JPH09273913A - Method for evaluating coated state of object - Google Patents

Method for evaluating coated state of object

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JPH09273913A
JPH09273913A JP8255396A JP8255396A JPH09273913A JP H09273913 A JPH09273913 A JP H09273913A JP 8255396 A JP8255396 A JP 8255396A JP 8255396 A JP8255396 A JP 8255396A JP H09273913 A JPH09273913 A JP H09273913A
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coating
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ribs
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靖男 柳橋
Masaki Kuroki
正軌 黒木
Hiromichi Sasao
弘通 笹尾
Hiroyuki Nakahara
裕之 中原
Seiji Ishida
誠治 石田
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To easily and efficiently evaluate the coated state of a second object on the surface of a first object by scanning the surface of the first object before and after coating of the second object by a displacement meter, measuring the distances to the surface before and after coating, and comparing them. SOLUTION: A board 21 before coating with fluorescent material is fixed to the predetermined position of a mounting base 51 so that a rib becomes parallel to the directions of arrows Y, Y'. The measuring position and length are set by a keyboard, and a start command is input. A displacement meter 54 is regulated at the distance from the board 21, moved to the measuring position, moved at a predetermined speed across a rib by the set length, and scanned on the board 21. The output signal is stored in the RAM of a microcomputer. Then, the board 21 is delivered from the base 51, the steps of coating and baking the material are executed, and the board 21 is again fixed to the base 51. The measured data is processed by the microcomputer, and the surface profiles before and after the coating are compared.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、物体の塗布状態
評価方法に関し、特にプラズマディスプレイパネル(P
DP)の蛍光体塗布状態を評価する方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for evaluating the coating state of an object, and more particularly to a plasma display panel (P
DP) phosphor evaluation method.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、縦横に並ぶドット(画素)の
組み合わせによつて文字や図形を表示するマトリクス表
示方式のPDPにおいて、蛍光体による放電ガスの発光
色以外の色の表示に適した面放電型のPDPが知られて
いる。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a matrix display type PDP which displays characters and figures by a combination of dots (pixels) arranged vertically and horizontally, a surface suitable for displaying a color other than the emission color of discharge gas by a phosphor. A discharge type PDP is known.

【0003】図2はPDPの1つの画素EGに対応する
部分の断面構造の一例を示す分解斜視図である。図2に
例示したPDPは、3電極構造のAC駆動形式のPDP
であり、表示面側のガラス基板11、横方向に互いに平
行に隣接して延びた一対の表示電極X,Y、AC駆動の
ための誘電体層17とその保護膜18、背面側のガラス
基板21、表示電極X,Yと直交するアドレス電極2
2、アドレス電極22と平行なリブ(隔壁)29、及び
カラー表示のための蛍光体層28などから構成されてい
る。
FIG. 2 is an exploded perspective view showing an example of a sectional structure of a portion corresponding to one pixel EG of the PDP. The PDP illustrated in FIG. 2 is an AC drive type PDP having a three-electrode structure.
The glass substrate 11 on the display surface side, the pair of display electrodes X and Y extending parallel to each other in the lateral direction, the dielectric layer 17 for AC driving and its protective film 18, and the glass substrate on the back surface side. 21, address electrodes 2 orthogonal to the display electrodes X and Y
2, ribs 29 that are parallel to the address electrodes 22, a phosphor layer 28 for color display, and the like.

【0004】内部の放電空間30には、蛍光体層28に
対する紫外線励起のための放電ガスが封入されている。
このような放電空間30は、リブ29によって表示電極
X,Yの延長方向に単位発光領域EU毎に区画され、且
つその間隙寸法が規定されている。リブ29は、厚さ
(高さ)hが100〜130μm程度の低融点ガラス層
からなる。
A discharge gas for exciting the phosphor layer 28 with ultraviolet rays is enclosed in the internal discharge space 30.
Such a discharge space 30 is defined by the rib 29 in the unit light emitting area EU in the direction in which the display electrodes X and Y extend, and the gap size is defined. The rib 29 is formed of a low melting point glass layer having a thickness (height) h of about 100 to 130 μm.

【0005】PDPでは、図のように1つの画素EGに
対応づけられた3つの各単位発光領域EU内において、
一方の表示電極Yとアドレス電極22との交差部に表示
又は非表示を選択するための選択放電セルが画定され、
選択放電セルの近傍における各表示電極の間に主放電セ
ル(画放電セル)が画定される。
In the PDP, as shown in the figure, in each of the three unit light emitting regions EU associated with one pixel EG,
A selection discharge cell for selecting display or non-display at the intersection of one display electrode Y and the address electrode 22 is defined,
A main discharge cell (image discharge cell) is defined between the display electrodes near the selective discharge cell.

【0006】蛍光体層28は、面放電によるイオン衝撃
を避けるために、表示電極X,Yと反対側のガラス基板
21上の各リブ29の間に設けられ、主放電セルの面放
電で生じる紫外線によって励起されて発光する。蛍光体
層28の表層面(放電空間と接する面)で発光した光
は、誘電体層17及びガラス基板11などを透過して表
示面から射出する。
The phosphor layer 28 is provided between the ribs 29 on the glass substrate 21 on the side opposite to the display electrodes X and Y in order to avoid ion bombardment due to surface discharge, and is generated by surface discharge of the main discharge cells. It emits light when excited by ultraviolet rays. Light emitted on the surface of the phosphor layer 28 (the surface in contact with the discharge space) passes through the dielectric layer 17 and the glass substrate 11 and exits from the display surface.

【0007】なお、PDPでは、3つの各単位発光領域
EUに対応する各蛍光体層28の発光色は、順に赤色
(R)、緑色(G)、青色(B)とされている(図中の
アルファベットR,G,Bは発光色を示す)。また、表
示電極X,Yは、このような蛍光体層28に対して表示
面H側に配置されることから、表示の輝度を高めるため
にネサ膜などからなる透明導電膜41とその導電製を補
うための金属膜42とから構成されている。
In the PDP, the emission colors of the phosphor layers 28 corresponding to the three unit emission regions EU are red (R), green (G), and blue (B) in that order (in the figure). The alphabets R, G, and B indicate the emission color). Further, since the display electrodes X and Y are arranged on the display surface H side with respect to such a phosphor layer 28, the transparent conductive film 41 formed of a nest film or the like and the conductive film thereof are formed in order to enhance the display brightness. And a metal film 42 for supplementing the above.

【0008】以上の構造を有したPDP1は、各ガラス
基板11,21について別個に所定の構成要素を設けた
後、ガラス基板11,21を対向配置して間隙の周囲を
封止し、内部の排気と放電ガスの充填を行う一連の工程
によって製造される。
In the PDP 1 having the above-mentioned structure, the glass substrate 11 and 21 are provided with predetermined constituent elements separately, and then the glass substrates 11 and 21 are arranged to face each other to seal the periphery of the gap. It is manufactured by a series of steps of exhausting and filling with discharge gas.

【0009】その際、ガラス基板21側の製造におい
て、蛍光体層28の形成には通常スクリーン印刷法が利
用される。蛍光体ペーストをスクリーンマスク(スクリ
ーン型ともいう)を用いて所定のパターンで各色毎に順
に印刷し、その後に焼成することによって蛍光体層28
を形成していた。
At this time, in the manufacture on the glass substrate 21 side, the screen printing method is usually used to form the phosphor layer 28. The phosphor layer 28 is printed by sequentially printing the phosphor paste for each color in a predetermined pattern using a screen mask (also referred to as a screen type) and then firing it.
Had formed.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】表示の輝度を高める上
で蛍光体層28はその表面積ができるだけ大きいことが
望ましい。すなわち、蛍光体層28の理想的な形状は、
図3に示すように、リブ29の間のガラス基板21の表
面(アドレス電極22の表面を含む)とともにリブ29
の側面を薄く覆うような形状である。
In order to increase the brightness of display, it is desirable that the surface area of the phosphor layer 28 is as large as possible. That is, the ideal shape of the phosphor layer 28 is
As shown in FIG. 3, the ribs 29 are formed together with the surfaces of the glass substrate 21 (including the surfaces of the address electrodes 22) between the ribs 29.
The shape is such that the side surface of the is thinly covered.

【0011】従って、蛍光体層28はリブ29を設けた
後に形成する必要がある。なお、通常、アドレス電極2
2は、リブ29を設ける以前にガラス基板21上に形成
される。
Therefore, the phosphor layer 28 must be formed after the ribs 29 are provided. Usually, the address electrode 2
2 is formed on the glass substrate 21 before the rib 29 is provided.

【0012】ところが、リブ29が140μm程度の高
さを有することから、蛍光体ペーストの印刷は、ガラス
基板21表面から140μm程度浮き上がったスクリー
ンマスクから蛍光体ペーストを落とし込む形態をとるた
め、蛍光体層28の形成面積及び厚さにバラツキが生
じ、表示の輝度及び色調が不均一になって表示品質が損
なわれるとともに、アドレス電極22の被覆状態のバラ
ツキによって放電特性が不安定になることがある。
However, since the rib 29 has a height of about 140 μm, the phosphor paste is printed by dropping the phosphor paste from a screen mask that is lifted by about 140 μm from the surface of the glass substrate 21. The formed area and thickness of 28 may vary, the brightness and color tone of the display become nonuniform, the display quality may be impaired, and the discharge characteristics may become unstable due to the variation of the covering state of the address electrode 22.

【0013】しかしながら、このような蛍光体の塗布状
態のバラツキによって生じる表示上の欠陥は、PDPの
完成後の表示試験の段階ではじめて見出される。そこ
で、製造工程中にその原因を究明するために、蛍光体の
塗布状態を顕微鏡を用いて目視で評価する方法が採用さ
れているが、パネルサイズの大型化に伴って、その評価
作業に多くに時間を要し、PDPの製造能率を低下させ
るという問題があった。この発明はこのような事情を考
慮してなされたもので、PDPの製造工程中に、蛍光体
層の形成直後に、蛍光体の塗布状態を能率よく評価する
ことが可能な方法を提供するものである。
However, a display defect caused by such a variation in the coating state of the phosphor is first found in the stage of the display test after the completion of the PDP. Therefore, in order to investigate the cause during the manufacturing process, a method of visually observing the coating state of the phosphor with a microscope is adopted, but with the increase in panel size, the evaluation work is often performed. However, there is a problem that it takes time to reduce the production efficiency of PDP. The present invention has been made in view of such circumstances, and provides a method capable of efficiently evaluating the coating state of a phosphor during the PDP manufacturing process immediately after the formation of the phosphor layer. Is.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】第1物体の表面の一部に
塗布される第2物体の塗布状態を評価する方法であっ
て、第2物体の塗布前および塗布後の第1物体の表面を
変位計で走査して塗布前後における第1物体の表面まで
の距離を計測し、第2物体の塗布前後において得られた
計測データの比較結果に基づいて第2物体の塗布状態を
評価することを特徴とする物体の塗布状態評価方法を提
供するものである。
A method of evaluating a coating state of a second object coated on a part of the surface of a first object, the surface of the first object before and after coating of the second object. To measure the distance to the surface of the first object before and after coating by scanning the displacement gauge, and to evaluate the coating state of the second object based on the comparison result of the measurement data obtained before and after the coating of the second object. The present invention provides a method for evaluating the coating state of an object.

【0015】さらに、基板に塗布される蛍光体の塗布状
態を評価する方法であって、蛍光体塗布後の基板表面を
紫外線で照明した状態で該基板表面を光検出器で走査
し、光検出器から得られる電気信号に基づいて蛍光体の
塗布状態を評価することを特徴とする物体の塗布状態評
価方法を提供するものである。
Furthermore, a method for evaluating the coating state of the phosphor coated on the substrate, wherein the substrate surface after coating the phosphor is illuminated with ultraviolet rays, the substrate surface is scanned by a photodetector to detect light. It is intended to provide a coating state evaluation method for an object, which is characterized in that the coating state of a phosphor is evaluated based on an electric signal obtained from a container.

【0016】第1発明における第1物体は、固形物体が
あればいずれでもよく、その具体例として、表面に複数
の平行なリブを有するPDP用の基板をあげることがで
きる。第2物体は、第1物体に塗布可能な液状又はペー
スト状の物体であるが、その一例としてPDP用の基板
に設けられたリブ間の蛍光体層を形成するために塗布さ
れるペースト状の蛍光体をあげることができる。また、
第2の発明は、例えば、基板が表面に複数の平行なリブ
を有し、かつ、蛍光体が各リブ間に塗布されるPDP用
基板に適用されるが、これに限定されるものではない。
The first object in the first invention may be any solid object, and a specific example thereof is a substrate for PDP having a plurality of parallel ribs on the surface. The second object is a liquid or paste-like object that can be applied to the first object, and as an example thereof, a paste-like object that is applied to form a phosphor layer between ribs provided on the PDP substrate. A phosphor can be used. Also,
The second invention is applied to, for example, a PDP substrate in which the substrate has a plurality of parallel ribs on the surface and a phosphor is applied between the ribs, but the invention is not limited to this. .

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】この発明の実施の形態として、P
DPの蛍光体塗布状態を評価する方法について、以下に
詳述する。まず、基板の表面に複数の平行なリブを形成
し、そのリブ間に蛍光体を塗布する工程について図1と
図2により説明する。ガラス基板21上に、例えば銀か
らなる厚さが20μm程度のアドレス電極22と、低融
点ガラスからなる高さhが130μm程度のリブ29と
をそれぞれ印刷法によって設ける。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION As an embodiment of the present invention, P
The method of evaluating the phosphor coating state of DP will be described in detail below. First, a process of forming a plurality of parallel ribs on the surface of a substrate and applying a phosphor between the ribs will be described with reference to FIGS. 1 and 2. An address electrode 22 made of, for example, silver and having a thickness of about 20 μm, and a rib 29 made of low-melting glass and having a height h of about 130 μm are provided on the glass substrate 21 by a printing method.

【0018】このとき、アドレス電極22及びリブ29
に対応する銀ペースト及びガラスペーストの印刷に、幅
が例えば60μmの帯状の開口部を一定のピッチp(例
えば220μm)で配列したスクリーンマスク(図示し
ない)を用いる。この場合には、アドレス電極22の幅
は60〜70μmとなり、リブ29の底部及び頂上近傍
部の幅w1,w2はそれぞれ80μm、40μm程度と
なる。
At this time, the address electrode 22 and the rib 29
For printing the silver paste and the glass paste corresponding to, a screen mask (not shown) in which band-shaped openings having a width of, for example, 60 μm are arranged at a constant pitch p (for example, 220 μm) is used. In this case, the width of the address electrode 22 is 60 to 70 μm, and the widths w1 and w2 of the bottom portion and the vicinity of the top of the rib 29 are about 80 μm and 40 μm, respectively.

【0019】次に、蛍光体層28の形成工程に移り、以
下の手順で各発光色毎に蛍光体ペースト28aを印刷す
る。すなわち、図1(a)に示すように、所定幅の開口
部61がピッチpの3倍のピッチで設けられたスクリー
ンマスク60を、ガラス基板21に対して適当に位置合
わせしてリブ29と当接するように配置する。
Next, the step of forming the phosphor layer 28 is started, and the phosphor paste 28a is printed for each emission color in the following procedure. That is, as shown in FIG. 1A, a screen mask 60 provided with openings 61 having a predetermined width at a pitch three times the pitch p is appropriately aligned with the glass substrate 21 to form the ribs 29. Arrange so that they abut.

【0020】そして、所定発光色(例えばR)の蛍光体
とビヒクルとを混合した蛍光体ペースト28aを、開口
部61を介してリブ29の間に落とし込む。このとき、
蛍光体ペースト28aとして、上述のように蛍光体層2
8の膜厚を50μm以下とするために、蛍光体の含有量
を10〜50重量%としたものを用いる。なお、ビヒク
ルは、セルロース系又はアクリル系の増粘剤樹脂とアル
コール系又はエステル系などの有機溶剤からなる。
Then, a phosphor paste 28a in which a phosphor of a predetermined emission color (for example, R) and a vehicle are mixed is dropped between the ribs 29 through the openings 61. At this time,
As the phosphor paste 28a, as described above, the phosphor layer 2
In order to make the film thickness of No. 8 equal to or less than 50 μm, a phosphor having a phosphor content of 10 to 50% by weight is used. The vehicle is composed of a cellulose-based or acrylic-based thickener resin and an alcohol-based or ester-based organic solvent.

【0021】加えて、ここでは、リブ29の間の空隙を
ほぼ埋め尽くすように、蛍光体ペースト28aを開口部
61からガラス基板21側へ押し出す。そのために、角
スキージ71を矢印M1の方向へ移動させる。
In addition, here, the phosphor paste 28a is extruded from the opening 61 toward the glass substrate 21 side so as to almost completely fill the gaps between the ribs 29. For this purpose, the square squeegee 71 is moved in the direction of the arrow M1.

【0022】続いて、他の発光色(G及びB)について
も、順次、リブ29の間の空隙をほぼ埋め尽くすよう
に、蛍光体の含有量が10〜50重量%の蛍光体ペース
ト28aを印刷する〔図1(b)〕。
Next, for the other emission colors (G and B), phosphor paste 28a having a phosphor content of 10 to 50% by weight is sequentially filled so as to almost completely fill the gaps between the ribs 29. Printing is performed [Fig. 1 (b)].

【0023】その後、蛍光体ペースト28aを乾燥さ
せ、500〜600℃の温度で焼成する。〔図1
(c)〕。なお、発光色がRの蛍光体としては例えば
(Y,Gd)BO3:Eu3+を用い、発光色がGの蛍光
体としては例えばZn2SiO4:Mnを用い、発光色が
Bの蛍光体としては例えばBaMgAl1423:Eu2+
を用いることができる。
Then, the phosphor paste 28a is dried and fired at a temperature of 500 to 600.degree. [Figure 1
(C)]. Note that, for example, (Y, Gd) BO 3 : Eu 3+ is used as the phosphor of which the emission color is R, and Zn 2 SiO 4 : Mn is used as the phosphor of which the emission color is G, and the emission color of B is Examples of the phosphor include BaMgAl 14 O 23 : Eu 2+
Can be used.

【0024】次に、第1の発明において、変位計には、
例えば、レーザダイオードの光を高周波変調して対象に
向けて放射し、反射変調波の位相を基準波と比較して対
象との間の距離を測定する公知の光学変位計を用いるこ
とができる。
Next, in the first invention, the displacement gauge includes:
For example, a known optical displacement meter that measures the distance to the target by comparing the phase of the reflected modulated wave with the reference wave and radiating the light of the laser diode to the target by high-frequency modulation can be used.

【0025】計測データを比較・評価するデータ処理手
段は、例えばCPU,ROM,RAMおよびI/Oポー
トにより構成される。
The data processing means for comparing and evaluating the measurement data is composed of, for example, a CPU, a ROM, a RAM and an I / O port.

【0026】また、処理結果を出力する手段には、CR
Tやプリンタなどを用いることができる。なお、データ
処理手段および出力手段をパーソナルコンピュータで一
体的に構成することもできる。
The means for outputting the processing result is CR
A T, a printer or the like can be used. The data processing means and the output means may be integrally configured by a personal computer.

【0027】また、第2の発明がにおける紫外線の光源
には、例えば、紫外領域の波長のレーザ光を放射するレ
ーザダイオード又は単色発光ダイオードと、その光を基
板上に収束させるレンズとを組合わせたものを用いるこ
とができる。
The ultraviolet light source according to the second invention is, for example, a combination of a laser diode or a monochromatic light emitting diode that emits laser light having a wavelength in the ultraviolet region and a lens that converges the light on a substrate. It can be used.

【0028】光検出器としては、塗布される蛍光体が
R,G、Bの3色であれば、例えば、R,G、Bの色の
光をそれぞれ個別に検出できるフォトダイオードやフォ
ートトランジスタを用い、蛍光体がすべて同色(単色)
であれば、その単色の光を検出できるフォトダイオード
やフォトトランジスタを用いることができる。
As the photodetector, if the phosphor to be applied has three colors of R, G, and B, for example, a photodiode or a fort transistor capable of individually detecting light of R, G, and B colors is used. All phosphors have the same color (single color)
If so, a photodiode or a phototransistor that can detect the monochromatic light can be used.

【0029】光検出器から得られる電気信号は、蛍光体
の塗布幅を表すパルス状の波形となるので、その波形の
間隔から、隣接する蛍光体の重なりや位置ズレを判定す
ることができる。
Since the electric signal obtained from the photodetector has a pulse-like waveform representing the coating width of the phosphor, it is possible to determine the overlap and the positional deviation of the adjacent phosphors from the interval of the waveform.

【0030】実施例(1) 図4および図5は、実施例(1)に用いる評価装置の側
面図および正面図である。これらの図において基板21
を載置するための載置台51は、モータ52aによって
矢印Y−Y’方向に移動するY軸摺動装置52に搭載さ
れ、Y軸摺動装置52はモータ53aによって矢印X−
X’方向に移動するX軸摺動装置53に搭載されてい
る。また、変位計54はモータ55aによって矢印Z−
Z’方向に移動するZ軸摺動装置55に支持アーム56
を介して固定されている。
Example (1) FIGS. 4 and 5 are a side view and a front view of an evaluation apparatus used in Example (1). In these figures the substrate 21
The mounting table 51 for mounting the motor is mounted on a Y-axis sliding device 52 that moves in the direction of arrow Y-Y 'by a motor 52a.
It is mounted on an X-axis sliding device 53 that moves in the X ′ direction. Further, the displacement gauge 54 is moved by the motor 55a to the arrow Z-.
The support arm 56 is attached to the Z-axis sliding device 55 that moves in the Z'direction.
Has been fixed through.

【0031】図6は、実施例(1)に用いる制御装置の
ブロック図であり、CPU,ROM,RAM,I/Oポ
ートを内蔵するマイクロコンピュータ61は、各種測定
条件を設定するためのキーボード62と変位計54から
の出力を受けてデータ処理を行い、モータ52a,53
a,55aを駆動すると共に、CRT63に画像や数値
を出力するようになっている。
FIG. 6 is a block diagram of a control device used in the embodiment (1). A microcomputer 61 having a CPU, a ROM, a RAM and an I / O port incorporated therein has a keyboard 62 for setting various measurement conditions. And the output from the displacement meter 54, data processing is performed, and the motors 52a, 53
a and 55a are driven, and an image and a numerical value are output to the CRT 63.

【0032】この装置を用いた蛍光体塗布状態の評価方
法を図7のフローチャートを用いて説明する。作業者
は、蛍光体塗布前の基板21をリブが矢印Y−Y’方向
に平行になるように載置台51の所定位置に固定し(ス
テップS1)、キーボード62により、計測位置と計測
長さを設定して(ステップS2)、次に、キーボード6
2から起動指令を入力する(ステップS3)。
A method of evaluating the phosphor coating state using this apparatus will be described with reference to the flowchart of FIG. The operator fixes the substrate 21 before applying the phosphor at a predetermined position on the mounting table 51 so that the ribs are parallel to the arrow Y-Y 'direction (step S1), and uses the keyboard 62 to measure the measuring position and the measuring length. (Step S2), then the keyboard 6
A start command is input from 2 (step S3).

【0033】それによって、変位計54の基板21から
の距離が調整される共に、変位計54が設定された計測
位置まで移動する(ステップS4)。そして、変位計5
4は設定された長さだけ矢印X又はX’方向にリブを横
切って一定速度で移動して基板を走査する。
As a result, the distance of the displacement gauge 54 from the substrate 21 is adjusted and the displacement gauge 54 moves to the set measurement position (step S4). And displacement meter 5
4 scans the substrate while moving at a constant speed across the rib in the direction of arrow X or X'for a set length.

【0034】この時、変位計54の出力信号は、マイク
ロコンピュータ61のRAMに格納される(ステップS
5)。ステップS2で設定されたすべての位置について
ステップS4とステップS5の工程が実行される(ステ
ップS6)。
At this time, the output signal of the displacement meter 54 is stored in the RAM of the microcomputer 61 (step S
5). The steps S4 and S5 are executed for all the positions set in step S2 (step S6).

【0035】次に、作業者は、基板21を載置台51か
ら搬出し(ステップS7)、蛍光体の塗布および焼成工
程を実行し(ステップS9)、その後、基板21を再び
載置台51の所定位置に固定する(ステップS10)。
そして、ステップS4〜S7の工程が実行されると、各
計測データがマイクロコンピュータ61で処理され、C
RT64に表示される。
Next, the worker carries out the substrate 21 from the mounting table 51 (step S7), executes the phosphor coating and baking process (step S9), and then again places the substrate 21 on the mounting table 51 in a predetermined manner. The position is fixed (step S10).
Then, when the steps S4 to S7 are executed, each measurement data is processed by the microcomputer 61, and C
Displayed on RT64.

【0036】図8はその表示例を示す。図8の(A)
は、蛍光体塗布前の基板21の所定部位についての測定
データから得られたプロファイルであり、高い山はリブ
29の断面形状を、低い山は電極22の断面形状を表し
ている。
FIG. 8 shows an example of the display. FIG. 8A
Is a profile obtained from the measurement data of a predetermined portion of the substrate 21 before phosphor coating, where the high peaks represent the cross-sectional shape of the rib 29 and the low peaks represent the cross-sectional shape of the electrode 22.

【0037】図8の(B)は、蛍光体塗布後の基板21
の同一部位についての測定データから得られたプロファ
イルである。図8の(C)は、(A)と(B)のプロフ
ァイルを重ね合わせたものである。これによって、蛍光
体層の断面が図8の(C)におけるハッチング部分とし
て得られるので、その形状から蛍光体の厚さ、塗布領域
や塗布精度などを評価することができる。
FIG. 8B shows the substrate 21 after the phosphor is applied.
It is the profile obtained from the measurement data about the same site of. FIG. 8C shows the profiles of FIGS. 8A and 8B superimposed on each other. As a result, the cross section of the phosphor layer is obtained as the hatched portion in FIG. 8C, so that the thickness of the phosphor, the coating region, the coating accuracy, and the like can be evaluated from the shape.

【0038】実施例(2) 図9および図10は、実施例(2)に用いる評価装置の
側面図および正面図である。これらの図において基板2
1を載置するための載置台151は、モータ152aに
よって矢印Y−Y’方向に移動するY軸摺動装置152
に搭載され、Y軸摺動装置152はモータ153aによ
って矢印X−X’方向に移動するX軸摺動装置153に
搭載されている。また、光検出器154と光源157
は、モータ155aによって矢印Z−Z’方向に移動す
るZ軸摺動装置55に支持アーム56を介して固定され
ている。
Example (2) FIGS. 9 and 10 are a side view and a front view of an evaluation apparatus used in Example (2). Substrate 2 in these figures
The mounting table 151 for mounting 1 is a Y-axis sliding device 152 that is moved in the direction of arrow YY 'by a motor 152a.
The Y-axis sliding device 152 is mounted on the X-axis sliding device 153 that is moved by the motor 153a in the arrow XX 'direction. In addition, the photodetector 154 and the light source 157
Are fixed via a support arm 56 to a Z-axis sliding device 55 that moves in the direction of arrow ZZ 'by a motor 155a.

【0039】なお、光源157は、紫外線の光ビームを
照射するレーザダイオードと、その光ビームを基板上に
収束させるレンズを内蔵する。光検出器154は、R用
フォトダイオード154r,G用フォトダイオード15
4g,およびB用フォトダイオード154b(図11参
照)からなり、光源157の光ビームで励起されたR蛍
光体,G蛍光体,B蛍光体からの励起光をそれぞれ検出
するようになっている。
The light source 157 has a built-in laser diode for irradiating an ultraviolet light beam and a lens for converging the light beam on the substrate. The photodetector 154 includes an R photodiode 154r and a G photodiode 15
4g, and a B photodiode 154b (see FIG. 11), each of which detects the excitation light from the R phosphor, G phosphor, and B phosphor excited by the light beam of the light source 157.

【0040】図11は、実施例(2)に用いる制御装置
のブロック図であり、CPU,ROM,RAM,I/O
ポートを内蔵するマイクロコンピュータ161は、各種
測定条件を設定するためのキーボード162と光検出器
154からの出力を受けてデータ処理を行い、モータ1
52a,153a,155aを駆動すると共に、CRT
163に画像や数値を出力するようになっている。
FIG. 11 is a block diagram of a control device used in the embodiment (2), which includes a CPU, a ROM, a RAM and an I / O.
The microcomputer 161 having a built-in port receives the outputs from the keyboard 162 for setting various measurement conditions and the photodetector 154, processes the data, and outputs the data to the motor 1
52a, 153a, 155a are driven, and CRT
Images and numerical values are output to 163.

【0041】この装置を用いた蛍光体塗布状態の評価方
法を図12のフローチャートを用いて説明する。作業者
は、蛍光体塗布前の基板21をリブ29が矢印Y−Y’
方向に平行になるように載置台151の所定位置に固定
し(ステップS21)、キーボード162により、計測
位置と計測長さを設定して(ステップS22)、キーボ
ード162から起動指令を入力する(ステップS2
3)。
A method of evaluating the phosphor coating state using this apparatus will be described with reference to the flowchart of FIG. The operator attaches the ribs 29 to the substrate 21 before applying the phosphor by the arrow YY '.
It is fixed to a predetermined position of the mounting table 151 so as to be parallel to the direction (step S21), the measurement position and the measurement length are set by the keyboard 162 (step S22), and a start command is input from the keyboard 162 (step). S2
3).

【0042】それによって、光検出器154の基板21
からの距離が調整される共に、光検出器154が設定さ
れた計測位置まで移動する(ステップS24)。そし
て、光検出器154は設定された長さだけ矢印X又は
X’方向にリブを横切って一定速度で移動して基板を走
査する。
Thereby, the substrate 21 of the photodetector 154 is
While the distance from is adjusted, the photodetector 154 moves to the set measurement position (step S24). Then, the photodetector 154 scans the substrate by moving at a constant speed across the rib in the direction of the arrow X or X ′ by the set length.

【0043】この時、光検出器154の出力信号は、マ
イクロコンピュータ161のRAMに格納される(ステ
ップS25)。ステップS22で設定されたすべての位
置についてステップS4とステップS5の工程が実行さ
れる(ステップS26)。各計測データは、キーボード
162からの指令に基づいてCRT164に表示され
る。
At this time, the output signal of the photodetector 154 is stored in the RAM of the microcomputer 161 (step S25). The steps S4 and S5 are executed for all the positions set in step S22 (step S26). Each measurement data is displayed on the CRT 164 based on a command from the keyboard 162.

【0044】図13および図14は、その表示例を示
す。これらの図でSr,SgおよびSbは、それぞれR
用フォトダイオード154r,G用フォトダイオード1
54gおよびB用フォトダイオード154bの出力の時
間的変化を示している。
13 and 14 show examples of the display. In these figures, Sr, Sg and Sb are R
Photodiode 154r, G photodiode 1
54g and the output of the B photodiode 154b are shown with time.

【0045】図13の波形が得られた時には、各パルス
が規則正しく配列しているので、リブ間にR,G,B用
の各蛍光体層が正規の幅で、正規のピッチで塗布されて
いると評価される。図14の波形が得られた時には、
(イ)のパルスに(ロ)のパルスが重なり、(ハ)のパ
ルスの幅が短くなっているところから、R用蛍光体にG
用蛍光体が重なって塗布され、B用蛍光体の幅が正規の
幅より狭くなっていると評価される。
When the waveform of FIG. 13 is obtained, since the pulses are regularly arranged, the R, G, and B phosphor layers for R, G, and B are applied with a regular width and a regular pitch between the ribs. It is evaluated as being. When the waveform of FIG. 14 is obtained,
Since the pulse of (b) is overlapped with the pulse of (a) and the width of the pulse of (c) is shortened, G is added to the R phosphor.
The phosphors for B are applied in an overlapping manner, and it is evaluated that the width of the phosphor for B is narrower than the regular width.

【0046】[0046]

【発明の効果】第1の発明によれば、第2物体の塗布前
後における第1物体表面のプロファイルが比較され、塗
布された第2物体の断面形状を非破壊で検査することが
できるので、第1物体表面における第2物体の塗布状態
を容易に能率よく評価することが可能となる。第2の発
明によれば、基板に塗布された蛍光体の重なりや偏りを
蛍光体層の形成直後に簡単に評価することが可能とな
る。
According to the first invention, the profiles of the surface of the first object before and after the application of the second object are compared, and the cross-sectional shape of the applied second object can be inspected nondestructively. It becomes possible to easily and efficiently evaluate the coating state of the second object on the surface of the first object. According to the second aspect of the present invention, it becomes possible to easily evaluate the overlap and deviation of the phosphors applied to the substrate immediately after the formation of the phosphor layer.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係るPDPの製造方法を示す工程図で
ある。
FIG. 1 is a process drawing showing a method for manufacturing a PDP according to the present invention.

【図2】この発明に係るPDPの1つの画素に対応する
部分の断面構造の一例を示す分解斜視図である。
FIG. 2 is an exploded perspective view showing an example of a cross-sectional structure of a portion corresponding to one pixel of the PDP according to the present invention.

【図3】この発明に係る蛍光体層の理想的な形状を示す
要部断面図である。
FIG. 3 is a sectional view of an essential part showing an ideal shape of a phosphor layer according to the present invention.

【図4】実施例(1)の評価装置の側面図である。FIG. 4 is a side view of the evaluation device of Example (1).

【図5】実施例(1)の評価装置の正面図である。FIG. 5 is a front view of the evaluation device of Example (1).

【図6】実施例(1)の制御装置のブロック図である。FIG. 6 is a block diagram of a control device according to an embodiment (1).

【図7】実施例(1)の動作を示すフローチャートであ
る。
FIG. 7 is a flowchart showing the operation of the embodiment (1).

【図8】実施例(1)の表示例を示す説明図である。FIG. 8 is an explanatory diagram showing a display example of the embodiment (1).

【図9】実施例(2)の評価装置の側面図である。FIG. 9 is a side view of the evaluation device of Example (2).

【図10】実施例(2)の評価装置の正面図である。FIG. 10 is a front view of the evaluation device of Example (2).

【図11】実施例(2)の制御装置のブロック図であ
る。
FIG. 11 is a block diagram of a control device according to an embodiment (2).

【図12】実施例(2)の動作を示すフローチャートで
ある。
FIG. 12 is a flowchart showing the operation of the embodiment (2).

【図13】実施例(2)の表示例を示す波形図である。FIG. 13 is a waveform diagram showing a display example of the embodiment (2).

【図14】実施例(2)の表示例を示す波形図である。FIG. 14 is a waveform chart showing a display example of the embodiment (2).

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21 ガラス基板(基板) 22 アドレス電極 29 リブ 28 蛍光体層 28a 蛍光体ペースト 71 角スキージ DESCRIPTION OF SYMBOLS 21 Glass substrate (substrate) 22 Address electrode 29 Rib 28 Phosphor layer 28a Phosphor paste 71 Square squeegee

フロントページの続き (72)発明者 笹尾 弘通 鹿児島県薩摩郡入来町副田5950 株式会社 九州富士通エレクトロニクス内 (72)発明者 中原 裕之 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内 (72)発明者 石田 誠治 鹿児島県薩摩郡入来町副田5950 株式会社 九州富士通エレクトロニクス内Front page continued (72) Inventor Hiromichi Sasao 5950 Soeda Iriki-cho, Satsuma-gun, Kagoshima Prefecture Kyushu Fujitsu Electronics Limited (72) Inventor Hiroyuki Nakahara 4-1-1, Uedachu, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Fujitsu Limited (72) Inventor Seiji Ishida 5950 Soeda, Iriki-cho, Satsuma-gun, Kagoshima Prefecture Kyushu Fujitsu Electronics Limited

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 第1物体の表面の一部に塗布される第2
物体の塗布状態を評価する方法であって、第2物体の塗
布前および塗布後の第1物体の表面を変位計で走査して
塗布前後における第1物体の表面までの距離を計測し、
第2物体の塗布前後において得られた計測データの比較
結果に基づいて第2物体の塗布状態を評価することを特
徴とする物体の塗布状態評価方法。
1. A second coating applied to a part of the surface of the first object.
A method for evaluating the coating state of an object, comprising measuring the distance to the surface of the first object before and after coating by scanning the surface of the first object before and after coating the second object with a displacement meter,
An application state evaluation method for an object, characterized in that the application state of the second object is evaluated based on a comparison result of measurement data obtained before and after application of the second object.
【請求項2】 第1物体が表面に複数の平行なリブを有
する基板からなり、第2物体が蛍光体からなり前記各リ
ブ間に塗布されることを特徴とする請求項1記載の物体
の塗布状態評価方法。
2. The object according to claim 1, wherein the first object is made of a substrate having a plurality of parallel ribs on the surface, and the second object is made of a phosphor and applied between the ribs. Coating state evaluation method.
【請求項3】 基板に塗布される蛍光体の塗布状態を評
価する方法であって、蛍光体塗布後の基板表面を紫外線
で照明した状態で該基板表面を光検出器で走査し、光検
出器から得られる電気信号に基づいて蛍光体の塗布状態
を評価することを特徴とする物体の塗布状態評価方法。
3. A method for evaluating the coating state of a phosphor coated on a substrate, the method comprising: scanning the substrate surface with a photodetector while illuminating the substrate surface with the ultraviolet light after the phosphor coating, and performing photodetection. A coating state evaluation method for an object, comprising: evaluating the coating state of a phosphor based on an electric signal obtained from a container.
【請求項4】 基板が表面に複数の平行なリブを有し、
蛍光体が各リブ間に塗布されることを特徴とする請求項
3記載の物体の塗布状態評価方法。
4. The substrate has a plurality of parallel ribs on its surface,
The method for evaluating the coating state of an object according to claim 3, wherein the phosphor is coated between the ribs.
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