JPH077184A - Semiconductor light emitting element, projector, optical detector and information processor employing it - Google Patents

Semiconductor light emitting element, projector, optical detector and information processor employing it

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JPH077184A
JPH077184A JP16854693A JP16854693A JPH077184A JP H077184 A JPH077184 A JP H077184A JP 16854693 A JP16854693 A JP 16854693A JP 16854693 A JP16854693 A JP 16854693A JP H077184 A JPH077184 A JP H077184A
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JP
Japan
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light emitting
emitting device
semiconductor light
plate
opening
Prior art date
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Application number
JP16854693A
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Japanese (ja)
Inventor
Hideaki Watanabe
秀明 渡辺
Koichi Imanaka
行一 今仲
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Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
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Publication of JPH077184A publication Critical patent/JPH077184A/en
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/58Optical field-shaping elements

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide a semiconductor light emitting element having high emission output and a function for controlling the direction of emission. CONSTITUTION:A plate 6 is loaded onto the surface of light emitting element chip 1 having an active layer 2 on the emission side thereof. The plate 6 is provided with a conical or truncated pyramid type opening 7 and bonded to the chip 1 on the smaller opening side. A metal film is deposited entirely on the inner peripheral face at the conical opening 7 thus forming a reflective layer 8.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体発光素子に関す
る。特に、光の出射方向を制御した半導体発光素子に関
する。また、本発明はその発光素子を用いた投光器、光
学検知装置、光学的情報処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor light emitting device. In particular, it relates to a semiconductor light emitting element in which the emission direction of light is controlled. The present invention also relates to a light projector, an optical detection device, and an optical information processing device using the light emitting element.

【0002】[0002]

【背景技術とその問題点】図17は光の出射方向を制御
した従来の半導体発光素子Qを示す断面図である(特開
平4−10479号公報)。この半導体発光素子Qは、
基板81の下面側中央部に活性層82を設け、基板81
の上面側に活性層82と対向させて光出射窓83を設け
たものであって、光出射窓83の周囲部分(基板81の
外周面)は基板81の内面側へ凸曲するように湾曲させ
られている。そして、光出射窓83の周囲に形成された
凸状斜面84の内側には不純物拡散によって反射層85
が形成されている。なお、86は上面電極、87は下面
電極である。
BACKGROUND ART AND ITS PROBLEMS FIG. 17 is a cross-sectional view showing a conventional semiconductor light emitting device Q in which the emission direction of light is controlled (JP-A-4-10479). This semiconductor light emitting device Q is
The active layer 82 is provided in the central portion on the lower surface side of the substrate 81.
A light emitting window 83 is provided on the upper surface side of the light emitting window 83 so as to face the active layer 82, and the peripheral portion of the light emitting window 83 (the outer peripheral surface of the substrate 81) is curved so as to be convexly bent toward the inner surface side of the substrate 81. Has been made. Then, inside the convex slope 84 formed around the light exit window 83, a reflective layer 85 is formed by impurity diffusion.
Are formed. Reference numeral 86 is an upper surface electrode, and 87 is a lower surface electrode.

【0003】しかして図17に示すように、活性層82
から発した光αは反射層85によって光出射窓83の方
向へ反射されて光出射窓83から素子外部へ出射され
る。したがって、このような構造の発光素子Qによれ
ば、凸状斜面84に形成された反射層85によって光α
の出射方向を制御し、レンズや光ファイバ等の外付け部
品との光結合効率を向上させられる。
However, as shown in FIG. 17, the active layer 82
The light α emitted from is reflected by the reflective layer 85 toward the light emission window 83 and emitted from the light emission window 83 to the outside of the element. Therefore, according to the light emitting element Q having such a structure, the light α is generated by the reflective layer 85 formed on the convex slope 84.
It is possible to control the outgoing direction of the light and improve the optical coupling efficiency with external parts such as lenses and optical fibers.

【0004】このような従来の半導体発光素子Qにおい
ては、光出射窓83の近くで反射層85により反射され
た光αは、光出射窓83から外部へ出射される。しかし
ながら、反射層85が光出射方向で径が小さくなるよう
に絞られているので、光出射窓83から離れた領域で反
射層85により反射された光αは、光出射窓83と異な
る方向へ反射されてしまい、当初に意図した程光結合効
率を向上させることができなかった。また、基板1の外
周面にエッチングによって逆ラッパ状をした凸状斜面8
4を形成しなければならないので、そのためのプロセス
が複雑となり、製造コストが上昇するという欠点があっ
た。
In such a conventional semiconductor light emitting device Q, the light α reflected by the reflecting layer 85 near the light emitting window 83 is emitted to the outside from the light emitting window 83. However, since the reflection layer 85 is narrowed so that the diameter becomes smaller in the light emission direction, the light α reflected by the reflection layer 85 in a region away from the light emission window 83 is directed in a direction different from that of the light emission window 83. Since it was reflected, the optical coupling efficiency could not be improved as originally intended. In addition, the outer peripheral surface of the substrate 1 has an inverted trumpet-shaped convex slope 8 by etching.
4 has to be formed, there is a drawback that the process for that is complicated and the manufacturing cost is increased.

【0005】ところで、この種の半導体発光素子の用途
としては、距離センサや光電センサ等の光学検知装置が
あり、また、その光源部分である投光器などがある。従
来この種の光源部分には半導体レーザ素子(LD)や発
光ダイオード(LED)が用いられている。このうち、
半導体レーザ素子は、高出力で指向性のあるビームを生
成できるので、光電センサ等の光学検知装置等に適した
素子である。しかし、半導体レーザ素子はノイズや温度
変動に弱く、そのため駆動回路が高価になることや人体
(特に、目など)に危険なため応用範囲が限られるとい
った問題があった。
By the way, applications of this kind of semiconductor light emitting device include an optical detection device such as a distance sensor and a photoelectric sensor, and a light projector which is a light source portion thereof. Conventionally, a semiconductor laser element (LD) or a light emitting diode (LED) has been used for this kind of light source portion. this house,
The semiconductor laser device is a device suitable for an optical detection device such as a photoelectric sensor because it can generate a beam with high output and directivity. However, the semiconductor laser device is vulnerable to noise and temperature fluctuations, which makes the drive circuit expensive and dangerous to the human body (especially the eyes), so that the application range is limited.

【0006】一方、発光ダイオードは温度変動やノイズ
等の外乱には強いが、光の指向性がなくランバート型の
広がりを有するため、レンズや光ファイバ等の外付け部
品との光結合効率が低い。このため、距離センサ等の光
学検知装置に用いた場合には、検出距離が短いといった
問題があった。また、発光ダイオードは一般的に半導体
レーザ素子に比べて発光出力が低いので、より一層検出
距離が短くなるといった問題があった。この結果、特に
発光ダイオードにおいて、光の出射方向を制御して指向
性を高め、高い発光出力を得ることが望まれている。
On the other hand, the light-emitting diode is strong against disturbances such as temperature fluctuations and noise, but has no Lambertian type directivity and has low optical coupling efficiency with external parts such as lenses and optical fibers. . Therefore, when used in an optical detection device such as a distance sensor, there is a problem that the detection distance is short. Further, since the light emitting diode generally has a lower light emission output than the semiconductor laser device, there is a problem that the detection distance is further shortened. As a result, particularly in a light emitting diode, it is desired to control the emission direction of light to enhance directivity and obtain a high light emission output.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】本発明は叙上の背景技
術に鑑みてなされたものであって、その目的とするとこ
ろは、光の出射方向を制御する機能を有し、しかも高い
発光出力を有する半導体発光素子を提供することにあ
る。さらに、本発明の目的とするところは、そのような
半導体発光素子を用いることにより、長い検出距離能力
を有する光学検知装置や高性能で簡単な構造の投光器等
を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above background art, and an object of the present invention is to have a function of controlling a light emitting direction and a high light emission output. Another object is to provide a semiconductor light emitting device having Further, it is an object of the present invention to provide an optical detection device having a long detection distance capability, a high performance and simple structure of the projector by using such a semiconductor light emitting element.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明の半導体発光素子
は、面方向に光を出射する活性層を有する発光素子チッ
プと、当該発光素子チップの光出射側の表面に装荷され
たプレートとを備え、前記発光素子チップと対向する側
で開口径が小さくなるよう前記プレートに略テーパー状
をした開口部を貫通させ、当該開口部の内周面に反射層
を形成したことを特徴としている。
A semiconductor light emitting device of the present invention comprises a light emitting device chip having an active layer for emitting light in a plane direction, and a plate loaded on the light emitting side surface of the light emitting device chip. The plate is characterized in that a substantially tapered opening is penetrated through the plate so that the opening diameter becomes smaller on the side facing the light emitting element chip, and a reflective layer is formed on the inner peripheral surface of the opening.

【0009】上記半導体発光素子にあっては、前記発光
素子チップに形成された光出射窓に対向して前記開口部
が設けられ、前記光出射窓の面積が前記開口部の開口径
が小さな側の開口面積よりも小さくなっていてもよい。
In the semiconductor light emitting device, the opening is provided so as to face the light emitting window formed in the light emitting device chip, and the area of the light emitting window is the side where the opening diameter of the opening is small. The opening area may be smaller than the opening area.

【0010】また、前記発光素子チップに形成された光
出射窓に対応して前記発光素子チップ内部に電流狭窄構
造が形成されていてもよい。
Further, a current constriction structure may be formed inside the light emitting element chip so as to correspond to the light emission window formed in the light emitting element chip.

【0011】さらに、前記プレートの底面積が前記発光
素子チップの面積よりも大きくなっていてもよい。
Further, the bottom area of the plate may be larger than the area of the light emitting element chip.

【0012】さらに、前記プレートの前記開口部を形成
された領域以外の領域に複数の溝加工を施してもよい。
Further, a plurality of grooves may be formed in a region of the plate other than the region where the opening is formed.

【0013】さらに、前記プレートが少なくとも表面に
導電性を有していてもよい。
Further, at least the surface of the plate may be conductive.

【0014】さらに、前記プレートがシリコンにより形
成されていてもよい。
Further, the plate may be made of silicon.

【0015】さらに、前記開口部の形状を略円形テーパ
ー状とし、その開口部の内部もしくは上部に球レンズを
装着してもよい。
Further, the shape of the opening may be a substantially circular taper shape, and a spherical lens may be mounted inside or on the upper side of the opening.

【0016】さらに、前記プレートの開口部の内部もし
くは上部にレンズ固定用の凹部を形成し、半球状レンズ
やフレネルレンズ等のレンズを当該凹部に装着してもよ
い。
Further, a recess for fixing a lens may be formed inside or above the opening of the plate, and a lens such as a hemispherical lens or a Fresnel lens may be mounted in the recess.

【0017】さらに、前記プレートの開口部を透明樹脂
材で封止し、この透明樹脂材にレンズ作用を持たせても
よい。
Further, the opening of the plate may be sealed with a transparent resin material, and the transparent resin material may have a lens function.

【0018】また、本発明の投光器は、上記半導体発光
素子をリードフレームに装着し、この半導体発光素子を
透明樹脂材で所定形状に封止成形し、この透明樹脂材の
表面に平板状レンズを一体成形したことを特徴としてい
る。
In the projector of the present invention, the semiconductor light emitting element is mounted on a lead frame, the semiconductor light emitting element is sealed and molded in a predetermined shape with a transparent resin material, and a flat lens is formed on the surface of the transparent resin material. It is characterized by being integrally molded.

【0019】また、本発明の光学検知装置は、上記半導
体発光素子を備えたことを特徴としている。
The optical detecting device of the present invention is characterized by including the above semiconductor light emitting element.

【0020】また、本発明の光学的情報処理装置は、上
記半導体発光素子を備えたことを特徴としている。
An optical information processing apparatus of the present invention is characterized by including the above semiconductor light emitting element.

【0021】[0021]

【作用】本発明の半導体発光素子にあっては、発光素子
チップに装荷されたプレートに略テーパー状をした開口
部を貫通させ、当該開口部の内周面に反射層を形成して
いるので、発光素子チップから出射された出射ビームは
プレートの反射層によって光軸と平行に近くなる方向へ
反射され、反射層で反射された後外部へ出射されるビー
ムを狭小化することができ、レンズや光ファイバ等の外
付け部品との光結合効率が高くなる。
In the semiconductor light emitting device of the present invention, the plate loaded on the light emitting device chip has a substantially tapered opening penetrating therethrough, and a reflection layer is formed on the inner peripheral surface of the opening. The emitted beam emitted from the light emitting element chip is reflected by the reflection layer of the plate in a direction close to the optical axis, and the beam emitted to the outside after being reflected by the reflection layer can be narrowed, The efficiency of optical coupling with external parts such as or optical fiber is increased.

【0022】特に、もともとの光出射領域が微小化され
た、いわゆる点光源型の発光素子チップと当該プレート
とを組み合わせれば、外部へ取り出せる光出力を変える
ことなくビームの出射方向のみを変えることができるの
で、指向性の高いすぐれた光源を得ることができる。
In particular, by combining a so-called point light source type light emitting element chip in which the original light emitting region is miniaturized with the plate, only the beam emitting direction can be changed without changing the light output that can be extracted to the outside. As a result, an excellent light source with high directivity can be obtained.

【0023】[0023]

【実施例】図1は本発明の第1の実施例による半導体発
光素子Aの構造を示す断面模式図である。図1におい
て、1は発光素子チップであって、内部には面方向に光
を発する全面出射型の活性層2が形成されている。発光
素子チップ1の内部構造は特に限定されるものではない
ので、図では活性層2と上下面電極3,4のみを示して
いる。発光素子チップ1の上面には比較的大きな光出射
窓5(すなわち、上面電極3の開口部分)が形成されて
おり、発光素子チップ1の上面の光出射窓5にはプレー
ト6が装荷されている。プレート6には、円錐形状や角
錐形状など一方で開口径が小さく他方で開口径が大きな
略テーパ状ないし略錐状をした錐状開口部7が設けられ
ており、プレート6は錐状開口部7の開口径の小さい側
で発光素子チップ1の上面と接合されている。この錐状
開口部7の内周面全域には、例えば金属膜を蒸着させる
ことによって反射層8が形成されている。なお、プレー
ト6の材質としては、熱伝導率の高い材質を用いれば、
プレート6がヒートシンクとして働くので、温度特性が
良好となる。
1 is a schematic sectional view showing the structure of a semiconductor light emitting device A according to a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a light emitting element chip, inside of which a surface emitting type active layer 2 which emits light in a surface direction is formed. Since the internal structure of the light emitting element chip 1 is not particularly limited, only the active layer 2 and the upper and lower electrodes 3, 4 are shown in the drawing. A relatively large light emitting window 5 (that is, an opening portion of the upper surface electrode 3) is formed on the upper surface of the light emitting element chip 1, and a plate 6 is loaded on the light emitting window 5 on the upper surface of the light emitting element chip 1. There is. The plate 6 is provided with a conical or pyramidal opening 7 having a small opening diameter on the one hand and a large opening diameter on the other hand, such as a conical shape or a pyramid shape. 7 is bonded to the upper surface of the light emitting element chip 1 on the side with the smaller opening diameter. A reflective layer 8 is formed on the entire inner peripheral surface of the conical opening 7 by depositing a metal film, for example. If the plate 6 is made of a material having a high thermal conductivity,
Since the plate 6 works as a heat sink, the temperature characteristic becomes good.

【0024】図2は上記半導体発光素子Aの活性層2か
ら発した光線の挙動を例示する図である。活性層2から
発する光のうち、錐状開口部7の真下の点P0から垂直
上方に向けて出射された光α0はそのまま錐状開口部7
を通って光軸Xとほぼ平行に外部へ出射される。また、
例えば活性層2の点P1又はP2から発した光は上下左
右360°の全方位へ進行する。このうち、図2中の光
線α1又はα2のように活性層2から上方へ出射された
光は、反射層8によって光軸Xと略平行な方向に向けて
反射される。この結果、錐状開口部7から出射される光
は出射方向が限定され、広がりの小さなビームとして外
部へ出射される。したがって、このプレート6の錐状開
口部7に対向させてレンズや光ファイバ等の外付け部品
が配置されている場合には、錐状開口部7から出射され
たビームとレンズや光ファイバ等との光結合効率が向上
する。
FIG. 2 is a diagram illustrating the behavior of light rays emitted from the active layer 2 of the semiconductor light emitting device A. Of the light emitted from the active layer 2, the light α0 emitted vertically upward from the point P0 directly below the conical opening 7 is as it is.
The light is emitted to the outside substantially parallel to the optical axis X through. Also,
For example, the light emitted from the point P1 or P2 of the active layer 2 travels in all directions of 360 ° vertically and horizontally. Of these, the light emitted upward from the active layer 2 like the light rays α1 or α2 in FIG. 2 is reflected by the reflective layer 8 in a direction substantially parallel to the optical axis X. As a result, the light emitted from the conical opening 7 has a limited emission direction and is emitted to the outside as a beam with a small spread. Therefore, when an external component such as a lens or an optical fiber is arranged so as to face the conical opening 7 of the plate 6, the beam emitted from the conical opening 7 and the lens, the optical fiber, etc. The optical coupling efficiency of is improved.

【0025】図3は本発明の第2の実施例による半導体
発光素子Bの構造を示す断面模式図である。この実施例
にあっては、発光素子チップ1の上面に上面電極3を一
部開口して光出射窓5を形成する際、錐状開口部7の開
口径の最小値よりも小さな開口径の光出射窓5を開口し
ている。そして、錐状開口部7の下面開口部分の中に発
光素子チップ1の光出射窓5が含まれるようにプレート
6を配置している。この実施例にあっても、第1の実施
例と同様な作用により光の方向を揃えてビームの広がり
を狭小化することができる。しかも、発光素子チップ1
の光出射窓5の面積がプレート6の錐状開口部7の底部
断面積よりも小さくなっているので、光出射窓5から出
射される光がすべて錐状開口部7へ導かれることにな
り、もともとの光出力を減少させることなく出射ビーム
を強化することができ、光結合効率向上の効果が大き
い。
FIG. 3 is a schematic sectional view showing the structure of a semiconductor light emitting device B according to the second embodiment of the present invention. In this embodiment, when the light emitting window 5 is formed by partially opening the upper surface electrode 3 on the upper surface of the light emitting element chip 1, the opening diameter of the cone-shaped opening 7 is smaller than the minimum value. The light exit window 5 is opened. The plate 6 is arranged so that the light exit window 5 of the light emitting element chip 1 is included in the lower surface opening of the conical opening 7. Also in this embodiment, it is possible to make the directions of the light uniform and narrow the spread of the beam by the same operation as in the first embodiment. Moreover, the light emitting element chip 1
Since the area of the light emission window 5 is smaller than the bottom cross-sectional area of the conical opening 7 of the plate 6, all the light emitted from the light emission window 5 is guided to the conical opening 7. The outgoing beam can be strengthened without reducing the original optical output, and the effect of improving the optical coupling efficiency is great.

【0026】図4は本発明の第3の実施例による半導体
発光素子Cの構造を示す断面模式図である。この発光素
子チップ1は電流狭窄構造を有するものであって、上面
電極3の下には電流阻止領域9が形成されている。電流
阻止領域9は、例えばプロトンなどを注入し、注入部分
を高抵抗化することによって形成される。このような電
流狭窄構造の発光素子チップ1にあっては、上下面電極
3,4間に電圧を印加すると、電流が光出射窓5の下の
電流通路領域10にのみ流れるので、活性層2は光出射
窓5に対向する微小領域でのみ発光する。
FIG. 4 is a schematic sectional view showing the structure of a semiconductor light emitting device C according to the third embodiment of the present invention. The light emitting element chip 1 has a current constriction structure, and a current blocking region 9 is formed below the upper surface electrode 3. The current blocking region 9 is formed by, for example, injecting protons or the like to increase the resistance of the injected portion. In the light emitting device chip 1 having such a current constriction structure, when a voltage is applied between the upper and lower electrodes 3 and 4, the current flows only in the current passage region 10 below the light emission window 5, so that the active layer 2 Emits light only in a minute area facing the light exit window 5.

【0027】この半導体発光素子Cのように、電流狭窄
構造を有する発光素子チップ1の場合には電流狭窄構造
によって本来狭い出射ビームが得られる。しかし、この
電流狭窄構造の発光素子チップ1の上に円錐状や角錐状
等の錐状をした反射層8を備えたプレート6を装荷する
と、広がったビームが反射層8で反射されて出射方向を
光軸Xとほぼ平行な方向へ曲げられるので、一層光ビー
ムを狭小化して光出力を大きくでき、レンズや光ファイ
バ等の外付け部品との光結合効率が一層向上する。ま
た、一層効率よく光を外部に取り出すことができるの
で、高出力でかつ狭小な光ビームを得ることができる。
In the case of the light emitting element chip 1 having the current confinement structure like the semiconductor light emitting element C, an originally narrow outgoing beam can be obtained by the current confinement structure. However, when a plate 6 having a conical or pyramidal reflection layer 8 is loaded on the light-emitting element chip 1 having the current constriction structure, the spread beam is reflected by the reflection layer 8 and emitted. Is bent in a direction substantially parallel to the optical axis X, the light beam can be further narrowed to increase the light output, and the optical coupling efficiency with external parts such as lenses and optical fibers is further improved. Moreover, since the light can be extracted to the outside more efficiently, a high-power and narrow light beam can be obtained.

【0028】なお、上記各実施例ではプレート6には錐
状開口部7を1個だけ設けているが、複数個の錐状開口
部7をアレイ状に設けてもよい(以下の実施例でも同様
である)。錐状開口部7をアレイ状に設けることによ
り、発光素子チップの構造を変更することなく、新たに
光出射部分がアレイ化された半導体発光素子を製作する
ことができる。このとき、発光素子を点光源型の発光素
子アレイとし、各素子の出射部分に対応した錐状開口部
を有するプレートと組み合わせることにより、出射ビー
ムが狭小化された発光素子アレイを得ることができる。
In each of the above embodiments, only one conical opening 7 is provided in the plate 6, but a plurality of conical openings 7 may be provided in an array (also in the following embodiments. The same). By providing the conical openings 7 in an array, it is possible to fabricate a semiconductor light emitting device in which light emitting portions are newly arrayed without changing the structure of the light emitting device chip. At this time, a light emitting element array in which the emitted beam is narrowed can be obtained by forming the light emitting element as a point light source type light emitting element array and combining it with a plate having a conical opening corresponding to the emitting portion of each element. .

【0029】図5は本発明の第4の実施例による半導体
発光素子Dの構造を示す断面模式図である。この実施例
にあっては、プレート6の底面積を発光素子チップ1の
面積よりも大きくし、プレート6の外周部6aを発光素
子チップ1の外周面よりも外へ張り出させている。この
結果、活性層2で発した光のうちで発光素子チップ1の
側面へ出射される光(いわゆる漏れ光)をプレート6の
外周部6aによって遮断し、ビーム出射方向へ出射され
ないようにできる。この結果、この半導体発光素子Dを
光電スイッチ等の光学検知装置の投光器に用いた場合に
は、ノイズ光の低減に効果がある。また、このプレート
6を金属等の導電性材質によって作製したり、セラミッ
ク等の非導電性物質の表面に金属などの導電物質をコー
ティングしたものなどで作製したりして、プレート6と
上面電極3とを導通させておくと、発光素子チップ1へ
の電流注入をプレート6の上から行なえるので、実装性
が良好となる。
FIG. 5 is a schematic sectional view showing the structure of a semiconductor light emitting device D according to the fourth embodiment of the present invention. In this embodiment, the bottom area of the plate 6 is made larger than the area of the light emitting element chip 1, and the outer peripheral portion 6a of the plate 6 is projected beyond the outer peripheral surface of the light emitting element chip 1. As a result, of the light emitted from the active layer 2, the light emitted to the side surface of the light emitting element chip 1 (so-called leakage light) can be blocked by the outer peripheral portion 6a of the plate 6 and prevented from being emitted in the beam emission direction. As a result, when the semiconductor light emitting device D is used in a projector of an optical detection device such as a photoelectric switch, it is effective in reducing noise light. Further, the plate 6 is made of a conductive material such as metal, or the surface of a non-conductive material such as ceramic is coated with a conductive material such as metal. If the and are conducted, the current can be injected into the light emitting element chip 1 from above the plate 6, and the mountability is improved.

【0030】図6は本発明の第5の実施例による半導体
発光素子Eの構造を示す断面模式図である。この実施例
にあっては、錐状開口部7を設けた領域以外の領域にお
いてプレート6の上面に溝加工を施して複数の溝部11
を設けた構造となっている。このような構造によると、
プレート6の放熱面積が大きくなるので、プレート6を
通して発光素子チップ1の放熱を効果的に行なえるよう
になる。このプレート6の材質は熱伝導率が高く、しか
も熱膨張率が発光素子チップ1とほぼ等しいものが好ま
しいが、溝加工の容易性や発光素子チップ1とのプロセ
スの互換性等を考慮すると、シリコンが望ましい。
FIG. 6 is a schematic sectional view showing the structure of a semiconductor light emitting device E according to the fifth embodiment of the present invention. In this embodiment, a groove is formed on the upper surface of the plate 6 in a region other than the region where the conical opening 7 is provided, and a plurality of groove portions 11 are formed.
Has a structure. According to this structure,
Since the heat dissipation area of the plate 6 is increased, the heat dissipation of the light emitting element chip 1 can be effectively performed through the plate 6. It is preferable that the plate 6 is made of a material having a high thermal conductivity and a thermal expansion coefficient substantially equal to that of the light emitting element chip 1. However, considering the ease of groove processing and the process compatibility with the light emitting element chip 1, Silicon is preferred.

【0031】図7は本発明の第6の実施例による半導体
発光素子Fの構造を示す断面模式図である。この実施例
にあっては、プレート6の円錐状をした錐状開口部7に
球レンズ12を装着し、球レンズ12によって出射光を
平行光化させるようにしたものである。なお、この実施
例においては、用途に応じて球レンズ12の装着位置を
変えることにより、出射光を拡散光化させたり、集光光
化させたり、コリメート化させたりするができる。
FIG. 7 is a schematic sectional view showing the structure of a semiconductor light emitting device F according to the sixth embodiment of the present invention. In this embodiment, a spherical lens 12 is attached to the cone-shaped conical opening 7 of the plate 6, and the emitted light is made parallel by the spherical lens 12. In this embodiment, by changing the mounting position of the spherical lens 12 depending on the application, the emitted light can be diffused, condensed, or collimated.

【0032】図8は本発明の第7の実施例による半導体
発光素子Gの構造を示す断面模式図である。この実施例
にあっては、プレート6の錐状開口部7の周囲に凹部1
3を形成し、当該凹部13に周囲をはめ込むようにして
錐状開口部7の上面に半球レンズ14を装着させたもの
である。図示しないが、半球レンズ14に代えて平板状
のフレネルレンズを用いてもよい。この実施例において
も、半球レンズ14(もしくは平板状フレネルレンズ)
により出射光をコリメート化、拡散光化あるいは集光光
化させることができる。なお、本実施例においては、プ
レート6の上面の凹部13を半球レンズ14あるいはフ
レネルレンズに対して適当な余裕度をもたせて加工すれ
ば、凹部13内で半球レンズ14やフレネルレンズを動
かすことができるので、これらのレンズを光軸合せした
状態で接着剤等によりプレート6に固定でき、出射光線
をより精密に制御することが可能となる。
FIG. 8 is a schematic sectional view showing the structure of a semiconductor light emitting device G according to the seventh embodiment of the present invention. In this embodiment, the recess 1 is formed around the conical opening 7 of the plate 6.
3 is formed, and the hemispherical lens 14 is attached to the upper surface of the conical opening 7 so that the periphery is fitted into the concave portion 13. Although not shown, a flat Fresnel lens may be used instead of the hemispherical lens 14. Also in this embodiment, the hemispherical lens 14 (or the flat Fresnel lens)
Thus, the emitted light can be collimated, diffused or condensed. In the present embodiment, if the recess 13 on the upper surface of the plate 6 is processed with an appropriate allowance for the hemispherical lens 14 or Fresnel lens, the hemispherical lens 14 and Fresnel lens can be moved within the recess 13. Therefore, these lenses can be fixed to the plate 6 with an adhesive or the like in a state where the optical axes thereof are aligned with each other, and the emitted light beam can be controlled more precisely.

【0033】図9は本発明の第8の実施例による半導体
発光素子Hの構造を示す断面模式図である。この実施例
にあっては、発光素子チップ1から出射される光に対し
て透明な樹脂材15をプレート6の錐状開口部7内に充
填している。一般的に透明樹脂材15では、その屈折率
nが空気(屈折率=1)より大きいので、錐状開口部7
内に透明樹脂材15を充填させることにより発光素子チ
ップ1の光出射窓5での反射臨界角が大きくなる。した
がって、外部へ取り出すことのできる光量が増加するの
で、より高出力の半導体発光素子Hを得ることができ
る。なお、この透明樹脂材15の光出射側の形状15a
をレンズ効果を持つような形状にすれば、図7及び図8
の半導体発光素子F,Gと同様、出射光をコリメート
化、集光光化あるいは拡散光化させることができる。
FIG. 9 is a schematic sectional view showing the structure of a semiconductor light emitting device H according to the eighth embodiment of the present invention. In this embodiment, a resin material 15 transparent to the light emitted from the light emitting element chip 1 is filled in the conical opening 7 of the plate 6. In general, the transparent resin material 15 has a refractive index n larger than that of air (refractive index = 1), so that the conical opening 7
By filling the inside with the transparent resin material 15, the reflection critical angle at the light exit window 5 of the light emitting element chip 1 becomes large. Therefore, the amount of light that can be extracted to the outside is increased, so that it is possible to obtain a semiconductor light emitting device H of higher output. The shape 15a of the transparent resin material 15 on the light emitting side
7 and FIG.
Similarly to the semiconductor light emitting devices F and G, the emitted light can be collimated, condensed, or diffused.

【0034】つぎに、上記半導体発光素子を用いた応用
例について説明する。まず、図10(a)(b)(c)
に示す投光器Jについて説明する。この投光器Jは、本
発明の半導体発光素子21を一方のリードフレーム22
の上にダイボンディングすると共に他方のリードフレー
ム23にワイヤボンディングした状態で透明エポキシ樹
脂等の封止樹脂24で所定形状に低圧注型して封止し、
全体として角ブロック状の外形に構成されている。封止
樹脂24の表面には多数の環状レンズ単位を同心状に配
列したフレネル型平板状レンズ25が一体形成されると
共に、表面の両側にはフレネル型平板状レンズ25と同
じ高さ、あるいはフレネル型平板状レンズ25よりもや
や高いアゴ部26を突設してあり、アゴ部26によって
フレネル型平板状レンズ25を保護している。
Next, application examples using the above semiconductor light emitting device will be described. First, FIG. 10 (a) (b) (c)
The projector J shown in FIG. This floodlight J includes a semiconductor light emitting device 21 of the present invention, one of which is a lead frame 22.
While die-bonding on the above and wire-bonding to the other lead frame 23, the resin is low-pressure cast into a predetermined shape with a sealing resin 24 such as a transparent epoxy resin and sealed.
The overall shape is a square block. On the surface of the sealing resin 24, a Fresnel type flat plate lens 25 in which a large number of annular lens units are concentrically arranged is integrally formed, and at the same height as the Fresnel type flat plate lens 25 or Fresnel on both sides of the surface. A jaw portion 26 that is slightly higher than the die flat plate lens 25 is provided so as to project, and the jaw portion 26 protects the Fresnel flat plate lens 25.

【0035】この投光器Jの場合、半導体発光素子21
は、光の出射方向が狭小化され、しかも高い発光効率を
有しているから、フレネル型平板状レンズ25への光結
合効率が向上し、出力が強く、かつ細いビームが長距離
においても得られる。
In the case of this projector J, the semiconductor light emitting element 21
Has a narrow emission direction of light and has a high luminous efficiency, so that the optical coupling efficiency to the Fresnel-type flat plate lens 25 is improved, the output is strong, and a thin beam can be obtained even at a long distance. To be

【0036】また、従来より用いられている投光器Rと
しては、図18に示すような構造のものがある。これ
は、ステム91から突出したヒートシンク92に半導体
レーザ素子93及びフレネル型平板状レンズ94を取り
付け、これらを金属キャップ95で覆ったキャンシール
型のものであるが、このような従来の投光器Rと比較し
て本発明の投光器Jは構造が大幅に簡略化されており、
コスト及び嵩体積の低減を図ることができる。
As a conventional projector R, there is one having a structure as shown in FIG. This is a can-seal type in which a semiconductor laser element 93 and a Fresnel type flat lens 94 are attached to a heat sink 92 protruding from the stem 91, and these are covered with a metal cap 95. In comparison, the projector J of the present invention has a greatly simplified structure,
The cost and bulk volume can be reduced.

【0037】なお、ここでは投光ビームとして指向性の
狭い平行光線を出射するものについて説明したが、フレ
ネル型平板状レンズ25のパラメータを変えることによ
り、集光ビームや偏向ビームなどの投光器にも適用でき
ることは自明である。
Although the projection light beam that emits parallel light rays having a narrow directivity has been described here, by changing the parameters of the Fresnel type flat plate lens 25, it can be used as a projection light beam for a focused beam or a deflected beam. The applicability is self-evident.

【0038】図11は本発明による半導体発光素子31
を用いた光学式距離センサKの構成を示す説明図であ
る。この距離センサKは、本発明による半導体発光素子
31及びコリメートレンズ32からなる投光部と、受光
レンズ33及び位置検出素子34からなる受光部とから
構成されている。
FIG. 11 shows a semiconductor light emitting device 31 according to the present invention.
It is explanatory drawing which shows the structure of the optical distance sensor K using. The distance sensor K is composed of a light projecting portion including a semiconductor light emitting element 31 and a collimating lens 32 according to the present invention, and a light receiving portion including a light receiving lens 33 and a position detecting element 34.

【0039】また、図11は当該距離センサKによって
対象物35が有する凹凸の段差dを計測する場合を表わ
している。半導体発光素子31から出射された光はコリ
メートレンズ32で平行光化された後、対象物35上に
照射されてビームスポットSP1,SP2を生成し、それ
ぞれビームスポットSP1,SP2の反射像を位置検出素
子34上に結像させる。これらの結像位置は、位置検出
素子34の信号線36,37で得た信号比をもって検出
でき、その位置ずれ量より三角測量の原理を用いて段差
dが算出される。
Further, FIG. 11 shows a case where the unevenness step d of the object 35 is measured by the distance sensor K. The light emitted from the semiconductor light emitting element 31 is collimated by the collimator lens 32, and then is irradiated onto the object 35 to generate beam spots SP 1 and SP 2, which are reflected by the beam spots SP 1 and SP 2 , respectively. An image is formed on the position detecting element 34. These image forming positions can be detected by the signal ratio obtained by the signal lines 36 and 37 of the position detecting element 34, and the step d is calculated from the amount of positional deviation using the principle of triangulation.

【0040】本発明による半導体発光素子31は、高出
力で、かつ発光出射方向が制限された微小発光窓を有す
るものであるので、このような距離センサKに本発明に
よる半導体発光素子31を用いれば、長距離検出が可能
で、しかもビームスポット径が小さく、分解能を向上さ
せることができる。
Since the semiconductor light emitting device 31 according to the present invention has a high output and a minute light emitting window in which the emission emission direction is limited, the semiconductor light emitting device 31 according to the present invention is used for such a distance sensor K. Thus, long-distance detection is possible, the beam spot diameter is small, and the resolution can be improved.

【0041】図12は上記距離センサKによる段差dの
測定結果を示している。これは距離センサKから10c
mだけ離れた位置に高さが2mmと5mmの凸部及び2
mmと5mmの凹部を有する対象物を位置させた場合の
測定結果であり、段差dに応じた特性曲線38が得られ
ている。なお、特性曲線38において、イは2mmの凸
部、ロは5mmの凸部、ハは5mmの凹部、ニは2mm
の凹部に対応する箇所である。
FIG. 12 shows the measurement result of the step d by the distance sensor K. This is 10c from the distance sensor K
2 mm and 5 mm in height and 2 at a position separated by m
It is a measurement result when an object having concave portions of mm and 5 mm is positioned, and a characteristic curve 38 corresponding to the step d is obtained. In the characteristic curve 38, a is a 2 mm convex portion, b is a 5 mm convex portion, c is a 5 mm concave portion, and d is 2 mm.
It is a portion corresponding to the concave portion of.

【0042】図13は本発明による半導体発光素子41
と光ファイバ42とを結合させた結合ユニットLを示す
概略断面図である。この結合ユニットLでは、半導体発
光素子41の錐状開口部7と光ファイバ42の端面とを
一定の距離を置いて対向させている。このような結合ユ
ニットLでは、光結合効率は半導体発光素子41の光出
射方向と発光径に強く依存し、発光出射方向が狭ければ
狭いほど、また発光径が小さければ小さいほど光結合効
率が高くなることが知られている。本発明の半導体発光
素子41は、微小発光径の素子で、しかも出射光を狭小
化したものであるから、結合ユニットLにおいて高い光
結合効率を得ることが可能となる。特に、本発明による
半導体発光素子41は、発光径の微小化に伴う素子の発
熱を抑えることが可能であるから、光ファイバ通信シス
テムにおいては低損失でSN比の高いシステムを構築す
ることが可能になる。
FIG. 13 shows a semiconductor light emitting device 41 according to the present invention.
It is a schematic sectional drawing which shows the coupling unit L which couple | bonded with the optical fiber 42. In this coupling unit L, the conical opening 7 of the semiconductor light emitting element 41 and the end face of the optical fiber 42 are opposed to each other with a certain distance. In such a coupling unit L, the light coupling efficiency strongly depends on the light emitting direction and the light emitting diameter of the semiconductor light emitting element 41. The narrower the light emitting emitting direction is, and the smaller the light emitting diameter is, the higher the light coupling efficiency is. It is known to rise. Since the semiconductor light emitting device 41 of the present invention is a device having a small light emission diameter and the emitted light is narrowed, it is possible to obtain high optical coupling efficiency in the coupling unit L. In particular, the semiconductor light emitting device 41 according to the present invention can suppress the heat generation of the device due to the miniaturization of the light emitting diameter, so that it is possible to construct a system with low loss and high SN ratio in an optical fiber communication system. become.

【0043】図14は本発明による半導体発光素子51
を用いた光ファイバ型センサMを示す概略図である。こ
の光ファイバ型センサMは、半導体発光素子51、投光
用光ファイバ52、受光用光ファイバ53、受光素子5
4及び処理回路55より構成されている。半導体発光素
子51から出射された光は投光用光ファイバ52内を低
損失で送られ、光ファイバ52の端面から対象物56に
向けて出射される。対象物56で反射された光は受光用
光ファイバ53内に入射し、受光素子54で信号受信さ
れる。こうして受光素子54で検知される受光信号の出
力は、投受光用光ファイバ52,53の端面と対象物5
6との距離Sによって変化するので、受光出力から対象
物56までの距離Sを知ることができる。しかも、受光
出力は入射光出力に対応して増加するので、本発明の半
導体発光素子51を用いれば、対象物56までの距離を
長くとっても十分な受光信号が得られる。
FIG. 14 shows a semiconductor light emitting device 51 according to the present invention.
It is a schematic diagram showing an optical fiber type sensor M using. This optical fiber type sensor M includes a semiconductor light emitting element 51, a light projecting optical fiber 52, a light receiving optical fiber 53, and a light receiving element 5.
4 and a processing circuit 55. The light emitted from the semiconductor light emitting element 51 is sent in the light projecting optical fiber 52 with low loss, and emitted from the end face of the optical fiber 52 toward the object 56. The light reflected by the object 56 enters the light receiving optical fiber 53 and is received by the light receiving element 54 as a signal. In this way, the output of the light receiving signal detected by the light receiving element 54 is output from the end faces of the light projecting and receiving optical fibers 52 and 53 and the object
Since it changes depending on the distance S with respect to 6, the distance S from the light reception output to the object 56 can be known. Moreover, since the received light output increases in accordance with the incident light output, by using the semiconductor light emitting device 51 of the present invention, a sufficient received light signal can be obtained even if the distance to the object 56 is long.

【0044】図15(a)に示すものは本発明による半
導体発光素子65を用いた透過型光学式ロータリーエン
コーダNを示す斜視図である。このロータリーエンコー
ダNは、回転軸61に取り付けられた回転板62、回転
板62の外周部に対向した固定板63、回転板62及び
固定板63を挟んで対向させられた投光レンズ64と本
発明による半導体発光素子65及び受光素子66から構
成されている。回転板62の外周部には全周にわたって
1mmの間隔のスリット67が穿孔されており、固定板
63にも1mmの間隔でトラックAスリット68及びト
ラックBスリット69が穿孔されている。
FIG. 15A is a perspective view showing a transmissive optical rotary encoder N using the semiconductor light emitting device 65 according to the present invention. The rotary encoder N includes a rotary plate 62 attached to the rotary shaft 61, a fixed plate 63 facing the outer peripheral portion of the rotary plate 62, and a projection lens 64 facing the rotary plate 62 and the fixed plate 63. It comprises a semiconductor light emitting device 65 and a light receiving device 66 according to the invention. The outer circumference of the rotary plate 62 is perforated with slits 67 at intervals of 1 mm, and the fixed plate 63 is also perforated with track A slits 68 and track B slits 69 at intervals of 1 mm.

【0045】しかして、半導体発光素子65から出射さ
れた光は、投光レンズ64でコリメートされた後、固定
板63のスリット68,69で分割され、回転板62の
スリット67を通り、受光素子66で検知される。固定
板63のトラックAスリット68とトラックBスリット
69は電気位相角を90゜ずらしてあり、A相信号・B
相信号が共にオン(受光状態)になるときをスケールの
1単位(1スリット)と数えることによりスケールを読
むものである。また、図15(b)に示すようにA相か
らオンになるか、あるいはB相からオンになるかで回転
方向を判別できるようになっている。
The light emitted from the semiconductor light emitting element 65 is collimated by the light projecting lens 64, divided by the slits 68 and 69 of the fixed plate 63, passes through the slit 67 of the rotary plate 62, and passes through the light receiving element. It is detected at 66. The track A slit 68 and the track B slit 69 of the fixed plate 63 are shifted in electrical phase angle by 90 °.
The scale is read by counting when both phase signals are turned on (light receiving state) as one unit (one slit) of the scale. Further, as shown in FIG. 15B, the rotation direction can be determined depending on whether the A phase is turned on or the B phase is turned on.

【0046】このロータリーエンコーダにおいて、例え
ば、従来の面発光型半導体発光素子(発光径400μ
m)を用い、焦点距離f=10mm、レンズ径4mmの
投光レンズでコリメートしたとすると、そのコリメート
性の悪さによって回転板上のビーム径は、固定板のスリ
ット幅+約40μmに広がり、しかも光出力が低くな
る。したがって、600DPI(40μmピッチ)以上
のスケールではスリット幅以上にビームが広がることと
なり、スケールを読み取ることができず、高分解能化が
不可能である。
In this rotary encoder, for example, a conventional surface-emitting type semiconductor light emitting device (emission diameter 400 μm) is used.
m) and collimating with a projection lens having a focal length f = 10 mm and a lens diameter of 4 mm, the beam diameter on the rotating plate spreads to the slit width of the fixed plate + about 40 μm due to the poor collimating property. Light output is low. Therefore, with a scale of 600 DPI (40 μm pitch) or more, the beam spreads beyond the slit width, the scale cannot be read, and high resolution cannot be achieved.

【0047】これに対し、本発明による半導体発光素子
65を用いたロータリーエンコーダNでは、出射ビーム
が狭小化されており、しかもプレート6の錐状開口部7
の開口径を微小化することで半導体発光素子65の発光
径を10μm以下にできる。このため、同じレンズを用
いてコリメート化しても、回転板62上のビーム径を固
定板のスリット幅+約0.5μmに抑えることができ、
高分解能化が可能になり、600DPI(40μmピッ
チ)以上のスケールを読み取ることも可能になる。
On the other hand, in the rotary encoder N using the semiconductor light emitting device 65 according to the present invention, the emitted beam is narrowed and the conical opening 7 of the plate 6 is used.
The emission diameter of the semiconductor light emitting device 65 can be made 10 μm or less by making the opening diameter of the device smaller. Therefore, even if the same lens is used for collimation, the beam diameter on the rotating plate 62 can be suppressed to the slit width of the fixed plate + about 0.5 μm,
It is possible to increase the resolution and read a scale of 600 DPI (40 μm pitch) or more.

【0048】また、アレイ状の錐状開口部7を持つプレ
ート6を備え、発光部分をアレイ状に配列した本発明の
半導体発光素子65を用い、各錐状開口部7にコリメー
ト用のレンズを装着すれば、光源部分の小型化を図るこ
とができる。従って、高分解能で、しかも小さなロータ
リーエンコーダNを実現することができる。
Further, the semiconductor light-emitting device 65 of the present invention in which the plate 6 having the array-shaped conical openings 7 is provided and the light-emitting portions are arranged in an array is used, and a lens for collimation is provided in each conical opening 7. If attached, the light source portion can be downsized. Therefore, it is possible to realize a small rotary encoder N with high resolution.

【0049】なお、上記実施例では、ロータリーエンコ
ーダを説明したが、リニアエンコーダにおいて本発明に
よる半導体発光素子を用いることによっても同様な効果
を得ることができる。
Although the rotary encoder has been described in the above embodiment, the same effect can be obtained by using the semiconductor light emitting device according to the present invention in the linear encoder.

【0050】図16(a)は光学的情報処理装置の例で
あって、本発明による半導体発光素子71を用いたバー
コードリーダPを示す斜視図である。このバーコードリ
ーダPは、半導体発光素子71、投光側集光レンズ7
2、回転多面鏡73、回転多面鏡73を一定方向に一定
速度で回転させるスキャナモータ74、等速走査レンズ
75、受光側集光レンズ76、受光素子77から構成さ
れている。
FIG. 16A is an example of an optical information processing apparatus and is a perspective view showing a bar code reader P using a semiconductor light emitting device 71 according to the present invention. This bar code reader P includes a semiconductor light emitting element 71 and a light projecting side condenser lens 7.
2, a rotary polygon mirror 73, a scanner motor 74 for rotating the rotary polygon mirror 73 in a constant direction at a constant speed, a constant velocity scanning lens 75, a light receiving side condensing lens 76, and a light receiving element 77.

【0051】しかして、半導体発光素子71から出射さ
れた光は投光側集光レンズ72を通り、回転多面鏡73
で反射されると共に水平方向にスキャンされ、等速走査
レンズ75で等速化された後、バーコード78上で集光
され、バーコード78上を走査される。さらに、バーコ
ード78からの反射光は、受光側集光レンズ76により
受光素子77上に集光されて検知され、バーコード信号
BSが得られる。このバーコードリーダPにおいては、
等速走査レンズ75により光ビームの走査速度が等速化
されているので、横軸に時間をとり、縦軸に検知信号
(バーコード信号BS)をとると、図16(b)に示す
ようにバーコード78に応じた信号BSが得られる。
Thus, the light emitted from the semiconductor light emitting element 71 passes through the light projecting side condenser lens 72, and the rotating polygon mirror 73.
The light beam is reflected by the laser beam, is scanned in the horizontal direction, is made uniform in velocity by the constant velocity scanning lens 75, is condensed on the barcode 78, and is scanned on the barcode 78. Further, the reflected light from the bar code 78 is condensed and detected on the light receiving element 77 by the light receiving side condensing lens 76, and the bar code signal BS is obtained. In this barcode reader P,
Since the scanning speed of the light beam is made uniform by the uniform speed scanning lens 75, when the horizontal axis represents time and the vertical axis represents the detection signal (bar code signal BS), as shown in FIG. 16 (b). A signal BS corresponding to the bar code 78 is obtained.

【0052】このようなバーコードリーダにおいては、
半導体発光素子としては一般に半導体レーザ素子が用い
られているが、半導体レーザ素子の人体への危険性よ
り、発光ダイオードを用いたバーコードリーダが望まれ
ている。しかしながら、発光ダイオードは前述の通り発
光出射方向が広く、投光側集光レンズ72への光結合効
率が低く、しかも一般的に400μm程度の発光領域を
有するため、その集光性の悪さよりバーコード上でのビ
ーム径は6.7mm以上に大きくなり、バーコード(一
般的に、最小線幅は0.2mm)は到底読み取ることが
できない。
In such a bar code reader,
A semiconductor laser element is generally used as a semiconductor light emitting element, but a bar code reader using a light emitting diode is desired because of the danger of the semiconductor laser element to the human body. However, the light emitting diode has a wide light emitting and emitting direction as described above, low optical coupling efficiency to the light projecting side condenser lens 72, and generally has a light emitting region of about 400 μm. The beam diameter on the code becomes larger than 6.7 mm, and the bar code (generally, the minimum line width is 0.2 mm) cannot be read at all.

【0053】これに対し、本発明による半導体発光素子
71では、プレート6にあけた錐状開口部7の開口径を
微小化することにより、微小発光径素子とすることがで
きる。このため、同一条件で集光しても、バーコード7
8上でのビーム径をバーコード78の最小線幅以下
(0.2mm弱)まで絞ることができ、バーコード78
を読み取ることができる。このように本発明の半導体発
光素子を用いれば、温度特性にすぐれ、しかもサージに
も強い発光ダイオードを実現することが可能になる。
On the other hand, in the semiconductor light emitting device 71 according to the present invention, by making the opening diameter of the conical opening 7 formed in the plate 6 small, a small light emitting device can be obtained. Therefore, even if light is collected under the same conditions, the barcode 7
The beam diameter on 8 can be narrowed down to the minimum line width of the barcode 78 (less than 0.2 mm), and the barcode 78
Can be read. As described above, by using the semiconductor light emitting device of the present invention, it is possible to realize a light emitting diode which has excellent temperature characteristics and is strong against surges.

【0054】[0054]

【発明の効果】本発明の半導体発光素子によれば、発光
素子チップから出射された出射ビームを反射層によって
光軸と平行に近くなる方向へ反射させることができるの
で、反射層で反射された後外部へ出射されるビームを狭
小化することができ、レンズや光ファイバ等の外付け部
品との光結合効率が高くなる。
According to the semiconductor light emitting device of the present invention, since the outgoing beam emitted from the light emitting device chip can be reflected by the reflecting layer in the direction close to the optical axis, it is reflected by the reflecting layer. The beam emitted to the outside can be narrowed, and the efficiency of optical coupling with external parts such as lenses and optical fibers is increased.

【0055】特に、小さな光出射窓を有する発光素子チ
ップや電流狭窄構造の発光素子チップのような、いわゆ
る点光源型の発光素子チップと当該プレートとを組み合
わせれば、外部へ取り出せる光出力を変えることなくビ
ームの出射方向のみを変えることができるので、指向性
の高いすぐれた光源を得ることができる。
In particular, if a so-called point light source type light emitting element chip such as a light emitting element chip having a small light emitting window or a light confining structure light emitting element chip is combined with the plate, the light output that can be extracted to the outside can be changed. Since it is possible to change only the emission direction of the beam without having to do so, an excellent light source with high directivity can be obtained.

【0056】また、プレートの底面積が発光素子チップ
の面積よりも大きいと、発光素子チップの側面から出射
されるいわゆる漏れ光を遮断することができ、上部出射
光のノイズ低減に効果がある。
Further, when the bottom area of the plate is larger than the area of the light emitting element chip, so-called leakage light emitted from the side surface of the light emitting element chip can be blocked, which is effective in reducing the noise of the upper emission light.

【0057】さらに、プレートに複数の溝加工を施して
いると、プレートの放熱面積が大きくなるので、プレー
トを通して発光素子チップの放熱を効果的に行なえるよ
うになる。
Further, when the plate is processed with a plurality of grooves, the heat radiation area of the plate becomes large, so that the heat radiation of the light emitting element chip can be effectively performed through the plate.

【0058】特に、シリコンからなるプレートを用いる
と、プレートの熱伝導率が良好でプレートがヒートシン
クとして働き、また熱膨張率が発光素子チップとほぼ等
しく、温度特性にすぐれた半導体発光素子を製作するこ
とができる。さらに、シリコンのプレートを用いると、
発光素子チップとのプロセスの互換性も得られる。
In particular, when a plate made of silicon is used, the plate has good thermal conductivity, the plate functions as a heat sink, and the coefficient of thermal expansion is almost the same as that of the light emitting element chip, so that a semiconductor light emitting element having excellent temperature characteristics is manufactured. be able to. Furthermore, using a silicon plate,
Process compatibility with the light emitting device chip is also obtained.

【0059】さらに、少なくとも表面に導電性を有する
プレートを用いると、発光素子チップへの電流注入をプ
レートの上部より行なえるので、半導体発光素子の実装
が容易になり、製造コストが低減する。
Furthermore, when a plate having conductivity on at least the surface is used, current can be injected into the light emitting element chip from above the plate, so that the semiconductor light emitting element can be easily mounted and the manufacturing cost is reduced.

【0060】さらに、プレートの開口部に球レンズや半
球状レンズ、フレネルレンズ等の各種レンズを装着する
ことにより、集光光、平行光もしくは拡散光等の用途に
応じた出射ビームを得ることができる。
Further, by mounting various lenses such as a spherical lens, a hemispherical lens, and a Fresnel lens in the opening of the plate, it is possible to obtain an outgoing beam according to the application such as condensed light, parallel light or diffused light. it can.

【0061】また、本発明の半導体発光素子を光電スイ
ッチやフォトインタラプタ、光測距計等の光学検知装置
の投光器に用いると、出射ビームが細く、かつ発光出力
も大きい光ビームが得られるので、複雑な光学系を用い
ずに検出精度に優れ、しかも安全な光学検知装置を得る
ことができる。同様に、本発明の半導体発光素子をファ
イバ通信用光源に用いると、光ファイバへの光結合効率
が向上するので、伝送距離の長い光通信装置を得ること
ができる。さらに、本発明の半導体発光素子を光学的情
報処理装置に用いると、温度特性に優れた光学的情報処
理装置を作成することができる。
Further, when the semiconductor light emitting device of the present invention is used for a projector of an optical detection device such as a photoelectric switch, a photo interrupter, or an optical distance meter, a light beam with a small emission beam and a large emission output can be obtained. It is possible to obtain an optical detection device which is excellent in detection accuracy and safe without using a complicated optical system. Similarly, when the semiconductor light emitting device of the present invention is used as a light source for fiber communication, the efficiency of optical coupling to the optical fiber is improved, so that an optical communication device having a long transmission distance can be obtained. Furthermore, when the semiconductor light emitting device of the present invention is used in an optical information processing device, an optical information processing device having excellent temperature characteristics can be created.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施例による半導体発光素子の
構造を示す断面模式図である。
FIG. 1 is a schematic sectional view showing a structure of a semiconductor light emitting device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】同上の実施例における光の挙動を示す光線図で
ある。
FIG. 2 is a ray diagram showing a behavior of light in the above embodiment.

【図3】本発明の第2の実施例による半導体発光素子の
構造を示す断面模式図である。
FIG. 3 is a schematic sectional view showing a structure of a semiconductor light emitting device according to a second embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第3の実施例による半導体発光素子の
構造を示す断面模式図である。
FIG. 4 is a schematic sectional view showing the structure of a semiconductor light emitting device according to a third embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第4の実施例による半導体発光素子の
構造を示す断面模式図である。
FIG. 5 is a schematic sectional view showing a structure of a semiconductor light emitting device according to a fourth embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第5の実施例による半導体発光素子の
構造を示す断面模式図である。
FIG. 6 is a schematic sectional view showing a structure of a semiconductor light emitting device according to a fifth embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第6の実施例による半導体発光素子の
構造を示す断面模式図である。
FIG. 7 is a schematic sectional view showing the structure of a semiconductor light emitting device according to a sixth embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第7の実施例による半導体発光素子の
構造を示す断面模式図である。
FIG. 8 is a schematic sectional view showing the structure of a semiconductor light emitting device according to a seventh embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第8の実施例による半導体発光素子の
構造を示す断面模式図である。
FIG. 9 is a schematic sectional view showing the structure of a semiconductor light emitting device according to an eighth embodiment of the present invention.

【図10】(a)(b)(c)は本発明による半導体発
光素子を用いた投光器を示す斜視図、水平断面図及び側
断面図である。
10 (a), (b) and (c) are a perspective view, a horizontal sectional view and a side sectional view showing a projector using the semiconductor light emitting device according to the present invention.

【図11】本発明による半導体発光素子を用いた距離セ
ンサの構成を示す概略図である。
FIG. 11 is a schematic view showing a configuration of a distance sensor using a semiconductor light emitting device according to the present invention.

【図12】同上の距離センサによる測定結果の一例を示
す図である。
FIG. 12 is a diagram showing an example of a measurement result obtained by the above distance sensor.

【図13】本発明の半導体発光素子と光ファイバとの結
合ユニットをしめす断面図である。
FIG. 13 is a sectional view showing a coupling unit of a semiconductor light emitting device and an optical fiber according to the present invention.

【図14】本発明による半導体発光素子を用いた光ファ
イバ型センサの構成を示す概略図である。
FIG. 14 is a schematic view showing a configuration of an optical fiber type sensor using a semiconductor light emitting device according to the present invention.

【図15】(a)は本発明による半導体発光素子を用い
たロータリーエンコーダを示す斜視図、(b)は当該エ
ンコーダのA相信号とB相信号を示す波形図である。
15A is a perspective view showing a rotary encoder using a semiconductor light emitting device according to the present invention, and FIG. 15B is a waveform diagram showing an A phase signal and a B phase signal of the encoder.

【図16】(a)は本発明による半導体発光素子を用い
たバーコードリーダを示す斜視図、(b)はバーコード
リーダによる検知信号を示す図である。
16A is a perspective view showing a bar code reader using a semiconductor light emitting device according to the present invention, and FIG. 16B is a view showing a detection signal by the bar code reader.

【図17】従来の半導体発光素子の構造を示す断面図で
ある。
FIG. 17 is a sectional view showing a structure of a conventional semiconductor light emitting device.

【図18】従来の投光器を示す一部破断した斜視図であ
る。
FIG. 18 is a partially cutaway perspective view showing a conventional light projector.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 発光素子チップ 2 活性層 5 光出射窓 6 プレート 7 錐状開口部 8 反射層 11 溝部 12 球レンズ 14 半球レンズ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Light emitting element chip 2 Active layer 5 Light emission window 6 Plate 7 Conical opening 8 Reflective layer 11 Groove 12 Spherical lens 14 Hemispherical lens

Claims (13)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 面方向に光を出射する活性層を有する発
光素子チップと、当該発光素子チップの光出射側の表面
に装荷されたプレートとを備え、 前記発光素子チップと対向する側で開口径が小さくなる
よう前記プレートに略テーパー状をした開口部を貫通さ
せ、当該開口部の内周面に反射層を形成したことを特徴
とする半導体発光素子。
1. A light emitting element chip having an active layer that emits light in a plane direction, and a plate loaded on the surface of the light emitting element chip on the light emitting side, the opening being on the side facing the light emitting element chip. A semiconductor light emitting device characterized in that a substantially tapered opening is penetrated through the plate so as to have a small diameter, and a reflective layer is formed on an inner peripheral surface of the opening.
【請求項2】 前記発光素子チップに形成した光出射窓
に対向して前記開口部が設けられ、前記光出射窓の面積
が前記開口部の開口径が小さな側の開口面積よりも小さ
いことを特徴とする請求項1に記載の半導体発光素子。
2. The opening is provided so as to face a light exit window formed in the light emitting element chip, and the area of the light exit window is smaller than the opening area on the side where the opening diameter of the opening is small. The semiconductor light emitting device according to claim 1, which is characterized in that.
【請求項3】 前記発光素子チップに形成した光出射窓
に対応して前記発光素子チップ内部に電流狭窄構造が形
成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の
半導体発光素子。
3. The semiconductor light emitting device according to claim 1, wherein a current confinement structure is formed inside the light emitting device chip so as to correspond to a light emission window formed in the light emitting device chip.
【請求項4】 前記プレートの底面積が前記発光素子チ
ップの面積よりも大きいことを特徴とする請求項1,2
又は3に記載の半導体発光素子。
4. The area of the bottom of the plate is larger than the area of the light emitting device chip.
Alternatively, the semiconductor light emitting device according to the item 3.
【請求項5】 前記プレートの前記開口部を形成された
領域以外の領域に複数の溝加工を施したことを特徴とす
る請求項1,2,3又は4に記載の半導体発光素子。
5. The semiconductor light emitting device according to claim 1, wherein a plurality of grooves are processed in a region of the plate other than the region where the opening is formed.
【請求項6】 前記プレートが少なくとも表面に導電性
を有することを特徴とする請求項1,2,3,4又は5
に記載の半導体発光素子。
6. The plate according to claim 1, 2, 3, 4, or 5, wherein at least a surface of the plate has conductivity.
The semiconductor light-emitting device according to.
【請求項7】 前記プレートがシリコンにより形成され
ていることを特徴とする請求項1,2,3,4,5又は
6に記載の半導体発光素子。
7. The semiconductor light emitting device according to claim 1, 2, 3, 4, 5, or 6, wherein the plate is made of silicon.
【請求項8】 前記開口部の形状を略円形テーパー状と
し、その開口部の内部もしくは上部に球レンズを装着し
たことを特徴とする請求項1,2,3,4,5,6又は
7に記載の半導体発光素子。
8. The shape of the opening is a substantially circular taper shape, and a spherical lens is attached to the inside or the upper part of the opening, 1, 2, 3, 4, 5, 6 or 7. The semiconductor light-emitting device according to.
【請求項9】 前記プレートの開口部の内部もしくは上
部にレンズ固定用の凹部を形成し、半球状レンズやフレ
ネルレンズ等のレンズを当該凹部に装着したことを特徴
とする請求項1,2,3,4,5,6又は7に記載の半
導体発光素子。
9. A recess for fixing a lens is formed inside or above an opening of the plate, and a lens such as a hemispherical lens or a Fresnel lens is mounted in the recess. The semiconductor light emitting device according to 3, 4, 5, 6 or 7.
【請求項10】 前記プレートの開口部を透明樹脂材で
封止し、この透明樹脂材にレンズ作用を持たせたことを
特徴とする請求項1,2,3,4,5,6又は7に記載
の半導体発光素子。
10. An opening of the plate is sealed with a transparent resin material, and the transparent resin material has a lens function. The semiconductor light-emitting device according to.
【請求項11】 請求項1,2,3,4,5,6又は7
に記載の半導体発光素子をリードフレームに装着し、こ
の半導体発光素子を透明樹脂材で所定形状に封止成形
し、この透明樹脂材の表面に平板状レンズを一体成形し
たことを特徴とする投光器。
11. The method according to claim 1, 2, 3, 4, 5, 6 or 7.
The semiconductor light emitting device according to claim 1 is mounted on a lead frame, the semiconductor light emitting device is sealed and molded in a predetermined shape with a transparent resin material, and a flat lens is integrally molded on the surface of the transparent resin material. .
【請求項12】 請求項1,2,3,4,5,6,7,
8,9又は10に記載の半導体発光素子を備えたことを
特徴とする光学検知装置。
12. The method according to claim 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7,
An optical detection device comprising the semiconductor light emitting device described in 8, 9, or 10.
【請求項13】 請求項1,2,3,4,5,6,7,
8,9又は10に記載の半導体発光素子を備えたことを
特徴とする光学的情報処理装置。
13. The method according to claim 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7,
An optical information processing apparatus comprising the semiconductor light emitting device described in 8, 9, or 10.
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