JPH10125278A - Ion trap type mass spectrometer - Google Patents

Ion trap type mass spectrometer

Info

Publication number
JPH10125278A
JPH10125278A JP8273273A JP27327396A JPH10125278A JP H10125278 A JPH10125278 A JP H10125278A JP 8273273 A JP8273273 A JP 8273273A JP 27327396 A JP27327396 A JP 27327396A JP H10125278 A JPH10125278 A JP H10125278A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ions
signal
ion
field
signal generator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8273273A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tetsuya Nishida
哲也 西田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP8273273A priority Critical patent/JPH10125278A/en
Publication of JPH10125278A publication Critical patent/JPH10125278A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To determine the proper ionization time for obtaining a sufficient ion quantity with no saturation by applying a fixed signal to the trap field, and excluding the ions other than the aimed peak ions. SOLUTION: The ions ionized by an ionizing device 1 are guided by a guide signal generator 2 to the trap field 3 formed by an RF signal generator (RF)4 and trapped. A signal is applied here by an FF signal generator 5, and the ions other than the ions in the necessary mass range are excluded. The signal applied to the trap field 3 is scanned by the RF 4, and the aimed peak derived ions are discharged from the trap field 3. The ions are detected by an ion detector 6 to obtain a mass spectrum. The timing of these signals is controlled by a control device 7.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はイオントラップ型質
量分析計に関する。
The present invention relates to an ion trap mass spectrometer.

【0002】[0002]

【従来の技術】イオントラップ型質量分析計では、イオ
ン化した試料を、一定の信号を印加して形成されたトラ
ップ場内に導入してトラップする。この状態でトラップ
場に印加している信号の強度を変化させるとその強度に
対応した特定質量数のイオンのみがトラップ場内から排
出されるので、1段階の質量分析(MS)では、この信
号を任意の範囲でスキャンすることで対応する質量範囲
のマススペクトルが得られる。2段階以上の質量分析法
(MS/MS)では、1段回目で、ある質量範囲におけ
るイオンをトラップ場内に導入する。2段回目で注目す
る質量数のイオンのみをトラップ場内に残し、このイオ
ンをある一定の信号を印加することで分解し、その派生
イオンを発生させるという操作を必要回数繰返し、最後
にトラップ場に残ったイオンをトラップ場に印加した信
号をスキャンし、マススペクトルを得る方法である。
2. Description of the Related Art In an ion trap mass spectrometer, an ionized sample is introduced and trapped in a trapping field formed by applying a constant signal. If the intensity of the signal applied to the trapping field is changed in this state, only ions having a specific mass number corresponding to the intensity are ejected from the trapping field. Therefore, in one-stage mass analysis (MS), this signal is By scanning in an arbitrary range, a mass spectrum in a corresponding mass range is obtained. In two or more stages of mass spectrometry (MS / MS), ions in a certain mass range are introduced into the trap field at the first stage. In the second stage, only the ions of the mass number of interest are left in the trap field, this ion is decomposed by applying a certain signal, and the operation of generating the derived ions is repeated as many times as necessary. In this method, a signal in which the remaining ions are applied to a trapping field is scanned to obtain a mass spectrum.

【0003】複数段階の測定では、2段目以降で注目す
るピークのイオン以外のイオンをトラップ場内から排除
していくため、最後にスキャンして得られるマススペク
トルの強度を向上させるためにはイオン導入時に出来る
だけ多くのイオンをトラップ場内に導入する必要があ
る。しかし、トラップ場内に内包しうるイオン量には限
界があり、それを越える多量のイオンがトラップ場内に
導入された場合にトラップ場内でイオンが飽和していま
い、ある信号をトラップ場に印加した際に得られる対応
した質量数のイオンがトラップ場内から排出されなくな
り、正しいマススペクトルが得られなくなるという問題
点がある。そのため飽和せずにトラップ場内にトラップ
し得る最大のイオン量から、試料のイオン化の効率に応
じてイオンをトラップ場内に導入する時間を制限し、ト
ラップ場内でイオンが飽和しないよう調整する必要があ
る。
In the multi-stage measurement, ions other than the ion of the peak of interest in the second and subsequent stages are excluded from the trapping field. Therefore, in order to improve the intensity of the mass spectrum obtained by scanning at the end, At the time of introduction, it is necessary to introduce as many ions as possible into the trap field. However, there is a limit to the amount of ions that can be included in the trap field, and when a large amount of ions exceeding that are introduced into the trap field, the ions are saturated in the trap field, and when a certain signal is applied to the trap field. However, there is a problem that ions having the corresponding mass number obtained in the above are not discharged from the trap field, and a correct mass spectrum cannot be obtained. Therefore, from the maximum amount of ions that can be trapped in the trap field without being saturated, it is necessary to limit the time for introducing ions into the trap field according to the ionization efficiency of the sample, and to adjust the ions so that they are not saturated in the trap field. .

【0004】この方法の一つに、1段階の質量分析法
(MS)では、データを取得するスキャンの直前に、微
小な一定の導入時間でトラップ場内にイオンを導入し、
データを取得するスキャンと同じ質量範囲で高速にスキ
ャンする予備スキャンを行う方法がある。ここで得られ
るデータのイオン強度の総量を求め、この値からデータ
を取得するスキャンのための飽和せず最大のイオン量を
得るためのイオン導入時間を求めることが出来る。この
際、指定質量範囲以外のデータは、トラップ場に一定の
信号をかけることがトラップ場内から排除する。
As one of the methods, in one-stage mass spectrometry (MS), ions are introduced into a trapping field with a small fixed introduction time immediately before a scan for acquiring data.
There is a method of performing a preliminary scan in which scanning is performed at high speed in the same mass range as a scan for acquiring data. The total amount of the ion intensity of the data obtained here is obtained, and from this value, the ion introduction time for obtaining the maximum ion amount without saturation for the scan for obtaining the data can be obtained. At this time, for data outside the specified mass range, applying a constant signal to the trap field is excluded from the trap field.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】イオントラップ型質量
分析計ではトラップ場に印加した信号をスキャンするス
ピードによって、得られるマススペクトルの感度が低下
するため、データを取得するスキャンより高速にスキャ
ンを行うときに得られたイオン量は、データ取得時のス
ピードでスキャンした際に得られる量に比べ誤差が生じ
てしまう。ここで得られたデータを基にイオン導入時間
を計算しスキャンを行った場合、最大強度のスペクトル
を得ることが出来ない。また、予備スキャンは、データ
を取得するスキャンのイオン導入時間の計算のためであ
りマススペクトルを取得しないため、データを取得する
スキャンに比べて短時間である必要がある。
In an ion trap type mass spectrometer, the speed of scanning a signal applied to a trap field lowers the sensitivity of the obtained mass spectrum. Therefore, scanning is performed faster than scanning for acquiring data. The sometimes obtained ion amount has an error compared to the amount obtained when scanning at the speed at the time of data acquisition. When the ion introduction time is calculated based on the data obtained here and scanning is performed, a spectrum with the maximum intensity cannot be obtained. In addition, the preliminary scan is for calculating the ion introduction time of the scan for acquiring data and does not acquire a mass spectrum, and therefore needs to be shorter in time than the scan for acquiring data.

【0006】1段階のみの質量分析法(MS)では、そ
の全質量範囲のイオンが測定結果として得られるマスス
ペクトルの対象となるためにスキャンして得られるイオ
ン強度の総量は大きく、予備スキャンで高速スキャンし
て得たイオンの総量を知る事で、十分な感度を得るため
のイオンを導入しうる時間を計算することが出来る。複
数段階の質量分析(MS/MS)でも同様の手段が考え
らるが、複数段階の分析では2段階目以降の各段階で、
注目するピークのイオン以外の全でのイオンを排除して
いくためにイオン強度の総量は下がるため、最後に取得
するマススペクトルで十分な感度を得るためには一段目
でより多くのイオンを導入する必要がある。
[0006] In the mass spectrometry (MS) of only one stage, since the ions in the entire mass range are subject to the mass spectrum obtained as the measurement result, the total amount of ion intensities obtained by scanning is large. By knowing the total amount of ions obtained by high-speed scanning, it is possible to calculate the time during which ions for obtaining sufficient sensitivity can be introduced. The same means can be considered in multi-stage mass spectrometry (MS / MS). However, in multi-stage analysis, in each stage after the second stage,
Since the total amount of ion intensity decreases to eliminate all ions other than the ion of the peak of interest, introduce more ions in the first step to obtain sufficient sensitivity in the last acquired mass spectrum There is a need to.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】複数段階質量分析を行う
測定で、あらかじめ予備スキャンする際のスキャン範囲
に関して、2段回目の質量分析時で注目するピークの近
くの質量数範囲のみに限定してスキャンすることで、短
時間にデータを取得するスキャンと同様のスキャンスピ
ードでスキャンすることができる。またイオンを導入す
る際にトラップ場に一定の信号を印加し注目するピーク
のイオン以外のイオンを排除することによって注目する
ピークの質量数近くのイオン総量のみが得られ、この値
を基にデータを取得するスキャンのためのイオン導入時
間を計算することで、飽和せずに1段回目で十分なイオ
ン量を得るための適切なイオンの導入時間を求めること
が出来る。
Means for Solving the Problems In a measurement in which multiple stages of mass spectrometry are performed, the scan range for preliminary scanning is limited to only a mass number range near a peak of interest in the second stage of mass spectrometry. By performing scanning, scanning can be performed at the same scanning speed as scanning for acquiring data in a short time. In addition, when introducing ions, a certain signal is applied to the trapping field, and ions other than those of the peak of interest are excluded, so that only the total amount of ions near the mass number of the peak of interest is obtained, and data based on this value is obtained. By calculating the ion introduction time for the scan for obtaining the above, it is possible to obtain an appropriate ion introduction time for obtaining a sufficient ion amount in the first stage without saturation.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】図1に本発明の実施例における構
成を示す。イオン化装置1によりイオン化されたイオン
は、トラップ場にイオンを導入するための信号発生装置
2により、トラップ場3に導入される。この際にトラッ
プ場3には信号発生装置4によって印加される信号によ
りトラップ場が形成され、導入されたイオンがトラップ
される。ここで信号発生装置5により信号を印加するこ
とで、必要な質量範囲のイオンだけに限定しそれ以外の
イオンを排除する。この後、信号発生装置4により注目
するピークのイオンを壊して、信号発生装置4でトラッ
プ場に印加された信号をスキャンすることで、トラップ
場から注目するピークの派生イオンが排出される。この
イオンをイオンの検出手段6により検出し、マススペク
トルが得られる。また、これらの信号のタイミングを制
御装置7により制御する。
FIG. 1 shows the configuration of an embodiment of the present invention. The ions ionized by the ionizer 1 are introduced into the trap field 3 by the signal generator 2 for introducing ions into the trap field. At this time, a trap field is formed in the trap field 3 by a signal applied by the signal generator 4, and the introduced ions are trapped. Here, by applying a signal with the signal generator 5, only ions in a necessary mass range are limited, and other ions are excluded. Thereafter, the ion of the peak of interest is destroyed by the signal generator 4 and the signal applied to the trapping field is scanned by the signal generator 4, whereby the derivative ion of the peak of interest is discharged from the trapping field. These ions are detected by the ion detecting means 6, and a mass spectrum is obtained. Further, the timing of these signals is controlled by the control device 7.

【0009】図2に本発明の実施例におけるイオン導入
信号,RF信号,FF信号のタイムチャートを示す。複
数段階の質量分析を行う際に、データを取得するための
スキャンの前に一定の微小時間トラップ場にイオン導入
4を行う。この時、FF信号発生装置でトラップ場に一
定の信号5を印加することで注目するピークの質量数近
くのイオンのみがトラップ場に入るようにする。そし
て、注目するピークの質量数近くの範囲でのみRF信号
発生装置で信号6を印加しスキャンする。このスキャン
によって排出されたイオンを検出装置によって検知し、
得られたイオンの総量を基にトラップ場内でイオンが飽
和しないようにイオンの導入時間を決定し、これに従い
データを取得するためのイオン導入7を行う。このとき
イオン導入4と同様に、FF信号発生装置でトラップ場
に一定の信号8を印加することで注目するピークの質量
数近くのイオンのみがトラップ場に入るようにする。こ
の後、RF信号発生装置によって信号6を、FF信号発
生装置によって信号10を印加することにより、注目す
るピークのイオン以外はトラップ場から排出される。こ
の後、FF信号発生装置によって一定の信号11を印加
することにより注目するピークのイオンが壊されて、ト
ラップ場内にこのイオンの派生イオンが発生する。この
操作を必要な回数分繰返し、最後にトラップ場内に残っ
たイオンをRF信号発生装置でトラップ場に信号12を
印加しスキャンする。このとき排出されるイオンを検出
装置で検出することによりマススペクトルが得られる。
FIG. 2 shows a time chart of an ion introduction signal, an RF signal, and an FF signal in the embodiment of the present invention. When performing mass spectrometry in a plurality of stages, the ion introduction 4 is performed in a trap field for a certain short time before scanning for acquiring data. At this time, by applying a constant signal 5 to the trap field by the FF signal generator, only ions near the mass number of the peak of interest enter the trap field. Then, the signal 6 is applied and scanned by the RF signal generator only in the range near the mass number of the peak of interest. The ions emitted by this scan are detected by a detection device,
Based on the total amount of the obtained ions, the ion introduction time is determined so that the ions are not saturated in the trapping field, and ion introduction 7 for acquiring data is performed in accordance therewith. At this time, similarly to the ion introduction 4, a constant signal 8 is applied to the trapping field by the FF signal generator so that only ions near the mass number of the peak of interest enter the trapping field. Thereafter, by applying the signal 6 by the RF signal generator and the signal 10 by the FF signal generator, ions other than the peak ion of interest are ejected from the trapping field. Thereafter, by applying a constant signal 11 by the FF signal generator, the ion of the peak of interest is destroyed, and a derivative ion of this ion is generated in the trap field. This operation is repeated as many times as necessary, and finally the ions remaining in the trapping field are scanned by applying the signal 12 to the trapping field by the RF signal generator. At this time, a mass spectrum is obtained by detecting the ejected ions with a detection device.

【0010】[0010]

【発明の効果】本発明により複数段階の質量分析(MS
/MS)で、飽和せずに十分なイオン量を得る為の適切
なイオン化時間を求めることが出来る。
According to the present invention, a multi-stage mass spectrometry (MS)
/ MS), an appropriate ionization time for obtaining a sufficient ion amount without saturation can be determined.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明装置の実施例のブロック図。FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the device of the present invention.

【図2】本発明装置の実施例のタイミングチャート。FIG. 2 is a timing chart of an embodiment of the device of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…イオン化装置、2…導入信号発生装置、3…トラッ
プ場、4…RF信号発生装置、5…FF信号発生装置、
6…イオン検出装置、7…制御装置。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Ionization apparatus, 2 ... Introduction signal generator, 3 ... Trap field, 4 ... RF signal generator, 5 ... FF signal generator,
6 ... Ion detection device, 7 ... Control device.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】試料をイオン化するイオン化手段と、イオ
ンをトラップ場に導く導入手段と、上記イオンをトラッ
プするためのトラップ場と、上記トラップ場にトラップ
された上記イオンを排出する手段と、上記トラップ場か
ら排出されたイオン量を検出する手段を持つイオントラ
ップ型質量分析計において、複数段階の質量分析を行う
測定装置において、測定時のイオン導入時間を適切に求
めるための手段を有することを特徴とするイオントラッ
プ型質量分析計。
An ionization means for ionizing a sample; an introduction means for introducing ions to a trapping field; a trapping field for trapping the ions; a means for discharging the ions trapped in the trapping field; In an ion trap type mass spectrometer having a means for detecting the amount of ions discharged from the trapping field, a measuring device for performing a plurality of stages of mass spectrometry has a means for appropriately determining an ion introduction time at the time of measurement. Characteristic ion trap type mass spectrometer.
JP8273273A 1996-10-16 1996-10-16 Ion trap type mass spectrometer Pending JPH10125278A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8273273A JPH10125278A (en) 1996-10-16 1996-10-16 Ion trap type mass spectrometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8273273A JPH10125278A (en) 1996-10-16 1996-10-16 Ion trap type mass spectrometer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10125278A true JPH10125278A (en) 1998-05-15

Family

ID=17525549

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8273273A Pending JPH10125278A (en) 1996-10-16 1996-10-16 Ion trap type mass spectrometer

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10125278A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006517723A (en) * 2003-01-24 2006-07-27 サーモ フィニガン エルエルシー Control of ion population in a mass spectrometer.
JP2011523172A (en) * 2008-06-09 2011-08-04 ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド How to operate a tandem ion trap

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006517723A (en) * 2003-01-24 2006-07-27 サーモ フィニガン エルエルシー Control of ion population in a mass spectrometer.
JP2011523172A (en) * 2008-06-09 2011-08-04 ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド How to operate a tandem ion trap

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6812454B2 (en) Multi-anode detector with increased dynamic range for time-of-flight mass spectrometers with counting data acquisition
JP3294106B2 (en) Three-dimensional quadrupole mass spectrometry and apparatus
US5015848A (en) Mass spectroscopic apparatus and method
US7928365B2 (en) Method and apparatus for mass spectrometry
US5777205A (en) Apparatus for analysis of mixed gas components
US20060016976A1 (en) Method and apparatus for controlling the ion population in a mass spectrometer
EP1009015A2 (en) Space change control method for improved ion isolation in ion trap mass spectrometer by dynamically adaptive sampling
JP2005521874A5 (en)
US5077470A (en) Mass spectrometer
JPS6246824B2 (en)
US4682027A (en) Method and apparatus for sample confirmation in gas chromatography
JP4313234B2 (en) Data processing apparatus and method for mass spectrometry
WO1999067801A2 (en) A multi-anode detector with increased dynamic range for time-of-flight mass spectrometers with counting data acquisition
JPH10125278A (en) Ion trap type mass spectrometer
JP3597054B2 (en) Time-of-flight mass spectrometer
US7060973B2 (en) Multi-anode detector with increased dynamic range for time-of-flight mass spectrometers with counting data acquisition
CN108054076A (en) Selection ion screens out equipment and method
US20200234936A1 (en) Dynamic Equilibration Time Calculation to Improve MS/MS Dynamic Range
JP3375734B2 (en) Multi-stage time-of-flight mass spectrometer
US11923183B2 (en) Dynamic equilibration time calculation to improve MS/MS dynamic range
JP3188925B2 (en) Laser ionization neutral particle mass spectrometer
JP2556842B2 (en) Mass spectrometer
JPH07294459A (en) Sputter neutral particle mass spectrometry
JPH0381660A (en) Selective ion detection using mass spectrometer
JPH0696725A (en) Method and apparatus for mass spectrometry