JPH05164556A - Focusing type non-contact displacement gage - Google Patents

Focusing type non-contact displacement gage

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JPH05164556A
JPH05164556A JP35346791A JP35346791A JPH05164556A JP H05164556 A JPH05164556 A JP H05164556A JP 35346791 A JP35346791 A JP 35346791A JP 35346791 A JP35346791 A JP 35346791A JP H05164556 A JPH05164556 A JP H05164556A
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JP
Japan
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lens
objective lens
relay lens
displacement
relay
Prior art date
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Application number
JP35346791A
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Japanese (ja)
Inventor
Yuuji Yunaka
裕士 柚中
Osamu Nara
治 奈良
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Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
Original Assignee
Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
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Publication date
Application filed by Mitutoyo Corp, Mitsutoyo Kiko Co Ltd filed Critical Mitutoyo Corp
Priority to JP35346791A priority Critical patent/JPH05164556A/en
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Abstract

PURPOSE:To enable the measurement of a surface shape of a deep groove and a hole without decreasing the response speed by making an objective lens part unmovable and making the objective lens exchangeable according to measuring application. CONSTITUTION:Relay lenses 52 and 54 are disposed between a collimator lens 24 and an objective lens 14 of an imaging optical system and one of the relay lenses is moved by a servo system to adjust the focus. Thus, the displacement of an object to be measured is determined from the position of the relay lens when the focusing point is detected.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、合焦点型非接触変位計
に係り、特に、非接触表面粗さ計や三次元座標測定機用
の非接触倣いプローブとして用いるのにも好適な、深溝
や穴の表面形状測定が可能であり、対物レンズの交換も
可能な合焦点型非接触変位計に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a focusing type non-contact displacement meter, and more particularly to a deep groove suitable for use as a non-contact surface roughness meter or a non-contact scanning probe for a three-dimensional coordinate measuring machine. The present invention relates to a focusing type non-contact displacement meter capable of measuring the surface shape of a hole and exchanging an objective lens.

【0002】[0002]

【従来の技術】光ビームを用いる非接触変位計として
は、三角測量法を利用した装置や、非点収差法、臨界角
法、フーコー法、ピンホール法等の合焦点方式を利用し
た装置がある。
2. Description of the Related Art As a non-contact displacement meter using a light beam, there are an apparatus using a triangulation method and an apparatus using an astigmatic method, a critical angle method, a Foucault method, a pinhole method, and the like. is there.

【0003】しかしながら、三角測量法を利用した変位
計においては、分解能を上げようとすると原理的に測定
範囲が狭くなる欠点がある。
However, in the displacement meter using the triangulation method, there is a drawback in principle that the measurement range is narrowed when the resolution is increased.

【0004】又、合焦点方式を利用した変位計において
は、例えば光ディスクのオートフォーカスの原理を利用
し、合焦点状態における対物レンズの位置を変位信号と
して検出するが、その多くは対物レンズ駆動手段として
用いられるムービングコイルに流れる電流の値を変位信
号として用いるもので、変位検出の精度が低かった。そ
のため、例えば1mm以上の広い測定範囲と、0.01μ
m程度の高分解能を両立するのは困難であった。
Further, in the displacement meter using the in-focus method, the position of the objective lens in the in-focus state is detected as a displacement signal by using, for example, the principle of auto-focus of the optical disk, but most of them are objective lens driving means. Since the value of the current flowing through the moving coil used as is used as the displacement signal, the accuracy of displacement detection is low. Therefore, for example, a wide measurement range of 1 mm or more and 0.01 μ
It was difficult to achieve a high resolution of about m.

【0005】このような問題点を解消するべく、出願人
は、既に特願平3−91573(未公知)で、広い測定
範囲に亘って、高い分解能で変位を検出することが可能
な非接触変位計を提案している。
In order to solve such a problem, the applicant has already proposed in Japanese Patent Application No. 3-91573 (unknown) that the displacement can be detected with high resolution over a wide measuring range. Proposing a displacement meter.

【0006】これは、図1に示す如く、常に測定対象物
10の表面11Aに合焦するように対物レンズ14にサ
ーボをかけ、該対物レンズ14の変位量をスケール16
と検出器18又は差動トランス等からなるリニアエンコ
ーダで読取り、測定面11Aの変位を測定するようにし
たものである。
As shown in FIG. 1, the objective lens 14 is servo-controlled so as to always focus on the surface 11A of the measuring object 10, and the displacement amount of the objective lens 14 is scaled by a scale 16.
And a linear encoder including a detector 18 or a differential transformer, and the displacement of the measurement surface 11A is measured.

【0007】図1において、20は光源としての半導体
レーザ、22は、該半導体レーザ20から放射された光
を測定面11Aに向けて反射するための偏光ビームスプ
リッタ、24は、該偏光ビームスプリッタ22により進
行方向を変えられた光を平行ビームとするためのコリメ
ータレンズ、26は、測定面11Aによる散乱反射光が
半導体レーザ20に戻らないようにすると共に、偏光ビ
ームスプリッタ22との組合せで、ハーフミラーを用い
た場合よりも効率を高めるための1/4波長遅延板、2
8は、前記偏光ビームスプリッタ22を透過した反射光
を結像するための結像レンズ、30は、該結像レンズ2
8を透過した光を分割するためのビームスプリッタ、3
2A、32Bは、該ビームスプリッタ30により分割さ
れた各反射光の合焦位置よりも前及び後にそれぞれ配置
されたピンホール板、34A、34Bは、各ピンホール
板32A、32Bを通過した反射光の光量をそれぞれ検
出するための受光素子(例えばフォトダイオード)であ
り、前記偏光ビームスプリッタ22、コリメータレンズ
24、対物レンズ14、1/4波長遅延板26、結像レ
ンズ28によって結像光学系が構成されている。
In FIG. 1, 20 is a semiconductor laser as a light source, 22 is a polarization beam splitter for reflecting the light emitted from the semiconductor laser 20 toward the measurement surface 11A, and 24 is the polarization beam splitter 22. The collimator lens 26 for converting the light whose traveling direction is changed into a parallel beam by 26 prevents the scattered reflection light from the measurement surface 11A from returning to the semiconductor laser 20, and, in combination with the polarization beam splitter 22, forms a half beam. 1/4 wavelength delay plate for higher efficiency than when using a mirror, 2
Reference numeral 8 denotes an image forming lens for forming an image of the reflected light transmitted through the polarization beam splitter 22, and 30 denotes the image forming lens 2
A beam splitter for splitting the light transmitted through 8;
2A and 32B are pinhole plates arranged before and after the in-focus position of each reflected light split by the beam splitter 30, and 34A and 34B are reflected light that has passed through the pinhole plates 32A and 32B. Is a light-receiving element (for example, a photodiode) for detecting the respective light amounts of the above, and an imaging optical system is formed by the polarization beam splitter 22, the collimator lens 24, the objective lens 14, the quarter wavelength delay plate 26, and the imaging lens 28. It is configured.

【0008】前記対物レンズ14は、その可動鏡筒38
に取付けられたボイスコイル等のムービングコイル40
及びマグネット42により、図の上下方向に駆動され、
合焦したときの可動鏡筒38の位置(即ち対物レンズ1
4の位置)が、前記スケール16の変位を検出器18で
読み取ることによって、検出するようにされている。
The objective lens 14 has a movable lens barrel 38.
Moving coil 40 such as voice coil attached to the
And by the magnet 42, it is driven in the vertical direction of the figure,
The position of the movable lens barrel 38 when focused (that is, the objective lens 1
4 position) is detected by reading the displacement of the scale 16 with the detector 18.

【0009】この出願人が提案した変位計によれば、広
い測定範囲に亘って高分解能で変位を検出することが可
能となる。
According to the displacement meter proposed by the applicant, the displacement can be detected with high resolution over a wide measurement range.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うに対物レンズ14に対してムービングコイル40等で
直接サーボをかける方式では、図1に示すような深溝1
1の底面11Aの測定では、対物レンズ14の鏡筒38
が長くなり、可動部が重くなる。又、図2に示すような
穴12の内側面12Aの測定では、鏡筒38が複雑な形
となり、やはり可動部が重くなる。このため、応答速度
が遅くなるという問題点を有していた。
However, in the method of directly servoing the objective lens 14 with the moving coil 40 or the like, the deep groove 1 as shown in FIG. 1 is used.
In the measurement of the bottom surface 11A of No. 1, the lens barrel 38 of the objective lens 14 is used.
Becomes longer and the moving parts become heavier. Further, in the measurement of the inner surface 12A of the hole 12 as shown in FIG. 2, the lens barrel 38 has a complicated shape, and the movable portion also becomes heavy. Therefore, there is a problem that the response speed becomes slow.

【0011】更に、対物レンズ部を用途により交換しよ
うとしても、そのために可動部の重量が変動すると、対
物レンズを制御できなくなるため、対物レンズを交換す
ることができないという問題点も有していた。
Further, even if the objective lens unit is to be replaced depending on the application, if the weight of the movable portion fluctuates for that purpose, the objective lens cannot be controlled, and the objective lens cannot be replaced. .

【0012】本発明は、前記従来の問題点を解消するべ
くなされたもので、応答速度を落すすことなく、深溝や
穴の表面形状の測定が可能であり、且つ、測定用途によ
り対物レンズを交換することが可能な合焦型非接触変位
計を提供することを目的とする。
The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems. It is possible to measure the surface shape of a deep groove or a hole without reducing the response speed, and the objective lens can be changed depending on the measurement application. An object is to provide a focusable non-contact displacement meter that can be replaced.

【0013】[0013]

【問題点を解決するための手段】本発明は、合焦点型非
接触変位計において、光源と、該光源から放射される光
を測定対象物の表面に照射し、その反射光により該光源
の像を結像する結像光学系と、該結像光学系の光路中に
挿入されたリレーレンズと、該リレーレンズの位置を変
化させる駆動手段と、前記リレーレンズ位置を検出する
エンコーダと、結像位置が所定の位置に一致したことを
検知する合焦点検知手段を具備し、前記駆動手段を作動
させて合焦点検知手段によって合焦点が検知されたとき
の前記エンコーダの出力を測定対象物の変位信号として
出力するようにして、前記目的を達成したものである。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention relates to a focusing type non-contact displacement meter, which irradiates a light source and light emitted from the light source onto the surface of an object to be measured, and reflects the light of the light source. An image forming optical system for forming an image, a relay lens inserted in the optical path of the image forming optical system, a drive unit for changing the position of the relay lens, and an encoder for detecting the relay lens position. An in-focus point detecting means for detecting that the image position coincides with a predetermined position is provided, and the output of the encoder when the in-focus point is detected by the in-focus point detecting means by operating the driving means is measured. The object is achieved by outputting as a displacement signal.

【0014】[0014]

【作用】本発明においては、光源から放射される光を測
定対象物の表面に照射し、その反射光により該光源の像
を結像するための結像光学系の光路中にリレーレンズを
挿入し、該リレーレンズの位置を、ムービングコイル等
の駆動手段で動かして、リレーレンズの間隔を調整し、
対物レンズは動かさないで、測定対象物の表面に合焦
し、そのときのリレーレンズの変位をスケール又は差動
トランス等のエンコーダで検出して、測定対象面の変位
としている。
According to the present invention, the relay lens is inserted in the optical path of the imaging optical system for irradiating the surface of the object to be measured with the light emitted from the light source and forming the image of the light source by the reflected light. Then, the position of the relay lens is moved by a driving means such as a moving coil to adjust the distance between the relay lenses,
The objective lens is not moved but focused on the surface of the object to be measured, and the displacement of the relay lens at that time is detected by an encoder such as a scale or a differential transformer to determine the displacement of the surface to be measured.

【0015】従って、深溝の底面の測定や穴の内側面の
測定に際して、対物レンズの鏡筒が長くなったり複雑な
形となって、可動部が重くなっても、対物レンズを動か
す必要がなく、リレーレンズを動かせばよいので、重量
が軽く、応答速度が速い。
Therefore, when measuring the bottom surface of the deep groove or the inner surface of the hole, even if the movable portion becomes heavy due to the length of the objective lens barrel becoming complicated, there is no need to move the objective lens. Since the relay lens can be moved, the weight is light and the response speed is fast.

【0016】又、測定用途によって対物レンズを交換し
ても、可動部の重量が変わらないので、容易に制御可能
である。
Further, even if the objective lens is exchanged depending on the measurement application, the weight of the movable portion does not change, so that the control can be easily performed.

【0017】特に、前記リレーレンズを複数のレンズで
構成すると共に、特定レンズの位置のみを前記駆動手段
によって変化させるようにした場合には、構成が簡略で
ある。
Particularly, when the relay lens is composed of a plurality of lenses and only the position of the specific lens is changed by the driving means, the structure is simple.

【0018】[0018]

【実施例】以下図面を参照して、本発明の実施例を詳細
に説明する。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings.

【0019】本発明の第1実施例は、本発明をピンホー
ル法による深溝測定用の非接触変位計に適用したもの
で、図1に示した比較例と同様の構成において、結像光
学系のコリメータレンズ24と対物レンズ14の間に上
下一対のリレーレンズ52、54を挿入し、その一方、
図では下方のリレーレンズ54を含む可動部50をボイ
スコイル40とマグネット42からなる駆動手段で図の
上下方向に駆動すると共に、対物レンズ14を固定鏡筒
56を介してケース58に固定するようにしたものであ
る。
The first embodiment of the present invention is one in which the present invention is applied to a non-contact displacement meter for measuring deep grooves by the pinhole method. In the same configuration as the comparative example shown in FIG. A pair of upper and lower relay lenses 52 and 54 are inserted between the collimator lens 24 and the objective lens 14 of
In the drawing, the movable portion 50 including the lower relay lens 54 is driven in the vertical direction of the drawing by the driving means including the voice coil 40 and the magnet 42, and the objective lens 14 is fixed to the case 58 via the fixed lens barrel 56. It is the one.

【0020】前記リレーレンズ52、54と対物レンズ
14は、全て同一とされている。
The relay lenses 52 and 54 and the objective lens 14 are all the same.

【0021】他の構成は、図1に示した比較例と同様で
あるので、詳細な説明は省略する。
Since the other structure is the same as that of the comparative example shown in FIG. 1, detailed description thereof will be omitted.

【0022】前記可動部50は、例えば図4に示す如
く、下方のリレーレンズ54のみを図の上下方向に移動
し、上方のリレーレンズ52及び対物レンズ14は固定
されている。従って、測定面11Aの変位をa 、下方の
リレーレンズ54の変位をb とすると、両変位a とb の
間には、次式の関係が成立する。
In the movable part 50, as shown in FIG. 4, for example, only the lower relay lens 54 is moved in the vertical direction in the figure, and the upper relay lens 52 and the objective lens 14 are fixed. Therefore, if the displacement of the measurement surface 11A is a and the displacement of the lower relay lens 54 is b, then the following relationship is established between the displacements a and b.

【0023】 b =a /{1+(a /f )} …(1)B = a / {1+ (a / f)} (1)

【0024】ここで、f はレンズの焦点距離である。Here, f is the focal length of the lens.

【0025】従って、測定面11Aの変位a とリレーレ
ンズ54の変位b の関係は、必ずしも直線的な関係には
ないが、測定面11Aの変位a が小さい場合には、使用
上は問題ない。例えば、f =10mmとして、 a =0.01mm のとき b =0.00999mm a =0.1mm のとき b =0.099mm となる。
Therefore, the relationship between the displacement a of the measuring surface 11A and the displacement b of the relay lens 54 is not necessarily linear, but when the displacement a of the measuring surface 11A is small, there is no problem in use. For example, when f = 10 mm, b = 0.00999 mm when a = 0.01 mm, b = 0.099 mm when a = 0.1 mm.

【0026】なお、測定面11Aの変位が大きい場合に
は、前出(1)式の関係により、関数処理して用いるこ
とも可能である。
When the displacement of the measurement surface 11A is large, it is possible to use it after function processing according to the relation of the above-mentioned expression (1).

【0027】本実施例においては、2枚のリレーレンズ
52、54と対物レンズ14が全て同一であるので、測
定面11Aの変位を1対1で伝えられる利点を有する。
なお、信号処理回路を設けることにより、光学系で測定
変位量を拡大したり縮小したりすることも可能である。
In this embodiment, since the two relay lenses 52 and 54 and the objective lens 14 are all the same, there is an advantage that the displacement of the measuring surface 11A can be transmitted in a one-to-one manner.
By providing a signal processing circuit, it is possible to increase or decrease the measured displacement amount in the optical system.

【0028】又、本実施例においては、コリメータレン
ズ24に近い上方のリレーレンズ52を固定し、下方の
リレーレンズ54を移動するようにしていたので、構成
が簡略である。なお、図5に示す第2実施例の如く、下
方のリレーレンズ54を固定し、上方のリレーレンズ5
2を動かすようにしてもよい。
Further, in this embodiment, the upper relay lens 52 near the collimator lens 24 is fixed and the lower relay lens 54 is moved, so that the structure is simple. As in the second embodiment shown in FIG. 5, the lower relay lens 54 is fixed and the upper relay lens 5 is fixed.
2 may be moved.

【0029】次に、図6を参照して、穴の表面形状測定
用の非接触変位計に適用した、本発明の第3実施例を詳
細に説明する。
Next, with reference to FIG. 6, a third embodiment of the present invention applied to a non-contact displacement meter for measuring the surface shape of a hole will be described in detail.

【0030】この第3実施例は、図2に示した比較例と
同様の非接触変位計において、前記第1実施例と同様に
コリメータレンズ24と対物レンズ14の間に左右一対
のリレーレンズ52、54を挿入し、その一方、図では
右方のリレーレンズ54を含む可動部50をボイスコイ
ル40及びマグネット42からなる駆動手段で図の左右
方向に駆動すると共に、対物レンズ14を固定鏡筒56
を介してケース58に固定するようにしたものである。
In the third embodiment, in the same non-contact displacement meter as the comparative example shown in FIG. 2, a pair of left and right relay lenses 52 are provided between the collimator lens 24 and the objective lens 14 as in the first embodiment. , 54 are inserted, and on the other hand, the movable part 50 including the relay lens 54 on the right side in the figure is driven in the left-right direction in the figure by the driving means composed of the voice coil 40 and the magnet 42, and the objective lens 14 is fixed. 56
It is adapted to be fixed to the case 58 via.

【0031】他の構成及び基本的な作用は、図1の比較
例又は図3の第1実施例と同様であるので、詳細な説明
は省略する。
The other structure and the basic operation are the same as those of the comparative example of FIG. 1 or the first embodiment of FIG. 3, and therefore detailed description will be omitted.

【0032】前記実施例においては、いずれも、可動部
50をボイスコイル44により駆動しているので、応答
性が速い。なお、可動部50の駆動方法はこれに限定さ
れず、例えばリニアモータを用いたり、あるいは送りね
じと回転モータを用いることもできる。
In each of the above-mentioned embodiments, since the movable portion 50 is driven by the voice coil 44, the responsiveness is fast. The driving method of the movable portion 50 is not limited to this, and for example, a linear motor or a feed screw and a rotary motor can be used.

【0033】又、前記実施例においては、測定面の検出
にピンホール法が用いられていたが、測定面が対物レン
ズの焦点位置にきたときに、焦点位置信号を発生する方
法はこれに限定されず、例えば非点収差法、臨界角法、
フーコー法等、他の合焦点方式であってもよい。
In the above embodiment, the pinhole method is used to detect the measurement surface, but the method for generating the focus position signal when the measurement surface reaches the focus position of the objective lens is not limited to this. Not, for example, the astigmatism method, the critical angle method,
Other focusing methods such as the Foucault method may be used.

【0034】又、前記実施例においては、いずれも、ビ
ームスプリッタ30が、結像レンズ28とピンホール板
32A、32Bの間に配設されていたが、ビームスプリ
ッタ30の配設位置はこれに限定されず、結像レンズ
(2枚必要となる)と偏光ビームスプリッタ22の間に
設けてもよい。又、偏光ビームスプリッタ22の代わり
にハーフミラーを用いてもよい。
In each of the above embodiments, the beam splitter 30 is disposed between the imaging lens 28 and the pinhole plates 32A and 32B, but the position of the beam splitter 30 is not limited to this. There is no limitation, and it may be provided between the imaging lens (two required) and the polarization beam splitter 22. A half mirror may be used instead of the polarization beam splitter 22.

【0035】又、可動部50の位置を検出するエンコー
ダも、リニアエンコーダに限定されず、例えばロータリ
エンコーダを用いてもよい。
The encoder for detecting the position of the movable portion 50 is not limited to the linear encoder, and a rotary encoder may be used, for example.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上説明した通り、本発明によれば、対
物レンズは動かさず、リレーレンズを動かすので、重量
が軽く、応答速度が速い。
As described above, according to the present invention, since the objective lens is not moved but the relay lens is moved, the weight is light and the response speed is fast.

【0037】又、測定用途によって、対物レンズ部を交
換しても、リレーレンズを含む可動部の重量は変わらな
いので、容易に制御可能である等の優れた効果を有す
る。
Further, even if the objective lens section is exchanged, the weight of the movable section including the relay lens does not change depending on the measurement application, so that it has an excellent effect that it can be easily controlled.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は、出願人が特願平3−91573(未公
知)で提案した比較例を用いて深溝の底面を測定してい
る状況を示す断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a situation where a bottom surface of a deep groove is measured using a comparative example proposed by the applicant in Japanese Patent Application No. 3-91573 (unknown).

【図2】図2は、同様の比較例により穴の内側面を測定
している状態を示す断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing a state where the inner surface of a hole is being measured by the same comparative example.

【図3】図3は、本発明の第1実施例により深溝の底面
を測定している状態を示す断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a state where the bottom surface of the deep groove is being measured according to the first embodiment of the present invention.

【図4】図4は、第1実施例におけるリレーレンズの原
理を示す線図である。
FIG. 4 is a diagram showing the principle of the relay lens in the first embodiment.

【図5】図5は、本発明の第2実施例におけるリレーレ
ンズの原理を示す線図である。
FIG. 5 is a diagram showing the principle of the relay lens in the second embodiment of the present invention.

【図6】図6は、本発明の第3実施例により穴の内側面
を測定している状態を示す断面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view showing a state in which the inner surface of a hole is being measured according to the third embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…測定対象物、 11…深溝、 11A…底面(測定面)、 12…穴、 12A…内側面(測定面)、 14…対物レンズ、 16…スケール、 18…検出器、 20…半導体レーザ、 22…偏光ビームスプリッタ、 24…コリメータレンズ、 28…結像レンズ、 34A、34B…受光素子、 38…可動鏡筒、 40…ボイスコイル、 42…マグネット、 50…可動部、 52、54…リレーレンズ、 56…固定鏡筒、 58…ケース。 10 ... Object to be measured, 11 ... Deep groove, 11A ... Bottom surface (measurement surface), 12 ... Hole, 12A ... Inner side surface (measurement surface), 14 ... Objective lens, 16 ... Scale, 18 ... Detector, 20 ... Semiconductor laser, 22 ... Polarizing beam splitter, 24 ... Collimator lens, 28 ... Imaging lens, 34A, 34B ... Light receiving element, 38 ... Movable lens barrel, 40 ... Voice coil, 42 ... Magnet, 50 ... Movable part, 52, 54 ... Relay lens , 56 ... Fixed lens barrel, 58 ... Case.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】光源と、 該光源から放射される光を測定対象物の表面に照射し、
その反射光により該光源の像を結像する結像光学系と、 該結像光学系の光路中に挿入されたリレーレンズと、 該リレーレンズの位置を変化させる駆動手段と、 前記リレーレンズの位置を検出するエンコーダと、 結像位置が所定の位置に一致したことを検知する合焦点
検知手段を具備し、 前記駆動手段を作動させて合焦点検知手段によって合焦
点が検知されたときの前記エンコーダの出力を測定対象
物の変位信号として出力することを特徴とする合焦点型
非接触変位計。
1. A light source, and the surface of an object to be measured is irradiated with light emitted from the light source,
An image forming optical system for forming an image of the light source by the reflected light, a relay lens inserted in the optical path of the image forming optical system, a drive unit for changing the position of the relay lens, and a relay lens of the relay lens. An encoder for detecting a position and an in-focus point detecting means for detecting that the image forming position coincides with a predetermined position are provided, and the driving means is operated to operate the in-focus point detecting means to detect the in-focus point. A focusing non-contact displacement meter characterized by outputting the output of an encoder as a displacement signal of an object to be measured.
【請求項2】請求項1において、前記リレーレンズを複
数のレンズで構成すると共に、特定レンズの位置のみを
前記駆動手段によって変化させることを特徴とする合焦
点型非接触変位計。
2. The focusing type non-contact displacement meter according to claim 1, wherein the relay lens is composed of a plurality of lenses, and only the position of the specific lens is changed by the driving means.
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