JPH077245A - Water-soluble resist - Google Patents

Water-soluble resist

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Publication number
JPH077245A
JPH077245A JP14758593A JP14758593A JPH077245A JP H077245 A JPH077245 A JP H077245A JP 14758593 A JP14758593 A JP 14758593A JP 14758593 A JP14758593 A JP 14758593A JP H077245 A JPH077245 A JP H077245A
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JP
Japan
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lead
solder
resist
water
dissolution
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Pending
Application number
JP14758593A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koichi Tsuyama
宏一 津山
Akishi Nakaso
昭士 中祖
Taku Kawaguchi
卓 川口
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Showa Denko Materials Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Chemical Co Ltd filed Critical Hitachi Chemical Co Ltd
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Publication of JPH077245A publication Critical patent/JPH077245A/en
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Abstract

PURPOSE:To prevent precipitation of lead on a board at the time of releasing by incorporating a specific organic material or an ingredient for generating its salt. CONSTITUTION:An organic material or an ingredient for generating its salt to be dissolved or decomposed in release liquid and represented by the formula is included in watersoluble resist which can be released with strong alkaline water solution (where, in the formula, N is tertiary amine bonded directly to a -CH2COOH group, R, R' are substituent groups or molecular chains). Thus, dissolution of solder plating can be suppressed, and precipitation of lead can also be suppressed. Thus, excellent wirings without wiring defect can be formed. As the other effects, even if inorganic alkali such as low-cost sodium hydroxide, potassium hydroxide, etc., is used as the releasing liquid for releasing this resist, damage of the solder is small, and it is not necessary to use expensive organic alkali. It is not necessary to add dissolution inhibitor of the solder to the release liquid, and the management of the releasing liquid is facilitated.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、配線板の製造に使用す
る水溶性レジストに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a water-soluble resist used for manufacturing wiring boards.

【0002】[0002]

【従来の技術】配線板の製造法の一つに、はんだをエッ
チングレジストとして用い、配線形成する方法が知られ
ている。この方法の一般的な場合を例にあげると、両面
に銅箔を積層した基板に、穴あけ後、銅めっきを行い、
この後、有機レジスト膜によって、被めっき部以外を被
覆し、はんだめっきを行い、有機レジスト膜を剥離後、
不要部分の銅をエッチングによって除去する。
2. Description of the Related Art As one of the methods for manufacturing a wiring board, a method is known in which wiring is formed by using solder as an etching resist. Taking the general case of this method as an example, on a substrate with copper foil laminated on both sides, after drilling, copper plating is performed,
After that, with the organic resist film, the portion other than the plated portion is covered, solder plating is performed, and after peeling the organic resist film,
The unnecessary portion of copper is removed by etching.

【0003】この有機レジスト膜に水溶性レジストを用
い、アルカリ性水溶液によって剥離する方法がある。こ
のような有機レジストの樹脂は、例えば、アクリル酸、
メタクリル酸やそのエステルとスチレンなどのビニル系
モノマーとの共重合物とアクリル酸エステル、メタクリ
ル酸エステル等の光重合性モノマーと光反応開始剤から
なるものがあり、ドライフィルムとして用いられること
も多い。
There is a method of using a water-soluble resist for this organic resist film and peeling it with an alkaline aqueous solution. The resin of such an organic resist is, for example, acrylic acid,
Some are composed of a copolymer of methacrylic acid or its ester and a vinyl monomer such as styrene, a photopolymerizable monomer such as acrylic acid ester or methacrylic acid ester, and a photoreaction initiator, and are often used as a dry film. .

【0004】水溶性レジストの剥離に用いられる剥離液
は、一般的に水酸化ナトリウムや水酸化カリウムなどの
強アルカリ性水溶液で、pH13以上で用いられること
が多い。このときの温度は40〜50℃で、剥離に要す
る時間は2〜3分程度が一般的である。
The stripping solution used for stripping the water-soluble resist is generally a strong alkaline aqueous solution such as sodium hydroxide or potassium hydroxide, and is often used at a pH of 13 or more. The temperature at this time is 40 to 50 ° C., and the time required for peeling is generally about 2 to 3 minutes.

【0005】実際の剥離時間は、高密度パターン部分に
剥離残渣などが残らず、完全に水溶性レジストが剥離さ
れるために、ほぼレジストが剥離される時間(約40〜
50秒)の3倍程度に設定される。このため、剥離作業
の多くの時間は、銅(水溶性レジストの剥離された部
分)とはんだめっきとが同時に剥離液にさらされる状態
となる。
The actual stripping time is almost the time required for stripping the resist (about 40 to 40%) because the stripping residue and the like do not remain on the high density pattern portion and the water-soluble resist is stripped completely.
(50 seconds). For this reason, copper (the part where the water-soluble resist is peeled off) and the solder plating are exposed to the peeling liquid at the same time for a long time of the peeling work.

【0006】剥離液は、上記したように強アルカリ性の
液であるため、エッチングレジストの役割を果たすべ
き、はんだが溶解され、その厚さが不十分となったり、
また、はんだの構成金属の一方(錫)が過剰に溶解され
てしまったりすることがある。特に基板周辺部や疎なパ
ターンにおいては、はんだめっきの電流密度が大とな
り、はんだめっき中の錫成分が増加し、溶解しやすくな
る傾向がある。このため、次工程であるアルカリエッチ
ング工程において、充分なエッチングレジストの役割を
果たしえず、配線に断線や欠けなどの欠陥を作ることが
あった。また、水溶性レジストの剥離時には、銅とはん
だが接触しているための局部電池作用も、先に述べたは
んだの腐食、溶解の促進要因となっている。
Since the stripping solution is a strong alkaline solution as described above, it should serve as an etching resist, the solder is dissolved, and its thickness becomes insufficient.
Further, one of the constituent metals of the solder (tin) may be excessively melted. In particular, in the peripheral portion of the substrate or in a sparse pattern, the current density of the solder plating becomes large, the tin component in the solder plating increases, and it tends to be easily dissolved. For this reason, in the subsequent alkaline etching step, it may not be possible to sufficiently function as an etching resist, and defects such as disconnection or chipping may be created in the wiring. Further, the local battery action due to the contact between copper and solder at the time of peeling the water-soluble resist is also a factor for promoting the corrosion and dissolution of the solder described above.

【0007】そこで、この腐食、溶解を防止するため
に、還元性物質や、さらに、アリールスルホン酸ナトリ
ウムや有機イオウ化合物等を添加する方法、ホウ水素化
合物を添加する方法、イミダゾール化合物を添加する方
法や、3,5ジメチルピラゾールを添加する方法が、特
開昭63−183445号公報、特開昭64−2425
4号公報、特開昭64−81295号公報および特開昭
62−151589号公報に、それぞれ、示されてい
る。
Therefore, in order to prevent this corrosion and dissolution, a reducing substance, a method of further adding sodium aryl sulfonate, an organic sulfur compound, etc., a method of adding a borohydride compound, a method of adding an imidazole compound. Alternatively, the method of adding 3,5 dimethylpyrazole is disclosed in JP-A-63-183445 and JP-A-64-2425.
No. 4, JP-A-64-81295 and JP-A-62-151589, respectively.

【0008】また、水溶性レジストの剥離において、鉛
イオンが水溶性レジスト剥離後の銅表面に析出し、エッ
チングを阻害するため、配線間のショートを引き起こす
ことがある。そこで、鉛の析出を防ぐために、酸化剤を
添加する方法が、特開昭63−38588号公報に示さ
れている。
Further, when the water-soluble resist is peeled off, lead ions are deposited on the copper surface after the water-soluble resist is peeled off, which hinders etching, which may cause a short circuit between wirings. Therefore, a method of adding an oxidizing agent in order to prevent the precipitation of lead is disclosed in JP-A-63-38588.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】前記特開昭63−18
3445号公報、特開昭64−24254号公報、特開
昭64−81295号公報および特開昭62−1515
89号公報に示されている剥離液では、スプレー方式に
より剥離作業を行うと、充分な効果が得られない。
DISCLOSURE OF THE INVENTION Problems to be Solved by the Invention
No. 3445, No. 64-24254, No. 64-81295, and No. 62-1515.
With the stripping solution disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 89, a sufficient effect cannot be obtained if the stripping operation is performed by a spray method.

【0010】また、特開昭63−38588号公報にお
いて鉛の析出を防ぐ方法として示されている酸化剤を用
いる方法と、特開昭63−183445号公報や特開昭
64−81295号公報においてはんだの溶解を抑制す
る方法として示されている還元性物質を用いる方法と
は、両立しえない。すなわち、いままでは、はんだの溶
解抑制と鉛の析出防止を同時にはかることは困難であっ
た。
Further, in JP-A-63-38588, a method using an oxidizing agent, which is shown as a method for preventing the precipitation of lead, and in JP-A-63-183445 and JP-A-64-81295 are disclosed. It is not compatible with the method using a reducing substance, which is shown as a method for suppressing the melting of solder. That is, until now, it has been difficult to simultaneously suppress the dissolution of solder and prevent the precipitation of lead.

【0011】本発明は、剥離時に、基板への鉛の析出を
防止することのできる水溶性レジストを提供するもので
ある。
The present invention provides a water-soluble resist capable of preventing the deposition of lead on a substrate during peeling.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明の水溶性レジスト
は、銅箔を積層した基板に、水溶性レジストでめっきレ
ジストを形成し、はんだめっきを行い、その後、強アル
カリ性水溶液で剥離することのできる水溶性レジスト中
に、剥離液中で溶解または分解し、(1)式で表される
有機物もしくは、その塩を生成する成分を含むことを特
徴とする。
The water-soluble resist of the present invention comprises a substrate on which a copper foil is laminated, a plating resist formed with the water-soluble resist, solder plating, and then peeling with a strong alkaline aqueous solution. The water-soluble resist that can be formed is characterized by containing a component that dissolves or decomposes in a stripping solution to form an organic compound represented by formula (1) or a salt thereof.

【化2】 (上記化学式中のNは−CH2COOH基と直接結合す
る第3級アミンであり、R、R’は、置換基または分子
鎖を示す。)
[Chemical 2] (N in the above chemical formula is a tertiary amine that is directly bonded to a —CH 2 COOH group, and R and R ′ represent a substituent or a molecular chain.)

【0013】配線形成を阻害する鉛の析出について、特
開昭63−38588号公報では、はんだめっき液成分
残存の影響が述べられている。しかし、筆者らの検討結
果では、鉛の析出は、剥離液中で引き起こされるものと
考えられる。以下に、これについて詳細に述べる。
Regarding the precipitation of lead which hinders the formation of wiring, Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-38588 describes the effect of remaining components of the solder plating solution. However, according to the results of studies by the authors, it is considered that the precipitation of lead is caused in the stripping solution. This will be described in detail below.

【0014】銅のエッチングレジストに使用されるはん
だの構成金属である錫や鉛は、pH13以上で溶解する
ことが、化学同人1984年発行の「金属の腐食防食序
論」p242における図17−11、「スズの電位−p
H図」、および、p243における図17−12、「鉛
の電位−pH図」などに示されている。実際に、銅表面
に配線幅、スペース幅ともに100〜150μm程度の
高密度なはんだめっきのパターンを形成し、鉛イオンを
400ppm含む、40g/l程度の水酸化ナトリウム
水溶液の液滴を落とすと、室温で数分放置後に、銅の露
出部分が灰色に変色するのが容易に観察されることを、
筆者らは見出している。また、この灰色部分を分析する
と鉛が検出される。
Tin and lead, which are the constituent metals of the solder used for the etching resist of copper, dissolve at pH of 13 or more. It is shown in FIG. 17-11 in "Introduction to Corrosion and Corrosion of Metals" p242, Kagaku Dojin, 1984. "Tin potential-p
H diagram ”, FIGS. 17-12 in p243,“ lead potential-pH diagram ”, and the like. Actually, when a high-density solder plating pattern having a wiring width and a space width of about 100 to 150 μm is formed on the copper surface and a droplet of a sodium hydroxide aqueous solution of about 40 g / l containing 400 ppm of lead ions is dropped, After leaving at room temperature for a few minutes, it is easy to observe that the exposed part of copper turns gray.
The authors have found it. In addition, lead is detected when this gray portion is analyzed.

【0015】これは、液中に溶解している鉛イオンが析
出するために起こるものと考えられる。なお、鉛につい
ては、液滴中で、溶解と析出が同時に、もしくは、逐次
的に起っていることになる。この詳細な機構については
不明である。はんだめっき金属の鉛と錫、および、銅
(はんだめっきがなされていない部分)の三種類の金属
が存在するためにこの様な現象が起るようである。この
ように、アルカリ剥離液中での、鉛の析出現象は容易に
確認される。
This is considered to occur because the lead ions dissolved in the liquid are deposited. It should be noted that, regarding lead, dissolution and precipitation occur simultaneously or sequentially in the droplet. The detailed mechanism is unknown. Such a phenomenon seems to occur because there are three kinds of metals, that is, lead and tin of the solder-plated metal, and copper (a portion not solder-plated). Thus, the precipitation phenomenon of lead in the alkaline stripping solution is easily confirmed.

【0016】はんだの溶解抑制方法を示した特開昭63
−183445号公報、特開昭64−81295号公
報、特開昭62−151589号公報および特開昭63
−38588号公報に、室温において、静置時の溶解速
度や溶解量の実例が実施例および比較例として示されて
いる。これら4件の公報のそれぞれの実施例に示されて
いるように、溶解をある程度抑制することはできるが、
完全には溶解を抑制できないことがわかる。
Japanese Patent Application Laid-Open No. Sho 63-63, which shows a method for suppressing the dissolution of solder.
-183445, JP 64-81295, JP 62-151589 and JP 63.
In Japanese Patent Laid-Open No. 38588/1985, actual examples of dissolution rate and dissolution amount at room temperature at room temperature are shown as Examples and Comparative Examples. As shown in the respective examples of these four publications, although it is possible to suppress dissolution to some extent,
It can be seen that the dissolution cannot be completely suppressed.

【0017】実際の作業には、一般的に、1〜2kg/
cm2のスプレー圧力で、40〜50℃の温度の剥離液
を、コンベアを用いて搬送している基板に接触させて、
水溶性レジストを剥離するスプレー方式を用いられるこ
とが多い。この様に、常に新しい液が基板表面に供給さ
れる場合、見かけの拡散係数は静置時と比較にならない
ほど大きくなり、はんだの溶解速度は、上記の公報の実
施例の値よりもはるかに大きくなることが容易に推定さ
れる。従って、上に示したような溶解抑制方法を採用し
ても、基板の処理枚数とともに、剥離液中にはんだが溶
解し、その金属イオン量が増加することになる。
In practice, 1-2 kg /
With a spray pressure of cm 2 , a stripping solution having a temperature of 40 to 50 ° C. is brought into contact with the substrate being conveyed using a conveyor,
A spray method for removing the water-soluble resist is often used. Thus, when a new liquid is constantly supplied to the surface of the substrate, the apparent diffusion coefficient becomes incomparably larger than that in the stationary state, and the melting rate of the solder is much higher than the values in the examples of the above publications. It is easily estimated to be large. Therefore, even if the dissolution suppressing method as described above is adopted, the solder dissolves in the stripping solution and the amount of metal ions increases with the number of processed substrates.

【0018】実際に、スプレー式水溶性レジスト剥離装
置を用い、特開昭63−183445号公報に示されて
いる方法に相当する還元剤入り薬剤であるOPCパーソ
リ(奥野製薬株式会社製、商品名)を剥離液に添加し、
200cm2の基板(はんだ面積:25%)のドライフィ
ルムHF450(日立化成工業株式会社製、商品名)を
剥離した後、液中の鉛イオンを測定したところ、その濃
度は、300〜400ppmであった。
Actually, using a spray type water-soluble resist stripping device, OPC Parsori (manufactured by Okuno Seiyaku Co., Ltd., trade name, which is a drug containing a reducing agent corresponding to the method disclosed in JP-A-63-183445) is used. ) To the stripper,
After peeling off the dry film HF450 (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) on the substrate (solder area: 25%) of 200 cm 2 , the lead ion in the liquid was measured, and the concentration was 300 to 400 ppm. It was

【0019】筆者らは、剥離液中の鉛イオン量が、40
0ppm程度になると、鉛の基板表面への析出が目視で
観察され始め、その後のアルカリエッチングで残銅を引
き起こすことを見出している。
The authors have found that the amount of lead ions in the stripping solution is 40
At about 0 ppm, it has been found that precipitation of lead on the surface of the substrate begins to be visually observed, and residual copper is caused by subsequent alkali etching.

【0020】そこで、鋭意検討を行った結果、液中に鉛
イオンが増加すると、溶解が加速されること、また、特
開昭63−183445号公報、特開昭64−2425
4号公報、特開昭64−81295号公報および特開昭
62−151589号公報に示されている剥離液で試験
した結果、液中に鉛イオンが存在すると溶解が増大し、
充分な抑制効果が得られないことを見出した。鉛イオン
の存在時に、溶解が加速される理由として、先に述べた
鉛の析出反応が、腐食、溶解の対極反応となっているた
めと推定される。
Then, as a result of earnest studies, it was found that when lead ions increased in the solution, the dissolution was accelerated, and further, JP-A-63-183445 and JP-A-64-2425.
No. 4, JP-A-64-81295, and JP-A-62-151589, the results showed that the presence of lead ions in the solution resulted in an increase in dissolution.
It was found that a sufficient suppressing effect cannot be obtained. It is presumed that the reason why the dissolution is accelerated in the presence of lead ions is that the above-described lead precipitation reaction is a counter electrode reaction of corrosion and dissolution.

【0021】また、溶解電流を測定したところ、液中の
鉛イオンが50〜100ppmの場合、目視では必ずし
も鉛の析出が確認できないが、この様な溶解の加速現象
の起ることがわかった。即ち、一般の剥離作業におい
て、はんだの溶解が特に問題になるのは、単にアルカリ
液中へはんだが溶解する単純な溶解現象に加えて、この
ような加速現象によるためと考えられる。
Further, when the dissolution current was measured, it was found that when the amount of lead ions in the liquid was 50 to 100 ppm, the precipitation of lead could not always be visually confirmed, but such an acceleration phenomenon of dissolution occurred. That is, in general peeling work, it is considered that the dissolution of solder is particularly problematic due to such an acceleration phenomenon in addition to the simple dissolution phenomenon in which the solder is dissolved in the alkaline solution.

【0022】そこで、鉛イオンと錯体を形成し、鉛の析
出を抑制する方法を検討した結果、アルカリ性の剥離液
中に(1)式で表される有機物もしくは、これらの塩を
添加することが有効なことがわかり、筆者らは、剥離液
中へこれらの有機物を添加する方法を開発している。
Therefore, as a result of studying a method of forming a complex with lead ions and suppressing the precipitation of lead, it was found that an organic substance represented by the formula (1) or a salt thereof may be added to the alkaline stripping solution. It turned out to be effective, and the authors have developed a method of adding these organic substances to the stripping solution.

【0023】[0023]

【化3】 (上記化学式中のNは−CH2COOH基と直接結合す
る第3級アミンであり、R、R’は、置換基または分子
鎖をしめす。)
[Chemical 3] (N in the above chemical formula is a tertiary amine directly bonded to the -CH2COOH group, and R and R'represent a substituent or a molecular chain.)

【0024】さらに、剥離作業の単純化を行うために、
予め、水溶性レジスト中に、剥離時のアルカリ水溶液で
上記の化合物を生成する成分を含ませることによって、
その後のアルカリエッチングによる配線欠陥の防止をは
かったものできる。
Further, in order to simplify the peeling work,
In advance, by including in the water-soluble resist, a component that produces the above compound in an alkaline aqueous solution at the time of stripping,
It is possible to prevent wiring defects due to subsequent alkali etching.

【0025】(1)式の化合物として、具体的には、
1,2シクロヘキサンジアミン四酢酸、ニトリロ三酢
酸、ジエチレントリアミン五酢酸、エチレンジアミン四
酢酸、トリエチレンテトラミン六酢酸やこれらの塩があ
げられる。
As the compound of the formula (1), specifically,
1,2-cyclohexanediaminetetraacetic acid, nitrilotriacetic acid, diethylenetriaminepentaacetic acid, ethylenediaminetetraacetic acid, triethylenetetraminehexaacetic acid and salts thereof can be mentioned.

【0026】一般的に、鉛イオンと形成する錯体の鉛と
の比率や、上記有機物の分子量によって有効な成分量の
範囲は異なる。しかし、実用的には、水溶性レジスト中
に0.1〜20重量%の範囲で有効である。また、20
重量%を越えて用いることは、水溶性レジストの成膜性
や耐めっき液性、現像性などの特性低下を引き起こし望
ましくない。また、0.1重量%以下では、効果は認め
られるものの、その効果は限られたものとなってしま
う。より望ましい範囲は、0.1〜10重量%である。
この錯体は、樹脂と結合していてもよく、単に混合状態
でもよい。なお、上記有機物は、単独で用いてもよい
し、複数で用いてもよい。複数で用いる場合は、上記の
成分量は、合計の成分量を示す。
In general, the range of effective component amounts differs depending on the ratio of lead ions to lead in the complex formed and the molecular weight of the organic substance. However, it is practically effective in the range of 0.1 to 20% by weight in the water-soluble resist. Also, 20
It is not desirable to use it in an amount exceeding 5% by weight, because it causes deterioration of the film-forming property of the water-soluble resist, plating solution resistance, and developability. On the other hand, if it is 0.1% by weight or less, the effect is recognized, but the effect is limited. A more desirable range is 0.1 to 10% by weight.
This complex may be bound to the resin or simply in a mixed state. In addition, the said organic substance may be used individually and may be used in multiple numbers. When a plurality of components are used, the above component amounts indicate the total component amounts.

【0027】ここで、本発明の適用できる水溶性レジス
トの樹脂成分は、基本的に高分子結合剤と光重合開始剤
からなり、アルカリ水溶液で膨潤または溶解し、剥離で
きるものである。 このような有機レジスト樹脂は、例
えば、ポリマーとして、アクリル酸、メタクリル酸やそ
のエステルの共重合物や、これらに、さらにスチレンな
どのビニル系モノマーとを加えた共重合物と、アクリル
酸エステル類、メタクリル酸エステル類等の光重合性モ
ノマーと、ベンゾフェノンなどの光反応開始剤からなる
ものがある。なお、本発明の水溶性レジストは、低アル
カリ性の水溶液で現像を行うことができ、めっきやエッ
チングなどの所望の処理後に高アルカリ性の水溶液で剥
離できる光反応性の樹脂であればよく、上記のものに限
定するものではない。また、必要に応じ、熱重合禁止
剤、可塑剤、色素、変色剤、密着促進剤を含んでもよ
い。
Here, the resin component of the water-soluble resist to which the present invention can be applied is basically composed of a polymer binder and a photopolymerization initiator, which can be swelled or dissolved in an alkaline aqueous solution and peeled off. Such organic resist resins include, for example, copolymers of acrylic acid, methacrylic acid and their esters as polymers, copolymers obtained by adding vinyl monomers such as styrene to these, and acrylic acid esters. , A photopolymerizable monomer such as methacrylic acid ester and a photoreaction initiator such as benzophenone. The water-soluble resist of the present invention may be a photoreactive resin that can be developed with a low alkaline aqueous solution and can be stripped with a highly alkaline aqueous solution after desired treatment such as plating or etching. It is not limited to one. Further, if necessary, a thermal polymerization inhibitor, a plasticizer, a dye, a discoloring agent, and an adhesion promoter may be contained.

【0028】[0028]

【作用】これまでも、剥離液中にはんだの溶解を抑制す
るためのものを添加することによって、対策が行われて
きていたが、スプレーのように新しい液が常に接触する
条件では、充分に効果が得られていなかった。その結
果、剥離液中の鉛イオンが増加し、50〜100ppm
の鉛イオンの存在においても、従来の溶解抑制方法の効
果を阻害していた。さらに、鉛イオン量が400ppm
程度まで増加すると、鉛の析出という問題も起こってい
た。
Action: Until now, countermeasures have been taken by adding a substance for suppressing the dissolution of solder in the stripping solution, but under conditions where a new solution is constantly in contact, such as spraying, it is sufficient. The effect was not obtained. As a result, lead ions in the stripping solution increase, and 50-100ppm
Even in the presence of lead ions, the effect of the conventional dissolution inhibiting method was hindered. Furthermore, the amount of lead ions is 400 ppm
When it increased to a certain degree, the problem of lead precipitation also occurred.

【0029】金属イオンと錯体を形成し得る特定の物質
によって、鉛イオンを封鎖、もしくは、銅表面を封鎖で
きること、さらに、剥離液中で溶解または分解して、こ
の物質を生成する成分を、水溶性レジストに含ませるこ
とによって剥離液の単純化がはかれることを見いだし、
本発明をなしえたものである。このように、従来、全く
行われてきていなかった水溶性レジストからのアプロー
チによって、鉛の析出と溶解の問題を同時に解決したも
のである。
A specific substance capable of forming a complex with a metal ion can be used to block lead ions or a copper surface, and a component which is dissolved or decomposed in a stripping solution to form this substance is dissolved in water. It was found that the stripping solution can be simplified by including it in a photosensitive resist,
The present invention has been made. In this way, the problem of lead precipitation and dissolution is solved at the same time by an approach from a water-soluble resist, which has never been carried out in the past.

【0030】[0030]

【実施例】(レジスト成分単独のはんだの溶解抑制効
果)NaOH水溶液(NaOH濃度:40g/l)に、
鉛濃度で150mg/l(150ppm)となるように
硫酸鉛を混合し、約2時間撹拌して硫酸鉛を完全に溶解
し、液を調整した。容量100mlのビーカに、この液
50mlをそそぎ、また、それぞれ露出面積が4cm2
なるように被覆した銅とはんだ板を液中に浸漬し、液中
を流れる電流測定用の電極とした。電極からの引きだし
線間に10オームの抵抗を介し、銅とはんだ電極を接続
した。この抵抗両端の電圧を測定することにより、溶解
電流を測定できるようにした。測定は、室温(約20
℃)において、マグネチックスターラで液を撹拌しなが
ら行った。
[Embodiment] (Dissolution inhibiting effect of solder of resist component alone) NaOH aqueous solution (NaOH concentration: 40 g / l)
Lead sulfate was mixed so that the lead concentration was 150 mg / l (150 ppm), and the solution was adjusted by stirring for about 2 hours to completely dissolve lead sulfate. 50 ml of this solution was poured into a beaker having a capacity of 100 ml, and copper and a solder plate coated so that each exposed area was 4 cm 2 were immersed in the solution to prepare an electrode for measuring current flowing in the solution. The copper and solder electrodes were connected via a 10 ohm resistor between the lead wires from the electrodes. The melting current can be measured by measuring the voltage across the resistor. At room temperature (about 20
(° C), the liquid was stirred with a magnetic stirrer.

【0031】また、表1に示す有機物0.2gを、少量
(2〜3ml)のNaOH水溶液(NaOH濃度:40
g/l)に溶解した液を用意した。これらの液を撹拌中
のビーカ内に注ぎ、溶解電流の変化を測定した。その結
果、有機物投入後(有機物濃度:約4g/l)の電流値
が投入前の電流値に比べ、2割以上低下したものを○、
電流値低下が2割未満、もしくは、逆に増加したものを
×とし、表1(実施例:表1−1、比較例:表1−2)
に示した。なお、×のものは、ほとんどのものにおい
て、電流値の減少は見られなかった。
Further, 0.2 g of the organic substance shown in Table 1 was added to a small amount (2 to 3 ml) of an aqueous NaOH solution (NaOH concentration: 40).
A solution dissolved in g / l) was prepared. These solutions were poured into a beaker under stirring, and changes in the dissolution current were measured. As a result, the current value after the introduction of the organic matter (organic matter concentration: about 4 g / l) was 20% or more lower than the current value before the introduction.
When the decrease in the current value is less than 20% or, conversely, the decrease is indicated as ×, and Table 1 (Example: Table 1-1, Comparative Example: Table 1-2).
It was shown to. In addition, in almost all the cases of ×, no decrease in current value was observed.

【0032】特に、比較例20〜23の含有機イオウ化
合物、比較例32〜35のニトロ化合物、比較例54の
臭素酸ナトリウムについては、鉛イオンを含まない水酸
化ナトリウム溶液にこれらの化合物を添加するだけで
も、溶解電流の大幅な増大をもたらし、かえって、はん
だの溶解を促進した。この結果から、実施例の有機物に
は、はんだの溶解を抑制する効果のあることが分る。
Particularly, regarding the contained sulfur compounds in Comparative Examples 20 to 23, the nitro compounds in Comparative Examples 32 to 35, and the sodium bromate in Comparative Example 54, these compounds were added to a sodium hydroxide solution containing no lead ion. Only by doing so, the melting current was greatly increased, and on the contrary, the melting of the solder was promoted. From this result, it can be seen that the organic substances of the examples have the effect of suppressing the melting of the solder.

【0033】[0033]

【表1】 [Table 1]

【0034】(鉛の析出抑制効果)銅張り積層板に水溶
性ドライフィルムHF450(日立化成工業株式会社
製、商品名)を用いて、露光、現像を行い、パターンを
形成した。このものに約5μmの厚さの電気はんだめっ
きを行った。この基板を、2cm×5cmになるように切出
した。このとき、基板の半分(2cm×2.5cm)がドラ
イフィルムで被覆されており、残りの部分がはんだめっ
きされているようにした。このものを400ppmの鉛
イオンと有機物を含むNaOH水溶液中に浸漬し、ドラ
イフィルムを剥離した。剥離は、ビーカ中で行い、温度
50℃でマグネチックスターラで約2分間、撹拌しなが
ら行った。この時の鉛の析出を目視で観察した。露出し
ている銅に、灰色の変色部分が観察されたものを×、全
く変色が観察されず、銅光沢のあるものを○とした。結
果を表2(実施例:表2−1、比較例:表2−2)に示
した。この結果から、実施例の有機物には、鉛の析出を
抑制する効果のあることが分る。
(Lead Precipitation Suppressing Effect) A copper-clad laminate was exposed and developed using a water-soluble dry film HF450 (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) to form a pattern. This was electrosolder plated to a thickness of about 5 μm. This substrate was cut out to have a size of 2 cm × 5 cm. At this time, half of the substrate (2 cm × 2.5 cm) was covered with the dry film, and the remaining portion was solder-plated. This was immersed in an aqueous NaOH solution containing 400 ppm of lead ions and organic matter, and the dry film was peeled off. The peeling was performed in a beaker, and was performed at a temperature of 50 ° C. with a magnetic stirrer for about 2 minutes while stirring. The precipitation of lead at this time was visually observed. The one in which a gray discolored portion was observed on the exposed copper was marked as X, and the one in which no discoloration was observed and which had copper luster was marked as O. The results are shown in Table 2 (Example: Table 2-1, Comparative Example: Table 2-2). From this result, it can be seen that the organic substances of the examples have the effect of suppressing the precipitation of lead.

【0035】[0035]

【表2】 [Table 2]

【0036】(本発明の水溶性レジスト)ポリマとし
て、メタクリル酸/メタクリル酸メチル/アクリル酸2
−エチルヘキシル(23:57:20)の共重合物60
部、モノマとしてビスフェノールAポリオキシエチレン
ジメタクリレート30部とテトラエチレングリコールジ
メタクリレート10部、イメージング剤としてトリブロ
モメチルフェニルスルホン1部とロイコクリスタルバイ
オレット1部、光反応開始剤としてベンゾフェノン6部
とN,N’テトラエチル4,4’アミノベンゾフェノン
0.2部、染料としてマラカイトグリーン0.05部か
らなるレジスト組成物のドライフィルム(比較例65)
と、この組成物100重量部にDTPAを10重量部配
合したドライフィルム(実施例8)、および、EDTA
を10重量部配合したドライフィルム(実施例9)を用
意した。
(Water-soluble resist of the present invention) As a polymer, methacrylic acid / methyl methacrylate / acrylic acid 2
-Copolymer 60 of ethylhexyl (23:57:20)
Parts, 30 parts of bisphenol A polyoxyethylene dimethacrylate and 10 parts of tetraethylene glycol dimethacrylate as monomers, 1 part of tribromomethylphenyl sulfone and 1 part of leuco crystal violet as an imaging agent, 6 parts of benzophenone and N as a photoinitiator. Dry film of resist composition consisting of 0.2 part of N'tetraethyl 4,4 'aminobenzophenone and 0.05 part of malachite green as a dye (Comparative Example 65)
And 100 parts by weight of this composition and 10 parts by weight of DTPA in a dry film (Example 8), and EDTA
A dry film (Example 9) containing 10 parts by weight of was prepared.

【0037】比較例65、実施例8、実施例9のドライ
フィルムのいずれでも露光、現像、銅めっき、はんだめ
っき、レジスト剥離ができることを確認した。次に、こ
れらのドライフィルムを紫外線照射によって硬化させた
後、鉛イオン400ppmを含むNaOH水溶液(Na
OH濃度:40g/l)100ml中に、それぞれ5g
を溶解させた。銅張り積層板に、比較例65のドライフ
ィルムで、パターンを現像後、はんだめっきした基板3
枚を用意し、この基板を、上記のそれぞれの液に、別々
に1枚づつ浸漬し、ドライフィルムを剥離した。その結
果、比較例65のドライフィルムを5g溶解した液で
は、鉛の析出が見られたが、実施例8、9のドライフィ
ルムを5g溶解した液では、いずれの液でも鉛の析出が
見られなかった。
It was confirmed that exposure, development, copper plating, solder plating, and resist stripping were possible with all of the dry films of Comparative Example 65, Example 8 and Example 9. Next, after curing these dry films by ultraviolet irradiation, a NaOH aqueous solution containing 400 ppm of lead ions (Na
OH concentration: 40 g / l) 5 g each in 100 ml
Was dissolved. Substrate 3 obtained by developing a pattern on a copper-clad laminate with a dry film of Comparative Example 65 and then solder plating
The substrates were prepared, and the substrates were individually immersed in the above liquids one by one, and the dry film was peeled off. As a result, in the liquid in which 5 g of the dry film of Comparative Example 65 was dissolved, precipitation of lead was observed, but in the liquid in which 5 g of the dry film of Examples 8 and 9 was dissolved, precipitation of lead was observed in any liquid. There wasn't.

【0038】[0038]

【発明の効果】水溶性レジストに本発明を適用すること
により、はんだめっきの溶解を抑制できるとともに、鉛
の析出も抑制できる。このため、配線欠陥のない良好な
配線を形成することができる。その他の効果として、本
レジストを剥離するための剥離液には、安価な水酸化ナ
トリウムや水酸化カリウムなどの無機アルカリを用いて
もはんだの受ける損傷が小さく、高価な有機アルカリを
用いる必要がない。はんだの溶解抑制剤を剥離液中に添
加する必要がなく、剥離液の管理が容易となる。また、
鉛の析出がなくなるため、同一量の剥離液で処理できる
基板面積が増加する。従って、基板の単位面積当たりの
剥離液使用量が減少し、廃液量が減少する。このため、
処理に費やす廃液処理コストが低下し、また、廃液組成
が単純なため、廃液処理も容易である。
By applying the present invention to a water-soluble resist, the dissolution of solder plating can be suppressed and the precipitation of lead can be suppressed. Therefore, it is possible to form a good wiring without a wiring defect. As another effect, the stripping solution for stripping the present resist does not require the use of expensive organic alkali because the damage to the solder is small even if an inexpensive inorganic alkali such as sodium hydroxide or potassium hydroxide is used. . It is not necessary to add a solder dissolution inhibitor to the stripping solution, and the stripping solution can be easily managed. Also,
Since the precipitation of lead is eliminated, the area of the substrate that can be treated with the same amount of stripping solution increases. Therefore, the amount of stripping liquid used per unit area of the substrate is reduced, and the amount of waste liquid is reduced. For this reason,
The waste liquid treatment cost spent for the treatment is reduced, and the waste liquid treatment is easy because the waste liquid composition is simple.

─────────────────────────────────────────────────────
─────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成5年8月6日[Submission date] August 6, 1993

【手続補正1】[Procedure Amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0015[Name of item to be corrected] 0015

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0015】これは、はんだめっき金属成分の溶解と鉛
イオンの析出が、液滴中で同時に、もしくは、逐次的に
起っていることになる。この詳細な機構については不明
である。はんだめっき金属の鉛と錫、および、銅(はん
だめっきがなされていない部分)の三種類の金属が存在
するためにこの様な現象が起るようである。このよう
に、アルカリ剥離液中での、鉛の析出現象は容易に確認
される。
This means that the dissolution of the solder plating metal component and the precipitation of lead ions occur simultaneously or sequentially in the droplet. The detailed mechanism is unknown. Such a phenomenon seems to occur because there are three kinds of metals, that is, lead and tin of the solder-plated metal, and copper (a portion not solder-plated). Thus, the precipitation phenomenon of lead in the alkaline stripping solution is easily confirmed.

【手続補正2】[Procedure Amendment 2]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0018[Correction target item name] 0018

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0018】実際に、スプレー式水溶性レジスト剥離装
置を用い、特開昭63−183445号公報に示されて
いる方法に相当する還元剤入り薬剤であるOPCパーソ
リ(奥野製薬株式会社製、商品名)を剥離液に添加し、
200m2の基板(はんだ面積:25%)のドライフィル
ムHF450(日立化成工業株式会社製、商品名)を剥
離した後、液中の鉛イオンを測定したところ、その濃度
は、300〜400ppmであった。
Actually, using a spray type water-soluble resist stripping device, OPC Parsori (manufactured by Okuno Seiyaku Co., Ltd., trade name, which is a drug containing a reducing agent corresponding to the method disclosed in JP-A-63-183445) is used. ) To the stripper,
After peeling off a dry film HF450 (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) on a 200 m 2 substrate (solder area: 25%), the lead ion in the liquid was measured, and the concentration was 300 to 400 ppm. It was

【手続補正3】[Procedure 3]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0020[Correction target item name] 0020

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0020】そこで、鋭意検討を行った結果、液中に鉛
イオンが増加すると、はんだの溶解が加速されること、
また、特開昭63−183445号公報、特開昭64−
24254号公報、特開昭64−81295号公報およ
び特開昭62−151589号公報に示されている剥離
液で試験した結果、液中に鉛イオンが存在すると溶解が
増大し、充分な抑制効果が得られないことを見出した。
鉛イオンの存在時に、溶解が加速される理由として、先
に述べた鉛の析出反応が、腐食、溶解の対極反応となっ
ているためと推定される。
Then, as a result of earnest study, when lead ions increase in the solution, the melting of the solder is accelerated.
Further, JP-A-63-183445, JP-A-64-
As a result of testing with a stripping solution disclosed in JP-B No. 24254, JP-A No. 64-81295 and JP-A No. 62-151589, the dissolution was increased in the presence of lead ions in the solution, and a sufficient suppressing effect was obtained. I found that I could not get.
It is presumed that the reason why the dissolution is accelerated in the presence of lead ions is that the above-described lead precipitation reaction is a counter electrode reaction of corrosion and dissolution.

【手続補正4】[Procedure amendment 4]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0024[Name of item to be corrected] 0024

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0024】さらに、剥離作業の単純化を行うために、
予め、水溶性レジスト中に、剥離時のアルカリ水溶液で
上記の化合物を生成する成分を含ませることによって、
その後のアルカリエッチングによる配線欠陥の防止をは
かったものである。
Further, in order to simplify the peeling work,
In advance, by including in the water-soluble resist, a component that produces the above compound in an alkaline aqueous solution at the time of stripping,
This is intended to prevent wiring defects due to subsequent alkali etching.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】強アルカリ性水溶液で剥離することのでき
る水溶性レジストの中に、剥離液中で溶解または分解
し、(1)式で表される有機物もしくは、その塩を生成
する成分を含むことを特徴とする水溶性レジスト。 【化1】 (上記化学式中のNは−CH2COOH基と直接結合す
る第3級アミンであり、R、R’は、置換基または分子
鎖をしめす。)
1. A water-soluble resist that can be stripped with a strong alkaline aqueous solution, containing a component that dissolves or decomposes in a stripping solution to produce an organic compound represented by formula (1) or a salt thereof. A water-soluble resist characterized by: [Chemical 1] (N in the above chemical formula is a tertiary amine that is directly bonded to a —CH 2 COOH group, and R and R ′ represent a substituent or a molecular chain.)
【請求項2】有機物が1,2シクロヘキサンジアミン四
酢酸、ニトリロ三酢酸、ジエチレントリアミン五酢酸、
エチレンジアミン四酢酸、トリエチレンテトラミン六酢
酸のいづれかであることを特徴とする請求項1に記載の
水溶性レジスト
2. Organic substances are 1,2-cyclohexanediaminetetraacetic acid, nitrilotriacetic acid, diethylenetriaminepentaacetic acid,
The water-soluble resist according to claim 1, which is one of ethylenediaminetetraacetic acid and triethylenetetraminehexaacetic acid.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1111090A3 (en) * 1999-12-21 2003-07-09 Ryoh Itoh Method for partially plating on a base
US11018662B2 (en) 2018-03-28 2021-05-25 Psemi Corporation AC coupling modules for bias ladders

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1111090A3 (en) * 1999-12-21 2003-07-09 Ryoh Itoh Method for partially plating on a base
CN1323190C (en) * 1999-12-21 2007-06-27 伊藤亮 Local electroplating method for substrate
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