JPH07122566B2 - Optical displacement measuring device - Google Patents

Optical displacement measuring device

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JPH07122566B2
JPH07122566B2 JP62301940A JP30194087A JPH07122566B2 JP H07122566 B2 JPH07122566 B2 JP H07122566B2 JP 62301940 A JP62301940 A JP 62301940A JP 30194087 A JP30194087 A JP 30194087A JP H07122566 B2 JPH07122566 B2 JP H07122566B2
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JP
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displacement
target
light
image sensor
measuring device
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良昭 工藤
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Yokogawa Electric Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 ≪産業上の利用分野≫ 本発明は、物体の3次元の変位を同時に非接触で測定す
る変位計に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION << Industrial Application Field >> The present invention relates to a displacement meter for simultaneously measuring three-dimensional displacement of an object in a non-contact manner.

≪従来の技術≫ 3次元の変位を同時に測定する変位計の先行技術の第1
は、物体に変位測定のスケールとなる一定ピッチの格子
のついた再帰反射性テープ(反射光が入射光と同一の光
路を戻る性質のある光反射テープ)を貼り、この格子の
移動を光学的に読取ることでX,Y方向での変位を測定
し、さらにマイケルソンの干渉計を用いて干渉縞の移動
を検出することによりZ方向の変位測定を行うものであ
る。
«Prior art» The first prior art of displacement gauge that simultaneously measures three-dimensional displacement
Is a retro-reflective tape (a light-reflecting tape that has the property that the reflected light returns to the same optical path as the incident light) with a fixed-pitch grating that serves as a scale for displacement measurement. The displacements in the X and Y directions are measured by reading the above, and the displacements in the Z direction are measured by detecting the movement of the interference fringes using a Michelson interferometer.

先行技術の第2は第4図および第5図に示すように2次
元の変位計を組合せて測定するものがある。第4図では
2次元の変位計41,42を直角に配置したものを示し、第
5図は2次元の変位計51およびZ軸方向1次元の変位計
52を同一方向に配置したものを示す。
In the second prior art, there is one in which two-dimensional displacement gauges are combined and measured as shown in FIGS. 4 and 5. FIG. 4 shows the two-dimensional displacement gauges 41 and 42 arranged at right angles, and FIG. 5 shows the two-dimensional displacement gauge 51 and the Z-axis direction one-dimensional displacement gauge.
52 is arranged in the same direction.

≪発明が解決しようとする問題点≫ しかしながら、第1の方法の場合にはZ方向の測定が安
定にできないという問題があり、第2の方法の場合には
安定な変位測定はできても、ある1点の3次元の変位を
測るのは不可能である。また、裾付けに時間がかかると
いう欠点もある。
<< Problems to be Solved by the Invention >> However, in the case of the first method, there is a problem that the measurement in the Z direction cannot be stabilized, and in the case of the second method, although stable displacement measurement can be performed, It is impossible to measure the displacement of one point in three dimensions. Another drawback is that it takes a long time to hem.

本発明は上記のような問題点を解決するためになされた
もので、ある一点の3次元の変位を同時に非接触で安定
に測定できる光学式変位測定装置を実現することを目的
とする。
The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to realize an optical displacement measuring device capable of simultaneously and stably measuring a three-dimensional displacement of a certain point without contact.

≪問題点を解決するための手段≫ 本発明はイメージセンサ上に結像させたターゲットの模
様の動きに基づき前記ターゲットの変位を検出する光学
式変位測定装置に係るもので、その特徴とするところは
前記ターゲットに平行な平面内での前記ターゲットの変
位を検出する第1のイメージセンサと、前記平面の垂線
と所定の角度を成す方向から前記ターゲットの変位を検
出する第2のイメージセンサと、前記2つのイメージセ
ンサによる変位出力から前記ターゲットの前記平面の変
位及び垂直な方向の変位を演算する処理回路ととを備え
た点にある。
<< Means for Solving the Problems >> The present invention relates to an optical displacement measuring device for detecting the displacement of the target based on the movement of the pattern of the target formed on the image sensor. A first image sensor for detecting a displacement of the target in a plane parallel to the target, and a second image sensor for detecting a displacement of the target from a direction forming a predetermined angle with a normal line of the plane, And a processing circuit for calculating the displacement of the target in the plane and the displacement in the vertical direction from the displacement outputs from the two image sensors.

≪作用≫ 第1のイメージセンサがターゲットを見込む方向に対し
第2のイメージセンサは所定の角度をなしてターゲット
を見込むことになるので、第2のイメージセンサにより
検出される変位には第1のイメージセンサによって検出
される平面内の変位に加えて垂直方向の変位の成分が含
まれ、第1,第2のイメージセンサ出力からこれを処理回
路で分離することができる。
<< Operation >> Since the second image sensor makes a predetermined angle with respect to the direction in which the first image sensor looks into the target, the displacement detected by the second image sensor is the first In addition to the in-plane displacement detected by the image sensor, a vertical displacement component is included and can be separated by the processing circuit from the first and second image sensor outputs.

≪実施例≫ 以下本発明を図面を用いて詳しく説明する。«Examples» Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図は本発明に係る光学式変位測定装置の一実施例を
示す構成ブロック図である。1は偏光ビームスプリッタ
2に対して45゜の偏光面を持つ直線偏光を出射する半導
体レーザ等の光源、2は入射光の偏光方向によって入射
光を2つに分けるための偏光ビームスプリッタ(以下PB
Sと呼ぶ)、3は結像光学系を構成しPBS2の反射光を入
射するテレセントリック光学系、4はこのテレセントリ
ック光学系3を通過した光を入射する1/4波長板(以下
λ/4板と呼ぶ)、5はこのλ/4板4を通過した光が垂直
に照射し一定ピッチの格子模様つきの再帰反射性テープ
からなるターゲット、50はこのターゲット・テープ5が
貼られた被測定物体、6はPBS2の透過光が入射しPBS2と
同一方向の偏光面を持って配置するPBS、7はこのPBS6
の透過光が入射するミラー、8はこのミラー7の反射光
が入射する第2のテレセントリック光学系、9はこのテ
レセントリック光学系8を通過した光が入射しその通過
光がターゲット5を斜めに照射する第2のλ/4板、10は
PBS2のターゲット5からの反射光が入射しこれを2分す
るハーフミラー、11はイメージセンサを構成しハーフミ
ラー10の反射光が入射してY軸方向の変位を検出するY
軸用フォトダイオードアレイ(以下PDAと呼ぶ)、12は
このPDA11の電気出力を変位出力に変換するY軸用変換
回路、13は第1のイメージセンサとなるものでハーフミ
ラー10の透過光が入射しX方向の変位を検出するX軸用
PDA、14はこのPDA13の電気出力を変位出力に変換するX
軸用変換回路、15は第2のイメージセンサとなるもので
ターゲット5からの斜めの反射光が入射するZ軸用PD
A、16はこのPDA15の電気出力を変位出力に変換するZ軸
用変換回路、17は変換回路14および変換回路16からの出
力を入力しZ方向の変位を演算する処理回路である。テ
レセントリック光学系3(8)は物体までの距離が変っ
ても結像倍率が一定で、その2枚のレンズ31(81),33
(83)はそれぞれの焦点距離f1,f2の和に等しい間隔で
配置されており、PBS2(6)から出射された光を平行光
のままでターゲット5に照射するとともに、ターゲット
5上の格子像をPDA11,13(15)上に結像する。さらに焦
点位置には絞り32(82)が配置されている。PDA13とPDA
15は同じ方向(ここではx方向)のターゲット5の移動
を検出するように配置し、PDA11はPDA13,15に対して90
゜回転した方向(ここではy方向)に配置する。
FIG. 1 is a configuration block diagram showing an embodiment of an optical displacement measuring device according to the present invention. 1 is a light source such as a semiconductor laser that emits linearly polarized light having a polarization plane of 45 ° with respect to the polarization beam splitter 2, 2 is a polarization beam splitter for dividing the incident light into two according to the polarization direction of the incident light (hereinafter, PB
S is referred to as S), 3 is a telecentric optical system that forms an image forming optical system and receives the reflected light of PBS2, and 4 is a 1/4 wavelength plate (hereinafter, λ / 4 plate) that receives the light that has passed through the telecentric optical system 3. 5 is a target composed of a retroreflective tape having a lattice pattern with a constant pitch, which is obtained by vertically irradiating light passing through the λ / 4 plate 4, and 50 is an object to be measured to which the target tape 5 is attached. 6 is a PBS arranged with a plane of polarization in the same direction as PBS2, which is transmitted by PBS2, and 7 is this PBS6.
, A second telecentric optical system on which the reflected light of the mirror 7 is incident, and 9 is light transmitted through the telecentric optical system 8, and the transmitted light irradiates the target 5 obliquely. The second λ / 4 plate, 10
A half mirror that receives reflected light from the target 5 of PBS2 and bisects the reflected light, 11 is an image sensor, and the reflected light of the half mirror 10 is incident to detect Y displacement in the Y-axis direction.
Axis photodiode array (hereinafter referred to as PDA), 12 is a Y-axis conversion circuit that converts the electrical output of the PDA 11 into a displacement output, and 13 is the first image sensor that is transmitted by the half mirror 10. For X axis that detects displacement in the X direction
PDA, 14 is an X that converts the electrical output of this PDA 13 into displacement output
Axis conversion circuit, reference numeral 15 is a second image sensor and is a Z-axis PD on which obliquely reflected light from the target 5 is incident.
Reference numerals A and 16 denote Z-axis conversion circuits that convert the electric output of the PDA 15 into displacement outputs, and 17 is a processing circuit that receives the outputs from the conversion circuits 14 and 16 and calculates the displacement in the Z direction. The telecentric optical system 3 (8) has a constant imaging magnification even if the distance to the object changes, and the two lenses 31 (81), 33
(83) is arranged at an interval equal to the sum of the respective focal lengths f 1 and f 2 , and irradiates the target 5 with the light emitted from the PBS 2 (6) as parallel light, and The lattice image is formed on the PDA 11, 13 (15). Further, a diaphragm 32 (82) is arranged at the focal position. PDA13 and PDA
15 is arranged so as to detect the movement of the target 5 in the same direction (here, the x direction), and the PDA 11 is 90 degrees relative to the PDA 13,15.
It is arranged in the direction rotated by ° (here, the y direction).

上記のような構成の光学式変位測定装置の動作を次に説
明する。光源1から出力された光はPBSで2つの方向に
分離され、反射光はテレセントリック光学系3およびλ
/4板4を透過した後ターゲット5に垂直に照射される。
ターゲット5の反射光は同一の光路を戻り、λ/4板4を
2回通ることにより偏光方向が90゜回転した光がPBS2を
透過し、ハーフミラー10で2方向に分離し、反射光およ
び透過光がPDA11,PDA13上に同じ像をそれぞれ結像す
る。光源1の出射光のうちPBS2を透過した部分はPBS6を
透過した後ミラー7で方向を変えられ、テレセントリッ
ク光学系8およびλ/4板9を通過した後ターゲット5に
斜めに照射される。この反射光は同一の斜めの光路を戻
り、λ/4板9を2回通ることにより偏光方向が90゜回転
した光がPBS6で辺射され、PDA15上に結像する。ここで
テレセントリック光学系8は斜めからターゲット5を見
込んでいるためcosineエラーが生じるので、テレセント
リック光学系3とは結像倍率を変えておく必要がある。
次に各PDA上に結ばれた格子像の移動を検出して変位出
力を発生する。PDA13、11の検出出力はそれぞれ変換回
路14,12でX,Y軸方向の変位出力Sx,Syに変換される。PDA
15の検出出力は変換回路16でいったんSx′出力に変換さ
れた後、処理回路17でSxとの間で演算されZ軸方向の変
位出力Szとなる。
The operation of the optical displacement measuring device having the above configuration will be described below. The light output from the light source 1 is separated into two directions by PBS, and the reflected light is the telecentric optical system 3 and λ.
After passing through the / 4 plate 4, the target 5 is vertically irradiated.
The reflected light of the target 5 returns through the same optical path, passes through the λ / 4 plate 4 twice, and the light whose polarization direction is rotated by 90 ° passes through PBS2 and is separated by the half mirror 10 into two directions. The transmitted light forms the same image on the PDA 11 and PDA 13, respectively. The portion of the light emitted from the light source 1 that has passed through PBS2 is redirected by the mirror 7 after passing through PBS6, and is obliquely irradiated onto the target 5 after passing through the telecentric optical system 8 and the λ / 4 plate 9. This reflected light returns through the same oblique optical path, passes through the λ / 4 plate 9 twice, and the light whose polarization direction is rotated by 90 ° is radiated by the PBS 6 and forms an image on the PDA 15. Here, since the telecentric optical system 8 looks at the target 5 obliquely, a cosine error occurs, so that it is necessary to change the imaging magnification from that of the telecentric optical system 3.
Next, the displacement of the lattice image formed on each PDA is detected and a displacement output is generated. The detection outputs of the PDAs 13 and 11 are converted into displacement outputs S x and S y in the X and Y axis directions by conversion circuits 14 and 12, respectively. PDA
The detection output of 15 is once converted into an S x ′ output by the conversion circuit 16, and is then calculated with S x by the processing circuit 17 to become a displacement output S z in the Z-axis direction.

次に処理回路17における演算方法について第2図を用い
て説明する。第2図において、100は第1図装置の光学
系の部分、aは物体50(実際にはターゲット5)に垂直
に入射する光ビーム、bは斜めに入射する光ビームであ
る。説明を簡単にするためx−z平面で考える。実線の
部分にあった物体50が破線の位置に (ベクトル)だけ移動したときのX,Z軸方向の変位量を
それぞれx,zとし、光ビームbが物体50を照射する位置
のx軸方向の変位量をx′とする。このとき変換回路14
の出力Sxはxに対応する変位出力となり、変換回路15の
出力Sx′はx′に対応する変位出力となる。処理回路17
はZ軸方向の変位量zを次式を用いて演算し、変位出力
Szとする。
Next, the calculation method in the processing circuit 17 will be described with reference to FIG. In FIG. 2, 100 is a part of the optical system of the apparatus of FIG. 1, a is a light beam which is vertically incident on the object 50 (actually the target 5), and b is a light beam which is obliquely incident. To simplify the explanation, consider the xz plane. The object 50 that was on the solid line is now on the broken line The displacement amounts in the X and Z axis directions when moved by (vector) are x and z, respectively, and the displacement amount in the x axis direction at the position where the light beam b irradiates the object 50 is x '. At this time, the conversion circuit 14
The output S x of is the displacement output corresponding to x, and the output S x ′ of the conversion circuit 15 is the displacement output corresponding to x ′. Processing circuit 17
Calculates the displacement amount z in the Z-axis direction using the following formula and outputs the displacement
Let S z .

z=(x+x′)/tanθ ……(1) ここでθは固定となるので、tanθは定数である。z = (x + x ') / tan θ (1) Since θ is fixed here, tan θ is a constant.

このような構成の光学式変位測定装置によれば、物体上
のある点の3次元の辺を同時に非接触で測定できる。こ
の場合Z軸方向に移動すると多少見ている点はずれる
が、移動の範囲が小さければ、ほぽ一点と見做すことが
できるし、表面が平面的な物体であれば問題はない。
According to the optical displacement measuring device having such a configuration, the three-dimensional side of a certain point on the object can be simultaneously measured without contact. In this case, although the point of sight is slightly displaced when moved in the Z-axis direction, it can be regarded as a single point if the range of movement is small, and there is no problem if the surface is a flat object.

またZ軸方向の変位もX軸,Y軸方向と同じ原理で測定し
ているので、信号が安定している。
Also, the displacement in the Z-axis direction is measured by the same principle as in the X-axis and Y-axis directions, so the signal is stable.

また光源として半導体レーザ等を用いることにより、光
学系をコンパクトにできる。
Further, the optical system can be made compact by using a semiconductor laser or the like as the light source.

第3図は本発明に係る光学式変位測定装置の他の実施例
を示す構成ブロック図である。21,22はそれぞれ第1,第
2のイメージセンサを構成する。これは光電子増倍管を
用いた市販のイメージセンサで、例えばオプティカル・
サーボ等と呼ばれ、明/暗の境界線を持つ被測定物が視
野内にあるとき、非接触で光学的に被測定物の運動・変
位を検出することができるもので、変位の方向およびそ
の大きさは符号を含めてアナログ量で出力される。イメ
ージセンサ21,22の内部は主に結像光学系と電子増倍管
とから構成されている。イメージセンサ21はX,Y軸方向
の2次元平面内の変位を検出し、イメージセンサ22はX
軸と方向を合わせるともにターゲットを見込む角度をθ
傾けてZ軸方向の変位が検出できるように配置される。
51は物体50の表面に貼られた明/暗の境界線を持つター
ゲットで、イメージセンサ21,22は別置の照明によるタ
ーゲット51からの反射光c,dをそれぞれ入射して境界線
の移動を検出する。第2図の場合と同様に物体50が 移動した時のX軸方向の変位量をxとし、光dの光路と
直角方向の変位量をx′とすると、ターゲット51のZ軸
方向の変位zは次式で得られる。
FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of another embodiment of the optical displacement measuring device according to the present invention. Reference numerals 21 and 22 form first and second image sensors, respectively. This is a commercially available image sensor that uses a photomultiplier tube.
It is called a servo, etc., and when a DUT with a bright / dark boundary line is in the field of view, it can optically detect the motion / displacement of the DUT without contact. The size is output in an analog amount including the sign. The inside of the image sensors 21 and 22 is mainly composed of an imaging optical system and an electron multiplier. The image sensor 21 detects displacement in a two-dimensional plane in the X and Y axis directions, and the image sensor 22 detects X
Align the axis with the direction and set the angle to see the target as θ
It is arranged so that it can be tilted and the displacement in the Z-axis direction can be detected.
Reference numeral 51 denotes a target having a bright / dark boundary line attached to the surface of the object 50, and the image sensors 21 and 22 respectively move reflected light beams c and d from the target 51 by separate illumination to move the boundary line. To detect. As in the case of FIG. 2, the object 50 When the displacement amount in the X-axis direction when moved is x and the displacement amount in the direction perpendicular to the optical path of the light d is x ', the displacement z of the target 51 in the Z-axis direction is obtained by the following equation.

z=(−x′−xcosθ)/sinθ =−x′/sinθ−x/tanθ ……(2) すなわちイメージセンサ21,22の出力について処理回路
で上式の演算を行えば、Z軸方向の変位出力を得ること
ができる。X,Y軸方向の変位出力については第2図の場
合同様、イメージセンサ21の出力をそのまま用いればよ
い。
z = (− x′−xcos θ) / sin θ = −x ′ / sin θ−x / tan θ (2) That is, if the processing circuit calculates the above equation for the outputs of the image sensors 21 and 22, the Z axis direction The displacement output can be obtained. Regarding the displacement output in the X and Y axis directions, the output of the image sensor 21 may be used as it is, as in the case of FIG.

なお上記の各実施例ではターゲット・テープとして再帰
反射性テープを用いているが、入射光量の問題はある
が、通常の拡散反射性テープを用いてもよい。例えば第
1図の場合にターゲットに垂直な照射光のみを用いれ
ば、PBS6を省略することができる。
Although a retroreflective tape is used as the target tape in each of the above-mentioned embodiments, a normal diffuse reflective tape may be used although there is a problem with the amount of incident light. For example, in the case of FIG. 1, the PBS 6 can be omitted if only the irradiation light perpendicular to the target is used.

また物体50がもともと明/暗の境界線を持っていれば、
それを利用することができる。
If the object 50 originally has a light / dark boundary,
You can take advantage of it.

また、第1図及び第3図における実施例の説明に際して
は、半導体レーザ等を光源を用いてターゲットに照射
し、ターゲットからの反射光を用いているが、ターゲッ
トの格子模様等の模様が2つのイメージセンサで十分に
結像できる程度のS/Nが得られれば光源及びその照射用
光学系は必要なくなる。
In the description of the embodiments shown in FIGS. 1 and 3, a semiconductor laser or the like is used to irradiate the target with a light source and the reflected light from the target is used. If an S / N sufficient to form an image with one image sensor is obtained, the light source and its irradiation optical system are not necessary.

≪発明の効果≫ 以上述べたように本発明によれば、ある一点の3次元の
変位を同時に非接触で安定に測定できる光学式変位測定
装置を簡単な構成で実現することができる。
<< Effects of the Invention >> As described above, according to the present invention, it is possible to realize an optical displacement measuring device with a simple configuration, which can simultaneously and stably measure a three-dimensional displacement of a point without contact.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明に係る光学式変位測定装置の一実施例を
示す構成ブロック図、第2図は第1図装置の測定方法を
示すための動作説明図、第3図は本発明に係る光学式変
位測定装置の他の実施例を示す構成ブロック図、第4図
および第5図は光学式変位測定装置の従来例を示す構成
斜視図である。 5……ターゲット、13,21……第1のイメージセンサ、1
5,22……第2のイメージセンサ、17……処理回路、θ…
…所定の角度、Sx,Sx′……変位出力。
FIG. 1 is a configuration block diagram showing an embodiment of an optical displacement measuring device according to the present invention, FIG. 2 is an operation explanatory diagram for showing a measuring method of the device of FIG. 1, and FIG. 3 is related to the present invention. FIG. 4 is a constitutional block diagram showing another embodiment of the optical displacement measuring device, and FIGS. 4 and 5 are constitutional perspective views showing a conventional example of the optical displacement measuring device. 5 ... Target, 13, 21 ... First image sensor, 1
5,22 …… Second image sensor, 17 …… Processing circuit, θ…
… Predetermined angle, S x , S x ′ …… Displacement output.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】イメージセンサ上に結像させたターゲット
の模様の動きに基づき前記ターゲットの変位を検出する
光学式変位測定装置において、 前記ターゲットに平行な平面内での前記ターゲットの変
位を検出する第1のイメージセンサと、 前記平面の垂線と所定の角度を成す方向から前記ターゲ
ットの変位を検出する第2のイメージセンサと、 前記2つのイメージセンサによる変位出力から前記ター
ゲットの前記平面の変位及び垂直な方向の変位を演算す
る処理回路と を備えたことを特徴とする光学式変位測定装置。
1. An optical displacement measuring device for detecting the displacement of the target based on the movement of the pattern of the target formed on an image sensor, the displacement of the target being detected in a plane parallel to the target. A first image sensor; a second image sensor that detects the displacement of the target from a direction that forms a predetermined angle with the perpendicular of the plane; a displacement of the plane of the target from displacement outputs of the two image sensors; An optical displacement measuring device comprising: a processing circuit for calculating a displacement in a vertical direction.
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