JPH0750504B2 - Pattern recognition device - Google Patents

Pattern recognition device

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JPH0750504B2
JPH0750504B2 JP60222454A JP22245485A JPH0750504B2 JP H0750504 B2 JPH0750504 B2 JP H0750504B2 JP 60222454 A JP60222454 A JP 60222454A JP 22245485 A JP22245485 A JP 22245485A JP H0750504 B2 JPH0750504 B2 JP H0750504B2
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pixels
image data
pattern
address
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哲夫 法貴
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大日本スクリ−ン製造株式会社
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、プリント配線板、ICマスクパターン、リー
ドフレーム等のパターン欠陥検査等に使用されるパター
ン認識装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pattern recognition device used for pattern defect inspection of printed wiring boards, IC mask patterns, lead frames and the like.

(従来の技術とその問題点) 各種パターンを認識しうるパターン認識装置として、CC
Dライセンサ等の入力系と計算機とを組み合わせた装置
が開発されているが、ソフトウェアに依存する部分が多
く高速化が難しというのが現状である。一方、ハードウ
ェアを用いて各種パターンを高速で認識しうるようにし
たパターン認識装置も開発されているが、この種の装置
においては、各種パターンに応じてそれぞれの特徴を検
出しうる専用のハードウェアを必要とし、しかもそれら
は通常、認識しようとする特徴点が増すにつれ、膨大な
処理回路を必要とするという問題を有していた。
(Conventional technology and its problems) CC as a pattern recognition device that can recognize various patterns
Although a device combining an input system such as a D licensor and a computer has been developed, it is the current situation that it is difficult to increase the speed because there are many parts that depend on software. On the other hand, a pattern recognition device has been developed which is capable of recognizing various patterns at high speed by using hardware. However, in this type of device, a dedicated hardware that can detect each feature according to various patterns is developed. They have had the problem of requiring ware and, in addition, usually require a huge amount of processing circuits as the number of feature points to be recognized increases.

第21図は従来例であるパターン認識装置の回路図を示
す。ここでは、説明の便宜上、5×5画素サイズのパタ
ーン認識回路として説明するが、理論的には任意のサイ
ズが可能である。
FIG. 21 is a circuit diagram of a conventional pattern recognition device. Here, for convenience of explanation, a pattern recognition circuit having a size of 5 × 5 pixels will be described, but theoretically any size is possible.

被検査物1に対応する被検査パターンは、ライセンサ、
エリアセンサ又はTVカメラ等の入力装置2で入力され、
その画像データは、次の2値化回路3で2値化されるも
のとする。ここでは、説明上、入力装置2として2048画
素のCCDライセンサを想定し、このCCDライセンサにより
主走査方向Xに1ライン分の走査が行なわれるたびに、
被検査物1が副走査方向Yへ1画素分ずつ移動されて、
被検査物全面の画像データが得られるものとする。
The inspection pattern corresponding to the inspection object 1 is a licensor,
Input with the input device 2 such as area sensor or TV camera,
It is assumed that the image data is binarized by the next binarization circuit 3. Here, for the sake of explanation, it is assumed that a 2048 pixel CCD licensor is used as the input device 2, and every time one line is scanned in the main scanning direction X by this CCD licensor.
The inspection object 1 is moved by one pixel in the sub-scanning direction Y,
Image data of the entire surface of the inspection object can be obtained.

2値化画像データ3で2値化回路は、ピクセルクロック
発生部4より送り出されるピクセルクロックパルスに応
じて、フリップフロップ214(の最上位列)に順次ラッ
チされる。一方、2048ビットのラインシフトレジスタL
11により、1走査画素(2048画素)分だけ遅延された画
像データは、フリップフロップ214(の第2列目)にラ
ッチされる。以下同様にして、2048ビットのラインシフ
トレジスタL12により2走査分だけ遅延された画像デー
タがフリップフロップ214(の第3列目)にラッチさ
れ、2048ビットのラインシフトレジスタL13により3走
査分だけ遅延された画像データがフリップフロップ214
(の第4列目)にラッチされ、2048ビットのラインシフ
トレジスタL14により4走査分だけ遅延された画像デー
タがフリップフロップ214(の最下列)にラッチされ
る。こうして、フリップフロップ214には、主副走査方
向に5×5画素分の画像データが、ピクセルクロックパ
ルス毎に順次現われることとなる。
In the binarized image data 3, the binarization circuit is sequentially latched in the flip-flop 214 (the highest column of the flip-flops 214) according to the pixel clock pulse sent from the pixel clock generator 4. On the other hand, a 2048-bit line shift register L
The image data delayed by one scanning pixel (2048 pixels) by 11 is latched in (the second column of) the flip-flop 214. Similarly, the image data delayed by 2 scans by the 2048-bit line shift register L 12 is latched in the flip-flop 214 (the third column of the same), and is scanned by the 2048-bit line shift register L 13 for 3 scans. The image data delayed only by the flip-flop 214
The image data latched in (the fourth column of) and delayed by 4 scans by the 2048-bit line shift register L 14 is latched in (the bottom column of) the flip-flop 214. In this way, the image data of 5 × 5 pixels appears in the flip-flop 214 in the main and sub-scanning directions sequentially for each pixel clock pulse.

この5×5画素分の画像データは排他的論理和回路215
の対応する画素毎の一方の入力端子に与えられる。
The image data for this 5 × 5 pixels is processed by the exclusive OR circuit 215.
Is applied to one input terminal of each corresponding pixel.

メモリ205には、認識すべき基準パターン5×5画素が
格納され、これらのデータは排他的論理和回路215の対
応する画素毎のもう一方の入力端子に与えられる。
The memory 205 stores the reference pattern 5 × 5 pixels to be recognized, and these data are given to the other input terminal of each corresponding pixel of the exclusive OR circuit 215.

排他的論理和回路215からは5×5画素の対応する1つ
ずつの画素毎に一致しているときは「0」、または不一
致であるときは「1」の信号が出力される。
The exclusive OR circuit 215 outputs a signal of "0" when the pixels are matched for each corresponding 5 × 5 pixel, or a signal of "1" when the pixels are not matched.

メモリ207には、検出すべき領域(ここでは5×5画
素)内で検査の不必要な領域があれば、その領域の検査
結果をマスキングするためのマスキングデータが格納さ
れる。このマスキングデータは、論理積回路216の対応
する画素毎の一方の入力端子へ与えられる。論理積回路
216の他方の入力端子には、上記排他的論理和回路215の
出力信号が対応する画素毎に入力されるため、マスキン
グデータとして「0」が論理積回路216内のいずれかへ
入力されると、対応する排他的論理和回路215の出力信
号が「1」の場合(不一致の場合)でも、その論理積回
路からの出力は「0」となる。これはその画素に対して
マスクがかかったことになる。
The memory 207 stores masking data for masking the inspection result of the area, if there is an unnecessary area in the area to be detected (here, 5 × 5 pixels). This masking data is given to one input terminal of each corresponding pixel of the AND circuit 216. AND circuit
Since the output signal of the exclusive OR circuit 215 is input to the corresponding input pixel of each pixel in the other input terminal of 216, when "0" is input to any of the AND circuits 216 as masking data. Even when the output signal of the corresponding exclusive OR circuit 215 is "1" (when they do not match), the output from the AND circuit is "0". This means that the pixel is masked.

論理積回路216の各出力は、論理和回路208に入力され、
その出力が「0」であれば、パターンが一致していると
認識され、またその出力が「1」であればパターンが一
致していないと認識される。(例えば、特公昭60−2718
5号公報の第35図) 上述の従来例は5×5画素で説明したが、実際にパター
ンを認識するには例えば256×256画素程度で行わねばな
らない。しかるに第21図におけるフリップフロップ214,
排他的論理和回路215、論理積回路216の回路を具体的に
実現するには、2次元の数を必要とするので膨大な回路
になってしまう。
Each output of the logical product circuit 216 is input to the logical sum circuit 208,
If the output is "0", it is recognized that the patterns match, and if the output is "1", it is recognized that the patterns do not match. (For example, Japanese Patent Publication 60-2718
FIG. 35 of Japanese Patent Laid-Open No. 5) Although the above-mentioned conventional example has been described with 5 × 5 pixels, in order to actually recognize the pattern, it is necessary to perform with, for example, about 256 × 256 pixels. However, the flip-flop 214 in FIG. 21,
In order to specifically realize the circuits of the exclusive OR circuit 215 and the AND circuit 216, a two-dimensional number is required, which is an enormous circuit.

(発明の目的) この発明は、上記問題点を解決するためになされたもの
で、各種パターンの認識を簡単な回路構成により高速で
行なえるパターン認識装置を提供することを目的とす
る。
(Object of the Invention) The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a pattern recognition device that can recognize various patterns at high speed with a simple circuit configuration.

(目的を達成するための手段) 本発明は、(a)クロック信号を発生するクロック信号
発生手段と、(b)被検査物の主走査方向に沿って時系
列的に送信されて来る前記被検査物の2値化画像データ
の内、前記主走査方向に直交する副走査方向に同一列の
m画素分(mは2以上の整数)の2値化画像データを、
前記クロック信号に同期してラッチする第1ラッチ回路
と、(c)前記被検査物の2値化画像データの内、前記
m画素分の2値化画像データの内で予め定められた2値
化画像データに対して前記主走査方向に時系列的に先行
するk画素分の2値化画像データ(kは1以上の整数)
を、前記クロック信号に同期してラッチする第2ラッチ
回路と、(d)前記副走査方向に前記m画素分、前記
主走査方向にn画素分(nは2以上の整数)を有するm
×n画素分の基準パターンの2値化画像データを、その
各副走査方向のm画素分の2値化画像データのそれぞれ
の格納場所を特定する第1アドレスデータの各値に対応
付けて第1基準データ群として格納しており、前記第
1基準データ群の内で、前記k画素分の2値化画像デー
タが属する走査ラインに対応した前記主走査方向のn画
素分の2値化画像データを、当該n画素分の2値化画像
データの格納場所を特定する第2アドレスデータの値に
対応付けて第2基準データ群として格納すると共に、
更に前記第1及び第2アドレスデータは、それぞれが特
定する2値化画像データに対応して前記第1及び第2ラ
ッチ回路の何れを指定するかを示すデータの格納場所を
も特定する信号であって、当該第1及び第2アドレスデ
ータの各値に対応付けて前記第1及び第2ラッチ回路の
何れかを指定するデータをセレクタ切換えデータとして
格納する、メモリとを備えており、前記第1アドレスデ
ータの前記メモリへの入力に応じて、当該第1アドレス
データの値に対応した、前記副走査方向のm画素分の第
1基準データ群と前記セレクタ切換えデータとが読出さ
れるとき及び、前記第2アドレスデータの前記メモリへ
の入力に応じて、当該第2アドレスデータに対応した、
前記第2基準データ群と前記セレクタ切換えデータとが
読出されるときには、前記メモリは、当該読出された第
1又は第2基準データ群とセレクタ切換えデータとを前
記クロック信号に同期して出力する一方、(e)前記第
1及び第2ラッチ回路がそれぞれ出力する前記m画素分
及びk画素分の2値化画像データの一方を、前記メモリ
から出力される前記セレクタ切換えデータに応じて出力
するセレクタと、(f)前記メモリから選択的に呼び出
される前記第1又は第2基準データ群と前記セレクタの
出力とを対応する画素毎に比較して、各画素が全て一致
するときには一致信号を出力する一方、少なくとも一組
の画素が不一致のときには不一致信号を出力する比較回
路と、(g)前記第2アドレスデータに相当する値がプ
リセットデータとして設定されており、前記比較回路か
ら前記一致信号が入力されたときには、前記クロック信
号に同期してそのカウント値を歩進させると共に歩進後
のカウント値を前記第1アドレスデータとして前記メモ
リへ出力し、前記不一致信号が入力されたときには、前
記クロック信号に同期して前記カウント値をプリセット
すると共に前記プリセットデータを前記第2アドレスデ
ータとして出力する一方、前記カウント値の歩進がn回
連続したときには、次の前記のクロック信号に同期して
当該カウント値をプリセットすると共にパターン一致検
出信号を出力する、カウンタ回路とを、更に備えたもの
である。
(Means for Achieving the Purpose) The present invention provides (a) a clock signal generating means for generating a clock signal, and (b) the object to be inspected transmitted in time series along the main scanning direction of the object to be inspected. Of the binary image data of the inspection object, the binary image data of m pixels (m is an integer of 2 or more) in the same column in the sub-scanning direction orthogonal to the main scanning direction,
A first latch circuit for latching in synchronization with the clock signal; and (c) a predetermined binary value of the m-pixel binary image data of the binary image data of the inspection object. Binary image data for k pixels preceding the binarized image data in time series in the main scanning direction (k is an integer of 1 or more)
A second latch circuit for latching in synchronization with the clock signal, and (d) m having m pixels in the sub-scanning direction and n pixels (n is an integer of 2 or more) in the main scanning direction.
The binary image data of the reference pattern of × n pixels is associated with each value of the first address data that specifies the storage location of each of the binary image data of m pixels in each sub-scanning direction. One reference data group is stored, and in the first reference data group, a binarized image for n pixels in the main scanning direction corresponding to a scanning line to which the binarized image data for k pixels belongs. The data is stored as the second reference data group in association with the value of the second address data that specifies the storage location of the binarized image data for the n pixels.
Further, the first and second address data are signals that also specify a storage location of data indicating which of the first and second latch circuits is specified corresponding to the binarized image data specified by each. A memory for storing, as selector switching data, data designating one of the first and second latch circuits in association with each value of the first and second address data. When a first reference data group of m pixels in the sub-scanning direction corresponding to the value of the first address data and the selector switching data are read in response to the input of one address data to the memory, and , Corresponding to the second address data according to the input of the second address data to the memory,
When the second reference data group and the selector switching data are read, the memory outputs the read first or second reference data group and the selector switching data in synchronization with the clock signal. And (e) a selector that outputs one of the binary image data for the m pixels and the k pixels output by the first and second latch circuits, respectively, according to the selector switching data output from the memory. And (f) comparing the first or second reference data group selectively called from the memory with the output of the selector for each corresponding pixel, and outputting a coincidence signal when all the pixels coincide with each other. On the other hand, a comparison circuit that outputs a non-coincidence signal when at least one set of pixels do not coincide with each other, and (g) a value corresponding to the second address data is preset data. When the coincidence signal is input from the comparison circuit, the count value is incremented in synchronization with the clock signal and the incremented count value is stored in the memory as the first address data. When the non-coincidence signal is output, the count value is preset in synchronization with the clock signal and the preset data is output as the second address data, while the count value is stepped continuously n times. In this case, a counter circuit for presetting the count value and outputting a pattern matching detection signal in synchronization with the next clock signal is further provided.

(実施例) 第1図(a)はこの発明の一実施例であるパターン認識
装置の回路図を示す。ここでは、説明の便宜上、5×5
画素サイズのパターン認識回路として説明するが、理論
的には任意のサイズが可能である。
(Embodiment) FIG. 1 (a) is a circuit diagram of a pattern recognition apparatus according to an embodiment of the present invention. Here, for convenience of explanation, 5 × 5
Although described as a pixel size pattern recognition circuit, theoretically any size is possible.

被検査物1に対応する被検査パターンは、ラインセン
サ、エリアセンサ又はTVカメラ等の入力装置2で入力さ
れ、その画像データは、次の2値化回路3で2値化され
るものとする。ここでは、説明上、入力装置2として20
48画素のCCDライセンサを想定し、このCCDライセンサに
より主走査方向Xに1ライン分の走査が行なわれるたび
に、被検査物1が副走査方向Yへ1画素分ずつ移動され
て、被検査物全面の画像データが得られるものとする。
The inspection pattern corresponding to the inspection object 1 is input by the input device 2 such as a line sensor, an area sensor, or a TV camera, and its image data is binarized by the following binarization circuit 3. . Here, for the sake of explanation, the input device 2 is 20
Assuming a 48-pixel CCD licensor, the inspected object 1 is moved in the sub-scanning direction Y by 1 pixel each time one line is scanned in the main scanning direction X by this CCD licensor, and the inspected object is inspected. Image data of the entire surface shall be obtained.

2値化回路3で2値化された画像データは、ピクセルク
ロック発生部4より送り出されるピクセルクロックパル
スに応じて、フリップフロップP1に順次ラッチされる。
一方、2043ビットのラインシフトレジスタL1と、5画素
分のフリップフロップP6〜P10により、1走査画素(204
8画素)分だけ遅延された画像データは、フリップフロ
ップP2にラッチされる。以下同様にして、2043ビットの
ラインシフトレジスタL2と5画素分のフリップフロップ
P11〜P15により2走査分だけ遅延された画像データがフ
リップフロップP3にラッチされ、2043ビットのラインシ
フトレジスタL3とフリップフロップP16〜P20により3走
査分だけ遅延された画像データがフリップフロップP4
ラッチされ、2048ビットのラインシフトレジスタL4によ
り4走査分だけ遅延された画像データがフリップフロッ
プP5にラッチされる。こうして、フリップフロップP1
P5には、副走査方向に同一列の5画素分の画像データ
が、ピクセルクロックパルス毎に順次現われることにな
る。また、フリップフロップP6〜P10には、フリップフ
ロップP2にラッチされる画像データに対し、時系列方向
(主走査方向)に沿う1〜5画素分手前の画像データが
現われることとなる。同様にして、フリップフロップP
11〜P15に、フリップフロップP3にラッチされる画像デ
ータに対し時系列方向に沿う1〜5画素分手前の画像デ
ータが現われ、フリップフロップP16〜P20には、フリッ
プフロップP4にラッチされる画像データに対し時系列方
向に沿う1〜5画素分手前の画像データが現われること
となる。
The image data binarized by the binarization circuit 3 is sequentially latched by the flip-flop P 1 in accordance with the pixel clock pulse sent from the pixel clock generator 4.
On the other hand, the 2043-bit line shift register L 1 and the flip-flops P 6 to P 10 for 5 pixels make one scan pixel (204
The image data delayed by 8 pixels) is latched by the flip-flop P 2 . Similarly, 2043 bit line shift register L 2 and 5 pixel flip-flop
Image data delayed by 2 scans by P 11 to P 15 is latched in the flip-flop P 3 , and image data delayed by 3 scans by the 2043-bit line shift register L 3 and flip-flops P 16 to P 20. Is latched by the flip-flop P 4 , and the image data delayed by 4 scans by the 2048-bit line shift register L 4 is latched by the flip-flop P 5 . Thus, the flip-flop P 1 ~
In P 5 , image data for 5 pixels in the same column in the sub-scanning direction sequentially appears for each pixel clock pulse. Further, in the flip-flops P 6 to P 10 , the image data latched by the flip-flop P 2 appears 1 to 5 pixels before in the time series direction (main scanning direction). Similarly, flip-flop P
Image data of 1 to 5 pixels before the image data latched by the flip-flop P 3 in the time series direction appears in 11 to P 15 , and in the flip-flop P 4 in flip-flops P 16 to P 20. Image data of 1 to 5 pixels before the latched image data in the time series direction appears.

メモリ5には、認識すべき基準パターンを現す副走査方
向に同一列の5画素分×5の第1の基準画像データ群
と、時系列方向のパターンの一致を先行して調べるため
の主走査方向に沿う1〜5画素分手前の第2の基準画像
データ群と、セレクタ切換データが格納される。このメ
モリ5は、入力端子A3〜A0に与えられるアドレス信号に
基づいて、出力端子D5,D6から上記セレクタ切換データ
をセレクタ6へ出力するとともに、出力端子D4〜D0
ら、第2の基準画像データ群又は第1の基準画像データ
群を排他的論理和回路XOR1〜XOR5の一方の入力端子へ出
力する。これらの出力は、ピクセルクロックパルスの立
上りで行なわれる(その詳細は後述する)。
The memory 5 has a main scanning for preliminarily checking the matching of the first reference image data group of 5 pixels × 5 in the same column in the sub-scanning direction showing the reference pattern to be recognized and the pattern in the time series direction. A second reference image data group of 1-5 pixels before in the direction and selector switching data are stored. The memory 5 outputs the selector switching data from the output terminals D 5 and D 6 to the selector 6 based on the address signal given to the input terminals A 3 to A 0 , and outputs the selector switching data from the output terminals D 4 to D 0 . The second reference image data group or the first reference image data group is output to one of the input terminals of the exclusive OR circuits XOR1 to XOR5. These outputs are performed at the rising edge of the pixel clock pulse (details of which will be described later).

セレクタ6は、メモリ5から出力されるセレクタ切換デ
ータに基づいて、フリップフロップ(P1〜P5),(P6
P10),(P11〜P15),(P16〜P20)のいずれか5画素
分の画像データを、排他的論理和回路XOR1〜XOR5の他方
の入力端子へ選択的に入力させる。こうして、排他的論
理和回路XOR1〜XOR5において、対応する画素どおしの画
像データが比較され、お互いが異なっている場合に
「1」が出力される。
The selector 6, based on the selector switching data output from the memory 5, flip-flops (P 1 to P 5 ), (P 6 to
Image data of 5 pixels of any one of P 10 ), (P 11 to P 15 ), and (P 16 to P 20 ) is selectively input to the other input terminal of the exclusive OR circuits XOR1 to XOR5. In this way, in the exclusive OR circuits XOR1 to XOR5, the image data of corresponding pixels are compared with each other, and if they are different from each other, "1" is output.

メモリ7には、検出すべき領域(ここでは5画素×5画
素)内で検査の不必要な領域があれば、その領域の検査
結果をマスキングするためのマスキングデータが格納さ
れる。このマスキングデータは、メモリ7の入力端子A3
〜A0に与えられるアドレス信号に基づいて、論理積回路
AND1〜AND5の一方の入力端子へ与えられる。論理積回路
AND1〜AND5の他方の入力端子には、上記排他的論理和回
路XOR1〜XOR5の出力信号が入力されるため、マスキング
データとして「0」がいずれかの論理積回路AND1〜AND5
へ入力されると、対応する排他的論理和回路XOR1〜XOR5
の出力信号が「1」の場合(不一致の場合)でも、その
論理積回路からの出力は「0」となる(その詳細は後述
する)。
In the memory 7, if there is an area that does not require inspection in the area to be detected (here, 5 pixels × 5 pixels), masking data for masking the inspection result of the area is stored. This masking data is stored in the input terminal A 3 of the memory 7.
Based on the address signal given to ~ A 0 , AND circuit
It is given to one input terminal of AND1 to AND5. AND circuit
Since the output signals of the exclusive OR circuits XOR1 to XOR5 are input to the other input terminals of AND1 to AND5, “0” is masked data as one of the AND circuits AND1 to AND5.
Input to the corresponding exclusive OR circuit XOR1 to XOR5
Even if the output signal of is "1" (in the case of non-coincidence), the output from the AND circuit becomes "0" (the details will be described later).

論理積回路AND1〜AND5の各出力は、論理和回路8に入力
され、論理和回路8の出力は、NOR回路9においてカウ
ンタ10のボロー信号とNORがとられて、カウンタ10のロ
ード端子へと入力される。このカウンタ10は、加算カウ
ンタでも減算カウンタでもよいが、ここでは説明の便宜
上減算カウンタとし、プリセットデータとして値「5」
がロードされるものとする。また、このカウンタ10は、
同期型カウンタとし、ピクセルクロックパルスの立下り
で各機能が実行されるものとする。なお、このカウンタ
10のカウント値に対応するデータは、アドレスデータと
してメモリ5および7の入力端子にそれぞれ入力され
る。また、カウンタ10のボロー信号は、インバータ11に
より反転されて単安定発振器12へ入力され、単安定発振
器12は、ボロー信号の立下り時にパターン一致検出パル
スを出力する。
The outputs of the AND circuits AND1 to AND5 are input to the OR circuit 8, and the NOR circuit 9 outputs the borrow signal and NOR of the counter 10 from the output of the OR circuit 8 to the load terminal of the counter 10. Is entered. The counter 10 may be an addition counter or a subtraction counter, but here, for convenience of explanation, it is a subtraction counter, and the value "5" is set as the preset data.
Shall be loaded. Also, this counter 10
The counter is a synchronous type, and each function is executed at the falling edge of the pixel clock pulse. In addition, this counter
The data corresponding to the count value of 10 is input to the input terminals of the memories 5 and 7 as address data. Further, the borrow signal of the counter 10 is inverted by the inverter 11 and input to the monostable oscillator 12, and the monostable oscillator 12 outputs a pattern matching detection pulse when the borrow signal falls.

<動作例1> <パターン例1> 以下、具体的なパターンを例に挙げて、第5図に示すタ
イムチャートを参考にしながら、上記パターン認識装置
の動作を説明する。まず、メモリ5には、第2図に示す
メモリデータが格納されているものとする。この場合、
アドレス「0」〜「4」(第1アドレスデータ)に対応
するデータ(D0〜D4)が認識すべきパターンデータ(す
なわち第1の基準画像データ群)を示し、アドレス
「5」(第2アドレスデータ)に対応するデータ(D0
D4)が時系列方向のパターンの一致を先行して調べるた
めの第2の基準画像データ群を示し、アドレス「0」〜
「5」に対応するデータ(D5,D6)がセレクタ切換デー
タを示す。なお、第2の基準画像データ群は、上記第1
の基準画像データ群のうち、セレクタ切換データにより
セレクトされるフリップフロップ(ここではフリップフ
ロップP11〜P15)に対応する主走査方向列の画像データ
(ここではアドレス「0」〜「4」のデータD2)と同一
の画像データである。同図において、斜線領域は「0」
を現し、空白領域は「1」を現わす。また、下表はセレ
クタ6の真理値表を示す。
<Operation Example 1><Pattern Example 1> The operation of the pattern recognition apparatus will be described below with reference to the time chart shown in FIG. 5 by taking a specific pattern as an example. First, it is assumed that the memory 5 stores the memory data shown in FIG. in this case,
The data (D 0 to D 4 ) corresponding to the addresses “0” to “4” (first address data) indicates the pattern data (that is, the first reference image data group) to be recognized, and the address “5” (the first reference image data group). Data (D 0 ~) corresponding to 2 address data
D 4 ) indicates a second reference image data group for precedingly checking the matching of the patterns in the time series direction, and the addresses "0" to
The data (D 5 , D 6 ) corresponding to “5” indicates the selector switching data. The second reference image data group is the first reference image data group.
Image data of the main scanning direction column (here, addresses “0” to “4”) corresponding to the flip-flops (here, flip-flops P 11 to P 15 ) selected by the selector switching data among the reference image data group The image data is the same as the data D 2 ). In the figure, the shaded area is "0".
, And the blank area represents “1”. Further, the table below shows a truth table of the selector 6.

いま、被検査面1上には、第3図に示すようなパターン
が存在したとする。また、メモリ7には、すべて「1」
が書き込まれているものとする。
Now, it is assumed that there is a pattern as shown in FIG. 3 on the surface 1 to be inspected. In addition, all “1” is stored in the memory 7.
Is written.

第3図における時刻tn-2の時点では、フリップフロップ
P1〜P5には、第4図(a)のパターンが入力されてい
る。また、フリップフロップP6〜P10およびP16〜P20
は第4図(g)のパターンが入力され、フリップフロッ
プP11〜P15には第4図(h)のパターンが入力されてい
る。このとき、カウンタ10は、ロード信号により値
「5」にプリセットされているので、メモリ5からはア
ドレス「5」のデータが呼び出され、セレクタ6はフリ
ップフロップP11〜P15をセレクトする。その結果、排他
的論理和回路XOR1〜XOR5の一方の入力端子には、フリッ
プフロップP11〜P15にラッチされている第4図(h)の
データが入力され、他方の入力端子には第2の基準画像
データ群、すなわち第2図に示すアドレス「5」のデー
タ(D4〜D0)が入力されて、排他的論理和回路XOR1から
「1」が出力される。これにより、論理和回路8からも
「1」が出力され、カウンタ10がロードされて、ピクセ
ルクロックパルスの立下りでカウンタ値が引き続き
「5」にプリセットされる。
At time t n-2 in FIG. 3, the flip-flop is
The pattern of FIG. 4A is input to P 1 to P 5 . Further, the flip-flop P 6 to P 10 and P 16 to P 20 is input pattern of FIG. 4 (g), the flip-flop P 11 to P 15 are input pattern of FIG. 4 (h) There is. At this time, the counter 10, since it is preset to a value "5" by the load signal, from the memory 5 data of the address "5" is called, the selector 6 to select the flip-flop P 11 to P 15. As a result, one input terminal of the exclusive OR circuit XOR1~XOR5, the input data of FIG. 4 which is latched by the flip-flop P 11 ~P 15 (h) is, to the other input terminal a 2, the reference image data group, that is, the data (D 4 to D 0 ) at the address “5” shown in FIG. 2 is input, and “1” is output from the exclusive OR circuit XOR1. As a result, "1" is also output from the OR circuit 8, the counter 10 is loaded, and the counter value is continuously preset to "5" at the falling edge of the pixel clock pulse.

ついで、時刻tn-1に達すると、フリップフロップP1〜P5
には同じく第4図(a)のパターンが入力され、フリッ
プフロップP11〜P15には第4図の(i)のパターンが入
力される。このとき、カウンタ10は既述したように値
「5」にプリセットされているので、セレクタ6はフリ
ップフロップP11〜P15を引き続きセレクトし、排他的論
理和回路XOR1〜XOR5には、フリップフロップP11〜P15
ラッチされている第4図(i)のデータと、第2の基準
画像データ群、すなわち第2図に示すアドレス「5」の
データ(D4〜D0)が入力され、各パターンは一致してい
るので全ての排他的論理和回路XOR1〜XOR5から「0」が
出力される。その結果、論理和回路8の出力は「0」と
なり、カウンタ10のロードは「1」となって、ピクセル
クロックパルスの立下りでカウンタ10は減算され、出力
端子Qa〜Qdからアドレス「4」が出力される。
Then, when the time t n-1 is reached, the flip-flops P 1 to P 5
Is also pattern input of FIG. 4 (a), the pattern of the FIG. 4 (i) is input to the flip-flop P 11 to P 15. At this time, since the counter 10 is preset to a value "5" as already mentioned, the selector 6 will continue to select the flip-flop P 11 to P 15, the exclusive OR circuit XOR1~XOR5, flip-flop The data of FIG. 4 (i) latched by P 11 to P 15 and the second reference image data group, that is, the data (D 4 to D 0 ) of the address “5” shown in FIG. 2 are input. , The patterns match, so that all the exclusive OR circuits XOR1 to XOR5 output "0". As a result, the output of the OR circuit 8 becomes "0", the load of the counter 10 becomes "1", the counter 10 at the falling edge of the pixel clock pulses are subtracted, the address from the output terminal Q a to Q d " 4 ”is output.

その後、時刻tnに達すると、ピクセルクロックパルスの
立上りでフリップフロップP1〜P5に次のパターンすなわ
ち第4図(b)のパターンがラッチされる。また、メモ
リ5から第2図に示すアドレス「4」のデータ(D6
D0)が呼び出され、データD6,D5が「0」「0」である
のでセレクタ6がフリップフロップP11〜P15からフリッ
プフロップP1〜P5へと切換わって、排他的論理和回路XO
R1〜XOR5には、フリップフロップP1〜P5にラッチされて
いる第4図(b)のデータと、第2図に示すアドレス
「4」のデータ(D4〜D0)が入力される。ここでも両パ
ターンが一致しているので、全ての排他的論理和回路XO
R1〜XOR5から「0」が出力され、論理和回路8は「0」
を出力して、カウンタ10のロードは「1」となり、ピク
セルクロックパルスの立下りでカウンタ10が減算されて
アドレスデータ「3」を出力する。
After that, when the time t n is reached, the next pattern, that is, the pattern of FIG. 4B is latched in the flip-flops P 1 to P 5 at the rising edge of the pixel clock pulse. In addition, the data (D 6 ...) of the address "4" shown in FIG.
D 0 ) is called and the data D 6 and D 5 are “0” and “0”, the selector 6 switches from the flip-flops P 11 to P 15 to the flip-flops P 1 to P 5 , and the exclusive logic Sum circuit XO
The data of FIG. 4 (b) latched by the flip-flops P 1 to P 5 and the data (D 4 to D 0 ) of the address “4” shown in FIG. 2 are input to R1 to XOR5. . Again, since both patterns match, all exclusive OR circuits XO
"0" is output from R1 to XOR5, and the logical sum circuit 8 is "0".
The counter 10 is loaded with "1" and the counter 10 is decremented at the falling edge of the pixel clock pulse to output the address data "3".

以下同様にして、時刻tn+1におけるピクセルクロックパ
ルスの立上りで、フリップフロップP1〜P5に第4図
(c)のパターンがラッチされ、メモリ5から第2図に
示すアドレス「3」のデータ(D6〜D0)が呼び出され
て、セレクタ6は引き続きフリップフロップP1〜P5をセ
レクトし、排他的論理和回路XOR1〜XOR5に第4図(c)
のデータと、第2図に示すアドレス「3」のデータ(D4
〜D0)が入力されて、それらの出力が全て「0」とな
り、論理和回路8の出力が「0」、カウンタ10のロード
が「1」で、ピクセルクロックパルスの立下りでカウン
タ10が減算されてアドレスデータ「2」が出力される。
Similarly, at the rising edge of the pixel clock pulse at time t n + 1 , the flip-flops P 1 to P 5 latch the pattern shown in FIG. 4C, and the memory 5 stores the address “3” shown in FIG. Data (D 6 to D 0 ) is called, the selector 6 continues to select the flip-flops P 1 to P 5 , and the exclusive OR circuits XOR1 to XOR5 are shown in FIG. 4 (c).
Data and the data at address "3" (D 4
To D 0 ) are input, all of their outputs become “0”, the output of the logical sum circuit 8 is “0”, the load of the counter 10 is “1”, and the counter 10 has a falling edge of the pixel clock pulse. The subtraction is performed and the address data "2" is output.

次の時刻tn+2におけるピクセルクロックパルスの立上り
時点では、フリップフロップP1〜P5に第4図(d)のパ
ターンがラッチされ、メモリ5から第2図に示すアドレ
ス「2」のデータ(D6〜D0)が呼び出されて、セレクタ
6は引き続きフリップフロップP1〜P5をセレクトし、排
他的論理和回路XOR1〜XOR5に第4図(d)のデータと、
第2図に示すアドレス「2」のデータ(D4〜D0)が入力
されて、それらの出力が全て「0」となり、論理和回路
8の出力が「0」、カウンタ10のロードが「1」で、ピ
クセルクロックパルスの立下りでカウンタ10が減算され
てアドレスデータ「1」が出力される。
At the next rising edge of the pixel clock pulse at time t n + 2 , the flip-flops P 1 to P 5 latch the pattern of FIG. 4 (d), and the memory 5 stores the data of the address “2” shown in FIG. (D 6 to D 0 ) is called, the selector 6 continues to select the flip-flops P 1 to P 5 , and the exclusive OR circuits XOR 1 to XOR 5 store the data of FIG. 4 (d),
The data (D 4 to D 0 ) at the address “2” shown in FIG. 2 is input, all the outputs become “0”, the output of the OR circuit 8 becomes “0”, and the load of the counter 10 becomes “0”. At "1", the counter 10 is decremented at the falling edge of the pixel clock pulse, and the address data "1" is output.

次の時刻tn+3におけるピクセルクロックパルスの立上り
時点では、フリップフロップP1〜P5に第4図(e)のパ
ターンがラッチされ、メモリ5からは第2図に示すアド
レス「1」のデータ(D6〜D0)が呼び出されて、セレク
タ6は引き続きフリップフロップP1〜P5をセレクトし、
排他的論理和回路XOR1〜XOR5に第4図(e)のデータ
と、第2図に示すアドレス「1」のデータ(D4〜D0)が
入力されて、それらの出力は全て「0」となり、論理和
回路8から「0」が出力される。この時点では、カウン
タ10のロード信号は「1」であるが、次のピクセルクロ
ックパルスの立下りにより、カウンタ10が減算されてア
ドレスデータとして「0」が出力され、ボロー信号が
「1」となると、NOR回路9によりロード信号は「0」
に切換わる。
At the next rise time of the pixel clock pulse at time t n + 3, the pattern of FIG. 4 (e) is latched in the flip-flops P 1 to P 5 , and the memory 5 stores the address “1” shown in FIG. The data (D 6 to D 0 ) is called, and the selector 6 continues to select the flip-flops P 1 to P 5 ,
Data of FIG. 4 (e) to the exclusive OR circuit XOR1~XOR5, data at address "1" shown in FIG. 2 (D 4 to D 0) is input, all of their outputs "0" And the logical sum circuit 8 outputs "0". At this point, the load signal of the counter 10 is "1", but the counter 10 is decremented by the falling edge of the next pixel clock pulse, "0" is output as address data, and the borrow signal is "1". Then, the load signal becomes "0" by the NOR circuit 9.
Switch to.

次の時刻tn+4におけるピクセルクロックパルスの立上り
時点では、フリップフロップP1〜P5には第4図(f)の
パターンがラッチされ、メモリ5からは第2図に示すア
ドレス「0」のデータ(D6〜D0)が呼び出されて、セレ
クタ6は引き続きフリップフロップP1〜P5をセレクト
し、排他的論理和回路XOR1〜XOR5には第4図(f)のデ
ータと第2図に示すアドレス「0」のデータ(D4〜D0
が入力されて、それらの出力は全て「0」となり、論理
和回路8から「0」が出力される。この時点では、カウ
ンタ10のボロー信号は「1」であるので、NOR回路9に
よりロード信号は引き続き「0」に保たれるが、つぎの
ピクセルクロックパルスが立下ると、カウンタ10に値
「5」がプリセットされ、その出力端子Qa〜Qdからアド
レスデータ「5」が出力される。同時に、ボロー信号は
「1」から「0」へと切換わる。このボロー信号は、イ
ンバータ11により反転され単安定発振器12のクロック端
子に入力される。このとき、単安定発振器12のクロック
端子には、論理和回路8の出力信号「0」がインバータ
13により反転された「1」信号が入力されているため、
単安定発振器12のクリアが解除されており、出力端子Q
からパターン一致検出パルスが出力される。
At the next rising edge of the pixel clock pulse at time t n + 4 , the flip-flops P 1 to P 5 latch the pattern of FIG. 4 (f), and the memory 5 stores the address “0” shown in FIG. Data (D 6 to D 0 ) is called, the selector 6 continues to select the flip-flops P 1 to P 5 , and the exclusive OR circuits XOR 1 to XOR 5 and the data of FIG. data at address "0" as shown in FIG. (D 4 to D 0)
Are input, all the outputs become “0”, and the logical sum circuit 8 outputs “0”. At this point in time, the borrow signal of the counter 10 is "1", so that the NOR circuit 9 keeps the load signal at "0", but when the next pixel clock pulse falls, the counter 10 has the value "5". "is preset, from the output terminal Q a to Q d address data" 5 "is output. At the same time, the borrow signal switches from "1" to "0". This borrow signal is inverted by the inverter 11 and input to the clock terminal of the monostable oscillator 12. At this time, at the clock terminal of the monostable oscillator 12, the output signal “0” of the logical sum circuit 8 is fed to the inverter.
Since the "1" signal inverted by 13 is input,
Clearing of monostable oscillator 12 has been released, and output terminal Q
Outputs a pattern matching detection pulse.

次の時刻tn+5におけるピクセルクロックパルスの立上り
時点では、フリップフロップP1〜P5には第4図(a)の
パターンがラッチされるとともに、フリップフロップP
11〜P15に第4図(j)のパターンがラッチされる。ま
た、メモリ5からアドレス「5」のデータ(D6〜D0)が
呼び出されて、セレクタ6がフリップフロップP1〜P5
らフリップフロップP11〜P15へと切換わり、排他的論理
和回路XOR1〜XOR5には、フリップフロップP11〜P15にラ
ッチされている第4図(j)のデータと、第2図に示す
アドレス「5」のデータ(D4〜D0)が入力される。これ
らのデータは不一致を生じているため、論理和回路8か
ら「1」が出力される。その結果、カウンタ10のロード
信号が「1」から「0」に切換わり、ピクセルクロック
パルスの立下りでカウンタ10に値「5」がプリセットさ
れて、アドレスデータ「5」が出力される。
At the next rise time of the pixel clock pulse at the time t n + 5 , the flip-flops P 1 to P 5 latch the pattern of FIG.
Pattern of FIG. 4 (j) is latched in the 11 to P 15. Further, the data (D 6 to D 0 ) at the address “5” is called from the memory 5, the selector 6 switches from the flip-flops P 1 to P 5 to the flip-flops P 11 to P 15 , and the exclusive OR operation is performed. The data of FIG. 4 (j) latched by the flip-flops P 11 to P 15 and the data (D 4 to D 0 ) of the address “5” shown in FIG. 2 are input to the circuits XOR1 to XOR5. It Since these data do not match, the logical sum circuit 8 outputs "1". As a result, the load signal of the counter 10 is switched from "1" to "0", the value "5" is preset in the counter 10 at the falling edge of the pixel clock pulse, and the address data "5" is output.

このようにして、フリップフロップP1〜P5に時系列的に
ラッチされる画像データと、メモリ5に格納されている
第1の基準画像データ(5×5画素)とが全て一致した
ときに、単安定発振器12からパルスが発生するので、そ
のパルスをパターン検出信号として使用できる。
In this way, when the image data latched in time series in the flip-flops P 1 to P 5 and the first reference image data (5 × 5 pixels) stored in the memory 5 all match Since a pulse is generated from the monostable oscillator 12, the pulse can be used as a pattern detection signal.

<動作例2> つぎに、上記パターン認識装置において、被検査パター
ンと基準パターン(第1の基準画像データ)間に不一致
があるときの動作を、第6図の被検査パターンを例に挙
げて説明する。時刻tn-2〜tnまでは、第3図に示す被検
査パターンの場合と同様の動作が行なわれるが、次の時
刻tn+1の時点では、フリップフロップP1〜P5に第7図
(a)パターンがラッチされて、排他的論理和回路XOR1
〜XOR5には第7図(a)のデータと、第2図に示すアド
レス「3」のデータ(D4〜D0)が入力される。両データ
間には不一致部分があるため、不一致部分に対応する排
他的論理和回路XOR2から「1」が出力され、論理和回路
8が「1」で、カウンタ10のロード信号が「0」とな
り、ピクセルクロックパルスの立下りでカウンタ10に値
「5」がプリセットされて、アドレスデータ「5」が出
力される。
<Operation Example 2> Next, in the pattern recognition apparatus, the operation when there is a mismatch between the pattern to be inspected and the reference pattern (first reference image data) will be described by taking the pattern to be inspected in FIG. 6 as an example. explain. Until the time t n-2 ~t n, but the same operation as the case of the test pattern shown in Figure 3 is carried out, at the time of the next time t n + 1, the flip-flop P 1 to P 5 7 (a) pattern is latched, and exclusive OR circuit XOR1
The data of Figure second. 7 (a) to ~XOR5, data of the address "3" shown in FIG. 2 (D 4 ~D 0) is input. Since there is a disagreement between both data, the exclusive OR circuit XOR2 corresponding to the disagreement outputs "1", the OR circuit 8 is "1", and the load signal of the counter 10 is "0". The value "5" is preset in the counter 10 at the falling edge of the pixel clock pulse, and the address data "5" is output.

したがって、次の時刻tn+2におけるピクセルクロックパ
ルスの立上り時点で、セレクタ6はフリップフロップP1
〜P5からフリップフロップP11〜P15に切換られ、このと
き、フリップフロップP11〜P15には第7図(b)のパタ
ーンがラッチされているため、排他的論理和回路XOR1〜
XOR5には、第7図(b)のデータと、第2図に示すアド
レス「5」のデータ(D4〜D0)が入力される。これらの
データ間にも不一致部分があるため、論理和回路8から
「1」が出力されてカウンタ10のロード信号が「0」と
なり、次のピクセルクロックパルスの立下りでカウンタ
10に引き続き値「5」がプリセットされて、アドレスデ
ータ「5」が出力される。
Therefore, at the next rise time of the pixel clock pulse at time t n + 2 , the selector 6 causes the flip-flop P 1
.. P 5 to the flip-flops P 11 to P 15 , and at this time, the flip-flops P 11 to P 15 latch the pattern of FIG. 7B, so that the exclusive OR circuit XOR 1 to
The data shown in FIG. 7B and the data (D 4 to D 0 ) at the address “5” shown in FIG. 2 are input to XOR5. Since there is also a disagreement between these data, the OR circuit 8 outputs "1", the load signal of the counter 10 becomes "0", and the counter falls at the next falling edge of the pixel clock pulse.
The value "5" is preset after 10 and the address data "5" is output.

以下、時刻tn+3,tn+4…においても、上記と同様の動作
が行なわれる。このように、被検査パターンと基準パタ
ーン間に一部でも不一致があれば、単安定発振器12から
検出パルスが出力されることはなく、この例では6回連
続して一致が生じたときに始めて検出パルスが出力され
ることとなる。
Hereinafter, at times t n + 3 , t n + 4, ... The same operation as above is performed. In this way, if there is a partial mismatch between the pattern to be inspected and the reference pattern, the detection pulse will not be output from the monostable oscillator 12, and in this example, the match will occur only after six consecutive matches. The detection pulse will be output.

〈変形例(本願発明の要旨には含まれない)〉 なお、第3図に示すようなパターンを認識する場合に
は、第1図(a)に示す時系列方向のパターンの一致を
先行してみるためのフリップフロップP6〜P20と、フリ
ップフロップ切換用のセレクタ6は必ずしも必要ではな
く、第1図(b)に示すように、これらを省略すること
も可能である。その場合には、ラインシフトレジスタL1
〜L3のビット数を、ラインシフトレジスタL4と同じく20
48ビットとする。また、カウンタ10のプリセット値を
「4」とし、メモリ5には、第1の基準画像データ群、
すなわち第2図のアドレス「0」〜「4」のデータ(D4
〜D0)のみを格納しておく。
<Modification (not included in the gist of the present invention)> When recognizing a pattern as shown in FIG. 3, the pattern matching in the time series direction shown in FIG. a flip-flop P 6 to P 20 for try, selector 6 of the flip-flop switching is not always necessary, as shown in Fig. 1 (b), it is also possible to omit these. In that case, the line shift register L 1
Set the number of bits from ~ L 3 to 20 as with line shift register L 4.
48 bits. Further, the preset value of the counter 10 is set to “4”, and the memory 5 stores the first reference image data group,
That is, the data (D 4 at addresses “0” to “4” in FIG.
Store only ~ D 0 ).

ところが、上記第1図(b)のように構成した場合に
は、第8図に示すような線又は線幅に相当するパターン
を認識する場合に、認識ミスを生じることがある。つぎ
にその理由を説明する。いま、メモリ5には第8図に示
す基準パターンデータが格納されており、被検査面には
第9図に示すようなパターンが存在するものとする。こ
の場合には、時刻tnの時点でフリップフロップP1〜P5
第10図(a)のデータがラッチされ、このデータと第8
図に示すアドレス「4」のデータ(D4〜D0)とが比較さ
れる。これらのデータは一致しているので、カウンタ10
は減算されてアドレスデータは「3」となる。次の時刻
tn+1の時点では、フリップフロップP1〜P5に同じく第10
図(a)のデータがラッチされ、このデータと第8図に
示すアドレス「3」のデータ(D4〜D0)とが比較され
る。ここでも、両データは一致しているので、カウンタ
10は減算されてアドレスデータは「2」となる。ところ
が、次の時刻tn+2の時点では、フリップフロップP1〜P5
にやはり第10図(a)のデータがラッチされるが、この
データは、第8図に示すアドレス「2」のデータ(D4
D0)と不一致となるため、両データの比較により、カウ
ンタ10は値「4」にプリセットされてアドレスデータ
「4」が出力される。次の時刻tn+3の時点では、フリッ
プフロップP1〜P5に第10図(b)に示すデータがラッチ
され、ここでも第8図に示すアドレス「4」のデータ
(D4〜D0)と不一致となるので、カウンタ10は引き続き
カウンタ値「4」にプリセットされる。この様に見てい
くと、第9図に示すようなパターンをもつ被検査面に対
して、第8図のパターンは認識されないこととなる。従
って、第1図(b)の変形例は、本願発明では対象外と
される。
However, in the case of the configuration as shown in FIG. 1 (b), a recognition error may occur when a pattern corresponding to a line or a line width as shown in FIG. 8 is recognized. Next, the reason will be explained. Now, it is assumed that the memory 5 stores the reference pattern data shown in FIG. 8 and the surface to be inspected has a pattern as shown in FIG. In this case, the data of FIG. 10 (a) is latched in the flip-flops P 1 to P 5 at time t n , and this data and the eighth data are latched.
The data (D 4 to D 0 ) at the address “4” shown in the figure are compared. Since these data match, counter 10
Is subtracted and the address data becomes "3". Next time
At time t n + 1 , the flip-flops P 1 to P 5 are also in the 10th position.
The data shown in FIG. 9A is latched, and this data is compared with the data (D 4 to D 0 ) at the address “3” shown in FIG. Again, since both data match, the counter
10 is subtracted and the address data becomes "2". However, at the next time t n + 2 , the flip-flops P 1 to P 5
Again although the data of the 10 view (a) is latched, this data is data of the address "2" as shown in FIG. 8 (D 4 ~
Since it does not match D 0 ), the counter 10 is preset to the value “4” and the address data “4” is output by comparing the two data. At the next time t n + 3, the data shown in FIG. 10 (b) is latched in the flip-flops P 1 to P 5, and the data (D 4 to D 4) of the address “4” shown in FIG. 0 ), the counter 10 is continuously preset to the counter value "4". From this point of view, the pattern shown in FIG. 8 is not recognized for the surface to be inspected having the pattern shown in FIG. Therefore, the modified example of FIG. 1 (b) is excluded from the scope of the present invention.

<パターン例2> そこで、第1図(a)に示すように、フリップフロップ
P6〜P20とセレクタ6を設けて、時系列方向のパターン
の一致をも先行して調べるようにしておけば、上記問題
は回避される。その理由を次に説明する。いま、メモリ
5には、第11図に示すパターンデータが格納されてお
り、被検査面に第9図に示すパターンが存在するものと
する。まず、時刻tn-1の時点では、フリップフロップP
11〜P15に第2図(a)のデータがラッチされており、
このとき、カウンタ10は値「5」にプリセットされてい
るので、セレクタ6はフリップフロップP11〜P15をセレ
クトする。その結果、排他的論理和回路XOR1〜XOR5にお
いて、第12図(a)のデータと、第11図に示すアドレス
「5」のデータ(D4〜D0)が比較され、これらのデータ
は一致していないため、カウンタ10に値「5」が引き続
きプリセットされる。
<Pattern example 2> Therefore, as shown in FIG.
The above problem can be avoided if P 6 to P 20 and the selector 6 are provided and the pattern matching in the time series direction is also checked in advance. The reason will be described below. Now, it is assumed that the pattern data shown in FIG. 11 is stored in the memory 5 and the pattern shown in FIG. 9 exists on the surface to be inspected. First, at time t n−1 , the flip-flop P
To 11 to P 15 are data of FIG. 2 (a) is latched,
At this time, the counter 10 is because it is preset to the value "5", the selector 6 to select the flip-flop P 11 to P 15. As a result, the exclusive OR circuit XOR1~XOR5, the data of Figure 12 (a), data of the address "5" as shown in FIG. 11 (D 4 ~D 0) are compared, these data one Since it has not been done, the value "5" is continuously preset in the counter 10.

次の時刻tnの時点では、フリップフロップP11〜P15に第
12図(b)のデータがラッチされ、セレクタ6はフリッ
プフロップP11〜P15を引き続きセレクトしているので、
第12図(b)のデーターと第11図に示すアドレス「5」
のデータ(D4〜D0)が比較され、これらのデータは一致
しているので、カウンタ10が減算されて、アドレス
「4」のデータが出力される。
At the next time t n , flip-flops P 11 to P 15
Since the data in FIG. 12B is latched and the selector 6 continues to select the flip-flops P 11 to P 15 ,
The data shown in Fig. 12 (b) and the address "5" shown in Fig. 11
Data (D 4 to D 0 ) are compared, and since these data match, the counter 10 is decremented and the data of address “4” is output.

アドレス「4」のデータが出力されれば、次の時刻tn+1
において、セレクタ6は、フリップフロップP11〜P15
らフリップフロップP1〜P5側へ切換えられるため、以
後、フリップフロップP1〜P5にラッチされる副走査方向
の被検査画像データと、メモリ5のアドレス「4」〜
「0」に格納されている第1の基準画像データとが順次
比較されて、パターン認識が行なわれることとなる。こ
のようにして、第9図に示すような線又は線幅に相当す
るパターンをも、正確に認識することが可能となる。
If the data of the address “4” is output, the next time t n + 1
In the selector 6, because it is switched from the flip-flop P 11 to P 15 to the flip-flop P 1 to P 5 side, thereafter, the sub-scanning direction of the inspection image data latched by the flip-flop P 1 to P 5, Address "4" of memory 5 ~
The first reference image data stored in "0" is sequentially compared, and pattern recognition is performed. In this way, it is possible to accurately recognize a pattern corresponding to a line or line width as shown in FIG.

<パターン例3> なお、第1図(a)に示すように、時系列方向のパター
ンの一致を先行して調べるためのフリップフロップ列を
複数列(この実施例では、フリップフロップ列〔P6〜P
10〕,〔P11〜P15〕,〔P16〜P20)の3列)設けたのは
次の理由による。例えば第13図(a)に示すような中央
部が時系列方向に長く延びたパターンに対し第2図に示
すパターンが存在するかどうかを認識する場合には、中
央部のフリップフロップ列P11〜P15で時系列方向のパタ
ーンの一致を先行して調べてもパターンの認識ミスを生
じることがあるが、上記のようにフリップフロップ列を
複数列設けて、メモリ5に格納されるアドレス「5」の
セレクタ切換えデータD6,D5を、第13図(b)に示すよ
うに他の何れかのフリップフロップ列に選択的に切換れ
ば、第13図(a)のようなパターンを認識する場合で
も、セレクタ6によりフリップフロップ列P6〜P10又はP
16〜P20のいずれか一方をセレクトして時系列方向のパ
ターンの一致を調べることにより、正確なパターン認識
が可能となる。この場合、メモリ5に格納されるアドレ
ス「5」には、セレクタ切換データ(D6,D5)の他に、
基準画像データ(D4〜D0)として、第1の基準画面デー
タ群のうち、セレクタ6によりセレクトされるフリップ
フロップ列に対応する主走査方向列の基準画像データを
第13図(b)に示すように格納することは言うまでもな
い。
<Pattern Example 3> As shown in FIG. 1A, a plurality of flip-flop arrays (in this embodiment, the flip-flop array [P 6 ~ P
10], [P 11 to P 15], by 3 columns) following reason provided in [P 16 to P 20). For example, in the case of recognizing whether or not the pattern shown in FIG. 2 exists with respect to the pattern in which the central part is elongated in the time series direction as shown in FIG. 13 (a), the flip-flop string P 11 in the central part is recognized. which may cause recognition errors of the pattern be examined prior to match time-series direction of the pattern in to P 15, but provided a plurality of columns of flip-flop column as described above, the address stored in the memory 5 ' the selector switching data D 6, D 5 5 ", if Re selectively switched to the other one of the flip-flop column as shown in FIG. 13 (b), a pattern such as Fig. 13 (a) Even in the case of recognition, the selector 6 allows the flip-flop string P 6 to P 10 or P
Accurate pattern recognition is possible by selecting any one of 16 to P 20 and checking the pattern matching in the time series direction. In this case, the address "5" stored in the memory 5, in addition to the selector switching data (D 6, D 5),
As the reference image data (D 4 to D 0 ), reference image data of the main scanning direction row corresponding to the flip-flop row selected by the selector 6 in the first reference screen data group is shown in FIG. It goes without saying that it is stored as shown.

<パターン例4> 次に、メモリ7の機能について説明する。ここでは、説
明の便宜上、第14図におけるアドレス「0」〜「4」の
データ(D4〜D0)に示すように、L字形状のパターンを
認識する場合を例に挙げて説明する。いま、被検査面に
は、第15図や第16図に示すように、L字形状のパターン
の近くに他のパターンが存在しているものとする。この
場合、先の例で説明したように、メモリ7にすべて
「1」が書き込まれているとすると、メモリアドレス
「4」〜「2」では、フリップフロップP1〜P5から順次
出力されるデータと、メモリ5から順次出力されるデー
タ(D4〜D0)とが一致するが、メモリアドレス「1」,
「0」のときには一致せず、上記L字形パターンは認識
されない。
<Pattern Example 4> Next, the function of the memory 7 will be described. Here, for convenience of explanation, a case where an L-shaped pattern is recognized as shown in the data (D 4 to D 0 ) of addresses “0” to “4” in FIG. 14 will be described as an example. Now, it is assumed that another pattern exists near the L-shaped pattern on the surface to be inspected, as shown in FIGS. 15 and 16. In this case, as described in the previous example, if all the memory 7, "1" is written, the memory address "4" - "2" are sequentially output from the flip-flop P 1 to P 5 The data and the data (D 4 to D 0 ) sequentially output from the memory 5 match, but the memory address “1”,
When it is "0", they do not match, and the L-shaped pattern is not recognized.

ところが、メモリ7に、第17図に示すようなマスキング
データを格納しておけば、上記L字形パターンの認識が
可能となる。すなわち、メモリ5のアドレス「1」のデ
ータ(D4〜D0)が比較される場合、第15図および第16図
のパターンに対しては、排他的論理和回路XOR1の出力が
「1」となり、他の排他的論理和回路XOR2〜XOR5の出力
は「0」となる。しかし、メモリ7から出力される第17
図におけるアドレス「1」のマスキングデータ(D4
D0)により、論理積回路AND1の出力が「0」とされ、そ
の結果、全ての論理積回路AND1〜AND5の出力は「0」と
なり、論理和回路8は「0」を出力して、必要な部分で
のパターンの一致が確認されたことになる。同様にし
て、メモリ5の第14図におけるアドレス「0」のデータ
(D4〜D0)が比較される場合、第15図のパターンに対し
ては排他的論理和回路XOR1の出力が「1」となり、第16
図のパターンに対しては排他的論理和回路XOR1およびXO
R2の出力が「1」となる。しかし、メモリ7から出力さ
れる第17図におけるアドレス「0」のマスキングデータ
(D4〜D0)により、論理積回路AND1およびAND2の出力が
共に「0」とされる。すなわち、ここでも必要な部分で
のパターンの一致が確認されたことになる。このように
して、一連のパターン認識動作が行なわれて、結果的に
は第5図と同様のタイムチャートで、第15図に示すL字
形パターンが認識されることとなる。
However, if the masking data as shown in FIG. 17 is stored in the memory 7, the above L-shaped pattern can be recognized. That is, when the data (D 4 to D 0 ) of the address “1” of the memory 5 are compared, the output of the exclusive OR circuit XOR 1 is “1” for the patterns of FIGS. 15 and 16. And the outputs of the other exclusive OR circuits XOR2 to XOR5 are "0". However, the 17th output from the memory 7
Masking data of address "1" in the figure (D 4 ~
D 0 ), the output of the AND circuit AND1 becomes “0”, and as a result, the outputs of all the AND circuits AND1 to AND5 become “0”, and the OR circuit 8 outputs “0”, It means that the matching of the pattern in the necessary part was confirmed. Similarly, if the data of the address "0" in FIG. 14 of the memory 5 (D 4 ~D 0) is compared against the pattern of FIG. 15 the output of the exclusive OR circuit XOR1 is "1 , And the 16th
Exclusive OR circuits XOR1 and XO for the pattern in the figure
The output of R2 becomes "1". However, the masking data of the address "0" in FIG. 17 which is output from the memory 7 (D 4 ~D 0), the output of the AND circuit AND1 and AND2 are both "0". In other words, it is confirmed that the matching of the pattern in the necessary part is confirmed here as well. In this way, a series of pattern recognition operations are performed, and as a result, the L-shaped pattern shown in FIG. 15 is recognized in the same time chart as in FIG.

<パターン例5> つぎに、メモリ7のもう1つ機能を説明する。一般に、
入力装置2により被検査面1上の具体的なパターンを入
力した場合、光学系の問題や走査位置の問題があって、
境界部分などに量子化誤差に伴うデータ不確実部分が生
じ、実際のパターンとは若干異なった画像データが得ら
れることがある。このような場合でも、メモリ7に、上
記不確実部分をマスキングするマスキングデータを格納
しておけば、量子化誤差がない状態と同じ状態でパター
ン認識を行なえるようになる。以下にその理由を説明す
るが、5×5画素サイズでは適切な表現が困難なため、
ここでは20×20画素サイズの場合を例に挙げて説明する
こととする。いま、第18図におけるアドレス0〜19,デ
ータD0〜D19の範囲に示すようなパターンの認識を行な
おうとする。一般にこのような入力パターンを入力装置
2により入力すると、例えば第19図に斜線で示すよう
に、境界部分に(t14−D16),(t9−D11),(t5
D8)等の量子化誤差を含む画像データが得られる。そこ
で第20図に示すように、境界部分に対応する領域に
「0」のデータをもつマスキングデータをメモリ7に格
納しておけば、パターン認識の際に、上記量子化誤差を
無視してパターン認識を行なえる。
<Pattern Example 5> Next, another function of the memory 7 will be described. In general,
When a specific pattern on the surface 1 to be inspected is input by the input device 2, there is a problem with the optical system or a problem with the scanning position,
Data uncertainties may occur at the boundaries and the like due to quantization errors, and image data slightly different from the actual pattern may be obtained. Even in such a case, if the masking data for masking the uncertain portion is stored in the memory 7, it becomes possible to perform the pattern recognition in the same state as the state in which there is no quantization error. The reason for this will be described below, but it is difficult to properly express with a 5 × 5 pixel size.
Here, the case of 20 × 20 pixel size will be described as an example. Now, it is attempted to recognize a pattern as shown in the range of addresses 0 to 19 and data D 0 to D 19 in FIG. Generally, when such an input pattern is input by the input device 2, for example, as shown by the diagonal lines in FIG. 19, (t 14 −D 16 ), (t 9 −D 11 ), (t 5
Image data including a quantization error such as D 8 ) is obtained. Therefore, as shown in FIG. 20, if masking data having data of “0” is stored in the memory 7 in the area corresponding to the boundary portion, the above-mentioned quantization error is ignored in the pattern recognition, and the pattern is ignored. Can recognize.

<実施例効果> 以上のように、このパターン認識装置によれば、認識す
べきパターンデータをメモリ5に持たせることにより、
各種のパターン認識が全く同一の回路構成により実現で
き、回路構成を非常に簡素化できる。しかも、二次元の
パターン認識を時系列的に処理することにより、パター
ン認識の高速化も図れる。また、フリップフロップP6
P20により時系列方向のパターンの一致を先行して調べ
るようにしたため、たとえば線又は線幅に相当するよう
なパターンに対しても、正確にパターン認識を行なえ
る。その上、時系列方向のパターン一致を調べるための
フリップフロップ列を複数列設けて、メモリ5のデータ
により切換自在としたため、各種パターンの特性に応じ
使用するフリップフロップ列を適切に選択することによ
り認識しうるパターンの種類を増すことができる。ま
た、メモリ7にマスキングデータを持たせることによ
り、認識すべきパターンの近傍に他のパターンが存在す
る場合でも、そのパターンを正しく認識できる。しか
も、認識すべきパターンの周辺部をマスキングするマス
キングデータをメモリ7に持たせれば、入力画像に含ま
れる量子化誤差の影響等も簡単に除くことができる。
<Effects of Embodiment> As described above, according to the pattern recognition device, the pattern data to be recognized is provided in the memory 5,
Various pattern recognitions can be realized with the same circuit configuration, and the circuit configuration can be greatly simplified. Moreover, the pattern recognition can be speeded up by processing the two-dimensional pattern recognition in time series. Also, flip-flop P 6 ~
Since the pattern matching in the time series direction is checked in advance by P 20 , pattern recognition can be accurately performed even for a pattern corresponding to a line or a line width, for example. In addition, since a plurality of flip-flop arrays for checking the pattern matching in the time series direction are provided and can be switched depending on the data of the memory 5, by appropriately selecting the flip-flop arrays to be used according to the characteristics of various patterns. The types of patterns that can be recognized can be increased. Further, by providing the memory 7 with masking data, even if another pattern exists in the vicinity of the pattern to be recognized, that pattern can be correctly recognized. Moreover, if the memory 7 has masking data for masking the peripheral portion of the pattern to be recognized, the influence of the quantization error contained in the input image can be easily removed.

(発明の効果) 以上のように、この発明のパターン認識装置によれば、
認識すべきパターンデータをメモリに持たせることによ
り、各種のパターン認識が全く同一の回路構成により実
現でき回路構成を非常に簡素化できるとともに、二次元
のパターン認識を、先ず主走査方向のパターンの一致を
先行して調べた上、次に副走査方向のパターンの一致を
時系列的に調べ処理することとしたので、パターン認識
の正確性の向上とその高速化を同時に達成できるという
効果が得られる。
(Effects of the Invention) As described above, according to the pattern recognition device of the present invention,
By providing the memory with the pattern data to be recognized, various pattern recognition can be realized by the completely same circuit configuration, and the circuit configuration can be greatly simplified, and the two-dimensional pattern recognition is performed first in the pattern in the main scanning direction. After checking the match first, and then checking the pattern match in the sub-scanning direction in time series, it is possible to improve the accuracy of pattern recognition and achieve the speedup at the same time. To be

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図(a)はこの発明の一実施例であるパターン認識
装置の回路図、第1図(b)は第1図(a)の装置の有
効性を示すために例示した対象外の変形例の回路図、第
2図,第8図,第11図,第13図(b),第14図および第
18図はそれぞれメモリに格納されるメモリデータを示す
図、第3図,第6図,第9図,第13図(a),第15図お
よび第16図はそれぞれ被検査面上のパターンを示す図、
第4図,第7図,第10図および第12図はそれぞれフリッ
プフロップにラッチされるデータを示す図、第5図はパ
ターン認識装置の動作を説明するためのタイムチャー
ト、第17図および第20図はそれぞれメモリに格納される
マスキングデータを示す図、第19図は入力装置により入
力された量子化誤差を含む画像データを示す図、第21図
は従来例の回路図である。 1……被検査物、2……入力装置、 3……2値化回路、5,7……メモリ 6……セレクタ、8……論理和回路、 10……カウンタ、12……単安定発振器、 L1〜L4……ラインシフトレジスタ、 P1〜P20……フリップフロップ、 XOR1〜XOR5……排他的論理和回路、 AND1〜AND5……論理積回路
FIG. 1 (a) is a circuit diagram of a pattern recognition apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 1 (b) is a modification other than the object shown to show the effectiveness of the apparatus of FIG. 1 (a). Example circuit diagram, Figure 2, Figure 8, Figure 11, Figure 13 (b), Figure 14 and Figure
FIG. 18 shows the memory data stored in the memory, and FIGS. 3, 6, 9, 13 (a), 15 and 16 show the patterns on the surface to be inspected. Figure showing,
4, FIG. 7, FIG. 10, and FIG. 12 are diagrams showing the data latched by the flip-flops, respectively. FIG. 5 is a time chart for explaining the operation of the pattern recognition device, FIG. 17 and FIG. FIG. 20 is a diagram showing masking data stored in a memory, FIG. 19 is a diagram showing image data including a quantization error input by an input device, and FIG. 21 is a circuit diagram of a conventional example. 1 ... inspection object, 2 ... input device, 3 ... binarization circuit, 5,7 ... memory 6 ... selector, 8 ... OR circuit, 10 ... counter, 12 ... monostable oscillator , L 1 to L 4 …… Line shift register, P 1 to P 20 …… Flip-flop, XOR 1 to XOR 5 …… Exclusive OR circuit, AND 1 to AND 5 …… AND circuit

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】(a)クロック信号を発生するクロック信
号発生手段と、 (b)被検査物の主走査方向に沿って時系列的に送信さ
れて来る前記被検査物の2値化画像データの内、前記主
走査方向に直交する副走査方向に同一列のm画素分(m
は2以上の整数)の2値化画像データを、前記クロック
信号に同期してラッチする第1ラッチ回路と、 (c)前記被検査物の2値化画像データの内、前記m画
素分の2値化画像データの内で予め定められた2値化画
像データに対して前記主走査方向に時系列的に先行する
k画素分の2値化画像データ(kは1以上の整数)を、
前記クロック信号に同期してラッチする第2ラッチ回路
と、 (d)前記副走査方向に前記m画素分、前記主走査方
向にn画素分(nは2以上の整数)を有するm×n画素
分の基準パターンの2値化画像データを、その各副走査
方向のm画素分の2値化画像データのそれぞれの格納場
所を特定する第1アドレスデータの各値に対応付けて第
1基準データ群として格納しており、 前記第1基準データ群の内で、前記k画素分の2値化
画像データが属する走査ラインに対応した前記主走査方
向のn画素分の2値化画像データを、当該n画素分の2
値化画像データの格納場所を特定する第2アドレスデー
タの値に対応付けて第2基準データ群として格納すると
共に、 更に前記第1及び第2アドレスデータは、それぞれが
特定する2値化画像データに対応して前記第1及び第2
ラッチ回路の何れを指定するかを示すデータの格納場所
をも特定する信号であって、当該第1及び第2アドレス
データの各値に対応付けて前記第1及び第2ラッチ回路
の何れかを指定するデータをセレクタ切換えデータとし
て格納する、 メモリとを備えており、 前記第1アドレスデータの前記メモリへの入力に応じ
て、当該第1アドレスデータの値に対応した、前記副走
査方向のm画素分の第1基準データ群と前記セレクタ切
換えデータとが読出されるとき及び、前記第2アドレス
データの前記メモリへの入力に応じて、当該第2アドレ
スデータに対応した、前記第2基準データ群と前記セレ
クタ切換えデータとが読出されるときには、前記メモリ
は、当該読出された第1又は第2基準データ群とセレク
タ切換えデータとを前記クロック信号に同期して出力す
る一方、 (e)前記第1及び第2ラッチ回路がそれぞれ出力する
前記m画素分及びk画素分の2値化画像データの一方
を、前記メモリから出力される前記セレクタ切換えデー
タに応じて出力するセレクタと、 (f)前記メモリから選択的に呼び出される前記第1又
は第2基準データ群と前記セレクタの出力とを対応する
画素毎に比較して、各画素が全て一致するときには一致
信号を出力する一方、少なくとも一組の画素が不一致の
ときには不一致信号を出力する比較回路と、 (g)前記第2アドレスデータに相当する値がプリセッ
トデータとして設定されており、 前記比較回路から前記一致信号が入力されたときには、
前記クロック信号に同期してそのカウント値を歩進させ
ると共に歩進後にカウント値を前記第1アドレスデータ
として前記メモリへ出力し、前記不一致信号が入力され
たときには、前記クロック信号に同期して前記カウント
値をプリセットすると共に前記プリセットデータを前記
第2アドレスデータとして出力する一方、 前記カウント値の歩進がn回連続したときには、次の前
記クロック信号に同期して当該カウント値をプリセット
すると共にパターン一致検出信号を出力する、カウンタ
回路とを、 更に備えたパターン認識装置。
1. (a) Clock signal generating means for generating a clock signal, and (b) Binary image data of the inspection object transmitted in time series along the main scanning direction of the inspection object. Out of m pixels in the same column in the sub-scanning direction orthogonal to the main scanning direction (m
A first latch circuit for latching binarized image data of 2 or more) in synchronization with the clock signal, and (c) of the binarized image data of the object to be inspected for the m pixels. Among the binarized image data, the binarized image data (k is an integer of 1 or more) for k pixels that precedes the predetermined binarized image data in the main scanning direction in time series,
A second latch circuit for latching in synchronization with the clock signal; and (d) m × n pixels having m pixels in the sub-scanning direction and n pixels (n is an integer of 2 or more) in the main scanning direction. Minute reference pattern binary image data is associated with each value of the first address data that specifies the storage location of each m pixel binary image data in each sub-scanning direction. Stored as a group, and in the first reference data group, binarized image data for n pixels in the main scanning direction corresponding to the scanning line to which the binarized image data for k pixels belongs, 2 for the n pixels
The storage area of the binarized image data is stored as a second reference data group in association with the value of the second address data, and further, the first and second address data are binarized image data respectively identified. Corresponding to the first and second
It is a signal that also specifies a storage location of data indicating which of the latch circuits is to be designated, and is associated with each value of the first and second address data, and is used to identify one of the first and second latch circuits. A memory that stores designated data as selector switching data, and m in the sub-scanning direction corresponding to the value of the first address data in response to the input of the first address data to the memory. The second reference data corresponding to the second address data when the first reference data group for pixels and the selector switching data are read and when the second address data is input to the memory. When the group and the selector switching data are read, the memory sends the read first or second reference data group and the selector switching data to the clock signal. (E) One of the binarized image data for the m pixels and the k pixels output by the first and second latch circuits, respectively, is output from the memory. A selector that outputs according to the data, and (f) the first or second reference data group selectively called from the memory and the output of the selector are compared for each corresponding pixel, and all the pixels match. And a comparison circuit that outputs a non-coincidence signal when at least one set of pixels do not coincide with each other, and (g) a value corresponding to the second address data is set as preset data. When the coincidence signal is input from the circuit,
The count value is incremented in synchronization with the clock signal, the count value is output to the memory as the first address data after the increment, and when the mismatch signal is input, the count value is synchronized with the clock signal. While presetting a count value and outputting the preset data as the second address data, when the step of the count value continues n times, the count value is preset in synchronization with the next clock signal and a pattern A pattern recognition device further comprising: a counter circuit that outputs a coincidence detection signal.
【請求項2】前記第2ラッチ回路は、前記第1ラッチ回
路にラッチされているm画素分(ここではm≧3)の2
値化画像データの内の複数個のものが属する前記走査ラ
インのそれぞれに対して、前記k画素分の2値化画像デ
ータを有しており、 前記セレクタ切換えデータは、前記第1ラッチ回路を指
定するデータと、前記複数の走査ラインの内の何れか一
つに属する前記第2ラッチ回路内のk画素分の2値化画
像データの出力を指定するデータとから成るとともに、 前記第2基準データ群の走査ラインは、前記セレクタ切
換えデータが指定する走査ラインに対応している、特許
請求の範囲第1項に記載のパターン認識装置。
2. The second latch circuit comprises 2 pixels for m pixels (here, m ≧ 3) latched by the first latch circuit.
For each of the scanning lines to which a plurality of the binarized image data belong, the binarized image data for the k pixels is included, and the selector switching data includes the first latch circuit. The second reference circuit and the data for designating the output of the k-pixel binary image data in the second latch circuit belonging to any one of the plurality of scanning lines. The pattern recognition device according to claim 1, wherein the scan line of the data group corresponds to the scan line designated by the selector switching data.
【請求項3】前記比較回路は、前記セレクタの出力デー
タと前記メモリの出力データとの各画素毎の比較の内で
特定の画素同士の比較結果をマスキングする特定画素マ
スキング手段を含む、特許請求の範囲第1項又は第2項
に記載のパターン認識装置。
3. The comparison circuit includes specific pixel masking means for masking a comparison result between specific pixels in comparison of output data of the selector and output data of the memory for each pixel. The pattern recognition device according to the first or second range.
JP60222454A 1985-10-04 1985-10-04 Pattern recognition device Expired - Lifetime JPH0750504B2 (en)

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