JPH0562360A - System for processing defective sector of rotary type storage device - Google Patents

System for processing defective sector of rotary type storage device

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JPH0562360A
JPH0562360A JP25477891A JP25477891A JPH0562360A JP H0562360 A JPH0562360 A JP H0562360A JP 25477891 A JP25477891 A JP 25477891A JP 25477891 A JP25477891 A JP 25477891A JP H0562360 A JPH0562360 A JP H0562360A
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JP
Japan
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sector
defective
pulse
read
circuit
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP25477891A
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Japanese (ja)
Inventor
Toshiro Uchimura
敏郎 内村
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To attain a high speed for processing defective sectors by comparing the position of the defective sector in a storage table with the position of the sector in a position detecting part and prohibiting, at the time of inequality, the generation of read gate signals. CONSTITUTION:By a control part 10, a storage disk drive 2 is controlled under the instruction from a host device 3, and by the drive 2 a head is accessed and data are read against a rotating storage medium. Then, by the control part 10, the read gate signal of an ID part is generated synchronously with the sector pulse from the drive 2, and the ID part of the drive 2 is identified. In the control part 10, the storage table 11, a sector position detecting part 12, a mask circuit 14 and a gate pulse generating circuit 15 are provided. By the table 11 the position of the defective sector is stored, and by the detecting part 12 the sector position whose sector pulse is counted is held. Here, the sector position of the table 11 and that of the detecting part 12 are compared 13; if it is unequal, the generation of the read gate signal of the ID part is inhibited by the circuit 15 by means of the sector pulse of the sector 14, and defective data are skipped to process the defective sector at a high speed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】(目次) 産業上の利用分野 従来の技術(図4) 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段(図1) 作用 実施例 (a) 一実施例の説明(図2乃至図3) (b) 他の実施例の説明 発明の効果(Table of Contents) Industrial Application Field of the Prior Art (FIG. 4) Problem to be Solved by the Invention Means for Solving the Problem (FIG. 1) Action Example (a) Description of One Example (FIG. 2) To FIG. 3) (b) Description of another embodiment Effect of the invention

【0002】[0002]

【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスク装置等の
回転型記憶装置において、欠陥セクタをスキップする回
転型記憶装置の欠陥セクタ処理方式に関する。近年の磁
気ディスク装置の大容量化の要求に伴い、磁気ディスク
の高密度化が進み、磁気ディスク媒体の微小な欠陥も問
題となり、欠陥セクタの数も増加の傾向にある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a defective sector processing method for a rotary memory device such as a magnetic disk device, which skips defective sectors. With the recent demand for larger capacity of magnetic disk devices, the density of magnetic disks has been increased, minute defects in magnetic disk media have also become a problem, and the number of defective sectors tends to increase.

【0003】このため、磁気ディスク面のトラックの欠
陥セクタに対し、交代セクタを設ける交代セクタ方式が
提案されているが、交代セクタ方式は、交代セクタをサ
ーチするのに時間がかかり、連続ブロックの処理に不利
であることから、交代セクタを用いない方法が採用され
ている。
For this reason, an alternate sector method has been proposed in which an alternate sector is provided for a defective sector of a track on the magnetic disk surface. However, in the alternate sector method, it takes time to search for the alternate sector and continuous blocks A method that does not use a replacement sector is adopted because it is disadvantageous in processing.

【0004】一方、磁気ディスク装置の転送速度の向上
の要求により、連続ブロックの処理における欠陥セクタ
の処理に手間取ると、回転待ちが生じるため、高速に欠
陥セクタの処理を行う技術が求められている。
On the other hand, due to the demand for improvement in the transfer rate of the magnetic disk device, if the processing of defective sectors in the processing of continuous blocks is time-consuming, a rotation wait occurs. Therefore, a technique for processing defective sectors at high speed is required. ..

【0005】[0005]

【従来の技術】図4は従来技術の説明図である。図4に
示すように、磁気ディスク装置は、上位3と接続された
コントローラ1と、磁気ディスクドライブ2とを有し、
コントローラ1が、磁気ディスクドライブ2からのセク
タパルスを受け、ID部のリードゲート信号を発生し、
そのセクタのID部の内容をリードし、ID部の内容を
解析し、目的セクタであることを検出し、データ部のリ
ード又はライトゲート信号を発生して、リード又はライ
トを行う。
2. Description of the Related Art FIG. 4 is an explanatory diagram of a conventional technique. As shown in FIG. 4, the magnetic disk device has a controller 1 connected to the upper rank 3, and a magnetic disk drive 2.
The controller 1 receives the sector pulse from the magnetic disk drive 2 and generates a read gate signal for the ID section,
The contents of the ID part of the sector are read, the contents of the ID part are analyzed, the sector is detected, and a read or write gate signal for the data part is generated to perform the read or write.

【0006】この時、連続ブロックの処理において、欠
陥セクタ(図では2)があると、欠陥セクタをスキップ
するため、欠陥セクタのID部をリードし、そのID部
の内容の解析により、IDコンペアーエラーとなり、デ
ータ部のリード又はライトゲート信号の発生を禁止し、
スリップ処理に移行する。
At this time, if there is a defective sector (2 in the figure) in the processing of continuous blocks, the ID part of the defective sector is read in order to skip the defective sector, and the ID competition is performed by analyzing the contents of the ID part. An error occurs, prohibiting the generation of read or write gate signals in the data section,
Shift to slip processing.

【0007】スリップ処理では、IDコンペアーエラー
の理由が、リードエラーか欠陥セクタかを解析し、ID
部に欠陥セクタを示す情報があれば、欠陥セクタと判定
し、次のブロックに移行する前に、続きの処理コマンド
を再発行していた。一方、特開昭59−221810号
公報等では、欠陥セクタのID部をリードすることなく
スキップする方法が開示されている。
In the slip processing, it is analyzed whether the reason of the ID compare error is a read error or a defective sector, and
If there is information indicating a defective sector in the copy, it is determined to be a defective sector, and the subsequent processing command is reissued before moving to the next block. On the other hand, Japanese Patent Laid-Open No. 59-221810 discloses a method of skipping the ID portion of a defective sector without reading it.

【0008】この方法は、ID部に書換えを行うに際
し、回転待ちを防止する目的で、全セクタに欠陥セクタ
の位置を格納しておき、ヘッドが目的トラックに到達し
た際に、最初のセクタから欠陥セクタの位置をリード
し、メモリに保持しておき、目的セクタの1つ前のセク
タに到達した時点で、目的セクタがメモリに保持した欠
陥セクタかを判定し、欠陥セクタなら、そのセクタをI
D部をリードすることなく、スキップするものである。
In this method, the position of the defective sector is stored in all the sectors for the purpose of preventing the rotation waiting when the ID part is rewritten, and when the head reaches the target track, from the first sector. The position of the defective sector is read and held in the memory. When the sector immediately before the target sector is reached, it is determined whether the target sector is the defective sector held in the memory. I
The part D is skipped without being read.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】ところで、近年データ
転送速度の向上の要求により、磁気ディスクの回転数が
高くなり、1ブロックの処理に要する時間が短くなって
いる。このため、従来技術では、次の問題があった。 前者の従来技術では、前述のスリップ処理に時間がか
かると、次のブロックに間に合わず、回転待ちを生じ
て、高速転送、書き込みが困難となる。
By the way, in recent years, due to the demand for improvement in data transfer rate, the number of revolutions of a magnetic disk is increased and the time required for processing one block is shortened. Therefore, the conventional technique has the following problems. In the former conventional technique, if the above-mentioned slip processing takes a long time, the next block cannot be made in time, rotation waiting occurs, and high-speed transfer and writing become difficult.

【0010】後者の従来技術では、元々単一ブロック
の書換えを目的とするため、連続ブロックの処理におい
ては、1つ前のセクタでデータをリード又はライトして
から、次が目的セクタかを識別し、目的セクタなら、メ
モリを参照し、欠陥セクタかを判定し、スキップ処理し
なければならず、欠陥セクタの判定、処理に時間がかか
り、次のブロックに間に合わず、回転待ちを生じて、高
速転送、書き込みが困難となる。
In the latter conventional technique, since the original purpose is to rewrite a single block, in the processing of consecutive blocks, the data is read or written in the previous sector, and then the next sector is identified. However, if it is the target sector, it is necessary to refer to the memory, judge whether it is a defective sector, and skip processing, it takes time to judge and process the defective sector, it is not in time for the next block, waiting for rotation occurs, High-speed transfer and writing become difficult.

【0011】従って、本発明は、欠陥セクタの処理を高
速化し、連続ブロックの処理において、回転待ちを発生
することなく、欠陥セクタをスキップすることができる
回転型記憶装置の欠陥セクタ処理方式を提供することを
目的とする。
Therefore, the present invention provides a defective sector processing method for a rotary memory device which speeds up processing of defective sectors and skips defective sectors in continuous block processing without causing a rotation wait. The purpose is to do.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理図で
ある。本発明の請求項1は、回転する記憶媒体に対し、
ヘッドをアクセスし、少なくともデータのリードを行う
記憶ディスクドライブ2と、上位3からの指示により、
該記憶ディスクドライブ2を制御する制御部1とを有
し、該記憶ディスクドライブ2からのセクタパルスに同
期して、該制御部1が、ID部のリードゲート信号を発
生し、該記憶ディスクドライブ2からのID部を識別
し、対象セクタである時に、データ部のリード又はライ
トゲート信号を発生する回転型記憶装置において、該制
御部1に、欠陥セクタ位置を記憶した記憶テーブル11
と、該セクタパルスを計数したセクタ位置を保持するセ
クタ位置検出部12と、該セクタパルスのマスク回路1
4と、該マスク回路14からのセクタパルスにより、該
ID部のリードゲート信号を発生するゲートパルス発生
回路15とを設け、該記憶テーブル11の欠陥セクタ位
置と該セクタ位置検出部12のセクタ位置とを比較し、
比較結果により、該マスク回路14により該セクタパル
スをマスクして、該ゲートパルス発生回路15からの該
ID部のリードゲート信号の発生を禁止して、該欠陥セ
クタをスキップすることを特徴とする。
FIG. 1 shows the principle of the present invention. Claim 1 of the present invention relates to a rotating storage medium,
By the instruction from the storage disk drive 2 that accesses the head and reads at least the data, and the upper 3
And a control unit 1 for controlling the storage disk drive 2, wherein the control unit 1 generates a read gate signal for the ID section in synchronization with a sector pulse from the storage disk drive 2, In the rotary storage device that identifies the ID part from 2 and generates a read or write gate signal for the data part when the sector is the target sector, the control part 1 stores the defective sector position in the storage table 11.
And a sector position detector 12 for holding the sector position counting the sector pulse, and a mask circuit 1 for the sector pulse.
4 and a gate pulse generation circuit 15 for generating a read gate signal of the ID section by a sector pulse from the mask circuit 14, and the defective sector position of the storage table 11 and the sector position of the sector position detection section 12 are provided. And compare
According to the comparison result, the mask pulse is masked by the mask circuit 14, the generation of the read gate signal of the ID section from the gate pulse generation circuit 15 is prohibited, and the defective sector is skipped. ..

【0013】本発明の請求項2は、請求項1において、
前記制御部1に、前記記憶テーブル11の欠陥セクタ位
置と前記セクタ位置検出部12のセクタ位置とを比較す
る比較回路13を設けたことを特徴とする。
According to claim 2 of the present invention, in claim 1,
The control unit 1 is provided with a comparison circuit 13 for comparing the defective sector position of the storage table 11 and the sector position of the sector position detection unit 12.

【0014】本発明の請求項3は、請求項1において、
前記制御部1は、前記セクタパルスを計数し、前記セク
タ位置検出部12に格納し、前記記憶テーブル11の欠
陥セクタ位置と前記セクタ位置検出部12のセクタ位置
とを比較する制御回路10を設けたことを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, in the first aspect,
The control unit 1 includes a control circuit 10 which counts the sector pulses, stores the sector pulses in the sector position detection unit 12, and compares a defective sector position in the storage table 11 with a sector position in the sector position detection unit 12. It is characterized by

【0015】[0015]

【作用】本発明の請求項1では、欠陥セクタ位置を記憶
した記憶テーブル11と、セクタパルスを計数したセク
タ位置を保持するセクタ位置検出部12と、セクタパル
スのマスク回路14と、マスク回路14からのセクタパ
ルスにより、ID部のリードゲート信号を発生するゲー
トパルス発生回路15とを設けているので、記憶テーブ
ル11の欠陥セクタ位置と該セクタ位置検出部12のセ
クタ位置とを比較し、比較結果のみにより、マスク回路
14によりセクタパルスをマスクして、ゲートパルス発
生回路15からのID部のリードゲート信号の発生を禁
止することで、欠陥セクタをスキップできるため、高速
に欠陥セクタを検出ができ、且つマスク回路14とゲー
トパルス発生回路15によりハード的に欠陥セクタのス
キップを行うので、次のブロックに充分間に合い、連続
ブロック処理でも、回転待ちを生じることなく、欠陥セ
クタをスキップして、処理を継続できる。
According to the first aspect of the present invention, the storage table 11 for storing the defective sector position, the sector position detecting section 12 for holding the sector position for counting the sector pulse, the mask circuit 14 for the sector pulse, and the mask circuit 14 are provided. Since the gate pulse generating circuit 15 for generating the read gate signal of the ID section is provided by the sector pulse from, the defective sector position of the storage table 11 and the sector position of the sector position detecting section 12 are compared and compared. Based on only the result, the mask pulse is masked by the mask circuit 14 and the generation of the read gate signal of the ID section from the gate pulse generation circuit 15 is prohibited, so that the defective sector can be skipped, so that the defective sector can be detected at high speed. In addition, since the mask circuit 14 and the gate pulse generation circuit 15 can skip the defective sector by hardware. Enough in time for the next block, or a continuous block processing, without causing rotational delay, skipping defective sectors can continue.

【0016】本発明の請求項2では、制御部1に、記憶
テーブル11の欠陥セクタ位置とセクタ位置検出部12
のセクタ位置とを比較する比較回路13を設けたので、
制御回路10とは別に、欠陥セクタの検出、スキップを
ハードウェアにより行うことができ、より高速に欠陥セ
クタの検出、スキップを実行できる。
According to a second aspect of the present invention, the control unit 1 is provided with a defective sector position of the storage table 11 and a sector position detection unit 12.
Since the comparison circuit 13 for comparing the sector position of
In addition to the control circuit 10, the defective sector can be detected and skipped by hardware, and the defective sector can be detected and skipped at higher speed.

【0017】本発明の請求項3では、制御部1は、セク
タパルスを計数し、セクタ位置検出部12に格納し、記
憶テーブル11の欠陥セクタ位置とセクタ位置検出部1
2のセクタ位置とを比較する制御回路10を設けたの
で、付加するハードウェアを最小にして、高速の欠陥セ
クタの検出、制御が可能となる。
In the third aspect of the present invention, the control unit 1 counts the sector pulse and stores it in the sector position detection unit 12, and the defective sector position of the storage table 11 and the sector position detection unit 1.
Since the control circuit 10 for comparing the position of the second sector with that of the second sector is provided, it is possible to minimize the amount of additional hardware and detect and control the defective sector at high speed.

【0018】[0018]

【実施例】【Example】

(a)一実施例の説明 図2は本発明の一実施例構成図、図3は本発明の一実施
例動作説明図である。図中、図1及び図4で示したもの
と同一のものは、同一の記号で示してあり、10は制御
回路であり、MPUで構成され、上位3とのコマンド、
ステータスのやり取り、データの送受を行うものであ
る。
(a) Description of one embodiment FIG. 2 is a configuration diagram of one embodiment of the present invention, and FIG. 3 is an operation explanatory diagram of one embodiment of the present invention. In the figure, the same parts as those shown in FIGS. 1 and 4 are indicated by the same symbols, and 10 is a control circuit, which is composed of an MPU, and a command with the upper 3
It exchanges status and sends and receives data.

【0019】記憶テーブル11は、メモリで構成され、
欠陥セクタの物理位置を格納してあり、セクタ位置検出
部12は、セクタパルスカウンタで構成され、磁気ディ
スクドライブ2からのインデックスパルスにより、リセ
ットされ、セクタパルスを計数し、現在セクタの物理位
置を示すものであり、比較回路13は、記憶テーブル1
1の内容と、セクタパルスカウンタ12の内容とを比較
し、一致すると、ローレベルのマスク信号を発生する。
The storage table 11 is composed of a memory,
The physical position of the defective sector is stored, and the sector position detection unit 12 is composed of a sector pulse counter, is reset by an index pulse from the magnetic disk drive 2, counts the sector pulse, and determines the physical position of the current sector. The comparison circuit 13 is shown in FIG.
The contents of 1 are compared with the contents of the sector pulse counter 12, and if they match, a low-level mask signal is generated.

【0020】マスク回路14は、アンドゲートで構成さ
れ、セクタパルスをローレベルのマスク信号により、マ
スクするもの、リード/ライトゲートパルス発生回路1
5は、マスク回路14からのセクタパルスにより、ID
部のリードゲート信号を発生し、制御回路10からのリ
ード/ライト指示により、データ部のリード又はライト
ゲート信号を発生する。
The mask circuit 14 is composed of an AND gate and masks the sector pulse with a low level mask signal. The read / write gate pulse generation circuit 1
5 is ID by the sector pulse from the mask circuit 14.
A read gate signal for the data section is generated, and a read or write gate signal for the data section is generated according to a read / write instruction from the control circuit 10.

【0021】バス16は、磁気ディスクドライブ2と、
制御回路10と、上位3を接続し、リードデータ、ライ
トデータをやり取りするものである。図3のリード処理
の例について、その動作を説明する。
The bus 16 includes the magnetic disk drive 2 and
The control circuit 10 and the upper 3 are connected to exchange read data and write data. The operation of the read process shown in FIG. 3 will be described.

【0022】図3(A)に示すように、目的トラックに
おいて、物理セクタ番号が図のように、付されており、
物理セクタ番号「3」が欠陥セクタとすると、論理セク
タ番号は、図のように、物理セクタ番号「3」のセクタ
を除いて、順に付される。記憶テーブル11には、欠陥
セクタの物理セクタ番号「3」が格納されている。
As shown in FIG. 3A, in the target track, physical sector numbers are attached as shown in the figure,
Assuming that the physical sector number “3” is a defective sector, the logical sector numbers are sequentially assigned except for the sector having the physical sector number “3” as shown in the figure. The storage table 11 stores the physical sector number “3” of the defective sector.

【0023】ここで、上位3から、論理セクタ番号で
「2」からnブロックの連続ブロックリード処理が制御
回路10に与えられると、セクタパルスカウンタ12を
インデックスパルスに同期して、リセットし、イネーブ
ルとし、ゲートパルス発生回路15をイネーブルとす
る。
Here, when the consecutive block read processing of n blocks from the logical sector number "2" from the upper 3 is given to the control circuit 10, the sector pulse counter 12 is reset and enabled in synchronization with the index pulse. Then, the gate pulse generation circuit 15 is enabled.

【0024】これにより、セクタパルスカウンタ12
は、セクタパルスを計数し、現在セクタ位置を示し、記
憶テーブル11の内容と、比較回路13で比較される。
比較結果が一致を示さなければ、マスク回路14が開
き、セクタパルスは、ゲートパルス発生回路15に入力
し、ID部のリードゲート信号を出力し、磁気ディスク
ドライブ2は、これにより、当該セクタのID部をリー
ドし、バス16を介し制御回路10に転送する。
As a result, the sector pulse counter 12
Indicates the current sector position by counting the sector pulse, and the content of the storage table 11 is compared with the comparison circuit 13.
If the comparison result shows no coincidence, the mask circuit 14 is opened, the sector pulse is input to the gate pulse generation circuit 15, the read gate signal of the ID section is output, and the magnetic disk drive 2 thereby detects the sector. The ID section is read and transferred to the control circuit 10 via the bus 16.

【0025】制御回路10は、このID部を解析し、目
的セクタであれば、ゲートパルス発生回路15に、デー
タ部のリードゲート信号を発生するよう指示し、ゲート
パルス発生回路15は、データ部のリードゲート信号を
出力し、磁気ディスクドライブ2は、これにより、当該
セクタのデータ部をリードし、バス16を介し上位3に
転送する。
The control circuit 10 analyzes this ID portion, and if it is the target sector, instructs the gate pulse generation circuit 15 to generate a read gate signal for the data portion, and the gate pulse generation circuit 15 causes the data portion to be read. Then, the magnetic disk drive 2 reads the data portion of the sector and transfers it to the upper 3 via the bus 16.

【0026】一方、比較回路13が、比較一致を検出す
ると、ローレベルのマスク信号をマスク回路14に出力
するため、図3(B)の物理セクタ番号「3」に示すよ
うに、セクタパルスはマスクされ、ゲートパルス発生回
路15に出力されない。
On the other hand, when the comparison circuit 13 detects a comparison match, it outputs a low-level mask signal to the mask circuit 14. Therefore, as shown by the physical sector number "3" in FIG. It is masked and is not output to the gate pulse generation circuit 15.

【0027】このため、ID部のリードゲート信号が、
磁気ディスクドライブ2に出力されないため、当該セク
タのID部はリードされず、又、制御回路10も、ID
部が転送されないため、ゲートパルス発生回路15への
指示はなされない。これにより、物理セクタ番号「3」
のセクタは、欠陥セクタとして、スキップされる。
Therefore, the read gate signal of the ID section is
Since it is not output to the magnetic disk drive 2, the ID part of the sector is not read, and the control circuit 10
No part is transferred, so no instruction is given to the gate pulse generation circuit 15. As a result, the physical sector number "3"
Sector is skipped as a defective sector.

【0028】次の物理セクタ番号「4」のセクタについ
ては、欠陥セクタとして、記憶テーブル11に登録され
ていないので、比較回路13は、比較結果の一致を示さ
ないため、マスク回路14が開き、セクタパルスは、ゲ
ートパルス発生回路15に入力し、ID部のリードゲー
ト信号を出力し、磁気ディスクドライブ2は、これによ
り、当該セクタのID部をリードし、バス16を介し制
御回路10に転送する。
The sector with the next physical sector number "4" is not registered in the storage table 11 as a defective sector. Therefore, the comparison circuit 13 does not show a match in the comparison result, so the mask circuit 14 opens. The sector pulse is input to the gate pulse generation circuit 15 to output a read gate signal for the ID section, and the magnetic disk drive 2 thereby reads the ID section of the sector and transfers it to the control circuit 10 via the bus 16. To do.

【0029】制御回路10は、このID部を解析し、目
的セクタであれば、ゲートパルス発生回路15に、デー
タ部のリードゲート信号を発生するよう指示し、ゲート
パルス発生回路15は、データ部のリードゲート信号を
出力し、磁気ディスクドライブ2は、これにより、当該
セクタのデータ部をリードし、バス16を介し上位3に
転送する。
The control circuit 10 analyzes this ID section, and if it is the target sector, instructs the gate pulse generation circuit 15 to generate a read gate signal for the data section. Then, the magnetic disk drive 2 reads the data portion of the sector and transfers it to the upper 3 via the bus 16.

【0030】以下、同様にして、連続リード処理が行わ
れる。このようにして、連続ブロックのリード処理にお
いて、制御回路10の負担にならずに、欠陥セクタを検
出し、リードゲート信号の出力を禁止し、欠陥セクタを
スキップするため、高速転送しても、回転待ちが生じる
ことがない。
Thereafter, the continuous read processing is performed in the same manner. In this way, in the read process of the continuous block, the control circuit 10 is not burdened, the defective sector is detected, the output of the read gate signal is prohibited, and the defective sector is skipped. There is no waiting for rotation.

【0031】(b) 他の実施例の説明 上述の実施例の他に、本発明は、次のような変形が可能
である。 連続ブロックのリード処理で説明したが、連続ブロッ
クのライト処理についても、同様に適用できる。
(B) Description of Other Embodiments In addition to the above embodiments, the present invention can be modified as follows. Although the read processing of the continuous block has been described, the write processing of the continuous block can be similarly applied.

【0032】セクタパルスカウンタ12、比較回路1
3をハードウェアにより説明したが、これらの動作を制
御回路10のプログラム制御によって行ってもよい。こ
の場合でも、制御回路10は、セクタパルスの計数と、
比較を行えばよく、処理に時間がかからないので、回転
待ちを防止できる。
Sector pulse counter 12, comparison circuit 1
Although 3 has been described by hardware, these operations may be performed by program control of the control circuit 10. Even in this case, the control circuit 10 counts the sector pulse and
Since it suffices to make a comparison and the processing does not take time, it is possible to prevent the rotation waiting.

【0033】1トラックに複数の欠陥セクタがある場
合にも適用でき、複数トラックの欠陥セクタを記憶テー
ブルに格納する場合には、制御回路10が記憶テーブル
の目的トラックの欠陥セクタ位置情報を選択してもよ
い。
The present invention can also be applied to the case where one track has a plurality of defective sectors. When the defective sectors of a plurality of tracks are stored in the storage table, the control circuit 10 selects the defective sector position information of the target track of the storage table. May be.

【0034】回転型記憶装置を、磁気ディスクドライ
ブで説明したが、光ディスクドライブ、光磁気ディスク
ドライブにも適用できる。以上、本発明を実施例により
説明したが、本発明の主旨の範囲内で種々の変形が可能
であり、これらを本発明の範囲から排除するものではな
い。
Although the rotary storage device has been described as a magnetic disk drive, it can be applied to an optical disk drive and a magneto-optical disk drive. Although the present invention has been described with reference to the embodiments, various modifications are possible within the scope of the gist of the present invention, and these modifications are not excluded from the scope of the present invention.

【0035】[0035]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
次の効果を奏する。 記憶テーブル11の欠陥セクタ位置とセクタ位置検出
部12のセクタ位置とを比較し、比較結果により、マス
ク回路14によりセクタパルスをマスクして、ゲートパ
ルス発生回路15からのID部のリードゲート信号の発
生を禁止して、欠陥セクタをスキップするので、欠陥セ
クタの検出、スキップ動作を高速に行うことができ、連
続ブロック処理しても、回転待ちを生じることがなく、
高速転送、高速書き込みが可能となる。 このためのハードウェアの追加も、少量で済むため、
容易に且つ安価に性能向上が可能となる。
As described above, according to the present invention,
It has the following effects. The defective sector position of the storage table 11 is compared with the sector position of the sector position detection unit 12, and the sector pulse is masked by the mask circuit 14 according to the comparison result, and the read gate signal of the ID part from the gate pulse generation circuit 15 is output. Since the generation of the defective sector is skipped and the defective sector is skipped, the defective sector can be detected and skipped at high speed.
High-speed transfer and high-speed writing are possible. You can add a small amount of hardware for this purpose,
Performance can be improved easily and at low cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の原理図である。FIG. 1 is a principle diagram of the present invention.

【図2】本発明の一実施例構成図である。FIG. 2 is a configuration diagram of an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例動作説明図である。FIG. 3 is an operation explanatory diagram of the embodiment of the present invention.

【図4】従来技術の説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of a conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 コントローラ(制御部) 2 磁気ディスクドライブ(記憶ディスクドライブ) 3 上位装置 10 制御回路 11 記憶テーブル 12 セクタ位置検出部 13 比較回路 14 マスク回路 15 ゲートパルス発生回路 1 Controller (Control Unit) 2 Magnetic Disk Drive (Storage Disk Drive) 3 Upper Device 10 Control Circuit 11 Storage Table 12 Sector Position Detection Unit 13 Comparison Circuit 14 Mask Circuit 15 Gate Pulse Generation Circuit

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 回転する記憶媒体に対し、ヘッドをアク
セスし、少なくともデータのリードを行う記憶ディスク
ドライブ(2)と、上位(3)からの指示により、該記
憶ディスクドライブ(2)を制御する制御部(1)とを
有し、 該記憶ディスクドライブ(2)からのセクタパルスに同
期して、該制御部(1)が、ID部のリードゲート信号
を発生し、該記憶ディスクドライブ(2)からのID部
を識別し、対象セクタである時に、データ部のリード又
はライトゲート信号を発生する回転型記憶装置におい
て、 該制御部(1)に、欠陥セクタ位置を記憶した記憶テー
ブル(11)と、該セクタパルスを計数したセクタ位置
を保持するセクタ位置検出部(12)と、該セクタパル
スのマスク回路(14)と、該マスク回路(14)から
のセクタパルスにより、該ID部のリードゲート信号を
発生するゲートパルス発生回路(15)とを設け、 該記憶テーブル(11)の欠陥セクタ位置と該セクタ位
置検出部(12)のセクタ位置とを比較し、比較結果に
より、該マスク回路(14)により該セクタパルスをマ
スクして、該ゲートパルス発生回路(15)からの該I
D部のリードゲート信号の発生を禁止して、該欠陥セク
タをスキップすることを特徴とする回転型記憶装置の欠
陥セクタ処理方式。
1. A storage disk drive (2) for accessing a head to a rotating storage medium to read at least data, and controlling the storage disk drive (2) according to an instruction from a host (3). A control unit (1), the control unit (1) generates a read gate signal for the ID unit in synchronization with a sector pulse from the storage disk drive (2), and the storage disk drive (2) In the rotary type storage device which identifies the ID part from (1) and generates a read or write gate signal of the data part when the sector is the target sector, the control part (1) stores a defective storage table (11). ), A sector position detection unit (12) for holding the sector position counting the sector pulse, a mask circuit (14) for the sector pulse, and a sector from the mask circuit (14). And a gate pulse generating circuit (15) for generating a read gate signal of the ID section is provided, and the defective sector position of the storage table (11) is compared with the sector position of the sector position detecting section (12). According to the comparison result, the sector pulse is masked by the masking circuit (14), and the I pulse from the gate pulse generating circuit (15) is
A defective sector processing method for a rotary memory device, characterized in that the generation of a read gate signal of section D is prohibited and the defective sector is skipped.
【請求項2】 前記制御部(1)に、前記記憶テーブル
(11)の欠陥セクタ位置と前記セクタ位置検出部(1
2)のセクタ位置とを比較する比較回路(13)を設け
たことを特徴とする請求項1の回転型記憶装置の欠陥セ
クタ処理方式。
2. The control unit (1) includes a defective sector position of the storage table (11) and the sector position detection unit (1).
2. The defective sector processing system for a rotary memory device according to claim 1, further comprising a comparison circuit (13) for comparing the sector position of 2).
【請求項3】 前記制御部(1)は、前記セクタパルス
を計数し、前記セクタ位置検出部(12)に格納し、前
記記憶テーブル(11)の欠陥セクタ位置と前記セクタ
位置検出部(12)のセクタ位置とを比較する制御回路
(10)を設けたことを特徴とする請求項1の回転型記
憶装置の欠陥セクタ処理方式。
3. The control unit (1) counts the sector pulses and stores the sector pulses in the sector position detection unit (12), and the defective sector position of the storage table (11) and the sector position detection unit (12). 3. The defective sector processing method for a rotary memory device according to claim 1, further comprising a control circuit (10) for comparing the sector position of (1) with the sector position of (3).
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