JPH06300818A - Inspecting apparatus of flexible board - Google Patents
Inspecting apparatus of flexible boardInfo
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- JPH06300818A JPH06300818A JP5113821A JP11382193A JPH06300818A JP H06300818 A JPH06300818 A JP H06300818A JP 5113821 A JP5113821 A JP 5113821A JP 11382193 A JP11382193 A JP 11382193A JP H06300818 A JPH06300818 A JP H06300818A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、フレキシブル基板検査
装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a flexible board inspection apparatus.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来のフレキシブル基板検査装置を図８
に示す。フレキシブル基板７１に電気部品を実装する時
は、フレキシブル基板７１単体では柔軟であるため、電
気部品の実装を行うことができないので取付板（図示省
略）に固定する。このとき、実装の効率を高めるため
に、複数枚のフレキシブル基板が取付板上に最も多く載
るように配置するため、同種類のフレキシブル基板が１
８０°回転して配置されている場合もある。2. Description of the Related Art A conventional flexible board inspection device is shown in FIG.
Shown in. When the electric component is mounted on the flexible substrate 71, the flexible substrate 71 alone is flexible, so that the electric component cannot be mounted. Therefore, the electric component is fixed to a mounting plate (not shown). At this time, in order to increase the mounting efficiency, a plurality of flexible boards are arranged so as to be most mounted on the mounting plate.
It may be arranged rotated by 80 °.
【０００３】取付板上で電気部品の実装を終えたフレキ
シブル基板７１は、検査時には取付板から取り外され
る。そして、作業者がフレキシブル基板７１を１枚ずつ
基板検査台７２に固定し、フレキシブル基板７１の測定
点に対応する様にピンボード７４へ配設されたプローブ
ピン７３をフレキシブル基板７１に接触させて、電気信
号を取り込んでフレキシブル基板７１の良否を判定して
いた。The flexible board 71 on which the electrical components have been mounted on the mounting plate is removed from the mounting plate during inspection. Then, the operator fixes the flexible substrates 71 one by one on the substrate inspection table 72, and brings the probe pins 73 arranged on the pin board 74 into contact with the flexible substrate 71 so as to correspond to the measurement points of the flexible substrate 71. The quality of the flexible substrate 71 is determined by taking in the electric signal.
【０００４】また、例えば実開平１−１１０３８４号公
報においては、複数のマイクロモジュールから形成され
る絶縁基板を、ＸＹ２軸ロボットを用いて移動させ、各
マイクロモジュールにプローブピンを接触させて検査を
行う装置が提案されている。Further, for example, in Japanese Utility Model Laid-Open No. 110384/1999, an insulating substrate formed of a plurality of micromodules is moved by using an XY biaxial robot, and probe pins are brought into contact with each micromodule for inspection. A device has been proposed.
【０００５】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかるに、前記従来技
術の図８で示したフレキシブル基板検査装置では、作業
者が１枚づつフレキシブル基板を装置に取り付けて検査
を行うため、効率が悪いという欠点があった。However, in the flexible board inspection apparatus shown in FIG. 8 of the prior art, the worker attaches the flexible boards to the apparatus one by one and inspects the apparatus, so that the efficiency is poor. there were.
【０００６】また、実開平１−１１０３８４号公報に記
載されている装置では、Ｘ，Ｙ方向しか基板を移動させ
ることができず、基板およびピンボードを回転させる機
構を持たないため、同種類のフレキシブル基板が取付板
上で１８０°反転して配置されている場合には対応でき
ない。また、同種類のフレキシブル基板が取付板上で同
方向に配置されている場合でも、取付板に対するフレキ
シブル基板の位置のバラツキに対応できないという欠点
があった。Further, in the apparatus described in Japanese Utility Model Laid-Open No. 1-110384, since the substrate can be moved only in the X and Y directions, and there is no mechanism for rotating the substrate and the pin board, the same kind of device is used. It is not possible to deal with the case where the flexible printed circuit board is arranged 180 ° upside down on the mounting plate. Further, even when the same type of flexible substrates are arranged in the same direction on the mounting plate, there is a drawback that it is not possible to cope with the variation in the position of the flexible substrate with respect to the mounting plate.
【０００７】因って、本発明は前記従来技術における欠
点に鑑みて開発されたもので、電気部品の実装工程を終
えたフレキシブル基板の検査を効率よく行うことができ
るフレキシブル基板検査装置を提案することを目的とす
る。Therefore, the present invention was developed in view of the above-mentioned drawbacks of the prior art, and proposes a flexible substrate inspection apparatus capable of efficiently inspecting a flexible substrate after the mounting process of electrical components is completed. The purpose is to
【０００８】[0008]
【課題を解決するための手段】本発明のフレキシブル基
板検査装置は、複数のフレキシブル基板を固定した取付
板を載置し、該取付板の垂直方向を軸に回動可能かつ上
下動可能な検査台と、前記取付板の垂直方向を軸に回動
可能かつ上下動可能で、基板検査時にフレキシブル基板
の測定点にプローブピンを接触させて電気信号を得るピ
ンボードと、前記検査台およびピンボードの少なくとも
一方を所定の位置に移動させるＸＹステージと、前記取
付板に載置したフレキシブル基板の位置を認識するカメ
ラとを具備したものである。A flexible board inspection apparatus of the present invention mounts a mounting plate to which a plurality of flexible boards are fixed, and is an inspection which is rotatable about the vertical direction of the mounting board and vertically movable. A pedestal, a pin board that is rotatable about the vertical direction of the mounting plate and can be moved up and down, and that obtains an electric signal by contacting a probe pin with a measurement point of a flexible board during board inspection; And an XY stage for moving at least one of them to a predetermined position, and a camera for recognizing the position of the flexible board placed on the mounting plate.
【０００９】[0009]
【作用】本発明では、１枚の取付板に載置された複数の
フレキシブル基板を検査できる。According to the present invention, it is possible to inspect a plurality of flexible boards placed on one mounting plate.
【００１０】[0010]
【実施例１】図１〜図６は本実施例を示し、図１は概略
構成図、図２は平面図、図３は図２のＡ−Ａ′線断面
図、図４および図５は作用を説明する一部を省略した概
略構成図、図６は取付板に載置されたフレキシブル基板
の配置図である。Embodiment 1 FIGS. 1 to 6 show this embodiment, FIG. 1 is a schematic configuration diagram, FIG. 2 is a plan view, FIG. 3 is a sectional view taken along the line AA ′ of FIG. 2, and FIGS. FIG. 6 is a layout diagram of a flexible board mounted on a mounting plate, in which a part of the operation is omitted.
【００１１】複数のフレキシブル基板１を固定した取付
板２が検査台３上に載置されている。検査台３は、図２
および図３に示す様に、ベース部２２と、取付板２を支
持する凹部を有してベース部２２に固定されたガイド部
材２３と、ガイド部材２３上の取付板２をクランプする
サイドクランプ２４と、このサイドクランプ２４を駆動
するようにベース部２２へ備えられたシリンダー２５と
から構成されている。また、検査台３の上方には、取付
板２の進行方向（図２中矢印方向）の端部付近に取付板
２の移動を一時的に停止して位置決めするストッパ２６
が、上下動自在に備えられている。A mounting plate 2 to which a plurality of flexible substrates 1 are fixed is placed on an inspection table 3. The inspection table 3 is shown in FIG.
Further, as shown in FIG. 3, a base portion 22, a guide member 23 having a recess for supporting the mounting plate 2 and fixed to the base portion 22, and a side clamp 24 for clamping the mounting plate 2 on the guide member 23. And a cylinder 25 provided on the base portion 22 so as to drive the side clamp 24. Further, above the inspection table 3, a stopper 26 that temporarily stops the movement of the mounting plate 2 and positions it near the end of the mounting plate 2 in the traveling direction (the arrow direction in FIG. 2).
However, it is equipped to move up and down.
【００１２】検査台３はモーター４によって取付板２の
垂直方向を軸に回動可能となっている。また、検査台３
はシリンダー５によって取付板２の垂直方向に移動可能
であるとともに、ＸＹテーブル６上に載置されており、
取付板２の水平方向に所定の位置に移動可能となってい
る。The inspection table 3 is rotatable by a motor 4 about the vertical direction of the mounting plate 2. Also, the inspection table 3
Is movable in the vertical direction of the mounting plate 2 by the cylinder 5, and is placed on the XY table 6,
The mounting plate 2 can be moved to a predetermined position in the horizontal direction.
【００１３】取付板２の上方には、フレキシブル基板１
の測定点に対応する様にプローブピン１６を配置したピ
ンボード７が設けられている。このピンボード７は、１
枚のフレキシブル基板１に対してのみ、検査をし得る構
成となっている。ピンボード７は、回転テーブル８と連
結し、回転テーブル８により取付板２の垂直方向を軸に
回動可能であるとともに、シリンダー９により取付板２
の垂直方向に上下に移動可能となっている。A flexible board 1 is provided above the mounting plate 2.
The pin board 7 in which the probe pins 16 are arranged so as to correspond to the measurement points of is provided. This pinboard 7 has 1
The configuration is such that only one flexible substrate 1 can be inspected. The pin board 7 is connected to the rotary table 8 and can be rotated about the vertical direction of the mounting plate 2 by the rotary table 8 and can be rotated by the cylinder 9.
It is possible to move up and down in the vertical direction.
【００１４】さらに、取付板２の上方には、取付板２上
のフレキシブル基板１の位置を認識するカメラ１０が設
けられている。カメラ１０は、Ｘ−Ｙテーブル６の駆動
範囲内の上方であるとともに、紙面に対して垂直方向手
前であって、その視野内に排出コンベア１２が入らない
位置に配置されている。Further, a camera 10 for recognizing the position of the flexible substrate 1 on the mounting plate 2 is provided above the mounting plate 2. The camera 10 is arranged above the driving range of the XY table 6 and in the front in the vertical direction with respect to the paper surface, and at a position where the discharge conveyor 12 does not enter the field of view.
【００１５】また、シリンダー５の駆動により上方に上
げられた検査台３と同じ高さには投入用コンベア１１と
排出用コンベア１２とが設けてある。投入用コンベア１
１の上方には、投入用コンベア１１上の取付板２を検査
台３へ、また、検査台３上の取付板２を排出用コンベア
１２へ移動させるための駆動装置１７が備えられてい
る。A loading conveyor 11 and a discharging conveyor 12 are provided at the same height as the inspection table 3 which is lifted up by driving the cylinder 5. Loading conveyor 1
1, a drive device 17 for moving the mounting plate 2 on the feeding conveyor 11 to the inspection table 3 and the mounting plate 2 on the inspection table 3 to the discharging conveyor 12 is provided.
【００１６】駆動装置１７は、取付板２の進行方向に進
退自在なロッドレスシリンダー１８と、ロッドレスシリ
ンダー１８にステー１９を介して取り付けられるととも
に、それらのロッドが上下方向に進退するように配置さ
れたシリンダー２０およびシリンダー２１とから構成さ
れている。The drive device 17 is mounted on the rodless cylinder 18 which is movable back and forth in the traveling direction of the mounting plate 2 and a stay 19 via a stay 19, and is arranged so that these rods move vertically. It is composed of a cylinder 20 and a cylinder 21.
【００１７】以上の構成から成る装置は、まず複数のフ
レキシブル基板１を図６に示す様に取付板２上へ載置す
る。本実施例にて用いたフレキシブル基板１の平面形状
は略Ｌ字形状である。取付板２のスペースを有効に利用
するために、第１のフレキシブル基板１ａを基準位置に
載置し、第１のフレキシブル基板１ａに対してＸ軸およ
びＹ軸に直交する軸まわりに１８０°回転し、かつ第１
のフレキシブル基板１ａと対向した状態で、第２のフレ
キシブル基板１ｂを載置する。In the apparatus having the above structure, first, the plurality of flexible substrates 1 are placed on the mounting plate 2 as shown in FIG. The planar shape of the flexible substrate 1 used in this embodiment is a substantially L shape. In order to effectively use the space of the mounting plate 2, the first flexible board 1a is placed at the reference position and rotated by 180 ° around the axis orthogonal to the X axis and the Y axis with respect to the first flexible board 1a. And first
The second flexible substrate 1b is placed so as to face the flexible substrate 1a.
【００１８】以降、第３のフレキシブル基板１ｃをフレ
キシブル基板１ａと同じ向きに、第４のフレキシブル基
板１ｄをフレキシブル基板１ｂと同じ向きに、取付板２
へ載置する。本実施例では、上記の通り、１つの取付板
２上に４つのフレキシブル基板１を載置した。Thereafter, the third flexible substrate 1c is oriented in the same direction as the flexible substrate 1a, the fourth flexible substrate 1d is oriented in the same direction as the flexible substrate 1b, and the mounting plate 2 is attached.
To place. In this embodiment, as described above, the four flexible boards 1 are mounted on the one mounting plate 2.
【００１９】取付板２のフレキシブル基板１を載置後、
フレキシブル基板１に電子部品を実装し、投入用コンベ
ア１１上に取付板２を投入し、投入用コンベア１１によ
って取付板２を検査台３付近に搬送する。このとき同時
に、投入用コンベア１１と同じ高さとなるまで、シリン
ダー５によって検査台３を上昇させておく。After mounting the flexible substrate 1 of the mounting plate 2,
Electronic components are mounted on the flexible substrate 1, the mounting plate 2 is loaded on the loading conveyor 11, and the loading plate 11 conveys the mounting plate 2 to the vicinity of the inspection table 3. At this time, at the same time, the inspection table 3 is raised by the cylinder 5 until it becomes the same height as the loading conveyor 11.
【００２０】次に、図４にて示すように、シリンダー２
０のロッドを下降して、ロッドレスシリンダー１８を前
進（図４において右方向）させ、シリンダー２０のロッ
ドの先端によって取付板２を検査台３まで押し出し、あ
らかじめ下降させてあるストッパ２６（図２にて図示）
に取付板２を当接させ、サンドクランプ２４によって取
付板２を検査台３にクランプする。このとき、取付板２
が、ストッパ２６へ当接することにより、検査台３に対
する位置決めが平行して行われる。取付板２を検査台３
に投入したら、ロッドレスシリンダー１８を後退（図４
において左方向）させ、シリンダー２０のロッドを上昇
させて、次の作業まで待機させる。Next, as shown in FIG. 4, the cylinder 2
The rodless cylinder 18 is moved forward (to the right in FIG. 4) by lowering the rod of No. 0, the mounting plate 2 is pushed out to the inspection table 3 by the tip of the rod of the cylinder 20, and the stopper 26 that has been lowered in advance (see FIG. (Illustrated in)
The mounting plate 2 is brought into contact with the mounting plate 2, and the mounting plate 2 is clamped on the inspection table 3 by the sand clamp 24. At this time, the mounting plate 2
However, by abutting on the stopper 26, the positioning with respect to the inspection table 3 is performed in parallel. Mounting plate 2 and inspection table 3
The rodless cylinder 18 back (Fig. 4
In the left direction), the rod of the cylinder 20 is lifted, and it stands by until the next work.
【００２１】この後、取付板２上の複数のフレキシブル
基板１の中の１枚のフレキシブル基板１ａの位置を認識
するためＸＹテーブル６を駆動することにより、フレキ
シブル基板１ａをカメラ１０の下に移動させる。そし
て、カメラ１０によってフレキシブル基板１の認識ポイ
ントを読み取り、取付板２に対するフレキシブル基板１
の位置および傾きを認識する。After that, the XY table 6 is driven to recognize the position of one flexible board 1a among the plurality of flexible boards 1 on the mounting plate 2, so that the flexible board 1a is moved below the camera 10. Let Then, the recognition point of the flexible board 1 is read by the camera 10, and the flexible board 1 with respect to the mounting plate 2 is read.
Recognize the position and inclination of.
【００２２】検査台３と取付板２との位置関係は、上記
の通り、取付板２が検査台３に投入されることによって
決まるものであり、また検査台３とピンボード７との位
置関係もあらかじめ設定されているものであるので、こ
こで認識した取付板２に対するフレキシブル基板１の位
置および傾きは、ピンボード７に対するフレキシブル基
板１の位置および傾きとなる。ここで、フレキシブル基
板１の傾きとは、取付板２上の載置すべき所定の位置に
対して、フレキシブル基板１が、Ｘ軸およびＹ軸に直交
する軸まわりに回転して傾いていることである。The positional relationship between the inspection table 3 and the mounting plate 2 is determined by inserting the mounting plate 2 into the inspection table 3 as described above, and the positional relationship between the inspection table 3 and the pin board 7. Also, since the position and inclination of the flexible board 1 with respect to the mounting plate 2 recognized here are the position and inclination of the flexible board 1 with respect to the pinboard 7. Here, the inclination of the flexible board 1 means that the flexible board 1 is rotated and tilted about an axis orthogonal to the X axis and the Y axis with respect to a predetermined position on the mounting plate 2 to be mounted. Is.
【００２３】その後、フレキシブル基板１ａの位置デー
タを、ピンボード７に連結した回転テーブル８にフィー
ドバックして、回転テーブル８を微小角度回転させると
ともに、ＸＹテーブル６にもフィードバックすることに
より、フレキシブル基板１ａをピンボード７の下に移動
させた時に、フレキシブル基板１ａの測定点とピンボー
ド７に植設されたプローブピン１６との位置が一致する
ようになる。そして、シリンダー９を駆動してピンボー
ド７のプローブピン１６を接触させ、フレキシブル基板
１ａの電気信号を得てフレキシブル基板１ａの良否を判
定することができる。After that, the position data of the flexible substrate 1a is fed back to the rotary table 8 connected to the pinboard 7 to rotate the rotary table 8 by a small angle and also fed back to the XY table 6, thereby the flexible substrate 1a. When is moved below the pin board 7, the measurement points of the flexible substrate 1a and the probe pins 16 implanted in the pin board 7 are aligned with each other. Then, the cylinder 9 is driven to bring the probe pins 16 of the pin board 7 into contact with each other, and an electric signal of the flexible substrate 1a can be obtained to judge the quality of the flexible substrate 1a.
【００２４】さらに、同一の取付板２上にあり、フレキ
シブル基板１ａと同方向に配置されているフレキシブル
基板１ｂの検査は、上記したフレキシブル基板１ａの検
査と同様に行うことができる。また、同一の取付板２上
にあり、フレキシブル基板１ａと１８０°回転した方向
に配置されているフレキシブル基板１ｃの検査は、取付
板２を載置する検査台３に連結したモーター４を駆動
し、検査台３を１８０°回転させた後、フレキシブル基
板１ａと同様に行うことができる。Further, the flexible board 1b on the same mounting plate 2 and arranged in the same direction as the flexible board 1a can be inspected in the same manner as the above-mentioned inspection of the flexible board 1a. Further, the flexible board 1c on the same mounting plate 2 and arranged in a direction rotated by 180 ° with the flexible board 1a is driven by driving the motor 4 connected to the inspection table 3 on which the mounting plate 2 is placed. After the inspection table 3 is rotated by 180 °, it can be performed in the same manner as the flexible substrate 1a.
【００２５】検査の終了した取付板２を検査台３より排
出する際は、図５にて示す通り、ストッパ２６を下降さ
せ、シリンダー２１のロッドを下降させるとともにロッ
ドレスシリンダー１８を前進（図５において右方向）さ
せ、シリンダー２１のロッドの先端によって取付板２を
排出コンベア１２まで押し出し、排出コンベア１２によ
って取付板２を排出する。When the mounting plate 2 that has been inspected is discharged from the inspection table 3, the stopper 26 is lowered, the rod of the cylinder 21 is lowered, and the rodless cylinder 18 is moved forward (see FIG. 5). In the right direction), the mounting plate 2 is pushed out to the discharge conveyor 12 by the tip of the rod of the cylinder 21, and the mounting plate 2 is discharged by the discharge conveyor 12.
【００２６】本実施例によれば、取付板２上のフレキシ
ブル基板１の傾き量をカメラ１０により認識し、ピンボ
ード７に連結した回転テーブル８および検査台３を載置
するＸＹテーブルに、その傾き量をフィードバックする
ことにより、フレキシブル基板１の測定点とピンボード
７に植設されたプローブピン１６との位置を一致させる
ことができるため、１枚の取付板２上に複数固定された
フレキシブル基板１の検査を行うことができる。According to the present embodiment, the tilt amount of the flexible substrate 1 on the mounting plate 2 is recognized by the camera 10, and the rotary table 8 connected to the pin board 7 and the XY table on which the inspection table 3 is mounted are displayed. By feeding back the amount of inclination, it is possible to match the positions of the measurement points of the flexible substrate 1 and the probe pins 16 implanted in the pin board 7, so that a plurality of flexible plates fixed on one mounting plate 2 are attached. The substrate 1 can be inspected.
【００２７】また、検査台３に連結したモーター４を駆
動することにより、検査台３を１８０°回転させること
が可能であるため、１枚の取付板２上に同種類のフレキ
シブル基板１が１８０°回転した状態で配置されている
場合でも、取付板２上のフレキシブル基板１の検査を行
うことができる。Further, since the inspection table 3 can be rotated by 180 ° by driving the motor 4 connected to the inspection table 3, the flexible substrate 1 of the same type is mounted on one mounting plate 2 by 180 degrees. The flexible substrate 1 on the mounting plate 2 can be inspected even when it is arranged in a rotated state.
【００２８】さらに、フレキシブル基板１を載置した取
付板２を検査台３に投入する投入用コンベア１１と、検
査後にフレキシブル基板１を載置した取付板２を排出す
る排出用コンベア１２とにより、実装ラインに検査装置
を組み合わせて使用することができる。Further, by the loading conveyor 11 for loading the mounting plate 2 on which the flexible substrate 1 is mounted on the inspection table 3, and the discharging conveyor 12 for discharging the mounting plate 2 on which the flexible substrate 1 is mounted after the inspection, The inspection device can be used in combination with the mounting line.
【００２９】[0029]
【実施例２】図７は本実施例を示す概略構成図である。
本実施例を示す図７においては、前記実施例１における
駆動装置１７の図示を省略する。複数のフレキシブル基
板１を固定した取付板２は検査台３上に載置されてい
る。検査台３はロータリーアクチュエータ１３によっ
て、取付板２の垂直方向軸に回動可能となっている。ま
た、検査台３はシリンダー５によって、取付板２の垂直
方向に移動可能となっている。Second Embodiment FIG. 7 is a schematic configuration diagram showing this embodiment.
In FIG. 7 showing the present embodiment, the illustration of the driving device 17 in the first embodiment is omitted. A mounting plate 2 to which a plurality of flexible substrates 1 are fixed is placed on an inspection table 3. The inspection table 3 can be rotated about a vertical axis of the mounting plate 2 by a rotary actuator 13. The inspection table 3 can be moved in the vertical direction of the mounting plate 2 by the cylinder 5.
【００３０】取付板２の上方には、フレキシブル基板１
の測定点に対応する様にプローブピン１６を配置したピ
ンボード７が設けられている。ピンボード７は回転テー
ブル８と連結し、回転テーブル８により取付板２の垂直
方向を軸に回動可能であるとともに、シリンダー９によ
り取付板２の垂直方向に上下に移動可能となっている。
回転テーブル８はＸＹステージ１４に取り付けられてお
り、ピンボード７は取付板２の水平方向の所定の位置に
移動可能となっている。Above the mounting plate 2, the flexible substrate 1
The pin board 7 in which the probe pins 16 are arranged so as to correspond to the measurement points of is provided. The pin board 7 is connected to the rotary table 8 and is rotatable about the vertical direction of the mounting plate 2 by the rotary table 8 and vertically movable by the cylinder 9 in the vertical direction of the mounting plate 2.
The rotary table 8 is attached to the XY stage 14, and the pin board 7 is movable to a predetermined horizontal position of the attachment plate 2.
【００３１】シリンダー５の駆動により上方に上げられ
た検査台３と同じ高さには、投入用コンベア１１と排出
用コンベア１２とが設けてある。また、フレキシブル基
板１の位置を認識するカメラ１０が、投入用シリンダー
１１の上方に設けられている。カメラ１０は、ＸＹロボ
ット１５により取付板２の水平方向の所定の位置に移動
可能となっている。A loading conveyor 11 and a discharging conveyor 12 are provided at the same height as the inspection table 3 raised by the driving of the cylinder 5. A camera 10 that recognizes the position of the flexible substrate 1 is provided above the loading cylinder 11. The camera 10 can be moved to a predetermined horizontal position of the mounting plate 2 by the XY robot 15.
【００３２】以上の構成から成る装置は、前記実施例１
と同様に、取付板２上へ複数のフレキシブル基板１が載
置される。取付板２上で電気部品の実装を終えたフレキ
シブル基板１は、投入用コンベア１１上でカメラ１０に
よって位置の認識が行われた後、投入用コンベア１１に
よって検査台３上に投入される。The apparatus having the above-mentioned configuration is the same as that of the first embodiment.
Similarly, a plurality of flexible substrates 1 are placed on the mounting plate 2. The flexible substrate 1 on which the electrical components have been mounted on the mounting plate 2 is placed on the inspection table 3 by the loading conveyor 11 after the position is recognized by the camera 10 on the loading conveyor 11.
【００３３】その後、ピンボード７をＸＹステージ１４
により、最初に検査を行うフレキシブル基板１ａの上方
に移動させる。この時、カメラ１０により得られたフレ
キシブル基板１ａの位置情報を、ＸＹステージ１４およ
び回転テーブル８にフィードバックすることにより、フ
レキシブル基板１ａの測定点と、ピンボード７に植設さ
れたプローブピン１６との位置が一致するようにしてい
る。そして、シリンダー９を駆動してピンボード７のプ
ローブピン１６を接触させ、フレキシブル基板１ａの電
気信号を得てフレキシブル基板１ａの良否を判定する。After that, the pin board 7 is attached to the XY stage 14.
Thus, the flexible substrate 1a to be inspected first is moved above. At this time, by feeding back the position information of the flexible substrate 1a obtained by the camera 10 to the XY stage 14 and the rotary table 8, the measurement points of the flexible substrate 1a and the probe pins 16 implanted in the pin board 7 are detected. The positions of are matched. Then, the cylinder 9 is driven to bring the probe pins 16 of the pin board 7 into contact with each other, and an electric signal of the flexible substrate 1a is obtained to judge the quality of the flexible substrate 1a.
【００３４】その後、同一の取付板２上のフレキシブル
基板１の検査は、前記実施例１に示した通りである。但
し、本実施例では検査台３の１８０°の回転を、ロータ
リーアクチュエータ１３により行っている。取付板２上
で検査を終えたフレキシブル基板１は、前記実施例１と
同様にして排出用コンベア１２により排出される。Thereafter, the inspection of the flexible substrate 1 on the same mounting plate 2 is as described in the first embodiment. However, in the present embodiment, the inspection table 3 is rotated by 180 ° by the rotary actuator 13. The flexible substrate 1 that has been inspected on the mounting plate 2 is discharged by the discharging conveyor 12 as in the first embodiment.
【００３５】本実施例によれば、カメラ１０により得ら
れるフレキシブル基板１の位置情報を、ピンボード７に
連結した回転テーブル８およびＸＹステージ１４にフィ
ードバックすることにより、フレキシブル基板１の測定
点とピンボード７に植設されたプローブピン１６との位
置を一致させることができるため、１枚の取付板２上に
複数固定されたフレキシブル基板１の検査を行うことが
できる。According to the present embodiment, the position information of the flexible substrate 1 obtained by the camera 10 is fed back to the rotary table 8 and the XY stage 14 connected to the pin board 7, so that the measurement points and the pins of the flexible substrate 1 are measured. Since the positions of the probe pins 16 planted on the board 7 can be matched with each other, it is possible to inspect a plurality of flexible substrates 1 fixed on one mounting plate 2.
【００３６】また、検査台３に連結したロータリーアク
チュエータ１３を駆動することにより、検査台３を１８
０°回転させることが可能であるため、１枚の取付板２
上に同種類のフレキシブル基板が１８０°回転した状態
で配置されている場合でも、取付板２上のフレキシブル
基板１の検査を行うことができる。Further, by driving the rotary actuator 13 connected to the inspection table 3, the inspection table 3 is moved to 18 degrees.
Since it can be rotated 0 °, one mounting plate 2
Even when the same type of flexible substrate is arranged in a state of being rotated by 180 °, the flexible substrate 1 on the mounting plate 2 can be inspected.
【００３７】さらに、カメラ１０によるフレキシブル基
板１の位置認識と、ピンボード７のプローブピン１６の
接触によるフレキシブル基板１の検査とがそれぞれ独立
して行えるため、効率よくフレキシブル基板１の検査を
行うことができる。Further, since the position recognition of the flexible board 1 by the camera 10 and the inspection of the flexible board 1 by the contact of the probe pins 16 of the pin board 7 can be independently performed, the flexible board 1 can be efficiently inspected. You can
【００３８】[0038]
【発明の効果】以上説明した様に、本発明に係るフレキ
シブル基板検査装置によれば、電気部品の実装のため取
付板に固定された複数のフレキシブル基板を１枚ずつ取
りはずすことなく、フレキシブル基板を検査することが
できる。従って、フレキシブル基板の検査を効率よく行
うことができる。As described above, according to the flexible board inspection apparatus of the present invention, the flexible board can be mounted without removing the plurality of flexible boards fixed to the mounting plate for mounting the electric parts one by one. Can be inspected. Therefore, the flexible board can be efficiently inspected.
【図１】実施例１を示す概略構成図である。FIG. 1 is a schematic configuration diagram illustrating a first embodiment.
【図２】実施例１を示す平面図である。FIG. 2 is a plan view showing the first embodiment.
【図３】図２のＡ−Ａ′線断面図である。FIG. 3 is a sectional view taken along the line AA ′ of FIG.
【図４】実施例１を示す一部を省略した概略構成図であ
る。FIG. 4 is a schematic configuration diagram illustrating a first embodiment with a part omitted.
【図５】実施例１を示す一部を省略した概略構成図であ
る。FIG. 5 is a schematic configuration diagram showing a first embodiment with a part omitted.
【図６】実施例１を示す配置図である。FIG. 6 is a layout view showing the first embodiment.
【図７】実施例２を示す概略構成図である。FIG. 7 is a schematic configuration diagram showing a second embodiment.
【図８】従来例を示す概略構成図である。FIG. 8 is a schematic configuration diagram showing a conventional example.
【符号の説明】 １ フレキシブル基板 ２ 取付板 ３ 検査台 ４ モーター ５，９ シリンダー ６ ＸＹテーブル ７ ピンボード ８ 回転テーブル １０ カメラ １１ 投入用コンベア １２ 排出用コンベア １３ プローブピン １７ 駆動装置[Explanation of symbols] 1 flexible substrate 2 mounting plate 3 inspection table 4 motor 5,9 cylinder 6 XY table 7 pin board 8 rotary table 10 camera 11 loading conveyor 12 discharging conveyor 13 probe pin 17 driving device
Claims (1)
レキシブル基板検査装置において、複数のフレキシブル
基板を固定した取付板を載置し、該取付板の垂直方向を
軸に回動可能かつ上下動可能な検査台と、前記取付板の
垂直方向を軸に回動可能かつ上下動可能に支持されたピ
ンボードと、前記検査台およびピンボードの少なくとも
一方を所定位置に移動させるＸＹステージと、前記取付
板に載置したフレキシブル基板の位置を認識するカメラ
とを具備したことを特徴とするフレキシブル基板検査装
置。1. A flexible board inspection apparatus for electrically inspecting a flexible board, wherein a mounting plate having a plurality of flexible boards fixed thereon is placed, and the mounting board is rotatable and vertically movable about a vertical direction. An inspection table, a pin board rotatably and vertically movable about a vertical direction of the mounting plate, an XY stage for moving at least one of the inspection table and the pin board to a predetermined position, and the mounting plate And a camera for recognizing the position of the flexible substrate placed on the substrate.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11382193A JP3304165B2 (en) | 1993-04-16 | 1993-04-16 | Flexible board inspection equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11382193A JP3304165B2 (en) | 1993-04-16 | 1993-04-16 | Flexible board inspection equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06300818A true JPH06300818A (en) | 1994-10-28 |
| JP3304165B2 JP3304165B2 (en) | 2002-07-22 |
Family
ID=14621895
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11382193A Expired - Fee Related JP3304165B2 (en) | 1993-04-16 | 1993-04-16 | Flexible board inspection equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3304165B2 (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100301060B1 (en) * | 1999-07-22 | 2001-11-01 | 윤종용 | Wafer Probing System and Wafer Probing Needle Calibrating Method Using Those |
| KR100815251B1 (en) * | 2006-10-17 | 2008-03-19 | 이종욱 | Interface fpcb |
| KR100826257B1 (en) * | 2006-10-17 | 2008-04-30 | 이종욱 | FPCB test unit for portable electronic equipment |
| CN106824817A (en) * | 2017-01-03 | 2017-06-13 | 东莞理工学院 | A kind of automatic detecting machine of PCB |
-
1993
- 1993-04-16 JP JP11382193A patent/JP3304165B2/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100301060B1 (en) * | 1999-07-22 | 2001-11-01 | 윤종용 | Wafer Probing System and Wafer Probing Needle Calibrating Method Using Those |
| KR100815251B1 (en) * | 2006-10-17 | 2008-03-19 | 이종욱 | Interface fpcb |
| KR100826257B1 (en) * | 2006-10-17 | 2008-04-30 | 이종욱 | FPCB test unit for portable electronic equipment |
| CN106824817A (en) * | 2017-01-03 | 2017-06-13 | 东莞理工学院 | A kind of automatic detecting machine of PCB |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3304165B2 (en) | 2002-07-22 |
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