JPH07139968A - Displacement measuring device - Google Patents

Displacement measuring device

Info

Publication number
JPH07139968A
JPH07139968A JP28952693A JP28952693A JPH07139968A JP H07139968 A JPH07139968 A JP H07139968A JP 28952693 A JP28952693 A JP 28952693A JP 28952693 A JP28952693 A JP 28952693A JP H07139968 A JPH07139968 A JP H07139968A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
value
abnormality
displacement
signal
miscount
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP28952693A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuto Shibata
和人 柴田
冬彦 ▲吉▼倉
Fuyuhiko Yoshikura
Hideaki Omori
秀昭 大森
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
Toyota Motor Corp
Original Assignee
Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
Toyota Motor Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitutoyo Corp, Mitsutoyo Kiko Co Ltd, Toyota Motor Corp filed Critical Mitutoyo Corp
Priority to JP28952693A priority Critical patent/JPH07139968A/en
Publication of JPH07139968A publication Critical patent/JPH07139968A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To properly inform the generation of abnormality even with respect to gradually advancing abnormality by providing a cumulated tolerance difference memory means storing the value of a measuring error and detecting abnormality from the change tendency of the measuring error. CONSTITUTION:In a displacement measuring device using an encoder A1 to measure the displacement of an object to be measured, a measuring error detection means A2 detects the measuring error at a reference position. When the measuring error detected by the detection means A2 is a predetermined value or less, a cumulated tolerance difference memory means A3 stores the value of the measuring error. A device abnormality judging means A4 judges the generation of device abnormality from the change tendency of the measuring error stored in the memory means A3. Since the measuring error detected at every measurement by the detection means A2 is stored in the memory means A3, the generation tendency of the measuring error can be detected. Therefore, gradually advancing abnormality can be detected and the judging means A4 can inform the generation of abnormality in a relatively slight trouble stage.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は変位測定装置に係り、特
に装置の異常検出を行いうる異常検出手段を有する変位
測定装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a displacement measuring device, and more particularly to a displacement measuring device having an abnormality detecting means capable of detecting abnormality of the device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、直線形或いは回転形エンコー
ダを用いて被測定物の長さや変位距離の測定等を行う変
位測定装置が知られている。図13及び図15は従来に
おける変位測定装置の一例を示す図である。変位測定装
置100は、変位測定装置本体100aとセンサユニッ
ト100bとにより構成されている。先ずセンサユニッ
ト100bの構成について説明する。
2. Description of the Related Art Conventionally, there has been known a displacement measuring device which measures a length or a displacement distance of an object to be measured by using a linear or rotary encoder. 13 and 15 are diagrams showing an example of a conventional displacement measuring device. The displacement measuring device 100 is composed of a displacement measuring device main body 100a and a sensor unit 100b. First, the configuration of the sensor unit 100b will be described.

【0003】図14に示されるように、センサユニット
100bは大略すると一対の光学センサ180a,18
0b、基準センサ180c、光源185、インデックス
スケール187、メインスケール189等により構成さ
れている。
As shown in FIG. 14, the sensor unit 100b is roughly composed of a pair of optical sensors 180a, 18a.
0b, a reference sensor 180c, a light source 185, an index scale 187, a main scale 189 and the like.

【0004】インデックススケール187は固定基部に
配設されるものであり、光学センサ180aと対向する
スリット部187a、光学センサ180aと対向するス
リット部187b、基準センサ180cと対向する基準
スリット部187zが形成されている。この各スリット
部187a,187b,187zは共にスリットが所定
ピッチで形成されている。
The index scale 187 is arranged on a fixed base, and has a slit portion 187a facing the optical sensor 180a, a slit portion 187b facing the optical sensor 180a, and a reference slit portion 187z facing the reference sensor 180c. Has been done. The slits 187a, 187b, 187z are formed with slits at a predetermined pitch.

【0005】また、メインスケール189は変位する被
測定物に配設されるものであり、このメインスケール1
89にもスリット部189a及び基準スリット部189
zが形成されている。この内、スリット部189aは照
射された光を反射する反射部と反射させない非反射部と
が交互に等間隔で形成されたスリット構造とされてい
る。これに対して基準スリット部189zは、インデッ
クススケール187が図中矢印X2方向限の所定位置
(基準位置)に移動した際に基準センサ180cと対向
する位置に形成されており、1本の光を反射する反射部
により構成されている。上記のメインスケール189
は、インデックススケール187に対して図中矢印A
1,A2方向に変位しうる構成とされている。
Further, the main scale 189 is arranged on a moving object to be measured.
89 also has a slit portion 189a and a reference slit portion 189.
z is formed. Among these, the slit portion 189a has a slit structure in which reflective portions that reflect the emitted light and non-reflective portions that do not reflect the emitted light are alternately formed at equal intervals. On the other hand, the reference slit portion 189z is formed at a position facing the reference sensor 180c when the index scale 187 moves to a predetermined position (reference position) in the direction of the arrow X2 in the figure, and one light beam is emitted. It is composed of a reflecting portion that reflects light. Main scale 189 above
Indicates an arrow A in the figure with respect to the index scale 187.
It is configured to be displaceable in the A1 and A2 directions.

【0006】上記構成において、光源185より出た光
はインデックススケール187に形成されている光通過
部187dを通過してメインスケール189のスリット
部189aに照射される。そして、スリット部189a
の反射部で反射された光はインデックススケール187
に形成されているスリット部187a,187bを通過
して光学センサ180a,180bで検出される。
In the above structure, the light emitted from the light source 185 passes through the light passage portion 187d formed on the index scale 187 and is applied to the slit portion 189a of the main scale 189. And the slit portion 189a
The light reflected by the reflection part of the index scale 187
After passing through the slit portions 187a, 187b formed in the optical sensor, the optical sensors 180a, 180b detect the light.

【0007】各スリット部187a,187b及び18
9aはいずれも同一間隔で配設されたスリットが形成さ
れているため、インデックススケール187の変位によ
り発生する各スケール187,189の相対運動によ
り、スリット部139aで反射された光はスリット部1
87a,187bで透過と不透過を繰り返す。そして、
スリット部187a,187bを透過した光のみが光学
センサ180a,180bで検知され出力信号が生成さ
れる。即ち、各スリット部187a,187b,187
z,189a,189z及び各センサ180a,180
b,180zは直線型のエンコーダを形成する。
Each slit portion 187a, 187b and 18
Since slits 9a are formed at the same intervals in all of 9a, the light reflected by the slit portion 139a is caused by the relative movement of the scales 187 and 189 caused by the displacement of the index scale 187.
Transmission and non-transmission are repeated at 87a and 187b. And
Only the light transmitted through the slit portions 187a and 187b is detected by the optical sensors 180a and 180b, and an output signal is generated. That is, each slit portion 187a, 187b, 187
z, 189a, 189z and each sensor 180a, 180
b and 180z form a linear encoder.

【0008】また、上記のようにメインスケール189
に形成された基準スリット部189zは、メインスケー
ル189が基準位置に移動した際に基準スリット部18
7zと対向する構成とされている。従ってメインスケー
ル189が基準位置に移動した際、光源185から発射
された光は基準スリット部189zで反射され、インデ
ックススケール187に形成された基準スリット部18
7zを透過して基準センサ180zに入射され、基準セ
ンサ180zは基準位置信号を出力する構成とされてい
る。
Further, as described above, the main scale 189
The reference slit portion 189z formed in the reference slit portion 189z when the main scale 189 moves to the reference position.
It is configured to face 7z. Therefore, when the main scale 189 moves to the reference position, the light emitted from the light source 185 is reflected by the reference slit portion 189z, and the reference slit portion 18 formed on the index scale 187 is reflected.
The reference sensor 180z passes through 7z and is incident on the reference sensor 180z, and the reference sensor 180z outputs a reference position signal.

【0009】図13は変位測定装置100の全体ブロッ
ク構成図である。上記の各センサ180a,180b,
180zで検出され生成された変位信号は信号変換部1
70で波形成形及びアナログ/デジタル変換(A/D変
換)されて変位測定装置本体100aに入力される。変
位測定装置本体100aは、電源回路102,中央制御
回路110(以下、CPUという),リードオンリメモ
リ120(以下、ROMという),ランダムアクセスメ
モリ130(以下、RAMという),入出力部140a
〜140c,計数部150,比較部155,変位検出部
160,異常検出部165,及びこれらを接続する内部
バス101等により構成されている。また、上記の信号
変換部170は変位検出部160に接続されており、ま
たCRT等により構成される表示器143は入出力部1
40bに、キーボード等により構成される設定器145
は入出力部140cに、また入出力部140aは外部コ
ンピュータ(PC)に接続されている。
FIG. 13 is an overall block diagram of the displacement measuring device 100. Each of the above sensors 180a, 180b,
The displacement signal detected and generated at 180 z is the signal conversion unit 1.
At 70, waveform shaping and analog / digital conversion (A / D conversion) are performed and the result is input to the displacement measuring device main body 100a. The displacement measuring apparatus main body 100a includes a power supply circuit 102, a central control circuit 110 (hereinafter, referred to as CPU), a read only memory 120 (hereinafter, referred to as ROM), a random access memory 130 (hereinafter, referred to as RAM), an input / output unit 140a.
.About.140c, counting section 150, comparing section 155, displacement detecting section 160, abnormality detecting section 165, and internal bus 101 connecting them. Further, the signal conversion section 170 is connected to the displacement detection section 160, and the display 143 composed of a CRT or the like is connected to the input / output section 1.
40b includes a setting device 145 including a keyboard or the like.
Is connected to the input / output unit 140c, and the input / output unit 140a is connected to an external computer (PC).

【0010】上記各構成において、電源回路102は外
部電源と接続されており、変動を含む外部電源の電圧を
定電圧化する定電圧化回路等により構成されている。こ
の定電圧化された電圧は上記した各回路に供給される。
CPU110は各回路及び演算部を統括制御するもので
ある。ROM120は読出専用のメモリであり、後述す
る異常検出プログラム等の変位測定に必要な各種プログ
ラムが予め格納されている。RAM130は情報の書換
え可能なメモリであり、測定者が設定器145を用いて
入力したデータ,指示等を格納する。計数部150,比
較部155,変位検出部160及び異常検出部165
は、協働して変位測定処理及び変位測定における異常検
出処理を行う。
In each of the above-mentioned configurations, the power supply circuit 102 is connected to an external power supply, and is composed of a constant voltage circuit for converting the voltage of the external power supply including fluctuations to a constant voltage. This constant voltage is supplied to each circuit described above.
The CPU 110 centrally controls each circuit and arithmetic unit. The ROM 120 is a read-only memory in which various programs necessary for displacement measurement such as an abnormality detection program described later are stored in advance. The RAM 130 is a rewritable memory of information, and stores data, instructions, etc. input by the measurer using the setting device 145. Counting unit 150, comparing unit 155, displacement detecting unit 160, and abnormality detecting unit 165
Cooperate with each other to perform displacement measurement processing and abnormality detection processing in displacement measurement.

【0011】ここで、従来の変位測定装置における変位
測定動作について説明する。
The displacement measuring operation of the conventional displacement measuring apparatus will be described.

【0012】図15はセンサ180aから出力される信
号(A相)及びセンサ180bから出力される信号(B
相)を示している。前記したようにセンサ180a,1
80bは離間配設されており、その出力信号に90°の
位相差が生じるよう構成されている。この各センサ18
0a,180bで生成される変位信号は、上記のように
信号変換部170でA/D変換及び波形成形処理が行わ
れる。図16は信号変換部170から出力される変位信
号を示している。信号変換部170では、センサ180
aで出力された変位信号をA/D変換したPA信号,こ
のPA信号を反転させた*PA信号,センサ180bで
出力された変位信号をA/D変換したPB信号,このP
B信号を反転させた*PB信号が夫々生成される。ま
た、基準位置センサ180zから出力される信号は信号
変換部170でA/D変換がされることにより1個の矩
形パルス(Z信号)となる。
FIG. 15 shows a signal output from the sensor 180a (A phase) and a signal output from the sensor 180b (B phase).
Phase). As described above, the sensors 180a, 1
80b are arranged separately, and are configured so that the output signals thereof have a phase difference of 90 °. Each sensor 18
The displacement signals generated at 0a and 180b are subjected to A / D conversion and waveform shaping processing in the signal conversion unit 170 as described above. FIG. 16 shows a displacement signal output from the signal conversion unit 170. In the signal conversion unit 170, the sensor 180
PA signal obtained by A / D conversion of the displacement signal output at a, * PA signal obtained by inverting this PA signal, PB signal obtained by A / D conversion of the displacement signal output at sensor 180b, this P signal
A * PB signal is generated by inverting the B signal. Further, the signal output from the reference position sensor 180z becomes one rectangular pulse (Z signal) by being A / D converted by the signal conversion unit 170.

【0013】変位検出部160は、この信号変換部17
0から送信される信号に基づき変位測定を行う。信号変
換部170から送信されるPA信号,*PA信号,PB
信号,*PB信号は、夫々各スリット187a,187
b,189aの形成ピッチに対応した周期で出力され、
かつPA信号,*PA信号とPB信号,*PB信号とは
位相が90°ずれている。このため、各信号のパルス数
を計数することによりメインスケール189のインデッ
クススケール187に対する移動距離を演算することが
でき、また位相ずれの状態を検出することにより移動方
向を検出することができる。上記の各信号のパルス数計
数処理は計数部150で行い、変位検出部160では計
数部150で処理した計数結果に基づき変位量を演算す
る。
The displacement detecting section 160 has the signal converting section 17
The displacement measurement is performed based on the signal transmitted from 0. PA signal, * PA signal, PB transmitted from the signal converter 170
The signal and the * PB signal are respectively supplied to the slits 187a and 187.
b, output at a cycle corresponding to the formation pitch of 189a,
Moreover, the PA signal, * PA signal and the PB signal, * PB signal are out of phase with each other by 90 °. Therefore, the moving distance of the main scale 189 with respect to the index scale 187 can be calculated by counting the number of pulses of each signal, and the moving direction can be detected by detecting the phase shift state. The pulse number counting process of each signal is performed by the counting unit 150, and the displacement detecting unit 160 calculates the displacement amount based on the counting result processed by the counting unit 150.

【0014】一方、計数部150で信号のパルス数を計
数する際基準位置を設定し、この基準位置からのパルス
数を計数する必要がある。基準位置センサ180zから
出力されるZ信号はこの基準位置を検知する信号として
用いられている。
On the other hand, it is necessary to set a reference position and count the number of pulses from this reference position when the number of pulses of the signal is counted by the counting section 150. The Z signal output from the reference position sensor 180z is used as a signal for detecting this reference position.

【0015】計数部150は、図14においてメインス
ケール189が図中A1方向に移動した際アップカウン
トを行い、図中A2方向に移動した際ダウンカウントを
行う用構成されている。従って、基準位置よりA1方向
に変位し、その後A2方向に変位して基準位置に戻った
際(この変位を1サイクルの変位とする)、計数値は必
ずゼロとなるはずである。
The counting unit 150 is configured to perform up-counting when the main scale 189 moves in the A1 direction in the figure in FIG. 14 and down-counting when it moves in the A2 direction in the figure. Therefore, when the displacement from the reference position is made in the A1 direction, and then the displacement is made in the A2 direction to return to the reference position (this displacement is regarded as one cycle of displacement), the count value must be zero.

【0016】しかるに、被作成物の長さを測定する際
に、インデックススケール187に配設されたセンサ1
80a,180b,180zと可動部であるメインスケ
ール189の1サイクルの相対動作の中で何らかの理由
でミスカウントが生じた場合には、メインスケール18
9が再び基準位置に戻った際に計数値がゼロにならない
場合が生じる。このようなミスカウントが発生する状態
下では、変位検出部160で演算される変位量は正規の
変位量と異なるため、この異常発生を測定者に報知する
必要がある。
However, when measuring the length of the workpiece, the sensor 1 mounted on the index scale 187 is used.
If a miscount occurs for some reason during the relative operation of 80a, 180b, 180z and the main scale 189, which is a movable part, in one cycle, the main scale 18
In some cases, the count value does not become zero when 9 returns to the reference position again. In such a state where a miscount occurs, the displacement amount calculated by the displacement detection unit 160 is different from the regular displacement amount, and therefore it is necessary to notify the measurer of this abnormality occurrence.

【0017】従来、この異常発生を測定者に報知する手
段としては、変位検出部160に許容ミスカウント値を
設定しておき、比較部155でこの許容ミスカウント値
と、1サイクル終了後のミスカウント値を比較し、この
1サイクル終了後のミスカウント値が許容ミスカウント
値よりも大きい場合には、異常検出部165をこれを検
知して入出力部140bを介して表示器143に異常発
生を出力する構成とされていた。
Conventionally, as means for informing the measurer of this abnormality occurrence, a permissible miscount value is set in the displacement detecting section 160, and the permissible miscount value and the error after the end of one cycle are set in the comparing section 155. The count values are compared, and if the miscount value after the end of this one cycle is larger than the allowable miscount value, the anomaly detection unit 165 detects this and an anomaly occurs in the display unit 143 via the input / output unit 140b. It was configured to output.

【0018】[0018]

【発明が解決しようとする課題】しかるに、上記従来の
変位測定装置では、メインスケール189が1サイクル
の変位を行い再び基準位置に戻った際、ミスカウント値
がゼロでなくても、このミスカウント値が許容ミスカウ
ント値以下の場合には異常とはみなさない構成とされて
いた。また、許容ミスカウント値以下であれば、何回ミ
スカウント値がゼロでない状態が続いても異常とはみな
さない構成とされていた。
However, in the above-mentioned conventional displacement measuring device, when the main scale 189 is displaced for one cycle and returns to the reference position again, even if the miscount value is not zero, this miscount If the value is less than the allowable miscount value, it is not considered to be abnormal. Further, if the value is equal to or less than the allowable miscount value, the structure is not considered abnormal even if the miscount value continues to be non-zero.

【0019】このため、センサ180a,180b,1
80zや信号変換部170等が突然故障するような場合
には異常発生を検知できるが、例えば経時変化等により
徐々に異常が進行するような場合には異常発生を発見す
ることができず、異常発生の検知が遅れこれに伴い異常
発生に対する対応が遅れてしまうという問題点があっ
た。
Therefore, the sensors 180a, 180b, 1
When the 80z, the signal conversion unit 170, or the like suddenly breaks down, the abnormality can be detected, but when the abnormality gradually progresses due to, for example, a change over time, the abnormality cannot be detected and the abnormality is detected. There is a problem that the detection of the occurrence is delayed and the response to the abnormal occurrence is delayed accordingly.

【0020】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、基準位置における測定誤差を記憶しておき、その
測定誤差の変化傾向より異常検出を行うことにより、徐
々に進行する異常に対しても適切に異常発生を報知でき
る変位測定装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above points, and stores the measurement error at the reference position and detects the abnormality from the change tendency of the measurement error, so that the abnormality gradually progresses. Even if it is, an object of the present invention is to provide a displacement measuring device capable of appropriately notifying the occurrence of an abnormality.

【0021】[0021]

【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理図で
ある。同図に示すように、上記課題を解決するために本
発明では、エンコーダ(A1)を用いて被測定物の変位測定
を行う変位測定装置において、基準位置における測定誤
差を検出する測定誤差検出手段(A2)と、この測定誤差検
出手段(A2)により検出される測定誤差が所定値以下の場
合、この測定誤差の値を格納する累積許容差格納手段(A
3)と、この累積許容差格納手段(A3)に格納される測定誤
差の値の変化傾向から装置異常の発生を判断する装置異
常判定手段(A4)とを設けたことを特徴とするものであ
る。
FIG. 1 shows the principle of the present invention. As shown in the figure, in order to solve the above problems, in the present invention, in a displacement measuring device that performs displacement measurement of an object to be measured using an encoder (A1), a measurement error detecting means for detecting a measurement error at a reference position. (A2) and, if the measurement error detected by this measurement error detection means (A2) is less than or equal to a predetermined value, the cumulative tolerance storage means (A
3) and an apparatus abnormality determination means (A4) for determining the occurrence of an apparatus abnormality from the change tendency of the value of the measurement error stored in the cumulative tolerance storage means (A3). is there.

【0022】また、上記装置異常判定手段(A4)を、上記
測定誤差の値が増加傾向にあることを検知した場合、異
常予告信号を出力する構成としてもよい。
Further, the device abnormality determining means (A4) may be configured to output an abnormality advance notice signal when it is detected that the value of the measurement error tends to increase.

【0023】[0023]

【作用】変位測定装置を上記構成とすることにより、各
測定毎に測定誤差検出手段(A2)により検出される測定誤
差は累積許容差格納手段(A3)に格納されるため、測定誤
差の発生傾向を検知することができる。
[Operation] By configuring the displacement measuring device as described above, since the measurement error detected by the measurement error detection means (A2) for each measurement is stored in the cumulative tolerance storage means (A3), the measurement error is generated. Trends can be detected.

【0024】従って、徐々に進行するような異常に対し
てもこれを検知することができ、装置異常判定手段(A4)
は比較的軽度の故障段階において異常発生を報知するこ
とが可能となる。
Therefore, this can be detected even for an abnormality that gradually progresses, and the apparatus abnormality determination means (A4)
Can notify the occurrence of an abnormality at a relatively mild failure stage.

【0025】また、装置異常判定手段(A4)を測定誤差の
値が増加傾向にあることを検知した場合にのみ異常予告
信号を出力する構成とすることにより、異常が改善方向
に向かっている測定誤差の値が減少している場合には異
常予告信号は出力されないため、異常予告信号の信頼性
を向上させることができる。
Further, by making the device abnormality judging means (A4) output the abnormality notice signal only when it is detected that the value of the measurement error is increasing, the measurement in which the abnormality is improving Since the abnormality warning signal is not output when the error value is decreasing, the reliability of the abnormality warning signal can be improved.

【0026】[0026]

【実施例】次に本発明の実施例について図面と共に説明
する。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings.

【0027】図2は本発明の第1実施例である変位測定
装置103を示すブロック構成図である。変位測定装置
103は、大略するとセンサユニット100bと変位測
定装置本体103aとにより構成されている。この内、
センサユニット100bは先に図14を用いて説明した
センサユニットと同一構成とされている。このため、セ
ンサユニット100bに対する説明は省略する。
FIG. 2 is a block diagram showing the displacement measuring device 103 according to the first embodiment of the present invention. The displacement measuring device 103 is roughly composed of a sensor unit 100b and a displacement measuring device main body 103a. Of this,
The sensor unit 100b has the same structure as the sensor unit described above with reference to FIG. Therefore, the description of the sensor unit 100b is omitted.

【0028】また、変位測定装置本体103aは、図1
3を用いて説明した変位測定装置本体100aに対し
て、CPU110内に許容差割込部111を、ROM1
20内に許容差累積処理部121を、更に異常検出部1
65内に累積許容差格納部166を新たに追加した構成
としたことを特徴とする。以下、図3を用いてセンサユ
ニット100bから出力される変位信号(PA信号,*
PA信号,PB信号,*PB信号,Z信号)に基づき変
位測定装置本体103aが実行する変位測定処理につい
て説明する。
The displacement measuring device body 103a is shown in FIG.
For the displacement measuring apparatus main body 100a described with reference to FIG.
20 includes a tolerance accumulation processing unit 121 and an abnormality detection unit 1
It is characterized in that a cumulative tolerance storage unit 166 is newly added in 65. Hereinafter, a displacement signal (PA signal, *) output from the sensor unit 100b will be described with reference to FIG.
The displacement measuring process executed by the displacement measuring apparatus main body 103a based on the PA signal, PB signal, * PB signal, and Z signal) will be described.

【0029】図3は、変位測定装置本体103aが実行
する変位測定処理を示すフローチャートであり、後述す
るように本発明の特徴となる異常検出処理はこの変位測
定処理内において合わせて実行される。尚、同図に示す
変位測定処理は変位測定装置103の電源102がオン
されることにより起動する構成とされている。
FIG. 3 is a flow chart showing the displacement measuring process executed by the displacement measuring apparatus main body 103a. As will be described later, the abnormality detecting process which is a feature of the present invention is also executed in this displacement measuring process. The displacement measuring process shown in the figure is configured to be activated when the power supply 102 of the displacement measuring device 103 is turned on.

【0030】電源102がオンされ、図3に示す変位測
定処理が起動すると、先ずステップ1000において自己診
断処理が実行される。ここで自己診断処理とは、例えば
ROM120に格納されているシステムプログラムのチ
ェックや、センサユニット100bに配設された各セン
サ180a,180b,180z等のチェックを行う処
理をいう。
When the power supply 102 is turned on and the displacement measuring process shown in FIG. 3 is started, first in step 1000, a self-diagnosis process is executed. Here, the self-diagnosis process is a process of checking a system program stored in the ROM 120 or checking each sensor 180a, 180b, 180z arranged in the sensor unit 100b.

【0031】ステップ1000において自己診断処理が行わ
れると、続くステップ1010では現在指定されているモー
ドがプログラムモードか、或いは運転モードかが判定さ
れる。ここで、プログラムモードとは測定者が設定器1
45を用いて初期データを入力するモードであり、運転
モードとは実際に変位測定を行うモードである。
When the self-diagnosis processing is performed in step 1000, it is determined in the following step 1010 whether the currently designated mode is the program mode or the operation mode. Here, the program mode means that the measurer uses the setting device 1
This is a mode in which initial data is input using 45, and the operation mode is a mode in which displacement measurement is actually performed.

【0032】ステップ1010において現在プログラムモー
ドが指定されている(この指定も設定器145を用いて
行われる)場合には、処理はステップ1040に進み、設定
器145との交信を行うことにより、測定者が設定器1
45を用いて入力した初期データを読み込みRAM13
0に格納する。
If the program mode is currently designated in step 1010 (this designation is also performed using the setter 145), the process proceeds to step 1040, and the measurement is performed by communicating with the setter 145. The setting device 1
RAM13 which reads the initial data input using 45
Store in 0.

【0033】ここで初期データとは、例えば、メインス
ケール189の長さ,各スリット189a,187a,
187b,187zのピッチ,後述する許容ミスカウン
ト値,被測定物の最大変位量等をいう。上記ステップ10
40の処理は、変位測定装置103が運転モードに切り換
えられるまで実行される。
Here, the initial data is, for example, the length of the main scale 189, each slit 189a, 187a,
The pitch of 187b and 187z, the allowable miscount value described later, the maximum displacement amount of the object to be measured, and the like. Step 10 above
The process of 40 is executed until the displacement measuring device 103 is switched to the operation mode.

【0034】一方、ステップ1010で現在運転モードが指
定されていると判断されると、処理はステップ1020に進
み、変位測定のための処理が実行される。ステップ1020
では、RAM130から予め設定器145から測定者に
より入力されている被測定物に対する各種設定値(例え
ば最大変位量等)が読み出される。続くステップ1030で
はとりあえず計数部150の現在のカウント数をゼロに
セットし、センサユニット100bから供給される変位
信号に備える。
On the other hand, if it is determined in step 1010 that the operation mode is currently designated, the process proceeds to step 1020 and the process for displacement measurement is executed. Step 1020
Then, various set values (for example, the maximum displacement amount) for the object to be measured, which are input in advance by the measurer from the setter 145, are read from the RAM 130. In the following step 1030, the current count number of the counting unit 150 is set to zero for the time being, and the displacement signal supplied from the sensor unit 100b is prepared.

【0035】ここで、計数部150の現在のカウント数
をゼロリセットするのは、電源投入後1回目の測定にお
いては、RAM130内に前回のメインスケール189
の位置を示すカウント数が記憶されておらず(電源がオ
フされることにより消えてしまうため)、メインスケー
ル189の位置が判らないためである。よって、1回目
のみこの電源投入時におけるメインスケール189の位
置を基準として変位測定を行い、基準位置にメインスケ
ール189が変位した後は、この基準位置に基づき変位
測定を行う構成とされている。
Here, the current count number of the counting section 150 is reset to zero in the RAM 130 in the first measurement after the power is turned on.
This is because the count number indicating the position of is not stored (since it disappears when the power is turned off), the position of the main scale 189 cannot be known. Therefore, only the first time, the displacement measurement is performed with reference to the position of the main scale 189 when the power is turned on, and after the main scale 189 is displaced to the reference position, the displacement measurement is performed based on this reference position.

【0036】続くステップ1050では、センサユニット1
00bから基準位置信号(Z信号)が入力されたかどう
かを判断する。ステップ1050で基準位置信号が入力され
ていないと判断されると処理はステップ1100に進み、セ
ンサユニット100bから入力される変位信号に基づき
メインスケール189が変位方向を検知する。前記した
ように、センサユニット100bから入力されるPA信
号(*PA信号)とPB信号(*PB信号)には90°
の位相ずれが設けられているため、このPA信号(*P
A信号)とPB信号(*PB信号)の位相ずれの発生状
態よりメインスケール189が変位方向を検知すること
ができる。
In the following step 1050, the sensor unit 1
It is determined whether the reference position signal (Z signal) is input from 00b. If it is determined in step 1050 that the reference position signal is not input, the process proceeds to step 1100, and the main scale 189 detects the displacement direction based on the displacement signal input from the sensor unit 100b. As described above, the PA signal (* PA signal) and the PB signal (* PB signal) input from the sensor unit 100b are 90 °
Since there is a phase shift of, the PA signal (* P
The main scale 189 can detect the displacement direction from the state where the phase shift between the A signal) and the PB signal (* PB signal) occurs.

【0037】本実施例では、図14においてメインスケ
ール189が図中矢印A1方向に移動する場合に計数部
150はアップカウントを行うよう構成されており、ま
たメインスケール189が矢印A2方向に移動する場合
にダウンカウントを行うよう構成されている。従って、
ステップ1100においてメインスケール189の移動方向
がA1方向であると判断された場合には、処理はステッ
プ1120に進み計数部150はメインスケール189の変
位量に対応したアップカウントを行う。
In this embodiment, the counting unit 150 is configured to count up when the main scale 189 moves in the direction of arrow A1 in FIG. 14, and the main scale 189 moves in the direction of arrow A2. In some cases, it is configured to down count. Therefore,
When it is determined in step 1100 that the moving direction of the main scale 189 is the A1 direction, the process proceeds to step 1120, and the counting unit 150 performs up-counting corresponding to the displacement amount of the main scale 189.

【0038】一方、ステップ1100においてメインスケー
ル189の移動方向がA2方向であると判断された場合
には、処理はステップ1110に進み計数部150はメイン
スケール189の変位量に対応したダウンカウントを行
う。ステップ1110,1120 でカウントされたカウント値は
変位検出部160に送信され、変位検出部160は送信
されたカウント値に基づきメインスケール189の変位
量を演算する。この変位検出部160で演算された変位
量は表示器143に送信され、この変位量に対応して表
示器143の変位量表示が歩進される(ステップ113
0)。
On the other hand, when it is determined in step 1100 that the moving direction of the main scale 189 is the A2 direction, the process proceeds to step 1110, and the counting unit 150 performs the down count corresponding to the displacement amount of the main scale 189. . The count value counted in steps 1110 and 1120 is transmitted to the displacement detection unit 160, and the displacement detection unit 160 calculates the displacement amount of the main scale 189 based on the transmitted count value. The displacement amount calculated by the displacement detection unit 160 is transmitted to the display device 143, and the displacement amount display of the display device 143 is stepped in correspondence with this displacement amount (step 113).
0).

【0039】続くステップ1140では、ステップ1040で予
め設定されている被測定物の設定値(最大変位量)と、
上記のように変位検出部160で演算された実際の変位
量を比較する。そして、実際の変位量が指定最大変位量
と等しいか或いはそれより大きい場合には、処理はステ
ップ1150に進み外部コンピュータ(PC)にその旨を報
知する。一方、実際の変位量が指定最大変位量より小さ
いと判断された場合には、処理はステップ1050に戻り、
上記したステップ1050以下の処理を繰り返し実行する。
In the following step 1140, the set value (maximum displacement amount) of the object to be measured preset in step 1040,
The actual displacement amount calculated by the displacement detection unit 160 as described above is compared. If the actual displacement amount is equal to or greater than the designated maximum displacement amount, the process proceeds to step 1150 to notify the external computer (PC) of that fact. On the other hand, when it is determined that the actual displacement amount is smaller than the designated maximum displacement amount, the processing returns to step 1050,
The processing from step 1050 onward is repeatedly executed.

【0040】一方、ステップ1050において肯定判断がさ
れた場合、即ちステップ1050で基準位置信号が入力され
たと判断された場合には、処理はステップ1055に進み、
今回入力された基準位置信号は電源投入後初めての入力
かどうかが判断される。そして、ステップ1055において
入力された基準位置信号が初めてではないと判断される
と、処理はステップ1060に進む。このステップ1060以降
の処理は、本発明の特徴となる異常検出を行う処理であ
る。
On the other hand, if an affirmative decision is made in step 1050, that is, if it is decided in step 1050 that the reference position signal has been input, the processing advances to step 1055,
It is determined whether the reference position signal input this time is the first input after the power is turned on. Then, when it is determined that the reference position signal input in step 1055 is not the first time, the process proceeds to step 1060. The processing after step 1060 is processing for performing abnormality detection, which is a feature of the present invention.

【0041】ステップ1060では、基準位置信号が入力し
た時点におけるカウント数(現在値)の絶対値が許容ミ
スカウント値以上であるかどうかが判断される。いま、
センサユニット100bの構成要素に故障や異常が全く
発生していないとした場合、基準位置信号が入力した時
点におけるカウント数はゼロとなるはずである。しかる
に、センサユニット100bの構成要素に故障や異常が
発生している場合(例えば、スリット187a,187
b,187zに欠損が発生しているような場合)には、
カウント数はゼロとならない(この時のカウント数をミ
スカウント値という)。
In step 1060, it is determined whether the absolute value of the count number (current value) at the time when the reference position signal is input is equal to or larger than the allowable miscount value. Now
Assuming that no failure or abnormality has occurred in the components of the sensor unit 100b, the count number at the time when the reference position signal is input should be zero. However, when a failure or abnormality has occurred in the components of the sensor unit 100b (for example, the slits 187a and 187).
b, when a defect occurs at 187z),
The count number does not become zero (the count number at this time is called a miscount value).

【0042】しかるに、スリット187a,187b,
187zは狭ピッチで形成されているため、若干量のミ
スカウント値は変位測定においては問題とならない。よ
って、この変位測定に問題とならないミスカウント値の
最大値を許容ミスカウント値として予め設定しておき、
この許容ミスカウント値よりもミスカウント値が大きい
と判断され場合には、測定される変位量に影響が及ぶと
判断してステップ1090において異常を報知する構成とし
ている。このステップ1060及びステップ1090の処理によ
り出力される異常報知は、従来において行われていた異
常報知と同一のものである。従って、この異常検出のみ
では徐々に進行するような異常に対しては早期に対応す
ることができない。
However, the slits 187a, 187b,
Since 187z is formed with a narrow pitch, a slight amount of miscount value does not pose a problem in displacement measurement. Therefore, the maximum value of the miscount value that does not cause a problem in this displacement measurement is preset as the allowable miscount value,
When it is determined that the miscount value is larger than the allowable miscount value, it is determined that the measured displacement amount is affected, and the abnormality is notified in step 1090. The abnormality notification output by the processing of steps 1060 and 1090 is the same as the abnormality notification that has been conventionally performed. Therefore, an abnormality that gradually progresses cannot be dealt with early by only detecting the abnormality.

【0043】尚、ステップ1055の処理を設けた理由は、
初めて基準位置信号が入力される状態では、ステップ10
30の処理で説明したようにメインスケール189の変位
の基準が基準位置ではなく、電源投入時にメインスケー
ル189が位置していた位置を基準としているからであ
る。また、ステップ1090で異常報知がされると、処理は
ステップ1050に戻り、続くメインスケール189の変位
測定に備える。
The reason for providing the processing of step 1055 is as follows.
When the reference position signal is input for the first time, step 10
This is because the displacement reference of the main scale 189 is not the reference position but the position where the main scale 189 was located when the power was turned on, as described in the process of 30. When the abnormality is notified in step 1090, the process returns to step 1050 to prepare for the subsequent displacement measurement of the main scale 189.

【0044】一方、ステップ1060において否定判断がさ
れると、処理はステップ1070に進む。ステップ1070は本
発明の要部となるものであり、許容値累積処理が行われ
る。ここで、許容値累積処理とは、上記のミスカウント
値を異常検出部165に設けられた累積許容差格納部1
66に格納しておき、そのミスカウント値の変化傾向を
CPU110に設けられた許容差割込部111及びRO
M120内に設けられた許容差累積処理部121により
検知し、検知されたミスカウント値の変化傾向が異常の
発生側に進んでいる場合には異常予告信号を出力する処
理をいう。尚、この許容値累積処理の詳細については、
説明の便宜上後述する。
On the other hand, if a negative determination is made in step 1060, the process proceeds to step 1070. Step 1070 is an essential part of the present invention, and the allowable value accumulating process is performed. Here, the allowable value accumulating process means the accumulative allowable difference storing unit 1 provided in the abnormality detecting unit 165 for calculating the above miscount value.
66, and the change tendency of the miscount value is stored in the CPU 110 and the tolerance interruption unit 111 and RO provided in the CPU 110.
This is a process of detecting by the tolerance accumulation processing unit 121 provided in the M120, and outputting an abnormality notice signal when the change tendency of the detected miscount value advances to the side where the abnormality occurs. For details of this allowable value accumulation process,
For convenience of explanation, it will be described later.

【0045】ステップ1055において肯定判断がされた場
合、及びステップ1070において許容値累積処理が実施さ
れると、処理はステップ1080に進み、現在のメインスケ
ール189の位置は基準位置であるためカウンタ値を異
常検出部165に設けられた累積許容差格納部166に
格納した後ゼロリセットし、続くステップ1100以降の変
位測定処理に備える。
If an affirmative decision is made in step 1055, and if the allowable value accumulation processing is carried out in step 1070, the processing advances to step 1080, and the current main scale 189 position is the reference position, so the counter value is set. After being stored in the cumulative tolerance storage unit 166 provided in the abnormality detection unit 165, zero reset is performed to prepare for the subsequent displacement measurement processing in step 1100 and subsequent steps.

【0046】続いて、本発明の要部となる許容値累積処
理について説明する。
Next, the allowable value accumulating process, which is the main part of the present invention, will be described.

【0047】前記したように、許容値累積処理とは累積
許容差格納部166に格納されたミスカウント値の変化
傾向が異常の発生側に進んでいる場合には異常予告信号
を出力する処理であり、図3に示す変位測定処理におけ
るステップ1070において実施される処理である。
As described above, the allowable value accumulating process is a process of outputting an abnormality advance notice signal when the tendency of change of the miscount value stored in the accumulated tolerance storage unit 166 has advanced to the side where the abnormality occurs. Yes, this is the process executed in step 1070 of the displacement measurement process shown in FIG.

【0048】本実施例ではミスカウント値の変化傾向と
して以下の3態様を例に挙げて説明する。
In this embodiment, the following three modes will be described as examples of the changing tendency of the miscount value.

【0049】 ミスカウント値が増加する(増加傾
向) ミスカウント値が増加減少を繰り返す(繰り返し傾
向) ミスカウント値がステップ的な小さな変化を行う
(小ステップ傾向) 図4〜図6は上記からの傾向を具体的に示す図であ
る。図4は増加傾向を示し、図5は繰り返し傾向を示
し、図6は小ステップ傾向を夫々示している。尚、各図
において横軸はメインスケール189が基準位置まで変
位した回数(ステップ1055の処理があるため、初めてス
テップ1060以降の処理を行う時を1回目としている)を
示しており、また縦軸はミスカウント値を示している。
また、同図においてD(1) 〜D(n) は1回目〜n回目に
おける夫々のミスカウント値を示している。更に、VA
は計数部150自体が有する誤差値(以下、計数部誤差
値という。尚、この値は常に一定の値となる)であり、
B は許容ミスカウント値である。
Miscount value increases (increase tendency) Miscount value repeats increase and decrease (repetition tendency) Miscount value makes small stepwise changes (small step tendency) FIGS. It is a figure which shows a tendency concretely. 4 shows an increasing tendency, FIG. 5 shows a repeating tendency, and FIG. 6 shows a small step tendency. In each drawing, the horizontal axis indicates the number of times the main scale 189 is displaced to the reference position (since there is the processing of step 1055, the first time the processing after step 1060 is performed), and the vertical axis. Indicates a miscount value.
Further, in the figure, D (1) to D (n) represent the respective miscount values at the 1st time to the nth time. Furthermore, V A
Is an error value of the counting unit 150 itself (hereinafter referred to as a counting unit error value. Note that this value is always a constant value),
V B is the allowable miscount value.

【0050】図4に示されるように、ミスカウント値の
値が回数を増す毎に増大する傾向を示す時は、光源18
5の経時的な劣化や、インデックススケール187及び
メインスケール189全体に汚れが付着しているような
場合である。従って、ミスカウント値が増加傾向にある
場合は、表示器143に光源劣化及びスケール全体汚れ
の異常予告を報知することにより、大きな変位測定誤差
が発生する前にこれに対処することが可能となる。
As shown in FIG. 4, when the miscount value tends to increase as the number of times increases, the light source 18
5 is deterioration with time, or the entire scale 187 and main scale 189 is contaminated. Therefore, when the miscount value tends to increase, it is possible to deal with this before the occurrence of a large displacement measurement error by notifying the display 143 of the light source deterioration and the abnormality notice of the entire scale contamination. .

【0051】また、図5に示されるように、ミスカウン
ト値の値が増加及び減少を繰り返す傾向を示す時は、イ
ンデックススケール187,メインスケール189に部
分的な汚れが付着している場合である。従って、ミスカ
ウント値が繰り返し傾向にある場合は、表示器143に
スケールの部分汚れの異常予告を報知することにより、
大きな変位測定誤差が発生する前にこれに対処すること
が可能となる。
Further, as shown in FIG. 5, when the miscount value tends to increase and decrease repeatedly, it means that the index scale 187 and the main scale 189 are partially contaminated. . Therefore, when the miscount value tends to be repeated, by notifying the display unit 143 of the abnormality notice of the partial stain on the scale,
It is possible to deal with this before large displacement measurement errors occur.

【0052】更に、図6に示されるように、ミスカウン
ト値の値がステップ的に小さな変化傾向を示す時には、
インデックススケール187,メインスケール189に
小さな傷が発生した場合である。同図に示す例では、K
回目及びK+1回目の測定において傷が発生した例を示
している。従って、ミスカウント値が小ステップ傾向を
示す場合には、表示器143にスケールに小傷発生の異
常予告を報知することにより、大きな変位測定誤差が発
生する前にこれに対処することが可能となる。
Further, as shown in FIG. 6, when the value of the miscount value shows a small stepwise change tendency,
This is the case where the index scale 187 and the main scale 189 have small scratches. In the example shown in the figure, K
An example in which a scratch is generated in the first measurement and the K + 1th measurement is shown. Therefore, when the miscount value shows a small step tendency, it is possible to deal with this before a large displacement measurement error occurs by notifying the display 143 of the abnormality notice of the small scratch occurrence. Become.

【0053】尚、図7に示すのは、インデックススケー
ル187,メインスケール189に大きな傷が発生した
場合である。スケール187,189に大きな傷が発生
した場合には、ミスカウント値は許容ミスカウント値V
B を越えてしまう。このような場合は、前記したように
図3に示すステップ1060及びステップ1090の処理により
異常報知が行われる。
FIG. 7 shows the case where the index scale 187 and the main scale 189 have large scratches. When the scales 187 and 189 are seriously damaged, the miscount value is the allowable miscount value V.
It exceeds B. In such a case, as described above, the abnormality notification is performed by the processing of step 1060 and step 1090 shown in FIG.

【0054】上記のように、ミスカウント値の変化傾向
を検知することにより、図3に示すステップ1060及びス
テップ1090の処理による異常報知が行われないような徐
々に進行する異常の場合においても、これを検知するこ
とが可能となり、大きな変位測定誤差が発生する前にこ
れに対処することが可能となる。以下、増加傾向,
繰り返し傾向,小ステップ傾向の各傾向を検知するた
めの具体的な検知処理について図8〜図10を用いて説
明する。
As described above, by detecting the change tendency of the miscount value, even in the case of a gradually progressing abnormality such that the abnormality notification by the processing of steps 1060 and 1090 shown in FIG. 3 is not performed, It becomes possible to detect this, and it is possible to deal with this before a large displacement measurement error occurs. Below, the increasing trend,
Specific detection processing for detecting each tendency of the repeating tendency and the small step tendency will be described with reference to FIGS. 8 to 10.

【0055】図8はミスカウント値の変化が増加傾向を
示すことを検知するための処理を示している。同図に示
す処理が起動すると、先ずステップ2000においてミスカ
ウント値の測定回数が所定回数(n)以上であるかどう
かを判断する。そして、測定回数が所定回数行われてい
ない場合には、増加傾向を検知するのに充分なデータが
収集されていないとしてステップ2010以降の検知処理を
行うことなく処理を終了する。
FIG. 8 shows a process for detecting that the change in the miscount value shows an increasing tendency. When the process shown in the figure is started, first, in step 2000, it is determined whether or not the number of times the miss count value is measured is a predetermined number (n) or more. If the number of measurements has not been performed the predetermined number of times, it is determined that sufficient data for detecting the increasing tendency has not been collected, and the process ends without performing the detection process from step 2010.

【0056】一方、ステップ2000で測定回数がn回以上
行われていると判断された場合には、処理はステップ20
10に進み、累積許容差格納部166に格納されているミ
スカウント値のデータの内最新のn個のデータを読み取
りD(1) 〜D(n) とすると共に、ステップ2020において
変数i,jの初期値設定を行う(i=0,j=0)。
On the other hand, if it is determined in step 2000 that the number of measurements has been performed n times or more, the process proceeds to step 20.
The process proceeds to step 10 and reads the latest n pieces of data of the miscount value stored in the cumulative tolerance storage unit 166 and sets them as D (1) to D (n). The initial value of is set (i = 0, j = 0).

【0057】続くステップ2030では、i回目のミスカウ
ント値D(i) が、次回に測定されたi+1回目のミスカ
ウント値D(i+1)より小さいかどうかが判断される。こ
のステップ2030で肯定判断される状態は、i回目からi
+1回目に関してはミスカウント値は増加してることを
意味している。具体的には、図4におけるD(1) とD
(2),D(3) とD(4),D(6) とD(7) 等の場合にはステッ
プ2030で肯定判断が行われる。
In the following step 2030, it is judged whether or not the i-th miscount value D (i) is smaller than the i + 1-th miscount value D (i + 1) measured next time. The state in which affirmative judgment is made in step 2030 is from the i-th time to the i-th time.
For the + 1st time, it means that the miscount value is increasing. Specifically, D (1) and D in FIG.
In the case of (2), D (3) and D (4), D (6) and D (7), etc., a positive determination is made in step 2030.

【0058】ステップ2030で否定判断がされた場合に
は、処理はステップ2060に進み変数iをインクリメント
し、続くステップ2070において変数iがデータ数nとな
ったかどうかを判断し、変数iがデータ数nとなってい
ない場合には再び処理はステップ2030に戻る。
If a negative determination is made in step 2030, the process proceeds to step 2060 to increment the variable i, and in the following step 2070 it is determined whether or not the variable i has become the data number n, and the variable i is the data number. If not n, the process returns to step 2030 again.

【0059】一方、ステップ2030で肯定判断がされた場
合には、処理はステップ2040に進み、変数j(以下、こ
の変数jを増加回数という)をインクリメントする。即
ち、増加回数jの値は、連続した2回のミスカウント測
定においてミスカウント値が増加した回数を示してい
る。
On the other hand, if an affirmative decision is made in step 2030, then the processing advances to step 2040, in which a variable j (hereinafter, this variable j is referred to as the number of increments) is incremented. That is, the value of the increment count j indicates the number of increments of the miss count value in two consecutive miss count measurements.

【0060】続くステップ2050においては、増加回数j
が全体の測定回数数nに対してその半分(n/2)以上
あったかどうかが判断される。増加回数jがn/2回以
下の場合には、処理は前記したステップ2060に進み、変
数iをインクリメントし、ステップ2070において変数i
がデータ数nとなっていない場合には再び処理はステッ
プ2030に戻る。
In the following step 2050, the number of increments j
Is more than half (n / 2) of the total number of times of measurement n (n / 2) or more. If the number of times of increase j is n / 2 times or less, the process proceeds to step 2060 described above, the variable i is incremented, and the variable i is incremented in step 2070.
Is not the number of data n, the process returns to step 2030 again.

【0061】また、ステップ2050において増加回数jが
n/2回以上であると判断されると、処理はステップ20
90に進み1回目のミスカウント値D(1) とn回目のミス
カウント値D(n) が所定値Vc 以上離れているかどうか
が判断される。そして、ステップ2090で肯定判断がされ
た場合には、処理はステップ2100に進み光源劣化或いは
スケール全体汚れの異常予告を出力する。これにより、
表示器143には光源劣化或いはスケール全体汚れの異
常が報知される。
If it is determined in step 2050 that the number of increases j is n / 2 times or more, the process proceeds to step 20.
The routine proceeds to 90, where it is judged whether or not the first miscount value D (1) and the nth miscount value D (n) are separated by a predetermined value V c or more. If an affirmative decision is made in step 2090, the process advances to step 2100 to output a notice of abnormality of light source deterioration or contamination of the entire scale. This allows
The display 143 is informed of the deterioration of the light source or the abnormality of the entire scale dirt.

【0062】即ち、本実施例における増加傾向検知処理
では、隣接する2回のミスカウント値の測定において増
加している回数がn/2回以上(測定回数の半分以上)
で、かつ1回目のミスカウント値D(1) とn回目のミス
カウント値D(n) が所定値V c 以上離れている場合に増
加傾向にあると判断する構成とされている。
That is, the increasing tendency detecting process in this embodiment.
Then, increase in the measurement of two adjacent miscount values.
The number of additions is n / 2 or more (more than half of the number of measurements)
And the first miss count value D (1) and the nth miss count value
Count value D (n) is a predetermined value V cIncreased when the distance is more than
It is configured to judge that there is an increasing tendency.

【0063】尚、ステップ2090で否定判断された場合、
及びn回目のミスカウント値D(n)に対する処理が終了
した段階において2回のミスカウント値の比較の結果増
加している回数がn/2回に満たない場合には、処理は
ステップ2080に進み異常が発生していないことを表示器
143に表示する。
If a negative decision is made in step 2090,
If the number of increases resulting from the comparison of the two miss count values is less than n / 2 at the stage when the process for the nth miss count value D (n) is completed, the process proceeds to step 2080. The display 143 displays that no advance abnormality has occurred.

【0064】図9はミスカウント値の変化が繰り返し傾
向を示すことを検知するための処理を示している。同図
に示す処理が起動すると、先ずステップ3000においてミ
スカウント値の測定回数が所定回数(n)以上であるか
どうかを判断する。そして、測定回数が所定回数行われ
ていない場合には、変化傾向を検知するのに充分なデー
タが収集されていないとしてステップ3010以降の検知処
理を行うことなく処理を終了する。
FIG. 9 shows a process for detecting that the change in the miscount value shows a repeating tendency. When the process shown in the figure is started, first, in step 3000, it is determined whether or not the number of times the miss count value is measured is a predetermined number (n) or more. If the number of measurements has not been performed the predetermined number of times, it is determined that sufficient data for detecting the change tendency has not been collected, and the process ends without performing the detection process from step 3010.

【0065】一方、ステップ3000で測定回数がn回以上
行われていると判断された場合には、処理はステップ30
10に進み、累積許容差格納部166に格納されているミ
スカウント値のデータの内最新のn個のデータを読み取
りD(1) 〜D(n) とすると共に、ステップ3020において
変数i,jの初期値設定を行う(i=0,j=0)。
On the other hand, if it is determined in step 3000 that the number of measurements is n or more, the process proceeds to step 30.
The process proceeds to step 10, and the latest n pieces of data of the miscount value stored in the cumulative tolerance storage unit 166 are read and set as D (1) to D (n). The initial value of is set (i = 0, j = 0).

【0066】続くステップ3030では、i回目のミスカウ
ント値D(i) が計数部誤差値VA より大きいかどうかが
判断される。前記したように計数部誤差値VA は計数部
150自体が有する誤差値であるため、繰り返し傾向が
生じる場合にはこの計数部誤差値VA を中心として増
加,減少の繰り返しが発生する。よって、ステップ3030
で肯定判断される状態は、ミスカウント値が増加してる
ことを意味している。
At the next step 3030, it is judged whether or not the i-th miscount value D (i) is larger than the counter error value V A. As described above, since the counting unit error value V A is an error value of the counting unit 150 itself, when a repeating tendency occurs, the counting unit error value V A is repeatedly increased and decreased centering on the counting unit error value V A. Therefore, step 3030
The state of being affirmed by means that the miscount value is increasing.

【0067】また、ステップ3030で否定判断がされた場
合には、処理はステップ3060に進み変数iをインクリメ
ントし、続くステップ3070において変数iがデータ数n
となったかどうかを判断し、変数iがデータ数nとなっ
ていない場合には再び処理はステップ3030に戻る。
If a negative determination is made in step 3030, the process proceeds to step 3060 to increment the variable i, and in the subsequent step 3070, the variable i is the number of data n.
If the variable i is not the number of data n, the process returns to step 3030.

【0068】一方、ステップ3030で肯定判断がされた場
合には、処理はステップ3040に進み、変数j(以下、こ
の変数jを増加回数という)をインクリメントする。即
ち、増加回数jの値は、ミスカウント値が増加した回数
を示している。
On the other hand, if an affirmative decision is made in step 3030, the processing advances to step 3040 and the variable j (hereinafter, this variable j is referred to as the number of times of increase) is incremented. That is, the value of the increase count j indicates the number of times the miscount value has increased.

【0069】続くステップ3050においては、増加回数j
が全体の測定回数数nに対してその半分(n/2)以上
あったかどうかが判断される。増加回数jがn/2回以
下の場合には、処理は前記したステップ3060に進み、変
数iをインクリメントし、ステップ3070において変数i
がデータ数nとなっていない場合には再び処理はステッ
プ3030に戻る。
In the following step 3050, the increment number j
Is more than half (n / 2) of the total number of times of measurement n (n / 2) or more. If the number of times of increase j is n / 2 times or less, the process proceeds to step 3060 described above, the variable i is incremented, and the variable i is incremented in step 3070.
Is not the number of data n, the process returns to step 3030 again.

【0070】また、ステップ3050において増加回数jが
n/2回以上であると判断されると、処理はステップ30
90に進み変数iをi=1に、また変数j' をj' =0に
設定し直す。続くステップ3100では、i回目のミスカウ
ント値D(i) が、次回に測定されたi+1回目のミスカ
ウント値D(i+1)より大きいかどうかが判断される。こ
のステップ3100で肯定判断される状態は、i回目からi
+1回目に関してはミスカウント値は減少してることを
意味している。具体的には、図5におけるD(2) とD
(3),D(4) とD(5),D(6) とD(7) 等の場合にはステッ
プ3100で肯定判断が行われる。
If it is determined in step 3050 that the number of increases j is n / 2 or more, the process proceeds to step 30.
Proceed to 90 and reset the variable i to i = 1 and the variable j'to j '= 0. In the following step 3100, it is judged whether or not the i-th miscount value D (i) is larger than the i + 1-th miscount value D (i + 1) measured next time. The state in which affirmative determination is made in step 3100 is from the i-th time to the i-th time.
For the + 1st time, this means that the miscount value has decreased. Specifically, D (2) and D in FIG.
In the case of (3), D (4) and D (5), D (6) and D (7), etc., a positive determination is made in step 3100.

【0071】尚、ステップ3100で否定判断がされた場合
には処理はステップ2060に進み、前記したステップ306
0,3070 と同様に、変数iをインクリメントし、変数i
がデータ数nとなったかどうかを判断し、変数iがデー
タ数nとなっていない場合には処理はステップ3100に戻
る。
If a negative determination is made in step 3100, the process proceeds to step 2060 and the above-mentioned step 306
In the same way as 0,3070, the variable i is incremented and the variable i
Is determined to be the data number n. If the variable i is not the data number n, the process returns to step 3100.

【0072】一方、ステップ3100で肯定判断がされた場
合には処理はステップ3110に進み、変数j' をインクリ
メントする。即ち、ステップ3110の処理を実行した後の
変数j’の値は、連続した2回のミスカウント測定にお
いてミスカウント値が減少した回数を示している(以
下、変数j' を減少回数という)。
On the other hand, if an affirmative decision is made in step 3100, the process advances to step 3110 to increment the variable j '. That is, the value of the variable j ′ after executing the processing of step 3110 indicates the number of times the miscount value has decreased in two consecutive miscount measurements (hereinafter, the variable j ′ is referred to as the decrease frequency).

【0073】続くステップ3120においては、減少回数
j' が全体の測定回数数nに対してその半分(n/3)
以上あったかどうかが判断される。減少回数j' がn/
3回以下の場合には、処理はステップ3130に進み、変数
iをインクリメントし、ステップ3140において変数iが
データ数nとなっていない場合には再び処理はステップ
3100に戻る。
In the following step 3120, the decrease number j ′ is half (n / 3) of the total measurement number n.
It is determined whether or not there is the above. The number of reductions j'is n /
If it is three times or less, the process proceeds to step 3130, the variable i is incremented, and if the variable i is not the number of data n in step 3140, the process is again performed.
Return to 3100.

【0074】また、ステップ3120において減少回数j'
がn/3回以上であると判断されると、処理はステップ
3150に進みスケール部分汚れの異常予告を出力する。こ
れにより、表示器143にはスケール部分汚れの異常が
報知される。
In step 3120, the number of reductions j '
Is determined to be n / 3 times or more, the process proceeds to step
Proceed to 3150 to output a notice of abnormality of scale stains. As a result, the display unit 143 is informed of the abnormality of the stain on the scale.

【0075】即ち、本実施例における増加傾向検知処理
では、計数部誤差値VA を越えるミスカウント値がn/
2回以上あり、かつ隣接する2回のミスカウント値の測
定において減少している回数がn/3回以上ある場合に
繰り返し傾向にあると判断する構成とされている。
That is, in the increasing tendency detection processing in this embodiment, the miscount value exceeding the counter error value V A is n / n.
When the number of times of decrease is two or more and the number of times of decrease in the adjacent two miscount values is n / 3 or more, it is determined that the tendency tends to be repeated.

【0076】尚、n回目のミスカウント値D(n) に対す
る処理が終了した段階において、計数部誤差値VA を越
えるミスカウント値がn/2回未満であり、また2回の
ミスカウント値の比較の結果減少している回数がn/3
回に満たない場合には、処理はステップ3080に進み異常
が発生していないことを表示器143に表示する。
At the stage when the processing for the n-th miscount value D (n) is completed, the miscount value exceeding the counting section error value V A is less than n / 2 times, and the miscount value for the second time is less than n / 2. As a result of comparison, the number of decrease is n / 3
If it is less than the number of times, the process proceeds to step 3080 to display on the display 143 that no abnormality has occurred.

【0077】図10はミスカウント値の変化が小ステッ
プ傾向を示すことを検知するための処理を示している。
同図に示す処理が起動すると、先ずステップ4000におい
てミスカウント値の測定回数が所定回数(n)以上であ
るかどうかを判断する。そして、測定回数が所定回数行
われていない場合には、増加傾向を検知するのに充分な
データが収集されていないとしてステップ4010以降の検
知処理を行うことなく処理を終了する。
FIG. 10 shows a process for detecting that the change in the miscount value shows a small step tendency.
When the process shown in the figure is started, first, in step 4000, it is determined whether or not the number of times the miss count value is measured is a predetermined number (n) or more. If the number of measurements has not been performed the predetermined number of times, it is determined that sufficient data for detecting the increasing tendency has not been collected, and the process ends without performing the detection process of step 4010 and thereafter.

【0078】一方、ステップ4000で測定回数がn回以上
行われていると判断された場合には、処理はステップ40
10に進み、累積許容差格納部166に格納されているミ
スカウント値のデータの内最新のn個のデータを読み取
りD(1) 〜D(n) とすると共に、ステップ4020において
変数iの初期値設定を行う(i=0)。
On the other hand, if it is determined in step 4000 that the number of measurements has been performed n times or more, the process proceeds to step 40.
In step 4020, the latest n pieces of data of the miscount value stored in the accumulative tolerance storage unit 166 are read and designated as D (1) to D (n), and the variable i is initialized at step 4020. The value is set (i = 0).

【0079】続くステップ4030では、i回目のミスカウ
ント値D(i) が計数部誤差値VA より大きいかどうかが
判断される。前記したように計数部誤差値VA は計数部
150自体が有する誤差値であるため、正常時にはミス
カウント値D(i) がこの計数部誤差値VA より大きくな
るようなことはない。よって、ステップ4030で否定判断
がされた場合には、処理はステップ4110に進み異常が発
生していないことを表示器143に表示する。
In the following step 4030, it is judged whether or not the i-th miscount value D (i) is larger than the counter error value V A. As described above, since the counting section error value V A is the error value of the counting section 150 itself, the miscount value D (i) does not exceed the counting section error value V A in the normal state. Therefore, when a negative determination is made in step 4030, the process proceeds to step 4110 and the display 143 displays that no abnormality has occurred.

【0080】一方、ステップ4030で肯定判断がされる
と、ステップ4040, ステップ4050の各処理を実行し、n
個ある全てのデータD(1) 〜D(n) に対してステップ40
30の判定処理を実行する。また、ステップ4040において
n個ある全てのデータD(1) 〜D(n) に対してステップ
4030の判定処理が実施されたとすると、処理はステップ
4060に進み変数iを1に設定する。
On the other hand, if an affirmative decision is made in step 4030, each processing of step 4040, step 4050 is executed, and n
Step 40 for all data D (1) to D (n)
Execute 30 judgment processes. Also, in step 4040, step n is performed for all the data D (1) to D (n).
If the determination processing of 4030 is performed, the processing is step
Proceed to 4060 and set the variable i to 1.

【0081】続くステップ4070では、i回目のミスカウ
ント値D(i) と次回に測定されたi+1回目のミスカウ
ント値D(i+1)との差が所定値VD を越えているかどう
かが判断される。図6を用いて説明したように、スケー
ル187,189(具体的には、スリット187a,1
87b,187z,189a)に小さな傷が発生してい
る場合には、傷の発生位置においてミスカウント値はス
テップアップする。所定値VD は、傷が発生した場合に
生じるミスカウント値のステップアップ量(この値は実
験により求めることができる)が設定されている。よっ
て、ミスカウント値D(i) とミスカウント値D(i+1)と
の差が所定値VD を越えている場合には、スケール18
7,189に小さな傷が発生していることを検知するこ
とができる。
In the following step 4070, it is judged whether or not the difference between the i-th miscount value D (i) and the i + 1-th miscount value D (i + 1) measured next time exceeds a predetermined value V D. It As described with reference to FIG. 6, the scales 187 and 189 (specifically, the slits 187 a and 1
87b, 187z, 189a) has small scratches, the miscount value is stepped up at the scratched position. The predetermined value V D is set to the step-up amount (this value can be obtained by experiment) of the miscount value that occurs when a scratch occurs. Therefore, when the difference between the miscount value D (i) and the miscount value D (i + 1) exceeds the predetermined value V D , the scale 18
It can be detected that a small scratch has occurred in 7,189.

【0082】ステップ4070で否定判断がされた場合に
は、処理はステップ4080に進み変数iをインクリメント
し、続くステップ4090において変数iがデータ数nとな
ったかどうかを判断し、変数iがデータ数nとなってい
ない場合には再び処理はステップ4070に戻る。一方、ス
テップ4070で肯定判断がされた場合には、処理はステッ
プ4100に進み小傷発生の異常予告を出力する。これによ
り、表示器143には小傷発生の異常が報知される。
If a negative determination is made in step 4070, the process proceeds to step 4080 to increment the variable i, and in the following step 4090, it is determined whether or not the variable i becomes the number of data n, and the variable i is the number of data. If it is not n, the process returns to step 4070 again. On the other hand, if an affirmative decision is made in step 4070, the processing advances to step 4100 and outputs an abnormality notice of small scratch occurrence. As a result, the display 143 is notified of the abnormality of the small scratch occurrence.

【0083】尚、ステップ4070の処理がn回繰り返し実
行された段階において、ミスカウント値D(i) とミスカ
ウント値D(i+1)との差が所定値VD を越えることがな
かった場合には、処理は前記したステップ4110に進み異
常が発生していないことを表示器143に表示する。
When the difference between the miss count value D (i) and the miss count value D (i + 1) does not exceed the predetermined value V D at the stage where the process of step 4070 is repeatedly executed n times, The process proceeds to step 4110 described above, and displays on the display 143 that no abnormality has occurred.

【0084】上記のように、許容値累積処理を実施する
ことにより、ステップ1060及びステップ1090の処理(図
3参照)では異常報知されないような小さな異常発生で
も、ミスカウント値の変化傾向を検知することにより発
見することができ、更には異常発生の原因をも特定する
ことが可能となる。このため、比較的軽度の異常発生段
階においてこれを検知することができるため、測定結果
に大きな悪影響が及ぶ前に対処することができる。
By executing the allowable value accumulation process as described above, the tendency of change in the miscount value is detected even if a small abnormality occurs that is not reported in the processes of steps 1060 and 1090 (see FIG. 3). By doing so, it is possible to find the cause, and it is also possible to specify the cause of the abnormality. Therefore, it is possible to detect this at a relatively mild abnormality occurrence stage, so that it is possible to deal with it before the measurement result is greatly adversely affected.

【0085】また、図4及び図8を用いて説明した増加
傾向検知処理においては、ミスカウント値が増加傾向に
あることを検知した場合にのみ異常予告が出力され、異
常が改善方向に向かっている(即ちミスカウント値が減
少している)場合には異常予告信号は出力されないた
め、異常予告信号の信頼性を向上させることができる。
In addition, in the increasing tendency detection processing described with reference to FIGS. 4 and 8, the abnormality notice is output only when it is detected that the miscount value is increasing, and the abnormality tends to improve. Since the abnormality warning signal is not output when the error count value is decreasing (that is, the miscount value is decreasing), the reliability of the abnormality warning signal can be improved.

【0086】図11は本発明の第2実施例である変位測
定装置104を示すブロック構成図である。変位測定装
置104は、大略するとセンサユニット100bと変位
測定装置本体104aとにより構成されている。この
内、センサユニット100bは先に図14を用いて説明
したセンサユニットと同一構成とされている。このた
め、センサユニット100bに対する説明は省略する。
FIG. 11 is a block diagram showing the displacement measuring device 104 according to the second embodiment of the present invention. The displacement measuring device 104 is roughly composed of a sensor unit 100b and a displacement measuring device main body 104a. Among these, the sensor unit 100b has the same configuration as the sensor unit described above with reference to FIG. Therefore, the description of the sensor unit 100b is omitted.

【0087】また、変位測定装置本体104aは、図1
3を用いて説明した変位測定装置本体100aに対し
て、CPU110内にスケール長さ割込部112を、R
OM120内にスケール長さ比較処理部122を、更に
RAM130内にスケール長さ設定部132を新たに追
加した構成としたことを特徴とする。
The displacement measuring device body 104a is shown in FIG.
For the displacement measuring device main body 100a described with reference to FIG.
It is characterized in that a scale length comparison processing unit 122 is added to the OM 120 and a scale length setting unit 132 is newly added to the RAM 130.

【0088】以下、図12を用いてセンサユニット10
0bから出力される変位信号(PA信号,*PA信号,
PB信号,*PB信号,Z信号)に基づき変位測定装置
本体104aが実行する変位測定処理について説明す
る。尚、図12に示される第2実施例に係る変位測定処
理は、先に図3に示した第1実施例に係る変位測定処理
に対してステップ1021〜ステップ1026を追加したのみで
あり、他のステップの処理は同一であるため、第2実施
例の特徴となるステップ1021〜ステップ1026の処理のみ
説明することとする。
Hereinafter, the sensor unit 10 will be described with reference to FIG.
0b displacement signal (PA signal, * PA signal,
The displacement measuring process executed by the displacement measuring apparatus main body 104a based on the PB signal, * PB signal, and Z signal) will be described. The displacement measuring process according to the second embodiment shown in FIG. 12 only adds steps 1021 to 1026 to the displacement measuring process according to the first embodiment shown in FIG. Since the processing of the steps 1 to 6 is the same, only the processing of steps 1021 to 1026 which characterizes the second embodiment will be described.

【0089】同図に示す処理が起動して処理がステップ
1021に進むと、ステップ1021ではRAM130からステ
ップ1040の処理で予め設定しておいたメインスケール1
89の長さを読み出す。また、続くステップ1022ではR
AM130から予め設定器145から測定者により入力
されている被測定物に対する各種設定値(本実施例で
は、特に最大変位量等)が読み出される。
The process shown in the figure is started and the process is stepped.
Proceeding to 1021, in step 1021, the main scale 1 preset from the RAM 130 in the processing of step 1040 is set.
Read the length of 89. Also, in the following step 1022, R
From the AM 130, various set values (especially the maximum displacement amount, etc.) for the object to be measured, which are input in advance by the measurer from the setter 145, are read out.

【0090】そして、ステップ1024では、ステップ1021
で読み出されたメインスケール189の長さと、ステッ
プ1022で読み出された被測定物の最大変位量とを比較す
る。メインスケール189の長さに対して被測定物の最
大変位量が大きい場合には、被測定物全体に対する変位
測定を行うことはできない。よって、メインスケール1
89の長さに対して被測定物の最大変位量が大きい場
合、即ちステップ1024で肯定判断がされた場合には、ス
テップ1026において異常報知を行う構成とした。
Then, in step 1024, step 1021
The length of the main scale 189 read out in step 102 is compared with the maximum displacement amount of the object to be measured read out in step 1022. When the maximum displacement amount of the measured object is large with respect to the length of the main scale 189, the displacement measurement cannot be performed on the entire measured object. Therefore, the main scale 1
When the maximum displacement amount of the object to be measured is large with respect to the length of 89, that is, when the affirmative determination is made in step 1024, the abnormality is notified in step 1026.

【0091】この構成とすることにより、測定者が設定
器145を用いて被測定物の最大変位量を入力する際、
誤って大きな値を入力したような場合でもセンサユニッ
ト100bが稼働する前にこの誤入力を異常報知により
発見することができる。また、本実施例においてはステ
ップ1021,1024 においてメインスケール189の長さと
いう値で制限をかけているが、変位測定装置の作成を標
準化する見方より、測定有効範囲をステップ1040で測定
者が設定し、この設定値によりセンサユニット100b
の稼働を制限する構成としてもよい。
With this configuration, when the measurer inputs the maximum displacement amount of the object to be measured using the setter 145,
Even when a large value is erroneously input, this erroneous input can be detected by the abnormality notification before the sensor unit 100b is activated. In the present embodiment, the length of the main scale 189 is limited in steps 1021 and 1024, but from the viewpoint of standardizing the production of the displacement measuring device, the measurement effective range is set by the measurer in step 1040. However, depending on this setting value, the sensor unit 100b
It may be configured to limit the operation of.

【0092】尚、上記した実施例においては、センサユ
ニット100bとしてリニアエンコーダを用いて例を示
したが、エンコーダの種類はリニアタイプのものに限定
されるものではなく、ロータリタイプ或いは他のタイプ
のエンコーダに対しても本願発明を適用することができ
る。
In the above embodiments, the linear encoder is used as the sensor unit 100b, but the encoder type is not limited to the linear type, but may be a rotary type or other type. The present invention can also be applied to an encoder.

【0093】[0093]

【発明の効果】上述の如く本発明によれば、従来の異常
検出処理においては異常報知されないような小さな異常
発生でも、測定誤差(ミスカウント値)の変化傾向を検
知することにより発見することができ、更には異常発生
の原因をも特定することが可能となる。このため、比較
的軽度の異常発生段階においてこれを検知することがで
きるため、測定結果に大きな悪影響が及ぶ前に対処する
ことができる。
As described above, according to the present invention, even if a small abnormality occurs that is not reported in the conventional abnormality detection processing, it can be found by detecting the tendency of change in the measurement error (miscount value). Therefore, it is possible to specify the cause of the abnormality. Therefore, it is possible to detect this at a relatively mild abnormality occurrence stage, so that it is possible to deal with it before the measurement result is greatly adversely affected.

【0094】また、測定誤差が増加傾向にあることを検
知した場合にのみ異常予告が出力される構成とすること
により、異常が改善方向に向かっている(即ち測定誤差
が減少している)場合には異常予告信号は出力されない
ため、異常予告信号の信頼性を向上させることができ
る。
Further, when the abnormality notice is output only when it is detected that the measurement error tends to increase, the abnormality is improving (that is, the measurement error is decreasing). Since the abnormality notice signal is not output to, the reliability of the abnormality notice signal can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の原理図である。FIG. 1 is a principle diagram of the present invention.

【図2】本発明の第1実施例である変位測定装置を示す
ブロック構成図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a displacement measuring device according to a first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第1実施例において変位測定装置本体
が実行する変位測定処理を示すフローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart showing a displacement measuring process executed by the displacement measuring apparatus body in the first embodiment of the present invention.

【図4】増加傾向におけるミスカウント値の変化の一例
を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing an example of changes in a miscount value in an increasing tendency.

【図5】繰り返し傾向におけるミスカウント値の変化の
一例を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing an example of changes in a miscount value in a repeating tendency.

【図6】小ステップ傾向におけるミスカウント値の変化
の一例を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing an example of a change in a miscount value in a small step tendency.

【図7】大ステップ傾向におけるミスカウント値の変化
の一例を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing an example of a change in a miscount value in a large step tendency.

【図8】ミスカウント値の変化が増加傾向を示すことを
検知する処理を示すフローチャートである。
FIG. 8 is a flowchart showing a process of detecting that the change in the miscount value shows an increasing tendency.

【図9】ミスカウント値の変化が繰り返し傾向を示すこ
とを検知する処理を示すフローチャートである。
FIG. 9 is a flowchart showing a process of detecting that the change in the miscount value shows a repeated tendency.

【図10】ミスカウント値の変化が小ステップ傾向を示
すことを検知する処理を示すフローチャートである。
FIG. 10 is a flowchart showing a process of detecting that the change in the miscount value shows a small step tendency.

【図11】本発明の第2実施例である変位測定装置を示
すブロック構成図である。
FIG. 11 is a block diagram showing a displacement measuring device according to a second embodiment of the present invention.

【図12】本発明の第2実施例において変位測定装置本
体が実行する変位測定処理を示すフローチャートであ
る。
FIG. 12 is a flowchart showing a displacement measuring process executed by the displacement measuring apparatus body in the second embodiment of the present invention.

【図13】従来における変位測定装置を示すブロック構
成図である。
FIG. 13 is a block diagram showing a conventional displacement measuring device.

【図14】センサユニットの構成を示す図である。FIG. 14 is a diagram showing a configuration of a sensor unit.

【図15】センサの出力波形を示す図である。FIG. 15 is a diagram showing an output waveform of a sensor.

【図16】信号変換部が出力する波形を示す図である。FIG. 16 is a diagram showing a waveform output by a signal conversion unit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100,103,104 変位測定装置 101 内部バス 102 電源 100a,103a,104a 変位測定装置本体 100b センサユニット 110 CPU 111 許容差割込部 112 スケール長さ割込部 120 ROM 121 許容差累積処理部 122 スケール長さ比較処理部 130 RAM 132 スケール長さ設定部 140a,140b,140c 入出力部 143 表示器 145 設定器 150 計数部 160 変位検出部 165 異常検出部 166 累積許容差格納部 170 信号変換部 180a,180b センサ 180z 基準センサ 185 光源 187 インデックススケール 187a,187b,189a スリット 187z 基準スリット 189 メインスケール 100, 103, 104 Displacement Measuring Device 101 Internal Bus 102 Power Supply 100a, 103a, 104a Displacement Measuring Device Main Body 100b Sensor Unit 110 CPU 111 Tolerance Interrupting Unit 112 Scale Length Interrupting Unit 120 ROM 121 Tolerance Accumulation Processing Unit 122 Scale Length comparison processing unit 130 RAM 132 Scale length setting unit 140a, 140b, 140c Input / output unit 143 Display device 145 Setting device 150 Counting unit 160 Displacement detection unit 165 Abnormality detection unit 166 Cumulative tolerance storage unit 170 Signal conversion unit 180a, 180b sensor 180z reference sensor 185 light source 187 index scale 187a, 187b, 189a slit 187z reference slit 189 main scale

フロントページの続き (72)発明者 大森 秀昭 栃木県宇都宮市清原工業団地24 株式会社 ミツトヨ内Front page continuation (72) Inventor Hideaki Omori 24 Kiyohara Industrial Park, Utsunomiya City, Tochigi Mitsutoyo Co., Ltd.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 エンコーダを用いて被測定物の変位測定
を行う変位測定装置において、 基準位置における測定誤差を検出する測定誤差検出手段
と、 該測定誤差検出手段により検出される測定誤差が所定値
以下の場合、該測定誤差の値を格納する累積許容差格納
手段と、 該累積許容差格納手段に格納される該測定誤差の値の変
化傾向から装置異常の発生を判断する装置異常判定手段
とを設けたことを特徴とする変位測定装置。
1. A displacement measuring device for measuring displacement of an object to be measured using an encoder, comprising: a measuring error detecting means for detecting a measuring error at a reference position; and a measuring error detected by the measuring error detecting means is a predetermined value. In the following cases, cumulative tolerance storage means for storing the value of the measurement error, and apparatus abnormality determination means for determining the occurrence of the apparatus abnormality from the change tendency of the value of the measurement error stored in the cumulative tolerance storage means. Displacement measuring device characterized by being provided with.
【請求項2】 該装置異常判定手段は、 上記測定誤差の値が増加傾向にあることを検知した場
合、異常予告信号を出力することを特徴とする請求項1
記載の変位測定装置。
2. The apparatus abnormality determination means outputs an abnormality advance notice signal when detecting that the value of the measurement error tends to increase.
Displacement measuring device described.
JP28952693A 1993-11-18 1993-11-18 Displacement measuring device Pending JPH07139968A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28952693A JPH07139968A (en) 1993-11-18 1993-11-18 Displacement measuring device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28952693A JPH07139968A (en) 1993-11-18 1993-11-18 Displacement measuring device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07139968A true JPH07139968A (en) 1995-06-02

Family

ID=17744399

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28952693A Pending JPH07139968A (en) 1993-11-18 1993-11-18 Displacement measuring device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07139968A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002022484A (en) * 2000-07-04 2002-01-23 Oki Electric Ind Co Ltd Method for analyzing failure in function of sensor
JP2007170987A (en) * 2005-12-22 2007-07-05 Keyence Corp Contact type displacement gauge
JP2013047694A (en) * 2008-08-26 2013-03-07 Nikon Corp Encoder device, and rotation information detecting method for encoder device

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002022484A (en) * 2000-07-04 2002-01-23 Oki Electric Ind Co Ltd Method for analyzing failure in function of sensor
JP4633234B2 (en) * 2000-07-04 2011-02-16 本田技研工業株式会社 Sensor function failure diagnosis method
JP2007170987A (en) * 2005-12-22 2007-07-05 Keyence Corp Contact type displacement gauge
JP2013047694A (en) * 2008-08-26 2013-03-07 Nikon Corp Encoder device, and rotation information detecting method for encoder device
US9020774B2 (en) 2008-08-26 2015-04-28 Nikon Corporation Encoder system, signal processing method, and transmission signal generation and output device
US9823091B2 (en) 2008-08-26 2017-11-21 Nikon Corporation Encoder system, signal processing method, and transmission signal generation and output device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1569347B1 (en) Encoder and control apparatus for motor
US4384204A (en) Absolute encoder
US10486279B2 (en) Abnormality determination device and abnormality determining method
US4255809A (en) Dual redundant error detection system for counters
CN114918739A (en) Machine tool spindle fault detection method and device, terminal and storage medium
JP4229823B2 (en) Gear breakage detection device and gear breakage detection method
JPH07139968A (en) Displacement measuring device
JPH0233162B2 (en)
WO2009066781A1 (en) Absolute position measurement apparatus and method
US5131017A (en) Incremental position measuring system
US11156650B2 (en) State detecting system and state detecting method
US7359826B2 (en) Method and device for detection of oscillations by a position measuring system
EP3499327B1 (en) Load state diagnosis device and load state diagnosis method for servomotor
US5781282A (en) Distance measurement device
KR0144862B1 (en) Tool detector
JP7110845B2 (en) Information processing device and information processing method
WO1989009450A1 (en) Method and apparatus for evaluating quadrature encoders
JP2009156790A (en) Displacement sensor
JPH0792377B2 (en) Thickness measuring device
JPS6166113A (en) Method and circuit for detecting abnormality of displacement detector
JPH06238782A (en) Method and apparatus for detecting defect
KR100497330B1 (en) Method for Telescope Measurement and Determination of Telescope Shape
JPH04297817A (en) Absolute encoder
JP2912050B2 (en) Measuring device for long objects
JP4629458B2 (en) Linear encoder device