JPH0474033A - Error insertion circuit - Google Patents

Error insertion circuit

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JPH0474033A
JPH0474033A JP18624390A JP18624390A JPH0474033A JP H0474033 A JPH0474033 A JP H0474033A JP 18624390 A JP18624390 A JP 18624390A JP 18624390 A JP18624390 A JP 18624390A JP H0474033 A JPH0474033 A JP H0474033A
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JP
Japan
Prior art keywords
error
frame
input data
circuit
frames
Prior art date
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Pending
Application number
JP18624390A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Manabu Moriya
学 守屋
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
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Abstract

PURPOSE:To generate a test signal with an optional frame error by using a 1st setting device and a 2nd setting device setting a count period to a counter so as to insert an error pulse in a frame B in a frame A optionally. CONSTITUTION:A counter 3 counts frame pulses F of an input data Di by a number A set at a 1st setting device 1, a comparator 4 compares the count A with a count number B set by a 2nd setting device 2 and outputs an output C of a level H only when the number A is smaller than a 2nd number B. Then an output of an AND circuit 5 ANDing the output C of the comparator 4 and an error pulse E to be inserted and the input data Di are exclusively ORed by an EX-OR circuit 6, then a test signal Do for a frame error is obtained in which an error pulse E is inserted to frame of an optional number B in a prescribed frame A of the data Di.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 入力データのフレームパルスの数をカウンタで計数し、
所定数Aのフレームの中にエラーパルスを挿入した試験
信号を出力するエラー挿入回路に関し、 入力データの所定数へのフレームの任意の数Bのフレー
ムの中にエラーパルスを挿入しフレームエラーの試験信
号を発生する回路を目的とし、カウンタに入力データの
フレームパルスを所定数^だけ計数させる第1の設定器
と該所定数Aより少ない任意の数Bだけ計数させる第2
の設定器と該第1の設定器で設定し計数した数Aが該第
2の設定器で設定し計数した数Bより小さい時のみHレ
ベルの出力を出力する比較器を具え、該比較器の出力と
該入力データに挿入すべきエラーバルスとの論理積を取
るへND回路の出力と前記入力データとの排他的論理和
を取るEX−OR回路の出力を前記入力データの所定数
へのフレームの中の任意の数Bのフレームにエラーパル
スを挿入してフレームエラーの試験信号とするように構
成する。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] Counts the number of frame pulses of input data with a counter,
Regarding an error insertion circuit that outputs a test signal in which an error pulse is inserted into a predetermined number of frames A, a frame error test is performed by inserting an error pulse into an arbitrary number B of frames of a predetermined number of input data frames. The first setter is intended for a circuit that generates a signal, and causes the counter to count a predetermined number of frame pulses of input data, and the second setter causes the counter to count an arbitrary number B smaller than the predetermined number A.
a setter and a comparator that outputs an H level output only when the number A set and counted by the first setter is smaller than the number B set and counted by the second setter, the comparator and the error pulse to be inserted into the input data.The output of the EX-OR circuit takes the exclusive OR of the output of the ND circuit and the input data. The configuration is such that error pulses are inserted into an arbitrary number B of frames to serve as a frame error test signal.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明はデータ伝送に係り、特に入力データの成る所定
数へのフレームを監視し其の中のエラーフレームが成る
フレーム数B以上又は以下になったら、警報を発生又は
解除するフレームエラーの警報回路の試験をする場合の
試験信号の発生として、入力データにエラーパルスを挿
入するエラー挿入回路に関する。
The present invention relates to data transmission, and in particular to a frame error alarm circuit that monitors a predetermined number of frames of input data and generates or cancels an alarm when an error frame among them exceeds or falls below the number of frames B. The present invention relates to an error insertion circuit that inserts error pulses into input data to generate test signals when testing.

フレームエラー警報回路の試験信号としては、監視する
フレーム数Aと警報の発生又は解除の限界値を与えるエ
ラーフレーム数Bの設定が任意に出来て且つ容易に変更
できる事が必要である。
As a test signal for a frame error alarm circuit, it is necessary that the number A of frames to be monitored and the number B of error frames that provide a limit value for generating or canceling an alarm can be arbitrarily set and easily changed.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来のフレームエラーの試験信号の発生回路は、第3図
の如(、入力データDiOフレームパルスFをカウンタ
23でカウントする事により、監視するフレーム数へを
定めて、設定器21で設定した数Aだけカウントする。
The conventional frame error test signal generation circuit is as shown in FIG. Count only A.

カウンタ23は、設定された数へのフレーム数をカウン
トする毎に1個の桁上げキャリーアウトCaを出力し、
該キャリーアウトCaと、挿入すべきエラーパルスEと
の論理積をAND回路25でとり、そのAND出力と人
力データDiとの排他的論理和をEX−OR回路26で
とって、其の出力に、入力データDiにエラーパルスE
を挿入した試験信号Doaを発生していた。
The counter 23 outputs one carry-out Ca every time the number of frames reaches the set number,
The AND circuit 25 takes the AND of the carryout Ca and the error pulse E to be inserted, and the EX-OR circuit 26 takes the exclusive OR of the AND output and the manual data Di, and the output is , an error pulse E is input to the input data Di.
The test signal Doa was generated with the inserted test signal Doa.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述の従来のフレームエラーの試験信号の発生回路は、
入力データロ1OフレームパルスFの数を計数するカウ
ンタ23に対して設定器21で設定した所定数へのフレ
ームの中の1フレームにしかエラーパルスEを挿入する
事が出来ないという問題が生じていた。
The conventional frame error test signal generation circuit described above is
A problem has arisen in that the error pulse E can only be inserted into one frame of the predetermined number of frames set by the setting device 21 for the counter 23 that counts the number of input data row 10 frame pulses F. .

本発明の課題は、入力データDiの所定数へのフレーム
の任意の数Bのフレームの中に、エラーパルスを挿入し
て、フレームエラーの試験信号を発生させる回路の提供
にある。
An object of the present invention is to provide a circuit that generates a frame error test signal by inserting an error pulse into an arbitrary number B of frames of a predetermined number of input data Di.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

この課題は、第1図の原理図の如く、カウンタ3に入力
データDiOフレームパルスFを所定数Aだけ計数させ
る第1の設定器1と、該所定数へより少ない任意の数B
だけ計数させる第2の設定器2と、該第1の設定器で設
定し計数した数Aが第2の設定器2で設定し計数した数
Bより小さい時のみレベルHの出力Cを出力する比較器
4を具え、該比較器4の出力Cと挿入すべきエラーパル
スEとの論理積を取ったAND回路5の出力と、入力デ
ータDiとの排他的論理和を取るEX−OR回路6の出
力を、入力データDiの所定フレームへの任意の数Bの
フレームにエラーパルスEを挿入したフレームエラーの
試験信号Doとするように構成した本発明によって解決
される。
As shown in the principle diagram of FIG.
A second setting device 2 that counts the number A, and outputs an output C at level H only when the number A set and counted by the first setting device is smaller than the number B set and counted by the second setting device 2. An EX-OR circuit 6 which includes a comparator 4 and takes the exclusive OR of the output of an AND circuit 5 which takes the logical product of the output C of the comparator 4 and the error pulse E to be inserted, and the input data Di. This problem is solved by the present invention, in which the output of the input data Di is configured to be a frame error test signal Do in which an error pulse E is inserted into a predetermined frame of the input data Di and an arbitrary number B of frames.

C作用〕 カウンタ3は、入力データDiOフレームパルスFを、
第1の設定器1で設定した数Aだけカウントし、其のカ
ウント値へと第2の設定器2で設定しカウントした数B
とを比較器4にて比較し前記第1の設定器1で設定しカ
ウントした数Aが第2の設定器2で設定しカウントした
数Bより小さい時のみレベルHの出力Cを出力する。そ
して此の比較器4の出力Cと挿入すべきエラーパルスE
との論理積をAND回路5で取った出力と、入力データ
Diとの排他的論理和をEX−OR回路6で取って、其
の出力を、入力データDiの所定フレームAの中の任意
の数BのフレームにエラーパルスEを挿入したフレーム
エラーの試験信号Doとする。
C action] Counter 3 receives input data DiO frame pulse F,
Count only the number A set with the first setting device 1, and set the number B with the second setting device 2 to that count value.
A comparator 4 compares the numbers and outputs a level H output C only when the number A set and counted by the first setter 1 is smaller than the number B set and counted by the second setter 2. And the output C of this comparator 4 and the error pulse E to be inserted
An EX-OR circuit 6 calculates the exclusive OR of the AND circuit 5 and the input data Di, and outputs the output from an arbitrary value in a predetermined frame A of the input data Di. It is assumed that a frame error test signal Do is obtained by inserting an error pulse E into several B frames.

従って本発明のエラー挿入回路は、入力データDiの成
る所定数へのフレームの中の任意の数Bのフレームの中
にエラーパルスEを挿入してフレームエラーの試験信号
を発生するので1問題は解決される。
Therefore, the error insertion circuit of the present invention generates a frame error test signal by inserting an error pulse E into an arbitrary number B of frames of a predetermined number of frames of input data Di, so one problem can be solved. resolved.

〔実施例〕〔Example〕

第2図は本発明の実施例のエラー挿入回路の構成を示す
ブロック図であり、カウンタ13は、先ず第1設定器1
1で設定した数Aをカウントするが、例えばA・100
として、設定器11によりカウンタ13を、100進カ
ウンタに設定したとすると、カウンタ13は、0から9
9迄をカウントして、入力データDiの100フレーム
分をカウントする。一方、第2設定器12では、エラー
パルスEを挿入するフレームの数Bを設定する。例えば
B・50とすると、コンパレータ14では、A<Bの間
、即ちカウンタ13の計数値が0〜49の間は、レベル
Hとなり、 AND回路15とEX−OR回路16を介
して、エラーパルスEを入力データDiに挿入する。カ
ウンタ13の計数値が50〜99の間は、A>Bとなる
ので、コンパレータ14の出力はレベルLとなり、エラ
ーパルスEは、AND回路15でマスクされ、入力デー
タDiにエラーパルスEは挿入されない。よって、入力
データDiの100フレーム中の50フレームに、エラ
ーパルスEを挿入することになる。
FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of the error insertion circuit according to the embodiment of the present invention.
Count the number A set in step 1, for example A・100
Assuming that the counter 13 is set to a decimal counter by the setting device 11, the counter 13 will be a decimal counter from 0 to 9.
9, and 100 frames of input data Di are counted. On the other hand, the second setter 12 sets the number B of frames into which the error pulse E is inserted. For example, assuming B.50, the comparator 14 becomes level H when A<B, that is, when the count value of the counter 13 is between 0 and 49, and outputs an error pulse via the AND circuit 15 and the EX-OR circuit 16. Insert E into input data Di. When the count value of the counter 13 is between 50 and 99, A>B, so the output of the comparator 14 is at level L, the error pulse E is masked by the AND circuit 15, and the error pulse E is inserted into the input data Di. Not done. Therefore, the error pulse E is inserted into 50 frames out of 100 frames of the input data Di.

以上の如く、第2図の本発明の実施例のエラー挿入回路
は、第1の設定器11と第2の設定器12により、カウ
ンタ13の設定値のAとBを、A<Bの関係の下で任意
に定めれば、入力データDiの成るフレーム数への任意
の数Bのフレームの中にエラーパルスEを挿入してフレ
ームエラーの試験信号を発生する事が可能となるので問
題は無い。
As described above, the error insertion circuit according to the embodiment of the present invention shown in FIG. If it is determined arbitrarily under the following, it becomes possible to generate a frame error test signal by inserting the error pulse E into an arbitrary number B of frames of the input data Di, so the problem is solved. None.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明した如く、本発明によれば、カウンタに対して
計数周期を設定する第1の設定器と第2の設定器により
、任意のAフレーム中のBフレームにエラーパルスを挿
入して、任意のフレームエラーの試験信号を発生できる
効果が得られる。
As explained above, according to the present invention, an error pulse is inserted into a B frame in an arbitrary A frame by the first setting device and the second setting device that set the counting period for the counter, and an error pulse is inserted into an arbitrary B frame in an arbitrary A frame. This has the effect of generating a frame error test signal.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明のエラー挿入回路の基本構成を示す原理
図、 第2図は本発明の実施例のエラー挿入回路の構成を示す
ブロック図、 第3図は従来のフレームエラーの試験信号の発生回路の
ブロック図である。 図において、1,11.21はフレーム数への設定器、
2.12はフレーム数Bの設定器、3,13.23はフ
レーム数を計数するカウンタ、4,14は比較器でコン
パレータ、5.15.25はエラーパルスをマスクする
AND回路、6,16.26はエラーパルスを挿入する
EX−OR回路である。
FIG. 1 is a principle diagram showing the basic configuration of the error insertion circuit of the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of the error insertion circuit of the embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a diagram of the conventional frame error test signal. FIG. 2 is a block diagram of a generating circuit. In the figure, 1, 11.21 is a setter for the number of frames,
2.12 is a setter for the number of frames B, 3, 13.23 is a counter that counts the number of frames, 4, 14 is a comparator, 5.15.25 is an AND circuit that masks error pulses, 6, 16 .26 is an EX-OR circuit that inserts an error pulse.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 入力データ(Di)のフレームパルス(F)の数をカウ
ンタ(3)で計数し所定数Aのフレームの中の任意の数
Bのフレームにエラーパルス(E)を挿入した信号(D
o)を出力するエラー挿入回路において、該カウンタ(
3)に該入力データ(Di)のフレームパルス(F)を
所定数Aだけ計数させる第1の設定器(1)と、該所定
数Aより少ない任意の数Bだけ計数させる第2の設定器
(2)と、該第1の設定器で設定し計数した数Aが該第
2の設定器で設定し計数した数Bより小さい時のみHレ
ベルの出力(C)を出力する比較器(4)を具え、該比
較器の出力(C)と該入力データ(Di)に挿入すべき
エラーパルス(E)との論理積を取るAND回路(5)
の出力と前記入力データ(Di)との排他的論理和を取
るEX−OR回路(6)の出力を、前記入力データ(D
i)の所定数Aのフレームの中の任意の数Bのフレーム
にエラーパルス(E)を挿入しフレームエラーの試験信
号(Do)とすることを特徴とするエラー挿入回路。
A signal (D) is obtained by counting the number of frame pulses (F) of input data (Di) with a counter (3) and inserting error pulses (E) into an arbitrary number B of frames among a predetermined number A of frames.
In the error insertion circuit that outputs the counter (o), the counter (
3) a first setter (1) that makes the frame pulse (F) of the input data (Di) count by a predetermined number A; and a second setter that makes the frame pulse (F) of the input data (Di) count by an arbitrary number B smaller than the predetermined number A. (2), and a comparator (4) that outputs an H level output (C) only when the number A set and counted by the first setter is smaller than the number B set and counted by the second setter. ), the AND circuit (5) takes the logical product of the output (C) of the comparator and the error pulse (E) to be inserted into the input data (Di).
The output of the EX-OR circuit (6) which takes the exclusive OR of the output of the input data (Di) and the input data (Di) is
An error insertion circuit characterized in that an error pulse (E) is inserted into a predetermined number B of frames of the predetermined number A of frames of i) to serve as a frame error test signal (Do).
JP18624390A 1990-07-13 1990-07-13 Error insertion circuit Pending JPH0474033A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5363379A (en) * 1992-04-30 1994-11-08 International Business Machines Corporation FDDI network test adaptor error injection circuit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5363379A (en) * 1992-04-30 1994-11-08 International Business Machines Corporation FDDI network test adaptor error injection circuit

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