JPH0983128A - Junction structure of semiconductor module - Google Patents

Junction structure of semiconductor module

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JPH0983128A
JPH0983128A JP23103695A JP23103695A JPH0983128A JP H0983128 A JPH0983128 A JP H0983128A JP 23103695 A JP23103695 A JP 23103695A JP 23103695 A JP23103695 A JP 23103695A JP H0983128 A JPH0983128 A JP H0983128A
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semiconductor module
circuit board
printed circuit
reflow
melting point
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Masayoshi Yamaguchi
政義 山口
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To restrict thermal stress applied to electronic parts to the minimum by subjecting only one time electronic parts constituting a semiconductor module to high temperature of a predetermined one or higher by fabricating the semiconductor module using a high melting point solder while mounting the module using a low melting point solder. SOLUTION: A semiconductor module 20 where electronic parts are mounted on a sub-printed circuit board 21 with reflow soldering is reflow-soldered to a main printed circuit board 10. In such a structure, the reflow-soldering of electronic parts to the sub-printed circuit board 21 is achieved using a high melting point solder 25 which requires 200 deg.C as maximum temperature in a reflow furnace. The reflow-soldering of the electronic module 20 to the main printed circuit board 10 is achieved using a low melting point solder 33 which is capable of soldering at 200 deg.C or lower as maximum temperature in the reflow surface. Accordingly, high temperature of 200 deg.C or higher may be applied only one time upon fabrication of the semiconductor module 20.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は半導体モジュールを
プリント基板にはんだ付けにより実装するための接合構
造に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a joint structure for mounting a semiconductor module on a printed board by soldering.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体モジュールは、サブプリント基板
にベアICチップやその他のチップ部品がリフローはん
だ付けにより実装されることにより構成されるがこの半
導体モジュールを他の電子部品と共にメインプリント基
板に実装する場合、従来は図7の工程図に示すように、
メインプリント基板にソルダーペーストを印刷して半導
体モジュール、QFP/SOP等の半導体部品及びチッ
プ部品をマウントし、リフロー炉内でソルダーペースト
を溶融することにより行っていた。
2. Description of the Related Art A semiconductor module is constructed by mounting a bare IC chip or other chip parts on a sub-printed board by reflow soldering. This semiconductor module is mounted on a main printed board together with other electronic parts. In the conventional case, as shown in the process diagram of FIG.
The solder paste is printed on the main printed circuit board to mount the semiconductor module, the semiconductor parts such as QFP / SOP and the chip parts, and the solder paste is melted in the reflow furnace.

【0003】この従来の半導体モジュール等のはんだ付
け工程で使用されるソルダーペーストとしては、半導体
モジュール作製工程においてベアICチップ等をサブプ
リント基板にリフローはんだ付けするために使用される
ソルダーペーストと同様に、融点が183℃の共晶はん
だ(以下、高融点はんだという)が用いられており、リ
フローはんだ付けはリフロー炉内の最高温度が220℃
〜240℃に達する高温雰囲気中で行う必要があった。
The solder paste used in the conventional soldering process for semiconductor modules and the like is similar to the solder paste used for reflow soldering bare IC chips and the like on a sub-printed board in the semiconductor module manufacturing process. , Eutectic solder with a melting point of 183 ° C (hereinafter referred to as high melting point solder) is used, and the maximum temperature in the reflow furnace is 220 ° C for reflow soldering.
It was necessary to carry out in a high temperature atmosphere of up to 240 ° C.

【0004】そのため、半導体モジュールを構成する各
種電子部品は、半導体モジュール作製時及び半導体モジ
ュールのはんだ付け時の少くとも2回は200℃以上の
高温で加熱されることになり、熱ストレスが半導体モジ
ュールを構成する電子部品に発生し、はんだ付け不良や
部品不良を誘発していた。
Therefore, various electronic components constituting the semiconductor module are heated at a high temperature of 200 ° C. or more at least twice during the production of the semiconductor module and during the soldering of the semiconductor module, and the thermal stress is applied to the semiconductor module. Occurred in the electronic components that make up the solder, and caused soldering defects and component defects.

【0005】この不具合を解決すべく、半導体モジュー
ル以外の電子部品のメインプリント基板へのはんだ付け
は、高融点はんだを用いたリフローはんだ付けとし、半
導体モジュールについては、パルスヒート方式、レーザ
方式或いは熱風方式等により、高融点はんだを用いて個
別にメインプリント基板にはんだ付けすることも考えら
れるが、このような方法でははんだ付けに必要な作業工
程数が増加するという問題があった。また、高融点のは
んだ付けを用いてメインプリント基板へのはんだ付けを
行っているので半導体モジュールの着脱も困難となり、
隣接する良品の電子部品も不良にする危険性があった。
In order to solve this problem, soldering of electronic parts other than the semiconductor module to the main printed circuit board is performed by reflow soldering using a high melting point solder, and for the semiconductor module, a pulse heating method, a laser method or hot air is used. It is possible to individually solder the main printed circuit board by using a high melting point solder depending on the method or the like, but such a method has a problem that the number of work steps required for soldering increases. Moreover, since the soldering to the main printed circuit board is performed using high melting point soldering, it is difficult to attach and detach the semiconductor module.
There is also a risk that adjacent non-defective electronic components will also be defective.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上述の如く、上記半導
体モジュールの接合構造では、半導体モジュール作製時
に使用される高融点はんだと同種のはんだを用いて半導
体モジュールをメインプリント基板にリフローはんだ付
けしていたので、半導体モジュールを構成する電子部品
が少くとも2回は200℃以上の高温で加熱されること
になり、熱ストレスにより、電子部品のはんだ付け不良
や部品不良が発生するという不具合があった。また、高
融点はんだにより半導体モジュールはメインプリント基
板に接合されているので、半導体モジュールの修理等の
際の半導体モジュールの着脱が困難であり、又、隣接す
る良品の電子部品も高温加熱により不良にする危険性が
あった。
As described above, in the above-mentioned semiconductor module joining structure, the semiconductor module is reflow-soldered to the main printed circuit board by using the same kind of solder as the high melting point solder used when manufacturing the semiconductor module. Therefore, the electronic components constituting the semiconductor module are heated at a high temperature of 200 ° C. or more at least twice, and there is a problem that soldering defects or component defects of the electronic components occur due to thermal stress. . In addition, since the semiconductor module is joined to the main printed circuit board by high melting point solder, it is difficult to attach and detach the semiconductor module when repairing the semiconductor module, and the adjacent good electronic parts are also defective due to high temperature heating. There was a risk of

【0007】本発明はこのような従来の欠点を解決する
べくなされたものであり、半導体モジュールをメインプ
リント基板にリフローはんだ付けするに際して、電子部
品に加わる熱ストレスを非常に小さくできる半導体モジ
ュールの接合構造を提供することを目的とする。
The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional drawbacks, and when the semiconductor module is reflow-soldered to the main printed circuit board, the thermal stress applied to the electronic components can be extremely reduced. It is intended to provide a structure.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明は、
サブプリント基板に電子部品がリフローはんだ付けによ
り実装されてなる半導体モジュールをメインプリント基
板にリフローはんだ付けする半導体モジュールの接合構
造において、前記サブプリント基板に対する前記電子部
品のリフローはんだ付けはリフロー炉内の最高温度を2
00℃以上とする必要のある高融点はんだを用いて行
い、前記メインプリント基板に対する前記半導体モジュ
ールのリフローはんだ付けは、リフロー炉内の最高温度
が200℃以下ではんだ付け可能な低融点はんだを用い
て行っている。ここに、電子部品の熱ストレスに対する
耐熱限界温度は200℃程度であるので、上記構成によ
れば、メインプリント基板に対する半導体モジュールの
リフローはんだ付けは最高温度200℃以下として行
え、従って、半導体モジュールを構成する電子部品に加
わる200℃以上の高温は半導体モジュール作製時の一
回のみで済むので、電子部品の熱ストレスは最小限度で
済む。また、半導体モジュール自体が不良と確認された
ときでも、半導体モジュールとメインプリント基板との
はんだ付けは低融点はんだを用いているので、半導体モ
ジュールの取り外し、取り付けは、半導体モジュールや
隣接する電子部品が高温度になるまで熱を加えることな
く行える。
The invention according to claim 1 is
In a junction structure of a semiconductor module in which a semiconductor module in which electronic components are mounted on a sub-printed circuit board by reflow soldering is reflow-soldered on a main printed circuit board, reflow soldering of the electronic component to the sub-printed circuit board is performed in a reflow furnace. Maximum temperature is 2
Reflow soldering of the semiconductor module to the main printed circuit board is performed using a high melting point solder that needs to be set to 00 ° C. or higher, and a low melting point solder that can be soldered at a maximum temperature in the reflow furnace of 200 ° C. or lower is used. I am going. Here, since the heat resistance limit temperature of the electronic component against the thermal stress is about 200 ° C., according to the above configuration, the reflow soldering of the semiconductor module to the main printed circuit board can be performed at the maximum temperature of 200 ° C. or less. Since the high temperature of 200 ° C. or higher applied to the constituent electronic parts is required only once when the semiconductor module is manufactured, the thermal stress of the electronic parts is minimized. Even when it is confirmed that the semiconductor module itself is defective, the low melting point solder is used for soldering the semiconductor module and the main printed circuit board. It can be done without applying heat until it reaches a high temperature.

【0009】また、請求項2に係る発明では、請求項1
において、メインプリント基板に対する半導体モジュー
ルのリフローはんだ付けを窒素雰囲気中で行っている。
低温ではんだ付けを行う場合には、高温ではんだ付けを
おこなう場合に比較してぬれ性が低下しはんだ付け不良
が生じ易いが、窒素雰囲気ではんだ付けを行い金属の酸
化を防止することによりこの欠点を解消できる。
According to the invention of claim 2, the invention of claim 1
In, the reflow soldering of the semiconductor module to the main printed circuit board is performed in a nitrogen atmosphere.
When soldering at low temperature, the wettability is lower and soldering failure is more likely to occur than when soldering at high temperature, but by soldering in a nitrogen atmosphere and preventing metal oxidation, this The drawbacks can be eliminated.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図1
乃至図6を参照して詳述する。図1乃至図4は第1の実
施の形態を示す図であり、図1は半導体モジュールがは
んだ付けされたメインプリント基板の側面図、図2は半
導体モジュールの斜視図、図3は半導体モジュールの作
製工程図、図4はメインプリント基板に対する電子部品
の実装工程図である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to FIG.
It will be described in detail with reference to FIG. 1 to 4 are views showing a first embodiment, FIG. 1 is a side view of a main printed circuit board to which a semiconductor module is soldered, FIG. 2 is a perspective view of the semiconductor module, and FIG. FIG. 4 is a manufacturing process drawing, and FIG. 4 is a mounting process drawing of the electronic component on the main printed circuit board.

【0011】図1に示すように、メインプリント基板1
0のパッド11には、半導体モジュール20、半導体装
置(QFP/SOP)31、チップ部品32が低融点は
んだ(融点150℃)33を用いてはんだ付けされてい
る。また、半導体モジュール20は、図2に示すよう
に、サブプリント基板21及びこの基板21実装された
ベアICチップ22、チップ部品23より構成されてい
る。サブプリント基板21はLCC(リードレス チッ
プ キャリア)形態とされ、その周側面にはI/Oパッ
ド211が形成されており、半導体モジュール20は、
サブプリント基板21のパッド211がメインプリント
基板10のパッド11にはんだ付けされる。また、サブ
プリント基板21の部品実装面には種々の形状のパッド
212が設けられており、ベアICチップ22及びチッ
プ部品23は高融点はんだ(共晶はんだ、融点183
℃)25を用いてパッド212にはんだ付けされてい
る。尚、ベアICチップ22の裏面には高融点はんだで
形成されたバンプ221が格子状に設けられており、こ
のバンプ221がパッド212にはんだ付けされてい
る。また、ベアICチップ22のはんだ付け部分は樹脂
26で封止されている。
As shown in FIG. 1, the main printed circuit board 1
The semiconductor module 20, the semiconductor device (QFP / SOP) 31, and the chip component 32 are soldered to the pad 11 of 0 using the low melting point solder (melting point 150 ° C.) 33. As shown in FIG. 2, the semiconductor module 20 includes a sub-printed board 21, a bare IC chip 22 mounted on the board 21, and a chip component 23. The sub-printed circuit board 21 is in the form of LCC (leadless chip carrier), and the I / O pad 211 is formed on the peripheral side surface thereof.
The pads 211 of the sub printed board 21 are soldered to the pads 11 of the main printed board 10. Further, pads 212 of various shapes are provided on the component mounting surface of the sub-printed circuit board 21, and the bare IC chip 22 and the chip component 23 have high melting point solder (eutectic solder, melting point 183).
25 ° C.) to the pad 212. Bumps 221 made of high melting point solder are provided in a grid pattern on the back surface of the bare IC chip 22, and the bumps 221 are soldered to the pads 212. Further, the soldered portion of the bare IC chip 22 is sealed with resin 26.

【0012】上記半導体モジュール20の作製は、図3
に示すように第1工程でサブプリント基板21のパッド
212に高融点はんだ25を含むソルダーペーストを印
刷し、第2工程で、サブプリント基板21の所定位置に
ベアICチップ22及びチップ部品23をマウントし、
第3工程でリフロー炉(図示しない)内でリフローはん
だ付け(炉内のピーク時の温度は220℃〜240℃)
を行う。そして、第4工程で、フラックス残査を除去す
るために洗浄を行い、第5工程で、ベアICチップ22
のはんだ付け部分に樹脂26が封止され、半導体モジュ
ール20が完成する。
The above-mentioned semiconductor module 20 is manufactured by referring to FIG.
As shown in FIG. 1, in the first step, the solder paste containing the high melting point solder 25 is printed on the pads 212 of the sub-printed board 21, and in the second step, the bare IC chip 22 and the chip component 23 are placed at predetermined positions on the sub-printed board 21. Mount and
Reflow soldering in a reflow furnace (not shown) in the third step (peak temperature in the furnace is 220 ° C to 240 ° C)
I do. Then, in the fourth step, cleaning is performed to remove the residual flux, and in the fifth step, the bare IC chip 22 is removed.
The resin 26 is sealed in the soldered portion of the semiconductor module 20 to complete the semiconductor module 20.

【0013】また、メインプリント基板10への電子部
品の実装は、図4に示すように、第1工程でメインプリ
ント基板10のパッド11に低融点はんだ33を含むソ
ルダーペーストを印刷し、第2工程で、メインプリント
基板10の所定位置に半導体モジュール20、QFP/
SOP31及びチップ部品32をマウントし、第3工程
で、窒素雰囲気とされたリフロー炉(図示しない)内で
リフローはんだ付け(炉内のピーク時の温度200℃以
下)を行い完成する。
To mount the electronic components on the main printed circuit board 10, as shown in FIG. 4, a solder paste containing the low melting point solder 33 is printed on the pads 11 of the main printed circuit board 10 in the first step, and the second step is performed. In the process, the semiconductor module 20, QFP /
The SOP 31 and the chip component 32 are mounted, and in a third step, reflow soldering (peak temperature of the furnace is 200 ° C. or less) in a nitrogen atmosphere reflow furnace (not shown) is completed.

【0014】このように、半導体モジュール20作製時
においては高融点はんだ25を用いているが、半導体モ
ジュール20実装時においては低融点はんだ33を用い
ているので、半導体モジュール20を構成する電子部品
に加わる200℃以上の高温は一回のみとすることがで
き、従って、電子部品の熱ストレスを最小限度にするこ
とができる。また、半導体モジュール20の不良のた
め、半導体モジュール20をメインプリント基板10か
ら取り外し、あらたに取り付ける場合であっても、低融
点はんだ33を用いていることにより、これらの作業が
容易に行え、低い温度で取り外し、取り付け作業を行え
るので、又、半導体モジュール20に隣接する電子部品
の高熱による破損も生じ難い。
As described above, when the semiconductor module 20 is manufactured, the high melting point solder 25 is used, but when the semiconductor module 20 is mounted, the low melting point solder 33 is used. The applied high temperature of 200 ° C. or higher can be applied only once, so that the thermal stress of the electronic component can be minimized. Further, even when the semiconductor module 20 is removed from the main printed circuit board 10 and is newly attached due to a defect in the semiconductor module 20, the low melting point solder 33 is used, so that these operations can be performed easily and low. Since the detaching and attaching work can be performed at a temperature, the electronic components adjacent to the semiconductor module 20 are unlikely to be damaged by high heat.

【0015】図5及び図6は第2の実施の形態を示す図
であり、図5は半導体モジュールがはんだ付けされたメ
インプリント基板の側面図、図6は半導体モジュールの
斜視図である。本例では、半導体モジュール20Aのサ
ブプリント基板21Aにはその周側面にはI/Oパッド
は形成されておらず、かわりに、基板21Aの裏面に高
融点はんだで形成されたはんだボール213が設けられ
ている。そして、半導体モジュール20Aはサブプリン
ト基板21Aのはんだボール213が低融点はんだ33
によって、メインプリント基板10にはんだ付けされ
る。その他の構成は第1の実施の形態と同様であり、ま
た、半導体モジュール20Aの作製は図3に示す工程フ
ロー図に従って行われ、メインプリント基板10への半
導体モジュール20A等の電子部品の実装は図4に示す
工程フロー図に従って行われる。
5 and 6 are views showing a second embodiment, FIG. 5 is a side view of a main printed circuit board to which a semiconductor module is soldered, and FIG. 6 is a perspective view of the semiconductor module. In this example, the I / O pad is not formed on the peripheral side surface of the sub-printed board 21A of the semiconductor module 20A, but instead the solder ball 213 formed of high melting point solder is provided on the back surface of the board 21A. Has been. Further, in the semiconductor module 20A, the solder balls 213 of the sub-printed board 21A have the low melting point solder 33.
Is soldered to the main printed circuit board 10. Other configurations are similar to those of the first embodiment, and the semiconductor module 20A is manufactured according to the process flow chart shown in FIG. 3, and the electronic components such as the semiconductor module 20A are mounted on the main printed circuit board 10. The process is performed according to the process flow chart shown in FIG.

【0016】[0016]

【発明の効果】以上説明したように請求項1に係る半導
体モジュールの接合構造では、半導体モジュールの作製
は高融点はんだを用い、半導体モジュールの実装は低融
点はんだを用いたので、半導体モジュールを構成する電
子部品に加わる200℃以上の高温を一回のみとするこ
とができ、従って、電子部品に加わる熱ストレスを最小
限度にすることができる。また、低融点はんだを用いた
ことにより、半導体モジュールの取り外しや取り付けも
容易であり、従って、半導体モジュールの交換作業も容
易に行え、また、この種の作業のときに、半導体モジュ
ールに隣接する電子部品が高熱により破損するという問
題も生じ難い。
As described above, in the joining structure of the semiconductor module according to the first aspect, since the high melting point solder is used for manufacturing the semiconductor module and the low melting point solder is used for mounting the semiconductor module, the semiconductor module is configured. The high temperature of 200 ° C. or higher applied to the electronic component can be set only once, and therefore the thermal stress applied to the electronic component can be minimized. In addition, since the low melting point solder is used, the semiconductor module can be easily removed and installed, and therefore, the semiconductor module can be easily replaced. The problem that parts are damaged by high heat is unlikely to occur.

【0017】また請求項2に係る半導体モジュールの接
合構造では、請求項1において、メインプリント基板に
対する半導体モジュールのリフローはんだ付けを窒素雰
囲気中で行っているので、金属の酸化を防止でき、従っ
て、低融点はんだによる良好なはんだ付けを行える。
Further, in the joint structure of the semiconductor module according to a second aspect, since the reflow soldering of the semiconductor module to the main printed circuit board is performed in a nitrogen atmosphere in the first aspect, it is possible to prevent metal oxidation, and therefore Good soldering with low melting point solder can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態を示す図であり、半
導体モジュールがはんだ付けされたメインプリント基板
の側面図。
FIG. 1 is a view showing a first embodiment of the present invention and is a side view of a main printed circuit board to which a semiconductor module is soldered.

【図2】図1のメインプリント基板に実装される半導体
モジュールの斜視図。
FIG. 2 is a perspective view of a semiconductor module mounted on the main printed board of FIG.

【図3】図2の半導体モジュールの作製工程図。3A to 3D are manufacturing process diagrams of the semiconductor module of FIG.

【図4】図1のメインプリント基板への電子部品の実装
工程図。
FIG. 4 is a process diagram of mounting electronic components on the main printed circuit board of FIG.

【図5】本発明の第2の実施の形態を示す図であり、半
導体モジュールがはんだ付けされたメインプリント基板
の側面図。
FIG. 5 is a view showing a second embodiment of the present invention, and is a side view of a main printed circuit board to which a semiconductor module is soldered.

【図6】図5のメインプリント基板に実装される半導体
モジュールの斜視図。
6 is a perspective view of a semiconductor module mounted on the main printed circuit board of FIG.

【図7】従来のメインプリント基板への電子部品の実装
工程図。
FIG. 7 is a mounting process diagram of an electronic component on a conventional main printed circuit board.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 メインプリント基板 20,20A
半導体モジュール 21,21A サブプリント基板 25 高融点は
んだ 33 低融点はんだ
10 Main printed circuit board 20, 20A
Semiconductor module 21, 21A Sub-printed circuit board 25 High melting point solder 33 Low melting point solder

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 サブプリント基板に電子部品がリフロー
はんだ付けにより実装されてなる半導体モジュールをメ
インプリント基板にリフローはんだ付けする半導体モジ
ュールの接合構造において、前記サブプリント基板に対
する前記電子部品のリフローはんだ付けはリフロー炉内
の最高温度を200℃以上とする必要のある高融点はん
だを用いて行い、前記メインプリント基板に対する前記
半導体モジュールのリフローはんだ付けは、リフロー炉
内の最高温度が200℃以下ではんだ付け可能な低融点
はんだを用いて行っていることを特徴とする半導体モジ
ュール接合構造。
1. A reflow soldering of the electronic component to the sub-printed circuit board in a semiconductor module joint structure for reflow-soldering a semiconductor module in which an electronic component is mounted on the sub-printed circuit board by reflow soldering. Is performed by using a high melting point solder that requires the maximum temperature in the reflow furnace to be 200 ° C. or higher, and the reflow soldering of the semiconductor module to the main printed circuit board is performed when the maximum temperature in the reflow furnace is 200 ° C. or lower. A semiconductor module joining structure characterized in that a low melting point solder that can be applied is used.
【請求項2】 メインプリント基板に対する半導体モジ
ュールのリフローはんだ付けは、窒素雰囲気中で行うこ
とを特徴とする請求項1に記載の半導体モジュールの接
合構造。
2. The joint structure of a semiconductor module according to claim 1, wherein the reflow soldering of the semiconductor module to the main printed circuit board is performed in a nitrogen atmosphere.
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