparatus, 3 dimensional coordinates calculating method, 3 dimensional distance measuring apparatus and 3 dimensional distance measuring method using images
JP5832341B2 (en) Movie processing apparatus, movie processing method, and movie processing program
JP4979928B2 (en) Three-dimensional shape calculation device and three-dimensional shape calculation method
JP5362189B2 (en) Image processing apparatus and processing method thereof
JP4095491B2 (en) Distance measuring device, distance measuring method, and distance measuring program
JP4234059B2 (en) Camera calibration method and camera calibration apparatus
JP4889351B2 (en) Image processing apparatus and processing method thereof
Rashidi et al. Generating absolute-scale point cloud data of built infrastructure scenes using a monocular camera setting
JP2014013147A5 (en)
US6442292B1 (en) Measuring apparatus
JPWO2014002725A1 (en) Three-dimensional measurement method, apparatus and system, and image processing apparatus
KR102129206B1 (en) 3 Dimensional Coordinates Calculating Apparatus and 3 Dimensional Coordinates Calculating Method Using Photo Images
KR101006728B1 (en) Method for auto 3 dimensional coordinate measurement using central projection and image matching
JP2007212187A (en) Stereo photogrammetry system, stereo photogrammetry method, and stereo photogrammetry program
JP3842988B2 (en) Image processing apparatus for measuring three-dimensional information of an object by binocular stereoscopic vision, and a method for recording the same, or a recording medium recording the measurement program
JP4550081B2 (en) Image measurement method
JP3696336B2 (en) How to calibrate the camera
JPH10318732A (en) Shape measuring device and image formation apparatus of shape measurement
JP4359939B2 (en) Image measuring device
US7046839B1 (en) Techniques for photogrammetric systems
JP3696335B2 (en) Method for associating each measurement point of multiple images
JPH09210649A (en) Three dimensional measurement device
JP2006317418A (en) Image measuring device, image measurement method, measurement processing program, and recording medium
JP3910844B2 (en) Orientation method and modified mapping method using old and new photographic images
JP4153322B2 (en) Method and apparatus for associating measurement points in photogrammetry

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040420

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20051213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060404

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060602

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070130

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070327

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20070522

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20070629

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090604

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090803

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120821

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120821

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130821

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees