JPH0666738A - Exafs measuring instrument - Google Patents

Exafs measuring instrument

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Publication number
JPH0666738A
JPH0666738A JP4244249A JP24424992A JPH0666738A JP H0666738 A JPH0666738 A JP H0666738A JP 4244249 A JP4244249 A JP 4244249A JP 24424992 A JP24424992 A JP 24424992A JP H0666738 A JPH0666738 A JP H0666738A
Authority
JP
Japan
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sample
ray
exafs
monochromator
rays
Prior art date
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Application number
JP4244249A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
敦徳 ▲禧▼久
Atsunori Kiku
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rigaku Denki Co Ltd
Rigaku Corp
Original Assignee
Rigaku Denki Co Ltd
Rigaku Corp
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Publication date
Application filed by Rigaku Denki Co Ltd, Rigaku Corp filed Critical Rigaku Denki Co Ltd
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Publication of JPH0666738A publication Critical patent/JPH0666738A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To obtain an extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) measuring instrument which can use liquid samples as objects to be measured. CONSTITUTION:The instrument is constituted in such a way that X-rays of different energy are taken out by changing the incident angle theta of X rays R1 made incident to a monochromator 10 from an X-ray source F while the source F, monochromator 10, and a light receiving slit 17 are always positioned on a Rowland circle L1 and the X rays are projected upon a sample 27. The circle L1 is set so that the circuit L1 can be included in a vertical plane and the sample 27 is supported by means of a cylindrical sample holder 53. In addition, the holder 53 is maintained so that the holder 53 can be parallel-displaced by means of a horizontal sample holding mechanism 62 without being tilted.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、いわゆるEXAFSを
測定することによって試料の構造解析等を行うEXAF
S測定装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to EXAF for performing structural analysis of a sample by measuring so-called EXAFS.
It relates to an S measuring device.

【0002】[0002]

【従来の技術】EXAFSとは、広域X線吸収微細構造
(Extended X−rayAbsorption
Fine Structure)のことであり、結晶
試料や非晶質試料の組成原子のX線吸収端よりエネルギ
の高い方に向かって1KeV程度の範囲にわたって見ら
れる吸収微細構造のことである。このEXAFSの図形
パターンを観察することにより、試料を構成する原子に
関する情報が得られる。このEXAFSを測定するに
は、試料を透過するX線のエネルギ、すなわちX線の波
長を変化させながら、試料を透過する前のX線強度と透
過した後のX線強度との比を、個々のエネルギ値につい
て求めることになる。
2. Description of the Related Art EXAFS is an extended X-ray absorption fine structure (extended X-ray absorption fine structure).
Fine Structure), which is an absorption fine structure seen over a range of about 1 KeV from the X-ray absorption edge of a composition atom of a crystal sample or an amorphous sample toward the higher energy side. By observing the graphic pattern of this EXAFS, information on the atoms constituting the sample can be obtained. To measure this EXAFS, while changing the energy of X-rays transmitted through the sample, that is, the wavelength of X-rays, the ratio of the X-ray intensity before passing through the sample to the X-ray intensity after passing through the sample is The energy value of is calculated.

【0003】EXAFS測定装置として、従来、図4に
示す構造のものが知られている。この装置は、大きく分
けて、第1分光機構101及び第2分光機構102によ
って構成されている。第1分光機構101は、ベース1
05上に固定設置されて前後方向に延びる第1ガイドレ
ール106にガイドされて前後方向へ移動可能な第1走
行体107と、ベース105上に固定設置されて図の左
右方向に延びる第2ガイドレール108にガイドされて
図の左右方向へ移動可能な第2走行体109とを有して
いる。第1走行体107と第2走行体109とは、それ
ぞれの走行体に回転自在に接続された長さの長い第1リ
ンク103によって連結されている。第1リンク103
の左端上には第1結晶モノクロメータ110が第1リン
ク103と一体に設けられており、その第1結晶モノク
ロメータ110のX線回折面は、第1走行体107上に
おける第1リンク103の回転軸線Y1上に一致してい
る。
An EXAFS measuring device having a structure shown in FIG. 4 is conventionally known. This apparatus is roughly divided into a first spectroscopic mechanism 101 and a second spectroscopic mechanism 102. The first spectroscopic mechanism 101 is a base 1
A first traveling body 107 that is fixedly installed on 05 and movable in the front-rear direction by being guided by a first guide rail 106 that extends in the front-rear direction, and a second guide that is fixedly installed on the base 105 and extends in the left-right direction in the drawing. It has a second traveling body 109 which is guided by the rail 108 and is movable in the left-right direction in the drawing. The first traveling body 107 and the second traveling body 109 are connected by a long first link 103 that is rotatably connected to each traveling body. First link 103
The first crystal monochromator 110 is provided integrally with the first link 103 on the left end of the first crystal monochromator 110, and the X-ray diffraction surface of the first crystal monochromator 110 is on the first traveling body 107. It coincides with the rotation axis Y1.

【0004】第1結晶モノクロメータ110から右方へ
延びるガイドロッド111上に、第3走行体112がそ
のガイドロッド111に対して滑り移動自在に設けられ
ている。この第3走行体112は、一端がその第3走行
体112に回転自在に接続された第2リンク104を介
して、第1リンク103に接続されている。第1リンク
103と第2リンク104とは互いに自由に回転できる
ように接続されている。第3走行体112の上に第1受
光スリット117が設けられている。
On a guide rod 111 extending rightward from the first crystal monochromator 110, a third traveling body 112 is slidably movable with respect to the guide rod 111. The third traveling body 112 is connected to the first link 103 via a second link 104 whose one end is rotatably connected to the third traveling body 112. The first link 103 and the second link 104 are connected to each other so that they can rotate freely. The first light receiving slit 117 is provided on the third traveling body 112.

【0005】第1走行体107は、パルスモータ113
によって回転駆動される棒状の送りネジ114にネジ嵌
合しており、その送りネジ114がパルスモータ113
によって駆動されて回転するときに、第1ガイドレール
106に沿って平行移動する。第3走行体112は、パ
ルスモータ115によって回転駆動される棒状の送りネ
ジ116にネジ嵌合しており、その送りネジ116がパ
ルスモータ115によって駆動されて回転するときに、
ガイドロッド111に沿って平行移動する。
The first traveling body 107 is a pulse motor 113.
It is screwed into a rod-shaped feed screw 114 that is driven to rotate by the pulse motor 113.
When driven and rotated by, it translates along the first guide rail 106. The third traveling body 112 is screw-fitted to a rod-shaped feed screw 116 that is rotationally driven by the pulse motor 115, and when the feed screw 116 is driven by the pulse motor 115 to rotate,
It translates along the guide rod 111.

【0006】以上が、第1分光機構101の構造であ
る。この第1分光機構101は、X線源F、第1結晶モ
ノクロメータ110及び第1受光スリット117を常に
ローランド円L1上に位置させるように作用する。
The above is the structure of the first spectroscopic mechanism 101. The first spectroscopic mechanism 101 operates so that the X-ray source F, the first crystal monochromator 110, and the first light receiving slit 117 are always positioned on the Rowland circle L1.

【0007】第2分光機構102は、ガイドロッド11
1上に滑り移動自在に設けられた第4走行体118と、
測定台119と、3つのリンク120a,120b,1
20cと、パルスモータ121によって回転駆動されて
第4走行体118を平行移動させる送りネジ122と、
そしてパルスモータ123によって回転駆動されて測定
台119を平行移動させる送りネジ124とを有してい
る。第4走行体118の上にリンク120bと一体に第
2結晶モノクロメータ130が設けられている。また、
測定台119の上に、第2受光スリット125、イオン
チャンバ126、測定対象である試料127及びX線カ
ウンタ128がそれぞれ固定配置されている。
The second spectroscopic mechanism 102 includes a guide rod 11
A first traveling body 118 slidably provided on the first traveling body 118;
Measuring stand 119 and three links 120a, 120b, 1
20c, and a feed screw 122 that is rotationally driven by the pulse motor 121 to move the fourth traveling body 118 in parallel.
Further, it has a feed screw 124 which is rotationally driven by the pulse motor 123 to move the measuring table 119 in parallel. A second crystal monochromator 130 is provided on the fourth traveling body 118 integrally with the link 120b. Also,
The second light receiving slit 125, the ion chamber 126, the sample 127 to be measured, and the X-ray counter 128 are fixedly arranged on the measurement table 119.

【0008】上記の構成より成る第2分光機構102
は、第1受光スリット117、第2結晶モノクロメータ
130及び第2受光スリット125を常にローランド円
L2上に位置させるように作用する。
The second spectroscopic mechanism 102 having the above structure.
Serves to always position the first light receiving slit 117, the second crystal monochromator 130, and the second light receiving slit 125 on the Rowland circle L2.

【0009】以上の構成より成るEXAFS測定装置に
おいては、EXAFS測定が次のようにして行われる。
すなわち、X線源Fから出たX線が発散スリット129
によって発散角を制限された状態で第1結晶モノクロメ
ータ110に入射し、特定波長のX線がその第1結晶モ
ノクロメータ110で回折する。回折したX線は第1受
光スリット117に集光してそのスリットを通過し、そ
の後第2結晶モノクロメータ130に入射して、再び特
定波長のX線が回折する。
In the EXAFS measuring device having the above structure, the EXAFS measurement is performed as follows.
That is, the X-rays emitted from the X-ray source F are divergent slits 129.
Is incident on the first crystal monochromator 110 with the divergence angle being restricted, and the X-ray of a specific wavelength is diffracted by the first crystal monochromator 110. The diffracted X-rays are focused on the first light receiving slit 117, pass through the slit, and then enter the second crystal monochromator 130, whereupon X-rays of a specific wavelength are diffracted again.

【0010】こうして回折した特定波長のX線、すなわ
ち特定のエネルギを有するX線は第2受光スリット12
5に集光し、さらにイオンチャンバ126及び試料12
7を透過した後、X線カウンタ128に取り込まれる。
イオンチャンバ126で試料透過前のX線強度I0 が測
定され、X線カウンタ128で試料透過後のX線強度I
が測定される。最終的には強度比I0 /Iが算出され、
その算出結果に基づいて周知のEXAFS図形が求めら
れる。
The X-rays of the specific wavelength diffracted in this way, that is, the X-rays having the specific energy, are emitted from the second light receiving slit 12.
5 to the ion chamber 126 and the sample 12
After passing through 7, it is captured by the X-ray counter 128.
The X-ray intensity I 0 before the sample is transmitted is measured by the ion chamber 126, and the X-ray intensity I after the sample is transmitted by the X-ray counter 128.
Is measured. Finally, the intensity ratio I 0 / I is calculated,
A known EXAFS figure is obtained based on the calculation result.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】上記従来のEXAFS
測定装置においては、ベース105が常に水平に設置さ
れており、これを垂直に立てることは非常に困難であっ
た。その理由は、第3走行体112、パルスモータ11
5等が載置された長い支持板P1の底面及び第4走行体
118、パルスモータ123等が載置された長い支持板
P2の底面に、いわゆるエアーパッドを付設しなければ
ならなかったからである。このエアーパッドというの
は、ベース105に向けてエアーを吹き付けることによ
り、支持板P1及びP2をベース105からわずかに浮
かした状態にし、これらの支持板がベース105上で円
滑にスライドできるようにしたものである。このように
従来のEXAFS測定装置はローランド円L1及びL2
を水平に設定せざるを得なかったので、測定対象となり
得る試料127は、固体のものに限られ、液体試料を測
定対象とすることができなかった。
DISCLOSURE OF THE INVENTION Problems to be Solved by the Invention
In the measuring device, the base 105 is always installed horizontally, and it was very difficult to stand it vertically. The reason is that the third traveling body 112 and the pulse motor 11
This is because so-called air pads had to be attached to the bottom surface of the long support plate P1 on which the 5 and the like are mounted and the bottom surface of the long support plate P2 on which the fourth traveling body 118, the pulse motor 123 and the like are mounted. . This air pad means that the support plates P1 and P2 are slightly floated from the base 105 by blowing air toward the base 105 so that these support plates can slide smoothly on the base 105. It is a thing. As described above, the conventional EXAFS measuring device is used in the Roland circles L1 and L2.
Since the sample 127 had to be set horizontally, the sample 127 that could be the measurement target was limited to a solid sample, and the liquid sample could not be the measurement target.

【0012】本発明は、その問題点を解消するためにな
されたものであって、液体試料を測定対象とすることの
できるEXAFS測定装置を提供することを目的とす
る。
The present invention has been made to solve the problem, and an object of the present invention is to provide an EXAFS measuring apparatus capable of measuring a liquid sample.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明に係るEXAFS測定装置は、X線源、モノ
クロメータ及び受光スリットを常にローランド円上に位
置させながらX線源から出てモノクロメータに入射する
X線の入射角度を変化させて異なるエネルギのX線を取
り出し、そのX線を試料に照射するようにしたEXAF
S測定装置であって、上記ローランド円は垂直面内に含
まれるように設定されており、そして、試料を支持する
試料ホルダと、その試料ホルダを傾動することなく垂直
面内で平行移動可能に保持する試料水平保持手段とを設
けたことを特徴としている。
In order to achieve the above-mentioned object, an EXAFS measuring apparatus according to the present invention is arranged so that an X-ray source, a monochromator and a light-receiving slit are always positioned on a Rowland circle and are emitted from the X-ray source. EXAF in which X-rays of different energies are extracted by changing the incident angle of the X-rays incident on the monochromator and the X-rays are irradiated to the sample
In the S measuring apparatus, the Roland circle is set to be included in a vertical plane, and the sample holder supporting the sample and the sample holder can be moved in parallel in the vertical plane without tilting. A sample horizontal holding means for holding the sample is provided.

【0014】[0014]

【作用】ローランド円が垂直面内に設けられるので、X
線は上下方向から試料に入射する。そのため、試料が液
体であっても支障なくX線をその試料に照射できる。ま
た、EXAFS測定装置を構成するX線光学系が所定の
走査移動をする場合でも、試料水平保持手段の働きによ
り、試料ホルダを常に水平の状態に維持でき、従って、
液体試料の液面が乱れて測定精度が低下したり、液体試
料がこぼれ落ちる等といった不都合がなくなる。
[Operation] Since the Roland circle is provided in the vertical plane, X
The line is incident on the sample from above and below. Therefore, even if the sample is a liquid, the sample can be irradiated with X-rays without any trouble. Further, even when the X-ray optical system constituting the EXAFS measuring device makes a predetermined scanning movement, the sample horizontal holding means allows the sample holder to be always kept in a horizontal state.
There is no inconvenience that the liquid surface of the liquid sample is disturbed and the measurement accuracy is lowered, or the liquid sample is spilled.

【0015】[0015]

【実施例】図1は、本発明に係るEXAFS測定装置の
一実施例を示している。このEXAFS測定装置は、大
きく分けて第1分光機構1及び第2分光機構2の2つの
分光機構を備えている。
FIG. 1 shows an embodiment of the EXAFS measuring apparatus according to the present invention. This EXAFS measurement device is roughly provided with two spectroscopic mechanisms, a first spectroscopic mechanism 1 and a second spectroscopic mechanism 2.

【0016】第1分光機構1は、垂直に立てられたベー
ス5に固定されていて位置不動である第1回転軸線X1
を中心として回転可能な第1回転リンク3と、第1回転
リンク3から上方へ離れた位置にあって同じくベース5
に固定されていて位置不動である第2回転軸線X2を中
心として回転可能である第2回転リンク4と、それら2
つのリンク3,4を互いに連結する平行移動リンク20
と、平行移動リンク20を駆動するための平行リンク駆
動装置11とを有している。第1回転軸線X1及び第2
回転軸線X2は、いずれも紙面垂直方向、すなわち水平
方向に延びている。
The first spectroscopic mechanism 1 is fixed to a vertically standing base 5 and its position is immovable. A first rotation axis X1.
The first rotary link 3 rotatable around the center of the first rotary link 3 and the base 5 located at a position separated upward from the first rotary link 3
A second rotation link 4 which is fixed to the second rotation axis X2 and is rotatable about a second rotation axis X2 which does not move.
A parallel movement link 20 that connects the three links 3 and 4 to each other.
And a parallel link drive device 11 for driving the parallel movement link 20. First rotation axis X1 and second
Each of the rotation axis lines X2 extends in the direction perpendicular to the paper surface, that is, in the horizontal direction.

【0017】平行リンク駆動装置11は、パルスモータ
15と、そのパルスモータ15によって回転駆動される
棒状の送りネジ14と、その送りネジ14にネジ嵌合す
る走行体7と、その走行体7がガタツキを生じることな
く図の上下方向へ滑らかに移動するように案内する2本
のガイドロッド6と、そして走行体7の上に載置されて
いて走行体7に対して図の左右方向(Y方向)へ自由に
移動できる支持片12とによって構成されている。平行
移動リンク20はその支持片12の右端部に固着されて
いる。パルスモータ15は分光制御装置18によって制
御されながら動作する。
The parallel link drive device 11 includes a pulse motor 15, a rod-shaped feed screw 14 that is rotationally driven by the pulse motor 15, a traveling body 7 that is screw-fitted to the feed screw 14, and the traveling body 7. Two guide rods 6 that guide the user to smoothly move in the vertical direction in the figure without rattling, and on the traveling body 7 in the left-right direction (Y Direction) and a support piece 12 that can move freely. The translation link 20 is fixed to the right end of the support piece 12. The pulse motor 15 operates while being controlled by the spectroscopic control device 18.

【0018】第1回転リンク3の左端部に、ほぼ円盤形
状のウオームホイール31が設けられており、そのウオ
ームホイール31の上にX線源Fを備えたX線管32が
固着されている。ウオームホイール31は第1回転リン
ク3から独立して第1回転軸線X1を中心として回転可
能である。またX線管32は、その内部に格納されたX
線源Fが第1回転軸線X1の上に乗るようにウオームホ
イール31上に固着されている。ウオームホイール31
の左側には、そのウオームホイール31及びそれと一体
なX線源Fを回転駆動するためのX線源駆動装置33が
配設されている。X線源駆動装置33は、パルスモータ
13と、そのパルスモータ13によって回転駆動される
ウオーム16とを有している。ウオーム16は、ウオー
ムホイール31に噛み合っている。
An approximately disk-shaped worm wheel 31 is provided at the left end of the first rotary link 3, and an X-ray tube 32 having an X-ray source F is fixedly mounted on the worm wheel 31. The worm wheel 31 is rotatable independently of the first rotation link 3 about the first rotation axis X1. Further, the X-ray tube 32 has an X-ray stored inside it.
The radiation source F is fixed on the worm wheel 31 so as to ride on the first rotation axis X1. Worm wheel 31
The worm wheel 31 and an X-ray source drive device 33 for rotationally driving the X-ray source F integral with the worm wheel 31 are disposed on the left side of the. The X-ray source drive device 33 includes a pulse motor 13 and a worm 16 that is rotationally driven by the pulse motor 13. The worm 16 meshes with the worm wheel 31.

【0019】平行移動リンク20の上端部に第1結晶モ
ノクロメータ10が固定して取り付けられている。この
モノクロメータ10のX線回折面は、第2回転リンク4
と平行移動リンク20とが互いに回転自在に接続されて
いる軸線である第3回転軸線X3を含むように位置設定
されている。なお、第1結晶モノクロメータ10は第2
回転リンク4に対して自由に回転できる。
The first crystal monochromator 10 is fixedly attached to the upper end of the parallel movement link 20. The X-ray diffraction surface of the monochromator 10 is the second rotary link 4
And the parallel movement link 20 are positioned so as to include a third rotation axis X3 that is an axis that is rotatably connected to each other. The first crystal monochromator 10 is the second crystal monochromator.
It can freely rotate with respect to the rotary link 4.

【0020】第1回転リンク3と平行移動リンク20と
の間の回転軸線、すなわち第4回転軸線X4上に、図の
右方へ延びる補助リンク34がその回転軸線X4を中心
として回転可能に設けられている。補助リンク34の右
端部には図3に示すように、ベアリング35を介して走
行体9が軸線ωのまわりに自由に回転できるように取り
付けられている。この走行体9は2本のガイドロッド
8,8によって案内されることにより、ガタツキを生じ
ることなく図の左右方向、すなわち水平方向へ滑らかに
直線移動できるようになっている。
On the rotation axis between the first rotary link 3 and the parallel movement link 20, that is, the fourth rotary axis X4, an auxiliary link 34 extending rightward in the figure is provided rotatably around the rotary axis X4. Has been. As shown in FIG. 3, the traveling body 9 is attached to the right end portion of the auxiliary link 34 via a bearing 35 so as to be freely rotatable around the axis ω. By being guided by the two guide rods 8 and 8, the traveling body 9 can be smoothly linearly moved in the lateral direction of the drawing, that is, in the horizontal direction without rattling.

【0021】走行体9の上には、方形状のωテーブル3
6が軸線ωを中心として回転自在に取り付けられてい
る。図3において、ωテーブル36の左端側面にスリッ
トアーム37が固着されており、そのアームの先端に第
1受光スリット17が装着されている。図1において走
行体9の上端に、パルスモータ21及びその出力軸に固
着されたウオーム41を備えたωテーブル駆動装置38
が固定配置されている。ウオーム41は、図3に示すよ
うに、ωテーブル36に固着されたウオームホイール4
2に噛み合っている。この駆動装置38によってωテー
ブル36が軸線ωを中心として回転駆動される。パルス
モータ21は分光制御装置18によって制御されながら
動作する。
On the traveling body 9, a rectangular ω table 3 is mounted.
6 is attached rotatably around the axis ω. In FIG. 3, the slit arm 37 is fixed to the left end side surface of the ω table 36, and the first light receiving slit 17 is attached to the tip of the arm. In FIG. 1, the ω table drive device 38 having the pulse motor 21 and the worm 41 fixed to the output shaft thereof is provided on the upper end of the traveling body 9.
Is fixedly placed. As shown in FIG. 3, the worm 41 is a worm wheel 4 fixed to the ω table 36.
It meshes with 2. The drive device 38 drives the ω table 36 to rotate about the axis ω. The pulse motor 21 operates while being controlled by the spectroscopic control device 18.

【0022】次に、第2分光機構2の構成について説明
する。第2分光機構2は、ωテーブル36の上に滑り移
動自在に設けられた方形状の第1スライダ39と、その
第1スライダ39の上に設けられた円筒状のθ回転台4
0とを有している。θ回転台40はベアリング43の働
きにより、軸線φのまわりに自由に回転できるようにな
っている。図1において、第1スライダ39の右上隅部
にパルスモータ44が固定設置されている。このパルス
モータ44の出力軸に固着されたウオーム45は、図3
に示すように、θ回転台40の端部に固着されたウオー
ムホイール46に噛み合っている。パルスモータ44に
よって駆動されてウオーム45及びウオームホイール4
6が回転すると、θ回転台40が軸線φを中心として回
転する。これ以降、この回転をθ回転と呼ぶことにす
る。パルスモータ44も、分光制御装置18によってそ
の動作が制御される。θ回転台40の前面には、第2結
晶モノクロメータ30が着脱可能に取り付けられてい
る。
Next, the structure of the second spectroscopic mechanism 2 will be described. The second spectroscopic mechanism 2 includes a rectangular first slider 39 slidably mounted on the ω table 36, and a cylindrical θ rotary table 4 provided on the first slider 39.
It has 0 and. The θ rotation table 40 can freely rotate around the axis φ by the action of the bearing 43. In FIG. 1, a pulse motor 44 is fixedly installed at the upper right corner of the first slider 39. The worm 45 fixed to the output shaft of the pulse motor 44 is shown in FIG.
As shown in, the worm wheel 46 fixed to the end portion of the θ rotary table 40 meshes with it. Driven by the pulse motor 44, the worm 45 and the worm wheel 4
When 6 rotates, the θ rotation table 40 rotates about the axis φ. Hereinafter, this rotation will be referred to as θ rotation. The operation of the pulse motor 44 is also controlled by the spectroscopic control device 18. The second crystal monochromator 30 is detachably attached to the front surface of the θ-turntable 40.

【0023】図3において、横に長い形状の2θ回転台
48がベアリング47を介してθ回転台40のまわりに
設けられている。この2θ回転台48はベアリング47
の働きにより、回転台40と同様にして、しかし回転台
40から独立して軸線φのまわりで自由に回転できる。
図1において、第1スライダ39の左上隅部にパルスモ
ータを内蔵した直進微動機構49が固定して取り付けら
れている。この機構49は、いわゆるマイクロメータに
用いられる機構と同様の機構を有しており、内蔵するパ
ルスモータの回転により出力プローブ49aが直線的に
進退移動する。このプローブ49aの先端は2θ回転台
48の左側先端部の側面に接続されており、従って、プ
ローブ49aの進退移動により、2θ回転台48は軸線
φを中心として回転する。これ以降、この回転を2θ回
転と呼ぶことにする。
In FIG. 3, a horizontally elongated 2θ rotary table 48 is provided around the θ rotary table 40 via a bearing 47. This 2θ turntable 48 is a bearing 47
By virtue of the function of, it is possible to freely rotate around the axis φ in the same manner as the turntable 40, but independently of the turntable 40.
In FIG. 1, a linear movement mechanism 49 having a pulse motor built therein is fixedly attached to the upper left corner of the first slider 39. The mechanism 49 has a mechanism similar to a mechanism used for a so-called micrometer, and the output probe 49a linearly moves forward and backward by the rotation of a built-in pulse motor. The tip of the probe 49a is connected to the side surface of the left-hand tip of the 2θ rotary table 48. Therefore, the 2θ rotary table 48 rotates about the axis φ as the probe 49a moves back and forth. Hereinafter, this rotation will be referred to as 2θ rotation.

【0024】図3において、2θ回転台48の中央から
右側部分に、概ね長方形状である第2スライダ50が取
り付けられている。このスライダ50は2θ回転台48
に接触した状態で、θ回転及び2θ回転の中心である軸
線φに近づき又は遠ざかる方向、すなわち図3の左右方
向へ滑らかに滑り移動する。第2スライダ50の前面に
は、第2結晶モノクロメータ30に近い方向から順に、
スリット台52、円筒状の試料ホルダ53、そして検出
器アーム54が設けられている。スリット台52及び検
出器アーム54はいずれも第2スライダ50に不動に固
定されており、一方、試料ホルダ53はベアリング55
に支持されることにより、軸線ψのまわりに自由に回転
できるようになっている。スリット台52の前面には、
第2受光スリット25及びイオンチャンバ26が固定配
置されている。試料ホルダ53の内部にはトレイ56が
設けられており、そのトレイ内に試料、特に液体試料2
7が収容されている。検出器アーム54の前面には、X
線カウンタ28が固定して取り付けられている。
In FIG. 3, a second slider 50 having a substantially rectangular shape is attached to the right side portion from the center of the 2θ rotary table 48. This slider 50 is a 2θ rotary table 48
In the state of being in contact with, the object smoothly slides in a direction toward or away from the axis φ that is the center of the θ rotation and the 2θ rotation, that is, the horizontal direction in FIG. On the front surface of the second slider 50, in order from the direction closer to the second crystal monochromator 30,
A slit base 52, a cylindrical sample holder 53, and a detector arm 54 are provided. The slit base 52 and the detector arm 54 are both fixedly fixed to the second slider 50, while the sample holder 53 has a bearing 55.
By being supported by, it is possible to freely rotate around the axis ψ. On the front of the slit base 52,
The second light receiving slit 25 and the ion chamber 26 are fixedly arranged. A tray 56 is provided inside the sample holder 53, and a sample, especially the liquid sample 2 is placed in the tray 56.
7 are accommodated. The front of the detector arm 54 has an X
A line counter 28 is fixedly attached.

【0025】図1において、ωテーブル36の前面の左
下位置に、パルスモータ23によって回転駆動される送
りネジ22が設けられている。そして、ωテーブル36
と面接触する第1スライダ39の側面から突出するブラ
ケット57がその送りネジ22に噛み合っている。送り
ネジ22が回転すると、ブラケット57と一体である第
1スライダ39が、第1結晶モノクロメータ10の中心
と第1受光スリット17の中心とを結ぶ直線に対して平
行に往復直線移動する。また、2θ回転台48の側面
に、パルスモータ58によって回転駆動される送りネジ
24が取り付けられている。そして、2θ回転台48と
面接触する第2スライダ50の側面から突出するブラケ
ット59がその送りネジ24に噛み合っている。送りネ
ジ24が回転すると、ブラケット59と一体である第2
スライダ50が回転中心軸線φに近づき又は遠ざかるよ
うに平行移動する。パルスモータ23及び58は、分光
制御装置18によってその動作が制御される。
In FIG. 1, a feed screw 22 which is rotationally driven by a pulse motor 23 is provided at the lower left position on the front surface of the ω table 36. And the ω table 36
A bracket 57 protruding from the side surface of the first slider 39 that comes into surface contact with the feed screw 22 is engaged with the bracket 57. When the feed screw 22 rotates, the first slider 39, which is integral with the bracket 57, reciprocates linearly in parallel with a straight line connecting the center of the first crystal monochromator 10 and the center of the first light receiving slit 17. Further, the feed screw 24, which is rotationally driven by the pulse motor 58, is attached to the side surface of the 2θ rotary table 48. A bracket 59 protruding from the side surface of the second slider 50, which is in surface contact with the 2θ rotary base 48, meshes with the feed screw 24. When the lead screw 24 rotates, the second screw that is integral with the bracket 59
The slider 50 moves in parallel so as to approach or move away from the rotation center axis φ. The operation of the pulse motors 23 and 58 is controlled by the spectroscopic control device 18.

【0026】上記の構成より成るEXAFS測定装置に
より、以下のようにして、2結晶法によるEXAFS測
定が行われる。
With the EXAFS measuring device having the above-described structure, EXAFS measurement by the two-crystal method is performed as follows.

【0027】X線源Fから出たX線R1は第1結晶モノ
クロメータ10に入射し、そのときの入射角θに応じた
波長のX線がそのモノクロメータ10で回折する。この
回折X線R2は第1受光スリット17に集光し、そして
第2結晶モノクロメータ30に入射して特定波長のX線
が回折する。回折した特定波長のX線は第2受光スリッ
ト25に集光した後、さらにイオンチャンバ26及び試
料ホルダ53内の液体試料27を透過した後にX線カウ
ンタ28に取り込まれる。このとき、イオンチャンバ2
6は、試料27を透過する前のX線の強度I0 を測定
し、そのI0 は演算装置60に送られる。X線カウンタ
28は試料27を透過したX線の強度Iを測定し、その
Iも演算装置60に送られる。演算装置60は、両X線
強度の比I0 /Iを演算し、その結果を内蔵するメモリ
内に記憶する。
The X-ray R1 emitted from the X-ray source F is incident on the first crystal monochromator 10, and the X-ray having a wavelength corresponding to the incident angle θ at that time is diffracted by the monochromator 10. The diffracted X-ray R2 is focused on the first light-receiving slit 17, and then enters the second crystal monochromator 30 to diffract the X-ray having a specific wavelength. The diffracted X-ray having a specific wavelength is collected by the second light receiving slit 25, further transmitted through the ion chamber 26 and the liquid sample 27 in the sample holder 53, and then captured by the X-ray counter 28. At this time, the ion chamber 2
6 measures the intensity I0 of the X-ray before passing through the sample 27, and the I0 is sent to the arithmetic unit 60. The X-ray counter 28 measures the intensity I of the X-ray transmitted through the sample 27, and the I is also sent to the arithmetic unit 60. The arithmetic unit 60 calculates the ratio I0 / I of the two X-ray intensities and stores the result in a built-in memory.

【0028】上記1回の測定が終わると、平行リンク駆
動装置11内のパルスモータ15が動作して走行体7が
上下方向、例えば下方向へ所定の短い距離だけ移動し、
それにともなって平行移動リンク20も上下方向へ移動
する。このとき平行移動リンク20は、第1回転リンク
3及び第2回転リンク4の働きにより、上下方向を向い
た状態のまま平行移動し、さらに走行体7の上を滑動す
る支持片12の働きにより左右方向(Y方向)へも移動
する。
When the above-mentioned one measurement is completed, the pulse motor 15 in the parallel link drive device 11 operates to move the traveling body 7 in the vertical direction, for example, in the downward direction by a predetermined short distance,
Along with that, the parallel movement link 20 also moves in the vertical direction. At this time, the parallel movement link 20 is translated by the action of the first rotary link 3 and the second rotary link 4 while being oriented in the up-down direction, and further by the action of the support piece 12 sliding on the traveling body 7. It also moves in the left-right direction (Y direction).

【0029】第1結晶モノクロメータ10が上記のよう
に上下及び左右の各方向へ平行移動する際、補助リンク
34を介して平行移動リンク20に接続された走行体9
がガイドロッド8,8に案内されながら左右方向へ平行
移動する。このように、第1結晶モノクロメータ10及
び走行体9が第1回転リンク3、平行移動リンク20及
び補助リンク34によって拘束されながら移動すること
により、X線源F、第1結晶モノクロメータ10及び第
1受光スリット17の各光学要素は常にローランド円L
1に乗る位置関係を維持する。なお、ベース5を垂直に
立てたことにより、ローランド円L1は垂直面内に含ま
れる状態にある。
When the first crystal monochromator 10 moves in parallel in the vertical and horizontal directions as described above, the traveling body 9 connected to the parallel movement link 20 via the auxiliary link 34.
Is translated by the guide rods 8 in the left-right direction. In this way, the first crystal monochromator 10 and the traveling body 9 move while being constrained by the first rotary link 3, the parallel movement link 20, and the auxiliary link 34, so that the X-ray source F, the first crystal monochromator 10, and Each optical element of the first light receiving slit 17 is always a Roland circle L.
The positional relationship of riding 1 is maintained. The Rowland circle L1 is included in the vertical plane because the base 5 is set upright.

【0030】第1結晶モノクロメータ10及び第1受光
スリット17が上記のような位置関係で移動する際、ウ
オームホイール31がX線源駆動装置33内のパルスモ
ータ13によって駆動されて適宜の角度回転し、同時に
ωテーブル36がωテーブル駆動装置38内のパルスモ
ータ21によって駆動されて適宜の角度回転する。ウオ
ームホイール31の回転により第1結晶モノクロメータ
10に対するX線源Fの角度が変化し、一方、ωテーブ
ル36の回転により第1結晶モノクロメータ10に対す
る第1受光スリット17の角度が変化する。これらX線
源F及び第1受光スリット17の角度変化により、第1
結晶モノクロメータ10及び第1受光スリット17がロ
ーランド円L1を維持しながら移動するときに、X線源
F、第1結晶モノクロメータ10そして第1受光スリッ
ト17の各光軸が常に一致するように制御される。
When the first crystal monochromator 10 and the first light receiving slit 17 are moved in the above-mentioned positional relationship, the worm wheel 31 is driven by the pulse motor 13 in the X-ray source driving device 33 to rotate an appropriate angle. At the same time, the ω table 36 is driven by the pulse motor 21 in the ω table drive device 38 to rotate by an appropriate angle. The rotation of the worm wheel 31 changes the angle of the X-ray source F with respect to the first crystal monochromator 10, while the rotation of the ω table 36 changes the angle of the first light receiving slit 17 with respect to the first crystal monochromator 10. By changing the angles of the X-ray source F and the first light receiving slit 17, the first
When the crystal monochromator 10 and the first light receiving slit 17 move while maintaining the Rowland circle L1, the optical axes of the X-ray source F, the first crystal monochromator 10 and the first light receiving slit 17 are always aligned with each other. Controlled.

【0031】第1分光機構1において第1結晶モノクロ
メータ10に対するX線の入射角度θが変化するのと同
時に、第2分光機構2において、第1結晶モノクロメー
タ10で回折して第2結晶モノクロメータ30に入射す
るX線の入射角度も変化される。その変化を実現するた
めには、θ回転用パルスモータ44を動作させて第2結
晶モノクロメータ30を支持しているθ回転台40を適
宜の角度回転させ、それと同時に、2θ回転用直進微動
機構49を動作させて試料27及びX線カウンタ28を
支持している2θ回転台48をθ回転の2倍の速度で同
じ方向へ回転させる。こうして、第1分光機構1内にお
いて回折X線の波長が変化され、さらに第2分光機構2
内において回折X線の波長が変化され、その波長変化し
た、すなわちエネルギ変化した状態のX線が液体試料2
7に照射されてX線強度比I0 /Iが求められる。
At the same time that the incident angle θ of X-rays on the first crystal monochromator 10 changes in the first spectroscopic mechanism 1, at the same time, in the second spectroscopic mechanism 2, the first crystal monochromator 10 diffracts the light to obtain the second crystal monochromator. The incident angle of the X-rays incident on the meter 30 is also changed. In order to realize the change, the θ rotation pulse motor 44 is operated to rotate the θ rotation base 40 supporting the second crystal monochromator 30 by an appropriate angle, and at the same time, the 2θ rotation linear movement fine movement mechanism. The 2θ rotary table 48 supporting the sample 27 and the X-ray counter 28 is rotated in the same direction at a speed twice the θ rotation by operating 49. Thus, the wavelength of the diffracted X-ray is changed in the first spectroscopic mechanism 1, and the second spectroscopic mechanism 2 is further changed.
The wavelength of the diffracted X-ray is changed within the liquid sample, and the X-ray having the changed wavelength, that is, the energy is changed, is the liquid sample 2.
7 and the X-ray intensity ratio I 0 / I is determined.

【0032】そしてこれ以降、第1結晶モノクロメータ
10が順次適宜の距離づつ移動され、さらに第2結晶モ
ノクロメータ30が順次適宜の角度づつθ回転されるこ
とによって、エネルギ値の異なった種々のX線について
X線強度比I0 /Iが求められる。このようにして求め
られたX線強度比I0 /IをX線エネルギごとにグラフ
上にプロットすると周知のEXAFS図形が得られ、こ
のEXAFS図形の図形パターンをCRTディスプレ
イ、機械式プロッタ、その他の表示装置61を用いて観
察することにより、液体試料27を構成する原子の構造
等を推測することができる。
After that, the first crystal monochromator 10 is sequentially moved by an appropriate distance, and the second crystal monochromator 30 is sequentially rotated by an appropriate angle by θ, so that various X values having different energy values can be obtained. The X-ray intensity ratio I0 / I is determined for the line. When the X-ray intensity ratio I0 / I thus obtained is plotted on a graph for each X-ray energy, a well-known EXAFS figure is obtained. The figure pattern of this EXAFS figure is displayed on a CRT display, a mechanical plotter, or another display. By observing using the device 61, it is possible to infer the structure and the like of the atoms constituting the liquid sample 27.

【0033】なお、第2結晶モノクロメータ30をθ回
転させて回折X線R2の入射角度を変化させた場合に
は、それに対応させて、第1受光スリット17−第2結
晶モノクロメータ30間の距離及び第2結晶モノクロメ
ータ30−第2受光スリット25間の距離をその入射角
度に適合するように変化させる必要がある。これらの各
距離変化は、パルスモータ23によって送りネジ22を
回転させて第1スライダ39を移動し、さらにパルスモ
ータ58によって送りネジ24を回転させて第2スライ
ダ50を移動することによって実行される。どの程度の
大きさだけ距離変化させるかは、分光制御装置18内の
データテーブルに予め記憶されているデータ値によって
決定される。
When the incident angle of the diffracted X-ray R2 is changed by rotating the second crystal monochromator 30 by θ, correspondingly, the distance between the first light receiving slit 17 and the second crystal monochromator 30 is changed. It is necessary to change the distance and the distance between the second crystal monochromator 30 and the second light receiving slit 25 so as to match the incident angle. These respective distance changes are executed by rotating the feed screw 22 by the pulse motor 23 to move the first slider 39, and further rotating the feed screw 24 by the pulse motor 58 to move the second slider 50. . How much the distance is changed is determined by the data value stored in advance in the data table in the spectroscopic control device 18.

【0034】ところで、本実施例において測定対象とな
っている試料27は液体である。このような液体試料2
7についてEXAFS測定をすることを可能にしている
のは、ベース5を垂直方向に設置することにより装置全
体を縦型形式に、すなわちローランド円L1が垂直面内
に含まれるように設定しているからである。しかしなが
ら、ここで1つの問題が発生する。それは、2θ回転台
48が軸線φを中心として2θ回転する際、試料ホルダ
53が2θ回転台48と一体になって回転すると、試料
収納用のトレイ56もそれと一体に回転し、その結果、
収容している液体試料27の液面が乱れたり、外部へ流
れ出るおそれがあるということである。このような不都
合を回避するため本実施例では、図1においてベース5
の右下位置に、試料の水平を保持するための水平保持機
構62を設けてある。
The sample 27 to be measured in this embodiment is a liquid. Such a liquid sample 2
It is possible to perform EXAFS measurement for No. 7 by setting the base 5 in the vertical direction so that the entire apparatus is in the vertical type, that is, the Rowland circle L1 is included in the vertical plane. Because. However, one problem arises here. That is, when the sample holder 53 rotates integrally with the 2θ rotary table 48 when the 2θ rotary table 48 rotates 2θ about the axis φ, the sample storage tray 56 also rotates integrally therewith, and as a result,
This means that the liquid surface of the contained liquid sample 27 may be disturbed or flow out to the outside. In order to avoid such an inconvenience, in this embodiment, the base 5 in FIG.
A horizontal holding mechanism 62 for holding the sample horizontal is provided at the lower right position of the.

【0035】この水平保持機構62は、図2及び図3を
参照すれば明らかなように、ベース5の前面に水平方向
に架設した丸棒状の水平ガイド63と、その水平ガイド
63上を滑り移動する直方体形状の走行ブロック64
と、そして走行ブロック64を上下方向に貫通して延び
る丸棒状の垂直ガイド65とによって構成されている。
垂直ガイド65は、図3からわかるように、試料ホルダ
53の端面から延びる回転軸に固着した立方体形状のブ
ロック66に固着されている。以上の構成から成る水平
保持機構62の働きにより、2θ回転台48がどのよう
な位置へ移動する場合でも、試料ホルダ53は常に一定
の水平状態を維持し、その結果、内部に収容された液体
試料27も液面が乱れること無く、さらにトレイ56か
らこぼれることなく、常に水平の静止状態に維持され
る。
As is apparent from FIGS. 2 and 3, the horizontal holding mechanism 62 has a round bar-shaped horizontal guide 63 horizontally installed on the front surface of the base 5, and slides on the horizontal guide 63. Rectangular parallelepiped traveling block 64
And a round bar-shaped vertical guide 65 extending vertically through the traveling block 64.
As can be seen from FIG. 3, the vertical guide 65 is fixed to a cubic block 66 that is fixed to a rotation shaft extending from the end surface of the sample holder 53. Due to the function of the horizontal holding mechanism 62 having the above configuration, the sample holder 53 always maintains a constant horizontal state regardless of the position of the 2θ rotary table 48, and as a result, the liquid contained in the sample holder 53 is maintained. The liquid level of the sample 27 is not disturbed, and the sample 27 is not spilled from the tray 56 and is always maintained in a horizontal stationary state.

【0036】以上が2結晶法によるEXAFS測定時の
動作である。本実施例は、その2結晶法以外に1結晶法
によるEXAFS測定を行うこともできる。装置の設定
を2結晶法用から1結晶法用に変更するにあたっては、
以下の操作を実行する。
The above is the operation at the time of EXAFS measurement by the two-crystal method. In the present example, EXAFS measurement can be performed by the 1-crystal method in addition to the 2-crystal method. When changing the setting of the device from the two-crystal method to the one-crystal method,
Perform the following operations.

【0037】まず図1において、第2結晶モノクロメー
タ30をθ回転台40から取り外し、さらに第2受光ス
リット25をスリット台52から取り外す。そして、2
θ回転台48の2θ角度を0゜に固定する。2θ角度が
0゜というのは、図2に示すようにイオンチャンバ26
からX線カウンタ28に至るX線光軸が、第1結晶モノ
クロメータ10の中心と第1受光スリット17とを結ぶ
X線光軸と一致する角度位置のことである。
First, in FIG. 1, the second crystal monochromator 30 is removed from the θ rotary table 40, and the second light receiving slit 25 is removed from the slit table 52. And 2
The 2θ angle of the θ rotation table 48 is fixed at 0 °. The 2θ angle of 0 ° means that the ion chamber 26
Is an angular position where the X-ray optical axis from the X-ray counter 28 to the X-ray counter 28 coincides with the X-ray optical axis connecting the center of the first crystal monochromator 10 and the first light receiving slit 17.

【0038】2θ回転台48の角度を0゜に位置決めし
た後、2つの送りネジ22及び24を回転して、第1ス
ライダ39及び第2スライダ50をいずれも第1結晶モ
ノクロメータ10のに近づく方向へスライドさせる。こ
の移動により、イオンチャンバ26及び試料27を図2
に示すように、第1受光スリット17に近づく位置、す
なわち1結晶法によるEXAFS測定を可能とする位置
に持ち運ぶ。図2に示す各構成部品の配置状態におい
て、1結晶法によるEXAFS測定が可能となる。この
1結晶法による測定は、X線源Fから出たX線R1を1
つのモノクロメータ、すなわち第1結晶モノクロメータ
10によって回折させてから試料27に照射するもので
ある。試料27に入射するX線強度I0 と試料透過後の
X線強度Iとの比I0 /Iを測定すること自体は、2結
晶法の場合と同じである。
After the 2θ rotary table 48 is positioned at an angle of 0 °, the two feed screws 22 and 24 are rotated to bring both the first slider 39 and the second slider 50 closer to the first crystal monochromator 10. Slide in the direction. By this movement, the ion chamber 26 and the sample 27 are moved to the position shown in FIG.
As shown in (1), it is carried to a position approaching the first light receiving slit 17, that is, a position where EXAFS measurement by the single crystal method is possible. In the arrangement state of each component shown in FIG. 2, EXAFS measurement by the single crystal method becomes possible. The measurement by the one-crystal method is performed by measuring 1
The sample 27 is irradiated with light after being diffracted by one monochromator, that is, the first crystal monochromator 10. Measuring the ratio I 0 / I of the X-ray intensity I 0 incident on the sample 27 and the X-ray intensity I after passing through the sample is the same as in the case of the two-crystal method.

【0039】以上、好ましい実施例をあげて本発明を説
明したが、本発明はその実施例に限定されるものではな
い。
Although the present invention has been described with reference to the preferred embodiment, the present invention is not limited to the embodiment.

【0040】上記の実施例は、1結晶法及び2結晶法の
両方を兼用できるEXAFS測定装置に本発明を適用し
た場合の実施例である。しかしながら、1結晶法専用の
EXAFS測定装置に対して本発明が適用できることは
明かである。1結晶法専用のEXAFS測定装置という
のは基本的には、図1において、第2分光機構2を用い
ることなく、第1分光機構1のみによって装置を構成し
たものである。この場合、イオンチャンバ26、試料ホ
ルダ53、X線カウンタ28等は、ωテーブル36上に
直接設置されて第1受光スリット17と一体に配置され
る。
The above embodiment is an embodiment in which the present invention is applied to an EXAFS measuring apparatus which can be used for both the 1-crystal method and the 2-crystal method. However, it is obvious that the present invention can be applied to the EXAFS measuring device dedicated to the one-crystal method. The EXAFS measuring apparatus dedicated to the 1-crystal method is basically an apparatus configured by only the first spectroscopic mechanism 1 in FIG. 1 without using the second spectroscopic mechanism 2. In this case, the ion chamber 26, the sample holder 53, the X-ray counter 28, and the like are directly installed on the ω table 36 and integrated with the first light receiving slit 17.

【0041】第1分光機構1の構造は、必要とされる次
の機能、すなわちX線源F、第1結晶モノクロメータ1
0及び第1受光スリット17を常にローランド円L1上
に位置させること並びにX線源F、第1結晶モノクロメ
ータ10、及び第1受光スリット17の各要素のX線光
軸を常に一致させることの両機能が達成される範囲内に
おいて、実施例にあげた構造以外の任意の構造を採用す
ることができる。例えば、図4に示した従来装置に用い
た第1分光機構101を採用し、その第3走行体112
の上に本発明に係る第2分光機構2を搭載することによ
ってEXAFS測定装置を構成することもできる。
The structure of the first spectroscopic mechanism 1 has the following required functions: the X-ray source F, the first crystal monochromator 1.
0 and the first light-receiving slit 17 are always located on the Rowland circle L1 and the X-ray optical axes of the X-ray source F, the first crystal monochromator 10, and the respective elements of the first light-receiving slit 17 are always aligned. Any structure other than the structures described in the embodiments can be adopted as long as both functions are achieved. For example, the first spectroscopic mechanism 101 used in the conventional apparatus shown in FIG.
An EXAFS measuring device can also be configured by mounting the second spectroscopic mechanism 2 according to the present invention on the above.

【0042】第1スライダ39及び第2スライダ50を
平行移動させるための機構は、実施例にあげた送りネジ
を用いた機構に限らず、他の任意の機構を採用できる。
The mechanism for moving the first slider 39 and the second slider 50 in parallel is not limited to the mechanism using the feed screw described in the embodiment, but any other mechanism can be adopted.

【0043】第2結晶モノクロメータ30を支持するた
めのθ回転台40をθ回転させるための手段並びにイオ
ンチャンバ26、試料27及びX線カウンタ28等を搭
載した2θ回転台48を2θ回転させるための手段も図
示の実施例に限定されない。
In order to rotate the θ rotation table 40 for supporting the second crystal monochromator 30 by θ rotation and the 2θ rotation table 48 equipped with the ion chamber 26, the sample 27, the X-ray counter 28, etc. The means is not limited to the illustrated embodiment.

【0044】図1から図3に示した実施例では、装置全
体をいわゆる縦型形式に、すなわちローランド円L1が
垂直面内に含まれる状態に配置した。この配置以外に、
いわゆる横型位置、すなわちベース5及びローランド円
L1がいずれも水平状態となる位置に配置することも、
もちろん可能である。この横型配置は固体試料を測定対
象とする場合が多いと考えられるので、多くの場合、試
料水平保持機構62が必要なくなる。
In the embodiment shown in FIGS. 1 to 3, the entire apparatus is arranged in a so-called vertical type, that is, the Rowland circle L1 is included in the vertical plane. Besides this arrangement,
The so-called horizontal position, that is, the base 5 and the Rowland circle L1 are both in a horizontal position,
Of course it is possible. Since it is considered that this horizontal arrangement targets a solid sample in many cases, the sample horizontal holding mechanism 62 is not necessary in many cases.

【0045】[0045]

【発明の効果】本発明によれば、ローランド円が垂直面
内に設けられるので、X線は上下方向から試料に入射す
る。そのため、試料が液体であっても支障なくX線をそ
の試料に照射して、EXAFS測定ができる。また、E
XAFS測定装置を構成するX線光学系が所定の走査移
動をする場合でも、試料水平保持手段の働きにより、試
料ホルダを常に水平の状態に維持でき、従って、液体試
料の液面が乱れて測定精度が低下したり、液体試料がこ
ぼれ落ちる等といった問題を解消できる。
According to the present invention, since the Rowland circle is provided in the vertical plane, X-rays are incident on the sample from above and below. Therefore, even if the sample is a liquid, EXAFS measurement can be performed by irradiating the sample with X-rays without any trouble. Also, E
Even when the X-ray optical system that constitutes the XAFS measuring device makes a predetermined scanning movement, the sample horizontal holding means allows the sample holder to be maintained in a horizontal state at all times, and therefore the liquid surface of the liquid sample is disturbed and measured. It is possible to solve problems such as deterioration of accuracy and spilling of the liquid sample.

【0046】[0046]

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係るEXAFS測定装置の一実施例を
示す正面図である。
FIG. 1 is a front view showing an embodiment of an EXAFS measuring device according to the present invention.

【図2】上記EXAFS測定装置において1結晶法によ
るEXAFS測定を行う場合の各構成部品の配置状態を
示す正面図である。
FIG. 2 is a front view showing an arrangement state of each component when performing EXAFS measurement by a one-crystal method in the EXAFS measurement device.

【図3】図1におけるIII−III線に従って第2分
光機構を詳細に示す断面図である。
3 is a cross-sectional view showing in detail a second spectroscopic mechanism according to a line III-III in FIG.

【図4】従来のEXAFS測定装置の一例を示す平面図
である。
FIG. 4 is a plan view showing an example of a conventional EXAFS measurement device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 第1結晶モノクロメータ 17 第1受光スリット 21 ω回転用パルスモータ 27 液体試料 53 試料ホルダ 56 試料トレイ 62 試料水平保持機構 63 水平ガイド 64 走行ブロック 65 垂直ガイド 66 試料ホルダブロック F X線源 L1 ローランド円 φ θ,2θ回転中心軸線 10 1st crystal monochromator 17 1st light receiving slit 21 ω rotation pulse motor 27 Liquid sample 53 Sample holder 56 Sample tray 62 Sample horizontal holding mechanism 63 Horizontal guide 64 Traveling block 65 Vertical guide 66 Sample holder block F X-ray source L1 Roland Circle φ θ, 2θ Rotation center axis

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 X線源、モノクロメータ及び受光スリッ
トを常にローランド円上に位置させながらX線源から出
てモノクロメータに入射するX線の入射角度を変化させ
て異なるエネルギのX線を取り出し、そのX線を試料に
照射するようにしたEXAFS測定装置において、 上記ローランド円は垂直面内に含まれるように設定さ
れ、そして試料を支持する試料ホルダと、 その試料ホルダを傾動することなく垂直面内で平行移動
可能に保持する試料水平保持手段とを設けたことを特徴
とするEXAFS測定装置。
1. The X-ray source, the monochromator, and the light-receiving slit are always positioned on the Rowland circle, and the incident angle of the X-ray emitted from the X-ray source and incident on the monochromator is changed to take out X-rays of different energies. In the EXAFS measuring device adapted to irradiate the sample with the X-rays, the Rowland circle is set so as to be included in a vertical plane, and the sample holder supporting the sample and the sample holder are vertically tilted without tilting. An EXAFS measuring device, comprising: a sample horizontal holding means for holding the sample so as to be movable in parallel in a plane.
【請求項2】 上記試料水平保持手段は、水平方向に延
びる水平ガイド部材と、水平ガイド部材に沿って移動す
る走行ブロックと、その走行ブロックを貫通して垂直方
向に延びておりその走行ブロックにガイドされながら垂
直方向に移動する垂直ガイド部材とを有しており、上記
試料ホルダはその垂直ガイド部材に一体に固定されるこ
とを特徴とする請求項1記載のEXAFS測定装置。
2. The sample horizontal holding means includes a horizontal guide member extending in the horizontal direction, a traveling block moving along the horizontal guide member, and a vertical block extending through the traveling block in the vertical direction. The EXAFS measurement device according to claim 1, further comprising a vertical guide member that moves in a vertical direction while being guided, and the sample holder is integrally fixed to the vertical guide member.
JP4244249A 1992-08-20 1992-08-20 Exafs measuring instrument Pending JPH0666738A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08149099A (en) * 1994-11-25 1996-06-07 Niirusen Japan Kk Commercial message in television broadcasting and program information processing system
US6456688B1 (en) 1999-08-26 2002-09-24 Rigaku Corporation X-ray spectrometer and apparatus for XAFS measurements

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