JPH0447789B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0447789B2
JPH0447789B2 JP20687982A JP20687982A JPH0447789B2 JP H0447789 B2 JPH0447789 B2 JP H0447789B2 JP 20687982 A JP20687982 A JP 20687982A JP 20687982 A JP20687982 A JP 20687982A JP H0447789 B2 JPH0447789 B2 JP H0447789B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
window
correction data
energy
signal
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP20687982A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS5997071A (en
Inventor
Masatoshi Tanaka
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Original Assignee
Hitachi Medical Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Medical Corp filed Critical Hitachi Medical Corp
Priority to JP20687982A priority Critical patent/JPS5997071A/en
Publication of JPS5997071A publication Critical patent/JPS5997071A/en
Publication of JPH0447789B2 publication Critical patent/JPH0447789B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/161Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
    • G01T1/164Scintigraphy
    • G01T1/1641Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
    • G01T1/1642Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Nuclear Medicine (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、入射γ線の検出器のエネルギ応答特
性の“むら”を補正する機能をもつシンチレーシ
ヨンカメラに関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a scintillation camera having a function of correcting "unevenness" in the energy response characteristics of a detector for incident gamma rays.

シンチレーシヨンカメラの均一性を決定する主
要素の1つに入射γ線の検出器のエネルギ応答特
性の“むら”がある。γ線のエネルギは散乱を受
けない限り一定であるから、そのγ線によるシン
チレーシヨンカメラのエネルギ信号の大きさも一
定であるはずであるが、実際には、検出器のエネ
ルギ応答特性の“むら”によりシンチレーシヨン
カメラ視野内の位置に応じて少しずつ差を生ず
る。
One of the main factors that determines the uniformity of scintillation cameras is the "unevenness" of the energy response characteristics of the detector for incident gamma rays. Since the energy of gamma rays is constant unless it is scattered, the magnitude of the energy signal of the scintillation camera due to gamma rays should also be constant, but in reality, the energy response characteristics of the detector are uneven. This causes slight differences depending on the position within the field of view of the scintillation camera.

第1図は、入射γ線のエネルギ信号の大きさの
分布(以下、エネルギスペクトルという)、特に
そのピークを示すエネルギ信号値が、カメラ視野
内の位置に応じて変化する様子を多少強調して示
す図で、カメラ視野S内の位置と各エネルギスペ
クトルのエネルギ信号値のピークa,b,cとを
矢印で対応付けて示している。なお、図中の各エ
ネルギスペクトルのほぼ中央から左側部分は散乱
を受けたγ線によるものである。
Figure 1 somewhat emphasizes how the distribution of the magnitude of the energy signal of incident gamma rays (hereinafter referred to as energy spectrum), especially the energy signal value indicating its peak, changes depending on the position within the camera field of view. In the figure, positions within the camera field of view S and peaks a, b, and c of energy signal values of each energy spectrum are shown in correspondence with arrows. Note that the left side portion from approximately the center of each energy spectrum in the figure is due to scattered γ-rays.

一般に、シンチレーシヨンカメラは、散乱を受
けたγ線を除去するための波高分析回路を備えて
おり、そのウインドWに入るエネルギ信号値のγ
線についてのみ位置計算を行つてイメージ表示す
る。このため、第1図に示すように、エネルギ信
号値のピークがカメラ視野S内の位置に応じて
a,b,cのように変化すると、上記ウインドW
に入るエネルギ信号値のγ線の割合が変化してイ
メージの均一性が低下することになる。
In general, a scintillation camera is equipped with a wave height analysis circuit for removing scattered γ-rays, and the γ-ray of the energy signal value entering the window W is
Calculates the position only for the line and displays the image. Therefore, as shown in FIG. 1, when the peak of the energy signal value changes like a, b, c depending on the position within the camera field of view
The proportion of gamma rays in the energy signal value entering the image changes, resulting in a decrease in image uniformity.

最近、以上の問題に対して、マイクロコンピユ
ータ制御により補正する方法が開発され、一般化
しつつある。その原理を第2図を参照して説明す
る。すなわち、この種の補正機能をもつシンチレ
ーシヨンカメラは基本的に2段の波高分析回路を
備えている。このうち、第1段目の波高分析回路
のウインドW1は、位置に応じて変化するピーク
a,b,cに対して充分広く設定し、散乱を受け
たγ線成分の除去のみを行う。第2段目の波高分
析回路のウインドW2は、カメラ視野S内の位置
に応じて変化するエネルギ信号値のピークa,
b,cに対して補正データによつてA,B,Cの
ようにシフトする。この結果、ピークa,b,c
に対するウインドW2の位置が各々一定となるの
で、実効的にエネルギ応答特性の“むら”を補正
することができる。この場合、前記補正データ
は、カメラ視野内の各位置でのエネルギスペクト
ル、換言すれば、エネルギ応答特性の“むら”を
予め計測し、処理して得る。また、他に、エネル
ギ信号に補正データを乗算し、その大きさがカメ
ラ視野内の位置によつて変化しないように補正す
る方法もある。
Recently, a method for correcting the above problem using microcomputer control has been developed and is becoming popular. The principle will be explained with reference to FIG. That is, a scintillation camera having this type of correction function basically includes a two-stage wave height analysis circuit. Among these, the window W1 of the first-stage pulse height analysis circuit is set sufficiently wide with respect to the peaks a, b, and c that change depending on the position, and only the scattered γ-ray components are removed. The window W2 of the second stage wave height analysis circuit is a peak a of the energy signal value that changes depending on the position within the camera field of view S,
B and c are shifted as A, B, and C depending on the correction data. As a result, peaks a, b, c
Since the positions of the windows W2 relative to each other are constant, it is possible to effectively correct "unevenness" in the energy response characteristics. In this case, the correction data is obtained by previously measuring and processing the energy spectrum at each position within the camera field of view, in other words, the "unevenness" of the energy response characteristics. Another method is to multiply the energy signal by correction data and correct it so that its magnitude does not change depending on the position within the camera field of view.

ところで、このようなシンチレーシヨンカメラ
において、第1段目の波高分析回路は散乱を受け
たγ線成分の除去のみを目的としているが、前記
位置計算処理には一定の時間を要するので、計数
率特性を良くするためにそのウインドW1の範囲
をできるだけ狭くして不必要なγ線成分を除去す
る必要がある。
By the way, in such a scintillation camera, the first stage wave height analysis circuit is only intended to remove the scattered gamma ray component, but since the position calculation process requires a certain amount of time, the counting rate is In order to improve the characteristics, it is necessary to narrow the range of the window W1 as much as possible to remove unnecessary γ-ray components.

しかしながらこの種の従来カメラでは、エネル
ギ応答特性の“むら”が経年変化によつてさらに
悪くなることを考慮しなければならないために、
前記ウインドW1の範囲を余り狭くすることがで
きず、その結果、補正機能をもたないものに比べ
て計数率特性が著しく悪くなるという欠点があつ
た。
However, with this type of conventional camera, it must be taken into consideration that the "unevenness" of the energy response characteristics worsens over time.
The range of the window W1 cannot be made very narrow, and as a result, there is a drawback that the count rate characteristics are significantly worse than those without a correction function.

本発明は上記のような欠点を除去するためにな
されたもので、入射γ線の検出器のエネルギ応答
特性の“むら”を補正する機能をもち、しかも計
数率特性の良いシンチレーシヨンカメラを提供す
ることを目的とする。
The present invention was made in order to eliminate the above-mentioned drawbacks, and provides a scintillation camera that has a function of correcting the "unevenness" of the energy response characteristics of the incident gamma ray detector and has good count rate characteristics. The purpose is to

以下第3図および第4図を参照して本発明の実
施例を説明する。第3図は本発明によるシンチレ
ーシヨンカメラの一実施例を示すブロツク図で、
図中1は検出器である。この検出器1は、シンチ
レータ2と複数の光電子増倍管3を備えてなる。
ここで、シンチレータ2は入射γ線を光に変換
し、その光は拡散しながら光電子増倍管3に入射
して電気信号101となつて出力される。加算回
路4は電気信号101を全て加算してエネルギ信
号102を作成する。第1段目の波高分析回路
(以下、第1PHAと記す)5はエネルギ信号10
2の大きさを弁別して散乱を受けていないγ線に
ついてのみ位置計算回路6に計算処理を開始させ
る。位置計算回路6は、光電子増倍管3からの電
気信号101を計算処理して位置信号103を
A/D変換回路(以下、ADCと記す)7とCRT
8に出力する。位置信号103はADC7でデジ
タル信号となつてメモリ回路9に入力する。メモ
リ回路9はγ線入射位置の補正データ104を第
2段目の波高分析回路(以下、第2PHAと記す)
10に送出する。第2PHA10は、詳細を後述す
る補正データ104に従つてウインドW2を例え
ば、第4図中のA,B,Cに示すようにシフトし
てエネルギ信号102の大きさを弁別し、目的と
するエネルギのγ線についてのみアンプランク信
号105を出力する。CRT8は位置信号103
とアンプランク信号105によりその管面上の対
応する位置に輝点を表示するもので、その輝点を
フイルム(図示せず)上に集積してイメージを形
成する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to FIGS. 3 and 4. FIG. 3 is a block diagram showing an embodiment of a scintillation camera according to the present invention.
In the figure, 1 is a detector. This detector 1 includes a scintillator 2 and a plurality of photomultiplier tubes 3.
Here, the scintillator 2 converts the incident gamma rays into light, and the light enters the photomultiplier tube 3 while being diffused and is output as an electric signal 101. The adder circuit 4 adds all the electrical signals 101 to create an energy signal 102. The first stage pulse height analysis circuit (hereinafter referred to as the first PHA) 5 receives the energy signal 10.
2 and causes the position calculation circuit 6 to start calculation processing only for the γ-rays that have not been scattered. The position calculation circuit 6 calculates and processes the electric signal 101 from the photomultiplier tube 3 and sends the position signal 103 to an A/D conversion circuit (hereinafter referred to as ADC) 7 and a CRT.
Output to 8. The position signal 103 is converted into a digital signal by the ADC 7 and input to the memory circuit 9. The memory circuit 9 stores the correction data 104 of the γ-ray incident position in the second stage wave height analysis circuit (hereinafter referred to as the second PHA).
Send on 10. The second PHA 10 discriminates the magnitude of the energy signal 102 by shifting the window W2, for example, as shown in A, B, and C in FIG. The unblank signal 105 is output only for the γ-rays. CRT8 is position signal 103
A bright spot is displayed at a corresponding position on the tube surface by the unblank signal 105, and the bright spot is accumulated on a film (not shown) to form an image.

補正データ104は、カメラ(検出器1)視野
内の各位置でのエネルギスペクトル、換言すれ
ば、エネルギ応答特性の“むら”をデータ内容と
するもので、通常のイメージデータ収集(検査撮
像)に先立つて、マイクロコンピユータを内蔵す
る補正データ作成回路12により、位置信号10
3とエネルギ信号102を計測、処理して得られ
るもので、メモリ回路9に蓄えられる。
The correction data 104 contains the energy spectrum at each position within the field of view of the camera (detector 1), in other words, the "unevenness" of the energy response characteristics, and is suitable for normal image data collection (inspection imaging). In advance, a position signal 10 is generated by a correction data creation circuit 12 having a built-in microcomputer.
3 and energy signal 102 and is obtained by measuring and processing the energy signal 102 and stored in the memory circuit 9.

第2PHA10のウインドW2は、ウインド設定
回路11からのウインド信号106で設定され、
また、第1PHA5のウインドW1は、ウインド信
号107で設定される。
The window W2 of the second PHA 10 is set by the window signal 106 from the window setting circuit 11,
Further, the window W1 of the first PHA 5 is set by the window signal 107.

このウインド信号107は次のようにして作成
される。すなわち、補正データ作成回路12は、
前述したように補正データ104を得てメモリ回
路9に蓄えるが、この補正データ104の蓄積時
に、その最大値および最小値を検出し、これをウ
インド補正信号108としてウインド制御回路1
3に出力する。このウインド制御回路13には、
ウインド設定回路11から、第2PHA10へ与え
られると同様のウインド範囲W2のウインド信号
106も入力されている。ウインド制御回路13
は、前記ウインド補正信号108により、ウイン
ド信号106のウインド範囲をW2から第4図に
示す範囲W1に広げる。このウインド範囲W1の
新たなウインド信号107が第1PHA5に入力さ
れ、イメージを形成するのに最少限必要とするγ
線についてのみ位置計算回路6に位置計算処理を
行わせる。
This window signal 107 is created as follows. That is, the correction data creation circuit 12
As described above, the correction data 104 is obtained and stored in the memory circuit 9. When the correction data 104 is stored, its maximum and minimum values are detected and sent to the window control circuit 1 as the window correction signal 108.
Output to 3. This window control circuit 13 includes
A window signal 106 having a window range W2 similar to that given to the second PHA 10 is also input from the window setting circuit 11. Window control circuit 13
The window correction signal 108 widens the window range of the window signal 106 from W2 to the range W1 shown in FIG. A new window signal 107 in this window range W1 is input to the first PHA 5, and the minimum γ required to form an image is input to the first PHA 5.
The position calculation circuit 6 is caused to perform position calculation processing only for lines.

ここで、前記補正データ104について更に詳
しく説明する。補正データ104は、検出器1の
視野全体にγ線を均一に照射し、その際の位置信
号103とエネルギ信号102を補正データ作成
回路12で計測、処理して得る。すなわち、補正
データ作成回路12は、エネルギ信号102およ
び位置信号103によつて検出器1の視野内の各
位置でのエネルギ信号102の大きさの分布(エ
ネルギスペクトル)を計測する。そして、検出器
1の視野内の各位置でのエネルギスペクトルのピ
ークを示すエネルギ信号値(第4図の横軸上の位
置)を検出し、それを補正データ104としてメ
モリ回路9に格納する。
Here, the correction data 104 will be explained in more detail. The correction data 104 is obtained by uniformly irradiating the entire field of view of the detector 1 with gamma rays, and measuring and processing the position signal 103 and energy signal 102 by the correction data generation circuit 12. That is, the correction data creation circuit 12 measures the magnitude distribution (energy spectrum) of the energy signal 102 at each position within the field of view of the detector 1 using the energy signal 102 and the position signal 103. Then, energy signal values indicating the peaks of the energy spectrum at each position within the field of view of the detector 1 (positions on the horizontal axis in FIG. 4) are detected and stored in the memory circuit 9 as correction data 104.

イメージデータの収集においては、γ線が1個
入射する毎に、その入射位置(位置信号103)
に応じてメモリ回路9から補正データ104が出
力され、第2PHA10のウインドW2の中心位置
が補正データ104の表わす位置(第4図の横軸
上の位置)に、又は補正データ104分だけ、シ
フトされて設定される。これにより、γ線の入射
位置に応じたエネルギスペクトルのピークを示す
エネルギ信号値(第4図の横軸上の位置)に、第
2PHA10のウインドW2の中心位置が一致され
る。
When collecting image data, each time one gamma ray is incident, the incident position (position signal 103) is determined.
Corrected data 104 is output from the memory circuit 9 in accordance with the correction data 104, and the center position of the window W2 of the second PHA 10 is shifted to the position indicated by the corrected data 104 (position on the horizontal axis in FIG. 4) or by the amount of the corrected data 104. and set. As a result, the energy signal value (position on the horizontal axis in Figure 4) indicating the peak of the energy spectrum according to the incident position of the γ-ray is changed to
The center positions of the windows W2 of the 2PHA 10 are matched.

また上記補正データ104の最大値、最小値
は、前述したようにメモリ回路9に蓄積された補
正データ104から検出されるが、これは、検出
器1の視野内各位置での、エネルギスペクトルの
ピークを示すエネルギ信号値(第4図の横軸上の
位置)の最大値、最小値に相当する。すなわち、
第2PHA10のウインドW2のシフト位置(又は
シフト量)の最大、最小であり、第1PHA5のウ
インドW1の幅は、第2PHA10のウインドW2
の幅にこのシフト位置(又はシフト量)の最大
値、最小値間の幅を加えたものになる。
Further, the maximum value and minimum value of the correction data 104 are detected from the correction data 104 stored in the memory circuit 9 as described above, but this is based on the energy spectrum at each position within the field of view of the detector 1. This corresponds to the maximum and minimum values of the energy signal value indicating the peak (position on the horizontal axis in FIG. 4). That is,
The maximum and minimum shift position (or shift amount) of the window W2 of the second PHA 10, and the width of the window W1 of the first PHA 5 are the width of the window W2 of the second PHA 10.
, plus the width between the maximum and minimum values of this shift position (or shift amount).

これを第5図により説明する。第5図におい
て、視野内の各位置a,b,c(第1図参照)に
対するエネルギスペクトルのピークを示すエネル
ギ信号値をEa,Eb,Ecとすると、その中で最大
値はEb、最小値はEcである。いま、エネルギス
ペクトルのピークa,b,cの適正なウインドを
W2a,W2b,W2cとし、それらの範囲
(幅)の絶対値はW2で、各々等しく、また、各
ウインドW2a,W2b,W2cはその範囲の1/
2の位置に上記ピークa,b,cが位置するよう
に設定されるものとする。
This will be explained with reference to FIG. In Figure 5, if the energy signal values indicating the peaks of the energy spectrum for each position a, b, c (see Figure 1) in the field of view are Ea, Eb, Ec, the maximum value is Eb, and the minimum value is is Ec. Now, the appropriate windows for the peaks a, b, and c of the energy spectrum are W2a, W2b, and W2c, and the absolute value of their range (width) is W2, which is equal to each other, and each window W2a, W2b, and W2c is 1/ of range
It is assumed that the peaks a, b, and c are set to be located at position 2.

これによれば、第2PHA10の上記ピークa,
b,cに対応するウインドは、W2a,W2b,
W2cとなる。第1PHA5のウインドW1は、範
囲が(Eb−Ec)+W2となり、エネルギ信号値と
しては、{(Ec−(1/2)×W2)〜(Eb+(1/
2)×W2)}となり、第5図中のW1に示すよう
になる。
According to this, the peak a of the second PHA 10,
The windows corresponding to b and c are W2a, W2b,
It becomes W2c. The window W1 of the first PHA 5 has a range of (Eb - Ec) + W2, and the energy signal value is {(Ec - (1/2) x W2) ~ (Eb + (1/2)
2)×W2)}, as shown by W1 in FIG.

これにより、検出器視野内の各位置のエネルギ
スペクトルのピークにつき、計測可能になる。
This makes it possible to measure the peaks of the energy spectrum at each position within the field of view of the detector.

上記のような第1PHA5のウインドW1にエネ
ルギ信号102が入ると、位置計算回路6はその
γ線の入射位置に対応する位置信号103を出力
する。位置信号103はADC7でデジタル信号
となり、メモリ回路9に入る。メモリ回路9はγ
線入射位置に対応する補正データ104を第
2PHA10に与える。第2PHA10は補正データ
104の表わす位置に(又は補正データ104に
相当する分だけ)、ウインドW2をシフトして、
例えば、第1図の視野内の位置cがγ線入射位置
103と計算されたとき、W2を第4図中のC位
置へシフトして、エネルギ信号102を波高分析
する。
When the energy signal 102 enters the window W1 of the first PHA 5 as described above, the position calculation circuit 6 outputs a position signal 103 corresponding to the incident position of the γ-ray. The position signal 103 becomes a digital signal by the ADC 7 and enters the memory circuit 9. The memory circuit 9 is γ
The correction data 104 corresponding to the line incidence position is
Give to 2PHA10. The second PHA 10 shifts the window W2 to the position indicated by the correction data 104 (or by an amount corresponding to the correction data 104),
For example, when position c within the field of view in FIG. 1 is calculated as the gamma ray incident position 103, W2 is shifted to position C in FIG. 4, and the energy signal 102 is analyzed for wave height.

ここで、ウインド制御回路13は、第1PHA5
のウインドW1を前述した範囲に設定する。この
ウインドW1の設定動作はγ線1個毎に行われる
のではなく、目的とるγ線エネルギ(核種)につ
いてイメージデータ収集開始前に得ておいた補正
データ一式毎に、補正データ作成回路12からそ
の補正データ104の最大値、最小値をウインド
制御回路13に入力することで設定される。すな
わち、ウインド制御回路13と補正データ作成回
路12の動作は、イメージデータ収集開始前に
(γ線エネルギ(核種)が違えばその都度、γ線
エネルギ(核種)が同じでも経時変化を補正した
いときにはその時)実行される。なお、異なるγ
線エネルギ(核種)毎に予め補正データ104の
最大値、最小値を得ておき、補正データメモリ9
に格納しておいてもよい。
Here, the window control circuit 13
The window W1 is set within the range described above. This window W1 setting operation is not performed for each gamma ray, but is performed from the correction data creation circuit 12 for each set of correction data obtained before the start of image data collection regarding the target gamma ray energy (nuclide). The maximum value and minimum value of the correction data 104 are inputted into the window control circuit 13 to be set. That is, the operations of the window control circuit 13 and the correction data creation circuit 12 are performed before the start of image data collection (each time the γ-ray energy (nuclide) is different, and when it is desired to correct changes over time even if the γ-ray energy (nuclide) is the same). ) is executed. Note that different γ
The maximum and minimum values of the correction data 104 are obtained in advance for each linear energy (nuclide), and the correction data memory 9
It may be stored in .

なお、上述実施例では、ウインドW2をシフト
してエネルギ応答特性の“むら”を補正するシン
チレーシヨンカメラに本発明を適用した場合につ
いて述べたが、エネルギ信号102に補正データ
104を乗算してエネルギ応答特性の“むら”を
補正するシンチレーシヨンカメラにおいても第
1PHA5の作用が同じであるので同様に適用でき
る。
In the above embodiment, the present invention is applied to a scintillation camera that corrects "unevenness" in the energy response characteristic by shifting the window W2, but the energy signal 102 is multiplied by the correction data 104 to The first step is also used in scintillation cameras that correct for “unevenness” in response characteristics.
Since the action of 1PHA5 is the same, it can be applied in the same way.

また上述実施例では、補正データを得る際に、
その補正データの最大および最小値を検出し、そ
の値によつて第1PHA5のウインド範囲を制御す
るウインド範囲制御手段を、補正データ作成回路
12及びウインド制御回路13などを用いて構成
したが、これのみに限らない。
Further, in the above embodiment, when obtaining correction data,
The window range control means for detecting the maximum and minimum values of the correction data and controlling the window range of the first PHA 5 using the detected values is configured using the correction data creation circuit 12, the window control circuit 13, etc. Not limited to only.

以上述べたように本発明は、散乱を受けたγ線
成分を除去するための波高分析回路を備え、検出
器のエネルギ応答特性の“むら”を補正するよう
にしたカメラにおいて、補正データを得る際に、
その補正データの最大および最小値を検出し、そ
の値によつて前記波高分析回路のウインド範囲を
制御するようにしたので、ウインド範囲は補正デ
ータの最大および最小値検出時毎決定されること
になる。従つて、前記ウインド範囲は、従来カメ
ラのようにエネルギ応答特性の“むら”の経年変
化を考慮して予め広く設定する必要がなくなり、
必要最小限の広さに維持させ得、計数率特性を向
上させることができるという効果がある。
As described above, the present invention obtains correction data in a camera equipped with a pulse height analysis circuit for removing scattered gamma ray components and correcting "unevenness" in the energy response characteristics of a detector. Occasionally,
Since the maximum and minimum values of the correction data are detected and the window range of the pulse height analysis circuit is controlled based on these values, the window range is determined each time the maximum and minimum values of the correction data are detected. Become. Therefore, the window range does not need to be set wide in advance in consideration of secular changes in the "unevenness" of the energy response characteristics, unlike conventional cameras.
It has the effect of being able to maintain the necessary minimum width and improving the count rate characteristics.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は入射γ線のエネルギ信号の大きさの分
布(エネルギスペクトル)がカメラ視野内の位置
に応じて変化する様子を示す図、第2図はシンチ
レーシヨンカメラの検出器のエネルギ応答特性の
“むら”を補正する方法を説明するための図、第
3図は本発明によるシンチレーシヨンカメラの一
実施例を示すブロツク図、第4図および第5図は
同カメラの動作を説明するための図である。 1…検出器、4…加算回路、5…第1PHA、6
…位置計算回路、7…ADC、8…CRT、9…メ
モリ回路、10…第2PHA、11…ウインド設定
回路、12…補正データ作成回路、102…エネ
ルギ信号、103…位置信号、14…補正デー
タ、106,107…ウインド信号、108…ウ
インド補正信号、W1…第1PHAのウインド、W
2…第2PHAのウインド。
Figure 1 shows how the distribution (energy spectrum) of the energy signal of incident gamma rays changes depending on the position within the camera field of view, and Figure 2 shows the energy response characteristics of the scintillation camera detector. FIG. 3 is a block diagram showing an embodiment of the scintillation camera according to the present invention, and FIGS. 4 and 5 are diagrams for explaining the operation of the camera. It is a diagram. 1...Detector, 4...Addition circuit, 5...1st PHA, 6
…Position calculation circuit, 7…ADC, 8…CRT, 9…Memory circuit, 10…Second PHA, 11…Window setting circuit, 12…Correction data creation circuit, 102…Energy signal, 103…Position signal, 14…Correction data , 106, 107...window signal, 108...window correction signal, W1...window of first PHA, W
2...Second PHA window.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 散乱を受けたγ線成分を除去するための波高
分析回路を備え、そのウインドに入るγ線につい
てのみ位置計算を行い、かつ、位置に応じたエネ
ルギ信号の大きさの分布を予め計測して得られた
補正データを用いて検出器のエネルギ応答性の
“むら”を補正するようにしたシンチレーシヨン
カメラにおいて、前記補正データを得る際に、そ
の補正データの最大および最小値を検出し、その
値によつて前記波高分析回路のウインド範囲を制
御するウインド範囲制御手段を具備することを特
徴とするシンチレーシヨンカメラ。
1 Equipped with a wave height analysis circuit to remove scattered gamma ray components, calculates the position only for the gamma rays that enter the window, and measures the distribution of the size of the energy signal according to the position in advance. In a scintillation camera that uses the obtained correction data to correct "unevenness" in the energy response of the detector, when obtaining the correction data, the maximum and minimum values of the correction data are detected, and the A scintillation camera characterized by comprising window range control means for controlling the window range of the wave height analysis circuit according to a value.
JP20687982A 1982-11-27 1982-11-27 Scintillation camera Granted JPS5997071A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20687982A JPS5997071A (en) 1982-11-27 1982-11-27 Scintillation camera

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20687982A JPS5997071A (en) 1982-11-27 1982-11-27 Scintillation camera

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5997071A JPS5997071A (en) 1984-06-04
JPH0447789B2 true JPH0447789B2 (en) 1992-08-04

Family

ID=16530555

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP20687982A Granted JPS5997071A (en) 1982-11-27 1982-11-27 Scintillation camera

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5997071A (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59141083A (en) * 1983-01-31 1984-08-13 Shimadzu Corp Radiation image formation apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5997071A (en) 1984-06-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH06259541A (en) Method for correcting image distorting and its system
US8664616B2 (en) Count correction in a photon counting imaging system
US4882495A (en) Scintillation camera
US4661909A (en) Scintillation camera with pulse height analyzer
CA1204884A (en) Energy window selection for a radiation signal processing system
JP2000100597A (en) Radiation image pickup device
JPH0447789B2 (en)
US5633500A (en) Split window scatter correction
US5466939A (en) Nuclear medicine imaging apparatus
JPH05217689A (en) Method and device for x-ray photographing
US11307312B2 (en) Image acquisition
Riederer et al. Three‐beam K‐edge imaging of iodine using differences between fluoroscopic video images: Experimental results
JPH0462493A (en) Scintillation camera
JPS6239906B2 (en)
JP3046617B2 (en) Scintillation camera
JPH0447792B2 (en)
JPH0424674B2 (en)
JPS58187883A (en) Amending method of spatial distortion correction for scintillation camera
JPH09276257A (en) Radiographing device
JP3443948B2 (en) Radiation imaging device
JP2754696B2 (en) Gamma camera
JPS6236186B2 (en)
JPH06201833A (en) Scintillation camera
JPH0619437B2 (en) Positron CT system
JPH0197891A (en) Scintillation camera