JPH05283005A - Withstand voltage processing method of cathode ray tube - Google Patents

Withstand voltage processing method of cathode ray tube

Info

Publication number
JPH05283005A
JPH05283005A JP4074796A JP7479692A JPH05283005A JP H05283005 A JPH05283005 A JP H05283005A JP 4074796 A JP4074796 A JP 4074796A JP 7479692 A JP7479692 A JP 7479692A JP H05283005 A JPH05283005 A JP H05283005A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
withstand voltage
electron gun
treatment
neck
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4074796A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Norihisa Takiura
徳久 滝浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP4074796A priority Critical patent/JPH05283005A/en
Publication of JPH05283005A publication Critical patent/JPH05283005A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To increase withstand voltage and at the same time, breakdown volt age of neck penetration breakdown. CONSTITUTION:In the withstand voltage processing method of a cathode ray tube, a high voltage which is relatively higher than a voltage impressed on electrodes G1-G5 other than high voltage electrodes G6, CO of an electron gun is applied to the high voltage electrodes G6, CO is applied to the electrodes G6, GO,through the inside conductive film 10 from an anode terminal and the bulb spacer 21 pressure-welded to the terminal so that a withstand voltage process is performed. Then, a DC or an AC voltage which is relatively higher than the voltage applied to the high voltage electrode or DC or AC pulse voltage is applied to the other electrodes G1-G5 of the electron gun in the middle of that withstand voltage process so that a process to generate discharge at the end portion of the neck of the inside conductive film is performed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、陰極線管の耐電圧処
理方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a withstand voltage processing method for a cathode ray tube.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に陰極線管は、図4に示すように、
外囲器のフェースプレート1 の内面に蛍光体スクリーン
2 が形成され、この蛍光体スクリーン2 を外囲器のネッ
ク3 内に配設された電子銃4 から放出される電子ビーム
5 により走査することにより、画像を表示する構造に形
成されている。特にカラー受像管については、蛍光体ス
クリーン2 に対向してその内側にシャドウマスク6 が装
着され、このシャドウマスク6 により電子銃4 から放出
される3電子ビーム5 を選別して蛍光体スクリーン2 を
構成する3色蛍光体層に入射させる構造に形成されてい
る。
2. Description of the Related Art Generally, a cathode ray tube is constructed as shown in FIG.
Phosphor screen on the inner surface of the faceplate 1 of the envelope
2 is formed, and this phosphor screen 2 is emitted from the electron gun 4 arranged in the neck 3 of the envelope.
It is formed into a structure for displaying an image by scanning with 5. In particular, for a color picture tube, a shadow mask 6 is attached to the inside of the phosphor screen 2 so as to face the phosphor screen 2, and the shadow mask 6 selects the 3 electron beams 5 emitted from the electron gun 4 to select the phosphor screen 2. It is formed in such a structure that it is made incident on the constituent three-color phosphor layer.

【0003】上記電子銃4 は、一般にカソードからの電
子放出を制御し、かつ放出された電子を加速集束して電
子ビームとする電子ビーム形成部を形成するカソードお
よびこのカソードに順次隣接して配置された複数の電
極、および上記電子ビーム形成部から電子ビームを引出
し、この引出された電子ビームを蛍光体スクリーン2 上
に加速集束する主電子レンズなどの電子レンズを形成す
る複数の電極を有し、上記各電極が絶縁支持体により一
体に固定された構造に形成されている。これら電極のう
ち、電子ビーム形成部を形成する電極には、相対的に低
い所定の低電圧が印加され、主電子レンズなどを形成す
る複数の電極には、相対的に高い中、高電圧が印加され
る。特に主電子レンズを形成する最終加速電極には、外
囲器のコーン部8 に設けられた陽極端子9 からコーン部
8 の内面に塗布形成された内面導電膜10などを介して陽
極高電圧が印加され、その他の低、中電圧が印加される
電極には、電子銃4 の配設されているネック3 端部を封
止しているステム11を気密に貫通する複数本のステムピ
ン12を介して、所定の低、中電圧が印加される。
The electron gun 4 generally controls the emission of electrons from the cathode, and forms a electron beam forming unit for accelerating and focusing the emitted electrons to form an electron beam. And a plurality of electrodes that form an electron lens such as a main electron lens that extracts an electron beam from the electron beam forming unit and accelerates and focuses the extracted electron beam on the phosphor screen 2. The electrodes are formed in a structure integrally fixed by an insulating support. Among these electrodes, a relatively low predetermined low voltage is applied to the electrode forming the electron beam forming portion, and a relatively high medium voltage is applied to the plurality of electrodes forming the main electron lens and the like. Is applied. In particular, the final accelerating electrode forming the main electron lens is connected to the cone terminal 8 of the envelope from the anode terminal 9
The high voltage of the anode is applied through the inner conductive film 10 coated on the inner surface of 8 and other low and medium voltage electrodes are applied to the electrodes of the neck 3 where the electron gun 4 is arranged. A predetermined low and medium voltage is applied via a plurality of stem pins 12 that hermetically penetrate the stem 11 that seals the.

【0004】このような陰極線管は、たとえばカラー受
像管については、内面に蛍光体スクリーン2 が形成さ
れ、かつシャドウマスク6 が装着されたフェースプレー
ト1 (通常カラー受像管ではパネルという)と内面に内
面導電膜10が塗布形成されたコーン部8 (通常カラー受
像管ではファンネルという)とを封着して外囲器を形成
したのち、この外囲器のネック3 内に電子銃4 を封止し
排気し、その後、カソードの活性化処理、耐電圧処理な
どを施すことにより製造される。
Such a cathode ray tube is, for example, for a color picture tube, a face plate 1 (usually called a panel in a color picture tube) having a phosphor screen 2 formed on the inner surface and a shadow mask 6 mounted on the inner surface. A cone 8 (usually called a funnel in a color picture tube) coated with an inner conductive film 10 is sealed to form an envelope, and then an electron gun 4 is sealed in the neck 3 of this envelope. Then, it is evacuated, and thereafter, it is manufactured by subjecting the cathode to activation treatment, withstand voltage treatment and the like.

【0005】ところで、従来カラー受像管の陽極端子に
印加する電圧は、20〜30kV程度であったが、最近、
画面の輝度向上のため、その陽極端子に印加する電圧が
より高くなる傾向にあり、それにともなって耐電圧もよ
り高いものが要求されつつある。そのため、カラー受像
管の製造工程での耐電圧処理は、処理電圧を高圧化した
り、処理時間を長くするなどの耐電圧処理の強化によ
り、要求される耐電圧に対処している。
By the way, the voltage applied to the anode terminal of the conventional color picture tube is about 20 to 30 kV.
In order to improve the brightness of the screen, the voltage applied to the anode terminal tends to be higher, and accordingly, a higher withstand voltage is being demanded. Therefore, in the withstand voltage treatment in the manufacturing process of the color picture tube, the required withstand voltage is dealt with by strengthening the withstand voltage treatment such as increasing the treatment voltage or prolonging the treatment time.

【0006】しかし上記のように電圧処理を強化する
と、その処理時に、ネック3 内面に形成された内面導電
膜10のネック側端部近傍にスパーク放電によりネック3
を貫通する絶縁破壊(ネック貫通絶縁破壊)が、従来の
耐電圧処理よりも高率で発生する。特にこのネック貫通
絶縁破壊は、外気が高湿度のときに顕著に発生する。
However, when the voltage treatment is strengthened as described above, at the time of the treatment, a spark discharge is generated in the vicinity of the neck side end portion of the inner conductive film 10 formed on the inner surface of the neck 3 to cause neck 3
Dielectric breakdown that penetrates through (neck through dielectric breakdown) occurs at a higher rate than in the conventional withstand voltage treatment. In particular, this breakdown through the neck occurs remarkably when the outside air has a high humidity.

【0007】従来、上記ネック側端部近傍に発生するネ
ック貫通絶縁破壊の破壊電圧を高める方法として、耐電
圧処理の前または後に、陽極端子を陰極側、ステムピン
を陽極側として直流電圧を加えて、内面導電膜10のネッ
ク側端部をコンディショニングすることが、特公昭56
−19060号公報に開示されている。
Conventionally, as a method for increasing the breakdown voltage of the through-the-neck breakdown that occurs near the end portion on the neck side, a DC voltage is applied with the anode terminal as the cathode side and the stem pin as the anode side before or after the withstand voltage treatment. In order to condition the end portion of the inner conductive film 10 on the neck side, Japanese Patent Publication No.
-19060 gazette.

【0008】この方法によれば、ネック貫通絶縁破壊の
破壊電圧を高めることは可能である。しかしたとえば耐
電圧処理前にこの処理をおこなうと、このとき印加する
電圧により、電子銃の高電圧が印加される電極(高電圧
電極)と中電圧が印加される電極(中電圧電極)との間
の処理もおこなわれ、これら電極部分の耐電圧が向上す
るため、このネック側端部のコンディショニングに続い
ておこなわれる耐電圧処理時に、高電圧電極と中電圧電
極との間の放電電圧が、ネック側端部のコンディショニ
ングをおこなわない場合にくらべて高くなる。その結
果、一般におこなわれる表1の耐電圧処理スケジュール
のうち、処理[II]をおこなう場合、高電圧電極と中電圧
電極との間に高い電圧が印加されることになり、耐電圧
処理用ソケットの劣化を早めるという問題が生ずる。
According to this method, it is possible to increase the breakdown voltage of the dielectric breakdown through the neck. However, if this process is performed before the withstand voltage process, for example, the voltage applied at this time causes the electrode (high voltage electrode) to which the high voltage of the electron gun is applied and the electrode (medium voltage electrode) to which the medium voltage is applied. Since the treatment between the electrodes is also performed and the withstand voltage of these electrode portions is improved, the discharge voltage between the high-voltage electrode and the medium-voltage electrode during the withstand voltage treatment that is performed following the conditioning of the neck side end, Higher than without conditioning the neck end. As a result, in the withstand voltage treatment schedule of Table 1 that is generally performed, when the treatment [II] is performed, a high voltage is applied between the high-voltage electrode and the medium-voltage electrode, and the withstand voltage treatment socket. A problem of accelerating the deterioration of.

【0009】[0009]

【表1】 なお、表1において、Aは高電圧電極に接続された接続
端子、Bは中電圧電極に接続された接続端子、Cは相対
的に低い低電圧が印加される電極に接続された接続端子
である。
[Table 1] In Table 1, A is a connection terminal connected to the high voltage electrode, B is a connection terminal connected to the medium voltage electrode, and C is a connection terminal connected to an electrode to which a relatively low voltage is applied. is there.

【0010】また耐電圧処理後にネック側端部をコンデ
ィショニングすると、この場合は、ネック側端部から火
花放電が発生し、内面導電膜の成分であるカーボン微粒
子や水ガラス微粒子などが飛散して電子銃の電極に付着
し、コンディショニング前(耐電圧処理済み)の耐電圧
品位よりも劣化する。すなわち図3に、表1の耐電圧処
理スケジュールにより処理した場合の耐電圧をb1、表1
の耐電圧処理スケジュールにより処理したのち、さらに
ネック側端部をコンディショニングした場合の耐電圧を
b2として示したように、耐電圧品位がいちじるしく劣化
する。
Further, when the end portion on the neck side is conditioned after the withstand voltage treatment, in this case, spark discharge is generated from the end portion on the neck side, and carbon fine particles, water glass fine particles, etc., which are components of the inner conductive film, are scattered and electrons are emitted. It adheres to the gun electrode and deteriorates from the withstand voltage quality before conditioning (after withstanding voltage treatment). That is, FIG. 3 shows the withstand voltage b1 when treated according to the withstand voltage treatment schedule of Table 1, and Table 1
After performing the withstand voltage treatment schedule of, the withstand voltage when the neck side end is further conditioned
As shown as b2, the withstand voltage quality deteriorates significantly.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】上記のように、陰極線
管、たとえばカラー受像管については、内面に蛍光体ス
クリーンが形成されかつその内側にシャドウマスクが装
着されたフェースプレートと、内面に内面導電膜が塗布
形成されたコーン部とを封着して外囲器を形成したの
ち、この外囲器のネック内に電子銃を封止して排気し、
その後、カソードの活性化処理、耐電圧処理を施すこと
により製造される。
As described above, in a cathode ray tube, for example, a color picture tube, a phosphor screen is formed on the inner surface and a shadow mask is attached to the inside of the face plate, and an inner surface is electrically conductive. After forming the envelope by sealing the cone portion with the film formed by coating, the electron gun is sealed in the neck of the envelope and exhausted,
Then, it is manufactured by subjecting the cathode to activation treatment and withstand voltage treatment.

【0012】その耐電圧処理方法として、従来は、表1
に示した耐電圧処理スケジュールにより処理されていた
が、画面の輝度向上のための陽極端子に印加する電圧の
高圧化に対応して、処理電圧を高圧化したり、処理時間
を長くするなどの耐電圧処理の強化を施すと、耐電圧処
理の処理時に、ネック内面に形成された内面導電膜のネ
ック側端部近傍にスパーク放電によりネックを貫通する
絶縁破壊が高率で発生するようになる。
[0012] As a method for processing the withstand voltage, the conventional method is shown in Table 1.
Although it was processed according to the withstand voltage processing schedule shown in, the withstanding voltage such as increasing the processing voltage or increasing the processing time is taken in response to the higher voltage applied to the anode terminal for improving the brightness of the screen. When the voltage treatment is strengthened, at the time of the withstand voltage treatment, a high rate of dielectric breakdown occurs through the neck due to spark discharge in the vicinity of the neck side end of the inner conductive film formed on the neck inner surface.

【0013】従来よりこのネック貫通絶縁破壊の破壊電
圧を高める方法として、耐電圧処理の前または後に、陽
極端子を陰極側、ステムピンを陽極側として直流電圧を
加えて、内面導電膜のネック側端部をコンディショニン
グする方法が知られている。
Conventionally, as a method of increasing the breakdown voltage of this through-the-neck breakdown, a DC voltage is applied with the anode terminal as the cathode side and the stem pin as the anode side before or after the withstand voltage treatment, and the neck side end of the inner conductive film is applied. Methods of conditioning the department are known.

【0014】しかしこの方法により、たとえば耐電圧処
理前にネック側端部をコンディショニングすると、この
とき印加される電圧により、電子銃の高電圧電極と中電
圧電極との間の処理もおこなわれ、これら電極部分の耐
電圧も若干向上する。そのため、このネック側端部のコ
ンディショニングに続いておこなわれる耐電圧処理時
に、高電圧電極と中電圧電極との間の放電電圧が高くな
り、耐電圧処理用ソケットの劣化を早めるという問題が
生ずる。また耐電圧処理後にネック側端部をコンディシ
ョニングすると、この場合は、ネック側端部から火花放
電が発生し、内面導電膜の成分であるカーボン微粒子や
水ガラス微粒子などが飛散して電子銃の電極に付着し、
耐電圧処理済みの耐電圧品位よりもいちじるしく耐電圧
が劣化するという問題がある。
According to this method, however, for example, when the end portion on the neck side is conditioned before the withstand voltage treatment, the voltage applied at this time also performs the treatment between the high voltage electrode and the medium voltage electrode of the electron gun. The withstand voltage of the electrode part is also slightly improved. Therefore, during the withstand voltage treatment performed after the conditioning of the neck side end portion, the discharge voltage between the high-voltage electrode and the medium-voltage electrode becomes high, which causes a problem of accelerating the deterioration of the withstand voltage treatment socket. In addition, if the end on the neck side is conditioned after the withstand voltage treatment, in this case, a spark discharge is generated from the end on the neck side, and carbon fine particles or water glass fine particles, which are components of the inner surface conductive film, are scattered and the electrode of the electron gun is Attached to the
There is a problem that the withstand voltage is significantly deteriorated as compared with the withstand voltage quality after the withstand voltage treatment.

【0015】この発明は、上記問題点に鑑みてなされた
ものであり、耐電圧を高め、同時にネック貫通絶縁破壊
の破壊電圧を高めることができる陰極線管の耐電圧処理
方法を得ることを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to obtain a withstand voltage treatment method for a cathode ray tube capable of increasing the withstand voltage and, at the same time, the breakdown voltage of the through-the-neck breakdown. To do.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】外囲器に設けられた陽極
端子と、外囲器のネック内に配設された複数の電極から
なる電子銃と、陽極端子に接続されかつ電子銃の高電圧
電極と対向する位置をネック側端部として外囲器の内面
に形成された内面導電膜とを有し、この内面導電膜に圧
接するバルブスペーサが電子銃に取付けられた陰極線管
の耐電圧処理方法において、電子銃の高電圧電極に陽極
端子から内面導電膜およびこれに圧接するバルブスペー
サを介して電子銃の他の電極に印加する電圧よりも相対
的に高い高電圧を印加して耐電圧処理をおこなうにあた
り、この耐電圧処理の途中に電子銃の他の電極に電子銃
の高電圧電極に印加する電圧よりも相対的に高い直流ま
たは交流電圧、または直流または交流のパルス電圧を印
加して、内面導電膜のネック端部に放電を発生させる処
理をおこなうようにした。
SUMMARY OF THE INVENTION An anode terminal provided in an envelope, an electron gun having a plurality of electrodes arranged in a neck of the envelope, and a height of the electron gun connected to the anode terminal. A cathode-ray tube having an inner conductive film formed on the inner surface of the envelope with the end facing the voltage electrode on the neck side and having a valve spacer pressed against the inner conductive film attached to the electron gun. In the treatment method, a high voltage relatively higher than a voltage applied to the high voltage electrode of the electron gun from the anode terminal to the other electrode of the electron gun is applied through the inner conductive film and the valve spacer pressed against the inner conductive film. During the voltage treatment, a DC or AC pulse voltage or a DC or AC pulse voltage that is relatively higher than the voltage applied to the high voltage electrode of the electron gun is applied to the other electrodes of the electron gun during this withstand voltage treatment. And then conductive inside And to perform a process of generating a discharge in the neck end.

【0017】[0017]

【作用】上記のように、電子銃の高電圧電極に陽極端子
から内面導電膜およびこれに圧接するバルブスペーサを
介して電子銃の他の電極に印加する電圧よりも相対的に
高い高電圧を印加して耐電圧処理をおこなうにあたり、
この耐電圧処理の途中に電子銃の他の電極に電子銃の高
電圧電極に印加する電圧よりも相対的に高い直流または
交流電圧、または直流または交流のパルス電圧を印加し
て、内面導電膜のネック端部に放電を発生させる処理を
おこなうと、耐電圧を高め、かつネック貫通絶縁破壊の
破壊電圧を高めることができる。
As described above, a relatively high voltage is applied to the high voltage electrode of the electron gun, which is higher than the voltage applied from the anode terminal to the other electrode of the electron gun through the inner conductive film and the valve spacer pressed against the inner conductive film. When applying voltage to withstand voltage,
During this withstand voltage treatment, a DC or AC voltage or a DC or AC pulse voltage, which is relatively higher than the voltage applied to the high voltage electrode of the electron gun, is applied to the other electrode of the electron gun to apply the inner conductive film. By performing a process for generating a discharge at the neck end of the, the breakdown voltage and the breakdown voltage of the through-the-neck breakdown can be increased.

【0018】[0018]

【実施例】以下、図面を参照してこの発明を実施例に基
づいて説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will now be described based on embodiments with reference to the drawings.

【0019】図1にその一実施例に係るカラー受像管の
電子銃を、また図2にその等価回路を示す。この電子銃
は、3個のカソードK と、このカソードK を各別に加熱
する3個のヒータH と、上記カソードK 上に所定間隔離
間して順次蛍光体スクリーン方向に配列された第1乃至
第6グリッドG1〜G6を有し、これらカソードK 、ヒータ
H およびグリッドG1〜G6が一対の絶縁支持体20により一
体に固定され、その第6グリッドG6の先端部側にコンバ
ーゼンス・カップCOが取付けられた構造に形成されてい
る。
FIG. 1 shows an electron gun of a color picture tube according to the embodiment, and FIG. 2 shows an equivalent circuit thereof. This electron gun has three cathodes K, three heaters H for individually heating the cathodes K, and first to first electrodes sequentially arranged on the cathode K at a predetermined interval in the phosphor screen direction. Has 6 grids G1 to G6, these cathodes K, heater
H and the grids G1 to G6 are integrally fixed by a pair of insulating supports 20, and a convergence cup CO is attached to the tip end side of the sixth grid G6.

【0020】そして第2グリッドG2と第4グリッドG4、
および第3グリッドG3と第5グリッドG5とは、それぞれ
管内で同電位に接続されている。またコンバーゼンス・
カップCOの外側面には、コーン部8 からコンバーゼンス
・カップCOと対向するネック3 の隣接部の内面にかけて
塗布形成された内面導電膜10に圧接する複数のバルブス
ペーサ21が取付けられている。なお、図1において11は
ステム、12はステムピンである。
The second grid G2 and the fourth grid G4,
The third grid G3 and the fifth grid G5 are connected to the same potential in the tube. Convergence
On the outer surface of the cup CO, a plurality of valve spacers 21 are attached which are in pressure contact with the inner conductive film 10 formed by coating from the cone portion 8 to the inner surface of the adjacent portion of the neck 3 facing the convergence cup CO. In FIG. 1, 11 is a stem and 12 is a stem pin.

【0021】この電子銃では、カソードK 、ヒータH お
よび第1、第2、第4グリッドG1,G2,G4には、ネック
3 端部を封止するステム11を気密に貫通するステムピン
12を介して、それぞれ相対的に低い所定の低電圧が、第
3、第5グリッドG3,G5には、同じくステムピン12を介
して、所定の中電圧が印加される。また第6グリッドG6
およびコンバーゼンス・カップCOには、コーン部8 に設
けられた陽極端子から上記内面導電膜10およびバルブス
ペーサ21を介して、相対的に高い所定の高電圧が印加さ
れる。
In this electron gun, the cathode K, the heater H, and the first, second, and fourth grids G1, G2, and G4 have necks.
3 Stem pin that hermetically penetrates the stem 11 that seals the end
A relatively low predetermined low voltage is applied via 12 to the third and fifth grids G3, G5, and a predetermined medium voltage is also applied via the stem pin 12. Also the 6th grid G6
A relatively high predetermined high voltage is applied to the convergence cup CO from the anode terminal provided in the cone portion 8 via the inner conductive film 10 and the valve spacer 21.

【0022】この電圧の印加によりこの電子銃では、カ
ソードK および第1乃至第3グリッドG1〜G3により、カ
ソードK からの電子放出を制御し、かつ放出された電子
を集束して電子ビームとする電子ビーム形成部が形成さ
れ、第3乃至第6グリッドG3〜G6により、電子ビーム形
成部からその電子ビームを引出し、かつこの電子ビーム
を蛍光体スクリーン上に加速集束する電子レンズが形成
される。
By applying this voltage, in this electron gun, the electron emission from the cathode K is controlled by the cathode K and the first to third grids G1 to G3, and the emitted electrons are focused into an electron beam. An electron beam forming unit is formed, and an electron lens for extracting the electron beam from the electron beam forming unit and accelerating and focusing the electron beam on the phosphor screen is formed by the third to sixth grids G3 to G6.

【0023】このような電子銃を備えるカラー受像管の
耐電圧処理は、図2に示したように、第6グリッドG6お
よびコンバーゼンス・カップCOに接続された端子A 、第
3、第5グリッドG3,G5に接続された端子B 、第2、第
4グリッドG2,G4およびカソードK 、ヒータH に接続さ
れた端子C をそれぞれ耐電圧処理回路に接続して、各端
子A ,B ,C に開放、接地を含む所定の電圧を印加する
ことにより、つぎの3段階に分けておこなわれる。
As shown in FIG. 2, the withstand voltage processing of the color picture tube provided with such an electron gun is carried out as shown in FIG. 2 by the terminal A, the third and fifth grids G3 connected to the sixth grid G6 and the convergence cup CO. , B5 connected to G5, second and fourth grids G2 and G4 and cathode K, and terminal C connected to heater H are connected to the withstand voltage processing circuit, respectively, and opened to each terminal A, B, C. By applying a predetermined voltage including grounding, the operation is performed in the following three stages.

【0024】まず第1段階として、排気終了後のカラー
受像管について、表1に示した従来の耐電圧処理スケジ
ュールにより、処理[I] 、処理[II]、処理[III] の任意
の組合わせにより、ネック3 の内面と絶縁支持体20との
間、第5グリッドG5と第6グリッドG6との間、すなわち
中電圧電極と高電圧電極との間、第1グリッドG1乃至第
5グリッドG5の低、中電圧電極間を選択的に処理する。
First, as a first step, with respect to the color picture tube after exhaustion, according to the conventional withstand voltage processing schedule shown in Table 1, any combination of processing [I], processing [II] and processing [III] is performed. Accordingly, between the inner surface of the neck 3 and the insulating support 20, between the fifth grid G5 and the sixth grid G6, that is, between the medium voltage electrode and the high voltage electrode, the first grid G1 to the fifth grid G5 The low and medium voltage electrodes are selectively processed.

【0025】つぎに第2段階として、表2に示す処理方
法により、高電圧電極である第6グリッドG6を陰極側
(接地)とし、その他の低、中電圧電極を陽極側(高電
圧印加)として、この陽極側に直流または直流パルスの
高電圧を印加し、内面導電膜10のネック側端部のコンデ
ィショニングをおこなう。
Next, in the second step, by the treatment method shown in Table 2, the sixth grid G6, which is a high voltage electrode, is set to the cathode side (ground), and the other low and medium voltage electrodes are set to the anode side (high voltage is applied). As a result, a high voltage of direct current or direct current pulse is applied to the anode side to condition the end portion of the inner conductive film 10 on the neck side.

【0026】[0026]

【表2】 その後、第3段階として、表1に示した従来の耐電圧処
理スケジュールの処理[I] 、処理[II]、処理[III] の任
意の組合わせにより、第1段階の処理よりも高い電圧を
印加して処理する。
[Table 2] After that, as a third step, a higher voltage than that of the first step is applied by an arbitrary combination of the processing [I], the processing [II], and the processing [III] of the conventional withstand voltage processing schedule shown in Table 1. Apply and process.

【0027】このように耐電圧処理を3段階に分け、耐
電圧処理の途中に内面導電膜10のネック側端部のコンデ
ィショニング処理をおこなうと、このとき発生する放電
により、内面導電膜10のネック側端部にカソードスポッ
トが発生し、この内面導電膜10のネック側端部が平滑化
される。その結果、従来耐電圧処理時に内面導電膜10の
ネック側端部の近傍に発生したネック貫通絶縁破壊を防
止することができる。またこのコンディショニング処理
により、ネック貫通絶縁破壊の破壊電圧が上昇し、この
コンディショニング処理後におこなう第3段階の耐電圧
処理の印加電圧を、従来の耐電圧処理の印加電圧よりも
高くすることができ、結果的に良好な耐電圧特性を有す
るカラー受像管とすることができる。
As described above, the withstand voltage treatment is divided into three steps, and if the conditioning treatment of the end portion on the neck side of the inner conductive film 10 is performed during the withstand voltage treatment, the neck of the inner conductive film 10 is discharged due to the discharge generated at this time. A cathode spot is generated at the side edge, and the neck side edge of the inner surface conductive film 10 is smoothed. As a result, it is possible to prevent the through-neck breakdown of the neck that has occurred near the end portion on the neck side of the inner conductive film 10 during the conventional withstand voltage treatment. Further, by this conditioning treatment, the breakdown voltage of the through-the-neck dielectric breakdown rises, and the applied voltage of the withstand voltage treatment of the third stage performed after this conditioning treatment can be made higher than the applied voltage of the conventional withstand voltage treatment, As a result, a color picture tube having good withstand voltage characteristics can be obtained.

【0028】図3に上記第1段階の処理のみをおこなっ
た場合の耐電圧をa1、さらにこの第1段階の処理のあと
に第2段階の処理をおこなった場合の耐電圧をa2、さら
にこの第2段階の処理のあとに第3段階の処理をおこな
った場合の耐電圧をa3とし、かつ比較例として、第1段
階の処理をおこなった場合の耐電圧をb1、さらにこの第
1段階の処理のあとに第2段階の処理をおこなった場合
の耐電圧をb2として示したように、第1段階の処理をお
こなったのちに第2段階の処理をおこなうと、一旦耐電
圧は低下するが、第3段階の処理をおこなうことによ
り、第1段階の処理のみをおこなった場合の耐電圧にく
らべて、大幅に耐電圧を向上させることができる。
FIG. 3 shows a withstand voltage of a1 when only the above-mentioned first step is performed, and a2 of further withstand voltage when the second step is performed after this first step. The withstand voltage when the third step is performed after the second step is a3, and the withstand voltage when the first step is performed is b1 as a comparative example. When the second step is performed after the first step is performed after the second step is performed as shown by the withstand voltage b2 when the second step is performed after the treatment, the withstand voltage temporarily decreases. By performing the third stage process, the withstand voltage can be significantly improved as compared with the withstand voltage when only the first stage process is performed.

【0029】なお、上記実施例では、内面導電膜のネッ
ク側端部をコンディショニングする場合、その陽極側に
直流または直流パルスの高電圧を印加したが、この陽極
側に印加する電圧は、交流または交流パルスの高電圧で
もよい。
In the above embodiment, when conditioning the neck side end of the inner conductive film, a high voltage of direct current or direct current pulse was applied to the anode side of the inner conductive film. A high voltage of AC pulse may be used.

【0030】このように陽極側に交流または交流パルス
の高電圧を印加すると、その陽極側が相対的に負の電圧
となるときに、内面導電膜のネック側端部から朱乃至赤
色の火花放電が発生し、この火花放電によりネック側端
部を平滑化することができ、上記実施例と同様の効果が
得られる。
When a high voltage of alternating current or alternating current pulse is applied to the anode side as described above, when the anode side has a relatively negative voltage, a red or red spark discharge is generated from the end of the inner conductive film on the neck side. The spark discharge is generated and the end portion on the neck side can be smoothed, and the same effect as that of the above-described embodiment can be obtained.

【0031】また、上記実施例では、第1段階の耐電圧
処理として、表1に示した従来の耐電圧処理スケジュー
ルの処理[I] 、処理[II]、処理[III] の任意の組合わせ
によりおこなったが、表1に示した耐電圧処理スケジュ
ールの処理[I] のいわゆる低電極処理のあとに、各端子
A ,B ,C に印加する電圧の極性を反転して、第2、第
4グリッドおよびカソード、ヒータなどの低電圧電極に
接続された端子C を陽極側とし、その他の電極に接続さ
れた端子A ,B を陰極側(接地)として、表3に示す処
理[VI]をおこなうと、従来耐電圧処理をおこなっても、
低電圧電極の耐電圧品位が悪かったものを、いちじるし
く良好にすることができる。
Further, in the above embodiment, as the first withstand voltage treatment, any combination of the process [I], the process [II] and the process [III] of the conventional withstand voltage treatment schedule shown in Table 1 is used. After the so-called low electrode treatment of treatment [I] of the withstanding voltage treatment schedule shown in Table 1, each terminal was
The polarity of the voltage applied to A, B, and C is reversed, and the terminal C connected to the second and fourth grids and the low-voltage electrodes of the cathode and heater is the anode side, and the terminal connected to the other electrodes. If A and B are set to the cathode side (ground) and the process [VI] shown in Table 3 is performed, even if the conventional withstand voltage process is performed,
It is possible to significantly improve the low voltage electrode having poor withstand voltage quality.

【0032】[0032]

【表3】 なお、この処理[VI]は、第5、第6グリッドおよび内面
導電膜が同電位に保たれた状態で処理されるため、内面
導電膜のネック側端部のコンディショニングはおこなわ
れず、内面導電膜からの成分粒子の飛散はない。したが
ってこの処理[VI]は、耐電圧処理は、処理中の任意の時
期におこなってよく、結果的に低電圧電極の耐電圧品位
を良好にすることができる。
[Table 3] In addition, since this treatment [VI] is performed in a state where the fifth and sixth grids and the inner conductive film are kept at the same potential, conditioning of the end portion on the neck side of the inner conductive film is not performed, and the inner conductive film is not processed. There is no scattering of component particles from. Therefore, in this treatment [VI], the withstand voltage treatment may be performed at any time during the treatment, and as a result, the withstand voltage quality of the low-voltage electrode can be improved.

【0033】表4は、第1段階の処理として、表1に示
した従来の耐電圧処理スケジュールの処理[I] のあとに
上記処理[VI]を挿入し、ついで第2段階の処理として、
内面導電膜のネック側端部のコンディショニングをおこ
ない、その後、第3段階の処理として、処理[II]および
処理[III] をおこなった場合の一例である。このような
スケジュールにより耐電圧処理をおこなうと、たとえば
表4に比較例として示した従来の耐電圧処理方法によ
り、処理II] 、処理[II]、処理[III] の順に耐電圧処理
をおこなった場合、その耐電圧処理時に発生したネック
貫通破壊に対して、その耐電圧処理時のネック貫通破壊
を5%以下に低減でき、かつ耐電圧特性を約10%向上
させることができた。
Table 4 shows that as the first stage process, the above process [VI] is inserted after the process [I] of the conventional withstand voltage process schedule shown in Table 1, and then the second stage process is performed.
This is an example of the case where the neck side end portion of the inner conductive film is conditioned, and then the processing [II] and the processing [III] are performed as the third stage processing. When the withstand voltage treatment is performed according to such a schedule, the withstand voltage treatment is performed in the order of treatment II], treatment [II], and treatment [III] by the conventional withstand voltage treatment method shown in Table 4 as a comparative example. In this case, with respect to the neck penetrating breakdown that occurred during the withstand voltage treatment, the neck penetrating fracture during the withstand voltage treatment could be reduced to 5% or less, and the withstand voltage characteristics could be improved by about 10%.

【0034】[0034]

【表4】 なお、上記各実施例は、カラー受像管について説明した
が、この発明は、カラー受像管以外の陰極線管にも適用
できる。
[Table 4] Although each of the above embodiments has been described with respect to the color picture tube, the present invention can be applied to a cathode ray tube other than the color picture tube.

【0035】[0035]

【発明の効果】電子銃の高電圧電極に陽極端子から内面
導電膜およびこれに圧接するバルブスペーサを介して電
子銃の他の電極に印加する電圧よりも相対的に高い高電
圧を印加して耐電圧処理をおこなうにあたり、この耐電
圧処理の途中に電子銃の他の電極に電子銃の高電圧電極
に印加する電圧よりも相対的に高い直流または交流電
圧、または直流または交流のパルス電圧を印加して、内
面導電膜のネック端部に放電を発生させる処理をおこな
うと、耐電圧を高め、同時にネック貫通破壊の破壊電圧
を高めることができ、良好な耐電圧特性を有する陰極線
管とすることができる。
The high voltage electrode of the electron gun is applied with a relatively high voltage higher than the voltage applied from the anode terminal to the other electrode of the electron gun through the inner conductive film and the valve spacer pressed against the inner conductive film. During the withstand voltage treatment, a DC or AC pulse voltage or a DC or AC pulse voltage that is relatively higher than the voltage applied to the high voltage electrode of the electron gun is applied to the other electrodes of the electron gun during this withstand voltage treatment. When applied and subjected to a treatment to generate a discharge at the neck end of the inner conductive film, the withstand voltage can be increased, and at the same time, the breakdown voltage of the through-the-neck breakdown can be increased, and a cathode ray tube having good withstand voltage characteristics can be obtained. be able to.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の一実施例に係るカラー受像管の電子
銃の構造を説明するための図である。
FIG. 1 is a diagram for explaining the structure of an electron gun of a color picture tube according to an embodiment of the present invention.

【図2】上記電子銃の等価回路を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing an equivalent circuit of the electron gun.

【図3】この発明の一実施例のある耐電圧処理をおこな
った場合の効果を従来の耐電圧処理をおこなった場合と
比較して示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing an effect obtained by performing a certain withstand voltage treatment according to an embodiment of the present invention in comparison with a case of performing a conventional withstand voltage treatment.

【図4】カラー受像管の構成を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a configuration of a color picture tube.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

3 …ネック 8 …コーン部 10…内面導電膜 12…ステムピン 20…絶縁支持体 21…バルブスペーサ A …端子 B …端子 C …端子 CO…コンバーゼンス・カップ G1…第1グリッド G2…第2グリッド G3…第3グリッド G4…第4グリッド G5…第5グリッド G6…第6グリッド H …ヒータ K …カソード 3 ... Neck 8 ... Cone 10 ... Inner conductive film 12 ... Stem pin 20 ... Insulating support 21 ... Valve spacer A ... Terminal B ... Terminal C ... Terminal CO ... Convergence cup G1 ... First grid G2 ... Second grid G3 ... 3rd grid G4 ... 4th grid G5 ... 5th grid G6 ... 6th grid H ... Heater K ... Cathode

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 外囲器に設けられた陽極端子と、上記外
囲器のネック内に配設された複数の電極からなる電子銃
と、上記陽極端子に接続されかつ上記電子銃の高電圧電
極と対向する位置をネック側端部として上記外囲器の内
面に形成された内面導電膜とを有し、この内面導電膜に
圧接するバルブスペーサが上記電子銃に取付けられた陰
極線管について、上記電子銃の高電圧電極に上記陽極端
子から上記内面導電膜およびこれに圧接するバルブスペ
ーサを介して上記電子銃の他の電極に印加する電圧より
も相対的に高い高電圧を印加して耐電圧処理をおこなう
にあたり、この耐電圧処理の途中に上記電子銃の他の電
極に上記電子銃の高電圧電極に印加する電圧よりも相対
的に高い直流または交流電圧、または直流または交流の
パルス電圧を印加して、上記内面導電膜のネック端部に
放電を発生させる処理をおこなうことを特徴とする陰極
線管の耐電圧処理方法。
1. An anode terminal provided in an envelope, an electron gun including a plurality of electrodes arranged in a neck of the envelope, and a high voltage of the electron gun connected to the anode terminal. A cathode ray tube having an inner conductive film formed on the inner surface of the envelope with the position facing the electrode as the neck side end, and a valve spacer press-contacting the inner conductive film is attached to the electron gun, A high voltage is applied to the high voltage electrode of the electron gun, which is relatively higher than the voltage applied from the anode terminal to the other electrode of the electron gun through the inner conductive film and the valve spacer pressed against the inner conductive film. In performing the voltage processing, a DC or AC voltage, or a DC or AC pulse voltage, which is relatively higher than the voltage applied to the high voltage electrode of the electron gun in the other electrode of the electron gun during the withstand voltage processing. Apply And a withstand voltage treatment method for a cathode ray tube, characterized in that a treatment for generating an electric discharge is performed at a neck end portion of the inner surface conductive film.
JP4074796A 1992-03-31 1992-03-31 Withstand voltage processing method of cathode ray tube Pending JPH05283005A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4074796A JPH05283005A (en) 1992-03-31 1992-03-31 Withstand voltage processing method of cathode ray tube

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4074796A JPH05283005A (en) 1992-03-31 1992-03-31 Withstand voltage processing method of cathode ray tube

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05283005A true JPH05283005A (en) 1993-10-29

Family

ID=13557630

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4074796A Pending JPH05283005A (en) 1992-03-31 1992-03-31 Withstand voltage processing method of cathode ray tube

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05283005A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4395242A (en) Method of electrically processing a CRT mount assembly to reduce afterglow
CA1246242A (en) High voltage processing of crt mounts
JPH05283005A (en) Withstand voltage processing method of cathode ray tube
US4883438A (en) Method for spot-knocking an electron gun mount assembly of a CRT
US4940440A (en) Weak beam scanning of cathode ray tubes
JP2641461B2 (en) Aging method of cathode ray tube
US4832646A (en) Aging process for cathode ray tubes
JP3135460B2 (en) Aging method of cathode ray tube
JP3017815B2 (en) Cathode ray tube
JP2557392B2 (en) Withstand voltage treatment method for cathode ray tubes
CA1304774C (en) Aging process for cathode ray tubes
EP0635862B1 (en) Cathode ray tube
JP3133352B2 (en) Withstand voltage treatment method for cathode ray tube
JPH11224608A (en) High-voltage processing method for cathode-ray tube
JPH06267427A (en) Aging treatment of cathode ray tube
JPH08315750A (en) Color picture tube and its manufacture
JP2000149814A (en) Cathode-ray tube and manufacture thereof
JPH05258670A (en) Manufacture of cathode-ray tube
JPH0325892B2 (en)
JPH09199050A (en) Cathode-ray tube
JPH11224607A (en) High-voltage processing method for cathode-ray tube
JPH06283099A (en) Manufacture of cathode-ray tube
JPH11339664A (en) Evaluation device for color cathode-ray tube
JPS6089037A (en) Cathode ray tube
JPH1125877A (en) Cathode-ray tube and its manufacture

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees