JPH085449A - 衝撃波検出装置および方法，ならびに衝撃波記録器 - Google Patents
衝撃波検出装置および方法，ならびに衝撃波記録器Info
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- JPH085449A JPH085449A JP15967694A JP15967694A JPH085449A JP H085449 A JPH085449 A JP H085449A JP 15967694 A JP15967694 A JP 15967694A JP 15967694 A JP15967694 A JP 15967694A JP H085449 A JPH085449 A JP H085449A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 入力信号に含まれる衝撃波成分を正確に検出
する。 【構成】 振動センサ１からの入力信号（アナログ電気
信号）は，増幅回路２によって増幅される。増幅された
信号は，サンプリング回路３によってディジタル・デー
タに変換され，波形データ・メモリ４に一時的に記憶さ
れる。このディジタル・データは平滑化装置５によって
読出され，平滑化される。平滑化されたデータは，差分
処理装置６によって差分処理される。衝撃波の発生（立
上り）部分の差分の値は，立上り修正装置７によって修
正される。衝撃波判定装置８では，立上り修正装置７に
よって修正された差分の値としきい値とを比較すること
によって，衝撃波の発生時刻が検出される。検出された
衝撃波の発生時刻は衝撃波データ・メモリ10に記憶され
る。
する。 【構成】 振動センサ１からの入力信号（アナログ電気
信号）は，増幅回路２によって増幅される。増幅された
信号は，サンプリング回路３によってディジタル・デー
タに変換され，波形データ・メモリ４に一時的に記憶さ
れる。このディジタル・データは平滑化装置５によって
読出され，平滑化される。平滑化されたデータは，差分
処理装置６によって差分処理される。衝撃波の発生（立
上り）部分の差分の値は，立上り修正装置７によって修
正される。衝撃波判定装置８では，立上り修正装置７に
よって修正された差分の値としきい値とを比較すること
によって，衝撃波の発生時刻が検出される。検出された
衝撃波の発生時刻は衝撃波データ・メモリ10に記憶され
る。
Description
【０００１】
【技術分野】この発明は、衝撃波（物と物とが衝突する
ときに発生する波）を検出する装置および方法，ならび
に検出した衝撃波を記録する衝撃波記録器に関する。
ときに発生する波）を検出する装置および方法，ならび
に検出した衝撃波を記録する衝撃波記録器に関する。
【０００２】
【従来技術】軸受等の機械装置を構成する部品から発生
する衝撃波が，単位時間あたりに何回発生するか等を分
析することによって，その部品が故障しているかどうか
または不良品かどうかを診断（検査）する故障診断装置
または製品検査装置がある。このような故障診断装置ま
たは製品検査装置には，衝撃波が発生した時刻および衝
撃波の発生個数を正確に求めるために，衝撃波検出装置
が備えられている。
する衝撃波が，単位時間あたりに何回発生するか等を分
析することによって，その部品が故障しているかどうか
または不良品かどうかを診断（検査）する故障診断装置
または製品検査装置がある。このような故障診断装置ま
たは製品検査装置には，衝撃波が発生した時刻および衝
撃波の発生個数を正確に求めるために，衝撃波検出装置
が備えられている。
【０００３】従来の衝撃波検出装置は，入力される波形
データに，衝撃波を検出するためのしきい値を一つ設定
し，このしきい値を超える振幅をもった波が存在する
と，その波が衝撃波であると判定していた。または，入
力信号をシュミット・トリガ回路に与え，この回路の出
力信号がハイ・レベルになる部分が衝撃波であると判定
していた。
データに，衝撃波を検出するためのしきい値を一つ設定
し，このしきい値を超える振幅をもった波が存在する
と，その波が衝撃波であると判定していた。または，入
力信号をシュミット・トリガ回路に与え，この回路の出
力信号がハイ・レベルになる部分が衝撃波であると判定
していた。
【０００４】衝撃波検出装置に入力される波形データに
は，スパイク雑音（突発的に生じる時間幅の短い雑
音），高周波雑音（衝撃波よりも周波数の高い雑音）等
が含まれることがある。このようなスパイク雑音や高周
波雑音等がしきい値を超える振幅を持っている場合に，
従来の衝撃波検出装置はこれらの雑音も衝撃波であると
誤認してしまう。また，衝撃波は一般に減衰振動波であ
るが，衝撃波に雑音等が混入することにより，衝撃波の
一部に減衰しない部分（揺らぎ）が生じることもある。
このような揺らぎがしきい値を超える場合には，従来の
衝撃波検出装置は，一つの衝撃波を２つの衝撃波として
誤認するおそれもある。シュミット・トリガ回路を用い
た従来の衝撃波検出装置についても，同様の問題があ
る。
は，スパイク雑音（突発的に生じる時間幅の短い雑
音），高周波雑音（衝撃波よりも周波数の高い雑音）等
が含まれることがある。このようなスパイク雑音や高周
波雑音等がしきい値を超える振幅を持っている場合に，
従来の衝撃波検出装置はこれらの雑音も衝撃波であると
誤認してしまう。また，衝撃波は一般に減衰振動波であ
るが，衝撃波に雑音等が混入することにより，衝撃波の
一部に減衰しない部分（揺らぎ）が生じることもある。
このような揺らぎがしきい値を超える場合には，従来の
衝撃波検出装置は，一つの衝撃波を２つの衝撃波として
誤認するおそれもある。シュミット・トリガ回路を用い
た従来の衝撃波検出装置についても，同様の問題があ
る。
【０００５】また，スパイク雑音や高周波雑音の振幅を
抑えるために入力波形（入力信号）に平滑化処理を施
し，その後に，上述のしきい値またはシュミット・トリ
ガ回路による衝撃波を検出する衝撃波検出装置もある。
しかし，平滑化処理を施すと，衝撃波も平滑化されるの
で，衝撃波そのものが検出できなくなるという問題があ
る。
抑えるために入力波形（入力信号）に平滑化処理を施
し，その後に，上述のしきい値またはシュミット・トリ
ガ回路による衝撃波を検出する衝撃波検出装置もある。
しかし，平滑化処理を施すと，衝撃波も平滑化されるの
で，衝撃波そのものが検出できなくなるという問題があ
る。
【０００６】
【発明の開示】この発明の目的は、入力信号に含まれる
衝撃波成分を正確に検出できる衝撃波検出装置および方
法，ならびに衝撃波記録器を提供することにある。
衝撃波成分を正確に検出できる衝撃波検出装置および方
法，ならびに衝撃波記録器を提供することにある。
【０００７】この発明による衝撃波検出装置は，衝撃波
信号を含むアナログ入力信号を一連のディジタル・デー
タに変換するサンプリング手段，上記サンプリング手段
から得られる一連のディジタル・データを平滑化する平
滑化手段，上記平滑化手段によって平滑化された一連の
ディジタル・データを，その時間的変化を表す一連の変
化率データに変換する変化率算出手段，上記一連の変化
率データのうちの連続する少なくとも２つの変化率デー
タがともにあらかじめ定められた第１のしきい値を最初
に超えた場合，および変化率データが上記第１のしきい
値以下になった後に再び連続する少なくとも２つの変化
率データがともに上記第１のしきい値を超えるごとに，
第１のしきい値を超える部分の変化率データを強調する
処理を行うことにより変化率データを修正する変化率修
正手段，上記変化率修正手段による修正後の変化率デー
タが所与の初期値に設定された第２のしきい値を超えた
場合に，この第２のしきい値を，初期値よりも大きな値
とした後に徐々に減少させていくように設定する第２の
しきい値生成手段，ならびに上記第２のしきい値が初期
値よりも大きな値にされてから徐々に減少していく期間
内に，上記変化率修正手段によって修正された変化率デ
ータが上記第２のしきい値を超えない場合には，上記変
化率データが上記初期値を超えた部分に衝撃波が存在す
ると判断する衝撃波検出手段を備えている。
信号を含むアナログ入力信号を一連のディジタル・デー
タに変換するサンプリング手段，上記サンプリング手段
から得られる一連のディジタル・データを平滑化する平
滑化手段，上記平滑化手段によって平滑化された一連の
ディジタル・データを，その時間的変化を表す一連の変
化率データに変換する変化率算出手段，上記一連の変化
率データのうちの連続する少なくとも２つの変化率デー
タがともにあらかじめ定められた第１のしきい値を最初
に超えた場合，および変化率データが上記第１のしきい
値以下になった後に再び連続する少なくとも２つの変化
率データがともに上記第１のしきい値を超えるごとに，
第１のしきい値を超える部分の変化率データを強調する
処理を行うことにより変化率データを修正する変化率修
正手段，上記変化率修正手段による修正後の変化率デー
タが所与の初期値に設定された第２のしきい値を超えた
場合に，この第２のしきい値を，初期値よりも大きな値
とした後に徐々に減少させていくように設定する第２の
しきい値生成手段，ならびに上記第２のしきい値が初期
値よりも大きな値にされてから徐々に減少していく期間
内に，上記変化率修正手段によって修正された変化率デ
ータが上記第２のしきい値を超えない場合には，上記変
化率データが上記初期値を超えた部分に衝撃波が存在す
ると判断する衝撃波検出手段を備えている。
【０００８】この発明による衝撃波検出方法は，衝撃波
信号を含むアナログ入力信号を一連のディジタル・デー
タに変換し，上記一連のディジタル・データを平滑化
し，上記平滑化された一連のディジタル・データを，そ
の時間的変化を表す一連の変化率データに変換し，上記
一連の変化率データのうちの連続する少なくとも２つの
変化率データがともにあらかじめ定められた第１のしき
い値を最初に超えた場合，および変化率データが上記第
１のしきい値以下になった後に再び連続する少なくとも
２つの変化率データがともに上記第１のしきい値を超え
るごとに，第１のしきい値を超える部分の変化率データ
を強調する処理を行うことにより変化率データを修正
し，上記修正後の変化率データが所与の初期値に設定さ
れた第２のしきい値を超えた場合に，この第２のしきい
値を，初期値よりも大きな値とした後に徐々に減少させ
ていくように設定し，上記第２のしきい値が初期値より
も大きな値にされてから徐々に減少していく期間内に上
記修正後の変化率データが上記第２のしきい値を超えな
い場合には，上記変化率データが上記初期値を超えた部
分に衝撃波が存在すると判断するものである。
信号を含むアナログ入力信号を一連のディジタル・デー
タに変換し，上記一連のディジタル・データを平滑化
し，上記平滑化された一連のディジタル・データを，そ
の時間的変化を表す一連の変化率データに変換し，上記
一連の変化率データのうちの連続する少なくとも２つの
変化率データがともにあらかじめ定められた第１のしき
い値を最初に超えた場合，および変化率データが上記第
１のしきい値以下になった後に再び連続する少なくとも
２つの変化率データがともに上記第１のしきい値を超え
るごとに，第１のしきい値を超える部分の変化率データ
を強調する処理を行うことにより変化率データを修正
し，上記修正後の変化率データが所与の初期値に設定さ
れた第２のしきい値を超えた場合に，この第２のしきい
値を，初期値よりも大きな値とした後に徐々に減少させ
ていくように設定し，上記第２のしきい値が初期値より
も大きな値にされてから徐々に減少していく期間内に上
記修正後の変化率データが上記第２のしきい値を超えな
い場合には，上記変化率データが上記初期値を超えた部
分に衝撃波が存在すると判断するものである。
【０００９】衝撃波を含むアナログ入力信号は，サンプ
リング処理によって一連のディジタル・データに変換さ
れ，その後，平滑化される。これによりアナログ入力信
号に含まれているスパイク雑音，高周波雑音等の雑音成
分が除去され，またはその振幅が小さく抑えられる。
リング処理によって一連のディジタル・データに変換さ
れ，その後，平滑化される。これによりアナログ入力信
号に含まれているスパイク雑音，高周波雑音等の雑音成
分が除去され，またはその振幅が小さく抑えられる。
【００１０】続いて，平滑化された一連のディジタル・
データから，その時間的変化を表す一連の変化率データ
が求められる。変化率には，隣合った２つのディジタル
・データの値の差分，傾き等が含まれる。
データから，その時間的変化を表す一連の変化率データ
が求められる。変化率には，隣合った２つのディジタル
・データの値の差分，傾き等が含まれる。
【００１１】衝撃波は一般に減衰振動波であるので，入
力信号のうちで衝撃波の存在する部分の振幅変化は大き
くなる。したがって，変化率データを求め，この値（ま
たはその絶対値）が大きくなる部分を求めることによっ
て，衝撃波の存在する可能性のある部分を特定すること
ができる。
力信号のうちで衝撃波の存在する部分の振幅変化は大き
くなる。したがって，変化率データを求め，この値（ま
たはその絶対値）が大きくなる部分を求めることによっ
て，衝撃波の存在する可能性のある部分を特定すること
ができる。
【００１２】上記一連の変化率データのうちの連続する
少なくとも２つの変化率データがともにあらかじめ定め
られた第１のしきい値（衝撃波の存在する部分を検出す
るのに適した値）を最初に超えた場合，および変化率デ
ータが第１のしきい値以下になった後に再び連続する少
なくとも２つの変化率データがともに上記第１のしきい
値を超えるごとに，第１のしきい値を超える部分の変化
率データに対して，強調処理が施され，この部分の変化
率データが修正される。強調処理の一方法として，上記
少なくとも２つの連続する変化率データのうちで第１番
目の変化率データに，この第１番目の変化率データに後
続する第２番目の変化率データを加算する方法がある。
少なくとも２つの変化率データがともにあらかじめ定め
られた第１のしきい値（衝撃波の存在する部分を検出す
るのに適した値）を最初に超えた場合，および変化率デ
ータが第１のしきい値以下になった後に再び連続する少
なくとも２つの変化率データがともに上記第１のしきい
値を超えるごとに，第１のしきい値を超える部分の変化
率データに対して，強調処理が施され，この部分の変化
率データが修正される。強調処理の一方法として，上記
少なくとも２つの連続する変化率データのうちで第１番
目の変化率データに，この第１番目の変化率データに後
続する第２番目の変化率データを加算する方法がある。
【００１３】上述したように，変化率データの値の大き
なところには衝撃波が存在する可能性がある。したがっ
て，変化率データが第１のしきい値を超える部分を検出
することによって，衝撃波の存在する可能性のある部分
が検出される。そして，第１のしきい値を超えた部分に
強調処理を施すことによって，衝撃波の存在する部分
（特に衝撃波の立上り部分）がより一層明確にされる。
なところには衝撃波が存在する可能性がある。したがっ
て，変化率データが第１のしきい値を超える部分を検出
することによって，衝撃波の存在する可能性のある部分
が検出される。そして，第１のしきい値を超えた部分に
強調処理を施すことによって，衝撃波の存在する部分
（特に衝撃波の立上り部分）がより一層明確にされる。
【００１４】次に，上記修正後の変化率データが所与の
初期値（修正後の変化率データにおいて衝撃波の立上り
部分を検出するのに適した値）に設定された第２のしき
い値を超えた場合に，この第２のしきい値は，初期値よ
りも大きな値とされた後に徐々に減少していくように設
定される。上記第２のしきい値が初期値よりも大きな値
にされてから徐々に減少していく期間内に，上記変化率
データが上記第２のしきい値を超えない場合には，上記
変化率データが上記初期値を超えた部分に衝撃波が存在
すると判断される。
初期値（修正後の変化率データにおいて衝撃波の立上り
部分を検出するのに適した値）に設定された第２のしき
い値を超えた場合に，この第２のしきい値は，初期値よ
りも大きな値とされた後に徐々に減少していくように設
定される。上記第２のしきい値が初期値よりも大きな値
にされてから徐々に減少していく期間内に，上記変化率
データが上記第２のしきい値を超えない場合には，上記
変化率データが上記初期値を超えた部分に衝撃波が存在
すると判断される。
【００１５】衝撃波が一般に減衰振動波であることか
ら，修正された変化率データの値も衝撃波の発生後次第
に減少していく傾向をもつ。したがって，第２のしきい
値が初期値よりも大きな値とされてから徐々に減少して
いく期間内に，上記修正変化率が上記第２のしきい値を
超えない場合には，その部分に衝撃波が存在する可能性
はきわめて高いと考えることができる。これにより，入
力信号において，このような部分を検出することによっ
て衝撃波を正確に検出することができる。
ら，修正された変化率データの値も衝撃波の発生後次第
に減少していく傾向をもつ。したがって，第２のしきい
値が初期値よりも大きな値とされてから徐々に減少して
いく期間内に，上記修正変化率が上記第２のしきい値を
超えない場合には，その部分に衝撃波が存在する可能性
はきわめて高いと考えることができる。これにより，入
力信号において，このような部分を検出することによっ
て衝撃波を正確に検出することができる。
【００１６】また，修正された変化率データを用いて衝
撃波を検出することにより，衝撃波に含まれる揺らぎの
影響も回避することができ，１つの衝撃波を２つ以上の
別の衝撃波と誤認することも防止できる。
撃波を検出することにより，衝撃波に含まれる揺らぎの
影響も回避することができ，１つの衝撃波を２つ以上の
別の衝撃波と誤認することも防止できる。
【００１７】このようにして，この発明によると，入力
信号に雑音や揺らぎが含まれていても入力信号から衝撃
波の存在する部分を正確に検出することができる。
信号に雑音や揺らぎが含まれていても入力信号から衝撃
波の存在する部分を正確に検出することができる。
【００１８】好ましくは，上記第２のしきい値生成手段
は，上記第２のしきい値の減少を，検出される衝撃波の
上記修正後の変化率データの減衰率に応じて行うもので
ある。修正後の変化率データの減衰率の値は，衝撃波の
伝達する媒体（製品等の部材）および衝撃波に含まれる
揺らぎの大きさを考慮して経験的に求めることができ
る。
は，上記第２のしきい値の減少を，検出される衝撃波の
上記修正後の変化率データの減衰率に応じて行うもので
ある。修正後の変化率データの減衰率の値は，衝撃波の
伝達する媒体（製品等の部材）および衝撃波に含まれる
揺らぎの大きさを考慮して経験的に求めることができ
る。
【００１９】このように，検出すべき衝撃波の修正後の
変化率データの減衰率に応じて，第２のしきい値を減少
させることにより，衝撃波に含まれる揺らぎを別の異な
る衝撃波と誤認する可能性をより一層なくすことがで
き，衝撃波のより正確な検出を行うことができる。
変化率データの減衰率に応じて，第２のしきい値を減少
させることにより，衝撃波に含まれる揺らぎを別の異な
る衝撃波と誤認する可能性をより一層なくすことがで
き，衝撃波のより正確な検出を行うことができる。
【００２０】この発明による衝撃波記録器は，衝撃波信
号を含むアナログ入力信号を一連のディジタル・データ
に変換するサンプリング手段，上記サンプリング手段か
ら得られる一連のディジタル・データを平滑化する平滑
化手段，上記平滑化手段によって平滑化された一連のデ
ィジタル・データを，その時間的変化を表す一連の変化
率データに変換する変化率算出手段，上記一連の変化率
データのうちの連続する少なくとも２つの変化率データ
がともにあらかじめ定められた第１のしきい値を最初に
超えた場合，および変化率データが上記第１のしきい値
以下になった後に再び連続する少なくとも２つの変化率
データがともに上記第１のしきい値を超えるごとに，第
１のしきい値を超える部分の変化率データを強調する処
理を行うことにより変化率データを修正する変化率修正
手段，上記変化率修正手段による修正後の変化率データ
が所与の初期値に設定された第２のしきい値を超えた場
合に，この第２のしきい値を，初期値よりも大きな値と
した後に徐々に減少させていくように設定する第２のし
きい値生成手段，上記第２のしきい値が初期値よりも大
きな値にされてから徐々に減少していく期間内に，上記
変化率修正手段によって修正された変化率データが上記
第２のしきい値を超えない場合には，上記変化率データ
が上記初期値を超えた部分に衝撃波が存在すると判断す
る衝撃波検出手段，ならびに上記検出された衝撃波の発
生時刻を記録する記録手段を備えている。
号を含むアナログ入力信号を一連のディジタル・データ
に変換するサンプリング手段，上記サンプリング手段か
ら得られる一連のディジタル・データを平滑化する平滑
化手段，上記平滑化手段によって平滑化された一連のデ
ィジタル・データを，その時間的変化を表す一連の変化
率データに変換する変化率算出手段，上記一連の変化率
データのうちの連続する少なくとも２つの変化率データ
がともにあらかじめ定められた第１のしきい値を最初に
超えた場合，および変化率データが上記第１のしきい値
以下になった後に再び連続する少なくとも２つの変化率
データがともに上記第１のしきい値を超えるごとに，第
１のしきい値を超える部分の変化率データを強調する処
理を行うことにより変化率データを修正する変化率修正
手段，上記変化率修正手段による修正後の変化率データ
が所与の初期値に設定された第２のしきい値を超えた場
合に，この第２のしきい値を，初期値よりも大きな値と
した後に徐々に減少させていくように設定する第２のし
きい値生成手段，上記第２のしきい値が初期値よりも大
きな値にされてから徐々に減少していく期間内に，上記
変化率修正手段によって修正された変化率データが上記
第２のしきい値を超えない場合には，上記変化率データ
が上記初期値を超えた部分に衝撃波が存在すると判断す
る衝撃波検出手段，ならびに上記検出された衝撃波の発
生時刻を記録する記録手段を備えている。
【００２１】この衝撃波記録器においては，上述の衝撃
波検出装置および方法によって検出された衝撃波の発生
時刻が記録される。衝撃波の発生時刻として，上記修正
後の変化率データの値が第２のしきい値を超えた時点の
時刻等が用いられる。
波検出装置および方法によって検出された衝撃波の発生
時刻が記録される。衝撃波の発生時刻として，上記修正
後の変化率データの値が第２のしきい値を超えた時点の
時刻等が用いられる。
【００２２】この発明によると，衝撃波の発生時刻を自
動的に記録することができる。
動的に記録することができる。
【００２３】
［第１実施例］図１は，衝撃波検出装置の電気的構成を
示すブロック図である。この衝撃波検出装置は，入力す
る信号を実時間で処理して衝撃波を検出する。
示すブロック図である。この衝撃波検出装置は，入力す
る信号を実時間で処理して衝撃波を検出する。
【００２４】振動センサ１は，軸受等の部品（製品）か
ら発生する振動波（物と物とが衝突したときに発生する
衝撃波を含む）を検知し，この振動波をアナログ電気信
号（波の振幅の値が電圧の値）として出力する。この振
動波を表すアナログ電気信号は増幅回路２に与えられ
る。増幅回路２では，振動センサ１から与えられたアナ
ログ電気信号が増幅される。増幅されたアナログ電気信
号は，サンプリング回路（Ａ／Ｄ変換回路等）３に与え
られる。
ら発生する振動波（物と物とが衝突したときに発生する
衝撃波を含む）を検知し，この振動波をアナログ電気信
号（波の振幅の値が電圧の値）として出力する。この振
動波を表すアナログ電気信号は増幅回路２に与えられ
る。増幅回路２では，振動センサ１から与えられたアナ
ログ電気信号が増幅される。増幅されたアナログ電気信
号は，サンプリング回路（Ａ／Ｄ変換回路等）３に与え
られる。
【００２５】図２(A) は，増幅回路２からサンプリング
回路３に与えられるアナログ電気信号の波形図の一例を
示している。
回路３に与えられるアナログ電気信号の波形図の一例を
示している。
【００２６】このアナログ電気信号には，一般に，検出
の対象となる衝撃波のほかに，スパイク雑音，高周波雑
音等が含まれている。スパイク雑音は，突発的に発生す
る時間幅の短い雑音である。高周波雑音は，衝撃波より
も周波数の高い雑音である。一つの衝撃波は，一般に発
生後減衰していく減衰振動波である。この衝撃波に雑音
等が重なることにより，「揺らぎ」が衝撃波の一部に発
生し，一つの衝撃波の一部が減衰しないこともある。
の対象となる衝撃波のほかに，スパイク雑音，高周波雑
音等が含まれている。スパイク雑音は，突発的に発生す
る時間幅の短い雑音である。高周波雑音は，衝撃波より
も周波数の高い雑音である。一つの衝撃波は，一般に発
生後減衰していく減衰振動波である。この衝撃波に雑音
等が重なることにより，「揺らぎ」が衝撃波の一部に発
生し，一つの衝撃波の一部が減衰しないこともある。
【００２７】サンプリング回路３では，増幅回路２から
与えられたアナログ電気信号が，一定の時間間隔（ナイ
キスト間隔1/2f（ｆ：衝撃波の最大周波数）以下の時間
間隔）でサンプリングされ，一連のディジタル・データ
（振幅値）ｘi （ｉ：０以上の整数）に変換される。ま
た，サンプリング回路３は，時計11を参照して，ディジ
タル・データｘi をサンプリングしたときの時刻ｔi を
得る。
与えられたアナログ電気信号が，一定の時間間隔（ナイ
キスト間隔1/2f（ｆ：衝撃波の最大周波数）以下の時間
間隔）でサンプリングされ，一連のディジタル・データ
（振幅値）ｘi （ｉ：０以上の整数）に変換される。ま
た，サンプリング回路３は，時計11を参照して，ディジ
タル・データｘi をサンプリングしたときの時刻ｔi を
得る。
【００２８】これらのディジタル・データｘi および時
刻ｔi の組（以下「ディジタル波形データ」という）が
サンプリング回路３から出力され，波形データ・メモリ
（ＤＲＡＭ，ＳＲＡＭ等）４に一時的に記憶される。
刻ｔi の組（以下「ディジタル波形データ」という）が
サンプリング回路３から出力され，波形データ・メモリ
（ＤＲＡＭ，ＳＲＡＭ等）４に一時的に記憶される。
【００２９】波形データ・メモリ４に記憶されるディジ
タル波形データを以下に示す。
タル波形データを以下に示す。
【００３０】［ディジタル波形データ］＝｛（ｘ0，
ｔ0），（ｘ1，ｔ1），…（ｘi，ｔi），…｝
ｔ0），（ｘ1，ｔ1），…（ｘi，ｔi），…｝
【００３１】波形データ・メモリ４に記憶されたディジ
タル波形データは，平滑化装置５によって読み出され
る。読み出されたディジタル波形データには，平滑化処
理が施される。
タル波形データは，平滑化装置５によって読み出され
る。読み出されたディジタル波形データには，平滑化処
理が施される。
【００３２】まず，平滑化装置５は，あらかじめ定めら
れた個数（以下「平均幅」という）（ｗ個とする）のデ
ィジタル波形データ（ｘ0 ，ｔ0 ）〜（ｘw-1 ，ｔ
w-1 ）が波形データ・メモリ４に記憶されるのを待つ。
これらのｗ個のデータが記憶されると，平滑化装置５
は，ｗ個のデータを読み出し，データの振幅値ｘ0 〜ｘ
w-1のそれぞれの絶対値を求める。続いて，平滑化装置
５は，それらの絶対値の総和を算出し，算出した総和を
平均幅ｗで割ることにより，ディジタル波形データを平
滑化する。
れた個数（以下「平均幅」という）（ｗ個とする）のデ
ィジタル波形データ（ｘ0 ，ｔ0 ）〜（ｘw-1 ，ｔ
w-1 ）が波形データ・メモリ４に記憶されるのを待つ。
これらのｗ個のデータが記憶されると，平滑化装置５
は，ｗ個のデータを読み出し，データの振幅値ｘ0 〜ｘ
w-1のそれぞれの絶対値を求める。続いて，平滑化装置
５は，それらの絶対値の総和を算出し，算出した総和を
平均幅ｗで割ることにより，ディジタル波形データを平
滑化する。
【００３３】平均幅ｗの値として，スパイク雑音，高周
波雑音等の雑音成分の振幅を衝撃波の振幅よりも小さく
抑えるのに適した値が用いられる。平均幅ｗは，サンプ
リング回路３のサンプリング間隔ならびに衝撃波および
雑音の周波数等に基づいて決定される。
波雑音等の雑音成分の振幅を衝撃波の振幅よりも小さく
抑えるのに適した値が用いられる。平均幅ｗは，サンプ
リング回路３のサンプリング間隔ならびに衝撃波および
雑音の周波数等に基づいて決定される。
【００３４】続いて，平滑化装置５は，あらかじめ定め
られた個数（以下「シフト量」という）（ｓ個とする；
ｓ≦ｗ）のディジタル波形データをシフトさせた（ｘ
s ，ｔs ）〜（ｘs+w-1 ，ｔs+w-1 ）のｗ個のデータが
波形データ・メモリ４に記憶されるのを待つ。これらの
ｗ個のデータが記憶されると，平滑化装置５は，ｗ個の
データを読み出し，これらのデータに対して上記と同様
の平滑化処理を施す。
られた個数（以下「シフト量」という）（ｓ個とする；
ｓ≦ｗ）のディジタル波形データをシフトさせた（ｘ
s ，ｔs ）〜（ｘs+w-1 ，ｔs+w-1 ）のｗ個のデータが
波形データ・メモリ４に記憶されるのを待つ。これらの
ｗ個のデータが記憶されると，平滑化装置５は，ｗ個の
データを読み出し，これらのデータに対して上記と同様
の平滑化処理を施す。
【００３５】シフト量ｓの値としては，衝撃波の立上り
部分（発生部分）が明確に現れるのに適した値が用いら
れる。
部分（発生部分）が明確に現れるのに適した値が用いら
れる。
【００３６】このような処理が，波形データ・メモリ４
に記憶されたディジタル波形データに対して繰り返し行
われる。
に記憶されたディジタル波形データに対して繰り返し行
われる。
【００３７】平均幅ｗおよびシフト量ｓは，平滑化装置
５にあらかじめ設定されていてもよいし，衝撃波検出処
理を行うごとに入力装置（図示略）を用いて平滑化装置
５に設定することもできる。
５にあらかじめ設定されていてもよいし，衝撃波検出処
理を行うごとに入力装置（図示略）を用いて平滑化装置
５に設定することもできる。
【００３８】平滑化処理されたディジタル波形データ
（以下「平滑化波形データ」という）の振幅値（絶対
値）をｙj ，振幅値ｙj に対応する時刻をτj （ｊ：０
以上の整数）とそれぞれすると，振幅値ｙj および時刻
τj は次式(1) および(2) によってそれぞれ求められ
る。
（以下「平滑化波形データ」という）の振幅値（絶対
値）をｙj ，振幅値ｙj に対応する時刻をτj （ｊ：０
以上の整数）とそれぞれすると，振幅値ｙj および時刻
τj は次式(1) および(2) によってそれぞれ求められ
る。
【００３９】 ｙj ＝(｜ｘi・s｜+｜ｘi・s+1｜+…+｜ｘi・s+w-1｜)/ｗ ；ｊ＝ｉ …(1) τj ＝(ｔi・s+ｔi・s+w-1)／２ ；ｊ＝ｉ …(2)
【００４０】平滑化波形データは，以下に示すように振
幅値ｙj および時刻τj の組からなる。
幅値ｙj および時刻τj の組からなる。
【００４１】［平滑化波形データ］＝｛（ｙ0，τ0），
（ｙ1，τ1），…（ｙj，τj），…｝
（ｙ1，τ1），…（ｙj，τj），…｝
【００４２】図２(B) は，図２(A) に示す入力波形をサ
ンプリングすることにより得られたディジタル波形デー
タに平滑化処理を施した平滑化波形データの波形図を示
している。
ンプリングすることにより得られたディジタル波形デー
タに平滑化処理を施した平滑化波形データの波形図を示
している。
【００４３】この平滑化処理によって，ディジタル波形
データに含まれる高周波雑音，スパイク雑音等の雑音成
分が除去され，またはその振幅値が小さく抑えられる。
データに含まれる高周波雑音，スパイク雑音等の雑音成
分が除去され，またはその振幅値が小さく抑えられる。
【００４４】平滑化波形データは，平滑化装置５から差
分処理装置６に与えられる。差分処理装置６において
は，隣合った２つの平滑化波形データの振幅値の差分が
求められる。
分処理装置６に与えられる。差分処理装置６において
は，隣合った２つの平滑化波形データの振幅値の差分が
求められる。
【００４５】時刻τi における振幅値の差分の値をｚi
とすると，ｚi （ｉ＝０〜n-1 ）は次式(3) および(4)
により求められる。
とすると，ｚi （ｉ＝０〜n-1 ）は次式(3) および(4)
により求められる。
【００４６】 ｚ0＝０ ；ｊ＝０ …(3) ｚj＝ｙj−ｙj-1 ；ｊ≧１ …(4)
【００４７】差分処理された平滑化波形データ（以下
「差分波形データ」という）は，以下に示すように差分
値ｚi および時刻τi の組からなる。
「差分波形データ」という）は，以下に示すように差分
値ｚi および時刻τi の組からなる。
【００４８】［差分波形データ］＝｛（ｚ0，τ0），
（ｚ1，τ1），…（ｚj，τj），…｝
（ｚ1，τ1），…（ｚj，τj），…｝
【００４９】衝撃波の存在する部分は振幅変化が大き
く，差分の値（またはその絶対値）が大きくなる。した
がって，このような差分処理を行い，差分の値（または
その絶対値）が大きい部分を検出することにより，衝撃
波の存在する可能性のある部分を特定することができ
る。
く，差分の値（またはその絶対値）が大きくなる。した
がって，このような差分処理を行い，差分の値（または
その絶対値）が大きい部分を検出することにより，衝撃
波の存在する可能性のある部分を特定することができ
る。
【００５０】図２(C) は，図２(B) に示す平滑化波形デ
ータに差分処理を施した差分波形データの波形図を示し
ている。上述したように，衝撃波の存在する部分では，
差分の値（またはその絶対値）が大きくなっている。
ータに差分処理を施した差分波形データの波形図を示し
ている。上述したように，衝撃波の存在する部分では，
差分の値（またはその絶対値）が大きくなっている。
【００５１】差分波形データは，差分処理装置６から立
上り修正装置７に与えられる。
上り修正装置７に与えられる。
【００５２】立上り修正装置７では，差分波形データの
差分値ｚj が修正され，修正差分値（Ｚj とする）が求
められる。
差分値ｚj が修正され，修正差分値（Ｚj とする）が求
められる。
【００５３】図３(A) は，差分値ｚj の修正の様子を示
している。しきい値θd は，衝撃波の立上り部分を検出
するためのものである。このしきい値θd として，衝撃
波の立上り部分（発生時点）を検出するのに適した値が
用いられる。
している。しきい値θd は，衝撃波の立上り部分を検出
するためのものである。このしきい値θd として，衝撃
波の立上り部分（発生時点）を検出するのに適した値が
用いられる。
【００５４】連続する少なくとも２つの差分値（図３
(A) ではｚ3 とｚ4 ）がともにしきい値θd を超える場
合には，これらの少なくとも２つの連続する差分値のう
ちの第１番目のもの（ｚ3 ）にこれに後続する第２番目
のもの（ｚ4 ）が加算される（Ｚ3 ＝ｚ3 ＋ｚ4 ）。ま
た，その後，差分値がしきい値θd 以下になった後に再
び連続する少なくとも２つの差分値がともにしきい値θ
d を超えるごとに，これらの少なくとも２つの連続する
差分値のうちの第１番目のものにこれに後続する第２番
目のものが加算される。このようにして，差分値ｚj の
修正が行われ，修正差分値Ｚj が求められる。
(A) ではｚ3 とｚ4 ）がともにしきい値θd を超える場
合には，これらの少なくとも２つの連続する差分値のう
ちの第１番目のもの（ｚ3 ）にこれに後続する第２番目
のもの（ｚ4 ）が加算される（Ｚ3 ＝ｚ3 ＋ｚ4 ）。ま
た，その後，差分値がしきい値θd 以下になった後に再
び連続する少なくとも２つの差分値がともにしきい値θ
d を超えるごとに，これらの少なくとも２つの連続する
差分値のうちの第１番目のものにこれに後続する第２番
目のものが加算される。このようにして，差分値ｚj の
修正が行われ，修正差分値Ｚj が求められる。
【００５５】図５〜図９は，この差分値の修正の詳細な
処理の流れを示すフローチャートである。
処理の流れを示すフローチャートである。
【００５６】まず，差分波形データの差分値ｚ0 （ステ
ップ101 ）から順番にｚ1 ，ｚ2 ，…ｚj ，…と，差分
値としきい値θd とが比較される（ステップ102 ）。
ップ101 ）から順番にｚ1 ，ｚ2 ，…ｚj ，…と，差分
値としきい値θd とが比較される（ステップ102 ）。
【００５７】比較の結果，差分値ｚj がしきい値θd 以
下の場合には（ステップ102 でNO），修正差分値Ｚj は
差分値ｚj の値（Ｚj ＝ｚj ）とされる（図６のステッ
プ109 ）。続いて，ｚj が最後のデータでない場合には
（ステップ110 でNO），ｊの値が１増加させられ（ステ
ップ111 ），次の差分波形データの処理が行われる（図
５のステップ102 以降の処理）。
下の場合には（ステップ102 でNO），修正差分値Ｚj は
差分値ｚj の値（Ｚj ＝ｚj ）とされる（図６のステッ
プ109 ）。続いて，ｚj が最後のデータでない場合には
（ステップ110 でNO），ｊの値が１増加させられ（ステ
ップ111 ），次の差分波形データの処理が行われる（図
５のステップ102 以降の処理）。
【００５８】差分値ｚj が初めてしきい値θd より大き
くなり（ステップ102 でYES ），それに続く差分値ｚ
j+1 もしきい値θd より大きい場合には（ステップ103
でNO，ステップ104 でYES ），修正差分値Ｚi は，時間
的に先行する差分値ｚj にそれに続く次の差分値ｚj+1
を加えた値（Ｚj ＝ｚj ＋ｚj+1 ）とされる（ステップ
105 ）。これに続く修正差分値Ｚj+1 は，差分値ｚj+1
の値（Ｚj+1 ＝ｚj+1 ）にされる（ステップ106 ）。続
いて，ｊの値が２増加させられ（ステップ107 でNO，ス
テップ108 ），次の差分波形データの処理が行われる。
くなり（ステップ102 でYES ），それに続く差分値ｚ
j+1 もしきい値θd より大きい場合には（ステップ103
でNO，ステップ104 でYES ），修正差分値Ｚi は，時間
的に先行する差分値ｚj にそれに続く次の差分値ｚj+1
を加えた値（Ｚj ＝ｚj ＋ｚj+1 ）とされる（ステップ
105 ）。これに続く修正差分値Ｚj+1 は，差分値ｚj+1
の値（Ｚj+1 ＝ｚj+1 ）にされる（ステップ106 ）。続
いて，ｊの値が２増加させられ（ステップ107 でNO，ス
テップ108 ），次の差分波形データの処理が行われる。
【００５９】次の差分波形データの差分値ｚj がしきい
値θd より大きい場合であって（図９のステップ117 で
NO），しきい値θd 以下の場合であっても（ステップ11
7 でYES ），修正差分値Ｚj は差分値ｚj の値（Ｚj ＝
ｚj ）とされる（ステップ118 ，121 ）。すなわち，連
続する少なくとも２つ以上の差分値がしきい値θd より
も大きい場合に，第１番目の差分値のみが修正され，第
２番目以降の差分値の修正は行われない。
値θd より大きい場合であって（図９のステップ117 で
NO），しきい値θd 以下の場合であっても（ステップ11
7 でYES ），修正差分値Ｚj は差分値ｚj の値（Ｚj ＝
ｚj ）とされる（ステップ118 ，121 ）。すなわち，連
続する少なくとも２つ以上の差分値がしきい値θd より
も大きい場合に，第１番目の差分値のみが修正され，第
２番目以降の差分値の修正は行われない。
【００６０】差分値ｚj がしきい値θd 以下となった後
に（ステップ117 でYES ），再び連続した少なくとも２
つの差分値ｚj およびｚj+1 がしきい値θd 以上となっ
た場合には（ステップ102 でYES ，ステップ103 でNO，
ステップ104 でYES ），修正差分値Ｚj は，Ｚj ＝ｚj
＋ｚj+1 とされる（ステップ105 ）。
に（ステップ117 でYES ），再び連続した少なくとも２
つの差分値ｚj およびｚj+1 がしきい値θd 以上となっ
た場合には（ステップ102 でYES ，ステップ103 でNO，
ステップ104 でYES ），修正差分値Ｚj は，Ｚj ＝ｚj
＋ｚj+1 とされる（ステップ105 ）。
【００６１】ステップ103 ，107 ，110 および122 のい
ずれか一つで判定がYES となった場合には，差分波形デ
ータの修正処理は終了する。
ずれか一つで判定がYES となった場合には，差分波形デ
ータの修正処理は終了する。
【００６２】修正された差分波形データ（以下「修正差
分波形データ」という）は，以下に示すように修正差分
値Ｚj および時刻τj の組からなる。
分波形データ」という）は，以下に示すように修正差分
値Ｚj および時刻τj の組からなる。
【００６３】［修正差分波形データ］＝｛（Ｚ0，
τ0），（Ｚ1，τ1），…（Ｚj，τj），…｝
τ0），（Ｚ1，τ1），…（Ｚj，τj），…｝
【００６４】連続する少なくとも２つの差分値（変化
率）がしきい値θd 以上となる部分を検出することによ
って，衝撃波の存在する可能性のある部分を特定するこ
とができる。また，この特定された部分に上述の修正処
理を行うことによって，衝撃波の立上り部分の差分値を
揺らぎの部分の差分値よりも大きくすることができ，衝
撃波の立上り部分をより明確にすることができる。
率）がしきい値θd 以上となる部分を検出することによ
って，衝撃波の存在する可能性のある部分を特定するこ
とができる。また，この特定された部分に上述の修正処
理を行うことによって，衝撃波の立上り部分の差分値を
揺らぎの部分の差分値よりも大きくすることができ，衝
撃波の立上り部分をより明確にすることができる。
【００６５】しきい値θd は，立上り修正装置７にあら
かじめ設定しておくこともできるし，衝撃波の検出を行
うごとに入力装置（図示略）によって立上り検出装置７
に設定することもできる。
かじめ設定しておくこともできるし，衝撃波の検出を行
うごとに入力装置（図示略）によって立上り検出装置７
に設定することもできる。
【００６６】修正差分波形データは，立上り修正装置７
から衝撃波判定装置８に与えられる。衝撃波判定装置８
では，入力信号に衝撃波が含まれているかどうかが判定
される。
から衝撃波判定装置８に与えられる。衝撃波判定装置８
では，入力信号に衝撃波が含まれているかどうかが判定
される。
【００６７】図３(B) は，入力信号に含まれる波が衝撃
波かどうかを判定するために設けられたしきい値θw の
変化の様子を示している。しきい値θw は，まず衝撃波
の立上り部分を検出するために，立上り部分を検出する
のに適した初期値θw0（一定値）に設定される。この初
期値θw0の値は，上記修正差分値に基づいて経験的に定
められる。
波かどうかを判定するために設けられたしきい値θw の
変化の様子を示している。しきい値θw は，まず衝撃波
の立上り部分を検出するために，立上り部分を検出する
のに適した初期値θw0（一定値）に設定される。この初
期値θw0の値は，上記修正差分値に基づいて経験的に定
められる。
【００６８】初期値θw0と修正差分値Ｚj とが比較され
る。修正差分値Ｚj （図面ではＺ3）が初期値θw0を超
えると，しきい値θw が，初期値θw0を超えた修正差分
値Ｚ3 に対応する時刻（τ3 ）とこれに続く修正差分値
Ｚ4 に対応する時刻（τ4 ）との間で（図面では時刻Ｔ
1 ；τ3 ＜Ｔ1 ＜τ4 ），初期値θw0から修正差分値Ｚ
3 の値にされる。その後，しきい値θw0は，衝撃波の修
正差分値が減衰する部分を検出するのに適した減衰率
（傾き）αで，初期値θw0に向かって減少させられる。
る。修正差分値Ｚj （図面ではＺ3）が初期値θw0を超
えると，しきい値θw が，初期値θw0を超えた修正差分
値Ｚ3 に対応する時刻（τ3 ）とこれに続く修正差分値
Ｚ4 に対応する時刻（τ4 ）との間で（図面では時刻Ｔ
1 ；τ3 ＜Ｔ1 ＜τ4 ），初期値θw0から修正差分値Ｚ
3 の値にされる。その後，しきい値θw0は，衝撃波の修
正差分値が減衰する部分を検出するのに適した減衰率
（傾き）αで，初期値θw0に向かって減少させられる。
【００６９】しきい値θw が修正差分値Ｚj の値にされ
てから初期値θw0の値に減少するまでに，修正差分値が
しきい値θw を超えない場合には，その部分は衝撃波で
あると判断される。このような処理が，修正差分値が初
期値θw0を超えるごとに行われる。
てから初期値θw0の値に減少するまでに，修正差分値が
しきい値θw を超えない場合には，その部分は衝撃波で
あると判断される。このような処理が，修正差分値が初
期値θw0を超えるごとに行われる。
【００７０】衝撃波は，上述したように，一般に立ち上
がった後に減衰していく減衰振動波である。したがっ
て，衝撃波の差分値および修正差分値も一般に立上がっ
た後に減衰していく傾向をもつ。衝撃波の修正差分値の
減衰率および衝撃波の修正差分値における揺らぎの大き
さは，衝撃波を伝達する媒体（製品の部材）等に基づい
て経験的に求めることができる。したがって，この減衰
率および揺らぎの大きさに基づいて，減衰率αを定める
ことができる。
がった後に減衰していく減衰振動波である。したがっ
て，衝撃波の差分値および修正差分値も一般に立上がっ
た後に減衰していく傾向をもつ。衝撃波の修正差分値の
減衰率および衝撃波の修正差分値における揺らぎの大き
さは，衝撃波を伝達する媒体（製品の部材）等に基づい
て経験的に求めることができる。したがって，この減衰
率および揺らぎの大きさに基づいて，減衰率αを定める
ことができる。
【００７１】減衰率αを定める方法の一つとして，修正
差分値の立上り部分（座標を（Ｚm，τm ）とする）と
揺らぎの部分（座標を（Ｚn ，τn ）とする）の２点間
の傾きにより定める方法がある（以下の式(5) ）。たと
えば，図４では，減衰率αは，２点（Ｚ3 ，τ3 ）およ
び（Ｚ6 ，τ6 ）の間の傾きとなる。
差分値の立上り部分（座標を（Ｚm，τm ）とする）と
揺らぎの部分（座標を（Ｚn ，τn ）とする）の２点間
の傾きにより定める方法がある（以下の式(5) ）。たと
えば，図４では，減衰率αは，２点（Ｚ3 ，τ3 ）およ
び（Ｚ6 ，τ6 ）の間の傾きとなる。
【００７２】 α＝（Ｚn−Ｚm）／（τn−τm） …(5)
【００７３】この式(5) に基づいて減衰率αを決定した
場合には，上述したようにしきい値θw を修正差分値
（Ｚ3 ）に変化させる時刻をＴ1 （τ3 ＜Ｔ1 ＜τ4 ）
とすることによって，揺らぎの差分値（Ｚ6 ）がしきい
値θw を超えないようにすることができ（図３(B) ），
揺らぎの部分を別の異なる衝撃波と誤認することを防止
できる。
場合には，上述したようにしきい値θw を修正差分値
（Ｚ3 ）に変化させる時刻をＴ1 （τ3 ＜Ｔ1 ＜τ4 ）
とすることによって，揺らぎの差分値（Ｚ6 ）がしきい
値θw を超えないようにすることができ（図３(B) ），
揺らぎの部分を別の異なる衝撃波と誤認することを防止
できる。
【００７４】減衰率αを定める方法として，上記式(5)
のように直線の傾きによって定めるもののほかに，ｎ次
曲線（ｎ≧２）によって定める方法もある。
のように直線の傾きによって定めるもののほかに，ｎ次
曲線（ｎ≧２）によって定める方法もある。
【００７５】図10〜図13は，上述の衝撃波判定処理の詳
細な流れを示すフローチャートである。
細な流れを示すフローチャートである。
【００７６】まず，修正微分波形データの修正差分値Ｚ
0 （ステップ201 ）から順番にＺ1，Ｚ2 ，…Ｚj ，…
と，修正差分値としきい値θw の初期値θw0とが比較さ
れる（ステップ202 ）。
0 （ステップ201 ）から順番にＺ1，Ｚ2 ，…Ｚj ，…
と，修正差分値としきい値θw の初期値θw0とが比較さ
れる（ステップ202 ）。
【００７７】Ｚj ≦θw0の場合には（ステップ202 でN
O），ｊの値が１増加させられ（ステップ209 でNO，ス
テップ210 ），次のデータについても同様に修正差分値
Ｚj と初期値θw0とが比較される（ステップ202 ）。
O），ｊの値が１増加させられ（ステップ209 でNO，ス
テップ210 ），次のデータについても同様に修正差分値
Ｚj と初期値θw0とが比較される（ステップ202 ）。
【００７８】Ｚj ＞θw0の場合には（ステップ202 でYE
S ），修正差分値Ｚj に対応する時刻τj が衝撃波判定
装置８の内部メモリ（ＳＲＡＭ，ＤＲＡＭ等）（図示
略）に一時的に記憶される（ステップ203 ）。
S ），修正差分値Ｚj に対応する時刻τj が衝撃波判定
装置８の内部メモリ（ＳＲＡＭ，ＤＲＡＭ等）（図示
略）に一時的に記憶される（ステップ203 ）。
【００７９】続いて，しきい値θw が，修正差分値Ｚj
（図３(B) ではＺ3 ）にされ，その後，初期値θw0に向
かって減衰率（傾き）αで減少させられる（ステップ20
4 ）。
（図３(B) ではＺ3 ）にされ，その後，初期値θw0に向
かって減衰率（傾き）αで減少させられる（ステップ20
4 ）。
【００８０】しきい値θw が修正差分値Ｚj にされる時
刻Ｔ1 は時刻τj （図３(B) ではτ3 ）より大きく，τ
j+1 （τ4 ）よりも小さい任意の値である（τi ＜Ｔ1
＜τj+1 ）。
刻Ｔ1 は時刻τj （図３(B) ではτ3 ）より大きく，τ
j+1 （τ4 ）よりも小さい任意の値である（τi ＜Ｔ1
＜τj+1 ）。
【００８１】続いて，ｊの値が１増加させられ（ステッ
プ205 でNO，ステップ206 ），次のデータの処理が行わ
れる。次のデータの時刻τj においてしきい値θw が初
期値θw0に戻っていない場合には（ステップ207 でN
O），修正差分値Ｚj と時刻τjにおけるしきい値θw と
が比較される（ステップ208 ）。
プ205 でNO，ステップ206 ），次のデータの処理が行わ
れる。次のデータの時刻τj においてしきい値θw が初
期値θw0に戻っていない場合には（ステップ207 でN
O），修正差分値Ｚj と時刻τjにおけるしきい値θw と
が比較される（ステップ208 ）。
【００８２】比較の結果，修正差分値Ｚj が時刻τj に
おけるしきい値θw よりも小さい場合には（ステップ20
8 でYES ），次のデータについてもステップ207 および
208の処理が行われる（ステップ205 でNO，ステップ206
）。
おけるしきい値θw よりも小さい場合には（ステップ20
8 でYES ），次のデータについてもステップ207 および
208の処理が行われる（ステップ205 でNO，ステップ206
）。
【００８３】ステップ207 における判定がYES となった
場合には，ステップ203 において衝撃波判定装置８の内
部メモリに記憶された時刻τj は，衝撃波の発生時刻で
あると判断され，この時刻τj は衝撃波データ・メモリ
（ＳＲＡＭ，ＤＲＡＭ等）10に記憶される（ステップ21
1 ）。続いて，衝撃波判定装置８の内部メモリがクリア
され，この内部メモリに記憶された時刻τj が消去され
る（ステップ212 ）。すなわち，しきい値θw が修正差
分値Ｚj にされてから初期値θw0に戻るまでの間に，修
正差分値がしきい値θw を超えなかった場合には，ステ
ップ203 において内部メモリに記憶された時刻τj が衝
撃波の発生時刻であると判断され，この発生時刻が衝撃
波データ・メモリ10に記憶される。
場合には，ステップ203 において衝撃波判定装置８の内
部メモリに記憶された時刻τj は，衝撃波の発生時刻で
あると判断され，この時刻τj は衝撃波データ・メモリ
（ＳＲＡＭ，ＤＲＡＭ等）10に記憶される（ステップ21
1 ）。続いて，衝撃波判定装置８の内部メモリがクリア
され，この内部メモリに記憶された時刻τj が消去され
る（ステップ212 ）。すなわち，しきい値θw が修正差
分値Ｚj にされてから初期値θw0に戻るまでの間に，修
正差分値がしきい値θw を超えなかった場合には，ステ
ップ203 において内部メモリに記憶された時刻τj が衝
撃波の発生時刻であると判断され，この発生時刻が衝撃
波データ・メモリ10に記憶される。
【００８４】続いて，ｊの値が１増加させられ，次のデ
ータについてステップ202 からの処理が行われる（ステ
ップ209 でNO，ステップ210 ）。
ータについてステップ202 からの処理が行われる（ステ
ップ209 でNO，ステップ210 ）。
【００８５】しきい値θw が修正差分値Ｚj にされてか
ら初期値θw0に戻るまでの間に，修正差分値Ｚj がしき
い値θw を超えた場合には（ステップ208 でNO），衝撃
波判定装置８の内部メモリはクリアされ，この内部メモ
リに記憶された時刻τj は消去される（ステップ213
）。すなわち，この場合には，内部メモリに記憶され
た時刻τj は衝撃波の発生時刻でないと判断され，この
内部メモリに記憶された時刻は衝撃波データ・メモリ10
に記憶されない。
ら初期値θw0に戻るまでの間に，修正差分値Ｚj がしき
い値θw を超えた場合には（ステップ208 でNO），衝撃
波判定装置８の内部メモリはクリアされ，この内部メモ
リに記憶された時刻τj は消去される（ステップ213
）。すなわち，この場合には，内部メモリに記憶され
た時刻τj は衝撃波の発生時刻でないと判断され，この
内部メモリに記憶された時刻は衝撃波データ・メモリ10
に記憶されない。
【００８６】続いて，しきい値θw が初期値θw0に戻る
まで，修正差分データがスキップされる（処理を受けず
に飛ばされる）（ステップ214 〜216 ）。
まで，修正差分データがスキップされる（処理を受けず
に飛ばされる）（ステップ214 〜216 ）。
【００８７】しきい値θw が初期値θw0に戻ると（ステ
ップ216 でYES ），再びステップ202 からの処理が繰り
返され，衝撃波の発生時刻の検出が行われる。
ップ216 でYES ），再びステップ202 からの処理が繰り
返され，衝撃波の発生時刻の検出が行われる。
【００８８】ステップ205 ，209 および214 のいずれか
一つにおいて，判定がYES となった場合には，全ての修
正差分波形データの処理が終了したことになるので，衝
撃波の判定処理は終了する。
一つにおいて，判定がYES となった場合には，全ての修
正差分波形データの処理が終了したことになるので，衝
撃波の判定処理は終了する。
【００８９】このように検知しきい値θw を，衝撃波の
立上り部分の修正微分データＺj から初期値θw0にまで
減少させることによって，衝撃波の存在する部分を正確
に検出することができる。また，衝撃波に含まれる揺ら
ぎを別の衝撃波と誤認することを回避できる。
立上り部分の修正微分データＺj から初期値θw0にまで
減少させることによって，衝撃波の存在する部分を正確
に検出することができる。また，衝撃波に含まれる揺ら
ぎを別の衝撃波と誤認することを回避できる。
【００９０】しきい値θw の初期値θw0は，上記立上り
修正装置７のしきい値θd と同じ値にすることもでき
る。また，この初期値θw0は，衝撃波判定装置８にあら
かじめ設定されていてもよいし，衝撃波の検出処置を行
うごとに，入力装置（図示略）によって設定することも
できる。
修正装置７のしきい値θd と同じ値にすることもでき
る。また，この初期値θw0は，衝撃波判定装置８にあら
かじめ設定されていてもよいし，衝撃波の検出処置を行
うごとに，入力装置（図示略）によって設定することも
できる。
【００９１】減衰率αも，衝撃波判定装置８にあらかじ
め設定しておくこともできるし，衝撃波の検出を行うご
とに入力装置（図示略）によって衝撃波判定装置８に設
定することもできる。また，衝撃波の中には振幅の大き
なものと小さなものがあるが，衝撃波を伝達する媒体が
同じであれば衝撃波の大小（振幅の大小）に関わらず減
衰率αは同じである。したがって，一つの減衰率αを設
定しておくことによって，振幅の大きな衝撃波も小さな
衝撃波も検出することができる。
め設定しておくこともできるし，衝撃波の検出を行うご
とに入力装置（図示略）によって衝撃波判定装置８に設
定することもできる。また，衝撃波の中には振幅の大き
なものと小さなものがあるが，衝撃波を伝達する媒体が
同じであれば衝撃波の大小（振幅の大小）に関わらず減
衰率αは同じである。したがって，一つの減衰率αを設
定しておくことによって，振幅の大きな衝撃波も小さな
衝撃波も検出することができる。
【００９２】このようにして，この衝撃波検出装置によ
って，衝撃波の発生時刻を正確に検出することができ
る。また，衝撃波データ・メモリ10に記憶されている衝
撃波の発生時刻の個数をカウントすることによって，衝
撃波の発生個数を知ることもできる。
って，衝撃波の発生時刻を正確に検出することができ
る。また，衝撃波データ・メモリ10に記憶されている衝
撃波の発生時刻の個数をカウントすることによって，衝
撃波の発生個数を知ることもできる。
【００９３】この衝撃波検出装置において，波形データ
・メモリ４，平滑化装置５，差分処理装置６，立上り修
正装置７，衝撃波判定装置８および衝撃波データ・メモ
リ10を，一つのコンピュータ・システム（マイクロコン
ピュータを含む）およびソフトウェアによって実現する
こともできるし，複数台のコンピュータ・システムおよ
びソフトウェアによって実現することもできる。
・メモリ４，平滑化装置５，差分処理装置６，立上り修
正装置７，衝撃波判定装置８および衝撃波データ・メモ
リ10を，一つのコンピュータ・システム（マイクロコン
ピュータを含む）およびソフトウェアによって実現する
こともできるし，複数台のコンピュータ・システムおよ
びソフトウェアによって実現することもできる。
【００９４】上記差分処理装置６においては，差分では
なく，差分の値をさらに時間間隔（τj −τj-1 ）で割
った傾きを求めてもよい。また，上述したような実時間
処理ではなくて，波形データ・メモリ４にディジタル波
形データがすべて記憶されるのを待ってから，上記平滑
化処理，差分処理等を行うこともできる。さらに，増幅
回路２とサンプリング回路３との間にロー・パス・フィ
ルタを置き，このフィルタによってアナログ電気信号に
含まれるスパイク雑音，高周波雑音等を取り除くまたは
低減することもできる。この場合に，平滑化装置５を省
くこともできる。
なく，差分の値をさらに時間間隔（τj −τj-1 ）で割
った傾きを求めてもよい。また，上述したような実時間
処理ではなくて，波形データ・メモリ４にディジタル波
形データがすべて記憶されるのを待ってから，上記平滑
化処理，差分処理等を行うこともできる。さらに，増幅
回路２とサンプリング回路３との間にロー・パス・フィ
ルタを置き，このフィルタによってアナログ電気信号に
含まれるスパイク雑音，高周波雑音等を取り除くまたは
低減することもできる。この場合に，平滑化装置５を省
くこともできる。
【００９５】また，衝撃波データ・メモリ10に，衝撃波
データとして，時刻τ0 ，τ1 ，…τj ，…の各時刻に
対応させて，その時刻が衝撃波の発生時刻であると判断
された場合には１を，発生時刻でないと判断された場合
には０をそれぞれ記憶することもできる。
データとして，時刻τ0 ，τ1 ，…τj ，…の各時刻に
対応させて，その時刻が衝撃波の発生時刻であると判断
された場合には１を，発生時刻でないと判断された場合
には０をそれぞれ記憶することもできる。
【００９６】［第２実施例］図14は，衝撃波検出装置を
搭載した衝撃波記録器の平面図である。図15は，この衝
撃波記録器の内部構造の概略を示す縦断面図である。図
16は，この衝撃波記録器の内部構造の概略を示す横断面
図である。
搭載した衝撃波記録器の平面図である。図15は，この衝
撃波記録器の内部構造の概略を示す縦断面図である。図
16は，この衝撃波記録器の内部構造の概略を示す横断面
図である。
【００９７】この衝撃波記録器には，検査の対象となる
製品（機械等）に取り付けるための取付孔22を有する取
付板21が設けられている。この取付板21には，ケース23
が固定されている。ケース３の内部は，仕切板24によっ
て上下２室に区分されている。
製品（機械等）に取り付けるための取付孔22を有する取
付板21が設けられている。この取付板21には，ケース23
が固定されている。ケース３の内部は，仕切板24によっ
て上下２室に区分されている。
【００９８】ケース３の内部の下室には，電源用電池3
0，この電池30が振動によってはずれたときの電源保証
用コンデンサ25，および振動センサ・ホルダ26に固定さ
れた振動センサ1a〜1cが配設されている。振動センサ1a
は上下方向（ｘ方向）の振動を，振動センサ1bは左右方
向（ｙ方向）の振動を，振動センサ1cは前後方向（ｚ方
向）の振動をそれぞれ検知する。これらの振動センサ1a
〜1cは，導線ケーブル27a 〜27c を介して衝撃波検出装
置40の増幅回路２（後述）に電気的に接続されている。
0，この電池30が振動によってはずれたときの電源保証
用コンデンサ25，および振動センサ・ホルダ26に固定さ
れた振動センサ1a〜1cが配設されている。振動センサ1a
は上下方向（ｘ方向）の振動を，振動センサ1bは左右方
向（ｙ方向）の振動を，振動センサ1cは前後方向（ｚ方
向）の振動をそれぞれ検知する。これらの振動センサ1a
〜1cは，導線ケーブル27a 〜27c を介して衝撃波検出装
置40の増幅回路２（後述）に電気的に接続されている。
【００９９】上室には，衝撃波検出装置40，この装置40
に電源を供給するためのスイッチ37，パラメータを設定
するためのつまみ31，32等が設けられている。
に電源を供給するためのスイッチ37，パラメータを設定
するためのつまみ31，32等が設けられている。
【０１００】電源スイッチ37は，この衝撃波記録器の電
源をオン／オフするスイッチである。開始／停止スイッ
チ28は，衝撃波の検出処理を開始／停止するためのスイ
ッチである。このスイッチ28が「STOP」の位置から「ST
ART 」の位置に切り換えられると，衝撃波検出装置40は
衝撃波の検出を開始する。スイッチ28が「START 」の位
置から「STOP」の位置に切り換えられると，衝撃波検出
装置40は衝撃波の検出を終了する。表示灯29は，スイッ
チ28が「START 」の位置にあるときに点灯し，衝撃波の
検出が行われていることを示す。
源をオン／オフするスイッチである。開始／停止スイッ
チ28は，衝撃波の検出処理を開始／停止するためのスイ
ッチである。このスイッチ28が「STOP」の位置から「ST
ART 」の位置に切り換えられると，衝撃波検出装置40は
衝撃波の検出を開始する。スイッチ28が「START 」の位
置から「STOP」の位置に切り換えられると，衝撃波検出
装置40は衝撃波の検出を終了する。表示灯29は，スイッ
チ28が「START 」の位置にあるときに点灯し，衝撃波の
検出が行われていることを示す。
【０１０１】設定つまみ31は，衝撃波検出装置40を構成
する立上り修正装置７（後述）のしきい値θd および検
知しきい値発生装置９（後述）の検知しきい値θw の初
期値θw0を設定するためのものである。設定つまみ32
は，検知しきい値発生装置９の減衰率（傾き）αを設定
するためのものである。時刻設定用ダイヤル33は，時計
11（後述）の時刻を設定するものであり，セット・ボタ
ン34を押下することによって，このダイヤル33に設定さ
れた時刻が時計11にセットされる。
する立上り修正装置７（後述）のしきい値θd および検
知しきい値発生装置９（後述）の検知しきい値θw の初
期値θw0を設定するためのものである。設定つまみ32
は，検知しきい値発生装置９の減衰率（傾き）αを設定
するためのものである。時刻設定用ダイヤル33は，時計
11（後述）の時刻を設定するものであり，セット・ボタ
ン34を押下することによって，このダイヤル33に設定さ
れた時刻が時計11にセットされる。
【０１０２】コネクタ38には通信用ケーブルが接続され
る。この通信用ケーブルを介して，衝撃波記録器によっ
て記録された衝撃波データが，コンピュータ等の外部装
置に転送される。送信ボタン35を押下すると，このデー
タ転送が開始される。
る。この通信用ケーブルを介して，衝撃波記録器によっ
て記録された衝撃波データが，コンピュータ等の外部装
置に転送される。送信ボタン35を押下すると，このデー
タ転送が開始される。
【０１０３】消去ボタン36を押すと，衝撃波検出装置40
の衝撃波データ・メモリ10（後述）に記憶されたデータ
が消去される。
の衝撃波データ・メモリ10（後述）に記憶されたデータ
が消去される。
【０１０４】図17は，衝撃波記録器に搭載された衝撃波
検出装置40の電気的構成を示すブロック図である。第１
実施例における図１と同じものには同じ符号が付けられ
ている。
検出装置40の電気的構成を示すブロック図である。第１
実施例における図１と同じものには同じ符号が付けられ
ている。
【０１０５】第１実施例（図１）と異なるところは，コ
ネクタ38からコンピュータ等の外部装置へデータを転送
するための送信装置12が設けられていることである。ま
た，増幅回路２，サンプリング回路３等がｘ方向からの
振動波，ｙ方向からの振動波およびｚ方向からの振動波
をそれぞれ処理することである。
ネクタ38からコンピュータ等の外部装置へデータを転送
するための送信装置12が設けられていることである。ま
た，増幅回路２，サンプリング回路３等がｘ方向からの
振動波，ｙ方向からの振動波およびｚ方向からの振動波
をそれぞれ処理することである。
【０１０６】時計11の時刻は，上述したように時刻設定
用ダイヤル33およびセット・ボタン34によってセットさ
れる。立上り修正装置７のしきい値θd および衝撃波判
定装置８のしきい値θw の初期値θw0（θd とθw0には
同じ値が設定される）が設定つまみ31によって設定され
る。また，衝撃波判定装置８には設定つまみ32によって
減衰率αが設定される。
用ダイヤル33およびセット・ボタン34によってセットさ
れる。立上り修正装置７のしきい値θd および衝撃波判
定装置８のしきい値θw の初期値θw0（θd とθw0には
同じ値が設定される）が設定つまみ31によって設定され
る。また，衝撃波判定装置８には設定つまみ32によって
減衰率αが設定される。
【０１０７】ｘ方向の振動センサ1a，ｙ方向の振動セン
サ1bおよびｚ方向の振動センサ1cによってそれぞれ検知
された振動波は，アナログ電気信号として増幅回路２に
それぞれ与えられる。増幅回路２，サンプリング回路
３，平滑化装置５，差分処理装置６，立上り修正装置
７，および衝撃波判定装置８は，上述した第１実施例と
同じ処理を行う。
サ1bおよびｚ方向の振動センサ1cによってそれぞれ検知
された振動波は，アナログ電気信号として増幅回路２に
それぞれ与えられる。増幅回路２，サンプリング回路
３，平滑化装置５，差分処理装置６，立上り修正装置
７，および衝撃波判定装置８は，上述した第１実施例と
同じ処理を行う。
【０１０８】波形データ・メモリ４には，ｘ方向の振動
センサ1aの振動波をサンプリングしたディジタル・デー
タ，ｙ方向の振動センサ1bの振動波をサンプリングした
ディジタル・データ，およびｚ方向の振動センサ1cの振
動波をサンプリングしたディジタル・データがそれぞれ
区別されて記憶される。また，衝撃波データ・メモリ10
には，ｘ方向からの衝撃波の発生時刻，ｙ方向からの衝
撃波の発生時刻，およびｚ方向からの衝撃波の発生時刻
がそれぞれ区別されて記憶される。
センサ1aの振動波をサンプリングしたディジタル・デー
タ，ｙ方向の振動センサ1bの振動波をサンプリングした
ディジタル・データ，およびｚ方向の振動センサ1cの振
動波をサンプリングしたディジタル・データがそれぞれ
区別されて記憶される。また，衝撃波データ・メモリ10
には，ｘ方向からの衝撃波の発生時刻，ｙ方向からの衝
撃波の発生時刻，およびｚ方向からの衝撃波の発生時刻
がそれぞれ区別されて記憶される。
【０１０９】送信ボタン35が押されると，送信装置12
は，衝撃波データ・メモリ10に記憶されているデータ
（衝撃波の発生時刻）を，コネクタ38を介してコンピュ
ータ等の外部の装置に送信する。
は，衝撃波データ・メモリ10に記憶されているデータ
（衝撃波の発生時刻）を，コネクタ38を介してコンピュ
ータ等の外部の装置に送信する。
【０１１０】このように，この衝撃波記録器では，ｘ方
向，ｙ方向およびｚ方向の３方向からの衝撃波をそれぞ
れ記録することができる。また，記録されたデータを外
部の装置に転送することができる。
向，ｙ方向およびｚ方向の３方向からの衝撃波をそれぞ
れ記録することができる。また，記録されたデータを外
部の装置に転送することができる。
【図１】第１実施例における衝撃波検出装置の電気的構
成を示すブロック図である。
成を示すブロック図である。
【図２】(A) は，増幅回路２から出力されるアナログ電
気信号の波形図の一例を示す。(B) は，(A) に示す入力
波形をサンプリングすることにより得られたディジタル
波形データに平滑化処理を施した平滑化波形データの波
形図を示す。(C) は，(B) に示す平滑化波形データに差
分処理を施した差分波形データの波形図を示す。
気信号の波形図の一例を示す。(B) は，(A) に示す入力
波形をサンプリングすることにより得られたディジタル
波形データに平滑化処理を施した平滑化波形データの波
形図を示す。(C) は，(B) に示す平滑化波形データに差
分処理を施した差分波形データの波形図を示す。
【図３】(A) は，差分値に修正の様子を示す。(B) は，
検知しきい値を変化させることによって，修正差分波形
データから衝撃波を検出する様子を示す。
検知しきい値を変化させることによって，修正差分波形
データから衝撃波を検出する様子を示す。
【図４】減衰率αの一例を示す。
【図５】修正差分値Ｚi を求める処理の流れを示すフロ
ーチャートである
ーチャートである
【図６】修正差分値Ｚi を求める処理の流れを示すフロ
ーチャートである
ーチャートである
【図７】修正差分値Ｚi を求める処理の流れを示すフロ
ーチャートである
ーチャートである
【図８】修正差分値Ｚi を求める処理の流れを示すフロ
ーチャートである
ーチャートである
【図９】修正差分値Ｚi を求める処理の流れを示すフロ
ーチャートである
ーチャートである
【図１０】衝撃波判定装置の処理の流れを示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図１１】衝撃波判定装置の処理の流れを示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図１２】衝撃波判定装置の処理の流れを示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図１３】衝撃波判定装置の処理の流れを示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図１４】衝撃波検出装置を搭載した衝撃波記録器の平
面図である。
面図である。
【図１５】衝撃波記録器の内部構造の概略を示す縦断面
図である。
図である。
【図１６】衝撃波記録器の内部構造の概略を示す横断面
図である。
図である。
【図１７】第２実施例における衝撃波検出装置の電気的
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
１，1a，1b，1c 振動センサ ３ サンプリング回路 ５ 平滑化装置 ６ 差分処理装置 ７ 立上り修正装置 ８ 衝撃波判定装置 10 衝撃波データ・メモリ 11 時計
Claims (4)
- 【請求項１】 衝撃波信号を含むアナログ入力信号を一
連のディジタル・データに変換するサンプリング手段，
上記サンプリング手段から得られる一連のディジタル・
データを平滑化する平滑化手段，上記平滑化手段によっ
て平滑化された一連のディジタル・データを，その時間
的変化を表す一連の変化率データに変換する変化率算出
手段，上記一連の変化率データのうちの連続する少なく
とも２つの変化率データがともにあらかじめ定められた
第１のしきい値を最初に超えた場合，および変化率デー
タが上記第１のしきい値以下になった後に再び連続する
少なくとも２つの変化率データがともに上記第１のしき
い値を超えるごとに，第１のしきい値を超える部分の変
化率データを強調する処理を行うことにより変化率デー
タを修正する変化率修正手段，上記変化率修正手段によ
る修正後の変化率データが所与の初期値に設定された第
２のしきい値を超えた場合に，この第２のしきい値を，
初期値よりも大きな値とした後に徐々に減少させていく
ように設定する第２のしきい値生成手段，ならびに上記
第２のしきい値が初期値よりも大きな値にされてから徐
々に減少していく期間内に，上記変化率修正手段によっ
て修正された変化率データが上記第２のしきい値を超え
ない場合には，上記変化率データが上記初期値を超えた
部分に衝撃波が存在すると判断する衝撃波検出手段，を
備えている衝撃波検出装置。 - 【請求項２】 上記第２のしきい値生成手段は，上記第
２のしきい値の減少を，検出される衝撃波の上記修正後
の変化率データの減衰率に応じて行うものである，請求
項１に記載の衝撃波検出装置。 - 【請求項３】 衝撃波信号を含むアナログ入力信号を一
連のディジタル・データに変換し，上記一連のディジタ
ル・データを平滑化し，上記平滑化された一連のディジ
タル・データを，その時間的変化を表す一連の変化率デ
ータに変換し，上記一連の変化率データのうちの連続す
る少なくとも２つの変化率データがともにあらかじめ定
められた第１のしきい値を最初に超えた場合，および変
化率データが上記第１のしきい値以下になった後に再び
連続する少なくとも２つの変化率データがともに上記第
１のしきい値を超えるごとに，第１のしきい値を超える
部分の変化率データを強調する処理を行うことにより変
化率データを修正し，上記修正後の変化率データが所与
の初期値に設定された第２のしきい値を超えた場合に，
この第２のしきい値を，初期値よりも大きな値とした後
に徐々に減少させていくように設定し，上記第２のしき
い値が初期値よりも大きな値にされてから徐々に減少し
ていく期間内に上記修正後の変化率データが上記第２の
しきい値を超えない場合には，上記変化率データが上記
初期値を超えた部分に衝撃波が存在すると判断する，衝
撃波検出方法。 - 【請求項４】 衝撃波信号を含むアナログ入力信号を一
連のディジタル・データに変換するサンプリング手段，
上記サンプリング手段から得られる一連のディジタル・
データを平滑化する平滑化手段，上記平滑化手段によっ
て平滑化された一連のディジタル・データを，その時間
的変化を表す一連の変化率データに変換する変化率算出
手段，上記一連の変化率データのうちの連続する少なく
とも２つの変化率データがともにあらかじめ定められた
第１のしきい値を最初に超えた場合，および変化率デー
タが上記第１のしきい値以下になった後に再び連続する
少なくとも２つの変化率データがともに上記第１のしき
い値を超えるごとに，第１のしきい値を超える部分の変
化率データを強調する処理を行うことにより変化率デー
タを修正する変化率修正手段，上記変化率修正手段によ
る修正後の変化率データが所与の初期値に設定された第
２のしきい値を超えた場合に，この第２のしきい値を，
初期値よりも大きな値とした後に徐々に減少させていく
ように設定する第２のしきい値生成手段，上記第２のし
きい値が初期値よりも大きな値にされてから徐々に減少
していく期間内に，上記変化率修正手段によって修正さ
れた変化率データが上記第２のしきい値を超えない場合
には，上記変化率データが上記初期値を超えた部分に衝
撃波が存在すると判断する衝撃波検出手段，ならびに上
記検出された衝撃波の発生時刻を記録する記録手段，を
備えている衝撃波記録器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15967694A JPH085449A (ja) | 1994-06-20 | 1994-06-20 | 衝撃波検出装置および方法，ならびに衝撃波記録器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15967694A JPH085449A (ja) | 1994-06-20 | 1994-06-20 | 衝撃波検出装置および方法，ならびに衝撃波記録器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH085449A true JPH085449A (ja) | 1996-01-12 |
Family
ID=15698903
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15967694A Pending JPH085449A (ja) | 1994-06-20 | 1994-06-20 | 衝撃波検出装置および方法，ならびに衝撃波記録器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH085449A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100688301B1 (ko) * | 2004-08-31 | 2007-03-02 | 요코가와 덴키 가부시키가이샤 | Ｉｃ 테스터 |
| JP2008270948A (ja) * | 2007-04-17 | 2008-11-06 | Sharp Corp | 情報端末装置、その装置の制御方法、その装置の制御のプログラム、および、そのプログラムを記録した記録媒体 |
| CN105928609A (zh) * | 2016-05-25 | 2016-09-07 | 国网宁夏电力公司固原供电公司 | Gis设备振动信号检测仪 |
-
1994
- 1994-06-20 JP JP15967694A patent/JPH085449A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100688301B1 (ko) * | 2004-08-31 | 2007-03-02 | 요코가와 덴키 가부시키가이샤 | Ｉｃ 테스터 |
| JP2008270948A (ja) * | 2007-04-17 | 2008-11-06 | Sharp Corp | 情報端末装置、その装置の制御方法、その装置の制御のプログラム、および、そのプログラムを記録した記録媒体 |
| CN105928609A (zh) * | 2016-05-25 | 2016-09-07 | 国网宁夏电力公司固原供电公司 | Gis设备振动信号检测仪 |
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