JPH10142196A - Mass analyzing method and device - Google Patents

Mass analyzing method and device

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JPH10142196A
JPH10142196A JP8301740A JP30174096A JPH10142196A JP H10142196 A JPH10142196 A JP H10142196A JP 8301740 A JP8301740 A JP 8301740A JP 30174096 A JP30174096 A JP 30174096A JP H10142196 A JPH10142196 A JP H10142196A
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JP
Japan
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mass
data
ions
sample
analysis
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Application number
JP8301740A
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Japanese (ja)
Inventor
Shinji Nagai
伸治 永井
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable determination in a MS<n> analysis without adding a standard sample for a MS<n> analysis by injecting a sample to be measured into a mass spectrometer and consecutively repeating a MS data collecting step and MS<n> data collecting step. SOLUTION: A data processing part 19 repeats a process to consecutively perform a MS analysis process and MS<n> analysis process by an order to start analysis and displays the results on a display screen 193a. In the MS analysis process, a controlling part 17 receives ions from an ion source to the ion trap part of a mass analyzing part 15 and captures ions of all mass numbers in an object to be analyzed to obtain MS data. In the MS<n> process, the controlling part 17 receives ions, removes ions except those of mass numbers inputted as object for cleavage, impresses voltage on ions of designated mass numbers to be cleaved by designated times, and introduces obtained ions into a detecting part 16 to obtain MS<n> data. By these processes, it is possible to obtain MS data and MS<n> data in one measurement.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、質量分析方法およ
び該方法を用いた質量分析装置に関する。
[0001] The present invention relates to a mass spectrometry method and a mass spectrometer using the method.

【0002】[0002]

【従来の技術】質量分析計は、測定対象のサンプル分子
に様々な方法で電荷を付与し、生成したイオンの質量対
電荷比とイオン電流値とを、マススペクトルデータとし
て計測する分析装置である。物質はそれを構成する原子
の種類や数から特徴的な分子量を持っているため、マス
スペクトルデータを得る事によって各々の物質を特定す
るための重要な情報を得る事ができる。また質量分析計
は、ガスクロマトグラフ等のクロマトグラフ装置とオン
ラインで直結する事で、クロマトグラフ装置により分離
された物質の、高感度かつ豊富な定性情報を得るための
検出器として使用する事もできる。
2. Description of the Related Art A mass spectrometer is an analyzer for applying charges to sample molecules to be measured by various methods, and measuring the mass-to-charge ratio and ion current value of generated ions as mass spectrum data. . Since a substance has a characteristic molecular weight based on the type and number of atoms constituting the substance, it is possible to obtain important information for specifying each substance by obtaining mass spectrum data. In addition, the mass spectrometer can be used as a detector to obtain high-sensitivity and abundant qualitative information on substances separated by the chromatographic device by directly connecting it to a chromatographic device such as a gas chromatograph online. .

【0003】近年、環境問題や健康に関する関心が高ま
っており、上水、排水、食品等に含まれる有害有機化合
物のチェック、新薬開発における安全性の確認などの様
々な分野でクロマトグラフ直結形の質量分析計が使用さ
れるようになってきている。
[0003] In recent years, there has been an increasing interest in environmental issues and health, and in various fields, such as checking harmful organic compounds contained in water supply, drainage, foods, etc., and confirming safety in the development of new drugs, there is a direct connection to chromatographs. Mass spectrometers are being used.

【0004】このような分野における分析を行なうため
に分析装置には、 (1)高感度であり、定量分析ができること (2)物質を確実に特定できるだけの十分な定性情報が
得られること (3)実試料を分析する際の、測定対象外の夾雑物を取
り除くための試料調製の手間を少しでも軽減できること (4)一回の試料注入で一斉分析できる成分数が多いこ
と(農薬の分析などでは、測定対象物質が10〜60成
分程度に及ぶため) といった機能が求められている。しかし、これらの機能
の内、特に(2)および(3)については、通常の質量
分析計の分析手法によって得られたマススペクトルデー
タでは十分でない場合があった。そこで、近年これらの
分析にMSn分析(n≧2)を導入して対応する質量分析
計が市場に供給されはじめた。
In order to carry out analysis in such fields, the analyzers must be (1) highly sensitive and capable of quantitative analysis. (2) sufficient qualitative information can be obtained to reliably identify substances. ) When analyzing a real sample, it is possible to reduce the labor required for sample preparation to remove contaminants outside the measurement target. (4) A large number of components that can be analyzed simultaneously by one sample injection (such as analysis of pesticides) In this case, the measurement target substance covers about 10 to 60 components). However, among these functions, in particular, for (2) and (3), mass spectrum data obtained by an ordinary analysis method of a mass spectrometer may not be sufficient. Therefore, in recent years, MS n analysis (n ≧ 2) has been introduced into these analyses, and corresponding mass spectrometers have begun to be supplied to the market.

【0005】通常の質量分析方法、すなわち最初に生成
したイオンをそのまま検出器に送り出してマススペクト
ルデータを得る質量分析方法をMS分析(またはMS1
分析)と呼び、得られたマススペクトルデータをMSデ
ータ(またはMS1データ)と呼ぶ。
A conventional mass spectrometry method, that is, a mass spectrometry method in which the initially generated ions are directly sent to a detector to obtain mass spectrum data is performed by MS analysis (or MS 1).
Analysis), and the obtained mass spectrum data is referred to as MS data (or MS 1 data).

【0006】これに対して、MSn分析は、質量分析計
に導入されたイオンの内、あらかじめ選択された特定質
量数のイオンを、中性分子を衝突させるなどなどしてエ
ネルギーを与えて開裂させ(これを衝突誘起解離(CI
D)と呼ぶ)、生成したイオンを質量数毎に順次検出器
へ送り出してマススペクトルデータを得る分析方法であ
る。開裂の操作を1回行なった場合は、MS1データに
更に1段階の反応を加えて得られたデータということで
MS2データとなる。また、開裂の操作を2回以上繰り
返してから、最終的に生成したイオンを検出器へ送り出
してマススペクトルデータを得ることで、n=3、4、
5、…のMSn分析も可能である。
[0006] On the contrary, MS n analysis of the injected ions to a mass spectrometer, a pre-selected specific mass number of the ion, cleavage energize and etc. impinging neutral molecules (This is called collision-induced dissociation (CI
This is an analysis method in which generated ions are sequentially sent to a detector for each mass number to obtain mass spectrum data. When the cleavage operation is performed once, the data obtained by further adding a one-step reaction to the MS 1 data becomes MS 2 data. Also, after repeating the cleavage operation two or more times, the finally generated ions are sent to the detector to obtain mass spectrum data, so that n = 3, 4,
5, MS n analysis is also possible.

【0007】MS1分析では、分子量の等しいイオン
は、構造が異なっていても区別できない。しかし、開裂
を起こし易い部位は分子構造によって定まるため、差異
が生じるまでイオンを開裂させた後、生成したイオンの
マススペクトルデータを比較する事で、分子量が同じで
あっても構造の違う化合物を区別する事ができる。従っ
て、MSn分析によれば、MS1分析では特定するのに十
分な情報を得ることができない化合物についても、特定
することができる。
In MS 1 analysis, ions having the same molecular weight cannot be distinguished from each other even if they have different structures. However, the sites that are prone to cleavage are determined by the molecular structure, so after cleaving the ions until a difference occurs, the mass spectrum data of the generated ions are compared to find compounds with different structures even if they have the same molecular weight. Can be distinguished. Therefore, according to MS n analysis, for the compounds can not be obtained enough information to identify the MS 1 analysis, it can be identified.

【0008】また、MSn分析では、試料中に多量の夾
雑物成分が存在している場合であっても、選択された特
定質量数のイオンを残し、他のイオンを排除することに
より、夾雑物を除くことができる。
[0008] In the MS n analysis, even when a large amount of contaminants components in the sample are present, leaving the ions of a particular mass number selected by exclusion of other ions, contaminating Things can be removed.

【0009】しかし、MSn分析は、夾雑物などを排除
できる反面、特定質量数のイオンのみを分析するため、
事実上1つの物質にのみ着目した分析となってしまう。
そこで、x個の物質の混合試料を1回の測定で分析する
ために、一つめの物質に着目したMSn分析、二つ目の
物質に着目したMSn分析、…、x個目の物質に着目し
たMSn分析のx個のMSn分析を1セットとし、これを
所定時間(分析対象成分が質量分析部に導入される予想
時間)繰り返す事という手法が採られる。
[0009] However, MS n analysis, although capable of eliminating such contaminants, to analyze only ions of a specific mass number,
In fact, the analysis focuses on only one substance.
Therefore, in order to analyze a mixed sample of x substances by one measurement, MS n analysis focusing on the first substance, MS n analysis focusing on the second substance,. and x number of MS n analysis a set of MS n analysis focused on, which a technique called (expected time of analyte is introduced into the mass analyzer) is repeated that the predetermined time is taken.

【0010】つぎに、従来技術による分析の例として、
物質A〜Fの混合している試料を一斉分析する場合につ
いて説明する。通常のMSデータのトータルイオンクロ
マトグラムを図7(m)に、そのデータから抽出した個
々の成分のマスクロマトグラムデータとを、図7(a)
〜(f)に、それぞれに示す。なお、物質A〜Fは、各
々に特徴的なイオンの質量数がA:300、B:40
0、C:500、D:600、E:700、F:800
であるとする。また、図7(a)〜(f)に示した各マ
スクロマトグラムは、それぞれ、縦軸がイオン強度を示
し、横軸は検出時間を示す。
Next, as an example of analysis according to the prior art,
A case in which a sample in which substances A to F are mixed is analyzed simultaneously will be described. FIG. 7 (m) shows the total ion chromatogram of ordinary MS data, and FIG. 7 (a) shows the mass chromatogram data of individual components extracted from the data.
(F) to (f) respectively. The substances A to F each have a characteristic ion mass number of A: 300 and B: 40.
0, C: 500, D: 600, E: 700, F: 800
And In each of the mass chromatograms shown in FIGS. 7A to 7F, the vertical axis represents ion intensity, and the horizontal axis represents detection time.

【0011】A、B、C、Dの各成分は、マスクロマト
グラム上で完全に分離されたシャープなピークとして捉
えられており、この分析条件で定量分析を行う事ができ
る。しかし、成分Eについては夾雑成分と重なっている
と考えられ、このままでは分析できない。またFについ
てはマスクロマトグラム上で単一成分である事は確認で
きるものの、実試料中にFと同じMSデータを与える試
料F’が含まれている可能性がある場合、成分Fである
事を確認するため、更に定性情報が必要である。従っ
て、通常のMS測定を行なう従来法では、1回の測定で
A〜Fすべての成分を捕らえた分析を行なう事はできな
い。
The components A, B, C, and D are recognized as sharply separated peaks on a mass chromatogram, and quantitative analysis can be performed under these analysis conditions. However, component E is considered to overlap with the contaminant component, and cannot be analyzed as it is. Although it can be confirmed that F is a single component on the mass chromatogram, if there is a possibility that a sample F ′ giving the same MS data as F is contained in the actual sample, it is a component F Qualitative information is needed to confirm Therefore, in the conventional method of performing ordinary MS measurement, it is not possible to perform analysis in which all components A to F are captured in one measurement.

【0012】従来法における測定手順を、図8に示す。
この方法では、まず、第1回目の試料注入により導入さ
れ分離された試料をイオン化して質量分析部に保持し
(ステップ801)、保持されたイオンの質量数を検出
部により検出して、質量数100〜800のマススペク
トルを得る(ステップ802)という処理を、所定時間
(分析対象試料の出現予想時間)が経過するまで繰り返
す(ステップ803)。これにより、トータルイオンマ
ススペクトル(MSデータ)が得られる。
FIG. 8 shows a measurement procedure in the conventional method.
In this method, first, the sample introduced and separated by the first sample injection is ionized and held in the mass spectrometry unit (step 801), and the mass number of the held ions is detected by the detection unit. The process of obtaining several hundred to 800 mass spectra (step 802) is repeated until a predetermined time (expected time of appearance of the sample to be analyzed) elapses (step 803). Thereby, a total ion mass spectrum (MS data) is obtained.

【0013】つぎに、第2回目の試料注入を行ない、質
量数700のイオンの分析処理(ステップ804〜80
7)と、質量数800のイオンの分析処理(ステップ8
08〜811)とを、所定時間(分析対象試料の出現予
想時間)が経過するまで繰り返す(ステップ812)。
これにより、質量数700および800のイオンの開裂
反応後のマススペクトル(MS2データ)が得られる。
Next, a second sample injection is performed to analyze ions having a mass number of 700 (steps 804 to 80).
7) and analysis processing of ions having a mass number of 800 (step 8)
08 to 811) is repeated until a predetermined time (expected time of appearance of the sample to be analyzed) elapses (step 812).
Thereby, a mass spectrum (MS 2 data) after the cleavage reaction of ions having mass numbers of 700 and 800 is obtained.

【0014】なお、質量数700(または800)のイ
オンの分析処理は、分離されイオン化された試料をイオ
ン源から質量分析部に受け入れ(ステップ804,80
8)、質量数700(または800)以外のイオンを質
量分析部から排除した上で(ステップ805,80
9)、質量数700(または800)のイオンに電圧を
印加して開裂させ(ステップ806,810)、得られ
たイオンを検出部に導入してマススペクトル(MS2
ータ)を得る(ステップ807,811)という処理で
ある。
In the analysis of ions having a mass number of 700 (or 800), the separated and ionized sample is received from the ion source into the mass spectrometer (steps 804 and 80).
8) After removing ions having a mass number other than 700 (or 800) from the mass spectrometer (steps 805 and 80)
9), by applying ions to the voltage of the mass number 700 (or 800) is cleaved (step 806,810), and the resulting ions are introduced into the detector to obtain a mass spectrum (MS 2 data) (step 807 , 811).

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】イオン選択や開裂反応
の際、実際には、一部のイオンが失われてしまう場合が
多い。このため、MSn測定により得られたデータを基
に定量分析を行う場合には、開裂前のイオンの量を推定
するための基準が必要となる。なお、質量分析計に導入
されたイオンの量に対する、選択処理および開裂反応に
よって得られたイオンの量の比率は、イオン生成効率と
呼ばれる。
In the case of ion selection or cleavage reaction, some ions are actually lost in many cases. Therefore, when performing quantitative analysis on the basis of the data obtained by MS n measurements, it is necessary to reference for estimating the amount of ions prior to cleavage. Note that the ratio of the amount of ions obtained by the selection treatment and the cleavage reaction to the amount of ions introduced into the mass spectrometer is called ion generation efficiency.

【0016】従来の測定方法では、MSn測定の対象イ
オンと類似の構造を持ち、同じイオン生成効率が期待で
きる既知濃度の試料(標準試料)を、測定試料にあらか
じめ一定量添加しておくという手法(内部標準法)が採
られる。このようにすれば、MSnデータにおける標準
試料に起因するイオンの量と測定対象イオンに起因する
イオンの量との比率により、測定試料中の測定対象イオ
ン量を推定することができる。
[0016] In the conventional measurement method, having a target ion and analogous structures MS n measurements, a sample of known concentration that can be expected the same ion generation efficiency (standard sample), that previously added in advance a certain amount of sample Method (internal standard method) is adopted. Thus, it is possible by the ratio of the amount of ions due to the amount and measured ion of ions resulting from the standard samples in MS n data, and estimates the measured ion amount in the measurement sample.

【0017】このように、従来技術によって精密な定量
分析を行なおうとする場合には、測定対象成分ごとに、
該成分とすべての選択・開裂処理においてイオン生成効
率が等しい標準試料を探し、その標準試料を測定対象試
料に添加しておかなくてはならない。しかし、イオンを
開裂させる回数が多い場合には、それらの開裂のすべて
について同じイオン生成効率が期待できる標準試料を探
すことはかなり困難である。また、このような内部標準
法による定量精度の保証は、これはあくまで間接的であ
り、測定試料について毎回のMSnデータの精度を直接
的に保証する事はできない。
As described above, when a precise quantitative analysis is to be performed by the conventional technique, each component to be measured is
A standard sample having the same ion generation efficiency in all the selection / cleavage treatments as the component must be searched for, and the standard sample must be added to the sample to be measured. However, when ions are cleaved many times, it is very difficult to find a standard sample that can be expected to have the same ion generation efficiency for all of these cleavages. Further, assurance of quantitative accuracy by such an internal standard method, this is only indirect, it can not be directly guarantee the accuracy of every MS n data measurement sample.

【0018】そこで、本発明では、MSnデータのため
の標準試料を添加することなく、測定対象試料をMSn
分析により定量することのできる質量分析方法および装
置を提供することを目的とする。
[0018] In the present invention, without the addition of a standard sample for MS n data, a measurement target sample MS n
It is an object of the present invention to provide a mass spectrometry method and device which can be quantified by analysis.

【0019】[0019]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明では、MS1データ収集ステップ、および、
MSnデータ収集ステップを、途中に試料注入を行なう
ことなく、連続して繰り返す質量分析方法が提供され
る。すなわち、本発明では、質量分析計による質量分析
方法であって、質量分析計に測定対象試料を注入するス
テップと、MS1データ収集ステップおよびMSnデータ
収集ステップを連続して繰り返すステップとを備える質
量分析方法が提供される。
In order to achieve the above object, the present invention provides an MS 1 data collection step, and
A mass spectrometry method is provided in which the MS n data collection step is continuously repeated without performing sample injection in the middle. That is, the present invention provides a mass spectrometry method using a mass spectrometer, which includes a step of injecting a sample to be measured into the mass spectrometer and a step of continuously repeating an MS 1 data collection step and an MS n data collection step. A mass spectrometry method is provided.

【0020】ここで、MS1データ収集ステップは、測
定対象試料をイオン化して生成したイオンについて、一
定範囲の質量数を掃引してマススペクトルデータを収集
するステップである。
Here, the MS 1 data collecting step is a step of collecting mass spectrum data by sweeping a certain range of mass numbers for ions generated by ionizing the sample to be measured.

【0021】また、MSnデータ収集ステップは、測定
対象試料をイオン化して生成したイオンのうち、あらか
じめ定められた特定質量数のイオンを選別し、該特定質
量数イオンを開裂させる開裂ステップと、開裂により得
られたイオンについて、一定範囲の質量数を掃引してマ
ススペクトルデータを得る掃引ステップとを備える。な
お、MSnデータ収集ステップは、開裂ステップと掃引
ステップとの間に、開裂により得られたイオンのうち、
あらかじめ定められた特定質量数のイオンを選別し、該
特定質量数イオンを開裂させる処理を、少なくとも1回
行なうステップ備えていてもよい。
The MS n data collecting step includes a step of selecting ions having a predetermined specific mass number from ions generated by ionizing the sample to be measured, and cleaving the specific mass number ions; A sweeping step of sweeping a certain range of mass numbers of the ions obtained by the cleavage to obtain mass spectrum data. The MS n data collection step includes, among the ions obtained by the cleavage between the cleavage step and the sweep step,
The method may include a step of selecting at least one ion of a predetermined specific mass number and performing a process of cleaving the specific mass number ion at least once.

【0022】さらに、本発明では、上述の質量分析方法
により質量分析を行なう装置が提供される。すなわち、
本発明では、測定対象試料をイオン化するイオン化機構
と、イオン化された試料を保持する手段と、選別し開裂
させる手段とを備える質量分析部と、該質量分析部から
導入されたイオンのイオン強度を質量数ごとに検出する
検出部とを備える質量分析装置であって、質量分析部の
動作を制御し、検出部の検出したデータを処理するデー
タ処理部をさらに備える質量分析装置が提供される。こ
こで、データ処理部は、質量分析部に、上述のMS1
ータ収集ステップおよびMSnデータ収集ステップを連
続して繰り返すさせる手段を備える。
Further, the present invention provides an apparatus for performing mass spectrometry by the above-described mass spectrometry method. That is,
In the present invention, an ionization mechanism for ionizing a sample to be measured, a means for holding the ionized sample, and a mass spectrometer provided with a means for selecting and cleaving, and an ion intensity of ions introduced from the mass spectrometer. Provided is a mass spectrometer that includes a detection unit that detects each mass number, and further includes a data processing unit that controls the operation of the mass analysis unit and processes data detected by the detection unit. Here, the data processing unit, the mass analyzer comprises means for continuously repeats the MS 1 data collection step and MS n data collection steps described above.

【0023】また、本発明では、MS1データとMSn
ータとの両者を表示した画像を上記画像表示装置に表示
する手段を備える質量分析装置が提供される。すなわ
ち、本発明では、測定対象試料をイオン化するイオン化
機構と、イオン化された試料を保持する手段と、選別し
開裂させる手段とを備える質量分析部と、該質量分析部
から導入されたイオンのイオン強度を質量数ごとに検出
する検出部とを備える質量分析装置であって、質量分析
部の動作を制御し、検出部の検出したデータを処理する
データ処理部をさらに備え、データ処理部は、画像表示
装置と、質量分析部にMS1データ収集ステップを実行
させる手段と、質量分析部にMSnデータ収集ステップ
を実行させる手段と、MS1データ収集ステップにより
収集されたデータ、および、MSnデータ収集ステップ
により収集されたデータの、両データを表示した画像を
画像表示装置に表示する手段とを備える質量分析装置が
提供される。
[0023] In the present invention, a mass spectrometer comprising means for displaying an image displayed both a MS 1 data and the MS n data to the image display apparatus is provided. That is, according to the present invention, an ionization mechanism for ionizing a sample to be measured, a means for holding the ionized sample, a mass spectrometer provided with means for selecting and cleaving, and ions of ions introduced from the mass spectrometer A mass spectrometer comprising a detection unit for detecting the intensity for each mass number, further comprising a data processing unit that controls the operation of the mass analysis unit and processes the data detected by the detection unit, An image display device, means for causing the mass spectrometer to perform the MS 1 data collection step, means for causing the mass spectrometer to perform the MS n data collection step, data collected by the MS 1 data collection step, and MS n Means for displaying, on an image display device, an image displaying both data of the data collected in the data collection step.

【0024】なお、本発明の質量分析装置は、ガスクロ
マトグラフ、液体クロマトグラフ、キャピラリ電気泳動
等の試料分離装置と、この試料分離装置により分離され
た試料をイオン化機構に導入するための試料導入機構と
を備えていることが望ましい。このようにすれば、適宜
分離条件を整えることにより、複雑な混合物について
も、該混合物を構成する個々の成分について、定性/定
量分析を行なうことができる。また、本発明の質量分析
装置は、イオントラップ型であることが望ましい。イオ
ントラップ型は、質量分析部に生成したイオンを保持し
て、選別し、開裂させることができるため、イオンを開
裂させない分析と、開裂させる分析とを連続して行なう
本発明に特に適している。
The mass spectrometer according to the present invention includes a sample separation device such as a gas chromatograph, a liquid chromatograph, or a capillary electrophoresis, and a sample introduction mechanism for introducing a sample separated by the sample separation device into an ionization mechanism. It is desirable to have In this way, qualitative / quantitative analysis can be performed on the individual components constituting the mixture, even for a complex mixture, by appropriately setting the separation conditions. Further, the mass spectrometer of the present invention is desirably an ion trap type. Since the ion trap type can hold, sort and cleave ions generated in the mass spectrometry unit, the ion trap type is particularly suitable for the present invention in which analysis without cleaving ions and analysis to cleave ions continuously are performed. .

【0025】本発明によれば、同一試料について(すな
わち一回お試料注入で)、MS測定とMSn測定とが行
なわれるため、MSデータとMSnデータとの間に、試
料注入量の変動による誤差が生じない。従って、MSn
データによる定量性を確保するための標準試料をあらか
じめ測定対象試料に添加しておく必要がない。本発明で
は、ある成分について最初に生成するイオンの量と、M
n測定で得られるイオン量の比率を確認する事で、毎
回の測定におけるイオン選択、開裂反応の効率を直接チ
ェックすることができる。
According to the present invention, for the same sample (i.e. in our sample injection once), because where the MS measurement and MS n measurements performed, between the MS data and MS n data, variations in injection volume No error occurs. Therefore, MS n
There is no need to add a standard sample to the sample to be measured in advance to ensure quantification by data. In the present invention, the amount of ions initially generated for a component
By confirming the ratio of the amount of ions obtained by Sn measurement, the efficiency of ion selection and cleavage reaction in each measurement can be directly checked.

【0026】なお、MSn測定に於いては、特定イオン
の選択を行う前の、最初のイオン化で生成したイオンの
マススペクトル(MSデータ)が、参考データとして必
要になる場合が多い。本発明では、MS測定から最初に
生成するイオンのマススペクトルデータと、MSn測定
から開裂後に生成するイオンのマススペクトルデータと
を一度に得ることができる。そこで、本発明によれば、
一回の試料注入により、夾雑物の影響を受ける化合物
や、十分な定性情報が得られない化合物については、M
n分析でのデータから定性、定量分析を行い、それ以
外の通常の一斉分析を行いたい化合物については、MS
分析のデータから定性、定量を行う事ができる。
[0026] Note that at the MS n measurements, prior to the selection of a particular ion, mass spectrum of the first ions generated by ionization (MS data), it is often necessary as reference data. According to the present invention, mass spectrum data of ions generated first from MS measurement and mass spectrum data of ions generated after cleavage from MS n measurement can be obtained at once. Therefore, according to the present invention,
Compounds affected by contaminants or compounds for which sufficient qualitative information cannot be obtained by a single sample injection are identified as M
S n qualitative from the data in the analysis, carried out quantitative analysis for compounds to be subjected to ordinary simultaneous analysis otherwise, MS
Qualitative and quantitative analysis can be performed from the analysis data.

【0027】一方、従来より行なわれている手法では、
イオンを開裂させない分析(MS1分析)と、イオンを
開裂させる分析(MSn分析)とを別々に行なっていた
ため、1回の試料注入により、成分の同定および定量に
十分なデータを得ることはできなかった。
On the other hand, in the conventional method,
Since the analysis that does not cleave ions (MS 1 analysis) and the analysis that cleaves ions (MS n analysis) were performed separately, it is not possible to obtain sufficient data for component identification and quantification by one sample injection. could not.

【0028】なお、本発明の質量分析方法では、イオン
化により生成したイオンについて、定量のための特定質
量数イオンをモニタするデータ収集と、1回以上のMS
nデータ収集とを、連続して行うようにしてもよい。ま
た、本発明の質量分析装置のデータ処理部は、マススペ
クトルにピークの現われた質量数(または該質量数のイ
オン(または化合物)の名称)の指定を受け付け、その
指定されたイオン(または化合物)の定量分析を行う手
段をさらに備えてもよい。さらに、本発明の質量分析装
置のデータ処理部は、MSデータの示すイオン量から、
現在質量分析計に導入されているイオン量を計算し、こ
の計算結果に基づいて、MSn測定におけるイオン生成
の時間を自動的に制御するようにしてもよい。
In the mass spectrometry method of the present invention, data collection for monitoring ions of a specific mass number for quantification of ions generated by ionization and one or more MSs are performed.
The n data collection may be performed continuously. Further, the data processing unit of the mass spectrometer of the present invention receives the designation of the mass number at which the peak appears in the mass spectrum (or the name of the ion (or compound) having the mass number), and receives the designated ion (or compound). The method may further include means for performing the quantitative analysis of the above). Further, the data processing unit of the mass spectrometer according to the present invention,
The amount of ions currently introduced into the mass spectrometer may be calculated, and the time of ion generation in MSn measurement may be automatically controlled based on the calculation result.

【0029】[0029]

【発明の実施の形態】前述の例と同じ、特徴的なイオン
の質量数がA:300、B:400、C:500、D:
600、E:700、F:800である物質A〜Fの混
合している試料を一斉分析する場合を例にとって、本願
発明の実施例について説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The characteristic ion mass numbers A: 300, B: 400, C: 500, and D:
An example of the present invention will be described by taking as an example a case where a sample in which substances A to F of 600, E: 700, and F: 800 are mixed is analyzed simultaneously.

【0030】I.ハードウエア構成 本実施例で用いる質量分析装置は、図1に示すように、
試料の分離のためのクロマトグラフ装置10と、分離後
の試料をイオン化するためのイオン源14と、イオンに
電圧を印加する質量分析部15と、イオンを検出する検
出部16とを備える。クロマトグラフ装置10と、試料
の注入を受け付けるための試料導入部11と、試料の成
分を分離するための分析カラム13と、試料を搬送する
ための溶媒供給部およびポンプ(図示せず)とを備え
る。試料導入部11と分析カラム13との間、分析カラ
ム13とイオン源14との間は、それぞれ、配管12に
より連通されている。
I. Hardware Configuration The mass spectrometer used in this embodiment is, as shown in FIG.
The apparatus includes a chromatographic apparatus 10 for separating a sample, an ion source 14 for ionizing the separated sample, a mass spectrometer 15 for applying a voltage to the ions, and a detector 16 for detecting the ions. A chromatograph device 10, a sample introduction unit 11 for receiving sample injection, an analysis column 13 for separating components of the sample, and a solvent supply unit and a pump (not shown) for transporting the sample are provided. Prepare. A pipe 12 communicates between the sample introduction unit 11 and the analysis column 13 and between the analysis column 13 and the ion source 14, respectively.

【0031】さらに、本実施例の質量分析装置は、制御
部17と、データ処理部19とを備える。質量分析部1
5とイオン源14ならびに制御部17との間、検出部1
6とデータ処理部19との間、および、制御部17とデ
ータ制御部19との間は、それぞれ信号線18により接
続されている。
Further, the mass spectrometer of this embodiment includes a control unit 17 and a data processing unit 19. Mass spectrometry section 1
Between the ion source 14 and the ion source 14 and the control unit 17;
6 and the data processing unit 19, and between the control unit 17 and the data control unit 19 are connected by signal lines 18, respectively.

【0032】データ処理部19は、図8に示すように、
中央演算処理装置(CPU)190と、主記憶装置19
1と、外部記憶装置192と、画像表示装置193と、
入力装置194とを備え、検出部19により検出された
マススペクトルデータを信号線18を介して受け付け、
このデータを処理して処理結果を画像表示装置193の
表示画面193a(図1に図示)に表示する。また、デ
ータ処理部19は、あらかじめ定められた手順に従い、
信号線18を介して、制御部17に制御信号を通知す
る。
The data processing unit 19, as shown in FIG.
Central processing unit (CPU) 190 and main storage device 19
1, an external storage device 192, an image display device 193,
An input device 194, receiving mass spectrum data detected by the detection unit 19 via the signal line 18,
This data is processed and the processing result is displayed on the display screen 193a (shown in FIG. 1) of the image display device 193. Further, the data processing unit 19 follows a predetermined procedure,
The control unit 17 is notified of a control signal via the signal line 18.

【0033】制御部17は、データ処理部19から通知
された制御信号に応じて、質量分析部15の印加電圧な
どを制御する。
The control unit 17 controls the voltage applied to the mass spectrometry unit 15 according to the control signal notified from the data processing unit 19.

【0034】本実施例の質量分析装置は、質量分析部1
5にイオントラップを使用する。イオン源でイオン化さ
れた試料は、イオントラップ部で3次元電界内に一度保
持される。その後、MSデータを取得する場合には、低
い質量のイオンから順に、検出器へ送り出される。ま
た、MSnデータを取得する場合には、特定質量数のイ
オンを保持した状態で、このイオンの運動に共鳴する周
波数の電圧(または異なる周波数の電圧)を加えること
によって、このイオンにエネルギーを与えてCID反応
を起させ、その結果開裂したイオンを検出器へ送り出し
てマススペクトルデータを得る。
The mass spectrometer of the present embodiment has a mass spectrometer 1
5. Use an ion trap. The sample ionized by the ion source is once held in a three-dimensional electric field by the ion trap unit. Thereafter, when acquiring MS data, the ions are sent to the detector in order from the ion having the lowest mass. In addition, when acquiring MS n data, while holding an ion having a specific mass number, energy is applied to the ion by applying a voltage having a frequency that resonates with the movement of the ion (or a voltage having a different frequency). This gives rise to a CID reaction, and as a result, the cleaved ions are sent to a detector to obtain mass spectrum data.

【0035】II.データ収集手順 本実施例では、このような、電界制御によって開裂反応
を起すことができるというイオントラップの特徴を利用
して、MSデータとMSnデータとの同時測定を行なっ
た。
II. The data collection procedure this embodiment, such, by utilizing the characteristics of the ion trap that can cause a cleavage reaction by an electric field control, was performed simultaneous measurement of the MS data and MS n data.

【0036】具体的には、成分A、B、C、Dの分析に
ついてはMSデータを使用し、成分E、Fについてはそ
れぞれMS2データを取得し分析を行う。本実施例にお
けるデータ収集のタイムチャートを図2に示し、データ
処理部19による処理の流れを図5に示す。
Specifically, MS data is used for analysis of components A, B, C, and D, and MS 2 data is obtained and analyzed for components E and F, respectively. FIG. 2 shows a time chart of data collection in this embodiment, and FIG. 5 shows a flow of processing by the data processing unit 19.

【0037】データ処理部19は、まず、開裂させるイ
オンごとに、該イオンの質量数と、開裂させる回数(n
−1回)と、開裂のために印加する電圧との入力を、入
力装置194を介して受け付け(ステップ501)、分
析開始の指示を待つ(ステップ502)。
The data processing unit 19 first determines, for each ion to be cleaved, the mass number of the ion and the number of times of cleaving (n
-1) and an input of a voltage to be applied for cleavage are received via the input device 194 (step 501), and an analysis start instruction is waited for (step 502).

【0038】分析開始が指示されると、データ処理部1
9は、MS分析処理(ステップ503〜504)とMS
n分析処理(ステップ505〜508)とを連続して行
なう処理を、(分析対象試料の導入予想時間)が経過す
るまで繰り返した後(ステップ510)、得られた結果
を画像表示装置193の表示画面193aに表示する
(ステップ511)。
When the start of analysis is instructed, the data processing unit 1
9 is for MS analysis processing (steps 503 to 504) and MS
The process of continuously performing the n- analysis process (steps 505 to 508) is repeated until (expected introduction time of the sample to be analyzed) elapses (step 510), and the obtained result is displayed on the image display device 193. It is displayed on the screen 193a (step 511).

【0039】なお、MS分析処理は、イオン源から質量
分析部15のイオントラップ部にイオンを受け入れた後
(ステップ503)、分析対象のすべての質量数(ここ
で用いている例では、300、400、500、60
0、700、800)のイオンを捉える事ができるMS
データを取得するための制御信号を制御部17に通知す
る(ステップ504)という処理である。分析対象がイ
オン源に達し、質量分析部15に導入された瞬間に、ス
テップ502により得られたマススペクトルをデータ図
2(a)に示す。
In the MS analysis process, after ions are received from the ion source into the ion trap section of the mass spectrometry section 15 (step 503), all mass numbers to be analyzed (in the example used here, 300, 400, 500, 60
MS that can capture ions (0, 700, 800)
This is a process of notifying the control unit 17 of a control signal for acquiring data (step 504). At the moment when the object to be analyzed reaches the ion source and is introduced into the mass spectrometry unit 15, the mass spectrum obtained in step 502 is shown in data FIG.

【0040】また、MSn分析処理では、開裂対象とし
てステップ501において入力された質量数のイオンの
分析処理(ステップ505〜508)、すなわち、イオ
ン源から質量分析部15のイオントラップ部にイオンを
受け入れた後(ステップ505)、入力により指定され
た質量数以外のイオンをイオントラップ部から排除し
(ステップ506)、指定質量数のイオンに、ステップ
501で指定された電圧を印加して、指定された回数
(n−1回)開裂させ(ステップ507)、得られたイ
オンを検出部16に導入して、MSnデータを取得する
(ステップ508)という一連の処理のための制御信号
を制御部17に通知する処理が、開裂対象として指示さ
れたすべてのイオンについて繰り返される(ステップ5
09)。
In the MS n analysis process, the ions having the mass number input in step 501 as the cleavage target are analyzed (steps 505 to 508), that is, ions are supplied from the ion source to the ion trap unit of the mass spectrometer 15. After accepting (step 505), ions other than the mass number specified by the input are eliminated from the ion trap section (step 506), and the voltage specified in step 501 is applied to the ions having the specified mass number to specify the ions. The control signal for a series of processes of performing cleavage (n-1 times) (step 507), introducing the obtained ions into the detection unit 16 and acquiring MSn data (step 508) is controlled. The process of notifying the unit 17 is repeated for all ions designated as cleavage targets (step 5).
09).

【0041】上述のように、本実施例では、MSデータ
と、MSnデータとが、一回の測定(試料注入)により
得られる。そこで、本実施例のデータ処理部19は、入
力装置194を介して入力された指示に応じて、MSデ
ータとMSnデータとを一画面中に表示することができ
る。
[0041] As described above, in this embodiment, the MS data, and the MS n data obtained by a single measurement (sample injection). Therefore, the data processing unit 19 of this embodiment, in response to an instruction input via the input device 194, the MS data and MS n data can be displayed in one screen.

【0042】本実施例のデータ処理部19における表示
処理(ステップ511)を、図10に示す。本実施例の
データ処理部19は、表示処理において、まず、入力装
置194を介して表示指示の入力を受け付ける(ステッ
プ101)。ここで受け付けられる表示指示には、表示
内容(マススペクトルおよびマスクロマトグラムのいず
れを表示するか)の指示と、表示処理の終了指示とがあ
る。ここで終了指示が入力されれば(ステップ10
2)、データ処理部19は表示処理を終了する。
FIG. 10 shows the display processing (step 511) in the data processing section 19 of this embodiment. In the display processing, the data processing unit 19 of this embodiment first receives an input of a display instruction via the input device 194 (Step 101). The display instructions accepted here include an instruction of display contents (whether to display a mass spectrum or a mass chromatogram) and an instruction to end the display processing. If an end instruction is input here (step 10
2), the data processing unit 19 ends the display processing.

【0043】一方、表示内容の指示が入力されれば、デ
ータ処理部19は、入力装置194を介して表示対象イ
オンとそのデータ種別(MS1データ、MS2データ、M
3データ…のいずれのデータを表示に用いるか)の指
定を受け付ける(ステップ103)。このステップ10
3において、本実施例のデータ処理部19は、トータル
イオンMSデータから、ピークの検出された質量数を検
知し、この検知した質量数を表示画面193aに表示し
て、そのいずれを表示対象とするかの選択を受け付ける
が、例えば、直接、キーボードからの質量数の入力を受
け付けるなど、他の方法によってイオンが指定されるよ
うにしてもよい。
On the other hand, when an instruction for display contents is input, the data processing unit 19 causes the input device 194 to display ions and their data types (MS 1 data, MS 2 data, M 2 data).
S 3 Data ... or used for displaying any data) receives designation of (step 103). This step 10
In 3, the data processing unit 19 of the present embodiment detects the mass number at which the peak is detected from the total ion MS data, displays the detected mass number on the display screen 193a, and selects any of them as a display target. Although the selection of whether to perform the ionization is received, for example, the ion may be specified by another method such as directly receiving the input of the mass number from the keyboard.

【0044】つぎに、データ処理部19は、画面193
aに、ステップ101において指定された表示内容に応
じて(ステップ104)、ステップ103において指定
されたデータを用い、図6(a)に示すようなマススペ
クトル表示画面を表示するか(ステップ106)、ある
いは、図6(b)に示すようなマスクロマトグラム表示
画面を表示する(ステップ105)。なお、図6には、
ステップ103において、全イオンのMSデータと、質
量数700のイオンのMS2データとが指定された場合
の表示画面例を示した。
Next, the data processing section 19 displays the screen 193
For a, according to the display contents specified in step 101 (step 104), whether the mass spectrum display screen as shown in FIG. 6A is displayed using the data specified in step 103 (step 106) Alternatively, a mass chromatogram display screen as shown in FIG. 6B is displayed (step 105). In FIG. 6,
In step 103, an example of a display screen when MS data of all ions and MS 2 data of ions having a mass number of 700 are designated is shown.

【0045】上述のように、本実施例では、同時収集す
るMSデータおよびMSnデータの両方を、同一画面に
表示できる。従って、測定者はこれらのデータを容易に
比較することができるため、試料を迅速に同定すること
ができる。また、本実施例によれば、一画面の表示によ
り、MSデータから、イオン化により生じたイオンの全
体量を確認するとともに、MSnデータから、開裂反応
により新たに生じたイオンの量を確認する操作が簡単に
行なえる。
[0045] As described above, in this embodiment, both the MS data and MS n data simultaneously collected, can be displayed on the same screen. Therefore, the measurer can easily compare these data, and can quickly identify the sample. Further, according to this embodiment, the display of one screen, the MS data, as well as confirm the total amount of ions generated by ionization, the MS n data, to determine the amount of newly generated ions by cleavage reaction Operation is easy.

【0046】なお、本実施例では、図5に示す各ステッ
プを実行するためのプログラムが、外部記憶装置192
にあらかじめ保持されている。本実施例のデータ処理部
19の処理は、このプログラムを構成するインストラク
ションが、必要に応じて主記憶装置191に読み込ま
れ、このインストラクションをCPU190が実行する
ことにより実現される。しかし、本発明のデータ処理部
19は、このような構成には限られず、上記各ステップ
を実行させるような命令によってプログラムされた汎用
プロセッサや、上述の各ステップを実行するハードワイ
ヤードロジックを含むハードウエア装置、あるいは、こ
れらの組み合わせなどによって、データ処理部19が実
現されてもよい。
In this embodiment, the program for executing each step shown in FIG.
Is stored in advance. The processing of the data processing unit 19 according to the present embodiment is realized by the instructions constituting the program being read into the main storage device 191 as necessary, and the CPU 190 executing the instructions. However, the data processing unit 19 of the present invention is not limited to such a configuration, and may include a general-purpose processor programmed with instructions for executing the above-described steps, and a hardware including a hard-wired logic for executing the above-described steps. The data processing unit 19 may be realized by a wear device or a combination thereof.

【0047】III.分析結果 ここで用いている例では、ステップ501において、質
量数700および800が開裂対象とされ、それぞれ1
回の開裂が指示される。そこで、ステップ508によ
り、図2(b)に示す、質量数700のMS2分析によ
る成分Eのマススペクトルと、図2(c)に示す、質量
数800のMS2分析による成分Fのマススペクトルと
が得られる。
III. Analysis Results In the example used here, in step 501, mass numbers 700 and 800 are targeted for cleavage,
A round of cleavage is indicated. Therefore, in step 508, the mass spectrum of the component E obtained by the MS 2 analysis with the mass number 700 shown in FIG. 2B and the mass spectrum of the component F obtained by the MS 2 analysis with the mass number 800 shown in FIG. Is obtained.

【0048】この内、成分Eの分析について、図3を用
いて説明する。図3(a)はイオン選択前のマススペク
トル、すなわち、ステップ502により得られたトータ
ルイオンマススペクトルである。ここで、質量数700
のイオンを選択した(すなわち、他の質量数のイオンを
排除した)状態で、イオンを検出部16に導入すると、
質量数700のピーク31のみが存在するスペクトル
(図3(b))が得られる。また、ステップ507によ
り質量数700のイオンを開裂させて、生成したイオン
についてマススペクトルを測定すると(ステップ50
8)、図3(c)に示すマススペクトルデータが得られ
る。このスペクトルデータに現れたピークのうち、最も
最も感度の高いピークは、質量数550のピーク32で
ある。この質量数のイオン550に着目すると、図3
(d)に示すマスクロマトグラムが得られる。
The analysis of the component E will be described with reference to FIG. FIG. 3A shows a mass spectrum before ion selection, that is, a total ion mass spectrum obtained in step 502. Here, the mass number 700
When ions are introduced into the detection unit 16 in a state in which the ions of (i.e., ions of other mass numbers are excluded),
A spectrum (FIG. 3B) in which only the peak 31 having a mass number of 700 exists is obtained. In addition, when ions having a mass number of 700 are cleaved in step 507 and the mass spectrum of the generated ions is measured (step 50)
8), the mass spectrum data shown in FIG. 3 (c) is obtained. Among the peaks appearing in the spectrum data, the peak having the highest sensitivity is the peak 32 having a mass number of 550. Focusing on the ion 550 having this mass number, FIG.
The mass chromatogram shown in (d) is obtained.

【0049】図7(e)からわかるように、混合試料中
には、成分Eの他に、質量数700のイオンを生成する
夾雑物成分が存在していると考えられる。しかし、図3
(d)からわかるように、質量数550のイオンは、マ
スクロマトグラム上で完全に分離されたピーク33とし
て現れるため、夾雑物の混在しない単独の(すなわち、
成分Eのみに特有の)イオンであると考える事ができ
る。従って、開裂によりこの質量数550のイオンを生
成するということから、分析対象の成分Eの構造を解析
することができる。
As can be seen from FIG. 7 (e), it is considered that, in addition to the component E, a contaminant component which generates an ion having a mass number of 700 exists in the mixed sample. However, FIG.
As can be seen from (d), the ion having a mass number of 550 appears as a completely separated peak 33 on the mass chromatogram, and therefore, a single ion having no contaminants (ie,
It can be considered to be an ion (specific to component E only). Accordingly, since the ions having the mass number of 550 are generated by the cleavage, the structure of the component E to be analyzed can be analyzed.

【0050】このように、本実施例によれば、MS測定
とMSn測定とを連続して行なうことにより、イオンを
開裂させることなく分析可能な成分と、イオンを開裂さ
せる必要のある成分との両方の測定対象化合物を含む試
料を、夾雑成分を含んだまま、1回の試料注入により分
析することができる。
[0050] Thus, according to this embodiment, by performing in succession the MS measurement and MS n measurements, and analyzable components without cleaving the ion, a component that needs to cleave the ions The sample containing both the compounds to be measured can be analyzed by one sample injection while containing the contaminant components.

【0051】つぎに、成分Fの分析について説明する。
試料中に存在している、質量数800の夾雑成分F’の
MSデータを図4(a)に示し、分析対象成分FのMS
データを図4(b)に示す。これらの図からわかるよう
に、成分FとF’とは、MSデータから得られたマスス
ペクトルでは区別できないため、成分Fの存在を確認す
ることも、成分Fを定量することもできない。そこで、
この質量数800のイオンを開裂させてMS2データを
収集すると、図4(d)に示すように、成分Fでは質量
数540のイオンが観測されるが、図4(c)に示すよ
うに、成分F’ではこのイオンは観察されない。従っ
て、この質量数540のイオンの存在によって、試料中
の成分Fの存在が確認される。また、この質量数540
のイオン強度を基に、成分Fを定量することができる。
Next, the analysis of the component F will be described.
The MS data of the contaminant component F ′ having a mass number of 800 present in the sample is shown in FIG.
The data is shown in FIG. As can be seen from these figures, since the components F and F ′ cannot be distinguished from each other in the mass spectrum obtained from the MS data, the presence of the component F cannot be confirmed and the component F cannot be quantified. Therefore,
When MS 2 data is collected by cleaving the ions having a mass number of 800, as shown in FIG. 4D, ions having a mass number of 540 are observed in the component F, but as shown in FIG. , Component F ′, this ion is not observed. Therefore, the presence of the component F in the sample is confirmed by the presence of the ions having the mass number of 540. In addition, this mass number 540
Component F can be quantified based on the ionic strength of

【0052】成分Fの定量のためには、あらかじめ、一
定濃度の成分Fの標準試料を調製し、この標準試料につ
いてMSデータと、MS2データとを測定しておくこと
により、イオン選択、開裂反応による質量数540のイ
オンの生成効率を測定しておく。ここでは、生成効率が
80%であり、質量数800のイオン強度が1000で
あって、質量数540のイオン強度が640であったと
する。
In order to quantify the component F, a standard sample of the component F having a certain concentration is prepared in advance, and MS data and MS 2 data are measured for the standard sample. The production efficiency of ions having a mass number of 540 by the reaction is measured in advance. Here, it is assumed that the generation efficiency is 80%, the ionic strength at a mass number of 800 is 1000, and the ionic strength at a mass number of 540 is 640.

【0053】生成効率が80%であるので、質量数54
0のイオン強度640から、成分Fに起因する質量数8
00のイオン強度は640/0.8(すなわち800)
であると推定される。従って、本実施例によれば、質量
数540のイオンのための標準物質を添加することな
く、質量数800のイオンを生成する成分のうち、80
0/1000(すなわち80%)が成分Fであることが
直接確認できる。そこで、あらかじめ試料に添加された
MS分析用内部標準物質との比較により、質量数800
のイオンを定量すれば、成分Fの濃度を容易に知ること
ができる。
Since the production efficiency is 80%, the mass number 54
From the ionic strength 640 of 0, the mass number 8 due to the component F
The ionic strength of 00 is 640 / 0.8 (ie 800)
Is estimated. Therefore, according to this embodiment, 80% of the components that generate ions having a mass number of 800 can be obtained without adding a standard substance for ions having a mass number of 540.
It can be directly confirmed that 0/1000 (ie, 80%) is the component F. Therefore, by comparison with the internal standard substance for MS analysis added to the sample in advance, the mass number 800
By quantifying this ion, the concentration of the component F can be easily known.

【0054】[0054]

【発明の効果】本発明によれば、測定対象試料を、MS
nデータのための標準試料を添加することなく、MSn
析により定量することができる。
According to the present invention, a sample to be measured is prepared by using MS
n can be quantified by MS n analysis without adding a standard sample for the data.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 実施例における質量分析装置の構成を示す模
式図である。
FIG. 1 is a schematic diagram illustrating a configuration of a mass spectrometer according to an embodiment.

【図2】 実施例における質量分析のタイムチャートを
示す説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a time chart of mass spectrometry in an example.

【図3】 成分の同定に用いられるマススペクトルの例
を示す説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing an example of a mass spectrum used for component identification.

【図4】 成分の定量に用いられるマススペクトルの例
を示す説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing an example of a mass spectrum used for quantification of a component.

【図5】 実施例におけるデータ処理部の処理を示す流
れ図である。
FIG. 5 is a flowchart illustrating processing of a data processing unit according to the embodiment.

【図6】 実施例における表示画面例を示す説明図であ
る。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing an example of a display screen in the embodiment.

【図7】 MS測定により得られるマスクロマトグラム
の例を示す説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing an example of a mass chromatogram obtained by MS measurement.

【図8】 従来技術によるデータ収集方法の手順を示す
流れ図である。
FIG. 8 is a flowchart showing a procedure of a data collection method according to the related art.

【図9】 実施例におけるデータ処理部のハードウエア
構成図である。
FIG. 9 is a hardware configuration diagram of a data processing unit in the embodiment.

【図10】 実施例におけるデータ処理部の表示処理を
示す流れ図である。
FIG. 10 is a flowchart illustrating a display process of a data processing unit in the embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…クロマトグラフ装置、11…試料導入部、12…
配管、13…分析カラム、14…イオン源、15…質量
分析部、16…検出部、17…制御部、18…信号線、
19…データ処理部、31…質量数700のイオンのマ
ススペクトル、32…質量数550のイオンのマススペ
クトル、33…質量数550のイオンのマスクロマトグ
ラム、190…中央演算処理装置、191…主記憶装
置、192…外部記憶装置、193…画像表示装置、1
93a…表示画面、194…入力装置。
10: Chromatograph device, 11: Sample introduction part, 12:
Piping, 13 analysis column, 14 ion source, 15 mass analysis unit, 16 detection unit, 17 control unit, 18 signal line,
19: Data processing unit, 31: Mass spectrum of ions having a mass number of 700, 32: Mass spectrum of ions having a mass number of 550, 33: Mass chromatogram of ions having a mass number of 550, 190: Central processing unit, 191: Main Storage device, 192: external storage device, 193: image display device, 1
93a: display screen, 194: input device.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】質量分析計による質量分析方法において、 上記質量分析計に測定対象試料を注入するステップと、 MS1データ収集ステップ、および、MSnデータ収集ス
テップを連続して繰り返すステップとを備え、 上記MS1データ収集ステップは、 上記測定対象試料をイオン化して生成したイオンについ
て、一定範囲の質量数を掃引してマススペクトルデータ
を収集するステップであり、 上記MSnデータ収集ステップは、 上記測定対象試料をイオン化して生成したイオンのう
ち、あらかじめ定められた特定質量数のイオンを選別
し、該特定質量数イオンを開裂させる開裂ステップと、 開裂により得られたイオンについて、一定範囲の質量数
を掃引してマススペクトルデータを得る掃引ステップと
を備えることを特徴とする質量分析方法。
1. A mass spectrometry method using a mass spectrometer, comprising: a step of injecting a sample to be measured into the mass spectrometer; and a step of continuously repeating an MS 1 data collection step and an MS n data collection step. The MS 1 data collection step is a step of collecting mass spectrum data by sweeping a certain range of mass numbers of ions generated by ionizing the sample to be measured, and the MS n data collection step is: A step of selecting ions of a predetermined specific mass number from ions generated by ionizing the sample to be measured, and cleaving the ions of the specific mass number, and a certain range of mass of ions obtained by the cleavage. A sweeping step of sweeping numbers to obtain mass spectrum data. .
【請求項2】請求項1において、 上記MSnデータ収集ステップは、上記開裂ステップと
上記掃引ステップとの間に、 上記開裂により得られたイオンのうち、あらかじめ定め
られた特定質量数のイオンを選別し、該特定質量数イオ
ンを開裂させる処理を、少なくとも1回行なうステップ
備えることを特徴とする質量分析方法。
2. The method according to claim 1, wherein the MS n data collection step includes, among the ions obtained by the cleavage, ions of a predetermined specific mass number between the cleavage step and the sweeping step. A mass spectrometry method comprising a step of performing at least one step of selecting and cleaving the specific mass number ion.
【請求項3】測定対象試料をイオン化するイオン化機構
と、イオン化された試料を保持する手段と、選別し開裂
させる手段とを備える質量分析部と、該質量分析部から
導入されたイオンのイオン強度を質量数ごとに検出する
検出部とを備える質量分析装置において、 上記質量分析部の動作を制御し、上記検出部の検出した
データを処理するデータ処理部をさらに備え、 上記データ処理部は、 上記質量分析部に、MS1データ収集ステップ、およ
び、MSnデータ収集ステップを連続して繰り返すさせ
る手段を備え、 上記MS1データ収集ステップは、 上記イオン化機構から導入されたイオンについて、一定
範囲の質量数を掃引してマススペクトルデータを収集す
るステップであり、 上記MSnデータ収集ステップは、 上記イオン化機構から導入されたイオンのうち、あらか
じめ定められた特定質量数のイオンを選別し、該特定質
量数イオンを開裂させる開裂ステップと、 開裂により得られたイオンについて、一定範囲の質量数
を掃引してマススペクトルデータを得る掃引ステップと
を備えることを特徴とする質量分析装置。
3. A mass spectrometer comprising: an ionization mechanism for ionizing a sample to be measured; means for holding the ionized sample; means for selecting and cleaving; and ion intensity of ions introduced from the mass spectrometer. A mass spectrometer comprising: a detection unit that detects the number of masses per mass number.The mass spectrometer further includes a data processing unit that controls an operation of the mass analysis unit and processes data detected by the detection unit. to the mass spectrometer, MS 1 data collection step, and comprises means for continuously repeats the MS n data acquisition step, the MS 1 data collection step, the ions introduced from the ionization mechanism, a range of a step of collecting a mass spectrum data by sweeping the mass number, the MS n data acquisition step from the ionization mechanism A step of selecting ions having a predetermined specific mass number from the input ions and cleaving the specific mass number ions, and sweeping a certain range of mass numbers of the ions obtained by the cleavage to obtain a mass. A sweeping step of obtaining spectrum data.
【請求項4】請求項3において、 上記データ処理部は、 画像表示装置と、 上記MS1データ収集ステップにより収集されたデータ
と、上記MSnデータ収集ステップにより収集されたデ
ータとの両者を表示した画像を、上記画像表示装置に表
示する手段を、さらに備えることを特徴とする質量分析
装置。
4. The method of claim 3, said data processing unit, the display and the image display device, the data collected by the MS 1 data collection step, both the data collected by the MS n data collection step A mass spectrometer, further comprising means for displaying the selected image on the image display device.
【請求項5】測定対象試料をイオン化するイオン化機構
と、イオン化された試料を保持する手段と、選別し開裂
させる手段とを備える質量分析部と、該質量分析部から
導入されたイオンのイオン強度を質量数ごとに検出する
検出部とを備える質量分析装置において、 上記質量分析部の動作を制御し、上記検出部の検出した
データを処理するデータ処理部をさらに備え、 上記データ処理部は、 画像表示装置と、 上記質量分析部に、MS1データ収集ステップを実行さ
せる手段と、 上記質量分析部に、MSnデータ収集ステップを実行さ
せる手段と、 上記MS1データ収集ステップにより収集されたデー
タ、および、上記MSnデータ収集ステップにより収集
されたデータの、両データを表示した画像を、上記画像
表示装置に表示する手段とを備え、 上記MS1データ収集ステップは、 上記イオン化機構から導入されたイオンについて、一定
範囲の質量数を掃引してマススペクトルデータを収集す
るステップであり、 上記MSnデータ収集ステップは、 上記イオン化機構から導入されたイオンのうち、あらか
じめ定められた特定質量数のイオンを選別し、該特定質
量数イオンを開裂させる開裂ステップと、 開裂により得られたイオンについて、一定範囲の質量数
を掃引してマススペクトルデータを得る掃引ステップと
を備えることを特徴とする質量分析装置。
5. A mass spectrometer comprising: an ionization mechanism for ionizing a sample to be measured; means for holding the ionized sample; means for selecting and cleaving; and ion intensity of ions introduced from the mass spectrometer. A mass spectrometer comprising: a detection unit that detects the number of masses per mass number.The mass spectrometer further includes a data processing unit that controls an operation of the mass analysis unit and processes data detected by the detection unit. and an image display device, in the mass analyzer, and means for executing the MS 1 data collection step, to the mass analyzer, MS n means for executing the data collection step, data collected by the MS 1 data collection step and, the data collected by the MS n data acquisition step, the image displayed both data, and means for displaying on the image display device For example, the MS 1 data collection step, the introduced ions from the ionization mechanism, a step of collecting a mass spectrum data by sweeping the mass number of a range, the MS n data acquisition step, the ionizing mechanism Among the ions introduced from, ions of a predetermined specific mass number are selected, and a cleavage step of cleaving the specific mass number ions, for the ions obtained by the cleavage, sweeping a certain range of mass numbers A sweeping step of obtaining mass spectrum data.
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