JPH07211423A - Method for mounting ic chip on flexible circuit board and thermocompression bonding machine for ic chip - Google Patents

Method for mounting ic chip on flexible circuit board and thermocompression bonding machine for ic chip

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JPH07211423A
JPH07211423A JP33517793A JP33517793A JPH07211423A JP H07211423 A JPH07211423 A JP H07211423A JP 33517793 A JP33517793 A JP 33517793A JP 33517793 A JP33517793 A JP 33517793A JP H07211423 A JPH07211423 A JP H07211423A
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JP
Japan
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chip
circuit board
flexible circuit
board
stage
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Application number
JP33517793A
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Japanese (ja)
Inventor
Yuji Hirasawa
雄二 平沢
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3M Co
Original Assignee
Minnesota Mining and Manufacturing Co
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Publication date
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    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • HELECTRICITY
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    • H01L2924/351Thermal stress
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Abstract

PURPOSE: To lessen the degree of the deformation of board and improve the reliability of connection by forming no projected part in a portion of a chip which is in the outside of an electrode pad and making an air layer existing in a gap to the board at the time when a flexible circuit board and an IC chip are heated and pressed by a projected part of a stage. CONSTITUTION: A board 10 is mounted on a flat part of a projected part 2a of a stage 2 and while sandwiching a film-like anisotropic conductive film 12 previously and temporarily pressure connected with the board 10, an IC chip 1 is mounted on the board 10 and heated and pressed. To make the connection between the chip 1 and the conductive film 12 of the substrate 10 reliable, proper pressure is applied to the upper face of the projected part 2a at the time of pressure connection. At that time, since no projected part 2a against the stage 2 is formed in the portion which is the outside of an electrode bump 3, an air layer exists in a lower part of the substrate and the distance extension of a connection circuit on the board 10 is made possible and occurrence of edge short circuit is prevented and at the same time deformation of the board 10 except the projected part 2a can be restricted.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、大規模集積回路(IC
チップ)とフレキシブル回路基板(FPC基板)との対
向部材間の電気的及び物理的な接続を行うフレキシブル
回路基板へのICチップの実装方法及びその方法を実施
するためのICチップ用熱圧着機に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a large scale integrated circuit (IC).
The present invention relates to a method for mounting an IC chip on a flexible circuit board for electrically and physically connecting a facing member between a chip) and a flexible circuit board (FPC board), and a thermocompression bonding machine for an IC chip for carrying out the method. .

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶表示装置(LCD)の駆動用ICモ
ジュールとして広く使われているポリイミド基材のTC
P(Tape Carrier Package)を、より安価な材料、
例えばポリエステル基材に置き換える試みがなされてい
る。しかし、このような安価な基材は耐熱性が劣り、I
CチップのTCP基板への接続方法も従来のような高温
下(350〜400℃)での共晶接続は不可能であり、
異方性導電膜(ACF)のように低温で接続できる接続
材料を使う必要がある。そこで、ACFを使用したFP
CへのICチップのフェースダウンボンディングは、例
えば特公昭62−6652号公報に記載されており、特
開昭62−24635号公報には、ICチップを吸着ヘ
ッドで吸着してこれを加熱しつつ回路基板上の所定位置
に押圧して両者を接続させる熱圧着装置が開示されてい
る。また、実開平1−89492号公報には異方性導電
膜を使用したものが開示されている。
2. Description of the Related Art TC of a polyimide base material widely used as an IC module for driving a liquid crystal display (LCD)
P (Tape Carrier Package) is a cheaper material,
For example, attempts have been made to replace it with a polyester base material. However, such an inexpensive substrate has poor heat resistance and
With the method of connecting the C chip to the TCP substrate, the eutectic connection under high temperature (350 to 400 ° C.) as in the conventional case is impossible.
It is necessary to use a connecting material that can be connected at a low temperature, such as an anisotropic conductive film (ACF). Therefore, FP using ACF
Face down bonding of an IC chip to C is described, for example, in Japanese Patent Publication No. 62-6652, and in Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-24635, while adsorbing an IC chip with a suction head and heating it. There is disclosed a thermocompression bonding device which presses a predetermined position on a circuit board to connect the two. Further, Japanese Utility Model Laid-Open No. 1-89492 discloses a device using an anisotropic conductive film.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の構成では以下のような問題がある。すなわち、例え
ば、図8,9に示すように、銅又はアルミ材料などによ
り回路が形成されたポリエステルフィルムを基材とした
FPC基板10にICチップ1をフェースダウンボンデ
ィングしようとする際、FPC基板10は加熱圧着(1
40〜250℃×20〜40kgfcm2×10〜40
秒)によって容易に変形するために、従来のようにステ
ージ20が単なる平面である場合にはFPC基板10上
の接続部近傍の回路が直接チップエッジ部5に接触した
り、又はACF12中の導電粒子を介して接触したりす
る、いわゆるエッジショートが発生しやすくなる。すな
わち、図9に示すように、チップエッジ部5は、ICチ
ップ1の製造工程上の理由から絶縁処理(パッシベーシ
ョン膜4)が施されておらず、エッジ部5の露出したシ
リコンは半導体であるため、接続しようとするFPC基
板側の対向回路と接触すると回路ショートとなり、クロ
ストーク等の重大な機能障害を引き起こしてしまう。図
9は従来の方法による圧着時のFPC基板10の上記変
形を示している。従って、本発明の目的は、上記問題を
解決することにあって、チップエッジとFPC基板上の
対向電極端子との電気的接触(エッジショート)を防止
することができるフレキシブル回路基板へのICチップ
の実装方法及びこの方法を実施するためのICチップ用
熱圧着機を提供することにある。
However, the above conventional configuration has the following problems. That is, for example, as shown in FIGS. 8 and 9, when attempting face-down bonding of the IC chip 1 to the FPC board 10 using a polyester film having a circuit formed of copper or aluminum material as a base material, the FPC board 10 Is thermocompression bonding (1
40-250 ° C x 20-40kgfcm 2 x 10-40
When the stage 20 is simply a flat surface as in the conventional case, the circuit near the connection portion on the FPC board 10 directly contacts the chip edge portion 5 or the conductivity in the ACF 12 is increased. So-called edge short-circuiting, in which particles come into contact with each other, tends to occur. That is, as shown in FIG. 9, the chip edge portion 5 is not subjected to the insulation treatment (passivation film 4) due to the manufacturing process of the IC chip 1, and the exposed silicon of the edge portion 5 is a semiconductor. Therefore, if it comes into contact with the opposing circuit on the side of the FPC board to be connected, a short circuit will occur, causing a serious functional failure such as crosstalk. FIG. 9 shows the above-described modification of the FPC board 10 during pressure bonding according to the conventional method. Therefore, an object of the present invention is to solve the above problem, and to prevent an electrical contact (edge short circuit) between a chip edge and a counter electrode terminal on an FPC board, an IC chip for a flexible circuit board. And a thermocompression bonding machine for an IC chip for carrying out this method.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、ステージに凸部を設けて、ICチップの
電極パッド群の最も外側に相当する部分までフレキシブ
ル回路基板とICチップとを加熱押圧し、フレキシブル
回路基板の所定部にICチップの電極パッドを圧着接続
させるように構成する。すなわち、請求項1に記載した
ように、本発明にかかるフレキシブル回路基板へのIC
チップの実装方法は、ステージを利用してフレキシブル
回路基板にICチップを圧着して実装するフレキシブル
回路基板へのICチップの実装方法において、上記ステ
ージの凸部に対して、上記ICチップの端縁部に配置さ
れた電極パッド群の最も外側に相当する部分までフレキ
シブル回路基板とICチップとを加熱押圧して、フレキ
シブル回路基板の所定部にICチップの電極パッドを圧
着接続させるように構成する。
In order to achieve the above object, the present invention provides a flexible circuit board and an IC chip up to the outermost part of the electrode pad group of the IC chip by providing a convex portion on the stage. Is heated and pressed, and the electrode pad of the IC chip is pressure-bonded to a predetermined portion of the flexible circuit board. That is, as described in claim 1, the IC for the flexible circuit board according to the present invention
The chip mounting method is the method of mounting an IC chip on a flexible circuit board by crimping and mounting the IC chip on the flexible circuit board using a stage, wherein the edge of the IC chip is attached to the convex portion of the stage. The flexible circuit board and the IC chip are heated and pressed to a portion corresponding to the outermost side of the electrode pad group arranged in the section, and the electrode pad of the IC chip is pressure-bonded to a predetermined portion of the flexible circuit board.

【0005】また、請求項2に記載したように、上記請
求項1の構成において、上記ICチップは正方形又は長
方形板状であり、その4辺に上記電極パッド群が配置さ
れ、該電極パッド群の最外周形状に等しいかわずかに大
きい部分まで、上記フレキシブル回路基板が位置合わせ
されるべき熱圧着機のステージ(2)のICチップの面
積以下の面積を有する凸部(2a)により、フレキシブ
ル回路基板とICチップとを加熱押圧して、フレキシブ
ル回路基板とICチップとを圧着接続させるように構成
することもできる。また、請求項3に記載したように、
本発明にかかる熱圧着機は、ICチップをフレキシブル
回路基板に熱圧着して電気接続を得る熱圧着機におい
て、上記フレキシブル回路基板が位置合わせされるべき
熱圧着機のステージに、ICチップの面積以下の面積を
有する凸部を設け、該凸部に対してICチップとフレキ
シブル回路基板とを加熱押圧してICチップとフレキシ
ブル回路基板とを圧着接続させるように構成する。
Further, as described in claim 2, in the structure of claim 1, the IC chip has a square or rectangular plate shape, and the electrode pad group is arranged on four sides thereof, and the electrode pad group is arranged. To a portion which is equal to or slightly larger than the outermost peripheral shape of the flexible circuit board by the convex portion (2a) having an area equal to or smaller than the area of the IC chip of the stage (2) of the thermocompression bonding machine to which the flexible circuit board is to be aligned. Alternatively, the flexible circuit board and the IC chip may be pressure-bonded to each other by heating and pressing the substrate and the IC chip. In addition, as described in claim 3,
A thermocompression bonding machine according to the present invention is a thermocompression bonding machine for thermocompression bonding an IC chip to a flexible circuit board to obtain an electrical connection, wherein the area of the IC chip is mounted on a stage of the thermocompression bonding machine to which the flexible circuit board is to be aligned. A convex portion having the following area is provided, and the IC chip and the flexible circuit board are heated and pressed against the convex portion to press-connect the IC chip and the flexible circuit board.

【0006】また、請求項4に記載したように、上記請
求項3の構成において上記凸部の高さが0.1〜3.0
mm、更に好ましくは、0.2〜1.0mmであるよう
に構成することもできる。また、請求項5に記載したよ
うに、請求項3又は4において、上記凸部の内側に概ね
円錐状又は四角錐状の窪みを有するように構成すること
もできる。さらに、請求項6に記載したように、請求項
5の構成において、上記窪みの最深が10〜1000μ
m、更に好ましくは20〜500μmであるように構成
することもできる。
Further, as described in claim 4, in the structure of claim 3, the height of the convex portion is 0.1 to 3.0.
mm, and more preferably 0.2 to 1.0 mm. In addition, as described in claim 5, in claim 3 or 4, it may be configured such that it has a substantially conical or quadrangular pyramid-shaped recess inside the convex portion. Further, as described in claim 6, in the structure of claim 5, the deepest of the depression is 10 to 1000 μm.
m, and more preferably 20 to 500 μm.

【0007】[0007]

【発明の効果】本発明の構成によれば、ステージの凸部
によりフレキシブル回路基板とICチップとを加熱押圧
するため、ICチップの電極パッドの外側に相当する部
分にはステージの凸部は形成されておらずフレキシブル
回路基板との間に空気層が存在することができる。よっ
て、この空気層が熱絶縁部となってフレキシブル回路基
板は、従来のようにICチップのエッジ部側ではなく、
ICチップのエッジ部から遠ざかる方向に変形する。そ
の結果、ICチップのエッジ部とフレキシブル回路基板
上の接続回路との距離が長くなり、エッジショートの発
生を防止することができる。また、従来の平滑なステー
ジを用いた場合に比して、格段にFPC基板の平滑性も
保持することが可能である。なぜならば、FPC基板の
外部接続において、FPC基板の変形量が大きいと、位
置合わせが困難となったり、ショートが発生したりする
恐れがあるためである。これに対して、本発明ではフレ
キシブル回路基板の凸部に接触しない部分ではステージ
によりその変形が規制されるので、FPC基板の変形量
はさほど大きくはならないのである。この結果、例えば
ACFによるICチップのFPC基板への実装に対して
高い接続信頼性を与えることができる。
According to the structure of the present invention, since the flexible circuit board and the IC chip are heated and pressed by the convex portion of the stage, the convex portion of the stage is formed in a portion corresponding to the outside of the electrode pad of the IC chip. An air layer may exist between the flexible circuit board and the flexible circuit board. Therefore, this air layer serves as a heat insulating portion, and the flexible circuit board is not on the edge side of the IC chip as in the conventional case,
It deforms in a direction away from the edge of the IC chip. As a result, the distance between the edge portion of the IC chip and the connection circuit on the flexible circuit board becomes long, and the occurrence of edge short circuit can be prevented. Further, the smoothness of the FPC board can be remarkably maintained as compared with the case where the conventional smooth stage is used. This is because, in the external connection of the FPC board, if the deformation amount of the FPC board is large, it may be difficult to perform the alignment or a short circuit may occur. On the other hand, in the present invention, the deformation of the FPC board is not so large because the deformation of the flexible circuit board is restricted by the stage in the portion that does not contact the convex portion. As a result, high connection reliability can be provided for mounting the IC chip on the FPC board by ACF, for example.

【0008】[0008]

【実施例】以下に、本発明にかかる実施例を図1〜図7
に基づいて詳細に説明する。本実施例にかかるフレキシ
ブル回路基板へのICチップの実装方法は、図1〜3に
示すように、ICチップ1をFPC基板10とをACF
12を介して熱圧着機30にて接続する接続方法におい
て、熱圧着機30のICチップ直下のステージ2のサイ
ズがICチップ1の外周と等しいか、ICチップ1の上
に配列されている電極パッド群3,…,3の最外周より
大であるステージ2を用いるものである。この実装方法
において使用されるICチップ1は、シリコン基板上に
微細回路が施されたもので、下面に外部との接続のため
の電極パッドの端子(バンプ)3を多数有している。こ
のICチップ1の形状は3〜20mmの辺の長さを有す
る正方形または長方形であり、0.3〜2mmの厚さを
有するのが好ましい。また、上記実装方法において使用
されるFPC基板10の回路は、その材質が銅、アルミ
ニウム、金、銀又はこれらに金属メッキを施したもので
あり、回路幅が30〜200μm、高さが10〜40μ
mであり、このFPC回路11はフォトエッチングによ
り作成されている。また、FPC基材14は、その材質
がポリイミド、ポリエステル、ポリサルフォン等であ
り、その厚さが25〜125μm、その面積がTAB
(tape automated bonding tape)においては、10
〜70mm角であって、接着剤13によるラミネートに
より基材14上にFPC回路11が接着されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments according to the present invention will be described below with reference to FIGS.
It will be described in detail based on. As shown in FIGS. 1 to 3, the method of mounting the IC chip on the flexible circuit board according to the present embodiment uses the IC chip 1 and the FPC board 10 as the ACF.
In the connection method of connecting with the thermocompression bonding machine 30 via 12, the size of the stage 2 immediately below the IC chip of the thermocompression bonding machine 30 is equal to the outer circumference of the IC chip 1 or electrodes arranged on the IC chip 1. The stage 2 which is larger than the outermost periphery of the pad groups 3, ..., 3 is used. The IC chip 1 used in this mounting method has a fine circuit formed on a silicon substrate, and has a large number of electrode pad terminals (bumps) 3 on its lower surface for connection to the outside. The shape of the IC chip 1 is a square or a rectangle having a side length of 3 to 20 mm, and preferably has a thickness of 0.3 to 2 mm. Further, the circuit of the FPC board 10 used in the above mounting method is made of copper, aluminum, gold, silver or a metal thereof plated, and has a circuit width of 30 to 200 μm and a height of 10 to 10. 40μ
m, and the FPC circuit 11 is created by photoetching. The FPC base material 14 is made of polyimide, polyester, polysulfone, or the like, and has a thickness of 25 to 125 μm and an area of TAB.
(Tape automated bonding tape): 10
It is about 70 mm square, and the FPC circuit 11 is bonded onto the base material 14 by laminating with the adhesive 13.

【0009】一方、図2,3に示すように、上記実装方
法を実施するために使用する熱圧着機30のステージ2
は、その大きさが5〜30cm角、材質が鉄、アルミニ
ウム、真鍮、銅、亜鉛、合金、ガラス、セラミックス、
フェノール樹脂、エポキシ樹脂等からなっている。そし
て、ステージ2は熱圧着機本体に対して直交する2方向
すなわちxy方向に移動可能であり、xyテーブルとし
ての機能を兼ね備えている。ステージ2に備えられるF
PC位置決め装置は、例えばステージ2に図6に示すよ
うに、空気吸引用の細孔40cを一つ以上有して構成し
ている。必要ならば、ステージ2の下方にヒーター等の
加熱装置を備えて、加熱操作を行うようにしてもよい。
ステージ2に形成される凸部2aは、その形状がICチ
ップ1のバンプ配列に則した形状が好ましく、一般的
に、正方形、長方形等となっている。そして、凸部2a
の上面にはICチップ1を平に存置するための平坦部を
少なくとも有している。
On the other hand, as shown in FIGS. 2 and 3, the stage 2 of the thermocompression bonding machine 30 used for carrying out the mounting method described above.
Is 5 to 30 cm square, the material is iron, aluminum, brass, copper, zinc, alloy, glass, ceramics,
It is made of phenolic resin, epoxy resin, etc. The stage 2 is movable in two directions orthogonal to the thermocompression bonding machine body, that is, in the xy direction, and also has a function as an xy table. F on stage 2
The PC positioning device is configured to have, for example, one or more air suction pores 40c on the stage 2, as shown in FIG. If necessary, a heating device such as a heater may be provided below the stage 2 to perform the heating operation.
The convex portion 2a formed on the stage 2 preferably has a shape that conforms to the bump arrangement of the IC chip 1, and generally has a square shape, a rectangular shape, or the like. And the convex portion 2a
Has at least a flat portion for keeping the IC chip 1 flat.

【0010】上記ステージ2の凸部2aの高さは0.1
〜3mmが好ましく、更に好ましいのは0.2〜1.0
mmである。0.1mm未満では、上述の効果が無い一
方、3mmを越えると、使用により、上部平坦部の摩
耗、損傷、変形が起こりやすくなり、ICチップ1とF
PC基板10との確実な接続が困難となるためである。
また、ステージ2の凸部2aの材質は特に限定されない
が、ステージ2と同一物でよく、耐熱、耐久性が優れた
ものが好適である。また、凸部2aの面積は、図2,3
に示されるように、ICチップ1の外形と同一またはそ
れよりも小さく、かつ、バンプ配列形状よりも大きくな
ければならない。すなわち、図2,3において、凸部2
aの最小の幅寸法は電極バンプ3の対向する端縁のバン
プ配列の間隔L1、最大の幅寸法はICチップ1の幅寸
法L2である。具体的には、ICチップ1の外形より、
50〜100μm小さければ好適であり、また、バンプ
配列形状よりも50〜100μm程度大きければ、確実
なICチップ1とFPC基板10との接続が可能であ
る。この凸部2aは例えば切削、研磨等の機械加工によ
り形成することができる。あるいは、ステージ2に、あ
らかじめ、穴を設け、別途、作成した凸部部材を固定す
ることにより、上記凸部2aを構成するようにしても良
い。その際、単に嵌合させるだけでも良く、溶接又は接
着剤等を用いて固定することも可能である。凸部2aは
少なくとも1個あれば良く、さらには、複数のICチッ
プ1に対応して複数個設けることも可能である。
The height of the convex portion 2a of the stage 2 is 0.1.
~ 3 mm is preferable, and more preferably 0.2-1.0.
mm. If it is less than 0.1 mm, the above effect is not obtained, while if it exceeds 3 mm, wear, damage, and deformation of the upper flat portion easily occur due to use, and the IC chips 1 and F
This is because reliable connection with the PC board 10 becomes difficult.
The material of the convex portion 2a of the stage 2 is not particularly limited, but the same material as that of the stage 2 may be used, and a material having excellent heat resistance and durability is preferable. Moreover, the area of the convex portion 2a is as shown in FIGS.
As shown in (1), it must be the same as or smaller than the outer shape of the IC chip 1 and larger than the bump array shape. That is, in FIGS.
The minimum width dimension of a is the interval L 1 between the bump arrays on the opposite edges of the electrode bumps 3, and the maximum width dimension is the width dimension L 2 of the IC chip 1. Specifically, from the outer shape of the IC chip 1,
If it is smaller than 50 to 100 μm, it is preferable, and if it is larger than the bump arrangement shape by about 50 to 100 μm, the IC chip 1 and the FPC board 10 can be reliably connected. This convex portion 2a can be formed by machining such as cutting and polishing. Alternatively, the convex portion 2a may be configured by forming a hole in the stage 2 in advance and fixing the separately formed convex member. At that time, it is possible to simply fit them, and it is also possible to fix them by welding or an adhesive. It is sufficient that at least one convex portion 2a is provided, and a plurality of convex portions 2a can be provided corresponding to the plurality of IC chips 1.

【0011】上記構成によれば、図1に示すように、ス
テージ2の凸部2aの平坦部上にフレキシブル回路基板
10を載置し、次いで、予めFPC基板10上に仮圧着
されたフィルム状ACF12を介して、ICチップ1を
フレキシブル回路基板10の上に載置しつつ加熱押圧す
る。すなわち、凸部2aの上面においては、圧着時に、
ICチップ1とFPC基板10とをACF12を介して
確実に接続すべく、適当な圧力が、接続該当部に作用す
る。このとき、ICチップ1の電極バンプ3の外側に相
当する部分ではステージ2には凸部2aが形成されてお
らず、フレキシブル回路基板10の下方に空気層が存在
する。この空気層が熱絶縁部となってフレキシブル回路
基板10は、従来の図9のように上方すなわちICチッ
プ1のエッジ部側ではなく、図1に示すようにICチッ
プ1のエッジ部5から遠ざかる方向に変形する。その結
果、ICチップ1のエッジ部5とフレキシブル回路基板
10上の接続回路との距離が長くなり、エッジショート
の発生を防止することができる。また、従来の平滑なス
テージ20を用いた場合に比して、格段にFPC基板1
0の平滑性も保持することが可能である。なぜならば、
FPC基板10の外部接続において、FPC基板10の
変形量が大きいと、位置合わせが困難となったり、ショ
ートが発生したりする恐れがあるためである。これに対
して、本実施例においては、FPC基板10のステージ
2の凸部2aに接触していない部分はステージ2の凸部
以外の部分でその変形が規制されるため、さほど大きく
は変形しないのである。なお、上記ACF12は、予め
ICチップ側に仮圧着していてもよい。
According to the above construction, as shown in FIG. 1, the flexible circuit board 10 is placed on the flat portion of the convex portion 2a of the stage 2 and then the FPC board 10 is preliminarily pressure-bonded to the film shape. The IC chip 1 is placed on the flexible circuit board 10 via the ACF 12 and heated and pressed. That is, on the upper surface of the convex portion 2a,
In order to surely connect the IC chip 1 and the FPC board 10 via the ACF 12, an appropriate pressure acts on the connection corresponding portion. At this time, the convex portion 2 a is not formed on the stage 2 in a portion corresponding to the outside of the electrode bump 3 of the IC chip 1, and an air layer exists below the flexible circuit board 10. This air layer serves as a heat insulating portion, and the flexible circuit board 10 moves away from the edge portion 5 of the IC chip 1 as shown in FIG. Transforms in the direction. As a result, the distance between the edge portion 5 of the IC chip 1 and the connection circuit on the flexible circuit board 10 becomes long, and the occurrence of edge short circuit can be prevented. Further, as compared with the case where the conventional smooth stage 20 is used, the FPC board 1 is remarkably
It is possible to maintain the smoothness of 0. because,
This is because, in the external connection of the FPC board 10, if the deformation amount of the FPC board 10 is large, alignment may be difficult or a short circuit may occur. On the other hand, in this embodiment, the deformation of the portion of the FPC board 10 that is not in contact with the convex portion 2a of the stage 2 is restricted by the portion other than the convex portion of the stage 2, so that it does not deform so much. Of. The ACF 12 may be preliminarily pressure bonded to the IC chip side.

【0012】この実装方法を実施するための一例として
の熱圧着機の概略を図4,5に示す。図4,5におい
て、ICチップ加熱用ヒーターを内蔵したヘッド60に
はICチップ1,…,1が多数保持されたTABフィル
ムが支持されており、このICチップ1を1個ずつテー
ブル43上のフレキシブル回路基板10に圧着接続する
ものである。上記ヘッド60は、ヘッド駆動用エアシリ
ンダ31により昇降され、昇降時のエアーシリンダ31
の圧力は、低圧・高圧切換スイッチ32により低圧と高
圧とに切換られる。この結果、圧着力の調整が行える。
上記ヘッド60は、2個の調節ネジ37と4個の調節ネ
ジ38により長手方向角度調節及び幅方向角度調節をそ
れぞれ行う。39は2個のヘッド固定用プレート、40
はヘッド取り付け用爪である。ヘッド60に支持される
TABフィルムは、2つのリール61,61間で所定ピ
ッチずつ送り可能に支持されており、上記フィルムの下
部は2本のフィルムロール取り付けロッド42,42に
より水平方向沿いに展張できるようにしている。フィル
ムの送り量は調節ネジ41により調節できる。一方、ス
テージ2は、マイクロメータ44によりステージ2のx
−y面の角度θの調節が、マイクロメータ45によりz
方向の傾き調節、マイクロメータ46によりx方向の移
動量の調節が、マイクロメータ48よりステージy方向
の移動量の調節が行える。なお、47はネジを締めるこ
とによりステージx方向のロックを行う固定板、49は
ネジを締めることによりステージ2のy方向のロックを
行う固定板、50はテーブル挿入時のショックを緩衝す
る緩衝装置である。51はテーブル43上のFPC回路
基板の状態を観察するモニター用CCDカメラ、53は
その移動機構である。
An outline of a thermocompression bonding machine as an example for carrying out this mounting method is shown in FIGS. In FIGS. 4 and 5, a TAB film holding a large number of IC chips 1, ..., 1 is supported by a head 60 having a heater for heating the IC chips, and each IC chip 1 is placed on the table 43 one by one. The flexible circuit board 10 is pressure-bonded and connected. The head 60 is moved up and down by the air cylinder 31 for driving the head, and the air cylinder 31 moves up and down.
The pressure of is switched between low pressure and high pressure by the low pressure / high pressure changeover switch 32. As a result, the crimping force can be adjusted.
The head 60 performs longitudinal angle adjustment and width direction angle adjustment by the two adjusting screws 37 and the four adjusting screws 38, respectively. 39 is a plate for fixing two heads, 40
Is a head mounting nail. The TAB film supported by the head 60 is supported so that it can be fed at a predetermined pitch between two reels 61, 61, and the lower part of the film is spread horizontally along with two film roll mounting rods 42, 42. I am able to do it. The feed amount of the film can be adjusted by the adjusting screw 41. On the other hand, the stage 2 measures the x of the stage 2 by the micrometer 44.
-The adjustment of the angle θ of the y-plane is performed by the micrometer 45 in the z direction.
The inclination of the direction can be adjusted, the amount of movement in the x direction can be adjusted by the micrometer 46, and the amount of movement in the stage y direction can be adjusted by the micrometer 48. Reference numeral 47 is a fixing plate that locks the stage in the x direction by tightening a screw, 49 is a fixing plate that locks the stage 2 in the y direction by tightening the screw, and 50 is a shock absorber that cushions a shock when the table is inserted. Is. Reference numeral 51 is a monitor CCD camera for observing the state of the FPC circuit board on the table 43, and 53 is a moving mechanism thereof.

【0013】この熱圧着機の具体的な仕様は、例えば、
ヘッド60は、圧着面寸法は、長さ100mm±0.2
mm、幅20.0mm±0.1mm、材質は鋼鉄(SK
H鋼)、使用可能温度は常温〜500℃(±5%)、低
圧側総荷重5〜50kgf、高圧側総荷重50〜150
kgf、ストローク75mmMAX、ストローク内の任
意位置で停止可能、手動にて90°回転可能、手動にて
長手方向角度・幅方向角度徴調節可能、かつ、ヘッド交
換可能となっている。また、ステージ2は、送りシリン
ダー及び減速ダンパーを使用してステージ移動量250
mmMAX、テーブル移動はx方向に10mm,y方向
に10mm,θ方向に5°傾斜調節可能(全て手動)、
テーブル材質はベークライト、テーブルは取り外し可能
(位置決めピンにて位置決めを行う)、テーブル寸法は
350×350mmである。また、フィルム送り部分
は、フィルム送りが1サイクル当たり自動的に1回送る
ことができ、送り量は1〜15mmで可変であり、フィ
ルム幅は100mmMAX,1インチコア、対応ヘッド
接触機構圧着時のみヘッド表面と接触するようになって
いる。また、モニター部はCCDカメラX100mm,
Y±50mm移動(手動)、CCD倍率9インチモニタ
ー上9〜33倍、モニター9インチ白黒モニター,X−
Yレチクル付きとなっている。このような熱圧着機で
は、テーブル搬入、ヘッド下降、ヘッド上昇、テーブル
搬出の1サイクルを自動的に行っている。一例として、
ヘッド内蔵ヒーターによるヘッドの加熱時間(連続加熱
方式における加熱時間)は1sec〜1hr可変、電源
AC100V10A、使用空気圧5kgf/cmとす
る。
The specific specifications of this thermocompression bonding machine are, for example,
The head 60 has a crimping surface dimension of 100 mm ± 0.2 in length.
mm, width 20.0 mm ± 0.1 mm, material is steel (SK
H steel), usable temperature is room temperature to 500 ° C (± 5%), low pressure side total load 5 to 50 kgf, high pressure side total load 50 to 150
kgf, stroke 75mmMAX, can be stopped at any position within the stroke, can be manually rotated by 90 °, can be manually adjusted in the longitudinal direction angle and width direction angle, and the head can be replaced. The stage 2 uses a feed cylinder and a deceleration damper to move the stage by 250.
mmMAX, table movement is 10 mm in x direction, 10 mm in y direction, 5 ° tilt adjustment in θ direction (all manual),
The table material is bakelite, the table is removable (positioning pins are used for positioning), and the table size is 350 × 350 mm. In addition, the film feed section can automatically feed the film once per cycle, the feed amount can be varied from 1 to 15 mm, the film width is 100 mm MAX, 1 inch core, and the head contact mechanism can be used only when the head is pressed. It is designed to come into contact with the surface. Also, the monitor is a CCD camera X 100 mm,
Y ± 50mm movement (manual), CCD magnification 9-inch on monitor 9-33 times, monitor 9-inch black and white monitor, X-
It comes with a Y reticle. In such a thermocompression bonding machine, one cycle of table loading, head lowering, head lifting, and table unloading is automatically performed. As an example,
The heating time of the head (heating time in the continuous heating method) by the heater with a built-in head is variable from 1 sec to 1 hr, the power supply is AC100V10A, and the working air pressure is 5 kgf / cm 2 .

【0014】上記熱圧着機30では、テーブル43上に
FPC回路基板10が載置された状態で所定位置まで搬
入されたのち、エアシリンダー31の駆動によりICチ
ップ1,…,1を保持したヘッド60が下降して、AC
F12を介して、1個のICチップ1をFPC回路基板
10の所定位置にヘッド60により加熱しつつ押圧して
熱圧着し、電気的にかつ物理的に接着させる。その後、
ヘッド60をエアシリンダー31により上昇させ、IC
チップ1が接続されたFPC回路基板10がテーブル4
3とともに搬出される。この動作を繰り返すことにより
自動的に連続してICチップ1をFPC回路基板10に
圧着させることができる。以下に、より実際的な例を示
す。尚、この実例中でのICチップのFPC基板への圧
着はいずれも12mm角の金属ヘッドを持つパルスヒー
ト加熱方式のフリップチップボンダーで行った。圧着温
度はいずれもACF部にかかる実効温度、圧着圧力はI
Cチップに加わる総荷重で示した。 (実例−1)チップ外周寸法6.86mm角、バンプ寸
法100μm角×高さ25μm、バンプ数120、バン
プピッチ200μm、バンプ群最外周寸法6.54mm
角のテスト用チップをアルミ回路15μm厚/ラミ材1
0μm厚/ポリエステル基材38μm厚で構成されたF
PC基板に、高さ400μmで6.86mm角及び6.
54mm角の凸部形状を持つステージを使って圧着を行
い、エッジショートの有無を電気的に確認した。ACF
は、膜厚13μmで平均粒径5μmの金属ニッケル部を
2vol%含む熱硬化系バインダを用いた試作品を使用
した。比較例として、平面形状のステージを使用してサ
ンプルを作製した。圧着条件はすべて240℃×6kg
f/チップ×15秒で行った。表1に結果を示すが、本
実施例に相当する凸部形状のステージを使用した場合
は、2種類の凸部形状共にエッジショートの発生率は極
めて小さく、比較例の10%と比べて明らかに効果が見
られた。
In the thermocompression bonding machine 30, the head holding the IC chips 1, ..., 1 by driving the air cylinder 31 after the FPC circuit board 10 is loaded on the table 43 to a predetermined position. 60 descends, AC
Through the F12, one IC chip 1 is heated and pressed by the head 60 to a predetermined position on the FPC circuit board 10 to be thermocompression-bonded to be electrically and physically bonded. afterwards,
The head 60 is raised by the air cylinder 31, and the IC
The FPC circuit board 10 to which the chip 1 is connected is the table 4
It is carried out together with 3. By repeating this operation, the IC chips 1 can be automatically and continuously pressed onto the FPC circuit board 10. Below is a more practical example. In this example, the pressure bonding of the IC chip to the FPC board was performed by a pulse heat heating type flip chip bonder having a 12 mm square metal head. The crimping temperature is the effective temperature applied to the ACF part, and the crimping pressure is I
The total load applied to the C chip is shown. (Example-1) Chip outer peripheral size 6.86 mm square, bump size 100 μm square × height 25 μm, number of bumps 120, bump pitch 200 μm, bump group outermost peripheral size 6.54 mm
Corner test chip is aluminum circuit 15μm thick / Laminated material 1
F composed of 0 μm thickness / polyester substrate 38 μm thickness
A PC board with a height of 400 μm and 6.86 mm square and 6.
Crimping was performed using a stage having a convex shape of 54 mm square, and the presence or absence of an edge short circuit was electrically confirmed. ACF
Was a prototype using a thermosetting binder containing 2% by volume of a metallic nickel part having a film thickness of 13 μm and an average particle size of 5 μm. As a comparative example, a sample was manufactured using a flat stage. All crimping conditions are 240 ℃ × 6kg
f / chip × 15 seconds. The results are shown in Table 1. When the stage having a convex shape corresponding to the present example is used, the occurrence rate of edge shorts is extremely small for both of the two convex shapes, which is clear from the comparative example of 10%. The effect was seen in.

【0015】[0015]

【表1】 [Table 1]

【0016】(実例−2)実例−1と同じテスト用チッ
プと、材料構成は同一で接続抵抗特性が測定できる回路
が形成されたFPC基板とを、バンプ群最外周寸法と同
一寸法の凸部形状ステージを使って圧着を行い、エッジ
ショートの有無と抵抗特性を測定した。ACFは実例−
1と同一のものを使用したが、圧着条件は、240℃×
6kgf/チップ×15秒、240℃×4kgf/チッ
プ×15秒、220℃×6kgf/チップ×20秒、2
20℃×4kgf/チップ×20秒の4条件を用意し
て、それぞれの条件下で圧着を行った。尚、エッジショ
ートの有無は、FPC基板上の回路が抵抗測定用に形成
されているために、実例−1のように発生率としては測
定できないため、発生の有無のみの確認となっている。
圧着サンプルの耐環境性試験条件として、−20℃での
保持を2時間、遷移時間として2時間、70℃/90%
RHの状態での保持を2時間を1つの温湿サイクルとし
て繰り返し、この温湿度サイクル中に放置し、1000
時間後の抵抗値を測定した。表2に結果を示すが、高温
圧着及び高圧圧着の場合に本実施例に相当するものの効
果が顕著であり、エッジショートの発生は見られず抵抗
値も安定していた。比較例では、220℃×4kgf/
チップ×20秒の条件のみにエッジショートは発生しな
かったが、抵抗値の安定性は実施例に比べ劣っていた。
(Example-2) The same test chip as in Example-1 and an FPC board on which a circuit having the same material structure and capable of measuring connection resistance characteristics are formed, and a convex portion having the same outer peripheral dimension as the bump group. Crimping was performed using a shape stage, and the presence or absence of an edge short and the resistance characteristics were measured. ACF is an example-
I used the same as No. 1, but the crimping condition was 240 ° C ×
6 kgf / chip x 15 seconds, 240 ° C x 4 kgf / chip x 15 seconds, 220 ° C x 6 kgf / chip x 20 seconds, 2
Four conditions of 20 ° C. × 4 kgf / chip × 20 seconds were prepared, and pressure bonding was performed under each condition. It should be noted that the presence or absence of the edge short circuit cannot be measured as the occurrence rate like in Example-1 because the circuit on the FPC board is formed for resistance measurement, and therefore only the presence or absence of the occurrence is confirmed.
As the environment resistance test condition of the pressure-bonded sample, holding at -20 ° C for 2 hours, transition time for 2 hours, 70 ° C / 90%
Retaining in RH state is repeated for 2 hours as one temperature / humidity cycle, and left in this temperature / humidity cycle.
The resistance value after a lapse of time was measured. The results are shown in Table 2, and in the case of high temperature compression and high pressure compression, the effect equivalent to that of this example was remarkable, no edge short circuit was observed, and the resistance value was stable. In the comparative example, 220 ° C. × 4 kgf /
Although the edge short circuit did not occur only under the condition of chip × 20 seconds, the stability of resistance value was inferior to that of the example.

【0017】[0017]

【表2】 [Table 2]

【0018】なお、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その他種々の態様で実施できる。例えば、
図6,7に示すように、ステージ40の凸部40aの平
坦部の概ね中央部に、バンプ3からICチップ中心部に
向かってテーパを有する円錐又は四角錐状の窪み40b
を設けることが好適である。このようにすれば、異方性
導電膜の接着剤又は導電性接着剤が均一に流動しかつ強
固にICチップ1とFPC基板10とを接着することが
可能となるためである。この窪み40bの深さは、最深
10〜1000μmが好ましく、更に好ましいのは20
〜500μmである。10μm未満では顕著な効果が無
い一方、1000μm越えると、逆に、FPC基板10
がこの窪みにより大きく変形してしまい、有効接着剤量
が減少して接着力が減少するためである。このような窪
みは、機械加工による切削、レーザー加工、又はエッチ
ングにより作成可能である。ここで、異方性導電膜と
は、所定量の導電粒子を、熱硬化性接着剤または熱可塑
性接着剤の中に混合分散し、上下方向のみ被着体間の導
通が得られるようにしたものである。具体例としては、
住友スリーエム(株)製の異方性導電膜5350R,5
303R等がある。
The present invention is not limited to the above embodiment, but can be implemented in various other modes. For example,
As shown in FIGS. 6 and 7, a conical or quadrangular pyramid-shaped recess 40b having a taper from the bump 3 toward the center of the IC chip is formed at a substantially central portion of the flat portion of the convex portion 40a of the stage 40.
Is preferably provided. This is because the adhesive of the anisotropic conductive film or the conductive adhesive can flow uniformly and firmly bond the IC chip 1 and the FPC board 10 to each other. The depth of the recess 40b is preferably 10 to 1000 μm, and more preferably 20 μm.
Is about 500 μm. If it is less than 10 μm, there is no remarkable effect.
However, it is largely deformed by the depression, the effective adhesive amount is reduced, and the adhesive force is reduced. Such depressions can be created by cutting by mechanical processing, laser processing, or etching. Here, with the anisotropic conductive film, a predetermined amount of conductive particles are mixed and dispersed in a thermosetting adhesive or a thermoplastic adhesive so that conduction between adherends can be obtained only in the vertical direction. It is a thing. As a specific example,
Anisotropic conductive film 5350R, 5 manufactured by Sumitomo 3M Limited
There are 303R and the like.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例にかかる実装方法によるIC
チップとフレキシブル回路基板との接続状態を示す断面
側面図である。
FIG. 1 is an IC by a mounting method according to an embodiment of the present invention.
It is a cross-sectional side view which shows the connection state of a chip and a flexible circuit board.

【図2】 図1の実装方法において使用されるICチッ
プ平面図である。
FIG. 2 is a plan view of an IC chip used in the mounting method of FIG.

【図3】 図1に示すステージの断面側面図である。3 is a cross-sectional side view of the stage shown in FIG.

【図4】 上記実装方法を実施するために使用する熱圧
着機の正面図である。
FIG. 4 is a front view of a thermocompression bonding machine used to carry out the mounting method.

【図5】 図4の熱圧着機の側面図である。5 is a side view of the thermocompression bonding machine of FIG. 4. FIG.

【図6】 本発明の他の実施例にかかるステージの平面
図である。
FIG. 6 is a plan view of a stage according to another embodiment of the present invention.

【図7】 図6のステージの断面側面図である。7 is a cross-sectional side view of the stage of FIG.

【図8】 ICチップの下端部の拡大側面図である。FIG. 8 is an enlarged side view of the lower end portion of the IC chip.

【図9】 従来の実装方法によりICチップとフレキシ
ブル回路基板との接続状態を示す断面側面図である。
FIG. 9 is a sectional side view showing a connection state between an IC chip and a flexible circuit board by a conventional mounting method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…ICチップ、2,40…ステージ、2a,40a…
凸部、3…電極バンフ゜、4…パッシベーション膜、5…
エッジ部(シリコン露出面)、10…FPC基板、11
…FPC回路、12…ACF、13…ラミ材(接着
剤)、14…FPC基材、30…熱圧着機、40b…窪
み、40c…吸引用細孔。
1 ... IC chip, 2, 40 ... Stage, 2a, 40a ...
Projections, 3 ... Electrode bumps, 4 ... Passivation film, 5 ...
Edge part (silicon exposed surface), 10 ... FPC board, 11
... FPC circuit, 12 ... ACF, 13 ... Laminating material (adhesive), 14 ... FPC base material, 30 ... Thermocompression bonding machine, 40b ... Recess, 40c ... Suction pores.

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ステージ(2,40)を利用してフレキ
シブル回路基板(10)にICチップ(1)を圧着して
実装するフレキシブル回路基板へのICチップの実装方
法において、 上記ステージの凸部(2a,40a)に対して、上記I
Cチップの端縁部に配置された電極パッド群(3)の最
も外側に相当する部分までフレキシブル回路基板とIC
チップとを加熱押圧して、フレキシブル回路基板の所定
部にICチップの電極パッドを圧着接続させるようにし
たことを特徴とするフレキシブル回路基板へのICチッ
プの実装方法。
1. A method for mounting an IC chip on a flexible circuit board, wherein the IC chip (1) is mounted on the flexible circuit board (10) by pressure bonding using the stage (2, 40). For (2a, 40a), the above I
Flexible circuit board and IC up to the outermost part of the electrode pad group (3) arranged at the edge of the C chip
A method for mounting an IC chip on a flexible circuit board, characterized in that an electrode pad of the IC chip is pressure-bonded to a predetermined portion of the flexible circuit board by heating and pressing the chip.
【請求項2】 上記ICチップは正方形又は長方形板状
であり、その4辺に上記電極パッド群が配置され、該電
極パッド群の最外周形状に等しいかわずかに大きい部分
まで、上記フレキシブル回路基板が位置合わせされるべ
き熱圧着機のステージ(2,40)のICチップの面積
以下の面積を有する凸部(2a,40a)により、フレ
キシブル回路基板とICチップとを加熱押圧して、フレ
キシブル回路基板とICチップとを圧着接続させるよう
にした請求項1に記載のフレキシブル回路基板へのIC
チップの実装方法。
2. The IC chip has a square or rectangular plate shape, the electrode pad group is arranged on four sides thereof, and the flexible circuit board is provided up to a portion equal to or slightly larger than the outermost peripheral shape of the electrode pad group. The flexible circuit board and the IC chip are heated and pressed by the convex portions (2a, 40a) having an area equal to or smaller than the IC chip area of the thermocompression bonding machine stage (2, 40) to be aligned. The flexible circuit board IC according to claim 1, wherein the board and the IC chip are pressure-bonded to each other.
Chip mounting method.
【請求項3】 ICチップ(1)をフレキシブル回路基
板(10)に熱圧着して電気接続を得る熱圧着機におい
て、 上記フレキシブル回路基板が位置合わせされるべき熱圧
着機のステージ(2,40)に、ICチップの面積以下
の面積を有する凸部(2a,40a)を設け、該凸部に
対してICチップとフレキシブル回路基板とを加熱押圧
してICチップとフレキシブル回路基板とを圧着接続さ
せるようにしたことを特徴とするICチップ用熱圧着
機。
3. A thermocompression bonding machine for thermocompression-bonding an IC chip (1) to a flexible circuit board (10) to obtain an electrical connection, the stage (2,40) of a thermocompression bonding machine to which the flexible circuit board is to be aligned. ), A convex portion (2a, 40a) having an area equal to or smaller than the area of the IC chip is provided, and the IC chip and the flexible circuit board are heated and pressed against the convex portion to pressure-connect the IC chip and the flexible circuit board. A thermocompression bonding machine for IC chips, which is characterized in that
【請求項4】 上記凸部(2a,40a)の高さが0.
1〜3.0mmである請求項3に記載のICチップ用熱
圧着機。
4. The height of the convex portions (2a, 40a) is 0.
The thermocompression bonding machine for IC chips according to claim 3, which has a length of 1 to 3.0 mm.
【請求項5】 上記凸部(2a,40a)の内側に概ね
円錐状又は四角錐状の窪み(40b)を有する請求項3
または4に記載のICチップ用熱圧着機。
5. A substantially conical or quadrangular pyramidal depression (40b) is provided inside the convex portion (2a, 40a).
Alternatively, the thermocompression bonding machine for IC chips described in 4.
【請求項6】 上記窪みの最深が10〜1000μmで
ある請求項5に記載のICチップ用熱圧着機。
6. The thermocompression bonding machine for an IC chip according to claim 5, wherein the deepest portion of the depression is 10 to 1000 μm.
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